Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP7615558B2 - Inspection fixtures and inspection equipment - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP7615558B2 - Inspection fixtures and inspection equipment - Google Patents

Inspection fixtures and inspection equipment Download PDF

Info

Publication number
JP7615558B2
JP7615558B2 JP2020131206A JP2020131206A JP7615558B2 JP 7615558 B2 JP7615558 B2 JP 7615558B2 JP 2020131206 A JP2020131206 A JP 2020131206A JP 2020131206 A JP2020131206 A JP 2020131206A JP 7615558 B2 JP7615558 B2 JP 7615558B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
support
support plate
contact
plate
holes
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2020131206A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2021167801A (en
Inventor
耕平 津村
秀和 山崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nidec Advance Technology Corp
Original Assignee
Nidec Advance Technology Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nidec Advance Technology Corp filed Critical Nidec Advance Technology Corp
Priority to KR1020227039224A priority Critical patent/KR20230033640A/en
Priority to PCT/JP2021/015923 priority patent/WO2021206185A1/en
Priority to CN202180027269.7A priority patent/CN115398245A/en
Priority to TW110114003A priority patent/TWI887398B/en
Priority to US17/917,950 priority patent/US12158480B2/en
Publication of JP2021167801A publication Critical patent/JP2021167801A/en
Priority to JP2024229933A priority patent/JP2025060877A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP7615558B2 publication Critical patent/JP7615558B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

本発明は、接触子を備えた検査治具、及びこれを用いた検査装置に関する。 The present invention relates to an inspection tool equipped with contacts and an inspection device using the same.

従来より、ワイヤープローブの上部及び下部をそれぞれ位置決めして支持する上部支持穴及び下部支持穴を有する支持部材と、ワイヤープローブの中間部を一方向に撓ませて支持する柔軟性があるガイドフィルムとを備えたプローブカードが知られている(例えば、特許文献1参照。)。この支持部材の下部支持穴は、積層された第1ボトム板と第2ボトム板とに形成されている。 There is a known probe card that includes a support member having upper and lower support holes that position and support the upper and lower parts of a wire probe, and a flexible guide film that supports the middle part of the wire probe by bending it in one direction (see, for example, Patent Document 1). The lower support hole of this support member is formed in the first and second bottom plates that are laminated together.

特許文献1には、ガイドフィルムが柔軟すぎると、ワイヤープローブの弾力でガイドフィルムが伸びて上下に撓むことがあると記載されている。そこで、特許文献1に記載の技術では、ガイドフィルムの表面に、ガイドフィルムの伸縮に伴う撓みを抑える補強膜を施している。 Patent document 1 states that if the guide film is too flexible, the elasticity of the wire probe may stretch the guide film, causing it to bend up and down. Therefore, the technology described in patent document 1 applies a reinforcing film to the surface of the guide film to suppress bending caused by the expansion and contraction of the guide film.

特開2012-103125号公報JP 2012-103125 A

ところで、特許文献1において、ガイドフィルムを上下に撓ませている力は、ワイヤープローブが挿通される下部支持穴を有する第1及び第2ボトム板に対しても、ガイドフィルムと同様に加わる。そのため、第1及び第2ボトム板に対してストレスが加わるおそれがあった。 However, in Patent Document 1, the force that bends the guide film up and down is also applied to the first and second bottom plates, which have lower support holes through which the wire probes are inserted, in the same way as the guide film. Therefore, there is a risk that stress will be applied to the first and second bottom plates.

本発明の目的は、接触子を支持する支持部に加わるストレスを軽減することが容易な検査治具、及び検査装置を提供することである。 The object of the present invention is to provide an inspection tool and an inspection device that can easily reduce the stress applied to the support part that supports the contacts.

本発明の一例に係る検査治具は、棒状の接触子と、前記接触子の一端部側を支持する第一支持部と、前記接触子の他端部側を支持する第二支持部と、前記第一支持部と前記第二支持部とを互いに離間させて保持する離間保持部材とを備え、前記第一支持部は、前記接触子が挿通される貫通孔が形成された支持プレートを備え、前記支持プレートの前記第二支持部に対する対向面には、前記支持プレートよりも曲げ強さが強い補強プレートが配設されている。 An inspection jig according to one embodiment of the present invention includes a rod-shaped contactor, a first support portion supporting one end of the contactor, a second support portion supporting the other end of the contactor, and a spacing member that keeps the first support portion and the second support portion spaced apart from each other. The first support portion includes a support plate having a through hole through which the contactor is inserted, and a reinforcing plate having a bending strength greater than that of the support plate is disposed on the surface of the support plate facing the second support portion.

本発明の一例に係る検査装置は、上述の検査治具と、前記接触子を検査対象物に設けられた検査点に接触させることにより得られる電気信号に基づき、前記検査対象物の検査を行う検査処理部とを備える。 An inspection device according to one embodiment of the present invention includes the above-mentioned inspection tool and an inspection processing unit that inspects the object to be inspected based on an electrical signal obtained by contacting the contactor with an inspection point provided on the object to be inspected.

このような構成の検査治具、及び検査装置は、接触子を支持する支持部に加わるストレスを軽減することが容易となる。 An inspection jig and inspection device configured in this way makes it easier to reduce the stress applied to the support part that supports the contacts.

本発明の一実施形態に係る検査治具3を用いる検査装置1の構成の一例を概略的に示す概念図である。1 is a conceptual diagram illustrating an example of the configuration of an inspection device 1 that uses an inspection jig 3 according to an embodiment of the present invention. 図1に示す検査治具3を接触子Prの先端側から見た平面図である。2 is a plan view of the inspection jig 3 shown in FIG. 1 as viewed from the tip side of the contact Pr. 図2に示す検査治具3のIII-III線端面図である。3 is an end view of the inspection jig 3 shown in FIG. 2 taken along line III-III. 図2に示す検査治具3のIV-IV線端面図である。4 is an end view of the inspection jig 3 shown in FIG. 2 taken along line IV-IV. 図3、図4に示す補強プレート5の、Z方向から見た平面図である。5 is a plan view of the reinforcing plate 5 shown in FIGS. 3 and 4 as viewed from the Z direction. FIG. 図5に示す補強プレート5の変形例を示す平面図である。6 is a plan view showing a modified example of the reinforcing plate 5 shown in FIG. 5. 検査治具3を基板100に当接させた状態の一例を示す説明図である。1 is an explanatory diagram showing an example of a state in which the inspection jig 3 is abutted against the substrate 100. FIG. 接触子Prが押し込まれたときのプレートPLの挙動を概念的に示す説明図である。11 is an explanatory diagram conceptually showing the behavior of the plate PL when the contact Pr is pressed in. FIG. プレートPLに形成された貫通孔PLHと接触子Prとの拡大説明図である。1 is an enlarged explanatory view of a through hole PLH and a contact Pr formed in a plate PL. FIG. 接触子Prの押し込み荷重が解除されたときのプレートPLの挙動を概念的に示す説明図である。11 is an explanatory diagram conceptually showing the behavior of the plate PL when the pressing load of the contact Pr is released. FIG. プレートPLに形成された貫通孔PLHと接触子Prとの拡大説明図である。1 is an enlarged explanatory view of a through hole PLH and a contact Pr formed in a plate PL. FIG. 第一支持プレートB2の貫通孔B2H近傍を拡大して示す端面図である。13 is an enlarged end view showing the vicinity of a through hole B2H of a first support plate B2. FIG. 図3に示す検査治具3の変形例を示す端面図である。FIG. 4 is an end view showing a modified example of the inspection jig 3 shown in FIG. 3 . 補強プレートB2aの貫通孔B2H近傍を拡大して示す端面図である。13 is an enlarged end view showing the vicinity of a through hole B2H of a reinforcing plate B2a. FIG. プレートPLに形成された滑層33の一例を示す断面図である。A cross-sectional view showing an example of a lubricating layer 33 formed on a plate PL.

以下、本発明に係る実施形態を図面に基づいて説明する。なお、各図において同一の符号を付した構成は、同一の構成であることを示し、その説明を省略する。各図の向きを示すために適宜XYZ直交座標軸を記載している。図1に示す検査装置1は、検査対象物の一例である基板100を検査するための装置である。 The following describes an embodiment of the present invention with reference to the drawings. Note that components with the same reference numerals in each drawing are the same, and their description will be omitted. XYZ orthogonal coordinate axes are written as appropriate to indicate the orientation of each drawing. The inspection device 1 shown in FIG. 1 is a device for inspecting a substrate 100, which is an example of an object to be inspected.

基板100は、例えばプリント配線基板、フレキシブル基板、セラミック多層配線基板、液晶ディスプレイやプラズマディスプレイ用の電極板、半導体基板、及び半導体パッケージ用のパッケージ基板やフィルムキャリアなど種々の基板であってもよい。なお、検査対象物は、基板に限らず、例えば半導体素子(IC:Integrated Circuit)等の電子部品であってもよく、その他電気的な検査を行う対象となるものであればよい。 The substrate 100 may be any of a variety of substrates, such as a printed wiring board, a flexible substrate, a ceramic multilayer wiring substrate, an electrode plate for a liquid crystal display or plasma display, a semiconductor substrate, and a package substrate or film carrier for a semiconductor package. Note that the object to be inspected is not limited to a substrate, and may be, for example, an electronic component such as a semiconductor element (IC: Integrated Circuit), or any other object that can be subjected to electrical inspection.

図1に示す検査装置1は、検査部4U,4Dと、基板固定装置6と、検査処理部8とを備えている。基板固定装置6は、検査対象の基板100を所定の位置に固定するように構成されている。検査部4U,4Dは、検査治具3U,3Dを備えている。検査部4U,4Dは、図略の駆動機構によって、検査治具3U,3Dを、互いに直交するX,Y,Zの三軸方向に移動可能にされ、さらに検査治具3U,3Dを、Z軸を中心に回動可能にされている。 The inspection device 1 shown in FIG. 1 includes inspection units 4U and 4D, a substrate fixing device 6, and an inspection processing unit 8. The substrate fixing device 6 is configured to fix the substrate 100 to be inspected at a predetermined position. The inspection units 4U and 4D include inspection fixtures 3U and 3D. The inspection units 4U and 4D are capable of moving the inspection fixtures 3U and 3D in three mutually orthogonal axis directions of X, Y, and Z by a drive mechanism (not shown), and further capable of rotating the inspection fixtures 3U and 3D around the Z axis.

検査部4Uは、基板固定装置6に固定された基板100の上方に位置する。検査部4Dは、基板固定装置6に固定された基板100の下方に位置する。検査部4U,4Dは、基板100に形成された回路パターンを検査するための検査治具3U,3Dを着脱可能に構成されている。以下、検査部4U,4Dを総称して検査部4と称する。 The inspection unit 4U is located above the substrate 100 fixed to the substrate fixing device 6. The inspection unit 4D is located below the substrate 100 fixed to the substrate fixing device 6. The inspection units 4U and 4D are configured to be able to detachably mount the inspection jigs 3U and 3D for inspecting the circuit pattern formed on the substrate 100. Hereinafter, the inspection units 4U and 4D are collectively referred to as the inspection unit 4.

