JP7657447B2 - Beam forming device and measuring device - Google Patents
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 66
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 61
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 54
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 18
- 239000000463 material Substances 0.000 description 12
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 10
- 229910000530 Gallium indium arsenide Inorganic materials 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 5
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 5
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 5
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 5
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 4
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 3
- 229920001410 Microfiber Polymers 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 2
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 2
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 2
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 2
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 239000003658 microfiber Substances 0.000 description 2
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 2
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 229910000997 High-speed steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- VNTLIPZTSJSULJ-UHFFFAOYSA-N chromium molybdenum Chemical compound [Cr].[Mo] VNTLIPZTSJSULJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 239000000446 fuel Substances 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N lithium niobate Chemical compound [Li+].[O-][Nb](=O)=O GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012014 optical coherence tomography Methods 0.000 description 1
- 239000005304 optical glass Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
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Description
特許法第30条第2項適用 (1)2020年5月11日に、ウェブサイトのアドレス https://www.osapublishing.org/abstract.cfm?uri=CLEO_AT-2020-AF3M.2、にて発表 (2)2020年5月15日に、CLEO2020会議(https://event.crowdcompass.com/cleo20)のオンライン会議で、発表番号AF3M-2として発表Application of
本発明は、投光用のビーム形成装置及びこれを組み込んだ計測装置に関し、特にベッセルガウスビームを形成するビーム形成装置等に関する。 The present invention relates to a beam forming device for projecting light and a measurement device incorporating the same, and in particular to a beam forming device that forms a Bessel Gauss beam.
ビーム形成すなわちビームフォーミングは、3次元計測やレーザ加工等の分野における基盤技術である。レーザスキャニングに基づく3次元計測では、縦横の空間分解能はビーム径で決定される。従来のビームフォーミング技術では、この縦横の空間分解能とビーム伝搬距離との間にトレードオフが存在していた。例えば、3次元レーザスキャニングでは、コリメート光が用いられてきた。このようなコリメート光のビーム径は、一般的にセンチメートルのオーダであり、縦横の空間分解能はこれに制限されており、高精細な3次元計測が難しい。一方、光干渉断層計のようなレーザスキャナでは、集光系が用いられており、ビーム径は1mm以下であるが、焦点深度(伝搬距離)はセンチメートルのオーダである。ビームフォーミングにおけるこのようなトレードオフはレーザ加工でも問題になっている。例えば、シリコンや金属への穴開けで、射出側の集光系によって穴のサイズを小さくするとアスペクト比が低下し、アスペクト比を上げようとすると穴のサイズが大きくなる。 Beam forming is a fundamental technology in the fields of three-dimensional measurement and laser processing. In three-dimensional measurement based on laser scanning, the vertical and horizontal spatial resolution is determined by the beam diameter. In conventional beam forming technology, there was a trade-off between the vertical and horizontal spatial resolution and the beam propagation distance. For example, collimated light has been used in three-dimensional laser scanning. The beam diameter of such collimated light is generally on the order of centimeters, and the vertical and horizontal spatial resolution is limited to this, making high-precision three-dimensional measurement difficult. On the other hand, laser scanners such as optical coherence tomography use a focusing system, and although the beam diameter is 1 mm or less, the focal depth (propagation distance) is on the order of centimeters. This trade-off in beam forming is also a problem in laser processing. For example, when drilling a hole in silicon or metal, if the hole size is reduced by the focusing system on the exit side, the aspect ratio decreases, and if the aspect ratio is increased, the hole size increases.
光溶接用の光加工装置として、光ファイバの端部から射出させた光を、アキシコンと2つのコリメータレンズとに順次入射させることにより、対象箇所にリング状に集光させるものが公知となっている(特許文献1)。また、レーザ顕微鏡に用いられるビーム発生装置として、コリメート光をアキシコンを付随させた光ファイバの一端に入射させ、光ファイバの平坦な他端から射出された光を対物レンズを介して試料に入射させるものが公知となっている(特許文献2)。さらに、光ファイバ増幅器のモード変換器として、光ファイバ増幅器の出力部に組み込まれ、ファイバ端に対向するアキシコンと、高発散光を除去するレンズ及び絞りとを備えるものが公知となっている(特許文献3)。 A known optical processing device for optical welding focuses light emitted from the end of an optical fiber into a ring shape at a target location by sequentially making the light incident on an axicon and two collimator lenses (Patent Document 1). A known beam generating device for use in a laser microscope makes collimated light incident on one end of an optical fiber with an axicon attached, and makes the light emitted from the other flat end of the optical fiber incident on a sample via an objective lens (Patent Document 2). A known mode converter for an optical fiber amplifier is also known, which is incorporated in the output section of the optical fiber amplifier and includes an axicon facing the fiber end, and a lens and an aperture for removing highly divergent light (Patent Document 3).
特許文献1の光学系は、光をリング状に集束させるものであり、加工箇所の奥行きが浅い。特許文献2の光学系は、光ファイバの他端に近接した箇所を照明するものである。特許文献3の光学系は、回折限界ビームを形成するものである。
The optical system in
本発明は、上記背景技術に鑑みてなされたものであり、レーザビームフォーミングにおけるトレードオフ問題への対処、すなわちビーム径を細く保って伝搬距離を長くすることを目的とする。 The present invention was made in consideration of the above background technology, and aims to address the trade-off problem in laser beam forming, i.e., to keep the beam diameter narrow while increasing the propagation distance.
本発明の一側面における投光用のビーム形成装置は、レーザ光を伝搬させ、コア端から光を射出する端部を有する光ファイバと、出射端に配置され、光ファイバのコア端から射出された発散光を受けて円錐面から射出させることによって、ベッセルガウスビームを形成するアキシコンとを備える。ここで、発散光は、実際の点又は仮想的な点から所定の広がり角で射出されるものを意味する。 The beam forming device for light projection according to one aspect of the present invention comprises an optical fiber having an end that propagates laser light and emits light from the core end, and an axicon that is disposed at the emission end and receives divergent light emitted from the core end of the optical fiber and emits it from a conical surface to form a Bessel-Gauss beam. Here, divergent light means light emitted from an actual or virtual point at a predetermined divergence angle.
上記ビーム形成装置では、出射端に配置されたアキシコンの前方にベッセルガウスビームである投光用ビームが生成される。アキシコンの前方に生成される投光用ビームの直径は、レンズ径に依存する径を有するコリメート光より小さくすることができ、伝搬距離は集光系ビームの焦点深度より長くすることができる。このビーム形成装置は、光ファイバのコア端から射出された発散光をアキシコンに入射させるだけの基本構造からなり、極めて簡易な構成でこのようなビームフォーミングを実現できる。これにより、3次元レーザスキャニングでは長距離に渡って高精細な3次元計測が可能になり、レーザ加工の分野では、極細かつ高アスペクト比の穴開けが可能となる。 In the above beam forming device, a projection beam, which is a Bessel Gauss beam, is generated in front of an axicon placed at the output end. The diameter of the projection beam generated in front of the axicon can be made smaller than that of collimated light, which has a diameter that depends on the lens diameter, and the propagation distance can be made longer than the focal depth of the focusing system beam. This beam forming device has a basic structure that simply causes divergent light emitted from the core end of the optical fiber to enter the axicon, and can achieve such beam forming with an extremely simple configuration. This enables high-precision three-dimensional measurements over long distances in three-dimensional laser scanning, and makes it possible to drill extremely thin holes with high aspect ratios in the field of laser processing.
本発明の具体的な側面において、アキシコンは、光ファイバのコア端から射出された発散光が入射する平面を有する。 In a specific aspect of the present invention, the axicon has a plane on which the divergent light emitted from the core end of the optical fiber is incident.
本発明の別の側面において、光ファイバのコア端から射出された発散光は、アキシコンの平面にすべて入射する。この場合、光のロスを低減することができる。 In another aspect of the present invention, all of the divergent light emitted from the core end of the optical fiber is incident on the plane of the axicon. In this case, light loss can be reduced.
本発明の別の側面において、光ファイバのコア端とアキシコンの平面との間に配置される光学素子を含む。この場合、アキシコンに入射する光の状態を調整することができる。なお、光ファイバのコア端とアキシコンの平面との間には、光学素子を配置しなくてもよい。 In another aspect of the present invention, an optical element is disposed between the core end of the optical fiber and the plane of the axicon. In this case, the state of light entering the axicon can be adjusted. Note that it is not necessary to dispose an optical element between the core end of the optical fiber and the plane of the axicon.
本発明の別の側面において、光学素子は、平行平板及びレンズのいずれかである。 In another aspect of the present invention, the optical element is either a parallel plate or a lens.
本発明の別の側面において、光ファイバの射出軸は、アキシコンの対称軸と一致する。この場合、投光用ビームの乱れを低減してビーム径の増加を抑えつつ伝搬距離を長くすることができる。 In another aspect of the present invention, the exit axis of the optical fiber coincides with the axis of symmetry of the axicon. In this case, it is possible to reduce the disturbance of the projection beam and increase the propagation distance while suppressing an increase in the beam diameter.
本発明の別の側面において、アキシコンのウェッジ角は、0.1度以上10度以下である。アキシコンのウェッジ角は、投光用ビームの伝搬距離に影響する。 In another aspect of the present invention, the wedge angle of the axicon is greater than or equal to 0.1 degrees and less than or equal to 10 degrees. The wedge angle of the axicon affects the propagation distance of the projection beam.
本発明の別の側面において、アキシコンの円錐面は、平凸型又はフレネル型で形成することができる。平凸型の場合、回折の影響が生じにくく同心円状の線が入ることもない。フレネル型の場合、アキシコンの厚みを低減し、アキシコンを軽量化することができる。 In another aspect of the present invention, the conical surface of the axicon can be formed as a plano-convex or Fresnel type. In the case of a plano-convex type, the effects of diffraction are less likely to occur and concentric lines do not appear. In the case of a Fresnel type, the thickness of the axicon can be reduced, making the axicon lighter.
