JP7651803B2 - 非接触入力装置 - Google Patents

Description

本発明は、非接触入力装置に関する。

従来より、操作面に近接する物体による電気的変量の変化を検知して算出された前記物体の接触領域が指先によるものかパーム（掌）によるものかを判定するパームリジェクション機能を有する制御部を備えたタッチパッド入力装置がある。指先と掌とのどちらで操作が行われたかの判定は、接触領域の面積に基づいて行われる（例えば、特許文献１参照）。

特開２０１５－１４１４２５号公報

従来のタッチパッド入力装置は、手で操作面に触れることを前提としている。しかしながら、操作面に対して手を触れることなく、非接触で操作入力を行いたい場合がある。

そこで、非接触操作の有無と操作の位置を判定可能な非接触入力装置を提供することを目的とする。

本発明の実施形態の非接触入力装置は、操作部の操作面に対して非接触で操作入力を行う手の前記操作面への近接状態に応じた静電容量を検出する複数のセンサ電極と、前記複数のセンサ電極によって検出される静電容量に基づき、平面視で異なる複数の位置において前記手の尖鋭度を算出し、複数の前記尖鋭度に基づき前記操作入力の位置を判定する判定部とを含む。

非接触操作の有無と操作の位置を判定可能な非接触入力装置を提供することができる。

実施形態の非接触入力装置を含む電子機器１００の構成の一例を示す図である。 実施形態の非接触入力装置を含む電子機器１００の構成の一例を示す図である。 実施形態の非接触入力装置を含む電子機器１００の構成の一例を示す図である。 実施形態の非接触入力装置１００Ａの構成の一例を示す図である。 手Ｈと静電センサ１２０の電極面との関係に対する差分値ΔＡＤ及び逆数の分布の一例を示す図である。 手Ｈの長さ方向及び幅方向における逆数の分布の一例を示す図である。 指先ＦＴと掌Ｐにフィッティングする二次曲線の例示的な二次の係数を説明する図である。 指先ＦＴの位置の求める処理を表すフローチャートを示す図である。 指先ＦＴの位置の求める処理を表すフローチャートを示す図である。 指先ＦＴの位置の求める処理を表すフローチャートを示す図である。 指先ＦＴの位置の求める処理を表すフローチャートを示す図である。 指先ＦＴの位置の求める処理を表すフローチャートを示す図である。 指先ＦＴの位置の求める処理を表すフローチャートを示す図である。 差分値ΔＡＤの分布、逆数の分布、及び、Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）が表す逆数の最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）を与える列ｊを示す図である。 尖鋭度を算出する対象、最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）、尖鋭度算出の結果、最大の尖鋭度及び座標を示す図である。 第１変形例によるサブルーチン「ｓｕｂ尖鋭度算出」に基づき行われる尖鋭度を算出する処理を表すフローチャートを示す図である。 ｘｙ座標と指先ＦＴとの関係を示す図である。 第２変形例によるサブルーチン「ｓｕｂ尖鋭度算出」に基づき行われる尖鋭度を算出する処理を表すフローチャートを示す図である。 第３変形例によるサブルーチン「ｓｕｂ尖鋭度算出」に基づき行われる尖鋭度を算出する処理を表すフローチャートを示す図である。 第４変形例によるサブルーチン「ｓｕｂ指先特定」に基づき行われる尖鋭度を算出する処理を表すフローチャートを示す図である。 第５変形例による指先ＦＴの位置の求める処理を表すフローチャートを示す図である。 第５変形例による指先ＦＴの位置の求める処理を表すフローチャートを示す図である。 第５変形例による指先ＦＴの位置の求める処理を表すフローチャートを示す図である。 ５行６列のセンサ電極１２１で得られた差分値ΔＡＤの順位と、ＢｉｇＸ（ｉ）の分散の絶対値と、ＢｉｇＸ（ｉ）とＢｉｇＹ（ｉ）の共分散の絶対値とを示す図である。 図２０に示す第４変形例による指先を特定する処理での判定結果を示す図である。 第６変形例による指先ＦＴの位置の求める処理を表すフローチャートを示す図である。 第６変形例による指先ＦＴの位置の求める処理を表すフローチャートを示す図である。 第６変形例による指先ＦＴの位置の求める処理を表すフローチャートを示す図である。 第６変形例による指先ＦＴの位置の求める処理を表すフローチャートを示す図である。 第７変形例によるサブルーチン「ｓｕｂ尖鋭度算出」に基づき行われる尖鋭度を算出する処理を表すフローチャートを示す図である。 第８変形例によるサブルーチン「ｓｕｂ尖鋭度算出」に基づき行われる尖鋭度を算出する処理を表すフローチャートを示す図である。 第９変形例によるサブルーチン「ｓｕｂ尖鋭度算出」に基づき行われる尖鋭度を算出する処理を表すフローチャートを示す図である。 非接触入力装置１００Ａの静電センサ１２０の具体的な構成を示す図である。

以下、本発明の非接触入力装置を適用した実施形態について説明する。

＜実施形態＞
図１、図２、及び図３は、実施形態の非接触入力装置を含む電子機器１００の構成の一例を示す図である。図４は、実施形態の非接触入力装置１００Ａの構成の一例を示す図である。図２及び図３には、電子機器１００の利用者の手Ｈを示す。より具体的には手Ｈの指先ＦＴと掌（手のひら）Ｐとを示す。指先ＦＴは一例として人差し指であるが、人差し指以外の指であってもよい。

以下では、ＸＹＺ座標系を定義して説明する。Ｘ軸に平行な方向（Ｘ方向）、Ｙ軸に平行な方向（Ｙ方向）、Ｚ軸に平行な方向（Ｚ方向）は、互いに直交する。また、以下では、－Ｚ方向を静電センサ１２０に近づく方向、＋Ｚ方向を静電センサ１２０から離れる方向として説明する。また、平面視とはＸＹ面視することをいう。また、以下では構成が分かり易くなるように各部の長さ、太さ、厚さ等を誇張して示す場合がある。

電子機器１００は、筐体１０１、表示装置１１０、静電センサ１２０、及び制御装置１３０を含む。図１乃至図３では制御装置１３０（図４参照）を省略するが、制御装置１３０は、一例として筐体１０１の内部で表示装置１１０及び静電センサ１２０の下側に設けられる。非接触入力装置１００Ａは、図４に示すように、静電センサ１２０及び制御装置１３０を含む。

筐体１０１は、表示装置１１０、静電センサ１２０、及び制御装置１３０を収容する樹脂製又は金属製等のケースである。表示装置１１０は、一例として透明な静電センサ１２０の下側に配置され、筐体１０１の上部にある開口部に設けられる透明パネル等の上面である操作面１０５を介して視認可能である。

電子機器１００は、指先ＦＴ及び掌Ｐを電子機器１００の操作面１０５に触れることなく、操作面１０５に対して指先ＦＴ及び掌Ｐを非接触で近づけた状態で操作可能である。図２及び図３には、一例として操作面１０５から距離Ｄ（図２参照）だけ離れた位置にある指先ＦＴで操作部１１１に対して操作入力を行っている状態を示す。電子機器１００は、操作面１０５に接触していない指先ＦＴの位置を検出して、非接触での操作入力を受け付ける。非接触での操作入力とは、指先ＦＴで操作面１０５に触れずに、指先ＦＴで電子機器１００を操作することである。

電子機器１００は、例えば、店舗や施設等に配置され不特定多数の利用者が利用するタブレット型の入力装置やＡＴＭ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｔｅｌｌｅｒ Ｍａｃｈｉｎｅ）の入力部であってよい。また、電子機器１００は、個人で利用するタブレットコンピュータ、スマートフォン、ゲーム機等であってもよい。

表示装置１１０は、一例として液晶ディスプレイや有機ＥＬ（Ｅｌｅｃｔｒｏｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ）ディスプレイ等である。表示装置１１０は、ＧＵＩ（Ｇｒａｐｈｉｃ Ｕｓｅｒ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）で操作部１１１の画像を表示する。操作部１１１は、一例として平面視でマトリクス状に配置される。

図１乃至３には、一例として５行×６列の３０個の操作部１１１を示す。３０個の操作部１１１には（行，列）で（１，１）～（５，６）を記す。マトリクス状に配置される３０個の操作部１１１について、５つの行はＸ方向に延在し、Ｙ方向に平行に配列されている。６つの列は、Ｙ方向に延在し、Ｘ方向に並列に配列されている。なお、電子機器１００は、表示装置１１０を含まずに、操作面１０５に印刷等で表示された操作部を含む形態であってもよい。

静電センサ１２０は、表示装置１１０の上に重ねて配置され、図４に示すように、Ｘ方向に６個、Ｙ方向に５個が配列される合計３０個のセンサ電極１２１を有する。３０個のセンサ電極１２１は、３０本の配線１２２を介して制御装置１３０にそれぞれ接続されている。図４では配線１２２が１本あるように示すが、実際には３０本の配線１２２をそれぞれ介して３０個のセンサ電極１２１は独立的に制御装置１３０に接続されている。このような静電センサ１２０は、一例として透明ガラスの表面にＩＴＯ（Ｉｎｄｉｕｍ Ｔｉｎ Ｏｘｉｄｅ）等の透明導電膜を形成し、センサ電極１２１及び配線１２２にパターニングしたものを用いることができる。静電センサ１２０の静電容量は、制御装置１３０に入力される。

ここでは一例として、３０個のセンサ電極１２１は、それぞれ３０個の操作部１１１と重なるように配置される構成を示す。３０個のセンサ電極１２１についての行と列の関係は、操作部１１１と同一である。このため、３０個のセンサ電極１２１は５行６列で配列されており、３０個の操作部１１１と同様に（行，列）で（１，１）～（５，６）を記す。３０個のセンサ電極１２１の位置は、行番号と列番号で表される。

以下では行をｉ、列をｊとして各センサ電極１２１の位置を（ｉ，ｊ）で示す。ここでは、一例として行ｉは１～５であり、列ｊは１～６である。一例として、１行目のセンサ電極１２１は＋Ｙ方向側の端に位置し、５行目のセンサ電極１２１は－Ｙ方向側の端に位置する。１列目のセンサ電極１２１は－Ｘ方向側の端に位置し、６列目のセンサ電極１２１は＋Ｘ方向側の端に位置する。

また、ある行ｉの－Ｙ方向側に隣接する行は行ｉ＋１であり１行下の行である。また、ある行ｉの＋Ｙ方向側に隣接する行は行ｉ－１であり１行上の行である。また、最も－Ｘ方向側にある列の列番号ｊが１（ｊ＝１）であり、一例として最も＋Ｘ方向側にある列の列番号ｊは最も大きい列番号になる。ここでは最も大きい列番号ｊは６である。

以下では、センサ電極１２１（ｉ，ｊ）を特に区別しない場合には単にセンサ電極１２１と記す。また、ここではセンサ電極１２１と操作部１１１が１対１で対応する形態について説明するが、複数のセンサ電極１２１に対して１つの操作部１１１が対応していてもよい。

制御装置１３０は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、入出力インターフェース、及び内部バス等を含むコンピュータによって実現される。

制御装置１３０は、主制御部１３１、ＡＤ（Ａｎａｌｏｇ ｔｏ Ｄｉｇｉｔａｌ）変換部１３２、カウンタ１３３、判定部１３４、動作制御部１３５、表示制御部１３６、及びメモリ１３７を有する。主制御部１３１、ＡＤ変換部１３２、カウンタ１３３、判定部１３４、動作制御部１３５、及び表示制御部１３６は、制御装置１３０が実行するプログラムの機能（ファンクション）を機能ブロックとして示したものである。また、メモリ１３７は、制御装置１３０のメモリを機能的に表したものである。

主制御部１３１は、制御装置１３０の処理を統括する処理部であり、ＡＤ変換部１３２、カウンタ１３３、判定部１３４、動作制御部１３５、及び表示制御部１３６が実行する処理以外の処理を実行する。例えば、主制御部１３１は、３０個のセンサ電極１２１の走査を行う。

ＡＤ変換部１３２は、静電センサ１２０の出力をデジタル値に変換する。ＡＤ変換部１３２の出力は、静電センサ１２０の各センサ電極１２１と周辺の導体間の静電容量の検出値である。カウンタ１３３は、ＡＤ変換部１３２の出力の基準値に対する差分値をカウントして出力する。差分値は、出力の基準値に対する変化分のカウント値である。以下、差分値ΔＡＤと記す。ＡＤ変換部１３２の出力は、各センサ電極１２１と周辺の導体間の静電容量である。基準値は、各センサ電極１２１の周辺に指が無い場合における各センサ電極１２１と周辺の導体間の静電容量である。差分値ΔＡＤは、各センサ電極１２１と指の間の静電容量である。

差分値ΔＡＤは、各センサ電極１２１について得られるため、静電センサ１２０の出力から３０個の差分値ΔＡＤが得られる。センサ電極１２１（ｉ，ｊ）の静電容量から得られる差分値を差分値ΔＡＤ（ｉ，ｊ）と示す。ＡＤ変換部１３２は、センサ電極１２１（ｉ，ｊ）の静電容量をデジタル値に変換し、カウンタ１３３は、ＡＤ変換部１３２の出力の基準値に対する変化分をカウントし、３０個のセンサ電極１２１（ｉ，ｊ）についての差分値ΔＡＤ（ｉ，ｊ）を出力する。なお、差分値ΔＡＤ（ｉ，ｊ）を特に区別しない場合には単に差分値ΔＡＤと記す。

判定部１３４は、カウンタ１３３から出力される差分値ΔＡＤに基づいて指先ＦＴの位置と、掌Ｐの位置と、指先ＦＴ及び掌Ｐが存在しない位置とを判定する。電子機器１００及び非接触入力装置１００Ａでは、判定部１３４は、指先ＦＴの先端の位置を利用者が行う操作入力の位置として判定する。判定部１３４が実行する判定方法については、フローチャートを用いて後述する。

動作制御部１３５は、判定部１３４によって判定された操作入力の位置に基づいて、電子機器１００の動作を制御する。表示制御部１３６は、判定部１３４によって判定された操作入力の位置に基づいて表示装置１１０の表示を制御する。メモリ１３７は、主制御部１３１、判定部１３４、動作制御部１３５、及び表示制御部１３６が処理を実行する際に用いるプログラムやデータ等を格納する。また、メモリ１３７は、センサ電極１２１の行数と列数とを表すデータを格納する。

図５は、手Ｈと静電センサ１２０の電極面との関係に対する差分値ΔＡＤ及び逆数の分布の一例を示す図である。電極面は、３０個のセンサ電極１２１の表面である。逆数は、差分値ΔＡＤの逆数である。

図５の左側に示すように指先ＦＴ及び掌Ｐが電極面に近い場合と、図５の右側に示すように左側よりも少し指先ＦＴ及び掌Ｐが電極面から離れた場合とにおける差分値ΔＡＤを比べると、左側のように指先ＦＴ及び掌Ｐが電極面に近い場合の方が右側のように少し離れている場合よりも差分値ΔＡＤが大きくなる。差分値ΔＡＤは静電センサ１２０で検出される静電容量の手による変化分であり、ΔＡＤは電極面と指先ＦＴ及び掌Ｐとの間の距離に反比例した値になるからである。また、距離に反比例することから、手Ｈのポーズが同一であっても、電極面と指先ＦＴ及び掌Ｐとの間の距離が異なると、差分値ΔＡＤの分布を表す波形が異なる。図５では、左側及び右側のどちらでも、人差し指の指先ＦＴを延ばしたポーズを取っている。

