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JP7615490B2 - Method for manufacturing switch device, method for manufacturing electrical component, and switch device - Google Patents
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JP7615490B2 - Method for manufacturing switch device, method for manufacturing electrical component, and switch device - Google Patents

Method for manufacturing switch device, method for manufacturing electrical component, and switch device Download PDF

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Description

本発明は、スイッチ装置の製造方法、電気部品の製造方法、およびスイッチ装置に関する。 The present invention relates to a method for manufacturing a switch device, a method for manufacturing an electrical component, and a switch device.

下記特許文献1には、平板型電池において、電池が半田付けされる端子面に、予めハンダメッキを施しておく技術が開示されている。 The following Patent Document 1 discloses a technique for pre-plating the terminal surfaces of flat-type batteries to which the batteries are soldered.

特公平6-80584号公報Special Publication No. 6-80584

ところで、従来、端子面に予備半田層を形成する方法として、端子面に載置された半田シートをリフローによって溶融する技術が用いられている。しかしながら、本発明の発明者らは、この方法によって端子面に予備半田層を形成する場合、予備半田層の形成不良が生じる虞があることを見出した。 Conventionally, a method for forming a spare solder layer on a terminal surface involves melting a solder sheet placed on the terminal surface by reflow. However, the inventors of the present invention have found that when a spare solder layer is formed on a terminal surface using this method, there is a risk of the spare solder layer being poorly formed.

一実施形態に係るスイッチ装置の製造方法は、ハウジング内に設けられた固定接点と、固定接点からハウジング外に延出される端子面と、固定接点への接離動作を行う可動接点と、を備えたスイッチ装置の製造方法であって、端子面に第1の金メッキ層を形成する金メッキ層形成工程と、第1の金メッキ層の表面に半田シートを載置する半田シート載置工程と、半田シートを溶融することにより端子面に予備半田層を形成する予備半田層形成工程とを含み、第1の金メッキ層の厚さと半田シートの厚さとの比が0.01~0.08:25である。 A method for manufacturing a switch device according to one embodiment is a method for manufacturing a switch device having a fixed contact provided within a housing, a terminal surface extending from the fixed contact to the outside of the housing, and a movable contact that moves toward and away from the fixed contact, and includes a gold plating layer forming step of forming a first gold plating layer on the terminal surface, a solder sheet placing step of placing a solder sheet on the surface of the first gold plating layer, and a preliminary solder layer forming step of forming a preliminary solder layer on the terminal surface by melting the solder sheet, and the ratio of the thickness of the first gold plating layer to the thickness of the solder sheet is 0.01 to 0.08:25.

一実施形態に係るスイッチ装置の製造方法によれば、端子面に対する予備半田層の形成不良を抑制することができる。 The manufacturing method for a switch device according to one embodiment can prevent poor formation of a spare solder layer on the terminal surface.

一実施形態に係るスイッチ装置の外観斜視図FIG. 1 is an external perspective view of a switch device according to an embodiment; 一実施形態に係るスイッチ装置の外観斜視図FIG. 1 is an external perspective view of a switch device according to an embodiment; 一実施形態に係るスイッチ装置の分解斜視図FIG. 1 is an exploded perspective view of a switch device according to an embodiment; 一実施形態に係るスイッチ装置の分解斜視図FIG. 1 is an exploded perspective view of a switch device according to an embodiment; 一実施形態に係るスイッチ装置のA-A断面線による断面図1 is a cross-sectional view of a switch device according to an embodiment taken along line AA. 一実施形態に係るスイッチ装置が備える第1金属端子部材および第2金属端子部材の外観斜視図FIG. 2 is an external perspective view of a first metal terminal member and a second metal terminal member included in the switch device according to the embodiment; 一実施形態に係るスイッチ装置が備える第1金属端子部材および第2金属端子部材の外観斜視図FIG. 2 is an external perspective view of a first metal terminal member and a second metal terminal member included in the switch device according to the embodiment; 一実施形態に係るスイッチ装置の製造方法の手順を示すフローチャートA flowchart showing the steps of a method for manufacturing a switch device according to an embodiment. 一実施形態に係るスイッチ装置が備える第1金属端子部材および第2金属端子部材の下面における金メッキ層および予備半田層の形成領域の一例を示す図FIG. 1 is a diagram showing an example of a region where a gold plating layer and a spare solder layer are formed on the lower surface of a first metal terminal member and a second metal terminal member included in a switch device according to an embodiment; 一実施形態に係るスイッチ装置が備える第1金属端子部材および第2金属端子部材の上面における金メッキ層の形成領域の一例を示す図FIG. 2 is a diagram showing an example of a region where a gold plating layer is formed on the upper surface of a first metal terminal member and a second metal terminal member included in the switch device according to the embodiment; 一実施形態に係るスイッチ装置における第1端子面および第2端子面の積層構造の一例を示す図FIG. 1 is a diagram showing an example of a stacked structure of a first terminal surface and a second terminal surface in a switch device according to an embodiment; 一実施例の実施条件および実施結果を示す図FIG. 1 shows implementation conditions and implementation results of an embodiment.

以下、図面を参照して、一実施形態について説明する。 Below, one embodiment will be described with reference to the drawings.