検査治具3U,3Dは、それぞれ、複数の接触子Prと、複数の接触子Prの先端部を基板100へ向けて保持する支持部材31と、ベースプレート321とを備えている。ベースプレート321には、各接触子Prの後端部と接触して導通する電極が設けられている。検査部4U,4Dは、ベースプレート321の各電極を介して各接触子Prの後端部を、検査処理部8と電気的に接続したり、その接続を切り替えたりする図略の接続回路を備えている。 Each of the inspection jigs 3U and 3D includes a plurality of contacts Pr, a support member 31 that holds the tips of the plurality of contacts Pr toward the substrate 100, and a base plate 321. The base plate 321 is provided with electrodes that contact and are conductive with the rear ends of the contacts Pr. The inspection units 4U and 4D include connection circuits (not shown) that electrically connect the rear ends of the contacts Pr to the inspection processing unit 8 via the electrodes of the base plate 321 and switch the connection.

接触子Prは、全体として略棒状の形状を有している。支持部材31には、接触子Prを支持する複数の貫通孔が形成されている。各貫通孔は、検査対象となる基板100の配線パターン上に設定された検査点の位置と対応するように配置されている。これにより、接触子Prの先端部が基板100の検査点に接触するようにされている。検査点は、例えば配線パターン、パッド、半田バンプ、接続端子、スルーホール、ビア等とされている。 The contact Pr has a generally rod-like shape. The support member 31 has a plurality of through holes formed therein that support the contact Pr. Each through hole is arranged to correspond to the position of an inspection point set on the wiring pattern of the board 100 to be inspected. This allows the tip of the contact Pr to come into contact with the inspection point of the board 100. The inspection point may be, for example, a wiring pattern, a pad, a solder bump, a connection terminal, a through hole, a via, etc.

検査治具3U,3Dは、検査部4U,4Dへの取り付け方向が上下逆になる点を除き、互いに同様に構成されている。以下、検査治具3U,3Dを総称して検査治具3と称する。検査治具3は、検査対象の基板100に応じて取り替え可能にされている。 The inspection jigs 3U and 3D are configured in the same way, except that they are attached to the inspection units 4U and 4D upside down. Hereinafter, the inspection jigs 3U and 3D are collectively referred to as the inspection jig 3. The inspection jig 3 is replaceable depending on the substrate 100 to be inspected.

検査処理部8は、例えば電源回路、電圧計、電流計、及びマイクロコンピュータ等を備えている。検査処理部8は、図略の駆動機構を制御して検査部4U,4Dを移動、位置決めさせ、基板100の各検査点に、各接触子Prの先端を接触させる。これにより、各検査点と、検査処理部8とが電気的に接続される。この状態で、検査処理部8は、検査治具3の各接触子Prを介して基板100の各検査点に検査用の電流又は電圧を供給し、各接触子Prから得られた電圧信号又は電流信号に基づき、例えば回路パターンの断線や短絡等の基板100の検査を実行する。あるいは、検査処理部8は、交流の電流又は電圧を各検査点に供給することによって各接触子Prから得られた電圧信号又は電流信号に基づき、検査対象のインピーダンスを測定してもよい。 The inspection processing unit 8 includes, for example, a power supply circuit, a voltmeter, an ammeter, and a microcomputer. The inspection processing unit 8 controls a drive mechanism (not shown) to move and position the inspection units 4U and 4D, and brings the tip of each contact Pr into contact with each inspection point on the board 100. This electrically connects each inspection point to the inspection processing unit 8. In this state, the inspection processing unit 8 supplies an inspection current or voltage to each inspection point on the board 100 via each contact Pr of the inspection jig 3, and performs an inspection of the board 100, such as for breaks or shorts in the circuit pattern, based on the voltage signal or current signal obtained from each contact Pr. Alternatively, the inspection processing unit 8 may measure the impedance of the inspection target based on the voltage signal or current signal obtained from each contact Pr by supplying an AC current or voltage to each inspection point.

図2、図3、図4を参照して、支持部材31は、接触子Prの後端部側を支持する第一支持部311と、接触子Prの先端部側を支持する第二支持部312と、第一支持部311と第二支持部312とを互いに離間させて保持する離間保持部材7と、スペーサSと、補強プレート5とを備えている。 Referring to Figures 2, 3, and 4, the support member 31 includes a first support portion 311 that supports the rear end side of the contact Pr, a second support portion 312 that supports the tip end side of the contact Pr, a spacing member 7 that keeps the first support portion 311 and the second support portion 312 spaced apart from each other, a spacer S, and a reinforcing plate 5.

第一支持部311は、第一支持プレートB2と、第二支持プレートC1,D,E1,E2とがZ方向に積層されて構成されている。第二支持プレートC1,D,E1,E2は、第二支持部312に近い側からこの順に積層されている。第一支持プレートB2は、第二支持プレートC1に積層されている。すなわち、第一支持部311を構成する複数の支持プレートB2,C1,D,E1,E2のうち、第二支持部312に最も近い支持プレートが第一支持プレートB2(対向支持プレート)とされている。 The first support section 311 is constructed by stacking a first support plate B2 and second support plates C1, D, E1, E2 in the Z direction. The second support plates C1, D, E1, E2 are stacked in this order starting from the side closest to the second support section 312. The first support plate B2 is stacked on the second support plate C1. In other words, of the multiple support plates B2, C1, D, E1, E2 that constitute the first support section 311, the support plate closest to the second support section 312 is the first support plate B2 (opposing support plate).

なお、第二支持プレートは、三枚以下又は五枚以上の支持プレートにより構成されていてもよい。あるいは、第一支持部311は、一枚の支持プレートにより構成されていてもよい。 The second support plate may be composed of three or less or five or more support plates. Alternatively, the first support portion 311 may be composed of a single support plate.

第一支持プレートB2には、各接触子Prを支持するための貫通孔B2Hが形成されている。 The first support plate B2 has through holes B2H formed therein for supporting each contact Pr.

第二支持プレートC1,D,E1,E2には、各接触子Prを支持するための貫通孔C1H,DH,E1H,E2Hが形成されている。 The second support plates C1, D, E1, and E2 have through holes C1H, DH, E1H, and E2H formed therein to support each contact Pr.

接触子Prの後端側が、貫通孔B2H,C1H,DH,E1H,E2Hに挿通されている。これにより、接触子Prの後端側が、第一支持部311によって支持される。 The rear end side of the contact Pr is inserted through the through holes B2H, C1H, DH, E1H, and E2H. This allows the rear end side of the contact Pr to be supported by the first support portion 311.

第一支持プレートB2の、第二支持部312に対する対向面に、補強プレート5が配設されている。図5を参照して、補強プレート5は、略矩形の板状部材である。補強プレート5には、Y方向に長尺の、略矩形形状の開口部5Cが二箇所形成されている。二箇所の開口部5Cは、平面視で各開口内に、第一支持プレートB2の複数の貫通孔B2Hを含む領域を含むように開口されている。 The reinforcing plate 5 is disposed on the surface of the first support plate B2 facing the second support portion 312. Referring to FIG. 5, the reinforcing plate 5 is a substantially rectangular plate-like member. The reinforcing plate 5 has two substantially rectangular openings 5C that are elongated in the Y direction. The two openings 5C are opened so that, in a plan view, each opening includes an area that includes the multiple through holes B2H of the first support plate B2.

検査治具3は、補強プレート5の代わりに図6に示す補強プレート5aを備えてもよい。補強プレート5aには、二箇所の開口部5Cの代わりに、第一支持プレートB2の複数の貫通孔B2Hに対して一対一で対応する複数の貫通孔5Hが形成されている。そして、各貫通孔5Hにそれぞれ接触子Prが挿通されるようにしてもよい。貫通孔5Hの内径は、貫通孔B2Hよりも大きい。 The inspection jig 3 may include a reinforcing plate 5a shown in FIG. 6 instead of the reinforcing plate 5. Instead of the two openings 5C, the reinforcing plate 5a has a plurality of through holes 5H formed therein that correspond one-to-one to the plurality of through holes B2H of the first support plate B2. A contact Pr may be inserted into each of the through holes 5H. The inner diameter of the through holes 5H is larger than that of the through holes B2H.

図3、図4を参照して、補強プレート5の外周部分に、略矩形枠状のスペーサSが積層されている。 Referring to Figures 3 and 4, a spacer S having a substantially rectangular frame shape is laminated on the outer periphery of the reinforcing plate 5.

第二支持部312は、支持プレートA,A2,A3が積層されて構成されている。支持プレートA,A2,A3は、第一支持部311から遠い側からこの順に積層されている。支持プレートA,A2には、各接触子Prを支持するための貫通孔AH,A2Hが形成されている。支持プレートA3には、各接触子Prを支持するための貫通孔A3Hが形成されている。 The second support section 312 is constructed by stacking support plates A, A2, and A3. The support plates A, A2, and A3 are stacked in this order from the side farthest from the first support section 311. The support plates A and A2 are formed with through holes AH and A2H for supporting each contact Pr. The support plate A3 is formed with a through hole A3H for supporting each contact Pr.

なお、第二支持部312は、二枚以下又は四枚以上の支持プレートにより構成されていてもよい。 The second support portion 312 may be composed of two or less or four or more support plates.

接触子Prの先端側が、貫通孔AH,A2H,A3Hに挿通されている。これにより、接触子Prの先端側が、第二支持部312によって支持される。 The tip side of the contact Pr is inserted through the through holes AH, A2H, and A3H. This allows the tip side of the contact Pr to be supported by the second support portion 312.

支持プレートA3の外周部分から、略矩形筒状の離間保持部材7が延設されている。支持プレートA3と離間保持部材7とは、一体に形成されている。これにより、支持プレートA3と離間保持部材7とから離間ブロックBが構成されている。なお、支持プレートA3と離間保持部材7とは、別体であってもよい。 A roughly rectangular tubular spacing member 7 extends from the outer periphery of the support plate A3. The support plate A3 and the spacing member 7 are integrally formed. As a result, the support plate A3 and the spacing member 7 form a spacing block B. Note that the support plate A3 and the spacing member 7 may be separate bodies.

離間保持部材7の端面は、スペーサSの第二支持部312側の面に、取り付けられている。これにより、第一支持プレートB2と支持プレートA3、すなわち第一支持部311と第二支持部312が、離間保持部材7のZ方向の長さとスペーサSの厚さと補強プレート5の厚さとを加算した距離離間して保持される。支持プレートA,A2,A3、補強プレート5、第一支持プレートB2、第二支持プレートC1,D,E1,E2は、平行に保持されている。 The end face of the spacing member 7 is attached to the surface of the spacer S facing the second support portion 312. This causes the first support plate B2 and the support plate A3, i.e., the first support portion 311 and the second support portion 312, to be held apart by a distance equal to the length of the spacing member 7 in the Z direction plus the thickness of the spacer S and the thickness of the reinforcing plate 5. The support plates A, A2, A3, reinforcing plate 5, the first support plate B2, and the second support plates C1, D, E1, E2 are held in parallel.

