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JP7593787B2 - Cleaning head and mask cleaning method - Google Patents
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Description

本発明は、クリーニングヘッド及びマスククリーニング方法に関する。 The present invention relates to a cleaning head and a mask cleaning method.

一般的な電極部品(横型電極部品)を配線基板に接続するため、配線基板に印刷マスクを用いてはんだペースト等の接続材料を印刷する。配線基板への印刷が完了した印刷マスクは、配線基板に面する側(基板面側)の接続材料のニジミや残り材などがクリーニングされる。クリーニングは、マスクの基板面側平面に、タオルをクリーニングヘッドにて押し付け、溶剤を塗布し、バキュームすることにより、自動で行われる(例えば、特許文献1参照。)。 To connect a general electrode component (horizontal electrode component) to a wiring board, a connection material such as solder paste is printed on the wiring board using a printing mask. After printing on the wiring board is completed, the printing mask is cleaned of any bleeding or remaining material of the connection material on the side facing the wiring board (substrate side). Cleaning is performed automatically by pressing a towel against the flat surface of the mask on the substrate side with a cleaning head, applying a solvent, and vacuuming (see, for example, Patent Document 1).

特開2013-166315号公報JP 2013-166315 A

ところで、リードフレーム(金属端子)とブリッジとの間にダイオードチップを配置したダイオードコネクタにおいては、リードフレームに塗布された接続材料上に実装されたダイオードチップ等の縦型電極部品の上部電極に、接続材料を印刷する。縦型電極部品に干渉しないように接続材料を印刷供給するために、下面に凹部(ハーフエッチ構造)を有した印刷マスクが用いられる。 In a diode connector in which a diode chip is placed between a lead frame (metal terminal) and a bridge, the connection material is printed on the upper electrodes of vertical electrode components such as a diode chip mounted on the connection material applied to the lead frame. In order to print and supply the connection material without interfering with the vertical electrode components, a printing mask with a recess (half-etched structure) on the underside is used.

しかしながら、ハーフエッチ構造を有した印刷マスクをクリーニングする際、マスクの基板側平面にタオルを押し付けても、ハーフエッチ構造の底部(ハーフエッチ底部)にタオルが到達できずハーフエッチ底部をクリーニングできない。この状態で印刷が継続されると、ハーフエッチ底部に残留した接続材料が縦型電極部品に付着する不具合(縦型電極部品の張り付き不具合)が発生するおそれがある。 However, when cleaning a printing mask having a half-etch structure, even if a towel is pressed against the mask's flat surface facing the substrate, the towel cannot reach the bottom of the half-etch structure (half-etch bottom), and the bottom of the half-etch cannot be cleaned. If printing is continued in this state, there is a risk that the connecting material remaining at the bottom of the half-etch will adhere to the vertical electrode components (vertical electrode components will stick).

本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、マスクのハーフエッチ底部の付着物を除去して、縦型電極部品がマスクに張り付く不具合を防止することにある。 The present invention was made in consideration of the above-mentioned circumstances, and its purpose is to remove deposits from the half-etched bottom of the mask and prevent the problem of vertical electrode parts sticking to the mask.

前述した目的を達成するために、本発明に係るクリーニングヘッド及びマスククリーニング方法は、下記(1)~()を特徴としている。
(1)導電板上の縦型電極部品に接続材料を供給するためのマスクであって、一面側に孔を有し、他面側に第1凹部を有し、前記孔が前記第1凹部の底部を貫通する前記マスクに、シート状のクリーニング部材を押し付けて、前記孔から前記第1凹部に供給されて付着した前記接続材料を除去するクリーニングヘッドであって、
ヘッド本体と、
前記ヘッド本体の前記マスク側の先端部に形成された第2凹部に、前記ヘッド本体から突出して設けられた軟質材と、を備え、
前記ヘッド本体は、一端が前記先端部に形成された前記第2凹部の底面に開口する第一吸引孔を有し、
前記ヘッド本体が前記クリーニング部材を前記他面に押し付けることにより、前記軟質材が前記第1凹部に押し付けられて前記第1凹部の形状に沿って変形
前記軟質材は、前記軟質材を貫通し前記第一吸引孔に連通する第二吸引孔を有する、クリーニングヘッド。
)導電板上の縦型電極部品に接続材料を供給するためのマスクであって、一面側に孔を有し、他面側に凹部を有し、前記孔が前記凹部の底部を貫通する前記マスクの前記他面に、クリーニングヘッドによって、シート状のクリーニング部材を押し付けて、前記孔から前記凹部に供給されて付着した前記接続材料を除去する、マスククリーニング方法であって、
前記クリーニングヘッドは、
ヘッド本体と、
前記ヘッド本体の前記マスク側の先端部に、前記ヘッド本体から突出して設けられた軟質材と、を備え、
前記ヘッド本体が前記クリーニング部材を前記他面に押し付けることにより、前記軟質材が前記凹部に押し付けられて前記凹部の形状に沿って変形し、
前記接続材料を除去した後、前記凹部にブラックライトを照射して前記マスクを前記他面側から撮影し、
撮影画像に基づいて、付着物の有無を検査する、マスククリーニング方法。
In order to achieve the above-mentioned object, the cleaning head and the mask cleaning method according to the present invention are characterized by the following (1) to ( 2 ).
(1) A cleaning head for removing the connecting material that has been supplied to and adhered to the first recess by pressing a sheet-like cleaning member against a mask for supplying connecting material to vertical electrode components on a conductive plate, the mask having a hole on one side and a first recess on the other side, the hole penetrating a bottom of the first recess, the cleaning head comprising:
A head body,
a soft material provided in a second recess formed in a tip portion of the head body on the mask side and protruding from the head body;
the head body has a first suction hole, one end of which opens into a bottom surface of the second recess formed in the tip portion,
When the head body presses the cleaning member against the other surface, the soft material is pressed against the first recess and deformed to conform to the shape of the first recess;
The soft material of the cleaning head has a second suction hole penetrating the soft material and communicating with the first suction hole .
( 2 ) A mask cleaning method for supplying a connecting material to vertical electrode components on a conductive plate, the mask having holes on one side and recesses on the other side, the holes penetrating the bottoms of the recesses, the mask comprising a cleaning head pressing a sheet-like cleaning member against the other side of the mask, and removing the connecting material supplied from the holes to the recesses and adhering thereto,
The cleaning head comprises:
A head body,
a soft material provided at a tip portion of the head body on the mask side so as to protrude from the head body,
When the head body presses the cleaning member against the other surface, the soft material is pressed against the recess and deformed to conform to the shape of the recess;
After removing the connecting material, the recess is irradiated with black light and the mask is photographed from the other surface side;
A mask cleaning method in which the presence or absence of adhesion is inspected based on a captured image.