(スイッチ装置100の構成)
図1および図2は、一実施形態に係るスイッチ装置100の外観斜視図である。図3および図4は、一実施形態に係るスイッチ装置100の分解斜視図である。図5は、一実施形態に係るスイッチ装置100のA-A断面線(図1参照)による断面図である。図6および図7は、一実施形態に係るスイッチ装置100が備える第1金属端子部材151および第2金属端子部材152の外観斜視図である。
(Configuration of Switch Device 100)
Figures 1 and 2 are external perspective views of a switch device 100 according to an embodiment. Figures 3 and 4 are exploded perspective views of the switch device 100 according to an embodiment. Figure 5 is a cross-sectional view of the switch device 100 according to an embodiment taken along the line A-A (see Figure 1). Figures 6 and 7 are external perspective views of a first metal terminal member 151 and a second metal terminal member 152 included in the switch device 100 according to an embodiment.

図1に示すスイッチ装置100は、回路基板上の導通路に実装されて、手動操作によってオン状態とオフ状態との間で切り替わることにより、回路基板上の導通路を接続状態と非接続状態との間で切り替えるための装置である。 The switch device 100 shown in FIG. 1 is a device that is mounted on a conductive path on a circuit board and can be manually switched between an on state and an off state to switch the conductive path on the circuit board between a connected state and a disconnected state.

図1~図4に示すように、スイッチ装置100は、ハウジング110、第1金属端子部材151、第2金属端子部材152、ステム130、メタルコンタクト140、およびフレーム120を備える。 As shown in Figures 1 to 4, the switch device 100 includes a housing 110, a first metal terminal member 151, a second metal terminal member 152, a stem 130, a metal contact 140, and a frame 120.

ハウジング110は、樹脂製且つ直方体形状を有する、容器状の部材である。ハウジング110の中央には、ハウジング110の上面から下方に凹んだ形状の凹部110Aが形成されている。凹部110Aは、平面視において円形状を有する。凹部110Aの内底面の中央部には、第1固定接点151Aが露出して設けられている。凹部110Aの内底面の外周部には、第1固定接点151Aを間に挟んで、一対の第2固定接点152Aが露出して設けられている。 The housing 110 is a container-like member made of resin and having a rectangular parallelepiped shape. A recess 110A is formed in the center of the housing 110, recessed downward from the top surface of the housing 110. The recess 110A has a circular shape in a plan view. A first fixed contact 151A is exposed in the center of the inner bottom surface of the recess 110A. A pair of second fixed contacts 152A are exposed on the outer periphery of the inner bottom surface of the recess 110A, sandwiching the first fixed contact 151A therebetween.

ハウジング110の底面には、第1固定接点151Aを外部に接続するための、一対の第1端子面151Bが設けられている。一対の第1端子面151Bは、インサート成形によってハウジング110と一体化した第1金属端子部材151によって、第1固定接点151Aと一体的に形成されている。 A pair of first terminal surfaces 151B for connecting the first fixed contacts 151A to the outside is provided on the bottom surface of the housing 110. The pair of first terminal surfaces 151B are integrally formed with the first fixed contacts 151A by a first metal terminal member 151 that is integrated with the housing 110 by insert molding.

また、ハウジング110の底面には、一対の第2固定接点152Aを外部に接続するための、一対の第2端子面152Bが設けられている。一対の第2端子面152Bは、インサート成形によってハウジング110と一体化した第2金属端子部材152によって、一対の第2固定接点152Aと一体的に形成されている。 The bottom surface of the housing 110 is provided with a pair of second terminal surfaces 152B for connecting the pair of second fixed contacts 152A to the outside. The pair of second terminal surfaces 152B are integrally formed with the pair of second fixed contacts 152A by a second metal terminal member 152 that is integrated with the housing 110 by insert molding.

なお、第1端子面151Bおよび第2端子面152Bは、いずれも、平滑な平面状であり、且つ、平面視において長方形状を有する。 The first terminal surface 151B and the second terminal surface 152B are both smooth and planar, and have a rectangular shape in a plan view.

ステム130は、操作者によって下方への押圧操作がなされる、樹脂製且つ円盤状の部材である。ステム130は、ハウジング110の凹部110A内において、メタルコンタクト140の上側に配置される。ステム130の上面の中央部には、上方に突出した操作部131が設けられている。操作部131は、操作者によって下方への押圧操作がなされる部分である。ステム130の底面の中央部には、下方に突出した押圧部134が設けられている。押圧部134は、メタルコンタクト140の頂部を押圧する部分である。 The stem 130 is a disk-shaped member made of resin that is pressed downward by the operator. The stem 130 is disposed above the metal contact 140 in the recess 110A of the housing 110. An operating portion 131 that protrudes upward is provided at the center of the top surface of the stem 130. The operating portion 131 is a portion that is pressed downward by the operator. A pressing portion 134 that protrudes downward is provided at the center of the bottom surface of the stem 130. The pressing portion 134 is a portion that presses the top of the metal contact 140.

メタルコンタクト140は、「可動接点」の一例である。メタルコンタクト140は、金属板が用いられて形成される部材である。メタルコンタクト140は、平面視において円形状、且つ、上方に向かって凸状の、ドーム形状を有する。メタルコンタクト140は、ハウジング110の凹部110Aの内底面に載置される。メタルコンタクト140は、その外周縁部が、常に第2固定接点152Aに接触している。 The metal contact 140 is an example of a "movable contact". The metal contact 140 is a member formed using a metal plate. The metal contact 140 has a circular shape in a plan view and a dome shape that is convex upward. The metal contact 140 is placed on the inner bottom surface of the recess 110A of the housing 110. The outer peripheral edge of the metal contact 140 is always in contact with the second fixed contact 152A.