なお、スペーサSは、第一支持部311と第二支持部312との間隔を微調整するための部材であり、検査治具3は、スペーサSを備えなくてもよい。 The spacer S is a member for finely adjusting the distance between the first support portion 311 and the second support portion 312, and the inspection jig 3 does not necessarily need to include the spacer S.

また、離間保持部材7は、矩形筒状の部材に限らない。離間保持部材は、第一支持部311と第二支持部312とを互いに離間させて保持するものであればよい。例えば棒状の支柱を離間保持部材として用いてもよい。 The spacing member 7 is not limited to a rectangular tubular member. Any spacing member that can keep the first support portion 311 and the second support portion 312 apart from each other may be used. For example, a rod-shaped support may be used as the spacing member.

貫通孔AH,A2H,A3H,B2H,C1H,DH,E1H,E2Hは、同一の一本の接触子Prが挿通されるように相対応して、各プレートに対してそれぞれ垂直に設けられている。相対応する貫通孔AH,A2H,A3H,B2H,C1H,DH,E1H,E2Hの各貫通孔は、支持プレートA,A2,A3、第一支持プレートB2、及び第二支持プレートC1,D,E1,E2の垂線方向(Z方向)に対して接触子Prを傾斜させるように、各貫通孔の位置が、垂線の方向(Z方向)に対してX方向にずれている。 Through holes AH, A2H, A3H, B2H, C1H, DH, E1H, and E2H are provided perpendicular to each plate so that one and the same contact Pr can be inserted through them. The positions of the corresponding through holes AH, A2H, A3H, B2H, C1H, DH, E1H, and E2H are shifted in the X direction relative to the perpendicular direction (Z direction) of the support plates A, A2, and A3, the first support plate B2, and the second support plates C1, D, E1, and E2 so that the contact Pr is inclined relative to the perpendicular direction (Z direction).

これにより、各接触子Prは、Z方向に対して、X方向に同じ方向に傾斜して支持される。各接触子Prの先端は、基板100に接触しない状態では支持プレートAから突出するようになっている。以下、貫通孔AH,A2H,A3H,B2H,C1H,DH,E1H,E2H,5Hを総称して、貫通孔Hと称する。なお、貫通孔Hは、各プレートの垂線方向に対して傾斜して貫通していてもよい。 As a result, each contact Pr is supported at an incline in the same direction in the X direction with respect to the Z direction. The tip of each contact Pr protrudes from the support plate A when not in contact with the substrate 100. Hereinafter, through holes AH, A2H, A3H, B2H, C1H, DH, E1H, E2H, and 5H will be collectively referred to as through holes H. Note that through holes H may penetrate each plate at an incline with respect to the perpendicular direction.

図2を参照して、検査治具3を支持プレートA側から見て、複数の貫通孔Hは、Y方向に長尺の略矩形状に広がる第一領域P1と第二領域P2とに、それぞれ分布している。X方向は第一方向の一例に相当し、Y方向は第二方向の一例に相当している。 Referring to FIG. 2, when the inspection jig 3 is viewed from the support plate A side, the multiple through holes H are distributed in a first region P1 and a second region P2 that extend in a generally rectangular shape elongated in the Y direction. The X direction corresponds to an example of the first direction, and the Y direction corresponds to an example of the second direction.

第一領域P1及び第二領域P2内で、貫通孔Hは等間隔で配置されている。第一領域P1と第二領域P2とは、同一領域内での貫通孔Hの間隔よりも大きな距離、離れている。 The through holes H are arranged at equal intervals in the first region P1 and the second region P2. The first region P1 and the second region P2 are separated by a distance greater than the interval between the through holes H in the same region.

図2に示す例では、貫通孔Hは、第一領域P1内で、X方向(第一方向)にジグザグに5列、Y方向(第二方向)にジグザグに11列設けられている。同様に、貫通孔Hは、第二領域P2内で、X方向(第一方向)にジグザグに5列、Y方向(第二方向)にジグザグに11列設けられている。 In the example shown in FIG. 2, the through holes H are arranged in five zigzag rows in the X direction (first direction) and eleven zigzag rows in the Y direction (second direction) in the first region P1. Similarly, the through holes H are arranged in five zigzag rows in the X direction (first direction) and eleven zigzag rows in the Y direction (second direction) in the second region P2.

すなわち、貫通孔Hが等間隔で並ぶ第一領域P1及び第二領域P2内において、X方向(第一方向)に対応する貫通孔Hの列数は、Y方向(第二方向)に対応する貫通孔Hの列数よりも少ない。なお、貫通孔Hはジグザグに配置される例に限られず、X方向、Y方向に対して直線状に、すなわち格子状に配置されていてもよい。また、貫通孔Hが等間隔で配置される領域が二つの例を示したが、このような領域は一つであってもよく、三つ以上であってもよい。 That is, in the first region P1 and the second region P2 in which the through holes H are arranged at equal intervals, the number of rows of the through holes H corresponding to the X direction (first direction) is smaller than the number of rows of the through holes H corresponding to the Y direction (second direction). Note that the through holes H are not limited to being arranged in a zigzag pattern, but may be arranged linearly in the X direction and Y direction, i.e., in a lattice pattern. Also, although an example in which there are two regions in which the through holes H are arranged at equal intervals has been shown, there may be one such region, or three or more such regions.

上述したように、各貫通孔Hの位置は、垂線の方向(Z方向)に対してX方向にずれているから、貫通孔Hのずれの方向は、貫通孔Hの列数が少ないX方向(第一方向)に沿っている。 As described above, the position of each through hole H is shifted in the X direction with respect to the direction of the perpendicular line (Z direction), so the direction of shift of the through holes H is along the X direction (first direction) in which the number of rows of the through holes H is small.

基板100を検査するべく検査治具3を基板100に当接させると、図7に示すように、各接触子Prの先端が第二支持部312に押し込まれる。このとき、各接触子Prは、X方向に同じ方向に傾斜して支持されているので、X方向に撓んで接触子Prの押し込み量を吸収する。 When the inspection jig 3 is brought into contact with the substrate 100 to inspect the substrate 100, the tip of each contact Pr is pressed into the second support portion 312, as shown in FIG. 7. At this time, since each contact Pr is supported at an incline in the same direction in the X direction, it bends in the X direction to absorb the amount of pressing of the contact Pr.

ここで、接触子Prの傾斜は貫通孔Hのずれの方向によって決まり、貫通孔Hのずれの方向は、貫通孔Hの列数が少ないX方向(第一方向)に沿っているので、接触子Prの傾斜方向、及び接触子Prの撓み方向もまた、貫通孔Hの列数が少ないX方向となる。 Here, the inclination of the contact Pr is determined by the direction of the misalignment of the through holes H, and since the direction of the misalignment of the through holes H is along the X direction (first direction) in which the number of rows of the through holes H is small, the inclination direction of the contact Pr and the bending direction of the contact Pr are also the X direction in which the number of rows of the through holes H is small.

接触子Prが撓むと、撓み方向に隣接する接触子Pr同士で接触するおそれが増大する。しかしながら、検査治具3は、貫通孔Hの列数が少ないX方向(第一方向)に沿って各接触子Prが撓むので、貫通孔Hの列数が多いY方向(第二方向)に沿って撓む場合よりも接触子Pr同士で接触するおそれが低減する。 When the contacts Pr bend, there is an increased risk of contact between adjacent contacts Pr in the bending direction. However, in the inspection jig 3, each contact Pr bends along the X direction (first direction) in which the number of rows of through holes H is small, so the risk of contact between the contacts Pr is reduced compared to when the contacts Pr bend along the Y direction (second direction) in which the number of rows of through holes H is large.

なお、貫通孔Hのずれの方向は、必ずしも貫通孔Hの列数が少ない第一方向に沿っていなくてもよい。 The direction of the offset of the through holes H does not necessarily have to be along the first direction in which the number of rows of the through holes H is small.

図3、図7を参照して、支持プレートA,A2,A3、離間保持部材7、スペーサS、第一支持プレートB2、及び第二支持プレートC1,D,E1,E2は、絶縁材料、例えば樹脂材料によって構成されている。補強プレート5,5aは、第一支持プレートB2、及び第二支持プレートC1,D,E1,E2よりも曲げ強さが強い。補強プレート5,5aは、例えばセラミックス、ファインセラミックス等の材料によって構成することができる。 Referring to Figures 3 and 7, the support plates A, A2, A3, the spacing member 7, the spacer S, the first support plate B2, and the second support plates C1, D, E1, E2 are made of an insulating material, for example, a resin material. The reinforcing plates 5, 5a have a higher bending strength than the first support plate B2 and the second support plates C1, D, E1, E2. The reinforcing plates 5, 5a can be made of a material such as ceramics or fine ceramics.

補強プレート5,5a,B2aの曲げ強さは、例えばJIS R 1601「ファインセラミックスの室温曲げ強さ試験方法」、あるいはISO14704に準じて評価することができる。第一支持プレートB2、及び第二支持プレートC1,D,E1,E2の曲げ強さは、例えばJIS K 7171「プラスチック-曲げ特性の求め方」、あるいはISO178に準じて評価することができる。各プレートの曲げ強さの評価方法は以下の通りである。検査治具に組み込まれたときに、支持プレートを接触子が貫通することが予定されている貫通孔を挟む2か所であって、支持プレートと補強プレートとの積層体が離間保持部材と対向する2箇所を外部支点とし、当該2箇所の外部支点の略中央を荷重点とする。荷重測定器の圧子より大きな開口が当該2箇所の外部支点の略中央にあって荷重測定器の荷重をかけられないプレート形状である場合、当該2箇所の外部支点の略中央の近傍でプレートに荷重をかけられる箇所を荷重点とすれば良い。当該荷重点にプレートが破壊されない程度の所定の荷重をかけたときの荷重測定器のストロークを測定する。当該ストロークが小さいほど曲げ強さが強いと評価できる。当該所定の荷重は任意の値を選べばよく、上記規格における測定条件に拘束されない。上記規格における試験片の形状、寸法、表面粗さ等の規定にかかわらず、プレートを加工することなくそのままの形状および寸法で曲げ強さを評価すれば足る。上記規格における試験片の数の規定にかかわらず、曲げ強さの評価に用いるプレートは1枚で良い。 The bending strength of the reinforcing plates 5, 5a, and B2a can be evaluated, for example, in accordance with JIS R 1601 "Test method for bending strength at room temperature of fine ceramics" or ISO 14704. The bending strength of the first support plate B2 and the second support plates C1, D, E1, and E2 can be evaluated, for example, in accordance with JIS K 7171 "Plastics - Determination of bending properties" or ISO 178. The bending strength of each plate is evaluated as follows. When assembled into the inspection jig, two points sandwiching the through hole through which the contact is expected to pass through the support plate, where the laminate of the support plate and the reinforcing plate faces the spacing member, are set as external supports, and the approximate center of the two external supports is set as the load point. If the plate shape is such that an opening larger than the indenter of the load measuring instrument is approximately in the center of the two external supports and the load of the load measuring instrument cannot be applied, the point where the load can be applied to the plate near the approximately center of the two external supports can be used as the load point. Measure the stroke of the load measuring instrument when a specified load that does not destroy the plate is applied to the load point. The smaller the stroke, the stronger the bending strength can be evaluated to be. The specified load can be any value and is not bound by the measurement conditions in the above standard. Regardless of the regulations in the above standard regarding the shape, dimensions, surface roughness, etc. of the test piece, it is sufficient to evaluate the bending strength with the shape and dimensions of the plate as they are, without processing it. Regardless of the regulations in the above standard regarding the number of test pieces, only one plate can be used to evaluate the bending strength.

