Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP7621153B2 - 絶縁劣化判定装置および絶縁劣化判定方法 - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP7621153B2 - 絶縁劣化判定装置および絶縁劣化判定方法 - Google Patents

絶縁劣化判定装置および絶縁劣化判定方法 Download PDF

Info

Publication number
JP7621153B2
JP7621153B2 JP2021055593A JP2021055593A JP7621153B2 JP 7621153 B2 JP7621153 B2 JP 7621153B2 JP 2021055593 A JP2021055593 A JP 2021055593A JP 2021055593 A JP2021055593 A JP 2021055593A JP 7621153 B2 JP7621153 B2 JP 7621153B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
insulation deterioration
frequency spectrum
line
analysis
noise signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2021055593A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2022152723A (ja
Inventor
文移 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kawamura Electric Inc
Original Assignee
Kawamura Electric Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kawamura Electric Inc filed Critical Kawamura Electric Inc
Priority to JP2021055593A priority Critical patent/JP7621153B2/ja
Publication of JP2022152723A publication Critical patent/JP2022152723A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7621153B2 publication Critical patent/JP7621153B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Testing Relating To Insulation (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Description

本発明は、絶縁劣化判定装置および絶縁劣化判定方法に関する。
従来、トラッキング現象に代表される絶縁劣化を検出する技術として、例えば、下記の特許文献1に記載がある。
特許文献1では、検出手段によって検出した微小電流に基づき、判断手段によって、電荷演算手段の演算結果、発生頻度監視手段による発生頻度数値、およびレベル演算手段による演算結果のうち少なくとも2つが閾値を超えたら、トラッキング放電発生と判断して報知信号を出力するように構成された装置が開示されている。
特開2004-279205号公報
しかしながら、線路上のノイズ信号は様々な要因の影響を受けやすいため、従来技術では、線路間に発生する絶縁劣化を判定する精度に改善の余地があった。
そこで、本発明は、絶縁劣化を精度良く判定することが可能な絶縁劣化判定装置および絶縁劣化判定方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の絶縁劣化判定装置は、
線路上のノイズ信号を取得する取得部と、
前記ノイズ信号を用いて周波数軸上のデータである周波数スペクトルを算出し、当該周波数スペクトルに基づいて、線路間に絶縁劣化が発生しているか否かを判定するための解析を行う解析部と、
を備える。
上記構成によれば、線路上のノイズ信号を周波数スペクトルに算出して、周波数スペクトルに基づいて絶縁劣化が発生しているか否かを判定する。このため、線路間に発生する絶縁劣化とは直接的な関係性が低い環境要因をノイズ信号から区別しやすくなり、絶縁劣化に起因するノイズ成分の特徴を捉えやすくなるため、絶縁劣化を精度良く判定することが可能となる。
また、本発明の絶縁劣化判定方法は、
線路上のノイズ信号を取得する取得工程と、
前記ノイズ信号を用いて周波数軸上のデータである周波数スペクトルを算出し、当該周波数スペクトルに基づいて、線路間に絶縁劣化が発生したか否かを判定するための解析を行う解析工程と、
を有する。
