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JP7649483B2 - Glass plate manufacturing method and manufacturing device - Google Patents
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JP7649483B2 - Glass plate manufacturing method and manufacturing device - Google Patents

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Description

本発明は、ガラス板の製造技術に係り、詳しくは、ガラスリボンを切断してガラス板を切り出した後におけるガラスリボンやガラス板に発生する不良の検知に関する。The present invention relates to a glass sheet manufacturing technology, and more specifically, to detecting defects that occur in a glass ribbon or glass sheet after the glass ribbon is cut to produce glass sheets.

ガラス板を製造するための手法としては、オーバーフローダウンドロー法、スロットダウンドロー法、リドロー法に代表されるダウンドロー法を利用した手法が広く採用されている。 Methods that are widely used to manufacture glass sheets include downdraw methods such as the overflow downdraw method, the slot downdraw method, and the redraw method.

これらの手法を利用したガラス板の製造工程では、ガラスリボンを連続的に成形した後、そのガラスリボンを所定の長さ毎に幅方向に沿って切断し、ガラスリボンからガラス板を切り出すことが行われる。この際、ガラスリボンやガラス板に不良が発生する場合がある。In the glass sheet manufacturing process using these techniques, a glass ribbon is continuously formed, then the glass ribbon is cut widthwise at specified lengths, and glass sheets are cut out from the glass ribbon. During this process, defects may occur in the glass ribbon or glass sheets.

そこで、例えば特許文献1には、複数のレーザーセンサにより切断後のガラスリボンやガラス板におけるガラスの有無などを検知し、この検知結果に基づき、それらに発生する不良(同文献では破損)を自動監視することが開示されている。ここでのレーザーセンサとしては、ガラスリボンやガラス板に向かってレーザー光を照射してガラスで反射した反射光を検知する反射型のセンサが使用されている。 For example, Patent Document 1 discloses a method in which multiple laser sensors are used to detect the presence or absence of glass in the glass ribbon or glass sheet after cutting, and the presence or absence of defects (called breakage in the document) that occur in these sheets is automatically monitored based on the detection results. The laser sensors used here are reflective sensors that irradiate the glass ribbon or glass sheet with laser light and detect the light reflected by the glass.

特開2018-104228号公報JP 2018-104228 A

しかしながら、レーザーセンサの場合、ガラスリボンやガラス板が搬送経路上で揺れたり振動したりすると、それらに向かって照射したレーザー光から得られる反射光などの測定対象光の状態が容易に変動する。その結果、ガラスリボンやガラス板に発生する不良を誤検知する問題があり、より高精度でそれらの不良を検知することが望まれている。 However, in the case of laser sensors, when the glass ribbon or glass plate sways or vibrates on the transport path, the state of the light to be measured, such as the reflected light obtained from the laser light irradiated toward them, easily fluctuates. As a result, there is a problem of false detection of defects occurring in the glass ribbon or glass plate, and there is a demand for a method to detect these defects with higher accuracy.

以上の観点から、本発明は、切断後におけるガラスリボンの切断側端部、ガラス板、及びそれら両者のうちの何れか一種を測定対象として、該測定対象に発生する不良を高精度で検知することを課題とする。From the above perspective, the present invention aims to detect defects occurring in the measurement object, which is either the cut side end of the glass ribbon after cutting, the glass plate, or either of the two, with high accuracy.

上記課題を解決するために創案された本発明の第一の側面は、成形ゾーンでガラスリボンを成形する成形工程と、前記ガラスリボンを長手方向に沿って搬送する搬送工程と、前記ガラスリボンを幅方向に沿って切断してガラス板を切り出す切断工程と、を備えたガラス板製造方法であって、前記切断工程での切断後におけるガラスリボンの切断側端部、ガラス板、及びそれら両者のうちの何れか一種を測定対象として、該測定対象について温度を測定し、その測定結果に基づいて該測定対象に発生する不良を検知する検知工程を備えていることに特徴づけられる。ここで、「不良」とは、測定対象に発生する欠陥(異形を含む)や破損などの不良を意味し、この不良が発生している測定対象はそれ自体が不良(不良品)となる(以下、同様)。The first aspect of the present invention, which has been invented to solve the above problems, is a glass sheet manufacturing method comprising a forming step of forming a glass ribbon in a forming zone, a conveying step of conveying the glass ribbon along the longitudinal direction, and a cutting step of cutting the glass ribbon along the width direction to cut out glass sheets, characterized in that the method comprises a detection step of measuring the temperature of the cut end of the glass ribbon after cutting in the cutting step, the glass sheet, or either one of them as a measurement object, and detecting defects occurring in the measurement object based on the measurement results. Here, "defect" refers to defects such as defects (including irregular shapes) and breakage occurring in the measurement object, and a measurement object in which such a defect occurs becomes a defect (defective product) itself (the same applies below).

この方法によれば、測定対象がガラスリボンの切断側端部である場合は、その切断側端部に発生する不良が検知され、測定対象がガラス板である場合は、そのガラス板に発生する不良が検知され、測定対象がガラスリボンの切断側端部及びガラス板の両者である場合は、その切断側端部及びガラス板に発生する不良が検知される。この不良の検知に際して、測定対象の温度は、測定対象の位置が搬送経路上で揺れや振動などにより変動しても大きな変化を示さないが、測定対象におけるガラスが欠落している箇所や突出している箇所で大きな変化を示す。したがって、この方法によれば、測定対象に発生する不良を高精度で検知できる。 According to this method, when the measurement object is the cut end of the glass ribbon, defects occurring at the cut end are detected; when the measurement object is a glass plate, defects occurring in the glass plate are detected; and when the measurement object is both the cut end of the glass ribbon and the glass plate, defects occurring in the cut end and the glass plate are detected. When detecting defects, the temperature of the measurement object does not change significantly even if the position of the measurement object fluctuates due to shaking or vibration on the transport path, but shows a large change at points where glass is missing or protruding in the measurement object. Therefore, according to this method, defects occurring in the measurement object can be detected with high accuracy.

この方法において、前記切断工程では、前記ガラスリボンをその幅方向に延びるスクライブ線に沿って折り割ることで前記ガラス板を切り出すようにしてもよい。In this method, the cutting process may involve cutting out the glass plate by bending and breaking the glass ribbon along scribe lines extending in the width direction of the glass ribbon.

このようにすれば、ガラスリボンを折り割ることで切断した場合における切断後のガラスリボンの切断側端部やガラス板に発生する特有の不良を高精度で検知できる。すなわち、切断工程では、レーザー割断やレーザー溶断等によってガラスリボンを切断することもできるが、ガラスリボンを折り割って切断する場合には、他の手法による場合とは異なる特有の不良が発生する。ここでの構成によれば、そのような特有の不良に適切に対処可能となる。In this way, it is possible to detect with high accuracy specific defects that occur in the cut end of the glass ribbon and the glass sheet after cutting when the glass ribbon is cut by bending and breaking. In other words, in the cutting process, the glass ribbon can be cut by laser breaking or laser melting, etc., but when the glass ribbon is cut by bending and breaking, specific defects occur that are different from those caused by other methods. With the configuration described here, it is possible to appropriately deal with such specific defects.

以上の方法において、前記成形工程では、前記ガラスリボンをダウンドロー法により成形し、前記検知工程では、縦姿勢である前記測定対象についての温度の測定を、サーモグラフィによる温度分布の測定として行うようにしてもよい。ここで、縦姿勢とは、鉛直姿勢、または鉛直方向に対して45°未満である傾斜姿勢をいう(以下、同様)。In the above method, the forming step may form the glass ribbon by a down-draw method, and the detection step may measure the temperature of the measurement object in a vertical position by measuring the temperature distribution using a thermograph. Here, a vertical position refers to a vertical position or an inclined position that is less than 45° with respect to the vertical direction (hereinafter the same).

温度分布の測定には、縦姿勢であるガラスリボンやガラス板の幅方向に沿って配列される複数の温度センサを用いることができるが、サーモグラフィを用いれば、高精細な温度分布を得ることができ、小さな不良も確実に検知できる。 Temperature distribution can be measured using multiple temperature sensors arranged along the width of a vertically oriented glass ribbon or glass plate, but the use of thermography makes it possible to obtain highly precise temperature distribution and reliably detect even small defects.

この方法において、前記検知工程で検知される不良は、前記切断工程での切断後におけるガラス板の上側の切断面の形状不良を含んでもよい。In this method, the defects detected in the detection process may include a shape defect of the upper cut surface of the glass plate after cutting in the cutting process.

ガラス板の上側の切断面の形状不良は、例えばスクライブチップあるいはホイールカッター等の消耗によって引き起こされる場合が多い。この形状不良を検知すれば、スクライブチップあるいはホイールカッター等の交換といった適切な措置を施すことができ、後続のガラス板の上側の切断面に形状不良が発生することを抑制できる。Defective shapes on the upper cut surface of a glass sheet are often caused by, for example, wear and tear on the scribe tip or wheel cutter. If this defective shape is detected, appropriate measures can be taken, such as replacing the scribe tip or wheel cutter, and the occurrence of defective shapes on the upper cut surface of subsequent glass sheets can be prevented.

この方法において、前記ガラス板についての温度分布から、前記上側の切断面の高さ位置の分布を求め、その高低に基づいて前記上側の切断面の形状不良を検知するようにしてもよい。In this method, the distribution of height positions of the upper cut surface may be calculated from the temperature distribution of the glass plate, and shape defects of the upper cut surface may be detected based on the height distribution.

このようにすれば、ガラス板の上側の切断面における高さ位置の分布から高低を測定することで、切断面の形状不良を検知することができ、検知工程の適正化が図られる。この場合、サーモグラフィによる温度分布を示す熱画像には、ガラス板の上方の空間である低温の箇所と、ガラス板が存在している高温の箇所との境界が、切断面の形状として描写される。そして、この境界線の高低に基づいて画像解析等すれば、切断面の形状不良を正確に検知できる。In this way, by measuring the height from the distribution of height positions on the cut surface on the upper side of the glass plate, defects in the shape of the cut surface can be detected, and the detection process can be optimized. In this case, the thermal image showing the temperature distribution taken by thermography depicts the boundary between the low-temperature area, which is the space above the glass plate, and the high-temperature area where the glass plate is present, as the shape of the cut surface. Then, by performing image analysis etc. based on the height of this boundary line, defects in the shape of the cut surface can be accurately detected.

この方法において、前記上側の切断面の形状不良を検知した場合、そのガラス板を廃棄するようにしてもよい。In this method, if a defect in the shape of the upper cut surface is detected, the glass plate may be discarded.

このようにすれば、上側の切断面の形状不良が検知された時点で、そのガラス板を早期に廃棄することができ、後工程での製造ラインの汚染等を未然に防止することができる。In this way, the glass plate can be discarded early as soon as a defect in the shape of the upper cut surface is detected, preventing contamination of the manufacturing line in subsequent processes.

これらの方法において、前記検知工程で検知される不良は、前記切断工程での切断後におけるガラス板の部分破損を含んでもよい。In these methods, the defects detected in the detection process may include partial breakage of the glass plate after cutting in the cutting process.

部分破損は、例えばガラスリボンの反りが大きい場合に発生し易くなる。部分破損を検知すれば、ガラスリボンの反りの低減といった適切な措置を施すことができ、後続のガラス板に部分破損が発生することを抑制できる。 Partial breakage is more likely to occur, for example, when the warp in the glass ribbon is large. If partial breakage is detected, appropriate measures can be taken, such as reducing the warp in the glass ribbon, and partial breakage can be prevented from occurring in subsequent glass sheets.

この方法において、前記ガラス板についての温度分布から、前記ガラス板の少なくとも一部の領域の面積を求め、その面積と第1閾値とに基づいて前記部分破損を検知するようにしてもよい。In this method, the area of at least a portion of the glass plate may be calculated from the temperature distribution of the glass plate, and partial damage may be detected based on the area and a first threshold value.

このようにすれば、ガラス板の少なくとも一部の領域の面積と第1閾値とに基づいて部分破損が検知されるため、誤差の少ない正確な検知が可能になる。この場合、サーモグラフィによる温度分布を示す熱画像には、ガラス板が存在することで高温の描画がされるべき箇所の一部に、部分破損に相当する低温の描画が出現する。そして、高温の箇所のみの面積が求められ、この面積と第1閾値とに基づいて部分破損が検知される。この場合のガラス板の面積は、例えばサーモグラフィにより測定できる領域がガラス板の一部の領域である場合には、その一部の領域の面積であり、サーモグラフィにより測定できる領域がガラス板の全領域である場合には、その全領域の面積である。この面積は、熱画像におけるピクセル数などによって求めることができる。ここでの第1閾値は、不良が全く存在しない場合のガラス板の面積(上記の領域に対応する面積)の例えば90%~99%に設定される。したがって、熱画像における高温の箇所の面積が、第1閾値を超える場合には、部分破損でないとされ、第1閾値以下の場合には、部分破損として検知される。In this way, partial damage is detected based on the area of at least a part of the glass plate and the first threshold value, so that accurate detection with less error is possible. In this case, in the thermal image showing the temperature distribution by thermography, a low-temperature drawing corresponding to partial damage appears in a part of the part where a high-temperature drawing should be made due to the presence of the glass plate. Then, the area of only the high-temperature part is obtained, and partial damage is detected based on this area and the first threshold value. In this case, the area of the glass plate is, for example, the area of the part of the glass plate when the area that can be measured by thermography is a part of the glass plate, and the area of the entire glass plate when the area that can be measured by thermography is the entire glass plate. This area can be obtained by the number of pixels in the thermal image, etc. The first threshold value here is set to, for example, 90% to 99% of the area of the glass plate when there is no defect (the area corresponding to the above-mentioned area). Therefore, if the area of the high-temperature part in the thermal image exceeds the first threshold value, it is not considered to be partial damage, and if it is equal to or less than the first threshold value, it is detected as partial damage.

この方法において、前記部分破損を検知した場合、そのガラス板を廃棄するようにしてもよい。In this method, if partial damage is detected, the glass plate may be discarded.

このようにすれば、部分破損が検知された時点で、そのガラス板を早期に廃棄することができるため、後工程での製造ラインの汚染等を未然に防止することができる。In this way, the glass plate can be discarded early when partial damage is detected, thereby preventing contamination of the manufacturing line in subsequent processes.

これらの方法において、前記検知工程で検知される不良は、前記切断工程での切断後におけるガラスリボンの縦割れに伴うガラス板の割れ破損を含んでもよい。In these methods, the defects detected in the detection process may include cracks and breakage of the glass plate due to vertical cracks in the glass ribbon after cutting in the cutting process.

このようにすれば、サーモグラフィによるガラス板の温度分布を示す熱画像から、前述の形状不良や部分破損とは異なる不良である割れ破損を検知できる。この割れ破損は、切断後のガラスリボンの縦割れに伴って発生するものである。ここで、縦割れとは、ガラスリボンの上下方向に沿って形成される割れであって、時間経過によりガラスリボン全体が破損してしまうような割れを意味する。この縦割れが発生すると、ガラスリボンから切り出されるガラス板に前述の部分破損よりも大きな割れ破損が発生するため、ガラス板の切り出しが不能になる場合がある。ここでの構成によれば、このようなガラスリボンの縦割れの発生を、ガラスリボンではなく、ガラス板の熱画像から検知できる。In this way, cracks and breakage, which are defects different from the above-mentioned shape defects and partial breakage, can be detected from a thermal image showing the temperature distribution of the glass sheet by thermography. This crack and breakage occurs along with a vertical crack in the glass ribbon after cutting. Here, a vertical crack means a crack that is formed along the vertical direction of the glass ribbon and that breaks the entire glass ribbon over time. When this vertical crack occurs, a larger crack than the above-mentioned partial breakage occurs in the glass sheet cut from the glass ribbon, and it may become impossible to cut out the glass sheet. According to the configuration here, the occurrence of such vertical cracks in the glass ribbon can be detected from a thermal image of the glass sheet, not the glass ribbon.

この方法において、前記ガラス板についての温度分布から、前記ガラス板の少なくとも一部の領域の面積を求め、その面積と第2閾値とに基づいて前記割れ破損を検知するようにしてもよい。In this method, the area of at least a portion of the glass plate may be calculated from the temperature distribution of the glass plate, and the crack or breakage may be detected based on the area and a second threshold value.

このようにすれば、ガラス板の面積と第2閾値とに基づいて既述の縦割れに伴う割れ破損が検知されるため、誤差の少ない正確な検知が可能になる。この場合、サーモグラフィによる温度分布を示す熱画像には、ガラス板が存在することで高温の描画がされるべき箇所の一部に、割れ破損に相当する低温の描画が出現する。なお、割れ破損は、ガラス板が存在しなくなる破損をも含み、この場合には熱画像上でガラス板の存在を示す高温の箇所が消失する。このような事情の下で、高温の箇所の面積(零の場合も有り得る)が求められ、この面積と第2閾値とに基づいて割れ破損が検知される。この場合のガラス板の面積も、既述の場合と同様に、例えばガラス板の一部の領域または全領域の面積であって、熱画像におけるピクセル数などで求めることができる。ここでの第2閾値は、不良が全く存在しない場合のガラス板の面積(上記の領域に対応する面積)の例えば30%~50%に設定される。したがって、熱画像における高温の箇所の面積が、第2閾値を超える場合には、割れ破損でないとされ、第2閾値以下の場合には、割れ破損として検知される。なお、第2閾値は、既述の第1閾値よりも小さい数値であるため、既述の部分破損は、第1閾値以下で且つ第2閾値を超える場合に不良として検知される。In this way, the cracks and damage caused by the vertical cracks described above are detected based on the area of the glass plate and the second threshold value, making it possible to detect them accurately with little error. In this case, in the thermal image showing the temperature distribution by thermography, a low-temperature drawing corresponding to the cracks and damage appears in a part of the area where a high-temperature drawing should be made due to the presence of the glass plate. Note that the cracks and damage also include damage in which the glass plate no longer exists, in which case the high-temperature areas indicating the presence of the glass plate disappear on the thermal image. Under such circumstances, the area of the high-temperature areas (which may be zero) is obtained, and the cracks and damage are detected based on this area and the second threshold value. The area of the glass plate in this case is, as in the case described above, for example, the area of a part or the entire area of the glass plate, and can be obtained by the number of pixels in the thermal image. The second threshold value here is set to, for example, 30% to 50% of the area of the glass plate when there are no defects (the area corresponding to the above-mentioned area). Therefore, if the area of the high-temperature areas in the thermal image exceeds the second threshold value, it is determined not to be a crack or damage, and if it is equal to or less than the second threshold value, it is detected as a crack or damage. In addition, since the second threshold value is a numerical value smaller than the first threshold value described above, the partial damage described above is detected as a defect when it is equal to or smaller than the first threshold value and exceeds the second threshold value.

