JP7586682B2 - Retaining device - Google Patents
Retaining device Download PDFInfo
- Publication number
- JP7586682B2 JP7586682B2 JP2020169660A JP2020169660A JP7586682B2 JP 7586682 B2 JP7586682 B2 JP 7586682B2 JP 2020169660 A JP2020169660 A JP 2020169660A JP 2020169660 A JP2020169660 A JP 2020169660A JP 7586682 B2 JP7586682 B2 JP 7586682B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- terminal
- external connection
- fiber
- holder
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
本開示は、対象物を保持する保持装置に関する。 This disclosure relates to a holding device for holding an object.
対象物(例えば、半導体ウェハ)を保持しつつ所定の温度(例えば、400~800℃程度)に加熱する加熱装置(「サセプタ」とも呼ばれる)が知られている。加熱装置は、例えば、成膜装置(CVD成膜装置、スパッタリング成膜装置等)やエッチング装置(プラズマエッチング装置等)といった半導体製造装置の一部として使用される。 There is known a heating device (also called a "susceptor") that holds an object (e.g., a semiconductor wafer) and heats it to a predetermined temperature (e.g., about 400 to 800°C). Heating devices are used as part of semiconductor manufacturing equipment such as film deposition equipment (CVD film deposition equipment, sputtering film deposition equipment, etc.) and etching equipment (plasma etching equipment, etc.).
一般に、加熱装置は、所定の方向に略直交する表面(以下「保持面」という)と、保持面とは反対側の表面(以下「裏面」という)と、を有するセラミックス部材を備える。セラミックス部材の内部には、例えばタングステン(W)やモリブデン(Mo)等の抵抗発熱体から構成されたヒータ電極が配置されている。ヒータ電極には、少なくとも一部分がセラミックス部材の裏面に露出した導電性の接続部材(「電極パッド」とも呼ばれる)が電気的に接続されている。接続部材には、ろう材により形成された接合部により、金属製の給電部材が接合されている。給電部材および接続部材を介してヒータ電極に電圧が印加されると、ヒータ電極が発熱し、セラミックス部材の保持面上に保持された対象物が加熱される。このような加熱装置として、例えば、特開2015-159232号公報(下記特許文献1)に記載の試料保持具が知られている。
In general, a heating device includes a ceramic member having a surface (hereinafter referred to as the "holding surface") that is approximately perpendicular to a predetermined direction, and a surface (hereinafter referred to as the "rear surface") opposite to the holding surface. A heater electrode made of a resistance heating element such as tungsten (W) or molybdenum (Mo) is disposed inside the ceramic member. A conductive connection member (also called an "electrode pad"), at least a portion of which is exposed on the rear surface of the ceramic member, is electrically connected to the heater electrode. A metal power supply member is joined to the connection member by a joint formed of a brazing material. When a voltage is applied to the heater electrode via the power supply member and the connection member, the heater electrode generates heat, and the object held on the holding surface of the ceramic member is heated. For example, a sample holder described in JP 2015-159232 A (
上記の試料保持具は、先端が尖った外部端子接続用ピンと、外部端子接続用ピンの先端が押し当てられる第2電極と、を備えている。第2電極の表面は必ずしも平坦ではなく、僅かにうねりを持っている。うねりの発生原因は、例えば第2電極自身の厚みのばらつきによるものや、基体の内部に積層されたビアの突き上げによって第2電極が部分的に応力を受けることによるものなどである。このため、外部端子接続用ピンの先端と第2電極の表面とが点接触となることで接触面積が少なくなり、高抵抗となり、外部端子接続用ピンと第2電極の双方に焦げ付きが発生するおそれがある。 The sample holder is equipped with an external terminal connection pin with a sharp tip, and a second electrode against which the tip of the external terminal connection pin is pressed. The surface of the second electrode is not necessarily flat, but has a slight undulation. The undulation is caused, for example, by variations in the thickness of the second electrode itself, or by the second electrode being partially subjected to stress due to the pushing up of vias stacked inside the substrate. For this reason, the tip of the external terminal connection pin and the surface of the second electrode come into point contact, reducing the contact area and resulting in high resistance, which may cause scorching of both the external terminal connection pin and the second electrode.
