JP7665381B2 - Odor detection device and odor detection method - Google Patents
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Description
本発明は、におい成分を検出するにおい検出装置及びにおい検出方法に関する。 The present invention relates to an odor detection device and an odor detection method for detecting odor components.
従来、所定の共振周波数で振動する振動子と、気体中のにおい成分が吸着する感応膜を備えるにおいセンサが知られている。このにおいセンサでは、振動子を所定の共振周波数で振動させ、におい成分の吸着による共振周波数の変動を観測することでにおい成分を検出することができる。振動子は、QCM(Quartz Crystal Microbalance)、SAW(Surface acoustic wave)共振器、FBAR(Film bulk acoustic resonator)といった圧電共振器によって構成される。 Conventionally, odor sensors have been known that have an oscillator that vibrates at a specific resonant frequency and a sensitive membrane that adsorbs odor components in a gas. In this odor sensor, the oscillator is vibrated at a specific resonant frequency, and odor components can be detected by observing the fluctuation in the resonant frequency due to the adsorption of the odor components. The oscillator is composed of a piezoelectric resonator such as a QCM (Quartz Crystal Microbalance), a SAW (Surface acoustic wave) resonator, or an FBAR (Film bulk acoustic resonator).
ここで、においセンサが検出対象とする気体が湿度を含む場合、振動子の共振周波数が湿度によって変動するおそれがある。また、においセンサの温度によっても振動子の共振周波数が変動するおそれがある。このため、におい成分を正確に検出するためには湿度及び温度による共振周波数の変動を除外する補正が必要となる。 Here, if the gas to be detected by the odor sensor contains humidity, the resonant frequency of the oscillator may vary depending on the humidity. The resonant frequency of the oscillator may also vary depending on the temperature of the odor sensor. For this reason, in order to accurately detect odor components, a correction is required to eliminate the variation in resonant frequency due to humidity and temperature.
例えば、特許文献1には、QCMの電極腐食性を利用した湿度の補正方法について開示されている。また、特許文献2にはQCMを湿度参照素子及び温度参照素子とし、これらの参照素子を用いて補正係数を算出し、その補正係数を利用して補正を行う方法について開示されている。 For example, Patent Document 1 discloses a humidity correction method that utilizes the electrode corrosiveness of a QCM. Patent Document 2 discloses a method in which a QCM is used as a humidity reference element and a temperature reference element, and a correction coefficient is calculated using these reference elements, and the correction coefficient is used to perform correction.
しかしながら、特許文献1に記載の方法では、一定時間の共振周波数の変化量を求め、その間の電極腐食量に基づいて、共振周波数の変化量を補正するものであり、におい成分の補正をリアルタイムに行うものではない。毒ガス検知や火災検知等の用途においては、高いリアルタイム性が必要とされる。また、特許文献2に記載の方法は、線形補正を前提としているため、共振周波数の温湿度依存性が線形から逸脱するような広い温湿度範囲では使用することができない。 However, the method described in Patent Document 1 calculates the amount of change in the resonant frequency over a certain period of time and corrects the amount of change in the resonant frequency based on the amount of electrode corrosion during that period, and does not correct odor components in real time. High real-time performance is required for applications such as toxic gas detection and fire detection. In addition, the method described in Patent Document 2 is based on linear correction, and therefore cannot be used in a wide temperature and humidity range where the temperature and humidity dependence of the resonant frequency deviates from linearity.
さらに、温湿度センサにより温度及び湿度を検出し、それによって温度及び湿度による影響を補正する方法もあるが、センサや制御回路が別途必要になる。また、この方法では、複雑な演算も必要であるためリアルタイム性も低い。 In addition, there is a method of detecting temperature and humidity using a temperature and humidity sensor and correcting the effects of temperature and humidity using that, but this requires a separate sensor and control circuit. This method also requires complex calculations, so it has poor real-time capabilities.
以上のような事情に鑑み、本発明の目的は、リアルタイム性に優れ、高精度ににおい成分を検出することが可能なにおい検出装置及びにおい検出方法を提供することにある。 In view of the above circumstances, the object of the present invention is to provide an odor detection device and an odor detection method that are excellent in real-time performance and capable of detecting odor components with high accuracy.
上記目的を達成するため、本発明の一形態に係るにおい検出装置は、第1の検出素子と、第2の検出素子と、演算部とを具備する。
上記第1の検出素子は、弾性波共振器である第1の振動子と、上記第1の振動子上に形成された第1の感応膜とを備える。
上記第2の検出素子は、弾性波共振器である第2の振動子を備える。
上記演算部は、上記第1の検出素子から出力された上記第1の振動子の共振周波数の変動量から上記第2の検出素子から出力された上記第2の振動子の共振周波数の変動量を減じることにより上記第1の振動子の共振周波数の変動量を補正する。
In order to achieve the above object, an odor detection device according to one embodiment of the present invention includes a first detection element, a second detection element, and a calculation unit.
The first detection element includes a first vibrator which is an acoustic wave resonator, and a first sensitive film formed on the first vibrator.
The second sensing element includes a second oscillator which is an acoustic wave resonator.
The calculation unit corrects the amount of fluctuation in the resonant frequency of the first oscillator by subtracting the amount of fluctuation in the resonant frequency of the second oscillator output from the second detection element from the amount of fluctuation in the resonant frequency of the first oscillator output from the first detection element.
上記におい検出装置は、弾性波共振器である第3の振動子と、上記第3の振動子上に形成された第2の感応膜とを備え、上記第3の振動子及び上記第2の感応膜が外気から遮蔽されている第3の検出素子をさらに具備し、
上記演算部は、上記第1の振動子の共振周波数の変動量から上記第2の振動子の共振周波数の変動量と、上記第3の検出素子から出力された上記第3の振動子の共振周波数の変動量を減じることにより、上記補正を行ってもよい。
The odor detection device further includes a third detection element including a third oscillator that is an elastic wave resonator and a second sensitive film formed on the third oscillator, the third oscillator and the second sensitive film being shielded from outside air;
The calculation unit may perform the correction by subtracting an amount of fluctuation in the resonant frequency of the second oscillator and an amount of fluctuation in the resonant frequency of the third oscillator output from the third detection element from an amount of fluctuation in the resonant frequency of the first oscillator.
上記第2の振動子は、上記第1の振動子と同等の特性を有してもよい。 The second vibrator may have characteristics equivalent to those of the first vibrator.
