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JP7500992B2 - Coating device and coating method - Google Patents
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Description

本発明は、基材に液を塗布するための塗布装置及び塗布方法に関する。 The present invention relates to a coating device and coating method for coating a substrate with a liquid.

例えば半導体の製造工程では、半導体ウエハに液体の機能性材料(以下、単に「液」と称する。)が塗布される。半導体ウエハに液を塗布する技術としてスピンコートが知られている。しかし、スピンコートの場合、液の利用効率が悪い。
そこで、近年、半導体ウエハ等の基材に液を塗布するための装置として、塗布器を備えた塗布装置が用いられる。その塗布器は、一方向に長いスリットを有し、スリットの開口が液の吐出口となる。塗布器と半導体ウエハとを相対的に移動させながら、吐出口から液を吐出し、半導体ウエハ上に塗膜を形成する。特許文献1に、塗布器を備えた塗布装置が開示されている。
For example, in the semiconductor manufacturing process, a liquid functional material (hereinafter simply referred to as "liquid") is applied to a semiconductor wafer. Spin coating is known as a technique for applying liquid to a semiconductor wafer. However, in the case of spin coating, the liquid is used inefficiently.
In recent years, a coating device equipped with a coater has been used as a device for coating a liquid on a substrate such as a semiconductor wafer. The coater has a long slit in one direction, and the opening of the slit serves as a liquid discharge port. While the coater and the semiconductor wafer are moved relative to each other, the liquid is discharged from the discharge port to form a coating film on the semiconductor wafer. Patent Document 1 discloses a coating device equipped with a coater.

特開2017-148769号公報JP 2017-148769 A

前記のような塗布器を備える塗布装置の場合、半導体ウエハにおける塗布の開始部(一端部)及び終了部(他端部)で、塗布した液の膜厚精度が低下しやすい。
ここで、半導体ウエハ上の塗布領域には、図9に示すように、チップ等の部品を形成するために高い膜厚精度が要求される有効領域A1と、その周囲(半導体ウエハの周縁部)の除外領域A2とが存在する。前記塗布装置の場合、基材Wの塗布開始の一端部Waと塗布終了の他端部Wbとで膜厚精度が低下しやすいが、このような一端部Wa及び他端部Wbが、除外領域A2の範囲内に収まるように液を塗布するのが望ましい。
In a coating apparatus equipped with the above-mentioned applicator, the film thickness precision of the applied liquid is likely to decrease at the start (one end) and end (other end) of the coating on the semiconductor wafer.
Here, the coating area on the semiconductor wafer includes an effective area A1 where high film thickness accuracy is required to form components such as chips, and an excluded area A2 around it (the periphery of the semiconductor wafer), as shown in Fig. 9. In the case of the coating device, film thickness accuracy is likely to decrease between one end Wa of the substrate W where coating starts and the other end Wb where coating ends, but it is desirable to coat the liquid so that such one end Wa and other end Wb fall within the range of the excluded area A2.

図10A、図10B、図10C、及び図11は、塗布器90を備える塗布装置による塗布方法を説明する図である。図10Aに示すように、基材Wの一端部Wa上に塗布器90を移動させ、一端部Waと吐出口91とを接近させた状態とする。ポンプ99が動作開始することで、塗布器90に液Lが供給され、吐出口91から液Lの吐出が開始される。この際、吐出口91の全幅Bから液Lは吐出される。なお、図10A、図10B、図10Cそれぞれの基材Wは、図9に示す基材Wの一端部Waを通過する断面(X1-X1矢視の断面)を含んで示されている。 Figures 10A, 10B, 10C, and 11 are diagrams illustrating a coating method using a coating device equipped with an applicator 90. As shown in Figure 10A, the applicator 90 is moved onto one end Wa of the substrate W, bringing the one end Wa close to the discharge port 91. When the pump 99 starts to operate, liquid L is supplied to the applicator 90, and discharge of the liquid L begins from the discharge port 91. At this time, the liquid L is discharged from the entire width B of the discharge port 91. Note that the substrate W in each of Figures 10A, 10B, and 10C is shown including a cross section (cross section as viewed from the X1-X1 arrow) passing through one end Wa of the substrate W shown in Figure 9.

図10Bに示すように、吐出した液Lの一部が、基材Wの一端部Waに付着する。吐出口91の全幅Bから液Lは吐出されるが、基材Wは円形であることから、吐出された液Lのうち、中央の一部の液Laのみが一端部Waに付着し、吐出口91が開口する塗布器90の先端面92と基材Wの一端部Waとの間に、液LのビードLBが形成される。これに対して、中央の一部の液Laの両側にある残りの液Lbは基材Wに付着しない。このように基材Wの一端部Waに液Lを付着させる動作は、着液動作と称され、その一端部Waに液Lを付着させる工程は、着液工程と称される。 As shown in FIG. 10B, a portion of the discharged liquid L adheres to one end Wa of the substrate W. The liquid L is discharged from the entire width B of the discharge port 91, but because the substrate W is circular, only a central portion of the discharged liquid La adheres to the one end Wa, and a bead LB of liquid L is formed between the tip surface 92 of the applicator 90 where the discharge port 91 opens and the one end Wa of the substrate W. In contrast, the remaining liquid Lb on both sides of the central portion of liquid La does not adhere to the substrate W. The operation of applying the liquid L to the one end Wa of the substrate W in this manner is called the liquid application operation, and the process of applying the liquid L to the one end Wa is called the liquid application process.

一端部Waに液Lが付着すると、ポンプ99を停止させ、基材Wと塗布器90とを相対移動させるが、その前に、塗布器90とタンク97とを繋ぐ流路98のバルブ96を開く(図10C参照)。なお、タンク97の液Lは予め減圧されている。バルブ96を開くと、塗布器90内の液Lも減圧される。塗布器90内の液Lの圧力が所定の値(大気圧に対して僅かに負圧)で安定すると、基材Wと塗布器90との相対移動を開始する。これにより、基材Wに接した液Lにより、塗布器90内の液Lが基材W側に引き出され、基材Wに液Lが塗布される(図11の上側の図参照)。この塗布はキャピラリー塗布と称される。図11の上側の図は、基材Wと塗布器90とを塗布進行方向に沿って見た図であり、その下段の図は、平面図である。なお、図11の上側の図に示す基材Wは、図9に示す基材Wの途中部を通過する断面(X2-X2矢視の断面)を含んで示されている。 When the liquid L adheres to one end Wa, the pump 99 is stopped and the substrate W and the applicator 90 are moved relative to each other. Before that, the valve 96 of the flow path 98 connecting the applicator 90 and the tank 97 is opened (see FIG. 10C). The liquid L in the tank 97 is depressurized in advance. When the valve 96 is opened, the liquid L in the applicator 90 is also depressurized. When the pressure of the liquid L in the applicator 90 stabilizes at a predetermined value (slightly negative pressure relative to atmospheric pressure), the substrate W and the applicator 90 start to move relative to each other. As a result, the liquid L in the applicator 90 is drawn toward the substrate W by the liquid L in contact with the substrate W, and the liquid L is applied to the substrate W (see the upper diagram in FIG. 11). This application is called capillary application. The upper diagram in FIG. 11 is a diagram of the substrate W and the applicator 90 viewed along the coating progress direction, and the lower diagram is a plan view. The substrate W shown in the upper diagram of FIG. 11 is shown including a cross section (cross section taken along the X2-X2 arrows) passing through the middle part of the substrate W shown in FIG. 9.

ここで、図10Bに示すように、着液工程の際、基材Wの一端部Waの両側のエッジWeでは、液Lが表面張力によって集まりやすい。このため、塗布器90の先端部において、エッジWeの近傍に液溜まりLsが形成される。具体的に説明すると、エッジWeの近傍では液Lが集まりやすいことから、吐出口91が開口する先端面92を経て傾斜状となる塗布器90の側面93にも、液Lが付着する(図10B中の左側の側面図参照)。
そして、前記のとおり、着液工程の後、図10Cに示すように、バルブ96を開き、塗布器90内の液Lの圧力が負圧の所定値に安定するまで前記相対移動を待機するが、バルブ96が開状態にあることにより、タンク97と塗布器90との間で液Lが流れることが可能であるため、前記相対移動を開始するまでの間、基材WのエッジWeに限っては、液Lの表面張力が強く働いて液Lを引き出し、液溜まりLsを大きくさせる(成長させる)ことがある。
10B, during the liquid application step, the liquid L tends to collect due to surface tension at the edges We on both sides of one end Wa of the substrate W. For this reason, a liquid pool Ls is formed near the edge We at the tip of the applicator 90. To be more specific, since the liquid L tends to collect near the edge We, the liquid L also adheres to the side surface 93 of the applicator 90, which is inclined beyond the tip surface 92 where the discharge port 91 opens (see the side view on the left in FIG. 10B).
Then, as described above, after the liquid landing process, as shown in FIG. 10C, the valve 96 is opened, and the relative movement is put on hold until the pressure of the liquid L in the applicator 90 stabilizes at a predetermined negative pressure value. However, since the valve 96 is in the open state, it is possible for the liquid L to flow between the tank 97 and the applicator 90. Therefore, until the relative movement begins, the surface tension of the liquid L acts strongly only on the edge We of the substrate W, drawing out the liquid L and causing the liquid puddle Ls to become larger (grow).

液溜まりLsが大きくなった状態で、塗布器90と基材Wとの相対移動が開始されると、その液溜まりLsの液が、吐出口91から吐出される液Lと共に基材Wに塗布される。すると、図11の下側の図に示すように、基材W上に形成される液Lの塗膜において、液溜まりLsと対応する位置にスジJが生じてしまう。スジJが生じている部分は、膜厚が一定ではなく、その基材Wは欠陥品となってしまう。
そこで、本開示の発明は、基材に対して着液を行うと、その基材のエッジで液が集まりやすいが、その影響を抑えて液の塗布を可能とすることを目的とする。
When the applicator 90 and the substrate W start to move relative to each other with the liquid puddle Ls large, the liquid in the liquid puddle Ls is applied to the substrate W together with the liquid L discharged from the discharge port 91. Then, as shown in the lower diagram of Fig. 11, a streak J is formed in the coating film of the liquid L formed on the substrate W at a position corresponding to the liquid puddle Ls. The film thickness is not constant in the portion where the streak J is formed, and the substrate W becomes a defective product.
Therefore, the invention of the present disclosure aims to make it possible to apply liquid while suppressing the effect of liquid gathering at the edge of a substrate when the substrate is applied with the liquid.