本発明の別の側面において、光ファイバの端部は、フェルールに支持されている。この場合、光ファイバの端部をアキシコンに対して高精度にアライメントして配置することが容易になる。また、市販の光ファイバを転用することができ、簡素な構成を実現することができる。 In another aspect of the present invention, the end of the optical fiber is supported by a ferrule. In this case, it is easy to align the end of the optical fiber with high precision relative to the axicon. In addition, a commercially available optical fiber can be used, and a simple configuration can be achieved.
本発明の一側面における計測装置は、強度変調されたレーザ光を出力する光源と、光源からのレーザ光を光ファイバの入射側の端部で受ける上述したビーム形成装置と、ビーム形成装置によって対象に照射され対象から反射された反射光を検出する光検出装置と、光検出装置による反射光の検出タイミングと光源からのレーザ光の出力タイミングとから対象までの距離を決定する信号処理装置とを備える。 A measurement device according to one aspect of the present invention includes a light source that outputs intensity-modulated laser light, the above-mentioned beam forming device that receives the laser light from the light source at the incident end of the optical fiber, a light detection device that detects the reflected light that is irradiated onto the target by the beam forming device and reflected from the target, and a signal processing device that determines the distance to the target from the timing of detection of the reflected light by the light detection device and the timing of output of the laser light from the light source.
上記計測装置では、上述したビーム形成装置を用いており、長距離に亘って高精細な3次元計測を実現することができる。 The above measurement device uses the beam forming device described above, making it possible to achieve high-precision three-dimensional measurements over long distances.
〔第1実施形態〕
以下、図1等を参照して、本発明の第1実施形態に係る投光用のビーム形成装置について説明する。
First Embodiment
Hereinafter, a beam forming device for light projection according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
図1(A)に示すように、ビーム形成装置100は、光源10と、光ファイバ20と、アキシコン30とを備える。
As shown in FIG. 1A, the
光源10は、光ファイバ20の入射端部21aにレーザ光を供給する。光源10は、省略可能であり、光源10を省略したもの、つまり光ファイバ20及びアキシコン30を組み合わせたものも、ビーム形成装置100と呼ぶ。光源10は、固体レーザ、気体レーザ、半導体レーザ等を含む各種レーザ装置及びその駆動回路で構成されるが、これらに限るものではなく、レーザ光を発生する様々な装置とすることができる。光源10は、用途に応じた様々な波長のレーザ光を発生することができ、例えば連続光やパルス光を発生する。光源10は、所定の広がりを有する波長帯域内で2以上の波長のレーザ光を発生するものであってもよい。光ファイバ20は、光源10が発生するレーザ光を低損失で伝搬させるものであり、光源10が発生するレーザ光の波長に応じた伝搬特性を有するものが選択される。光ファイバ20は、シングルモードファイバに限らず、マルチモードファイバであってもよい。なお、光源10の出力部(不図示)と光ファイバ20の入射端部21aとは、不図示の光コネクタによって接続されている。
The
図1(B)を参照して、光ファイバ20は、市販の光ファイバを転用したものであり、被覆された光ファイバコード21からなる。光ファイバ20の出射端部21bは、フェルール25に支持されている。光ファイバ20の出射端部21bにおいて、ファイバ本体22は、シースを除いた状態でフェルール25に設けられた挿通孔25aに通されて端面22eを露出させ、コア端面22bを形成している。コア端面22bは、コア22aの端、すなわちコア端に相当する。コア端面22bには反射防止膜が形成されているが、反射防止膜は必須のものではない。また、コア端面22bは、射出軸に対して傾斜したものであってもよい。
Referring to FIG. 1B, the