上記第3の振動子は、上記第1の振動子と同等の特性を有し、上記第2の感応膜は上記第1の感応膜と同等の特性を有してもよい。 The third vibrator may have characteristics equivalent to those of the first vibrator, and the second sensitive membrane may have characteristics equivalent to those of the first sensitive membrane.
上記弾性波共振器はFBAR(Film Bulk Acoustic Resonator)であってもよい。 The elastic wave resonator may be a film bulk acoustic resonator (FBAR).
上記弾性波共振器はSAW(Surface Acoustic Wave)共振器であってもよい。 The acoustic wave resonator may be a SAW (Surface Acoustic Wave) resonator.
上記目的を達成するため、本発明の一形態に係るにおい検出方法は、弾性波共振器である第1の振動子と、上記第1の振動子上に形成された第1の感応膜とを備える第1の検出素子から出力された上記第1の振動子の共振周波数の変動量から、弾性波共振器である第2の振動子を備える第2の検出素子から出力された上記第2の振動子の共振周波数の変動量を減じることにより上記第1の振動子の共振周波数の変動量を補正する。 In order to achieve the above object, an odor detection method according to one embodiment of the present invention corrects the amount of variation in the resonant frequency of the first oscillator by subtracting the amount of variation in the resonant frequency of the second oscillator output from a second detection element having a second oscillator, which is an elastic wave resonator, from the amount of variation in the resonant frequency of the first oscillator output from a first detection element having a first oscillator, which is an elastic wave resonator, and a first sensitive film formed on the first oscillator.
以上のように本発明によれば、リアルタイム性に優れ、高精度ににおい成分を検出することが可能なにおい検出装置及びにおい検出方法を提供することが可能である。 As described above, the present invention makes it possible to provide an odor detection device and an odor detection method that are excellent in real-time performance and can detect odor components with high accuracy.
本発明の実施形態に係るにおい検出装置について説明する。以下の各図において相互に
直交する3方向をそれぞれX方向、Y方向及びZ方向とする。
An odor detection device according to an embodiment of the present invention will be described below. In the following drawings, three mutually orthogonal directions are defined as an X direction, a Y direction, and a Z direction, respectively.
[におい検出装置の構成]
図1は本実施形態に係るにおい検出装置100の構成を示すブロック図である。同図に示すようににおい検出装置100は、第1検出素子111、第1発振回路112,第2検出素子113、第2発振回路114、第3検出素子115、第3発振回路116、接続部117、演算部118及び通信部119を備える。
[Configuration of odor detection device]
1 is a block diagram showing the configuration of an
第1検出素子111は、におい検出素子として機能する。図2(a)は第1検出素子111の断面図、図2(b)は第1検出素子111の感応膜132を描いた平面図である。同図に示すように第1検出素子111は第1振動子131及び第1感応膜132を備える。第1振動子131は、弾性波共振器であり、FBAR(Film bulk acoustic resonator)である。
The
具体的には第1振動子131は、支持基板141、圧電膜142、下部電極143及び上部電極144を具備する。支持基板141は、例えば、シリコン(Si)基板やガリウム砒素(GaAs)基板等の半導体基板のほか、石英基板、ガラス基板、またはアルミナ基板などのセラミック基板を用いることができる。
Specifically, the
圧電膜142は圧電体からなる膜であり、例えば窒化アルミニウム(AlN)からなる。また、圧電膜142は酸化亜鉛(ZnO)等の他の圧電体であってもよい。圧電膜142の厚みは例えば500nmである。
The
下部電極143は支持基板141上設けられ、第1振動子131の一方の電極として機能する。下部電極143はアルミニウム(Al)等の導電性材料からなり、厚さは例えば240nmである。上部電極144は圧電膜142上に設けられ、下部電極143と共に圧電膜142を挟み、第1振動子131の他方の電極として機能する。上部電極144はアルミニウム(Al)等の導電性材料からなり、厚さは例えば240nmである。上部電極144の表面にはSiOX等からなる保護膜が設けられていてもよい。
The
第1振動子131は、下部電極143と上部電極144が圧電膜142挟んで対向する共振領域Rを有する。共振領域Rにおいて、支持基板141と下部電極143の間には空隙Kが設けられる。共振領域Rは、下部電極143と上部電極144の間に共振周波数の交流電圧が入力されたときに、厚み縦振動モードで共振する領域である。共振領域Rの共振周波数は特に限定されず、例えば2.4GHzである。
The
第1感応膜132は第1振動子131の共振領域R上に設けられ、所定のにおい成分を吸着する。第1感応膜132を構成する材料は、吸着対象のにおい成分の種類によって任意に選択でき、例えば、有機高分子膜、有機色素膜または無機膜等である。図1に示すようににおい検出装置100は複数の第1検出素子111を備え、例えば8個の第1検出素子111を備える。各第1検出素子111が備える第1感応膜132は異なるにおい成分を吸着可能なものとすることができ、各第1検出素子111の出力をチャンネル1~チャンネル8(以下、ch1~ch8)とする。なお、第1検出素子111の数は8個に限られず、1個以上であればよい。
The first
第1発振回路112は第1検出素子111に接続され、第1振動子131の下部電極143と上部電極144の間に交流電圧を印加し、第1振動子131を駆動する。この交流電圧により第1振動子131が所定の共振周波数で振動する。第1発振回路112は、第1振動子131の共振周波数を接続部117に出力する。第1発振回路112は共振周波数のカウント値をデジタル信号として接続部117に出力することができる。第1発振回路112は第1振動子131に交流電圧を供給できるものであればよく、例えばIC(Integrated Circuit)である。なお、1つの第1発振回路112で複数の第1振動子131を駆動してもよい。
The
図3に於いて、第2検出素子113は、湿度補正用素子として機能する。図3は第2検出素子113の断面図である。第2検出素子113は第2振動子133を備える。第2振動子133は、弾性波共振器であり、例えばFBARである。第2振動子133は、第1振動子131と同等の特性が好適である。第2検出素子113は第1感応膜132を有しない第1検出素子111と同等の特性である。
In FIG. 3, the
具体的には第2振動子133は、第1振動子131と同様に支持基板141、圧電膜142、下部電極143及び上部電極144を備え、共振領域Rを有する。図1に示すブロック図に示す様に、におい検出装置100は1つの第2検出素子113を備える。しかし、複数の第2検出素子113を備えてもよい。
Specifically, the
第2発振回路114は第2検出素子113に接続され、第2振動子133の下部電極143と上部電極144の間に交流電圧を印加し、第2振動子133を駆動する。この交流電圧により第2振動子133が所定の共振周波数で振動する。第2発振回路114は、第2振動子133の共振周波数を接続部117に出力する。第2発振回路114は共振周波数のカウント値をデジタル信号として接続部117に出力することができる。第2発振回路114は第2振動子133に交流電圧を供給できるものであればよく、例えば、ここではICである。なお、1つの第2発振回路114で複数の第2振動子133を駆動してもよい。