本開示の塗布装置は、一方向に長い吐出口を先端部に有する塗布器と、前記一方向に交差する方向に前記塗布器と基材との相対移動を行わせる移動機構と、液を溜めるタンク、前記塗布器と前記タンクとを繋ぐ流路、前記流路に設けられているバルブ、及び、前記タンクの液を減圧調整する調圧手段を有する調整経路と、前記移動機構、前記バルブ、及び前記調圧手段を制御する制御装置と、を備え、前記制御装置は、前記吐出口から液を吐出して前記基材の端部に液を付着させるための着液制御と、前記タンクの液が減圧状態であり前記バルブが開状態であることにより前記塗布器内の液を減圧しつつ、前記相対移動を行って前記基材へ液を塗布するための塗布制御と、を実行可能であり、前記塗布制御では、前記相対移動の開始以降に、前記バルブの開動作を開始する制御を行う。 The coating device of the present disclosure includes an applicator having a long outlet at its tip in one direction, a movement mechanism for moving the applicator relative to the substrate in a direction intersecting the one direction, a tank for storing liquid, a flow path connecting the applicator and the tank, a valve provided in the flow path, and an adjustment path having a pressure adjustment means for reducing the pressure of the liquid in the tank, and a control device for controlling the movement mechanism, the valve, and the pressure adjustment means. The control device is capable of performing a liquid deposition control for discharging liquid from the outlet and depositing the liquid on the edge of the substrate, and a coating control for performing the relative movement to apply the liquid to the substrate while reducing the pressure of the liquid in the applicator by reducing the pressure of the liquid in the tank and opening the valve, and the coating control controls the valve to start opening after the relative movement begins.

前記塗布装置によれば、塗布器の吐出口から液を吐出して基材の端部に液を付着させた後、その塗布器の先端部において基材の端部のエッジの近傍に液溜まりが生じていても、前記バルブの開動作の開始以前に基材と塗布器との相対移動が開始される。このため、前記相対移動が行われていない状態でタンクから塗布器に液の供給がされない。そして、吐出口と対向する基材のエッジの位置は、前記相対移動に伴って塗布器の長手方向と平行な方向に徐々に移動することから、前記相対移動が開始されると、前記エッジに起因して生じる前記液溜まりは、その長手方向に引っ張られて拡散され、前記液溜まりは大きくならない。この結果、液の付着の際に塗布器の先端部に生じる液溜まりの影響を抑えて液の塗布が可能となる。 According to the coating device, even if a liquid pool occurs near the edge of the substrate at the tip of the applicator after the liquid is discharged from the discharge port of the applicator and applied to the end of the substrate, the relative movement between the substrate and the applicator begins before the valve starts to open. Therefore, liquid is not supplied from the tank to the applicator when the relative movement is not occurring. The position of the edge of the substrate facing the discharge port gradually moves in a direction parallel to the longitudinal direction of the applicator as the relative movement occurs, so that when the relative movement begins, the liquid pool caused by the edge is pulled in the longitudinal direction and spreads, and the liquid pool does not become larger. As a result, the effect of the liquid pool occurring at the tip of the applicator when the liquid is applied is suppressed, and the liquid can be applied.

また、好ましくは、前記制御装置は、前記基材の前記端部に液が付着すると、前記塗布制御として、前記相対移動を、第一の速度で行い、その後、前記第一の速度よりも高い第二の速度に変更して行い、前記相対移動を前記第一の速度で開始してから前記第二の速度に変更するまでの間に、前記バルブの開動作を開始する。
この場合、低速である第一の速度で相対移動が行われる間に、前記のような液溜まりの拡散を開始させることができる。このため、基材の縁部に対して液を塗布している間に、液溜まりの拡散を進めることが可能となる。そして、拡散が進むと、高速である第二の速度で塗布が継続され、液溜まりの影響を抑えつつ、塗布の作業効率が向上する。
Also, preferably, when liquid adheres to the end of the substrate, the control device performs the relative movement at a first speed, and then changes the speed to a second speed higher than the first speed, as the coating control, and initiates an opening operation of the valve between when the relative movement starts at the first speed and when it is changed to the second speed.
In this case, the diffusion of the liquid pool can be started while the relative movement is performed at the first low speed. Therefore, the diffusion of the liquid pool can be promoted while the liquid is being applied to the edge of the substrate. Then, as the diffusion progresses, the application is continued at the second high speed, and the effect of the liquid pool is suppressed and the efficiency of the application work is improved.

また、好ましくは、前記制御装置は、前記塗布器内の液の圧力が安定したことを検出すると、前記第二の速度に変更する。
前記構成によれば、前記バルブを開き、塗布器内の液の圧力を負圧とし、その圧力が安定すると、前記相対移動の速度を、高速である第二の速度に迅速に変更することが可能となり、塗布作業の効率を高め、しかも、塗布器内の液の圧力が安定していることで、膜厚精度の高い塗布が可能となる。
Also preferably, the controller changes to the second speed when it detects that the pressure of the liquid in the applicator has stabilized.
According to the above configuration, when the valve is opened and the pressure of the liquid in the applicator is made negative, and the pressure stabilizes, it is possible to quickly change the speed of the relative movement to a second speed which is higher, thereby increasing the efficiency of the coating operation, and furthermore, since the pressure of the liquid in the applicator is stable, coating with high film thickness accuracy is possible.

また、好ましくは、前記制御装置は、前記着液制御として、前記相対移動が行われていない状態で前記基材の端部への液の付着を行うための制御を実行する。
前記構成によれば、着液が正確に行われる。
In a preferred embodiment, the control device executes, as the liquid landing control, control for depositing liquid on the edge portion of the substrate in a state in which the relative movement is not being performed.
According to the above-mentioned configuration, the liquid is applied accurately.

また、好ましくは、前記制御装置は、前記基材の前記端部に対する液の付着が確認されることで生成される着液信号が得られると、前記相対移動を開始する。
前記構成により、着液後、迅速かつ確実に基材に対して液を塗布することが可能となる。
In a preferred embodiment, the control device starts the relative movement when a liquid landing signal is obtained, which is generated by confirming that the liquid has adhered to the end portion of the base material.
With this configuration, it becomes possible to quickly and reliably apply the liquid to the substrate after the liquid has landed on the substrate.

また、好ましくは、前記塗布装置は、前記調整経路とは別に設けられ当該塗布器に液を供給可能な独立した供給経路を更に備え、前記制御装置は、前記着液制御として、前記バルブが閉じた状態で前記供給経路による液の供給を行わせる。
この場合、着液制御として、前記バルブが閉じた状態で、前記供給経路による液の供給を行わせることで、塗布器の吐出口から液を吐出して基材の端部に液を付着させることができる。着液制御は、前記調整経路と別である前記供給経路により行われ、着液後、前記相対移動の開始以降に、前記バルブの開動作を開始する制御が容易となる。
In a preferred embodiment, the application device further includes an independent supply path that is provided separately from the adjustment path and is capable of supplying liquid to the applicator, and the control device controls the liquid delivery by supplying liquid through the supply path with the valve closed.
In this case, as a liquid landing control, by supplying liquid through the supply path with the valve closed, the liquid can be discharged from the discharge port of the applicator to adhere to the edge of the substrate. The liquid landing control is performed by the supply path, which is separate from the adjustment path, and after the liquid landing, it becomes easy to control the start of the opening operation of the valve after the start of the relative movement.

本開示の塗布方法は、一方向に長い吐出口を先端部に有する塗布器と、液を溜めるタンク、前記塗布器と前記タンクとを繋ぐ流路、前記流路に設けられているバルブ、及び、前記タンクの液を減圧調整する調圧手段を有する調整経路と、を備え、前記一方向に交差する方向に前記塗布器と基材とを相対移動させながら、前記吐出口から当該基材に対して液を吐出することで行われる塗布方法であって、前記吐出口から液を吐出して前記基材の端部に液を付着させる着液工程と、前記タンクの液を減圧状態とし前記バルブを開状態とすることにより前記塗布器内の液を減圧しつつ、前記相対移動を行って前記基材へ液を塗布する塗布工程と、を含み、前記塗布工程では、前記相対移動の開始以降に、前記バルブの開動作を開始する。
前記塗布方法は、前記塗布装置によって実行可能である。このため、液の付着の際に塗布器の先端部に生じる液溜まりの影響を抑えて液の塗布が可能となる。
The coating method of the present disclosure comprises an applicator having a long outlet at its tip in one direction, a tank for storing liquid, a flow path connecting the applicator and the tank, a valve provided in the flow path, and an adjustment path having a pressure regulating means for reducing the pressure of the liquid in the tank, and is performed by discharging liquid from the outlet onto the substrate while moving the applicator and substrate relative to each other in a direction intersecting the one direction, and includes a liquid deposition process in which liquid is discharged from the outlet to adhere to an end of the substrate, and a coating process in which the liquid in the tank is reduced in pressure and the valve is opened to reduce the pressure of the liquid in the applicator while performing the relative movement to apply the liquid to the substrate, and during the coating process, the opening operation of the valve is started after the start of the relative movement.
The coating method can be performed by the coating device, and therefore, the liquid can be applied while suppressing the influence of liquid pooling that occurs at the tip of the applicator when the liquid is applied.

基材の端部に対して着液を行うと、その基材の端部のエッジで液が集まりやすいが、その影響を抑えて液の塗布が可能となる。 When applying liquid to the edge of a substrate, the liquid tends to collect at the edge of the substrate, but this effect can be reduced and the liquid can be applied.

塗布装置の一例を示す概略構成図である。FIG. 2 is a schematic diagram illustrating an example of a coating device. 塗布器及び基材の斜視図である。FIG. 2 is a perspective view of an applicator and a substrate. 塗布方法の説明図である。FIG. 塗布方法の説明図である。FIG. 塗布方法の説明図である。FIG. 塗布方法の説明図である。FIG. 塗布方法の説明図である。FIG. 基材及び塗布器の説明図である。FIG. 2 is an illustration of a substrate and an applicator. 基材及び塗布器の説明図である。FIG. 2 is an illustration of a substrate and an applicator. 塗布方法を説明するフロー図である。FIG. 4 is a flow diagram illustrating a coating method. 塗布方法を説明するフロー図である。FIG. 4 is a flow diagram illustrating a coating method. 基材の説明図である。FIG. 従来の塗布方法の説明図である。FIG. 1 is an explanatory diagram of a conventional coating method. 従来の塗布方法の説明図である。FIG. 1 is an explanatory diagram of a conventional coating method. 従来の塗布方法の説明図である。FIG. 1 is an explanatory diagram of a conventional coating method. 従来の塗布方法の課題を説明する図である。1A to 1C are diagrams illustrating problems with a conventional coating method.