フレーム120は、円形の開口部120Aを有する円環状の部材である。フレーム120は、ステム130の上側に設けられる。フレーム120は、開口部120Aにステム130の操作部131を挿通させることにより、ステム130の外周部を上側から抑えつけることができる。フレーム120は、その外周縁部において、ハウジング110の凹部110Aの内周面に固定される。これにより、フレーム120は、ステム130の上方への移動を規制し、ステム130が凹部110Aから抜け落ちないようにすることができる。 The frame 120 is an annular member having a circular opening 120A. The frame 120 is provided above the stem 130. The frame 120 can hold down the outer periphery of the stem 130 from above by inserting the operating portion 131 of the stem 130 through the opening 120A. The frame 120 is fixed at its outer periphery to the inner periphery of the recess 110A of the housing 110. In this way, the frame 120 can restrict the upward movement of the stem 130 and prevent the stem 130 from falling out of the recess 110A.

スイッチ装置100は、ステム130の操作部131に対する押下操作がなされると、ステム130が下方へ移動し、ステム130の押圧部134が、メタルコンタクト140の頂部を押圧する。そして、メタルコンタクト140の頂部が反転すると、メタルコンタクト140の頂部の裏側の部分が、第1固定接点151Aに接触する。これにより、スイッチ装置100は、メタルコンタクト140を介して、第1固定接点151Aと第2固定接点152Aとが互いに導通した状態(スイッチオン状態)となる。 When the operating portion 131 of the stem 130 of the switch device 100 is pressed, the stem 130 moves downward, and the pressing portion 134 of the stem 130 presses the top of the metal contact 140. When the top of the metal contact 140 is inverted, the back side of the top of the metal contact 140 comes into contact with the first fixed contact 151A. This causes the switch device 100 to enter a state (switch-on state) in which the first fixed contact 151A and the second fixed contact 152A are conductive to each other via the metal contact 140.

(スイッチ装置100の製造方法)
次に、図8を参照して、一実施形態に係るスイッチ装置100の製造方法について説明する。図8は、一実施形態に係るスイッチ装置100の製造方法の手順を示すフローチャートである。
(Method of manufacturing the switch device 100)
Next, a method for manufacturing the switch device 100 according to an embodiment will be described with reference to Fig. 8. Fig. 8 is a flowchart showing the steps of the method for manufacturing the switch device 100 according to an embodiment.

まず、母材(金属板)に対するプレス加工により、第1金属端子部材151および第2金属端子部材152を成型する(ステップS201:金属端子部材成型工程)。本実施形態では、母材(金属板)の素材として、りん青銅を用いている。 First, the first metal terminal member 151 and the second metal terminal member 152 are formed by pressing the base material (metal plate) (step S201: metal terminal member forming process). In this embodiment, phosphor bronze is used as the material for the base material (metal plate).

次に、第1金属端子部材151および第2金属端子部材152の全体に、ニッケルメッキ層を形成する(ステップS202:ニッケルメッキ層形成工程)。 Next, a nickel plating layer is formed over the entire first metal terminal member 151 and the second metal terminal member 152 (step S202: nickel plating layer formation process).

次に、第1金属端子部材151および第2金属端子部材152の一部に、金メッキ層を形成する(ステップS203:金メッキ層形成工程)。具体的には、第1固定接点151Aおよび一対の第2固定接点152Aの各々に対して、第2の金メッキ層を形成する。また、一対の第1端子面151Bおよび一対の第2端子面152Bの各々に対して、第1の金メッキ層を形成する。 Next, a gold plating layer is formed on a portion of the first metal terminal member 151 and the second metal terminal member 152 (step S203: gold plating layer forming process). Specifically, a second gold plating layer is formed on each of the first fixed contact 151A and the pair of second fixed contacts 152A. In addition, a first gold plating layer is formed on each of the pair of first terminal surfaces 151B and the pair of second terminal surfaces 152B.

ここで、本実施形態では、第1の金メッキ層の厚さと半田シートの厚さとの比が0.01~0.08:25となるように、第1の金メッキ層の厚さを設定している。特に、本実施形態では、発明者らによって導き出された好適な一例として、第1の金メッキ層の厚さを、「0.01μm~0.08μm」としている。 Here, in this embodiment, the thickness of the first gold plating layer is set so that the ratio of the thickness of the first gold plating layer to the thickness of the solder sheet is 0.01 to 0.08:25. In particular, in this embodiment, the thickness of the first gold plating layer is set to "0.01 μm to 0.08 μm" as a preferred example derived by the inventors.

また、本実施形態では、第2の金メッキ層の厚さを、第1の金メッキ層の厚さよりも大きくしている。特に、本実施形態では、発明者らによって導き出された好適な一例として、第2の金メッキ層の厚さを、「0.1μm~0.2μm」としている。 In addition, in this embodiment, the thickness of the second gold plating layer is made greater than the thickness of the first gold plating layer. In particular, in this embodiment, the thickness of the second gold plating layer is set to "0.1 μm to 0.2 μm" as a preferred example derived by the inventors.

次に、第1金属端子部材151および第2金属端子部材152に対するインサート成型により、ハウジング110を成型する(ステップS204:ハウジング成型工程)。 Next, the housing 110 is molded by insert molding the first metal terminal member 151 and the second metal terminal member 152 (step S204: housing molding process).