この方法において、前記割れ破損を検知した場合、前記ガラスリボンの縦割れが発生しているとみなして、前記切断工程の実行に用いる切断装置を退避させるようにしてもよい。In this method, if the crack or breakage is detected, it may be determined that a vertical crack has occurred in the glass ribbon, and the cutting device used to carry out the cutting process may be retracted.

このようにすれば、ガラス板の割れ破損を検知した場合、ガラスリボンに縦割れが発生しているとみなすため、この縦割れに対して適切な対策を講じることができる。詳しくは既述のように、ガラス板の割れ破損は、ガラスリボンの縦割れに伴って発生する。したがって、ガラス板の割れ破損が発生していることを検知すれば、ガラスリボンの縦割れが発生していることをも検知していることになる。すなわち、ガラス板の割れ破損の発生を、ガラスリボンの縦割れの発生とみなしていることになる。割れ破損であるか否かを判断するための基準となる条件(例えば既述の第2閾値)は、このような事象を満たす条件として設定される。このような観点から、ここでの構成によれば、ガラス板の割れ破損を検知した場合、すなわち、ガラスリボンの縦割れが発生しているとみなした場合に、切断装置を早期に退避させることができる。これにより、縦割れの発生に起因してガラスリボンから多量のガラス片やガラス粉が飛散して落下することによる切断装置の汚染や故障を未然に防止できる。In this way, when a crack or breakage of the glass sheet is detected, it is assumed that a vertical crack has occurred in the glass ribbon, and appropriate measures can be taken against this vertical crack. As described above in detail, the crack or breakage of the glass sheet occurs along with a vertical crack in the glass ribbon. Therefore, if the occurrence of a crack or breakage of the glass sheet is detected, the occurrence of a vertical crack in the glass ribbon is also detected. In other words, the occurrence of a crack or breakage of the glass sheet is assumed to be the occurrence of a vertical crack in the glass ribbon. The condition (for example, the second threshold value described above) that serves as the standard for determining whether or not the crack or breakage is a crack is set as a condition that satisfies such an event. From this perspective, according to the configuration here, when a crack or breakage of the glass sheet is detected, that is, when it is assumed that a vertical crack has occurred in the glass ribbon, the cutting device can be evacuated early. This makes it possible to prevent contamination or failure of the cutting device caused by a large amount of glass fragments or glass powder scattering and falling from the glass ribbon due to the occurrence of a vertical crack.

これらの方法において、前記サーモグラフィは、前記測定対象についての温度分布の測定を斜め下方から行うようにしてもよい。In these methods, the thermograph may measure the temperature distribution of the measurement object from diagonally below.

このようにすれば、サーモグラフィにより測定できる領域が測定対象の一部の領域(例えば測定対象がガラス板であれば、ガラス板の上下方向の一部の領域)である場合に、以下のような利点が得られる。すなわち、サーモグラフィによる測定を斜め下方から行う場合に測定対象を測定できる領域は、当該測定を水平方向に沿って行う場合に測定対象を測定できる領域よりも、上下方向に長くなる。そのため、広い測定領域で発生する不良を検知できるという利点が得られる。加えて、以下のような利点も得られる。すなわち、サーモグラフィによる測定を水平方向に沿って行う場合あるいは斜め上方から行う場合には、斜め下方から行う場合よりも、サーモグラフィを相対的に高い位置に設置する必要がある。そのようにした場合には、ガラスリボンの切断位置の周辺に配置されている周辺装置(例えばスクライブ線を形成する装置など)とサーモグラフィとが干渉するおそれが生じ、サーモグラフィの設置スペースの自由度が低下する。ここでの構成によれば、上記の水平方向や斜め上方から測定を行う場合と比較して、サーモグラフィを相対的に低い位置に設置できる。これにより、サーモグラフィが上記の周辺装置と干渉し難くなり、サーモグラフィの設置スペースの自由度が高くなる。In this way, when the area that can be measured by the thermograph is only a part of the area of the measurement object (for example, if the measurement object is a glass plate, then a part of the area in the vertical direction of the glass plate), the following advantages can be obtained. That is, when the measurement is performed by the thermograph from diagonally below, the area in which the measurement object can be measured is longer in the vertical direction than the area in which the measurement object can be measured when the measurement is performed along the horizontal direction. Therefore, the advantage of being able to detect defects occurring in a wide measurement area is obtained. In addition, the following advantages can be obtained. That is, when the measurement is performed by the thermograph along the horizontal direction or from diagonally above, it is necessary to install the thermograph at a relatively higher position than when it is performed from diagonally below. In such a case, there is a risk that the thermograph will interfere with peripheral devices (such as a device for forming a scribe line) arranged around the cutting position of the glass ribbon, and the degree of freedom in the installation space of the thermograph will decrease. According to the configuration here, the thermograph can be installed at a relatively lower position compared to the above-mentioned cases of performing the measurement from the horizontal direction or from diagonally above. This makes it less likely that the thermography will interfere with the peripheral devices described above, and increases the freedom in the installation space for the thermography.

これらの方法において、前記サーモグラフィは、前記測定対象の表面を指向する向きが上下方向に調整可能とされていてもよい。In these methods, the thermograph may be capable of being adjusted in the vertical direction so as to point toward the surface of the object to be measured.

このようにすれば、成形されて搬送されるガラスリボンのサイズ、厚み、品種などが変更された場合、あるいはこの変更がなされなくても測定対象に揺れが生じた場合などに起こり得る弊害に対して適切に対処できる。すなわち、このような変更や揺れが生じた場合には、切断後における測定対象の位置が上下方向にずれる場合がある。このような位置のずれが生じると、測定対象に発生する不良の検知精度が低下するだけでなく、場合によっては、サーモグラフィにより測定できる領域から測定対象の一部または全部が上下方向で逸脱し、不良の検知が不能になり得る。ここでの構成によれば、サーモグラフィの向き(測定対象の表面を指向している向き)を上下方向に調整することで、サーモグラフィにより測定できる領域を、測定対象の上下方向のずれに対応してずらすことができる。これにより、測定対象を測定できる領域が適切に補正され、不良の検知のさらなる高精度化が図られる。In this way, it is possible to appropriately deal with adverse effects that may occur when the size, thickness, variety, etc. of the glass ribbon to be formed and transported is changed, or when the measurement target is shaken even if this change is not made. That is, when such a change or shake occurs, the position of the measurement target after cutting may shift in the vertical direction. When such a position shift occurs, not only does the detection accuracy of defects occurring in the measurement target decrease, but in some cases, a part or all of the measurement target may deviate in the vertical direction from the area that can be measured by the thermography, making it impossible to detect the defect. According to the configuration here, by adjusting the direction of the thermography (the direction in which it is directed toward the surface of the measurement target) in the vertical direction, the area that can be measured by the thermography can be shifted in response to the vertical shift of the measurement target. As a result, the area in which the measurement target can be measured is appropriately corrected, and further high accuracy in detecting defects is achieved.

これらの方法において、前記サーモグラフィは、前記測定対象の表面を指向する向きが幅方向に調整可能とされていてもよい。In these methods, the thermograph may be capable of adjusting the direction in which it points toward the surface of the object to be measured in the width direction.

このようにすれば、上記と同様にガラスリボンのサイズ、厚み、品種などが変更されたり、測定対象に揺れが生じたりして、切断後の測定対象が幅方向にずれても、サーモグラフィの向きを幅方向に調整することで、測定対象を測定できる領域が適切に補正される。In this way, even if the size, thickness, variety, etc. of the glass ribbon is changed as described above, or the measurement object vibrates, causing the measurement object to shift in the width direction after cutting, the area in which the measurement object can be measured can be appropriately corrected by adjusting the orientation of the thermograph in the width direction.

これらの方法において、前記サーモグラフィは、上下方向の位置が調整可能とされていてもよい。In these methods, the thermography may be capable of adjusting its position in the vertical direction.

このようにすれば、上記と同様にガラスリボンのサイズ、厚み、品種などが変更されたり、測定対象に揺れが生じたりして、切断後の測定対象が上下方向にずれても、サーモグラフィの上下方向の位置を調整することで、測定対象を測定できる領域が適切に補正される。この場合には、サーモグラフィの向きを変えずにあるいは向きを変えつつ、測定対象を測定できる領域を上下方向にずらすことができる。In this way, even if the size, thickness, or type of the glass ribbon is changed as described above, or the measurement target is swayed, causing the measurement target to shift vertically after cutting, the area in which the measurement target can be measured can be appropriately corrected by adjusting the vertical position of the thermograph. In this case, the area in which the measurement target can be measured can be shifted vertically without changing the orientation of the thermograph or by changing its orientation.

これらの方法において、前記サーモグラフィによる温度分布の測定により得られる熱画像上で、切断後におけるガラス板の上側縁部の高さ位置を検出し、この検出した高さ位置を上下方向の原点位置として、前記ガラス板の上端部及びその上方空間を対象とする不良検査領域を設定し、該不良検査領域内での画像解析により前記ガラス板に発生する不良を検知するようにしてもよい。In these methods, the height position of the upper edge of the glass plate after cutting is detected on a thermal image obtained by measuring the temperature distribution using the thermograph, and this detected height position is used as the origin position in the vertical direction to set a defect inspection area covering the upper end of the glass plate and the space above it, and defects occurring in the glass plate are detected by image analysis within the defect inspection area.

このようにすれば、サーモグラフィによる熱画像上で、不良検査領域が適正な位置に設定されるため、ガラス板に発生する不良をより一層高精度で検知できる。詳述すると、熱画像に描写されるガラス板の上下方向の位置は一様に定まらない。その原因は、既述のような変更や揺れなどによるだけでなく、サーモグラフィが熱画像を取り込むタイミングが、測定を行う度に変動することなどにもよる。このような事情の下では、熱画像上で不良検査領域を設定する際に、不良検査領域の上下方向位置にバラツキや誤差が生じ、ガラス板に発生する不良の誤検知を招くおそれが生じる。ここでの構成によれば、熱画像に描写されるガラス板の上側縁部の高さ位置を検出し、この検出した高さ位置を上下方向の原点位置として不良検査領域が設定されるため、熱画像上でのガラス板に対する不良検査領域の上下方向の位置が一様に定まる。これにより、不良検査領域内での画像解析によりガラス板に発生する不良を検知する際の誤検知が生じ難くなり、より一層確実に不良の検知精度を高めることができる。In this way, the defect inspection area is set at an appropriate position on the thermal image of the thermograph, so that defects occurring on the glass plate can be detected with even higher accuracy. More specifically, the vertical position of the glass plate depicted in the thermal image is not uniformly determined. This is due not only to the changes and vibrations as described above, but also to the fact that the timing at which the thermograph captures the thermal image fluctuates each time a measurement is performed. Under such circumstances, when the defect inspection area is set on the thermal image, there is a risk that the vertical position of the defect inspection area will vary or be subject to error, which may lead to erroneous detection of defects occurring on the glass plate. According to the configuration here, the height position of the upper edge of the glass plate depicted in the thermal image is detected, and the defect inspection area is set with this detected height position as the vertical origin position, so that the vertical position of the defect inspection area relative to the glass plate on the thermal image is uniformly determined. This makes it less likely that erroneous detection will occur when detecting defects occurring on the glass plate by image analysis within the defect inspection area, and the accuracy of defect detection can be improved even more reliably.

上記課題を解決するために創案された本発明の第二の側面は、ガラスリボンを成形する成形ゾーンと、前記ガラスリボンを長手方向に沿って搬送する搬送装置と、ガラス板を切り出すために前記ガラスリボンを幅方向に沿って切断する切断装置と、を備えたガラス板製造装置であって、前記切断装置による切断後におけるガラスリボンの切断側端部、ガラス板、及びそれら両者のうちの何れか一種を測定対象として、該測定対象について温度を測定し、その測定結果に基づいて該測定対象に発生する不良を検知する検知装置を備えていることに特徴づけられる。A second aspect of the present invention, which has been devised to solve the above problems, is a glass sheet manufacturing apparatus comprising a forming zone for forming a glass ribbon, a conveying device for conveying the glass ribbon along the longitudinal direction, and a cutting device for cutting the glass ribbon along the width direction to cut out glass sheets, characterized in that the apparatus comprises a detection device for measuring the temperature of the measurement object, which is either the cut end of the glass ribbon after cutting by the cutting device, a glass sheet, or either one of the two, and detecting defects occurring in the measurement object based on the measurement results.

これによれば、この製造装置と実質的に構成が同一である既述の製造方法と同一の作用効果を得ることができる。This allows the same effects to be obtained as the previously described manufacturing method, which has substantially the same configuration as this manufacturing apparatus.

本発明によれば、切断後におけるガラスリボンの切断側端部、ガラス板、及びそれら両者のうちの何れか一種を測定対象として、該測定対象に発生する不良を高精度で検知することができる。According to the present invention, the cut side end of the glass ribbon after cutting, the glass plate, or either one of them can be measured, and defects occurring in the measurement object can be detected with high accuracy.

本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の全体構成を示す縦断側面図である。1 is a vertical sectional side view showing an overall configuration of a glass sheet manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention. 図1のA方向から視たガラス板製造装置の要部を示す概略正面図である。2 is a schematic front view showing a main part of the glass sheet manufacturing apparatus as viewed from a direction A in FIG. 1 . 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置を使用してガラスリボンを切断した直後の概略の状態を示す正面図である。FIG. 2 is a front view showing a schematic state immediately after a glass ribbon is cut using the glass sheet manufacturing apparatus according to the embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置を使用してガラスリボンを切断した直後におけるガラスリボンの切断側端部とガラス板との形態を誇張して示す正面図である。FIG. 2 is an exaggerated front view showing the shapes of a cut end portion of a glass ribbon and a glass sheet immediately after the glass ribbon is cut using a glass sheet manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置を使用してガラスリボンを切断した直後におけるガラスリボンの切断側端部とガラス板との形態を誇張して示す正面図である。FIG. 2 is an exaggerated front view showing the shapes of a cut end portion of a glass ribbon and a glass sheet immediately after the glass ribbon is cut using a glass sheet manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置を使用してガラスリボンを切断した直後におけるガラスリボンの切断側端部とガラス板との形態を誇張して示す正面図である。FIG. 2 is an exaggerated front view showing the shapes of a cut end portion of a glass ribbon and a glass sheet immediately after the glass ribbon is cut using a glass sheet manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置を使用してガラスリボンを切断した直後におけるガラスリボンの切断側端部とガラス板との形態を誇張して示す正面図である。FIG. 2 is an exaggerated front view showing the shapes of a cut end portion of a glass ribbon and a glass sheet immediately after the glass ribbon is cut using a glass sheet manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置を使用してガラスリボンを切断した直後におけるガラスリボンの切断側端部とガラス板との形態を誇張して示す正面図である。FIG. 2 is an exaggerated front view showing the shapes of a cut end portion of a glass ribbon and a glass sheet immediately after the glass ribbon is cut using a glass sheet manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置を使用してガラスリボンを切断した直後におけるガラスリボンの切断側端部とガラス板との形態を誇張して示す正面図である。FIG. 2 is an exaggerated front view showing the shapes of a cut end portion of a glass ribbon and a glass sheet immediately after the glass ribbon is cut using a glass sheet manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置を使用してガラスリボンを切断した直後におけるガラスリボンの切断側端部とガラス板との形態を誇張して示す正面図である。FIG. 2 is an exaggerated front view showing the shapes of a cut end portion of a glass ribbon and a glass sheet immediately after the glass ribbon is cut using a glass sheet manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによる温度分布の熱画像からガラス板及びガラスリボンの不良の第1例を検知する手法を説明するための概略正面図である。FIG. 1 is a schematic front view for explaining a method for detecting a first example of a defect in a glass sheet and a glass ribbon from a thermal image of temperature distribution by a thermograph, which is a component of a glass sheet manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによる温度分布の熱画像からガラス板及びガラスリボンの不良の第2例を検知する手法を説明するための概略正面図である。FIG. 11 is a schematic front view for explaining a method for detecting a second example of a defect in a glass sheet and a glass ribbon from a thermal image of temperature distribution by a thermograph, which is a component of a glass sheet manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによる温度分布の熱画像からガラス板及びガラスリボンの不良の第3例を検知する手法を示す正面図である。FIG. 11 is a front view showing a method for detecting a third example of defects in a glass sheet and a glass ribbon from a thermal image of temperature distribution obtained by a thermograph, which is a component of a glass sheet manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによる温度分布の熱画像からガラス板及びガラスリボンの不良の第1例を検知する他の手法を説明するための概略正面図である。FIG. 11 is a schematic front view for explaining another method for detecting a first example of a defect in a glass sheet and a glass ribbon from a thermal image of temperature distribution by a thermograph, which is a component of a glass sheet manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによる温度分布の熱画像からガラス板及びガラスリボンの不良の第2例を検知する他の手法を説明するための概略正面図である。FIG. 11 is a schematic front view for explaining another method for detecting a second example of a defect in a glass sheet and a glass ribbon from a thermal image of temperature distribution by a thermograph, which is a component of a glass sheet manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによる温度分布の熱画像からガラス板及びガラスリボンの不良の第3例を検知する他の手法を説明するための概略正面図である。FIG. 11 is a schematic front view for explaining another method for detecting a third example of defects in a glass sheet and a glass ribbon from a thermal image of temperature distribution by a thermograph, which is a component of a glass sheet manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによる温度分布の熱画像からガラス板及びガラスリボンの不良の第4例を検知する手法を示す正面図である。FIG. 11 is a front view showing a method for detecting a fourth example of defects in a glass sheet and a glass ribbon from a thermal image of temperature distribution obtained by a thermograph, which is a component of a glass sheet manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによる温度分布の熱画像からガラス板及びガラスリボンの不良の第5例を検知する手法を示す正面図である。FIG. 11 is a front view showing a method for detecting a fifth example of a defect in a glass sheet and a glass ribbon from a thermal image of temperature distribution obtained by a thermograph, which is a component of a glass sheet manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態の変形例に係るガラス板製造装置であって、当該製造装置を図1のA方向から視たとした場合における概略正面図である。FIG. 2 is a schematic front view of a glass sheet manufacturing apparatus according to a modified example of an embodiment of the present invention, as viewed from a direction A in FIG. 1 . 本発明の実施形態の変形例に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィにより測定できる範囲を示す概略正面図である。FIG. 11 is a schematic front view showing a range that can be measured by a thermograph that is a component of a glass sheet manufacturing apparatus according to a modified example of an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィとガラス板との関係を示す概略側面図である。1 is a schematic side view showing a relationship between a thermograph, which is a component of a glass sheet manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention, and a glass sheet. FIG. 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによりガラス板を測定できる範囲を示す概略側面図である。FIG. 2 is a schematic side view showing a range in which a glass sheet can be measured by a thermograph, which is a component of the glass sheet manufacturing apparatus according to the embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィとガラス板との関係を示す概略側面図である。1 is a schematic side view showing a relationship between a thermograph, which is a component of a glass sheet manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention, and a glass sheet. FIG. 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィとガラス板との関係を示す概略平面図である。FIG. 2 is a schematic plan view showing a relationship between a thermograph, which is a component of the glass sheet manufacturing apparatus according to the embodiment of the present invention, and a glass sheet. 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィとガラス板との関係を示す概略側面図である。1 is a schematic side view showing a relationship between a thermograph, which is a component of a glass sheet manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention, and a glass sheet. FIG. 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによる温度分布の熱画像上で不良検査領域を設定するための手法を示す正面図である。FIG. 1 is a front view showing a method for setting a defect inspection area on a thermal image of temperature distribution obtained by a thermograph, which is a component of the glass sheet manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによる温度分布の熱画像上で不良検査領域を設定するための手法を示す正面図である。FIG. 1 is a front view showing a method for setting a defect inspection area on a thermal image of temperature distribution obtained by a thermograph, which is a component of the glass sheet manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによる温度分布の熱画像上に設定された不良検査領域内で画像解析により不良を検知する手法の第1例を示す正面図である。FIG. 1 is a front view showing a first example of a method for detecting defects by image analysis within a defect inspection area set on a thermal image of temperature distribution by a thermograph, which is a component of a glass sheet manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係るガラス板製造装置の構成要素であるサーモグラフィによる温度分布の熱画像上に設定された不良検査領域内で画像解析により不良を検知する手法の第2例を示す正面図である。FIG. 11 is a front view showing a second example of a method for detecting defects by image analysis within a defect inspection area set on a thermal image of temperature distribution by a thermograph, which is a component of a glass sheet manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention.