接触子を支持する支持部である第一支持プレートB2及び第二支持プレートC1,D,E1,E2よりも、補強プレート5,5aの曲げ強さが強い。その結果、補強プレート5,5aによって第一支持プレートB2及び第二支持プレートC1,D,E1,E2の撓みが低減され、接触子を支持する支持部に加わるストレスを軽減することができる。 The bending strength of the reinforcing plates 5 and 5a is stronger than that of the first support plate B2 and the second support plates C1, D, E1, and E2, which are the support parts that support the contacts. As a result, the reinforcing plates 5 and 5a reduce the deflection of the first support plate B2 and the second support plates C1, D, E1, and E2, and the stress applied to the support parts that support the contacts can be reduced.

以下、補強プレート5,5aを備えていない検査治具において、接触子を支持する支持部にストレスが加わるメカニズムについて説明する。 The mechanism by which stress is applied to the support part that supports the contacts in an inspection jig that does not have a reinforcing plate 5, 5a will be explained below.

具体的には、図8に示すように、検査対象物に検査治具が当接されて接触子Prが押し込まれて撓むと、撓んだ接触子PrによってプレートPLが押されて撓む。より詳細には、図9に示すように、撓んだ接触子Prは、プレートPLの貫通孔PLHの開口縁部に当たって引っかかり、プレートPLを強く押し込む。 Specifically, as shown in FIG. 8, when the inspection jig is brought into contact with the inspection object and the contact Pr is pushed in and bent, the bent contact Pr pushes and bends the plate PL. More specifically, as shown in FIG. 9, the bent contact Pr hits and gets caught on the opening edge of the through hole PLH of the plate PL, and strongly presses the plate PL.

この状態で、検査対象物から検査治具が離間して接触子Prが元に戻ろうとすると、図10に示すように、接触子PrによってプレートPLが引っ張られ、逆向きに撓む。より詳細には、撓んだ接触子Prは貫通孔PLHの内壁に強く押し当てられている。そのため、貫通孔PLHとの間で大きな摩擦力が生じ、図11に示すように接触子Prが元に戻る際に、接触子PrがプレートPLを引っ張り、プレートPLが逆向きに撓む。このように、プレートPLが撓むことで、接触子Prを支持する支持部であるプレートPLにストレスが加わる。 In this state, when the inspection jig is separated from the inspection object and the contact Pr tries to return to its original position, the plate PL is pulled by the contact Pr and bends in the opposite direction, as shown in FIG. 10. More specifically, the bent contact Pr is pressed firmly against the inner wall of the through hole PLH. This generates a large frictional force between the contact Pr and the through hole PLH, and as the contact Pr returns to its original position, the contact Pr pulls the plate PL, causing the plate PL to bend in the opposite direction, as shown in FIG. 11. In this way, as the plate PL bends, stress is applied to the plate PL, which is the support that supports the contact Pr.

一方、検査治具3は、第一支持プレートB2及び第二支持プレートC1,D,E1,E2よりも曲げ強さが強い補強プレート5,5aを備えているので、第一支持プレートB2及び第二支持プレートC1,D,E1,E2の撓みが補強プレート5,5aによって抑えられる。従って、第一支持プレートB2及び第二支持プレートC1,D,E1,E2の撓みが減少する結果、接触子Prを支持する支持部である第一支持プレートB2及び第二支持プレートC1,D,E1,E2に加わるストレスを軽減することが容易となる。 On the other hand, the inspection jig 3 is equipped with reinforcing plates 5, 5a that have a stronger bending strength than the first support plate B2 and the second support plate C1, D, E1, E2, so that the deflection of the first support plate B2 and the second support plate C1, D, E1, E2 is suppressed by the reinforcing plates 5, 5a. As a result, the deflection of the first support plate B2 and the second support plate C1, D, E1, E2 is reduced, making it easier to reduce the stress applied to the first support plate B2 and the second support plate C1, D, E1, E2, which are the support parts that support the contact Pr.

また、第一支持プレートB2は、第二支持プレートC1,D,E1,E2よりも硬度が軟らかい。第一支持プレートB2及び第二支持プレートC1,D,E1,E2の硬度としては、例えばビッカース硬さ、ブリネル硬さ、ヌーブ硬さ、ロックウェル硬さ、スーパーフィシャル硬さ、マイヤ硬さ、ジュロメータ硬さ、バーコール硬さ、モノトロン硬さ、ショア硬さ、及びモース硬度等、種々の指標を用いることができる。第一支持プレートB2及び第二支持プレートC1,D,E1,E2の硬度は、例えば、JIS Z 2244「ビッカース硬さ試験-試験方法」、あるいはISO6507によって評価することができる。 The first support plate B2 is softer in hardness than the second support plates C1, D, E1, and E2. The hardness of the first support plate B2 and the second support plates C1, D, E1, and E2 can be measured using various indices, such as Vickers hardness, Brinell hardness, Nouveau hardness, Rockwell hardness, superficial hardness, Mayer hardness, durometer hardness, Barcol hardness, monotron hardness, Shore hardness, and Mohs hardness. The hardness of the first support plate B2 and the second support plates C1, D, E1, and E2 can be evaluated, for example, according to JIS Z 2244 "Vickers hardness test - test method" or ISO 6507.

図12では、補強プレート5aを用いる例を示しているが、補強プレート5を用いてもむろんよい。接触子Prが撓んだとき、撓みにより第一支持部311に加わる荷重は、第一支持プレートB2の貫通孔B2Hの開口縁部H1にその大部分が加わる。そのため、接触子Prが摩擦する摩擦力は、貫通孔B2H,C1H,DH,E1H,E2Hのうち、貫通孔B2Hで最も大きくなる。そこで、第一支持プレートB2の硬度を、第二支持プレートC1,D,E1,E2よりも軟らかくすることによって、接触子Prが傷つくおそれを低減することができる。 Although FIG. 12 shows an example in which a reinforcing plate 5a is used, a reinforcing plate 5 may also be used. When the contact Pr is bent, the load applied to the first support portion 311 due to the bending is mostly applied to the opening edge portion H1 of the through hole B2H of the first support plate B2. Therefore, the frictional force of the contact Pr is the largest in the through hole B2H among the through holes B2H, C1H, DH, E1H, and E2H. Therefore, by making the hardness of the first support plate B2 softer than that of the second support plates C1, D, E1, and E2, the risk of the contact Pr being damaged can be reduced.

また、第二支持プレートC1,D,E1,E2は、第一支持プレートB2より曲げ強さが強い。上述したように、第一支持プレートB2は、第二支持プレートC1,D,E1,E2よりも硬度が軟らかいので、接触子Prが傷つくおそれを低減することができる。一方、軟らかい材料は、一般的に曲げ強さが弱い。 In addition, the second support plates C1, D, E1, and E2 have a greater bending strength than the first support plate B2. As described above, the first support plate B2 is softer than the second support plates C1, D, E1, and E2, which reduces the risk of damaging the contact Pr. On the other hand, soft materials generally have a weak bending strength.

そこで、第二支持プレートC1,D,E1,E2よりも硬度が軟らかい第一支持プレートB2と、第一支持プレートB2より曲げ強さが強い第二支持プレートC1,D,E1,E2とを組み合わせることによって、第一支持部311全体の曲げ強さを確保しつつ、接触子Prが傷つくおそれを低減することができる。 Therefore, by combining a first support plate B2 that is softer in hardness than the second support plates C1, D, E1, and E2 with second support plates C1, D, E1, and E2 that have a stronger bending strength than the first support plate B2, it is possible to ensure the bending strength of the entire first support portion 311 while reducing the risk of damage to the contact Pr.

また、第一支持プレートB2の貫通孔B2Hにおける開口縁部H1,H2は面取りされている。これにより、開口縁部H1,H2の滑らかさが増すので、開口縁部H1,H2との摩擦で接触子Prが傷つくおそれを低減することができる。面取りは、角を丸くする丸面、角を斜めに削る角面、その他種々の面取り形状とすることができる。図12に示すように、各支持プレートの貫通孔Hは、大径部と小径部とが連結されていてもよい。この場合、貫通孔Hの小径部分の開口縁部が面取り形状とされることが好ましい。 In addition, the opening edges H1, H2 of the through hole B2H of the first support plate B2 are chamfered. This increases the smoothness of the opening edges H1, H2, reducing the risk of the contact Pr being damaged by friction with the opening edges H1, H2. The chamfering can be a rounded surface with rounded corners, an angular surface with beveled corners, or various other chamfer shapes. As shown in FIG. 12, the through hole H of each support plate may have a large diameter portion and a small diameter portion connected to each other. In this case, it is preferable that the opening edge of the small diameter portion of the through hole H be chamfered.

なお、接触子Prは、第一支持プレートB2の第二支持部312側で撓むので、第二支持部312側の開口縁部H1と接触子Prとの摩擦の方が、第二支持プレートC1側の開口縁部H2と接触子Prとの摩擦よりも大きい。従って、図12では、開口縁部H1,H2が両方とも面取りされる例を示したが、開口縁部H1,H2のうち、接触子Prとの摩擦がより大きい第二支持部312側の開口縁部H1のみが面取りされていてもよい。 In addition, since the contact Pr bends on the second support portion 312 side of the first support plate B2, the friction between the opening edge H1 on the second support portion 312 side and the contact Pr is greater than the friction between the opening edge H2 on the second support plate C1 side and the contact Pr. Therefore, although FIG. 12 shows an example in which both opening edges H1 and H2 are chamfered, only the opening edge H1 on the second support portion 312 side, which has greater friction with the contact Pr, may be chamfered.

あるいは、第一支持プレートB2の貫通孔B2Hにおける開口縁部H1,H2は面取りされていなくてもよい。 Alternatively, the opening edges H1, H2 of the through hole B2H of the first support plate B2 do not have to be chamfered.