これに対して、逆数の分布を表す波形は、差分値ΔＡＤの分布を表す波形に比べて、電極面と指先ＦＴ及び掌Ｐとの間の距離の違いによる影響が少なく、比較的類似した波形が得られている。差分値ΔＡＤの逆数は、電極面と指先ＦＴ及び掌Ｐとの間の距離の関数になるためである。

図６は、手Ｈの長さ方向及び幅方向における逆数の分布の一例を示す図である。手Ｈの長さ方向とは、手首から掌Ｐを通って指先ＦＴに至る方向である。手Ｈの幅方向とは、平面視で手Ｈの長さ方向に直交する方向であり、親指と小指に向かう方向である。

図６には、手Ｈの左側の分布（Ａ）に長さ方向における逆数の分布を示し、手Ｈの右側の上半分の分布（Ｂ）に指先ＦＴの位置における逆数の幅方向の分布を示し、手Ｈの右側の下半分の分布（Ｃ）に掌Ｐの位置における逆数の幅方向の分布を示す。

分布（Ａ）の手Ｈの長さ方向における逆数の分布では、手Ｈが存在する区間では逆数の分布は緩やかにカーブしているが、矢印ＦＴで示すように、指先ＦＴがある部分と、指先ＦＴよりも先の手Ｈがない部分との境界で逆数が大きく変化している。このため、逆数が大きく変化する位置を特定すれば、逆数の分布に基づいて、長さ方向における指先ＦＴの位置を判別可能である。

また、分布（Ｂ）の指先ＦＴの位置における逆数の幅方向の分布では、指先ＦＴが位置する区間だけＶ字型に逆数が小さくなっている。このため、Ｖ字型に逆数が変化する位置を特定すれば、逆数の分布に基づいて、幅方向における指先ＦＴの位置を判別可能である。Ｖ字型に逆数が変化するカーブには、二次曲線をフィッティングさせることが可能である。

また、分布（Ｃ）の掌Ｐの位置における逆数の幅方向の分布では、掌Ｐが位置する区間は、掌Ｐが位置しない両端に比べて逆数が小さくなっており、指先ＦＴよりも幅方向に広い区間にわたって小さな値を取っている。このため、指先ＦＴよりも幅方向に広い区間にわたって小さな値を取る位置を特定すれば、逆数の分布に基づいて、幅方向における掌Ｐの位置を判別可能である。掌Ｐの形状に応じたカーブには、指先ＦＴよりも緩やかな二次曲線や円をフィッティングさせることが可能である。指先ＦＴにフィッティングする二次曲線と、掌Ｐにフィッティングする二次曲線とでは、二次の係数に大きな差が生じると考えられる。

図７は、指先ＦＴと掌Ｐにフィッティングする二次曲線の例示的な二次の係数を説明する図である。図７の上側には人差し指を突き出した手Ｈを正面から示す。指先ＦＴには破線で示す二次曲線１０ＦＴがフィットし、掌Ｐには実線で示す二次曲線１０Ｐがフィットしている。

二次曲線１０ＦＴ及び１０Ｐは、図７の下半分に示すように、ｚ＝ａｘ^２における二次の係数ａをそれぞれ１（ａ＝１）及び８（ａ＝８）に設定することによって得られる二次曲線である。このように、二次の係数ａを適切な値に設定することによって、指先ＦＴ及び掌Ｐにフィットする二次曲線１０ＦＴ及び１０Ｐを求めることができる。二次曲線１０ＦＴ及び１０Ｐは、カーブフィッティングによって求めることができる。

また、指先ＦＴと掌Ｐでは幅が大きく異なるため、カーブフィッティングによってフィットされる二次曲線の二次の係数ａは大きく異なる。図７に示すように一例として、指先ＦＴにフィットする二次曲線の二次の係数ａは８であり、掌Ｐにフィットする二次曲線の二次の係数ａは１である。このため、差分値ΔＡＤの逆数の分布を求めてカーブフィッティングでフィットする二次曲線の二次の係数ａを求めれば、指先ＦＴと掌Ｐを判別することが可能である。指先ＦＴの位置を求めることができれば、非接触での操作入力を実現することができる。

差分値ΔＡＤの逆数の分布に対してカーブフィッティングを行うことで得られる二次曲線の二次の係数ａが大きいほど、二次曲線はＶ字状に尖っていることになる。ここでは、二次の係数ａを二次曲線の尖鋭度として求め、尖鋭度に基づいて指先ＦＴの位置を特定する。尖鋭度とは、二次曲線のＶ字形状が尖っている度合である。

次に、図８乃至図１３のフローチャートを用いて、指先ＦＴの位置の求め方について説明する。図８乃至図１３は、指先ＦＴの位置の求める処理を表すフローチャートを示す図である。この処理は、判定部１３４によって実行される。図８は、メインのフローを示し、図９乃至図１３は、それぞれ、図８におけるステップＳ３～Ｓ７のサブルーチン処理のフローを示す。なお、ここでは、一例として図３に示すように、電子機器１００の－Ｙ方向側でＸ方向に延在する端辺の側から＋Ｙ方向側に向けて操作面１０５の上方で手Ｈを電子機器１００に翳して操作入力を行うルールがあるものとして説明する。

判定部１３４は、処理がスタートすると、メモリ１３７からセンサ電極１２１の行数と列数を読み込む（ステップＳ１）。ＡｌｌＲｏｗｓはセンサ電極１２１の行数を表し、ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓはセンサ電極１２１の列数を表す。一例としてＡｌｌＲｏｗｓは５行であり、ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓは６列である。

次に、判定部１３４は、全センサ電極１２１についての差分値ΔＡＤ（１，１）～ΔＡＤ（ＡｌｌＲｏｗｓ，ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓ）を取得する（ステップＳ２）。ステップＳ２の処理により、一例として３０個のセンサ電極１２１についての３０個の差分値ΔＡＤ（１，１）～ΔＡＤ（ＡｌｌＲｏｗｓ，ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓ）が得られる。

次に、判定部１３４は、サブルーチン「ｓｕｂ逆数変換」を呼び出し、全ての差分値ΔＡＤ（１，１）～ΔＡＤ（ＡｌｌＲｏｗｓ，ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓ）を逆数に変換する（ステップＳ３）。

次に、判定部１３４は、サブルーチン「ｓｕｂ最小値判定」を呼び出し、全ての行における逆数の最小値を判定し、逆数の最小値を示す列を求める処理を行う（ステップＳ４）。

次に、判定部１３４は、サブルーチン「ｓｕｂ除外行特定」を呼び出し、除外行を特定する処理を行う（ステップＳ５）。除外行とは、手Ｈが存在していない行であり、手が存在しない行を特定して除外することで、手が存在する行に絞り込む処理である。

次に、判定部１３４は、サブルーチン「ｓｕｂ尖鋭度算出」を呼び出し、手が存在する行について尖鋭度を算出する処理を行う（ステップＳ６）。

次に、判定部１３４は、サブルーチン「ｓｕｂ指先特定」を呼び出し、ステップＳ６で手が存在する全ての行について算出した尖鋭度に基づいて、指先ＦＴの行を特定する処理を行う（ステップＳ７）。

最後に、判定部１３４は、ステップＳ７で特定された指先の行に基づいて、指先ＦＴの先端の位置を表す座標を出力する（ステップＳ８）。ここで、ｒｏｗは、指先ＦＴが位置する行番号を表す。また、ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）は、ｉ行で逆数が最小の列番号を表すため、ｃｏｌｕｍｎ（ｒｏｗ）は、ｒｏｗ行で、逆数が最小の列番号を表す。

次に、図９を用いて、図８のステップＳ３のサブルーチン「ｓｕｂ逆数変換」に基づき行われる逆数変換処理について説明する。

判定部１３４は、ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで行ｉを１つずつ選択しながら、全ての行ｉに含まれる全ての列ｊについての差分値ΔＡＤ（ｉ，ｊ）の逆数を演算するループ処理を行う（ステップＳ１１～Ｓ１５）。ｉ＝１，ＡｌｌＲｏｗｓ，１は、逆数の演算を行数ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで１行ずつ選択しながら行うことを意味する。

判定部１３４は、選択している行ｉについて、ｊ＝１からＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓまで列ｊを１つずつ選択しながら、全ての列の差分値ΔＡＤ（ｉ，ｊ）の逆数を演算するループ処理を行う（ステップＳ１２～Ｓ１４）。ｊ＝１，ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓ，１は、逆数の演算を列数ｉ＝１からＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓまで１列ずつ行うことを意味する。

判定部１３４は、選択している行ｉについて、列ｊを順番に選択して差分値ΔＡＤ（ｉ，ｊ）の逆数Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ）を演算する（ステップＳ１３）。判定部１３４は、ステップＳ１３での演算結果を行番号ｉ及び列番号ｊを要素とする配列データとしてメモリ１３７に格納する。差分値ΔＡＤ（ｉ，ｊ）の逆数Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ）は、Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ）＝１／ΔＡＤ（ｉ，ｊ）で求まる。

判定部１３４は、選択している行ｉについて、全ての列ｊの差分値ΔＡＤ（ｉ，ｊ）の逆数を演算するまでステップＳ１２～Ｓ１４のループ処理を行う（ステップＳ１４）。判定部１３４は、選択している行ｉについて、ステップＳ１２～Ｓ１４の処理を繰り返し行うことにより、選択している行ｉにおける全ての列ｊの差分値ΔＡＤ（ｉ，ｊ）の逆数を演算する。

判定部１３４は、全ての行ｉに含まれる全ての列ｊについての差分値ΔＡＤ（ｉ，ｊ）の逆数を演算するまでステップＳ１１～Ｓ１５のループ処理を行う。判定部１３４は、ステップＳ１１～Ｓ１５の処理を繰り返し行うことにより、全ての行を１行ずつ選択しながら、各行に含まれる全ての列について差分値ΔＡＤの逆数を演算する。

次に、図１０を用いて、図８のステップＳ４のサブルーチン「ｓｕｂ最小値判定」に基づき行われる全ての行における逆数の最小値を判定する処理について説明する。

判定部１３４は、ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで行ｉを１つずつ選択しながら、全ての行ｉに含まれる全ての列ｊの逆数の最小値と、その最小値を与えるセンサ電極１２１（ｉ，ｊ）を特定するループ処理を行う（ステップＳ２１～Ｓ２８）。ｉ＝１，ＡｌｌＲｏｗｓ，１は、センサ電極１２１（ｉ，ｊ）の特定を行数ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで１行ずつ選択しながら行うことを意味する。

判定部１３４は、選択している行ｉにおける逆数の最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）の初期値を近接判定閾値に設定する（ステップＳ２２）。ステップＳ２３からステップＳ２７の処理を繰り返すことで、選択している行ｉにおける逆数の最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）は、選択している行ｉに含まれる全ての列ｊについて求められた逆数の最小値になる。また、近接判定閾値は、指先ＦＴが操作入力を行うために操作面１０５に近接しているかどうかを判定する閾値である。行ｉにおける差分値ΔＡＤ（ｉ，ｊ）の逆数Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ）が全ての列ｊにおいて、近接閾値以下の場合、行ｉにおける逆数の最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）には、近接閾値が代入される。近接閾値が代入された行ｉは、後述する通り、除外行に特定される。尚、逆数の最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）の初期値は、近接判定閾値以上の値に設定すればよい。例えば、プログラム言語の制約上、最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）に代入できる最大の値に設定しても良い。この場合、常に、行ｉにおける逆数の最小値が、Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）に代入される。

判定部１３４は、選択した行ｉにおいて、全ての列ｊの逆数の最小値と、その最小値を与えるセンサ電極１２１（ｉ，ｊ）を特定するループ処理を行う（ステップＳ２３～Ｓ２７）。ｊ＝１，ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓ，１は、最小値とセンサ電極１２１（ｉ，ｊ）の特定を列数ｊ＝１からＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓまで１列ずつ行うことを意味する。

判定部１３４は、逆数Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ）が最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）よりも小さいかどうかを判定する（ステップＳ２４）。

判定部１３４は、逆数Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ）が最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）よりも小さい（Ｓ２４：Ｙｅｓ）と判定すると、最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）を逆数Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ）に置き換える（ステップＳ２５）。ｉ行目における最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）を更新するためである。判定部１３４は、行番号ｉを要素とする配列データとして、ステップＳ２５で更新した最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）をメモリ１３７に格納する。

判定部１３４は、ｉ行目で最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）を与える列Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）にｊを代入する（ステップＳ２６）。すなわち、Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）＝ｊとなる。Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）は、ｉ行目において、逆数が最小になる列番号を表す。例えば、２行目において３列目が最小ならば、Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（２，３）＜Ｍｉｎｉｍｕｍ（２）が成り立つ。更に、Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（２，４）＜Ｍｉｎｉｍｕｍ（２）、Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（２，５）＜Ｍｉｎｉｍｕｍ（２）、Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（２，６）＜Ｍｉｎｉｍｕｍ（２）は成り立たない。よって、Ｃｏｌｕｍｎ（２）＝３となる。判定部１３４は、ステップＳ２６で求められた値をメモリ１３７に格納する。

判定部１３４は、選択した行ｉについて、逆数の最小値と、その最小値を与えるセンサ電極１２１（ｉ，ｊ）を特定するためにステップＳ２３～Ｓ２７のループ処理を行う。

判定部１３４は、全ての行における逆数の最小値と、その最小値を与えセンサ電極１２１（ｉ，ｊ）を特定するまでステップＳ２１～２８のループ処理を行う。これにより、全ての行における逆数の最小値と、その最小値を与えるセンサ電極１２１（ｉ，ｊ）が特定される。

次に、図１１を用いて、図８のステップＳ５のサブルーチン「ｓｕｂ除外行特定」に基づき行われる除外行を特定する処理について説明する。

判定部１３４は、ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓ－１までの全ての行ｉについて、行ｉにおける逆数の最小値が１行下の行ｉ＋１における逆数の最小値の２倍以上であれば行ｉを除外するループ処理を行うステップＳ３１～Ｓ３４）。

ここで、１行下の行ｉ＋１は、ある行ｉの－Ｙ方向側に隣接する行である。ｉ＝１，ＡｌｌＲｏｗｓ－１，１は、除外する行の特定を行数ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓ－１まで１行ずつ選択しながら行うことを意味する。行数ＡｌｌＲｏｗｓ－１まで繰り返す処理にするのは、行ＡｌｌＲｏｗｓについては１行下の行が存在しないからである。

