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JP7579735B2 - Laser Processing Equipment - Google Patents
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Description

本発明は、例えばプリント基板にレーザを使用して穴あけを行うためのレーザ加工装置に関する。 The present invention relates to a laser processing device for drilling holes using a laser, for example, in a printed circuit board.

レーザ加工装置では、例えば特許文献1、特許文献2及び特許文献3などに記載されているように、レーザ発振器から射出されるレーザビームのパワーが目標値にあるか否かを確認し、これを調整する等の目的で、パワーを測定する必要がある。ここでパワーとは、レーザビームの単位時間あたりの平均エネルギーを意味する。パワーの測定は、パワーセンサにレーザ光を照射することで行う。測定に使用するパワーセンサとしては、熱電型のパワーセンサ(サーマルセンサ)が用いられることが多い。 In laser processing equipment, as described in, for example, Patent Documents 1, 2, and 3, it is necessary to measure the power of the laser beam emitted from the laser oscillator in order to check whether the power is at a target value and to adjust it. Here, power means the average energy of the laser beam per unit time. Power is measured by irradiating a power sensor with laser light. A thermoelectric power sensor (thermal sensor) is often used as the power sensor used for the measurement.

熱電型のパワーセンサは、センサの受光部にレーザを照射し、受光部の温度変化に基づいてパワーを測定する。より詳しくは、レーザ光を受光部において熱に変換し、その温度上昇を電圧に変換してパワーを測定する。 A thermoelectric power sensor irradiates a laser onto the light receiving part of the sensor and measures the power based on the temperature change of the light receiving part. More specifically, the laser light is converted into heat in the light receiving part, and the temperature rise is converted into a voltage to measure the power.

特開2020-006438号公報JP 2020-006438 A 特開2003-124552号公報JP 2003-124552 A 特開2019-038000号公報JP 2019-038000 A

ここで、熱電型のパワーセンサは、測定対象のレーザを照射しても、センサの出力が安定するまでに時間がかかることが知られている。これは、パワーセンサの受光部が熱的に平衡状態になるまで時間を要するためである。そのため、正確な測定値を得るためには、出力が安定するまで数十秒程度の待ち時間を要していた。 It is known that with thermoelectric power sensors, it takes time for the sensor output to stabilize even when the laser to be measured is irradiated. This is because it takes time for the light receiving part of the power sensor to reach thermal equilibrium. As a result, in order to obtain an accurate measurement value, it is necessary to wait for several tens of seconds until the output stabilizes.

近年プリント基板の高機能化により加工精度のさらなる高度化、安定化の要求が高まっており、パワーを頻繁に測定する必要がある。一回あたりの測定待ち時間はさほど多くはないが、測定回数が増加すると加工工程全体としての待ち時間が多くなり、生産効率の観点から問題があった。 In recent years, the increasing sophistication of printed circuit boards has led to increased demands for more advanced and stable processing precision, making it necessary to measure power frequently. Although the waiting time for each measurement is not particularly long, an increase in the number of measurements increases the waiting time for the entire processing process, creating problems in terms of production efficiency.

そこで、本発明は、レーザパワーの測定時間を短縮することにより、生産効率を向上させることを目的とする。 Therefore, the present invention aims to improve production efficiency by shortening the time it takes to measure laser power.

本願において開示される発明のうち、代表的なレーザ加工装置は以下の通りである。レーザ発振器から出射されたレーザビームを被加工物に入射し加工するレーザ加工装置であって、レーザ発振器から出射されたレーザビームのパワーを測定する熱電型パワーセンサと、前記熱電型パワーセンサの受光部を加熱する加熱部とを備え、前記加熱部が、前記熱電型パワーセンサが前記レーザビームのパワーを測定していないときに、レーザパワーの目標値に対応する温度で前記熱電型パワーセンサの受光部を加熱する、ことを特徴とする。
Among the inventions disclosed in this application, a representative laser processing apparatus is as follows: A laser processing apparatus that causes a laser beam emitted from a laser oscillator to be incident on a workpiece for processing, comprising a thermoelectric power sensor that measures the power of the laser beam emitted from the laser oscillator, and a heating unit that heats the light receiving unit of the thermoelectric power sensor, and is characterized in that the heating unit heats the light receiving unit of the thermoelectric power sensor to a temperature corresponding to a target value of laser power when the thermoelectric power sensor is not measuring the power of the laser beam.