また、各支持プレートの貫通孔Hの位置は、必ずしもずれていなくてもよく、接触子Prは傾斜して支持される例に限らない。また、第二支持プレートC1,D,E1,E2は、第一支持プレートB2より曲げ強さが強い例に限られず、第一支持プレートB2は、第二支持プレートC1,D,E1,E2より硬度が軟らかい例に限られない。 The positions of the through holes H of each support plate do not necessarily have to be offset, and the contact Pr is not limited to being supported at an angle. The second support plates C1, D, E1, and E2 are not limited to being stronger in bending strength than the first support plate B2, and the first support plate B2 is not limited to being softer in hardness than the second support plates C1, D, E1, and E2.

また、支持部材31は、補強プレート5を備えず、第一支持プレートB2が補強プレートとして機能する構成としてもよい。 In addition, the support member 31 may be configured not to include the reinforcing plate 5, and the first support plate B2 may function as the reinforcing plate.

図13、図14に示すように、検査治具3aの支持部材31aは、補強プレート5,5aの代わりに補強プレートB2aを備える。補強プレートB2aは、第一支持プレートB2と同様の形状を有している。また、補強プレートB2aは、補強プレート5,5aと同様の材料で構成され、あるいは補強プレート5,5aと同様の曲げ強度を有している。 As shown in Figures 13 and 14, the support member 31a of the inspection jig 3a has a reinforcing plate B2a instead of the reinforcing plates 5 and 5a. The reinforcing plate B2a has the same shape as the first support plate B2. In addition, the reinforcing plate B2a is made of the same material as the reinforcing plates 5 and 5a, or has the same bending strength as the reinforcing plates 5 and 5a.

支持部材31aの第一支持部311aは、第一支持プレートB2を備えず、第二支持プレートC1,D,E1,E2(一又は複数の支持プレート)がZ方向に積層されて構成されている。この場合、第二支持プレートC1が、一又は複数の支持プレートのうち第二支持部312に最も近い対向支持プレートに相当する。 The first support portion 311a of the support member 31a does not include a first support plate B2, and is configured by stacking second support plates C1, D, E1, and E2 (one or more support plates) in the Z direction. In this case, the second support plate C1 corresponds to the opposing support plate that is closest to the second support portion 312 among the one or more support plates.

検査治具3aによれば、補強プレートB2aによって第二支持プレートC1,D,E1,E2の撓みが低減され、接触子Prを支持する支持部に加わるストレスを軽減することができる。また、検査治具3における補強プレート5又は補強プレート5aと第一支持プレートB2との代わりに、検査治具3aは補強プレートB2aを備えるだけでよい。従って、検査治具3aの構成を簡素化することができる。 In the inspection jig 3a, the reinforcing plate B2a reduces the deflection of the second support plates C1, D, E1, and E2, and the stress applied to the support portion supporting the contact Pr can be reduced. Moreover, instead of the reinforcing plate 5 or the reinforcing plate 5a and the first support plate B2 in the inspection jig 3, the inspection jig 3a only needs to be equipped with the reinforcing plate B2a. Therefore, the configuration of the inspection jig 3a can be simplified.

補強プレートB2aは、第一支持プレートB2と同様の形状を有する。従って、検査治具3aは、検査治具3と同様、各接触子Prを、X方向に同じ方向に傾斜させることによって、各接触子Prを、X方向に撓ませることができる。また、検査治具3aは、検査治具3と同様、貫通孔Hの列数が少ないX方向(第一方向)に沿って各接触子Prが撓むので、接触子Pr同士で接触するおそれが低減する。 The reinforcing plate B2a has a shape similar to that of the first support plate B2. Therefore, like the inspection jig 3, the inspection jig 3a can deflect each contact Pr in the X direction by tilting each contact Pr in the same direction in the X direction. Also, like the inspection jig 3, the inspection jig 3a deflects each contact Pr along the X direction (first direction) in which the number of rows of through holes H is small, reducing the risk of contact between the contacts Pr.

なお、第一支持部311aが支持プレートとして四枚の第二支持プレートC1,D,E1,E2を備える例を示したが、第一支持部311aが備える支持プレートは、一枚であってもよく、五枚以上であってもよい。第一支持部311aが備える支持プレートが一枚の場合、その支持プレートが対向支持プレートに相当する。 In the above example, the first support portion 311a is provided with four second support plates C1, D, E1, and E2 as support plates, but the first support portion 311a may have only one support plate or five or more support plates. When the first support portion 311a has only one support plate, that support plate corresponds to the opposing support plate.

また、第一支持プレートB2と同様、補強プレートB2aの貫通孔B2Hにおける開口縁部H1,H2は面取りされているので、開口縁部H1,H2との摩擦で接触子Prが傷つくおそれを低減することができる。また、補強プレートB2aの開口縁部H1,H2のうち、接触子Prとの摩擦がより大きい第二支持部312側の開口縁部H1のみが面取りされていてもよい。 As with the first support plate B2, the opening edges H1, H2 of the through hole B2H of the reinforcing plate B2a are chamfered, reducing the risk of the contact Pr being damaged by friction with the opening edges H1, H2. Of the opening edges H1, H2 of the reinforcing plate B2a, only the opening edge H1 on the second support part 312 side, which has greater friction with the contact Pr, may be chamfered.

あるいは、補強プレートB2aの貫通孔B2Hにおける開口縁部H1,H2は面取りされていなくてもよい。 Alternatively, the opening edges H1 and H2 of the through hole B2H of the reinforcing plate B2a do not have to be chamfered.

また、検査治具3,3aにおける、各支持プレート又は補強プレート5a,B2aの各貫通孔Hの内面には、摩擦を軽減するための例えばコーティング層である滑層33が形成されることが好ましい。図15では、各支持プレート又は補強プレート5a,B2aをプレートPLとして示し、貫通孔Hをより詳細に示している。プレートPLの貫通孔Hの内面は、面取りされた開口縁部H1,H2(面取部)と、貫通孔Hの内面における開口縁部H1,H2を除く部分である貫通孔本体部H3とを含む。プレートPLには、例えば貫通孔Hと同軸で、貫通孔Hよりも大径の大径部H4が、貫通孔Hに連結されている。 In addition, it is preferable that a lubricating layer 33, for example a coating layer, is formed on the inner surface of each through hole H of each support plate or reinforcing plate 5a, B2a in the inspection jig 3, 3a in order to reduce friction. In FIG. 15, each support plate or reinforcing plate 5a, B2a is shown as plate PL, and the through hole H is shown in more detail. The inner surface of the through hole H of the plate PL includes chamfered opening edge portions H1, H2 (chamfered portion) and a through hole main portion H3, which is the portion of the inner surface of the through hole H excluding the opening edge portions H1, H2. In the plate PL, for example, a large diameter portion H4, which is coaxial with the through hole H and has a diameter larger than the through hole H, is connected to the through hole H.

図15に示すように、滑層33は、各貫通孔Hの内面を含む、プレートPLの表面全体に形成されていてもよい。しかしながら、各貫通孔Hの内面以外の部分には接触子Prが接触しないので、滑層33は、各貫通孔Hの内面以外の部分には形成されていなくてもよい。 As shown in FIG. 15, the lubricating layer 33 may be formed on the entire surface of the plate PL, including the inner surface of each through hole H. However, since the contact Pr does not come into contact with any part other than the inner surface of each through hole H, the lubricating layer 33 does not have to be formed on any part other than the inner surface of each through hole H.

また、滑層33は、各貫通孔Hの内面のうち、貫通孔本体部H3及び開口縁部H1の少なくとも一方に形成されていればよい。 The slip layer 33 may be formed on at least one of the inner surfaces of each through hole H, the through hole body portion H3 and the opening edge portion H1.

滑層33の厚さは、例えば1μm程度とされる。滑層33の接触子Prに対する摩擦係数は、プレートPLにおける滑層33の土台部分34の摩擦係数よりも小さい。滑層33は、摩擦係数の小さい材料を、例えば蒸着することによって形成することができる。摩擦係数の大小は、動摩擦係数同士、又は静摩擦係数同士のいずれかで比較すればよい。 The thickness of the lubricating layer 33 is, for example, about 1 μm. The coefficient of friction of the lubricating layer 33 with respect to the contact Pr is smaller than the coefficient of friction of the base portion 34 of the lubricating layer 33 on the plate PL. The lubricating layer 33 can be formed by, for example, vapor deposition of a material with a small coefficient of friction. The magnitude of the coefficient of friction can be compared by either comparing the kinetic friction coefficients with each other or comparing the static friction coefficients with each other.

滑層33の材料としては、例えばパラキシリレン系ポリマーを用いることができ、パリレン(登録商標)、フッ素、ポリエステル、アクリル等、摩擦係数の小さい絶縁材料が好ましい。 The material of the lubricating layer 33 may be, for example, a paraxylylene-based polymer, and preferably is an insulating material with a low coefficient of friction, such as Parylene (registered trademark), fluorine, polyester, or acrylic.

このように、貫通孔Hの内面に滑層33を形成することによって、貫通孔Hと接触子Prとの摩擦を低減することができる。 In this way, by forming a lubricating layer 33 on the inner surface of the through hole H, friction between the through hole H and the contact Pr can be reduced.

なお、接触子Prは、第一支持プレートB2又は補強プレート5a,B2aの第二支持部312側で撓む。そのため、第一支持プレートB2の貫通孔B2H、補強プレートB2aの貫通孔B2H、又は補強プレート5aの貫通孔5Hと接触子Prとの接触圧力が、他の貫通孔Hと接触子Prとの接触圧力よりも大きくなり易く、摩擦が生じやすい。 The contact Pr bends on the side of the first support plate B2 or the second support portion 312 of the reinforcing plate 5a, B2a. Therefore, the contact pressure between the contact Pr and the through hole B2H of the first support plate B2, the through hole B2H of the reinforcing plate B2a, or the through hole 5H of the reinforcing plate 5a tends to be greater than the contact pressure between the contact Pr and other through holes H, and friction is likely to occur.

従って、滑層33は、少なくとも、第一支持プレートB2の貫通孔B2H、補強プレートB2aの貫通孔B2H、又は補強プレート5aの貫通孔5Hの内面に形成されていればよい。 Therefore, the sliding layer 33 needs to be formed at least on the inner surface of the through hole B2H of the first support plate B2, the through hole B2H of the reinforcing plate B2a, or the through hole 5H of the reinforcing plate 5a.