除外行を特定する処理において、行ｉにおける逆数の最小値が１行下の行ｉ＋１における逆数の最小値の２倍以上であれば行ｉを除外するのは、指先ＦＴに近い空間を指と誤認識しないためである。センサ電極１２１（ｉ，ｊ）に対向する位置に指が無くても、センサ電極１２１（ｉ，ｊ）の近くに指があると、静電容量が大きくなる。この為、静電容量の逆数と閾値との比較のみでは、空間を指と誤認識することがある。センサ電極１２１に指が対向せず、センサ電極１２１の近くに指があると、センサ電極１２１（ｉ，ｊ）の静電容量値と、隣接するセンサ電極１２１（ｉ＋１、ｊ）の静電容量値が大きく異なる。指先ＦＴの先端と重なっている行は逆数の最小値が小さく、指先ＦＴの先端と重なっている行よりも１行上の行は指先ＦＴの先端と重なっていないため、逆数の最小値は大きくなる。このような指先ＦＴの先端と重なる行と、１行上の行とでは逆数の最小値が大きく異なる。ここでは一例として、逆数の最小値が２倍以上になる位置を指先ＦＴの先端の１行上の位置と捉えて、行ｉにおける逆数の最小値が１行下の行ｉ＋１における逆数の最小値の２倍以上であれば行ｉを除外することとする。この場合には、行ｉ＋１が指先ＦＴの先端と重なっていて、行ｉは指先ＦＴの先端と重なっていないため、除外されることになる。

判定部１３４は、選択した行ｉについて、行ｉにおける逆数の最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）が１行下の行ｉ＋１における逆数の最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ＋１）の２倍以上であるかどうかを判定する（ステップＳ３２）。

判定部１３４は、最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）が最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ＋１）の２倍以上である（Ｓ３２：Ｙｅｓ）と判定すると、Ｅｘｃｅｐｔ１（ｉ）に"除外"を代入する（ステップＳ３３Ａ）。Ｅｘｃｅｐｔ１（ｉ）に"除外"が代入された行ｉは、後述する尖鋭度の算出の対象外となる行である。判定部１３４は、Ｅｘｃｅｐｔ１（ｉ）を、行番号ｉを要素とする配列データとしてメモリ１３７に格納する。

一方、判定部１３４は、最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）が最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ＋１）の２倍以上ではない（Ｓ３２：Ｎｏ）と判定すると、Ｅｘｃｅｐｔ１（ｉ）に"対象"を代入する（ステップＳ３３Ｂ）。Ｅｘｃｅｐｔ１（ｉ）に"対象"が代入された行ｉは、後述する尖鋭度の算出の対象になり得る行である。判定部１３４は、Ｅｘｃｅｐｔ１（ｉ）を、行番号ｉを要素にする配列データとしてメモリ１３７に格納する。

判定部１３４は、全ての行ｉについて、行ｉにおける逆数の最小値が１行下の行ｉ＋１における逆数の最小値の２倍以上であれば行ｉを除外行として記憶する処理が完了するまでステップＳ３１～Ｓ３４のループ処理を行う。

次に、判定部１３４は、一番下の行であるＡｌｌＲｏｗｓを対象の行に設定する（ステップＳ３５）。すなわちＥｘｃｅｐｔ１（ＡｌｌＲｏｗｓ）＝"対象"となる。１番下の行であるＡｌｌＲｏｗｓは、１行下の行が存在しないため、ここでは対象に設定することとしている。

次に、判定部１３４は、ｉ＝２からＡｌｌＲｏｗｓまでの全ての行ｉについて、行ｉにおける逆数の最小値が１行上の行ｉ－１における逆数の最小値の２倍以上であれば行ｉを除外するループ処理を行う（ステップＳ３６～Ｓ３９）。

ここで、１行上の行ｉ－１は、ある行ｉの＋Ｙ方向側に隣接する行である。ｉ＝２，ＡｌｌＲｏｗｓ，１は、除外する行の特定を行数ｉ＝２からＡｌｌＲｏｗｓまで１行ずつ選択しながら行うことを意味する。行数ｉ＝１を除外するのは、一番上の行については１行上の行が存在しないからである。

除外行を特定する処理において、行ｉにおける逆数の最小値が１行上の行ｉ－１における逆数の最小値の２倍以上であれば行ｉを除外するのは、指先ＦＴに近い空間を指と誤認識しないためである。２倍以上であれば行ｉを除外するのは、行ｉと１行上の行ｉ－１との両方に指先ＦＴが存在すれば、行ｉにおける逆数の最小値が１行上の行ｉ－１における逆数の最小値の２倍以上になることはないからであり、また、ステップＳ３１～Ｓ３４のループ処理と揃えたものである。

判定部１３４は、選択した行ｉについて、行ｉにおける逆数の最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）が１行上の行ｉ－１における逆数の最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ－１）の２倍以上であるかどうかを判定する（ステップＳ３７）。

判定部１３４は、最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）が最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ－１）の２倍以上である（Ｓ３７：Ｙｅｓ）と判定すると、Ｅｘｃｅｐｔ２（ｉ）に"除外"を代入する（ステップＳ３８Ａ）。Ｅｘｃｅｐｔ２（ｉ）に"除外"が代入された行ｉは、後述する尖鋭度の算出の対象外となる行である。判定部１３４は、Ｅｘｃｅｐｔ２（ｉ）を、行番号ｉを要素にする配列データとしてメモリ１３７に格納する。

一方、判定部１３４は、最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）が最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ－１）の２倍以上ではない（Ｓ３７：Ｎｏ）と判定すると、Ｅｘｃｅｐｔ２（ｉ）に"対象"を代入する（ステップＳ３８Ｂ）。Ｅｘｃｅｐｔ２（ｉ）＝"対象"が代入された行ｉは、後述する尖鋭度の算出の対象になり得る行である。判定部１３４は、Ｅｘｃｅｐｔ２（ｉ）を、行番号ｉを要素とする配列データとしてメモリ１３７に格納する。

判定部１３４は、全ての行ｉについて、行ｉにおける逆数の最小値が１行上の行ｉ－１における逆数の最小値の２倍以上であれば行ｉを除外行として記憶する処理が完了するまでステップＳ３６～Ｓ３９のループ処理を行う。

次に、判定部１３４は、一番上の行であるｉ＝１を対象の行に設定する（ステップＳ４０）。すなわちＥｘｃｅｐｔ２（１）＝"対象"となる。１番上の行は、１行上の行が存在しないため、ここでは対象に設定することとしている。

次に、判定部１３４は、ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまでの全ての行ｉについて、行ｉにおける逆数の最小値が近接判定閾値以上であれば行ｉを除外するループ処理を行う（ステップＳ４１～Ｓ４４）。

ｉ＝１，ＡｌｌＲｏｗｓ，１は、除外する行の特定を行数ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで１行ずつ選択しながら行うことを意味する。また、行ｉにおける逆数の最小値が近接判定閾値以上であれば行ｉを除外するのは、行ｉに指先ＦＴが存在しているかどうかを判定するためである。

判定部１３４は、選択した行ｉについて、行ｉにおける逆数の最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）が近接判定閾値以上であるかどうかを判定する（ステップＳ４２）。

判定部１３４は、最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）が、近接判定閾値以上である（Ｓ４２：Ｙｅｓ）と判定すると、Ｅｘｃｅｐｔ３（ｉ）に"除外"を代入する（ステップＳ４３Ａ）。近接判定閾値未満であれば、センサ電極１２１（ｉ，ｊ）の近くに導体が無い。Ｅｘｃｅｐｔ３（ｉ）に"除外"が代入される行ｉは、後述する尖鋭度の算出の対象外となる行である。判定部１３４は、Ｅｘｃｅｐｔ３（ｉ）を、行番号ｉを要素にする配列データとしてメモリ１３７に格納する。この実施形態では、行ｉにおける逆数の最小値が近接閾値以上だった場合、Ｍｉｎｉｍｕｎ（ｉ）＝近接判定閾値が設定されている。この為、逆数の最小値が近接閾値以上だった行ｉは、Ｅｘｃｅｐｔ３（ｉ）に"除外"が代入される。

一方、判定部１３４は、近接判定閾値以上ではない（Ｓ４２：Ｎｏ）と判定すると、Ｅｘｃｅｐｔ３（ｉ）に"対象"を代入する（ステップＳ４３Ｂ）。Ｅｘｃｅｐｔ３（ｉ）に"対象"が代入された行ｉは、後述する尖鋭度の算出の対象になり得る行である。判定部１３４は、Ｅｘｃｅｐｔ３（ｉ）を、行番号ｉを要素にする配列データとして、メモリ１３７に格納する。

判定部１３４は、全ての行ｉについて、行ｉにおける逆数の最小値が近接判定閾値以上であれば行ｉを除外する処理が完了するまでステップＳ４１～Ｓ４４のループ処理を行う。

次に、判定部１３４は、ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで行ｉを１つずつ選択しながら、除外する行を決定するループ処理を行う（ステップＳ４５～Ｓ４８）。ｉ＝１，ＡｌｌＲｏｗｓ，１は、除外する行を決定するために選択する行をｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで１行ずつ選択することを意味する。

判定部１３４は、選択している行ｉについて、Ｅｘｃｅｐｔ１（ｉ）＝"対象"、Ｅｘｃｅｐｔ２（ｉ）＝"対象"、かつ、Ｅｘｃｅｐｔ３（ｉ）＝"対象"であるかどうかを判定する（ステップＳ４６）。

判定部１３４は、ステップＳ４６でＹｅｓと判定すると、Ｅｘｃｅｐｔ（ｉ）に"対象"を代入する（ステップＳ４７Ａ）。Ｅｘｃｅｐｔ（ｉ）に"対象"が代入される行ｉは、後述する尖鋭度の算出の対象になる行である。Ｅｘｃｅｐｔ（ｉ）に"対象"が代入される行ｉは、手に対向するセンサ電極１２１（ｉ，ｊ）が存在する。判定部１３４は、Ｅｘｃｅｐｔ（ｉ）を、行番号ｉを要素とする配列データとしてメモリ１３７に格納する。判定部１３４は、ステップＳ４７Ａの処理を終えるとステップＳ４８に進行する。

一方、判定部１３４は、Ｅｘｃｅｐｔ１（ｉ）、Ｅｘｃｅｐｔ２（ｉ）、Ｅｘｃｅｐｔ３（ｉ）の少なくとも一つが"除外"であれば、ステップＳ４６でＮｏと判定する。ステップＳ４６でＮｏと判定すると、Ｅｘｃｅｐｔ（ｉ）に"除外"を代入する（ステップＳ４７Ｂ）。Ｅｘｃｅｐｔ（ｉ）に"除外"が代入される行ｉは、後述する尖鋭度の算出の対象にならない行である。Ｅｘｃｅｐｔ（ｉ）に"除外"が代入される行ｉは、手に対向するセンサ電極１２１（ｉ，ｊ）が存在しない。つまり、Ｅｘｃｅｐｔ（ｉ）に"除外"が代入される行ｉのセンサ電極１２１（ｉ，ｊ）は、空間に対向する。判定部１３４は、Ｅｘｃｅｐｔ（ｉ）を、行番号ｉを要素とする配列データとしてメモリ１３７に格納する。

判定部１３４は、全ての行ｉについて、除外する行を決定する処理が完了するまでステップＳ４５～Ｓ４８のループ処理を行う。以上により、全ての行ｉの中から除外される行ｉが決定する。

次に、図１２を用いて、図８のステップＳ６のサブルーチン「ｓｕｂ尖鋭度算出」に基づき行われる尖鋭度を算出する処理について説明する。図１２は、サブルーチン「ｓｕｂ尖鋭度算出」に基づき行われる尖鋭度を算出する処理を表すフローチャートを示す図である。

判定部１３４は、ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで行ｉを１つずつ選択しながら、尖鋭度を算出するループ処理を行う（ステップＳ５１～Ｓ５７）。ｉ＝１，ＡｌｌＲｏｗｓ，１は、尖鋭度の算出を行数ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで１行ずつ選択しながら行うことを意味する。

判定部１３４は、選択している行ｉについて、Ｅｘｃｅｐｔ（ｉ）＝"対象"であるかどうかを判定する（ステップＳ５２）。対象でなければ尖鋭度を算出しない。

判定部１３４は、Ｅｘｃｅｐｔ（ｉ）＝"対象"である（Ｓ５２：Ｙｅｓ）と判定すると、ｉ行目で最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）を与える列Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）が１列目であるかどうかを判定する（ステップＳ５３）。すなわち、ｉ行目についてＣｏｌｕｍｎ（ｉ）＝１であるかどうかを判定する。ｉ行目で最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）が１列目（－Ｘ方向側の端の列）で得られているかどうかを判定するためである。

判定部１３４は、Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）＝１ではない（Ｓ５３：Ｎｏ）と判定すると、Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）＝ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓであるかどうかを判定する（ステップＳ５４）。すなわち、ｉ行目についてＣｏｌｕｍｎ（ｉ）＝ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓであるかどうかを判定する。ｉ行目で最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）がＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓで表される＋Ｘ方向側の端の列で得られているかどうかを判定するためである。

判定部１３４は、Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）＝ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓではない（Ｓ５４：Ｎｏ）と判定すると、ｊにＣｏｌｕｍｎ（ｉ）を代入する（ステップＳ５５Ａ）。即ち、Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）が、端以外を示す場合に、ｊにＣｏｌｕｍｎ（ｉ）を代入する。Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）は、ｉ行目で最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）を示す列を表す（ステップＳ２６参照）。

判定部１３４は、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）を算出する（ステップＳ５６）。尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）は、次式に従って求める。
Ａｐｅｘ（ｉ）＝Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ－１）－２Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ）＋Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ＋１）

判定部１３４は、ステップＳ５２において、Ｅｘｃｅｐｔ（ｉ）＝"対象"ではない（Ｓ５２：Ｎｏ）と判定すると、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）をゼロに設定する（ステップＳ５２Ａ）。すなわち、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）＝０となる。尖鋭度の算出の対象にならない行であるため、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）をゼロに設定する。後述する通り、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）は、指先が位置する行を特定する際に用いられる。尖鋭度の算出の対象にならない行の尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）に特定の数値（ゼロ）を設定することで、尖鋭度の算出の対象になる行と、尖鋭度の算出の対象にならない行を同一の手順で処理できる。後述する通り、この実施形態では、尖鋭度を算出すると正の値が算出される。後述する通り、尖鋭度が最も大きな行を指先がある行と判定する。よって、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）をゼロに設定することは、ｉ行を指先ではないと設定することに等しい。判定部１３４は、ステップＳ５２Ａの処理を終えると、ステップＳ５７に進行する。

また、判定部１３４は、ステップＳ５３において、Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）＝１である（Ｓ５３：Ｙｅｓ）と判定すると、ｊ＝２に設定する（ステップＳ５３Ａ）。ｉ行目で最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）を与える列Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）が－Ｘ方向側の端の列（１列目）であるため、尖鋭度の算出に用いる３つの列の中央の列ｊを２列目に設定して、１列目から３列目の３つの逆数を用いて尖鋭度を算出するためである。判定部１３４は、ステップＳ５３Ａの処理を終えると、ステップＳ５６に進行して尖鋭度を算出する。

また、判定部１３４は、ステップＳ５４において、Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）＝ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓである（Ｓ５４：Ｙｅｓ）と判定すると、ｊ＝ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓ－１に設定する（ステップＳ５５Ｂ）。ｉ行目で最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）を与える列Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）が＋Ｘ方向側の端の列（ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓで表される６列目）であるため、尖鋭度の算出に用いる３つの列の中央の列ｊをＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓ－１（５列目）に設定して、４列目から６列目の３つの逆数を用いて尖鋭度を算出するためである。判定部１３４は、ステップＳ５５Ｂの処理を終えると、ステップＳ５６に進行して尖鋭度を算出する。