上記(1)の構成のクリーニングヘッド及び上記()の構成のマスククリーニング方法によれば、ヘッド本体がクリーニング部材を他面に押し付けることにより、軟質材が凹部に押し付けられて凹部の形状に沿って変形するので、クリーニング部材を凹部の底部に押し付けて、底部の付着物を除去することができる。よって、縦型電極部品がマスクに張り付く不具合を防止できる。尚、本開示において、縦型電極部品は、電子素子の上部及び下部にそれぞれ電極(上部電極、下部電極)を有する部品を意味する。 According to the cleaning head of the configuration (1) above and the mask cleaning method of the configuration ( 2 ) above, the head body presses the cleaning member against the other surface, so that the soft material is pressed against the recess and deformed along the shape of the recess, and the cleaning member can be pressed against the bottom of the recess to remove any deposits on the bottom. This prevents the vertical electrode part from sticking to the mask. In this disclosure, the vertical electrode part means a part having electrodes (upper electrode, lower electrode) on the upper and lower parts of the electronic element.

更に、上記()の構成のクリーニングヘッドによれば、ヘッド本体及び軟質材に設けた第一及び第二吸引孔を介して、底部の付着物を真空吸引により確実に除去できる。 Furthermore, with the cleaning head having the configuration of ( 1 ) above, any deposits on the bottom can be reliably removed by vacuum suction through the first and second suction holes provided in the head body and the soft material.

更に、上記()の構成のマスククリーニング方法によれば、クリーニング実施後に、底部の付着物の有無を検査するので、クリーニング効果を担保して、縦型電極部品のマスク12への張り付きを確実に防止できる。 Furthermore, according to the mask cleaning method having the configuration of ( 2 ) above, after cleaning, the presence or absence of adhesion to the bottom is inspected, thereby ensuring the cleaning effect and reliably preventing the vertical electrode parts from sticking to the mask 12.

本発明によれば、マスクのハーフエッチ底部の付着物を除去して、縦型電極部品が印刷マスクに張り付く不具合を防止できる。 According to the present invention, it is possible to remove any deposits on the half-etched bottom of the mask, thereby preventing the problem of the vertical electrode components sticking to the printing mask.

以上、本発明について簡潔に説明した。更に、以下に説明される発明を実施するための形態(以下、「実施形態」という。)を添付の図面を参照して通読することにより、本発明の詳細は更に明確化されるであろう。 The present invention has been briefly described above. The details of the present invention will become clearer by reading the following description of the embodiment of the invention (hereinafter referred to as "embodiment") with reference to the attached drawings.

図1は、本発明の第一実施形態に関し、リードフレーム上の縦型電極部品にマスクを用いて接続材料を供給した例を示す図である。FIG. 1 relates to a first embodiment of the present invention and is a diagram showing an example in which a connecting material is supplied to a vertical electrode component on a lead frame using a mask. 図2は、第一実施形態のクリーニングヘッドの概略構成を示す側面図である。FIG. 2 is a side view showing a schematic configuration of the cleaning head of the first embodiment. 図3は、図2のクリーニングヘッドの先端部近傍の拡大図である。FIG. 3 is an enlarged view of the vicinity of the tip of the cleaning head in FIG. 図4は、ハーフエッチ構造をクリーニングしている様子を示す図である。FIG. 4 shows the half-etch structure being cleaned. 図5は、本発明の第二実施形態に係るマスクの構成を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a configuration of a mask according to a second embodiment of the present invention. 図6は、第二実施形態に係るマスクの変形例1を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a first modified example of the mask according to the second embodiment. 図7は、第二実施形態に係るマスクの変形例2を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a second modified example of the mask according to the second embodiment. 図8は、第二実施形態に係るマスククリーニング方法を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing a mask cleaning method according to the second embodiment. 図9は、本発明の第三実施形態に係るマスク及び検査用カメラの配置を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing the arrangement of a mask and an inspection camera according to the third embodiment of the present invention. 図10は、第三実施形態に係る検査用カメラの動作を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing the operation of the inspection camera according to the third embodiment. 図11は、第三実施形態に係る検査用カメラの動作を示す図である。FIG. 11 is a diagram showing the operation of the inspection camera according to the third embodiment. 図12は、第三実施形態に係るマスクのハーフエッチ構造底部に付着物が存在する状態を示す図である。FIG. 12 is a diagram showing a state in which a deposit is present on the bottom of a half-etched structure of a mask according to the third embodiment.

本発明に関する具体的な実施形態について、各図を参照しながら以下に説明する。以下、例えば、ダイオードチップと金属端子(リードフレーム)とを収納したダイオードコネクタの製造時等、電子素子の上下に電極が配置された縦型電極部品の組み立て時に発生する不具合の防止策について説明する。すなわち、接続材料の印刷用マスクへの付着による縦型電子部品の張り付き不具合を抑制するための、クリーニングヘッド、ハーフエッチ構造付マスク、及びマスククリーニング方法について説明する。 Specific embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. Below, we will explain measures to prevent defects that occur when assembling vertical electrode components in which electrodes are arranged above and below an electronic element, such as when manufacturing a diode connector that houses a diode chip and a metal terminal (lead frame). In other words, we will explain a cleaning head, a mask with a half-etch structure, and a mask cleaning method for preventing sticking defects of vertical electronic components caused by adhesion of a connecting material to a printing mask.

<第一実施形態>
<ハーフエッチ構造17を有するマスク12を用いた接続材料16の印刷>
図1は、本発明の第一実施形態に関し、リードフレーム14上の縦型電極部品15にマスク12を用いて接続材料16を供給した例を示す図であり、マスク12の厚み方向に切断した端面を示す。リードフレーム14(導電板)の上面には、はんだペーストやフラックス等の接続材料13が配置され、接続材料13上に縦型電極部品15が実装されている。
First Embodiment
Printing of connecting material 16 using mask 12 having half-etched structure 17
1 relates to a first embodiment of the present invention and is a diagram showing an example in which a connecting material 16 is supplied to a vertical electrode component 15 on a lead frame 14 using a mask 12, and shows an end face cut in the thickness direction of the mask 12. A connecting material 13 such as solder paste or flux is placed on the upper surface of the lead frame 14 (conductive plate), and the vertical electrode component 15 is mounted on the connecting material 13.

マスク12は、上面12a(一面)側に孔18を有し、下面12b(他面)側にハーフエッチ構造17(凹部)を有する。ハーフエッチ構造17は、マスク12の下面12bに開口した開口部20と、開口部20と略同一のサイズの底部19と、を有し、マスク12の厚み方向における断面が矩形状の凹部(直方体形状の凹部)を有する。すなわち、ハーフエッチ構造17は、底部19の周囲に、直角のエッチング壁を有する。上面12a側に開口した孔18が、ハーフエッチ構造17の底部19を貫通する。孔18は、一例として、底部19Aの中心に対応する位置に設けられる。 The mask 12 has a hole 18 on the upper surface 12a (one surface) side, and a half-etched structure 17 (recess) on the lower surface 12b (other surface). The half-etched structure 17 has an opening 20 that opens on the lower surface 12b of the mask 12, and a bottom 19 that is approximately the same size as the opening 20, and has a recess (a rectangular parallelepiped recess) whose cross section in the thickness direction of the mask 12 is rectangular. In other words, the half-etched structure 17 has a right-angled etching wall around the bottom 19. The hole 18 that opens on the upper surface 12a side penetrates the bottom 19 of the half-etched structure 17. As an example, the hole 18 is provided at a position corresponding to the center of the bottom 19A.

