JP7624440B2 - 最適化された干渉散乱顕微鏡法のための方法および装置 - Google Patents
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Description
iSCATは、例えば、Kukura等の「単一ウイルスの位置および向きの高速ナノスコピック追跡(High-speed nanoscopic tracking of the position and orientation of a single virus)」、Nature Methods 2009 6:923-935、およびOrtega Arroyo等の「干渉散乱顕微鏡法(iSCAT):超高速および超高感度光学顕微鏡の新展開(Interferometric scattering microscopy (iSCAT):new frontiers in ultrafast and ultrasensitive optical microscopy)」、Physical Chemistry Chemical Physics 2012 14:15625-15636において、開示されている。
第一に、例えばレーザノイズまたは他の干渉現象に起因する照明のバックグラウンド変動は、それらの変動が検査中のサンプルに関する情報を運ぶ可能性があるため、しばしば除去できない。このようなバックグラウンドシグネチャは、検出感度を制限する。
この方法は、少なくとも1つのコヒーレント光源でサンプルを照明するステップであって、サンプルは屈折率変化を有する界面を含むサンプル位置に保持され、照明放射でサンプルを照明して、界面で反射した光とサンプルで散乱した光とを含む逆伝播信号をサンプルから発生させる、ステップと、逆伝播信号を第1の信号と第2の信号に分割するステップと、第2の信号が第1の信号と異なるように、修正素子を用いて第2の信号を修正するステップと、第1の信号および第2の信号を第1の検出器および第2の検出器に導き、第1の画像および第2の画像をそれぞれ生成するステップと、プロセッサによって、第1の画像および第2の画像を比較し、サンプルの1つまたは複数の特性を決定するステップと、を含む。
ここで、Eincは入射光フィールド、r2は界面の反射率、t2は空間フィルタ20の透過率、sは物体の散乱振幅、Φは透過した照明光と散乱光との位相差である。
図2を参照すると、顕微鏡1の第2の例の構成が図示されている。図2の構成は、WO2018/011591にも開示されており、同様に、本発明の技術の適用により最適化するのに適している。
空間フィルタ20の使用は、所定の物体、入射光強度、および露光時間に対して達成可能な感度限界またはSNR(信号対雑音比)を根本的に変更しないが、照明光の一部が物体によって散乱した後に装置の検出側で逆伝播信号を操作することによって、感度を向上させることが可能である。
例えば、光パワーによって信号を分割することが望ましいいくつかの実施形態では、ビームスプリッタ36は、光路に対して45°で配置された、金属または誘電体であり得る膜を備えるプレートを含んでいてもよい。あるいは、ビームスプリッタ36は、プリズム間の界面に部分的に反射する膜を有するマッチドペアのプリズムによって形成された立方体ビームスプリッタであってもよい。
図1の光学構成に加えて、図3aの構成は、第2の検出器6と、チューブレンズ13と検出器5および6との間の逆伝播信号の光路に沿って配置され、逆伝播信号を第1および第2の信号に分割するように構成された第2のビームスプリッタ36と、を含む。
この実施形態は、図1の構成の最適化として図示され、説明されているが、図2の構成の最適化として実施することも可能である。
図2の光学構成要素に加えて、図4の構成は、第2の検出器6と、チューブレンズ13と検出器5および6との間の逆伝播信号の光路に沿って配置され、逆伝播信号を第1および第2の信号に分割するように構成された第2のビームスプリッタ36と、を含む。この構成において、1つまたは複数の空間フィルタ20は、ビームスプリッタ36と検出器5、6との間に配置される。
図5を参照すると、図1の光学的構成に基づく別の例示的な実施形態が図示されている。
さらに、実施形態のいくつかの実装(図示せず)では、第1の信号のみが拡大要素に通され、一方、第2の画像チャネルは通常の空間分布で見ることができる。このような構成において、第2の信号は、拡大素子の代わりに、別のマスクまたは一般的な強度フィルタに通されてもよい。このような実装では、第2のチャネルは完全な空間分解能を維持し、ローカライズに使用することができる。
さらに、逆伝播信号は、より低い光子束を有するビームスプリッタ36によって第1および第2の信号に分割されるので、説明した最適化の各方法は、より高強度の照明源4の提供によって促進されてもよい。いくつかの実施形態では、より高い強度の照明源4は、図3に例示されるように、第1および第2のレーザのビームを結合することによって提供される。
Claims (16)
- 干渉散乱顕微鏡法によってサンプルを画像化する方法であって、
少なくとも1つのコヒーレント光源でサンプルを照明することであって、前記サンプルは屈折率変化を有する界面を含むサンプル位置に保持され、照明放射で前記サンプルを照明して、前記界面で反射した光と前記サンプルで散乱した光とを含む逆伝播信号を前記サンプルから発生させることと、