以下、本発明に係る一実施形態を添付図面に基づいて説明する。 One embodiment of the present invention is described below with reference to the attached drawings.

図1は、本実施形態に係るガラス板製造装置の全体構成を示す縦断側面図である。同図に示すように、ガラス板製造装置は、ガラスリボンGの処理装置1と、切断装置2と、検知装置3と、を備えている。 Figure 1 is a vertical cross-sectional side view showing the overall configuration of a glass sheet manufacturing apparatus according to this embodiment. As shown in the figure, the glass sheet manufacturing apparatus includes a processing device 1 for processing glass ribbon G, a cutting device 2, and a detection device 3.

処理装置1は、ガラスリボンGを連続成形する成形ゾーン11と、ガラスリボンGを熱処理(徐冷)する熱処理ゾーン12と、ガラスリボンGを室温付近まで冷却する冷却ゾーン13と、成形ゾーン11、熱処理ゾーン12及び冷却ゾーン13のそれぞれに上下複数段に設けられたローラ対Rからなる搬送装置14と、を備えている。The processing device 1 includes a forming zone 11 for continuously forming the glass ribbon G, a heat treatment zone 12 for heat treating (slowly cooling) the glass ribbon G, a cooling zone 13 for cooling the glass ribbon G to near room temperature, and a conveying device 14 consisting of roller pairs R arranged in multiple stages above and below in each of the forming zone 11, the heat treatment zone 12 and the cooling zone 13.

成形ゾーン11及び熱処理ゾーン12は、ガラスリボンGの搬送経路の周囲が壁部で囲まれた炉により構成されており、ガラスリボンGの温度を調整するヒータ等の加熱装置が炉内の適所に配置されている。一方、冷却ゾーン13は、ガラスリボンGの搬送経路の周囲が壁部に囲まれることなく常温の外部雰囲気に開放されており、ヒータ等の加熱装置は配置されていない。The forming zone 11 and the heat treatment zone 12 are constituted by a furnace in which the transport path of the glass ribbon G is surrounded by walls, and heating devices such as heaters for adjusting the temperature of the glass ribbon G are arranged at appropriate locations within the furnace. On the other hand, the cooling zone 13 is open to the outside atmosphere at room temperature, with the transport path of the glass ribbon G not surrounded by walls, and no heating devices such as heaters are arranged therein.

成形ゾーン11の内部空間には、オーバーフローダウンドロー法により溶融ガラスGmからガラスリボンGを成形する成形体15が配置されている。成形体15に供給された溶融ガラスGmは、成形体15の頂部15aに形成された溝部(図示略)から溢れ出る。この溢れ出た溶融ガラスGmは、成形体15の断面楔状を呈する両側面15bを伝って下端で合流する。これにより、板状のガラスリボンGが連続成形される。この連続成形されるガラスリボンGは、縦姿勢(好ましくは鉛直姿勢)で下方に送られる。In the internal space of the forming zone 11, a forming body 15 is disposed, which forms a glass ribbon G from molten glass Gm by the overflow downdraw method. The molten glass Gm supplied to the forming body 15 overflows from a groove (not shown) formed in the top 15a of the forming body 15. This overflowing molten glass Gm flows along both side surfaces 15b, which have a wedge-shaped cross section, of the forming body 15 and joins at the bottom end. This allows a plate-shaped glass ribbon G to be continuously formed. This continuously formed glass ribbon G is sent downward in a vertical position (preferably a vertical position).

熱処理ゾーン12の内部空間は、下方に向かって所定の温度勾配を有している。縦姿勢のガラスリボンGは、熱処理ゾーン12の内部空間を下方に向かって移動するに連れて、温度が低くなるように熱処理(徐冷)される。この熱処理により、ガラスリボンGの内部歪が低減される。熱処理ゾーン12の内部空間の温度勾配は、例えば熱処理ゾーン12の壁部内面に設けた加熱装置により調整される。The internal space of the heat treatment zone 12 has a predetermined temperature gradient downward. The glass ribbon G in the vertical position is heat treated (slowly cooled) so that its temperature decreases as it moves downward through the internal space of the heat treatment zone 12. This heat treatment reduces internal distortion of the glass ribbon G. The temperature gradient in the internal space of the heat treatment zone 12 is adjusted, for example, by a heating device installed on the inner wall surface of the heat treatment zone 12.

搬送装置14を構成する複数のローラ対Rは、縦姿勢のガラスリボンGの幅方向両端部を表裏両側から挟持する。成形ゾーン11に配置された最上部のローラ対Rは、冷却ローラである。なお、熱処理ゾーン12の内部空間などでは、複数のローラ対Rの中に、ガラスリボンGの側端部を挟持しないものが含まれていてもよい。つまり、ローラ対Rの対向間隔をガラスリボンGの幅方向両端部の厚みよりも大きくし、ローラ対Rの間をガラスリボンGが通過するようにしてもよい。The multiple roller pairs R constituting the conveying device 14 clamp both widthwise ends of the glass ribbon G in a vertical position from both the front and back. The uppermost roller pair R arranged in the forming zone 11 is a cooling roller. Note that, in the internal space of the heat treatment zone 12, the multiple roller pairs R may include ones that do not clamp the side ends of the glass ribbon G. In other words, the distance between the roller pairs R may be made larger than the thickness of both widthwise ends of the glass ribbon G, and the glass ribbon G may pass between the roller pairs R.

本実施形態では、処理装置1によって製造されたガラスリボンGの幅方向両端部は、成形過程の収縮等の影響により、幅方向中央部に比べて厚みが大きい部分(以下、「耳部」ともいう)を有する。In this embodiment, both widthwise ends of the glass ribbon G produced by the processing device 1 have portions (hereinafter also referred to as "ear portions") that are thicker than the widthwise central portion due to the effects of shrinkage during the molding process, etc.

切断装置2は、処理装置1の下方で縦姿勢のガラスリボンGを所定の長さ毎に幅方向に切断することにより、ガラスリボンGからガラス板を順次切り出すように構成されている。ガラス板は、後の工程で耳部が除去されて1枚又は複数枚の製品ガラス板が採取されるガラス原板(マザーガラス板)となる。ここで、幅方向は、ガラスリボンGの長手方向(搬送方向)と直交する方向であり、本実施形態では実質的に水平方向と一致する。The cutting device 2 is configured to sequentially cut out glass plates from the glass ribbon G by cutting the glass ribbon G in a vertical position at predetermined lengths in the width direction below the processing device 1. The glass plates become glass original plates (mother glass plates) from which one or more product glass plates are obtained in a later process by removing the edge portions. Here, the width direction is a direction perpendicular to the longitudinal direction (transport direction) of the glass ribbon G, and in this embodiment, it substantially coincides with the horizontal direction.

図1及び図2に示すように、切断装置2は、スクライブ線形成装置21と、折割装置22とを備えている。As shown in Figures 1 and 2, the cutting device 2 includes a scribe line forming device 21 and a breakage device 22.

スクライブ線形成装置21は、スクライブ線形成位置P1で、処理装置1から降下してきた縦姿勢のガラスリボンGの第一主面にスクライブ線Sを形成する装置である。本実施形態では、スクライブ線形成装置21は、ガラスリボンGの第一主面にその幅方向に沿ってスクライブ線Sを形成するホイールカッター23と、ホイールカッター23に対応する位置でガラスリボンGの第二主面(第一主面の反対側の面)を支持する支持部材24(例えば支持バーや支持ローラ)と、を備えている。The scribe line forming device 21 is a device that forms a scribe line S on the first main surface of the glass ribbon G in a vertical position that has been lowered from the processing device 1 at the scribe line forming position P1. In this embodiment, the scribe line forming device 21 includes a wheel cutter 23 that forms a scribe line S on the first main surface of the glass ribbon G along its width direction, and a support member 24 (e.g., a support bar or a support roller) that supports the second main surface of the glass ribbon G (the surface opposite the first main surface) at a position corresponding to the wheel cutter 23.

ホイールカッター23及び支持部材24は、降下中のガラスリボンGに追従降下しつつ、ガラスリボンGの幅方向の全域又は一部にスクライブ線Sを形成する構成とされている。本実施形態では、相対的に厚みが大きい耳部にもスクライブ線Sが形成される。なお、スクライブ線Sはレーザーの照射等によって形成してもよい。The wheel cutter 23 and the support member 24 are configured to follow the glass ribbon G as it descends, forming a scribe line S across the entire width or a portion of the width of the glass ribbon G. In this embodiment, the scribe line S is also formed on the relatively thick ear portion. The scribe line S may also be formed by irradiating a laser, etc.

折割装置22は、スクライブ線形成位置P1の下方に設けられた折割位置(切断位置)P2で、スクライブ線Sに沿ってガラスリボンGを折り割ってガラス板を切り出す装置である。本実施形態では、折割装置22は、スクライブ線Sが形成された領域に第二主面側から当接する折割部材25と、折割位置P2よりも下方でガラスリボンGの下部領域を把持する把持機構26と、を備えている。The slicing device 22 is a device that slicing the glass ribbon G along the scribe line S at a slicing position (cutting position) P2 provided below the scribe line formation position P1 to cut out a glass sheet. In this embodiment, the slicing device 22 includes a slicing member 25 that contacts the area where the scribe line S is formed from the second main surface side, and a gripping mechanism 26 that grips the lower area of the glass ribbon G below the slicing position P2.

折割部材25は、降下中のガラスリボンGに追従降下しつつ、ガラスリボンGの幅方向の全域又は一部と接触する平面を有する板状体(定盤)から構成されている。折割部材25の接触面は、幅方向に湾曲した曲面であってもよい。The splitting member 25 is composed of a plate-like body (base plate) having a flat surface that contacts the entire or part of the width of the glass ribbon G while descending to follow the descending glass ribbon G. The contact surface of the splitting member 25 may be a curved surface that is curved in the width direction.

把持機構26は、ガラスリボンGの幅方向両端部における上下方向の複数箇所に配設されたチャック27と、それら複数のチャック27を幅方向両端部でそれぞれ保持するアーム28(図2参照)とを備えている。これらのアーム28は、複数のチャック27を降下中のガラスリボンGに追従降下させつつ、折割部材25を支点としてガラスリボンGを湾曲させるための動作(B方向の動作)を行う。これにより、スクライブ線S及びその近傍に曲げ応力を付与し、ガラスリボンGをスクライブ線Sに沿って幅方向に折り割る。この折り割りによる切断の結果、ガラスリボンGからガラス板が切り出される。なお、チャック27は、ガラスリボンGを負圧吸着によって保持するなどの他の保持形態に変更してもよい。The gripping mechanism 26 includes chucks 27 arranged at multiple locations in the vertical direction at both ends of the width of the glass ribbon G, and arms 28 (see FIG. 2) that hold the multiple chucks 27 at both ends of the width. These arms 28 perform an operation (operation in the direction B) to bend the glass ribbon G with the bending member 25 as a fulcrum while lowering the multiple chucks 27 following the glass ribbon G that is descending. This applies bending stress to the scribe line S and its vicinity, and the glass ribbon G is bent and broken in the width direction along the scribe line S. As a result of cutting by this bending, a glass plate is cut out from the glass ribbon G. The chucks 27 may be changed to another holding form, such as holding the glass ribbon G by negative pressure adsorption.

図1及び図3に示すように、検知装置3は、切断装置2により切断された後のガラスリボンGの切断側端部Gt及びガラス板gを測定対象として、その測定対象g、Gtに発生する不良を検知するための装置である。本実施形態では、検知装置3は、サーモグラフィ31と、検知部32と、制御部33と、警報部34と、を備えている。ここで、ガラスリボンG及びガラス板gは、幅方向長さが1000~3500mmであり、厚みが100~2000μmである。また、ガラス板gは、縦方向長さ(上下方向長さ)が800~3000mmである。 As shown in Figures 1 and 3, the detection device 3 is a device for detecting defects occurring in the cut end Gt of the glass ribbon G and the glass sheet g after being cut by the cutting device 2, by measuring the cut end Gt and the glass sheet g. In this embodiment, the detection device 3 includes a thermograph 31, a detection unit 32, a control unit 33, and an alarm unit 34. Here, the glass ribbon G and the glass sheet g have a widthwise length of 1000 to 3500 mm and a thickness of 100 to 2000 μm. In addition, the glass sheet g has a vertical length (vertical length) of 800 to 3000 mm.

サーモグラフィ31は、測定対象Gt、gについての温度分布を測定するもので、ホイールカッター23の高さ位置よりも下方で且つ把持機構26の下端よりも上方に配設されている。本実施形態のサーモグラフィ31は、折割部材25の高さ位置よりも下方で且つ把持機構26の下端よりも上方に配設されている。また、サーモグラフィ31は、測定対象Gt、gの幅方向中央部位置において、測定対象Gt、gの一方の主面側(ガラスリボンGの第1主面側)にその主面から離間して配設されている。サーモグラフィ31の測定対象Gt、gからの離間距離は、測定対象Gt、gについての温度分布を非接触で測定できる範囲で任意に設定可能である(例えば、800~3000mmの範囲)。なお、サーモグラフィ31を、測定対象Gt、gの他方の主面側に配設してもよい。The thermograph 31 measures the temperature distribution of the measurement objects Gt, g, and is disposed below the height position of the wheel cutter 23 and above the lower end of the gripping mechanism 26. The thermograph 31 of this embodiment is disposed below the height position of the cleavage member 25 and above the lower end of the gripping mechanism 26. The thermograph 31 is disposed at the widthwise center position of the measurement objects Gt, g, on one of the main surfaces of the measurement objects Gt, g (the first main surface side of the glass ribbon G) and spaced apart from the main surface. The distance from the measurement objects Gt, g of the thermograph 31 can be set arbitrarily within a range in which the temperature distribution of the measurement objects Gt, g can be measured without contact (for example, in the range of 800 to 3000 mm). The thermograph 31 may be disposed on the other main surface side of the measurement objects Gt, g.