マスク12を、リードフレーム14上に実装された縦型電極部品15の上部電極が、マスク12の孔18の直下に位置するように、リードフレーム14上にマスク12の下面12bを接触させて配置する。そして、マスク12の上面12aにおいてスキージ11を摺動させることで、マスク12の孔18を介して縦型電極部品15の上部電極に、はんだペーストやフラックス等の接続材料16が印刷供給される。マスク12がハーフエッチ構造17を有するので、マスク12とリードフレーム14上の縦型電極部品15との干渉が防止される。尚、マスク12には、一又は複数の縦型電極部品15と同数のハーフエッチ構造17が設けられる。 The mask 12 is placed on the lead frame 14 with the lower surface 12b of the mask 12 in contact with the lead frame 14 so that the upper electrodes of the vertical electrode components 15 mounted on the lead frame 14 are located directly below the holes 18 of the mask 12. Then, by sliding the squeegee 11 on the upper surface 12a of the mask 12, a connection material 16 such as solder paste or flux is printed and supplied to the upper electrodes of the vertical electrode components 15 through the holes 18 of the mask 12. Since the mask 12 has a half-etched structure 17, interference between the mask 12 and the vertical electrode components 15 on the lead frame 14 is prevented. The mask 12 is provided with the same number of half-etched structures 17 as the number of one or more vertical electrode components 15.

<ハーフエッチ構造17のクリーニングについて>
図1を参照して説明したように、ハーフエッチ構造17を有するマスク12を用いてリードフレーム14上の縦型電極部品15に接続材料16を印刷する際、ハーフエッチ構造17の底部19に、接続材料が付着する。図2~図4を参照して、マスク12の下面12bのクリーニングについて説明する。
<Cleaning of the half-etched structure 17>
1, when the connecting material 16 is printed on the vertical electrode components 15 on the lead frame 14 using the mask 12 having the half-etched structure 17, the connecting material adheres to the bottom 19 of the half-etched structure 17. Cleaning of the lower surface 12b of the mask 12 will be described with reference to FIGS.

図2は、第一実施形態のクリーニングヘッドCHの概略構成を示す側面図であり、図3は、図2のクリーニングヘッドCHの先端部1a近傍の拡大図である。クリーニングヘッドCHは、ヘッド本体1と、クリーニングタオル2と、軟質材3と、ローラー4a、4bと、支持体5とが、例えば直方体状の筐体内に収容される。クリーニングタオル2は、シート状のクリーニング部材であり、モーターにより回転駆動されるローラー4a、4bの間に架け渡される。尚、クリーニングタオル2に代えて、クリーニングペーパーを用いてもよい。また、クリーニングタオル2及びローラー4a、4bは、クリーニングヘッドCHに内蔵されなくてもよい。支持体5は、ヘッド本体1を下方から支持する。クリーニングヘッドCHは、図示しない制御装置によって、マスク12の下方において、上下方向及び左右方向に移動される。尚、クリーニングヘッドCHは、図2の紙面に垂直な前後方向にも移動可能である。 Figure 2 is a side view showing a schematic configuration of the cleaning head CH of the first embodiment, and Figure 3 is an enlarged view of the vicinity of the tip 1a of the cleaning head CH in Figure 2. The cleaning head CH includes a head body 1, a cleaning towel 2, a soft material 3, rollers 4a, 4b, and a support 5, which are housed in a rectangular parallelepiped housing, for example. The cleaning towel 2 is a sheet-like cleaning member that is hung between the rollers 4a, 4b that are driven to rotate by a motor. Note that cleaning paper may be used instead of the cleaning towel 2. Also, the cleaning towel 2 and the rollers 4a, 4b do not have to be built into the cleaning head CH. The support 5 supports the head body 1 from below. The cleaning head CH is moved in the vertical and horizontal directions below the mask 12 by a control device (not shown). Note that the cleaning head CH can also be moved in the front-back direction perpendicular to the paper surface of Figure 2.

ヘッド本体1は、直方体の上側の二辺が面取りされた、略直方体形状を有し、上側(マスク12側)の先端部1aの凹部に、軟質材3を有する。ヘッド本体1は、ローラー4a、4bの間の、溶剤が塗布されたクリーニングタオル2を、上方に押し上げて、マスク12の下面12bに押し付ける。ローラー4a、4bの回転により、クリーニングタオル2の使用済み部分が巻き取られ、クリーニングタオル2の未使用部分がマスク12の下面12b又は底部19に当接する。ヘッド本体1は、一端が先端部1aに開口する吸引孔6a(第一吸引孔)及び溶剤供給孔6bを有する。吸引孔6aは、ヘッド本体1を上下方向に貫通し、他端が支持体5内の吸引機構に接続される。溶剤供給孔6bは、ヘッド本体1を上下方向に貫通し、他端が支持体5内の溶剤供給機構に接続される。 The head body 1 has an approximately rectangular parallelepiped shape with two upper sides chamfered, and has a soft material 3 in the recess of the tip 1a on the upper side (mask 12 side). The head body 1 pushes the cleaning towel 2 coated with the solvent between the rollers 4a and 4b upward and presses it against the lower surface 12b of the mask 12. The used part of the cleaning towel 2 is wound up by the rotation of the rollers 4a and 4b, and the unused part of the cleaning towel 2 abuts against the lower surface 12b or bottom 19 of the mask 12. The head body 1 has a suction hole 6a (first suction hole) whose one end opens at the tip 1a and a solvent supply hole 6b. The suction hole 6a penetrates the head body 1 in the vertical direction, and the other end is connected to the suction mechanism in the support 5. The solvent supply hole 6b penetrates the head body 1 in the vertical direction, and the other end is connected to the solvent supply mechanism in the support 5.

軟質材3は、先端部1aにおいて、ヘッド本体1から上方に突出して設けられる。軟質材3は、ヘッド本体1よりも軟質な、例えば発泡系エラストマー等の樹脂材料で構成される。軟質材3は、ヘッド本体1がクリーニングタオル2をマスク12の下面12bに押し付けることにより、図3に示すように、軟質材3がハーフエッチ構造17に押し付けられてハーフエッチ構造17の形状に沿って変形する。溶剤供給機構から溶剤供給孔6bを介して供給されたエタノール等の溶剤は、ヘッド本体1の先端部1a及び軟質材3を覆うクリーニングタオル2の部位にしみわたり、マスク12の下面12b及びハーフエッチ構造17の底部19に塗布される。クリーニングヘッドCHにより、マスク12(底部19)へのクリーニングタオル2の押し付け及び溶剤塗布による付着物の拭き取りが実現される。 The soft material 3 is provided at the tip 1a so as to protrude upward from the head body 1. The soft material 3 is made of a resin material, such as a foamed elastomer, which is softer than the head body 1. When the head body 1 presses the cleaning towel 2 against the lower surface 12b of the mask 12, the soft material 3 is pressed against the half-etched structure 17 and deformed along the shape of the half-etched structure 17, as shown in FIG. 3. A solvent such as ethanol supplied from the solvent supply mechanism through the solvent supply hole 6b permeates the tip 1a of the head body 1 and the part of the cleaning towel 2 covering the soft material 3, and is applied to the lower surface 12b of the mask 12 and the bottom 19 of the half-etched structure 17. The cleaning head CH presses the cleaning towel 2 against the mask 12 (bottom 19) and wipes off the deposits by applying the solvent.