The
第3検出素子115は、温度補正用素子として機能する。図4は第3検出素子115の断面図である。第3検出素子115は第3振動子134及び第2感応膜135を備える。第3振動子134は、弾性波共振器であり、FBARである。第3振動子134は、第1振動子131と同等の特性が好適である。具体的には第3振動子134は、第1振動子131と同様に支持基板141、圧電膜142、下部電極143及び上部電極144を備え、共振領域Rを有する。
The
第2感応膜135は第3振動子134の共振領域R上に設けられ、所定のにおい成分を吸着する。第2感応膜135は、第1感応膜132と同じ材料からなり、第1感応膜132と同じ膜厚を有するものが好適である。第3検出素子115は、図4に示すように封止体136によって封止され、第3振動子134及び第2感応膜135は封止体136によって外気から遮蔽されている。
The second
図1に示すようににおい検出装置100は複数の第3検出素子115を備え、各第3検出素子115は、各第1検出素子111にそれぞれ対応し、第1検出素子111の数だけ第3検出素子115が用意される。具体的には、各第3検出素子115は、封止体136によって封止されている他は、各chの第1検出素子111と同等の特性を有し、各chの第1検出素子111の第1感応膜132と同一の第2感応膜135を備える。以下、ch1の第1検出素子111と同等の特性を有する第3検出素子115をch1の第3検出素子115とする。以下同様に、各chの第1検出素子111と同等の特性を有する第3検出素子115を各chの第3検出素子115とする。
1, the
第3発振回路116は第3検出素子115に接続され、第3振動子134の下部電極143と上部電極144の間に交流電圧を印加し、第3振動子134を駆動する。この交流電圧により第3振動子134が所定の共振周波数で振動する。第3発振回路116は、第3振動子134の共振周波数を接続部117に出力する。第3発振回路116は共振周波数のカウント値をデジタル信号として接続部117に出力する。第3発振回路116は第3振動子134に交流電圧を供給できるものであればよく、例えば、ここではICである。なお、1つの第3発振回路116で複数の第3振動子134を駆動してもよい。
The
図4に於いて、封止体136は上記のように第3検出素子115を封止し、第3振動子134及び第2感応膜135を外気から遮蔽する。例えば、第3振動子134及び第2感応膜135の周囲を囲む壁状構造体である。例えば、金属のキャンタイプ、樹脂のBOXタイプで、壁状構造体の内部には窒素等の不活性ガスを充填してもよい。封止体136は、1つの封止体136が全部の第3検出素子115を封止する構成であってもよく、複数の封止体136が1つ又は複数の第3検出素子115をそれぞれ封止する構成であってもよい。
In FIG. 4, the sealing
接続部117は、第1検出素子111、第2検出素子113及び第3検出素子115と演算部118を接続し、第1振動子131、第2振動子133及び第3振動子134のそれぞれの共振周波数を演算部118に供給する。接続部117は、演算部118と各検出素子の接続を切り替え可能なマルチプレクサを採用できる。
The
演算部118は、第1検出素子111の共振周波数変動量を、第2検出素子113及び第3検出素子115の共振周波数変動量に基づいて補正する。この詳細については後述する。演算部118は、例えばFPGA(field-programmable gate array)により構成される。演算部118は、補正した共振周波数変動量を通信部119に供給する。なお、FPGAは、再構成可能な半導体装置、例えばMPLD(登録商標)、MRLDであってもよい。
The
通信部119は、演算部118によって補正された共振周波数変動量をPCやタブレット端末等の他の情報処理装置に転送する。ユーザは、他の情報処理装置において補正された共振周波数変動量を確認することができる。また、通信部119は補正された共振周波数変動量を、ゲートウェイを経由してクラウドに転送してもよい。これにより、クラウトにおいてデータの蓄積やAI(artificial intelligence)でのにおいの種類判定が可能となる。通信部119はBLE(Bluetooth(登録商標) Low Energy)等の無線通信又は有線通信が可能なモジュールである。
The
におい検出装置100は以上のような構成を有する。なお、演算部118はにおい検出装置100とは別の情報処理装置に搭載され、上記動作を実行するものとしてもよい。また、演算部118に替えてユーザが演算部118の動作を実行することも可能である。
The
[演算部による補正について]
演算部118は、上記のように、第1検出素子111の共振周波数変動量を第2検出素子113及び第3検出素子115の共振周波数変動量に基づいて補正する。
[Correction by the calculation unit]
As described above, the
第1検出素子111の共振周波数は、第1感応膜132の重量、即ち第1感応膜132へのにおい成分の吸着量によって変動する。さらに、第1検出素子111の共振周波数は、湿度と温度の影響によっても変動する。したがって、第nchの第1検出素子111の共振周波数変動量をΔFn(total)、におい成分吸着による共振周波数変動量をΔFn(gas)、湿度による共振周波数変動量をΔFn(hum.)、温度による共振周波数変動量をΔFn(tem.)とすると、以下の(式1)が成り立つ。
The resonant frequency of the
ΔFn(total)=ΔFn(gas)+ΔFn(hum.)+ΔFn(tem.) (式1) ΔFn (total) = ΔFn (gas) + ΔFn (hum.) + ΔFn (tem.) (Formula 1)
上記(式1)に示すように、第nchの第1検出素子111から出力される共振周波数変動量ΔFn(total)は、におい成分の吸着よる共振周波数変動量ΔFn(gas)に加え、湿度による共振周波数変動量ΔFn(hum.)と温度による共振周波数変動量ΔFn(tem.)を含むものである。このため、演算部118は、におい成分の吸着よる共振周波数変動量ΔFn(gas)が得られるように以下の補正を行う。
As shown in the above (Equation 1), the resonant frequency fluctuation ΔFn (total) output from the
ここで、第2検出素子113は第1振動子131と同等の特性を有する第2振動子133を備える。また、第2検出素子113は、感応膜を有しない。FBAR振動子を用いたにおい検出素子において湿度による影響の主な原因はFBAR振動子自体の吸湿性であり、感応膜の吸湿による影響は小さい。特にFBAR振動子は一般的に多層の薄膜からなり、圧電膜のAlNや保護膜のSiOXはスパッタ成膜により形成されるため、吸湿性が大きい。
Here, the
したがって、第2検出素子113の共振周波数変動量は湿度によるものとみなせる。このため、第2検出素子113の共振周波数変動量をΔFref1とすると、湿度による共振周波数変動量ΔFn(hum.)は共振周波数変動量ΔFref1とみなすことができる。
Therefore, the resonant frequency variation of the
さらに、第3検出素子115は第1振動子131と同等の特性を有する第3振動子134を備え、第1感応膜132と同等の特性を有する第2感応膜135を備える。また、第3振動子134及び第2感応膜135は封止体136によって外気から遮蔽されている。このため、におい成分や水分子は封止体136によって第3振動子134及び第2感応膜135への到達が防止されている。
The
FBAR振動子を用いたにおい検出素子において温度による影響の主な原因は振動子及び感応膜を構成する各材料の弾性定数の変化によるものである。このため、第1検出素子111と同等の特性を有し、封止体136によって遮蔽された第3検出素子115の共振周波数変動量は温度によるものとみなせる。したがって、第nchの第3検出素子115の共振周波数変動量をΔFref2nとすると、温度による共振周波数変動量ΔFn(tem.)は共振周波数変動量ΔFref2nとみなすことができる。
In an odor detection element using an FBAR vibrator, the main cause of the effect of temperature is the change in the elastic constant of each material that constitutes the vibrator and the sensitive membrane. For this reason, the resonant frequency variation of the
したがって、上記(式1)は下記(式2)に変形することができる。 Therefore, the above (Equation 1) can be transformed into the following (Equation 2).
