Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP7600909B2 - Anomaly detection system and anomaly detection method - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP7600909B2 - Anomaly detection system and anomaly detection method - Google Patents

Anomaly detection system and anomaly detection method Download PDF

Info

Publication number
JP7600909B2
JP7600909B2 JP2021111969A JP2021111969A JP7600909B2 JP 7600909 B2 JP7600909 B2 JP 7600909B2 JP 2021111969 A JP2021111969 A JP 2021111969A JP 2021111969 A JP2021111969 A JP 2021111969A JP 7600909 B2 JP7600909 B2 JP 7600909B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
normal
restored
inspection object
restored image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2021111969A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2023008416A (en
Inventor
裕太 椿
智裕 松田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyota Motor Corp
Original Assignee
Toyota Motor Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyota Motor Corp filed Critical Toyota Motor Corp
Priority to JP2021111969A priority Critical patent/JP7600909B2/en
Priority to CN202210731375.XA priority patent/CN115587959B/en
Publication of JP2023008416A publication Critical patent/JP2023008416A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP7600909B2 publication Critical patent/JP7600909B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • G06T7/001Industrial image inspection using an image reference approach
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06VIMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V10/00Arrangements for image or video recognition or understanding
    • G06V10/70Arrangements for image or video recognition or understanding using pattern recognition or machine learning
    • G06V10/74Image or video pattern matching; Proximity measures in feature spaces
    • G06V10/761Proximity, similarity or dissimilarity measures
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06VIMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V10/00Arrangements for image or video recognition or understanding
    • G06V10/70Arrangements for image or video recognition or understanding using pattern recognition or machine learning
    • G06V10/82Arrangements for image or video recognition or understanding using pattern recognition or machine learning using neural networks
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10Image acquisition modality
    • G06T2207/10004Still image; Photographic image
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108Industrial image inspection
    • G06T2207/30152Solder

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • Artificial Intelligence (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Databases & Information Systems (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Image Processing (AREA)

Description

本発明は、異常検知システムおよび異常検知方法に関する。 The present invention relates to an anomaly detection system and an anomaly detection method.

従来、画像解析により検査対象の異常を検知する手法として、異常のない良品の画像と異常を含む不良品の画像とを学習させ、モデルを生成し、該モデルを用いて、検査対象の異常を検知するものがある。しかし、検査対象によっては、不良品が発生する頻度が低く、不良品の画像が十分に収集できない場合がある。 Conventionally, a method for detecting abnormalities in an inspection object using image analysis involves training an object with images of non-defective products without abnormalities and images of defective products containing abnormalities, generating a model, and then using the model to detect abnormalities in the inspection object. However, depending on the inspection object, defective products may occur only infrequently, making it difficult to collect sufficient images of the defective products.

そこで、例えば、特許文献1では、良品の画像を学習用画像として用い学習されたニューラルネットワークにより、検査対象画像から復元画像(疑似画像)を生成し、検査対象画像と、復元画像との差分に基づき、検査対象に異常があることを検知する技術が開示されている。 For example, Patent Document 1 discloses a technology in which a neural network trained using images of non-defective products as learning images generates a restored image (pseudo image) from an image of the inspection target, and detects the presence of an abnormality in the inspection target based on the difference between the image of the inspection target and the restored image.

特開2020-160997号公報JP 2020-160997 A

ここで、発明者らは、このような検査対象画像と復元画像との差分を用いて異常を検知する手法に関して、本来は良品である検査対象が異常として検知される、いわゆる過検知が発生しやすい、という問題点を見出した。 The inventors have discovered that this method of detecting anomalies using the difference between an image of an object to be inspected and a restored image is prone to overdetection, where an object to be inspected that is actually a good product is detected as an anomaly.

例えば、溶接により形成される溶接痕のように、良品の中でも形状などにばらつきがある検査対象の画像を検査する場合や、検査対象の撮像環境の問題から検査対象画像中における検査対象の位置や方向にずれ・ばらつきがある検査対象の画像を検査する場合に、これらのばらつきなどにより、本来は良品である検査対象が異常として検知され、過検知が生じやすいという課題がある。 For example, when inspecting images of test objects that have variation in shape, even among good products, such as weld marks formed by welding, or when inspecting images of test objects that have deviations or variations in the position or orientation of the test object in the test object image due to problems with the imaging environment of the test object, these variations can easily cause test objects that are actually good to be detected as abnormal, resulting in overdetection.

本発明は、このような事情に鑑みなされたものであって、過検知の発生を抑制し、異常の検知精度を向上させる異常検知システムおよび異常検知方法を提供するものである。 The present invention has been developed in consideration of these circumstances, and provides an anomaly detection system and an anomaly detection method that suppresses the occurrence of overdetection and improves the accuracy of anomaly detection.

本発明の一態様に係る異常検知システムは、
検査対象の検査対象画像を取得する取得部と、
正常である検査対象の画像を教師データとして利用し学習された学習モデルに、前記検査対象画像を入力し、復元画像を生成する復元画像生成部と、
前記復元画像と、前記学習モデルに正常である検査対象の画像を入力し生成された復元画像である正常復元画像と、を用いて、前記検査対象画像中の検査対象が異常か否かを判定する検知部と、
を備えるものである。
An anomaly detection system according to one aspect of the present invention includes:
an acquisition unit for acquiring an inspection object image of an inspection object;
a restored image generating unit that inputs the image of the test object to a learning model that has been trained using images of the test object that are normal as training data, and generates a restored image;
a detection unit that uses the restored image and a normal restored image that is a restored image generated by inputting an image of the inspection target that is normal to the learning model to determine whether or not the inspection target in the inspection target image is abnormal;
It is equipped with the following.

このような構成により、従来の検査対象画像と復元画像との差分を用いて異常を検知する方法では、明るさなどのばらつきにより過検知が発生していた検査対象であっても、検査対象の画像から生成された復元画像と、正常である検査対象の画像から生成された正常復元画像と、が近しい画像になるため、過検知の発生を抑制し、異常の検知精度を向上させることができる。 With this configuration, even in cases where overdetection occurs due to variations in brightness or other factors in the conventional method of detecting abnormalities using the difference between the image of the test subject and the restored image, the restored image generated from the image of the test subject and the normal restored image generated from the image of the normal test subject are similar images, making it possible to suppress overdetection and improve the accuracy of detecting abnormalities.