判定部１３４は、全ての行ｉについて、尖鋭度の算出が完了するまでステップＳ５１～Ｓ５７のループ処理を行う。

次に、図１３を用いて、図８のステップＳ７のサブルーチン「ｓｕｂ指先特定」に基づき行われる指先ＦＴの位置を特定する処理について説明する。指先ＦＴの位置は、尖鋭度の最大値を表す最大尖鋭度ＭａｘＡｐｅｘを含む行ｉにおけるＣｏｌｕｍｎ（ｉ）が表す列ｊの位置として特定される。Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）は、各行について求められた逆数が最小の列を表す（ステップＳ２６参照）。

判定部１３４は、最大尖鋭度ＭａｘＡｐｅｘの初期値をゼロに設定する（ステップＳ６１）。

判定部１３４は、ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで行ｉを１つずつ選択しながら、指先ＦＴの位置を特定するループ処理を行う（ステップＳ６２～Ｓ６６）。ｉ＝１，ＡｌｌＲｏｗｓ，１は、指先ＦＴの位置の特定を行数ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで１行ずつ選択しながら行うことを意味する。

判定部１３４は、選択している行ｉについて、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）が最大尖鋭度ＭａｘＡｐｅｘよりも大きいかどうかを判定する（ステップＳ６３）。ステップＳ６３の処理を繰り返すことによって最大尖鋭度ＭａｘＡｐｅｘを更新し、最終的に最大尖鋭度ＭａｘＡｐｅｘを与える行ｉを特定する。

判定部１３４は、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）が最大尖鋭度ＭａｘＡｐｅｘよりも大きい（Ｓ６３：Ｙｅｓ）と判定すると、最大尖鋭度ＭａｘＡｐｅｘを尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）に更新する（ステップＳ６４）。

判定部１３４は、最大尖鋭度ＭａｘＡｐｅｘを与える尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）の行ｉを変数ｒｏｗに代入する。（ステップＳ６５）。

判定部１３４は、全ての行ｉについてステップＳ６１～Ｓ６６のループ処理を行うことにより、最大尖鋭度を示す行番号がｒｏｗに代入される。

ステップＳ６１～Ｓ６６のループ処理が終了すると、前述した図８のメインループのＳ８の処理が行われる。前述した通り、指の先端が位置する行の番号は、ｒｏｗに代入されている。また、Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）に各行で逆数が最小になる列番号が代入されている。この為、（ｒｏｗ、Ｃｏｌｕｍｎ（Ｒｏｗ））を、指の先端の座標として出力する（ステップＳ８）。

次に、図１４及び図１５を用いて、差分値ΔＡＤが得られてから指先ＦＴの位置を特定するまでの具体例について説明する。図１４は、差分値ΔＡＤの分布、逆数の分布、及び、Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）が表す逆数の最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）を与える列ｊを示す図である。

図１４（Ａ）は、５行６列のセンサ電極１２１で得られた差分値ΔＡＤの分布を示す図である。操作入力は、図２及び図３に示すように、２行目３列目のセンサ電極１２１（２，３）について行われていることとする。

図１４（Ｂ）は、図１４（Ａ）に示す差分値ΔＡＤの逆数を１０００倍した値を示す。図１４（Ｃ）は、ΔＡＤの逆数を１０００倍した値の各行における最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）と、最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）を示す電極の列番号Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）との関係を示す図である。但し、１行目は、最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（１）に近接判定閾値の５が代入される。１行目は、差分値ΔＡＤの逆数を１０００倍した値が全て近接判定閾値の５を超えているので、最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（１）の初期値に設定された近接判定閾値（５）が、最小値として代入される。また、１行目の最小値の列Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）は、値が定められず、図１４（Ｃ）では、"－"と記載する。尚、最小値の列Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）が、定められなかった場合、前回の演算結果が維持される。いずれにせよ、最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（１）は、近接判定閾値（５）が設定されているので、尖端度算出の対象にならない。尖端度算出の対象にならないｉ行のＣｏｌｕｍｎ（ｉ）の値が何であっても、処理結果に影響を与えない。尚、最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）の初期値を最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）に代入できる最大の値に設定した場合は、常に、実際の最小値が、最小値Ｍｉｎｉｍｕｍｕ（ｉ）に代入される。この場合も、尖端度算出の対象にならないので、その後の処理は同じになる。

図１５は、尖鋭度を算出する対象、最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）、尖鋭度算出の結果、最大の尖鋭度及び座標を示す図である。図１５（Ａ）は、最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）の大きさと、隣接する行の最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ－１）、Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ＋１）との比較から、指先の位置の候補として尖鋭度を算出する対象になるかを示す図である。１行目は、「近接閾値以下」が成り立たない（ＦＡＬＳＥ）ので、対象外（対象がＦＡＬＳＥ）になる。

図１５（Ｂ）は、各行のおける最小値Ｍｉｎｉｍｕｍ（ｉ）と、その左右の差分値ΔＡＤの逆数を１０００倍した値を示す。１行目は尖鋭度算出の対象外であるため、図１５（Ｂ）では、「－」を記載した。

図１５（Ｃ）は、各行における尖鋭度算出の結果である。ここでは、一例として尖鋭度に二次関数の二次の係数を用いている。尖鋭度算出の対象外の行（１行目）は、０にする。

図１５（Ｄ）は、最大の尖鋭度と、その最大の尖鋭度を示した座標を示す。ここでは、一例として尖鋭度に二次関数の二次の係数を用いている。図１５（Ｃ）で最大の値は０．７３なので、最大の二次係数は、０．７３である。最大の二次係数（０．７３）は、図１５（Ｃ）の２行目に記されているので、最大の二次係数の行は２行目である。２行目で最小値の列Ｃｏｌｕｍｎ（２）は、図１４（Ｃ）より、３列目である。よって、２行目の３列目が、指先の位置である。

以上のように、指先ＦＴの位置を特定できる。したがって、センサ電極１２１から離れた位置にある指先ＦＴの位置を精度よく判定可能な非接触入力装置１００Ａを提供することができる。すなわち、非接触操作の有無と操作の位置を判定可能な非接触入力装置１００Ａを提供することができる。

＜第１変形例による尖鋭度を算出する処理＞
図１６は、第１変形例によるサブルーチン「ｓｕｂ尖鋭度算出」に基づき行われる尖鋭度を算出する処理を表すフローチャートを示す図である。図１６に示す処理は、ステップＳ５６の処理が図１２に示すステップＳ５６の処理と異なる。ここでは図１２に示す処理との違いについて説明する。

図１６に示す処理では、判定部１３４は、次の３つの点を通る円の曲率を尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）として算出する（ステップＳ５６）。３つの点は、（ｊ－１，Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ－１））、（ｊ，Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ））、（ｊ＋１，Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ＋１））で表される。

ここで、列ｊをｘ軸、逆数Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌをｚ軸とするｘｚ座標において、ｊ－１、ｊ、ｊ＋１をｘ１、ｘ２、ｘ３とし、Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ－１）、Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ）、Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ＋１）をｚ１、ｚ２、ｚ３とする。この状態を図１７に示す。図１７は、ｘｚ座標と指先ＦＴとの関係を示す図である。

３つの点を通る円の中心の座標（ｘｐ、ｚｐ）は、次式（１）、（２）で表される。

また、３つの点を通る円の中心の座標（ｘｐ、ｚｐ）を用いると、円の半径ｒは次式（３）で求めることができる。

判定部１３４は、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）を曲率（半径の逆数１／ｒ）として求める。すなわち、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）＝１／ｒである。

＜第２変形例による尖鋭度を算出する処理＞
図１８は、第２変形例によるサブルーチン「ｓｕｂ尖鋭度算出」に基づき行われる尖鋭度を算出する処理を表すフローチャートを示す図である。図１８に示す処理は、ステップＳ５６の処理が図１２に示すステップＳ５６の処理と異なる。ここでは図１２に示す処理との違いについて説明する。

図１８に示す処理では、判定部１３４は、ｉ行において隣り合う５つの点を用いて、最小二乗法によるカーブフィッティングで５つの点に近似する二次曲線を求め、曲線の二次の係数を尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）として算出する（ステップＳ５６）。

ｉ行において隣り合う５つの点は、（ｊ－２，Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ－２））、（ｊ－１，Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ－１））、（ｊ，Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ））、（ｊ＋１，Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ＋１））、（ｊ＋２，Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ＋２））である。

＜第３変形例による尖鋭度を算出する処理＞
図１９は、第３変形例によるサブルーチン「ｓｕｂ尖鋭度算出」に基づき行われる尖鋭度を算出する処理を表すフローチャートを示す図である。図１９に示す処理は、ステップＳ５６の処理が図１２に示すステップＳ５６の処理と異なる。ここでは図１２に示す処理との違いについて説明する。

図１９に示す処理では、判定部１３４は、ｉ行において隣り合う５つの点を用いて、カーブフィッティングにより最小二乗法で５つの点に近似する円周を求め、曲線の曲率を尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）として算出する（ステップＳ５６）。

ｉ行において隣り合う５つの点は、（ｊ－２，Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ－２））、（ｊ－１，Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ－１））、（ｊ，Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ））、（ｊ＋１，Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ＋１））、（ｊ＋２，Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌ（ｉ，ｊ＋２））である。

＜第４変形例による指先を特定する処理＞
図２０は、第４変形例によるサブルーチン「ｓｕｂ指先特定」に基づき行われる指先を特定する処理を表すフローチャートを示す図である。図２０に示す処理は、図１３に示すフローの代わりに実行可能である。

判定部１３４は、ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで行ｉを１つずつ選択しながら、指、掌Ｐ、空間のいずれであるかを判定するループ処理を行う（ステップＳ７１～Ｓ７４）。ｉ＝１，ＡｌｌＲｏｗｓ，１は、指、掌Ｐ、空間の判定を行数ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで１行ずつ選択しながら行うことを意味する。

判定部１３４は、ステップＳ６で算出した尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）が掌閾値以上であるかどうかを判定する（ステップＳ７２）。掌閾値は、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）が指のものであるか、掌Ｐのものであるかを区別する値であり、指先ＦＴである場合の最小値である。

判定部１３４は、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）が掌判定値以上である（Ｓ７１：ＹＥＳ）と判定すると、Ｐａｌｍ（ｉ）は指であると判定する（ステップＳ７３Ａ）。

判定部１３４は、ステップＳ７２において、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）が掌判定値以上ではない（Ｓ７１：ＮＯ）と判定すると、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）が正の値であるかどうかを（ステップＳ７２Ａ）。掌Ｐが存在するか、掌Ｐが存在せずに空間であるかを判定するためである。

判定部１３４は、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）が正の値である（Ｓ７２Ａ：ＹＥＳ）と判定すると、Ｐａｌｍ（ｉ）は掌であると判定する（ステップＳ７３Ｂ）。

一方、判定部１３４は、ステップＳ７２Ａにおいて、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）が正の値ではない（Ｓ７２Ａ：ＮＯ）と判定すると、Ｐａｌｍ（ｉ）は空間であると判定する（ステップＳ７３Ｃ）。図１２のステップＳ５２Ａにおいて、空間の場合、Ａｐｅｘ（ｉ）に０が入力されている。

判定部１３４は、全ての行ｉについてステップＳ７１～Ｓ７４のループ処理を行うことにより、掌Ｐを示す行番号がＰａｌｍ（ｉ）に代入される。

判定部１３４は、ｉ＝ＡｌｌＲｏｗｓ－１から１行目まで行ｉを１つずつ選択しながら、下側の掌Ｐから出ている指を判定するループ処理を行う（ステップＳ７５～Ｓ７７）。ｉ＝ＡｌｌＲｏｗｓ－１，１，－１は、下側の掌Ｐから出ている指の判定を行数ｉ＝ＡｌｌＲｏｗｓ－１から１行目まで１行ずつ選択しながら行うことを意味する。なお、下側の掌Ｐから出ている指とは、－Ｙ方向側に掌Ｐが位置し、指が＋Ｙ方向にでていることをいう。

判定部１３４は、Ｐａｌｍ（ｉ）が指で、かつ、Ｐａｌｍ（ｉ＋１）が掌Ｐであるかどうかを判定する（ステップＳ７６）。ｉ行目に指があり、－Ｘ方向側のｉ＋１行目に掌Ｐがあるかどうかを判定する処理である。

判定部１３４は、Ｐａｌｍ（ｉ）が指で、かつ、Ｐａｌｍ（ｉ＋１）が掌Ｐである（Ｓ７６：ＹＥＳ）と判定すると、フローをステップＳ７８に進行させる。一方、判定部１３４は、Ｐａｌｍ（ｉ）が指で、かつ、Ｐａｌｍ（ｉ＋１）が掌Ｐを満たす行ｉが存在しないと、「下側の掌から出ている指を判定」のループ処理（Ｓ７５からＳ７７）を終了し、フローをステップＳ８３に進行させる。

判定部１３４は、全ての行ｉについてステップＳ７５～Ｓ７７のループ処理を行うことにより、下側の掌Ｐから出ている指であるかどうかを判定する。

判定部１３４は、ｉ＝ＡｌｌＲｏｗｓ－１から２行目まで行ｉを１行ずつ選択しながら、指先ＦＴが位置する行ｉを判定する「指先を判定」のループ処理を行う（ステップＳ７８からステップＳ８０）。ｉ＝ＡｌｌＲｏｗｓ－１，２，－１は、下側の掌Ｐから出ている指の判定を行数ｉ＝ＡｌｌＲｏｗｓ－１から２行目まで１行ずつ選択しながら行うことを意味する。

判定部１３４は、Ｐａｌｍ（ｉ）が指で、かつ、Ｐａｌｍ（ｉ－１）が空間であるかどうかを判定する（ステップＳ７９）。ｉ行目に指があり、＋Ｘ方向側のｉ－１行目に空間があるかどうかを判定する処理である。

判定部１３４は、Ｐａｌｍ（ｉ）が指で、かつ、Ｐａｌｍ（ｉ－１）が空間である（Ｓ７９：ＹＥＳ）と判定すると、フローをステップＳ８２に進行させる。一方、判定部１３４は、Ｐａｌｍ（ｉ）が指で、かつ、Ｐａｌｍ（ｉ－１）が空間を満たす行ｉが存在しないと、「指先を判定」のループ処理（Ｓ７８からＳ８０）を終了し、フローをステップＳ８１に進行させる。

判定部１３４は、ステップＳ８１において、ｉに１を代入する（ステップＳ８１）。掌Ｐから延びる指が静電センサ１２０の端に達している場合、静電センサ１２０の端に指先ＦＴがあると見なす。つまり、＋Ｘ方向側に空間がない場合、１行目に指先ＦＴが位置するとみなす。判定部１３４は、ステップＳ８１の処理を終えるとフローをステップＳ８２に進行させる。

判定部１３４は、ステップＳ８１に続くステップＳ８２において、ステップＳ８１において決定したｉ行を変数ｒｏｗに代入する（ステップＳ８２）。すなわち、ｒｏｗ＝１である。指先ＦＴが１行目に位置することになる。

判定部１３４は、ステップＳ８２の処理を終えると、図２０に示すサブルーチン「ｓｕｂ指先特定」の指先の位置を特定する処理を終了し（エンド）、前述したメインループＳ８の処理を行う。