すなわち、本発明の一例に係る検査治具は、棒状の接触子と、前記接触子の一端部側を支持する第一支持部と、前記接触子の他端部側を支持する第二支持部と、前記第一支持部と前記第二支持部とを互いに離間させて保持する離間保持部材とを備え、前記第一支持部は、前記接触子が挿通される貫通孔が形成された支持プレートを備え、前記支持プレートの前記第二支持部に対する対向面には、前記支持プレートよりも曲げ強さが強い補強プレートが配設されている。 That is, an inspection jig according to one embodiment of the present invention comprises a rod-shaped contactor, a first support portion supporting one end side of the contactor, a second support portion supporting the other end side of the contactor, and a spacing member that keeps the first support portion and the second support portion spaced apart from each other, the first support portion comprising a support plate having a through hole through which the contactor is inserted, and a reinforcing plate having a bending strength greater than that of the support plate is disposed on the surface of the support plate facing the second support portion.

この構成によれば、支持プレートの第二支持部に対する対向面には、支持プレートよりも曲げ強さが強い補強プレートが配設されているので、補強プレートによって支持プレートの撓みが低減される。その結果、接触子を支持する支持部である支持プレートに加わるストレスを軽減することが容易となる。 With this configuration, a reinforcing plate with a bending strength greater than that of the support plate is disposed on the surface of the support plate facing the second support portion, so the reinforcing plate reduces the deflection of the support plate. As a result, it becomes easier to reduce the stress applied to the support plate, which is the support portion that supports the contacts.

また、前記第一支持部は、積層された複数の前記支持プレートを含み、前記複数の支持プレートには、前記第二支持部に最も近い支持プレートである第一支持プレートと、前記第一支持プレート以外の支持プレートである第二支持プレートとが含まれ、前記第一支持プレートの前記第二支持部に対する対向面に前記補強プレートが配設されていることが好ましい。 The first support portion includes a plurality of stacked support plates, the plurality of support plates including a first support plate that is the support plate closest to the second support portion, and a second support plate that is a support plate other than the first support plate, and it is preferable that the reinforcing plate is disposed on the surface of the first support plate facing the second support portion.

この構成によれば、複数の支持プレートが積層されて第一支持部が構成されている。そして、接触子は第一支持部と第二支持部の間で大きく撓むので、第一支持部の複数の支持プレートのうち第二支持部に最も近い支持プレートである第一支持プレートが、接触子の撓みによる力を最も受けやすい。この接触子の撓みによる力を最も受けやすい第一支持プレートに補強プレートが配設されている。このように、接触子の撓みによる力を最も受けやすい支持プレートが補強されることによって、支持部に加わるストレスを軽減することが容易となる。 According to this configuration, the first support section is formed by stacking multiple support plates. Since the contactor bends significantly between the first support section and the second support section, the first support plate, which is the support plate closest to the second support section among the multiple support plates in the first support section, is most susceptible to the force caused by the bending of the contactor. A reinforcing plate is disposed on this first support plate, which is most susceptible to the force caused by the bending of the contactor. In this way, by reinforcing the support plate, which is most susceptible to the force caused by the bending of the contactor, it becomes easier to reduce the stress applied to the support section.

また、前記第一支持プレートは、前記第二支持プレートより硬度が軟らかいことが好ましい。 It is also preferable that the first support plate has a lower hardness than the second support plate.

接触子は第一支持部と第二支持部の間で大きく撓むので、接触子が撓んだとき、第二支持プレートの貫通孔と接触子の摩擦よりも、第一支持プレートの貫通孔と接触子の摩擦の方が大きい。そこで、摩擦の大きな第一支持プレートの硬度を第二支持プレートより軟らかくすることによって、接触子が傷つくおそれを低減することが容易となる。 The contactor bends significantly between the first support portion and the second support portion, so when the contactor bends, the friction between the contactor and the through hole in the first support plate is greater than the friction between the contactor and the through hole in the second support plate. Therefore, by making the hardness of the first support plate, which has greater friction, softer than that of the second support plate, it becomes easier to reduce the risk of damaging the contactor.

また、前記第二支持プレートは、前記第一支持プレートより曲げ強さが強いことが好ましい。 It is also preferable that the second support plate has a greater bending strength than the first support plate.

硬度が軟らかい材料は、一般的に曲げ強さが弱い傾向がある。そこで、硬度が軟らかい第一支持プレートと、曲げ強さが強い第二支持プレートとを組み合わせることによって、第一支持部全体の曲げ強さを確保しつつ、接触子が傷つくおそれを低減することが容易となる。 Soft materials generally tend to have weak bending strength. Therefore, by combining a first support plate with a soft hardness and a second support plate with a strong bending strength, it becomes easier to reduce the risk of damaging the contacts while ensuring the bending strength of the entire first support section.

また、同一の接触子が挿通されるように相対応する前記第一支持プレートの前記貫通孔と前記第二支持プレートの前記貫通孔とは、前記第一及び第二支持プレートの垂線に対して前記接触子を傾斜させるように、前記第一支持プレートの前記貫通孔の位置と前記第二支持プレートの前記貫通孔の位置とが、前記垂線の方向に対してずれていることが好ましい。 In addition, it is preferable that the through holes of the first support plate and the through holes of the second support plate, which correspond to each other so that the same contacts can be inserted, are positioned such that the positions of the through holes of the first support plate and the through holes of the second support plate are offset from each other in the direction of the perpendicular line so that the contacts are inclined with respect to the perpendicular line of the first and second support plates.

この構成によれば、第一及び第二支持プレートに空けた貫通孔によって、接触子を傾斜させて支持することが容易となる。 With this configuration, the through holes in the first and second support plates make it easy to support the contacts at an angle.

また、前記第一及び第二支持プレートには、前記貫通孔が複数形成され、前記複数の貫通孔は、所定の第一方向に対応して複数列配置され、かつ前記第一方向と交差する第二方向に対応して複数列配置され、前記貫通孔が等間隔で並ぶ領域内において、前記第一方向に対応する列数は前記第二方向に対応する列数よりも少なく、前記ずれの方向は、前記第一方向に沿うことが好ましい。 Furthermore, the first and second support plates are formed with a plurality of the through holes, the plurality of through holes are arranged in a plurality of rows corresponding to a predetermined first direction and in a plurality of rows corresponding to a second direction intersecting the first direction, and in a region in which the through holes are arranged at equal intervals, the number of rows corresponding to the first direction is less than the number of rows corresponding to the second direction, and the direction of the shift is preferably along the first direction.

この構成によれば、貫通孔のずれの方向は、貫通孔の列数が少ない第一方向に沿う。接触子は貫通孔のずれの方向である第一方向に沿って傾斜するので、接触子は第一方向に沿って撓む。従って、接触子は、貫通孔の列数が少ない、すなわち接触子の列数が少ない方向に撓むので、列数が多い第二方向に沿って撓む場合よりも接触子同士で接触するおそれが低減する。 According to this configuration, the direction of the misalignment of the through holes is along the first direction in which the number of rows of through holes is small. Since the contacts are inclined along the first direction, which is the direction of the misalignment of the through holes, the contacts bend along the first direction. Therefore, the contacts bend in the direction in which the number of rows of through holes is small, i.e., the number of rows of contacts is small, so there is a reduced risk of contact between the contacts compared to when the contacts bend along the second direction in which the number of rows is large.

また、前記第一支持プレートの前記貫通孔における、前記第二支持部側の開口縁部は、面取りされていることが好ましい。 It is also preferable that the opening edge of the through hole of the first support plate on the side of the second support part is chamfered.

この構成によれば、撓んだ接触子との摩擦が生じやすい第二支持部側の開口縁部が面取りされ、滑らかさが増すので、開口縁部との摩擦で接触子が傷つくおそれを低減することが容易である。 With this configuration, the opening edge on the second support side, which is prone to friction with the bent contact, is chamfered to increase smoothness, making it easy to reduce the risk of the contact being damaged by friction with the opening edge.

また、前記第一及び第二支持プレートには、前記貫通孔が複数形成され、前記補強プレートには、開口内に前記第一支持プレートの前記複数の貫通孔を含む領域を含むように開口した開口部が形成されていることが好ましい。 It is also preferable that the first and second support plates have a plurality of through holes, and the reinforcing plate has an opening that is open to include within it an area that includes the plurality of through holes of the first support plate.

この構成によれば、補強プレートには、接触子の数の貫通孔を空ける必要がないので、補強プレートの作成が容易である。 With this configuration, there is no need to drill through holes in the reinforcing plate for the number of contacts, making it easier to create the reinforcing plate.

また、前記第一支持プレートの前記貫通孔の内面には摩擦を軽減するための滑層が形成され、前記滑層の前記接触子に対する摩擦係数は、前記第一支持プレートにおける前記滑層の土台部分の摩擦係数よりも小さいことが好ましい。 In addition, a sliding layer is formed on the inner surface of the through hole of the first support plate to reduce friction, and it is preferable that the friction coefficient of the sliding layer with respect to the contact is smaller than the friction coefficient of the base portion of the sliding layer on the first support plate.

この構成によれば、貫通孔に挿通された接触子と貫通孔内面との摩擦が低減される。 This configuration reduces friction between the contact inserted into the through hole and the inner surface of the through hole.

また、前記第一支持プレートの前記貫通孔における、前記第二支持部側の開口縁部は、面取りされた面取部とされており、前記貫通孔における前記面取部を含む内面のうち、前記面取部を除く部分である貫通孔本体部及び前記面取部の少なくとも一方には、摩擦を軽減するための滑層が形成され、前記滑層の前記接触子に対する摩擦係数は、前記第一支持プレートにおける前記滑層の土台部分の摩擦係数よりも小さいことが好ましい。 The opening edge of the through hole of the first support plate on the side of the second support part is chamfered, and a slip layer is formed on at least one of the through hole body part and the chamfered part, which is the part of the inner surface of the through hole including the chamfered part, excluding the chamfered part, and the chamfered part, to reduce friction, and it is preferable that the friction coefficient of the slip layer with respect to the contact is smaller than the friction coefficient of the base part of the slip layer in the first support plate.

この構成によれば、貫通孔内の、貫通孔本体部及び面取部の少なくとも一方と、接触子との摩擦を軽減することができる。 This configuration reduces friction between the contact and at least one of the through-hole body and the chamfered portion inside the through-hole.

また、一又は複数の前記支持プレートには、前記貫通孔が複数形成され、前記補強プレートには、前記一又は複数の支持プレートのうち前記第二支持部に最も近い支持プレートである対向支持プレートの前記複数の貫通孔に対して一対一で対応する複数の貫通孔が形成されていることが好ましい。 It is also preferable that the one or more support plates have a plurality of the through holes formed therein, and the reinforcing plate has a plurality of through holes formed therein that correspond one-to-one to the plurality of through holes of the opposing support plate, which is the support plate among the one or more support plates that is closest to the second support portion.

この構成によれば、支持プレートに貫通孔が形成されている領域についても、補強プレートで補強することができるので、接触子を支持する支持部に加わるストレスを軽減する効果が向上する。 With this configuration, the area where the through holes are formed in the support plate can also be reinforced with the reinforcing plate, improving the effect of reducing stress on the support part that supports the contact.