上記方法によれば、絶縁劣化判定装置と同様に、線路間に発生する絶縁劣化とは直接的な関係性が低い環境要因をノイズ信号から区別しやすくなり、絶縁劣化に起因するノイズ成分の特徴を捉えやすくなるため、絶縁劣化を精度良く判定することが可能となる。
本発明の絶縁劣化判定装置および絶縁劣化判定方法によれば、絶縁劣化を精度良く判定することができる。
本発明の実施形態に係る絶縁劣化判定装置の構成を示すブロック図である。 絶縁劣化判定装置の取得部の構成を示すブロック図である。 (a)は絶縁劣化が発生していないときの周波数スペクトル、(b)は絶縁劣化が発生しているときの周波数スペクトルを示す図である。 一日の電力消費量の一例を示す図である。
以下、本発明に係る絶縁劣化判定装置の実施形態について図面を参照して説明する。
図1は、本実施形態の絶縁劣化判定装置1の構成を示すブロック図である。図1に示すように、絶縁劣化判定装置1は、取得部2と、解析部3と、電流計測部4と、設定部5と、を備える。絶縁劣化判定装置1は、例えば、各家庭に設置されている分電盤Dに組み込まれる。
なお、本実施形態では、各家庭へ電気を供給する配電方式として単相3線式について説明する。単相3線式は、3本の芯線として第一電圧線L1と、中性線Nと、第二電圧線L2とを有する。第一電圧線L1、中性線N、及び第二電圧線L2によって形成される線路を介して、負荷P(電子機器等)に対して、例えば、電源周波数50Hz/60Hzの商用電力が供給される。また、本実施形態では、「線路」とは、第一電圧線L1、中性線N、及び第二電圧線L2によって形成される線路に限定されず、負荷として接続される電子機器等の内部の配線なども含む。
取得部2は、分電盤D内の第一電圧線L1、中性線N、及び第二電圧線L2に接続されている。取得部2は、線路(第一電圧線L1、中性線N、第二電圧線L2、及び負荷配線)上のノイズ信号を取得する。取得部2は、例えば、第一電圧線L1と中性線Nとの線路間のノイズ信号と、第二電圧線L2と中性線Nとの線路間のノイズ信号とを取得し、取得したこれらのノイズ信号を解析部3へ送信する。取得部2の詳しい構成については、図2で後述する。
解析部3は、少なくとも一つの電子制御ユニット(MCU:Micro Control Unit)により構成されている。電子制御ユニットは、1以上のプロセッサおよびメモリを備えるコンピュータシステム(例えば、SoC(System on a Chip)等)と、トランジスタ等のアクティブ素子および抵抗等のパッシブ素子から構成される電子回路とを含む。解析部3は、記憶部31と、比較部32と、判定部33と、を備える。
解析部3は、取得部2から受信したノイズ信号を高速フーリエ変換(Fast Fourier Transform)により周波数分析して、周波数軸上のデータである周波数スペクトルを算出する。解析部3は、算出した周波数スペクトルに基づいて、線路間(第一電圧線L1-中性線N、第二電圧線L2-中性線N)に絶縁劣化が発生しているか否かを判定するための解析を行う。
記憶部31には、例えば、線路間(第一電圧線L1-中性線Nまたは第二電圧線L2-中性線N)に絶縁劣化が発生していないテスト環境下で取得された、すなわち絶縁劣化に起因するノイズ成分が含まれていないテスト信号に基づいて算出される比較用周波数スペクトルが記憶されている。
比較部32は、例えば、第一電圧線L1と中性線Nとの線路間のノイズ信号から算出される第一周波数スペクトルのレベル及び第二電圧線L2と中性線Nとの線路間のノイズ信号から算出された第二周波数スペクトルのレベルと、所定の閾値とを比較する。また、比較部32は、例えば、第一周波数スペクトルのレベルと、第二周波数スペクトルのレベルとを比較する。また、比較部32は、例えば、記憶部31に記憶されている比較用周波数スペクトルのレベルと、第一周波数スペクトルまたは第二周波数スペクトルのレベルとを比較する。なお、周波数スペクトルの「レベル」とは、ノイズ信号の強度を意味する。
判定部33は、比較部32が比較した比較結果に基づいて、線路間に絶縁劣化が発生しているか否かを判定する。また、判定部33は、電流計測部4が計測する電流値に基づいて、絶縁劣化の判定を行うか否か判定する。
電流計測部4は、線路(第一電圧線L1、第二電圧線L2)上を流れる電流を計測するための計測部である。線路上を流れる電流とは、負荷P(電子機器等)によって消費される消費電流を意味する。
設定部5は、線路間のノイズ信号から算出される周波数スペクトルのレベルと比較する閾値を、段階的に選択して設定することができるように構成されている。また、設定部5は、電流計測部4で計測される消費電流と比較する閾値を、段階的に選択して設定することができるように構成されている。設定部5は、例えば、閾値を切り替え可能な切替スイッチで構成されている。
解析部3の具体的な解析内容は、以下のようである。例えば、解析部3は、算出した周波数スペクトルにおいて、所定の周波数帯域の範囲内の周波数スペクトルに基づいて、線路間に絶縁劣化が発生しているか否かを判定するための解析を行う。「所定の周波数帯域」は、1MHz~3MHzの範囲の周波数帯域である。