また、ステップＳ７９において、判定部１３４は、Ｐａｌｍ（ｉ）が指で、かつ、Ｐａｌｍ（ｉ－１）が空間である（Ｓ７９：Ｙｅｓ）と判定すると、ステップＳ８２に進行する。この場合には、Ｐａｌｍ（ｉ）が指で、かつ、Ｐａｌｍ（ｉ－１）が空間である（Ｓ７９：ＹＥＳ）ｉ行を変数ｒｏｗに代入する（ステップＳ８２）。指先ＦＴは、ステップＳ７９においてＰａｌｍ（ｉ）が指で、かつ、Ｐａｌｍ（ｉ－１）が空間である（Ｓ７９：ＹＥＳ）と判定されたｉ行に位置する。

判定部１３４は、ステップＳ８２の処理を終えると、図２０に示すサブルーチン「ｓｕｂ指先特定」の尖鋭度を算出する処理を終了する（エンド）。

判定部１３４は、ステップＳ８３において、ｉ＝２からＡｌｌＲｏｗｓまで行ｉを１つずつ選択しながら、上側の掌Ｐから出ている指を判定するループ処理を行う（ステップＳ８３～Ｓ８５）。ｉ＝２，ＡｌｌＲｏｗｓ，１は、上側の掌Ｐから出ている指の判定を行数ｉ＝２からＡｌｌＲｏｗｓまで１行ずつ選択しながら行うことを意味する。なお、上側の掌Ｐから出ている指とは、＋Ｙ方向側に掌Ｐが位置し、指が－Ｙ方向にでていることをいう。

判定部１３４は、Ｐａｌｍ（ｉ）が指で、かつ、Ｐａｌｍ（ｉ－１）が掌Ｐであるかどうかを判定する（ステップＳ８４）。ｉ行目に指があり、＋Ｘ方向側のｉ－１行目に掌Ｐがあるかどうかを判定する処理である。

判定部１３４は、Ｐａｌｍ（ｉ）が指で、かつ、Ｐａｌｍ（ｉ－１）が掌Ｐである（Ｓ８４：ＹＥＳ）と判定すると、フローをステップＳ８６に進行させる。一方、判定部１３４は、Ｐａｌｍ（ｉ）が指で、かつ、Ｐａｌｍ（ｉ－１）が掌Ｐを満たす行ｉが存在しないと「上側の掌から出ている指を判定」のループ処理（ステップＳ８３～Ｓ８５）を終了し、フローをステップＳ９０に進行させる。掌Ｐが静電センサ１２０より外側にある場合、ステップＳ９０に進行させる。

判定部１３４は、全ての行ｉについてステップＳ８３～Ｓ８５のループ処理を行うことにより、上側の掌Ｐから出ている指であるかどうかを判定する。

判定部１３４は、ｉ＝２からＡｌｌＲｏｗｓまで行ｉを１行ずつ選択しながら、指先ＦＴが位置する行ｉを判定する「指先を判定」のループ処理を行う（ステップＳ８６からステップＳ８９）。ｉ＝２，ＡｌｌＲｏｗｓ，１は、下側の掌Ｐから出ている指の判定を行数ｉ＝２からＡｌｌＲｏｗｓまで１行ずつ選択しながら行うことを意味する。

判定部１３４は、Ｐａｌｍ（ｉ）が指で、かつ、Ｐａｌｍ（ｉ＋１）が空間であるかどうかを判定する（ステップＳ８７）。ｉ行目に指があり、－Ｘ方向側のｉ＋１行目に空間があるかどうかを判定する処理である。

ステップＳ８７において、判定部１３４は、Ｐａｌｍ（ｉ）が指で、かつ、Ｐａｌｍ（ｉ＋１）が空間である（Ｓ８７：ＹＥＳ）と判定すると、フローをステップＳ８２に進行させる。この場合、判定部１３４は、Ｐａｌｍ（ｉ）が指で、かつ、Ｐａｌｍ（ｉ＋１）が空間である（Ｓ８７：ＹＥＳ）ｉ行を変数ｒｏｗに代入する（ステップＳ８２）。指先ＦＴは、ステップＳ８７においてＰａｌｍ（ｉ）が指で、かつ、Ｐａｌｍ（ｉ＋１）が空間である（Ｓ８７：ＹＥＳ）と判定されたｉ行に位置することになる。

一方、判定部１３４は、Ｐａｌｍ（ｉ）が指で、かつ、Ｐａｌｍ（ｉ＋１）が空間を満たす行ｉが存在しないと「指先を判定」のループ処理を終了し、フローをステップＳ８９に進行させる。

判定部１３４は、ｉにＡｌｌｒｏｗｓを代入する（ステップＳ８９）。掌Ｐから延びる指が静電センサ１２０の端に達している場合、静電センサ１２０の端に指先ＦＴがあると見なす。つまり、－Ｘ方向側に空間がない場合、静電センサ１２０の端の行のＡｌｌｒｏｗｓに指先ＦＴが位置するとみなす。

掌Ｐが静電センサ１２０より外側にある場合、判定部１３４は、最大尖鋭度ＭａｘＡｐｅｘの初期値をゼロに設定する（ステップＳ９０）。

判定部１３４は、ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで行ｉを１つずつ選択しながら、「指先位置特定」のループ処理を行う（ステップＳ９１からステップＳ９５）。ｉ＝１，ＡｌｌＲｏｗｓ，１は、指先ＦＴの位置の特定を行数ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで１行ずつ選択しながら行うことを意味する。

判定部１３４は、選択している行ｉについて、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）が最大尖鋭度ＭａｘＡｐｅｘよりも大きいかどうかを判定する（ステップＳ９２）。ステップＳ９１～Ｓ９５の処理を繰り返すことによって最大尖鋭度ＭａｘＡｐｅｘを更新し、最終的に最大尖鋭度ＭａｘＡｐｅｘを与える行ｉを特定する。

判定部１３４は、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）が最大尖鋭度ＭａｘＡｐｅｘよりも大きい（Ｓ９３：Ｙｅｓ）と判定すると、最大尖鋭度ＭａｘＡｐｅｘを尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）に更新する（ステップＳ９３）。

判定部１３４は、最大尖鋭度ＭａｘＡｐｅｘを与える尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）の行ｉを変数ｒｏｗに代入する。（ステップＳ９４）。

判定部１３４は、全ての行ｉについてステップＳ９１～Ｓ９５のループ処理を行うことにより、最大尖鋭度を示す行番号がｒｏｗに代入される（ステップＳ９５）。

判定部１３４は、ステップＳ９１～Ｓ９５のループ処理を終了すると、前述したメインループのＳ８の処理を行う。

＜第５変形例による指先ＦＴの位置の求める処理＞
次に、図２１乃至図２３のフローチャートを用いて、第５変形例による指先ＦＴの位置の求め方について説明する。図２１乃至図２３は、第５変形例による指先ＦＴの位置の求める処理を表すフローチャートを示す図である。この処理は、判定部１３４によって実行される。図２１は、メインのフローを示し、図２２及び図２３は、それぞれ、図２１におけるステップＳ１０３及びＳ１０９のサブルーチン処理のフローを示す。また、図２１におけるステップＳ１０４乃至Ｓ１０８のサブルーチン処理については、図９乃至図１３の「ｓｕｂ逆数変換」、「ｓｕｂ最小値判定」、「ｓｕｂ除外行特定」、「ｓｕｂ尖鋭度算出」、「ｓｕｂ指先特定」を援用し、ここでは説明を省略する。なお、ここでは、一例として図３に示す電子機器１００の－Ｙ方向側、＋Ｙ方向側、－Ｘ方向側、＋Ｘ方向側のすべての方向から操作面１０５に向けて手Ｈを電子機器１００に翳して操作入力を行うことが可能であるものとして説明する。

判定部１３４は、処理がスタートすると、メモリ１３７からセンサ電極１２１の行数と列数を読み込む（ステップＳ１０１）。ＴｅｍｐｏｒａｌＡｌｌＲｏｗｓはセンサ電極１２１の行数を表し、ＴｅｍｐｏｒａｌＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓはセンサ電極１２１の列数を表す。一例としてＴｅｍｐｏｒａｌＡｌｌＲｏｗｓは５行であり、ＴｅｍｐｏｒａｌＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓは６列である。

次に、判定部１３４は、全センサ電極１２１についての差分値ΔＡＤ（１，１）～ΔＡＤ（ＡｌｌＲｏｗｓ，ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓ）を取得し、ＴｅｍｐｏｒａｌＣａｐａ（１，１）～ＴｅｍｐｏｒａｌＣａｐａ（ＡｌｌＲｏｗｓ，ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓ）に入力する（ステップＳ１０２）。ステップＳ１０２の処理により、一例として３０個のセンサ電極１２１についての３０個の差分値ＴｅｍｐｏｒａｌＣａｐａ（１，１）～ＴｅｍｐｏｒａｌＣａｐａ（ＡｌｌＲｏｗｓ，ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓ）が得られる。

次に、判定部１３４は、サブルーチン「ｓｕｂ縦横変換」を呼び出し、縦横変換が必要な場合、行ｉと列ｊを入れ替えて、ＴｅｍｐｏｒａｌＣａｐａ（ｉ，ｊ）をＣａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｊ，ｉ）に入力する。判定部１３４は、縦横変換が必要ない場合、ＴｅｍｐｏｒａｌＣａｐａ（ｉ，ｊ）をＣａｐａｃｉｔａｎｃｅに入力する（ステップＳ１０３）。

次に、判定部１３４は、サブルーチン「ｓｕｂ逆数変換」を呼び出し、全ての差分値ΔＡＤ（１，１）～ΔＡＤ（ＡｌｌＲｏｗｓ，ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓ）を逆数に変換する（ステップＳ１０４）。

次に、判定部１３４は、サブルーチン「ｓｕｂ最小値判定」を呼び出し、全ての行における逆数の最小値を判定し、逆数の最小値を示す列を求める処理を行う（ステップＳ１０５）。

次に、判定部１３４は、サブルーチン「ｓｕｂ除外行特定」を呼び出し、除外行を特定する処理を行う（ステップＳ１０６）。除外行とは、手Ｈが存在していない行であり、手が存在しない行を特定して除外することで、手が存在する行に絞り込む処理である。

次に、判定部１３４は、サブルーチン「ｓｕｂ尖鋭度算出」を呼び出し、手が存在する行について尖鋭度を算出する処理を行う（ステップＳ１０７）。

次に、判定部１３４は、サブルーチン「ｓｕｂ指先の行の特定」を呼び出し、ステップＳ１０７で手が存在する全ての行について算出した尖鋭度に基づいて、指先ＦＴの行を特定する処理を行う（ステップＳ１０８）。

次に、判定部１３４は、サブルーチン「ｓｕｂ縦横戻し」を呼び出し、縦横戻し処理を行う（ステップＳ１０９）。

最後に、判定部１３４は、指先ＦＴの先端の位置を表す座標を出力する（ステップＳ１１０）。ここで、ｒｏｗは、指先ＦＴが位置する行番号を表す。また、ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）は、ｉ行で逆数が最小の列番号を表すため、ｃｏｌｕｍｎ（ｒｏｗ）は、ｒｏｗ行で、逆数が最小の列番号を表す。

次に、図２２を用いて、図２１のステップＳ１０３のサブルーチン「ｓｕｂ縦横変換」に基づき行われる縦横変換処理について説明する。

判定部１３４は、ステップＳ１０２の処理で得られたＴｅｍｐｏｒａｌＣａｐａ（１，１）～ＴｅｍｐｏｒａｌＣａｐａ（ＡｌｌＲｏｗｓ，ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓ）の中から、ＢｉｇＸ（１）＝最も静電容量値が大きいセンサ電極１２１のＸ座標、ＢｉｇＹ（１）＝最も静電容量値が大きいセンサ電極１２１のＹ座標、ＢｉｇＸ（２）＝２番目に静電容量値が大きいセンサ電極１２１のＸ座標、ＢｉｇＹ（２）＝２番目に静電容量値が大きいセンサ電極１２１のＹ座標、ＢｉｇＸ（３）＝３番目に静電容量値が大きいセンサ電極１２１のＸ座標、ＢｉｇＹ（３）＝３番目に静電容量値が大きいセンサ電極１２１のＹ座標、ＢｉｇＸ（４）＝４番目に静電容量値が大きいセンサ電極１２１のＸ座標、ＢｉｇＹ（４）＝４番目に静電容量値が大きいセンサ電極１２１のＹ座標、ＢｉｇＸ（５）＝５番目に静電容量値が大きいセンサ電極１２１のＸ座標、及び、ＢｉｇＹ（５）＝５番目に静電容量値が大きいセンサ電極１２１のＹ座標を取得する（ステップＳ１１１）。なお、Ｘ座標は、センサ電極１２１の行ｉの番号であり、Ｙ座標は列ｊの番号である。

判定部１３４は、（ＢｉｇＸ（１），ＢｉｇＹ（１）），（ＢｉｇＸ（２），ＢｉｇＹ（２）），（ＢｉｇＸ（３），ＢｉｇＹ（３）），（ＢｉｇＸ（４），ＢｉｇＹ（４）），（ＢｉｇＸ（５），ＢｉｇＹ（５））から、ＢｉｇＸ（ｉ）とＢｉｇＹ（ｉ）の共分散の絶対値及びＢｉｇＸ（ｉ）の分散の絶対値を算出する（ステップＳ１１２）。

判定部１３４は、「ＢｉｇＸ（ｉ）とＢｉｇＹ（ｉ）の共分散の絶対値」が「ＢｉｇＸ（ｉ）の分散の絶対値」以下かどうかを判定する（ステップＳ１１３）。

判定部１３４は、「ＢｉｇＸ（ｉ）とＢｉｇＹ（ｉ）の共分散の絶対値」が「ＢｉｇＸ（ｉ）の分散の絶対値」以下である（Ｓ１１３：Ｙｅｓ）の場合は、行と列を入れ替えるために、ＡｌｌＲｏｗｓにＴｅｍｐｏｒａｌＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓを代入し、ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓにＴｅｍｐｏｒａｌＡｌｌＲｏｗｓを代入する（ステップＳ１１４Ａ）。すなわち、ＡｌｌＲｏｗｓ＝ＴｅｍｐｏｒａｌＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓ、ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓ＝ＴｅｍｐｏｒａｌＡｌｌＲｏｗｓとなる。

判定部１３４は、ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで行ｉを１つずつ選択しながら、全ての行ｉを入れ替えるループ処理を行う（ステップＳ１１５Ａ～Ｓ１１９Ａ）。ｉ＝１，ＡｌｌＲｏｗｓ，１は、行ｉを入れ替える処理を行数ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで１行ずつ選択しながら行うことを意味する。

判定部１３４は、ｊ＝１からＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓまで列ｊを１つずつ選択しながら、全ての列ｊを入れ替えるループ処理を行う（ステップＳ１１６Ａ～Ｓ１１８Ａ）。ｊ＝１，ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓ，１は、列ｊを入れ替える処理を列数ｊ＝１からＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓまで１列ずつ選択しながら行うことを意味する。

判定部１３４は、位置（ｊ，ｉ）の静電容量Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｊ，ｉ）にＴｅｍｐｏｒａｌＣａｐａ（ｉ，ｊ）を代入する（ステップＳ１１７Ａ）。これにより列と行が変換される。

