JP7584866B2 - 真空封止弁の接続機構 - Google Patents
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Description
前記第1シャフト部材は、前記連結機構ともネジ係合で接続されるように構成した。ネジ係合されることで、第1シャフトの両端で長さ調整を可能とした。
以下、本開示の構成に係る好ましい実施形態を図面に従って説明する。図1は、実施形態に係る真空封止弁1を備えた電子顕微鏡100の概略図である。
真空封止弁1を図2~図4を用いて詳細に説明する。図2は真空封止弁1の斜視図である。図3は真空封止弁1の側面図である。図4は真空封止弁1の縦断面図である。図3においては、説明のため、一部の構成を省略している。
伝達シャフト41とメインシャフト71とを接続する接続機構3について、詳しく説明する。図5は接続機構3の分解斜視図である。伝達シャフト41が配置される方向を後方、メインシャフト71が配置される方向を前方として説明する。
このような構成をもつ接続機構3は、三つの作用効果を持つ。一つ目は、前述の通り、メインシャフト71の配置調整である。
開閉機構2について、図8および図9を用いて詳しく説明する。図8は開状態の開閉機構2の断面図である。図9は開閉機構2による開口部107の開閉状態を説明するための説明図であり、(A)が開状態、(B)が閉状態を示す。
開閉機構2が開状態では、弁体75はスプリング73の付勢により、仕切壁106から離間して配置されている(図9(A)参照)。メインシャフト71が前進移動して、傾斜面75bが下ローラ84に当接すると、弁体75は下方へ移動して、開口部107を封止する(図9(B)参照)。
従来の構成のように、上ローラ82,83が存在しない場合、弁体を開口部へ移動させても、仕切壁からの反力によってメインシャフトがアーチ状に反ってしまう。このため、Oリングが斜めに押し付けられて、一様な押付圧が得られず、高いシール効果を保持することができないという問題があった。
本開示の構成は、上記形態に限られない。変形例を図10に示す。同等の構成をもつものは、同じ符号を付して説明を省略する。図10に示すように、第1接続部材31には、その前面中央に突出して雄ネジ部131dが設けられており、これが第2接続部材32の背面中央に設けられた雌ネジ部132aに螺合することで、第1接続部材31と第2接続部材32とが接続長を調整可能に接続される。このように、第1接続部材31と第2接続部材32のネジ結合は、雄雌の構成が逆であってもよい。
3:接続機構
6:アクチュエータ
31:第1接続部材
31c:ネジ穴
32:第2接続部材
32:第2接続部材
32c:挿通孔
34:無頭ボルト
34a:先端部
41:伝達シャフト
41f:雄ネジ部
42:接続シャフト
43:接続部
71:メインシャフト
75:弁体
107:開口部
Claims (4)
- 駆動機構に連結されて駆動される第1シャフト部材と、開口部を封止する弁体に連結されて前記第1シャフト部材の駆動を伝える第2シャフト部材とを接続する真空封止弁の接続機構であって、
前記第1シャフト部材の端部に固定され、前記第2シャフト部材へ対向する端部に、第1係合孔が形成された第1接続部材と、
前記第2シャフト部材の端部に固定され、前記第1接続部材とネジ係合し、前記第1シャフト部材へ対向する端部に、前記第1係合孔に直列可能な位置に第2係合孔が形成された第2接続部材と、
前記第1係合孔または前記第2係合孔の一方の係合孔に係合し、係合した状態で他方の係合孔内に突出する突出部を有する係合部材と、
を備え、
前記突出部は、前記他方の係合孔の内径よりも外径が小さい、
ことを特徴とする真空封止弁の接続機構。 - 前記係合部材と係合する前記一方の係合孔はネジ穴であり、
前記係合部材は、無頭ボルト、または前記他方の係合孔の内径よりも頭径が小さいボルトである、
ことを特徴とする請求項1に記載の真空封止弁の接続機構。 - 前記第1係合孔と前記第2係合孔の少なくとも一方の係合孔は、
前記第1接続部材と前記第2接続部材のネジ係合の軸を中心として、同心円上に、等間隔または不等間隔に複数個設けられている、
ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の真空封止弁の接続機構。 - 前記第1シャフト部材は、前記駆動機構と、連結機構を介して連結され、
前記第1シャフト部材は、前記連結機構ともネジ係合で接続される、
ことを特徴とする請求項1~請求項3のいずれかの請求項に記載の真空封止弁の接続機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2021031508A JP7584866B2 (ja) | 2021-03-01 | 2021-03-01 | 真空封止弁の接続機構 |
Applications Claiming Priority (1)
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| JP2021031508A JP7584866B2 (ja) | 2021-03-01 | 2021-03-01 | 真空封止弁の接続機構 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2022132826A JP2022132826A (ja) | 2022-09-13 |
| JP7584866B2 true JP7584866B2 (ja) | 2024-11-18 |
Family
ID=83229387
Family Applications (1)
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| JP2021031508A Active JP7584866B2 (ja) | 2021-03-01 | 2021-03-01 | 真空封止弁の接続機構 |
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| JP (1) | JP7584866B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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Citations (2)
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|---|---|---|---|---|
| US20130118586A1 (en) | 2011-11-10 | 2013-05-16 | Ict Integrated Circuit Testing Gesellschaft Fur Halbleiterpruftechnik Mbh | Charged particle beam device, vacuum valve therefor and operation thereof |
| JP2016066684A (ja) | 2014-09-24 | 2016-04-28 | 東京エレクトロン株式会社 | ゲートバルブ及び基板処理システム |
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2021
- 2021-03-01 JP JP2021031508A patent/JP7584866B2/ja active Active
Patent Citations (2)
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