本発明によれば、一回あたりのレーザ測定時間を短縮することができ、レーザ加工工程全体としての生産効率を上げることができる。 According to the present invention, it is possible to shorten the time required for each laser measurement, thereby improving the production efficiency of the entire laser processing process.

本発明の実施例となるレーザ加工装置のブロック図である。1 is a block diagram of a laser processing apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施例となるレーザ加工装置の加熱ユニットを説明する図であり、ヒータがレーザパワー非測定時の位置にある図である。FIG. 2 is a diagram for explaining a heating unit of the laser processing apparatus according to the embodiment of the present invention, in which the heater is in a position when the laser power is not being measured. 本発明の実施例となるレーザ加工装置の加熱ユニットを説明する図であり、ヒータがレーザパワー測定時の位置にある図である。FIG. 2 is a diagram for explaining a heating unit of the laser processing apparatus according to the embodiment of the present invention, in which the heater is in a position for measuring laser power. 本発明の実施例における加熱タイミングを示す図である。FIG. 4 is a diagram showing heating timing in an embodiment of the present invention.

本発明の代表的な実施形態について図面を用いて説明する。図1は、本発明の実施例となるレーザ加工装置のブロック図である。 A representative embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. Figure 1 is a block diagram of a laser processing device according to an embodiment of the present invention.

図1において、1は被加工物であるプリント基板、2はレーザパワーを測定するサーマルセンサである。サーマルセンサ2の上部には、入射する測定対象のレーザを受光して熱に変換する受光部として機能する吸光部材21が配置されている。サーマルセンサ2は、吸光部材21でレーザパワーを熱に変換し、その温度上昇を電圧に変換することでパワーを測定し、測定値に応じた信号を出力する。 In FIG. 1, 1 is a printed circuit board, which is the workpiece, and 2 is a thermal sensor that measures laser power. A light-absorbing member 21 is disposed on top of the thermal sensor 2, which functions as a light-receiving unit that receives the incident laser light to be measured and converts it into heat. The thermal sensor 2 converts the laser power into heat using the light-absorbing member 21, measures the power by converting the temperature rise into a voltage, and outputs a signal according to the measured value.

31はサーマルセンサを加熱するためのヒータ、32はその下面にヒータ31を保持するヒータ保持体、33はヒータ31及びヒータ保持体32を駆動支持するヒータ駆動装置である。3はヒータ31、ヒータ保持体32、ヒータ駆動装置33を含む加熱ユニット、4はプリント基板1、サーマルセンサ2及び加熱ユニット3を載置するテーブルである。 31 is a heater for heating the thermal sensor, 32 is a heater holder that holds the heater 31 on its underside, and 33 is a heater drive device that drives and supports the heater 31 and the heater holder 32. 3 is a heating unit that includes the heater 31, heater holder 32, and heater drive device 33, and 4 is a table on which the printed circuit board 1, thermal sensor 2, and heating unit 3 are placed.

5はレーザパルスL1を発振するレーザ発振器、6はレーザパルスL1を加工方向と非加工方向の二通りに分岐させるとともに、レーザパルスL1を加工に必要なビームパワーとなるように変調するするAOMである。7はAOM6において非加工方向へ分岐されたレーザパルスL3を吸収するダンパ、8はAOM6において加工方向へ分岐されたレーザパルスL2を走査させ順次プリント基板1の穴明け位置に照射するガルバノスキャナである。このガルバノスキャナ8は回転することによりレーザパルスL2を走査させるようになっている。9はガルバノスキャナ8からのレーザパルスL4をプリント基板1の穴あけ位置に照射する集光レンズである。10はAOM6、ダンパ7、ガルバノスキャナ8及び集光レンズ9が実装されたレーザ照射ユニットである。 5 is a laser oscillator that emits laser pulse L1, 6 is an AOM that splits the laser pulse L1 into two directions, the processing direction and the non-processing direction, and modulates the laser pulse L1 to the beam power required for processing. 7 is a damper that absorbs the laser pulse L3 split in the non-processing direction in the AOM 6, and 8 is a galvano scanner that scans the laser pulse L2 split in the processing direction in the AOM 6 and sequentially irradiates the hole drilling position on the printed circuit board 1. This galvano scanner 8 rotates to scan the laser pulse L2. 9 is a condenser lens that irradiates the laser pulse L4 from the galvano scanner 8 to the hole drilling position on the printed circuit board 1. 10 is a laser irradiation unit in which the AOM 6, damper 7, galvano scanner 8, and condenser lens 9 are mounted.

11は装置全体の動作を制御する全体制御部で、例えばプログラム制御の処理装置によって実現されるものである。全体制御部11は、レーザ発振器5でのレーザパルスL1の発振を指示するレーザ発振指令信号Sを出力するレーザ発振制御部12、AOM6の分岐動作及び変調動作を制御するAOM駆動信号Dを出力するAOM制御部13、ガルバノスキャナ8の動作を指示するガルバノ動作制御信号Gを出力するガルバノ制御部14、加熱ユニット3の動作を指示する加熱ユニット制御信号Hを出力する制御部15を含む。なお、全体制御部11に含まれるこれらの機能要素のうちの一部は全体制御部11とは別個に設けても良い。レーザ穴明け装置としては、ここで説明するもの以外に種々の要素と接続線を有するが、ここでは省略してある。なお、全体制御部11には、サーマルセンサ2からの測定値が入力され、レーザパワーの目標値に対して差があれば、目標値に合うようにAOM6にてパワーを調整する。 11 is an overall control unit that controls the operation of the entire device, and is realized by, for example, a program-controlled processing device. The overall control unit 11 includes a laser oscillation control unit 12 that outputs a laser oscillation command signal S that instructs the laser oscillator 5 to oscillate a laser pulse L1, an AOM control unit 13 that outputs an AOM drive signal D that controls the branching and modulation operations of the AOM 6, a galvanometer control unit 14 that outputs a galvanometer operation control signal G that instructs the operation of the galvanometer scanner 8, and a control unit 15 that outputs a heating unit control signal H that instructs the operation of the heating unit 3. Some of these functional elements included in the overall control unit 11 may be provided separately from the overall control unit 11. The laser drilling device has various elements and connecting lines other than those described here, but they are omitted here. The measured value from the thermal sensor 2 is input to the overall control unit 11, and if there is a difference from the target value of the laser power, the power is adjusted by the AOM 6 to match the target value.

ガルバノ動作制御信号Gは、オフの時間帯でガルバノスキャナ8を静止させ、オンの時間帯でガルバノスキャナ8を回転させる。ガルバノスキャナ8が静止した状態で一つの穴が明けられ、ガルバノスキャナ8が回転することによってレーザパルスL2を次の穴位置に照射させるようになる。レーザ発振指令信号Sは、オンになることによりレーザ発振器5に発振を起こさせ、オフになることによりその発振を停止させる。レーザ発振指令信号Sはガルバノ動作制御信号Gのオフに同期してオンとなり、またガルバノ動作制御信号Gはレーザ発振指令信号Sのオンとは一定の遅れをもってオンとなり、次の穴位置までガルバノスキャナを回転させる。AOM駆動信号Dは、それがオンの時間帯でのみAOM6に入力されたレーザパルスL1を加工方向に分岐させてレーザパルスL2とし、それ以外のオフの時間帯では非加工方向のレーザパルスL3としてダンパ7の方向に分岐させる。 The galvanometer operation control signal G stops the galvanometer scanner 8 during the off period and rotates the galvanometer scanner 8 during the on period. When the galvanometer scanner 8 is stationary, one hole is drilled, and when the galvanometer scanner 8 rotates, the laser pulse L2 is irradiated to the next hole position. When the laser oscillation command signal S is on, it causes the laser oscillator 5 to oscillate, and when it is off, it stops the oscillation. The laser oscillation command signal S turns on in synchronization with the off of the galvanometer operation control signal G, and the galvanometer operation control signal G turns on with a certain delay from the on of the laser oscillation command signal S, rotating the galvanometer scanner to the next hole position. The AOM drive signal D branches the laser pulse L1 input to the AOM 6 in the processing direction to become the laser pulse L2 only during the on period, and branches it in the direction of the damper 7 as the laser pulse L3 in the non-processing direction during the other off periods.

図示を省略するテーブル駆動部によりテーブル4を図の紙面に対して左右方向(以下、X方向とする)と垂直方向(以下、Y方向とする)に移動させることによりプリント基板1とレーザ照射ユニット10との相対移動を行い、さらにガルバノスキャナ8においてX方向とY方向にレーザパルスを偏向させることにより、プリント基板1の必要な穴あけ位置に照射できるようになっている。また、同様に相対移動を行い、レーザパルスをサーマルセンサ2へ照射できるようになっている。テーブル駆動部及びガルバノスキャナ8の各々には、X方向への移動(偏向)を行う系とY方向への移動(偏向)を行う系の両方が設けられている。 The table 4 is moved left and right (hereafter referred to as the X direction) and vertical (hereafter referred to as the Y direction) relative to the plane of the drawing by a table drive unit (not shown), thereby moving the printed circuit board 1 and the laser irradiation unit 10 relative to each other, and the galvano scanner 8 deflects the laser pulse in the X and Y directions, allowing it to be irradiated at the required drilling positions on the printed circuit board 1. Similarly, the laser pulse can be irradiated to the thermal sensor 2 by performing a similar relative movement. Each of the table drive unit and the galvano scanner 8 is provided with both a system for moving (deflecting) in the X direction and a system for moving (deflecting) in the Y direction.

次に、加熱ユニット3についてより詳しく説明する。図2は、加熱ユニット3を説明する図である。図2に示すように、ヒータ駆動装置33は、内部にシリンダ34を備えている。シリンダ34は、図面左右方向へ伸縮するロッド35を備え、ロッド35の先端にヒータ保持体32及びヒータ31が取り付けられている。ヒータ保持体32及びヒータ31は、シリンダ34の伸縮動作に応じて図面左右方向へ移動する。ヒータ31は、加熱ユニット制御部15により制御され、任意の温度で発熱する。 Next, the heating unit 3 will be described in more detail. FIG. 2 is a diagram illustrating the heating unit 3. As shown in FIG. 2, the heater driving device 33 has a cylinder 34 inside. The cylinder 34 has a rod 35 that expands and contracts in the left-right direction in the drawing, and a heater holder 32 and a heater 31 are attached to the tip of the rod 35. The heater holder 32 and the heater 31 move in the left-right direction in the drawing in response to the expansion and contraction movement of the cylinder 34. The heater 31 is controlled by the heating unit control unit 15 and generates heat at a desired temperature.

レーザパワー非測定時には、図2に示すように、ロッド35が伸長し、ヒータ31が吸光部材21の全面を覆うようにして吸光部材21を加熱する。本実施例においては、目標値のパワーのレーザを照射したときの吸光部材21の温度(以下、対応温度という)でヒータ31を発熱させて、吸光部材21が対応温度の近傍になるように加熱する。なお、レーザパワーと対応温度の関係については、加工条件ごとに予め測定したものをテーブル化し、加熱ユニット制御部15内のメモリに記憶させてあり、加工条件に応じた温度で加熱することができる。ここで、「加工条件ごと」とは、主にレーザ加工条件のことを指し、レーザの周波数、パルス幅などを意味する。レーザパワー測定時には、図3に示すようにロッド35を収縮し、ヒータ31及びヒータ保持体32が吸光部材21の上方を覆わない状態にし、吸光部材21にレーザを照射する。 When the laser power is not measured, as shown in FIG. 2, the rod 35 extends, and the heater 31 heats the light absorbing member 21 so as to cover the entire surface of the light absorbing member 21. In this embodiment, the heater 31 is heated to the temperature of the light absorbing member 21 when the laser of the target power is irradiated (hereinafter referred to as the corresponding temperature), and the light absorbing member 21 is heated to a temperature close to the corresponding temperature. Note that the relationship between the laser power and the corresponding temperature is measured in advance for each processing condition, tabulated, and stored in the memory in the heating unit control unit 15, and the light absorbing member 21 can be heated at a temperature according to the processing condition. Here, "for each processing condition" mainly refers to the laser processing condition, and means the laser frequency, pulse width, etc. When the laser power is measured, as shown in FIG. 3, the rod 35 is contracted so that the heater 31 and heater holder 32 do not cover the upper part of the light absorbing member 21, and the light absorbing member 21 is irradiated with the laser.

このようにすることで、吸光部材21は、レーザパワー測定時には対応温度の近傍の温度となり、レーザ入射後に吸光部材21が平衡状態になるまでの時間が短縮される。つまり、正確な測定値を得るまでの時間を短縮することができる。なお、レーザパワーの測定は、加工開始前や加工を開始してから一定の時間が経過した後、または、被加工物を一定数加工した後、などの任意のタイミングで行う。 By doing this, the light absorbing member 21 is at a temperature close to the corresponding temperature when the laser power is measured, and the time it takes for the light absorbing member 21 to reach equilibrium after the laser is incident is shortened. In other words, the time it takes to obtain an accurate measurement value can be shortened. Note that the laser power is measured at any time, such as before processing begins, after a certain amount of time has passed since processing began, or after a certain number of workpieces have been processed.

本実施例においては、レーザパワー非測定時に、吸光部材21を加熱するものとしたが、レーザパワーを測定するタイミングで吸光部材21が対応温度近傍に加熱されていればよく、非測定時に常に加熱している必要はない。したがって、例えば図4に示すように、所定のタイミングt1、t2、t3にレーザパワーを測定する場合であって、加熱を開始してから対応温度に到達するまでにtpかかる場合には、t1-tpからt1まで、t2-tpからt2まで、t3-tpからt3までの間だけ加熱し、それ以外の時間は加熱しないようにしてもよい。このようにすれば、必要以上の加熱を省略することができる。 In this embodiment, the light absorbing member 21 is heated when the laser power is not being measured, but it is sufficient that the light absorbing member 21 is heated to near the corresponding temperature at the timing when the laser power is measured, and it is not necessary to heat it all the time when not being measured. Therefore, for example, as shown in FIG. 4, when measuring the laser power at predetermined times t1, t2, and t3, and it takes tp from the start of heating to reaching the corresponding temperature, it is possible to heat only from t1-tp to t1, from t2-tp to t2, and from t3-tp to t3, and not heat at other times. In this way, heating more than necessary can be avoided.

なお、本実施例においては、パワー測定時に受光部上方を遮らないようにするために、ヒータを伸縮移動させたが、ヒータを固定しサーマルセンサを移動させる構成としてもよい。 In this embodiment, the heater expands and contracts so as not to block the area above the light receiving unit during power measurement, but the heater may be fixed and the thermal sensor moved.

また、本実施例においては、加工点近傍の一か所でレーザパワーを測定する場合を例に説明した。しかしこれに限らず、レーザ発振器のレーザ出射口から被加工物へ照射されるまでの間の任意の複数箇所で測定するものとしてもよい。 In addition, in this embodiment, the laser power is measured at one location near the processing point. However, this is not limited to this, and the measurement may be performed at any number of locations between the laser output of the laser oscillator and the point where the laser is irradiated onto the workpiece.

1:プリント基板
2:サーマルセンサ 21:吸引部材
3:加熱ユニット 31:ヒータ 32:ヒータ保持体 33:ヒータ駆動装置 34:シリンダ 35:ロッド
4:テーブル
5:レーザ発振器
6:AOM
7:ダンパ
8:ガルバノスキャナ
9:集光レンズ
10:レーザ照射ユニット
11:全体制御部
12:レーザ発振制御部
13:AOM制御部
14:ガルバノ制御部
15:加熱ユニット制御部


1: Printed circuit board
2: Thermal sensor 21: Suction member 3: Heating unit 31: Heater 32: Heater holder 33: Heater driving device 34: Cylinder 35: Rod 4: Table
5: Laser oscillator
6: AOM
7: Damper
8: Galvano scanner
9: Condenser lens
10: Laser irradiation unit 11: Overall control unit 12: Laser oscillation control unit
13: AOM control section
14: Galvano control unit
15: Heating unit control section


Claims (1)

レーザ発振器から出射されたレーザビームを被加工物に入射し加工するレーザ加工装置であって、
レーザ発振器から出射されたレーザビームのパワーを測定する熱電型パワーセンサと、
前記熱電型パワーセンサのレーザ受光部を加熱する加熱部と、を備え、
前記加熱部が、前記熱電型パワーセンサが前記レーザビームのパワーを測定していないときに、レーザパワーの目標値に対応する温度で前記熱電型パワーセンサのレーザ受光部を加熱する、
ことを特徴とするレーザ加工装置。。



A laser processing device that applies a laser beam emitted from a laser oscillator to a workpiece to process the workpiece,
a thermoelectric power sensor for measuring the power of a laser beam emitted from a laser oscillator;
a heating unit that heats the laser receiving unit of the thermoelectric power sensor,
the heating unit heats the laser receiving unit of the thermoelectric power sensor at a temperature corresponding to a target value of laser power when the thermoelectric power sensor is not measuring the power of the laser beam.
A laser processing device characterized by the above.



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