本開示の保持装置は、第1の方向に略直交する第1の表面と、前記第1の表面とは反対側の第2の表面と、を有する板状部材と、前記板状部材の内部に配置された内部電極部と、前記板状部材の前記第2の表面側に露出している外部接続部と、を備える電極と、前記外部接続部を介して前記内部電極部に通電可能なプローブと、を備える、保持装置であって、前記外部接続部と前記プローブの端部とは繊維状電極によって電気的に接続されている、保持装置である。 The holding device of the present disclosure is a holding device comprising: a plate-shaped member having a first surface substantially perpendicular to a first direction and a second surface opposite the first surface; an electrode including an internal electrode portion disposed inside the plate-shaped member and an external connection portion exposed on the second surface side of the plate-shaped member; and a probe capable of passing electricity through the internal electrode portion via the external connection portion, wherein the external connection portion and an end of the probe are electrically connected by a fiber electrode.
本開示によれば、外部接続部とプローブの双方に焦げ付きが発生することを抑制できる。 This disclosure makes it possible to prevent burning of both the external connection part and the probe.
[本開示の実施形態の説明]
(1)本開示の保持装置は、第1の方向に略直交する第1の表面と、前記第1の表面とは反対側の第2の表面と、を有する板状部材と、前記板状部材の内部に配置された内部電極部と、前記板状部材の前記第2の表面側に露出している外部接続部と、を備える電極と、前記外部接続部を介して前記内部電極部に通電可能なプローブと、を備える、保持装置であって、前記外部接続部と前記プローブの端部とは繊維状電極によって電気的に接続されている、保持装置である。
[Description of the embodiments of the present disclosure]
(1) The holding device of the present disclosure comprises a plate-shaped member having a first surface substantially perpendicular to a first direction and a second surface opposite the first surface, an electrode including an internal electrode portion disposed inside the plate-shaped member and an external connection portion exposed on the second surface side of the plate-shaped member, and a probe capable of passing electricity through the internal electrode portion via the external connection portion, wherein the external connection portion and an end of the probe are electrically connected by a fiber electrode.
外部接続部とプローブの端部とが繊維状電極によって電気的に接続されているため、外部接続部とプローブの端部とが点接触となることを回避できる。したがって、外部接続部とプローブの双方に焦げ付きが発生することを抑制できる。 Because the external connection part and the end of the probe are electrically connected by a fiber electrode, it is possible to prevent the external connection part and the end of the probe from coming into point contact. This makes it possible to prevent both the external connection part and the probe from becoming burnt.
(2)前記繊維状電極は、前記第1の方向において前記外部接続部と前記プローブの端部との間に挟持されており、前記外部接続部に接合されていないことが好ましい。
繊維状電極が外部接続部に接合されると、両者が点接触する可能性があり、高抵抗となって、繊維状電極と外部接続部の双方に焦げ付きが発生するおそれがある。そこで、上記のように繊維状電極が外部接続部に接合されていないようにすることで点接触を防ぐとともに、焦げ付きの発生を防ぐことができる。
(2) It is preferable that the fiber electrode is sandwiched between the external connection portion and the end of the probe in the first direction and is not joined to the external connection portion.
When the fiber electrode is joined to the external connection portion, there is a possibility that the two may come into point contact, resulting in high resistance and causing scorching of both the fiber electrode and the external connection portion. Therefore, by not joining the fiber electrode to the external connection portion as described above, point contact can be prevented and scorching can be prevented.
(3)前記板状部材の前記第2の表面には、前記第1の表面側に凹んだ形態の凹部が設けられており、前記繊維状電極は、圧縮状態で前記凹部内に配置されていることが好ましい。
繊維状電極を圧縮状態で凹部内に配置できるため、繊維状電極の位置決めが容易になるとともに、プローブの端部を繊維状電極に押し当てる際に、繊維状電極が凹部内から落下しないように手で押さえておく必要がない。
(3) It is preferable that the second surface of the plate-like member has a recess that is recessed toward the first surface, and the fiber electrode is disposed in the recess in a compressed state.
Since the fiber electrode can be placed in the recess in a compressed state, the fiber electrode can be easily positioned, and when pressing the end of the probe against the fiber electrode, there is no need to hold the fiber electrode down with one hand to prevent it from falling out of the recess.
(4)前記外部接続部は、複数の前記内部電極部のグランド側にそれぞれ電気的に接続されたコモン電極に接続されていることが好ましい。
電流が集まるコモン電極側において外部接続部とプローブの双方に焦げ付きが発生することを抑制できる。
(4) It is preferable that the external connection portion is connected to a common electrode that is electrically connected to the ground sides of the plurality of internal electrode portions.
This can prevent both the external connection portion and the probe from being burned on the common electrode side where the current is concentrated.
[本開示の実施形態の詳細]
本開示の保持装置の具体例を、以下に図面を参照しつつ説明する。なお、本開示はこれらの例示に限定されるものではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
[Details of the embodiment of the present disclosure]
Specific examples of the retaining device of the present disclosure will be described below with reference to the drawings. Note that the present disclosure is not limited to these examples, but is defined by the claims, and is intended to include all modifications within the meaning and scope of the claims.
<加熱装置>
本開示の保持装置は、対象物(例えば、半導体ウェハW)を保持しつつ所定の処理温度(例えば、400~800℃)に加熱する加熱装置100であり、サセプタとも呼ばれる。加熱装置100は、例えば、成膜装置(CVD成膜装置、スパッタリング成膜装置等)やエッチング装置(プラズマエッチング装置等)といった半導体製造装置の一部として使用される。加熱装置100は、図1に示すように、保持体10と、柱状支持体20と、を備える。加熱装置100が請求項の「保持装置」に対応する。なお、本明細書に開示される技術は、加熱装置以外に、静電チャック、保持装置等に適用可能である。
<Heating device>
The holding device of the present disclosure is a
<保持体>
保持体10は、図2に示すように、上下方向に略直交する保持面S1と、保持面S1とは反対側の裏面S2と、を有する略円板状の部材である。保持体10は、例えば、窒化アルミニウム(AlN)やアルミナ(Al2O3)を主成分とするセラミックス等の絶縁部材により形成されている。なお、ここでいう主成分とは、含有割合(重量割合)の最も多い成分を意味する。保持体10の直径は、例えば100mm以上、500mm以下程度である。保持体10が請求項の「板状部材」に対応し、上下方向が請求項の「第1の方向」に対応し、保持面S1が請求項の「第1の表面」に対応し、裏面S2が請求項の「第2の表面」に対応する。
<Holding body>
As shown in Fig. 2, the
保持体10の内部には、電極40が埋設されている。電極40は、抵抗発熱体50と、各ビア52A、52Bと、コモン電極55と、メタライズ導体60と、を備える。
An
抵抗発熱体50は、保持体10を加熱するヒータ電極であり、例えば、タングステンやモリブデン等の導電性材料により形成されている。抵抗発熱体50は、上方から見て、略同心円状に延びる線状のパターンを構成している。抵抗発熱体50の線状パターンの両端部は、ビアパッドを介して第1ビア52Aの上端部に接続されている。抵抗発熱体50が請求項の「内部電極部」に対応する。
The
複数の抵抗発熱体50の下方には、コモン電極55が設けられている。コモン電極55は、複数の抵抗発熱体50の第1ビア52Aの下端部(グランド側)にそれぞれ電気的に接続されている。コモン電極55は、第2ビア52Bを介して導電性のメタライズ導体60に接続されている。メタライズ導体60は、保持体10の中心部近傍に配置されている。
A
保持体10の裏面S2には、複数の端子穴12が形成されている。各端子穴12は、保持面S1側に凹んだ形態とされている。各端子穴12の上端部には、端子側電極62が設けられている。