検知部32は、サーモグラフィ31による温度分布を示す熱画像について画像解析をして、その結果に基づいて、測定対象g、Gtに発生する不良を検知するものである。検知部32は、例えばパーソナルコンピュータなどで構成される。ここで、ガラスリボンGが折り割りにより切断された場合、切断後のガラスリボンGに揺れが生じるだけでなく、ガラス板gも把持機構26の振動や揺れ等に起因して揺れが生じる。また、ガラスリボンGの厚みが薄い場合やガラスリボンGに反りが発生している場合には、切断後のガラスリボンG及びガラス板gの揺れが顕著になり得る。しかしながら、検知部32は、サーモグラフィ31による温度分布から測定対象g、Gtに発生する不良を検知するものであるため、ガラスリボンG及びガラス板gの揺れによる悪影響を受け難い。The detection unit 32 performs image analysis on the thermal image showing the temperature distribution by the thermograph 31, and detects defects occurring in the measurement objects g and Gt based on the results. The detection unit 32 is composed of, for example, a personal computer. Here, when the glass ribbon G is cut by folding, not only does the glass ribbon G after cutting shake, but the glass sheet g also shakes due to the vibration and shaking of the gripping mechanism 26. In addition, when the glass ribbon G is thin or when the glass ribbon G is warped, the shaking of the glass ribbon G and the glass sheet g after cutting may become noticeable. However, since the detection unit 32 detects defects occurring in the measurement objects g and Gt from the temperature distribution by the thermograph 31, it is less likely to be adversely affected by the shaking of the glass ribbon G and the glass sheet g.

制御部33は、検知部32で不良が検知された場合に、把持機構26のチャック27による把持動作及びその解除動作や、切断装置2の退避移動及び復帰移動などを行わせるための制御信号を発するものである。 When a defect is detected by the detection unit 32, the control unit 33 issues a control signal to cause the chuck 27 of the gripping mechanism 26 to perform gripping and release operations, and to move the cutting device 2 to a retreat position and a return position, etc.

警報部34は、検知部32で特定の不良(例えば後述するガラスリボンGの縦割れG4に伴うガラス板gの割れ破損g4)が検知された場合などに、警報を発するものである。警報は、音声や表示などで作業者に報知される。なお、警報部34は省略してもよい。The alarm unit 34 issues an alarm when the detection unit 32 detects a specific defect (for example, cracks or breakage g4 of the glass sheet g associated with vertical cracks G4 of the glass ribbon G, which will be described later). The alarm is notified to the worker by voice, display, or the like. The alarm unit 34 may be omitted.

図4a~図8は、検知部32で検知することが可能な不良を例示している。なお、これら各図においては、便宜上、把持機構26などの図示を省略している。 Figures 4a to 8 show examples of defects that can be detected by the detection unit 32. Note that, for convenience, the gripping mechanism 26 and other components are not shown in each of these figures.

図4aに示すガラス板gは、上側の切断面gaに、幅方向の中間部が上方に突出するツノ(通称)g1による形状不良が発生している。ツノg1は、例えば高さが数mmで、幅が数mmである。これに起因して、同図に示すガラスリボンGの下側の切断面Gaには、幅方向の中間部が上側に窪む欠けG2による形状不良が発生している。これとは逆に、図4bに示すガラス板gは、上側の切断面gaに、幅方向の中間部が下側に窪む欠けg2による形状不良が発生している。欠けg2は、例えば深さが数mmで、幅が数mmである。これに起因して、同図に示すガラスリボンGの下側の切断面Gaには、幅方向の中間部が下方に突出するツノG1による形状不良が発生している。 In the glass sheet g shown in FIG. 4a, a shape defect occurs on the upper cut surface ga due to a horn (commonly known as) g1, in which the middle part in the width direction protrudes upward. The horn g1 is, for example, several mm high and several mm wide. Due to this, a shape defect occurs on the lower cut surface Ga of the glass ribbon G shown in the same figure due to a chip G2 in which the middle part in the width direction is recessed upward. Conversely, in the glass sheet g shown in FIG. 4b, a shape defect occurs on the upper cut surface ga due to a chip g2 in which the middle part in the width direction is recessed downward. The chip g2 is, for example, several mm deep and several mm wide. Due to this, a shape defect occurs on the lower cut surface Ga of the glass ribbon G shown in the same figure due to a horn G1 in which the middle part in the width direction protrudes downward.

図5aに示すガラス板gは、上側の切断面gaに、幅方向の一端部が上方に突出するツノg1による形状不良が発生している。ツノg1は、例えば高さが数mmで、幅が数mmである。これに起因して、同図に示すガラスリボンGの下側の切断面Gaには、幅方向の一端部が欠落する欠けG2による形状不良が発生している。このような切断面ga、Gaの形状不良は、耳部が相対的に厚肉であることに由来して生じる。これとは逆に、図5bに示すガラス板gは、上側の切断面gaに、幅方向の一端部が欠落する欠けg2による形状不良が発生している。これに起因して、同図に示すガラスリボンGの下側の切断面Gaには、幅方向の一端部が下方に突出するツノG1による形状不良が発生している。このような切断面ga、Gaの形状不良も、耳部が相対的に厚肉であることに由来して生じる。 In the glass sheet g shown in FIG. 5a, a shape defect occurs on the upper cut surface ga due to a horn g1 in which one end in the width direction protrudes upward. The horn g1 is, for example, several mm high and several mm wide. Due to this, a shape defect occurs on the lower cut surface Ga of the glass ribbon G shown in the same figure due to a chip G2 in which one end in the width direction is missing. Such shape defects of the cut surfaces ga, Ga occur due to the ears being relatively thick. Conversely, in the glass sheet g shown in FIG. 5b, a shape defect occurs on the upper cut surface ga due to a chip g2 in which one end in the width direction is missing. Due to this, a shape defect occurs on the lower cut surface Ga of the glass ribbon G shown in the same figure due to a horn G1 in which one end in the width direction protrudes downward. Such shape defects of the cut surfaces ga, Ga also occur due to the ears being relatively thick.

図6に示すガラス板gは、上側の切断面gaの全体に、波形状を呈する形状不良が発生している。これに起因して、同図に示すガラスリボンGの下側の切断面Gaの全体にも、波形状を呈する形状不良が発生している。このような形状不良は、クラックがスクライブ線から逸れて進展することで発生する。これ以外に、クラックがスクライブ線から逸れて進展することで発生する形状不良は、切断面gaの一部が波形状を呈する場合や、切断面gaの一部又は全部が弓状を呈する場合もある。 The glass plate g shown in Figure 6 has a wavy shape defect over the entire upper cut surface ga. As a result, a wavy shape defect also occurs over the entire lower cut surface Ga of the glass ribbon G shown in the same figure. Such shape defects occur when cracks deviate from the scribe line and propagate. In addition, shape defects caused by cracks deviating from the scribe line and propagating may cause part of the cut surface ga to have a wavy shape, or part or all of the cut surface ga to have a bow shape.

なお、図4a~図6に示した例は、ガラス板gにおける形状不良の凹凸と、ガラスリボンGにおける形状不良の凹凸とが、幅方向の同一位置で逆になる関係にあるが、このような関係になくてもよい。In the examples shown in Figures 4a to 6, the irregularities due to shape defects in the glass plate g and the irregularities due to shape defects in the glass ribbon G are in an opposite relationship at the same position in the width direction, but this relationship does not have to be the case.

図7に示すガラス板gは、上側の切断面gaを起点に1個の部分破損g3が発生している。部分破損g3は、例えば深さが3~500mmで、幅が10~2000mmであって、上述の欠けg2よりも大きい。この部分破損g3の個数は、複数であってもよい。このような部分破損g3は、切断に伴ってガラス板gの一部(上側の切断面ga周辺や幅方向の中間部)が破損することで発生する。 The glass plate g shown in Figure 7 has one partial break g3 originating from the upper cut surface ga. The partial break g3 is, for example, 3-500 mm deep and 10-2000 mm wide, and is larger than the chip g2 mentioned above. There may be more than one partial break g3. Such partial break g3 occurs when a part of the glass plate g (the area around the upper cut surface ga or the middle part in the width direction) breaks during cutting.

図8に示すガラス板gは、ガラスリボンGの縦割れG4に伴う割れ破損g4が1箇所に発生している。この割れ破損g4は、上下方向に沿ってクラックが進展することに伴うガラスリボンGの縦割れG4に起因して生じるものである。縦割れG4は、時間経過に伴ってガラスリボンG全体の破損につながる場合がある。そのため、ガラスリボンGの縦割れG4に伴うガラス板gの割れ破損g4は、後続のガラス板gでより大きくなる傾向を有し、最終的にガラスリボンGからのガラス板gの切り出しが不能になる場合がある。 In the glass sheet g shown in FIG. 8, a crack g4 has occurred at one location due to a vertical crack G4 in the glass ribbon G. This crack g4 is caused by a vertical crack G4 in the glass ribbon G caused by the crack propagating in the vertical direction. The vertical crack G4 may lead to damage to the entire glass ribbon G over time. Therefore, the crack g4 in the glass sheet g caused by the vertical crack G4 in the glass ribbon G tends to become larger in the subsequent glass sheets g, and may ultimately make it impossible to cut out the glass sheet g from the glass ribbon G.

図9~図16は、サーモグラフィ31によって測定された温度分布を示す熱画像F1~F5であって、これらの熱画像F1~F5には、不良を有する測定対象g、Gtが映し出されている。なお、図9~図14は、便宜上、測定された熱画像の主要部のみを図示している。ここで、測定対象g、Gtの温度は、例えば100℃未満であり、好ましくは80℃未満である。また、測定対象g、Gtの温度は、その周辺の空間領域Zの温度よりも高い。そのため、熱画像F1~F5には、ガラス板g及びガラスリボンGが明るい色で描写され、その周辺の空間領域Zが暗い色で描写される。 Figures 9 to 16 are thermal images F1 to F5 showing the temperature distribution measured by the thermograph 31, and these thermal images F1 to F5 show the measurement objects g and Gt having defects. For convenience, Figures 9 to 14 only show the main parts of the measured thermal images. Here, the temperature of the measurement objects g and Gt is, for example, less than 100°C, and preferably less than 80°C. In addition, the temperature of the measurement objects g and Gt is higher than the temperature of the surrounding spatial region Z. Therefore, in the thermal images F1 to F5, the glass plate g and glass ribbon G are depicted in light colors, and the surrounding spatial region Z is depicted in dark colors.

図9~図11に示す熱画像F1~F3には、測定対象g、Gの切断面ga、Gaの形状が映し出されている。検知部32は、これらの熱画像F1~F3から切断面ga、Gaの高さ位置の分布を求め、その高低(ここでは高低差)に基づいて切断面ga、Gaに形状不良が発生しているか否かを検知する。以下、その具体的な手法を説明する。 The thermal images F1 to F3 shown in Figures 9 to 11 show the shapes of the cut surfaces ga, Ga of the measurement objects g, G. The detection unit 32 obtains the distribution of the height positions of the cut surfaces ga, Ga from these thermal images F1 to F3, and detects whether or not there is a shape defect in the cut surfaces ga, Ga based on the height (here, the height difference). The specific method is described below.

図9に示す熱画像F1には、既述の図4aに示す態様の不良を有する測定対象g、Gtが映し出されている。ここで、この熱画像F1から、ガラス板gの上側の切断面gaに発生したツノg1による形状不良を検知部32が検知する手法について説明する。先ず、この熱画像F1上におけるガラス板gが描画されている領域(相対的に明るい領域)において、スクライブ線Sが形成されていた直線K0から所定距離だけ離間した位置に、当該直線K0と平行な基礎になる直線K1を設定する。次いで、この直線K1からガラス板gが描画されている領域の上側の輪郭線までの距離の最大値と最小値とを求める。図例では、直線K1からツノg1の頂部gxまでの距離(最大値)Maと、直線K1から直線K0までの距離(最小値)Miを求める。そして、この最大値Maと最小値Miとの差分ΔMを算出し、この差分ΔMと閾値とに基づいて、ガラス板gの上側の切断面gaに発生した形状不良を検知部32が検知する。具体的には、検知部32は、差分ΔMが閾値以下の場合、形状不良でないとし、差分ΔMが閾値を超えている場合、形状不良として検知する。ここでは、差分ΔMが閾値を超えているため、検知部32は、ガラス板gに形状不良が発生していることを検知する。なお、図5aに示すような態様でガラス板gの上側の切断面gaにツノg1が発生している場合にも、ここでの説明と同様の手法で、検知部32が、ガラス板gに発生する形状不良の有無を検知する。 The thermal image F1 shown in FIG. 9 shows the measurement objects g and Gt having the defects shown in FIG. 4a. Here, a method for the detection unit 32 to detect the shape defect caused by the horn g1 generated on the upper cut surface ga of the glass plate g from this thermal image F1 will be described. First, in the area (relatively bright area) where the glass plate g is drawn on this thermal image F1, a basic straight line K1 parallel to the straight line K0 is set at a position a predetermined distance away from the straight line K0 where the scribe line S was formed. Next, the maximum and minimum values of the distance from this straight line K1 to the upper contour line of the area where the glass plate g is drawn are obtained. In the illustrated example, the distance (maximum value) Ma from the straight line K1 to the top gx of the horn g1 and the distance (minimum value) Mi from the straight line K1 to the straight line K0 are obtained. Then, the difference ΔM between the maximum value Ma and the minimum value Mi is calculated, and the detection unit 32 detects a shape defect occurring on the upper cut surface ga of the glass sheet g based on this difference ΔM and a threshold value. Specifically, when the difference ΔM is equal to or less than the threshold value, the detection unit 32 determines that there is no shape defect, and when the difference ΔM exceeds the threshold value, the detection unit 32 detects that there is a shape defect in the glass sheet g. Here, since the difference ΔM exceeds the threshold value, the detection unit 32 detects that there is a shape defect in the glass sheet g. Note that even when a horn g1 occurs on the upper cut surface ga of the glass sheet g in the manner shown in FIG. 5a, the detection unit 32 detects the presence or absence of a shape defect occurring in the glass sheet g in the same manner as described here.

図10に示す熱画像F2には、既述の図4bに示す態様の不良を有する測定対象g、Gtが映し出されている。ここで、この熱画像F2から、ガラス板gの上側の切断面gaに発生した欠けg2による形状不良を検知部32が検知する手法について説明する。この熱画像F2についても、上記と同様の位置に直線K1を設定し、この直線K1からガラス板gが描画されている領域の上側の輪郭線までの距離の最大値と最小値とを求める。図例では、直線K1から欠けg2の最低部gyまでの距離(最小値)Miと、直線K1から直線K0までの距離(最大値)Maを求める。そして、検知部32は、この最大値Maと最小値Miとの差分ΔMが閾値以下の場合、形状不良でないとし、差分ΔMが閾値を超えている場合、形状不良として検知する。ここでは、差分ΔMが閾値を超えているため、検知部32は、ガラス板gに形状不良が発生していることを検知する。なお、図5bに示すような態様でガラス板gの上側の切断面gaに欠けg2が発生している場合にも、ここでの説明と同様の手法で、検知部32が、形状不良であるか否かを検知する。 The thermal image F2 shown in FIG. 10 shows the measurement objects g and Gt having the defects shown in FIG. 4b. Here, a method for the detection unit 32 to detect the shape defect caused by the chip g2 generated on the upper cut surface ga of the glass plate g from this thermal image F2 will be described. For this thermal image F2, a straight line K1 is set at the same position as above, and the maximum and minimum values of the distance from this straight line K1 to the upper contour line of the area in which the glass plate g is drawn are obtained. In the illustrated example, the distance (minimum value) Mi from the straight line K1 to the lowest part gy of the chip g2 and the distance (maximum value) Ma from the straight line K1 to the straight line K0 are obtained. Then, when the difference ΔM between the maximum value Ma and the minimum value Mi is equal to or less than a threshold value, the detection unit 32 determines that the shape is not defective, and when the difference ΔM exceeds the threshold value, it detects that the shape is defective. Here, since the difference ΔM exceeds the threshold value, the detection unit 32 detects that the shape defect has occurred in the glass plate g. In addition, even if a chip g2 occurs on the upper cut surface ga of the glass plate g in the manner shown in Figure 5b, the detection unit 32 detects whether or not the shape is defective using a method similar to that described here.

図11に示す熱画像F3には、既述の図6に示す態様の不良を有する測定対象g、Gtが映し出されている。ここで、この熱画像F3から、ガラス板gの上側の切断面gaに発生した波形状による形状不良を検知部32が検知する手法について説明する。この熱画像F3についても、上記と同様の位置に直線K1を設定し、この直線K1からガラス板gが描画されている領域の上側の輪郭線までの距離の最大値と最小値とを求める。図例では、直線K1から、複数の山のうち最も高い山の頂上gzまでの距離(最大値)Maと、直線K1から、複数の谷のうち最も低い谷の最低部gZまでの距離(最小値)Miを求める。そして、検知部32は、この最大値Maと最小値Miとの差分ΔMが閾値以下の場合、形状不良でないとし、差分ΔMが閾値を超えている場合、形状不良として検知する。ここでは、差分ΔMが閾値を超えているため、検知部32は、ガラス板gに形状不良が発生していることを検知する。 The thermal image F3 shown in FIG. 11 shows the measurement objects g and Gt having defects of the type shown in FIG. 6 described above. Here, a method in which the detection unit 32 detects shape defects due to the wavy shape generated on the upper cut surface ga of the glass plate g from this thermal image F3 will be described. For this thermal image F3, a straight line K1 is set at the same position as above, and the maximum and minimum values of the distance from this straight line K1 to the upper contour line of the area in which the glass plate g is drawn are obtained. In the illustrated example, the distance (maximum value) Ma from the straight line K1 to the top gz of the highest mountain among the multiple mountains, and the distance (minimum value) Mi from the straight line K1 to the lowest part gZ of the lowest valley among the multiple valleys are obtained. Then, when the difference ΔM between the maximum value Ma and the minimum value Mi is equal to or less than a threshold value, the detection unit 32 determines that there is no shape defect, and when the difference ΔM exceeds the threshold value, it detects that there is a shape defect. Here, since the difference ΔM exceeds the threshold value, the detection unit 32 detects that there is a shape defect in the glass plate g.