〔塗布装置の構成〕
図1は、塗布装置の一例を示す概略構成図である。図1に示す塗布装置10は、基材Wに液Lを塗布するための装置である。塗布装置10は、後にも説明するが、一方向に長い吐出口23を有する塗布器11を備え、その塗布器11と基材Wとを相対移動させながら、吐出口23から液Lを吐出させる。これにより、基材Wの一面である被塗布面に液Lが塗布される。このような塗布を行うために、塗布装置10は、塗布器11、移動機構12、調整経路13、及び制御装置14を備える。本開示の塗布装置10は、更に、供給経路15、ステージ16、及び支持部17を備える。
[Configuration of Coating Apparatus]
FIG. 1 is a schematic diagram showing an example of a coating device. The coating device 10 shown in FIG. 1 is a device for coating a substrate W with a liquid L. As will be described later, the coating device 10 includes an applicator 11 having a discharge port 23 that is long in one direction, and discharges the liquid L from the discharge port 23 while moving the applicator 11 and the substrate W relative to each other. As a result, the liquid L is applied to a surface to be coated, which is one surface of the substrate W. To perform such coating, the coating device 10 includes the applicator 11, a moving mechanism 12, an adjustment path 13, and a control device 14. The coating device 10 of the present disclosure further includes a supply path 15, a stage 16, and a support unit 17.

図2は、塗布器11及び基材Wの斜視図である。塗布器11は、スリットダイとも呼ばれ、一方向に長い部材である。前記一方向、つまり、塗布器11の長手方向を「第1方向」と定義する。図1及び図等2において「第1方向」を矢印Xで示している。塗布器11は、塗布装置10が備える支持部17(図1参照)に搭載されている。 Figure 2 is a perspective view of the applicator 11 and the substrate W. The applicator 11 is also called a slit die, and is a member that is long in one direction. This one direction, i.e., the longitudinal direction of the applicator 11, is defined as the "first direction." The "first direction" is indicated by arrow X in Figures 1 and 2. The applicator 11 is mounted on a support portion 17 (see Figure 1) provided in the coating device 10.

塗布器11内に、液が溜められる液溜め空間21と、スリット22とが形成されている。液溜め空間21及びスリット22は、第1方向に沿って長く直線状に形成されている。スリット22の一方側(図1では上側)は、液溜め空間21に開口し、液溜め空間21と繋がっている。スリット22の他方側(図1では下側)は、塗布器11の先端面24で開口している。スリット22の開口が、液Lを吐出する吐出口23である。吐出口23の第1方向の寸法は、基材Wの直径(第1方向の幅寸法)よりも大きい(図2参照)。塗布器11に供給され液溜め空間21に一旦溜められた液Lが、スリット22を通じて吐出口23から外部空間へ吐出される。塗布器11の先端面24は、基材Wに対向しており、吐出口23から吐出された液Lが基材Wに塗布される。 A liquid storage space 21 in which liquid is stored and a slit 22 are formed in the applicator 11. The liquid storage space 21 and the slit 22 are formed in a long straight line along the first direction. One side of the slit 22 (upper side in FIG. 1) opens into the liquid storage space 21 and is connected to the liquid storage space 21. The other side of the slit 22 (lower side in FIG. 1) opens at the tip surface 24 of the applicator 11. The opening of the slit 22 is the discharge port 23 that discharges the liquid L. The dimension of the discharge port 23 in the first direction is larger than the diameter (width dimension in the first direction) of the substrate W (see FIG. 2). The liquid L supplied to the applicator 11 and temporarily stored in the liquid storage space 21 is discharged from the discharge port 23 to the external space through the slit 22. The tip surface 24 of the applicator 11 faces the substrate W, and the liquid L discharged from the discharge port 23 is applied to the substrate W.

移動機構12は、塗布器11と基材Wとを相対移動させる。本開示では、静止状態にある塗布器11に対して、基材Wを保持するステージ16を移動させる。移動する基材Wに対して相対的な塗布器11の移動方向が「塗布進行方向」となり、塗布進行方向は、第1方向に直交する方向となる。塗布進行方向を「第2方向」と定義し、図1及び図2等において「第2方向」を矢印Yで示している。 The movement mechanism 12 moves the applicator 11 and the substrate W relative to each other. In the present disclosure, the stage 16 holding the substrate W is moved relative to the applicator 11, which is in a stationary state. The direction of movement of the applicator 11 relative to the moving substrate W is the "coating progress direction", which is perpendicular to the first direction. The coating progress direction is defined as the "second direction", and the "second direction" is indicated by arrow Y in Figures 1 and 2, etc.

第1方向及び第2方向の双方に直交する方向であり、液溜め空間21からスリット22の開口(吐出口23)に向かう方向を「第3方向」と定義する。図1及び図2等において「第3方向」を矢印Zで示している。本開示の発明では、第1方向及び第2方向は、水平面に沿った方向となり、第3方向は、鉛直線に沿って上から下に向かう方向となる。 The direction perpendicular to both the first and second directions, from the liquid storage space 21 toward the opening of the slit 22 (discharge port 23), is defined as the "third direction." The "third direction" is indicated by arrow Z in Figures 1 and 2, etc. In the invention disclosed herein, the first and second directions are directions along a horizontal plane, and the third direction is a direction from top to bottom along a vertical line.

本開示の基材Wは、図2に示すように、一般的な半導体ウエハのような円形の板である。なお、基材Wは、円形以外であってもよく、基材Wの輪郭形状は、その基材Wのうちの第2方向の前半領域では、第2方向に向かうにしたがって第1方向の寸法(基材幅)が徐々に大きくなる形状である。また、基材Wの輪郭形状は、残りである第2方向の後半領域では、つまり、第2方向の途中から、第2方向に向かうにしたがって第1方向の寸法(基材幅)が小さくなる形状である。 As shown in FIG. 2, the substrate W of the present disclosure is a circular plate like a typical semiconductor wafer. The substrate W may be other than circular, and the contour shape of the substrate W is such that in the first half of the second direction region of the substrate W, the dimension in the first direction (substrate width) gradually increases as it approaches the second direction. The contour shape of the substrate W is such that in the remaining second half of the second direction region, that is, from the middle of the second direction, the dimension in the first direction (substrate width) decreases as it approaches the second direction.

図1において、ステージ16は、基材Wを例えばエアの吸引によって保持する。基材Wに液Lを塗布する際、その基材Wの上方に塗布器11が位置する。本開示の移動機構12は、静止状態にある塗布器11に対して、ステージ16を移動させる構成を備える。具体的に説明すると、ステージ16は第2方向及びその反対方向に沿って前後移動可能となって設けられていて、移動機構12は、ステージ16を移動させるアクチュエータ26を有する。アクチュエータ26は、例えばリニアアクチュエータである。基材Wの被塗布面が水平状態となって基材Wが移動する。なお、本開示の構成とは反対に、ステージ16が静止状態であって塗布器11を搭載する支持部17が移動してもよい。つまり、移動機構12は、塗布器11の長手方向に交差する方向に、基材Wと塗布器11とを相対的に移動させる構成であればよい。移動機構12による前記相対的な移動の開始、移動の停止、移動の速度変更は制御装置14によって制御される。 1, the stage 16 holds the substrate W, for example, by suction of air. When applying the liquid L to the substrate W, the applicator 11 is located above the substrate W. The moving mechanism 12 of the present disclosure has a configuration for moving the stage 16 with respect to the applicator 11, which is in a stationary state. Specifically, the stage 16 is provided so as to be movable back and forth along the second direction and the opposite direction, and the moving mechanism 12 has an actuator 26 for moving the stage 16. The actuator 26 is, for example, a linear actuator. The substrate W moves with the surface to be coated of the substrate W in a horizontal state. Note that, contrary to the configuration of the present disclosure, the stage 16 may be in a stationary state and the support part 17 on which the applicator 11 is mounted may move. In other words, the moving mechanism 12 may be configured to relatively move the substrate W and the applicator 11 in a direction intersecting the longitudinal direction of the applicator 11. The start of the relative movement by the moving mechanism 12, the stop of the movement, and the change in the speed of the movement are controlled by the control device 14.

以上より、塗布器11に対して基材Wが移動しながら、その塗布器11の吐出口23から液Lが吐出されて、後にも説明するがキャピラリー塗布が行われる。塗布器11の吐出口23と、基材Wとの間隔(隙間)を調整するために、塗布器11は、被塗布面に直交する方向(第3方向及びその反対方向)に移動可能となって支持部17に搭載されている。 As described above, while the substrate W moves relative to the applicator 11, the liquid L is discharged from the outlet 23 of the applicator 11, and capillary coating is performed, as will be explained later. In order to adjust the distance (gap) between the outlet 23 of the applicator 11 and the substrate W, the applicator 11 is mounted on the support part 17 and is movable in a direction perpendicular to the surface to be coated (the third direction and the opposite direction).

図1において、調整経路13は、液Lを溜めるタンク31、塗布器11とタンク31とを繋ぐ流路を構成する配管32、配管32に設けられているバルブ33、及び、タンク31の液Lを減圧すると共にその液Lの圧力を調整する調圧手段34を有する。バルブ33は開閉動作するバルブであり、開状態にあると、配管32を通じて塗布器11とタンク31との間を液Lが流れることが可能である。バルブ33が閉状態にあると、配管32を通じて塗布器11とタンク31との間を液Lが流れることが不可能となる。バルブ33は、開閉動作のためにその弁体を動作させる駆動部を有する。その駆動部は、制御装置14が行う制御に基づいて動作する。制御装置14は、例えば、バルブ33を開動作させる信号(開動作信号)を生成する。 In FIG. 1, the adjustment path 13 includes a tank 31 for storing liquid L, a pipe 32 that constitutes a flow path connecting the applicator 11 and the tank 31, a valve 33 provided in the pipe 32, and a pressure adjusting means 34 that reduces the pressure of the liquid L in the tank 31 and adjusts the pressure of the liquid L. The valve 33 is a valve that opens and closes. When the valve 33 is in an open state, the liquid L can flow between the applicator 11 and the tank 31 through the pipe 32. When the valve 33 is in a closed state, the liquid L cannot flow between the applicator 11 and the tank 31 through the pipe 32. The valve 33 has a drive unit that operates the valve body for opening and closing operations. The drive unit operates based on the control performed by the control device 14. The control device 14 generates, for example, a signal (open operation signal) that opens the valve 33.