ΔFn(total)=ΔFn(gas)+ΔFref1+ΔFref2n (式2) ΔFn (total) = ΔFn (gas) + ΔFref1 + ΔFref2n (Formula 2)
さらに、上記(式2)は下記(式3)に変形することができる。 Furthermore, the above (Equation 2) can be transformed into the following (Equation 3).
ΔFn(gas)=ΔFn(total)-ΔFref1-ΔFref2n (式3) ΔFn (gas) = ΔFn (total) - ΔFref1 - ΔFref2n (Formula 3)
このように演算部118は、第1検出素子111から出力される共振周波数変動量ΔFn(total)から、第2検出素子113から出力される共振周波数変動量ΔFref1及び第3検出素子115から出力される共振周波数変動量ΔFref2nを減じることにより、におい成分による共振周波数変動量ΔFn(gas)を求めることができる。
In this way, the
[におい検出装置による効果]
におい検出装置100は以上のように、演算部118が第1検出素子111、第2検出素子113及び第3検出素子115の共振周波数変動量に基づいて、第1感応膜132に吸着したにおい成分による共振周波数変動量ΔFn(gas)を算出する。演算部118は、第1検出素子111の共振周波数変動量から第2検出素子113及び第3検出素子115の共振周波数変動量を減じることで共振周波数変動量ΔFn(gas)を算出できるため、測定時間の経過と共に上記算出を行うことができ、リアルタイム性に優れる。一方、上記特許文献2に記載のような補正方法では、事前に参照素子の係数を算出し、補正時に係数を呼び出す必要があり、事前に参照素子の係数を算出することが手間を要する。
[Effects of odor detection device]
As described above, in the
また、におい検出装置100では、事前に第1検出素子111の温度依存性や湿度依存性を評価する必要がなく、線形補正のように精度よく補正可能な温湿度範囲が限られるようなこともないため、広い温湿度範囲で高精度な検出結果を得ることができる。さらに、におい検出装置100では、第1検出素子111に温度補償膜等の温湿度補正用の構造を設ける必要がないため、第1検出素子111の振動特性を低下させることなく温湿度補正が可能である。
In addition, with the
[実装構造1]
におい検出装置100の具体的実装構造について説明する。図5はにおい検出装置100の実装構造を示す模式図である。尚、マウンティング装置やワイヤボンディング装置などの実装技術により実現される。同図に示すようににおい検出装置100は、主基板151、第1センサ基板152、第2センサ基板153、第3センサ基板154、第1検出素子111、第1発振回路112、第2検出素子113、第2発振回路114、第3検出素子115、第3発振回路116、カンパッケージ155、マルチプレクサ156、FPGA157及びBLEモジュール158から構成される。
[Mounting structure 1]
A specific mounting structure of the
主基板151やセンサ基板は、各部品が実装される基板であり、一般的な配線基板を用いている。第1センサ基板152には、2つの第1検出素子111と、これらの第1検出素子111を駆動する1つの第1発振回路112がマウティング装置などにより実装される。そして電気的な接続は、ピンヘッダ、ハンダまたはボンディングワイヤにより主基板151に接続されている。主基板151には、4枚の第1センサ基板152が実装されるが、第1センサ基板152の枚数は特に限定されない。
The
第2センサ基板153は、2つの第2検出素子113と、これらの第2検出素子113を駆動する1つの第2発振回路114が実装され、ボンディングワイヤ等で電気的に接続される。ピンヘッダ又はハンダリフローにより主基板151に接続されている。主基板151には、1枚の第2センサ基板153が実装されるが、第2センサ基板153の枚数は特に限定されない。
The
第3センサ基板154は、2つの第3検出素子115と、これらの第3検出素子115を駆動する1つの第3発振回路116が実装された基板であり、ピンヘッダ、ハンダリフローまたはワイヤボンディングにより主基板151に電気的に接続され、実装されている。主基板151には、4枚の第3センサ基板154が実装されているが、第3センサ基板154の枚数は特に限定されない。
The
カンパッケージ155は、第3センサ基板154を覆い、各第3センサ基板154上の第3検出素子115を封止する。カンパッケージ155内には窒素ガス等の不活性ガスが充填されている。カンパッケージ155は第3振動子134及び第2感応膜135を外気から遮蔽する封止体136(図4参照)として機能する。
The can package 155 covers the
マルチプレクサ156は主基板151に実装され、接続部117(図1参照)として機能する。FPGA157は主基板151に実装され、演算部118(図1参照)として機能する。BLEモジュール158は主基板151に実装され、通信部119(図1参照)として機能する。なお、マルチプレクサ156、FPGA157及びBLEモジュール158は主基板151のうち第1センサ基板152等が実装されている面の裏側の面に実装され、主基板151の基板の配線を介して各発振回路等と接続されてもよい。
The
におい検出装置100は以上のような実装構造によって実現することができる。この構成では、第1検出素子111、第2検出素子113及び第3検出素子115を主基板151とは別のセンサ基板にそれぞれ実装することにより、これらの検出素子をセンサ基板毎に交換することが可能である。
The
[実装構造2]
におい検出装置100の他の具体的実装構造について説明する。におい検出装置100はフェイスダウン表面実装により作製することができる。図6はにおい検出装置100のフェイスダウンで表面実装した実装構造を示す模式図であり、図7及び図8はその断面図である。
[Mounting structure 2]
Another specific mounting structure of the
図6(a)に示すようににおい検出装置100は、主基板161、第1マルチチップ191、第2マルチチップ192、第2発振回路114、第4発振回路162、マルチプレクサ163、FPGA164及びBLEモジュール165から構成される。図6(b)は第1マルチチップ191の拡大図である。同図に示すように第1マルチチップ191には第1検出素子111及び第2検出素子113が搭載されている。図6(c)は第2マルチチップ192の拡大図である。同図に示すように第2マルチチップ192には第3検出素子115が搭載されている。