次に、一対の第1端子面151Bおよび一対の第2端子面152Bの各々に対し、半田シートを載置する(ステップS205:半田シート載置工程)。具体的には、第1端子面151Bおよび第2端子面152Bの全体を覆うように、第1端子面151Bおよび第2端子面152Bと同形状(すなわち、本実施形態では長方形状)および同サイズの、半田シートを載置する。 Next, a solder sheet is placed on each of the pair of first terminal surfaces 151B and the pair of second terminal surfaces 152B (step S205: solder sheet placement process). Specifically, a solder sheet of the same shape (i.e., rectangular in this embodiment) and size as the first terminal surface 151B and the second terminal surface 152B is placed so as to entirely cover the first terminal surface 151B and the second terminal surface 152B.

ここで、本実施形態では、第1の金メッキ層の厚さと半田シートの厚さとの比が0.01~0.08:25となるように、半田シートの厚さを設定している。特に、本実施形態では、発明者らによって導き出された好適な一例として、半田シートの厚さを「10μm~25μm」としている。 Here, in this embodiment, the thickness of the solder sheet is set so that the ratio of the thickness of the first gold plating layer to the thickness of the solder sheet is 0.01 to 0.08:25. In particular, in this embodiment, the thickness of the solder sheet is set to "10 μm to 25 μm" as a suitable example derived by the inventors.

次に、一対の第1端子面151Bおよび一対の第2端子面152Bの各々に対し、リフローを行って半田シートを溶融することにより、予備半田層を形成する(ステップS206:予備半田層形成工程)。なお、本工程では、リフローを使って半田シートを溶融する方法を示したが、これに限らず、例えば、半田ごてを使った手作業によって半田シートを溶融する方法、ヒートプレスを用いて半田シートを溶融する方法、溶かした半田を温風と一緒にスプレーのように端子に吹き付けるジェットソルダー、端子に高電流を流して端子を発熱させて半田を溶融する方法、等を用いてもよい。 Next, a preliminary solder layer is formed by melting the solder sheet by reflowing each of the pair of first terminal surfaces 151B and the pair of second terminal surfaces 152B (step S206: preliminary solder layer formation process). Note that in this process, a method of melting the solder sheet using reflow has been shown, but this is not limiting. For example, a method of melting the solder sheet manually using a soldering iron, a method of melting the solder sheet using a heat press, a jet solder in which molten solder is sprayed onto the terminals together with hot air, a method of passing a high current through the terminals to heat them up and melt the solder, etc. may also be used.

最後に、ハウジング110に対し、各構成部品(ステム130、メタルコンタクト140、およびフレーム120)を組み込む(ステップS207:組込工程)。これにより、スイッチ装置100が完成する。 Finally, each component (stem 130, metal contact 140, and frame 120) is assembled into the housing 110 (step S207: assembly process). This completes the switch device 100.

(金メッキ層および予備半田層の形成領域の一例)
図9は、一実施形態に係るスイッチ装置100が備える第1金属端子部材151および第2金属端子部材152の下面における金メッキ層および予備半田層の形成領域の一例を示す図である。図10は、一実施形態に係るスイッチ装置100が備える第1金属端子部材151および第2金属端子部材152の上面における金メッキ層の形成領域の一例を示す図である。
(An example of an area where a gold plating layer and a spare solder layer are formed)
Fig. 9 is a diagram showing an example of a region where a gold plating layer and a spare solder layer are formed on the lower surfaces of the first metal terminal member 151 and the second metal terminal member 152 included in the switch device 100 according to one embodiment. Fig. 10 is a diagram showing an example of a region where a gold plating layer is formed on the upper surfaces of the first metal terminal member 151 and the second metal terminal member 152 included in the switch device 100 according to one embodiment.

図9に示すように、本実施形態では、第1金属端子部材151の下面における一対の第1端子面151B、および、第2金属端子部材152の下面における一対の第2端子面152Bの各々に対して、第1の金メッキ層を形成し、半田シートを載置し、半田シートを溶融することで、予備半田層を形成する。 As shown in FIG. 9, in this embodiment, a first gold plating layer is formed on each of a pair of first terminal surfaces 151B on the underside of the first metal terminal member 151 and a pair of second terminal surfaces 152B on the underside of the second metal terminal member 152, a solder sheet is placed on each of the first terminal surfaces 151B, and a preliminary solder layer is formed by melting the solder sheet.

また、図10に示すように、本実施形態では、第1金属端子部材151の上面における第1固定接点151A、および、第2金属端子部材152の上面における一対の第2固定接点152Aの各々に対して、第1の金メッキ層よりも厚さが大きい第2の金メッキ層を形成する。 Also, as shown in FIG. 10, in this embodiment, a second gold plating layer having a thickness greater than that of the first gold plating layer is formed on each of the first fixed contact 151A on the upper surface of the first metal terminal member 151 and the pair of second fixed contacts 152A on the upper surface of the second metal terminal member 152.