A plurality of
端子側電極62は、メタライズ導体60の一部分(後述する内側部IP)が保持体10の裏面S2側に露出した部分である。抵抗発熱体50とメタライズ導体60は、各ビア52A、52B、およびコモン電極55などを介して電気的に接続された状態となっている。端子穴12が請求項の「凹部」に対応し、端子側電極62が請求項の「外部接続部」に対応する。
The
<メタライズ導体>
メタライズ導体60は、金属材料とセラミックス材料とを含むように形成されている。メタライズ導体60に含まれる金属材料は、例えば、タングステンやモリブデン等である。また、メタライズ導体60に含まれるセラミックス材料は、例えば、窒化アルミニウムやアルミナである。なお、メタライズ導体60に含まれるセラミックス材料は、保持体10の主成分であるセラミックス材料の熱膨張係数に近い熱膨張係数を有するセラミックス材料であることが好ましい。
<Metallized conductor>
The
また、メタライズ導体60は、例えば上方から見て、略円形の略平板状部材である。ただし、メタライズ導体60は、外周部分が全周にわたって斜め上方に屈曲したような形状となっている。すなわち、メタライズ導体60は、そのように屈曲して保持体10の内部に位置する外周部OPと、外周部OP以外の部分である略平板状の内側部IPと、から構成されている。
The metallized
図3に示すように、メタライズ導体60の内、外周部OPに相当する領域は保持体10を構成するセラミックス材料等の絶縁部材13によって覆われているが、内側部IPに相当する領域は保持体10の裏面S2側に露出している。内側部IPの下面が端子側電極62である。メタライズ導体60の内側部IPの直径は、例えば3mm以上、12mm以下程度であり、メタライズ導体60の厚さは、例えば0.005mm以上、0.15mm以下程度である。また、外周部OPを覆う絶縁部材13の最大厚さ(最大かぶり厚)は、例えば0.005mm以上、0.1mm以下程度である。絶縁部材13の材料は保持体10の材料と同じである。絶縁部材13が保持体10と同じ材料で構成されているから、絶縁部材13と保持体10を一体に形成できる。
As shown in FIG. 3, the area corresponding to the inner and outer periphery OP of the metallized
<柱状支持体>
図2に示すように、柱状支持体20は、上下方向に延びる略円柱状部材である。柱状支持体20は、保持体10と同様に、例えば窒化アルミニウムやアルミナを主成分とするセラミックス等の絶縁部材により形成されている。柱状支持体20の外径は、例えば30mm以上、90mm以下程度であり、柱状支持体20の高さ(上下方向における長さ)は、例えば100mm以上、300mm以下程度である。
<Columnar Support>
2, the
保持体10と柱状支持体20は、保持体10の裏面S2と柱状支持体20の上面S5とが上下方向に対向するように配置されている。柱状支持体20は、保持体10の裏面S2の中心部付近に、公知の接合材料により形成された接合部30を介して接合されている。
The
柱状支持体20には、保持体10の裏面S2側に開口する貫通孔22が形成されている。貫通孔22は、上下方向に延出し、その延出方向にわたって略一定の内径を有する断面略円形の孔である。貫通孔22には、複数の電極端子24が収容されている。電極端子24は、上方から見て、略円形の柱状部材であり、ニッケル(Ni)等の導電性材料により形成されている。電極端子24の直径は、例えば2mm以上、6mm以下程度である。電極端子24の上端部は、先細り状の端部26とされている。電極端子24が請求項の「プローブ」に対応する。
The
<繊維状電極>
端子穴12の内部には、繊維状電極70が圧縮状態で収容されている。繊維状電極70は、銅などの金属によって構成され、直径約0.1mmの芯線が絡まり合ったものである。繊維状電極70には、電極端子24の端部26が下方から突き刺さっている。電極端子24は、スプリングなどの付勢部材によって繊維状電極70に向けて押し当てられている。繊維状電極70は、端子側電極62に接合(ろう付け)されておらず、上下方向において端子側電極62と電極端子24の端部26との間に挟持されている。
<Fiber electrode>
A
繊維状電極70は柔軟性があるため、端子側電極62の表面に100μm前後の凹凸部があったとしても、凹凸部の形状に合わせて点接触もしくは線接触できるため、端子側電極62に対する接触面積を十分に確保できる。同様に、電極端子24の端部26の表面に凹凸部があったとしても、凹凸部の形状に合わせて点接触もしくは線接触できるため、電極端子24の端部26に対する接触面積を十分に確保できる。
Because the
<実施例>
加熱装置100についてヒートサイクル試験前後における抵抗値測定を行った。
測定条件:真空中で450℃の温度雰囲気下、印加電流20.1Aで実施した。
The resistance value of the
Measurement conditions: The measurement was performed in a vacuum at a temperature of 450° C. and with an applied current of 20.1 A.