As shown in FIG. 6(a), the
主基板161は、各部品が実装される基板である。主基板161の一面には2本の第1溝161aと2本の第2溝161bが設けられている。第1溝161aは図示しないポンプにより外気が供給され、流路として機能する。一方、第2溝161bは充填体166(図8参照)が充填され、封止されている。充填体166は窒素等の不活性ガスである。
The
第1検出素子111は、図7に示すようにフリップチップ実装により主基板161に実装され、接合部167により主基板161の電極168と接続されている。接合部167はハンダバンプ、金バンプ又は異方性導電フィルム等である。第1検出素子111は、第1感応膜132が第1溝161aに対向するように配置される。
The
第2検出素子113は、フリップチップ実装により主基板161に実装され、ハンダバンプ、金バンプ又は異方性導電フィルム等の接合部により主基板161の電極と接続されている。第2検出素子111は、共振領域R(図3参照)が第1溝161aに対向するように配置される。
The
第3検出素子115は、図8に示すようにフリップチップ実装により主基板161に実装され、接合部167により主基板161の電極168と接続されている。接合部171はハンダバンプ、金バンプ又は異方性導電フィルム等である。第3検出素子115は、第2感応膜135が第2溝161bに対向するように配置される。
The
このような配置により、第1検出素子111は第1溝161aを介して感応膜132に外気が供給され、第2検出素子113は第1溝161aを介して共振領域Rに外気が供給される。一方、第3検出素子115は、第2溝161bが充填体166によって封止されており、外気が第3振動子134及び第2感応膜135に到達されない。即ち、充填体166は封止体136(図4参照)として機能する。
With this arrangement, the
第1発振回路112及び第3発振回路116はこれらを兼ねる1つの第4発振回路162としてフリップチップ実装により主基板161に実装されている。第4発振回路162が、第4発振回路162を挟む第1検出素子111及び第3検出素子115を駆動することにより第1検出素子111及び第3検出素子115に供給される電圧条件を同等とすることができる。また、第2発振回路114もフリップチップ実装により主基板161に実装されている。
The
マルチプレクサ163は主基板161に実装され、接続部117(図1参照)として機能する。FPGA164は主基板151に実装され、演算部118(図1参照)として機能する。BLEモジュール165は主基板151に実装され、通信部119(図1参照)として機能する。なお、マルチプレクサ163、FPGA164及びBLEモジュール165は主基板161のうち第1検出素子111等が実装されている面の裏側の面に実装され、主基板161の基板内配線を介して各発振回路等と接続されてもよい。
The
におい検出装置100は以上のような実装構造によって実現することができる。この構成では、第1溝161aの全体を第1マルチチップ191によって覆い、第2溝161bの全体を第2マルチチップ191によって覆うことができる。第1検出素子111及び第3検出素子115を一つの第1マルチチップ191上に搭載することができるため、差分動作の精度を向上させることが可能である。
The
[検出素子について]
上記説明において、第1検出素子111、第2検出素子113及び第3検出素子115は、FBARである振動子を備えるものとしたが、振動子はFBARに限られず他の弾性波共振器であってもよい。具体的には第1検出素子111、第2検出素子113及び第3検出素子115は、SAW(Surface acoustic wave)共振器である振動子を備えるものとすることもできる。
[Detection element]
In the above description, the
図9は、SAW共振器である振動子を備える第1検出素子111の平面図である。同図に示すように、第1検出素子111は第1振動子131及び第1感応膜132を備える。第1振動子131はSAW共振器である。
Figure 9 is a plan view of a
具体的には第1振動子131は、圧電基板181、第1電極182、第2電極183及び反射器184を具備する。圧電基板181は、LiTaO3やLiNbO3等の圧電材料からなる基板である。第1電極182及び第2電極183は圧電基板181上に設けられた櫛型電極(IDT;Interdigital Transducer)であり、櫛型にパターニングされた任意の導電性材料からなる。反射器184は、圧電基板181上に、第1電極182及び第2電極183を挟むように1対が設けられ、格子状にパターニングされた任意の導電性材料からなる。
Specifically, the
第1振動子131は、1対の反射器184の間に共振領域Rを有する。共振領域Rは、第1電極182及び第2電極183の間に共振周波数の交流電圧が入力されたときに、圧電基板181の表面に表面弾性波が生じる領域である。表面弾性波は反射器184に入射すると反射器184によって共振領域Rに向けて反射される。共振領域Rの共振周波数は特に限定されず、例えば700MHzである。第1感応膜132は第1振動子131の共振領域R上に設けられ、所定のにおい成分を吸着する。
The
図10は、SAW共振器である振動子を備える第2検出素子113の平面図である。同図に示すように、第2検出素子113はSAW共振器である第2振動子133を備える。第2振動子133は、第1振動子131と同等の特性を有するものが好適であり、即ち第2検出素子113は第1感応膜132を有しない第1検出素子111と同等の特性を有する。具体的には第2検出素子113は、第1振動子131と同様に圧電基板181、第1電極182、第2電極183及び反射器184を備え、共振領域Rを有する。
Figure 10 is a plan view of the
図11は、SAW共振器である振動子を備える第3検出素子115の平面図である。同図に示すように、第3検出素子115はSAW共振器である第3振動子134及び第2感応膜135を備える。第3振動子134は、第1振動子131と同等の特性を有するものが好適である。具体的には第3検出素子115は、第1振動子131と同様に圧電基板181、第1電極182、第2電極183及び反射器184を備え、共振領域Rを有する。
Figure 11 is a plan view of the