解析部3は、所定の周波数帯域(例えば、1MHz~3MHz)の範囲内において、周波数スペクトルのレベルが、所定の閾値T1を超えた場合、線路間に絶縁劣化が発生したと判定する。「所定の閾値T1」は、例えば、46dBμVである。「46dBμV」は、VCCIクラスBの規格値に相当する値である。すなわち、負荷Pとして接続される一般家庭用の電子機器に適用される規格値を閾値として設定する。
また、例えば、解析部3は、絶縁劣化が発生したことにより周波数スペクトルに出現する、絶縁劣化に起因したノイズ成分による周波数軸上の周期的特徴を利用して、線路間に絶縁劣化が発生しているか否かを判定するための解析を行う。
解析部3は、所定の周波数帯域(1MHz~3MHz)の範囲内において、周波数スペクトルのレベルが、周波数軸上の一定間隔で所定の範囲値において複数回検出された場合、線路間に絶縁劣化が発生したと判定する。「一定間隔で所定の範囲値」という特徴は、上記周期的特徴の一つである。「一定間隔」は、例えば、300KHz~500KHzの範囲内の値である。「所定の範囲値」は、例えば、40dBμV~46dBμVの範囲の値である。
解析部3は、所定の周波数帯域(1MHz~3MHz)の範囲内において、周波数スペクトルのレベルが、周波数軸上の一定間隔で所定の閾値T1を超えた場合、線路間に絶縁劣化が発生したと判定する。「一定間隔で所定の閾値を超える」という特徴は、上記周期的特徴の一つである。「一定間隔」は、例えば、300KHz~500KHzの範囲内の値である。「所定の閾値T1」は、例えば、46dBμVである。
解析部3は、第一電圧線L1と中性線Nとの線路間のノイズ信号から算出された第一周波数スペクトルと、第二電圧線L2と中性線Nとの線路間のノイズ信号から算出された第二周波数スペクトルとを比較し、比較結果である第一周波数スペクトルと第二周波数スペクトルとの差分値が所定の閾値T3を超えた場合に、絶縁劣化が発生したと判定する。「所定の閾値T3」は、例えば、5dBμVである。
解析部3は、線路間に絶縁劣化が発生していないテスト環境下で取得されたテスト信号に基づいて算出される比較用周波数スペクトル(例えば、35dBμV以下)と、第一周波数スペクトルまたは第二周波数スペクトルとを比較し、比較結果である両周波数スペクトルの差分値が所定の閾値T4を超えた場合に、絶縁劣化が発生したと判定する。「所定の閾値T4」は、例えば、10dBμVである。
なお、解析部3は、比較結果である両周波数スペクトルの差分値が所定の閾値T4を超えていない場合、その差分値が所定の閾値T5(T5<T4)を超えたか否か判定する。閾値T5を超えている場合には、閾値T5を超える周波数スペクトルが発生する頻度を測定する。解析部3は、その発生する頻度が所定の頻度を上回る場合に、絶縁劣化が発生したと判定してもよい。
また、例えば、解析部3は、電流計測部4によって計測された負荷Pの消費電流を電流計測部4から受信し、その消費電流の電流値に応じて、線路間の絶縁劣化の解析を行うか否か決定する。解析部3は、電流計測部4によって計測された負荷Pの消費電流が所定の閾値以下の場合に、線路間に絶縁劣化が発生しているか否かを判定するための解析を行う。また、解析部3は、電流計測部4によって計測された負荷Pの消費電流が上昇トレンドである場合には、線路間に絶縁劣化が発生したか否かを判定するための解析を行わない。
また、解析部3は、解析の結果、線路間に絶縁劣化が発生していると判定した場合、分電盤Dのブレーカ(遮断器)Bを遮断するための遮断信号を分電盤Dへ送信するとともに、絶縁劣化が発生している旨を報知する報知信号を外部へ出力する。
次に、図2を参照して、取得部2の構成及び機能について説明する。
図2に示すように、取得部2は、コイルHと、コンデンサCと、抵抗Rと、ローパスフィルタ回路21と、発振器22と、周波数結合部23と、バンドパスフィルタ回路24と、増幅器25と、A/D変換回路26と、を備える。
取得部2は、コイルHの一端部が分電盤Dの第一電圧線L1または第二電圧線L2に接続される。また、抵抗Rの一端部が分電盤Dの中性線Nに接続される。線路(第一電圧線L1、中性線N、及び第二電圧線L2)のノイズ成分を測定するにあたって、線路のインピーダンスが低ければノイズ量は少なく測定され、反対にインピーダンスが高ければノイズ量は多く測定される。
そこで、電圧線L1,L2と中性線Nとの線路間のノイズ信号をローパスフィルタ回路21に通過させた後に、当該ノイズ信号と、発振器22の発振周波数信号と、を周波数結合部23で周波数結合して、ノイズ周波数を分析しやすい中間周波数(「ノイズ信号」-「発振周波数信号」の周波数)に落とす。そして、中間周波数に落としたノイズ信号をバンドパスフィルタ回路24に入力することで、所定の周波数帯域(1MHz~3MHz)のノイズ信号を取得する。
このとき、バンドパスフィルタ回路24が抵抗(50Ω)で終端される定インピーダンス回路として構成されているので、線路側から見た絶縁劣化判定装置1のインピーダンスが固定されて、ノイズ信号に含まれるノイズ成分の揺れ幅を小さくできる。バンドパスフィルタ回路24を通過したノイズ信号は、増幅器25で所定の振幅に増幅され、A/D変換回路26でデジタル信号に変換された後に、解析部3に入力される。
