JP7545263B2 - 超音波診断装置 - Google Patents
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Description
(第1の実施形態)
図1は、第1の実施形態に係る超音波診断装置1の外観の一例を示す斜視図である。図1に示すように、超音波診断装置1は、装置本体10と超音波プローブ20(以下、単にプローブ20と言う)を備えている。
装置本体10は、キャスタ付きの本体ケースに収納される各種回路(図2参照)の他、ディスプレイ110及びユーザインタフェース120を備えている。
超音波診断装置1における超音波画像の生成処理は、主に、プローブ20と画像生成回路130によって行われる。
実施形態の超音波診断装置1は、プローブ20の点検を行うと共に、プローブ点検の管理に関する処理を行っている。プローブ点検の管理に関する処理とは、例えば、過去に行われたプローブ20の点検履歴に関する処理や、プローブ20の今後の点検計画に関する処理等のことである。
図3は、第1の実施形態に係る超音波診断装置1におけるプローブの点検管理処理の一例を示すフローチャートである。
上述した第1の実施形態では、プローブの点検履歴を、各プローブ20に設けた点検履歴記憶回路210に保存するものとしているが、点検履歴の保存場所はこれに限定されない。例えば、図2に例示するように、装置本体10の点検履歴記憶回路151に、装置本体10で過去に行ったプローブ点検の履歴情報を保存するようにしてもよい。
図5は、第2の実施形態に係る超音波診断装置1の構成例を示すブロック図である。また、図6は、第2の実施形態に係る超音波診断装置1におけるプローブの点検管理処理の一例を示すフローチャートである。
上述した第2の実施形態の超音波診断装置1によれば、プローブの使用状況に応じた、柔軟性の高い点検管理が可能となる。
図7は、第3の実施形態に係る超音波診断装置1の構成例を示すブロック図である。また、図8は、第3の実施形態に係る超音波診断装置1におけるプローブの点検管理処理の一例を示すフローチャートである。
なお、自動的に開始される点検の具体的な内容に関しては特に限定するものではなく、前述した準自動で行われている従来の点検内容でもよい。
10 装置本体
20 プローブ
110 ディスプレイ
120 ユーザインタフェース
121 操作パネル
122 タッチパネル
130 画像生成回路
140 処理回路
151 点検履歴記憶回路
152 点検スケジュール記憶回路
210 点検履歴記憶回路
F10 点検履歴取得機能
F12 点検タイミング決定機能
F14 表示制御機能
F16 点検スケジュール更新機能
F18 点検実行機能
Claims (9)
- 被検体から超音波信号を収集するプローブと、
前記プローブが接続可能に構成される装置本体と、を備え、
前記装置本体は、
収集した前記超音波信号に基づいて超音波画像データを生成する生成部と、
前記プローブの点検履歴を取得する取得部と、
取得した前記点検履歴に基づいて前記プローブを点検すべきタイミングを決定する決定部と、
を備え、
前記プローブは、複数の振動素子が1次元の列状に或いは2次元の面状に配列されて構成されると共に、前記点検履歴を保存する履歴記憶部を備え、
前記取得部は、前記プローブ内に設けられた前記履歴記憶部から前記点検履歴を読み出して前記点検履歴を取得する、
超音波診断装置。 - 前記装置本体は、前記点検すべきタイミングに達している前記プローブをユーザに通知する通知部、
をさらに備える請求項1に記載の超音波診断装置。 - 前記通知部は、画像情報、音声情報、及び文字情報の少なくとも1つの情報を用いて前記点検すべきタイミングに達している前記プローブをユーザに通知する、
請求項2に記載の超音波診断装置。 - 前記点検履歴は、前記プローブの点検が実施された時期に関する情報と、点検が実施された前記プローブの識別情報とを含む、
請求項1乃至3のいずれか1項に記載の超音波診断装置。 - 前記点検履歴は、前記プローブの点検の実施時に接続されていた装置本体の識別情報を、更に含む、
請求項4に記載の超音波診断装置。 - 前記装置本体は、前記プローブの点検スケジュールに関する情報を保存するスケジュール記憶部をさらに備え、
前記決定部は、取得した前記点検履歴と、前記スケジュール記憶部に保存されている前記点検スケジュールとを用いて、前記プローブを点検すべきタイミングを決定する、
請求項1乃至5のいずれか1項に記載の超音波診断装置。 - 前記点検履歴は、前記プローブの使用状況に関する情報をさらに含み、
前記装置本体は、前記プローブの前記使用状況に応じて前記点検スケジュールを更新するスケジュール更新部、をさらに備える、
請求項6に記載の超音波診断装置。 - 前記スケジュール更新部は、前記プローブの使用時間、使用回数、及び、使用頻度の少なくとも1つに基づいて、前記点検スケジュールを更新する、
請求項7に記載の超音波診断装置。 - 前記装置本体は、前記プローブの点検を実行する点検実行部、をさらに備え、
前記点検実行部は、前記決定部で決定されたタイミングにしたがって、前記プローブの点検を実行する、
請求項1乃至8のいずれか1項に記載の超音波診断装置。
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2020
- 2020-08-26 JP JP2020142949A patent/JP7545263B2/ja active Active
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