判定部１３４は、全ての列ｊを入れ替えるまでステップＳ１１６Ａ～Ｓ１１８Ａのループ処理を行う（ステップＳ１１８Ａ）。

判定部１３４は、全ての行ｉを入れ替えるまでステップＳ１１５Ａ～Ｓ１１９Ａのループ処理を行う。以上でサブルーチン「ｓｕｂ縦横変換」の処理が終了する（エンド）。

判定部１３４は、ステップＳ１１３において、「ＢｉｇＸ（ｉ）とＢｉｇＹ（ｉ）の共分散の絶対値」が「ＢｉｇＸ（ｉ）の分散の絶対値」より大きい（Ｓ１１３：Ｎｏ）場合は、ＡｌｌＲｏｗｓにＴｅｍｐｏｒａｌＡｌｌＲｏｗｓを代入し、ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓにＴｅｍｐｏｒａｌＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓを代入する（ステップＳ１１４Ｂ）。すなわち、ＡｌｌＲｏｗｓ＝ＴｅｍｐｏｒａｌＡｌｌＲｏｗｓ、ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓ＝ＴｅｍｐｏｒａｌＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓとなる。

判定部１３４は、ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで行ｉを１つずつ選択しながら、全ての行ｉの差分値ΔＡＤをコピーするループ処理を行う（ステップＳ１１５Ｂ～Ｓ１１９Ｂ）。ｉ＝１，ＡｌｌＲｏｗｓ，１は、コピーする処理を行数ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで１行ずつ選択しながら行うことを意味する。

判定部１３４は、ｊ＝１からＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓまで列ｊを１つずつ選択しながら、全ての列ｊの差分値ΔＡＤをコピーするループ処理を行う（ステップＳ１１６Ｂ～Ｓ１１８Ｂ）。ｊ＝１，ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓ，１は、コピーする処理を列数ｊ＝１からＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓまで１列ずつ選択しながら行うことを意味する。

判定部１３４は、位置（ｉ，ｊ）の静電容量Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｉ，ｊ）にＴｅｍｐｏｒａｌＣａｐａ（ｉ，ｊ）を代入する（ステップＳ１１７Ｂ）。この場合は列と行は変換されない。

判定部１３４は、全ての列ｊをコピーするまでステップＳ１１６Ｂ～Ｓ１１８Ｂのループ処理を行う。

判定部１３４は、全ての行ｉをコピーするまでステップＳ１１５Ｂ～Ｓ１１９Ｂのループ処理を行う。以上でサブルーチン「ｓｕｂ縦横変換」の処理が終了する（エンド）。

次に、図２３を用いて、図２１のステップＳ１０９のサブルーチン「ｓｕｂ縦横戻し」に基づき行われる処理について説明する。

判定部１３４は、「ＢｉｇＸ（ｉ）とＢｉｇＹ（ｉ）の共分散の絶対値」が「ＢｉｇＸ（ｉ）の分散の絶対値」以下であるかどうかを判定する（ステップＳ１２１）。縦横戻しを行うかどうかを判定するためである。ステップＳ１２１の分岐条件は、ステップＳ１１３と同一である。縦横を入れ替えて、一連の処理をした場合、出力する座標の縦横を入れ替えることで、指先の位置を正しく出力する。

判定部１３４は、「ＢｉｇＸ（ｉ）とＢｉｇＹ（ｉ）の共分散の絶対値」が「ＢｉｇＸ（ｉ）の分散の絶対値」以下である（Ｓ１２１：Ｙｅｓ）と判定すると、変数ｒｏｗの値と、変数ｃｏｌｕｍｎ（Ｒｏｗ）の値を入れ替える。この為、変数ｊに変数ｒｏｗの値を保存してから、変数ｒｏｗにｃｏｌｕｍｎ（Ｒｏｗ）を代入し、変数ｃｏｌｕｍｎ（Ｒｏｗ）に変数ｊの値を代入する（ステップＳ１２２）。判定部１３４は、ステップＳ１２２の処理を終えると、サブルーチン「ｓｕｂ縦横戻し」の処理を終了する（エンド）。

判定部１３４は、ステップＳ１２１において、「ＢｉｇＸ（ｉ）とＢｉｇＹ（ｉ）の共分散の絶対値」が「ＢｉｇＸ（ｉ）の分散の絶対値」より大きい（Ｓ１２１：Ｎｏ）と判定すると、サブルーチン「ｓｕｂ縦横戻し」の処理を終了する（エンド）。

次に、図２４及び図２５を用いて、差分値ΔＡＤが得られてから指先ＦＴの位置を特定するまでの具体例について説明する。操作入力は、図２及び図３に示すように、２行３列のセンサ電極１２１（２，３）について行われていることとする。また、ここでは、ステップＳ１０４の「ｓｕｂ逆数変換」の処理において図１４（Ａ）に示す差分値ΔＡＤと同一の結果が得られているとともに、ステップＳ１０７の「ｓｕｂ尖鋭度算出」において図１５（Ｃ）の尖鋭度が得られているものとして説明する。

図２４は、５行６列のセンサ電極１２１で得られた差分値ΔＡＤの順位と、ＢｉｇＸ（ｉ）の分散の絶対値と、ＢｉｇＸ（ｉ）とＢｉｇＹ（ｉ）の共分散の絶対値とを示す図である。図２４（Ａ）には、５行６列のセンサ電極１２１で得られた差分値ΔＡＤの順位を示す。３０個の差分値ΔＡＤのうちの最も大きいセンサ電極１２１（３，２）が１位であり、最も小さいセンサ電極１２１（６，１）が３０位である。

図２４（Ｂ）には、図２４（Ａ）に示す差分値ΔＡＤのうち、１位から５位のセンサ電極１２１のＸ座標（行ｉ）とＹ座標（列ｊ）を示す。１位から５位のセンサ電極１２１は、１番目から５番目に静電容量値が大きいセンサ電極１２１である。

図２４（Ｃ）には、１番目から５番目に静電容量値が大きいセンサ電極１２１のＸ座標から求まる「ＢｉｇＸ（ｉ）の分散の絶対値」（０．１６）と、「Ｘ座標及びＹ座標から求まるＢｉｇＸ（ｉ）及びＢｉｇＹ（ｉ）の共分散の絶対値」（０．２４）とを示す。『「Ｘ座標及びＹ座標から求まるＢｉｇＸ（ｉ）及びＢｉｇＹ（ｉ）の共分散の絶対値」（０．２４）≦「ＢｉｇＸ（ｉ）の分散の絶対値」（０．１６）』が成り立たない。よって、この例では、縦横を入れ替えない。

図２５は、図２０に示す第４変形例による指先を特定する処理での判定結果を示す図である。図２５（Ａ）には、図１５（Ｃ）の尖鋭度に基づいて、図２０に示す指先を特定する処理での「空間、「指」、「掌」の判定結果を示す、図１５（Ｃ）に上から下にかけて示すように、尖鋭度が０．００、０．７３、０．４１、０．３４、０．０３である場合に、「空間、「指」、「指」、「指」、「掌」と判定される。

図２５（Ｂ）は、下側の掌Ｐから出ている指を判定するループ処理の判定結果であり、図２５（Ａ）の５つの判定結果を上から順番に２つずつ組み合わせた結果として、ＦＡＬＳＥ又はＴＲＵＥと判定されている。ここでは上側から判定を行う。図２５（Ｂ）における一番上は、「空間、「指」であるためＦＡＬＳＥであり、上から２番目は「指」、「指」であるためＦＡＬＳＥであり、上から３番目は「指」、「指」であるためＦＡＬＳＥであり、上から４番目（一番下）は「指」、「掌」であるためＴＲＵＥである。ＴＲＵＥが存在したので、下側の掌Ｐから上側に指が出ていると判断する。

図２５（Ｃ）には、ｉ行に指先ＦＴがあるかどうかを判定するループ処理の判定結果を示す。下側の掌Ｐから指が出ていると判断したので、ここでは下側から判定を行う。図２５（Ａ）の判定結果から、図２５（Ｃ）に示すように、上から４番目（一番下）は、ｉ行が「指」でｉ－１行が「指」であるためＦＡＬＳＥであり、上から３番目はｉ行が「指」でｉ－１行も「指」であるためＦＡＬＳＥであり、上から２番目はｉ行が「指」でｉ－１行が「空間」であるためＴＲＵＥであり、一番上はｉ－１行が存在しないので判定を行っておらず、「－」で示す。ＴＲＵＥになった上から２行目に、指先ＦＴが存在する。

図２５（Ｄ）には、指先の位置の特定結果を示す。２行目で最小値の列Ｃｏｌｕｍｎ（２）は、図１４（Ｃ）より、３列目である。よって、２行目の３列目が、指先の位置である。

以上のように、指先ＦＴの位置を特定できる。したがって、センサ電極１２１から離れた位置にある指先ＦＴの位置を精度よく判定可能な非接触入力装置１００Ａを提供することができる。

＜第６変形例による指先ＦＴの位置の求める処理＞
次に、図２６乃至図２９のフローチャートを用いて、第６変形例による指先ＦＴの位置の求め方について説明する。図２６乃至図２９は、第６変形例による指先ＦＴの位置の求める処理を表すフローチャートを示す図である。この処理は、判定部１３４によって実行される。図２６は、メインのフローを示し、図２７乃至図２９は、それぞれ、図２６におけるステップＳ１３４乃至Ｓ１３６のサブルーチン処理のフローを示す。また、図２６におけるステップＳ１３３、Ｓ１３７、及びＳ１３８のサブルーチン処理については、図２２，図１３、及び図２３「ｓｕｂ縦横変換」、「ｓｕｂ指先の行の特定」、「ｓｕｂ縦横戻し」を援用し、ここでは説明を省略する。なお、ここでは、一例として図３に示す電子機器１００の－Ｙ方向側、＋Ｙ方向側、－Ｘ方向側、＋Ｘ方向側のすべての方向から操作面１０５に向けて手Ｈを電子機器１００に翳して操作入力を行うことが可能であるものとして説明する。

判定部１３４は、処理がスタートすると、メモリ１３７からセンサ電極１２１の行数と列数を読み込む（ステップＳ１３１）。ＴｅｍｐｏｒａｌＡｌｌＲｏｗｓはセンサ電極１２１の行数を表し、ＴｅｍｐｏｒａｌＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓはセンサ電極１２１の列数を表す。一例としてＴｅｍｐｏｒａｌＡｌｌＲｏｗｓは５行であり、ＴｅｍｐｏｒａｌＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓは６列である。

次に、判定部１３４は、全センサ電極１２１についての差分値ΔＡＤ（１，１）～ΔＡＤ（ＡｌｌＲｏｗｓ，ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓ）を取得し、ＴｅｍｐｏｒａｌＣａｐａ（１，１）～ＴｅｍｐｏｒａｌＣａｐａ（ＡｌｌＲｏｗｓ，ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓ）に入力する（ステップＳ１３２）。ステップＳ１０２の処理により、一例として３０個のセンサ電極１２１についての３０個の差分値ＴｅｍｐｏｒａｌＣａｐａ（１，１）～ＴｅｍｐｏｒａｌＣａｐａ（ＡｌｌＲｏｗｓ，ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓ）が得られる。

次に、判定部１３４は、サブルーチン「ｓｕｂ縦横変換」（図２２参照）を呼び出す。サブルーチン「ｓｕｂ縦横変換」（図２２参照）は、別の例で説明済みの為、説明を省略する。

次に、判定部１３４は、サブルーチン「ｓｕｂ最大値判定」（図２７参照）を呼び出し、各行のＣａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｉ，ｊ）の最大値を判定する（ステップＳ１３４）。

次に、判定部１３４は、サブルーチン「ｓｕｂ除外行特定」（図２８参照）を呼び出し、除外行を特定する処理を行う（ステップＳ１３５）。除外行とは、手Ｈが存在していない行であり、手が存在しない行を特定して除外することで、手が存在する行に絞り込む処理である。

次に、判定部１３４は、サブルーチン「ｓｕｂ尖鋭度算出」（図２９参照）を呼び出し、手が存在する行について尖鋭度を算出する処理を行う（ステップＳ１３６）。

次に、判定部１３４は、サブルーチン「ｓｕｂ指先特定」（図１３参照）を呼び出し、ステップＳ１３６で手が存在する全ての行について算出した尖鋭度に基づいて、指先ＦＴの行を特定する処理を行う（ステップＳ１３７）。

次に、判定部１３４は、サブルーチン「ｓｕｂ縦横戻し」（図２３参照）を呼び出し、縦横戻し処理を行う（ステップＳ１３８）。

最後に、判定部１３４は、指先ＦＴの先端の位置を表す座標を出力する（ステップＳ１３９）。ここで、ｒｏｗは、指先ＦＴが位置する行番号を表す。また、ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）は、ｉ行で静電容量値が最大の列番号を表すため、ｃｏｌｕｍｎ（Ｒｏｗ）は、ｒｏｗ行で、静電容量値が最大の列番号を表す。

次に、図２７を用いて、図２６のステップＳ１３４のサブルーチン「ｓｕｂ最大値判定」に基づき行われる最大値判定処理について説明する。

判定部１３４は、ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで行ｉを１つずつ選択しながら、各行ｉの静電容量値の最大値とその電極を特定するループ処理を開始する（ステップＳ１４１～Ｓ１４８）。ｉ＝１，ＡｌｌＲｏｗｓ，１は、最大値とその電極を特定する処理を行数ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで１行ずつ選択しながら行うことを意味する。

判定部１３４は、行ｉの静電容量値の最大値Ｍａｘｉｍｕｍ（ｉ）の初期値を０に設定する（ステップＳ１４２）。すなわち、Ｍａｘｉｍｕｍ（ｉ）＝０となる。

判定部１３４は、ｊ＝１からＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓまで列ｊを１つずつ選択しながら、i行の静電容量値の最大値とその電極を特定するループ処理を開始する（ステップＳ１４３～Ｓ１４７）。ｊ＝１，ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓ，１は、最大値とその電極を特定する処理を列数ｊ＝１からＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓまで１列ずつ選択しながら行うことを意味する。

判定部１３４は、静電容量値Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｉ）が最大値Ｍａｘｉｍｕｍ（ｉ）よりも大きいかどうかを判定する（ステップＳ１４４）。

判定部１３４は、静電容量値Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｉ）が最大値Ｍａｘｉｍｕｍ（ｉ）よりも大きい（Ｓ１４４：Ｙｅｓ）と判定すると、最大値Ｍａｘｉｍｕｍ（ｉ）を静電容量値Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｉ，ｊ）に置き換える（ステップＳ１４５）。ｉ行目における最大値Ｍａｘｉｍｕｍ（ｉ）を更新するためである。判定部１３４は、ステップＳ１４５で更新したｉ行目における最大値Ｍａｘｉｍｕｍ（ｉ）をメモリ１３７に格納する。

判定部１３４は、ｉ行目で最大値Ｍａｘｉｍｕｍ（ｉ）を与える列Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）にｊを代入する（ステップＳ１４６）。すなわち、Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）＝ｊとなる。Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）は、ｉ行目において、静電容量値が最大になる列番号を表す。判定部１３４は、ステップＳ１４６で求められた値をメモリ１３７に格納する。

判定部１３４は、選択した行ｉについて、静電容量値の最大値と、その最大値を与えるセンサ電極１２１（ｉ，ｊ）を特定するためにステップＳ１４３～Ｓ１４７のループ処理を行う。

判定部１３４は、全ての行における静電容量値の最大値と、その最大値を与えセンサ電極１２１（ｉ，ｊ）を特定するまでステップＳ１４１～１４８のループ処理を行う。これにより、全ての行における静電容量値の最大値と、その最大値を与えるセンサ電極１２１（ｉ，ｊ）が特定される。