第1の信号および第2の信号の各々が前記サンプルで散乱した光の少なくとも一部を含むように、前記逆伝播信号を、第1の信号と第2の信号とに分割することと、
前記第2の信号が前記第1の信号と異なるように、修正素子を用いて前記第2の信号を修正することであって、前記第2の信号を修正することは、第1の次元に沿った前記第2の信号の拡大、または前記第1の信号に適用される空間フィルタリングよりも大きな強度での空間フィルタリング、を含むことと、
前記第1の信号および前記第2の信号を第1の検出器および第2の検出器に導き、第1の画像および第2の画像をそれぞれ生成することと、
プロセッサによって、前記第1の画像および前記第2の画像を比較し、前記サンプルの1つまたは複数の特性を決定すること
を含む、方法。 - 前記第1の信号および前記第2の信号の少なくとも一方を空間フィルタに通すことであって、前記空間フィルタは、入射放射の強度の減衰をもたらすように構成され、強度の前記減衰は、所定の開口数内でより大きい、ことをさらに含む、
請求項1に記載の方法。 - 前記少なくとも1つのコヒーレント光源は、第1のレーザおよび第2のレーザを含み、
前記第1のレーザおよび前記第2のレーザのビームは、前記サンプルの照明の前に結合される、
請求項1または2に記載の方法。 - 前記信号を分割することは、前記逆伝播信号を、直交する偏光を有する2つの信号に分割することを含む、
請求項1から3のいずれか一項に記載の方法。 - 前記信号を分割することは、前記逆伝播信号を、異なる光パワーを有する2つの信号に分割することを含む、
請求項1から4のいずれか一項に記載の方法。 - 前記第1の信号および前記第2の信号の少なくとも一方を空間フィルタに通すことは、前記第1の信号を第1の空間フィルタに通すことを含み、
前記第2の信号が前記第1の信号と異なるように前記第2の信号を修正することは、前記第2の信号を第2の空間フィルタに通すことを含み、
前記第1の空間フィルタおよび前記第2の空間フィルタはそれぞれ、入射放射の強度の減衰をもたらすように構成され、
強度の前記減衰は、所定の開口数内でより大きく、
前記第1の信号は、前記第2の信号より大きな光パワーを有し、
前記第2の空間フィルタは、前記第1の空間フィルタより大きな強度減衰を入射放射に及ぼす、
請求項5に記載の方法。 - 前記第2の信号を修正することは、前記第1の信号に対する前記第2の信号の位相を調整することを含む、
請求項1から6のいずれか一項に記載の方法。 - 前記第1の信号に対する前記第2の信号の位相を調整することは、前記第2の信号を位相シフトマスクに通すことを含む、
請求項7に記載の方法。 - 前記第2の信号を調整することは、前記第1の信号の光路に沿った適切な位置で前記第2の信号を結像レンズに通すことを含む、
請求項7または8に記載の方法。 - 前記第1の信号に対する前記第2の信号の位相を調整するステップは、前記第1の信号に対する前記第2の信号の位相を前記照明放射の波長の半分だけ調整するステップを含む、
請求項7から9のいずれか一項に記載の方法。 - 前記第2の信号を修正することは、前記第2の信号を、前記第2の検出器の画素グリッドのx次元に対応する前記第1の次元に沿って前記第2の信号を拡大するように構成された光学素子に通すことを含む、
請求項1から10のいずれか一項に記載の方法。 - 前記第1の信号を、第2の次元に沿って前記第1の信号を拡大するように構成された光学素子に通すことであって、前記第2の次元は、前記第1の次元と直交し、前記第2の検出器の画素グリッドのy次元に対応する、こと、
をさらに含む、
請求項11に記載の方法。 - 前記少なくとも1つのコヒーレント光源は、少なくとも2つの異なる検査波長を有する照明光を提供するように構成され、
前記信号を分割することは、第1の検査波長を有する光が前記第1の検出器に向けられ、第2の検査波長を有する光が前記第2の検出器に向けられるように、波長によって前記信号を分割することを含む、
請求項1から12のいずれか一項に記載の方法。 - 前記所定の開口数は、前記逆伝播信号内の前記サンプル位置から反射される照明光の開口数と同一または類似する、
請求項2に記載の方法。 - 請求項1から14のいずれか一項に記載の方法を実施するように構成された干渉散乱顕微鏡であって、
反射面を含むサンプル位置と、
前記サンプル位置を照明するように構成された少なくとも1つのコヒーレント光源と、
第1の検出器および第2の検出器と、
第1の信号および第2の信号の各々が前記サンプルで散乱した光の少なくとも一部を含むように、前記サンプル位置からの逆伝播信号を第1の信号と第2の信号とに分割するように構成されたビームスプリッタと、
前記第2の信号が前記第1の信号と異なるように前記第2の信号を修正するように構成された修正素子であって、前記第2の信号を修正することは、第1の次元に沿った前記第2の信号の拡大、または前記第1の信号に適用される空間フィルタリングよりも大きな強度での空間フィルタリング、を含む、修正素子と、
を含み、
システムは、前記第1の信号および前記第2の信号を前記第1の検出器および前記第2の検出器にそれぞれ向けるように構成される、
干渉散乱顕微鏡。 - 前記第1の信号および前記第2の信号の少なくとも一方をフィルタリングするように配置された少なくとも1つの空間フィルタをさらに含み、
前記空間フィルタは、入射放射の強度の減衰をもたらすように構成され、