なお、図9に示す熱画像F1におけるガラスリボンGの下側の切断面Gaに発生した欠けG2による形状不良については、図10に示す熱画像F2上の欠けg2による形状不良についての検知と実質的に同一の手法で検知することができる。また、図10に示す熱画像F2上におけるガラスリボンGの下側の切断面Gaに発生したツノG1による形状不良については、図9に示す熱画像F1上のツノg1による形状不良についての検知と実質的に同一の手法で検知することができる。さらに、図11に示す熱画像F3におけるガラスリボンGの下側の切断面Gaに発生した波形状による形状不良については、同図に示す熱画像F3上のガラス板gの波形状による形状不良についての検知と実質的に同一の手法で検知することができる。なお、ここでいう実質的に同一の手法とは、上下関係が逆になるだけで、手法自体は同一であることを意味する。 The shape defect caused by the chip G2 on the lower cut surface Ga of the glass ribbon G in the thermal image F1 shown in FIG. 9 can be detected by substantially the same method as the detection of the shape defect caused by the chip g2 on the thermal image F2 shown in FIG. 10. The shape defect caused by the horn G1 on the lower cut surface Ga of the glass ribbon G in the thermal image F2 shown in FIG. 10 can be detected by substantially the same method as the detection of the shape defect caused by the horn g1 on the thermal image F1 shown in FIG. 9. Furthermore, the shape defect caused by the wave shape on the lower cut surface Ga of the glass ribbon G in the thermal image F3 shown in FIG. 11 can be detected by substantially the same method as the detection of the shape defect caused by the wave shape of the glass sheet g on the thermal image F3 shown in the same figure. Note that the substantially same method means that the method itself is the same, except that the top and bottom relationships are reversed.

この場合において、図9~図11に例示した熱画像F1~F3から、ガラス板gに形状不良が発生していることを検知部32が検知した場合には、制御部33からの制御信号に基づいて、把持機構26のチャック27による把持動作が解除されるなどして、そのガラス板gが廃棄される。廃棄されたガラス板gは回収される。ここで、切断後のガラス板gは、上部を把持して後工程に搬送される場合が多い。そのため、上側の切断面gaに形状不良が発生しているガラス板gを廃棄しておけば、上部を把持して搬送する際のガラス板gの破損、及びこれに伴う製造ラインの汚染等を未然に防止できる。また、ガラス板gの上側の切断面gaにおける形状不良は、ホイールカッター23の消耗によって発生し易くなるため、この形状不良が発生していることを検知部32が検知した場合には、ホイールカッター23の交換をすることが好ましい。このようにすれば、後続のガラス板gに形状不良が発生することを抑制できる。In this case, when the detection unit 32 detects that the glass sheet g has a shape defect from the thermal images F1 to F3 illustrated in Figs. 9 to 11, the gripping operation by the chuck 27 of the gripping mechanism 26 is released based on a control signal from the control unit 33, and the glass sheet g is discarded. The discarded glass sheet g is collected. Here, the glass sheet g after cutting is often gripped at the upper part and transported to a subsequent process. Therefore, if the glass sheet g with a shape defect on the upper cut surface ga is discarded, it is possible to prevent the glass sheet g from being damaged when the upper part is gripped and transported, and the associated contamination of the production line. In addition, since the shape defect on the upper cut surface ga of the glass sheet g is likely to occur due to wear and tear of the wheel cutter 23, it is preferable to replace the wheel cutter 23 when the detection unit 32 detects that the shape defect has occurred. In this way, it is possible to prevent the subsequent glass sheets g from having a shape defect.

なお、図9~図11に示す手法では、直線K0及びK1に基づいて最大値Ma、最小値Mi及び差分ΔMを求めたが、直線K0及びK1を用いることなく、最大値Ma、最小値Mi及び差分ΔMを求めてもよい。具体的には、熱画像からガラス板gの上側の輪郭線を求め、輪郭線のうちで高さ位置が最大となる点の高さを最大値Maとし、高さ位置が最小となる点の高さを最小値Miとし、それらから差分ΔMを求めてもよい。9 to 11, the maximum value Ma, minimum value Mi, and difference ΔM are obtained based on the straight lines K0 and K1, but the maximum value Ma, minimum value Mi, and difference ΔM may be obtained without using the straight lines K0 and K1. Specifically, the upper contour line of the glass plate g may be obtained from the thermal image, and the height of the point on the contour line where the height position is the maximum value Ma and the height of the point on the contour line where the height position is the minimum value Mi, and the difference ΔM may be obtained from these.

図12~図14はそれぞれ、上述の図9~図11に示す熱画像F1~F3からガラス板gの形状不良を検知する際の他の手法を例示するものである。これらの他の手法も、検知部32が、熱画像F1~F3から切断面ga、Gaの高さ位置の分布を求め、その高低に基づいて切断面ga、Gaの形状不良を検知するものである。 Figures 12 to 14 respectively illustrate other methods for detecting defects in the shape of the glass sheet g from the thermal images F1 to F3 shown in Figures 9 to 11 above. These other methods also involve the detection unit 32 determining the distribution of height positions of the cut surfaces ga, Ga from the thermal images F1 to F3, and detecting defects in the shape of the cut surfaces ga, Ga based on the height.

図12に例示する手法は、先ず、熱画像F1上で、ガラス板gの正規の切断線つまりスクライブ線Sが形成されていたラインL0を基準として、その上側及び下側に測定線L1、L2を引く。この2つの測定線L1、L2は、ラインL0と平行であって、ラインL0から同じ距離だけ隔てている。そして、上側の測定線L1上において明度が予め設定された設定値よりも高い箇所が存在するか否かつまり温度が予め設定された設定温度よりも高い箇所が存在するか否かを測定する。また、下側の測定線L2上においても明度が予め設定された設定値よりも高い箇所が存在するか否か(温度が予め設定された設定値よりも高い箇所が存在するか否か)を測定する。この場合、明度(温度)を測定する範囲は、測定線L1、L2上におけるガラス板gの幅方向全域に亘る範囲である。この熱画像F1では、上側の測定線L1上において明度(温度)が設定値よりも高い箇所が1つ存在し、且つ、下側の測定線L2上の全領域において明度(温度)が設定値よりも高くなっている。検知部32は、このような状態を認識することで、ガラス板gに形状不良が発生していることを検知する。なお、図5aに示すような態様でガラス板gの上側の切断面gaに発生したツノg1についても、ここでの説明と同様の手法で、検知部32が、形状不良であるか否かを検知する。 In the method illustrated in FIG. 12, first, on the thermal image F1, measurement lines L1 and L2 are drawn above and below the line L0 on which the regular cutting line of the glass plate g, that is, the scribe line S, was formed. These two measurement lines L1 and L2 are parallel to the line L0 and are spaced the same distance from the line L0. Then, it is measured whether there is a place on the upper measurement line L1 where the brightness is higher than the preset value, that is, whether there is a place where the temperature is higher than the preset temperature. It is also measured whether there is a place on the lower measurement line L2 where the brightness is higher than the preset value (whether there is a place where the temperature is higher than the preset value). In this case, the range in which the brightness (temperature) is measured is the entire range in the width direction of the glass plate g on the measurement lines L1 and L2. In the thermal image F1, there is one location on the upper measurement line L1 where the brightness (temperature) is higher than the set value, and the brightness (temperature) is higher than the set value in the entire area on the lower measurement line L2. The detection unit 32 recognizes this state and detects that a shape defect has occurred in the glass sheet g. The detection unit 32 also detects whether or not a horn g1 generated on the upper cut surface ga of the glass sheet g in the manner shown in Figure 5a is a shape defect in the same manner as described here.

図13に例示する手法も、熱画像F2上に、既述の場合と同様にして、ラインL0を基準として、その上側及び下側に測定線L1、L2を引き、上側の測定線L1上における明度(温度)及び下側の測定線L2上における明度(温度)を測定する。この熱画像F2では、上側の測定線L1上の全領域において明度(温度)が設定値よりも低く、且つ、下側の測定線L2上において明度(温度)が設定値よりも低い箇所が1つ存在している。検知部32は、このような状態を認識することで、ガラス板gに形状不良が発生していることを検知する。なお、図5bに示すような態様でガラス板gの上側の切断面gaに発生した欠けg2についても、ここでの説明と同様の手法で、検知部32が、形状不良であるか否かを検知する。 In the method illustrated in FIG. 13, similarly to the above-mentioned case, measurement lines L1 and L2 are drawn above and below the line L0 on the thermal image F2, and the brightness (temperature) on the upper measurement line L1 and the brightness (temperature) on the lower measurement line L2 are measured. In this thermal image F2, the brightness (temperature) is lower than the set value in the entire area on the upper measurement line L1, and there is one location on the lower measurement line L2 where the brightness (temperature) is lower than the set value. By recognizing such a state, the detection unit 32 detects that a shape defect has occurred in the glass sheet g. In addition, the detection unit 32 detects whether or not a chip g2 that has occurred on the upper cut surface ga of the glass sheet g in the manner shown in FIG. 5b is a shape defect in the same manner as described here.

図14に例示する手法も、熱画像F3上に、既述の場合と同様にして、ラインL0を基準として、その上側及び下側に測定線L1、L2を引き、上側の測定線L1上における明度(温度)及び下側の測定線L2上における明度(温度)を測定する。この熱画像F3では、上側の測定線L1上において明度(温度)が設定値よりも高い箇所が複数(図例では2つ)存在し、且つ、下側の測定線L2上の全領域において明度(温度)が設定値よりも高くなっている。検知部32は、このような状態を認識することで、ガラス板gに形状不良が発生していることを検知する。14, in the same manner as described above, measurement lines L1, L2 are drawn above and below line L0 on thermal image F3, and the brightness (temperature) on the upper measurement line L1 and the brightness (temperature) on the lower measurement line L2 are measured. In this thermal image F3, there are multiple points (two in the example) on the upper measurement line L1 where the brightness (temperature) is higher than the set value, and the brightness (temperature) is higher than the set value over the entire area on the lower measurement line L2. By recognizing this state, the detection unit 32 detects that a shape defect has occurred in the glass sheet g.

図15及び図16は、ガラス板gの全領域とガラスリボンGの切断側端部Gtとが映し出された熱画像F4、F5を示している。これらの熱画像F4、F5から、検知部32は、測定対象g、Gtについての面積を求め、その面積と閾値とに基づいて測定対象g、Gに発生した不良を検知する。以下、その具体的な手法を説明する。15 and 16 show thermal images F4 and F5 in which the entire area of the glass sheet g and the cut end Gt of the glass ribbon G are shown. From these thermal images F4 and F5, the detection unit 32 calculates the areas of the measurement objects g and Gt, and detects defects that have occurred in the measurement objects g and G based on the areas and a threshold value. The specific method is described below.

図15に示す熱画像F4には、既述の図7に示す態様の不良を有する測定対象g、Gtが映し出されている。ここで、この熱画像F4から、ガラス板gに発生した部分破損g3を検知部32が検知する手法について説明する。先ず、この熱画像F4上で、ガラス板gの面積をピクセル数から求める。この場合、ガラス板gのチャック27により把持されている領域は、把持されていない領域よりも温度が低く、空間領域Zと同程度の暗い色で描写される場合がある。この場合には、ガラス板gの主面が露出している領域の面積が求められる。なお、ガラス板gのチャック27により把持されている領域と、把持されていない領域とが、同程度の温度であって、両者が明るい色で描写される場合には、ガラス板gの全領域の面積が求められる。この面積が第1閾値を超える場合、検知部32は、部分破損g3でないとし、この面積が第1閾値以下で且つ後述する第2閾値を超える場合、検知部32は、部分破損g3として検知する。この第1閾値は、不良が全く発生していない状態にあるガラス板gの面積(上記の領域に対応する面積)の例えば90%~99%である。ここでは、上記の面積が第1閾値以下で且つ第2閾値を超えているため、検知部32は、ガラス板gに部分破損g3が発生していることを検知する。 The thermal image F4 shown in FIG. 15 shows the measurement objects g and Gt having the defects shown in FIG. 7. Here, the method of the detection unit 32 detecting the partial damage g3 that has occurred in the glass plate g from this thermal image F4 will be described. First, the area of the glass plate g is obtained from the number of pixels on this thermal image F4. In this case, the area of the glass plate g that is held by the chuck 27 may be lower in temperature than the area that is not held, and may be depicted in a dark color similar to that of the spatial area Z. In this case, the area of the area where the main surface of the glass plate g is exposed is obtained. Note that, when the area of the glass plate g that is held by the chuck 27 and the area that is not held have the same temperature and are both depicted in a light color, the area of the entire area of the glass plate g is obtained. If this area exceeds the first threshold, the detection unit 32 determines that the partial damage g3 is not present, and if this area is equal to or less than the first threshold and exceeds a second threshold described later, the detection unit 32 detects the partial damage g3. The first threshold value is, for example, 90% to 99% of the area of the glass sheet g in a state where no defects have occurred (the area corresponding to the above region). In this case, since the above area is equal to or smaller than the first threshold value and exceeds the second threshold value, the detection unit 32 detects that partial damage g3 has occurred in the glass sheet g.

この場合において、図15に例示した熱画像F4から、ガラス板gに部分破損g3が発生していることを検知部32が検知した場合には、制御部33からの制御信号に基づいて、把持機構26のチャック27による把持動作が解除されるなどして、そのガラス板gが廃棄される。廃棄されたガラス板gは回収される。これにより、部分破損g3を有するガラス板gが誤って後工程に搬送されて後続の処理を受けるという事態が生じ難くなる。また、ガラス板gの部分破損g3は、ガラスリボンGの反りが大きい場合に発生し易くなるため、この部分破損g3が発生していることを検知部32が検知した場合には、ガラスリボンGの反りを低減させる措置を施すことが好ましい、このようにすれば、後続のガラス板gに部分破損g3が発生することを抑制できる。In this case, when the detection unit 32 detects that partial damage g3 has occurred in the glass sheet g from the thermal image F4 illustrated in FIG. 15, the gripping action by the chuck 27 of the gripping mechanism 26 is released based on a control signal from the control unit 33, and the glass sheet g is discarded. The discarded glass sheet g is collected. This makes it less likely that the glass sheet g having partial damage g3 will be mistakenly transported to a subsequent process and subjected to subsequent processing. In addition, since partial damage g3 of the glass sheet g is likely to occur when the warp of the glass ribbon G is large, when the detection unit 32 detects that this partial damage g3 has occurred, it is preferable to take measures to reduce the warp of the glass ribbon G. In this way, partial damage g3 can be prevented from occurring in the subsequent glass sheet g.

図16に示す熱画像F5には、既述の図8に示す態様の不良を有する測定対象g、Gtが映し出されている。ここで、この熱画像F5から、ガラスリボンGの縦割れG4に伴う割れ破損g4を検知部32が検知する手法について説明する。先ず、この熱画像F5上で、ガラス板gの面積をピクセル数から求める。このガラス板gの面積とチャック27との関係は、既述の場合と同一である。この面積が第2閾値を超える場合、検知部32は、割れ破損g4でないとし、この面積が第2閾値以下の場合、検知部32は、割れ破損g4として検知する。第2閾値は、不良が全く発生していない状態にあるガラス板gの面積(上記の領域に対応する面積)の例えば30%~50%である。ここでは、上記の面積が第2閾値以下であるため、検知部32は、ガラス板gに割れ破損g4が発生していることを検知する。この場合において、ガラス板gの割れ破損g4は、既述のように、ガラスリボンGの縦割れG4に伴って発生するものである。したがって、検知部32は、ガラス板gに割れ破損g4が発生していることを検知した時点で、ガラスリボンGの縦割れG4が発生していることをも検知していることになる。換言すれば、ガラス板gの割れ破損g4の発生を、ガラスリボンGの縦割れG4の発生とみなしていることになる。第2閾値は、このような事情を満たす値として設定されている。 The thermal image F5 shown in FIG. 16 shows the measurement objects g and Gt having defects of the type shown in FIG. 8 described above. Here, a method for the detection unit 32 to detect cracks and damage g4 associated with vertical cracks G4 in the glass ribbon G from this thermal image F5 will be described. First, the area of the glass plate g is obtained from the number of pixels on this thermal image F5. The relationship between the area of this glass plate g and the chuck 27 is the same as in the case described above. If this area exceeds the second threshold, the detection unit 32 determines that it is not cracked or damaged g4, and if this area is equal to or less than the second threshold, the detection unit 32 detects it as cracked or damaged g4. The second threshold is, for example, 30% to 50% of the area of the glass plate g in a state where no defects have occurred (the area corresponding to the above region). Here, since the above area is equal to or less than the second threshold, the detection unit 32 detects that cracks and damage g4 have occurred in the glass plate g. In this case, as described above, the crack or breakage g4 of the glass sheet g occurs in conjunction with the vertical crack G4 of the glass ribbon G. Therefore, when the detection unit 32 detects that the crack or breakage g4 has occurred in the glass sheet g, the detection unit 32 also detects that the vertical crack G4 has occurred in the glass ribbon G. In other words, the occurrence of the crack or breakage g4 of the glass sheet g is regarded as the occurrence of the vertical crack G4 in the glass ribbon G. The second threshold value is set as a value that satisfies such circumstances.

この場合において、図16に例示した熱画像F5から、ガラス板gに割れ破損g4が発生していることを検知した場合には、ガラスリボンGの縦割れG4が発生しているとみなして、制御部33からの制御信号に基づいて、切断装置2が退避位置に移動する。この退避位置は、ガラスリボンGからのガラス片やガラス粉が切断装置2に落下しなくなる位置である。退避位置では、切断装置2に付着したガラス片などが清掃により除去される。これにより、ガラスリボンGの成形を再開し、切断装置2を元の位置に戻した際に、切断装置2に残留するガラス片やガラス粉によってガラスリボンGやガラス板gが破損する事態を防止できる。In this case, if the thermal image F5 illustrated in FIG. 16 detects that a crack or breakage g4 has occurred in the glass sheet g, it is assumed that a vertical crack G4 has occurred in the glass ribbon G, and the cutting device 2 moves to the evacuation position based on a control signal from the control unit 33. This evacuation position is a position where glass fragments and glass powder from the glass ribbon G will not fall onto the cutting device 2. At the evacuation position, glass fragments and the like adhering to the cutting device 2 are removed by cleaning. This makes it possible to prevent the glass ribbon G or glass sheet g from being damaged by glass fragments and glass powder remaining in the cutting device 2 when the forming of the glass ribbon G is resumed and the cutting device 2 is returned to its original position.

このガラス板製造装置は、測定対象g、Gtについての測定結果に基づいて、測定対象g、Gtに発生する不良を検知するものであって、不良の種類までも認識できるものではないが、不良を種類別に認識するようにしてもよい。このようにした場合には、不良の種類別に細分化された後処理を行うことができる。This glass sheet manufacturing device detects defects occurring in the measurement objects g and Gt based on the measurement results of the measurement objects g and Gt, and although it cannot recognize the type of defect, it may be configured to recognize defects by type. In this case, post-processing can be performed by subdividing the defects by type.

以上の構成を備えたガラス板製造装置によれば、測定対象g、Gtに発生する不良の検知を高精度で行うことができるが、不良の検知のさらなる高精度化を図るために、以下に示すような構成を採用してもよい。 With a glass plate manufacturing apparatus having the above-mentioned configuration, defects occurring in the measurement objects g and Gt can be detected with high accuracy, but in order to achieve even higher accuracy in detecting defects, the configuration shown below may be adopted.

第一の構成として、図17に示すように、幅方向に沿って複数(図例では3個)のサーモグラフィ31を設置する。これらサーモグラフィ31は、幅方向に等間隔で配列され、且つ、同一の高さ位置に設置されている。この高さ位置は、既述の1個のサーモグラフィ31を設置した場合の高さ位置と同一である。また、これらサーモグラフィ31の測定対象Gt、gからの離間距離及び離間態様も、既述の1個のサーモグラフィ31を設置した場合の離間距離及び離間態様と同一である。 In the first configuration, as shown in Figure 17, multiple thermographs 31 (three in the illustrated example) are installed along the width direction. These thermographs 31 are arranged at equal intervals in the width direction and installed at the same height position. This height position is the same as the height position when a single thermograph 31 is installed as described above. In addition, the distance and spacing of these thermographs 31 from the measurement targets Gt, g are also the same as the distance and spacing of the single thermograph 31 when the previously described single thermograph 31 is installed.

これらサーモグラフィ31による温度分布の測定では、複数(本実施形態では3個)の熱画像が得られる。詳述すると、図18に示すように、複数のサーモグラフィ31がそれぞれ測定対象g、Gtを測定できる領域35は、幅方向に一列に並ぶ。これらの領域35は、隣り合う領域35が一部で重複し(その重複部を符号35xで示す)、測定対象g、Gtの幅方向全領域に亘っている。したがって、複数の熱画像も、この測定できる領域35、35xと同様の態様で、測定対象g、Gtを撮像することで得られる。すなわち、複数の熱画像は、隣り合う熱画像が一部で重複したものとなり、且つ、測定対象g、Gtの幅方向全領域を撮像したものとなる。これにより、複数のサーモグラフィ31による熱画像によって測定対象g、Gtに発生する不良を漏れなく検知できる。そして、複数のサーモグラフィ31による熱画像のうち、何れか一つの熱画像によってガラス板g又はガラスリボンGの切断側端部Gtの不良が検知された場合には、そのガラス板g又はガラスリボンGの切断側端部Gtは不良であるとされる。これに対して、全ての熱画像によってガラス板g又はガラスリボンGの切断側端部Gtの不良が検知されなければ、そのガラス板g又はガラスリボンGの切断側端部Gtは不良でないとされる。この場合、各サーモグラフィ31の前方部には、反射防止部材(図示略)が貼り付け等によって配置されている。この反射防止部材が配置されない場合には、照明等の反射光に起因して、各サーモグラフィ31を用いて不良を検知する際の検知精度の低下等を招き得る。ここでの構成によれば、反射防止部材の存在によって、照明等の反射光による悪影響を受け難くなる。 In the measurement of the temperature distribution by these thermographs 31, multiple thermal images (three in this embodiment) are obtained. More specifically, as shown in FIG. 18, the regions 35 in which the multiple thermographs 31 can measure the measurement objects g and Gt are lined up in a row in the width direction. These regions 35 overlap with adjacent regions 35 (the overlapping portions are indicated by the reference numerals 35x) and cover the entire width direction of the measurement objects g and Gt. Therefore, multiple thermal images are also obtained by imaging the measurement objects g and Gt in a similar manner to the measurable regions 35 and 35x. That is, the multiple thermal images are obtained by partially overlapping adjacent thermal images and by imaging the entire width direction of the measurement objects g and Gt. This allows defects occurring in the measurement objects g and Gt to be detected without omission by the thermal images taken by the multiple thermographs 31. Then, when a defect in the cut-side end Gt of the glass sheet g or the glass ribbon G is detected by any one of the thermal images of the multiple thermographs 31, the cut-side end Gt of the glass sheet g or the glass ribbon G is deemed to be defective. On the other hand, when a defect in the cut-side end Gt of the glass sheet g or the glass ribbon G is not detected by all the thermal images, the cut-side end Gt of the glass sheet g or the glass ribbon G is deemed not to be defective. In this case, an anti-reflection member (not shown) is arranged by pasting or the like on the front part of each thermograph 31. If this anti-reflection member is not arranged, it may cause a decrease in detection accuracy when detecting defects using each thermograph 31 due to reflected light from lighting, etc. According to the configuration here, the presence of the anti-reflection member makes it difficult to be adversely affected by reflected light from lighting, etc.

第二の構成として、図19に示すように、各サーモグラフィ31は、測定対象g、Gtについての温度分布の測定を斜め下方から行うように設置されている。図例では、ガラスリボンGの下端部Gtを省略している(後述する図20~図23も同様)。この場合、各サーモグラフィ31がガラス板gの表面を指向する向きCと水平方向とのなす角度αは、3°~80°(好ましくは、下限値が30°で、上限値が60°)である。 In a second configuration, as shown in Figure 19, each thermograph 31 is installed so as to measure the temperature distribution of the measurement objects g and Gt from diagonally below. In the illustrated example, the lower end Gt of the glass ribbon G is omitted (the same applies to Figures 20 to 23 described below). In this case, the angle α between the direction C in which each thermograph 31 points toward the surface of the glass plate g and the horizontal direction is 3° to 80° (preferably, the lower limit is 30° and the upper limit is 60°).

この第二の構成によれば、ガラス板gが縦姿勢である場合、つまり同図に実線で示す鉛直姿勢もしくは同図に鎖線で示す略鉛直姿勢(例えば鉛直方向に対する角度βが15°以下の傾斜姿勢)である場合に、次のような利点が得られる。すなわち、図20に示すように、サーモグラフィ31による測定を斜め下方から行う場合にガラス板gを測定できる領域35は、当該測定を水平方向に沿って行う場合にガラス板gを測定できる領域35aよりも、上下方向に長くなる。そのため、広い測定領域でガラス板gに発生する不良を検知できる。 This second configuration provides the following advantages when the glass sheet g is in a vertical position, that is, in the vertical position shown by the solid line in the figure or in the nearly vertical position shown by the dashed line in the figure (e.g., an inclined position with an angle β of 15° or less with respect to the vertical direction). That is, as shown in Figure 20, the area 35 in which the glass sheet g can be measured when the measurement is performed with the thermograph 31 from diagonally below is longer in the vertical direction than the area 35a in which the glass sheet g can be measured when the measurement is performed horizontally. Therefore, defects occurring in the glass sheet g can be detected in a wide measurement area.

さらに、この第二の構成によれば、次のような利点も得られる。すなわち、サーモグラフィ31による測定を水平方向に沿って行う場合あるいは斜め上方から行う場合には、斜め下方から行う場合よりも、サーモグラフィ31を相対的に高い位置(例えば図19に符号Hで示す領域)に設置する必要がある。そのようにした場合には、サーモグラフィ31が、スクライブ線形成装置21や図外のその他の装置などと干渉するおそれが生じ、サーモグラフィ31の設置スペースの自由度が低下する。この第二の構成では、上記の水平方向や斜め上方から測定を行う場合と比較して、サーモグラフィ31を図19に示すように相対的に低い位置に設置できる。これにより、サーモグラフィ31が、スクライブ線形成装置21や図外のその他の装置などと干渉し難くなり、サーモグラフィ31の設置スペースの自由度が高くなる。 Furthermore, this second configuration also provides the following advantages. That is, when the measurement using the thermograph 31 is performed along the horizontal direction or from diagonally above, the thermograph 31 needs to be installed at a relatively higher position (for example, the area indicated by the symbol H in FIG. 19) than when the measurement is performed from diagonally below. In such a case, there is a risk that the thermograph 31 will interfere with the scribe line forming device 21 or other devices not shown in the figure, and the degree of freedom in the installation space of the thermograph 31 is reduced. In this second configuration, the thermograph 31 can be installed at a relatively lower position as shown in FIG. 19, compared to the above-mentioned case where the measurement is performed in the horizontal direction or from diagonally above. As a result, the thermograph 31 is less likely to interfere with the scribe line forming device 21 or other devices not shown in the figure, and the degree of freedom in the installation space of the thermograph 31 is increased.

第三の構成として、図21に示すように、各サーモグラフィ31は、ガラス板gの表面を指向する向きCが上下方向に調整可能とされている。詳しくは、各サーモグラフィ31は、それらの中心軸上の支点31sの廻りにD-D方向に回転可能とされている。したがって、各サーモグラフィ31の向きCを変えることで、ガラス板gを測定できる領域が上下方向に沿って変動する。この場合、各サーモグラフィ31の向きCの調整は、全てのサーモグラフィ31を連動させるなどして同時に行ってもよく、個別に異なる時に行ってもよい。 As a third configuration, as shown in FIG. 21, the direction C of each thermograph 31 facing the surface of the glass plate g can be adjusted in the vertical direction. More specifically, each thermograph 31 can be rotated in the D-D direction around a fulcrum 31s on its central axis. Therefore, by changing the direction C of each thermograph 31, the area in which the glass plate g can be measured varies along the vertical direction. In this case, the direction C of each thermograph 31 can be adjusted simultaneously by linking all of the thermographs 31 together, or can be adjusted individually at different times.

この第三の構成によれば、成形ゾーン11で成形されて搬送されるガラスリボンGのサイズ、厚み、品種などが変更された場合、あるいはこの変更がなされなくてもガラス板gに揺れが生じた場合などに起こり得る弊害に対して適切に対処できる。すなわち、このような変更や揺れが生じた場合には、切断後におけるガラス板gの位置が上下方向にずれる場合がある。このような位置のずれが生じると、ガラス板gに発生する不良の検知精度が低下するだけでなく、場合によっては、サーモグラフィ31により測定できる領域からガラス板gの一部または全部が逸脱し、不良の検知が不能になり得る。ここでの構成によれば、サーモグラフィ31の向きCを上下方向に調整することで、サーモグラフィ31により測定できる領域を、ガラス板gの上下方向のずれに対応してずらすことができる。これにより、サーモグラフィ31により測定できる領域の適切な補正がなされ、不良の検知のさらなる高精度化が図られる。 According to this third configuration, it is possible to appropriately deal with adverse effects that may occur when the size, thickness, variety, etc. of the glass ribbon G formed and transported in the forming zone 11 is changed, or when the glass sheet g shakes even if this change is not made. That is, when such a change or shaking occurs, the position of the glass sheet g after cutting may shift in the vertical direction. When such a position shift occurs, not only does the detection accuracy of defects occurring in the glass sheet g decrease, but in some cases, a part or all of the glass sheet g may deviate from the area that can be measured by the thermograph 31, making it impossible to detect the defects. According to the configuration here, by adjusting the orientation C of the thermograph 31 in the vertical direction, the area that can be measured by the thermograph 31 can be shifted in response to the vertical shift of the glass sheet g. As a result, the area that can be measured by the thermograph 31 is appropriately corrected, and further high accuracy of defect detection is achieved.

第四の構成として、図22(平面図)に示すように、各サーモグラフィ31は、ガラス板gの表面を指向する向きCが幅方向に調整可能とされている。詳しくは、各サーモグラフィ31は、それらの中心軸上の支点31tの廻りにE-E方向に回転可能とされている。したがって、サーモグラフィ31の向きCを変えることで、ガラス板gを測定できる領域が幅方向に沿って変動する。この場合、各サーモグラフィ31の向きCの調整は、全てのサーモグラフィ31を連動させるなどして同時に行ってもよく、個別に異なる時に行ってもよい。 As a fourth configuration, as shown in FIG. 22 (plan view), the direction C of each thermograph 31 facing the surface of the glass plate g can be adjusted in the width direction. More specifically, each thermograph 31 can be rotated in the E-E direction around a fulcrum 31t on its central axis. Therefore, by changing the direction C of the thermograph 31, the area in which the glass plate g can be measured varies along the width direction. In this case, the direction C of each thermograph 31 can be adjusted simultaneously by linking all of the thermographs 31 together, or can be adjusted individually at different times.

この第四の構成によれば、上記と同様の変更や揺れが生じたりして、切断後のガラス板gが幅方向にずれても、サーモグラフィ31の向きを幅方向に調整することで、サーモグラフィ31によりガラス板gを測定できる領域が適切に補正される。 According to this fourth configuration, even if the glass plate g after cutting shifts in the width direction due to changes or vibrations similar to those described above, the area in which the glass plate g can be measured by the thermograph 31 is appropriately corrected by adjusting the orientation of the thermograph 31 in the width direction.

第五の構成として、図23に示すように、各サーモグラフィ31は、上下方向の位置が調整可能とされている。詳しくは、各サーモグラフィ31は、上下方向(F-F方向)に平行移動できるようになっている。したがって、サーモグラフィ31の上下方向の位置を変えることで、ガラス板gを測定できる領域が上下方向に沿って変動する。この場合、各サーモグラフィ31の上下方向の位置の調整は、全てのサーモグラフィ31を連動させるなどして同時に行ってもよく、個別に異なる時に行ってもよい。 As a fifth configuration, as shown in FIG. 23, the vertical position of each thermograph 31 can be adjusted. More specifically, each thermograph 31 can be translated in the vertical direction (F-F direction). Therefore, by changing the vertical position of the thermograph 31, the area in which the glass plate g can be measured varies along the vertical direction. In this case, the vertical position of each thermograph 31 can be adjusted simultaneously by linking all of the thermographs 31 together, or can be adjusted individually at different times.

この第五の構成によれば、上記と同様の変更や揺れが生じたりして、切断後のガラス板gが上下方向にずれても、サーモグラフィ31の上下方向の位置を調整することで、サーモグラフィ31によりガラス板gを測定できる領域が適切に補正される。 According to this fifth configuration, even if the glass plate g after cutting shifts in the vertical direction due to changes or vibrations similar to those described above, the area in which the glass plate g can be measured by the thermograph 31 is appropriately corrected by adjusting the vertical position of the thermograph 31.

なお、上述の第三、第四及び第五の構成に関しては、これらのうちの一つの構成を備えているだけでもよく、または、これらから任意に選んだ二つの構成を備えていてもよく、さらには、これら三つの構成を備えていてもよい。 With regard to the third, fourth and fifth configurations described above, it is possible for the device to have only one of these configurations, or to have two configurations arbitrarily selected from these configurations, or even to have all three of these configurations.

第六の構成として、サーモグラフィ31による測定で得られた熱画像に対して、初期設定と、不良を検知するためのより緻密な画像解析とが行われる。図24は、幅方向端部(左端部)に設置されたサーモグラフィ31による熱画像Fwであり、図25は、幅方向両端部以外の部位に設置されたサーモグラフィ31による熱画像Fxである。初期設定として、これら各図に示す熱画像Fw、Fx上に、ガラス板gの上端部(切断側端部)gtとその上方空間Z1とを対象とする不良検査領域36をそれぞれ設定する。複数(三つ)の熱画像Fw、Fx上の全てに設定される不良検査領域36は、隣り合う不良検査領域36が一部で重複して、ガラス板gの上端部gtの幅方向全領域に亘っている。As a sixth configuration, initial settings and more detailed image analysis to detect defects are performed on the thermal image obtained by measurement using the thermograph 31. FIG. 24 shows a thermal image Fw by the thermograph 31 installed at the widthwise end (left end), and FIG. 25 shows a thermal image Fx by the thermograph 31 installed at a location other than both widthwise ends. As an initial setting, a defect inspection area 36 is set on each of the thermal images Fw and Fx shown in these figures, covering the upper end (cutting side end) gt of the glass sheet g and the space Z1 above it. The defect inspection areas 36 set on all of the multiple (three) thermal images Fw and Fx overlap adjacent defect inspection areas 36 in part, and extend over the entire widthwise area of the upper end gt of the glass sheet g.