次に、図3及び図4を参照して、絶縁劣化判定装置1による具体的な解析動作例について説明する。
図3(a)は、絶縁劣化が発生していないときの線路間のノイズ信号から算出された比較用周波数スペクトルである。図3(b)は、絶縁劣化が発生しているときの線路間のノイズ信号から算出された周波数スペクトルである。
(第一動作例)
絶縁劣化判定装置1の取得部2は、分電盤D内の第一電圧線L1と中性線Nとの線路間のノイズ信号と、第二電圧線L2と中性線Nとの線路間のノイズ信号とを取得する。
絶縁劣化判定装置1の解析部3は、取得部2で取得されたノイズ信号を高速フーリエ変換により周波数分析して周波数スペクトルを算出する。
図3(a)に示すように、絶縁劣化が発生していないときの比較用周波数スペクトルは、1MHz~3MHzの周波数帯域において、ノイズレベルが30±2~3dBμV程度で安定している。これに対して、図3(b)に示すように、絶縁劣化が発生しているときの周波数スペクトルは、1MHz~3MHzの周波数帯域において、ノイズレベルが大きく変動している。なお、「ノイズレベル」とは、ノイズ信号の強度を意味し、図における縦軸の値を示す。
そこで、解析部3は、1MHz~3MHzの周波数帯域において、周波数スペクトルのノイズレベルが閾値T1である46dBμVを超えているか否か判定する。解析部3は、1MHz~3MHzの周波数帯域において、周波数スペクトルのノイズレベルが46dBμVを超えている場合に、その線路間に絶縁劣化が発生していると判定する。解析部3は、絶縁劣化が発生していると判定した場合、遮断信号と報知信号を出力する。遮断信号に基づいてブレーカBが遮断されるとともに、報知信号に基づいて例えばアラーム音が出力される。
(第二動作例)
上記第一動作例と同様に、取得部2は、線路間のノイズ信号を取得する。また、解析部3は、取得されたノイズ信号を高速フーリエ変換して周波数スペクトルを算出する。
図3(b)に示すように、絶縁劣化が発生しているときの周波数スペクトルは、1MHz~3MHzの周波数帯域において、ノイズレベルが周波数軸上の一定の間隔(300KHz~500KHzの範囲内の一定の間隔)で大きく変動している。
具体的には、図3(b)において、周波数スペクトルのノイズレベルは、破線で示す1.4MHz付近と1.8MHz付近と2.2MHz付近で大きく変動している。その変動最大値は、40dBμV~46dBμVに達している。そして、これら1.4MHzと1.8MHzと2.2MHzは、周波数軸上における400KHz間隔の値であり、この間隔は300KHz~500KHzの範囲内に含まれる。
そこで、解析部3は、1MHz~3MHzの周波数帯域において、周波数スペクトルのノイズレベルが300KHz~500KHzの範囲内の一定の間隔で、複数回において閾値T0である40dBμVを超えているか否か判定し、当該一定の間隔で複数回超えている場合に、その線路間に絶縁劣化が発生していると判定する。解析部3は、絶縁劣化が発生していると判定した場合、遮断信号と報知信号を出力する。
(第三動作例)
負荷Pとして接続される電子機器が運転されている際には、VCCIクラスBの規格値を満たしてはいるが電子機器特有の周波数のノイズが発生される。したがって、線路間から取得されるノイズ信号中には、電子機器から発生する機器ノイズが含まれ得る。そこで、線路間に絶縁劣化が発生しているか否かを判定するにあたり、負荷P(電子機器)から発生するノイズの影響を抑制するために、絶縁劣化判定装置1の解析部3は、以下のような解析を行う。
図4は、ある4人世帯の一日の電力消費量の一例を示す図である。図4に示されるように、人が活動を開始する朝食時付近と、人が外出先から帰宅して食事する夕食時付近で電力消費量が多く、外出する人が多い時間帯である昼間と、人が就寝する深夜の時間帯で電力消費量が少ない傾向にある。
そこで、解析部3は、電流計測部4で計測された負荷Pの消費電流を電流計測部4から受信し、その消費電流から算出される電力消費量が所定の閾値T2である0.4KWh以下である場合に、線路間に絶縁劣化が発生しているか否かを判定するための解析を行う。
なお、絶縁劣化が発生しているか否かの判定の仕方については、上記第一動作例及び第二動作例と同様である。
(第四動作例)
負荷Pとして接続される電子機器の種類によっては、例えば、誘電負荷やインバータ負荷などが接続される場合には、これらの電子機器から高いノイズが発生し得る。したがって、これらの電子機器の駆動時には、電子機器から発生するノイズによって、線路間に絶縁劣化が発生しているか否かの判定に影響を及ぼす可能性が高くなる。そこで、これらの電子機器から発生するノイズによって絶縁劣化の発生の誤判定を防ぐために、絶縁劣化判定装置1の解析部3は、以下のような解析を行う。