軟質材3は、軟質材3を貫通し吸引孔6aに連通する吸引孔7(第二吸引孔)を有する。吸引孔7は、図3に示すように、吸引孔6aの上部に位置し、吸引孔6aよりもサイズが小さい。軟質材3は、左右の幅が、ハーフエッチ構造17(底部19及び開口部20)の左右の幅よりも大きい。軟質材3がハーフエッチ構造17の底部19に押し付けられると、ヘッド本体1及び軟質材3に設けられた吸引孔6a、7を介して、底部19に付着した接続材料が真空吸引されて除去される。 The soft material 3 has a suction hole 7 (second suction hole) that penetrates the soft material 3 and communicates with the suction hole 6a. As shown in FIG. 3, the suction hole 7 is located above the suction hole 6a and is smaller in size than the suction hole 6a. The left-right width of the soft material 3 is larger than the left-right width of the half-etched structure 17 (bottom 19 and opening 20). When the soft material 3 is pressed against the bottom 19 of the half-etched structure 17, the connecting material attached to the bottom 19 is vacuum-suctioned and removed through the suction holes 6a and 7 provided in the head body 1 and the soft material 3.

<ハーフエッチ構造17のクリーニング方法>
クリーニングヘッドCHのヘッド本体1を押し上げて、クリーニングタオル2をマスク12の下面12bに押し付けて、下面12bに付着した接続材料を除去する。図3に示すように、軟質材3がハーフエッチ構造17に入り込み、底部19に付着した接続材料を除去する。
<Method of cleaning half-etched structure 17>
The head body 1 of the cleaning head CH is pushed up, and the cleaning towel 2 is pressed against the lower surface 12b of the mask 12 to remove the connecting material adhering to the lower surface 12b. As shown in FIG. 3, the soft material 3 penetrates into the half-etched structure 17 and removes the connecting material adhering to the bottom 19.

以上説明したように、本実施形態のクリーニングヘッドCHによれば、軟質材3がハーフエッチ構造17に入り込んで底部19に摺接することにより、底部19に付着した接続材料(付着物)を除去できる。また、クリーニングヘッドCHは、ヘッド本体1及び軟質材3に設けた吸引孔6a、7を介して、底部19に付着した接続材料を真空吸引により確実に除去できる。 As described above, with the cleaning head CH of this embodiment, the soft material 3 penetrates the half-etched structure 17 and slides against the bottom 19, thereby removing the connecting material (adherent matter) adhering to the bottom 19. In addition, the cleaning head CH can reliably remove the connecting material adhering to the bottom 19 by vacuum suction through the suction holes 6a and 7 provided in the head body 1 and the soft material 3.

<第一実施形態の課題>
図4は、ハーフエッチ構造17をクリーニングしている様子を示す図であり、図4(a)はマスク12の厚み方向に切断した端面を示し、図4(b)はマスク12の下面12b側から視たハーフエッチ構造17を示す。図1に示した接続材料16の印刷が繰り返し行われた後、クリーニングタオル2による底部19のクリーニングが行われる。ハーフエッチ構造17が直方体形状に窪み、底部19の周囲が下面12bに垂直なエッチング壁で囲まれることから、クリーニングの際、底部19の隅にクリーニングタオル2が到達できず、接続材料の付着物16aが残る場合がある。この付着物16aが、縦型電極部品15と接触する領域Rに進入することにより、縦型電極部品15がマスク12におけるハーフエッチ構造17の底部19に張り付く不具合が発生する。そこで、第二実施形態では、この不具合の発生を防止する技術について説明する。
<Problems of the First Embodiment>
FIG. 4 is a diagram showing the state of cleaning the half-etched structure 17, where FIG. 4(a) shows an end face cut in the thickness direction of the mask 12, and FIG. 4(b) shows the half-etched structure 17 viewed from the lower surface 12b side of the mask 12. After the printing of the connection material 16 shown in FIG. 1 is repeated, the bottom 19 is cleaned with the cleaning towel 2. Since the half-etched structure 17 is recessed in a rectangular parallelepiped shape and the bottom 19 is surrounded by an etching wall perpendicular to the lower surface 12b, the cleaning towel 2 may not reach the corners of the bottom 19 during cleaning, and the connection material deposit 16a may remain. When the deposit 16a enters the region R in contact with the vertical electrode part 15, a defect occurs in which the vertical electrode part 15 sticks to the bottom 19 of the half-etched structure 17 in the mask 12. Therefore, in the second embodiment, a technology for preventing the occurrence of this defect will be described.

<第二実施形態>
図5は、本発明の第二実施形態に係るマスク12Aの構成を示す図であり、図5(a)はマスク12Aの厚み方向に切断した端面を示し、図5(b)はマスク12Aの下面12b側から視たハーフエッチ構造17Aを示す。第一実施形態のマスク12がハーフエッチ構造17を有していたのに対し、本実施形態のマスク12Aは開放形のハーフエッチ構造17Aを有する点が異なる。本実施形態において、第一実施形態で説明した部材・部位と同一の部材・部位には同一の符号を付し重複する説明は省略する。
Second Embodiment
5A and 5B are diagrams showing the configuration of a mask 12A according to a second embodiment of the present invention, in which Fig. 5A shows an end face cut in the thickness direction of the mask 12A, and Fig. 5B shows a half-etched structure 17A as viewed from the lower surface 12b side of the mask 12A. The mask 12 of the first embodiment has a half-etched structure 17, whereas the mask 12A of this embodiment has an open half-etched structure 17A. In this embodiment, the same members and parts as those described in the first embodiment are designated by the same reference numerals, and duplicated explanations will be omitted.

図5に示すマスク12Aのハーフエッチ構造17Aは、図4に示したハーフエッチ構造17と同じ深さを有し、ハーフエッチ構造17の底部19と、同じ形状、同じ面積の底部19Aを有する。ハーフエッチ構造17Aは、底部19Aから下面12b(リードフレーム14側、図1参照)に向けて放射状に広がるようにエッチングされた、開放形のハーフエッチ構造17Aを有する。ハーフエッチ構造17Aは、矩形状の底部19Aと、下面12bに開口した矩形状の開口部20Aと、底部19Aから開口部20Aに向かって広がるように傾斜するテーパ部21、22と、を有する。すなわち、ハーフエッチ構造17Aは、図5に示すように、マスク12Aの厚み方向の切断面が台形形状を有する。 The half-etched structure 17A of the mask 12A shown in FIG. 5 has the same depth as the half-etched structure 17 shown in FIG. 4, and has a bottom 19A of the same shape and area as the bottom 19 of the half-etched structure 17. The half-etched structure 17A has an open-type half-etched structure 17A that is etched so as to spread radially from the bottom 19A toward the lower surface 12b (lead frame 14 side, see FIG. 1). The half-etched structure 17A has a rectangular bottom 19A, a rectangular opening 20A that opens on the lower surface 12b, and tapered portions 21 and 22 that are inclined so as to spread from the bottom 19A toward the opening 20A. That is, the half-etched structure 17A has a trapezoidal shape when cut in the thickness direction of the mask 12A, as shown in FIG. 5.