調圧手段34は、吸引ポンプ(真空ポンプ)35と、レギュレータ36を有する。吸引ポンプ35は、タンク31内を減圧することでタンク31に溜められている液Lを減圧することができ、レギュレータ36は、タンク31の液Lの圧力を調整することができる。この調圧手段34により、タンク31の液Lが大気圧に対して負圧となる。その状態で、バルブ33が開状態になると、塗布器11内の液Lも大気圧に対して負圧となる。
塗布器11に圧力センサ39が設けられていて、圧力センサ39は塗布器11内の液Lの圧力を検出する。制御装置14は圧力センサ39の測定値を取得し、その測定値に基づいてレギュレータ36を制御する。圧力センサ39により、塗布器11内の液Lの圧力が所定の値(負圧)に保たれるように、タンク31に溜めている液Lの圧力が調圧手段34によって調整される。調圧手段34は、塗布器11内の液Lの圧力を大気圧に対して負圧に調整することが可能であり、これにより、塗布器11によるキャピラリー塗布が可能となる。キャピラリー塗布については後に説明する。調圧手段34の動作の他、バルブ33の開閉動作は制御装置14によって制御される。
The pressure adjusting means 34 has a suction pump (vacuum pump) 35 and a regulator 36. The suction pump 35 can reduce the pressure inside the tank 31 to reduce the pressure of the liquid L stored in the tank 31, and the regulator 36 can adjust the pressure of the liquid L in the tank 31. The pressure adjusting means 34 makes the liquid L in the tank 31 negative relative to atmospheric pressure. In this state, when the valve 33 is opened, the liquid L in the applicator 11 also becomes negative relative to atmospheric pressure.
A pressure sensor 39 is provided in the applicator 11, and the pressure sensor 39 detects the pressure of the liquid L in the applicator 11. The control device 14 acquires the measurement value of the pressure sensor 39 and controls the regulator 36 based on the measurement value. The pressure of the liquid L stored in the tank 31 is adjusted by the pressure adjustment means 34 so that the pressure of the liquid L in the applicator 11 is maintained at a predetermined value (negative pressure) by the pressure sensor 39. The pressure adjustment means 34 can adjust the pressure of the liquid L in the applicator 11 to a negative pressure with respect to atmospheric pressure, thereby enabling capillary application by the applicator 11. Capillary application will be described later. In addition to the operation of the pressure adjustment means 34, the opening and closing operation of the valve 33 is controlled by the control device 14.

供給経路15は、塗布器11と第二の流路(配管37)を通じて繋がる供給ポンプ38を有する。供給ポンプ38は単位時間当たり一定量の液Lを塗布器11に供給することができ定量ポンプである。供給ポンプ38が動作開始して、液Lを塗布器11に供給することで、塗布器11の吐出口23から液Lが吐出され始め、その液Lを基材Wの一端部Waに付着させることができる。また、基材Wへ液Lが塗布されることで塗布器11の液Lは消費されることから、供給ポンプ38によって液Lを塗布器11に補充することができる。このように、供給経路15は、塗布器11と繋がり塗布器11に液Lを供給可能である。なお、基材Wへ液Lが塗布される際、塗布器11への液Lの補充は、調整経路13が行ってもよい。つまり、タンク31の液Lが塗布器11に補充されてもよい。 The supply path 15 has a supply pump 38 connected to the applicator 11 through a second flow path (piping 37). The supply pump 38 is a fixed-volume pump that can supply a fixed amount of liquid L to the applicator 11 per unit time. When the supply pump 38 starts to operate and supplies liquid L to the applicator 11, the liquid L begins to be discharged from the discharge port 23 of the applicator 11, and the liquid L can be attached to one end Wa of the substrate W. In addition, since the liquid L in the applicator 11 is consumed by applying the liquid L to the substrate W, the liquid L can be replenished to the applicator 11 by the supply pump 38. In this way, the supply path 15 is connected to the applicator 11 and can supply the liquid L to the applicator 11. Note that when the liquid L is applied to the substrate W, the liquid L may be replenished to the applicator 11 by the adjustment path 13. In other words, the liquid L in the tank 31 may be replenished to the applicator 11.

制御装置14は、コントロールユニットと呼ばれるものであり、コンピュータを含む。そのコンピュータに記憶されているプログラムが、コンピュータの処理装置(CPU)によって実行されることで、塗布装置10が備える各部の動作及びその動作タイミングが制御され、基材Wに対する液の塗布が行われる。制御装置14は、移動機構12、つまり、アクチュエータ26の動作を制御することで、塗布器11に対する基材W(ステージ16)の移動の制御を行う機能を有する。また、制御装置14は、供給ポンプ38、バルブ33及び調圧手段34の動作の制御を行う機能を有する。 The control device 14 is called a control unit and includes a computer. A program stored in the computer is executed by the computer's processing unit (CPU), thereby controlling the operation and timing of each part of the coating device 10 and coating the liquid onto the substrate W. The control device 14 has a function of controlling the movement of the substrate W (stage 16) relative to the coater 11 by controlling the operation of the movement mechanism 12, i.e., the actuator 26. The control device 14 also has a function of controlling the operation of the supply pump 38, the valve 33, and the pressure adjustment means 34.

後にも説明するが、塗布装置10が基材Wに液Lを塗布するために、塗布器11から吐出させた液Lを基材Wの一端部Waに付着させる。このように一端部Waに液Lを付着させる動作は、着液動作と称され、一端部Waに液Lを付着させる工程は、着液工程と称される。
本開示の塗布装置10は、一端部Waに液Lが付着完了したことを検出する着液検出手段18を更に備える。着液検出手段18は、例えば、カメラ40、前記圧力センサ39、及び、前記供給ポンプ38からの液Lの供給量を求める計測器41のうち、少なくとも1つを含んで構成される。一端部Waに液Lが付着完了したことが検出されると、着液検出手段18は、着液信号を生成する。着液信号は、一端部Waに対する液Lの付着が確認されることで生成される信号である。制御装置14は、その着液信号を取得し、次の動作に進める。
As will be described later, in order for the coating device 10 to coat the substrate W with the liquid L, the liquid L discharged from the coater 11 is adhered to one end Wa of the substrate W. The operation of adhering the liquid L to the one end Wa in this manner is referred to as a liquid landing operation, and the process of adhering the liquid L to the one end Wa is referred to as a liquid landing process.
The coating device 10 of the present disclosure further includes a liquid-landing detection means 18 that detects that the liquid L has been completely attached to the one end Wa. The liquid-landing detection means 18 includes at least one of, for example, a camera 40, the pressure sensor 39, and a measuring device 41 that determines the amount of liquid L supplied from the supply pump 38. When it is detected that the liquid L has been completely attached to the one end Wa, the liquid-landing detection means 18 generates a liquid-landing signal. The liquid-landing signal is a signal that is generated when the attachment of the liquid L to the one end Wa is confirmed. The control device 14 acquires the liquid-landing signal and proceeds to the next operation.

カメラ40は、基材Wの一端部Waと、その一端部Waに接近した状態にある塗布器11の先端面24との間を撮影し、画像解析処理によって、液Lが一端部Waに付着したことを検出する。画像解析処理は制御装置14が行ってもよい。
圧力センサ39は、塗布器11内の液Lの圧力を刻々と検出する。液Lが一端部Waに付着すると、塗布器11内の液Lの圧力が僅かではあるが変化する。その変化が圧力センサ39によって検出される。つまり、着液工程において、塗布器11内の液Lの圧力を圧力センサ39が検出し、その圧力が所定の閾値を超えて変化すると、一端部Waに液Lが付着完了したと検出することができる。
着液工程(着液動作)では、供給ポンプ38が液Lを塗布器11に供給する。供給ポンプ38から塗布器11を経て基材Wの一端部Waまでの経路は既知であり、また、その経路の長さに変化はないことから、一端部Waに液Lが付着するために要する供給ポンプ38による液Lの供給総量を予め調べることができる。そこで、供給ポンプ38が供給する液Lの量を計測器41が求め(積算し)、供給ポンプ38による液Lの供給量が予め設定されている値に達すると、一端部Waに液Lが付着完了したと検出(推定)することができる。
The camera 40 captures an image between one end Wa of the substrate W and the tip surface 24 of the applicator 11 approaching the one end Wa, and detects that the liquid L has adhered to the one end Wa by image analysis processing. The image analysis processing may be performed by the control device 14.
The pressure sensor 39 detects the pressure of the liquid L in the applicator 11 from moment to moment. When the liquid L adheres to one end Wa, the pressure of the liquid L in the applicator 11 changes, albeit slightly. This change is detected by the pressure sensor 39. In other words, in the liquid application process, the pressure sensor 39 detects the pressure of the liquid L in the applicator 11, and when the pressure changes beyond a predetermined threshold, it can be detected that the application of the liquid L to one end Wa has been completed.
In the liquid application step (liquid application operation), the supply pump 38 supplies the liquid L to the applicator 11. The path from the supply pump 38 through the applicator 11 to the one end Wa of the substrate W is known, and the length of the path does not change, so that the total amount of liquid L supplied by the supply pump 38 required for the liquid L to adhere to the one end Wa can be checked in advance. The amount of liquid L supplied by the supply pump 38 is calculated (integrated) by the measuring device 41, and when the amount of liquid L supplied by the supply pump 38 reaches a preset value, it can be detected (estimated) that the liquid L has been applied to the one end Wa.