先ず、図24に示す熱画像Fw上に不良検査領域36を設定する手法を説明する。最初に、熱画像Fw上で、ガラス板gの上側縁部ga1(その高さ位置)を検出し、この検出した上側縁部ga1を上下方向の原点位置とする。ここで、ガラス板gの上側縁部ga1を検出するとは、次に示すことを意味する。すなわち、ガラス板gの上側の切断面gaが、水平方向に一直線となって現れている場合には、その切断面gaを上側縁部ga1として検出する。一方、ガラス板gの上側の切断面gaが、波形状もしくは水平方向に対して傾斜した形状などとなって現れている場合は、例えば切断面gaの最高部もしくは最低部、または最高部と最低部との間における上下方向中央部などを上側縁部ga1として検出する。この場合、波形状や傾斜した形状などの高低差が極端に大きいことが明確に現れている場合は、検知部32が、明らかな不良として検知できるため、ここでの設定は行われない。First, a method of setting the defect inspection area 36 on the thermal image Fw shown in FIG. 24 will be described. First, the upper edge ga1 (its height position) of the glass plate g is detected on the thermal image Fw, and the detected upper edge ga1 is set as the origin position in the vertical direction. Here, detecting the upper edge ga1 of the glass plate g means the following. That is, when the upper cut surface ga of the glass plate g appears as a straight line in the horizontal direction, the cut surface ga is detected as the upper edge ga1. On the other hand, when the upper cut surface ga of the glass plate g appears as a wave shape or a shape inclined with respect to the horizontal direction, for example, the highest or lowest part of the cut surface ga, or the vertical center between the highest and lowest parts, is detected as the upper edge ga1. In this case, if the height difference such as the wave shape or the inclined shape is clearly extremely large, the detection unit 32 can detect it as an obvious defect, so the setting here is not performed.

また、この熱画像Fwでは、ガラス板gの幅方向端部に形成された耳部geと、それよりも幅方向中央側の部位gcとの境界部gfが現れているため、境界部gfを検出し、この境界部gfを幅方向の原点位置とする。なお、幅方向の原点位置は、耳部geの幅方向外端縁gf1であってもよい。そして、上下方向の原点位置ga1と幅方向の原点位置gfとに基づいて、幅方向に長尺な矩形の検査枠37を熱画像Fw上に重ねて描く。これにより、検査枠37で取り囲まれた内部領域が不良検査領域36として設定される。この実施形態に係る熱画像Fw上では、不良検査領域36の上下方向中央部に、上下方向の原点位置ga1が存在するように位置合わせされている。また、不良検査領域36の幅方向一端部(左端部)が、幅方向の原点位置gfを基準としてその原点位置gfよりも左側に位置合わせされている。さらに、不良検査領域36の幅方向他端部(右端部)が、熱画像Fwの右端部に存在するように位置合わせされている。したがって、ここでの不良検査領域36は、ガラス板gの上端部gtの左端側部位が検査対象になるように一つの検査枠37により抽出された一つの領域Nとなる。なお、幅方向右端部に設置されたサーモグラフィ31による熱画像Fwについても上記と同様の初期設定が行われる。In addition, in this thermal image Fw, a boundary gf between the ear ge formed at the widthwise end of the glass plate g and the part gc closer to the center in the widthwise direction appears, so the boundary gf is detected and this boundary gf is set as the origin position in the widthwise direction. The origin position in the widthwise direction may be the outer edge gf1 of the ear ge. Then, based on the origin position ga1 in the vertical direction and the origin position gf in the widthwise direction, a rectangular inspection frame 37 elongated in the widthwise direction is drawn superimposed on the thermal image Fw. As a result, the internal area surrounded by the inspection frame 37 is set as the defective inspection area 36. On the thermal image Fw according to this embodiment, the origin position ga1 in the vertical direction is positioned so that it exists in the vertical center of the defective inspection area 36. In addition, one end (left end) of the defective inspection area 36 in the widthwise direction is positioned to the left of the origin position gf based on the origin position gf in the widthwise direction. Furthermore, the other end (right end) in the width direction of the defect inspection area 36 is aligned so as to be present at the right end of the thermal image Fw. Therefore, the defect inspection area 36 here is one area N extracted by one inspection frame 37 so that the left end portion of the upper end gt of the glass plate g becomes the inspection target. The same initial settings as above are also performed for the thermal image Fw captured by the thermograph 31 installed at the right end in the width direction.

このような手法によれば、熱画像Fwに描画されるガラス板gの上下方向の位置及び幅方向の位置が一様に定まらない場合でも、熱画像Fw上でのガラス板gに対する不良検査領域36の上下方向の位置及び幅方向の位置が一様に定まる。これにより、不良検査領域36内での画像解析によりガラス板gに発生する不良を検知する際(後述する)の誤検知が生じ難くなり、より一層確実に不良の検知精度を高めることができる。According to this method, even if the vertical and widthwise positions of the glass plate g depicted in the thermal image Fw are not uniformly determined, the vertical and widthwise positions of the defect inspection area 36 relative to the glass plate g on the thermal image Fw are uniformly determined. This makes it less likely that erroneous detections will occur when detecting defects occurring in the glass plate g by image analysis in the defect inspection area 36 (described later), and makes it possible to more reliably improve the accuracy of defect detection.

次いで、図25に示す熱画像Fx上に不良検査領域36を設定する手法を説明する。この場合には、熱画像Fx上にガラス板gの幅方向端部が現れないため、幅方向の原点位置を検出する必要がない。したがって、不良検査領域36の幅方向両端部はそれぞれ、熱画像Fxの幅方向両端部に存在するように位置合わせされている。そして、この熱画像Fx上においても、上下方向の原点位置ga1を決めること、及び、検査枠37により不良検査領域36を設定することが行われる。したがって、ここでの不良検査領域36は、ガラス板gの上端部gtの幅方向中央部位が検査対象になるように一つの検査枠37により抽出された一つの領域Mとなる。この際に実行される手法は、既述の図24に基づく手法と同一である。そのため、ここでの手法によれば、幅方向の原点位置によるものを除外すれば、既述の図24に基づく手法と同一の作用効果が得られる。Next, a method of setting the defective inspection area 36 on the thermal image Fx shown in FIG. 25 will be described. In this case, since the width direction end of the glass plate g does not appear on the thermal image Fx, there is no need to detect the origin position in the width direction. Therefore, both ends of the defective inspection area 36 in the width direction are aligned so that they are present at both ends of the thermal image Fx in the width direction. Then, even on this thermal image Fx, the origin position ga1 in the vertical direction is determined, and the defective inspection area 36 is set by the inspection frame 37. Therefore, the defective inspection area 36 here is one area M extracted by one inspection frame 37 so that the central part in the width direction of the upper end gt of the glass plate g becomes the inspection target. The method executed at this time is the same as the method based on FIG. 24 described above. Therefore, according to the method here, if the one due to the origin position in the width direction is excluded, the same action and effect as the method based on FIG. 24 described above can be obtained.

図26は、検査枠37によって抽出された領域N(M)の一部分における一形態を例示している。この領域N(M)の当該部分では、ガラス板gの上側の切断面gaに波形状による形状不良が発生している。なお、同図に示す上下方向の原点位置ga1は、波形状(他の領域の波形状も含む)における最低部と最高部との間における上下方向中央部に位置している。また、同図では、波形状を誇張して示している。この領域N(M)の当該部分は、格子状に縦横に仕切られた複数の単位ピクセル群Pkによって構成される。一つの単位ピクセル群Pkは、複数個のピクセルの集合体である。この領域N(M)の当該部分では、最も下方で横一列に並ぶ単位ピクセル群Pkの集まり(同図に○印を付した集まり)の明度を、基準温度に相当する基準明度として設定する。そして、この基準明度との明度差によって、ガラス板gの上端部gtとその上方空間Z1との境界が判明している。このような設定の下で、同図に○印を付した単位ピクセル群Pkの集まりよりも上方に存在する複数の単位ピクセル群Pkの中から、ガラス板gの上端部gtとその上方空間Z1との境界を含む単位ピクセル群Pkを抽出する。同図には、ここで抽出された上記の境界を含む複数の単位ピクセル群Pkに、×印を付している。さらに、ここで抽出された複数の単位ピクセル群Pkのうち、最下部にあるものから最上部にあるものまでの高低差に相当する単位ピクセル群Pkの個数(すなわち、横一列を一段とした場合に×印が存在する段数)を求める。そして、この求められた個数が、予め設定された個数以上である場合に、検知部32は、波形状による形状不良として検知し、この求められた個数が、予め設定された個数未満である場合に、検知部32は、波形状による形状不良でないとする。図例では、求められた個数が4個であり、予め設定された個数が3個であるため、検知部32は、波形状による形状不良が発生していることを検知する。なお、このような画像解析の手法は、ガラス板gの上側の切断面gaに、既述のツノg1や欠けg2による形状不良が発生している場合も、同様にして適用することが可能である。 Figure 26 illustrates one form of a part of the region N (M) extracted by the inspection frame 37. In this part of the region N (M), a shape defect due to a wave shape occurs on the upper cut surface ga of the glass plate g. The vertical origin position ga1 shown in the figure is located in the vertical center between the lowest and highest parts of the wave shape (including the wave shapes of other regions). In addition, the wave shape is exaggerated in the figure. This part of the region N (M) is composed of multiple unit pixel groups Pk partitioned vertically and horizontally in a lattice shape. One unit pixel group Pk is a collection of multiple pixels. In this part of the region N (M), the brightness of the group of unit pixel groups Pk arranged horizontally at the bottom (group marked with a circle in the figure) is set as the reference brightness corresponding to the reference temperature. The difference in brightness from this reference brightness identifies the boundary between the upper end gt of the glass plate g and the space Z1 above it. Under such a setting, the unit pixel group Pk including the boundary between the upper end gt of the glass plate g and the space Z1 above it is extracted from among the plurality of unit pixel groups Pk present above the group of unit pixel groups Pk marked with a circle in the figure. In the figure, the plurality of unit pixel groups Pk including the above-mentioned boundary extracted here are marked with a cross. Furthermore, among the plurality of unit pixel groups Pk extracted here, the number of unit pixel groups Pk corresponding to the height difference from the bottom to the top (i.e., the number of stages where a cross mark exists when a horizontal row is considered as one stage) is obtained. Then, if the obtained number is equal to or greater than a preset number, the detection unit 32 detects it as a shape defect due to a corrugated shape, and if the obtained number is less than the preset number, the detection unit 32 determines that it is not a shape defect due to a corrugated shape. In the illustrated example, the obtained number is four and the preset number is three, so the detection unit 32 detects that a shape defect due to a corrugated shape has occurred. This image analysis technique can also be applied in the same manner when the upper cut surface ga of the glass plate g has a shape defect due to the aforementioned horn g1 or chip g2.

このような画像解析の手法によれば、上下方向の原点位置ga1(場合によっては幅方向の原点位置gfを含む)に基づきガラス板gの一定の位置を基準明度として境界を判別するため、検査を行う度に境界の判別にばらつきやミスが生じることを抑止できる。しかも、基準明度との明度差によって判別される境界についての高低差に相当するピクセルの個数を求めるだけで、不良の発生を検知できるため、画像解析の容易性及びさらなる正確性が確保される。 According to this image analysis method, the boundary is determined using a fixed position on the glass plate g as the reference brightness based on the vertical origin position ga1 (including the width origin position gf in some cases), which prevents variations and mistakes in determining the boundary each time an inspection is performed. Moreover, the occurrence of defects can be detected simply by finding the number of pixels corresponding to the height difference of the boundary determined by the brightness difference from the reference brightness, ensuring ease and accuracy of image analysis.

図27は、検査枠37によって抽出された領域N(M)の一部分における他の形態を例示している。この領域N(M)の当該部分では、ガラス板gの上側の切断面gaに部分破損g3による不良が発生している。ここで、この領域N(M)の当該部分では、格子状に縦横に仕切られたそれぞれの単位ピクセル群Pkの個数が上述の場合よりも多くなっている。そのため、一つの単位ピクセル群Pkは、ピクセル数が上述の場合よりも少ない。また、この領域N(M)の当該部分では、ガラス板gの上端部gtとその上方空間Z1との境界(部分破損g3との境界を除く)に、高さ方向の原点位置ga1が存在している。そして、ここでの画像解析においても、上述の場合と同様に、基準明度との明度差によって、ガラス板gの上端部gt(部分破損g3を含む)とその上方空間Z1との境界が判明し、且つ、その上端部gtと上方空間Z1との相違も判明している。このような設定の下で、高さ方向の原点位置ga1に沿って、幅方向に仮想直線ga11を引く。この状態で、部分破損g3の輪郭g3a、g3bと仮想直線ga11とにより取り囲まれた領域Zxの面積を、単位ピクセル群Pk(またはピクセルPk)の個数から求める。そして、この求められた面積の値が、予め設定された面積の値(ガラス板gの欠落部の面積の値)以上である場合に、検知部32は、部分破損g3として検知し、この求められた面積の値が、予め設定された面積の値未満である場合に、検知部32は、部分破損g3でないとする。図例では、求められた面積の値が、予め設定された面積の値以上であるため、検知部32は、部分破損g3が発生していることを検知する。 Figure 27 illustrates another form in a part of the region N (M) extracted by the inspection frame 37. In this part of the region N (M), a defect occurs on the upper cut surface ga of the glass plate g due to partial damage g3. Here, in this part of the region N (M), the number of unit pixel groups Pk partitioned vertically and horizontally in a lattice shape is greater than in the above case. Therefore, one unit pixel group Pk has fewer pixels than in the above case. Also, in this part of the region N (M), the origin position ga1 in the height direction exists at the boundary between the upper end gt of the glass plate g and the space above it Z1 (excluding the boundary with the partial damage g3). And in the image analysis here, as in the above case, the boundary between the upper end gt of the glass plate g (including the partial damage g3) and the space above it Z1 is identified by the brightness difference from the reference brightness, and the difference between the upper end gt and the space above it Z1 is also identified. Under such settings, a virtual straight line ga11 is drawn in the width direction along the origin position ga1 in the height direction. In this state, the area of the region Zx surrounded by the contours g3a, g3b of the partial damage g3 and the virtual straight line ga11 is calculated from the number of unit pixel groups Pk (or pixels Pk). If the calculated area value is equal to or greater than a preset area value (the area value of the missing part of the glass plate g), the detection unit 32 detects the partial damage g3, and if the calculated area value is less than the preset area value, the detection unit 32 does not determine that the partial damage g3 has occurred. In the illustrated example, since the calculated area value is equal to or greater than the preset area value, the detection unit 32 detects that the partial damage g3 has occurred.

これに代えて、次のような手法を採用してもよい。すなわち、上記の領域Zxを除外したガラス板gの面積(領域N(M)の当該部分に描写されるガラス板gの面積)を、単位ピクセル群Pk(またはピクセルPk)の個数から求めるようにしてもよい。この場合には、ガラス板gに不良が全く発生していない場合のガラス板gの面積に基づく値(例えば既述の第1閾値)を予め設定しておく。このようにすれば、求められた面積の値が、予め設定された面積の値を超えている場合、検知部32は、部分破損g3でないとし、求められた面積の値が、予め設定された面積の値以下である場合に、検知部32は、部分破損g3として検知する。なお、図27に基づく画像解析の手法は、ガラス板gの上側の切断面gaに、既述のツノg1や欠けg2による形状不良が発生している場合、さらには既述のガラスリボンGの縦割れに伴う割れ破損g4が発生している場合に、同様にして適用することが可能である。特に、ガラスリボンGの縦割れに伴う割れ破損g3の検知に際しては、複数のサーモグラフィ31による複数の熱画像のうちの少なくとも一つの熱画像にガラス板gが全く存在しない態様が描写され得るため、ピクセル数から面積の値を求めなくても割れ破損g3を検知できる場合がある。Alternatively, the following method may be adopted. That is, the area of the glass sheet g excluding the above-mentioned region Zx (the area of the glass sheet g depicted in the relevant portion of the region N (M)) may be obtained from the number of unit pixel groups Pk (or pixels Pk). In this case, a value based on the area of the glass sheet g when no defects occur in the glass sheet g (for example, the first threshold value described above) is set in advance. In this way, if the obtained area value exceeds the predetermined area value, the detection unit 32 determines that the partial damage g3 is not present, and if the obtained area value is equal to or less than the predetermined area value, the detection unit 32 detects the partial damage g3. The image analysis method based on FIG. 27 can be similarly applied when the upper cut surface ga of the glass sheet g has a shape defect due to the above-mentioned horn g1 or chip g2, and further when the above-mentioned crack damage g4 due to the vertical crack of the glass ribbon G has occurred. In particular, when detecting cracks or breakage g3 associated with vertical cracks in the glass ribbon G, at least one of the multiple thermal images captured by the multiple thermographs 31 may depict a state in which the glass plate g is completely absent, and therefore, it may be possible to detect the cracks or breakage g3 without calculating the area value from the number of pixels.

このような画像解析の手法によれば、上下方向の原点位置ga1(場合によっては幅方向の原点位置gfを含む)に基づきガラス板gの一定の位置を基準明度として、境界、及び、当該上端部gtと上方空間Z1との相違を判別する。そのため、検査を行う度に境界や上記の相違の判別にばらつきやミスが生じることを抑止できる。しかも、上記の原点位置ga1(gf)に基づき位置補正がなされた領域N(M)内で、ピクセル数から面積の値を求めるだけで、不良の発生を検知できるため、画像解析の容易性及びさらなる正確性が確保される。According to this image analysis technique, a certain position on the glass plate g is set as the reference brightness based on the vertical origin position ga1 (possibly including the widthwise origin position gf), and the boundary and the difference between the upper end gt and the upper space Z1 are identified. This makes it possible to prevent variations and errors in identifying the boundary and the above differences each time an inspection is performed. Moreover, within the region N (M) whose position has been corrected based on the above origin position ga1 (gf), the occurrence of defects can be detected simply by calculating the area value from the number of pixels, ensuring ease and accuracy of image analysis.

次に、以上のような構成を備えたガラス板製造装置を用いたガラス板製造方法について説明する。Next, we will explain a glass plate manufacturing method using a glass plate manufacturing apparatus having the above-mentioned configuration.

本実施形態に係るガラス板製造方法は、成形工程と、搬送工程と、切断工程と、検知工程と、を備えている。The glass plate manufacturing method of this embodiment includes a forming process, a conveying process, a cutting process, and a detection process.