上記態様の異常検知システムにおいて、前記検知部は、前記復元画像と、前記学習モデルに正常である検査対象の画像を入力し生成された復元画像である正常復元画像と、の類似度を用いて、前記検査対象画像中の検査対象が異常か否かを判定するものであってもよい。 In the anomaly detection system of the above aspect, the detection unit may determine whether the inspection object in the inspection object image is abnormal by using the similarity between the restored image and a normal restored image, which is a restored image generated by inputting an image of the inspection object that is normal to the learning model.

このような構成により、より高い精度で異常か否かを判定することできるため、過検知の発生を抑制し、異常の検知精度を向上させることができる。 This configuration allows for more accurate determination of whether an abnormality exists, reducing overdetection and improving the accuracy of abnormality detection.

上記態様の異常検知システムにおいて、さらに、前記検査対象画像と前記復元画像との差分を用いて、前記検査対象画像中の検査対象が異常か否かを判定する予備検知部を、備え、前記検知部は、前記予備検知部により異常と判定された検査対象が異常か否かを再判定するものであってもよい。 The anomaly detection system of the above aspect may further include a preliminary detection unit that uses the difference between the inspection target image and the restored image to determine whether or not the inspection target in the inspection target image is abnormal, and the detection unit may re-determine whether or not the inspection target determined to be abnormal by the preliminary detection unit is abnormal.

このような構成により、必要な演算処理が少ない差分を用いた判定を予備検知部で行い、異常と判定された検査対象のみを検知部にて再判定するため、異常処理に要する時間を短くすることができる。 With this configuration, the preliminary detection unit performs a judgment using the difference, which requires less calculation processing, and the detection unit re-evaluates only the test objects that are judged to be abnormal, thereby shortening the time required for abnormality processing.

上記態様の異常検知システムにおいて、前記学習モデルは、敵対的生成ネットワークを用いた学習モデルであってもよい。 In the anomaly detection system of the above aspect, the learning model may be a learning model using a generative adversarial network.

このような構成により、復元画像生成部により生成される復元画像の再現性を高くすることができ、異常の検知精度を向上させることができる。 This configuration can improve the reproducibility of the restored image generated by the restored image generation unit, thereby improving the accuracy of detecting abnormalities.

上記態様の異常検知システムにおいて、前記検査対象が、部材に溶接により形成される溶接痕であってもよい。 In the anomaly detection system of the above aspect, the inspection object may be a weld mark formed by welding on a member.

このような構成により、特に、形状などのばらつきがあることにより過検知が生じやすい溶接痕の異常検知おいて、過検知の発生を抑制し、異常の検知精度を向上させることができる。 This configuration makes it possible to reduce overdetection and improve the accuracy of abnormality detection, particularly in detecting abnormalities in weld marks, which are prone to overdetection due to variations in shape, etc.

上記態様の異常検知システムにおいて、前記検査対象画像が、生産ラインにおいて撮像された画像であってもよい。 In the anomaly detection system of the above aspect, the inspection target image may be an image captured on a production line.

このような構成により、特に、検査対象の位置や方向にずれ・ばらつきがあることにより過検知が生じやすい生産ラインにおいて撮像された画像を用いた異常検知おいて、過検知の発生を抑制し、異常の検知精度を向上させることができる。 This configuration makes it possible to reduce overdetection and improve the accuracy of anomaly detection, particularly in anomaly detection using images captured on a production line where overdetection is likely to occur due to misalignment or variation in the position or orientation of the object being inspected.

本発明の一態様に係る異常検知方法は、
検査対象の検査対象画像を取得する取得ステップと、
正常である検査対象の画像を教師データとして利用し学習された学習モデルに、前記検査対象画像を入力し、復元画像を生成する復元画像生成ステップと、
前記復元画像と、前記学習モデルに正常である検査対象の画像を入力し生成された復元画像である正常復元画像と、を用いて、前記検査対象画像中の検査対象が異常か否かを判定する検知ステップと、
を備えるものである。
An anomaly detection method according to one aspect of the present invention includes:
An acquisition step of acquiring an inspection object image of an inspection object;
a restored image generating step of inputting the inspection target image into a learning model trained using a normal inspection target image as training data, and generating a restored image;
a detection step of determining whether or not the inspection target in the inspection target image is abnormal using the restored image and a normal restored image, which is a restored image generated by inputting an image of the inspection target that is normal to the learning model;
It is equipped with the following.

本発明により、過検知の発生を抑制し、異常の検知精度を向上させる異常検知システムおよび異常検知方法を提供することができる。 The present invention provides an anomaly detection system and an anomaly detection method that suppresses the occurrence of overdetection and improves the accuracy of anomaly detection.

第1の実施形態にかかる異常検知システムのハードウェア構成の概略を示す ブロック図。FIG. 1 is a block diagram showing an outline of a hardware configuration of an anomaly detection system according to a first embodiment. 第1の実施形態にかかる異常検知システムの機能構成を示すブロック図。FIG. 1 is a block diagram showing a functional configuration of an anomaly detection system according to a first embodiment. 第1の実施形態にかかる異常検知システムの異常検知処理を示すフロー図。FIG. 4 is a flow diagram showing an anomaly detection process of the anomaly detection system according to the first embodiment. 明るさなどにばらつきがない正常である検査対象を撮像した撮像画像、復元 画像、差分画像を模式的に示す説明図。1A to 1C are explanatory diagrams showing a captured image, a restored image, and a difference image of a normal inspection target without variation in brightness, etc. 明るさなどにばらつきがあるが、正常である検査対象を撮像した撮像画像、 復元画像、差分画像を模式的に示す説明図。1A to 1C are explanatory diagrams showing a schematic diagram of a captured image, a restored image, and a difference image of a normal inspection target, although there is variation in brightness, etc. 不良部位を含み、異常である検査対象を撮像した撮像画像、復元画像、差分 画像を模式的に示す説明図。1A to 1C are explanatory diagrams showing a captured image, a restored image, and a difference image of an inspection object that includes a defective portion and is abnormal. 検査対象の復元画像を模式的に示す説明図。FIG. 2 is an explanatory diagram illustrating a restored image of an object to be inspected.