〔塗布方法〕
以上の構成を備える塗布装置10が行う塗布方法について図3Aから図6により説明する。図7及び図8は、塗布方法を説明するフロー図であり、以下に説明する「ステップS1~S5」は図7に示すステップであり、「ステップS11~S18」は図8に示すステップである。
基材Wを載せたステージ16を移動機構12により移動させ(ステップS1)、基材Wの一端部Waの上方に塗布器11の吐出口23が位置すると、ステージ16を停止させる(ステップS2)。基材Wが静止した状態、及び、その一端部Waと吐出口23とが接近した状態で、供給ポンプ38が動作を開始する(ステップS3)。液Lが塗布器11に供給され、吐出口23から液Lの吐出が開始される(図3A参照)。この際、吐出口23の全幅Bから液Lは吐出される。図3A、図3B、図3Cそれぞれの基材Wは、図2に示す基材Wの一端部Waを通過する断面(X1-X1矢視の断面)を含んで示されている。
[Coating method]
The coating method performed by the coating device 10 having the above configuration will be described with reference to Figures 3A to 6. Figures 7 and 8 are flow diagrams explaining the coating method, and "steps S1 to S5" described below are the steps shown in Figure 7, and "steps S11 to S18" are the steps shown in Figure 8.
The stage 16 carrying the substrate W is moved by the moving mechanism 12 (step S1), and when the discharge port 23 of the applicator 11 is positioned above one end Wa of the substrate W, the stage 16 is stopped (step S2). With the substrate W stationary and the one end Wa approaching the discharge port 23, the supply pump 38 starts to operate (step S3). The liquid L is supplied to the applicator 11, and discharge of the liquid L starts from the discharge port 23 (see FIG. 3A). At this time, the liquid L is discharged from the full width B of the discharge port 23. The substrate W in each of FIGS. 3A, 3B, and 3C is shown including a cross section (cross section of the X1-X1 arrow) passing through one end Wa of the substrate W shown in FIG. 2.

図3Bに示すように、吐出した液Lの一部が、基材Wの一端部Waに付着する。吐出口23の全幅Bから液Lは吐出されるが、基材Wは円形であることから、吐出された液Lのうち、中央の一部の液Laのみが一端部Waに付着し、吐出口23が開口する塗布器11の先端面24と一端部Waとの間に、液LのビードLBが形成される。これに対して、中央の一部の液Laの両側にある残りの液Lbは基材Wに付着しない。 As shown in FIG. 3B, a portion of the ejected liquid L adheres to one end Wa of the substrate W. The liquid L is ejected from the entire width B of the ejection port 23, but because the substrate W is circular, only a central portion of the ejected liquid La adheres to the one end Wa, and a bead LB of liquid L is formed between the tip surface 24 of the applicator 11 where the ejection port 23 opens and the one end Wa. In contrast, the remaining liquid Lb on either side of the central portion of the liquid La does not adhere to the substrate W.

液Lが一端部Waに付着すると(図3B参照)、前記着液検出手段18(図1参照)によって、一端部Waへの液Lの付着完了が検出される(ステップS4)。制御装置14は、着液検出手段18が生成する前記着液信号を取得し、指令信号を出力して、供給ポンプ38を停止させ、液Lの供給を終了する(図3C参照、ステップS5)。 When the liquid L adheres to the one end Wa (see FIG. 3B), the liquid arrival detection means 18 (see FIG. 1) detects the completion of the adhesion of the liquid L to the one end Wa (step S4). The control device 14 acquires the liquid arrival signal generated by the liquid arrival detection means 18 and outputs a command signal to stop the supply pump 38 and terminate the supply of the liquid L (see FIG. 3C, step S5).

供給ポンプ38による液Lの供給の開始及び終了は、制御装置14による指令信号に基づいて行われる。つまり、制御装置14は、着液制御として、塗布器11の吐出口23から液Lを吐出して基材Wの一端部Waにその液Lを付着させるための制御を行う。図3A及び図3Bに示すように、制御装置14は、着液制御として、バルブ33が閉じた状態で、供給ポンプ38を有する供給経路15による液Lの供給を行う。
更に、本開示では、制御装置14は、着液制御として、基材Wと塗布器11との相対移動が行われていない状態で一端部Waへの液Lの付着を行うための制御を実行する。これにより、一端部Waへの液Lの着液が正確に行われる。以上が着液工程である。
The supply of the liquid L by the supply pump 38 is started and ended based on a command signal from the control device 14. That is, as the liquid deposition control, the control device 14 performs control for discharging the liquid L from the discharge port 23 of the applicator 11 and attaching the liquid L to one end Wa of the substrate W. As shown in Figures 3A and 3B, as the liquid deposition control, the control device 14 performs the supply of the liquid L through the supply path 15 having the supply pump 38 with the valve 33 closed.
Furthermore, in the present disclosure, the control device 14 executes control for performing the liquid L adhesion to the one end Wa in a state where there is no relative movement between the substrate W and the applicator 11, as the liquid arrival control. This allows the liquid L to be accurately applied to the one end Wa. This is the liquid arrival process.

ここで図3Bに示すように、着液工程の際、基材Wの一端部Waの両側のエッジWeでは、液Lが表面張力によって集まりやすい。このため、塗布器11の先端部において、エッジWeの近傍に液溜まりLsが形成される。具体的に説明すると、エッジWeの近傍では液Lが集まりやすいことから、吐出口23が開口する先端面24を経て傾斜状となる塗布器11の側面25にも、液Lが付着する(図3B中の左側の側面図参照)。このように、塗布器11の先端部において、エッジWeに対応する位置に、液溜まりLsが形成される。液溜まりLsは基材WのエッジWeに起因して生じる。
図3Cに示すように、着液動作が完了すると供給ポンプ38は停止していて、また、バルブ33は閉状態にある。このため、塗布器11に対して液Lは供給されず、液溜まりLsは、生じていたとしても大きくなることなくそのまま維持される。
As shown in FIG. 3B, during the liquid application process, the liquid L is likely to collect due to surface tension at the edges We on both sides of one end Wa of the substrate W. For this reason, a liquid pool Ls is formed near the edge We at the tip of the applicator 11. To be more specific, since the liquid L is likely to collect near the edge We, the liquid L also adheres to the side surface 25 of the applicator 11, which is inclined beyond the tip surface 24 where the discharge port 23 opens (see the side view on the left side in FIG. 3B). In this way, a liquid pool Ls is formed at the tip of the applicator 11 at a position corresponding to the edge We. The liquid pool Ls is generated due to the edge We of the substrate W.
3C, when the liquid application operation is completed, the supply pump 38 is stopped and the valve 33 is closed. Therefore, the liquid L is not supplied to the applicator 11, and the liquid pool Ls, even if it has been generated, is maintained as it is without increasing in size.

図3Cに示すように、着液工程の間(図7)及びその後の塗布工程が開始される際、バルブ33は閉状態にある(図8のステップS11)。また、調圧手段34によりタンク31の液Lの圧力は大気圧に対して負圧である所定の値に減圧されている(ステップS12)。 As shown in FIG. 3C, during the liquid application process (FIG. 7) and when the subsequent application process is started, the valve 33 is in a closed state (step S11 in FIG. 8). In addition, the pressure of the liquid L in the tank 31 is reduced to a predetermined value that is a negative pressure relative to atmospheric pressure by the pressure adjusting means 34 (step S12).

前記のとおり、着液が完了すると、前記着液検出手段18によって着液信号が出力される。制御装置14は、着液信号が得られると(ステップS13)、移動機構12に動作信号を出力し、基材Wと塗布器11との相対移動を開始する(ステップS14)。図4Aに示すように、バルブ33が閉状態のままで、移動機構12によって基材Wと塗布器11との相対移動が開始される。相対移動の開始を、塗布工程の開始とする。この相対移動の速度は、第一の速度V1であり、後に説明する第二の速度V2よりも低速である(V1<V2)。第一の速度V1による相対移動は、微動であり、第一の速度V1は極低速である。
なお、本開示では、供給ポンプ38が完全に停止してから、前記相対移動を開始しているが、前記着液信号を取得していれば、供給ポンプ38が停止する前に、前記相対移動を開始してもよい。
As described above, when the liquid landing is completed, the liquid landing detection means 18 outputs a liquid landing signal. When the control device 14 obtains the liquid landing signal (step S13), it outputs an operation signal to the movement mechanism 12 to start the relative movement between the substrate W and the applicator 11 (step S14). As shown in FIG. 4A, the valve 33 remains closed, and the movement mechanism 12 starts the relative movement between the substrate W and the applicator 11. The start of the relative movement is the start of the coating process. The speed of this relative movement is a first speed V1, which is slower than a second speed V2 described later (V1<V2). The relative movement at the first speed V1 is a slight movement, and the first speed V1 is extremely slow.
In the present disclosure, the relative movement starts after the supply pump 38 has completely stopped, but if the liquid arrival signal has been acquired, the relative movement may start before the supply pump 38 has stopped.

ここで、図5及び図6は、基材W及び塗布器11の説明図である。
図5中の(A)は、平面図であり、塗布器11の吐出口23と基材Wの中心Cとが第二方向に距離y1について離れた状態を示し、図5中の(B)は、図5の(A)に示す基材W及び塗布器11を第二方向に沿って見た図である。図5中の(A)(B)は着液動作が完了した直後を示す。図6中の(A)は、平面図であり、塗布器11の吐出口23と基材Wの中心Cとが第二方向に距離y2(y1>y2)について離れた状態を示し、図6中の(B)は、図6の(A)に示す基材W及び塗布器11を第二方向に沿って見た図である。図6中の(A)(B)は、図5中の(A)(B)に示す状態から、第一の速度V1により前記相対移動が少し行われた状態を示す。
Here, FIG. 5 and FIG. 6 are explanatory views of the substrate W and the applicator 11. As shown in FIG.
(A) in FIG. 5 is a plan view showing a state where the discharge port 23 of the applicator 11 and the center C of the substrate W are separated by a distance y1 in the second direction, and (B) in FIG. 5 is a view of the substrate W and the applicator 11 shown in (A) in FIG. 5 viewed along the second direction. (A) and (B) in FIG. 5 show the state immediately after the liquid landing operation is completed. (A) in FIG. 6 is a plan view showing a state where the discharge port 23 of the applicator 11 and the center C of the substrate W are separated by a distance y2 (y1>y2) in the second direction, and (B) in FIG. 6 is a view of the substrate W and the applicator 11 shown in (A) in FIG. 6 viewed along the second direction. (A) and (B) in FIG. 6 show a state where the relative movement is slightly performed at the first speed V1 from the state shown in (A) and (B) in FIG. 5.