解析部3は、電流計測部4で計測された負荷Pの消費電流を電流計測部4から受信し、受信した消費電流の状態を測定する。また、解析部3は、取得部2で取得されたノイズ信号に基づいて周波数スペクトルを算出する。解析部3は、周波数スペクトルのノイズレベルが閾値T1(46dBμV)を超えたと判定された場合、上記負荷Pの消費電流が上昇トレンドであるか判定する。解析部3は、負荷Pの消費電流が上昇トレンドであると判定された場合、周波数スペクトルのノイズレベルが閾値T1(46dBμV)を超えたタイミングと、負荷Pの消費電流の上昇トレンドのタイミングとを比較する。解析部3は、両者のタイミングが合致している場合には、ノイズレベルが大きくなったのはその負荷Pの影響によるものであると判定して、線路間に絶縁劣化が発生したか否かを判定するための解析を行わない。
(第五動作例)
解析部3は、絶縁劣化の発生の誤判定を抑制するために、以下のような解析を行ってもよい。
解析部3は、線路間に絶縁劣化が発生していると判定した場合、その判定時に、電流計測部4で計測された負荷Pの消費電流が上昇していたか否か測定する。解析部3は、判定時に負荷Pの消費電流が上昇している状況であった場合、消費電流の上昇に伴う「仮判定」としてその判定を一旦記憶する。その後、同様に負荷Pの消費電流の上昇に伴って、線路間に絶縁劣化が発生していると判定した場合には、その判定頻度が所定の閾値(例えば、10分間に5回)を超えるか否か判定する。そして、解析部3は、判定頻度が所定の閾値を超える場合には、これらの判定が負荷Pの消費電流の上昇に伴う誤判定であったと判断する。そこで、解析部3は、線路間に絶縁劣化が発生したと判定する周波数スペクトルのレベルの閾値T1を、現在設定されている閾値T1から変更するように報知信号を出力する。この場合、報知信号に基づいて、例えば、スピーカから「この負荷をこの後も長期間使用する場合には、設定部を操作して判定閾値を上げてください」とアナウンスしてもよい。
以上説明したように、絶縁劣化判定装置1によれば、第一電圧線L1と中性線Nとの線路間のノイズ信号と、第二電圧線L2と中性線Nとの線路間のノイズ信号とを取得し、これらのノイズ信号を周波数スペクトルに算出して、周波数スペクトルに基づいて絶縁劣化が発生しているか否かを判定する。このため、線路間に発生する絶縁劣化とは直接的な関係性が低い環境要因(例えば、負荷(電子機器)によるノイズ)がノイズ信号から区別しやすくなり、絶縁劣化に起因するノイズ成分の特徴を捉えやすくなる。これにより、絶縁劣化を精度良く判定することが可能となる。
ここで、例えば、電圧線と中性線との間にRC回路を接続して、一定周波数以上のノイズ電流が流れたときにその電圧レベルでトラッキング現象が発生したことを検出する従来の構成を採用することも考えられる。しかしながら、このような構成の場合、トラッキングによるノイズと、電路に接続される負荷(電子機器等)から発生するノイズとを判別する際に、連続したトラッキングノイズの発生が必要であり、判別までに時間がかかり発火する可能性もある。
これに対して、本絶縁劣化判定装置1では、線路間から取得したノイズ信号を高速フーリエ変換で周波数分析した周波数スペクトルに基づいて絶縁劣化の発生を判定しているため、絶縁劣化初期段階のノイズ特性を捉えることができ、より早期段階で絶縁劣化異常の検出が可能である。
また、本発明者は、ノイズ信号から算出した周波数スペクトルについて検討を繰り返した結果、線路間の絶縁劣化によるノイズ成分が出現する周波数軸上の帯域と、その出現間隔に特徴があることを見出した。つまり、上述してきたように、線路間の絶縁劣化によるノイズ成分は、周波数スペクトルの1MHz~3MHzの周波数帯域において顕著に出現し、周波数軸上の300KHz~500KHzの範囲内の一定の間隔でそのノイズレベルが大きいことを見出した。これは、以下のように考察することができる。
例えば、コンセントを長い間、差しっぱなしにしておくと、コンセントと電源プラグの間にホコリがたまり、そこに湿気が加わると電源プラグの刃の間で炭化経路が形成されて、炭化経路で火花放電が繰り返される。そうすると、その炭化範囲が内部まで広がり、やがてそこから強い放電が発生して発火にまで至る。炭化経路で生成された炭化生成物の導電率は高い。このため、商用電圧が炭化生成物の先端に印加すると、電界が集中して火花が発生する。そして、このとき発生する商用の高調波ノイズがコンセント内の線路に重畳するため、線路を介して分電盤内の線路にも高調波ノイズが重畳する。その結果、トラッキングにより発火が発生している際の周波数スペクトルの特徴として、1MHz~3MHzの周波数帯域において出現し、周波数軸上の300KHz~500KHzの範囲内の一定の間隔でそのノイズレベルが大きくなっていることを本発明者は発見した。
そこで、絶縁劣化判定装置1では、周波数スペクトルに出現する周波数軸上の周期的な特徴部を利用して、線路間に絶縁劣化が発生しているか否かを判定することとした。このように、周波数スペクトルに出現する周波数軸上の周期的特徴を、絶縁劣化に起因するノイズ成分の特徴として捉えることにより、絶縁劣化の発生を精度良く判定することが可能となる。
また、絶縁劣化判定装置1によれば、1MHz~3MHzの範囲内の周波数スペクトルにおいて、周波数スペクトルのレベルが閾値T1(46dBμV)を超えた場合に、線路間に絶縁劣化が発生したと判定する。これにより、電子機器等に代表される負荷Pのノイズによる影響を線路上のノイズ信号から区別することができ、絶縁劣化に起因するノイズ成分の特徴を捉えやすくなる。