以下、本発明を適用した具体的な実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。ただし、本発明が以下の実施形態に限定される訳ではない。また、説明を明確にするため、以下の記載及び図面は、適宜、簡略化されている。 Specific embodiments to which the present invention is applied will be described in detail below with reference to the drawings. However, the present invention is not limited to the following embodiments. In addition, the following descriptions and drawings have been simplified as appropriate for clarity of explanation.

<第1の実施形態>
まず、第1の実施形態にかかる異常検知システムについて説明する。図1は、本実施形態に係る異常検知システムのハードウェア構成の概略を示すブロック図である。
First Embodiment
First, a description will be given of an anomaly detection system according to a first embodiment of the present invention. Fig. 1 is a block diagram showing an outline of a hardware configuration of the anomaly detection system according to the present embodiment.

図1に示すように、異常検知システム100は、パーソナルコンピュータなどの一般的な情報処理装置が有するコンピュータ資源を有している。具体的には、CPU(Central Processing Unit)101と、ROM(Read Only Memory)102と、RAM(Random Access Memory)103と、HDD(Hard Disk Drive)104と、通信インターフェース(I/F)105と、入出力インターフェース(I/F)106と、を備えている。また、これらの各部は、データバス107を介して相互に通信可能に接続されている。なお、ここでは、異常検知システム100の各部が一般的な情報処理装置により実現される例について説明するが、これらの一部又は全ての機能が、エッジやクラウド等の外部装置において、実現されてもよい。 As shown in FIG. 1, the anomaly detection system 100 has computer resources that are possessed by a general information processing device such as a personal computer. Specifically, the system includes a CPU (Central Processing Unit) 101, a ROM (Read Only Memory) 102, a RAM (Random Access Memory) 103, a HDD (Hard Disk Drive) 104, a communication interface (I/F) 105, and an input/output interface (I/F) 106. These components are connected to each other so as to be able to communicate with each other via a data bus 107. Note that, although an example in which each component of the anomaly detection system 100 is realized by a general information processing device will be described here, some or all of these functions may be realized by an external device such as an edge or a cloud.

CPU101は、異常検知システム100を統括的に制御するマイクロプロセッサである。具体的には、ROM102、HDD104に記憶された本実施形態において実行される各種の制御プログラムを読み出し、RAM103上に展開されたこれらのプログラムを実行する。ここで、記憶装置として、HDD104に替えて、または加えて、SSD(Solid State Drive)が備えられていてもよい。 The CPU 101 is a microprocessor that performs overall control of the anomaly detection system 100. Specifically, it reads out various control programs executed in this embodiment that are stored in the ROM 102 and the HDD 104, and executes these programs that are deployed on the RAM 103. Here, an SSD (Solid State Drive) may be provided as a storage device instead of or in addition to the HDD 104.

通信インターフェース105は、異常検知システム100と外部装置との通信を行う。本実施形態では、検査対象の画像を撮像する撮像装置などの外部装置から、検査対象の画像を受信する。ここで、通信は、無線有線を問わず、種々の通信技術により実現される。 The communication interface 105 communicates between the anomaly detection system 100 and an external device. In this embodiment, the communication interface 105 receives an image of the inspection target from an external device, such as an imaging device that captures an image of the inspection target. Here, communication is realized by various communication technologies, whether wireless or wired.

入出力インターフェース106は、異常検知システム100と外部との入出力を行う。例えば、異常検知の情報を表示するディスプレイなどの出力装置や、オペレータが使用するための入力装置が備えられていてもよい。 The input/output interface 106 performs input/output between the anomaly detection system 100 and the outside. For example, it may be equipped with an output device such as a display that displays information about anomaly detection, and an input device for use by an operator.

次に、本実施形態に係る異常検知システムの機能構成を説明する。図2は、本実施形態に係る異常検知システムの機能構成を示すブロック図である。 Next, the functional configuration of the anomaly detection system according to this embodiment will be described. Figure 2 is a block diagram showing the functional configuration of the anomaly detection system according to this embodiment.

図2に示すように、異常検知システム100は、機能構成として、取得部201と、復元画像生成部202と、予備検知部203と、検知部204と、を備えている。これらは、CPU101により、ROM102などに記憶された各種の制御プログラムが実行されることによって機能する。また、異常検出システム100の機能の一部または全ての機能は、ハードウェア回路によって実現されてもよい。 As shown in FIG. 2, the anomaly detection system 100 has, as its functional configuration, an acquisition unit 201, a restored image generation unit 202, a preliminary detection unit 203, and a detection unit 204. These function when the CPU 101 executes various control programs stored in the ROM 102 or the like. In addition, some or all of the functions of the anomaly detection system 100 may be realized by a hardware circuit.

取得部201は、外部装置から撮像画像を取得する。具体的には、検査対象の異常を検知する場合、検査の対象となる検査対象画像と、正常である検査対象の正常画像と、を取得する。ここで、正常画像とは、異常を有しないことが確認された検査対象の画像である。取得された検査対象画像は、復元画像生成部202と、予備検知部203とに出力され、取得された正常画像は、復元画像生成部202に出力される。なお、ここでは、撮像画像を外部装置である撮像装置から取得する例について説明するが、撮像装置が異常検知システムに含まれる構成で実現されてもよい。 The acquisition unit 201 acquires captured images from an external device. Specifically, when detecting an abnormality in an inspection target, an inspection target image to be inspected and a normal image of the inspection target that is normal are acquired. Here, a normal image is an image of an inspection target that has been confirmed to have no abnormality. The acquired inspection target image is output to the restored image generation unit 202 and the preliminary detection unit 203, and the acquired normal image is output to the restored image generation unit 202. Note that, although an example in which the captured images are acquired from an imaging device, which is an external device, is described here, the system may be realized in a configuration in which the imaging device is included in the anomaly detection system.

復元画像生成部202は、取得部201から出力された検査対象画像と、正常画像とを、予め正常画像を教師データとして利用し学習された学習モデルに入力することで、これらの撮像画像を復元した復元画像を生成する。本学習モデルの学習方法については、後に詳細に説明する。検査対象画像を復元した復元画像は、予備検知部に出力され、正常画像を復元した正常復元画像は、検知部に出力される。 The restored image generating unit 202 generates a restored image by restoring the inspection target image and the normal image output from the acquiring unit 201 to a learning model that has been trained in advance using the normal image as training data. The learning method of this learning model will be described in detail later. The restored image by restoring the inspection target image is output to the preliminary detection unit, and the normally restored image by restoring the normal image is output to the detection unit.