また、同一の接触子が挿通されるように相対応する前記補強プレートの前記貫通孔と前記対向支持プレートの前記貫通孔とは、前記補強プレート及び前記対向支持プレートの垂線に対して前記接触子を傾斜させるように、前記補強プレートの前記貫通孔の位置と前記対向支持プレートの前記貫通孔の位置とが、前記垂線の方向に対してずれていることが好ましい。 In addition, it is preferable that the through holes of the reinforcing plate and the through holes of the opposing support plate, which correspond to each other so that the same contacts can be inserted, are offset from each other in the direction of the perpendicular line so that the contacts are inclined relative to the perpendicular line between the reinforcing plate and the opposing support plate.

この構成によれば、補強プレート及び対向支持プレートに空けた貫通孔によって、接触子を傾斜させて支持することが容易となる。 This configuration makes it easy to support the contacts at an angle using the through holes in the reinforcing plate and the opposing support plate.

また、前記補強プレート及び前記対向支持プレートの前記複数の貫通孔は、所定の第一方向に対応して複数列配置され、かつ前記第一方向と交差する第二方向に対応して複数列配置され、前記第一方向に対応する列数は、前記第二方向に対応する列数よりも少なく、前記ずれの方向は、前記第一方向に沿うことが好ましい。 Furthermore, it is preferable that the through holes of the reinforcing plate and the opposing support plate are arranged in multiple rows corresponding to a predetermined first direction and in multiple rows corresponding to a second direction intersecting the first direction, the number of rows corresponding to the first direction is less than the number of rows corresponding to the second direction, and the direction of the misalignment is along the first direction.

この構成によれば、貫通孔のずれの方向は、貫通孔の列数が少ない第一方向に沿う。接触子は貫通孔のずれの方向である第一方向に沿って傾斜するので、接触子は第一方向に沿って撓む。従って、接触子は、貫通孔の列数が少ない、すなわち接触子の列数が少ない方向に撓むので、列数が多い第二方向に沿って撓む場合よりも接触子同士で接触するおそれが低減する。 According to this configuration, the direction of the misalignment of the through holes is along the first direction in which the number of rows of through holes is small. Since the contacts are inclined along the first direction, which is the direction of the misalignment of the through holes, the contacts bend along the first direction. Therefore, the contacts bend in the direction in which the number of rows of through holes is small, i.e., the number of rows of contacts is small, so there is a reduced risk of contact between the contacts compared to when the contacts bend along the second direction in which the number of rows is large.

また、前記補強プレートの前記貫通孔における、前記第二支持部側の開口縁部は、面取りされていることが好ましい。 It is also preferable that the opening edge of the through hole of the reinforcing plate on the second support part side is chamfered.

この構成によれば、撓んだ接触子との摩擦が生じやすい第二支持部側の開口縁部が面取りされ、滑らかさが増すので、開口縁部との摩擦で接触子が傷つくおそれを低減することが容易である。 With this configuration, the opening edge on the second support side, which is prone to friction with the bent contact, is chamfered to increase smoothness, making it easy to reduce the risk of the contact being damaged by friction with the opening edge.

また、前記補強プレートの前記貫通孔の内面には摩擦を軽減するための滑層が形成され、前記滑層の前記接触子に対する摩擦係数は、前記補強プレートにおける前記滑層の土台部分の摩擦係数よりも小さいことが好ましい。 In addition, a sliding layer is formed on the inner surface of the through hole of the reinforcing plate to reduce friction, and it is preferable that the friction coefficient of the sliding layer with respect to the contact is smaller than the friction coefficient of the base portion of the sliding layer on the reinforcing plate.

この構成によれば、貫通孔に挿通された接触子と貫通孔内面との摩擦が低減される。 This configuration reduces friction between the contact inserted into the through hole and the inner surface of the through hole.

また、前記補強プレートの前記貫通孔における、前記第二支持部側の開口縁部は、面取りされた面取部とされており、前記貫通孔における前記面取部を含む内面のうち、前記面取部を除く部分である貫通孔本体部及び前記面取部の少なくとも一方には、摩擦を軽減するための滑層が形成され、前記滑層の前記接触子に対する摩擦係数は、前記補強プレートにおける前記滑層の土台部分の摩擦係数よりも小さいことが好ましい。 The opening edge of the through hole of the reinforcing plate on the side of the second support part is chamfered, and a slip layer for reducing friction is formed on at least one of the through hole main body part and the chamfered part, which are the parts of the inner surface including the chamfered part of the through hole excluding the chamfered part, and the slip layer has a smaller friction coefficient with respect to the contact than the friction coefficient of the base part of the slip layer in the reinforcing plate.

この構成によれば、貫通孔内の、貫通孔本体部及び面取部の少なくとも一方と、接触子との摩擦を軽減することができる。 This configuration reduces friction between the contact and at least one of the through-hole body and the chamfered portion inside the through-hole.

本発明の一例に係る検査装置は、上述の検査治具と、前記接触子を検査対象物に設けられた検査点に接触させることにより得られる電気信号に基づき、前記検査対象物の検査を行う検査処理部とを備える。 An inspection device according to one embodiment of the present invention includes the above-mentioned inspection tool and an inspection processing unit that inspects the object to be inspected based on an electrical signal obtained by contacting the contactor with an inspection point provided on the object to be inspected.

この構成によれば、検査に用いる検査治具において、接触子を支持する支持部に加わるストレスを軽減することが容易となる。 This configuration makes it easier to reduce the stress applied to the support part that supports the contacts in the inspection jig used for inspection.

1 検査装置
3,3a,3U,3D 検査治具
4,4U,4D 検査部
5,5a,B2a 補強プレート
5C 開口部
6 基板固定装置
7 離間保持部材
8 検査処理部
31,31a 支持部材
100 基板(検査対象物)
311,311a 第一支持部
312 第二支持部
321 ベースプレート
A,A2,A3 支持プレート
H,5H,AH,A2H,A3H,B2H,C1H,DH,E1H,E2H 貫通孔
B 離間ブロック
B2 第一支持プレート(支持プレート,対向支持プレート)
C1 第二支持プレート(支持プレート,対向支持プレート)
D,E1,E2 第二支持プレート(支持プレート)
H1,H2 開口縁部(面取部)
P1 第一領域
P2 第二領域
PL プレート
PLH 貫通孔
Pr 接触子
S スペーサ
Reference Signs List 1 Inspection device 3, 3a, 3U, 3D Inspection jig 4, 4U, 4D Inspection section 5, 5a, B2a Reinforcement plate 5C Opening 6 Substrate fixing device 7 Spacing member 8 Inspection processing section 31, 31a Support member 100 Substrate (inspection object)
311, 311a First support portion 312 Second support portion 321 Base plate A, A2, A3 Support plate H, 5H, AH, A2H, A3H, B2H, C1H, DH, E1H, E2H Through hole B Separator block B2 First support plate (support plate, opposing support plate)
C1 Second support plate (support plate, opposing support plate)
D, E1, E2 Second support plate (support plate)
H1, H2 Opening edge (chamfered part)
P1 First region P2 Second region PL Plate PLH Through hole Pr Contact S Spacer

Claims (15)

棒状の接触子と、
前記接触子の一端部側を支持する第一支持部と、
前記接触子の他端部側を支持する第二支持部と、
前記第一支持部と前記第二支持部とを互いに離間させて保持する離間保持部材とを備え、
前記第一支持部は、前記接触子が挿通される貫通孔が形成された支持プレートを備え
前記第一支持部は、積層された複数の前記支持プレートを含み、
前記複数の支持プレートには、前記第二支持部に最も近い前記支持プレートである第一支持プレートと、前記第一支持プレート以外の前記支持プレートである第二支持プレートとが含まれ、
前記第一支持プレートの前記第二支持部に対する対向面には、前記支持プレートよりも曲げ強さが強い補強プレートが配設され、
前記第一支持プレートは、前記第二支持プレートより硬度が軟らかい、検査治具。
A rod-shaped contact;
A first support portion that supports one end side of the contact;
A second support portion that supports the other end side of the contact;
a spacing member that keeps the first support portion and the second support portion apart from each other,
the first support portion includes a support plate having a through hole through which the contact is inserted ,
The first support portion includes a plurality of the support plates stacked together,
The plurality of support plates include a first support plate that is the support plate closest to the second support portion, and a second support plate that is the support plate other than the first support plate,
a reinforcing plate having a bending strength greater than that of the support plate is disposed on a surface of the first support plate facing the second support portion,
The first support plate has a hardness lower than that of the second support plate.
棒状の接触子と、
前記接触子の一端部側を支持する第一支持部と、
前記接触子の他端部側を支持する第二支持部と、
前記第一支持部と前記第二支持部とを互いに離間させて保持する離間保持部材とを備え、
前記第一支持部は、前記接触子が挿通される貫通孔が形成された支持プレートを備え
前記第一支持部は、積層された複数の前記支持プレートを含み、
前記複数の支持プレートには、前記第二支持部に最も近い前記支持プレートである第一支持プレートと、前記第一支持プレート以外の前記支持プレートである第二支持プレートとが含まれ、
前記第一支持プレートの前記第二支持部に対する対向面には、前記支持プレートよりも曲げ強さが強い補強プレートが配設され、
前記第二支持プレートは、前記第一支持プレートより曲げ強さが強い、検査治具。
A rod-shaped contact;
A first support portion that supports one end side of the contact;
A second support portion that supports the other end side of the contact;
a spacing member that keeps the first support portion and the second support portion apart from each other,
the first support portion includes a support plate having a through hole through which the contact is inserted ,
The first support portion includes a plurality of the support plates stacked together,
The plurality of support plates include a first support plate that is the support plate closest to the second support portion, and a second support plate that is the support plate other than the first support plate,
a reinforcing plate having a bending strength greater than that of the support plate is disposed on a surface of the first support plate facing the second support portion,
The second support plate has a bending strength greater than that of the first support plate.
同一の接触子が挿通されるように相対応する前記第一支持プレートの前記貫通孔と前記第二支持プレートの前記貫通孔とは、前記第一及び第二支持プレートの垂線に対して前記接触子を傾斜させるように、前記第一支持プレートの前記貫通孔の位置と前記第二支持プレートの前記貫通孔の位置とが、前記垂線の方向に対してずれている請求項1又は2に記載の検査治具。 3. An inspection jig as described in claim 1 or 2, wherein the through holes of the first support plate and the through holes of the second support plate correspond to each other so that the same contact can be inserted therethrough, and the positions of the through holes of the first support plate and the through holes of the second support plate are offset relative to the direction of the perpendicular line so that the contact is inclined relative to the perpendicular line of the first and second support plates. 前記第一及び第二支持プレートには、前記貫通孔が複数形成され、
前記複数の貫通孔は、所定の第一方向に対応して複数列配置され、かつ前記第一方向と交差する第二方向に対応して複数列配置され、前記貫通孔が等間隔で並ぶ領域内において、前記第一方向に対応する列数は前記第二方向に対応する列数よりも少なく、
前記ずれの方向は、前記第一方向に沿う請求項に記載の検査治具。
The first and second support plates are formed with a plurality of the through holes,
the plurality of through holes are arranged in a plurality of rows corresponding to a predetermined first direction and in a plurality of rows corresponding to a second direction intersecting the first direction, and in a region in which the through holes are arranged at equal intervals, the number of rows corresponding to the first direction is smaller than the number of rows corresponding to the second direction;
The inspection tool according to claim 3 , wherein the direction of the deviation is along the first direction.
前記第一支持プレートの前記貫通孔における、前記第二支持部側の開口縁部は、面取りされている請求項1~4のいずれか1項に記載の検査治具。 The inspection jig according to any one of claims 1 to 4 , wherein an opening edge portion of the through hole of the first support plate on the side of the second support portion is chamfered. 前記第一及び第二支持プレートには、前記貫通孔が複数形成され、
前記補強プレートには、開口内に前記第一支持プレートの前記複数の貫通孔を含む領域を含むように開口した開口部が形成されている請求項1又は2に記載の検査治具。
The first and second support plates are formed with a plurality of the through holes,
The inspection jig according to claim 1 or 2 , wherein the reinforcing plate has an opening formed therein, the opening being open so as to include within a region including the plurality of through holes of the first support plate.
前記第一支持プレートの前記貫通孔の内面には摩擦を軽減するための滑層が形成され、
前記滑層の前記接触子に対する摩擦係数は、前記第一支持プレートにおける前記滑層の土台部分の摩擦係数よりも小さい請求項1~6のいずれか1項に記載の検査治具。
A slip layer is formed on the inner surface of the through hole of the first support plate to reduce friction,
7. An inspection jig according to claim 1, wherein the coefficient of friction of the sliding layer with respect to the contact is smaller than the coefficient of friction of a base portion of the sliding layer on the first support plate.
前記第一支持プレートの前記貫通孔における、前記第二支持部側の開口縁部は、面取りされた面取部とされており、
前記貫通孔における前記面取部を含む内面のうち、前記面取部を除く部分である貫通孔本体部及び前記面取部の少なくとも一方には、摩擦を軽減するための滑層が形成され、
前記滑層の前記接触子に対する摩擦係数は、前記第一支持プレートにおける前記滑層の土台部分の摩擦係数よりも小さい請求項に記載の検査治具。
An opening edge portion of the through hole of the first support plate on the second support portion side is a chamfered portion,
A slip layer for reducing friction is formed on at least one of the through hole main body portion and the chamfered portion, which is a portion of the inner surface including the chamfered portion of the through hole excluding the chamfered portion,
8. The inspection jig according to claim 7 , wherein the coefficient of friction of the sliding layer with respect to the contact is smaller than the coefficient of friction of a base portion of the sliding layer on the first support plate.
前記支持プレートには、前記貫通孔が複数形成され、
前記補強プレートには、前記第一支持プレートの前記複数の貫通孔に対して一対一で対応する複数の貫通孔が形成されている請求項1~5のいずれか1項に記載の検査治具。
The support plate has a plurality of through holes formed therein,
The inspection jig according to any one of claims 1 to 5 , wherein the reinforcing plate is formed with a plurality of through holes that correspond one-to-one to the plurality of through holes of the first support plate.
同一の接触子が挿通されるように相対応する前記補強プレートの前記貫通孔と前記第一支持プレートの前記貫通孔とは、前記補強プレート及び前記第一支持プレートの垂線に対して前記接触子を傾斜させるように、前記補強プレートの前記貫通孔の位置と前記第一支持プレートの前記貫通孔の位置とが、前記垂線の方向に対してずれている請求項に記載の検査治具。 The inspection jig described in claim 9, wherein the through holes of the reinforcing plate and the through holes of the first support plate correspond to each other so that the same contact is inserted therethrough, and the positions of the through holes of the reinforcing plate and the through holes of the first support plate are offset relative to the direction of the perpendicular line so that the contact is inclined relative to the perpendicular line of the reinforcing plate and the first support plate . 前記補強プレート及び前記第一支持プレートの前記複数の貫通孔は、所定の第一方向に対応して複数列配置され、かつ前記第一方向と交差する第二方向に対応して複数列配置され、前記第一方向に対応する列数は、前記第二方向に対応する列数よりも少なく、
前記ずれの方向は、前記第一方向に沿う請求項10に記載の検査治具。
the plurality of through holes of the reinforcing plate and the first support plate are arranged in a plurality of rows corresponding to a predetermined first direction and in a plurality of rows corresponding to a second direction intersecting the first direction, the number of rows corresponding to the first direction being less than the number of rows corresponding to the second direction,
The inspection tool according to claim 10 , wherein the direction of the deviation is along the first direction.
前記補強プレートの前記貫通孔における、前記第二支持部側の開口縁部は、面取りされている請求項9~11のいずれか1項に記載の検査治具。 The inspection jig according to any one of claims 9 to 11 , wherein an opening edge portion of the through hole of the reinforcing plate on the second support portion side is chamfered. 前記補強プレートの前記貫通孔の内面には摩擦を軽減するための滑層が形成され、
前記滑層の前記接触子に対する摩擦係数は、前記補強プレートにおける前記滑層の土台部分の摩擦係数よりも小さい請求項9~12のいずれか1項に記載の検査治具。
A slip layer is formed on the inner surface of the through hole of the reinforcing plate to reduce friction,
13. The inspection jig according to claim 9, wherein the coefficient of friction of the sliding layer with respect to the contact is smaller than the coefficient of friction of a base portion of the sliding layer in the reinforcing plate.
前記補強プレートの前記貫通孔における、前記第二支持部側の開口縁部は、面取りされた面取部とされており、
前記貫通孔における前記面取部を含む内面のうち、前記面取部を除く部分である貫通孔本体部及び前記面取部の少なくとも一方には、摩擦を軽減するための滑層が形成され、
前記滑層の前記接触子に対する摩擦係数は、前記補強プレートにおける前記滑層の土台部分の摩擦係数よりも小さい請求項12に記載の検査治具。
An opening edge portion of the through hole of the reinforcing plate on the second support portion side is a chamfered portion,
A slip layer for reducing friction is formed on at least one of the through hole main body portion and the chamfered portion, which is a portion of the inner surface including the chamfered portion of the through hole excluding the chamfered portion,
13. The inspection jig according to claim 12 , wherein the coefficient of friction of the sliding layer with respect to the contact is smaller than the coefficient of friction of a base portion of the sliding layer on the reinforcing plate.
請求項1~14のいずれか1項に記載の検査治具と、
前記接触子を検査対象物に設けられた検査点に接触させることにより得られる電気信号に基づき、前記検査対象物の検査を行う検査処理部とを備える検査装置。
An inspection tool according to any one of claims 1 to 14 ,
and an inspection processing unit that inspects the object to be inspected based on an electrical signal obtained by bringing the contactor into contact with an inspection point provided on the object to be inspected.
JP2020131206A 2020-04-10 2020-07-31 Inspection fixtures and inspection equipment Active JP7615558B2 (en)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020227039224A KR20230033640A (en) 2020-07-31 2021-04-19 Inspection jig and inspection device
PCT/JP2021/015923 WO2021206185A1 (en) 2020-04-10 2021-04-19 Inspection jig and inspection device
CN202180027269.7A CN115398245A (en) 2020-07-31 2021-04-19 Inspection jig and inspection device
TW110114003A TWI887398B (en) 2020-04-10 2021-04-19 Inspection fixture and inspection device
US17/917,950 US12158480B2 (en) 2020-04-10 2021-04-19 Inspection jig and inspection device
JP2024229933A JP2025060877A (en) 2020-04-10 2024-12-26 Inspection fixtures and inspection equipment

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020071031 2020-04-10
JP2020071031 2020-04-10

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2024229933A Division JP2025060877A (en) 2020-04-10 2024-12-26 Inspection fixtures and inspection equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2021167801A JP2021167801A (en) 2021-10-21
JP7615558B2 true JP7615558B2 (en) 2025-01-17

Family

ID=78079891

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020131206A Active JP7615558B2 (en) 2020-04-10 2020-07-31 Inspection fixtures and inspection equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7615558B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US12158480B2 (en) * 2020-04-10 2024-12-03 Nidec Read Corporation Inspection jig and inspection device

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007271631A (en) 2007-06-04 2007-10-18 Mitsubishi Electric Corp Probe card for wafer test
JP2008249460A (en) 2007-03-30 2008-10-16 Yokowo Co Ltd Inspection tool equipped with probe
JP2016006401A (en) 2014-06-20 2016-01-14 日本電子材料株式会社 Guide member holding the probe
WO2018021140A1 (en) 2016-07-28 2018-02-01 日本電産リード株式会社 Inspection jig, substrate inspection device provided with same, and method for manufacturing inspection jig

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3394620B2 (en) * 1995-01-20 2003-04-07 株式会社日立製作所 Probe assembly and inspection device

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008249460A (en) 2007-03-30 2008-10-16 Yokowo Co Ltd Inspection tool equipped with probe
JP2007271631A (en) 2007-06-04 2007-10-18 Mitsubishi Electric Corp Probe card for wafer test
JP2016006401A (en) 2014-06-20 2016-01-14 日本電子材料株式会社 Guide member holding the probe
WO2018021140A1 (en) 2016-07-28 2018-02-01 日本電産リード株式会社 Inspection jig, substrate inspection device provided with same, and method for manufacturing inspection jig

Also Published As

Publication number Publication date
JP2021167801A (en) 2021-10-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102240208B1 (en) Inspection jig, and inspection device
JP7647984B2 (en) Inspection fixtures and inspection equipment
US10962569B2 (en) Probe, inspection jig, inspection device, and method of manufacturing probe
TWI821332B (en) Inspection jig, and inspection apparatus
TWI829696B (en) Probe, inspection jig, inspection device and method of manufacturing probe
JP7444077B2 (en) Contact terminals, inspection jigs, and inspection equipment
KR20180111834A (en) Contact terminal, inspection jig, and inspection apparatus
JP7619281B2 (en) Contact, inspection tool, inspection device, and method for manufacturing contact
JP7615558B2 (en) Inspection fixtures and inspection equipment
WO2017208690A1 (en) Contact conduction jig and inspection device
KR20230033640A (en) Inspection jig and inspection device
JP2025060877A (en) Inspection fixtures and inspection equipment
TWI918684B (en) Inspection fixtures and inspection devices
JP2023098195A (en) Contact probe and inspection jig
JP7582196B2 (en) Inspection fixtures and inspection equipment
JP2024064692A (en) Contact pin and electrical connection device
JP2025165642A (en) Probe Device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20230731

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20230731

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20240702

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20240822

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20240917

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20241111

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20241203

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20241216

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7615558

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150