(第1端子面151Bおよび第2端子面152Bの積層構造の一例)
図11は、一実施形態に係るスイッチ装置100における第1端子面151Bおよび第2端子面152Bの積層構造の一例を示す図である。図11は、半田シート載置工程によって半田シートが載置されたときの、第1端子面151Bおよび第2端子面152Bの積層構造の一例を示す。
(An example of a laminated structure of first terminal surface 151B and second terminal surface 152B)
Fig. 11 is a diagram showing an example of a laminated structure of the first terminal surface 151B and the second terminal surface 152B in the switch device 100 according to one embodiment. Fig. 11 shows an example of a laminated structure of the first terminal surface 151B and the second terminal surface 152B when a solder sheet is placed in a solder sheet placing process.

図11に示すように、第1端子面151Bおよび第2端子面152B(以下「各端子面」と示す)においては、上述したニッケルメッキ層形成工程によって、金属板の表面にニッケルメッキ層形成が形成される。 As shown in FIG. 11, on the first terminal surface 151B and the second terminal surface 152B (hereinafter referred to as "each terminal surface"), a nickel plating layer is formed on the surface of the metal plate by the nickel plating layer formation process described above.

また、図11に示すように、各端子面においては、上述した金メッキ層形成工程によって、ニッケルメッキ層上に第1の金メッキ層が形成される。 Also, as shown in FIG. 11, on each terminal surface, a first gold plating layer is formed on the nickel plating layer by the above-mentioned gold plating layer formation process.

また、図11に示すように、各端子面においては、上述した半田シート載置工程によって、第1の金メッキ層上に半田シートが載置される。 Also, as shown in FIG. 11, on each terminal surface, a solder sheet is placed on the first gold plating layer by the solder sheet placement process described above.

ここで、図11に示すように、本実施形態では、好適な一例として、半田シートの厚さを「25μm」としている。また、本実施形態では、好適な一例として、第1の金メッキ層の厚さを「0.01μm~0.08μm」としている。これにより、本実施形態では、好適な一例として、第1の金メッキ層の厚さと半田シートの厚さとの比を「0.01~0.08:25」としている。 As shown in FIG. 11, in this embodiment, as a preferred example, the thickness of the solder sheet is 25 μm. Also, in this embodiment, as a preferred example, the thickness of the first gold plating layer is 0.01 μm to 0.08 μm. As a result, in this embodiment, as a preferred example, the ratio of the thickness of the first gold plating layer to the thickness of the solder sheet is 0.01 to 0.08:25.

(実施例)
図12は、一実施例の実施条件および実施結果を示す図である。本実施例では、第1端子面151Bおよび第2端子面152B(以下、「端子面」と示す)に形成される第1の金メッキ層の厚さが異なる複数の実施例(第1実施例~第5実施例)の各々について、リフローを行うことによって複数の予備半田層を形成し、複数の予備半田層の各々の形成状態を確認した。
(Example)
12 is a diagram showing the implementation conditions and implementation results of one embodiment. In this embodiment, for each of a number of embodiments (first to fifth embodiments) in which the thickness of the first gold plating layer formed on the first terminal surface 151B and the second terminal surface 152B (hereinafter referred to as "terminal surface") is different, a number of spare solder layers were formed by reflow, and the formation state of each of the spare solder layers was confirmed.

<共通条件>
各実施例に共通の条件は以下のとおりである。
<Common conditions>
The conditions common to each example are as follows.

・半田シートの厚さ :25μm
・予備半田層の形成個数:40個
・Solder sheet thickness: 25 μm
Number of spare solder layers formed: 40

<判定方法>
本実施例では、端子面の全面に予備半田層が欠けることなく形成された場合、「良好」と判断した。また、本実施形態では、端子面に形成される予備半田層および金メッキ層の一部に欠けが生じた場合(すなわち、ニッケルメッキ層が露出した場合)、「不良」と判断した。
<Judgment method>
In this example, when the pre-solder layer was formed on the entire surface of the terminal surface without any chipping, it was judged as "good." Also, in this embodiment, when chipping occurred in part of the pre-solder layer and the gold plating layer formed on the terminal surface (i.e., when the nickel plating layer was exposed), it was judged as "poor."

<第1実施例>
図12に示すように、第1実施例では、第1の金メッキ層の厚さを0.01~0.03μmの範囲内で任意に設定して、40個の予備半田層を形成した。第1実施例では、「不良」と判断された予備半田層の数は「0」であった。
First Example
12, in the first embodiment, the thickness of the first gold plating layer was arbitrarily set within the range of 0.01 to 0.03 μm, and 40 spare solder layers were formed. In the first embodiment, the number of spare solder layers judged to be “defective” was “0.”

<第2実施例>
また、図12に示すように、第2実施例では、第1の金メッキ層の厚さを0.03~0.05μmの範囲内で任意に設定して、40個の予備半田層を形成した。第2実施例では、「不良」と判断された予備半田層の数は「0」であった。
Second Example
12, in the second example, the thickness of the first gold plating layer was arbitrarily set within the range of 0.03 to 0.05 μm, and 40 spare solder layers were formed. In the second example, the number of spare solder layers judged to be “defective” was “0.”

<第3実施例>
また、図12に示すように、第3実施例では、第1の金メッキ層の厚さを0.03~0.07μmの範囲内で任意に設定して、40個の予備半田層を形成した。第3実施例では、「不良」と判断された予備半田層の数は「0」であった。
<Third Example>
12, in the third embodiment, the thickness of the first gold plating layer was arbitrarily set within the range of 0.03 to 0.07 μm, and 40 spare solder layers were formed. In the third embodiment, the number of spare solder layers judged to be “defective” was “0.”