第2感応膜135は、第3振動子134の共振領域R上に設けられ、所定のにおい成分を吸着する。第3検出素子115は、図11に示すように封止体136によって封止され、第3振動子134及び第2感応膜135は封止体136によって外気から遮蔽されている。
The second
振動子がSAW共振器である場合もにおい検出装置100は同様に動作する。即ち演算部118は、上記(式3)に示すように、第1検出素子111から出力される共振周波数変動量ΔFn(total)から、第2検出素子113から出力される共振周波数変動量ΔFref1及び第3検出素子115から出力される共振周波数変動量ΔFref2nを減じることにより、におい成分による共振周波数変動量ΔFn(gas)を求めることができる。
The
SAW共振器である振動子を用いたにおい検出素子においても湿度による影響の主な原因はSAW共振器自体の吸湿性であり、感応膜の吸湿による影響は小さい。特にSAW共振器は一般的に多層の薄膜からなり、特に共振周波数調整膜や保護膜のSiOXはスパッタ成膜により形成されるため、吸湿性が大きい。したがって、第2検出素子113の共振周波数変動量は湿度によるものとみなせる。このため、第2検出素子113の共振周波数変動量をΔFref1とすると、湿度による共振周波数変動量ΔFn(hum.)は共振周波数変動量ΔFref1とみなすことができる。
Even in odor detection elements using an oscillator that is a SAW resonator, the main cause of the effect of humidity is the hygroscopicity of the SAW resonator itself, and the effect of moisture absorption of the sensitive film is small. In particular, SAW resonators are generally made of multi-layer thin films, and the SiOx of the resonance frequency adjustment film and protective film are particularly hygroscopic because they are formed by sputtering deposition. Therefore, the amount of variation in the resonance frequency of the
さらに、SAW共振器である振動子を用いたにおい検出素子においても温度による影響の主な原因は振動子及び感応膜を構成する各材料の弾性定数の変化によるものである。このため、第1検出素子111と同等の特性を有し、封止体136によって遮蔽された第3検出素子115の共振周波数変動量は温度によるものとみなせる。このため、第nchの第3検出素子115の共振周波数変動量をΔFref2nとすると、温度による共振周波数変動量ΔFn(tem.)は共振周波数変動量ΔFref2nとみなすことができる。
Furthermore, even in odor detection elements that use an oscillator that is a SAW resonator, the main cause of the effect of temperature is the change in the elastic constant of each material that constitutes the oscillator and the sensitive membrane. For this reason, the resonant frequency variation of the
したがって、振動子がSAW共振器である場合も、演算部118は上記(式3)を用いてにおい成分による共振周波数変動量ΔFn(gas)を求めることができる。
Therefore, even if the transducer is a SAW resonator, the
なお、第1検出素子111、第2検出素子113及び第3検出素子115は、FBAR及びSAW共振器の他にもQCM(Quartz Crystal Microbalance)である振動子を備えるものであってもよい。
The
[変形例]
におい検出装置100の変形例について説明する。
[Modification]
A modification of the
(変形例1)
図12は変形例1に係るにおい検出装置100の構成を示すブロック図である。上記のようににおい検出装置100は1つの第2検出素子113を備える(図1参照)ものとしたが、図12に示すようにnchの第1検出素子111に対応するnchの第2検出素子113を備えるものとしてもよい。具体的には、nchの第1検出素子111の間で第1振動子131の構造が異なる場合、におい検出装置100はそれぞれの第1振動子131と同一構造の第2振動子133を有するnchの第2検出素子113を備える。
(Variation 1)
Fig. 12 is a block diagram showing the configuration of an
この場合、第nchの第2検出素子113の共振周波数変動量をΔFref1nとすると、
上記(式1)における湿度による共振周波数変動量ΔFn(hum.)は共振周波数変動量ΔFref1nとみなすことができる。
In this case, if the amount of change in the resonant frequency of the
The amount of resonance frequency variation ΔFn(hum.) due to humidity in the above (Equation 1) can be regarded as the amount of resonance frequency variation ΔFref1n.
したがって、上記(式1)は下記(式4)に変形することができる。 Therefore, the above (Equation 1) can be transformed into the following (Equation 4).
ΔFn(total)=ΔFn(gas)+ΔFref1n+ΔFref2n (式4) ΔFn (total) = ΔFn (gas) + ΔFref1n + ΔFref2n (Formula 4)
さらに、上記(式4)は下記(式5)に変形することができる。 Furthermore, the above (Equation 4) can be transformed into the following (Equation 5).