テーパ部21は、底部19Aにおける、クリーニングタオル2が摺動する方向(図5(a)、(b)における左右方向)に交差する二辺19Aa、19Abから、開口部20Aの互いに対向する二辺20Aa、20Abにそれぞれ延びる。テーパ部22は、底部19Aにおける他の二辺19Ac、19Adから、開口部20Aの他の二辺20Ac、20Adにそれぞれ延びる。下面12bとテーパ部21、22とは、クリーニングタオル2が底部19Aの全面に接触可能となる程度の角度を有し、この角度は周囲の開口部との関係により適宜定められる。一例として、下面12bとテーパ部21とのなす角T1は、120~135度である。 The tapered portion 21 extends from two sides 19Aa, 19Ab of the bottom 19A that intersect in the direction in which the cleaning towel 2 slides (left-right direction in Figs. 5(a) and (b)) to two opposing sides 20Aa, 20Ab of the opening 20A. The tapered portion 22 extends from the other two sides 19Ac, 19Ad of the bottom 19A to the other two sides 20Ac, 20Ad of the opening 20A. The bottom surface 12b and the tapered portions 21, 22 form an angle that allows the cleaning towel 2 to contact the entire surface of the bottom 19A, and this angle is determined appropriately in relation to the surrounding openings. As an example, the angle T1 between the bottom surface 12b and the tapered portion 21 is 120 to 135 degrees.

図6及び図7に、ハーフエッチ構造17Aと形状が異なるハーフエッチ構造17A-1、17A-2を有するマスク12A-1、12A-2をそれぞれ示す。図6(a)、図7(a)はマスク12A-1、12A-2の厚み方向に切断した端面をそれぞれ示し、図6(b)、図7(b)はマスク12A-1、12A-2の下面12b側から視たハーフエッチ構造17A-1、17A-2をそれぞれ示す。 Figures 6 and 7 show masks 12A-1 and 12A-2, respectively, having half-etched structures 17A-1 and 17A-2 that are different in shape from half-etched structure 17A. Figures 6(a) and 7(a) show the end faces cut in the thickness direction of masks 12A-1 and 12A-2, respectively, and Figures 6(b) and 7(b) show half-etched structures 17A-1 and 17A-2 as viewed from the lower surface 12b side of masks 12A-1 and 12A-2, respectively.

図5に示すハーフエッチ構造17Aが底部19の四辺から下面12bの開口部20の四辺に向かってそれぞれ広がるように傾斜するテーパ部21、22を有するのに対し、図6に示すハーフエッチ構造17A-1は、テーパ部22を有しない。すなわち、ハーフエッチ構造17A-1は、底部19A-1の互いに対向する二辺19A-1a、19A-1bから開口部20A-1の二辺20A-1a、20A-1bに向かって傾斜する一対のテーパ部21を有する。一方、ハーフエッチ構造17A-1における、底部19A-1の他の二辺19A-1c、19A-1dから開口部20A-1の二辺20A-1c、20A-1dへは傾斜しない鉛直部とされている。ハーフエッチ構造17A-1はハーフエッチ構造17Aと同じ深さを有し、底部19A-1は、底部19Aと同様に、図4に示したハーフエッチ構造17の底部19と、同じ形状、同じ面積を有する。下面12bとテーパ部21とは、クリーニングタオル2が底部19A-1の隅部を含む全面に接触可能となる程度の角度を有し、この角度は周囲の開口部との関係により適宜定められる。下面12bとテーパ部21とのなす角T2は、一例として、120~135度である。 While the half-etched structure 17A shown in Fig. 5 has tapered portions 21 and 22 that are inclined so as to widen from the four sides of the bottom 19 toward the four sides of the opening 20 in the lower surface 12b, the half-etched structure 17A-1 shown in Fig. 6 does not have tapered portion 22. That is, the half-etched structure 17A-1 has a pair of tapered portions 21 that are inclined from two opposing sides 19A-1a, 19A-1b of the bottom 19A-1 toward the two sides 20A-1a, 20A-1b of the opening 20A-1. On the other hand, in the half-etched structure 17A-1, the other two sides 19A-1c, 19A-1d of the bottom 19A-1 are vertical portions that do not incline toward the two sides 20A-1c, 20A-1d of the opening 20A-1. Half-etched structure 17A-1 has the same depth as half-etched structure 17A, and bottom 19A-1, like bottom 19A, has the same shape and area as bottom 19 of half-etched structure 17 shown in FIG. 4. The bottom surface 12b and tapered portion 21 form an angle that allows the cleaning towel 2 to contact the entire surface of bottom 19A-1, including the corners, and this angle is appropriately determined in relation to the surrounding openings. An angle T2 between bottom surface 12b and tapered portion 21 is, for example, 120 to 135 degrees.

図7に示すハーフエッチ構造17A-2は、円形状の底部19A-2と、下面12bに開口した円形状の開口部20A-2と、底部19A-2から開口部20A-2に向かって広がるように傾斜するテーパ部23と、を有する。ハーフエッチ構造17A-2は、ハーフエッチ構造17Aと同じ深さを有し、底部19A-2は、底部19Aと同程度の面積を有する。下面12bとテーパ部23とは、クリーニングタオル2が底部19A-2の隅部を含む全面に接触可能となる程度の角度を有し、この角度は周囲の開口部との関係により適宜定められる。下面12bとテーパ部23とのなす角T3は、一例として、120~135度である。 The half-etched structure 17A-2 shown in FIG. 7 has a circular bottom 19A-2, a circular opening 20A-2 that opens into the lower surface 12b, and a tapered portion 23 that slopes so as to widen from the bottom 19A-2 toward the opening 20A-2. The half-etched structure 17A-2 has the same depth as the half-etched structure 17A, and the bottom 19A-2 has approximately the same area as the bottom 19A. The lower surface 12b and the tapered portion 23 form an angle that allows the cleaning towel 2 to contact the entire surface of the bottom 19A-2, including the corners, and this angle is appropriately determined in relation to the surrounding openings. The angle T3 between the lower surface 12b and the tapered portion 23 is, for example, 120 to 135 degrees.