ワーク単体は、繊維状電極70なしでヒートサイクル試験前に上記測定条件で測定した抵抗値を示す。
試験前は、ヒートサイクル試験前に上記測定条件で測定した抵抗値を示す。
試験後は、ヒートサイクル試験後に上記測定条件で測定した抵抗値を示す。
The workpiece alone shows a resistance value measured under the above measurement conditions without the
The "before test" indicates the resistance value measured under the above measurement conditions before the heat cycle test.
After the test, the resistance value measured under the above measurement conditions after the heat cycle test is shown.
測定結果:端子側電極62と電極端子24の端部26とに焦げは発生せず、繊維状電極70を使用したことによる抵抗値上昇は確認できなかった。試験後の抵抗値上昇はワーク温度が上がったためであり、問題なしと判断できる。
Measurement results: No scorching occurred on the
このように本実施形態では電極端子24の端部26を端子側電極62に対してろう付けによって接続していないから、ヒートサイクル試験による接続部(ろう付け部)の劣化が発生せず、抵抗値の上昇や断線などを回避できる。
In this embodiment, the
以上のように本実施形態の加熱装置100は、上下方向に略直交する保持面S1と、保持面S1とは反対側の裏面S2と、を有する保持体10と、保持体10の内部に配置された抵抗発熱体50と、保持体10の裏面S2側に露出している端子側電極62と、を備える電極40と、端子側電極62を介して抵抗発熱体50に通電可能な電極端子24と、を備える、加熱装置100であって、端子側電極62と電極端子24の端部26とは繊維状電極70によって電気的に接続されている、加熱装置100である。
As described above, the
端子側電極62と電極端子24の端部26とが繊維状電極70によって電気的に接続されているため、端子側電極62と電極端子24の端部26とが点接触となることを回避できる。したがって、端子側電極62と電極端子24の双方に焦げ付きが発生することを抑制できる。
The
繊維状電極70は、上下方向において端子側電極62と電極端子24の端部26との間に挟持されており、端子側電極62に接合されていないことが好ましい。
繊維状電極70が端子側電極62に接合されると、両者が点接触する可能性があり、高抵抗となって、繊維状電極70と端子側電極62の双方に焦げ付きが発生するおそれがある。そこで、上記のように繊維状電極70が端子側電極62に接合されていないようにすることで点接触を防ぐとともに、焦げ付きの発生を防ぐことができる。
The
If the
保持体10の裏面S2には、保持面S1側に凹んだ形態の端子穴12が設けられており、繊維状電極70は、圧縮状態で端子穴12内に配置されていることが好ましい。
繊維状電極70を圧縮状態で端子穴12内に配置できるため、繊維状電極70の位置決めが容易になるとともに、電極端子24の端部26を繊維状電極70に押し当てる際に、繊維状電極70が端子穴12内から落下しないように手で押さえておく必要がない。
The rear surface S2 of the
Since the
端子側電極62は、複数の抵抗発熱体50のグランド側にそれぞれ電気的に接続されたコモン電極55に接続されていることが好ましい。
電流が集まるコモン電極55側において端子側電極62と電極端子24の双方に焦げ付きが発生することを抑制できる。
The
This can prevent both the
[本開示の変形例の詳細]
次に、変形例における加熱装置200を図4を用いて説明する。変形例の加熱装置200は、実施形態の加熱装置100の電極40の構成を一部変更したものである。変形例の保持体210の内部には、電極240が埋設されている。電極240は、抵抗発熱体50からなる。電極240は、保持体10の内部に配置された内部発熱部と、保持体10の裏面側に露出している外部発熱部とを備える。外部発熱部の一部は端子穴12の内部に露出しており、この露出した部分が端子側電極256とされている。繊維状電極70は、端子側電極256に接合(ろう付け)されておらず、上下方向において端子側電極256と電極端子24の端部26との間に挟持されている。
[Details of the modified example of the present disclosure]