予備検知部203は、取得部201から出力された検査対象画像と、復元画像生成部202から出力された復元画像との差分を用いて、検査対象が異常か否かを判定する。具体的には、まず、検査対象画像の画素値から復元画像の画素値を減算することによって、これらの差分画像を生成する。次に、生成された差分画像に含まれる画素値の合計値が予め定められた閾値より大きいか否かを判定し、大きい場合に異常と判定する。そして、異常と判定された検査対象の復元画像は、検知部に出力される。また、ここでは、検査対象画像の画素ごとに、これに対応する位置の復元画像の画素をそれぞれ減算することによって、差分画像を生成するが、差分画像は、複数の画素を含むグループごとの差分を用いて生成されてもよい。 The preliminary detection unit 203 judges whether the inspection object is abnormal by using the difference between the inspection object image output from the acquisition unit 201 and the restored image output from the restored image generation unit 202. Specifically, first, a difference image is generated by subtracting pixel values of the restored image from pixel values of the inspection object image. Next, it is judged whether the sum of pixel values contained in the generated difference image is greater than a predetermined threshold value, and if it is greater, it is judged to be abnormal. The restored image of the inspection object judged to be abnormal is then output to the detection unit. Here, a difference image is generated by subtracting pixels of the restored image at corresponding positions for each pixel of the inspection object image, but the difference image may be generated using the difference for each group including multiple pixels.

検知部204は、予備検知部203により異常と判定され、出力された検査対象の復元画像と、復元画像生成部202から出力された正常画像を復元した復元画像である正常復元画像と、を用いて、検査対象が異常か否かを再判定する。具体的には、まず、これらの画像の類似度を算出する。例えば、正規化相関法(NCC)、エッジ特徴ベースで類似度を算出する形状パターンマッチングなど、種々の類似度算出法により類似度を算出することができる。算出された類似度が予め定められた閾値より低いか否かを判定し、低い場合に異常と判定する。また、ここでは、検査対象の復元画像と、正常画像を復元した復元画像である正常復元画像との類似度を算出し、異常か否かを判定しているが、予備検知部による手法と同様に、これらの画像から差分画像を生成し、差分画像に含まれる画素値から、異常か否かを判定してもよい。このように、検知部により異常か否かが再判定され、異常検知の情報が入出力インターフェース106に出力される。 The detection unit 204 re-determines whether the inspection target is abnormal or not by using the restored image of the inspection target determined to be abnormal by the preliminary detection unit 203 and outputted, and the normal restored image, which is a restored image obtained by restoring the normal image outputted from the restored image generation unit 202. Specifically, the similarity between these images is calculated first. For example, the similarity can be calculated by various similarity calculation methods such as normalized correlation method (NCC) and shape pattern matching that calculates similarity based on edge features. It is determined whether the calculated similarity is lower than a predetermined threshold, and if it is lower, it is determined to be abnormal. In addition, here, the similarity between the restored image of the inspection target and the normal restored image, which is a restored image obtained by restoring a normal image, is calculated and whether it is abnormal or not is determined, but similar to the method by the preliminary detection unit, a difference image may be generated from these images and whether it is abnormal or not may be determined from the pixel values included in the difference image. In this way, the detection unit re-determines whether it is abnormal or not, and information on the abnormality detection is outputted to the input/output interface 106.

ここで、本実施形態の予備検知部203と検知部204との異常判定方法を比較すると、予備検知部203による異常判定方法は、比較する画像同士の差分をとるのみで判定することができるため、検知部204の類似度を算出する方法に対して判定の精度は低くなるものの、必要な演算処理が少なく、処理時間が短くなる。したがって、本実施形態では、予備検知部203により、予め検査対象が異常か否かを判定し、異常と判定された検査対象のみを検知部204により再判定することで、過検知を抑制しつつ、全体として検査に要する時間を短くすることができる。 Comparing the anomaly determination methods of the preliminary detection unit 203 and the detection unit 204 in this embodiment, the method of determining anomaly by the preliminary detection unit 203 can determine anomaly simply by taking the difference between the images to be compared. Therefore, although the accuracy of the determination is lower than the method of calculating the similarity of the detection unit 204, less calculation processing is required and the processing time is shorter. Therefore, in this embodiment, the preliminary detection unit 203 determines in advance whether the inspection object is abnormal or not, and the detection unit 204 re-determines only those inspection objects determined to be abnormal, thereby making it possible to reduce the overall time required for inspection while suppressing overdetection.

また、ここでは、異常検知システム100の機能構成として、予備検知部203を備える例を説明したが、予備検知部203を備えない機能構成を有していてもよい。その場合、復元画像生成部202で生成された検査対象の復元画像と、正常画像を復元した正常復元画像は、検知部204に直接出力される。そして、検知部204は、検査対象の復元画像と、正常画像を復元した正常復元画像とを用いて、検査対象が異常か否かを判定する。 Although an example in which the functional configuration of the anomaly detection system 100 includes the preliminary detection unit 203 has been described here, the functional configuration may also include no preliminary detection unit 203. In that case, the restored image of the inspection object generated by the restored image generation unit 202 and the normally restored image obtained by restoring the normal image are output directly to the detection unit 204. Then, the detection unit 204 uses the restored image of the inspection object and the normally restored image obtained by restoring the normal image to determine whether or not the inspection object is abnormal.

次に、本実施形態に係る学習モデルの学習方法について説明する。本実施形態では、異常検知処理を実行する前段階として、復元画像生成部202が有する学習モデルであるニューラルネットワークの学習を行う。 Next, a learning method for the learning model according to this embodiment will be described. In this embodiment, as a preliminary step before executing the anomaly detection process, learning is performed on the neural network, which is the learning model possessed by the restored image generating unit 202.

ニューラルネットワークの学習を行う場合、取得部201は、正常である検査対象の撮像画像である正常画像を教師データとして取得する。ここで、取得部201は、教師データとして取得する正常画像の数に対し、予め設定された割合以下の少数であれば、異常を含む検査対象の画像を取得しても良い。 When training a neural network, the acquisition unit 201 acquires normal images, which are images of a test subject that is normal, as training data. Here, the acquisition unit 201 may acquire images of the test subject that contain abnormalities, as long as the number of normal images acquired as training data is a small number equal to or less than a preset ratio.