<第4実施例>
また、図12に示すように、第4実施例では、第1の金メッキ層の厚さを0.05~0.08μmの範囲内で任意に設定して、40個の予備半田層を形成した。第4実施例では、「不良」と判断された予備半田層の数は「0」であった。
<Fourth Example>
12, in the fourth embodiment, the thickness of the first gold plating layer was arbitrarily set within the range of 0.05 to 0.08 μm, and 40 spare solder layers were formed. In the fourth embodiment, the number of spare solder layers judged to be “defective” was “0.”

<第5実施例>
また、図12に示すように、第5実施例では、第1の金メッキ層の厚さを0.06~0.10μmの範囲内で任意に設定して、40個の予備半田層を形成した。第1実施例では、「不良」と判断された予備半田層の数は「3」であった。この原因として、半田シートの溶融時に、半田に金が溶融されることによって生成される。AuSnの濃度が高くなると半田が脆くなるため、半田の表面張力によって、AuSnの一部がニッケルメッキ層から剥がされてしまうために、ニッケルメッキ層が露出したものと推測される。
Fifth Example
As shown in Fig. 12, in the fifth embodiment, the thickness of the first gold plating layer was arbitrarily set within the range of 0.06 to 0.10 µm, and 40 spare solder layers were formed. In the first embodiment, the number of spare solder layers judged to be "defective" was "3". The cause of this is that gold is melted into the solder when the solder sheet is melted. It is presumed that the solder becomes brittle as the concentration of AuSn increases, and the surface tension of the solder causes a part of the AuSn to peel off from the nickel plating layer, exposing the nickel plating layer.

本実施例により、半田シートの厚さを「25μm」とした場合、第1の金メッキ層の厚さを「0.01μm~0.08μm」とすることで、予備半田層の形成不良が殆ど生じないことが確認された。 In this embodiment, it was confirmed that when the thickness of the solder sheet is 25 μm, by setting the thickness of the first gold plating layer to 0.01 μm to 0.08 μm, there is almost no occurrence of defective formation of the spare solder layer.

このことから、一実施形態に係るスイッチ装置100の製造方法は、第1の金メッキ層の厚さと半田シートの厚さとの比が「0.01~0.08:25」となるように、第1の金メッキ層および半田シートの厚さを設定することで、端子面に予備半田層の形成不良を殆ど生じさせることなく、ニッケルメッキ層を露出させずに端子面全体を予備半田層で覆うことができることが確認された。よって、一実施形態に係るスイッチ装置100の製造方法によれば、端子面に対する予備半田層の形成不良を抑制できる。 From this, it was confirmed that the manufacturing method of the switch device 100 according to one embodiment can cover the entire terminal surface with the spare solder layer without exposing the nickel plating layer and with almost no defective formation of the spare solder layer on the terminal surface by setting the thickness of the first gold plating layer and the solder sheet so that the ratio of the thickness of the first gold plating layer to the thickness of the solder sheet is "0.01 to 0.08:25". Therefore, according to the manufacturing method of the switch device 100 according to one embodiment, defective formation of the spare solder layer on the terminal surface can be suppressed.

また、一実施形態に係るスイッチ装置100の製造方法は、第1の金メッキ層の厚さを「0.01μm~0.08μm」とすること、および、半田シートの厚さを「25μm」とすることによっても、端子面に予備半田層の形成不良を殆ど生じさせることなく、ニッケルメッキ層を露出させずに端子面全体を予備半田層で覆うことができることが確認された。よって、一実施形態に係るスイッチ装置100の製造方法によれば、端子面に対する予備半田層の形成不良を抑制できる。 It was also confirmed that the manufacturing method for the switch device 100 according to one embodiment can cover the entire terminal surface with a spare solder layer without exposing the nickel plating layer and with almost no defective formation of the spare solder layer on the terminal surface, even by setting the thickness of the first gold plating layer to "0.01 μm to 0.08 μm" and the thickness of the solder sheet to "25 μm." Therefore, according to the manufacturing method for the switch device 100 according to one embodiment, defective formation of the spare solder layer on the terminal surface can be suppressed.

なお、金メッキの比重は「16」である。また、半田シートの比重は「7.4」である。このことから、第1の金メッキ層の厚さと半田シートの厚さとの比が「0.01~0.08:25」である場合、リフロー時に半田シートに金メッキが溶け込むことによる、端子面に形成される予備半田層に含まれる金の重量割合は、「0.08~0.76%wt」となる。よって、一実施形態に係るスイッチ装置100の製造方法によって製造される、一実施形態に係るスイッチ装置100は、端子面に形成される予備半田層に含まれる金の重量割合が「0.08~0.76%wt」となる。このことから、一実施形態に係るスイッチ装置100は、当該スイッチ装置100を製造する際には、第1の金メッキ層の厚さと半田シートの厚さとの比が「0.01~0.08:25」であることが特定され、当該スイッチ装置100を製造する際の端子面に対する予備半田層の形成不良が抑制されたものであることが特定できる。 The specific gravity of the gold plating is "16". The specific gravity of the solder sheet is "7.4". From this, when the ratio of the thickness of the first gold plating layer to the thickness of the solder sheet is "0.01-0.08:25", the weight ratio of gold contained in the preliminary solder layer formed on the terminal surface due to the gold plating melting into the solder sheet during reflow is "0.08-0.76% wt". Therefore, the weight ratio of gold contained in the preliminary solder layer formed on the terminal surface of the switch device 100 according to one embodiment manufactured by the manufacturing method of the switch device 100 according to one embodiment is "0.08-0.76% wt". From this, it can be determined that the ratio of the thickness of the first gold plating layer to the thickness of the solder sheet is "0.01-0.08:25" when the switch device 100 according to one embodiment is manufactured, and it can be determined that the formation failure of the preliminary solder layer on the terminal surface when the switch device 100 is manufactured is suppressed.