入射放射の強度の減衰は、所定の開口数内でより大きい、
請求項15に記載の干渉散乱顕微鏡。
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| CN116297334B (zh) * | 2023-01-22 | 2025-10-03 | 清华大学 | 一种高灵敏度的单分子显微成像方法及系统 |
| WO2024186257A1 (en) * | 2023-03-06 | 2024-09-12 | Holtra Ab | Interferometric microscopy |
| EP4528352A1 (en) | 2023-09-20 | 2025-03-26 | Ludwig-Maximilians-Universität München | Interferometric scattering microscope with a drift stabilization system |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015075340A (ja) | 2013-10-07 | 2015-04-20 | アストロデザイン株式会社 | 光学的距離計測装置 |
| JP2015096943A (ja) | 2013-10-11 | 2015-05-21 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 走査型光学顕微鏡 |
| JP2019520612A (ja) | 2016-07-13 | 2019-07-18 | オックスフォード ユニヴァーシティ イノヴェーション リミテッド | 干渉散乱顕微鏡 |
Family Cites Families (23)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3117450B2 (ja) | 1990-05-10 | 2000-12-11 | 日本分光工業株式会社 | 半透鏡 |
| JP2000249816A (ja) | 1998-12-28 | 2000-09-14 | Hitachi Zosen Corp | 光学ミラーおよびこの光学ミラーを使用したレーザー投受光装置ならびにレーザー測距装置 |
| EP1185302B1 (en) | 1999-04-28 | 2013-07-24 | Genencor International, Inc. | Specifically targeted catalytic antagonists and uses thereof |
| US20060127010A1 (en) | 1999-11-03 | 2006-06-15 | Arkansas State University | Optical fibers or other waveguide having one or more modeled tap structures for forming desired illumination patterns and method of making the same |
| JP2004505313A (ja) | 2000-07-27 | 2004-02-19 | ゼテティック・インスティチュート | 差分干渉走査型の近接場共焦点顕微鏡検査法 |
| JP2003098439A (ja) | 2001-09-25 | 2003-04-03 | Olympus Optical Co Ltd | 観察切り替え可能な顕微鏡 |
| US7557929B2 (en) | 2001-12-18 | 2009-07-07 | Massachusetts Institute Of Technology | Systems and methods for phase measurements |
| US7223986B2 (en) * | 2002-08-29 | 2007-05-29 | Olympus Optical Co., Ltd. | Laser scanning microscope |
| EP1595106A4 (en) | 2003-02-13 | 2007-01-17 | Zetetic Inst | INTERFEROMETRIC TRANSVERS DIFFERENTIAL CONFOCAL MICROSCOPY |
| US8705040B2 (en) | 2004-03-06 | 2014-04-22 | Michael Trainer | Methods and apparatus for determining particle characteristics by measuring scattered light |
| JP2008514900A (ja) | 2004-07-30 | 2008-05-08 | アデザ・バイオメデイカル・コーポレイシヨン | 疾病および他の状態のマーカーとしての癌胎児性フィブロネクチンならびに癌胎児性フィブロネクチンの検出のための方法 |
| JP2007225392A (ja) | 2006-02-22 | 2007-09-06 | Spectratech Inc | 光干渉装置 |
| US8115919B2 (en) | 2007-05-04 | 2012-02-14 | The General Hospital Corporation | Methods, arrangements and systems for obtaining information associated with a sample using optical microscopy |
| JP5259154B2 (ja) * | 2007-10-24 | 2013-08-07 | オリンパス株式会社 | 走査型レーザ顕微鏡 |
| WO2011059833A2 (en) | 2009-10-29 | 2011-05-19 | California Institute Of Technology | Dual-mode raster point scanning/light sheet illumination microscope |
| US8873027B2 (en) | 2010-04-23 | 2014-10-28 | Hamamatsu Photonics K.K. | Cell observation device and cell observation method |
| FR2960291B1 (fr) * | 2010-05-18 | 2015-04-03 | Lltech Man | Methode et dispositif de microscopie interferentielle plein champ a haute resolution |
| JP5492796B2 (ja) | 2011-01-20 | 2014-05-14 | 株式会社日立製作所 | 光学装置 |
| JP5611149B2 (ja) | 2011-08-23 | 2014-10-22 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 光学顕微鏡装置及びこれを備えた検査装置 |
| US9316536B2 (en) | 2013-06-24 | 2016-04-19 | ASTRODESIGN, Inc. | Spatial frequency reproducing apparatus and optical distance measuring apparatus |
| GB201318919D0 (en) | 2013-10-25 | 2013-12-11 | Isis Innovation | Compact microscope |
| EP3276389A1 (en) | 2016-07-27 | 2018-01-31 | Fundació Institut de Ciències Fotòniques | A common-path interferometric scattering imaging system and a method of using common-path interferometric scattering imaging to detect an object |
| US10422984B2 (en) * | 2017-05-12 | 2019-09-24 | Applied Materials, Inc. | Flexible mode scanning optical microscopy and inspection system |
-
2019
- 2019-10-10 GB GB1914669.5A patent/GB2588378A/en not_active Withdrawn
-
2020
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Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015075340A (ja) | 2013-10-07 | 2015-04-20 | アストロデザイン株式会社 | 光学的距離計測装置 |
| JP2015096943A (ja) | 2013-10-11 | 2015-05-21 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 走査型光学顕微鏡 |
| JP2019520612A (ja) | 2016-07-13 | 2019-07-18 | オックスフォード ユニヴァーシティ イノヴェーション リミテッド | 干渉散乱顕微鏡 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2022552253A (ja) | 2022-12-15 |
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| GB2588378A (en) | 2021-04-28 |
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| WO2021069921A1 (en) | 2021-04-15 |
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| ES2985958T3 (es) | 2024-11-07 |
| US12111456B2 (en) | 2024-10-08 |
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