JP7498151B2 - 形状認識装置 - Google Patents
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Description
図9~図11は、従来技術の問題点を説明するための図である。特許文献1に開示された方式のように、2つのミラーのおのおのにレーザ光を反射させて距離を測定することは、図9に示すように、2つのレーザスキャナをそれぞれのミラーの面対称部分に配置させることと同じである。
図1は、本開示の実施の形態1に係る形状認識装置の構成を説明するための図である。本実施の形態1に係る形状認識装置は、放物面鏡10およびレーザスキャナ20を備えて構成されている。放物面鏡10は、光を反射するための放物面を有している。
θ1:基準面P1に対して、レーザスキャナ20から発光されたレーザ光の角度。
L1:レーザスキャナ20から放物面鏡10までの距離であり、放物面鏡10の設計時点でθの関数として既知となる値。
N1:放物面鏡10から基準面までの距離であり、放物面鏡10の設計時点でθの関数として既知となる値。
K:基準面P2と設置面P1との距離であり、放物面鏡10の設置位置により既知の値。
H1:基準面P2から対象物1の表面までの距離。
M1:対象物1の高さ。
測定距離(θ1)=L1+N1+H1 (1)
M1=L1+N1+K-測定距離(θ1) (2)
<ケース1:走行装置30を停止させた状態で1断面の2次元形状の測定を行う方式>
ケース1の方式では、対象物1へのレーザ光の照射は、走行装置30を停止した状態で行う。1スライス分の形状認識を行った後、あらかじめ決められたピッチ分、走行装置30を移動させ、次のスライスでの形状認識を行う。順次、このピッチ送りを繰り返すことで、3次元形状の認識が可能となる。
ケース2の方式では、走行装置30を一定速度で移動させながら、対象物1に対して連続的にレーザスキャンを行う。図6は、本開示の実施の形態1におけるヘリカルスキャン方式に関する説明図である。このケース2によるヘリカルスキャン方式では、レーザスキャナ20のスキャン速度と、走行装置30の走査速度とを合成した角度で、図6に示すように、対象物1を斜めに輪切りしながら、3次元形状認識を行うこととなる。
ケース3の方式では、レーザスキャナ20のレーザ光走査軌跡が、走行装置30の走査速度をキャンセルする角度だけ、傾いている。図7は、本開示の実施の形態1における補正ヘリカルスキャン方式に関する説明図である。図7に示すように、レーザスキャナ20によるスキャン方向に傾きを持たせることで、走行装置30の走行方向に対して垂直方向で対象物1を輪切りにして、3次元形状認識を行うことができる。
ケース4の方式では、先の図3~図5のように放物面鏡の一断面部分のみを放物面鏡10として使用する代わりに、放物面鏡の全体を放物面鏡10として使用する。このケース4では、放物面鏡10およびレーザスキャナ20の移動、あるいは対象物1の移動を行うことなしに、レーザスキャナ20として3次元レーザスキャナを用い、レーザ光を放物面鏡の全体にわたって走査させることで、3次元の点群データを収集することができる。
Claims (2)
- 光を反射する放物面を有する放物面鏡と、
前記放物面鏡の焦点位置に設置され、前記放物面に向けてレーザ光を照射することで、前記放物面鏡を介して平行となったレーザ光を対象物に真上から照射させるレーザスキャナと、
前記レーザスキャナの走査制御を実行する制御部と
を備え、
前記制御部は、前記平行となったレーザ光に垂直、かつ前記レーザスキャナが設置された面を基準面とした場合に、前記対象物に対して前記平行となったレーザ光が照射されるように前記レーザスキャナの走査制御を実行することで、前記基準面から前記対象物までの距離の測定結果から前記対象物の形状を認識し、
前記放物面鏡は、前記レーザスキャナが第1の軸方向において走査された際に発光されたレーザ光を、前記レーザスキャナを通過せずに前記対象物に真上から照射させるように反射することができる経路が得られるように、前記基準面と接する部分を両端部として、前記放物面鏡の放物反射面の一部をスライスした領域部分によって構成されており、
前記制御部は、前記レーザスキャナを前記第1の軸方向に走査制御し、前記平行となったレーザ光を前記経路によって前記対象物に対して照射させることで、前記対象物の1スライス分の点群データを収集する
形状認識装置。 - 前記放物面鏡と前記レーザスキャナとが搭載されるか、または前記対象物が搭載され、前記第1の軸方向と直交する第2の軸方向に移動可能な走行装置をさらに備え、
前記制御部は、前記走行装置を前記第2の軸方向に沿って移動させることで、前記対象物の3次元形状認識を可能とする
請求項1に記載の形状認識装置。
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| JP2021085219A JP7498151B2 (ja) | 2021-05-20 | 2021-05-20 | 形状認識装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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| JP2900940B2 (ja) * | 1988-06-14 | 1999-06-02 | 富士通株式会社 | 3次元形状測定用光学システム |
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