JP7611288B2 - 加工中における砥石目詰まり非接触検知装置及び検知方法 - Google Patents
加工中における砥石目詰まり非接触検知装置及び検知方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7611288B2 JP7611288B2 JP2023061414A JP2023061414A JP7611288B2 JP 7611288 B2 JP7611288 B2 JP 7611288B2 JP 2023061414 A JP2023061414 A JP 2023061414A JP 2023061414 A JP2023061414 A JP 2023061414A JP 7611288 B2 JP7611288 B2 JP 7611288B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- grinding wheel
- grinding
- light receiving
- clogging
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 33
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 9
- 238000003754 machining Methods 0.000 title description 3
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 10
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 21
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 12
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 9
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 5
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 5
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 5
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 5
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 3
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 238000010291 electrical method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 230000004313 glare Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910001285 shape-memory alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005236 sound signal Effects 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
- Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Description
[2] 上記受光強度分布は、上記正反射成分及び上記乱反射成分によって、上記受光センサ上に形成される反射パターンにより検出される[1]に記載の非接触検知装置。
[3] 上記砥石と、[1]又は[2]に記載の非接触検知装置と、を備える、加工装置。
[4] 回転させた状態で被加工物と接触させ、これを加工する砥石の目詰まりを非接触で検知する、非接触検知方法であって、上記砥石の研削面に向けて投光ユニットから投射光を発することと、上記研削面から反射されてくる反射光を受光センサによって受光することと、上記受光センサにより検出される正反射成分及び乱反射成分それぞれの受光強度分布に基づいて、判別回路によって上記研削面の目詰まり状態を判別することと、を含む非接触検知方法。
[5] 上記受光強度分布は、上記正反射成分及び上記乱反射成分によって、上記受光センサ上に形成される反射パターンにより検出される、[4]に記載の非接触検知方法。
また、装置全体としても構成要素が少ないため、加工装置への取付位置の自由度が高く、例えば加工面の反対側などに設置することも容易であり、故障原因も低減する。
2 投光ユニット
2a 投光用光源
2b 光学要素
2c 集光レンズ
2d、2d スリット板
2e ケーシング
2f 投射光
2g 正反射成分としての反射光
2h、2i 乱反射成分としての反射光
3 受光ユニット
3a 受光センサ
3b 集光要素
4 判別回路
5 警報回路
6 参照用反射パターングラフ
61、62 反射パターン
7 砥石
7a 研削面
7b 被加工物との当接箇所
7c 投射部
7d 法線
7e 砥石回転軸
7f バインダー
7g 砥粒
7h 砥粒脱落穴
7i 目詰まり部
71 砥石の正常状態におけるバインダー頂部の平滑面
72 砥石の目詰まり状態におけるバインダー頂部の平滑面
73 砥石の目つぶれ状態における砥粒頂部の平滑面
74 砥石の目詰まり状態における目詰まり頂部の平滑面
75 砥石の正常状態における正反射発生箇所を示す指標
76 砥石の目詰まり状態における正反射発生箇所を示す指標
8 被加工物
8a 被加工部
h ピーク強度値
w 半値幅
Claims (3)
- 回転させた状態で被加工物と接触させ、これを加工する砥石の目詰まりを非接触で検知する非接触検知装置であって、
前記砥石の研削面に投射光を発する投光ユニットと、
前記研削面からの反射光を受光する受光センサと、
前記受光センサにより検出される正反射成分の中央領域への集中度及び/又は乱反射成分の受光強度分布に基づいて、前記研削面の目詰まり状態を判別する判別回路と、を備え、
前記正反射成分の中央領域への集中度及び/又は前記乱反射成分の受光強度分布は、前記受光センサ上に形成される反射パターンにより検出され、
前記判別回路は、前記反射パターンにおける正反射成分の受光位置である中心原点におけるピークのピーク強度値が所定のレベルを超える場合に、前記目詰まり状態と判別するか、及び/又は、前記ピークの半値幅が所定のレベルに満たない場合に、前記目詰まり状態と判別する、砥石目詰まり非接触検知装置。 - 前記砥石と、