ΔFn(gas)=ΔFn(total)-ΔFref1n-ΔFref2n (式5) ΔFn (gas) = ΔFn (total) - ΔFref1n - ΔFref2n (Formula 5)
以上から演算部118は、におい検出装置100がnchの第2検出素子113を有する場合も第1検出素子111から出力される共振周波数変動量ΔFn(total)から、第2検出素子113から出力される共振周波数変動量ΔFref1n及び第3検出素子115から出力される共振周波数変動量ΔFref2nを減じることにより、におい成分による共振周波数変動量ΔFn(gas)を求めることができる。
From the above, even when the
(変形例2)
図13は変形例1に係るにおい検出装置100の構成を示すブロック図である。上記のようににおい検出装置100は、第1検出素子111、第2検出素子113及び第3検出素子115を備えるものとしたが、図13に示すように第3検出素子115を備えず、第1検出素子111と第2検出素子113のみを備えるものとすることも可能である。
(Variation 2)
Fig. 13 is a block diagram showing the configuration of the
この場合、演算部118は、第1検出素子111から出力される共振周波数変動量ΔFn(total)から、第2検出素子113から出力される共振周波数変動量ΔFref1を減じることにより、湿度による影響が補正されたにおい成分による共振周波数変動量ΔFn(gas)を求めることができる。におい検出装置100が備える感応膜が温度による影響を受けにくい場合等には、このように第2検出素子113を利用して湿度による影響のみを補正してもよい。また、このにおい検出装置100は、変形例1(図12参照)に示すようにnchの第2検出素子113を備えるものであってもよい。
In this case, the
(実施例1)
上記実施形態に係るにおい検出装置を作成し、測定を実施した。におい検出装置はFBARである第1振動子及び感応膜を有する第1検出素子と、FBARである第2振動子を有し、感応膜を有しない第2検出素子を備えるものとした。第1振動子と第2振動子は同等の特性を有し、共振周波数2.4GHzの振動子である。第1検出素子の感応膜は疎水性感応膜(厚み250nm)とした。第1検出素子及び第2検出素子はピアーズ型発振回路と接続し、周波数カウンターでその発振周波数を計測した。
Example 1
An odor detection device according to the above embodiment was created and measurements were performed. The odor detection device had a first oscillator that was an FBAR and a first detection element having a sensitive film, and a second oscillator that was an FBAR and had no sensitive film. The first and second oscillators had the same characteristics and were oscillators with a resonant frequency of 2.4 GHz. The sensitive film of the first detection element was a hydrophobic sensitive film (
図14は、測定結果を示すグラフである。上記におい検出装置をチャンバに収容し、チャンバ内にガスG1及びガスG2を20分間毎に交互に流入させた。ガスG1はトルエン10ppmのガスであり、ガスG2はトルエン0ppmのガスである。図14において、第1検出素子の周波数変動量を「ΔF(total)」、第2検出素子の周波数変動量を「ΔFref1」、第1検出素子と第2検出素子の周波数変動量の差分(ΔF(total)-ΔFref1)を「差分」、チャンバ内の湿度(RH)を「湿度」として示す。チャンバ内の湿度は静電容量型湿度センサにより測定したものである。 Figure 14 is a graph showing the measurement results. The odor detection device was housed in a chamber, and gases G1 and G2 were alternately flowed into the chamber every 20 minutes. Gas G1 is a gas containing 10 ppm toluene, and gas G2 is a gas containing 0 ppm toluene. In Figure 14, the frequency fluctuation of the first detection element is shown as "ΔF (total)", the frequency fluctuation of the second detection element is shown as "ΔFref1", the difference between the frequency fluctuations of the first detection element and the second detection element (ΔF (total) - ΔFref1) is shown as "difference", and the humidity (RH) inside the chamber is shown as "humidity". The humidity inside the chamber was measured using a capacitance-type humidity sensor.
図14に示すように、ガスG1の供給中は、周波数変動量ΔF(total)が上昇している。本来であれば、トルエンの感応膜への吸着により周波数変動量は減少するはずであるが、湿度が7%から5%に減少し、共振周波数が上昇している。湿度の減少により感応膜に付着した水分量が減少し、共振周波数が上昇したと考えられる。一方、「差分」(ΔF(total)-ΔFref1)はガスG1の供給中は減少しており、湿度による影響が除外され、トルエンの感応膜への吸着による周波数変動が検出されていることがわかる。 As shown in Figure 14, the frequency fluctuation ΔF (total) increases while gas G1 is being supplied. Normally, the frequency fluctuation should decrease due to the adsorption of toluene to the sensitive film, but the humidity has decreased from 7% to 5%, and the resonant frequency has increased. It is believed that the decrease in humidity reduces the amount of moisture adhering to the sensitive film, causing the resonant frequency to increase. On the other hand, the "difference" (ΔF (total) - ΔFref1) decreases while gas G1 is being supplied, which shows that the effect of humidity is eliminated and frequency fluctuation due to the adsorption of toluene to the sensitive film is detected.
(実施例2)
上記実施形態に係るにおい検出装置を作成し、測定を実施した。におい検出装置はSAW共振器である第1振動子及び感応膜を有する第1検出素子と、SAW共振器である第2振動子を有し、感応膜を有しない第2検出素子を備えるものとした。第1振動子と第2振動子は同等の特性を有し、共振周波数700MHzの振動子である。第1検出素子の感応膜は疎水性感応膜(厚み250nm)とした。第1検出素子及び第2検出素子はピアーズ型発振回路と接続し、周波数カウンターでその発振周波数を計測した。
Example 2
An odor detection device according to the above embodiment was created and measurements were performed. The odor detection device had a first transducer, which was a SAW resonator, and a first detection element having a sensitive film, and a second transducer, which was a SAW resonator, and a second detection element having no sensitive film. The first and second transducers had the same characteristics and were transducers with a resonant frequency of 700 MHz. The sensitive film of the first detection element was a hydrophobic sensitive film (
図15は、測定結果を示すグラフであり、図16は図15の一部を拡大したグラフである。上記におい検出装置をチャンバに収容し、チャンバ内にガスG3及びガスG4を20分間毎に交互に流入させた。ガスG3はアセトン10ppmのガスであり、ガスG4はアセトン0ppmのガスである。図15及び図16において、第1検出素子の周波数変動量を「ΔF(total)」、第2検出素子の周波数変動量を「ΔFref1」、第1検出素子と第2検出素子の周波数変動量の差分(ΔF(total)-ΔFref1)を「差分」、チャンバ内の湿度(RH)を「湿度」として示す。チャンバ内の湿度は静電容量型湿度センサにより測定したものである。 Figure 15 is a graph showing the measurement results, and Figure 16 is a graph showing an enlarged portion of Figure 15. The odor detection device was housed in a chamber, and gas G3 and gas G4 were alternately flowed into the chamber every 20 minutes. Gas G3 is a gas containing 10 ppm acetone, and gas G4 is a gas containing 0 ppm acetone. In Figures 15 and 16, the frequency fluctuation of the first detection element is shown as "ΔF (total)", the frequency fluctuation of the second detection element is shown as "ΔFref1", the difference between the frequency fluctuations of the first detection element and the second detection element (ΔF (total) - ΔFref1) is shown as "difference", and the humidity (RH) inside the chamber is shown as "humidity". The humidity inside the chamber was measured using a capacitance type humidity sensor.