また、一実施形態に係るスイッチ装置100の製造方法、および、一実施形態に係るスイッチ装置100は、第2の金メッキ層の厚さを、第1の金メッキ層の厚さよりも大きくしている。特に、一実施形態に係るスイッチ装置100の製造方法、および、一実施形態に係るスイッチ装置100は、発明者らによって導き出された好適な一例として、第2の金メッキ層の厚さを、「0.1μm~0.2μm」としている。これにより、一実施形態に係るスイッチ装置100の製造方法、および、一実施形態に係るスイッチ装置100は、第2の金メッキ層が形成される第1固定接点151Aおよび一対の第2固定接点152Aにおける、メタルコンタクト140の接触不良を抑制することができる。 In addition, in the manufacturing method of the switch device 100 according to one embodiment, and the switch device 100 according to one embodiment, the thickness of the second gold plating layer is made greater than the thickness of the first gold plating layer. In particular, in the manufacturing method of the switch device 100 according to one embodiment, and the switch device 100 according to one embodiment, the thickness of the second gold plating layer is set to "0.1 μm to 0.2 μm" as a preferred example derived by the inventors. As a result, the manufacturing method of the switch device 100 according to one embodiment, and the switch device 100 according to one embodiment can suppress contact failure of the metal contact 140 at the first fixed contact 151A and the pair of second fixed contacts 152A on which the second gold plating layer is formed.

また、一実施形態に係るスイッチ装置100の製造方法、および、一実施形態に係るスイッチ装置100は、好適な半田シートの厚さを「10μm~25μm」としている。これにより、一実施形態に係るスイッチ装置100の製造方法、および、一実施形態に係るスイッチ装置100は、短絡の要因となる端子面からの半田のはみだしを抑制しつつ、半田による端子面の十分な接着を実現することができる。 In addition, the manufacturing method for the switch device 100 according to one embodiment and the switch device 100 according to one embodiment have a suitable solder sheet thickness of "10 μm to 25 μm." As a result, the manufacturing method for the switch device 100 according to one embodiment and the switch device 100 according to one embodiment can achieve sufficient adhesion of the terminal surface with solder while suppressing solder protrusion from the terminal surface, which can cause a short circuit.

以上、本発明の一実施形態について詳述したが、本発明はこれらの実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形又は変更が可能である。 Although one embodiment of the present invention has been described in detail above, the present invention is not limited to these embodiments, and various modifications and alterations are possible within the scope of the gist of the present invention described in the claims.

例えば、本発明はスイッチ装置に限らず、少なくとも端子面に予備半田層を形成するものであれば、如何なる電気部品にも適用可能である。 For example, the present invention is not limited to switch devices, but can be applied to any electrical component that has a spare solder layer formed on at least the terminal surface.

100 スイッチ装置
110 ハウジング
110A 凹部
120 フレーム
120A 開口部
130 ステム
131 操作部
134 押圧部
140 メタルコンタクト
151 第1金属端子部材
151A 第1固定接点
151B 第1端子面
152 第2金属端子部材
152A 第2固定接点
152B 第2端子面
REFERENCE SIGNS LIST 100 Switch device 110 Housing 110A Recess 120 Frame 120A Opening 130 Stem 131 Operation portion 134 Pressing portion 140 Metal contact 151 First metal terminal member 151A First fixed contact 151B First terminal surface 152 Second metal terminal member 152A Second fixed contact 152B Second terminal surface

Claims (6)