さらに、絶縁劣化判定装置1によれば、1MHz~3MHzの範囲内の周波数スペクトルにおいて、周波数スペクトルのレベルが、周波数軸上の例えば300KHz~500KHzの間隔で閾値T1(46dBμV)を超えた場合に、線路間に絶縁劣化が発生したと判定する。これにより、電子機器等に代表される負荷Pのノイズによる影響を線路上のノイズ信号から区別することができ、絶縁劣化に起因するノイズ成分の特徴をさらに捉えやすくなる。
また、絶縁劣化判定装置1によれば、第一電圧線L1と中性線Nとの線路間のノイズ信号から算出された第一周波数スペクトルと、第二電圧線L2と中性線Nとの線路間のノイズ信号から算出された第二周波数スペクトルとを比較し、両周波数スペクトルの差分値が閾値T3(例えば5dBμV)を超えた場合に、絶縁劣化が発生したと判定する。単相3線式の場合、第一電圧線L1と中性線Nとの線路間および第二電圧線L2と中性N線との線路間の両方において、同時に絶縁劣化が発生する場合は比較的に少ない。このため、上記のように両周波数スペクトルの差分値に基づいて判定することで、線路間に発生する絶縁劣化とは直接的な関係性が低い環境要因(例えば、負荷(電子機器)によるノイズ)をノイズ信号からキャンセルすることができる。
また、絶縁劣化判定装置1によれば、線路間に絶縁劣化が発生していないテスト環境下で取得されたテスト信号に基づいて算出される比較用周波数スペクトルと、第一電圧線L1と中性線Nとの線路間のノイズ信号から算出された周波数スペクトルまたは第二電圧線L2と中性線Nとの線路間のノイズ信号から算出された周波数スペクトルとを比較し、両周波数スペクトルの差分値が閾値T4(例えば10dBμV)を超えた場合に、絶縁劣化が発生したと判定する。このように、線路間に絶縁劣化が発生していないテスト環境下の比較用周波数スペクトルのレベルと、本稼働時に取得される周波数スペクトルのレベルとを比較することで、線路間に発生する絶縁劣化とは直接的な関係性が低い環境要因(例えば、負荷(電子機器)によるノイズ)をノイズ信号から低減させることができる。
また、絶縁劣化判定装置1によれば、電流計測部4で計測された負荷Pの消費電流から算出される電力消費量が閾値T2である0.4KWh以下である場合に、線路間に絶縁劣化が発生しているか否かを判定する。これにより、電子機器等に代表される負荷のノイズの影響に起因した、絶縁劣化の発生の誤判定を低減させることができる。
また、絶縁劣化判定装置1によれば、電流計測部4で計測された負荷Pの消費電流が上昇トレンドである場合には、線路間に絶縁劣化が発生したか否かを判定しない。これにより、電子機器等に代表される負荷のノイズの影響に起因した、絶縁劣化の発生の誤判定を低減させることができる。
また、絶縁劣化判定装置1によれば、線路間のノイズ信号から算出された周波数スペクトルのレベルと比較する閾値T1、及び電流計測部4で計測された消費電流から算出される電力消費量と比較する閾値T2を段階的に選択して設定することができる。これにより、線路上の電子機器等に代表される負荷の影響を考慮して所定の閾値を選択することが可能となり、絶縁劣化の誤判定を低減することができる。
また、絶縁劣化判定装置1によれば、定インピーダンス回路を介してノイズ信号を取得することができるので、線路上の電子機器等に代表される負荷側から見て、本絶縁劣化判定装置1側のインピーダンスが固定されるため、ノイズ信号に含まれるノイズ成分の揺れ幅が少なくなり、誤判定を低減させることができる。
なお、本発明は、上述した実施形態に限定されず、適宜、変形、改良等が自在である。その他、上述した実施形態における各構成要素の材質、形状、寸法、数値、形態、数、配置場所等は、本発明を達成できるものであれば任意であり、限定されない。
例えば、上記実施形態では、配電方式が単相3線式の場合について説明したが、この方式に限られない。例えば、単相2線式であってもよいし、あるいは三相3線式であってもよい。
また、上記実施形態では、絶縁劣化判定装置が分電盤内に組み込まれる場合について説明したが、この形態に限られない。例えば、絶縁劣化判定装置は、分電盤の外部に設置される形態の装置であってもよいし、あるいは分電盤とは分離して携帯可能な検査用の装置であってもよい。
また、上記実施形態では、絶縁劣化判定装置が一般家庭に設置されている分電盤に組み込まれる場合について説明したが、この形態に限られない。例えば、絶縁劣化判定装置は、事務所、会社、工場、商業施設等に設置されている分電盤に組み込まれる場合であってもよい。
1:絶縁劣化判定装置、2:取得部、3:解析部、4:電流計測部、5:設定部、21:ローパスフィルタ回路、22:発振器、23:周波数結合部、24:バンドパスフィルタ回路、25:増幅器、26:A/D変換回路、31:記憶部、32:比較部、33:判定部、B:ブレーカ(遮断器)、D:分電盤、L1:第一電圧線、L2:第二電圧線、N:性線、P:負荷(電子機器等)