取得された教師データを用いて、復元画像生成部202が有する学習モデルである敵対的生成ネットワーク(GAN)の学習を行う。具体的には、復元画像生成部202は、取得された教師データから疑似データを生成するニューラルネットワークを有する生成器と、疑似データの真偽の判定をするニューラルネットワークを有する弁別器と、を備えており、教師データと、生成器により生成された疑似データとを用いて、生成器と、弁別器と、を学習させる。このように、敵対的生成ネットワークを用いることで、復元画像の再現性を高くすることができる。本実施形態では、このように学習された学習モデルに対して、検査対象画像を入力することで、復元画像を生成する。 The acquired training data is used to train a generative adversarial network (GAN), which is a learning model of the restored image generation unit 202. Specifically, the restored image generation unit 202 includes a generator having a neural network that generates pseudo data from the acquired training data, and a discriminator having a neural network that determines whether the pseudo data is true or false, and the generator and discriminator are trained using the training data and the pseudo data generated by the generator. In this way, the use of a generative adversarial network can improve the reproducibility of the restored image. In this embodiment, a restored image is generated by inputting the image to be inspected into the learning model trained in this way.

次に、本実施形態に係る異常検知システム100の異常検知処理フローについて説明する。図3は、本実施形態に係る異常検知処理のフロー図である。本フローは、前述した学習モデルの学習が完了した状態において開始する。また、好ましくは、正常画像を復元した正常復元画像は、予め異常検知システム100において、記憶されていることが望ましい。 Next, the anomaly detection process flow of the anomaly detection system 100 according to this embodiment will be described. FIG. 3 is a flow diagram of the anomaly detection process according to this embodiment. This flow starts when the learning of the learning model described above is completed. In addition, it is preferable that the normally restored image obtained by restoring the normal image is stored in the anomaly detection system 100 in advance.

本説明では、図4から図7の画像を模式的に示した説明図(以下、画像と称する。)を適宜用い、検査対象として、部品などの各種部材に溶接により形成される溶接痕を例に挙げて説明する。具体的には、図4(a)は、明るさなどのばらつきがない正常である溶接痕を撮像した画像である、図5(a)は、正常であるものの、明るさなどのばらつきにより局所的に色が異なる部位5Aを含む溶接痕を撮像した画像である、図6(a)は、不良部位6Aを含み、異常である溶接痕を撮像した画像である。 In this explanation, we will use diagrams (hereinafter referred to as images) that show the images in Figures 4 to 7 as appropriate, and use as an example a weld mark formed by welding on various members such as parts as an inspection target. Specifically, Figure 4(a) is an image of a normal weld mark with no variation in brightness, etc., Figure 5(a) is an image of a weld mark that is normal but includes a portion 5A that is locally different in color due to variation in brightness, etc., and Figure 6(a) is an image of an abnormal weld mark that includes a defective portion 6A.

まず、S11では、取得部201が、外部装置によって撮像された図4(a)、図5(a)、図6(a)に示すような検査対象画像を取得する。 First, in S11, the acquisition unit 201 acquires an image of the inspection object captured by an external device, as shown in Figures 4(a), 5(a), and 6(a).

次に、S12では、復元画像生成部202が、取得部201から出力された検査対象画像を、予め学習済みの学習モデルに入力することで、これらの撮像画像を復元した復元画像を生成する。具体的には、図4(b)、図5(b)、図6(b)は、それぞれ図4(a)、図5(a)、図6(a)の画像を、学習モデルに入力し、生成した復元画像である。ここで、前述したように、本学習モデルは、正常画像を教師データとして学習された学習モデルであるため、入力した撮像画像は、正常画像に近しい画像として復元される。したがって、図5(a)、図6(a)の画像で確認された局所的に色が異なる部位5A、不良部位6Aは、復元画像である図5(b)、図6(b)において、それぞれ復元されない。一方で、図5(a)の画像は、局所的に色が異なる部位5Aを含む以外は図4(a)の画像と同様に正常な溶接痕の画像であるため、復元された図5(b)の復元画像は、図4(a)の画像が復元された図4(b)の復元画像と比較的近しい画像となるのに対して、図6(a)の画像は不良部位6Aを含むため、画像の特徴量が変わり、復元された図6(b)の復元画像は、ぼやけた画像となる。 Next, in S12, the restored image generating unit 202 generates restored images by inputting the inspection target image output from the acquiring unit 201 into a learning model that has been previously trained, thereby restoring these captured images. Specifically, Fig. 4(b), Fig. 5(b), and Fig. 6(b) are restored images generated by inputting the images of Fig. 4(a), Fig. 5(a), and Fig. 6(a) into the learning model, respectively. Here, as described above, since this learning model is a learning model that has been trained using normal images as teacher data, the input captured image is restored as an image close to a normal image. Therefore, the locally colored area 5A and defective area 6A confirmed in the images of Fig. 5(a) and Fig. 6(a) are not restored in the restored images of Fig. 5(b) and Fig. 6(b), respectively. On the other hand, the image in FIG. 5(a) is an image of a normal weld mark just like the image in FIG. 4(a) except that it contains a locally different colored area 5A, so the restored image in FIG. 5(b) is relatively close to the restored image in FIG. 4(b) obtained by restoring the image in FIG. 4(a), whereas the image in FIG. 6(a) contains a defective area 6A, so the image features change and the restored image in FIG. 6(b) is blurry.