図1(A)に戻って、アキシコン30は、光ファイバ20のコア端面22bから射出された発散光L1を受けて射出面30bから射出させることによって、ベッセルガウスビームである投光用ビームBPを形成する。アキシコン30は、例えば屈折率約1.33~1.50のガラス、樹脂等で形成され、入射面30aが平面で、射出面30bが凸の円錐面となっている。つまり、アキシコン30は、平凸型である。入射面30aや射出面30bには反射防止膜が形成されている。光ファイバ20のコア端面22bから射出された発散光L1は、アキシコン30の平面つまり入射面30aにすべて入射する。これにより、発散光L1のロスが低減される。アキシコン30は、ホルダ32を有し、ホルダ32に対して光ファイバ20のフェルール25が固定される。フェルール25を利用することにより、光ファイバ20の出射端部21bをアキシコン30に対して高精度にアライメントして配置することが容易になる。アキシコン30は、ビーム形成装置100の出射端35に配置され、アキシコン30の前方に投光用ビームBPが形成される。アキシコン30のウェッジ角αは、5度程度としている。また、光ファイバ20の出射端部21b(つまりコア端面22b)を通る光軸AXがアキシコン30の対称軸と一致しており、光ファイバ20の射出軸EXとも一致している。光ファイバ20の出射端部21bを通る光軸AXをアキシコン30の対称軸と一致させることにより、投光用ビームBPの乱れを低減してビーム径の増加を抑えつつ伝搬距離を長くすることができる。
Returning to FIG. 1A, the
アキシコン30の材料について詳細に説明する。アキシコン30の材料として、光学ガラス素材であるBK7を用いることができ、BK7は、波長1550nmにおいて屈折率が1.5である。アキシコン30の材料として、合成石英を用いることができ、合成石英は、波長1550nmにおいて屈折率が1.444である。アキシコン30の材料として、アモルファスフッ素樹脂の一種であるAGC社のCYTOP(登録商標)を用いることができ、CYTOPは、波長1550nmにおいて屈折率が1.3335である。アキシコン30の材料として、アクリル樹脂であるPMMAを用いることができ、PMMAは、波長1550nmにおいて屈折率が例えば1.47であるが、同じPMMAであっても屈折率1.4台の様々な材料が存在する。アキシコン30の材料として、OPTEM社の紫外線硬化樹脂1.36RCMを用いることができ、1.36RCMは波長1550nmにおいて屈折率が1.36であるが、同じ紫外線硬化樹脂であっても屈折率1.3台の様々な材料が存在する。アキシコン30の材料として、光造形型3Dプリンタなどで応用される紫外線硬化樹脂を用いることができ(例えばhttps://www.researchgate.net/publication/221925173_Fabrication_and_Applications_of_Microfiber/figures?lo=1参照)、この紫外線硬化樹脂は、波長1550nmにおいて屈折率が1.36である。アキシコン30の製造に用いることができる樹脂として、波長1550nmにおいて屈折率が1.36のものもある(Zhang, Xueliang, et al. "Compact optical microfiber phase modulator." Optics letters 37.3 (2012): 320-322.参照)。
The material of the
図2(A)は、アキシコン30から射出される投光用ビームBPを説明する概念図であり、図2(B)は、アキシコン30に代えて非球面の集光レンズ3を用いた場合の投光用ビームBDを説明する概念図である。図2(A)に示すように、アキシコン30を用いた投光用ビームBPの場合、光軸AXの近くに細いビーム径の強い中央ピーク(メインローブ)が形成され、その外側に等間隔で環状の複数の弱い周辺ピーク(サイドローブ)が生成される。中央ピークは、光軸AXに沿って長く延び、焦点深度に相当する伝搬距離が長くなっている。一方、集光レンズ3を用いた投光用ビームBDの場合、光軸AXの近くに細いビーム径の強い中央ピークが形成されるが、光軸AXに沿った焦点位置に集中し、焦点深度によって制限された距離領域でしか利用できないことがわかる。
Figure 2(A) is a conceptual diagram explaining the projection beam BP emitted from the
図3(A)は、コリメート光を入射させた場合にアキシコン30によって形成される投光用ビームBPについて説明する図である。アキシコン30には、ガウシャンビームが入射し、アキシコン30からは、投光用ビームBPとしてベッセルガウスビームが射出される。ベッセルガウスビームは、以下の式によって表される。
J0: 第0次の第1種ベッセル関数
ω0: ビーム半径
n: アキシコンの屈折率
α: アキシコンのウェッジ角
k: 波数
I0: 入射パワー
z: 伝搬距離
r: 半径距離
3A is a diagram for explaining a projecting beam BP formed by the
J 0 : 0th order Bessel function of the first kind ω 0 : Beam radius n : Refractive index of the axicon α : Wedge angle of the axicon k : Wave number I 0 : Incident power z : Propagation distance r : Radial distance
図3(B)は、ベッセルガウスビームと他の種類のビームとを対比する概念図である。グラフ上の領域AR01は、n=1であり、ガウシャンビームに相当する。また、グラフ上の領域AR02は、ω0=∞であり、ベッセルビームに相当する。さらに、グラフ上の点状領域AR00は、n=1かつω0=∞であり、平面波に相当する。実施形態のビーム形成装置100によって形成される投光用ビームBPは、ベッセルガウスビームであり、n≠1かつω0≠∞であり、微小ドットで示す領域AR1に含まれるものである。
3B is a conceptual diagram comparing a Bessel Gauss beam with other types of beams. The area AR01 on the graph is n=1, and corresponds to a Gaussian beam. The area AR02 on the graph is ω 0 =∞, and corresponds to a Bessel beam. Furthermore, the dotted area AR00 on the graph is n=1 and ω 0 =∞, and corresponds to a plane wave. The projector beam BP formed by the