Claims (12)

  1. 線路上のノイズ信号を取得する取得部と、
    前記ノイズ信号を用いて周波数軸上のデータである周波数スペクトルを算出し、当該周波数スペクトルに基づいて、線路間に絶縁劣化が発生しているか否かを判定するための解析を行う解析部と、
    を備え、
    前記解析部は、前記周波数スペクトルに出現する周波数軸上の一定間隔の周期的特徴を利用して、及び、所定の周波数帯域の範囲内の前記周波数スペクトルに基づいて、線路間に絶縁劣化が発生しているか否かを判定するための解析を行う、
    絶縁劣化判定装置。
  2. 前記解析部は、前記所定の周波数帯域の範囲内において、前記周波数スペクトルのレベルが、所定の閾値を周波数軸上の一定間隔で超えた場合、線路間に絶縁劣化が発生したと判定する、
    請求項1に記載の絶縁劣化判定装置。
  3. 前記一定間隔は、300KHz~500KHzの範囲内の値である、
    請求項2に記載の絶縁劣化判定装置。
  4. さらに、前記所定の閾値を段階的に選択して設定可能な設定部を備える、
    請求項2または請求項3に記載の絶縁劣化判定装置。
  5. 前記解析部は、
    線路間に絶縁劣化が発生していないテスト環境下で取得されたテスト信号に基づいて算出される比較用周波数スペクトルが記憶される記憶部と、
    前記比較用周波数スペクトルのレベルと、前記取得部が取得した前記周波数スペクトルのレベルとを比較する比較部と、
    前記比較部が比較した比較結果に基づいて、線路間に絶縁劣化が発生しているか否かを判定する判定部と、
    を有する、
    請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の絶縁劣化判定装置。
  6. 前記線路は、第一電圧線と、中性線と、第二電圧線とを有し、
    前記解析部は、前記第一電圧線と前記中性線との線路間のノイズ信号から算出された第一周波数スペクトルと、前記第二電圧線と前記中性線との線路間のノイズ信号から算出された第二周波数スペクトルとを比較して、比較結果である差分値が所定の閾値を超えた場合に、絶縁劣化が発生したと判定する、
    請求項1から請求項5のいずれか一項に記載の絶縁劣化判定装置。
  7. さらに、
    線路上を流れる消費電流を計測する電流計測部を、備え、
    前記解析部は、前記消費電流が所定の閾値以下の場合に、線路間に絶縁劣化が発生しているか否かを判定するための解析を行う、
    請求項1から請求項6のいずれか一項に記載の絶縁劣化判定装置。
  8. さらに、
    線路上を流れる消費電流を計測する電流計測部を、備え、
    前記解析部は、前記消費電流が上昇トレンドである場合、線路間に絶縁劣化が発生したか否かを判定するための解析を行わない、
    請求項1から請求項6のいずれか一項に記載の絶縁劣化判定装置。
  9. 前記取得部は、定インピーダンス回路を有し、前記定インピーダンス回路を介してノイズ信号を取得する、
    請求項1から請求項8のいずれか一項に記載の絶縁劣化判定装置。
  10. 線路上のノイズ信号を取得する取得部と、
    前記ノイズ信号を用いて周波数軸上のデータである周波数スペクトルを算出し、当該周波数スペクトルに基づいて、線路間に絶縁劣化が発生しているか否かを判定するための解析を行う解析部と、
    を備え、
    前記線路は、第一電圧線と、中性線と、第二電圧線とを有し、
    前記解析部は、前記第一電圧線と前記中性線との線路間のノイズ信号から算出された第一周波数スペクトルと、前記第二電圧線と前記中性線との線路間のノイズ信号から算出された第二周波数スペクトルとを比較して、比較結果である差分値が所定の閾値を超えた場合に、絶縁劣化が発生したと判定する、
    絶縁劣化判定装置。
  11. 線路上のノイズ信号を取得する取得工程と、
    前記ノイズ信号を用いて周波数軸上のデータである周波数スペクトルを算出し、当該周波数スペクトルに基づいて、線路間に絶縁劣化が発生したか否かを判定するための解析を行う解析工程と、
    を有し、
    前記解析工程は、前記周波数スペクトルに出現する周波数軸上の一定間隔の周期的特徴、及び、所定の周波数帯域の範囲内の前記周波数スペクトルに基づいて、線路間に絶縁劣化が発生しているか否かを判定する判定工程を含む、
    絶縁劣化判定方法。
  12. 線路上のノイズ信号を取得する取得工程と、
    前記ノイズ信号を用いて周波数軸上のデータである周波数スペクトルを算出し、所定の周波数帯域の範囲内の前記周波数スペクトルに基づいて、線路間に絶縁劣化が発生したか否かを判定するための解析を行う解析工程と、
    を有し、
    前記線路は、第一電圧線と、中性線と、第二電圧線とを有し、
    前記解析工程は、前記第一電圧線と前記中性線との線路間のノイズ信号から算出された第一周波数スペクトルと、前記第二電圧線と前記中性線との線路間のノイズ信号から算出された第二周波数スペクトルとを比較して、比較結果である差分値が所定の閾値を超えた場合に、絶縁劣化が発生したと判定する判定工程を含む、
    絶縁劣化判定方法。
JP2021055593A 2021-03-29 2021-03-29 絶縁劣化判定装置および絶縁劣化判定方法 Active JP7621153B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2021055593A JP7621153B2 (ja) 2021-03-29 2021-03-29 絶縁劣化判定装置および絶縁劣化判定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2021055593A JP7621153B2 (ja) 2021-03-29 2021-03-29 絶縁劣化判定装置および絶縁劣化判定方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2022152723A JP2022152723A (ja) 2022-10-12
JP7621153B2 true JP7621153B2 (ja) 2025-01-24

