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JP7629835B2 - Manufacturing method of electrolytic capacitor - Google Patents
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Description

本発明は、電解コンデンサの製造方法に関する。 The present invention relates to a method for manufacturing an electrolytic capacitor.

電解コンデンサを製造するとき、エージング処理を行うことにより、陽極端面への誘電体酸化皮膜(以下、単に「酸化皮膜」という)の形成と陽極に形成された酸化皮膜の製造工程で損傷した部分が修復される。これにより漏れ電流の上昇を抑えることができる。 When manufacturing electrolytic capacitors, aging treatment is performed to form a dielectric oxide film (hereinafter simply referred to as "oxide film") on the anode end surface and to repair any parts of the oxide film formed on the anode that were damaged during the manufacturing process. This makes it possible to suppress an increase in leakage current.

特許文献1には、陽極体の上に酸化皮膜が形成され、その上に二酸化マンガン層と陰極層が順次積層された固体電解コンデンサの製造方法が記載されている。特許文献1には、二酸化マンガン層を形成した後、0℃以上40℃以下の温度、70%以上の相対湿度の雰囲気中で電圧を印加する方法が記載されている(特許文献1の特許請求の範囲など)。この方法によると、二酸化マンガンの化成性を最も発揮できる雰囲気条件下で、電圧を印加することにより、酸化皮膜の劣化部分を、それを被覆している二酸化マンガンで直接修復することができるため、酸化皮膜の劣化部分局部を集中的に修復することができ、耐電圧特性のバラツキおよび漏れ電流のバラツキを小さくすることができる(特許文献1の作用、実施例など)。 Patent Document 1 describes a method for manufacturing a solid electrolytic capacitor in which an oxide film is formed on an anode body, and a manganese dioxide layer and a cathode layer are sequentially laminated on top of the oxide film. Patent Document 1 describes a method in which, after forming a manganese dioxide layer, a voltage is applied in an atmosphere at a temperature of 0°C to 40°C and a relative humidity of 70% or more (claims of Patent Document 1, etc.). According to this method, by applying a voltage under atmospheric conditions that allow the manganese dioxide to exert its chemical conversion properties to the maximum, the deteriorated parts of the oxide film can be directly repaired with the manganese dioxide that covers it, and therefore the deteriorated parts of the oxide film can be repaired in a concentrated manner, and the variation in withstand voltage characteristics and the variation in leakage current can be reduced (functions, examples, etc. of Patent Document 1).

特開昭63-268240号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 63-268240

本発明者らの研究から、電解コンデンサの使用環境温度が急激に変化した場合、酸化皮膜に欠損が生じることにより、漏れ電流が上昇する傾向があることがわかった。 The inventors' research has revealed that when the temperature of the environment in which an electrolytic capacitor is used changes suddenly, defects occur in the oxide film, which tends to increase the leakage current.

本発明の目的は、使用環境温度が急激に変化しても、漏れ電流の上昇を抑制できる電解コンデンサを製造することである。 The objective of the present invention is to manufacture an electrolytic capacitor that can suppress an increase in leakage current even if the temperature of the operating environment changes suddenly.

本発明の電解コンデンサの製造方法は、酸化皮膜を有する陽極と、陰極と、前記陽極および前記陰極の間に配置されたセパレータと、少なくとも前記セパレータに保持された導電性高分子および液体とを有するコンデンサ素子と、前記コンデンサ素子が収容された外装体とを備えた電解コンデンサの製造方法であり、前記コンデンサ素子を前記外装体に収容したコンデンサ本体に、カテゴリ下限温度の環境で定格電圧より大きい電圧を30分以上印加する第1工程と、カテゴリ上限温度の環境で定格電圧または定格電圧より大きい電圧を30分以上印加する第2工程とを有する。 The method for manufacturing an electrolytic capacitor of the present invention is a method for manufacturing an electrolytic capacitor having an anode with an oxide film, a cathode, a separator disposed between the anode and the cathode, a capacitor element having at least a conductive polymer and a liquid held by the separator, and an exterior body housing the capacitor element, and includes a first step of applying a voltage higher than the rated voltage for 30 minutes or more in a category lower limit temperature environment to the capacitor body housing the capacitor element in the exterior body, and a second step of applying the rated voltage or a voltage higher than the rated voltage for 30 minutes or more in a category upper limit temperature environment.

本発明によると、第1工程において、カテゴリ下限温度環境で弱体化する部分(酸化皮膜の欠損など)を露呈させるとともに、カテゴリ下限温度環境でコンデンサ本体に電圧を印加することにより、弱体化した部分を修復することができる。また、第2工程において、カテゴリ上限温度環境で弱体化する部分(酸化皮膜の欠損など)を露呈させるとともに、カテゴリ上限温度環境でコンデンサ本体に電圧を印加することにより、弱体化した部分を修復することができる。これにより、使用環境温度が急激に変化しても、漏れ電流の上昇を抑制できる電解コンデンサを製造することができる。なお、カテゴリ下限温度およびカテゴリ上限温度には、通常変動し得る変動範囲(恒温槽の温度誤差、変動幅、温度分布、例えば設定値±1.6℃)が含まれる。 According to the present invention, in the first step, the portion that is weakened in the lower limit temperature environment of the category (such as a loss of oxide film) is exposed, and a voltage is applied to the capacitor body in the lower limit temperature environment of the category, thereby enabling the weakened portion to be repaired. In addition, in the second step, the portion that is weakened in the upper limit temperature environment of the category (such as a loss of oxide film) is exposed, and a voltage is applied to the capacitor body in the upper limit temperature environment of the category, thereby enabling the weakened portion to be repaired. This makes it possible to manufacture an electrolytic capacitor that can suppress an increase in leakage current even if the temperature of the operating environment changes suddenly. Note that the lower limit temperature and the upper limit temperature of the category include the range of fluctuation that can normally occur (temperature error of the thermostatic bath, fluctuation range, temperature distribution, for example, set value ±1.6°C).

上記方法において、前記第1工程の後に前記第2工程を行うことが好ましい。 In the above method, it is preferable to carry out the second step after the first step.

第2工程のカテゴリ上限温度環境では、第1工程のカテゴリ下限温度環境より、電解液中のイオンの移動が比較的速い。そのため、第2工程のカテゴリ上限温度環境では、第1工程のカテゴリ下限温度環境より、酸化皮膜が修復されやいと考えられる。また、酸化皮膜の修復が速いと考えられる。第1工程で酸化皮膜の修復が十分でなかった部分が生じたとしても、第1工程の後に第2工程を実施することにより、第2工程でその部分が修復されやすい。また、第2工程で酸化皮膜を強化できる。 In the upper category temperature environment of the second process, the movement of ions in the electrolyte is relatively faster than in the lower category temperature environment of the first process. Therefore, it is believed that the oxide film is more easily repaired in the upper category temperature environment of the second process than in the lower category temperature environment of the first process. It is also believed that the oxide film is repaired faster. Even if there are areas in which the oxide film is not sufficiently repaired in the first process, by carrying out the second process after the first process, that area is more likely to be repaired in the second process. In addition, the oxide film can be strengthened in the second process.

前記第1工程において、前記コンデンサ本体に定格電圧の1.15倍以上の電圧を印加することが好ましい。 In the first step, it is preferable to apply a voltage to the capacitor body that is at least 1.15 times the rated voltage.

カテゴリ下限温度環境で印加電圧を定格電圧よりやや大きくすることにより、カテゴリ下限温度環境で酸化皮膜の修復性能を高めることができる。 By applying a voltage slightly higher than the rated voltage in the lower category temperature environment, the repair performance of the oxide film in the lower category temperature environment can be improved.

前記第1工程において、前記カテゴリ下限温度の環境でコンデンサ本体に電圧を印加する時間を120分以下とすることが好ましい。 In the first step, it is preferable that the time for which voltage is applied to the capacitor body in the category lower limit temperature environment is 120 minutes or less.

第1工程の印加時間を120分以下とすることにより、電解コンデンサの製造時間が長くなりすぎない。これにより電解コンデンサの生産性を向上させることができる。 By setting the application time for the first step to 120 minutes or less, the manufacturing time for electrolytic capacitors does not become too long. This improves the productivity of electrolytic capacitors.

前記第2工程において、カテゴリ上限温度の環境で前記コンデンサ本体に電圧を印加する時間を120分以下とすることが好ましい。 In the second step, it is preferable that the time for applying voltage to the capacitor body in an environment at the upper category temperature limit is 120 minutes or less.

第2工程の印加時間を120分以下とすることにより、電解コンデンサの製造時間が長くなりすぎない。これにより電解コンデンサの生産性を向上させることができる。 By setting the application time of the second step to 120 minutes or less, the manufacturing time of the electrolytic capacitor does not become too long. This improves the productivity of the electrolytic capacitor.

使用環境温度が急激に変化しても、漏れ電流の上昇を抑制できる電解コンデンサを製造することができる。 It is possible to manufacture electrolytic capacitors that can suppress increases in leakage current even if the operating environment temperature changes suddenly.

本発明の実施形態に係る方法で作製された電解コンデンサの要部切断正面図である。1 is a cutaway front view of a main portion of an electrolytic capacitor produced by a method according to an embodiment of the present invention. 図1に示すコンデンサ素子の構成を説明するための模式図である。2 is a schematic diagram for explaining the configuration of the capacitor element shown in FIG. 1 .

以下、本発明の好適な実施形態について、図面を参照しつつ説明する。 A preferred embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

図1に、本発明の実施形態に係る方法によって作製された電解コンデンサ1を示している。電解コンデンサ1は、図1に示すように、外装ケース2および封口体3を有する外装体4と、外装体4に収容されたコンデンサ素子5と、座板6とを備えている。 Figure 1 shows an electrolytic capacitor 1 produced by a method according to an embodiment of the present invention. As shown in Figure 1, the electrolytic capacitor 1 includes an exterior body 4 having an exterior case 2 and a sealing body 3, a capacitor element 5 housed in the exterior body 4, and a seat plate 6.

外装ケース2は、例えば、金属製のケースである。封口体3は、例えば、ゴム等の弾性部材からなる。封口体3は、外装ケース2の開口を封止している。座板6は、封口体3に対向するように配置されている。 The outer case 2 is, for example, a metal case. The sealing body 3 is, for example, made of an elastic material such as rubber. The sealing body 3 seals the opening of the outer case 2. The seat plate 6 is disposed so as to face the sealing body 3.

図2に、外装体4に収容する前のコンデンサ素子5を示している。コンデンサ素子5は、図2に示すように、陽極11と、陰極12と、セパレータ13とを有する。陽極11と陰極12は、セパレータ13を介して円筒形に巻回して形成され、外周面に貼り付けられたテープ14により巻止めされている。 Figure 2 shows the capacitor element 5 before it is housed in the exterior body 4. As shown in Figure 2, the capacitor element 5 has an anode 11, a cathode 12, and a separator 13. The anode 11 and the cathode 12 are wound into a cylindrical shape with the separator 13 interposed between them, and the winding is secured by tape 14 attached to the outer periphery.

陽極11および陰極12にはそれぞれ図示しないリードタブが接続されている。陽極11は、リードタブを介して、リード端子21に接続されている。陰極12は、リードタブを介して、リード端子22に接続されている。リード端子21およびリード端子22は、それぞれ、図1に示すように、封口体3に形成された孔31及び孔32を通って外部に引き出されている。 Lead tabs (not shown) are connected to the anode 11 and the cathode 12. The anode 11 is connected to a lead terminal 21 via a lead tab. The cathode 12 is connected to a lead terminal 22 via a lead tab. The lead terminals 21 and 22 are respectively led out to the outside through holes 31 and 32 formed in the sealing body 3 as shown in FIG. 1.

陽極11は(図2参照)、表面に、誘電体である酸化皮膜が形成された弁作用金属である。弁作用金属として、例えば、アルミニウム、タンタル、ニオブおよびチタンから構成される群より選択される少なくとも1つが挙げられる。酸化皮膜は、例えば、弁作用金属の箔の表面をエッチング処理により粗面化した後、化成酸化処理を施すことによって形成される。 The anode 11 (see FIG. 2) is a valve metal with a dielectric oxide film formed on its surface. The valve metal may be at least one selected from the group consisting of aluminum, tantalum, niobium, and titanium. The oxide film is formed, for example, by roughening the surface of a valve metal foil by etching, and then subjecting it to a chemical oxidation treatment.

陰極12は、弁作用金属を用いて形成されている。陰極12として、例えば、弁作用金属箔の表面をエッチング処理により粗面化した箔、または、粗面化後に化成処理を施した箔が使用される。陰極12として、エッチング処理を施さないプレーン箔を使用してもよい。さらに、前記粗面化箔もしくはプレーン箔の表面に、チタン、ニッケル、チタン炭化物、ニッケル炭化物、チタン窒化物、ニッケル窒化物、チタン炭窒化物およびニッケル炭窒化物からなる群より選択される少なくとも1種の金属を含む金属薄膜が形成されたコーティング箔を使用してもよい。また、粗面化箔もしくはプレーン箔の表面にカーボン薄膜が形成されたコーティング箔を使用してもよい。 The cathode 12 is formed using a valve metal. For example, a valve metal foil whose surface is roughened by etching, or a foil whose surface is roughened and then chemically treated, is used as the cathode 12. A plain foil that is not etched may be used as the cathode 12. Furthermore, a coating foil in which a metal thin film containing at least one metal selected from the group consisting of titanium, nickel, titanium carbide, nickel carbide, titanium nitride, nickel nitride, titanium carbonitride, and nickel carbonitride is formed on the surface of the roughened foil or plain foil may be used. A coating foil in which a carbon thin film is formed on the surface of the roughened foil or plain foil may also be used.

セパレータ13の材質は特に限定されない。セパレータ13として、例えば、セルロース繊維を主体とするものを使用してもよく、化学繊維が混紗された混合繊維を使用してもよい。化学繊維として、例えばポリエステル繊維、ポリアミド繊維、アクリル繊維、ポリイミド繊維、アラミド繊維、ナイロン繊維等の合成繊維が挙げられる。 The material of the separator 13 is not particularly limited. For example, the separator 13 may be made mainly of cellulose fiber, or may be made of a mixed fiber containing chemical fiber. Examples of chemical fibers include synthetic fibers such as polyester fiber, polyamide fiber, acrylic fiber, polyimide fiber, aramid fiber, and nylon fiber.

セパレータ13には、本発明の「液体」として溶媒または電解液と導電性高分子が保持されている。電解液は、特に限定されない。電解液は、例えば、低粘性溶媒および難揮発性溶媒を含んでいてもよく、低粘性溶媒および難揮発性溶媒の一方を含んでいてもよい。低粘性溶媒として、例えば、ラクトンを含む溶媒、具体的には、γ-ブチロラクトン、γ-バレロラクトンなどが挙げられる。難揮発性溶媒として、例えば、エチレングリコール、ポリアルキレングリコール(ポリエチレングリコール、ポリプロピレングリコールなど)、スルホラン、およびこれらの誘導体が挙げられる。電解液は、例えば、無機酸、カルボン酸、ヒドロキシ酸および、これらのアンモニウム塩、アミン塩、アミジン塩を含んでいてもよく、ニトロ化合物などの添加剤を含んでいてもよい。電解液として、例えば、沸点が180℃以上、比抵抗が1kΩ・cm以上である電解液を使用してもよい。また、溶質を溶解しない溶媒だけを使用してもよい。 The separator 13 holds a solvent or electrolyte as the "liquid" of the present invention and a conductive polymer. The electrolyte is not particularly limited. The electrolyte may contain, for example, a low-viscosity solvent and a difficult-to-volatile solvent, or may contain one of a low-viscosity solvent and a difficult-to-volatile solvent. Examples of low-viscosity solvents include solvents containing lactones, specifically, γ-butyrolactone and γ-valerolactone. Examples of difficult-to-volatile solvents include ethylene glycol, polyalkylene glycols (polyethylene glycol, polypropylene glycol, etc.), sulfolane, and derivatives thereof. The electrolyte may contain, for example, inorganic acids, carboxylic acids, hydroxy acids, and their ammonium salts, amine salts, and amidine salts, and may contain additives such as nitro compounds. For example, an electrolyte having a boiling point of 180° C. or higher and a resistivity of 1 kΩ·cm or higher may be used as the electrolyte. Also, only a solvent that does not dissolve the solute may be used.

導電性高分子は、陽極11の酸化皮膜の表面、陰極12の表面およびセパレータ13を構成する繊維表面に形成されている。導電性高分子は、特に限定されない。導電性高分子には、例えば、ポリチオフェン、ポリピロール、ポリアニリンまたはそれらの誘導体が用いられ、一般的には、ポリ3,4-エチレンジオキシチオフェン(PEDOT)が用いられる。ドーパントには、p-トルエンスルホン酸、ポリスチレンスルホン酸(PSS)などが一般的に用いられる。また、導電性高分子の形成方法は、特に限定されない。導電性高分子の形成方法には、例えば、ドーパントを含む導電性高分子を溶媒に分散させた液にコンデンサ素子を浸漬後乾燥して形成する方法、ドーパントを含む可溶性導電性高分子を溶媒に溶解させた液にコンデンサ素子を浸漬後乾燥して形成する方法、モノマーとドーパントと酸化剤またはモノマーと酸化作用を持つドーパントによる化学重合にてコンデンサ素子に形成する方法、モノマーとドーパントによる電解重合にてコンデンサ素子に形成する方法などが一般的に用いられる。 The conductive polymer is formed on the surface of the oxide film of the anode 11, the surface of the cathode 12, and the surface of the fibers constituting the separator 13. The conductive polymer is not particularly limited. For example, polythiophene, polypyrrole, polyaniline, or a derivative thereof is used as the conductive polymer, and poly3,4-ethylenedioxythiophene (PEDOT) is generally used. For the dopant, p-toluenesulfonic acid, polystyrenesulfonic acid (PSS), etc. are generally used. The method of forming the conductive polymer is not particularly limited. For example, the conductive polymer is formed by immersing a capacitor element in a solution in which a conductive polymer containing a dopant is dispersed in a solvent and then drying it to form it, by immersing a capacitor element in a solution in which a soluble conductive polymer containing a dopant is dissolved in a solvent and then drying it to form it, by chemical polymerization of a monomer, a dopant, and an oxidizing agent or a monomer and a dopant having an oxidizing effect to form a capacitor element, or by electrolytic polymerization of a monomer and a dopant to form a capacitor element.

次に、電解コンデンサ1の製造方法を説明する。 Next, we will explain the manufacturing method of the electrolytic capacitor 1.

所定の幅に切断された陽極11および陰極12(図2参照)に、それぞれ、外部引き出し電極用のリード端子21およびリード端子22を接続する。陽極11は、酸化皮膜が形成された弁作用金属である。リード端子21が接続された陽極11およびリード端子22が接続された陰極12を、セパレータ13を介して巻回することにより、コンデンサ素子5を作製する。 Lead terminals 21 and 22 for external extraction electrodes are connected to the anode 11 and cathode 12 (see Figure 2), which have been cut to a specified width. The anode 11 is a valve metal on which an oxide film is formed. The anode 11 to which the lead terminal 21 is connected and the cathode 12 to which the lead terminal 22 is connected are wound with a separator 13 interposed therebetween to produce the capacitor element 5.

次に、コンデンサ素子5の切り口やコンデンサ素子5の作製時に欠損した酸化皮膜を修復するため、コンデンサ素子5を化成処理する。化成処理は、化成液中でコンデンサ素子5に電圧を印加することによって行われる。化成液として、例えば、カルボン酸基を有する有機酸またはその塩類(溶質)を有機溶媒または無機溶媒に溶解した化成液、リン酸等の無機酸またはその塩類(溶質)を有機溶媒または無機溶媒に溶解した化成液を使用してもよい。カルボン酸基を有する有機酸またはその塩類(溶質)を有機溶媒または無機溶媒に溶解した化成液として、例えば、アジピン酸を含む水溶液、アジピン酸塩を含む水溶液が挙げられる。アジピン酸塩を含む水溶液として、例えば、アジピン酸アンモニウムを主体とした溶質を含む水溶液が挙げられる。 Next, the capacitor element 5 is subjected to a chemical conversion treatment in order to repair the cut edge of the capacitor element 5 or the oxide film that was lost during the production of the capacitor element 5. The chemical conversion treatment is performed by applying a voltage to the capacitor element 5 in a chemical conversion liquid. As the chemical conversion liquid, for example, a chemical conversion liquid in which an organic acid having a carboxylic acid group or its salt (solute) is dissolved in an organic solvent or inorganic solvent, or a chemical conversion liquid in which an inorganic acid such as phosphoric acid or its salt (solute) is dissolved in an organic solvent or inorganic solvent may be used. As a chemical conversion liquid in which an organic acid having a carboxylic acid group or its salt (solute) is dissolved in an organic solvent or inorganic solvent, for example, an aqueous solution containing adipic acid and an aqueous solution containing an adipate salt are examples. As an aqueous solution containing an adipate salt, for example, an aqueous solution containing a solute mainly composed of ammonium adipate is examples.

化成処理は、たとえば、カルボン酸基を有する有機酸またはその塩類(溶質)を有機溶媒または無機溶媒に溶解した化成液を用いて第1化成処理を行った後、熱処理し、その後、リン酸等の無機酸またはその塩類(溶質)を有機溶媒または無機溶媒に溶解した化成液を用いて第2化成処理を行うものでもよい。前記第1化成処理、熱処理、前記第2化成処理および熱処理という1つのサイクルを繰り返し行ってもよい。化成処理は、前記第1化成処理と熱処理を繰り返し行うものでもよく、前記第2化成処理と熱処理を繰り返し行うものでもよい。第1化成処理および/または第2化成処理と熱処理とを繰り返し行うことにより、強靭な酸化皮膜が形成される。ここでの熱処理は、一般的に、100℃~300℃の温度で行い、熱処理時間を数十分程度とする。なお、化成処理は、上記熱処理を行わず、第1化成処理だけ行うものでもよく、第2化成処理だけ行うものでもよい。 The chemical conversion treatment may be, for example, a first chemical conversion treatment using a chemical conversion solution in which an organic acid having a carboxylic acid group or its salt (solute) is dissolved in an organic solvent or inorganic solvent, followed by heat treatment, and then a second chemical conversion treatment using a chemical conversion solution in which an inorganic acid such as phosphoric acid or its salt (solute) is dissolved in an organic solvent or inorganic solvent. A cycle of the first chemical conversion treatment, heat treatment, the second chemical conversion treatment, and heat treatment may be repeated. The chemical conversion treatment may be a repeated cycle of the first chemical conversion treatment and heat treatment, or a repeated cycle of the second chemical conversion treatment and heat treatment. By repeatedly performing the first chemical conversion treatment and/or the second chemical conversion treatment and heat treatment, a tough oxide film is formed. The heat treatment here is generally performed at a temperature of 100°C to 300°C, and the heat treatment time is about several tens of minutes. The chemical conversion treatment may be a cycle in which only the first chemical conversion treatment is performed without the above heat treatment, or a cycle in which only the second chemical conversion treatment is performed.

続いて、導電性高分子をセパレータに保持させるため、化成処理を行ったコンデンサ素子5を、導電性高分子を含む液に浸した後、乾燥させる(第1工程)。導電性高分子を含む液として、例えば、PEDOT/PSSを含む分散液を使用してもよい。PEDOT/PSSとは、ポリ3,4-エチレンジオキシチオフェン(PEDOT)とポリスチレンスルホン酸(PSS)から成る複合物である。コンデンサ素子5を、PEDOT/PSSを含む分散液に少なくとも1回浸漬させた後、乾燥させる。これにより溶媒が除去され、導電性高分子(PEDOT/PSS)がセパレータに保持される。上記では、コンデンサ素子5を分散液に浸漬させる場合について例示したが、コンデンサ素子5に分散液を含浸させてもよい。分散液への浸漬後または分散液の含浸後、コンデンサ素子5を乾燥させてもよい。乾燥は、常温下での乾燥、真空下または減圧下での乾燥、あるいは、多段乾燥機を利用した乾燥でもよい。コンデンサ素子5の乾燥は、例えば、160℃以上の高温で行ってもよい。 Next, in order to hold the conductive polymer on the separator, the capacitor element 5 that has been subjected to the chemical conversion treatment is immersed in a liquid containing the conductive polymer and then dried (first step). For example, a dispersion liquid containing PEDOT/PSS may be used as the liquid containing the conductive polymer. PEDOT/PSS is a composite of poly 3,4-ethylenedioxythiophene (PEDOT) and polystyrene sulfonic acid (PSS). The capacitor element 5 is immersed in the dispersion liquid containing PEDOT/PSS at least once and then dried. This removes the solvent and the conductive polymer (PEDOT/PSS) is held on the separator. Although the above example shows the case where the capacitor element 5 is immersed in the dispersion liquid, the capacitor element 5 may be impregnated with the dispersion liquid. After immersion in the dispersion liquid or impregnation with the dispersion liquid, the capacitor element 5 may be dried. Drying may be performed at room temperature, under vacuum or reduced pressure, or by using a multi-stage dryer. The capacitor element 5 may be dried at a high temperature, for example, of 160°C or higher.

導電性高分子をセパレータに保持させた後、コンデンサ素子5に電解液を含浸させる。その後、コンデンサ素子5に封口体3を取り付け、コンデンサ素子5を外装ケース2に収容し、外装ケース2の開口部を封口体3により封止した後、外装ケース2の開口部をカーリングしてコンデンサ本体10を作製する。 After the conductive polymer is held by the separator, the capacitor element 5 is impregnated with an electrolyte. Then, the sealing body 3 is attached to the capacitor element 5, the capacitor element 5 is housed in the exterior case 2, the opening of the exterior case 2 is sealed with the sealing body 3, and the opening of the exterior case 2 is curled to produce the capacitor body 10.

その後、カテゴリ下限温度の環境で、得られたコンデンサ本体10に、定格電圧より大きい電圧を、30分以上印加する第1工程と、カテゴリ上限温度の環境で、得られたコンデンサ本体10に、定格電圧または定格電圧より大きい電圧を、30分以上印加する第2工程とを行う。 Then, a first process is performed in which a voltage higher than the rated voltage is applied to the obtained capacitor body 10 in an environment of the lower category temperature limit for 30 minutes or more, and a second process is performed in which a rated voltage or a voltage higher than the rated voltage is applied to the obtained capacitor body 10 in an environment of the upper category temperature limit for 30 minutes or more.

ここで、「電解コンデンサのカテゴリ下限温度」とは、電解コンデンサを連続的に使用できる最低周囲温度である。カテゴリ下限温度より低い温度環境で電解コンデンサを使用した場合、電解コンデンサの特性が劣化する可能性がある。「電解コンデンサのカテゴリ上限温度」とは、電解コンデンサを連続的に使用できる最高周囲温度である。カテゴリ上限温度より高い温度環境で電解コンデンサを使用した場合、電解コンデンサの特性が劣化する可能性がある。カテゴリ下限温度とカテゴリ上限温度は、電解コンデンサの設計上、電解コンデンサを連続的に使用できる周囲温度範囲(カテゴリ温度範囲)の下限温度と上限温度である。カテゴリ温度範囲は、例えば、電解コンデンサを構成する電解液、導電性高分子(ドーパント、添加剤などを含む)、電極、セパレータ、およびこれらの組合せを基に決定される。カテゴリ温度範囲は、例えば、日本産業規格(JIS)に則って決定される。「定格電圧」とは、カテゴリ下限温度とカテゴリ上限温度との間のどの温度でも、電解コンデンサに連続して印加することができる最高電圧のことである。定格電圧は、例えば、陽極箔、電解液の耐電圧、コンデンサを構成するその他の材料の特性などによって決定され、最終的には信頼性を含む製品特性を確認して決定される。例えば、日本産業規格(JIS)に則った定格電圧でコンデンサが設計される。 Here, the "category lower limit temperature of an electrolytic capacitor" is the lowest ambient temperature at which an electrolytic capacitor can be used continuously. If an electrolytic capacitor is used in a temperature environment lower than the category lower limit temperature, the characteristics of the electrolytic capacitor may deteriorate. The "category upper limit temperature of an electrolytic capacitor" is the highest ambient temperature at which an electrolytic capacitor can be used continuously. If an electrolytic capacitor is used in a temperature environment higher than the category upper limit temperature, the characteristics of the electrolytic capacitor may deteriorate. The category lower limit temperature and the category upper limit temperature are the lower limit temperature and the upper limit temperature of the ambient temperature range (category temperature range) at which an electrolytic capacitor can be used continuously, based on the design of the electrolytic capacitor. The category temperature range is determined, for example, based on the electrolyte, conductive polymer (including dopants, additives, etc.), electrodes, separators, and combinations of these that make up the electrolytic capacitor. The category temperature range is determined, for example, in accordance with the Japanese Industrial Standards (JIS). The "rated voltage" is the maximum voltage that can be continuously applied to an electrolytic capacitor at any temperature between the category lower limit temperature and the category upper limit temperature. The rated voltage is determined, for example, by the anode foil, the withstand voltage of the electrolyte, and the characteristics of other materials that make up the capacitor, and is ultimately determined by checking the product characteristics, including reliability. For example, capacitors are designed with a rated voltage that conforms to the Japanese Industrial Standards (JIS).

上記第1工程で、コンデンサ本体10に印加する電圧は、定格電圧より大きい。印加電圧は、定格電圧より大きければ、特に限定されない。印加電圧は、例えば、定格電圧の1.05倍以上としてもよく、定格電圧の1.15倍以上としてもよい。印加電圧の上限は、特に限定されない。印加電圧が高いほど、酸化皮膜の修復効果が高まる。ただし、印加電圧が高すぎる場合、酸化皮膜が大きく損傷し、損傷した部分を十分に修復できない可能性がある。このような点を考慮して、印加電圧は、例えば、定格電圧の2.0倍以下としてもよく、定格電圧の1.4倍以下としてもよい。 In the first step, the voltage applied to the capacitor body 10 is greater than the rated voltage. The applied voltage is not particularly limited as long as it is greater than the rated voltage. The applied voltage may be, for example, 1.05 times or more the rated voltage, or 1.15 times or more the rated voltage. There is no particular upper limit to the applied voltage. The higher the applied voltage, the greater the effect of repairing the oxide film. However, if the applied voltage is too high, the oxide film may be severely damaged, and the damaged portion may not be sufficiently repaired. Taking this into consideration, the applied voltage may be, for example, 2.0 times or less the rated voltage, or 1.4 times or less the rated voltage.

上記第1工程で、カテゴリ下限温度の環境でコンデンサ本体10に電圧を印加する。カテゴリ下限温度の環境でコンデンサ本体10に電圧を印加することにより、カテゴリ下限温度の環境で弱体化した部分(酸化皮膜の損傷など)が修復される。これにより、カテゴリ下限温度環境の耐性を付与することができる。例えば、電解コンデンサをカテゴリ下限温度で使用した際、酸化皮膜が損傷することを抑制できる。また、電解コンデンサをカテゴリ下限温度より高い低温で使用した際にも、酸化皮膜が損傷することを抑制できる。これにより、電解コンデンサの使用環境温度がカテゴリ下限温度まで低下しても、酸化皮膜の損傷が抑制され、漏れ電流が低減する。 In the first step, a voltage is applied to the capacitor body 10 in an environment at the lowest category temperature. By applying a voltage to the capacitor body 10 in an environment at the lowest category temperature, any parts weakened in the environment at the lowest category temperature (such as damage to the oxide film) are repaired. This makes it possible to provide resistance to the lowest category temperature environment. For example, when the electrolytic capacitor is used at the lowest category temperature, damage to the oxide film can be suppressed. Also, when the electrolytic capacitor is used at a temperature lower than the lowest category temperature, damage to the oxide film can be suppressed. As a result, even if the temperature of the environment in which the electrolytic capacitor is used drops to the lowest category temperature, damage to the oxide film is suppressed and leakage current is reduced.

上記第1工程で、コンデンサ本体10に電圧を印加する時間は30分以上である。電圧の印加を開始した直後は、電極切断面等の酸化皮膜の欠損部分を修復するため、コンデンサ本体10に大きな電流が流れ、内部のコンデンサ素子5が発熱する。これにより、コンデンサ素子5の温度がカテゴリ下限温度より高くなると考えられる。酸化皮膜の修復がある程度進むと、コンデンサ本体10に流れる電流が小さくなり、コンデンサ素子5が再び冷却され、カテゴリ下限温度に近い温度となる。この状態でコンデンサ本体10に電圧を印加することにより、カテゴリ下限温度環境の耐性を付与することができる。コンデンサ素子5がカテゴリ下限温度またはそれに近い温度になった状態で電圧を印加するためには、印加時間を30分以上とすることが必要であると考えられる。 In the first step, the voltage is applied to the capacitor body 10 for 30 minutes or more. Immediately after the voltage application starts, a large current flows through the capacitor body 10 to repair missing parts of the oxide film on the electrode cut surface and other parts, causing the internal capacitor element 5 to heat up. This is thought to cause the temperature of the capacitor element 5 to rise above the category lower limit temperature. Once the oxide film has been repaired to a certain extent, the current flowing through the capacitor body 10 decreases, and the capacitor element 5 is cooled again, reaching a temperature close to the category lower limit temperature. By applying a voltage to the capacitor body 10 in this state, it is possible to provide resistance to the category lower limit temperature environment. In order to apply a voltage when the capacitor element 5 is at or close to the category lower limit temperature, it is thought that the application time needs to be 30 minutes or more.

上記第1工程で、コンデンサ本体10に電圧を印加する時間は、30分以上であれば特に限定されない。印加時間を40分以上としてもよく、50分以上としてもよい。印加時間の上限も限定されない。印加時間を、例えば、120分以下としてもよい。印加時間を長くしすぎないことにより、電解コンデンサの製造時間が長くなりすぎないため、電解コンデンサの生産性を向上させることができる。 In the first step, the time for applying voltage to the capacitor body 10 is not particularly limited as long as it is 30 minutes or more. The application time may be 40 minutes or more, or 50 minutes or more. There is no upper limit to the application time. The application time may be, for example, 120 minutes or less. By not making the application time too long, the manufacturing time of the electrolytic capacitor does not become too long, and the productivity of the electrolytic capacitor can be improved.

上記第2工程で、コンデンサ本体10に印加する電圧は、定格電圧または定格電圧より大きい。印加電圧は、定格電圧以上であれば、特に限定されない。印加電圧は、例えば、定格電圧としてもよく、定格電圧の1.05倍としてもよく、定格電圧の1.15倍としてもよい。印加電圧の上限は、特に限定されない。印加電圧が高いほど、酸化皮膜の修復効果が高まる。ただし、印加電圧が高すぎる場合、酸化皮膜が大きく損傷し、損傷した部分を十分に修復できない可能性がある。このような点を考慮して、印加電圧は、例えば、定格電圧の2.0倍以下としてもよく、定格電圧の1.4倍以下としてもよい。 In the second step, the voltage applied to the capacitor body 10 is the rated voltage or higher. The applied voltage is not particularly limited as long as it is equal to or higher than the rated voltage. The applied voltage may be, for example, the rated voltage, 1.05 times the rated voltage, or 1.15 times the rated voltage. The upper limit of the applied voltage is not particularly limited. The higher the applied voltage, the greater the effect of repairing the oxide film. However, if the applied voltage is too high, the oxide film may be severely damaged, and the damaged portion may not be repaired sufficiently. Taking this into consideration, the applied voltage may be, for example, 2.0 times the rated voltage or less, or 1.4 times the rated voltage or less.

上記第2工程で、カテゴリ上限温度の環境でコンデンサ本体10に電圧を印加する。カテゴリ上限温度の環境でコンデンサ本体10に電圧を印加することにより、カテゴリ上限温度の環境で弱体化した部分(酸化皮膜の損傷など)が修復される。これにより、カテゴリ上限温度環境の耐性を付与することができる。例えば、電解コンデンサをカテゴリ上限温度で使用した際、酸化皮膜が損傷することを抑制できる。また、電解コンデンサをカテゴリ下限温度より低い高温で使用した際にも、酸化皮膜が損傷することを抑制できる。これにより、電解コンデンサの使用環境温度がカテゴリ上限温度まで上昇しても、酸化皮膜の損傷が抑制され、漏れ電流が低減する。 In the second step, a voltage is applied to the capacitor body 10 in an environment of the upper category temperature limit. By applying a voltage to the capacitor body 10 in an environment of the upper category temperature limit, any parts weakened in the environment of the upper category temperature limit (such as damage to the oxide film) are repaired. This makes it possible to provide resistance to the upper category temperature limit environment. For example, when the electrolytic capacitor is used at the upper category temperature limit, damage to the oxide film can be suppressed. Also, when the electrolytic capacitor is used at a high temperature lower than the lower category temperature limit, damage to the oxide film can be suppressed. As a result, even if the temperature of the environment in which the electrolytic capacitor is used rises to the upper category temperature limit, damage to the oxide film is suppressed and leakage current is reduced.

上記第2工程で、コンデンサ本体10に電圧を印加する時間は30分以上である。印加時間を30分以上とすることにより、コンデンサ本体10を十分に修復させることができ、漏れ電流を十分に低下させることができる。コンデンサ本体10に電圧を印加する時間は、30分以上であれば特に限定されない。印加時間を40分以上としてもよく、50分以上としてもよい。印加時間の上限も限定されない。印加時間を、例えば、120分以下としてもよい。印加時間を長くしすぎないことにより、電解コンデンサの製造時間が長くなりすぎないため、電解コンデンサの生産性を向上させることができる。 In the second step, the time for applying voltage to the capacitor body 10 is 30 minutes or more. By making the application time 30 minutes or more, the capacitor body 10 can be sufficiently repaired and the leakage current can be sufficiently reduced. The time for applying voltage to the capacitor body 10 is not particularly limited as long as it is 30 minutes or more. The application time may be 40 minutes or more, or 50 minutes or more. There is no upper limit to the application time. The application time may be, for example, 120 minutes or less. By not making the application time too long, the manufacturing time of the electrolytic capacitor does not become too long, and the productivity of the electrolytic capacitor can be improved.

上記第1工程と上記第2工程のどちらを先に行ってもよい。また、第1工程と第2工程とを交互に複数回行ってもよい。 Either the first step or the second step may be performed first. In addition, the first step and the second step may be performed alternately multiple times.

第1工程の印加電圧と第2工程の印加電圧は、同じでもよく、異なってもよい。第1工程を2回以上行う場合、全ての第1工程の印加電圧が同じでもよく、少なくとも1回の第1工程の印加電圧が異なってもよい。第2工程を2回以上行う場合、全ての第2工程の印加電圧が同じでもよく、少なくとも1回の第2工程の印加電圧が異なってもよい。 The applied voltage in the first step and the applied voltage in the second step may be the same or different. When the first step is performed two or more times, the applied voltage in all first steps may be the same, or the applied voltage in at least one first step may be different. When the second step is performed two or more times, the applied voltage in all second steps may be the same, or the applied voltage in at least one second step may be different.

第1工程の印加時間と第2工程の印加時間は、同じでもよく、異なってもよい。第1工程を2回以上行う場合、全ての第1工程の印加時間が同じでもよく、少なくとも1回の第1工程の印加時間が異なってもよい。第2工程を2回以上行う場合、全ての第2工程の印加時間が同じでもよく、少なくとも1回の第2工程の印加時間が異なってもよい。 The application time of the first step and the application time of the second step may be the same or different. When the first step is performed two or more times, the application times of all the first steps may be the same, or the application time of at least one of the first steps may be different. When the second step is performed two or more times, the application times of all the second steps may be the same, or the application time of at least one of the second steps may be different.

上記により、使用環境温度が急激に変化しても、漏れ電流の上昇を抑制できる電解コンデンサを作製することができる。 As a result, it is possible to create an electrolytic capacitor that can suppress an increase in leakage current even if the temperature of the operating environment changes suddenly.

従来、カテゴリ上限温度でエージング処理を行っていたが、本実施形態の電解コンデンサの製造方法によると、カテゴリ下限温度の環境でコンデンサ本体10に電圧を印加する第1工程と、カテゴリ上限温度の環境でコンデンサ本体10に電圧を印加する第2工程とを行う。つまり、エージング処理をカテゴリ下限温度とカテゴリ上限温度のそれぞれで行う。 Conventionally, aging treatment was performed at the upper category temperature limit, but according to the manufacturing method of the electrolytic capacitor of this embodiment, a first step is performed in which a voltage is applied to the capacitor body 10 in an environment of the lower category temperature limit, and a second step is performed in which a voltage is applied to the capacitor body 10 in an environment of the upper category temperature limit. In other words, aging treatment is performed at both the lower category temperature limit and the upper category temperature limit.

カテゴリ下限温度でエージング処理を行うことにより(第1工程)、カテゴリ下限温度環境で弱体化する部分(酸化皮膜の損傷など)を露呈させるとともに、弱体化した部分を修復することができる。これにより、カテゴリ下限温度環境の耐性を付与することができる。また、カテゴリ上限温度環境でエージング処理を行うことにより(第2工程)、カテゴリ上限温度環境で弱体化する部分(酸化皮膜の損傷など)を露呈させるとともに、弱体化した部分を修復することができる。これにより、カテゴリ上限温度環境の耐性を付与することができる。 By performing the aging treatment at the lower category temperature limit (first step), it is possible to expose the parts that are weakened in the lower category temperature environment (such as damage to the oxide film) and repair the weakened parts. This makes it possible to impart resistance to the lower category temperature environment. Furthermore, by performing the aging treatment at the upper category temperature environment (second step), it is possible to expose the parts that are weakened in the upper category temperature environment (such as damage to the oxide film) and repair the weakened parts. This makes it possible to impart resistance to the upper category temperature environment.

上記方法によって作製された電解コンデンサは、使用環境温度が急激に変化しても、漏れ電流の上昇を抑制できる電解コンデンサであることがわかった。また、使用環境温度の変化が小さくても、漏れ電流の上昇を抑制できることがわかった。 It was found that the electrolytic capacitor produced by the above method is an electrolytic capacitor that can suppress an increase in leakage current even if the temperature of the environment in which it is used changes suddenly. It was also found that an increase in leakage current can be suppressed even if the change in the temperature of the environment in which it is used is small.

第1工程と第2工程のどちらを先に実施してもよいが、第1工程を第2工程の前に実施した場合、以下の効果が得られると考えられる。
第2工程のカテゴリ上限温度環境では、第1工程のカテゴリ下限温度環境より、電解液中のイオンの移動が比較的速い。そのため、第2工程のカテゴリ上限温度環境では、第1工程のカテゴリ下限温度環境より、酸化皮膜が修復されやいと考えられる。また、酸化皮膜の修復が速いと考えられる。第1工程で酸化皮膜の修復が十分でなかった部分が生じたとしても、第1工程の後に第2工程を実施することにより、第2工程でその部分が修復されやすい。また、第2工程で酸化皮膜を強化できる。
Either the first step or the second step may be carried out first, but when the first step is carried out before the second step, it is believed that the following effects can be obtained.
In the upper category temperature environment of the second step, the movement of ions in the electrolyte is relatively faster than in the lower category temperature environment of the first step. Therefore, it is considered that the oxide film is more easily repaired in the upper category temperature environment of the second step than in the lower category temperature environment of the first step. It is also considered that the repair of the oxide film is faster. Even if a portion of the oxide film is not sufficiently repaired in the first step, by carrying out the second step after the first step, that portion is more likely to be repaired in the second step. In addition, the oxide film can be strengthened in the second step.

以下、実施例により、本発明をさらに具体的に説明する。ただし、下記実施例は本発明を制限するものではなく、本明細書の趣旨を逸脱しない範囲で変更実施することは全て本発明の技術的範囲に包含される。 The present invention will be described in more detail below with reference to the following examples. However, the following examples do not limit the present invention, and all modifications and implementations that do not deviate from the spirit of this specification are included within the technical scope of the present invention.

[従来例]
(コンデンサの作製)
所定の幅に切断された陽極箔および陰極箔に外部引き出し電極用のリード端子を接続した。陽極箔は、アルミニウム箔の表面に誘電体である酸化皮膜が形成された弁作用金属からなる。酸化皮膜は、アルミニウム箔の表面にエッチング処理を施すことよって粗面化した後、化成酸化処理を施すことによって形成されたものである。陰極箔は、表面にエッチング処理を施されたアルミニウム箔である。陽極箔および陰極箔をセルロース繊維のセパレータを介して巻回することにより、コンデンサ素子を作製した。
[Conventional example]
(Making a capacitor)
Lead terminals for external extraction electrodes were connected to the anode foil and cathode foil cut to a specified width. The anode foil was made of a valve metal with a dielectric oxide film formed on the surface of the aluminum foil. The oxide film was formed by roughening the surface of the aluminum foil by etching, and then performing a chemical oxidation treatment. The cathode foil was aluminum foil with an etched surface. The anode foil and cathode foil were wound with a cellulose fiber separator between them to produce a capacitor element.

陽極箔の切り口の酸化皮膜や外部引き出し電極取り付け時に欠損した酸化皮膜を修復するため、化成処理を行った。本実験では、以下の方法により化成処理を行った。
化成液として、アジピン酸アンモニウムを主体とした溶質を水溶媒に溶解させ、アジピン酸アンモニウム濃度を0.1wt%~2wt%に調整したものを準備した。この化成液にコンデンサ素子を浸した状態で、酸化皮膜の化成電圧値に近似した電圧を印加した(第一化成処理)。その後、コンデンサ素子を200℃~300℃の温度で数十分程熱処理した後、リン酸を主体とした溶質を水溶媒に溶解させ、リン酸濃度を0.1wt%~0.5wt%に調整した化成液に、コンデンサ素子を浸した状態で、酸化皮膜の化成電圧値に近似した電圧を印加した(第二化成処理)。
In order to repair the oxide film on the cut edge of the anode foil and the oxide film that was damaged when the external extraction electrode was attached, a chemical conversion treatment was performed. In this experiment, the chemical conversion treatment was performed by the following method.
A chemical conversion solution was prepared by dissolving a solute mainly made of ammonium adipate in an aqueous solvent, and adjusting the ammonium adipate concentration to 0.1 wt% to 2 wt%. A voltage close to the chemical conversion voltage of the oxide film was applied while the capacitor element was immersed in this chemical conversion solution (first chemical conversion treatment). After that, the capacitor element was heat-treated at a temperature of 200°C to 300°C for several tens of minutes, and then a solute mainly made of phosphoric acid was dissolved in an aqueous solvent, and a voltage close to the chemical conversion voltage of the oxide film was applied while the capacitor element was immersed in the chemical conversion solution, which had a phosphoric acid concentration adjusted to 0.1 wt% to 0.5 wt% (second chemical conversion treatment).

次に、セパレータに導電性高分子を保持させるため、化成処理後のコンデンサ素子に、導電性高分子を水に分散させた水溶液を含浸させた。ここでは、いわゆるディスパージョン法を使用した。コンデンサ素子の1/3~2/3を、80~100kPaの減圧下で、2.0wt%PEDOT/PSS分散水溶液に20分間浸漬させた後、コンデンサ素子を引き上げ、乾燥させることにより、水分を除去した。これにより、陽極11の酸化皮膜の表面、陰極12の表面およびセパレータ13を構成する繊維表面を形成した。 Next, in order to retain the conductive polymer on the separator, the capacitor element after chemical conversion treatment was impregnated with an aqueous solution in which the conductive polymer was dispersed in water. Here, the so-called dispersion method was used. 1/3 to 2/3 of the capacitor element was immersed in a 2.0 wt% PEDOT/PSS dispersion aqueous solution for 20 minutes under a reduced pressure of 80 to 100 kPa, and then the capacitor element was pulled out and dried to remove the moisture. This formed the surface of the oxide film on the anode 11, the surface of the cathode 12, and the surface of the fibers that make up the separator 13.

導電性高分子が形成されたコンデンサ素子に電解液を含浸させた。ここでは、電解液として、エチレングリコール溶媒に1.0wt%のリンゴ酸を溶解したものを使用した。 The capacitor element on which the conductive polymer was formed was impregnated with an electrolyte. Here, the electrolyte used was 1.0 wt% malic acid dissolved in ethylene glycol solvent.

得られたコンデンサ素子にブチルゴムからなる封口体を取り付け、金属ケース内に収容し、金属ケースの開口を封止した後、ケースの開口の周縁をカーリング加工しコンデンサ本体を作製した。カテゴリ上限温度(125℃)の環境で、得られたコンデンサ本体に、定格電圧(80V)×1.15[V]の電圧を1時間印加することによりエージング処理を実施した後、絶縁性樹脂からなる座板6に形成された挿通孔にリード端子を挿通し、互いに離反する方向に折り曲げて面実装型電解コンデンサを作製した。これにより、従来例の電解コンデンサを作製した。この電解コンデンサは、カテゴリ温度範囲が-55℃~+125℃、定格電圧が80V、定格静電容量が15μF、容積がφ6.3×7.7Lの電解コンデンサである。後述する比較例1~5および実施例1の電解コンデンサも、カテゴリ温度範囲が-55℃~+125℃、定格電圧が80V、定格静電容量が15μF、容積がφ6.3×7.7Lの電解コンデンサである。 A sealing body made of butyl rubber was attached to the obtained capacitor element, which was then placed in a metal case. The opening of the metal case was then sealed, and the periphery of the opening of the case was then curled to produce a capacitor body. The obtained capacitor body was subjected to an aging treatment by applying a voltage of rated voltage (80V) x 1.15 [V] for one hour in an environment of the upper category temperature limit (125°C), and then the lead terminals were inserted into the insertion holes formed in the seat plate 6 made of insulating resin, and the lead terminals were bent in directions away from each other to produce a surface-mount electrolytic capacitor. In this way, a conventional electrolytic capacitor was produced. This electrolytic capacitor has a category temperature range of -55°C to +125°C, a rated voltage of 80V, a rated capacitance of 15μF, and a volume of φ6.3 x 7.7L. The electrolytic capacitors in Comparative Examples 1 to 5 and Example 1 described below also have a category temperature range of -55°C to +125°C, a rated voltage of 80V, a rated capacitance of 15μF, and a volume of φ6.3×7.7L.

[比較例1]
カーリング加工後、カテゴリ上限温度(125℃)でエージング処理する前に、カテゴリ下限温度(-55℃)の環境にコンデンサ本体を30分放置した。上記以外は、従来例と同様に電解コンデンサを作製した。
[Comparative Example 1]
After the curling process, the capacitor body was left in an environment of the lower limit temperature of the category (-55°C) for 30 minutes before being subjected to aging treatment at the upper limit temperature of the category (125°C). Other than the above, an electrolytic capacitor was produced in the same manner as in the conventional example.

[実施例1]
カーリング加工後、カテゴリ上限温度(125℃)でエージング処理する前に、カテゴリ下限温度(-55℃)の環境で、コンデンサ本体に、定格電圧(80V)×1.15[V]の電圧を30分間印加した。上記以外は、従来例と同様に電解コンデンサを作製した。
[Example 1]
After the curling process, a voltage of rated voltage (80 V) x 1.15 [V] was applied to the capacitor body for 30 minutes in an environment of the lower limit of the category temperature (-55 ° C) before aging treatment at the upper limit of the category temperature (125 ° C). Other than the above, an electrolytic capacitor was produced in the same manner as the conventional example.

[実施例2]
カーリング加工後、カテゴリ上限温度(125℃)でエージング処理する前に、カテゴリ下限温度(-55℃)の環境で、コンデンサ本体に、定格電圧(80V)×1.25[V]の電圧を30分間印加した。上記以外は、従来例と同様に電解コンデンサを作製した。
[Example 2]
After the curling process, a voltage of rated voltage (80V) x 1.25 [V] was applied to the capacitor body for 30 minutes in an environment of the lower limit of the category temperature (-55°C) before aging at the upper limit of the category temperature (125°C). Other than the above, an electrolytic capacitor was produced in the same manner as the conventional example.

[比較例2]
カーリング加工後、カテゴリ上限温度(125℃)でエージング処理する前に、-20℃の環境で、コンデンサ本体に、定格電圧(80V)×1.15[V]の電圧を30分間印加した。上記以外は、従来例と同様に電解コンデンサを作製した。
[Comparative Example 2]
After the curling process, and before aging at the upper category temperature (125°C), a voltage of rated voltage (80V) x 1.15 [V] was applied to the capacitor body for 30 minutes in an environment of -20°C. Other than the above, an electrolytic capacitor was produced in the same manner as the conventional example.

[比較例3]
カーリング加工後、カテゴリ上限温度(125℃)でエージング処理する前に、-40℃の環境で、コンデンサ本体に、定格電圧(80V)×1.15[V]の電圧を30分間印加した。上記以外は、従来例と同様に電解コンデンサを作製した。
[Comparative Example 3]
After curling, before aging at the upper category temperature (125°C), a voltage of rated voltage (80V) x 1.15 [V] was applied to the capacitor body for 30 minutes in an environment of -40°C. Other than the above, an electrolytic capacitor was produced in the same manner as the conventional example.

[比較例4]
カーリング加工後、カテゴリ上限温度(125℃)でエージング処理する前に、カテゴリ下限温度(-55℃)の環境で、コンデンサ本体に、定格電圧(80V)×1.15[V]の電圧を15分間印加した。上記以外は、従来例と同様に電解コンデンサを作製した。
[Comparative Example 4]
After the curling process, a voltage of rated voltage (80V) x 1.15 [V] was applied to the capacitor body for 15 minutes in an environment of the lower limit of the category temperature (-55°C) before aging treatment at the upper limit of the category temperature (125°C). Other than the above, an electrolytic capacitor was produced in the same manner as the conventional example.

[比較例5]
カーリング加工後、カテゴリ上限温度(125℃)でエージング処理する前に、カテゴリ下限温度(-55℃)の環境で、コンデンサ本体に、定格電圧(80V)の電圧を30分間印加した。上記以外は、従来例と同様に電解コンデンサを作製した。
[Comparative Example 5]
After the curling process, the rated voltage (80 V) was applied to the capacitor body for 30 minutes in an environment of the lower limit of the category temperature (-55°C) before aging treatment at the upper limit of the category temperature (125°C). Other than the above, an electrolytic capacitor was produced in the same manner as in the conventional example.

(評価)
カテゴリ下限温度(-55℃)の環境に電解コンデンサを30分間放置した後、カテゴリ上限温度(125℃)の環境に電解コンデンサを30分間放置することを1サイクルとし、これを500サイクル行う温度サイクル試験を実施した。
温度サイクル試験後、電解コンデンサに定格電圧を印加し、印加してから2分後の漏れ電流(LC)を測定した。また、温度サイクル試験前にも、電解コンデンサに定格電圧を印加し、印加してから2分後の漏れ電流(LC)を測定した。本実験では、温度サイクル試験前と温度サイクル試験後のいずれにおいても、20個の電解コンデンサの漏れ電流を測定し、その平均値を求めた。表1に、漏れ電流の平均値を示している。
(evaluation)
A temperature cycle test was conducted in which the electrolytic capacitor was left in an environment of the lower category temperature (-55°C) for 30 minutes and then left in an environment of the upper category temperature (125°C) for 30 minutes, with this cycle being counted as 500 cycles.
After the temperature cycle test, the rated voltage was applied to the electrolytic capacitor, and the leakage current (LC) was measured 2 minutes after the application. In addition, before the temperature cycle test, the rated voltage was applied to the electrolytic capacitor, and the leakage current (LC) was measured 2 minutes after the application. In this experiment, the leakage current of 20 electrolytic capacitors was measured both before and after the temperature cycle test, and the average value was calculated. Table 1 shows the average leakage current.

Figure 0007629835000001
Figure 0007629835000001

表1において、「1.15WV印加」とは、定格電圧(80[V])の1.15倍(92[V])で印加したことである。「1.25WV印加」とは、定格電圧(80[V])の1.25倍(100[V])で印加したことである。「1WV印加」とは、定格電圧(80[V])で印加したことある。これまでの経験から、漏れ電流が6.0μA以下(=「0.005×定格静電容量×定格電圧」以下)である場合、漏れ電流が低いと判断できる。 In Table 1, "1.15 WV applied" means that 1.15 times the rated voltage (80 V) (92 V) was applied. "1.25 WV applied" means that 1.25 times the rated voltage (80 V) (100 V) was applied. "1 WV applied" means that the rated voltage (80 V) was applied. From past experience, leakage current can be judged to be low when it is 6.0 μA or less (= 0.005 x rated capacitance x rated voltage or less).

表1からわかるように、従来例では、カテゴリ上限温度でエージング処理(従来のエージング処理)を行った。
比較例1では、従来のエージング処理に加え、カテゴリ下限温度の環境にコンデンサ本体を放置した。
実施例1、2および比較例2~5では、従来のエージング処理に加え、低温環境でエージング処理を実施した。実施例1、2および比較例2~5では、低温環境のエージング処理条件(温度、電圧、印加時間)が異なる。
As can be seen from Table 1, in the conventional example, aging treatment (conventional aging treatment) was performed at the upper category temperature limit.
In Comparative Example 1, in addition to the conventional aging treatment, the capacitor body was left in an environment at the lower limit temperature of the category.
In Examples 1 and 2 and Comparative Examples 2 to 5, aging treatment was performed in a low temperature environment in addition to the conventional aging treatment. The conditions of the aging treatment in the low temperature environment (temperature, voltage, application time) are different between Examples 1 and 2 and Comparative Examples 2 to 5.

従来例では、温度サイクル試験後の漏れ電流が9.8μAと大きく、6.0μAを超えていた。
比較例1では、温度サイクル試験後の漏れ電流が7.8μAと大きく、6.0μAを超えていた。
上記より、従来のエージング処理だけでは、温度サイクル試験後の漏れ電流の上昇を抑制できないことがわかった。また、従来のエージング処理に加え、コンデンサ本体を低温環境に放置しても、温度サイクル試験後の漏れ電流の上昇を抑制できないことがわかった。
In the conventional example, the leakage current after the temperature cycle test was large at 9.8 μA, exceeding 6.0 μA.
In Comparative Example 1, the leakage current after the temperature cycle test was large at 7.8 μA, exceeding 6.0 μA.
From the above, it was found that the increase in leakage current after the temperature cycle test cannot be suppressed by the conventional aging treatment alone. It was also found that the increase in leakage current after the temperature cycle test cannot be suppressed even if the capacitor body is left in a low temperature environment in addition to the conventional aging treatment.

一方、従来のエージング処理に加え、低温環境でエージング処理を行った(低温エージング処理を行った)実施例1、2では、漏れ電流が6.0μA以下であった。しかし、比較例2~5では、漏れ電流が6.0μAを超えた。 On the other hand, in Examples 1 and 2, in which aging treatment was performed in a low-temperature environment (low-temperature aging treatment) in addition to the conventional aging treatment, the leakage current was 6.0 μA or less. However, in Comparative Examples 2 to 5, the leakage current exceeded 6.0 μA.

実施例1、2および比較例2~5から、以下のことがわかった。
低温エージング処理をカテゴリ下限温度で行った実施例1、2では、漏れ電流の上昇が抑制された。しかし、低温エージング処理をカテゴリ下限温度より高い温度で行った比較例2、3では、漏れ電流の上昇を抑制できなかった。このことから、漏れ電流の上昇を抑制するためには、低温エージング処理をカテゴリ下限温度で行うことが必要であると考えられる。
比較例4では、低温エージング処理をカテゴリ下限温度で行ったが、漏れ電流の上昇を抑制できなかった。比較例4の低温エージング処理の印加時間は、実施例1の低温エージング処理の印加時間より短い。このことから、漏れ電流の上昇を抑制するためには、低温エージング処理の印加時間は30分以上行うことが必要であると考えられる。
比較例5では、低温エージング処理をカテゴリ下限温度で30分以上行ったが、漏れ電流の上昇を抑制できていない。比較例5の印加電圧は定格電圧であり、実施例1の印加電圧の値より小さい。このことから、漏れ電流の上昇を抑制するためには、印加電圧を定格電圧より大きくする必要があると考えられる。
The following was found from Examples 1 and 2 and Comparative Examples 2 to 5.
In Examples 1 and 2, in which the low-temperature aging treatment was performed at the lower limit temperature of the category, the increase in leakage current was suppressed. However, in Comparative Examples 2 and 3, in which the low-temperature aging treatment was performed at a temperature higher than the lower limit temperature of the category, the increase in leakage current could not be suppressed. From this, it is considered that in order to suppress the increase in leakage current, it is necessary to perform the low-temperature aging treatment at the lower limit temperature of the category.
In Comparative Example 4, the low-temperature aging treatment was performed at the lower limit temperature of the category, but the increase in leakage current could not be suppressed. The application time of the low-temperature aging treatment in Comparative Example 4 was shorter than the application time of the low-temperature aging treatment in Example 1. From this, it is considered that the application time of the low-temperature aging treatment needs to be 30 minutes or more in order to suppress the increase in leakage current.
In Comparative Example 5, the low-temperature aging treatment was performed for 30 minutes or more at the lower limit temperature of the category, but the increase in leakage current could not be suppressed. The applied voltage in Comparative Example 5 is the rated voltage, which is smaller than the applied voltage value in Example 1. From this, it is considered that the applied voltage needs to be made larger than the rated voltage in order to suppress the increase in leakage current.

上記より、温度サイクル試験後の漏れ電流の上昇を抑制するためには、従来のカテゴリ上限温度でエージング処理することに加え、カテゴリ下限温度の環境で、コンデンサ本体に、定格電圧より大きい電圧を30分以上印加する低温エージング処理を行うことが必要であることがわかった。この方法によって作製された電解コンデンサは、使用環境温度が急激に変化しても、漏れ電流の上昇を抑制できることがわかった。 From the above, it was found that in order to suppress the increase in leakage current after temperature cycle testing, in addition to the conventional aging treatment at the upper category temperature limit, it is necessary to perform a low-temperature aging treatment in which a voltage higher than the rated voltage is applied to the capacitor body for 30 minutes or more in an environment at the lower category temperature limit. It was found that electrolytic capacitors made using this method are able to suppress the increase in leakage current even if the temperature of the operating environment changes suddenly.

以上、本発明の実施形態について実施例に基づいて説明したが、具体的な構成は、これらの実施形態に限定されるものでないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなく特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれる。 Although the embodiments of the present invention have been described above based on examples, the specific configuration should not be considered to be limited to these embodiments. The scope of the present invention is indicated by the claims, not the above description, and includes all modifications that are equivalent in meaning to and within the scope of the claims.

例えば、上記実施例1では、カテゴリ上限温度でのエージング処理の前に、カテゴリ下限温度でのエージング処理を行っている。しかし、カテゴリ上限温度でエージング処理を行った後、カテゴリ下限温度でエージング処理を行ってもよい。この場合、先のエージング処理で、カテゴリ上限温度環境で弱体化する部分(酸化皮膜の欠損など)を露呈させるとともに、弱体化した部分を修復できる。また、後のエージング処理で、カテゴリ下限温度環境で弱体化する部分(酸化皮膜の欠損など)を露呈させるとともに、弱体化した部分を修復することができる。これにより、使用環境温度が急激に変化しても、漏れ電流の上昇を抑制できる電解コンデンサを製造することができる。 For example, in the above Example 1, aging treatment is performed at the lower category temperature before aging treatment at the upper category temperature. However, aging treatment may be performed at the lower category temperature after aging treatment at the upper category temperature. In this case, the first aging treatment exposes parts that are weakened in the upper category temperature environment (such as defects in the oxide film) and can repair the weakened parts. Furthermore, the latter aging treatment exposes parts that are weakened in the lower category temperature environment (such as defects in the oxide film) and can repair the weakened parts. This makes it possible to manufacture an electrolytic capacitor that can suppress an increase in leakage current even if the operating environment temperature changes suddenly.

また、上記実施例1、2では、カテゴリ下限温度でエージング処理するとき、コンデンサ本体に定格電圧(80V)×1.15[V]または定格電圧(80V)×1.25[V]の電圧を印加している。しかし、カテゴリ下限温度でエージング処理するときの印加電圧は、上記電圧に限られない。カテゴリ下限温度でエージング処理するときの印加電圧は、例えば、定格電圧より大きい他の電圧でもよい。 In addition, in the above-mentioned Examples 1 and 2, when performing the aging treatment at the lower limit temperature of the category, a voltage of rated voltage (80V) x 1.15 [V] or rated voltage (80V) x 1.25 [V] is applied to the capacitor body. However, the applied voltage when performing the aging treatment at the lower limit temperature of the category is not limited to the above voltage. The applied voltage when performing the aging treatment at the lower limit temperature of the category may be, for example, another voltage higher than the rated voltage.

また、上記実施例1、2では、カテゴリ下限温度でエージング処理するとき、コンデンサ本体に30分間電圧を印加している。しかし、カテゴリ下限温度でエージング処理するときの印加時間は、30分を超えてもよい。 In addition, in the above Examples 1 and 2, when performing the aging treatment at the lower limit temperature of the category, a voltage is applied to the capacitor body for 30 minutes. However, the application time when performing the aging treatment at the lower limit temperature of the category may exceed 30 minutes.

また、上記実験では、カテゴリ温度範囲が-55℃~+125℃、定格電圧が80V、定格静電容量が15μF、容積がφ6.3×7.7Lである電解コンデンサを作製した。しかし、本発明の電解コンデンサのカテゴリ温度範囲、定格電圧、定格静電容量および容積は上記に限られない。 In addition, in the above experiment, an electrolytic capacitor was produced with a category temperature range of -55°C to +125°C, a rated voltage of 80 V, a rated capacitance of 15 μF, and a volume of φ6.3 × 7.7 L. However, the category temperature range, rated voltage, rated capacitance, and volume of the electrolytic capacitor of the present invention are not limited to the above.

本発明の電解コンデンサの陽極、陰極、セパレータ、導電性高分子および電解液などは、実験で使用した陽極、陰極、セパレータ、導電性高分子および電解液などに限られず、変更可能である。例えば、電解液を溶媒のみ(溶質を溶解しない)の液体とした固体電解コンデンサとしても、本実施例と同様に使用環境温度が急激に変化しても、漏れ電流の上昇を抑制できる固体電解コンデンサを製造することができた。 The anode, cathode, separator, conductive polymer, and electrolyte of the electrolytic capacitor of the present invention are not limited to those used in the experiment, and can be changed. For example, even if the electrolyte is a liquid that is only a solvent (does not dissolve solutes), a solid electrolytic capacitor that can suppress an increase in leakage current even if the temperature of the operating environment changes suddenly, as in this embodiment, can be manufactured.

1 電解コンデンサ
2 外装ケース
3 封口体
4 外装体
5 コンデンサ素子
6 座板
10 コンデンサ本体
11 陽極
12 陰極
13 セパレータ
21、22 リード端子
REFERENCE SIGNS LIST 1 electrolytic capacitor 2 exterior case 3 sealing body 4 exterior body 5 capacitor element 6 seat plate 10 capacitor body 11 anode 12 cathode 13 separator 21, 22 lead terminals

Claims (5)

酸化皮膜を有する陽極と、陰極と、前記陽極および前記陰極の間に配置されたセパレータと、少なくとも前記セパレータに保持された導電性高分子および液体とを有するコンデンサ素子と、前記コンデンサ素子が収容された外装体とを備えた電解コンデンサの製造方法であり、
前記コンデンサ素子を前記外装体に収容したコンデンサ本体に、
カテゴリ下限温度の環境で定格電圧より大きい電圧を30分以上印加する第1工程と、
カテゴリ上限温度の環境で定格電圧または定格電圧より大きい電圧を30分以上印加する第2工程と
を有することを特徴する電解コンデンサの製造方法。
A method for manufacturing an electrolytic capacitor comprising: an anode having an oxide film, a cathode, a separator disposed between the anode and the cathode, a capacitor element having at least a conductive polymer and a liquid held by the separator, and an exterior body housing the capacitor element,
A capacitor body in which the capacitor element is accommodated in the exterior body,
A first step of applying a voltage higher than the rated voltage for 30 minutes or more in an environment of a lower category temperature limit;
a second step of applying a rated voltage or a voltage higher than the rated voltage for 30 minutes or more in an environment of an upper category temperature limit.
前記第1工程の後に前記第2工程を行うことを特徴する請求項1に記載の電解コンデンサの製造方法。 The method for manufacturing an electrolytic capacitor according to claim 1, characterized in that the second step is carried out after the first step. 前記第1工程において、前記コンデンサ本体に定格電圧の1.15倍以上の電圧を印加することを特徴する請求項1または2に記載の電解コンデンサの製造方法。 The method for manufacturing an electrolytic capacitor according to claim 1 or 2, characterized in that in the first step, a voltage of 1.15 times or more the rated voltage is applied to the capacitor body. 前記第1工程において、前記コンデンサ本体に電圧を印加する時間を120分以下とすることを特徴する請求項1~3のいずれか1項に記載の電解コンデンサの製造方法。 The method for manufacturing an electrolytic capacitor according to any one of claims 1 to 3, characterized in that in the first step, the time for applying voltage to the capacitor body is 120 minutes or less. 前記第2工程において、前記コンデンサ本体に電圧を印加する時間を120分以下とすることを特徴する請求項1~4のいずれか1項に記載の電解コンデンサの製造方法。 The method for manufacturing an electrolytic capacitor according to any one of claims 1 to 4, characterized in that in the second step, the time for applying voltage to the capacitor body is 120 minutes or less.
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