ハウジング内に設けられた固定接点と、
前記固定接点からハウジング外に延出される端子面と、
前記固定接点への接離動作を行う可動接点と、を備えたスイッチ装置の製造方法であって、
前記端子面に第1の金メッキ層を形成する金メッキ層形成工程と、
前記第1の金メッキ層の表面に半田シートを載置する半田シート載置工程と、
前記半田シートを溶融することにより前記端子面に予備半田層を形成する予備半田層形成工程と
を含み、
前記第1の金メッキ層の厚さと前記半田シートの厚さとの比が0.01~0.08:25であり
前記半田シートの厚さが、10μm~25μmである
ことを特徴とするスイッチ装置の製造方法。
A fixed contact provided within the housing;
a terminal surface extending from the fixed contact to the outside of the housing;
A manufacturing method of a switch device including a movable contact that moves in contact with and out of contact with the fixed contact,
a gold plating layer forming step of forming a first gold plating layer on the terminal surface;
a solder sheet placing step of placing a solder sheet on a surface of the first gold plating layer;
a preliminary solder layer forming step of forming a preliminary solder layer on the terminal surface by melting the solder sheet,
the ratio of the thickness of the first gold plating layer to the thickness of the solder sheet is 0.01 to 0.08:25 ;
The thickness of the solder sheet is 10 μm to 25 μm.
A method for manufacturing a switch device comprising the steps of:
ハウジング内に設けられた固定接点と、
前記固定接点からハウジング外に延出される端子面と、
前記固定接点への接離動作を行う可動接点と、を備えたスイッチ装置の製造方法であって、
前記端子面に第1の金メッキ層を形成する金メッキ層形成工程と、
前記第1の金メッキ層の表面に半田シートを載置する半田シート載置工程と、
前記半田シートを溶融することにより前記端子面に予備半田層を形成する予備半田層形成工程と
を含み、
前記第1の金メッキ層の厚さと前記半田シートの厚さとの比が0.01~0.08:25であり、
前記金メッキ層形成工程では、
前記固定接点に第2の金メッキ層を形成し、
前記第2の金メッキ層の厚さが前記第1の金メッキ層の厚さよりも大きい
ことを特徴とする製造方法。
A fixed contact provided within the housing;
a terminal surface extending from the fixed contact to the outside of the housing;
A manufacturing method of a switch device including a movable contact that moves in contact with and out of contact with the fixed contact,
a gold plating layer forming step of forming a first gold plating layer on the terminal surface;
a solder sheet placing step of placing a solder sheet on a surface of the first gold plating layer;
a preliminary solder layer forming step of forming a preliminary solder layer on the terminal surface by melting the solder sheet;
Including,
the ratio of the thickness of the first gold plating layer to the thickness of the solder sheet is 0.01 to 0.08:25;
In the gold plating layer forming step,
forming a second gold plating layer on the fixed contact;
the thickness of the second gold plating layer is greater than the thickness of the first gold plating layer.
前記第2の金メッキ層の厚さが0.1μm~0.2μmである
ことを特徴とする請求項1または2に記載のスイッチ装置の製造方法。
3. The method for manufacturing a switch device according to claim 1 , wherein the second gold plating layer has a thickness of 0.1 μm to 0.2 μm.
ハウジング外に延出される端子面を備えた電気部品の製造方法であって、
前記端子面に第1の金メッキ層を形成する金メッキ層形成工程と、
前記第1の金メッキ層の表面に半田シートを載置する半田シート載置工程と、
前記半田シートを溶融することにより前記端子面に予備半田層を形成する予備半田層形成工程と
を含み、
前記第1の金メッキ層の厚さと前記半田シートの厚さとの比が0.01~0.08:25であり、
前記半田シートの厚さが、10μm~25μmである
ことを特徴とする電気部品の製造方法。
A method for manufacturing an electrical component having a terminal surface extending outside a housing, comprising the steps of:
a gold plating layer forming step of forming a first gold plating layer on the terminal surface;
a solder sheet placing step of placing a solder sheet on a surface of the first gold plating layer;
a preliminary solder layer forming step of forming a preliminary solder layer on the terminal surface by melting the solder sheet,
the ratio of the thickness of the first gold plating layer to the thickness of the solder sheet is 0.01 to 0.08:25;
The thickness of the solder sheet is 10 μm to 25 μm.
A method for manufacturing an electrical component comprising the steps of:
ハウジング内に設けられた固定接点と、
前記固定接点から前記ハウジング外に延出される端子面と、を備えた電気部品の製造方法であって、
前記端子面に第1の金メッキ層を形成する金メッキ層形成工程と、
前記第1の金メッキ層の表面に半田シートを載置する半田シート載置工程と、
前記半田シートを溶融することにより前記端子面に予備半田層を形成する予備半田層形成工程と
を含み、
前記第1の金メッキ層の厚さと前記半田シートの厚さとの比が0.01~0.08:25であり、
前記金メッキ層形成工程では、
前記固定接点に第2の金メッキ層を形成し、
前記第2の金メッキ層の厚さが前記第1の金メッキ層の厚さよりも大きい
ことを特徴とする電気部品の製造方法。
A fixed contact provided within the housing;
a terminal surface extending from the fixed contact to an outside of the housing,
a gold plating layer forming step of forming a first gold plating layer on the terminal surface;
a solder sheet placing step of placing a solder sheet on a surface of the first gold plating layer;
a preliminary solder layer forming step of forming a preliminary solder layer on the terminal surface by melting the solder sheet;
Including,
the ratio of the thickness of the first gold plating layer to the thickness of the solder sheet is 0.01 to 0.08:25;
In the gold plating layer forming step,
forming a second gold plating layer on the fixed contact;
4. A method for manufacturing an electrical component, comprising the steps of: forming a first gold plating layer on a first surface of the first metal substrate ;
ハウジング内に設けられた固定接点と、
前記固定接点からハウジング外に延出される端子面と、
前記固定接点への接離動作を行う可動接点と
を備え、
前記端子面は、
第1の金メッキ層上に予備半田層が形成されており、
前記予備半田層に含まれる金の重量割合が0.08~0.76%wtであり、
前記固定接点に第2の金メッキ層を形成し、
前記第2の金メッキ層の厚さが前記第1の金メッキ層の厚さよりも大きい
ことを特徴とするスイッチ装置。
A fixed contact provided within the housing;
a terminal surface extending from the fixed contact to the outside of the housing;
a movable contact that moves toward and away from the fixed contact,
The terminal surface is
a pre-solder layer is formed on the first gold plating layer;
The weight percentage of gold contained in the preliminary solder layer is 0.08 to 0.76% by weight;
forming a second gold plating layer on the fixed contact;
The thickness of the second gold plating layer is greater than the thickness of the first gold plating layer.
A switching device comprising:
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