図3(A)では、説明の便宜上、アキシコン30にコリメート光が入射するとしている。本実施形態において、光ファイバ20の出射端部21bからの発散光L1をアキシコン30の入射面30aに直接入射させている。本実施形態の場合、コリメートレンズを省略し、アキシコン30にコリメートレンズの機能を持たせているとみることもできる。このような構成を採用する理由について説明する。ベッセルガウスビームの伝搬距離zは、ω0/((n-1)・tan(α))、近似的にはω0/((n-1)・α)で与えられ、アキシコン30のウェッジ角αを小さくすることで伸ばすことができる。しかし、微小なウェッジ角αを有するアキシコン30を作製するには多くの労力とコストが必要である。一方、光ファイバ20のコア端面22bから射出された発散光L1は、光軸AXから離れるほど減光するが、点光源に近いものであり、一様性が高い。そこで、実施形態のビーム形成装置100では、光ファイバ20と凸のアキシコン30とを組み合わせる構成、すなわち光ファイバ20のコア端面22bから射出された発散光L1を凸のアキシコン30に入射させる構成とする。より詳細に説明すると、本ビーム形成装置100では、光ファイバ20に発散光L1を発生させる負のパワーのレンズ効果を持たせ、アキシコン30の射出面30bに収束機能を持たせるという複レンズ構成により、光ファイバ20による空間的発散とアキシコン30による空間的収束とを互いに打ち消し合うように調整し、残留成分がわずかに収束するようにする。これにより、伝搬距離の長いベッセルガウスビームを生成することができる。具体的な作製例では、アキシコン30として平凸アキシコンレンズ(コニカルレンズ)を用い、ウェッジ角αを5度としている。これにより、2m程度の伝搬距離を確保することができることを実験的に確認した。なお、コリメート光を平凸アキシコンレンズに入射させて2m程度の伝搬距離を確保しようとした場合、平凸アキシコンレンズのウェッジ角は、0.1度程度と非常に小さくする必要があり、平凸アキシコンレンズが極めて高価なものとなる。
In FIG. 3A, for convenience of explanation, it is assumed that collimated light is incident on the
図4は、光ファイバ20のコア端面22bからの発散光L1をウェッジ角が大きく比較的強い収束性を持たせた平凸タイプのアキシコン30に入射させた場合の投光用ビームBPについて説明する図である。投光用ビームBPは、コリメート光を用いた図3(A)の場合と同様に、ベッセルガウスビームとなっている。投光用ビームBPのうちメインローブBPaが計測等に用いられる。
Figure 4 is a diagram explaining the projector beam BP when divergent light L1 from the
図5(A)~5(F)及び6(A)~6(F)は、ビーム形成装置100によって形成される投光用ビームBPすなわちベッセルガウスビームの光軸断面の映像と、ベッセルガウスビームの光軸垂直方向の強度分布とを示す。光軸断面の映像は、InGaAsカメラで投光用ビームBPを撮影したものであり、光軸垂直方向の強度分布は、走査スリット型のビームプロファイラによって計測したものである。計測において、光源10として波長1531.8nmの光を発生する半導体レーザを用い、アキシコン30の直径を1インチとしウェッジ角αを5度とした。図5(A)及び5(B)は、アキシコン30の頂点からInGaAsカメラ等の計測点までの距離が10cmである場合を示し、図5(C)及び5(D)は、アキシコン30の頂点からInGaAsカメラ等の計測点までの距離が25cmである場合を示し、図5(E)及び5(F)は、アキシコン30の頂点からInGaAsカメラ等の計測点までの距離が50cmである場合を示す。図6(A)及び6(B)は、アキシコン30の頂点からInGaAsカメラ等の計測点までの距離が100cmである場合を示し、図6(C)及び6(D)は、アキシコン30の頂点からInGaAsカメラ等の計測点までの距離が150cmである場合を示し、図6(E)及び6(F)は、アキシコン30の頂点からInGaAsカメラ等の計測点までの距離が200cmである場合を示す。
Figures 5(A) to 5(F) and 6(A) to 6(F) show an image of the optical axis cross section of the projector beam BP, i.e., the Bessel Gauss beam, formed by the
例えば、アキシコン30の頂点からInGaAsカメラ等の計測点までの距離が50cmである場合、投光用ビームBPのメインローブ(すなわち中央ピーク)の幅は300μmより狭く、距離が200cmである場合、投光用ビームBPのメインローブの幅は1mmより狭いものとなっている。つまり、200cm先でも投光用ビームBPの直径を1mm以下に抑えることができ、横方向に関する位置分解能をかなり高くすることができることがわかる。
For example, when the distance from the apex of the
図1(A)に示すビーム形成装置100は、レーザ加工に適用することができる。上記実施形態の距離計測装置200は、例えば、光源10を適宜選択することにより極細・高アスペクト比の穴加工に用いることができる。穴加工には多くのニーズがあり、対象となる材質にも様々である。例えば、エンジンの燃料噴射ノズルでは耐熱性に優れるクロムモリブデン鋼や高速度鋼、化繊製造用ノズルでは耐食性に優れるステンレス鋼、微小流路の作製では透明性や耐食性に優れるガラス、冷間成形や引抜き金型では超硬合金、半導体用の貫通配線ではシリコンウエハが挙げられる。
The
図7は、図1(A)に示すビーム形成装置100を適宜変更して組み込んだ距離計測装置200を説明するブロック図である。距離計測装置200は、光源装置71と、ビーム形成装置72と、光検出装置74と、波形比較装置75と、信号処理装置78とを備える。
Figure 7 is a block diagram illustrating a