次に、S13では、予備検知部203が、撮像画像と復元画像との差分を用いて、検査対象が異常か否かを判定する。具体的には、まず、図4(a)、図5(a)、図6(a)に示す撮像画像と、図4(b)、図5(b)、図6(b)に示す復元画像との差分により、図4(c)、図5(c)、図6(c)に示す差分画像を生成する。ここで、明るさなどのばらつきがない正常な溶接痕の差分画像である図4(c)は、図4(a)と図4(b)とが近しい画像となるため、差分が小さくなる。一方で、図5(c)、図6(c)に示す差分画像は、前述したように、復元画像である図5(b)、図6(b)において、局所的に色が異なる部位5A、不良部位6Aがそれぞれ復元されないため、差分が大きくなる。次に、差分が予め定めた閾値より大きいか否かを判定する。図4(c)に示す差分画像のように、差分が予め定めた閾値より小さい場合、予備検知部203は、当該検査対象は異常なしと判定し、本フローは終了する。一方で、図5(c)、図6(c)に示す差分画像のように、差分が予め定めた閾値より大きい場合、S14へと進む。 Next, in S13, the preliminary detection unit 203 uses the difference between the captured image and the restored image to determine whether the inspection target is abnormal. Specifically, first, the difference images shown in Figs. 4(c), 5(c), and 6(c) are generated by the difference between the captured images shown in Figs. 4(a), 5(a), and 6(a) and the restored images shown in Figs. 4(b), 5(b), and 6(b). Here, Fig. 4(c), which is a normal weld mark difference image without variation in brightness, has a small difference because Figs. 4(a) and 4(b) are similar images. On the other hand, the difference images shown in Figs. 5(c) and 6(c) have a large difference because the part 5A with a locally different color and the defective part 6A are not restored in the restored images of Figs. 5(b) and 6(b), as described above. Next, it is determined whether the difference is greater than a predetermined threshold value. If the difference is smaller than the predetermined threshold, as in the difference image shown in FIG. 4(c), the preliminary detection unit 203 determines that the inspection object is normal, and this flow ends. On the other hand, if the difference is larger than the predetermined threshold, as in the difference images shown in FIG. 5(c) and FIG. 6(c), the process proceeds to S14.

ここで、図5(a)に示す撮像画像は、正常である溶接痕の撮像画像であるにもかかわらず、S13、すなわち、検査対象画像と復元画像との差分を用いた判定おいては、検査対象は異常なしと判定されない。つまり、検査対象画像の明るさにばらつきがある場合や、形状にばらつきがある場合、学習モデルの学習に用いる正常な画像が、全ての正常な画像を網羅することができないため、正常である画像であっても適切に復元できず、結果として、差分に基づいて、検査対象が異常であると検知されてしまう、いわゆる過検知の問題が生じる。一方で、図4(a)に示す撮像画像は、S13において、検査対象は異常なしと判定され、検知部204による再判定が不要となり、異常検知処理に要する処理時間を短くすることができる。 Here, even though the captured image shown in FIG. 5(a) is an image of a normal weld mark, the inspection object is not judged to be normal in S13, i.e., in the judgment using the difference between the inspection object image and the restored image. In other words, if there is variation in brightness or shape of the inspection object image, the normal images used to train the learning model cannot cover all normal images, so even normal images cannot be properly restored, and as a result, the inspection object is detected to be abnormal based on the difference, resulting in a problem of so-called overdetection. On the other hand, in the captured image shown in FIG. 4(a), the inspection object is judged to be normal in S13, making it unnecessary for the detection unit 204 to make a re-judgment, and the processing time required for the abnormality detection process can be shortened.

次に、S14では、検知部204が、予備検知部203により異常が検知された検査対象の復元画像と、復元画像生成部202により生成され、又は、予め異常検知システム100に記憶された、正常画像を復元した正常復元画像と、を用いて、検査対象が異常か否かを再判定する。具体的には、まず、これらの画像の類似度を算出する。図7(a)には、正常である溶接痕を撮像した画像を復元した正常復元画像を、図7(b)には、図5(b)に示す検査対象の復元画像を、図7(c)には、図6(b)に示す検査対象の復元画像を示す。ここで、明るさなどのばらつきにより局所的に色が異なる部位5Aを含む溶接痕を撮像した画像の復元画像である図7(b)は、前述したように、局所的に色が異なる部位5Aを含む以外は正常な溶接痕の画像の復元画像であるため、正常復元画像である図7(a)と、高い類似度を示す。一方で、不良部位6Aを含み、異常である溶接痕を撮像した画像の復元画像である図7(c)は、ぼやけた画像となるため、正常復元画像である図7(a)と、低い類似度を示す。次に、算出した類似度が予め定めた閾値より低いか否かを判定する。図7(b)に示す検査対象の復元画像のように、類似度が高い場合、検知部204は、当該検査対象は異常なしと判定し、本フローは終了する。一方で、図7(c)に示す検査対象の復元画像のように、類似度が低い場合、検知部204は、当該検査対象は異常と判定し、本フローは終了する。なお、本フローでは省略するが、これらの異常検知の情報を入出力インターフェース106に出力する工程を加えてもよい。 Next, in S14, the detection unit 204 re-determines whether the inspection target is abnormal or not by using the restored image of the inspection target in which an abnormality was detected by the preliminary detection unit 203 and the normal restored image generated by the restored image generation unit 202 or previously stored in the abnormality detection system 100, which is a restored normal image. Specifically, the similarity of these images is first calculated. FIG. 7(a) shows a normal restored image restored from an image of a normal welding mark, FIG. 7(b) shows a restored image of the inspection target shown in FIG. 5(b), and FIG. 7(c) shows a restored image of the inspection target shown in FIG. 6(b). Here, FIG. 7(b), which is a restored image of an image of a welding mark including a portion 5A that is locally different in color due to variations in brightness, etc., is a restored image of an image of a normal welding mark except for the portion 5A that is locally different in color, as described above, and therefore shows a high similarity to FIG. 7(a), which is a normal restored image. On the other hand, FIG. 7(c), which is a restored image of an image of an abnormal weld mark including a defective portion 6A, is a blurred image, and therefore shows a low similarity to FIG. 7(a), which is a normal restored image. Next, it is determined whether the calculated similarity is lower than a predetermined threshold value. When the similarity is high, as in the restored image of the inspection object shown in FIG. 7(b), the detection unit 204 determines that the inspection object is normal, and this flow ends. On the other hand, when the similarity is low, as in the restored image of the inspection object shown in FIG. 7(c), the detection unit 204 determines that the inspection object is abnormal, and this flow ends. Although omitted in this flow, a process of outputting information on the abnormality detection to the input/output interface 106 may be added.