Family

ID=83556166

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021055593A Active JP7621153B2 (ja) 2021-03-29 2021-03-29 絶縁劣化判定装置および絶縁劣化判定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7621153B2 (ja)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001289903A (ja) 2000-04-11 2001-10-19 Tempearl Ind Co Ltd 絶縁劣化検出回路と該回路を用いた装置
JP2004279205A (ja) 2003-03-14 2004-10-07 Nagoya Kogyo Univ トラッキング放電検出装置及び検出方法
JP2007113960A (ja) 2005-10-18 2007-05-10 Kawamura Electric Inc トラッキング検出装置
JP2007113959A (ja) 2005-10-18 2007-05-10 Kawamura Electric Inc トラッキング検出装置及び検出方法
WO2007091332A1 (ja) 2006-02-10 2007-08-16 Fujitsu Limited 接続検出回路
JP4251372B1 (ja) 2008-07-18 2009-04-08 イメージニクス株式会社 検出装置と検出方法
WO2018087885A1 (ja) 2016-11-11 2018-05-17 三菱電機株式会社 劣化検出装置、劣化検出システム、劣化検出方法、及び、プログラム

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI229198B (en) * 2003-06-18 2005-03-11 Mjc Probe Inc A probe card for testing the driving circuit of a liquid crystal display apparatus

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001289903A (ja) 2000-04-11 2001-10-19 Tempearl Ind Co Ltd 絶縁劣化検出回路と該回路を用いた装置
JP2004279205A (ja) 2003-03-14 2004-10-07 Nagoya Kogyo Univ トラッキング放電検出装置及び検出方法
JP2007113960A (ja) 2005-10-18 2007-05-10 Kawamura Electric Inc トラッキング検出装置
JP2007113959A (ja) 2005-10-18 2007-05-10 Kawamura Electric Inc トラッキング検出装置及び検出方法
WO2007091332A1 (ja) 2006-02-10 2007-08-16 Fujitsu Limited 接続検出回路
JP4251372B1 (ja) 2008-07-18 2009-04-08 イメージニクス株式会社 検出装置と検出方法
WO2018087885A1 (ja) 2016-11-11 2018-05-17 三菱電機株式会社 劣化検出装置、劣化検出システム、劣化検出方法、及び、プログラム

Also Published As

Publication number Publication date
JP2022152723A (ja) 2022-10-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11831139B2 (en) Processor-based circuit interrupting devices
US7345860B2 (en) Load recognition and series arc detection using load current/line voltage normalization algorithms
JP6800870B2 (ja) Dc/ac電力変換システムを使用するエネルギー貯蔵および/または発電システムにおける地絡を検出するシステムおよび方法
US7068480B2 (en) Arc detection using load recognition, harmonic content and broadband noise
US9638726B2 (en) System and method for detecting branch circuit current
CN202676813U (zh) 一种低压电弧故障检测装置
WO2006134678A1 (ja) 漏洩電流検出システム及び方法
CN102269785A (zh) 在线铁磁共振检测的方法和系统
US20240120725A1 (en) Multi-function electrical sensing
CN106019107A (zh) 一种空心电抗器局部放电的检测方法及系统
CN110632550B (zh) 智能电表接线端子接触不良检测方法、电路及装置
JP7621153B2 (ja) 絶縁劣化判定装置および絶縁劣化判定方法
CA3174715A1 (en) System and method for detecting arc in an electrical meter
JP7621154B2 (ja) 接続異常判定装置および接続異常判定方法
KR102040573B1 (ko) 복합센서를 이용한 아크 검출 장치
US20240006867A1 (en) Method for protecting a mains against a successive arc fault and a device for performing the claimed method
US8228103B2 (en) Circuit breaker
JP3602904B2 (ja) 絶縁監視装置の警報検出試験装置
KR102040572B1 (ko) 전력선통신 커플링 회로를 이용한 아크 검출 장치
GB2424286A (en) Tamper proof utility metering
JPH04296672A (ja) 回転電機の異常検出装置
JP2009532707A (ja) 絶縁性軸受け仕組を有する動的設備のアース接続を監視する装置及び方法
US9476918B2 (en) Alternating current detector with automatically judging of the amount of element under testing and monitoring

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20240124

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20240830

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20240903

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20241023

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20241119

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20241213

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20250107

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20250114

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7621153

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150