光源装置71は、レーザダイオード71aと、強度変調器71bと、光増幅器71cと、信号発生器71dとを備える。レーザダイオード71aは、発光源であり、例えば波長1531.8nmのレーザ光を射出する。強度変調器71bは、例えばニオブ酸リチウム結晶を利用した光変調器であり、信号発生器71dから出力信号を受けてレーザ光の透過率を調整することによって強度変調を行う。レーザ光の強度変調は、サイン波型であり、例えば150MHz、300MHz、…といった周波数が用いられた。光増幅器71cは、例えばファイバ増幅器であり、詳細な説明を省略するが、エルビウムがドープされたファイバ増幅部と、励起光源と、励起光源からの光をファイバ増幅部に導くカプラとを有する。信号発生器71dは、サイン波を含む任意の波形の駆動信号を形成する電気回路である。
The
ビーム形成装置72は、図1(A)に示すビーム形成装置100のうち光ファイバ20とアキシコン30とを組み合わせたものである。ビーム形成装置72は、光源装置71から出力された変調光を、アキシコン30の前方に計測用ビームBMとして投光する。計測用ビームBMは、ベッセルガウスビームであり、細いビーム径のままで数m以上の遠方まで到達させることができる。計測用ビームBMは、上記のようにサイン波型の強度変調を受けたものとなっている。
The
光検出装置74は、受光光学系74aと、光増幅器74bと、光選択部74cと、フォトダイオード74dとを備える。受光光学系74aは、集光レンズからなり、対象OBからの反射光RLを取り込んで光増幅器74bのファイバ端に集光させ結合させる。光増幅器74bは、光源装置71の光増幅器71cと同様のものである。光選択部74cは、計測用ビームBMの波長に対応する波長成分を選択的に透過させる。光選択部74cによりバックグラウンドノイズや光増幅器74bからの不要光が除去される。フォトダイオード74dは、光増幅器74bで増幅され光選択部74cを通過した反射光RLを検出し、反射光RLの強度に対応するサイン波型の計測信号を出力する。
The
波形比較装置75は、光源装置71の信号発生器71dが発生する駆動信号を信号分岐部71pから取り込み、光検出装置74のフォトダイオード74dが検出した計測信号を取り込む。波形比較装置75は、光源装置71の信号発生器71dが発生する駆動信号と、光検出装置74のフォトダイオード74dが検出した計測信号とを対比し、駆動信号及び計測信号の位相差を決定する。駆動信号及び計測信号の位相差は、計測用ビームBMの透光の出力タイミングと、反射光RLの受光の検出タイミングとの差に相当し、距離計測装置200から対象OBまでの距離に関する情報を与える。
The
信号処理装置78は、コンピュータその他の演算処理部を含み、波形比較装置75によって決定された駆動信号及び計測信号の位相差に基づいて、距離計測装置200から対象OBまでの距離を決定する。信号処理装置78は、波形比較装置75の動作だけでなく、レーザダイオード71a、信号発生器71d等の動作を管理している。
The
図8(A)は、信号発生器71dを300MHzで動作させて実際に距離計測を行った結果を示すチャートである。ここで、所定サイズの対象OBを光軸AX方向に移動させながら実際の距離を設定しつつ、距離計測装置200によって計測された距離をプロットしている。図8(B)は、信号発生器71dを150MHzで動作させて距離計測を行った結果を示すチャートである。強度変調型の計測用ビームBMによって正確な距離測定が可能であることがわかる。
Figure 8 (A) is a chart showing the results of an actual distance measurement performed by operating the
図9(A)は、アキシコン30の屈折率とアキシコン30によって形成されるメインローブの直径との関係を例示するチャートであり、図9(B)は、アキシコン30の屈折率とアキシコン30によって達成される焦点深度との関係を例示するチャートである。上記チャートは、アキシコン30にビーム半径がr(=1,2,5,10,20mm)のコリメート光を入射させた場合のシミュレーションに基づくものであるが、アキシコン30に発散光を入射させた場合も、アキシコン30の屈折率に応じて、光線の状態に同様の傾向が生じると考えられる。つまり、アキシコン30の屈折率が低いほど焦点深度すなわち伝搬距離を長くできることがわかる。
Figure 9 (A) is a chart illustrating the relationship between the refractive index of the
図9(C)は、アキシコン30のウェッジ角度とアキシコン30によって形成されるメインローブの直径との関係を例示するチャートであり、図9(D)は、アキシコン30のウェッジ角とアキシコン30によって達成される焦点深度との関係を例示するチャートである。この場合も、アキシコン30にビーム半径がrのコリメート光を入射させた場合を想定している。図1に示すように発散光がアキシコン30に入射する場合、アキシコン30は、発散光の発散を相殺する基本ウェッジ角度(例えば6度~10度程度)に対して、若干の集束機能を付加する微小な追加ウェッジ角度(例えば1度程度)を加算したようなものであると考えることができる。この場合、上記微小な追加ウェッジ角度は、コリメート光に対する図9(C)及び9(D)のウェッジ角に相当する。つまり、追加ウェッジ角度を1度程度以下とし、0度に近づけることで、焦点深度すなわち伝搬距離を長くできることがわかる。
Figure 9(C) is a chart illustrating the relationship between the wedge angle of the
図10は、図7に示す距離計測装置200を変形した距離計測装置200を示す。この場合、透過性を有する合波分岐ミラー81と、走査用ミラー82とを追加し、3次元計測を可能にしている。合波分岐ミラー81は、計測用ビームBMの光路と反射光RLの光路とを共通化するものであり、走査用ミラー82は、計測用ビームBMを反射する際に偏角を変化させ、投射方位を調整する。走査用ミラー82は、詳細な説明を省略するが、駆動機構83によって直交する2軸に関して姿勢が制御されており、信号処理装置78は、走査用ミラー82の姿勢を角度情報として管理している。距離計測装置200は、3次元計測を可能にする。