<ハーフエッチ構造17Aのクリーニング方法>
図8は、第二実施形態に係るマスククリーニング方法を示す図であり、図5に示したハーフエッチ構造17Aを拡大して模式的に示す。図8(a)に示すように、ハーフエッチ構造17Aの底部19Aに接続材料の付着物16aが付着している。ハーフエッチ構造17Aの右側から、クリーニングタオル2を押圧部Wによりテーパ部21及び底部19Aに押し付ける。クリーニングタオル2は、ハーフエッチ構造17Aの表面から浮くことなくテーパ部21及び底部19Aに接触して、左側へ摺動しながら付着物16aをかき取る。押圧部Wは、自動印刷機の場合には、図2及び図3に示した軟質材3に相当し、手動の場合には作業者の指に相当する。
<Method of cleaning half-etched structure 17A>
8 is a diagram showing a mask cleaning method according to the second embodiment, and shows an enlarged schematic view of the half-etched structure 17A shown in FIG. 5. As shown in FIG. 8(a), a connection material deposit 16a is attached to the bottom 19A of the half-etched structure 17A. The cleaning towel 2 is pressed against the tapered portion 21 and the bottom 19A from the right side of the half-etched structure 17A by the pressing part W. The cleaning towel 2 contacts the tapered portion 21 and the bottom 19A without floating from the surface of the half-etched structure 17A, and scrapes off the deposit 16a while sliding to the left. In the case of an automatic printing machine, the pressing part W corresponds to the soft material 3 shown in FIG. 2 and FIG. 3, and in the case of a manual printing machine, it corresponds to the operator's finger.

図8(b)に示すように、押圧部W及びクリーニングタオル2が底部19Aを左方向へ移動すると、クリーニングタオル2にかき取られた付着物16aが、左方向へ移動される。さらに、押圧部W及びクリーニングタオル2が底部19Aを左方向へ移動すると、図8(c)に示すように、クリーニングタオル2によってハーフエッチ構造17Aから付着物16aがかき出されて、排除される。このとき、クリーニングタオル2の新規表面(未使用表面)が底部19Aに接触しており、仕上げクリーニングが同時に行われる。 As shown in FIG. 8(b), when the pressing part W and the cleaning towel 2 move leftward on the bottom 19A, the deposit 16a scraped off by the cleaning towel 2 is moved leftward. Furthermore, when the pressing part W and the cleaning towel 2 move leftward on the bottom 19A, the deposit 16a is scraped off and removed from the half-etched structure 17A by the cleaning towel 2, as shown in FIG. 8(c). At this time, the new surface (unused surface) of the cleaning towel 2 is in contact with the bottom 19A, and finish cleaning is performed at the same time.

以上説明したように、本実施形態のマスク12Aのハーフエッチ構造17Aがテーパ部21、22を有する開放形であることにより、底部19Aの全面にクリーニングタオル2を接触させて、底部19Aの隅部に付着した付着物16aをもかき取ることができる。このように、ハーフエッチ構造17Aの底部19Aの全面において付着物16aを完全に除去できるので、縦型電極部品15のマスク12Aへの張り付き不具合を抑制できる。尚、図6及び図7に示したハーフエッチ構造17A-1、17A-2についても、テーパ部21、23を有する開放形であることから、クリーニングタオル2を底部19A-1、19A-2の全面に接触させて、隅部の付着物16aを完全に除去できる。 As described above, the half-etched structure 17A of the mask 12A in this embodiment is an open type having tapered portions 21 and 22, so that the cleaning towel 2 can be brought into contact with the entire surface of the bottom 19A to scrape off the deposits 16a that are attached to the corners of the bottom 19A. In this way, the deposits 16a can be completely removed from the entire surface of the bottom 19A of the half-etched structure 17A, so that the problem of the vertical electrode part 15 sticking to the mask 12A can be suppressed. In addition, since the half-etched structures 17A-1 and 17A-2 shown in Figures 6 and 7 are also open types having tapered portions 21 and 23, the cleaning towel 2 can be brought into contact with the entire surface of the bottom 19A-1 and 19A-2 to completely remove the deposits 16a from the corners.

<第三実施形態>
第三実施形態では、第一及び第二実施形態で説明した、マスク12、12A、12A-1、12A-2のクリーニング後に実施される、付着物の有無を画像検査する方法について説明する。尚、以下、マスク12の画像検査方法を説明するが、他のマスク12A、12A-1、12A-2についても同様に画像検査を行うことができる。
Third Embodiment
In the third embodiment, a method of image inspection for the presence or absence of adhesions, which is performed after cleaning of the masks 12, 12A, 12A-1, and 12A-2 described in the first and second embodiments, will be described. Note that, although the image inspection method for the mask 12 will be described below, the other masks 12A, 12A-1, and 12A-2 can also be image inspected in the same manner.

図9は、第三実施形態に係るマスク12及び検査用カメラ31の配置を示す図であり、図10及び図11は、検査用カメラ31の動作を示す図である。また、図12は、マスク12のハーフエッチ構造17の底部19に付着物Fが存在する状態を示す図である。 Figure 9 shows the arrangement of the mask 12 and the inspection camera 31 according to the third embodiment, and Figures 10 and 11 show the operation of the inspection camera 31. Also, Figure 12 shows the state in which an attachment F is present on the bottom 19 of the half-etched structure 17 of the mask 12.

前述したように、ハーフエッチ構造17を有するマスク12を用いた接続材料の印刷供給が繰り返し行われると、ハーフエッチ構造17の底部19に接続材料がニジミ付着し、縦型電極部品がマスク12に付着する不具合が発生する。そこで、印刷が、任意に設定された回数行われる毎に、マスク12のクリーニングを実施し、不具合を抑制している。 As mentioned above, if the printing and supplying of the connection material is repeated using the mask 12 having the half-etched structure 17, the connection material will bleed onto the bottom 19 of the half-etched structure 17, causing the vertical electrode components to adhere to the mask 12. Therefore, the mask 12 is cleaned every time printing is performed a set number of times to prevent this problem.

図12において、接続材料がフラックスのみの場合の付着物Fを二点鎖線で示す。孔18の周りにニジミ付着した接続材料がはんだペーストの場合には、はんだ粒子を目視又は画像にて確認できるが、ニジミ付着した接続材料が微小フラックスの場合には付着物Fが透明色のため認識できない。このため、マスク12がクリーニングされた後、次のクリーニングが実施されるまでの間に、マスク12に縦型電極部品が張り付く不具合が発生する場合がある。 In FIG. 12, the deposit F when the connecting material is only flux is shown by a two-dot chain line. If the connecting material that is adhered in a smudge around the hole 18 is solder paste, the solder particles can be confirmed visually or in an image, but if the connecting material that is adhered in a smudge is minute flux, the deposit F cannot be recognized because it is transparent. For this reason, after the mask 12 is cleaned, a problem may occur in which the vertical electrode parts stick to the mask 12 before the next cleaning is performed.

そこで、本実施形態では、図12に示す微小フラックスの付着物Fに、ブラックライトを照射してカメラ認識を実施することにより、フラックス中の樹脂分を白色化させて、認識可能とする。 Therefore, in this embodiment, the minute flux deposit F shown in Figure 12 is irradiated with black light and camera recognition is performed, causing the resin in the flux to turn white and become recognizable.