次に、図２８を用いて、図２６のステップＳ１３５のサブルーチン「ｓｕｂ除外行特定」に基づき行われる除外行を特定する処理について説明する。

判定部１３４は、ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓ－１までの全ての行ｉについて、行ｉにおける静電容量値の最大値が１行下の行ｉ＋１における静電容量値の最大値の１／２未満であれば行ｉを除外するループ処理を行う（ステップＳ１５１～Ｓ１５４）。

ここで、１行下の行ｉ＋１は、ある行ｉの－Ｙ方向側に隣接する行である。ｉ＝１，ＡｌｌＲｏｗｓ－１，１は、除外する行の特定を行数ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓ－１まで１行ずつ選択しながら行うことを意味する。行数ＡｌｌＲｏｗｓ－１まで繰り返す処理にするのは、行ＡｌｌＲｏｗｓについては１行下の行が存在しないからである。

除外行を特定する処理において、行ｉにおける静電容量値の最大値が１行下の行ｉ＋１における静電容量値の最大値の１／２未満であれば行ｉを除外するのは、指先ＦＴの先端を見つけるためである。指先ＦＴの先端と重なっている行は静電容量値の最大値が大きく、指先ＦＴの先端と重なっている行よりも１行上の行は指先ＦＴの先端と重なっていないため、静電容量値の最大値は小さくなる。このような指先ＦＴの先端と重なる行と、１行上の行とでは静電容量値の最大値が大きく異なる。ここでは一例として、静電容量値の最大値が１／２未満になる位置を指先ＦＴの先端の１行上の位置と捉えて、行ｉにおける静電容量値の最大値が１行下の行ｉ＋１における静電容量値の最大値の１／２未満であれば行ｉを除外することとする。この場合には、行ｉ＋１が指先ＦＴの先端と重なっていて、行ｉは指先ＦＴの先端と重なっていないため、除外されることになる。

判定部１３４は、選択した行ｉについて、行ｉにおける静電容量値の最大値Ｍａｘｉｍｕｍ（ｉ）が１行下の行ｉ＋１における静電容量値の最大値Ｍａｘｉｍｕｍ（ｉ＋１）の１／２未満であるかどうかを判定する（ステップＳ１５２）。

判定部１３４は、１／２未満である（Ｓ１５２：Ｙｅｓ）と判定すると、Ｅｘｃｅｐｔ１（ｉ）に"除外"を代入する（ステップＳ１５３Ａ）。Ｅｘｃｅｐｔ１（ｉ）に"除外"が代入された行ｉは、後述する尖鋭度の算出の対象外となる行である。判定部１３４は、Ｅｘｃｅｐｔ１（ｉ）を、行番号ｉを要素にする配列データとしてメモリ１３７に格納する。

一方、判定部１３４は、１／２未満ではない（Ｓ１５２：Ｎｏ）と判定すると、Ｅｘｃｅｐｔ１（ｉ）に"対象"を代入する（ステップＳ１５３Ｂ）。Ｅｘｃｅｐｔ１（ｉ）に"対象"が代入された行ｉは、後述する尖鋭度の算出の対象になり得る行である。判定部１３４は、Ｅｘｃｅｐｔ１（ｉ）を、行番号ｉを要素にする配列データとしてメモリ１３７に格納する。

判定部１３４は、全ての行ｉについて、行ｉにおける静電容量値の最大値が１行下の行ｉ＋１における静電容量値の最大値の１／２未満であれば行ｉを除外する処理が完了するまでステップＳ１５１～Ｓ１５４のループ処理を行う。

次に、判定部１３４は、一番下の行であるＡｌｌＲｏｗｓを対象の行に設定する（ステップＳ１５５）。すなわちＥｘｃｅｐｔ１（ＡｌｌＲｏｗｓ）＝"対象"となる。１番下の行であるＡｌｌＲｏｗｓは、１行下の行が存在しないため、ここでは対象に設定することとしている。

次に、判定部１３４は、ｉ＝２からＡｌｌＲｏｗｓまでの全ての行ｉについて、行ｉにおける静電容量値の最大値が１行上の行ｉ－１における静電容量値の最大値の１／２未満であれば行ｉを除外するループ処理を行う（ステップＳ１５６～Ｓ１５９）。

ここで、１行上の行ｉ－１は、行ｉの＋Ｙ方向側に隣接する行である。ｉ＝２，ＡｌｌＲｏｗｓ，１は、除外する行の特定を行数ｉ＝２からＡｌｌＲｏｗｓまで１行ずつ選択しながら行うことを意味する。行数ｉ＝１を除外するのは、一番上の行については１行上の行が存在しないからである。

除外行を特定する処理において、行ｉにおける静電容量値の最大値が１行上の行ｉ－１における静電容量値の最大値の１／２未満であれば行ｉを除外するのは、指先ＦＴに近い空間を指と誤認識しないためである。１／２未満であれば行ｉを除外するのは、行ｉと１行上の行ｉ－１との両方に指先ＦＴが存在すれば、行ｉにおける静電容量値の最大値が１行上の行ｉ－１における静電容量値の最大値の１／２未満になることはないからであり、また、ステップＳ１５１～Ｓ１５４のループ処理と揃えたものである。

判定部１３４は、選択した行ｉについて、行ｉにおける静電容量値の最大値Ｍａｘｉｍｕｍ（ｉ）が１行上の行ｉ－１における静電容量値の最大値Ｍａｘｉｍｕｍ（ｉ－１）の１／２未満であるかどうかを判定する（ステップＳ１５７）。

判定部１３４は、１／２未満である（Ｓ１５７：Ｙｅｓ）と判定すると、行ｉを除外行（Ｅｘｃｅｐｔ２（ｉ）＝"除外"）であると判定する（ステップＳ１５８Ａ）。Ｅｘｃｅｐｔ２（ｉ）＝"除外"と判定される行ｉは、後述する尖鋭度の算出の対象外となる行である。判定部１３４は、行番号ｉを要素にするデータとしてステップＳ１５８Ａでの判定結果をメモリ１３７に格納する。

一方、判定部１３４は、１／２未満ではない（Ｓ１５７：Ｎｏ）と判定すると、Ｅｘｃｅｐｔ２（ｉ）に"対象"を代入する（ステップＳ１５８Ｂ）。Ｅｘｃｅｐｔ２（ｉ）に"対象"が代入された行ｉは、後述する尖鋭度の算出の対象になり得る行である。判定部１３４は、Ｅｘｃｅｐｔ２（ｉ）を、行番号ｉを要素にする配列データとしてステップＳ１５８Ｂでの判定結果をメモリ１３７に格納する。

判定部１３４は、全ての行ｉについて、行ｉにおける静電容量値の最大値が１行上の行ｉ－１における静電容量値の最大値の１／２未満であれば行ｉを除外する処理が完了するまでステップＳ１５６～Ｓ１５９のループ処理を行う。

次に、判定部１３４は、一番上の行であるｉ＝１を対象の行に設定する（ステップＳ１６０）。すなわちＥｘｃｅｐｔ２（１）に"対象"を代入する。１番上の行は、１行上の行が存在しないため、ここでは対象に設定することとしている。

次に、判定部１３４は、ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまでの全ての行ｉについて、行ｉにおける静電容量値の最大値が近接判定閾値未満であれば行ｉを除外するループ処理を開始する（ステップＳ１６１～Ｓ１６４）。

ｉ＝１，ＡｌｌＲｏｗｓ，１は、除外する行の特定を行数ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで１行ずつ選択しながら行うことを意味する。また、行ｉにおける静電容量値の最大値が近接判定閾値未満であれば行ｉを除外するのは、行ｉに指先ＦＴが存在しているかどうかを判定するためである。

判定部１３４は、選択した行ｉについて、行ｉにおける静電容量値の最大値Ｍａｘｉｍｕｍ（ｉ）が近接判定閾値未満であるかどうかを判定する（ステップＳ１６２）。

判定部１３４は、静電容量値の最大値Ｍａｘｉｍｕｍ（ｉ）が近接判定閾値未満である（Ｓ１６２：Ｙｅｓ）と判定すると、Ｅｘｃｅｐｔ３（ｉ）に"除外"を代入する（ステップＳ１６３Ａ）。Ｅｘｃｅｐｔ３（ｉ）に"除外"が代入される行ｉは、後述する尖鋭度の算出の対象外となる行である。判定部１３４は、行番号ｉを要素にする配列データとしてＥｘｃｅｐｔ３（ｉ）をメモリ１３７に格納する。

一方、判定部１３４は、静電容量値の最大値Ｍａｘｉｍｕｍ（ｉ）が近接判定閾値未満ではない（Ｓ１６２：Ｎｏ）と判定すると、Ｅｘｃｅｐｔ３（ｉ）に"対象"を代入する（ステップＳ１６３Ｂ）。Ｅｘｃｅｐｔ３（ｉ）に"対象"が代入される行ｉは、後述する尖鋭度の算出の対象になり得る行である。判定部１３４は、Ｅｘｃｅｐｔ３（ｉ）を、行番号ｉを配列要素にする配列データとしてメモリ１３７に格納する。

判定部１３４は、全ての行ｉについて、行ｉにおける静電容量値の最大値が近接判定閾値未満であれば行ｉを除外する処理が完了するまでステップＳ１６１～Ｓ１６４のループ処理を行う。

次に、判定部１３４は、ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで行ｉを１つずつ選択しながら、除外する行を決定するループ処理を行う（ステップＳ１６５～Ｓ１６８）。ｉ＝１，ＡｌｌＲｏｗｓ，１は、除外する行を決定するために選択する行をｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで１行ずつ選択することを意味する。

判定部１３４は、選択している行ｉについて、Ｅｘｃｅｐｔ１（ｉ）＝"対象"、Ｅｘｃｅｐｔ２（ｉ）＝"対象"、かつ、Ｅｘｃｅｐｔ３（ｉ）＝"対象"であるかどうかを判定する（ステップＳ１６６）。

判定部１３４は、ステップＳ１６６でＹｅｓと判定すると、Ｅｘｃｅｐｔ（ｉ）に"対象"を代入する（ステップＳ１６７Ａ）。Ｅｘｃｅｐｔ（ｉ）＝"対象"が代入される行ｉは、後述する尖鋭度の算出の対象になる行である。判定部１３４は、Ｅｘｃｅｐｔ（ｉ）を、行番号ｉを要素にする配列データとしてメモリ１３７に格納する。

一方、判定部１３４は、Ｅｘｃｅｐｔ１（ｉ）、Ｅｘｃｅｐｔ２（ｉ）、Ｅｘｃｅｐｔ３（ｉ）の少なくとも一つが"除外"であれば、ステップＳ１６６でＮｏと判定する。ステップＳ１６６でＮｏと判定すると、Ｅｘｃｅｐｔ（ｉ）に"除外"を代入する（ステップＳ１６７Ｂ）。Ｅｘｃｅｐｔ（ｉ）に"除外"が代入される行ｉは、後述する尖鋭度の算出の対象にならない行である。判定部１３４は、Ｅｘｃｅｐｔ（ｉ）を、行番号ｉを要素にする配列データとしてメモリ１３７に格納する。

判定部１３４は、全ての行ｉについて、除外する行を決定する処理が完了するまでステップＳ１６５～Ｓ１６８のループ処理を行う。以上により、全ての行ｉの中から除外される行ｉが決定する。

次に、図２９を用いて、図２６のステップＳ１３６のサブルーチン「ｓｕｂ尖鋭度算出」に基づき行われる尖鋭度を算出する処理について説明する。図２９は、サブルーチン「ｓｕｂ尖鋭度算出」に基づき行われる尖鋭度を算出する処理を表すフローチャートを示す図である。

判定部１３４は、ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで行ｉを１つずつ選択しながら、尖鋭度を算出するループ処理を行う（ステップＳ１７１～Ｓ１７７）。ｉ＝１，ＡｌｌＲｏｗｓ，１は、尖鋭度の算出を行数ｉ＝１からＡｌｌＲｏｗｓまで１行ずつ選択しながら行うことを意味する。

判定部１３４は、選択している行ｉについて、Ｅｘｃｅｐｔ（ｉ）＝"対象"であるかどうかを判定する（ステップＳ１７２）。対象でなければ尖鋭度を算出しないからである。

判定部１３４は、Ｅｘｃｅｐｔ（ｉ）＝"対象"である（Ｓ１７２：Ｙｅｓ）と判定すると、ｉ行目で最大値Ｍａｘｉｍｕｍ（ｉ）を与える列Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）が１列目であるかどうかを判定する（ステップＳ１７３）。すなわち、ｉ行目についてＣｏｌｕｍｎ（ｉ）＝１であるかどうかを判定する。ｉ行目で最大値Ｍａｘｉｍｕｍ（ｉ）が１列目（－Ｘ方向側の端の列）で得られているかどうかを判定するためである。

判定部１３４は、Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）＝１ではない（Ｓ１７３：Ｎｏ）と判定すると、Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）＝ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓであるかどうかを判定する（ステップＳ１７４）。すなわち、ｉ行目についてＣｏｌｕｍｎ（ｉ）＝ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓであるかどうかを判定する。ｉ行目で最大値Ｍａｘｉｍｕｍ（ｉ）がＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓで表される＋Ｘ方向側の端の列で得られているかどうかを判定するためである。

判定部１３４は、Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）＝ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓではない（Ｓ１７４：Ｎｏ）と判定すると、ｊにＣｏｌｕｍｎ（ｉ）を代入する（ステップＳ１７５Ａ）。即ち、Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）が、端以外を示す場合に、ｊにＣｏｌｕｍｎ（ｉ）を代入する。Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）は、ｉ行目で最大値Ｍａｘｉｍｕｍ（ｉ）を示す列を表す（ステップＳ２６参照）。

判定部１３４は、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）を算出する（ステップＳ１７６）。尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）は、次式に従って求めることができる。判定部１３４は、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）を算出すると、ステップＳ１７７に進行する。
Ａｐｅｘ（ｉ）＝－Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｉ，ｊ－１）＋２Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｉ，ｊ）＋Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｉ，ｊ＋１）

判定部１３４は、ステップＳ１７２において、Ｅｘｃｅｐｔ（ｉ）＝"対象"ではない（Ｓ１７２：Ｎｏ）と判定すると、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）をゼロに設定する（ステップＳ１７２Ａ）。すなわち、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）に０を代入する。尖鋭度の算出の対象にならない行であるため、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）をゼロに設定することとしたものである。後述する通り、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）は、指先が位置する行を特定する際に用いられる。尖鋭度の算出の対象にならない行の尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）に特定の数値（ゼロ）を設定することで、尖鋭度の算出の対象になる行と、尖鋭度の算出の対象にならない行を同一の手順で処理できる。後述する通り、この実施形態では、尖鋭度を算出すると正の値が算出される。後述する通り、尖鋭度が最も大きな行を指先がある行と判定する。よって、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）をゼロに設定することは、ｉ行を指先ではないと設定することに等しい。