Figure 10 shows a
図10に示す距離計測装置200は、工業製品の外観検査に用いられる3次元レーザスキャナへの適用が考えられる。物体形状測定は多種の分野に需要があり、鋳型の形状測定、加工製品の外観検査、プリント基板上の半田形状検査等に応用されている。これまでのレーザスキャナでは、コリメート光若しくは集束光が用いられてきた。前者を用いたレーザスキャナは、測定距離が長いが縦横分解能が劣る。後者を用いたレーザスキャナは、縦横分解能100μmであるが測定距離は1cm程度である。上記実施形態の距離計測装置200は、中距離(具体的には数m)で1mm以下の縦横分解能を実現することができ、例えば工場の生産ラインで部品の高精細な外観検査に応用することができる。これまで、部品表面の細かい傷、ひび割れ等の検査は、技術者の触感や視覚により行われてきたが、上記実施形態の距離計測装置200の実用化により、スマートファクトリの実現に拍車をかけることが期待できる。
The
以上で説明した第1実施形態のビーム形成装置100は、レーザ光を伝搬させ、コア端面22bから光を射出する出射端部21bを有する光ファイバ20と、出射端35に配置され、光ファイバ20のコア端面22bから射出された発散光L1を受けて円錐面である射出面30bから射出させることによって、ベッセルガウスビームである投光用ビームBP又は計測用ビームBMを形成するアキシコン30とを備える。
The
上記ビーム形成装置100では、アキシコン30の前方にベッセルガウスビームである投光用ビームBPが生成される。アキシコン30の前方に生成される投光用ビームBPの直径は、レンズ径に依存する径を有するコリメート光より小さくすることができ、伝搬距離は集光系ビームの焦点深度より長くすることができる。このビーム形成装置100は、光ファイバ20のコア端面22bから射出された発散光L1をアキシコン30に入射させるだけの基本構造からなり、極めて簡易な構成でこのようなビームフォーミングを実現できる。これにより、3次元レーザスキャニングでは長距離に渡って高精細な3次元計測が可能になり、レーザ加工の分野では、極細かつ高アスペクト比の穴開けが可能となる。
In the
〔第2実施形態〕
以下、第2実施形態に係るビーム形成装置について説明する。なお、第2実施形態のビーム形成装置は、第1実施形態のビーム形成装置を部分的に変更したものであり、共通部分については説明を省略する。
Second Embodiment
The beam forming apparatus according to the second embodiment will be described below. Note that the beam forming apparatus according to the second embodiment is a partial modification of the beam forming apparatus according to the first embodiment, and a description of the common parts will be omitted.
図11を参照して、第2実施形態のビーム形成装置2100は、光ファイバ20とアキシコン30との間に、光学素子41,42を配置したものとなっている。光学素子41は、ロッド状の光透過部材であり、光学素子42は、平行平板状の光透過部材である。光学素子41は、例えば石英で形成され、光ファイバ20の出射端部21bの端面22eに融着させて一体化させることができる。光学素子42は、例えばガラスや樹脂で形成され、光学素子41の出射面41bとアキシコン30の入射面30aとに挟まれてこれらに接合されている。光ファイバ20とアキシコン30との間に光学素子41,42を配置することで、光ファイバ20の出射端部21bから射出される光の発散角を抑制又は調整することができる。また、光学素子41,42を配置することで、反射光を生じさせる光学面を減らすことができ、反射防止膜を加工する工程を不要とし、反射防止膜による損失を低減することができる。2つの光学素子41,42は、別部材でなく、単一材料からなる一体の部材とすることができる。また、2つの光学素子41,42の一方を省略することもできる。
Referring to FIG. 11, the
図12(A)は、図11に示すビーム形成装置2100の変形例を説明する図であり、光学素子41,42に代えて凹レンズ45が配置されている。また、図12(B)は、別の変形例を説明する図であり、光学素子41,42に代えて凸レンズ46が配置されている。この場合、アキシコン30の射出面30bは、凸レンズ46の屈折力によるが、凸の円錐面に限らず、凹の円錐面とすることもできる。凹レンズ45や凸レンズ46は、着脱可能に配置され、アキシコン30によって形成されるベッセルガウスビームのビームサイズや伝搬距離を調整可能にする。
Figure 12 (A) is a diagram explaining a modified example of the
なお、アキシコン30については、実効的なウェッジ角度を可変とすることができる光学装置に置き換えることができる(欧州特許公開第2194404号参照)。このような光学装置を用いることで、アキシコン30から射出させるベッセルガウスビームの収束作用を可変にすることができる。
The
〔第3実施形態〕
以下、第3実施形態に係るビーム形成装置について説明する。なお、第3実施形態のビーム形成装置は、第1実施形態のビーム形成装置を部分的に変更したものであり、共通部分については説明を省略する。
Third Embodiment
The beam forming apparatus according to the third embodiment will be described below. Note that the beam forming apparatus according to the third embodiment is a partial modification of the beam forming apparatus according to the first embodiment, and a description of common parts will be omitted.