また、ここでは、異常検知システム100の異常検知処理フローとして、S13を備える例を説明したが、S13を備えない異常検知処理フローであってもよい。その場合、S12において、復元画像が生成された後、直接S14へと進む。そして、S14において、検知部204が、検査対象の復元画像と、正常画像を復元した正常復元画像と、を用いて、検査対象が異常か否かを判定する。この異常検知処理フローにおいて、同様に、図4(a)、図5(a)、図6(a)に示す撮像画像中の検査対象の異常検知処理を実施すると、S13を備えないため、S14において、図4(a)、図5(a)に示す撮像画像における検査対象は、異常なしと判定され、図6(a)に示す撮像画像における検査対象は、異常と判定される。 In addition, here, an example including S13 has been described as an anomaly detection processing flow of the anomaly detection system 100, but an anomaly detection processing flow without S13 may be used. In that case, after a restored image is generated in S12, the process proceeds directly to S14. Then, in S14, the detection unit 204 uses the restored image of the inspection object and the normal restored image obtained by restoring the normal image to determine whether the inspection object is abnormal or not. In this anomaly detection processing flow, when anomaly detection processing is performed on the inspection object in the captured images shown in Figures 4(a), 5(a), and 6(a) in the same manner, since S13 is not included, in S14, the inspection object in the captured images shown in Figures 4(a) and 5(a) is determined to be normal, and the inspection object in the captured image shown in Figure 6(a) is determined to be abnormal.

以上、説明したように、本実施形態に係る異常検知システム100の異常検知処理フローにより、図4(a)に示す明るさなどにばらつきがない正常である溶接痕と、図5(a)に示す正常であるものの、明るさなどのばらつきにより局所的に色が異なる部位を含む溶接痕の検査対象は、異常なしと判定され、他方、図6(a)に示す不良部位を含み、異常である溶接痕の検査対象は、異常と判定される。すなわち、予備検知部203による異常の判定(S13)で、明るさのばらつきや、形状のばらつきにより、前述した過検知の問題が発生する場合にも、検知部204による異常の判定(S14)では、過検知の発生を抑制し、異常の検知精度を向上させることができる。ここで、本実施形態に係る異常検知システム100の異常検知処理は、検査対象が限定されるものではないが、特に、形状や明るさにばらつきが生じやすい溶接痕を検査対象とする場合や、撮像環境の問題から検査対象画像中における検査対象の位置や方向にずれ・ばらつきが発生しやすい生産ラインで検査対象の画像が撮像される場合に、好適である。 As described above, the anomaly detection process flow of the anomaly detection system 100 according to this embodiment judges that there is no abnormality in the inspection target of the welding mark, which is normal with no variation in brightness, etc., as shown in FIG. 4(a), and that is normal but includes a portion with a different color locally due to variation in brightness, etc., as shown in FIG. 5(a), while judging that there is no abnormality in the inspection target of the welding mark, which includes a defective portion as shown in FIG. 6(a), and is abnormal. In other words, even if the above-mentioned problem of overdetection occurs due to variation in brightness or shape in the abnormality judgment (S13) by the preliminary detection unit 203, the occurrence of overdetection can be suppressed in the abnormality judgment (S14) by the detection unit 204, and the accuracy of the detection of the abnormality can be improved. Here, the anomaly detection process of the anomaly detection system 100 according to this embodiment is not limited to a particular inspection target, but is particularly suitable for inspection of weld marks that are prone to variation in shape and brightness, or for images of the inspection target captured on a production line where the position and orientation of the inspection target in the inspection target image is prone to shifts and variations due to issues with the imaging environment.

<その他の実施形態>
第1の実施形態では、復元画像生成部202が有する学習モデルとして、敵対的生成ネットワーク、具体的には、GANを例に挙げて説明したが、GAN以外にも他の敵対的生成ネットワークであるCGAN、DCGAN、SRGAN、CycleGAN、VAEGANなど、種々の敵対的生成ネットワークを用いることができる。また、GAN以外にも、AE、VAE、CVAEなど、種々のオートエンコーダが用いられてもよい。
<Other embodiments>
In the first embodiment, a generative adversarial network, specifically, a GAN, has been described as an example of a learning model possessed by the restored image generating unit 202, but various generative adversarial networks other than GAN, such as CGAN, DCGAN, SRGAN, CycleGAN, VAEGAN, etc., can be used. Furthermore, various autoencoders, such as AE, VAE, and CVAE, can be used other than GAN.

なお、本発明は、上記実施形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。例えば、異常検知システム以外にも、異常検知装置、異常検知方法、その方法を実現するコンピュータプログラムなど、種々の形態で実現することもできる。 The present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be modified as appropriate without departing from the spirit and scope of the invention. For example, in addition to the anomaly detection system, the present invention can also be realized in various forms, such as an anomaly detection device, an anomaly detection method, and a computer program that realizes the method.

100 異常検知システム
101 CPU
102 ROM
103 RAM
104 HDD
105 通信I/F
106 入出力I/F
107 データバス
201 取得部
202 復元画像生成部
203 予備検知部
204 検知部
100 Anomaly detection system 101 CPU
102 ROM
103 RAM
104 HDD
105 Communication I/F
106 Input/Output I/F
107 Data bus 201 Acquisition unit 202 Reconstructed image generation unit 203 Preliminary detection unit 204 Detection unit

Claims (5)