図5中の(A)(B)に示す状態と図6中の(A)(B)に示す状態とを見比べると明らかなように、基材Wと塗布器11とが相対移動すると、吐出口23と対向する基材WのエッジWeの位置は、第2方向に徐々に移動する。なお、吐出口23と対向する一方のエッジWeから他方のエッジWeまでが、液Lが基材Wに付着している範囲の幅である。図5に示すように、着液動作が完了した直後では、エッジWeは、前記幅が狭い「K1」となる位置にあるが、図6に示すように、相対移動が進むと、エッジWeは、前記幅が広い「K2」となる位置にある。基材Wは円形であることから、前記のとおり、相対移動が行われると、吐出口23と対向する基材WのエッジWeの位置は、第2方向に徐々に移動する。
すると、前記のとおり液溜まりLsはエッジWeに起因して生じることから、図3Cから図4Aに示すように、相対移動に伴って、液溜まりLsは塗布器11の長手方向(第1方向)に、移動するエッジWeに引っ張られて拡散される。そして、やがて液溜まりLsを消滅させることも可能である。
As is clear from a comparison of the states shown in (A) and (B) in FIG. 5 with the states shown in (A) and (B) in FIG. 6, when the substrate W and the applicator 11 move relative to each other, the position of the edge We of the substrate W facing the discharge port 23 gradually moves in the second direction. The width of the range in which the liquid L adheres to the substrate W is from one edge We facing the discharge port 23 to the other edge We. As shown in FIG. 5, immediately after the liquid landing operation is completed, the edge We is in a position where the width is narrow "K1", but as shown in FIG. 6, as the relative movement progresses, the edge We is in a position where the width is wide "K2". Since the substrate W is circular, as described above, when the relative movement is performed, the position of the edge We of the substrate W facing the discharge port 23 gradually moves in the second direction.
3C to 4A, since the liquid pool Ls is generated due to the edge We as described above, the liquid pool Ls is pulled and diffused by the moving edge We in the longitudinal direction (first direction) of the applicator 11 as the relative movement occurs. Then, it is possible to make the liquid pool Ls disappear in due course.

塗布方法の塗布工程(図8参照)の説明に戻る。
前記のとおり、着液後、第一の速度V1で相対移動が開始(ステップS14)されると、バルブ33が開状態となり(ステップS15)、その相対移動の間、バルブ33の開状態が継続される(図4B参照)。バルブ33の開動作開始の前、つまり、バルブ33は閉状態で(ステップS11)タンク31の液Lは予め減圧調整されている(ステップS12)。このため、相対移動の開始後、バルブ33が開動作を開始すると、塗布器11内の液Lが減圧され、所定の圧力(負圧)で安定する。
このように、制御装置14は、着液後、基材Wと塗布器11との第一の速度V1での相対移動の開始以降に、バルブ33の開動作を開始する制御を行う(ステップS15)。バルブ33の開動作の開始は、前記相対移動の開始と同時であってもよいが、本開示では、前記相対移動が開始された後、少し遅れて行われる。
Returning to the description of the coating step of the coating method (see FIG. 8 ).
As described above, when the relative movement starts at the first speed V1 after the liquid has landed (step S14), the valve 33 opens (step S15), and the valve 33 remains open during the relative movement (see FIG. 4B). Before the valve 33 starts to open, that is, when the valve 33 is closed (step S11), the liquid L in the tank 31 is previously depressurized (step S12). Therefore, when the valve 33 starts to open after the relative movement starts, the liquid L in the applicator 11 is depressurized and stabilized at a predetermined pressure (negative pressure).
In this way, after the liquid is landed, the control device 14 performs control to start the opening operation of the valve 33 after the start of the relative movement between the substrate W and the applicator 11 at the first speed V1 (step S15). The opening operation of the valve 33 may start simultaneously with the start of the relative movement, but in the present disclosure, the opening operation is performed with a slight delay after the start of the relative movement.

前記相対移動が第一の速度V1で開始されると、やがて、第二の速度V2に変更される。その変更のタイミング及び変更の制御について説明する。
前記のとおり、塗布器11内の液Lの圧力は圧力センサ39によって検出され(ステップS16)、その検出結果を制御装置14は取得する。制御装置14は、圧力センサ39の検出結果が継続して上の閾値と下の閾値との間に収まることを条件として、塗布器11内の液Lの圧力が安定したことを検出することができる(ステップS17)。制御装置14は、塗布器11内の液Lの圧力が安定したことを検出すると、基材Wと塗布器11との相対移動の速度を、第一の速度V1よりも高速である第二の速度V2に変更する(ステップS18)。このように、塗布器11内の液Lの圧力が安定している状態で、第二の速度V2に変更して塗布を継続することで、膜厚精度の高い塗布が可能となる。
When the relative movement is started at the first velocity V1, it is soon changed to a second velocity V2. The timing of this change and the control of the change will be described.
As described above, the pressure of the liquid L in the applicator 11 is detected by the pressure sensor 39 (step S16), and the control device 14 acquires the detection result. The control device 14 can detect that the pressure of the liquid L in the applicator 11 has stabilized (step S17) on the condition that the detection result of the pressure sensor 39 continues to fall between the upper threshold and the lower threshold. When the control device 14 detects that the pressure of the liquid L in the applicator 11 has stabilized, it changes the speed of the relative movement between the substrate W and the applicator 11 to a second speed V2 that is faster than the first speed V1 (step S18). In this way, by changing the speed to the second speed V2 and continuing the application while the pressure of the liquid L in the applicator 11 is stable, application with high film thickness accuracy is possible.

以上のように、基材Wの一端部Waに液が付着すると、制御装置14は、前記相対移動を、第一の速度V1で行い(ステップS14)、その後、第一の速度V1よりも高い第二の速度V2に変更して行う(ステップS18)。そして、本開示では、前記相対移動を第一の速度V1で開始してから第二の速度V2に変更するまでの間に、バルブ33の開動作が開始される(ステップS15)。
相対移動を第二の速度V2で一定としたまま、相対移動を継続し、基材Wの他端部Wbまで液Lを塗布する(塗布工程の終了)。
As described above, when the liquid adheres to one end Wa of the substrate W, the control device 14 performs the relative movement at a first speed V1 (step S14), and then changes the speed to a second speed V2 higher than the first speed V1 (step S18). In the present disclosure, the opening operation of the valve 33 is started during the period from when the relative movement starts at the first speed V1 to when it is changed to the second speed V2 (step S15).
While keeping the relative movement constant at the second speed V2, the relative movement is continued until the liquid L is applied up to the other end Wb of the substrate W (end of the application process).

ここで、基材W上の被塗布面の領域について説明する。図5及び図6に示すように、基材W上の被塗布面には、高い膜厚精度が要求される有効領域A1と、その周囲(基材Wの周縁部)の除外領域A2とが存在する。有効領域A1と除外領域A2との境界を仮想線(二点鎖線)で示している。除外領域A2の幅寸法Qは、例えば、2ミリメートル以上10ミリメートル以下である。
本開示では、第一の速度V1から第二の速度V2への変更は、塗布器11の吐出口23の一部が除外領域A2に対向している間に行われる。つまり、図6に示す状態で、相対移動の速度が第二の速度V2に変更される。より具体的に説明すると、除外領域A2で着液動作が行われると、基材Wと塗布器11との相対移動が開始され、その相対移動の開始初期、その速度を低速(第一の速度V1)とし、その低速で相対移動を行う間にバルブ33の開動作を開始し、塗布器11内の液Lの圧力を安定させ、その圧力が安定したことを検出すると、吐出口23が除外領域A2の直上を通過している間に、高速である第二の速度V2に変更する。
Here, the area of the surface to be coated on the substrate W will be described. As shown in Figures 5 and 6, the surface to be coated on the substrate W has an effective area A1 where high film thickness accuracy is required, and an excluded area A2 around it (the periphery of the substrate W). The boundary between the effective area A1 and the excluded area A2 is indicated by a virtual line (two-dot chain line). The width dimension Q of the excluded area A2 is, for example, 2 millimeters or more and 10 millimeters or less.
In the present disclosure, the change from the first speed V1 to the second speed V2 is performed while a part of the discharge port 23 of the applicator 11 faces the exclusion area A2. That is, in the state shown in FIG. 6, the speed of the relative movement is changed to the second speed V2. More specifically, when the liquid landing operation is performed in the exclusion area A2, the relative movement between the substrate W and the applicator 11 is started, and at the beginning of the relative movement, the speed is set to a low speed (first speed V1), and while the relative movement is performed at the low speed, the opening operation of the valve 33 is started to stabilize the pressure of the liquid L in the applicator 11, and when it is detected that the pressure has stabilized, the speed is changed to the second speed V2, which is a high speed, while the discharge port 23 is passing directly above the exclusion area A2.

このように制御装置14が移動速度を制御することで、前記のとおり液溜まりLsは相対移動によって拡散するが、拡散する液溜まりLsが塗膜精度に及ぼす影響を、除外領域A2に収めることが可能となる。これを実現するために、第一の速度V1を極低速とすればよい。
この速度制御により、塗布器11の吐出口23が除外領域A2の直上を通過する間に、液溜まりLsを拡散させることができ、その間に液溜まりLsが解消される。その結果、液溜まりLsが有効領域A1における膜厚精度に影響を与えにくくすることが可能となる。
By controlling the moving speed in this manner by the control device 14, the liquid puddle Ls spreads due to the relative movement as described above, but the influence of the spreading liquid puddle Ls on the coating accuracy can be contained within the excluded area A2. To achieve this, the first speed V1 may be set to an extremely low speed.
This speed control allows the liquid pool Ls to be dispersed while the discharge port 23 of the applicator 11 passes directly above the exclusion area A2, and the liquid pool Ls is eliminated during that time. As a result, it becomes possible to make it difficult for the liquid pool Ls to affect the film thickness accuracy in the effective area A1.