図13を参照して、第3実施形態のビーム形成装置3100において、アキシコン30の射出面130bは、フレネル型の光学面であり、図1(A)に示す射出面30bと同等の円錐面として機能を有する。アキシコン30の射出面130bをフレネル面とすることで、アキシコン30を薄型で軽量とすることができる。
Referring to FIG. 13, in the
〔変形例その他〕
本発明は、上記実施形態に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において実施することが可能であり、例えば次のような変形も可能である。
[Variations and Others]
The present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be implemented within the scope of the present invention without departing from the spirit and scope of the present invention. For example, the following modifications are also possible.
例えば、図10に示す距離計測装置200において、光源装置71は、波長掃引型のパルス発生装置に置き換えることができ、ビーム形成装置72の出力段に回折素子のような空間分散装置を配置することができる。この場合、走査用ミラー82を省略し、或いは走査用ミラー82の回転軸を減らすことができる。
For example, in the
図7において、光源装置71、光検出装置74、波形比較装置75等は単なる例示であり、様々な要素によって代替することができる。
In FIG. 7, the
アキシコン30のウェッジ角αは、ビーム径を絞りつつ伝搬距離を確保する観点で、0.1度以上10度以下としているが、10度から40度といった範囲に設定することもできる。
The wedge angle α of the
10…光源、 20…光ファイバ、 21…光ファイバコード、 21a…入射端部、 21b…出射端部、 22…ファイバ本体、 22a…コア、 22b…コア端面、 25…フェルール、 25a…挿通孔、 30…アキシコン、 30a…入射面、 30b…射出面、 32…ホルダ、 35…出射端、 71…光源装置、 71a…レーザダイオード、 71b…強度変調器、 71c…光増幅器、 71d…信号発生器、 71p…信号分岐部、 72…ビーム形成装置、 74…光検出装置、 74a…受光光学系、 74b…光増幅器、 74c…光選択部、 74d…フォトダイオード、 75…波形比較装置、 78…信号処理装置、 81…合波分岐ミラー、 82…走査用ミラー、 83…駆動機構、 100…ビーム形成装置、 200…距離計測装置、 AX…光軸、 BD…投光用ビーム、 BM…計測用ビーム、 EX…射出軸、 L1…発散光、 RL…反射光 10...light source, 20...optical fiber, 21...optical fiber cord, 21a...entrance end, 21b...exit end, 22...fiber body, 22a...core, 22b...core end face, 25...ferrule, 25a...insertion hole, 30...axicon, 30a...entrance surface, 30b...exit surface, 32...holder, 35...exit end, 71...light source device, 71a...laser diode, 71b...intensity modulator, 71c...optical amplifier, 71d...signal generator, 71p...signal branching section, 72...beam forming device, 74...optical detection device, 74a...light receiving optical system, 74b...optical amplifier, 74c...light selection section, 74d...photodiode, 75...waveform comparison device, 78...signal processing device, 81...wave-combining/branching mirror, 82...scanning mirror, 83...driving mechanism, 100...beam forming device, 200...distance measuring device, AX...optical axis, BD...projection beam, BM...measurement beam, EX...emission axis, L1...divergent light, RL...reflected light
Claims (8)
出射端に配置され、前記光ファイバの前記コア端から射出された発散光を受けて円錐面から射出させることによって、投光用のベッセルガウスビームを形成するアキシコンとを備え、
前記光ファイバの前記コア端と前記アキシコンとの間に配置される光学素子を含み、
前記光学素子は、前記発散光の発散角を大きくする、ビーム形成装置。 an optical fiber that propagates laser light and has an end portion that emits light from a core end;
an axicon disposed at an exit end, which receives divergent light emitted from the core end of the optical fiber and emits the divergent light from a conical surface to form a Bessel-Gauss beam for projection;
an optical element disposed between the core end of the optical fiber and the axicon;
The optical element increases the divergence angle of the divergent light.
前記光源からの前記レーザ光を前記光ファイバの入射側の端部で受ける請求項1~7のいずれか一項に記載のビーム形成装置と、
前記ビーム形成装置によって対象に照射され対象から反射された反射光を検出する光検出装置と、
前記光検出装置による前記反射光の検出タイミングと前記光源からの前記レーザ光の出力タイミングとから前記対象までの距離を決定する信号処理装置とを備える、計測装置。 a light source that outputs intensity-modulated laser light;
a beam forming device according to any one of claims 1 to 7, wherein the laser light from the light source is received at an end of an incident side of the optical fiber;
a light detection device that detects light irradiated onto an object by the beam forming device and reflected from the object;
a signal processing device that determines a distance to the target based on a detection timing of the reflected light by the light detection device and an output timing of the laser light from the light source.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
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| JP2022148205A JP2022148205A (en) | 2022-10-06 |
| JP7657447B2 true JP7657447B2 (en) | 2025-04-07 |
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2021049793A Active JP7657447B2 (en) | 2021-03-24 | 2021-03-24 | Beam forming device and measuring device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP7657447B2 (en) |
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|---|---|
| JP2022148205A (en) | 2022-10-06 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A80 | Written request to apply exceptions to lack of novelty of invention |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A80 Effective date: 20210421 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20240319 |
|
| RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20240319 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20240319 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20240918 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20241001 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20241129 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20250210 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20250218 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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