請求項1に記載の非接触検知装置と、を備える、加工装置。 - 回転させた状態で被加工物と接触させ、これを加工する砥石の目詰まりを非接触で検知する、非接触検知方法であって、
前記砥石の研削面に向けて投光ユニットから投射光を発することと、
前記研削面から反射されてくる反射光を受光センサによって受光することと、
前記受光センサにより検出される正反射成分の中央領域への集中度及び/又は乱反射成分の受光強度分布に基づいて、判別回路によって前記研削面の目詰まり状態を判別することと、を含み、
前記正反射成分の中央領域への集中度及び/又は前記乱反射成分の受光強度分布は、前記受光センサ上に形成される反射パターンにより検出され、
前記反射パターンにおける正反射成分の受光位置である中心原点におけるピークのピーク強度値が所定のレベルを超える場合、及び/又は、前記ピークの半値幅が所定のレベルに満たない場合に、前記目詰まり状態と判別される、非接触検知方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2023061414A JP7611288B2 (ja) | 2019-02-15 | 2023-04-05 | 加工中における砥石目詰まり非接触検知装置及び検知方法 |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2019025500A JP7263038B2 (ja) | 2019-02-15 | 2019-02-15 | 加工中における砥石目詰まり非接触検知装置及び検知方法 |
| JP2023061414A JP7611288B2 (ja) | 2019-02-15 | 2023-04-05 | 加工中における砥石目詰まり非接触検知装置及び検知方法 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2019025500A Division JP7263038B2 (ja) | 2019-02-15 | 2019-02-15 | 加工中における砥石目詰まり非接触検知装置及び検知方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2023083337A JP2023083337A (ja) | 2023-06-15 |
| JP7611288B2 true JP7611288B2 (ja) | 2025-01-09 |
Family
ID=72261915
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2019025500A Active JP7263038B2 (ja) | 2019-02-15 | 2019-02-15 | 加工中における砥石目詰まり非接触検知装置及び検知方法 |
| JP2023061414A Active JP7611288B2 (ja) | 2019-02-15 | 2023-04-05 | 加工中における砥石目詰まり非接触検知装置及び検知方法 |
Family Applications Before (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2019025500A Active JP7263038B2 (ja) | 2019-02-15 | 2019-02-15 | 加工中における砥石目詰まり非接触検知装置及び検知方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (2) | JP7263038B2 (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001223190A (ja) | 2000-02-08 | 2001-08-17 | Hitachi Ltd | 研磨パッドの表面状態評価方法及びその装置とそれを用いた薄膜デバイスの製造方法及びその製造装置 |
| JP2007240242A (ja) | 2006-03-07 | 2007-09-20 | Jfe Steel Kk | 表面粗さ測定装置 |
| JP2014172153A (ja) | 2013-03-12 | 2014-09-22 | Ebara Corp | 研磨パッドの表面性状測定方法 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS48100270U (ja) * | 1972-02-28 | 1973-11-26 | ||
| JPS54156290A (en) * | 1978-05-31 | 1979-12-10 | Saito Katsumasa | Characteristic detecting method and device of working surface of grinding stone |
| JPS5627776A (en) * | 1979-08-16 | 1981-03-18 | Sumitomo Metal Ind Ltd | Tool monitoring device |
| JPS61100373A (ja) * | 1984-10-18 | 1986-05-19 | Inoue Japax Res Inc | 砥石ドレツシング装置 |
| JPH02100769U (ja) * | 1989-01-30 | 1990-08-10 | ||
| JPH02250769A (ja) * | 1989-03-24 | 1990-10-08 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 切断砥石の摩耗検出方法及び半導体製造装置 |
| JPH03239469A (ja) * | 1990-02-16 | 1991-10-25 | Matsushita Electric Works Ltd | 研削加工装置 |
-
2019
- 2019-02-15 JP JP2019025500A patent/JP7263038B2/ja active Active
-
2023
- 2023-04-05 JP JP2023061414A patent/JP7611288B2/ja active Active
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001223190A (ja) | 2000-02-08 | 2001-08-17 | Hitachi Ltd | 研磨パッドの表面状態評価方法及びその装置とそれを用いた薄膜デバイスの製造方法及びその製造装置 |