成形工程は、成形ゾーン11でガラスリボンGを成形する工程である。The forming process is a process of forming glass ribbon G in the forming zone 11.

搬送工程は、成形されたガラスリボンGを搬送装置14のローラ対Rで搬送する工程である。なお、搬送工程は、熱処理工程と、冷却工程と、を含んでいる。The conveying process is a process in which the formed glass ribbon G is conveyed by the roller pair R of the conveying device 14. The conveying process includes a heat treatment process and a cooling process.

熱処理工程は、熱処理ゾーン12で成形工程を経たガラスリボンGを搬送しながら、ガラスリボンGに対して熱処理を施す工程である。The heat treatment process is a process in which the glass ribbon G that has undergone the forming process is subjected to heat treatment while being transported in the heat treatment zone 12.

冷却工程は、冷却ゾーン13で熱処理工程を経たガラスリボンGを搬送しながら冷却する工程である。The cooling process is a process in which the glass ribbon G that has undergone the heat treatment process is cooled while being transported in the cooling zone 13.

切断工程は、冷却工程を経たガラスリボンGを搬送しながら、切断装置2によりガラスリボンGを幅方向に切断してガラス板gを得る工程である。The cutting process is a process in which the glass ribbon G that has undergone the cooling process is transported and cut in the width direction by a cutting device 2 to obtain glass sheets g.

検知工程は、ガラスリボンGの切断側端部Gt及びガラス板gからなる測定対象の温度分布をサーモグラフィ31により測定し、その測定結果に基づいて、既に詳述したように測定対象Gt、gに不良が発生しているか否かを検知する工程である。The detection process is a process in which the temperature distribution of the measurement objects consisting of the cut side end Gt of the glass ribbon G and the glass plate g is measured using a thermograph 31, and based on the measurement results, it is detected whether or not defects have occurred in the measurement objects Gt, g, as already described in detail.

以上、本発明の実施形態に係るガラス板製造装置及びその製造方法について説明したが、本発明の実施の形態はこれに限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変更を施すことが可能である。 The above describes a glass plate manufacturing apparatus and a manufacturing method thereof according to an embodiment of the present invention, but the embodiment of the present invention is not limited to this, and various modifications can be made without departing from the gist of the present invention.

上記実施形態では、測定対象の切断面の形状不良を、サーモグラフィの温度分布を示す熱画像から切断面の高さ位置の分布を求め、その高低に基づいて検知するようにしたが、これ以外の画像解析によって測定対象の切断面の形状不良を検知するようにしてもよい。In the above embodiment, shape defects of the cut surface of the object to be measured are detected based on the height distribution of the cut surface obtained from a thermal image showing the temperature distribution of the thermograph, but shape defects of the cut surface of the object to be measured may also be detected by other image analysis methods.

上記実施形態では、ガラス板gの部分破損及びガラスリボンGの縦割れを、ガラス板gについての面積と閾値とに基づいて検知するようにしたが、これ以外の画像解析によって部分破損及び縦割れを検知するようにしてもよい。また、ガラス板gの面積は、ガラス板gの全部の面積を求めてもよく、ガラス板gの一部の面積を求めてもよい。例えば、チャック27によって把持されるガラス板gの両端部を除いた中間部の面積を求め、中間部の面積と閾値とに基づいてガラス板gの部分破損及びガラスリボンGの縦割れを検知してもよい。In the above embodiment, partial breakage of the glass sheet g and vertical cracks in the glass ribbon G are detected based on the area of the glass sheet g and a threshold value, but partial breakage and vertical cracks may be detected by other image analysis. Furthermore, the area of the glass sheet g may be calculated as the entire area of the glass sheet g, or as a portion of the area of the glass sheet g. For example, the area of the middle part of the glass sheet g gripped by the chuck 27 excluding both ends may be calculated, and partial breakage of the glass sheet g and vertical cracks in the glass ribbon G may be detected based on the area of the middle part and a threshold value.

上記実施形態では、測定対象Gt、gの温度の測定を、サーモグラフィ31による温度分布の測定として行ったが、これに代えて、直線状に温度測定が可能なリニアセンサ温度計によって測定対象Gt、gの温度分布を測定するようにしてもよい。In the above embodiment, the temperature of the measurement objects Gt, g was measured by measuring the temperature distribution using a thermograph 31, but instead, the temperature distribution of the measurement objects Gt, g may be measured using a linear sensor thermometer capable of measuring temperature in a straight line.

上記実施形態では、測定対象を、ガラスリボンGの切断側端部Gtとガラス板gとの両者を含むようにしたが、この両者のうちの何れか一方のみを測定対象としてもよい。In the above embodiment, the measurement object includes both the cut side end Gt of the glass ribbon G and the glass plate g, but only one of these may be the measurement object.

上記実施形態では、単一の測定対象に、ツノ、欠け、波形状、部分破損、及び縦割れに伴う破損が発生するものとして、測定対象毎にこれらの不良を個別に検知するようにしたが、これらの不良のうちの複数種の不良が単一の測定対象に同時に発生する場合がある。このような場合には、単一の測定対象について複数種の不良(それらの不良の存否)を検知するようにしてもよい。In the above embodiment, defects such as horns, chips, corrugations, partial breakage, and breakage associated with vertical cracks are detected individually for each measurement object, but there are cases where multiple types of defects occur simultaneously on a single measurement object. In such cases, multiple types of defects (the presence or absence of those defects) may be detected for a single measurement object.

上記実施形態では、ガラスリボンGをオーバーフローダウンドロー法により成形したが、スロットダウンドロー法やリドロー法などの他のダウンドロー法や、フロート法などにより成形してもよい。In the above embodiment, the glass ribbon G was formed by the overflow downdraw method, but it may also be formed by other downdraw methods such as the slot downdraw method or the redraw method, or the float method.

上記実施形態では、ガラスリボンGをスクライブ線Sに沿う折り割りで切断するようにしたが、レーザー割断やレーザー溶断などの他の方法により切断してもよい。このような方法を採用した場合にも、ガラスリボンGからガラス板gを切り離す際には、振動や衝撃が発生するため、ガラスリボンG及びガラス板gに揺れが生じ得るが、本発明では、このような揺れによる悪影響を受け難い。In the above embodiment, the glass ribbon G is cut by folding along the scribe line S, but other methods such as laser cutting or laser melting may also be used. Even when such a method is used, vibrations and impacts are generated when the glass sheet g is separated from the glass ribbon G, which may cause shaking in the glass ribbon G and the glass sheet g. However, the present invention is less susceptible to the adverse effects of such shaking.

上記実施形態では、図9~図14に示す熱画像を、一つのサーモグラフィによる熱画像の一部としたが、これらの熱画像は、複数のサーモグラフィ(図17参照)によるそれぞれの熱画像のうちの一つの熱画像全体であってもよい。そうである場合は、不良の検知に際して図26及び図27に示すように熱画像にガラスリボンが描写されていなくてもよい。また、図15及び図16に示す熱画像では、ガラス板全体が描写されているが、ガラス板の上側部分(例えば上端部)のみが描写されていてもよく、その場合にはさらにガラス板の幅方向の一部のみ(ガラスリボンも幅方向の一部のみ)が描写されていてもよい。そのようにした場合も、不良の検知に際して図26及び図27に示すようにガラスリボンが描写されていなくてもよい。In the above embodiment, the thermal images shown in Figures 9 to 14 are part of a thermal image obtained by one thermograph, but these thermal images may be the entire thermal image of one of the thermal images obtained by a plurality of thermographs (see Figure 17). In this case, the glass ribbon may not be depicted in the thermal image as shown in Figures 26 and 27 when detecting a defect. In addition, the entire glass sheet is depicted in the thermal images shown in Figures 15 and 16, but only the upper portion of the glass sheet (e.g., the upper end) may be depicted, and in that case, only a portion of the glass sheet in the width direction (and only a portion of the glass ribbon in the width direction) may be depicted. In such a case, the glass ribbon may not be depicted as shown in Figures 26 and 27 when detecting a defect.

1 処理装置
2 切断装置
3 検知装置
11 成形ゾーン
14 搬送装置
22 切断装置
31 サーモグラフィ
32 検知部
36 不良検査領域
F1 熱画像
F2 熱画像
F3 熱画像
F4 熱画像
F5 熱画像
Fw 熱画像
Fx 熱画像
G ガラスリボン
Gt ガラスリボンの切断側端部
g ガラス板
G1 ツノ
g1 ツノ
G2 欠け
g2 欠け
G3 部分破損
g3 部分破損
G4 縦割れ
g4 縦割れ
Ga ガラスリボンの下側の切断面
ga ガラス板の上側の切断面
ga1 上下方向の原点位置(ガラス板の上側縁部)
Gm 溶融ガラス
Z1 ガラス板の上方空間
1 Processing device 2 Cutting device 3 Detection device 11 Forming zone 14 Conveying device 22 Cutting device 31 Thermography 32 Detection unit 36 Defective inspection area F1 Thermal image F2 Thermal image F3 Thermal image F4 Thermal image F5 Thermal image Fw Thermal image Fx Thermal image G Glass ribbon Gt Cutting side end g of glass ribbon Glass sheet G1 Horn g1 Horn G2 Chipped g2 Chipped G3 Partial break g3 Partial break G4 Vertical crack g4 Vertical crack Ga Lower cut surface ga of glass ribbon Upper cut surface ga1 of glass sheet Origin position in the vertical direction (upper edge of glass sheet)
Gm Molten glass Z1 Space above the glass plate

Claims (18)

成形ゾーンでガラスリボンを成形する成形工程と、前記ガラスリボンを長手方向に沿って搬送する搬送工程と、前記ガラスリボンを幅方向に沿って切断してガラス板を切り出す切断工程と、を備えたガラス板製造方法であって、
前記切断工程での切断後におけるガラスリボンの切断側端部、ガラス板、及びそれら両者のうちの何れか一種を測定対象として、該測定対象について温度を測定し、その測定結果に基づいて該測定対象に発生する不良を検知する検知工程を備え
前記検知工程では、前記測定対象についての温度の測定を、サーモグラフィによる温度分布の測定として行うことを特徴とするガラス板製造方法。
A glass sheet manufacturing method including: a forming step of forming a glass ribbon in a forming zone; a conveying step of conveying the glass ribbon along a longitudinal direction; and a cutting step of cutting the glass ribbon along a width direction to cut out a glass sheet,
A detection process is provided in which a cut-side end of the glass ribbon after cutting in the cutting process, a glass sheet, or any one of them is used as a measurement object, a temperature is measured for the measurement object, and a defect occurring in the measurement object is detected based on the measurement result ,
The method for manufacturing a glass plate , wherein in the detection step, the temperature of the measurement object is measured by measuring a temperature distribution by thermography .
前記切断工程では、前記ガラスリボンをその幅方向に延びるスクライブ線に沿って折り割ることで前記ガラス板を切り出すことを特徴とする請求項1に記載のガラス板製造方法。 The method for manufacturing a glass sheet according to claim 1, characterized in that in the cutting step, the glass sheet is cut by bending and breaking the glass ribbon along scribe lines extending in the width direction of the glass ribbon. 前記成形工程では、前記ガラスリボンをダウンドロー法により成形することを特徴とする請求項1又は2に記載のガラス板製造方法。 3. The method for manufacturing a glass sheet according to claim 1, wherein in the forming step, the glass ribbon is formed by a down-draw method. 前記検知工程で検知される不良は、前記切断工程での切断後におけるガラス板の上側の切断面の形状不良を含むことを特徴とする請求項3に記載のガラス板製造方法。 The glass plate manufacturing method according to claim 3, characterized in that the defects detected in the detection process include defects in the shape of the upper cut surface of the glass plate after cutting in the cutting process. 前記ガラス板についての温度分布から、前記上側の切断面の高さ位置の分布を求め、その高低に基づいて前記上側の切断面の形状不良を検知することを特徴とする請求項4に記載のガラス板製造方法。 The glass plate manufacturing method according to claim 4, characterized in that the distribution of height positions of the upper cut surface is calculated from the temperature distribution of the glass plate, and a shape defect of the upper cut surface is detected based on the height. 前記上側の切断面の形状不良を検知した場合、そのガラス板を廃棄することを特徴とする請求項4又は5に記載のガラス板製造方法。 The glass plate manufacturing method according to claim 4 or 5, characterized in that if a defective shape of the upper cut surface is detected, the glass plate is discarded. 前記検知工程で検知される不良は、前記切断工程での切断後におけるガラス板の部分破損を含むことを特徴とする請求項3~6の何れかに記載のガラス板製造方法。 A glass plate manufacturing method according to any one of claims 3 to 6, characterized in that the defects detected in the detection process include partial breakage of the glass plate after cutting in the cutting process. 前記ガラス板についての温度分布から、前記ガラス板の少なくとも一部の領域の面積を求め、その面積と第1閾値とに基づいて前記部分破損を検知することを特徴とする請求項7に記載のガラス板製造方法。 The glass plate manufacturing method according to claim 7, characterized in that the area of at least a portion of the glass plate is calculated from the temperature distribution of the glass plate, and the partial breakage is detected based on the area and a first threshold value. 前記部分破損を検知した場合、そのガラス板を廃棄することを特徴とする請求項7又は8に記載のガラス板製造方法。 The glass plate manufacturing method according to claim 7 or 8, characterized in that, if the partial breakage is detected, the glass plate is discarded. 前記検知工程で検知される不良は、前記切断工程での切断後におけるガラスリボンの縦割れに伴うガラス板の割れ破損を含むことを特徴とする請求項3~9の何れかに記載のガラス板製造方法。 A glass sheet manufacturing method according to any one of claims 3 to 9, characterized in that the defects detected in the detection process include cracks and breakage of the glass sheet due to vertical cracks in the glass ribbon after cutting in the cutting process. 前記ガラス板についての温度分布から、前記ガラス板の少なくとも一部の領域の面積を求め、その面積と第2閾値とに基づいて前記割れ破損を検知することを特徴とする請求項10に記載のガラス板製造方法。 The glass plate manufacturing method according to claim 10, characterized in that the area of at least a portion of the glass plate is calculated from the temperature distribution of the glass plate, and the crack or breakage is detected based on the area and a second threshold value. 前記割れ破損を検知した場合、前記ガラスリボンの縦割れが発生しているとみなして、前記切断工程の実行に用いる切断装置を退避させることを特徴とする請求項10又は11に記載のガラス板製造方法。 The glass sheet manufacturing method according to claim 10 or 11, characterized in that, when the crack or breakage is detected, it is assumed that a vertical crack has occurred in the glass ribbon, and the cutting device used to perform the cutting process is withdrawn. 前記サーモグラフィは、前記測定対象についての温度分布の測定を斜め下方から行うことを特徴とする請求項3~12の何れかに記載のガラス板製造方法。 A glass plate manufacturing method according to any one of claims 3 to 12, characterized in that the thermography measures the temperature distribution of the measurement object from diagonally below. 前記サーモグラフィは、前記測定対象の表面を指向する向きが上下方向に調整可能とされていることを特徴とする請求項3~13の何れかに記載のガラス板製造方法。 A glass plate manufacturing method according to any one of claims 3 to 13, characterized in that the direction of the thermograph toward the surface of the object to be measured can be adjusted in the vertical direction. 前記サーモグラフィは、前記測定対象の表面を指向する向きが幅方向に調整可能とされていることを特徴とする請求項3~14の何れかに記載のガラス板製造方法。 A glass plate manufacturing method according to any one of claims 3 to 14, characterized in that the direction in which the thermograph is directed toward the surface of the object to be measured can be adjusted in the width direction. 前記サーモグラフィは、上下方向の位置が調整可能とされていることを特徴とする請求項3~15の何れかに記載のガラス板製造方法。 A glass plate manufacturing method according to any one of claims 3 to 15, characterized in that the thermography is adjustable in its vertical position. 前記サーモグラフィによる温度分布の測定により得られる熱画像上で、切断後におけるガラス板の上側縁部の高さ位置を検出し、この検出した高さ位置を上下方向の原点位置として、前記ガラス板の上端部及びその上方空間を対象とする不良検査領域を設定し、該不良検査領域内での画像解析により前記ガラス板に発生する不良を検知することを特徴とする請求項3~16の何れかに記載のガラス板製造方法。 A glass plate manufacturing method according to any one of claims 3 to 16, characterized in that the height position of the upper edge of the glass plate after cutting is detected on a thermal image obtained by measuring the temperature distribution using the thermography, and this detected height position is set as the origin position in the vertical direction to set a defect inspection area that covers the upper end of the glass plate and the space above it, and defects occurring in the glass plate are detected by image analysis within the defect inspection area. ガラスリボンを成形する成形ゾーンと、前記ガラスリボンを長手方向に沿って搬送する搬送装置と、ガラス板を切り出すために前記ガラスリボンを幅方向に沿って切断する切断装置と、を備えたガラス板製造装置であって、
前記切断装置による切断後におけるガラスリボンの切断側端部、ガラス板、及びそれら両者のうちの何れか一種を測定対象として、該測定対象について温度を測定し、その測定結果に基づいて該測定対象に発生する不良を検知する検知装置を備え
前記検知装置は、前記測定対象についての温度の測定を、サーモグラフィによる温度分布の測定として行うことを特徴とするガラス板製造装置。
A glass sheet manufacturing apparatus including: a forming zone for forming a glass ribbon; a conveying device for conveying the glass ribbon along a longitudinal direction; and a cutting device for cutting the glass ribbon along a width direction to cut out a glass sheet,
A detection device is provided that measures the temperature of a cut-side end of the glass ribbon after cutting by the cutting device, a glass sheet, or one of the two, and detects defects occurring in the measurement object based on the measurement result ,
The glass sheet manufacturing apparatus , wherein the detection device measures the temperature of the measurement object by measuring a temperature distribution using a thermograph .
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