図9は、図1に示したようにリードフレーム14上の縦型電極部品15に接続材料16を印刷した後、リードフレーム14が印刷機より搬出された後の状態を示す。マスク12は、ハーフエッチ構造17と、次に搬入されるリードフレーム14と孔18の位置とを画像上で位置合わせするための位置合わせマーク30と、を有する。マスク12の下方には、検査用カメラ31が設けられ、少なくとも左右方向に移動可能とされる。検査用カメラ31は、ブラックライト及びLEDライトの切替照明機能を有する。 Figure 9 shows the state after the lead frame 14 is removed from the printer after the connecting material 16 is printed on the vertical electrode components 15 on the lead frame 14 as shown in Figure 1. The mask 12 has a half-etched structure 17 and an alignment mark 30 for aligning the position of the hole 18 with the position of the lead frame 14 to be next loaded on the image. An inspection camera 31 is provided below the mask 12 and is movable at least in the left-right direction. The inspection camera 31 has a switching illumination function between black light and LED light.

検査用カメラ31は、通常印刷時には、図9に示す位置で待機する。新規のリードフレーム14が搬入されると、図10に示すように、検査用カメラ31は、位置合わせマーク30を認識するための所定位置に移動し、新規のリードフレーム14とマスク12の孔18との位置合わせのために、LED照明により画像撮影及び認識を行う。 During normal printing, the inspection camera 31 waits in the position shown in FIG. 9. When a new lead frame 14 is brought in, the inspection camera 31 moves to a predetermined position for recognizing the alignment mark 30, as shown in FIG. 10, and takes and recognizes an image using LED illumination to align the new lead frame 14 with the hole 18 in the mask 12.

リードフレーム14上の縦型電極部品15に接続材料16が印刷され、リードフレーム14が搬出されると、図11に示すように、検査用カメラ31は、ハーフエッチ構造17の直下、すなわち、孔18の中心位置の直下に移動する。検査用カメラ31は、マスク12の下面12b側からハーフエッチ構造17にブラックライトを照射して、マスク12を下面12b側から撮影する。 When the connecting material 16 is printed on the vertical electrode components 15 on the lead frame 14 and the lead frame 14 is removed, as shown in FIG. 11, the inspection camera 31 moves to a position directly below the half-etched structure 17, i.e., directly below the center position of the hole 18. The inspection camera 31 irradiates the half-etched structure 17 with black light from the lower surface 12b side of the mask 12, and photographs the mask 12 from the lower surface 12b side.

検査用カメラ31は、この撮影画像に基づいて、付着物Fの有無を検出する。ブラックライト照明によりフラックス中の樹脂分が白色化されて認識可能となる。検査用カメラ31又は制御装置等が付着物Fの面積を算出することにより、縦型電極部品15のマスク12への接着力を算出でき、張り付き有無の閾値を算出できる。この閾値(許容面積)以上の付着物Fの面積が検出された場合にハーフエッチ構造17の底部19のクリーニングを実施することにより、縦型電極部品15のマスク12への張り付き不具合を未然に防止できる。尚、接続材料16がはんだ粒子を含む場合には、ブラックライト照明ではなくLED照明に切り替えてカメラ認識を実施することで、付着物の有無及び付着物の面積を認識できる。 The inspection camera 31 detects the presence or absence of adhesion F based on this captured image. The resin in the flux is whitened by black light illumination, making it visible. The inspection camera 31 or a control device calculates the area of the adhesion F, thereby calculating the adhesive strength of the vertical electrode part 15 to the mask 12 and calculating a threshold value for the presence or absence of adhesion. If an area of adhesion F equal to or greater than this threshold (allowable area) is detected, the bottom 19 of the half-etched structure 17 is cleaned, thereby preventing the vertical electrode part 15 from sticking to the mask 12. Note that if the connection material 16 contains solder particles, the presence or absence of adhesion and the area of the adhesion can be recognized by switching from black light illumination to LED illumination and performing camera recognition.

以上説明したように、本実施形態の画像検査方法によれば、新規リードフレーム14への接続材料16の印刷が完了する都度、ハーフエッチ構造17の底部19にブラックライトを照射して撮影した画像に基づいて、付着物Fの有無を検査することにより、フラックス中の樹脂分を白色化させて認識が可能となる。よって、付着物Fがある場合には底部19のクリーニングを実施することにより、縦型電極部品15のマスク12への張り付き不具合を未然に防止できる。 As described above, according to the image inspection method of this embodiment, each time printing of the connection material 16 on the new lead frame 14 is completed, the presence or absence of adhesion F is inspected based on the image taken by irradiating the bottom 19 of the half-etched structure 17 with black light, and the resin content in the flux becomes white and can be recognized. Therefore, by cleaning the bottom 19 if adhesion F is present, problems with the vertical electrode component 15 sticking to the mask 12 can be prevented in advance.

また、付着物Fの面積を算出することにより、縦型電極部品15のマスク12への張り付き有無の閾値が算出されるため、閾値以上の付着物Fの面積が検出された場合に底部19のクリーニングを実施する等により、クリーニング頻度を調整できる。 In addition, by calculating the area of the adhesion F, a threshold value for whether or not the vertical electrode part 15 is attached to the mask 12 is calculated, so that the frequency of cleaning can be adjusted by, for example, cleaning the bottom 19 when an area of adhesion F equal to or greater than the threshold is detected.

さらに、本実施形態の画像検査方法は、第一実施形態及び第二実施形態で説明したマスククリーニングの実施後に行うことができる。マスククリーニングの実施後に、ハーフエッチ構造17、17A、17A-1、17A-2の底部19、19A、19A-1、19A-2における付着物の有無を検査することにより、クリーニング効果を担保して、縦型電極部品15のマスク12への張り付きを確実に防止できる。 Furthermore, the image inspection method of this embodiment can be performed after the mask cleaning described in the first and second embodiments. After mask cleaning, the presence or absence of adhesions on the bottoms 19, 19A, 19A-1, and 19A-2 of the half-etched structures 17, 17A, 17A-1, and 17A-2 can be inspected to ensure the cleaning effect and to reliably prevent the vertical electrode components 15 from sticking to the mask 12.