| JP2007240242A (ja) | 2006-03-07 | 2007-09-20 | Jfe Steel Kk | 表面粗さ測定装置 |
| JP2014172153A (ja) | 2013-03-12 | 2014-09-22 | Ebara Corp | 研磨パッドの表面性状測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2023083337A (ja) | 2023-06-15 |
| JP7263038B2 (ja) | 2023-04-24 |
| JP2020131323A (ja) | 2020-08-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100542474B1 (ko) | 화학 기계적 연마 동작에서 인-시투 모니터링을 하기 위한방법 및 장치 | |
| KR100372474B1 (ko) | 연마 가공 감시 방법 및 장치와 그의 최종 포인트 검출 방법,및그를 사용하는 연마기 | |
| US6301006B1 (en) | Endpoint detector and method for measuring a change in wafer thickness | |
| KR100380785B1 (ko) | 화학기계적연마동작에서인-시투모니터링을하기위한방법및장치 | |
| US5663797A (en) | Method and apparatus for detecting the endpoint in chemical-mechanical polishing of semiconductor wafers | |
| JP4238130B2 (ja) | 工具の劣化を測定するための装置及び方法 | |
| US6238273B1 (en) | Methods for predicting polishing parameters of polishing pads and methods and machines for planarizing microelectronic substrate assemblies in mechanical or chemical-mechanical planarization | |
| KR100334203B1 (ko) | 화학기계적연마장치용연마패드내의투명윈도우형성방법 | |
| US5708506A (en) | Apparatus and method for detecting surface roughness in a chemical polishing pad conditioning process | |
| US7066786B2 (en) | Method of dressing polishing pad and polishing apparatus | |
| TW202111457A (zh) | 加工模組及具有工具輪廓偵測單元之機械工具,及工具輪廓偵測方法 | |
| JP2001223190A (ja) | 研磨パッドの表面状態評価方法及びその装置とそれを用いた薄膜デバイスの製造方法及びその製造装置 | |
| JP2002124496A (ja) | 研磨加工の終点検出計測方法及びその装置、並びにそれを用いた半導体デバイスの製造方法及びその製造装置 | |
| US12449378B2 (en) | Edge portion measuring apparatus and method for measuring edge portion | |
| JP2006208347A (ja) | 圧延用ロールの表面欠陥検出装置、研削装置、表面欠陥検出方法及び表面欠陥検出用プログラム並びに圧延用ロール研削方法 | |
| CN114083427A (zh) | 一种抛光垫表面状况在线检测方法及检测系统 | |
| KR100383324B1 (ko) | 반도체 장치의 제조에서 연마 패드 검사 방법과 이를 수행하기 위한 검사 장치 및 이를 채용한 연마 장치. | |
| US6276987B1 (en) | Chemical mechanical polishing endpoint process control | |
| JP7611288B2 (ja) | 加工中における砥石目詰まり非接触検知装置及び検知方法 | |
| US6514775B2 (en) | In-situ end point detection for semiconductor wafer polishing | |
| JP2018024079A (ja) | 測定機能を有する工作機械システム | |
| KR102793516B1 (ko) | 연마 장치 및 연마 방법 | |
| Narayanaperumal et al. | Evaluation of the working surface of the grinding wheel using speckle image analysis | |
| CN121515042A (zh) | 一种用于化学机械抛光机台的掉钻检测装置及检测方法 | |
| JP2003025223A (ja) | 研削盤の砥石研削面の検査装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20230405 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20240213 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20240319 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20240606 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20240806 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20241001 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20241203 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20241223 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7611288 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |