JP7618779B2 - 基板の化学及び/又は電解表面処理中に基板を保持するメッキフレーム装置 - Google Patents
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Description
- 前面板、
- 背面板、及び
- 真空装置
を備える。
- 前面開口部を取り囲む前面フレーム部を前面板に供する段階と、
- 背面フレーム部を背面板に供する段階と、
- 前記前面フレーム部と前記背面フレーム部との間に基板を挿入して、前記基板が前記前面フレーム部と前記背面フレーム部との間で保持されるようにする段階と、
- 前記前面フレーム部と前記背面フレーム部との間の内圧を周辺圧力未満に減圧することで前記背面フレーム部に対して前記前面フレーム部を取り付ける段階を有する。
Claims (14)
- 基板の化学及び/又は電解表面処理中に前記基板を保持するメッキフレーム装置であって、
- 前面板、
- 背面板、
- 電気コンタクト部、及び
- 真空装置を備え、
前記前面板は、前面開口部を取り囲む前面フレーム部を含み、
前記背面板は、背面フレーム部を含み、
前記前面フレーム部及び前記背面フレーム部は相互に接続されることで、前記前面フレーム部と前記背面フレーム部との間で前記基板を保持し、
前記真空装置は、前記前面フレーム部と前記背面フレーム部との間での内圧を周辺圧力未満に減圧することで、前記背面フレーム部に対して前記前面フレーム部を取り付けるように構成される、
前記電気コンタクト部は、前記前面フレーム部及び前記背面フレーム部に配置され、
前記電気コンタクト部は指形であり、
前記前面フレーム部での前記電気コンタクト部は第1方向を有し、前記背面フレーム部での前記の指形の電気コンタクト部は第2方向を有し、
前記前面フレーム部での前記の指形の電気コンタクト部及び前記背面フレーム部での前記の指形の電気コンタクト部が上面視において互いに交差するように、前記第1方向及び前記第2方向は交差する、
前記上面視は、前記前面板又は前記背面板にわたり、前記前面板及び前記背面板の前後軸に対して平行である、
メッキフレーム装置。 - 請求項1に記載のメッキフレーム装置であって、前記真空装置は、当該メッキフレーム装置内に配置された内部減圧源又は当該メッキフレーム装置外部に配置される外部減圧源に接続されるように構成される真空接続ラインを備える、メッキフレーム装置。
- 請求項1又は2に記載のメッキフレーム装置であって、前記背面フレーム部は背面開口部を取り囲む、メッキフレーム装置。
- 請求項3に記載のメッキフレーム装置であって、前記電気コンタクト部は、前記前面フレーム部から前記前面開口部へ及び/又は前記背面フレーム部から前記背面開口部へ入り込むように延在する、メッキフレーム装置。
- 請求項1~4のいずれか一項に記載のメッキフレーム装置であって、
前記電気コンタクト部は、前記前面フレーム部と前記背面フレーム部に設けられ、
前記前面フレーム部での前記電気コンタクト部は、前記背面フレーム部での前記電気コンタクト部に対してずれている、
メッキフレーム装置。 - 請求項1~5のいずれか一項に記載のメッキフレーム装置であって、前記電気コンタクト部はばねによる負荷を受ける、メッキフレーム装置。
- 請求項1~6のいずれか一項に記載のメッキフレーム装置であって、前記電気コンタクト部を封止する封止部を前記前面フレーム部及び/又は前記背面フレーム部にさらに備える、メッキフレーム装置。
- 請求項1~7のいずれか一項に記載のメッキフレーム装置であって、前記前面フレーム部及び前記背面フレーム部が1つになった厚さは15mm以下である、メッキフレーム装置。
- 請求項1~8のいずれか一項に記載のメッキフレーム装置であって、前記前面フレーム部及び/又は前記背面フレーム部は、降伏強度が500MPa以下で、電気伝導度が2×106S/m以上で、かつ/あるいは、熱伝導度が65W/mK以上の材料で作られる、メッキフレーム装置。
- 請求項1~9のいずれか一項に記載のメッキフレーム装置であって、前記背面フレーム部に対して前記前面フレーム部をロックするように前記前面板及び/又は前記背面板に配置されるロック装置をさらに備える、メッキフレーム装置。
- 請求項1~10のいずれか一項に記載のメッキフレーム装置であって、前記の指形の電気コンタクト部と対応するフレーム部の隣接する縁部とがなす角は10°~80°である、メッキフレーム装置。
- 請求項1~11のいずれか一項に記載のメッキフレーム装置と前記基板の無接触保持用のハンドリング装置を備えるメッキフレームシステムであって、
前記ハンドリング装置は、当該メッキフレーム装置に対して前記基板を動かすように前記前面板及び/又は前記背面板に対して移動可能である、
メッキフレームシステム。 - 請求項12に記載のメッキフレームシステムであって、前記基板の所定の保持部分に触れて保持するように構成されるハンドリングアームをさらに備え、
前記ハンドリングアームは、当該メッキフレーム装置に対して前記基板を移動させるように前記前面板及び/又は前記背面板に対して移動可能である、
メッキフレームシステム。 - 基板の化学及び/又は電解表面処理中に前記基板を保持するメッキフレーム装置の組立方法であって、
- 前面開口部を取り囲む前面フレーム部を前面板に供する段階と、
- 背面フレーム部を背面板に供する段階と、
- 電気コンタクト部を前記前面フレーム部及び前記背面フレーム部に配置する段階と、
- 前記前面フレーム部と前記背面フレーム部との間に基板を挿入して、前記基板が前記前面フレーム部と前記背面フレーム部との間で保持されるようにする段階と、
- 前記前面フレーム部と前記背面フレーム部との間の内圧を周辺圧力未満に減圧することで前記背面フレーム部に対して前記前面フレーム部を取り付ける段階を有し、
前記電気コンタクト部は指形であり、前記前面フレーム部での前記電気コンタクト部は第1方向を有し、前記背面フレーム部での前記の指形の電気コンタクト部は第2方向を有し、
前記前面フレーム部での前記の指形の電気コンタクト部及び前記背面フレーム部での前記の指形の電気コンタクト部が上面視において互いに交差するように、前記第1方向及び前記第2方向は交差する、
前記上面視は、前記前面板又は前記背面板にわたり、前記前面板及び前記背面板の前後軸に対して平行である、
方法。
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Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000199099A (ja) | 1998-12-28 | 2000-07-18 | Ngk Spark Plug Co Ltd | プリント基板の電解メッキ用治具 |
| JP2004076072A (ja) | 2002-08-13 | 2004-03-11 | Ebara Corp | 基板ホルダ、めっき装置及びめっき方法 |
| JP2007131931A (ja) | 2005-11-11 | 2007-05-31 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | プリント配線板用めっき冶具 |
| US20090090631A1 (en) | 2007-10-03 | 2009-04-09 | Emat Technology, Llc | Substrate holder and electroplating system |
| JP6481910B2 (ja) | 2015-05-25 | 2019-03-13 | 株式会社村田製作所 | 電気めっき用治具及び電気めっき方法 |
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|---|---|---|---|---|
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| US6855037B2 (en) * | 2001-03-12 | 2005-02-15 | Asm-Nutool, Inc. | Method of sealing wafer backside for full-face electrochemical plating |
| EP2746432A1 (en) * | 2012-12-20 | 2014-06-25 | Atotech Deutschland GmbH | Device for vertical galvanic metal deposition on a substrate |
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Patent Citations (6)
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|---|---|---|---|---|
| JP2000199099A (ja) | 1998-12-28 | 2000-07-18 | Ngk Spark Plug Co Ltd | プリント基板の電解メッキ用治具 |
| JP2004076072A (ja) | 2002-08-13 | 2004-03-11 | Ebara Corp | 基板ホルダ、めっき装置及びめっき方法 |
| JP2007131931A (ja) | 2005-11-11 | 2007-05-31 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | プリント配線板用めっき冶具 |
| US20090090631A1 (en) | 2007-10-03 | 2009-04-09 | Emat Technology, Llc | Substrate holder and electroplating system |
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