図15及び図16に示すように、ガスG3の供給中は、周波数変動量ΔF(total)がわずかに減少している。これは、アセトンの感応膜への吸着による共振周波数の低下と、湿度の減少(6%→5.5%)により感応膜に付着した水分量が減少したことによる振周波数の上昇が合算されたことによるものと考えられる。一方、「差分」(ΔF(total)-ΔFref1)はガスG3の供給中は顕著に減少しており、湿度による影響が除外され、アセトンの感応膜への吸着による周波数変動が検出されていることがわかる。 As shown in Figures 15 and 16, the frequency fluctuation ΔF (total) decreases slightly while gas G3 is being supplied. This is thought to be due to the combination of a decrease in the resonant frequency due to the adsorption of acetone to the sensitive film and an increase in the resonant frequency due to a decrease in the amount of moisture adhering to the sensitive film as a result of a decrease in humidity (6% to 5.5%). On the other hand, the "difference" (ΔF (total) - ΔFref1) decreases significantly while gas G3 is being supplied, which indicates that the effect of humidity is eliminated and that the frequency fluctuation due to the adsorption of acetone to the sensitive film is detected.
(実施例3)
上記実施形態に係るにおい検出装置を作成し、測定を実施した。におい検出装置はFBARである第1振動子及び感応膜を有する第1検出素子と、第1検出素子と同等の特性を有する検出素子が封止体によって封止された第3検出素子を備えるものとした。第1検出素子及び第3検出素子はピアーズ型発振回路と接続し、周波数カウンターでその発振周波数を計測した。
Example 3
An odor detection device according to the above embodiment was created and measurements were performed. The odor detection device was equipped with a first detection element having a first oscillator and a sensitive film, which was an FBAR, and a third detection element in which a detection element having the same characteristics as the first detection element was sealed with a sealer. The first detection element and the third detection element were connected to a Pierce-type oscillation circuit, and the oscillation frequency was measured with a frequency counter.
図17は、測定結果を示すグラフである。上記におい検出装置をチャンバに収容し、チャンバ内にガスG5及びガスG6を交互に流入させた。ガスG5はエタノール10ppmのガスであり、ガスG6はエタノール0ppmのガスである。図17において、第1検出素子の周波数変動量を「ΔF(total)」、第3検出素子の周波数変動量を「ΔFref2」として示す。 Figure 17 is a graph showing the measurement results. The odor detection device was placed in a chamber, and gas G5 and gas G6 were alternately flowed into the chamber. Gas G5 is a gas containing 10 ppm ethanol, and gas G6 is a gas containing 0 ppm ethanol. In Figure 17, the frequency fluctuation of the first detection element is shown as "ΔF (total)", and the frequency fluctuation of the third detection element is shown as "ΔFref2".
図18は第1検出素子と第3検出素子の周波数変動量の差分(ΔF(total)-ΔFref2)を示すグラフである。同図に示すように温度による影響が除外され、エタノールの感応膜への吸着による周波数変動が検出されていることがわかる。 Figure 18 is a graph showing the difference in frequency variation between the first and third detection elements (ΔF(total) - ΔFref2). As shown in the figure, the effect of temperature is eliminated, and it can be seen that the frequency variation due to the adsorption of ethanol to the sensitive membrane is detected.
100…におい検出装置
111…第1検出素子
112…第1発振回路
113…第2検出素子
114…第2発振回路
115…第3検出素子
116…第3発振回路
117…接続部
118…演算部
119…通信部
131…第1振動子
132…第1感応膜
133…第2振動子
134…第3振動子
135…第2感応膜
136…封止体
REFERENCE SIGNS
Claims (6)
弾性波共振器である第2の振動子を備える第2の検出素子と、
弾性波共振器である第3の振動子と、前記第3の振動子上に形成された第2の感応膜とを備え、前記第3の振動子及び前記第2の感応膜が外気から遮蔽されている第3の検出素子と、
前記第1の検出素子から出力された前記第1の振動子の共振周波数の変動量から前記第2の検出素子から出力された前記第2の振動子の共振周波数の変動量及び前記第3の検出素子から出力された前記第3の振動子の共振周波数の変動量を減じることにより前記第1の振動子の共振周波数の変動量を補正する演算部と
を具備し、
前記第2の振動子及び前記第3の振動子は、前記第1の振動子と共振周波数に関して同等の特性を有する
におい検出装置。 A first detection element including a first vibrator that is an acoustic wave resonator and a first sensitive film formed on the first vibrator;
A second detection element including a second oscillator that is an acoustic wave resonator;
a third detection element including a third vibrator that is an elastic wave resonator and a second sensitive film formed on the third vibrator, the third vibrator and the second sensitive film being shielded from the outside air;
a calculation unit that corrects an amount of variation in the resonance frequency of the first oscillator by subtracting an amount of variation in the resonance frequency of the second oscillator output from the second detection element and an amount of variation in the resonance frequency of the third oscillator output from the third detection element from an amount of variation in the resonance frequency of the first oscillator output from the first detection element;
Equipped with
The second oscillator and the third oscillator have the same characteristics as the first oscillator in terms of resonance frequency.
Odor detection device.
前記第2の感応膜は前記第1の感応膜と同じ材料で構成され、前記第1の感応膜と同じ膜厚を有する
におい検出装置。 The odor detection device according to claim 1 ,
The second sensitive film is made of the same material as the first sensitive film and has the same film thickness as the first sensitive film .
前記弾性波共振器はFBAR(Film Bulk Acoustic Resonator)である
におい検出装置。 The odor detection device according to claim 1 or 2 ,
The odor detection device, wherein the elastic wave resonator is a Film Bulk Acoustic Resonator (FBAR).
前記弾性波共振器はSAW(Surface Acoustic Wave)共振器である
におい検出装置。 The odor detection device according to any one of claims 1 to 3 ,
The odor detection device, wherein the elastic wave resonator is a SAW (Surface Acoustic Wave) resonator.
前記第3の検出素子を封止する封止体を備えるA sealant that seals the third detection element is provided.
におい検出装置。Odor detection device.
前記第2の振動子及び前記第3の振動子は、前記第1の振動子と共振周波数に関して同等の特性を有する
におい検出方法。
correcting the amount of variation in the resonance frequency of the first oscillator by subtracting, from the amount of variation in the resonance frequency of the first oscillator outputted from a first detection element having a first oscillator which is an elastic wave resonator and a first sensitive film formed on the first oscillator, the amount of variation in the resonance frequency of the second oscillator outputted from a second detection element having a second oscillator which is an elastic wave resonator and the amount of variation in the resonance frequency of the third oscillator outputted from a third detection element which has a third oscillator which is an elastic wave resonator and a second sensitive film formed on the third oscillator, the third oscillator and the second sensitive film being shielded from the outside air ;
The second oscillator and the third oscillator have the same characteristics as the first oscillator in terms of resonance frequency.
Odor detection methods.
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