また、判定部１３４は、ステップＳ１７３において、Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）＝１である（Ｓ１７３：Ｙｅｓ）と判定すると、ｊ＝２に設定する（ステップＳ１７３Ａ）。ｉ行目で最大値Ｍａｘｉｍｕｍ（ｉ）を与える列Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）が－Ｘ方向側の端の列（１列目）であるため、尖鋭度の算出に用いる３つの列の中央の列ｊを２列目に設定して、１列目から３列目の３つの逆数を用いて尖鋭度を算出するためである。判定部１３４は、ステップＳ１７３Ａの処理を終えると、ステップＳ１７６に進行して尖鋭度を算出する。

また、判定部１３４は、ステップＳ１７４において、Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）＝ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓである（Ｓ１７４：Ｙｅｓ）と判定すると、ｊ＝ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓ－１に設定する（ステップＳ１７５Ｂ）。ｉ行目で最大値Ｍａｘｉｍｕｍ（ｉ）を与える列Ｃｏｌｕｍｎ（ｉ）が＋Ｘ方向側の端の列（ＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓで表される６列目）であるため、尖鋭度の算出に用いる３つの列の中央の列ｊをＡｌｌＣｏｌｕｍｎｓ－１（５列目）に設定して、４列目から６列目の３つの逆数を用いて尖鋭度を算出するためである。判定部１３４は、ステップＳ１７５Ｂの処理を終えると、ステップＳ１７６に進行して尖鋭度を算出する。

判定部１３４は、全ての行ｉについて、尖鋭度の算出が完了するまでステップＳ１７１～Ｓ１７７のループ処理を行う。

＜第７変形例による尖鋭度を算出する処理＞
図３０は、第７変形例によるサブルーチン「ｓｕｂ尖鋭度算出」に基づき行われる尖鋭度を算出する処理を表すフローチャートを示す図である。図３０に示す処理は、ステップＳ１７６の処理が図２９に示すステップＳ１７６の処理と異なる。ここでは図２９に示す処理との違いについて説明する。

図３０に示す処理では、判定部１３４は、次の３つの点を通る円の曲率を尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）として算出する（ステップＳ１７６）。３つの点は、（ｊ－１，Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｉ，ｊ－１））、（ｊ，Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｉ，ｊ））、（ｊ＋１，Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｉ，ｊ＋１））で表される。

ここで、列ｊをｘ軸、静電容量値Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅをｙ軸とするｘｙ座標において、ｊ－１、ｊ、ｊ＋１をｘ１、ｘ２、ｘ３とし、Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｉ，ｊ－１）、Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｉ，ｊ）、Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｉ，ｊ＋１）をｙ１、ｙ２、ｙ３とする。これは、図１７においてｙ軸にした逆数Ｒｅｃｉｐｒｏｃａｌの代わりに静電容量値Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅをｙ軸にしたものである。ここでは図示を省略する。

判定部１３４は、３つの点を通る円の半径ｒを同様に求めることにより、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）に曲率（半径の逆数１／ｒ）を入力する。すなわち、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）＝１／ｒである。

＜第８変形例による尖鋭度を算出する処理＞
図３１は、第８変形例によるサブルーチン「ｓｕｂ尖鋭度算出」に基づき行われる尖鋭度を算出する処理を表すフローチャートを示す図である。図３１に示す処理は、ステップＳ１７６の処理が図２９に示すステップＳ１７６の処理と異なる。ここでは図２９に示す処理との違いについて説明する。

図３１に示す処理では、判定部１３４は、ｉ行において隣り合う５つの点を用いて、カーブフィッティングにより最小二乗法で５つの点に近似する二次曲線を求め、曲線の二次の係数を尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）として算出する（ステップＳ１７６）。

ｉ行において隣り合う５つの点は、（ｊ－２，Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｉ，ｊ－２））、（ｊ－１，Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｉ，ｊ－１））、（ｊ，Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｉ，ｊ））、（ｊ＋１，Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｉ，ｊ＋１））、（ｊ＋２，Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｉ，ｊ＋２））である。判定部１３４は、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）を算出すると、ステップＳ１７７に進行する。

＜第９変形例による尖鋭度を算出する処理＞
図３２は、第９変形例によるサブルーチン「ｓｕｂ尖鋭度算出」に基づき行われる尖鋭度を算出する処理を表すフローチャートを示す図である。図３２に示す処理は、ステップＳ１７６の処理が図２９に示すステップＳ１７６の処理と異なる。ここでは図２９に示す処理との違いについて説明する。

図３２に示す処理では、判定部１３４は、ｉ行において隣り合う５つの点を用いて、最小二乗法でカーブフィッティングして５つの点に近似する円周を求め、円周の曲率を尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）として算出する（ステップＳ１７６）。

ｉ行において隣り合う５つの点は、（ｊ－２，Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｉ，ｊ－２））、（ｊ－１，Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｉ，ｊ－１））、（ｊ，Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｉ，ｊ））、（ｊ＋１，Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｉ，ｊ＋１））、（ｊ＋２，Ｃａｐａｃｉｔａｎｃｅ（ｉ，ｊ＋２））である。判定部１３４は、尖鋭度Ａｐｅｘ（ｉ）を算出すると、ステップＳ１７７に進行する。

＜静電センサ１２０の構成＞
図３３は、非接触入力装置１００Ａの静電センサ１２０の具体的な構成を示す図である。

静電センサ１２０は、表示装置１１０の上に重ねて配置され、図３３に示すように、Ｘ方向に延在する複数のセンサ電極１２１Ｘと、Ｙ方向に延在する複数のセンサ電極１２１Ｙとを有する。センサ電極１２１Ｘ、１２１Ｙは配線１２２Ｘ、１２２Ｙを介して制御装置１３０にそれぞれ接続されている。このような静電センサ１２０は、一例として透明ガラスの表面にＩＴＯ（Ｉｎｄｉｕｍ Ｔｉｎ Ｏｘｉｄｅ）等の透明導電膜を形成し、センサ電極１２１Ｘ、１２１Ｙ及び配線１２２Ｘ、１２２Ｙにパターニングしたものを用いることができる。静電センサ１２０の静電容量は、制御装置１３０に入力される。

図３３には、一例として１２本のセンサ電極１２１Ｘ及び２０本のセンサ電極１２１Ｙを示す。１２本のセンサ電極１２１Ｘ及び２０本のセンサ電極１２１Ｙについての行と列の関係は、操作部１１１と同一である。このため、１２行のセンサ電極１２１Ｘ及び２０列のセンサ電極１２１Ｙが配列されていることになる。なお、センサ電極１２１Ｘの行数とセンサ電極１２１Ｙの列数とは一例である。

１２行のセンサ電極１２１Ｘは１行ずつ走査されるとともに、２０列のセンサ電極１２１Ｙは１列ずつ走査され、ＡＤ変換部１３２は、１２行のセンサ電極１２１Ｘと２０列のセンサ電極１２１Ｙとの２４０個の交点における静電容量をデジタル値に変換し、カウンタ１３３は、ＡＤ変換部１３２の出力の変化分をカウントし、２４０個の交点における差分値ΔＡＤを出力する。以下では交点の座標を（ｉ，ｊ）で示す。ここでは、行ｉは１～１２であり、列ｊは１～２０である。

以上、本発明の例示的な実施形態の非接触入力装置について説明したが、本発明は、具体的に開示された実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲から逸脱することなく、種々の変形や変更が可能である。

１００ 電子機器
１００Ａ 非接触入力装置
１０５ 操作面
１１０ 表示装置
１２０ 静電センサ
１２１、１２１Ｘ、１２１Ｙ センサ電極
１２２、１２２Ｘ、１２２Ｙ 配線
１３０ 制御装置
１３１ 主制御部
１３２ ＡＤ変換部
１３３ カウンタ
１３４ 判定部
１３５ 動作制御部
１３６ 表示制御部
１３７ メモリ

Claims (22)

1. 操作部の操作面に対して非接触で操作入力を行う手の前記操作面への近接状態に応じた静電容量を検出する複数のセンサ電極と、
   前記複数のセンサ電極によって検出される静電容量に基づき、平面視で異なる複数の位置において尖鋭度を算出し、複数の前記尖鋭度に基づき前記操作入力の位置を判定する判定部と、
   を含み、
   前記複数のセンサ電極は、格子状に配置されており、
   前記判定部は、前記複数のセンサ電極の配置方向に沿った直線上における静電容量の逆数に基づき、カーブフィッティングして前記尖鋭度を算出し、
   前記判定部は、前記直線と平行な別の複数の直線上においても、前記各尖鋭度を算出する、非接触入力装置。
2. 前記判定部は、前記複数のセンサ電極の配置方向に沿った直線上における静電容量の逆数が最小値になる前記センサ電極を含む２ｎ＋１個の前記センサ電極の静電容量の逆数に基づき、前記カーブフィッティングして前記尖鋭度を算出する、請求項１に記載の非接触入力装置。
3. 前記判定部は、隣接する前記直線上における各静電容量の逆数の最小値を比較し、
   前記隣接する直線上における静電容量の逆数の所定倍より大きい静電容量の逆数に対応する位置を空間とみなす請求項２に記載の非接触入力装置。
4. 前記判定部は、前記各静電容量の逆数の最小値と近接判定閾値とを比較し、
   前記近接判定閾値より大きい静電容量の逆数に対応する位置を前記空間とみなす請求項３に記載の非接触入力装置。
5. 前記複数のセンサ電極の配置方向に沿った直線上における静電容量の逆数が最小値になる前記センサ電極が前記複数のセンサ電極の端からｎ個以上離れている場合には、
   前記判定部は、前記複数のセンサ電極の配置方向に沿った直線上における静電容量の逆数が最小値になる前記センサ電極と、当該センサ電極の両側ｎ個ずつの前記センサ電極との２ｎ＋１個の前記センサ電極の静電容量の逆数に基づき、カーブフィッティングして前記尖鋭度を算出し、
   前記複数のセンサ電極の配置方向に沿った直線上における静電容量の逆数が最小値になる前記センサ電極が前記複数のセンサ電極の端からｎ個以上離れていない場合には、
   前記判定部は、前記複数のセンサ電極の配置方向に沿った直線上における前記端から、２ｎ＋１個の前記センサ電極の静電容量の逆数に基づき、カーブフィッティングして前記尖鋭度を算出する、請求項２乃至４いずれかに記載の非接触入力装置。
6. 操作部の操作面に対して非接触で操作入力を行う手の前記操作面への近接状態に応じた静電容量を検出する複数のセンサ電極と、
   前記複数のセンサ電極によって検出される静電容量に基づき、平面視で異なる複数の位置において尖鋭度を算出し、複数の前記尖鋭度に基づき前記操作入力の位置を判定する判定部と、
   を含み、
   前記複数のセンサ電極は、格子状に配置されており、
   前記判定部は、前記複数のセンサ電極の配置方向に沿った直線上における静電容量に基づき、カーブフィッティングして前記尖鋭度を算出し、
   前記判定部は、前記直線と平行な別の複数の直線上においても、前記各尖鋭度を算出する、非接触入力装置。
7. 前記判定部は、前記複数のセンサ電極の配置方向に沿った直線上における静電容量が最大値になる前記センサ電極を含む２ｎ＋１個の前記センサ電極の静電容量に基づき、前記カーブフィッティングして前記尖鋭度を算出する、請求項６に記載の非接触入力装置。
8. 前記判定部は、隣接する直線上における各静電容量の最大値を比較し、
   前記隣接する直線上における静電容量の所定倍より小さい静電容量に対応する位置を空間とみなす請求項７に記載の非接触入力装置。
9. 前記判定部は、前記各静電容量の最大値と近接判定閾値を比較し、
   前記近接判定閾値より小さい静電容量に対応する位置を空間とみなす請求項８に記載の非接触入力装置。
10. 前記複数のセンサ電極の配置方向に沿った直線上における静電容量が最大値になる前記センサ電極が前記複数のセンサ電極の端からｎ個以上離れている場合には、
    前記判定部は、前記複数のセンサ電極の配置方向に沿った直線上における静電容量が最大値になる前記センサ電極と、当該センサ電極の両側ｎ個ずつの前記センサ電極との２ｎ＋１個の前記センサ電極の静電容量に基づき、カーブフィッティングして前記尖鋭度を算出し、
    前記複数のセンサ電極の配置方向に沿った直線上における静電容量が最大値になる前記センサ電極が端からｎ個以上離れていない場合には、
    前記判定部は、前記複数のセンサ電極の配置方向に沿った直線上における前記端から、２ｎ＋１個の前記センサ電極の静電容量に基づき、カーブフィッティングして前記尖鋭度を算出する、請求項７乃至９のいずれか１項に記載の非接触入力装置。
11. 前記判定部は、前記カーブフィッティングとして二次関数にフィッティングして、前記二次関数の二次の係数を前記尖鋭度として算出する、請求項１乃至１０いずれかに記載の非接触入力装置。
12. 前記判定部は、前記カーブフィッティングとして円にフィッティングして、前記円の曲率を前記尖鋭度として算出する、請求項１乃至１０のいずれかに記載の非接触入力装置。
13. 前記判定部が、前記尖鋭度の算出に用いる前記センサ電極の個数は、３個であることを特徴とする、請求項１乃至１２のいずれかに記載の非接触入力装置。
14. 前記判定部が、前記尖鋭度の算出に用いる前記センサ電極の個数は、５個以上であり、
    前記判定部は、最小二乗法で、前記カーブフィッティングして前記尖鋭度を算出することを特徴とする、請求項１乃至１２のいずれかに記載の非接触入力装置。
15. 前記複数のセンサ電極の配置方向に沿った直線上において、連続して隣り合う前記２ｎ＋１個の前記センサ電極が、１０ｍｍ以上、１００ｍｍ以下の長さに収まるように配列されている請求項２乃至５及び７乃至１０のいずれかに記載の非接触入力装置。
16. 前記判定部は、前記複数の尖鋭度のうち、最大の尖鋭度に対応する位置を前記操作入力の位置と判定する、請求項１乃至１５のいずれかに記載の非接触入力装置。
17. 前記判定部は、前記複数の尖鋭度のうち、指の尖鋭度を表す閾値以上の尖鋭度に対応する位置を前記指の位置と判定する、請求項１乃至１５のいずれかに記載の非接触入力装置。
18. 前記判定部は、前記複数の尖鋭度のうち、指の尖鋭度を表す閾値未満の尖鋭度に対応する位置を掌の位置と判定し、
    前記判定部は、前記掌の位置と反対側の前記指の先端の位置を、前記操作入力の位置と判定する請求項１７に記載の非接触入力装置。
19. 前記非接触入力装置は、表示装置と重ねて設けられ、
    前記判定部は、前記表示装置の横方向に沿った直線上において、前記尖鋭度を算出することを特徴とする請求項１乃至１８のいずれかに記載の非接触入力装置。
20. 前記判定部は、前記複数のセンサ電極のうち、前記静電容量が他より大きい所定数のセンサ電極の位置を最小二乗法により近似した直線を指方向とみなし、
    前記判定部は、前記尖鋭度の算出に用いる方向と、前記指方向と交わる角度が大きくなるように、前記尖鋭度を算出する方向を定めることを特徴とする請求項１乃至１８のいずれかに記載の非接触入力装置。
21. 前記複数のセンサ電極は、矩形の電極が並んで配置されている請求項１乃至２０のいずれかに記載の非接触入力装置。
22. 前記非接触入力装置は、直交する複数の配線を有し、
    前記配線の交差箇所によって、各前記センサ電極が形成される請求項１乃至２０のいずれかに記載の非接触入力装置。

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