検査対象の検査対象画像を取得する取得部と、
正常である検査対象の画像を教師データとして利用し学習された学習モデルに、前記検査対象画像を入力し、復元画像を生成する復元画像生成部と、
前記検査対象画像と前記復元画像との差分を用いて、前記検査対象画像中の検査対象が異常か否かを判定する予備検知部と、
前記予備検知部により前記検査対象画像中の検査対象が異常と判定された場合に、前記復元画像と、前記学習モデルに正常である検査対象の画像を入力し生成された復元画像である正常復元画像と、の類似度を用いて、前記検査対象画像中の検査対象が異常か否かを判定する検知部と、
を備える異常検知システム。
an acquisition unit for acquiring an inspection object image of an inspection object;
a restored image generating unit that inputs the image of the test object to a learning model that has been trained using images of the test object that are normal as training data, and generates a restored image;
a preliminary detection unit that uses a difference between the inspection object image and the restored image to determine whether or not an inspection object in the inspection object image is abnormal;
a detection unit that, when the preliminary detection unit determines that the inspection target in the inspection target image is abnormal, determines whether or not the inspection target in the inspection target image is abnormal by using a similarity between the restored image and a normal restored image that is a restored image generated by inputting an image of the inspection target that is normal to the learning model;
An anomaly detection system comprising:
前記学習モデルは、敵対的生成ネットワークを用いた学習モデルである、
請求項1に記載の異常検知システム。
The learning model is a learning model using an adversarial generative network.
The anomaly detection system according to claim 1 .
前記検査対象が、部材に溶接により形成される溶接痕である、
請求項1または請求項2に記載の異常検知システム。
The inspection object is a weld mark formed on a member by welding.
The anomaly detection system according to claim 1 or 2 .
前記検査対象画像が、生産ラインにおいて撮像された画像である、
請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の異常検知システム。
The inspection object image is an image captured on a production line.
The anomaly detection system according to any one of claims 1 to 3 .
検査対象の検査対象画像を取得する取得ステップと、
正常である検査対象の画像を教師データとして利用し学習された学習モデルに、前記検査対象画像を入力し、復元画像を生成する復元画像生成ステップと、
前記検査対象画像と前記復元画像との差分を用いて、前記検査対象画像中の検査対象が異常か否かを判定する予備検知ステップと、
前記予備検知ステップで前記検査対象画像中の検査対象が異常と判定された場合に、前記復元画像と、前記学習モデルに正常である検査対象の画像を入力し生成された復元画像である正常復元画像と、の類似度を用いて、前記検査対象画像中の検査対象が異常か否かを判定する検知ステップと、
を備える異常検知方法。
An acquisition step of acquiring an inspection object image of an inspection object;
a restored image generating step of inputting the inspection target image into a learning model trained using a normal inspection target image as training data, and generating a restored image;
a preliminary detection step of determining whether or not an object to be inspected in the image to be inspected is abnormal by using a difference between the image to be inspected and the restored image;
a detection step of judging whether or not the inspection object in the inspection object image is abnormal by using a similarity between the restored image and a normal restored image, which is a restored image generated by inputting an image of the inspection object that is normal to the learning model, when the inspection object in the inspection object image is judged to be abnormal in the preliminary detection step;
The anomaly detection method includes:
JP2021111969A 2021-07-06 2021-07-06 Anomaly detection system and anomaly detection method Active JP7600909B2 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2021111969A JP7600909B2 (en) 2021-07-06 2021-07-06 Anomaly detection system and anomaly detection method
CN202210731375.XA CN115587959B (en) 2021-07-06 2022-06-24 Anomaly Detection System and Anomaly Detection Method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2021111969A JP7600909B2 (en) 2021-07-06 2021-07-06 Anomaly detection system and anomaly detection method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2023008416A JP2023008416A (en) 2023-01-19
JP7600909B2 true JP7600909B2 (en) 2024-12-17

Family

ID=84771109

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021111969A Active JP7600909B2 (en) 2021-07-06 2021-07-06 Anomaly detection system and anomaly detection method

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP7600909B2 (en)
CN (1) CN115587959B (en)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117011718B (en) 2023-10-08 2024-02-02 之江实验室 A method and system for fine-grained identification of plant leaves based on multivariate loss fusion
CN120182255A (en) * 2025-05-20 2025-06-20 深圳镭赫技术有限公司 Detection method, detection device, processing equipment and readable storage medium
CN120912532A (en) * 2025-07-21 2025-11-07 内蒙古工业大学 Cloud anomaly detection and removal method based on DDIM remote sensing image

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021060364A (en) 2019-10-09 2021-04-15 大阪瓦斯株式会社 Method for creating machine learning model for component status and system for discriminating component status

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6134565B2 (en) * 2013-04-12 2017-05-24 株式会社ニューフレアテクノロジー Inspection method and inspection apparatus
JP2020012816A (en) * 2018-07-04 2020-01-23 リコーエレメックス株式会社 Detection system and detection method
JP7312560B2 (en) * 2019-01-31 2023-07-21 株式会社Screenホールディングス Information processing device, information processing method, information processing program, learning method, and trained model
WO2021100243A1 (en) * 2019-11-18 2021-05-27 株式会社テクムズ Ai appearance inspection method, device for same, and program for use in computer

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021060364A (en) 2019-10-09 2021-04-15 大阪瓦斯株式会社 Method for creating machine learning model for component status and system for discriminating component status

Also Published As

Publication number Publication date
CN115587959B (en) 2026-01-30
JP2023008416A (en) 2023-01-19
CN115587959A (en) 2023-01-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3937128B1 (en) Image defect detection method and apparatus, electronic device, storage medium and product
US11797886B2 (en) Image processing device, image processing method, and image processing program
US11645744B2 (en) Inspection device and inspection method
JP7600909B2 (en) Anomaly detection system and anomaly detection method
CN106920219B (en) Article defect detection method, image processing system and computer readable recording medium
JP7426261B2 (en) Learning device, image inspection device, learned parameters, learning method, and image inspection method
JP6347589B2 (en) Information processing apparatus, information processing method, and program
JP7608857B2 (en) Anomaly detection method and anomaly detection device
CN115641332A (en) Detection method, device, medium and equipment for product edge appearance defects
US20190333204A1 (en) Image processing apparatus, image processing method, and storage medium
JP2020128877A (en) Abnormality detection device and abnormality detection method for linear object
JP2023007260A (en) Computer and visual inspection method
US12099017B2 (en) Inspection system, inspection method, and inspection program
US11120541B2 (en) Determination device and determining method thereof
JP7718429B2 (en) Index selection device, information processing device, information processing system, inspection device, inspection system, index selection method, and index selection program
US20240161271A1 (en) Information processing apparatus, control program, and control method
CN120322669B (en) Determination device, learning device, determination method, learning method, determination program, and learning program
JP2022029262A (en) Image processing apparatus, image processing method, image processing program, and learning device
US20240233344A9 (en) Systems and methods for estimating robustness of a machine learning model
WO2024204602A1 (en) Determining device, learning device, determining method, learning method, determining program, and learning program
JP7633104B2 (en) Inspection device, learning device, inspection method, method for generating generative model, inspection program, and learning program
JP7459696B2 (en) Anomaly detection system, learning device, anomaly detection program, learning program, anomaly detection method, and learning method Learning method for computing device
CN119269498B (en) A defect verification method, apparatus, computer equipment, and readable storage medium
JP7643329B2 (en) Evaluation method
JP7771768B2 (en) Machine learning device, machine learning method, machine learning program, inspection device, inspection method, and inspection program

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20231011

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20240709

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20240903

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20240903

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20241105

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20241118

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7600909

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150