Next, a
<他の実施形態>
(1)上記実施形態では電極端子24の端部26が先細り状となっているが、丸形状やフラット形状でもよい。
<Other embodiments>
(1) In the above embodiment, the
(2)上記実施形態では繊維状電極70が端子側電極62にろう付けされていないが、繊維状電極70を端子側電極62に超音波溶接や抵抗溶接によって接合してもよい。
(2) In the above embodiment, the
(3)上記実施形態では繊維状電極70が圧縮状態で端子穴12内に配置されているが、繊維状電極70を圧縮しないで端子穴12に配置してもよい。
(3) In the above embodiment, the
(4)上記実施形態では端子側電極62がコモン電極55に接続されているが、複数の抵抗発熱体50のグランド側が端子側電極にそれぞれ電気的に接続されているものでもよい。
(4) In the above embodiment, the
10:保持体(板状部材) 12:端子穴(凹部) 13:絶縁部材
20:柱状支持体 22:貫通孔 24:電極端子(プローブ) 26:端部
30:接合部
40:電極
50:抵抗発熱体(内部電極部) 52A:第1ビア 52B:第2ビア 55:コモン電極
60:メタライズ導体 62:端子側電極(外部接続部)
70:繊維状電極
100:加熱装置(保持装置)
200:加熱装置(保持装置) 210:保持体 240:電極 256:端子側電極(外部接続部)
IP:内側部 S1:保持面(第1の表面) S2:裏面(第2の表面) S5:上面 W:半導体ウェハ
10: Holder (plate-shaped member) 12: Terminal hole (recess) 13: Insulating member 20: Columnar support 22: Through hole 24: Electrode terminal (probe) 26: End 30: Joint 40: Electrode 50: Resistive heating element (internal electrode portion) 52A: First via 52B: Second via 55: Common electrode 60: Metallized conductor 62: Terminal electrode (external connection portion)
70: Fiber electrode 100: Heating device (holding device)
200: Heating device (holding device) 210: Holder 240: Electrode 256: Terminal electrode (external connection part)
IP: Inner part S1: Holding surface (first surface) S2: Back surface (second surface) S5: Top surface W: Semiconductor wafer
Claims (4)
前記板状部材の内部に配置された内部電極部と、前記板状部材の前記第2の表面側に露出している外部接続部と、を備える電極と、
前記外部接続部を介して前記内部電極部に通電可能なプローブと、を備える、保持装置であって、
前記外部接続部と前記プローブの端部とは繊維状電極によって電気的に接続されている、保持装置。 a plate-like member having a first surface substantially perpendicular to a first direction and a second surface opposite to the first surface;
an electrode including an internal electrode portion disposed inside the plate-like member and an external connection portion exposed on the second surface side of the plate-like member;
A probe capable of conducting electricity to the internal electrode portion via the external connection portion,
A holding device, wherein the external connection portion and the end of the probe are electrically connected by a fiber electrode.