〔キャピラリー塗布について〕
基材Wと塗布器11との相対移動によって、その基材Wの一端部Waから他端部Wbまでの間で液Lの塗布が行われる。本開示の塗布装置10が行う液Lの塗布はキャピラリー塗布である。
キャピラリー塗布を行うために、その塗布開始の前、調圧手段34によって、タンク31の液Lの圧力が大気圧よりも低い圧力となるように調整されている。前記のとおり、着液工程が行われ、基材Wの一端部Waと塗布器11の先端面24との間に液LのビードLBが形成される。その後、基材Wと塗布器11との相対移動が開始されると、バルブ33が開状態となり、塗布器11内の液Lの圧力が負圧となる。
[About capillary coating]
The liquid L is applied from one end Wa to the other end Wb of the substrate W by the relative movement between the substrate W and the applicator 11. The application of the liquid L by the coating device 10 of the present disclosure is capillary coating.
In order to perform capillary coating, before the start of coating, the pressure of the liquid L in the tank 31 is adjusted by the pressure adjusting means 34 to be lower than atmospheric pressure. As described above, the liquid application process is performed, and a bead LB of the liquid L is formed between one end Wa of the substrate W and the tip surface 24 of the applicator 11. Thereafter, when the relative movement between the substrate W and the applicator 11 is started, the valve 33 is opened, and the pressure of the liquid L in the applicator 11 becomes negative.

前記相対移動に伴って液LのビードLBを継続して形成するため、液Lが基材Wと塗布器11の先端面24との間の隙間に満たされるように、塗布器11から液Lが引き出され、その液Lが基材Wに対して連続的に塗布される。これにより、基材Wに液が塗布され続ける。このようなキャピラリー塗布では、吐出口23からは、直下に基材Wが存在している領域に対してのみ液が吐出され、直下に基材Wが存在していない領域に対しては液が吐出されない。 To continuously form a bead LB of liquid L with the relative movement, liquid L is drawn out from the applicator 11 so that the liquid L fills the gap between the substrate W and the tip surface 24 of the applicator 11, and the liquid L is continuously applied to the substrate W. This allows the liquid to be continuously applied to the substrate W. In this type of capillary application, liquid is discharged from the discharge port 23 only to the area where the substrate W is located directly below, and liquid is not discharged to the area where the substrate W is not located directly below.

以上のように、キャピラリー塗布では、塗布器11から吐出させた液Lを基材Wに付着させ、その状態で塗布器11と基材Wとを相対移動させる。すると、基材Wに付着した液Lにより塗布器11から液Lを更に引き出す力が生じ、引き出された液Lが基材Wに塗布される。つまり、基材Wに液Lが接触した状態で、基材Wと塗布器11とが相対移動すると、塗布器11から液Lを引き出す力が生じ、これにより、基材Wへの液Lの塗布が行われる。このような液Lを引き出す力は、基材Wの移動により生じる液のせん断力(粘性力)によって生じる。 As described above, in capillary coating, the liquid L ejected from the applicator 11 is attached to the substrate W, and in this state, the applicator 11 and the substrate W are moved relative to each other. Then, the liquid L attached to the substrate W generates a force that further draws the liquid L from the applicator 11, and the drawn liquid L is applied to the substrate W. In other words, when the substrate W and the applicator 11 move relative to each other while the liquid L is in contact with the substrate W, a force that draws the liquid L from the applicator 11 is generated, and thus the liquid L is applied to the substrate W. Such a force that draws the liquid L is generated by the shear force (viscous force) of the liquid generated by the movement of the substrate W.

〔本開示の塗布装置10及びその塗布装置10が行う塗布方法〕
本開示の塗布装置10は、塗布器11と、塗布器11と基材Wとの相対移動を行わせる移動機構12と、調整経路13と、制御装置14とを備える。調整経路13は、液Lを溜めるタンク31、塗布器11とタンク31を繋ぐ配管32に設けられているバルブ33、及び、タンク31の液Lを減圧しその圧力を調整(減圧調整)する調圧手段34を有する。制御装置14は、移動機構12、バルブ33、及び調圧手段34を制御する。制御装置14は、着液制御と、塗布制御とを実行可能である。着液制御は着液工程で実行され、塗布制御は塗布工程で実行される。
[Coating device 10 and coating method performed by the coating device 10 according to the present disclosure]
The coating device 10 of the present disclosure includes a coater 11, a movement mechanism 12 that moves the coater 11 and the substrate W relative to each other, an adjustment path 13, and a control device 14. The adjustment path 13 has a tank 31 that stores the liquid L, a valve 33 provided in a pipe 32 that connects the coater 11 and the tank 31, and a pressure adjustment means 34 that reduces the pressure of the liquid L in the tank 31 and adjusts the pressure (reduced pressure adjustment). The control device 14 controls the movement mechanism 12, the valve 33, and the pressure adjustment means 34. The control device 14 is capable of executing liquid arrival control and coating control. The liquid arrival control is performed in a liquid arrival process, and the coating control is performed in a coating process.

この塗布装置10が行う塗布方法は、基材Wと塗布器11とを相対移動させながら、塗布器11の吐出口23から基材Wに対して液Lを吐出することで行われる塗布方法であり、着液工程と、塗布工程とを含む(図7参照)。
前記着液工程では、吐出口23から液Lを吐出して基材Wの一端部Waに液Lを付着させる。着液すると塗布器11に対する液Lの供給が停止される。
前記塗布工程では、タンク31の液Lを減圧状態としバルブ33を開状態とすることにより塗布器11内の液Lを減圧しつつ、前記相対移動を行って基材Wへ液Lを塗布する。そして、その塗布工程では、前記相対移動の開始以降に、バルブ33の開動作を開始する(図8のステップS14、S15)。
The coating method performed by this coating device 10 is a coating method in which the substrate W and the applicator 11 are moved relative to each other while liquid L is ejected from the outlet 23 of the applicator 11 onto the substrate W, and includes a liquid deposition process and a coating process (see Figure 7).
In the liquid landing step, the liquid L is discharged from the discharge port 23 to adhere to one end Wa of the substrate W. When the liquid L has landed, the supply of the liquid L to the applicator 11 is stopped.
In the coating step, the liquid L in the tank 31 is depressurized and the valve 33 is opened to reduce the pressure of the liquid L in the applicator 11, while the relative movement is performed to coat the liquid L on the substrate W. Then, in the coating step, the opening operation of the valve 33 is started after the start of the relative movement (steps S14 and S15 in FIG. 8).

この塗布装置10及び塗布方法によれば、着液動作の後、塗布器11の先端部において基材Wの一端部WaのエッジWe(図3B参照)の近傍に液溜まりLsが生じていても、バルブ33の開動作の開始以前に基材Wと塗布器11との相対移動が開始される。このため、前記相対移動が行われていない状態でタンク31から塗布器11に液Lの供給がされない。そして、吐出口23と対向する基材WのエッジWeの位置は、図5及び図6により説明したように、前記相対移動に伴って塗布器11の長手方向と平行な方向に徐々に移動することから、前記相対移動が開始されると、エッジWeに起因して生じる液溜まりLsは、その長手方向に引っ張られて拡散され、液溜まりLsは大きくならない。この結果、液Lの付着の際に塗布器11の先端部に生じる液溜まりLsの影響を抑えて液の塗布が可能となる。 According to this coating device 10 and coating method, even if a liquid pool Ls occurs near the edge We (see FIG. 3B) of one end Wa of the substrate W at the tip of the applicator 11 after the liquid landing operation, the relative movement between the substrate W and the applicator 11 is started before the opening operation of the valve 33 begins. Therefore, liquid L is not supplied from the tank 31 to the applicator 11 when the relative movement is not performed. As described with reference to FIGS. 5 and 6, the position of the edge We of the substrate W facing the discharge port 23 gradually moves in a direction parallel to the longitudinal direction of the applicator 11 with the relative movement, so when the relative movement is started, the liquid pool Ls caused by the edge We is pulled in its longitudinal direction and spreads, and the liquid pool Ls does not become large. As a result, the effect of the liquid pool Ls generated at the tip of the applicator 11 when the liquid L is attached is suppressed, and the liquid can be applied.

本開示の塗布装置10では、前記相対移動の方向は、その開始からその終了まで一方向である。このため、前記相対移動が開始されると、吐出口23が対向する位置における基材Wの幅が徐々に広がり、これにより、液溜まりLsの液が基材Wへの塗布のために迅速に消費される。よって、前記相対移動の開始直後に液溜まりLsが拡散される(解消される)。
本開示では、塗布装置10は、調整経路13とは別に設けられ塗布器11に液Lを供給可能な独立した供給経路15を更に備える。前記着液工程では、バルブ33が閉じた状態で供給経路15による液Lの供給を行うことで、基材Wの一端部Waに液Lを付着させる。
In the coating device 10 of the present disclosure, the direction of the relative movement is unidirectional from the start to the end. Therefore, when the relative movement starts, the width of the substrate W at the position facing the discharge port 23 gradually increases, and the liquid in the liquid pool Ls is quickly consumed for coating the substrate W. Therefore, the liquid pool Ls is diffused (eliminated) immediately after the start of the relative movement.
In the present disclosure, the coating device 10 further includes an independent supply path 15 that is provided separately from the adjustment path 13 and is capable of supplying the liquid L to the applicator 11. In the liquid application step, the liquid L is applied to one end Wa of the substrate W by supplying the liquid L through the supply path 15 with the valve 33 closed.

なお、着液工程(着液制御)は、供給経路15からの液Lの供給によって行われるのではなく、調整経路13からの液Lの供給によって行われてもよい。この場合、着液工程では、着液制御として、タンク31の液Lの圧力を大気圧とし、調整経路13に含まれるバルブ33を一旦開状態とし、着液が行われると、そのバルブ33は閉じられる制御が行われる。そして、塗布工程では、塗布制御として、前記相対移動の開始以降に、閉状態であったバルブ33の開動作を開始する制御が行われる。また、着液工程が調整経路13によって行われる場合、供給経路15が省略可能である。 The liquid landing process (liquid landing control) may be performed by supplying liquid L from the adjustment path 13, rather than by supplying liquid L from the supply path 15. In this case, the liquid landing process is controlled as follows: the pressure of liquid L in the tank 31 is set to atmospheric pressure, the valve 33 included in the adjustment path 13 is temporarily opened, and when the liquid is landed, the valve 33 is closed. Then, the application process is controlled as follows: after the start of the relative movement, the valve 33, which was closed, is opened. When the liquid landing process is performed by the adjustment path 13, the supply path 15 can be omitted.

本開示では、制御装置14は、前記相対移動を、低速である第一の速度V1で行い、その後、高速である第二の速度V2に変更して行う。そして、図8のステップS14~S18に示すように、前記相対移動を第一の速度V1で開始してから第二の速度V2に変更するまでの間に、バルブ33の開動作を開始する。
このため、低速である第一の速度V1で相対移動が行われる間に、液溜まりLsの拡散を開始させることができる。よって、基材Wの縁部である除外領域A2(図5、図6参照)に対して液Lを塗布している間に、液溜まりLsの拡散を進めることが可能となる。つまり、基材Wの周囲の除外領域A2で液溜まりLsを拡散させ、その内側の有効領域A1に対して液Lを塗布する段階では、液溜まりLsが解消されているようにすることが可能となる。そして、拡散が進むと(拡散が進み液溜まりLsが解消されると)、高速である第二の速度V2で塗布が継続され、液溜まりLsの影響を抑えつつ、塗布の作業効率が向上する。
In the present disclosure, the control device 14 performs the relative movement at a first speed V1, which is a low speed, and then changes the speed to a second speed V2, which is a high speed. Then, as shown in steps S14 to S18 in FIG. 8, the opening operation of the valve 33 is started during the period from when the relative movement starts at the first speed V1 to when it is changed to the second speed V2.
Therefore, the diffusion of the liquid pool Ls can be started while the relative movement is performed at the first speed V1, which is a low speed. Therefore, it is possible to advance the diffusion of the liquid pool Ls while the liquid L is being applied to the exclusion area A2 (see Figs. 5 and 6) which is the edge of the substrate W. In other words, it is possible to diffuse the liquid pool Ls in the exclusion area A2 around the substrate W, and to make the liquid pool Ls disappear at the stage of applying the liquid L to the effective area A1 inside the exclusion area A2. Then, as the diffusion advances (as the diffusion advances and the liquid pool Ls is eliminated), the application is continued at the second speed V2, which is a high speed, and the work efficiency of the application is improved while suppressing the influence of the liquid pool Ls.

〔その他〕
本開示では、基材Wの一端部Waに液Lを付着させた後、前記相対移動の方向は、その開始からその終了まで一方向である。その変形例として、前記相対移動の方向を、前記液溜まりLsを解消させる段階で、途中変更してもよい。つまり、まず、塗布器11と基材Wとの相対的な位置が、図6に示す状態となるようにして、その状態で着液動作を行う。その後、基材Wを第2方向の反対方向(図6では上向きの方向)に移動させ、塗布器11と基材Wとの相対的な位置が、図5に示す状態となると、相対移動の方向を反転させる。つまり、基材Wを第2方向(図6では下向きの方向)に移動させる。この場合であっても、基材Wと塗布器11との相対移動により液溜まりLsを拡散させることが可能である。
前記実施形態では、前記相対移動の速度を第一の速度V1から、より高速である第二の速度V2に変更する場合について説明したが、第一の速度V1と第二の速度V2とは同じ(V1=V2)であってもよい。つまり、見かけ上、前記相対移動の速度を変化させないように制御してもよい。
〔others〕
In the present disclosure, after the liquid L is applied to one end Wa of the substrate W, the direction of the relative movement is unidirectional from the start to the end. As a modified example, the direction of the relative movement may be changed midway during the stage of eliminating the liquid pool Ls. That is, first, the relative positions of the applicator 11 and the substrate W are set to the state shown in FIG. 6, and the liquid application operation is performed in that state. Thereafter, the substrate W is moved in the opposite direction to the second direction (upward in FIG. 6), and when the relative positions of the applicator 11 and the substrate W are set to the state shown in FIG. 5, the direction of the relative movement is reversed. That is, the substrate W is moved in the second direction (downward in FIG. 6). Even in this case, it is possible to diffuse the liquid pool Ls by the relative movement between the substrate W and the applicator 11.
In the above embodiment, the case where the speed of the relative movement is changed from the first speed V1 to the second speed V2, which is faster, has been described, but the first speed V1 and the second speed V2 may be the same (V1=V2). In other words, the speed of the relative movement may be controlled so as not to change in appearance.

今回開示した実施形態は全ての点で例示であって制限的なものではない。本発明の権利範囲は、上述の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲の範囲に記載された構成と均等の範囲内での全ての変更が含まれる。 The embodiments disclosed herein are illustrative in all respects and are not restrictive. The scope of the present invention is not limited to the above-described embodiments, but includes all modifications within the scope of the claims that are equivalent to the configurations described therein.

10:塗布装置 11:塗布器 12:移動機構
13:調整経路 14:制御装置 15:供給経路
23:吐出口 31:タンク 32:配管(流路)
33:バルブ 34:調圧手段 W:基材
Wa:一端部(端部) L:液
10: Coating device 11: Applicator 12: Movement mechanism 13: Adjustment path 14: Control device 15: Supply path 23: Discharge port 31: Tank 32: Pipe (flow path)
33: Valve 34: Pressure adjusting means W: Substrate Wa: One end (end) L: Liquid

Claims (6)

一方向に長い吐出口を先端部に有する塗布器と、
前記一方向に交差する方向に前記塗布器と基材との相対移動を行わせる移動機構と、
液を溜めるタンク、前記塗布器と前記タンクとを繋ぐ流路、前記流路に設けられているバルブ、及び、前記タンクの液を減圧調整する調圧手段を有する調整経路と、
前記移動機構、前記バルブ、及び前記調圧手段を制御する制御装置と、
前記調整経路とは別に設けられ前記塗布器に液を供給可能な独立した供給経路と、
を備え、
前記制御装置は、
前記バルブが閉じた状態で前記供給経路による液の供給を行い、前記吐出口から液を吐出して前記基材の端部に液を付着させるための着液制御と、
前記タンクの液が減圧状態であり前記バルブが開状態であることにより前記塗布器内の液を減圧しつつ、前記相対移動を行って前記基材へ液を塗布するための塗布制御と、
を実行可能であり、
前記塗布制御では、前記相対移動の開始以降に、前記バルブの開動作を開始する制御を行う、塗布装置。
an applicator having a discharge port at a tip end that is long in one direction;
a movement mechanism for moving the applicator and the substrate relative to each other in a direction intersecting the one direction;
a tank for storing liquid, a flow path connecting the applicator and the tank, a valve provided in the flow path, and an adjustment path having a pressure adjustment means for reducing and adjusting the pressure of the liquid in the tank;
a control device for controlling the moving mechanism, the valve, and the pressure adjusting means;
an independent supply path that is provided separately from the adjustment path and is capable of supplying liquid to the applicator;
Equipped with
The control device includes:
a liquid delivery control for supplying the liquid through the supply path while the valve is closed, and discharging the liquid from the discharge port to cause the liquid to adhere to the edge of the substrate;
a coating control for applying the liquid to the substrate by performing the relative movement while reducing the pressure of the liquid in the applicator by keeping the liquid in the tank in a reduced pressure state and the valve in an open state;
It is possible to execute
In the coating control, control is performed to start an opening operation of the valve after the start of the relative movement.
前記制御装置は、前記基材の前記端部に液が付着すると、前記塗布制御として、前記相対移動を、第一の速度で行い、その後、前記第一の速度よりも高い第二の速度に変更して行い、
前記相対移動を前記第一の速度で開始してから前記第二の速度に変更するまでの間に、前記バルブの開動作を開始する、請求項1に記載の塗布装置。
When the liquid adheres to the end portion of the base material, the control device performs the relative movement at a first speed, and then changes the speed to a second speed higher than the first speed, as the coating control;
The coating apparatus according to claim 1 , wherein an opening operation of the valve is started during a period from when the relative movement is started at the first speed to when the relative movement is changed to the second speed.
前記制御装置は、前記塗布器内の液の圧力が安定したことを検出すると、前記第二の速度に変更する、請求項2に記載の塗布装置。 The applicator of claim 2, wherein the control device changes to the second speed when it detects that the pressure of the liquid in the applicator has stabilized. 前記制御装置は、前記着液制御として、前記相対移動が行われていない状態で前記基材の端部への液の付着を行うための制御を実行する、請求項1~3のいずれか一項に記載の塗布装置。 The coating device according to any one of claims 1 to 3, wherein the control device executes control for depositing liquid on the edge of the substrate when the relative movement is not being performed, as the liquid deposition control. 前記制御装置は、前記基材の前記端部に対する液の付着が確認されることで生成される着液信号が得られると、前記相対移動を開始する、請求項1~4のいずれか一項に記載の塗布装置。 The coating device according to any one of claims 1 to 4, wherein the control device starts the relative movement when a liquid landing signal is obtained, which is generated by confirming that the liquid has adhered to the end of the substrate. 一方向に長い吐出口を先端部に有する塗布器と、
液を溜めるタンク、前記塗布器と前記タンクとを繋ぐ流路、前記流路に設けられているバルブ、及び、前記タンクの液を減圧調整する調圧手段を有する調整経路と、前記調整経路とは別に設けられ前記塗布器に液を供給可能な独立した供給経路と、を備え、
前記一方向に交差する方向に前記塗布器と基材とを相対移動させながら、前記吐出口から当該基材に対して液を吐出することで行われる塗布方法であって、
前記バルブが閉じた状態で前記供給経路による液の供給を行い、前記吐出口から液を吐出して前記基材の端部に液を付着させる着液工程と、
前記タンクの液を減圧状態とし前記バルブを開状態とすることにより前記塗布器内の液を減圧しつつ、前記相対移動を行って前記基材へ液を塗布する塗布工程と、
を含み、
前記塗布工程では、前記相対移動の開始以降に、前記バルブの開動作を開始する、塗布方法。
an applicator having a discharge port at a tip end that is long in one direction;
a tank for storing liquid, a flow path connecting the applicator and the tank, a valve provided in the flow path, and an adjustment path having a pressure adjusting means for reducing and adjusting the pressure of the liquid in the tank; and an independent supply path provided separately from the adjustment path and capable of supplying liquid to the applicator,
A coating method in which a liquid is discharged from the discharge port onto the substrate while the applicator and the substrate are moved relative to each other in a direction intersecting the one direction,
a liquid application step of supplying liquid through the supply path with the valve closed and discharging the liquid from the discharge port to adhere the liquid to the end of the substrate;
a coating step of applying the liquid to the base material by performing the relative movement while reducing the pressure of the liquid in the applicator by reducing the pressure of the liquid in the tank and opening the valve;
Including,
In the coating step, an opening operation of the valve is started after the relative movement is started.
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