ここで、上述した本発明の実施形態に係るクリーニングヘッド及びマスククリーニング方法の特徴をそれぞれ以下[1]~[4]に簡潔に纏めて列記する。
[1]導電板(リードフレーム14)上の縦型電極部品(15)に接続材料(16)を供給するためのマスク(12)であって、一面(上面12a)側に孔(18)を有し、他面(下面12b)側に凹部(ハーフエッチ構造17)を有し、前記孔が前記凹部の底部(19)を貫通する前記マスクに、シート状のクリーニング部材(クリーニングタオル2)を押し付けて、前記孔から前記凹部に供給されて付着した前記接続材料を除去するクリーニングヘッド(CH)であって、
ヘッド本体(1)と、
前記ヘッド本体の前記マスク側の先端部(1a)に、前記ヘッド本体から突出して設けられた軟質材(3)と、を備え、
前記ヘッド本体が前記クリーニング部材を前記他面に押し付けることにより、前記軟質材が前記凹部に押し付けられて前記凹部の形状に沿って変形する、クリーニングヘッド(CH)。
[2]前記ヘッド本体は、一端が前記先端部に開口する第一吸引孔(吸引孔6a)を有し、
前記軟質材は、前記軟質材を貫通し前記第一吸引孔に連通する第二吸引孔(吸引孔7)を有する、[1]に記載のクリーニングヘッド。
[3]上記[1]又は[2]に記載のクリーニングヘッドによって、前記クリーニング部材を前記他面に押し付けて、前記凹部に付着した前記接続材料を除去する、マスククリーニング方法。
[4]前記接続材料を除去した後、前記凹部にブラックライトを照射して前記マスクを前記他面側から撮影し、
撮影画像に基づいて、付着物の有無を検査する、上記[3]に記載のマスククリーニング方法。
Here, the features of the cleaning head and the mask cleaning method according to the above-described embodiments of the present invention will be briefly summarized and listed below in [1] to [4].
[1] A cleaning head (CH) for removing the connecting material (16) that has been supplied to and adhered to the recessed portion through a sheet-like cleaning member (cleaning towel 2) by pressing the mask (12) for supplying a connecting material (16) to a vertical electrode component (15) on a conductive plate (lead frame 14), the mask having holes (18) on one surface (upper surface 12a) and recesses (half-etched structure 17) on the other surface (lower surface 12b), the holes penetrating a bottom (19) of the recessed portion, the mask comprising:
A head body (1),
a soft material (3) provided at a tip portion (1a) of the head body on the mask side so as to protrude from the head body,
The cleaning head (CH) wherein the head body presses the cleaning member against the other surface, whereby the soft material is pressed against the recess and deformed to conform to the shape of the recess.
[2] The head body has a first suction hole (suction hole 6a) whose one end opens to the tip portion,
The cleaning head according to [1], wherein the soft material has a second suction hole (suction hole 7) penetrating the soft material and communicating with the first suction hole.
[3] A mask cleaning method, comprising: pressing the cleaning member against the other surface by a cleaning head according to [1] or [2] above, to remove the connecting material adhering to the recess.
[4] After removing the connecting material, the recess is irradiated with black light and the mask is photographed from the other surface side;
The mask cleaning method according to the above [3], further comprising inspecting the presence or absence of adhesion based on the captured image.

1 ヘッド本体
1a 先端部
2 クリーニングタオル
3 軟質材
4a、4b ローラー
5 支持体
6a、7 吸引孔
6b 溶剤供給孔
11 スキージ
12、12A、12A-1、12A-2 マスク
12a 上面
12b 下面
13、16 接続材料
14 リードフレーム
15 縦型電極部品
16a 付着物
17、17A、17A-1、17A-2 ハーフエッチ構造
18 孔
19、19A、19A-1、19A-2 底部
20、20A、20A-1、20A-2 開口部
21、22、23 テーパ部
30 位置合わせマーク
31 検査用カメラ
CH クリーニングヘッド
F 付着物
R 領域
W 押圧部
1 Head body 1a Tip portion 2 Cleaning towel 3 Soft material 4a, 4b Roller 5 Support 6a, 7 Suction hole 6b Solvent supply hole 11 Squeegee 12, 12A, 12A-1, 12A-2 Mask 12a Upper surface 12b Lower surface 13, 16 Connection material 14 Lead frame 15 Vertical electrode part 16a Adhesive 17, 17A, 17A-1, 17A-2 Half-etch structure 18 Hole 19, 19A, 19A-1, 19A-2 Bottom 20, 20A, 20A-1, 20A-2 Opening 21, 22, 23 Tapered portion 30 Alignment mark 31 Inspection camera CH Cleaning head F Adhesive R Area W Pressing portion

Claims (2)

導電板上の縦型電極部品に接続材料を供給するためのマスクであって、一面側に孔を有し、他面側に第1凹部を有し、前記孔が前記第1凹部の底部を貫通する前記マスクに、シート状のクリーニング部材を押し付けて、前記孔から前記第1凹部に供給されて付着した前記接続材料を除去するクリーニングヘッドであって、
ヘッド本体と、
前記ヘッド本体の前記マスク側の先端部に形成された第2凹部に、前記ヘッド本体から突出して設けられた軟質材と、を備え、
前記ヘッド本体は、一端が前記先端部に形成された前記第2凹部の底面に開口する第一吸引孔を有し、
前記ヘッド本体が前記クリーニング部材を前記他面に押し付けることにより、前記軟質材が前記第1凹部に押し付けられて前記第1凹部の形状に沿って変形
前記軟質材は、前記軟質材を貫通し前記第一吸引孔に連通する第二吸引孔を有する、クリーニングヘッド。
a cleaning head for removing the connecting material that has been supplied to and adhered to the first recess by pressing a sheet-like cleaning member against a mask for supplying a connecting material to vertical electrode components on a conductive plate, the mask having a hole on one side and a first recess on the other side, the hole penetrating a bottom of the first recess, the cleaning head comprising:
A head body,
a soft material provided in a second recess formed in a tip portion of the head body on the mask side and protruding from the head body;
the head body has a first suction hole, one end of which opens into a bottom surface of the second recess formed in the tip portion,
When the head body presses the cleaning member against the other surface, the soft material is pressed against the first recess and deformed to conform to the shape of the first recess;
The soft material of the cleaning head has a second suction hole penetrating the soft material and communicating with the first suction hole .
導電板上の縦型電極部品に接続材料を供給するためのマスクであって、一面側に孔を有し、他面側に凹部を有し、前記孔が前記凹部の底部を貫通する前記マスクの前記他面に、クリーニングヘッドによって、シート状のクリーニング部材を押し付けて、前記孔から前記凹部に供給されて付着した前記接続材料を除去する、マスククリーニング方法であって、
前記クリーニングヘッドは、
ヘッド本体と、
前記ヘッド本体の前記マスク側の先端部に、前記ヘッド本体から突出して設けられた軟質材と、を備え、
前記ヘッド本体が前記クリーニング部材を前記他面に押し付けることにより、前記軟質材が前記凹部に押し付けられて前記凹部の形状に沿って変形し、
前記接続材料を除去した後、前記凹部にブラックライトを照射して前記マスクを前記他面側から撮影し、
撮影画像に基づいて、付着物の有無を検査する、マスククリーニング方法。
A mask cleaning method for supplying connecting material to vertical electrode components on a conductive plate, the mask having holes on one side and recesses on the other side, the holes penetrating bottoms of the recesses, the mask comprising: a cleaning head pressing a sheet-like cleaning member against the other side of the mask, the other side being a mask for supplying connecting material to vertical electrode components on a conductive plate; the mask having holes on one side and recesses on the other side, the holes penetrating bottoms of the recesses; and removing the connecting material supplied through the holes to the recesses and adhering thereto, the mask comprising:
The cleaning head comprises:
A head body,
a soft material provided at a tip portion of the head body on the mask side so as to protrude from the head body,
When the head body presses the cleaning member against the other surface, the soft material is pressed against the recess and deformed to conform to the shape of the recess;
After removing the connecting material, the recess is irradiated with black light and the mask is photographed from the other surface side;
A mask cleaning method in which the presence or absence of adhesion is inspected based on a captured image.
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