前記繊維状電極は、圧縮状態で前記凹部内に配置されている、請求項1または請求項2に記載の保持装置。 The second surface of the plate-like member is provided with a recess that is recessed toward the first surface,
3. The holding device according to claim 1, wherein the fiber electrode is disposed in the recess in a compressed state.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2020169660A JP7586682B2 (en) | 2020-10-07 | 2020-10-07 | Retaining device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2020169660A JP7586682B2 (en) | 2020-10-07 | 2020-10-07 | Retaining device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2022061618A JP2022061618A (en) | 2022-04-19 |
| JP7586682B2 true JP7586682B2 (en) | 2024-11-19 |
Family
ID=81210535
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2020169660A Active JP7586682B2 (en) | 2020-10-07 | 2020-10-07 | Retaining device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP7586682B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20240159652A (en) | 2023-04-27 | 2024-11-05 | 엔지케이 인슐레이터 엘티디 | Absence of power supply and wafer loading stand |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006049085A1 (en) | 2004-11-04 | 2006-05-11 | Ulvac, Inc. | Electrostatic chuck apparatus |
| WO2010082420A1 (en) | 2009-01-15 | 2010-07-22 | 株式会社コバック | Metal mesh contact and switch and method for procuding the same |
| JP2013229464A (en) | 2012-04-26 | 2013-11-07 | Shinko Electric Ind Co Ltd | Electrostatic chuck |
| US20150340261A1 (en) | 2014-05-22 | 2015-11-26 | Shinko Electric Industries Co., Ltd. | Electrostatic chuck and semiconductor-liquid crystal manufacturing apparatus |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08334546A (en) * | 1995-06-06 | 1996-12-17 | Hitachi Ltd | Semiconductor device test equipment |
-
2020
- 2020-10-07 JP JP2020169660A patent/JP7586682B2/en active Active
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006049085A1 (en) | 2004-11-04 | 2006-05-11 | Ulvac, Inc. | Electrostatic chuck apparatus |
| WO2010082420A1 (en) | 2009-01-15 | 2010-07-22 | 株式会社コバック | Metal mesh contact and switch and method for procuding the same |
| JP2013229464A (en) | 2012-04-26 | 2013-11-07 | Shinko Electric Ind Co Ltd | Electrostatic chuck |
| US20150340261A1 (en) | 2014-05-22 | 2015-11-26 | Shinko Electric Industries Co., Ltd. | Electrostatic chuck and semiconductor-liquid crystal manufacturing apparatus |
| JP2015222748A (en) | 2014-05-22 | 2015-12-10 | 新光電気工業株式会社 | Electrostatic chuck and semiconductor / liquid crystal manufacturing equipment |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2022061618A (en) | 2022-04-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWI791814B (en) | Wafer support table | |
| JP4858319B2 (en) | Wafer holder electrode connection structure | |
| JP2011049196A (en) | Electrostatic chuck | |
| US12150215B2 (en) | Wafer placement table | |
| JP7586682B2 (en) | Retaining device | |
| KR100717108B1 (en) | Power-supplying member and heating apparatus using the same | |
| JP2007258615A (en) | Electrostatic chuck | |
| CN107872903A (en) | Heater | |
| KR102150811B1 (en) | Ceramics heater | |
| JP6835658B2 (en) | Sample holder | |
| JP7477371B2 (en) | Retaining device | |
| JP4845389B2 (en) | Heater and wafer heating device | |
| KR102659775B1 (en) | Heating apparatus | |
| US11640920B2 (en) | Sample holder | |
| JP7139165B2 (en) | holding device | |
| JP4122723B2 (en) | Object holder | |
| JP6850228B2 (en) | Holding device | |
| KR101904490B1 (en) | Joint structure of ceramic heater | |
| JP2004031596A (en) | Terminal electrode material | |
| US12108498B2 (en) | Wafer placement table | |
| JP2019040939A (en) | Wafer mounting table | |
| JP6835623B2 (en) | heater | |
| JP7285751B2 (en) | Heater and thermocompression bonding device equipped with the same | |
| JP7746577B2 (en) | Ceramic Susceptor | |
| US20250079235A1 (en) | Wafer support table and rf rod |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20230817 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20240528 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20240531 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20241029 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20241107 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7586682 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |