JP7636979B2 - Method for manufacturing adhesion prevention structure, manufacturing device for adhesion prevention structure, and adhesion prevention structure - Google Patents
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Description
本発明は、付着防止構造物の製造方法、付着防止構造物の製造装置、及び付着防止構造物に関する。 The present invention relates to a method for manufacturing an adhesion prevention structure, an apparatus for manufacturing an adhesion prevention structure, and an adhesion prevention structure.
新型コロナウイルス(SARS-CoV-2)による感染症COVID-19は、世界的感染爆発(パンデミック)を引き起こし、人から人への直接的な感染は人の行動(人流)によるところが大きい。一方、物を介した間接的な感染は生活環境に存在する材料や物品などの表面にウイルスを付着させないか、あるいはウイルスを不活化できる特性を物品などの表面に付与することが、感染防止対策として重要である。 COVID-19, an infectious disease caused by the new coronavirus (SARS-CoV-2), has caused a global outbreak (pandemic), with direct person-to-person infection being largely due to human behavior (people movement). On the other hand, as for indirect infection via objects, it is important to prevent the virus from attaching to the surfaces of materials and objects in the living environment, or to endow the surfaces of objects with properties that can inactivate the virus, as an infection prevention measure.
また近年、人々の生活環境に対する衛生指向が向上しており、例えば、食器、眼鏡、流し、台所周り、便器、トイレ周り、浴槽、浴室周り、洗面所周り、被服などへの衛生指向及び抗菌指向が高まっている。更に、細菌、カビ等の真菌類のみならず、病原性ウイルスを不活化し、人々の生活環境を取り巻く物品などを抗菌化・抗ウイルス化することによって、被感染又は二次感染のリスクを軽減することが強く望まれている。 In recent years, people have become more conscious of hygiene in their living environments, for example, there is a growing awareness of hygiene and antibacterial measures for tableware, glasses, sinks, kitchen areas, toilets, toilet areas, bathtubs, bathroom areas, washroom areas, clothing, etc. Furthermore, there is a strong desire to reduce the risk of infection or secondary infection by inactivating not only bacteria, mold and other fungi, but also pathogenic viruses and making the items surrounding people's living environments antibacterial and antiviral.
一方、科学的エビデンスのある抗菌技術としては、(1)有機コーティングと(2)材質由来であり、これに新規技術として(3)表面テクスチャが注目されている(例えば、非特許文献1参照)。
前記(1)の有機コーティングは光増感剤と高分子電解質(ポリカチオン等の正の電荷を帯びた陽イオン)であり、材質由来としては銅、銀、亜鉛、二酸化チタンなどが示されている。
既に、これら各方法の抗菌メカニズムに関するエビデンスが報告されており、前記(1)の有機コーティングと前記(2)の材質由来の両方ともほぼ同じメカニズムに起因しており、下記の3つに整理できる。
(i)活性(酸素)種による細胞構造の損傷
(ii)活性種や金属イオンなどによる遺伝情報の損傷
(iii)細胞膜への付着防止と損傷
On the other hand, antibacterial technologies with scientific evidence include (1) organic coatings and (2) material-derived antibacterial technologies, and (3) surface texture is attracting attention as a new technology (see, for example, Non-Patent Document 1).
The organic coating in (1) above is a photosensitizer and a polymer electrolyte (a positively charged cation such as a polycation), and the origin of the material given is copper, silver, zinc, titanium dioxide, etc.
Evidence regarding the antibacterial mechanisms of each of these methods has already been reported, and both the organic coating method (1) and the material-derived method (2) are due to almost the same mechanism, which can be classified into the following three categories.
(i) Damage to cell structure due to reactive (oxygen) species; (ii) Damage to genetic information due to reactive species and metal ions; (iii) Prevention of adhesion to and damage to cell membranes.
前記(3)の表面テクスチャによる抗菌及び抗ウイルスでは、3番目のメカニズムである「付着と損傷」に着目しており、そのポイントは「ウイルスは宿主(取り付く相手)が無いと維持・拡散できない」という原則にある。つまり、ウイルス感染の原因となる生活状況の一つは宿主(物体)の表面に触れることであるから、抗ウイルス機能は「宿主である浮遊物(パーティクル)や菌(細胞)を付着・残留させにくくする(滑落性を高めて除去=防汚)」ことで高めることができる。 The antibacterial and antiviral properties of surface texture mentioned above (3) focuses on the third mechanism, "adhesion and damage," and the key point is the principle that "viruses cannot survive and spread without a host (something to attach to)." In other words, since one of the living conditions that can cause viral infection is touching the surface of a host (object), the antiviral function can be improved by "making it difficult for the host, floating matter (particles) and bacteria (cells), to adhere and remain (removal by increasing slipperiness = anti-fouling)."
また、物品の表面に微生物付着防止特性を付与することを目的として、例えば、表面に、少なくとも2種類の形状の複数の凸部を有し、複数の凸部は、同じ高さを有し、平面視において周期的に配列されており、少なくとも2種類の形状のうち少なくとも1種類の形状は、2回回転対称形状又は線対称形状である微細構造を有する成形体が提案されている(例えば、特許文献1参照)。 In addition, for the purpose of imparting microbial adhesion prevention properties to the surface of an article, a molded article has been proposed that has a microstructure on its surface that has multiple protrusions of at least two different shapes, the multiple protrusions having the same height and arranged periodically in a plan view, and at least one of the at least two shapes has a two-fold rotational symmetry shape or an axisymmetric shape (see, for example, Patent Document 1).
しかしながら、微細構造であればすべて実用に耐えうる優れた滑落性(付着防止性)を発現するものではない。上記特許文献1に記載の微細構造は単純な凹凸構造であり、それほど高い滑落性は期待できないと考えられる。微細構造により極めて高い滑落性(付着防止性)及び撥液性を発現する表面テクスチャとしては、「階層構造」や「リエントラント構造」が示唆されている。また上記特許文献1は、複数の凸部が同じ高さを有し、平面視において周期的に配列されており、少なくともに2種類の形状のうち少なくとも1種類の形状は、2回回転対称形状又は線対称形状であり、長周期付着防止構造と短周期付着防止構造からなる「階層構造」を有するものではないし、また深さ方向に逆テーパー形状を有する「リエントラント構造」を有するものではない。更に、複数の凸部は短パルスレーザー光を照射することにより形成されるものではなく、産業上実用可能なコストでかつ高速なダイレクトプロセッシング方法を実現できるものではない。 However, not all fine structures exhibit excellent sliding properties (anti-adhesion properties) that can withstand practical use. The fine structure described in Patent Document 1 is a simple uneven structure, and it is thought that not much sliding properties can be expected. As surface textures that exhibit extremely high sliding properties (anti-adhesion properties) and liquid repellency due to the fine structure, "hierarchical structures" and "re-entrant structures" have been suggested. Furthermore, in Patent Document 1, multiple convex portions have the same height and are periodically arranged in a planar view, and at least one of the at least two types of shapes is a two-fold rotational symmetric shape or line symmetric shape, and it does not have a "hierarchical structure" consisting of a long-period anti-adhesion structure and a short-period anti-adhesion structure, nor does it have a "re-entrant structure" with a reverse tapered shape in the depth direction. Furthermore, the multiple convex portions are not formed by irradiating a short-pulse laser beam, and a direct processing method that is industrially practical at a low cost and at a high speed cannot be realized.
本発明は、細菌、ウイルス、粉塵等の粒子物の付着を効果的に防止できる付着防止構造を、産業上実用可能なコストでかつ高速なダイレクトプロセッシング方法により形成できる付着防止構造物の製造方法、付着防止構造物の製造装置、及び付着防止構造物を提供することを目的とする。 The present invention aims to provide an adhesion prevention structure that can effectively prevent the adhesion of particulate matter such as bacteria, viruses, and dust, and to provide a manufacturing method for an adhesion prevention structure that can be formed at industrially practical cost and at high speed by a direct processing method, an apparatus for manufacturing an adhesion prevention structure, and an adhesion prevention structure.
前記課題を解決するための手段としては、以下の通りである。即ち、
<1> 対象物の表面の少なくとも一部に短パルスレーザー光を照射して粒子物の付着を防止する付着防止構造を形成する工程を含むことを特徴とする付着防止構造物の製造方法である。
<2> モールドの表面の少なくとも一部に短パルスレーザー光を照射して粒子物の付着を防止する付着防止構造を形成したモールドを用いて付着防止構造物を製造することを特徴とする付着防止構造物の製造方法である。
<3> 前記粒子物がウイルス、細菌、及び粉塵から選択される少なくとも1種である、前記<1>から<2>のいずれかに記載の付着防止構造物の製造方法である。
<4> 前記付着防止構造が短周期付着防止構造及び長周期付着防止構造を有する、前記<1>から<3>のいずれかに記載の付着防止構造物の製造方法である。
<5> 前記短周期付着防止構造における隣接する凹部の中心間の最短距離が1μm未満であり、
前記長周期付着防止構造における隣接する凹部の中心間の最短距離が1μm以上である、前記<4>に記載の付着防止構造物の製造方法である。
<6> 前記短周期付着防止構造が、前記長周期付着防止構造の少なくとも凸頂部に形成されている、前記<4>から<5>のいずれかに記載の付着防止構造物の製造方法である。
<7> 前記付着防止構造が干渉加工法により形成される、前記<1>から<6>のいずれかに記載の付着防止構造物の製造方法である。
<8> 前記干渉加工法が表面波干渉加工法により行われる、前記<7>に記載の付着防止構造物の製造方法である。
<9> 前記干渉加工法が多光束干渉加工法により行われる、前記<7>に記載の付着防止構造物の製造方法である。
<10> 前記付着防止構造がパーカッション加工法により形成される、前記<1>から<3>のいずれかに記載の付着防止構造物の製造方法である。
<11> 前記付着防止構造が逆テーパー加工法により形成される、前記<1>から<3>のいずれかに記載の付着防止構造物の製造方法である。
<12> 対象物の表面の少なくとも一部に短パルスレーザー光を照射して粒子物の付着を防止する付着防止構造を形成する手段を有することを特徴とする付着防止構造物の製造装置である。
<13> 前記<1>から<11>のいずれかに記載の付着防止構造物の製造方法により製造されたことを特徴とする付着防止構造物である。
The means for solving the above problems are as follows.
<1> A method for producing an adhesion prevention structure, comprising the step of irradiating at least a part of a surface of an object with short-pulse laser light to form an adhesion prevention structure that prevents adhesion of particulate matter.
<2> A method for producing an adhesion prevention structure, characterized in that the adhesion prevention structure is produced using a mold in which an adhesion prevention structure that prevents adhesion of particulate matter is formed by irradiating short-pulse laser light onto at least a portion of the surface of the mold.
<3> The method for producing an adhesion-preventing structure according to any one of <1> and <2>, wherein the particulate matter is at least one selected from the group consisting of viruses, bacteria, and dust.
<4> The method for producing an adhesion prevention structure according to any one of <1> to <3>, wherein the adhesion prevention structure has a short period adhesion prevention structure and a long period adhesion prevention structure.
<5> The shortest distance between the centers of adjacent recesses in the short period adhesion prevention structure is less than 1 μm,
The method for producing an adhesion prevention structure according to <4> above, wherein the shortest distance between the centers of adjacent recesses in the long period adhesion prevention structure is 1 μm or more.
<6> The method for producing an adhesion prevention structure according to any one of <4> and <5>, wherein the short period adhesion prevention structure is formed on at least a convex apex of the long period adhesion prevention structure.
<7> The method for producing an adhesion prevention structure according to any one of <1> to <6>, wherein the adhesion prevention structure is formed by an interference machining method.
<8> The method for producing an adhesion prevention structure according to <7>, wherein the interference processing is performed by a surface wave interference processing method.
<9> The method for producing an adhesion prevention structure according to <7>, wherein the interference processing is performed by a multi-beam interference processing method.
<10> The method for producing an adhesion prevention structure according to any one of <1> to <3>, wherein the adhesion prevention structure is formed by a percussion processing method.
<11> The method for producing an adhesion prevention structure according to any one of <1> to <3>, wherein the adhesion prevention structure is formed by a reverse taper processing method.
<12> An apparatus for manufacturing an adhesion prevention structure, comprising: a means for forming an adhesion prevention structure that prevents adhesion of particulate matter by irradiating at least a part of a surface of an object with short-pulse laser light.
<13> An adhesion prevention structure, characterized by being manufactured by the manufacturing method for an adhesion prevention structure according to any one of <1> to <11>.
本発明によると、細菌、ウイルス、粉塵等の粒子物の付着を効果的に防止できる付着防止構造を、産業上実用可能なコストでかつ高速なダイレクトプロセッシング方法により形成できる付着防止構造物の製造方法、付着防止構造物の製造装置、及び付着防止構造物を提供することができる。 The present invention provides an adhesion prevention structure that can effectively prevent the adhesion of particulate matter such as bacteria, viruses, and dust, and can be formed at industrially practical cost and at high speed by a direct processing method, an adhesion prevention structure manufacturing method, an adhesion prevention structure manufacturing device, and an adhesion prevention structure.
(付着防止構造物の製造方法及び付着防止構造物の製造装置)
本発明の付着防止構造物の製造方法は、対象物の表面の少なくとも一部に短パルスレーザー光を照射して粒子物の付着を防止する付着防止構造を形成する工程を含み、更に必要に応じてその他の工程を含む。
(Method and device for manufacturing adhesion prevention structure)
The method for manufacturing an adhesion prevention structure of the present invention includes a step of irradiating at least a portion of the surface of an object with short-pulse laser light to form an adhesion prevention structure that prevents adhesion of particulate matter, and further includes other steps as necessary.
本発明の付着防止構造物の製造装置は、対象物の表面の少なくとも一部に短パルスレーザー光を照射して粒子物の付着を防止する付着防止構造を形成する手段を有し、更に必要に応じてその他の手段を有する。 The manufacturing device for an adhesion prevention structure of the present invention has a means for forming an adhesion prevention structure that prevents adhesion of particulate matter by irradiating at least a portion of the surface of an object with short-pulse laser light, and further has other means as necessary.
本発明の付着防止構造物の製造方法は、本発明の付着防止構造物の製造装置により好適に実施することができ、付着防止構造を形成する工程は付着防止構造を形成する手段により行うことができ、その他の工程はその他の手段により行うことができる。 The method for manufacturing an adhesion prevention structure of the present invention can be suitably carried out by the apparatus for manufacturing an adhesion prevention structure of the present invention, and the step of forming the adhesion prevention structure can be carried out by a means for forming the adhesion prevention structure, and the other steps can be carried out by other means.
本発明においては、対象物の表面の少なくとも一部に短パルスレーザー光を照射することにより、細菌、ウイルス、粉塵等の粒子物の付着を効果的に防止する付着防止構造を形成することができる。例えば、粒子物としてのウイルスは宿主(付着する対象物)が無いと維持・拡散することができないので、対象物の表面にウイルスを付着及び残留させにくくする付着防止構造を形成することによって、抗ウイルス機能を付与することができる。
本発明の付着防止構造物の製造方法によると、優れた付着防止効果を有する付着防止構造物を、産業上実用可能なコストでかつ高速なダイレクトプロセッシング方法により実現することができる。
In the present invention, by irradiating at least a part of the surface of an object with a short-pulse laser beam, an adhesion prevention structure that effectively prevents adhesion of particulate matter such as bacteria, viruses, dust, etc. For example, since viruses as particulate matter cannot be maintained or spread without a host (object to which they adhere), an anti-viral function can be imparted by forming an adhesion prevention structure that makes it difficult for viruses to adhere and remain on the surface of the object.
According to the method for producing an adhesion preventive structure of the present invention, an adhesion preventive structure having an excellent adhesion preventive effect can be realized by a direct processing method that is high speed and at an industrially practical cost.
<対象物>
前記対象物としては、表面に粒子物が付着可能な物であれば、その形状、大きさ、材質、構造などについて特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
前記対象物の形状は、特に制限はなく、対象物の用途等に応じて適宜選択することができ、例えば、平板状、正方形状、長方形状、矩形状、角柱状、円柱状、円筒状、球状、楕円球状、不定形などが挙げられる。なお、対象物の表面は平面に限らず、曲面であってもよく、また、平面と曲面との組み合わせであってもよい。
前記対象物の構造は単層構造であってもよいし、積層構造であってもよい。前記対象物の大きさは対象物の用途等に応じて適宜選択することができる。
<Target Object>
The object is not particularly limited in shape, size, material, structure, etc., so long as the particulate matter can be attached to the surface thereof, and can be appropriately selected depending on the purpose.
The shape of the object is not particularly limited and can be appropriately selected depending on the application of the object, etc., and examples thereof include a flat plate, a square, a rectangular, a rectangular, a prismatic, a cylindrical, a cylindrical, a spherical, an oval sphere, an amorphous, etc. The surface of the object is not limited to a flat surface, and may be a curved surface, or a combination of a flat surface and a curved surface.
The structure of the object may be a single layer structure or a multi-layer structure. The size of the object may be appropriately selected depending on the application of the object, etc.
前記対象物の材質は、特に制限はなく、対象物の用途等に応じて適宜選択することができ、例えば、金属、樹脂、ガラス、陶磁器、繊維、紙、煉瓦、ゴムなどが挙げられる。これらの中でも、樹脂、金属、繊維が好ましい。
前記樹脂としては、例えば、ポリカーボネート樹脂、ポリスチレン樹脂、フッ素系アクリル樹脂、エポキシアクリレート樹脂、メチルスチレン樹脂、フルオレン樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリメチルペンテン樹脂、ポリブテン樹脂、ポリビニルアルコール、ポリ塩化ビニル、ポリフッ化ビニリデン、ポリアミド、ポリイミド、ポリメチルメタアクリレート、シクロオレフィンポリマー、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリエーテルエーテルケトン、ポリエーテルスルフォン、ポリエーテルエーテルイミド、ポリフェニレンスルファイド、エチレン-酢酸ビニル共重合体、アクリル-スチレン共重合体、スチレン-ブタジエン-アクリロニトリル共重合体、シリコーン樹脂、ポリ乳酸、セルロース、アクリル樹脂、ポリエステル樹脂、ポリオレフィン樹脂、汎用プラスチック、エンジニアリングプラスチック、スーパーエンジニアリングプラスチックなどが挙げられる。これらは、1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
The material of the object is not particularly limited and can be appropriately selected depending on the application of the object, etc., and examples thereof include metal, resin, glass, ceramics, fiber, paper, brick, rubber, etc. Among these, resin, metal, and fiber are preferable.
Examples of the resin include polycarbonate resin, polystyrene resin, fluorine-based acrylic resin, epoxy acrylate resin, methylstyrene resin, fluorene resin, polyethylene resin, polypropylene resin, polyurethane resin, polymethylpentene resin, polybutene resin, polyvinyl alcohol, polyvinyl chloride, polyvinylidene fluoride, polyamide, polyimide, polymethyl methacrylate, cycloolefin polymer, polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, polyether ether ketone, polyether sulfone, polyether ether imide, polyphenylene sulfide, ethylene-vinyl acetate copolymer, acrylic-styrene copolymer, styrene-butadiene-acrylonitrile copolymer, silicone resin, polylactic acid, cellulose, acrylic resin, polyester resin, polyolefin resin, general-purpose plastic, engineering plastic, super engineering plastic, etc. These may be used alone or in combination of two or more.
前記金属としては、例えば、金、白金、銀、銅、銅合金、鉄、鉛、亜鉛、錫、チタン、バナジウム、クロム、ニッケル、タングステン、アルミニウム、アルミニウム合金、マグネシウム、半田、鋼、真鍮、炭素鋼、ステンレス鋼、ジュラルミンなどが挙げられる。これらは、1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。 Examples of the metals include gold, platinum, silver, copper, copper alloys, iron, lead, zinc, tin, titanium, vanadium, chromium, nickel, tungsten, aluminum, aluminum alloys, magnesium, solder, steel, brass, carbon steel, stainless steel, and duralumin. These may be used alone or in combination of two or more.
前記繊維としては、例えば、ポリエステル、ポリプロピレン等の合成繊維;セルロース系繊維、たんぱく質系繊維等の半合成繊維;レーヨン等の再生繊維;ガラス繊維、炭素繊維等の無機繊維などが挙げられる。これらは、1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。 Examples of the fibers include synthetic fibers such as polyester and polypropylene; semi-synthetic fibers such as cellulosic fibers and protein fibers; regenerated fibers such as rayon; and inorganic fibers such as glass fibers and carbon fibers. These may be used alone or in combination of two or more types.
前記対象物の具体例としては、例えば、食器、眼鏡、流し、台所周り、便器、トイレ周り、浴槽、浴室周り、洗面所周り、建材、衣類・装飾品、被服、家具類・家電製品、雑貨・日用品、洗面・バス用品、キッチン用品、装置・輸送機、工具・文具・事務用品、印刷物、運動器具・スポーツ用品、医療・健康用品、飲料・食品包装、飼育・ペット製品などが挙げられる。 Specific examples of the objects include tableware, glasses, sinks, kitchen areas, toilets, toilet areas, bathtubs, bathroom areas, washroom areas, building materials, clothing and decorative items, clothing, furniture and home appliances, miscellaneous goods and daily necessities, washroom and bath supplies, kitchen supplies, equipment and transport machinery, tools, stationery and office supplies, printed matter, exercise equipment and sporting goods, medical and health supplies, beverage and food packaging, and pet and animal care products.
<粒子物>
粒子物は粒子状の物質であれば特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、ウイルス、細菌、カビの胞子、花粉、粉塵(金属粉塵、鉱物粉塵、動物性粉塵、植物性粉塵)、黄砂などが挙げられる。これらの粒子物は、大気中で浮遊してエアロゾル粒子となる。
<Particles>
The particulate matter is not particularly limited as long as it is a particulate substance and can be appropriately selected depending on the purpose, and examples thereof include viruses, bacteria, mold spores, pollen, dust (metal dust, mineral dust, animal dust, plant dust), yellow sand, etc. These particulate matters float in the atmosphere and become aerosol particles.
前記ウイルスとしては、ゲノムの種類、又はエンベロープの有無等にかかわることなく、様々なウイルスが挙げられる。
前記ウイルスとしては、例えば、ライノウイルス、ポリオウイルス、口蹄疫ウイルス、ロタウイルス、ノロウイルス、エンテロウイルス、ヘパトウイルス、アストロウイルス、サポウイルス、E型肝炎ウイルス、A型、B型又はC型インフルエンザウイルス、パラインフルエンザウイルス、ムンプスウイルス(おたふくかぜ)、麻疹ウイルス、ヒトメタニューモウイルス、RSウイルス、ニパウイルス、ヘンドラウイルス、黄熱ウイルス、デングウイルス、日本脳炎ウイルス、ウエストナイルウイルス、B型肝炎ウイルス、C型肝炎ウイルス、東部及び西部馬脳炎ウイルス、オニョンニョンウイルス、風疹ウイルス、ラッサウイルス、フニンウイルス、マチュポウイルウス、グアナリトウイルス、サビアウイルス、クリミアコンゴ出血熱ウイルス、スナバエ熱・ハンタウイルス、シンノンブレウイルス、狂犬病ウイルス、エボラウイルス、マーブルグウイルス、コウモリリッサウイルス、ヒトT細胞白血病ウイルス、ヒト免疫不全ウイルス、ヒトコロナウイルス、SARSコロナウイルス、ヒトポルボウイルス、ポリオーマウイルス、ヒトパピローマウイルス、アデノウイルス、ヘルペスウイルス、水痘・帯状発疹ウイルス、EBウイルス、サイトメガロウイルス、天然痘ウイルス、サル痘ウイルス、牛痘ウイルス、モラシポックスウイルス、パラポックスウイルス、ジカウイルスなどが挙げられる。これらは、1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
The viruses include various viruses, regardless of the type of genome, whether or not they have an envelope, and the like.
Examples of the viruses include rhinovirus, poliovirus, foot and mouth disease virus, rotavirus, norovirus, enterovirus, hepatovirus, astrovirus, sapovirus, hepatitis E virus, influenza A, B or C virus, parainfluenza virus, mumps virus, measles virus, human metapneumovirus, respiratory syncytial virus, Nipah virus, Hendra virus, yellow fever virus, dengue virus, Japanese encephalitis virus, West Nile virus, hepatitis B virus, hepatitis C virus, eastern and western equine encephalitis virus, Onyong-nyong virus, rubella virus, Lassa virus, and Junin virus. , Machupo virus, Guanarito virus, Sabia virus, Crimean-Congo hemorrhagic fever virus, sandfly fever/Hantavirus, Sin Nombre virus, rabies virus, Ebola virus, Marburg virus, bat lyssavirus, human T-cell leukemia virus, human immunodeficiency virus, human coronavirus, SARS coronavirus, human porvovirus, polyoma virus, human papilloma virus, adenovirus, herpes virus, varicella/zoster virus, EB virus, cytomegalovirus, smallpox virus, monkeypox virus, cowpox virus, mollusipox virus, parapox virus, Zika virus, etc. These may be used alone or in combination of two or more.
前記細菌としては、グラム陽性、グラム陰性、好気性、又は嫌気性などの性質に関わらず様々な細菌が挙げられる。
前記細菌としては、例えば、大腸菌、黄色ブドウ球菌、表皮ブドウ球菌、連鎖球菌、肺炎球菌、インフルエンザ菌、百日咳菌、腸炎菌、肺炎桿菌、緑膿菌、ビブリオ、サルモネラ菌、コレラ菌、赤痢菌、炭疽菌、結核菌、ボツリヌス菌、破傷風菌、レンサ球菌、セレウス菌、枯草菌、乳酸菌、ピロリ菌などが挙げられる。これらは、1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
The bacteria include a variety of bacteria, whether gram positive, gram negative, aerobic, or anaerobic in nature.
Examples of the bacteria include Escherichia coli, Staphylococcus aureus, Staphylococcus epidermidis, Streptococcus, Streptococcus pneumoniae, Haemophilus influenzae, Bordetella pertussis, Salmonella enteritidis, Klebsiella pneumoniae, Pseudomonas aeruginosa, Vibrio, Salmonella enterica, Vibrio cholerae, Shigella, Bacillus anthrax, Mycobacterium tuberculosis, Clostridium botulinum, Clostridium tetani, Streptococcus, Bacillus cereus, Bacillus subtilis, Lactobacillus, Helicobacter pylori, etc. These may be used alone or in combination of two or more kinds.
<短パルスレーザー光>
短パルスレーザー光は、ナノ秒(1×10-9秒)以下のパルス幅を有するものを意味し、前記短パルスレーザー光のパルス幅は、フェムト秒(10-15秒)オーダーからピコ秒(10-12秒)オーダーであることが好ましい。
前記フェムト秒レーザーは、パルスが1~999×10-15秒と非常に短く、レーザーエネルギーの吸収によるアブレーション加工において、熱の拡散による影響を殆ど受けないことが知られている。
前記フェムト秒レーザーは、非常に干渉性の高いレーザーであり、適当な光学系により二つのフェムト秒レーザーを重ね合わせると、干渉による光強度の縞(干渉縞)が生ずる。このように、フェムト秒レーザーの干渉を用いれば、フォトリソグラフィなどの複雑な工程を経なくても、数十~数百オーダーの周期構造もしくは周期的な屈折率変化を、数十~数百μmの領域に、容易かつ効率的に加工することが可能である。
<Short pulse laser light>
The short-pulse laser light has a pulse width of nanoseconds (1×10 −9 seconds) or less, and the pulse width of the short-pulse laser light is preferably on the order of femtoseconds (10 −15 seconds) to picoseconds (10 −12 seconds).
The femtosecond laser has a very short pulse of 1 to 999×10 −15 seconds, and is known to be almost unaffected by heat diffusion in ablation processing through absorption of laser energy.
The femtosecond laser is a highly coherent laser, and when two femtosecond lasers are superimposed using an appropriate optical system, interference fringes of light intensity (interference fringes) are generated. In this way, by using the interference of femtosecond lasers, it is possible to easily and efficiently process a periodic structure or periodic refractive index change on the order of tens to hundreds of μm in an area of tens to hundreds of μm without going through a complicated process such as photolithography.
前記短パルスレーザー光の繰り返し周波数は、10kHz~1MHzであることが好ましく、500kHz~1MHzであることがより好ましい。
前記パルス発振するレーザーにおけるレーザー光源としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、エキシマレーザー、Nd:YAGレーザー、Nd:YVO4レーザー、半導体レーザーなどが挙げられる。
前記パルス発振するレーザーにおけるレーザー光源は、一定のピーク強度を有する短パルスレーザー光を繰り返し出力することができる。前記短パルスレーザー光は、ピーク強度が一定の複数のパルスを含むパルス列から構成される。
The repetition frequency of the short pulse laser light is preferably 10 kHz to 1 MHz, and more preferably 500 kHz to 1 MHz.
The laser light source in the pulsed laser is not particularly limited and can be appropriately selected depending on the purpose. Examples of the laser light source include an excimer laser, a Nd:YAG laser, a Nd: YVO4 laser, and a semiconductor laser.
The laser light source of the pulsed laser can repeatedly output a short-pulse laser beam having a constant peak intensity. The short-pulse laser beam is composed of a pulse train including a plurality of pulses each having a constant peak intensity.
<付着防止構造>
前記付着防止構造は、対象物の表面の少なくとも一部に形成されていればよいが、付着防止効果の点から対象物の表面の半分以上の部分に形成されることが好ましく、対象物の全面に形成しても構わない。
前記付着防止構造は、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、階層構造を有することが、粒子物に対する付着防止効果の点から好ましい。
前記階層構造としては、例えば、短周期付着防止構造及び長周期付着防止構造を有することが、粒子物に対する付着防止効果の点から好ましい。
前記短周期付着防止構造における隣接する凹部の中心間の最短距離(以下、「ピッチ」と称することもある)は1μm未満が好ましく、0.1μm以下がより好ましく、0.01μm以下が更に好ましく、0.005μm以下が特に好ましく、0.001μm以下がより更に好ましい。
前記長周期付着防止構造における隣接する凹部の中心間の最短距離(以下、「ピッチ」と称することもある)は,付着を防止する物質(粒子物)の大きさなどを考慮すると1μm以上が好ましく、5μm以上がより好ましく、10μm以上が更に好ましく、50μm以上が特に好ましく、100μm以上がより更に好ましい。どのようなピッチを選択するかは、例えば、透明性が必要であれば小さなピッチを選択するなど、当該対象物(製品)の意匠性なども考慮して決定される。
<Adhesion prevention structure>
The adhesion prevention structure may be formed on at least a portion of the surface of the object, but from the standpoint of adhesion prevention effect, it is preferable that it be formed on more than half of the surface of the object, and it may be formed on the entire surface of the object.
The adhesion preventing structure is not particularly limited and may be appropriately selected depending on the purpose, but it is preferable that the structure has a hierarchical structure from the viewpoint of the adhesion preventing effect against particulate matter.
The hierarchical structure preferably has, for example, a short periodic adhesion preventive structure and a long periodic adhesion preventive structure in terms of the adhesion preventive effect on particulate matter.
The shortest distance between the centers of adjacent recesses in the short period adhesion prevention structure (hereinafter sometimes referred to as "pitch") is preferably less than 1 μm, more preferably 0.1 μm or less, even more preferably 0.01 μm or less, particularly preferably 0.005 μm or less, and even more preferably 0.001 μm or less.
The shortest distance between the centers of adjacent recesses in the long period adhesion prevention structure (hereinafter sometimes referred to as "pitch") is preferably 1 μm or more, more preferably 5 μm or more, even more preferably 10 μm or more, particularly preferably 50 μm or more, and even more preferably 100 μm or more, taking into consideration the size of the substance (particle) that prevents adhesion, etc. The pitch to be selected is determined by taking into consideration the design of the target object (product), for example, a small pitch is selected if transparency is required.
前記短周期付着防止構造は、前記長周期付着防止構造の少なくとも凸頂部に形成されていることが、粒子物に対する付着防止効果の点から好ましい。 The short-period adhesion prevention structure is preferably formed at least on the convex apex of the long-period adhesion prevention structure in terms of the adhesion prevention effect against particulate matter.
<付着防止構造の形成方法>
前記付着防止構造は、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、例えば、干渉加工法により形成されることが好ましい。
前記干渉加工法には、表面波干渉加工法と多光束干渉加工法とがある。
<Method of forming adhesion prevention structure>
The adhesion prevention structure is not particularly limited and can be appropriately selected depending on the purpose, but is preferably formed by, for example, an interference processing method.
The interference processing method includes a surface wave interference processing method and a multi-beam interference processing method.
-表面波干渉加工法-
Birnbaumは、レーザー加工痕の底面に波長サイズの周期構造が「瞬時に」できることを1965年に発見した(Birnbaum M.:Semiconductor surface damage produced by ruby lasers,J. Appl. Phys.,36(11),3688-3689 (1965))。
前記周期構造は、入射光と表面にできるプラズマ波もしくは散乱光との干渉によりできる定常波が、物質表面を選択的に昇華するアブレーション現象であることが解明され、「表面波干渉加工法」と呼ばれる。つまり、レーザーによる物質の加工原理には、熱加工と、アブレーション(昇華)との2種類がある。レーザーのパワーが十分であればアブレーションのみが起こり熱は発生しない。レーザーのパワーが足りないとアブレーションと熱加工の両方が発生することになる。そして、レーザーのパワーが低いと熱加工のみが起こることになる。このいずれかの状況になるかは,パルスレーザーにおいてはパルス幅に依存する。
- Surface wave interference processing method -
Birnbaum discovered in 1965 that a periodic structure of wavelength size can be "instantaneously" formed on the bottom surface of a laser processing mark (Birnbaum M.: Semiconductor surface damage produced by ruby lasers, J. Appl. Phys., 36(11), 3688-3689 (1965)).
It has been elucidated that the periodic structure is an ablation phenomenon in which standing waves formed by the interference of incident light with plasma waves or scattered light on the surface selectively sublimate the surface of a material, and this phenomenon is called the "surface wave interference processing method." In other words, there are two principles for processing materials with a laser: thermal processing and ablation (sublimation). If the laser power is sufficient, only ablation occurs and no heat is generated. If the laser power is insufficient, both ablation and thermal processing occur. And if the laser power is low, only thermal processing occurs. In the case of a pulsed laser, which of these two situations occurs depends on the pulse width.
表面波干渉加工法では、金属、樹脂等の特定の物質の表面に、固体の熱緩和時間よりも短いパルス幅のフェムト秒レーザーを照射すると、物質に表面プラズマ波(表面波)が励起されることを利用している。レーザーのエネルギー強度が閾値を超えた部分で選択的にイオン放出が起こって加工され、回折格子状の微細周期構造が現れる。この現象は、自己組織的に形成されるので、表面内を走査しても、凹凸の周期を一致させることができる。
フェムト秒レーザーを用いた表面波干渉加工によると、幅数mmに数千本の微細構造を秒速数mmという超高速度で形成することができる。
表面波干渉加工法によって生じる周期構造のピッチaは,レーザーの波長λと入射角θに依存してa=λ/(1±sinθ)の関係で変化することが理論的に示されている(下記論文参照)。
・Campbell EEB, Ashkenasi D, Rosenfeld A: Ultra-short-pulse laser irradiation and ablation of dielectrics, Materials Science Forum, 301, 123-144 (1999)
・Sakabe S, Hashida M, Tokita S, Namba S, Okamuro K: Mechanism for self-formation of periodic grating structures on a metal surface by a femtosecond laser pulse, Physical Review B, 79, 33409-1-33409-4 (2009)
なお、表面波干渉加工法の詳細については、例えば、「Birnbaum M.: Semiconductor surface damage produced by ruby lasers, J. Appl. Phys., 36(11), 3688-3689 (1965)」の記載などを参照することができる。
Surface wave interference processing utilizes the fact that when the surface of a certain material such as metal or resin is irradiated with a femtosecond laser with a pulse width shorter than the thermal relaxation time of the solid, surface plasma waves (surface waves) are excited in the material. Selective ion emission occurs in areas where the laser energy intensity exceeds a threshold, resulting in processing, and a diffraction grating-like fine periodic structure appears. This phenomenon is formed in a self-organizing manner, so the period of the unevenness can be matched even if the entire surface is scanned.
Surface wave interference processing using a femtosecond laser makes it possible to form several thousand microstructures with a width of several mm at an ultra-high speed of several mm per second.
It has been theoretically shown that the pitch a of the periodic structure produced by surface wave interference processing varies according to the relationship a = λ/(1 ± sin θ) depending on the laser wavelength λ and the incident angle θ (see the paper listed below).
・Campbell EEB, Ashkenasi D, Rosenfeld A: Ultra-short-pulse laser irradiation and ablation of dielectrics, Materials Science Forum, 301, 123-144 (1999)
・Sakabe S, Hashida M, Tokita S, Namba S, Okamuro K: Mechanism for self-formation of periodic grating structures on a Metal surface by a femtosecond laser pulse, Physical Review B, 79, 33409-1-33409-4 (2009)
For details of the surface wave interference processing method, reference can be made to, for example, the description in "Birnbaum M.: Semiconductor surface damage produced by ruby lasers, J. Appl. Phys., 36(11), 3688-3689 (1965)".
-多光束干渉加工法-
多光束干渉加工法は、フェムト秒レーザーを用いることにより、レーザースポット内にマイクロメートルとナノメートルの領域の光の干渉パターンを任意に生成することができるので、一回のレーザー掃引で数十から数百本の周期構造を、レーザースポット径よりも小さなナノメートル領域のピッチでさえも実現でき、高速加工できる。また、光学的条件を選定することにより、3次元構造を形成することもできる。
例えば、フェムト秒レーザー加工装置と空間光位相変調器を用いて、数百nmピッチを加工でき、光束数を変化させるとともに、1本のレーザービームのみに位相板を挿入することにより、3次元形状の異なる干渉パターンを形成できる。
なお、多光束干渉加工法の詳細については、例えば、「A. A. Maznev, T. F. Crimmins, and K. A.: How to make femtosecond pulses overlap, Optics LEetters, Vol. 23, No. 17, 1378-1380, (1998)」の記載などを参照することができる。
- Multi-beam interference processing method -
The multi-beam interference processing method uses a femtosecond laser to arbitrarily generate optical interference patterns in the micrometer and nanometer range within the laser spot, so that it can realize periodic structures of tens to hundreds of lines with a single laser sweep, even with a nanometer pitch smaller than the laser spot diameter, and can perform high-speed processing. In addition, by selecting the optical conditions, it is also possible to form three-dimensional structures.
For example, by using a femtosecond laser processing device and a spatial light phase modulator, it is possible to process with a pitch of several hundred nm, and by changing the number of light beams and inserting a phase plate into only one laser beam, it is possible to form interference patterns with different three-dimensional shapes.
For details of the multi-beam interference processing method, for example, the description in "A. A. Maznev, T. F. Crimmins, and K. A.: How to make femtosecond pulses overlap, Optics LEetters, Vol. 23, No. 17, 1378-1380, (1998)" can be referred to.
-パーカッション加工法-
前記付着防止構造としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、例えば、パーカッション加工法により形成されることが好ましい。
パーカッション加工法とは、間欠的にレーザー照射を行う加工法であり、パルス加工を被加工物(ワーク)に対して時間間隔、若しくは一定間隔、及びこれらを併用したショットを連続的に繰り返すレーザー加工法である。
ナノ秒パルスレーザーの照射ピッチをマイクロメートルオーダーで制御しながらパーカッション加工法を併用することで、マイクロメートルピッチとナノメートルピッチの異なる周期の微細周期構造を同時に形成することが可能となる。
レーザー照射を間欠的に行うパーカッション加工法を用い,かつ2次元平面上の照射パターンを変化させることによって所望の3次元形状を得ることができる。この方法として、レーザー照射箇所とレーザー照射される対象物とを相対移動させつつパーカッション加工を行うことにより、対象物の表面に周期構造を形成させることができる。更に、ナノ秒パルスレーザーの照射ピッチをマイクロメートルオーダー(即ち、1マイクロメートル以上100マイクロメートル以下)で制御しながらパーカッション加工法を併用することで、マイクロメートルオーダーよりも周期の短いピッチの、異なる2つの微細周期構造を同時に形成させることができる。
超短パルスレーザーは所定の距離間隔及び所定の時間間隔で照射されるパーカッション加工法によって照射することができる。これにより、対象物の表面に形成される周期構造をレーザーのスポット径のオーバーラップ率を容易に調整することが可能となり、表面波干渉を制御したり,周期構造のピッチを制御したりすることができる。
なお、パーカッション加工法の詳細については、例えば、特開2020-66824号公報、特開2020-146725号公報などの記載を参照することができる。
-Percussion processing method-
The adhesion prevention structure is not particularly limited and can be appropriately selected depending on the purpose, but is preferably formed by, for example, a percussion processing method.
Percussion processing is a laser processing method that uses intermittent laser irradiation, in which pulse processing is performed on the workpiece at time intervals, at fixed intervals, or a combination of these shots are repeated continuously.
By combining the percussion processing method with controlling the irradiation pitch of the nanosecond pulse laser on the order of micrometers, it is possible to simultaneously form fine periodic structures with different periodicities, that is, micrometer pitch and nanometer pitch.
A desired three-dimensional shape can be obtained by using the percussion processing method, which performs intermittent laser irradiation, and changing the irradiation pattern on a two-dimensional plane. As a method of this, a periodic structure can be formed on the surface of an object by performing percussion processing while moving the laser irradiation point and the object to be irradiated with the laser relatively. Furthermore, by combining the percussion processing method with controlling the irradiation pitch of the nanosecond pulse laser on the order of micrometers (i.e., 1 micrometer to 100 micrometers), two different fine periodic structures with a pitch shorter than the order of micrometers can be simultaneously formed.
The ultrashort pulse laser can be irradiated by the percussion processing method, which irradiates at a specified distance and time interval. This makes it possible to easily adjust the overlap rate of the laser spot diameter to form a periodic structure on the surface of the target object, thereby controlling the surface wave interference and the pitch of the periodic structure.
For details of the percussion processing method, reference can be made to the descriptions in, for example, JP-A-2020-66824 and JP-A-2020-146725.
-逆テーパー加工法-
前記付着防止構造は、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、例えば、逆テーパー加工法により形成することが好ましい。
短パルスレーザー加工においては、光の入射側からその進行方向に向かって加工領域を狭める加工(「順テーパー加工」)のみならず、光の入射側からその進行方向に向かって加工領域を拡げる加工(「逆テーパー加工」)が求められている。なぜなら、前記逆テーパー加工は、断面の3次元形状の制約がなくなり、任意の形状を取ることができ、3次元の直接加工が可能となるからである。
根元にくびれがある逆テーパー形状の凸部は、「リエントラント構造」と呼ばれている。逆テーパー角が数十度に達する「リエントラント構造」はフェムト秒レーザーを用いた光学ユニットを用いることにより形成できる。
なお、逆テーパー加工法の詳細については、例えば、特願2020-174320号明細書の記載などを参照することができる。
- Reverse taper processing method -
The adhesion prevention structure is not particularly limited and can be appropriately selected depending on the purpose, but it is preferable to form it by, for example, a reverse taper processing method.
In short-pulse laser processing, not only processing that narrows the processing area from the light incident side toward the light traveling direction ("forward taper processing"), but also processing that expands the processing area from the light incident side toward the light traveling direction ("reverse taper processing") is required. This is because the reverse taper processing eliminates the restriction of the three-dimensional shape of the cross section, and can have any shape, making three-dimensional direct processing possible.
The convex part with a constriction at the base and a reverse tapered shape is called a "reentrant structure." A "reentrant structure" with a reverse taper angle of several tens of degrees can be formed by using an optical unit that uses a femtosecond laser.
For details of the reverse taper processing method, reference can be made to the description of Japanese Patent Application No. 2020-174320, for example.
(第2の形態の付着防止構造物の製造方法)
本発明の第2の形態の付着防止構造物の製造方法は、モールドの表面の少なくとも一部に短パルスレーザー光を照射して粒子物の付着を防止する付着防止構造を形成したモールドを用いて付着防止構造物を製造する。
本発明の第2の形態の付着防止構造物の製造方法によると、細菌、ウイルス、粉塵等の粒子物を防止する付着防止構造を表面に形成したモールドを作製し、このモールドを用いて、例えば、射出成形、ブロー成形、ナノインプリントなどにより、表面に付着防止構造を有する付着構造物を高速に大量生産できる。
(Method for manufacturing the adhesion prevention structure of the second embodiment)
The second form of the method for manufacturing an adhesion prevention structure of the present invention involves manufacturing an adhesion prevention structure using a mold in which an adhesion prevention structure that prevents adhesion of particulate matter is formed by irradiating short-pulse laser light onto at least a portion of the surface of the mold.
According to the second form of the manufacturing method for an adhesion prevention structure of the present invention, a mold is produced having an adhesion prevention structure formed on its surface that prevents particulate matter such as bacteria, viruses, and dust, and this mold can be used to rapidly mass-produce adhesion structures having an adhesion prevention structure on its surface, for example, by injection molding, blow molding, nanoimprinting, etc.
(付着防止構造物)
本発明の付着防止構造物は、本発明の付着防止構造物の製造方法により製造される。
本発明の付着防止構造物は、表面の少なくとも一部に粒子物の付着を防止する付着防止構造を有しているので、細菌、ウイルス、粉塵等の粒子物の付着を効果的に防止できる。
(Adhesion prevention structure)
The adhesion-preventing structure of the present invention is produced by the method for producing an adhesion-preventing structure of the present invention.
The adhesion preventive structure of the present invention has an adhesion preventive structure that prevents adhesion of particulate matter on at least a portion of its surface, and therefore can effectively prevent adhesion of particulate matter such as bacteria, viruses, and dust.
以下、本発明の実施例を説明するが、本発明は、これらの実施例に何ら限定されるものではない。 The following describes examples of the present invention, but the present invention is not limited to these examples.
(実施例1)
<表面波干渉加工法による付着防止構造の形成>
図1に示すように、超短パルスレーザーのひとつであるフェムト秒レーザー加工装置10(PHAROS SP、パルス幅234fs、中心波長514nm、繰り返し周波数60kHz、Light Conversion社)を使用し、被加工物15としてのガラス単繊維(繊維直径125μm、古河電気工業(株)製)にx-yの2軸方向とも走査速度0.5mm/sでショット加工を行った。図1中11はレーザーヘッド、12はビームエキスパンダ、13はミラー、14は集光レンズ、16はXYZステージである。
加工条件としては、スポット径6.9μmで固定し、フルエンス2.34~18.36J/cm2、オーバーラップ率0~90%、ピッチ0.7~7μmで変化させた。
図1に示すフェムト秒レーザー加工装置により、図2Aから図2Cに示す付着防止構造を形成した。図2Aはフルエンス(F)=8.88J/cm2、オーバーラップ率(OR)=0%の条件で作製した付着防止構造であり、長周期付着防止構造のピッチは9μmであった。
図2Bはフルエンス(F)=13.69J/cm2、オーバーラップ率(OR)=50%の条件で作製した付着防止構造であり、短周期付着防止構造のピッチは950nmであった。
図2Cはフルエンス(F)=4.46J/cm2、オーバーラップ率(OR)=90%の条件で作製した付着防止構造である。ランダム構造なので確定的なピッチは示せないが、長周期付着防止構造のピッチはおおよそ2~6μmであった。
Example 1
<Formation of adhesion prevention structure by surface wave interference processing method>
As shown in Fig. 1, a femtosecond laser processing device 10 (PHAROS SP, pulse width 234 fs, central wavelength 514 nm, repetition frequency 60 kHz, Light Conversion), which is one of ultrashort pulse lasers, was used to perform shot processing on a glass single fiber (fiber diameter 125 μm, manufactured by Furukawa Electric Co., Ltd.) as a workpiece 15 at a scanning speed of 0.5 mm/s in both x-y axial directions. In Fig. 1, 11 is a laser head, 12 is a beam expander, 13 is a mirror, 14 is a condenser lens, and 16 is an XYZ stage.
The processing conditions were a fixed spot diameter of 6.9 μm, a fluence of 2.34 to 18.36 J/cm 2 , an overlap rate of 0 to 90%, and a pitch of 0.7 to 7 μm.
The adhesion prevention structures shown in Figures 2A to 2C were formed using the femtosecond laser processing apparatus shown in Figure 1. Figure 2A shows an adhesion prevention structure fabricated under conditions of fluence (F) = 8.88 J/cm 2 and overlap ratio (OR) = 0%, and the pitch of the long-period adhesion prevention structure was 9 μm.
FIG. 2B shows an adhesion prevention structure fabricated under conditions of a fluence (F) of 13.69 J/cm 2 and an overlap ratio (OR) of 50%, and the pitch of the short-period adhesion prevention structure was 950 nm.
Fig. 2C shows an adhesion prevention structure fabricated under the conditions of fluence (F) = 4.46 J/ cm2 and overlap ratio (OR) = 90%. Although the pitch cannot be determined because it is a random structure, the pitch of the long-period adhesion prevention structure was approximately 2 to 6 μm.
次に、上記表面波干渉加工法により形成した付着防止構造を有する加工試験片を用い、以下のようにして抗菌性試験を行った。 Next, antibacterial tests were conducted as follows using test pieces with anti-adhesion structures formed by the above-mentioned surface wave interference processing method.
<抗菌性試験>
-加工試験片の作製-
試験片の加工にはピコ秒パルスレーザー(TrueMicro5000シリーズ、TRUMPF ドイツ)、波長515nm、パルス幅190fs、最大繰り返し周波数600kHzを用いた。
表面波干渉加工法の加工条件は、試験片としてステンレス鋼(SUS304、厚さ0.3mm、表面粗さRa=0.02μm)を用い、繰り返し周波数400kHz、パルス幅190fs、平均出力8.2W、スポット径φ20μmとした。
レーザー加工の光学系には、ガルバノスキャナーと、エキスパンダと、f-θレンズを組み合わせた走査型光学系を採用し、60mm×60mmの試験片に対して、図3に示すように、50mm×50mmの部分に表面波干渉加工(ピッチ500nm)を行った。
なお、加工試験片は、乾熱滅菌器により60℃で1時間加熱し、無菌化して使用した。
<Antibacterial Test>
- Preparation of processed test pieces -
The test pieces were processed using a picosecond pulse laser (TrueMicro5000 series, TRUMPF Germany) with a wavelength of 515 nm, a pulse width of 190 fs, and a maximum repetition rate of 600 kHz.
The processing conditions for the surface wave interference processing were as follows: stainless steel (SUS304, thickness 0.3 mm, surface roughness Ra=0.02 μm) was used as a test piece, repetition frequency 400 kHz, pulse width 190 fs, average output 8.2 W, and spot diameter φ20 μm.
For the optical system of the laser processing, a scanning optical system combining a galvanometer scanner, an expander, and an f-θ lens was adopted, and surface wave interference processing (pitch 500 nm) was performed on a 50 mm x 50 mm portion of a 60 mm x 60 mm test piece, as shown in Figure 3.
The processed test pieces were sterilized by heating at 60° C. for 1 hour in a dry heat sterilizer before use.
-抗菌性の評価-
JIS Z2801:2010「抗菌加工製品-抗菌性試験方法・抗菌効果」、5.試験方法(URL:http://kikakurui.com/z2/Z2801-2012-01.html)に基づき、抗菌性試験を実施した。
供試菌として大腸菌(NBRC3972)の懸濁液を使用した。
具体的な手順として、予め作製した加工試験片の全面を、エタノールを吸収させた脱脂綿により拭いた。
乾燥した加工試験片の上に、濃度を6.3×105cfu/mLに制御した大腸菌の懸濁液を0.4mL滴下し、40mm×40mmに断裁したポリプロピレンフィルム(VF-10、コクヨ社製)を載せることにより、加工試験片表面上に大腸菌の懸濁液を薄く広げつつ被覆して乾燥を防止した。その状態の加工試験片を35℃、湿度90%RH以上の環境下で24時間静置した。
その後、加工試験片を洗い流して回収した菌液を寒天培地にて培養し、コロニー数をカウントすることにより元の加工試験片上の生菌数を算出し、下記数式(i)により抗菌活性値Rを求め、下記の基準により抗菌性を評価した。結果を表1に示した。
抗菌活性値R=Ut-At・・・数式(i)
ただし、Utは未加工試験片の反応後の生菌数の対数値、Atは加工試験片の反応後の生菌数の対数値である。
[評価基準]
×:R<2.0、抗菌効果が認められない
〇:2.0≦R≦3.0、抗菌効果が認められる
◎:3.0<R、強い抗菌効果が認められる
- Antibacterial evaluation -
An antibacterial test was carried out based on JIS Z2801:2010 "Antibacterial processed products - Antibacterial test method and antibacterial effect", 5. Test method (URL: http://kikakurui.com/z2/Z2801-2012-01.html).
A suspension of Escherichia coli (NBRC3972) was used as the test bacteria.
As a specific procedure, the entire surface of a pre-prepared processed test piece was wiped with absorbent cotton soaked in ethanol.
0.4 mL of E. coli suspension with a concentration controlled to 6.3 x 10 5 cfu/mL was dropped onto the dried processed test piece, and a polypropylene film (VF-10, manufactured by Kokuyo Co., Ltd.) cut to 40 mm x 40 mm was placed on top to thinly spread and cover the surface of the processed test piece to prevent drying. The processed test piece in this state was left to stand for 24 hours in an environment of 35°C and humidity of 90% RH or more.
The processed test piece was then washed and the collected bacterial solution was cultured on an agar medium, and the number of colonies was counted to calculate the number of live bacteria on the original processed test piece. The antibacterial activity value R was calculated using the following formula (i), and the antibacterial property was evaluated according to the following criteria. The results are shown in Table 1.
Antibacterial activity value R=Ut-At Formula (i)
where Ut is the logarithm of the viable cell count after the reaction on the unprocessed test piece, and At is the logarithm of the viable cell count after the reaction on the processed test piece.
[Evaluation Criteria]
×: R<2.0, no antibacterial effect observed. ◯: 2.0≦R≦3.0, antibacterial effect observed. ⊚: 3.0<R, strong antibacterial effect observed.
(実施例2)
<多光束干渉加工法による付着防止構造の形成>
図4に示すように、レーザー発振器21として市販のフェムト秒パルスレーザー(Pharos-6W、Light Conversion リトアニア共和国)を、波長515nm、パルス幅277fs、及び繰り返し周波数10kHzで用いた。
多光束干渉加工法に用いる光学ユニット20は、図4に示すように、空間光位相変調器22(LCOS-SLM、浜松フォトニクス(株)製)と、空間光位相変調器22で分岐させた光を平行光にするためのコリメートレンズ23と、レーザーのスポット径を調整するためのビームエキスパンダ24と、2つの穴のあるマスク26(穴直径=200μm)と、集光レンズ27とから構成されている。なお、図4中25はミラー、28はワーク(被加工物)である。
多光束干渉加工法の加工条件は、ワーク(被加工物)28としてステンレス鋼(SUS304、厚さ1mm、表面粗さRa=0.03μm)を用い、繰り返し周波数10kHz、パルス幅290fs、平均出力235mW、スポット径64μmとした。
ワークを載せたステージ移動速度は0.5mm/sであり、1ショットあたり60本の溝を形成できた。
上記多光束干渉加工法により、図5Aに示すように2光束干渉で一軸(x)方向の格子状の付着防止構造を形成することができ、図5Bに示すように4光束干渉で二軸(x-y)方向の格子状の付着防止構造を形成することができた。
図5A及び図5Bの付着防止構造におけるピッチは1μmであった。つまり、本方法によれば、一方向の付着防止構造だけでなく、2方向の付着防止構造を同時に付与することができる。
このとき、回折角Ψと照射角θの関係は、次数式(1)で示される。
<Formation of adhesion prevention structure by multi-beam interference processing method>
As shown in FIG. 4, a commercially available femtosecond pulse laser (Pharos-6W, Light Conversion, Republic of Lithuania) was used as the laser oscillator 21 with a wavelength of 515 nm, a pulse width of 277 fs, and a repetition rate of 10 kHz.
As shown in Fig. 4, the optical unit 20 used in the multi-beam interference processing method is composed of a spatial light phase modulator 22 (LCOS-SLM, manufactured by Hamamatsu Photonics Co., Ltd.), a collimator lens 23 for converting the light branched by the spatial light phase modulator 22 into parallel light, a beam expander 24 for adjusting the laser spot diameter, a mask 26 with two holes (hole diameter = 200 µm), and a condenser lens 27. In Fig. 4, 25 denotes a mirror and 28 denotes a workpiece (object to be processed).
The processing conditions for the multi-beam interference processing were as follows: stainless steel (SUS304, thickness 1 mm, surface roughness Ra=0.03 μm) was used as the workpiece (object to be processed) 28, repetition frequency 10 kHz, pulse width 290 fs, average output 235 mW, and spot diameter 64 μm.
The stage on which the workpiece was placed moved at a speed of 0.5 mm/s, and 60 grooves could be formed per shot.
By using the above-mentioned multi-beam interference processing method, it was possible to form a lattice-shaped anti-adhesion structure in one axis (x) direction by two-beam interference as shown in FIG. 5A, and it was possible to form a lattice-shaped anti-adhesion structure in two axes (x-y) directions by four-beam interference as shown in FIG. 5B.
5A and 5B had a pitch of 1 μm. In other words, according to this method, not only an adhesion prevention structure in one direction but also an adhesion prevention structure in two directions can be simultaneously provided.
In this case, the relationship between the diffraction angle Ψ and the irradiation angle θ is expressed by the following equation (1).
付着防止構造(微細周期構造)パターンのピッチτは、波長λと照射角θから、次数式(2)で示される。
(実施例3)
<パーカッション加工法による付着防止構造の形成>
金属試料は炭素鋼(表面粗さRa=0.3μm、日立金属株式会社製)を用い、これを20mm×20mmの大きさに切り出し、加工試料片とした。
加工試料片を濃硫酸3に対し30%過酸化水素水1の容量比で混合したピラニア溶液に浸漬した後、引上げ、イオン交換水で洗浄し、乾燥させた。
上記の前処理を行った加工試料片について、同じ大きさの正方形となるように4分割した箇所に、以下のようにしてパーカッション加工を行った。
レーザー加工はナノ秒レーザー加工装置(発振波長532nm、最大出力10W)を使用した。レーザー加工の光学系としては,ガルバノスキャナーと、エキスパンダと、f-θレンズを組み合わせた走査型光学系を採用した。また、レーザー出力を制御するために減衰板を2個使用した。掃引方法としてはガルバノミラーを用いた。レーザースポット径はエキスパンダ8倍、レンズは焦点距離100mmのf-θレンズを用い、直径16μmとした。また、加工試料片の表面におけるレーザーの径は16μmとし、レーザー光の掃引スピードを変化させることでピッチを40μmとなるように制御した。また、1箇所当たりのレーザー照射のショット回数が80回となるようにした。
以上のパーカッション加工法により、図6A及び図6Bに示す付着防止構造を形成した。
図6Aはフルエンス(F)=4.98J/cm2の条件で形成した付着防止構造である。
図6Bはフルエンス(F)=9.95J/cm2の条件で形成した付着防止構造である。
図6A及び図6Bは、パーカッション加工法によるレーザー共焦点顕微鏡の写真であり、レーザー光の進行方向にクレーター状の穴が観察された。微細な穴の周囲にある土手状の外縁は、超短パルスレーザーのマランゴニ効果によって形成されたものと考えられる。
Example 3
<Formation of anti-adhesion structure by percussion processing method>
Carbon steel (surface roughness Ra=0.3 μm, manufactured by Hitachi Metals, Ltd.) was used as the metal sample, which was cut into a size of 20 mm×20 mm to prepare a processed sample piece.
The processed sample pieces were immersed in a piranha solution in which concentrated sulfuric acid was mixed in a volume ratio of 3 parts and 30% hydrogen peroxide solution in a volume ratio of 1 part, then removed, washed with ion-exchanged water, and dried.
The processed sample piece that had been pretreated as described above was divided into four equal-sized squares, and percussion processing was performed on the four divided areas as follows.
A nanosecond laser processing device (oscillation wavelength 532 nm, maximum output 10 W) was used for the laser processing. A scanning optical system combining a galvanometer scanner, an expander, and an f-θ lens was used as the optical system for the laser processing. Two attenuation plates were used to control the laser output. A galvanometer mirror was used for the sweeping method. The laser spot diameter was 16 μm using an expander 8 times and an f-θ lens with a focal length of 100 mm. The diameter of the laser on the surface of the processed sample piece was 16 μm, and the pitch was controlled to be 40 μm by changing the sweep speed of the laser light. The number of shots of laser irradiation per location was set to 80.
By the above-described percussion processing method, the adhesion prevention structure shown in FIG. 6A and FIG. 6B was formed.
FIG. 6A shows an adhesion prevention structure formed under the condition of a fluence (F) of 4.98 J/cm 2 .
FIG. 6B shows an adhesion prevention structure formed under the condition of a fluence (F) of 9.95 J/cm 2 .
6A and 6B are laser confocal microscope photographs taken using the percussion processing method, in which crater-like holes were observed in the direction of laser light propagation. The bank-like outer edges around the microscopic holes are thought to have been formed by the Marangoni effect of the ultrashort pulse laser.
(実施例4)
<逆テーパー加工法による付着防止構造の形成>
図7に示すように、逆テーパー加工法に用いる光学ユニット30は、コリメート調整をするビームエキスパンダ32と、照射角を可変とするための一対の第1のステップミラー33及び第2のステップミラー34と、レーザービームを回転させるためのダブプリズム35と、非球面レンズ37(f=17mm~20mm)とから構成されている。なお、図7中31はレーザーヘッド、36はスキャナミラー(固定)、38はワーク(被加工物)である。
第1のステップミラー33と第2のステップミラー34の角度を変更することにより、レーザービームの非球面レンズ37中心からの距離を調整し、アナログ的に逆テーパー角を可変できる。また、ダブプリズム35をモーターで回転させて、逆テーパー加工を行うことができる。
上記逆テーパー加工法により、図8に示す付着防止構造を形成した。図8は出力500mW、オーバーラップ率(OR)=90%の条件で形成した付着防止構造である。
Example 4
<Formation of adhesion prevention structure by reverse taper processing method>
As shown in Fig. 7, the optical unit 30 used in the reverse taper processing method is composed of a beam expander 32 for collimation adjustment, a pair of first and second step mirrors 33 and 34 for varying the irradiation angle, a Dove prism 35 for rotating the laser beam, and an aspheric lens 37 (f = 17 mm to 20 mm). In Fig. 7, 31 is a laser head, 36 is a scanner mirror (fixed), and 38 is a work (object to be processed).
By changing the angles of the first step mirror 33 and the second step mirror 34, the distance of the laser beam from the center of the aspheric lens 37 can be adjusted, and the reverse taper angle can be varied in an analog manner. In addition, the Dove prism 35 can be rotated by a motor to perform reverse taper processing.
By the above-mentioned reverse taper processing method, an adhesion prevention structure shown in Fig. 8 was formed. Fig. 8 shows an adhesion prevention structure formed under the conditions of an output of 500 mW and an overlap rate (OR) of 90%.
10 レーザー加工装置
11 レーザーヘッド
12 ビームエキスパンダ
13 ミラー
14 集光レンズ
15 被加工物
16 XYZステージ
20 光学ユニット
21 レーザー発振器
22 空間光位相変調器
23 コリメートレンズ
24 ビームエキスパンダ
25 ミラー
26 マスク
27 集光レンズ
28 ワーク
30 光学ユニット
31 レーザーヘッド
32 ビームエキスパンダ
33 第1のステップミラー
34 第2のステップミラー
35 ダブプリズム
36 スキャナミラー
37 非球面レンズ
38 ワーク
REFERENCE SIGNS LIST 10 laser processing device 11 laser head 12 beam expander 13 mirror 14 condenser lens 15 workpiece 16 XYZ stage 20 optical unit 21 laser oscillator 22 spatial light phase modulator 23 collimator lens 24 beam expander 25 mirror 26 mask 27 condenser lens 28 workpiece 30 optical unit 31 laser head 32 beam expander 33 first step mirror 34 second step mirror 35 Dove prism 36 scanner mirror 37 aspheric lens 38 workpiece
Claims (11)
前記長周期付着防止構造における隣接する凹部の中心間の最短距離が1μm以上である、請求項6に記載の付着防止構造物の製造方法。 the shortest distance between the centers of adjacent recesses in the short period adhesion prevention structure is less than 1 μm;
The method for producing an adhesion prevention structure according to claim 6 , wherein the shortest distance between the centers of adjacent recesses in the long period adhesion prevention structure is 1 μm or more.
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