JP7668151B2 - 研磨装置 - Google Patents
研磨装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7668151B2 JP7668151B2 JP2021070027A JP2021070027A JP7668151B2 JP 7668151 B2 JP7668151 B2 JP 7668151B2 JP 2021070027 A JP2021070027 A JP 2021070027A JP 2021070027 A JP2021070027 A JP 2021070027A JP 7668151 B2 JP7668151 B2 JP 7668151B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chuck
- guide
- polishing
- chuck support
- support portion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000005498 polishing Methods 0.000 title claims description 92
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 75
- 239000004744 fabric Substances 0.000 claims description 15
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 claims description 6
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 5
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 12
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 7
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 6
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 1
- -1 i.e. Substances 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
Description
具体的には、特許文献1に開示された従来技術のように、ワークを支持するトップリングをトップリングヘッドシャフトで片持ちする構成では、ワークに対する押圧力によってトップリングシャフト及びそれによって支持されているワークが僅かに傾き、高精度な加工が難しくなるという問題点があった。
図1は、本発明の実施形態に係る研磨装置1の概略構成を示す正面図である。
図1を参照して、研磨装置1は、半導体ウェーハ等の板状のワークWを研磨する装置である。具体的には、研磨装置1は、半導体ウェーハ等のワークWに対してCMP加工等のポリッシング加工を行うポリッシュ装置である。
チャック支持部14を構成するスピンドルケース15の内部には、チャック3を回転させる駆動源である図示しないモータ等が配設されても良い。
図1及び図2を参照して、前述のとおり、送り機構30は、チャック支持部の上方に、ボールねじ32がチャック支持部14と同心位置になるよう設けられている。即ち、ボールねじ32は、チャック3の回転軸と同じ回転軸を中心として上下動する。これにより、チャック支持部14の傾きを抑え、剛性を高めることができる。
図3に示すように、ガイド21は、チャック支持部14の上下動をガイドするリニアガイドであり、上下方向に延在するレール24と、レール24に相対移動可能に支持されるブロック25と、を有する。ブロック25は、レール24によってガイドされ上下方向に相対移動可能である。
図4を参照して、研磨装置101では、チャック支持部14を上下方向に送る送り機構30がチャック支持部14の側方に1つ設けられている。即ち、送り機構30は、チャック支持部14を構成するスピンドルケース115の側部に設けられている。
図5に示すように、ガイド機構20は、4箇所に設けられている。具体的には、ガイド機構20は、ガイドスタンド13の外側部近傍に、チャック3の回転軸を中心として90度間隔で配置されている。
図6に示すように、チャック支持部14を構成するスピンドルケース115は、略八角筒状に形成されている。即ち、スピンドルケース115は、上面視で略八角形状である。
2 テーブル
3 チャック
4 コラム
5 研磨布
11 支柱
12 アッパープレート
13 ガイドスタンド
14 チャック支持部
15、115 スピンドルケース
20 ガイド機構
21 ガイド
22 上ガイド
23 下ガイド
24 レール
25 ブロック
30 送り機構
31 モータ
32 ボールねじ
33 ボールねじナット
35 プーリ
36 プーリ
37 ベルト
124 ガイド面
W ワーク
Claims (5)
- 水平回転する板状のワークを水平回転する研磨布の上面に押し当てて前記ワークを研磨する研磨装置であって、
上面に前記研磨布を保持して水平回転するテーブルと、
前記テーブルの上方に設けられ前記ワークを保持して水平回転するチャックと、
前記チャックを水平回転自在に支持するチャック支持部と、
前記チャック支持部を介して対向配置され前記チャック支持部を上下動自在に支持する複数のガイド機構と、
前記チャック支持部を上下方向に送る送り機構と、を有し、
少なくとも1つの前記ガイド機構には、前記チャック支持部を支持する上下一対のガイドが設けられており、
前記送り機構は、前記チャック支持部を上下方向に送る動力を前記チャックの回転軸と同心位置となる前記チャック支持部の上部に伝達するよう前記チャック支持部の上方に設けられていることを特徴とする研磨装置。 - 前記ガイドは、上下方向に延在するレールと、前記レールに相対移動可能に支持されるブロックと、を有することを特徴とする請求項1に記載の研磨装置。
- 前記ブロックは、前記チャック支持部に固定されていることを特徴とする請求項2に記載の研磨装置。
- 前記ブロックには、前記レールに接触して転動する転動体が設けられていることを特徴とする請求項2または請求項3に記載の研磨装置。
- 前記ガイド機構は、4本形成されていることを特徴とする請求項1ないし請求項4の何れか1項に記載の研磨装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2021070027A JP7668151B2 (ja) | 2021-04-16 | 2021-04-16 | 研磨装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2021070027A JP7668151B2 (ja) | 2021-04-16 | 2021-04-16 | 研磨装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2022164493A JP2022164493A (ja) | 2022-10-27 |
| JP7668151B2 true JP7668151B2 (ja) | 2025-04-24 |
Family
ID=83742914
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2021070027A Active JP7668151B2 (ja) | 2021-04-16 | 2021-04-16 | 研磨装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP7668151B2 (ja) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002217147A (ja) | 2001-01-16 | 2002-08-02 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | ウェーハ研磨装置のウェーハ回収方法及び装置 |
| JP2002264009A (ja) | 2001-03-05 | 2002-09-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 研磨方法および研磨装置 |
| JP2012040620A (ja) | 2010-08-13 | 2012-03-01 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 研削盤 |
| CN102554760A (zh) | 2012-01-19 | 2012-07-11 | 大连理工大学 | 一种多功能的基片磨抛装置及其磨抛方法 |
| US20130316624A1 (en) | 2012-05-22 | 2013-11-28 | Satisloh Ag | Centering Machine For Workpieces, Particularly Optical Lenses |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0617858U (ja) * | 1992-08-18 | 1994-03-08 | 株式会社アマダワシノ | 研削盤 |
| JPH10138130A (ja) * | 1996-11-11 | 1998-05-26 | Amada Washino Co Ltd | 研削盤 |
-
2021
- 2021-04-16 JP JP2021070027A patent/JP7668151B2/ja active Active
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002217147A (ja) | 2001-01-16 | 2002-08-02 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | ウェーハ研磨装置のウェーハ回収方法及び装置 |
| JP2002264009A (ja) | 2001-03-05 | 2002-09-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 研磨方法および研磨装置 |
| JP2012040620A (ja) | 2010-08-13 | 2012-03-01 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 研削盤 |
| CN102554760A (zh) | 2012-01-19 | 2012-07-11 | 大连理工大学 | 一种多功能的基片磨抛装置及其磨抛方法 |
| US20130316624A1 (en) | 2012-05-22 | 2013-11-28 | Satisloh Ag | Centering Machine For Workpieces, Particularly Optical Lenses |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2022164493A (ja) | 2022-10-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN104684682B (zh) | 磨床 | |
| KR100405415B1 (ko) | 박판원판형가공물의양면연삭장치 | |
| KR100429739B1 (ko) | 디바이스 웨이퍼의 외주 연마장치 및 연마방법 | |
| KR100488301B1 (ko) | 벨트형 연마패드를 이용한 평탄면연마방법 및 장치 | |
| JP2004526585A (ja) | 研磨装置および研磨方法 | |
| US6464571B2 (en) | Polishing apparatus and method with belt drive system adapted to extend the lifetime of a refreshing polishing belt provided therein | |
| JP7339858B2 (ja) | 加工装置及び板状ワークの搬入出方法 | |
| TW201938320A (zh) | 研磨裝置 | |
| US6250995B1 (en) | Apparatus for polishing outer periphery of workpiece | |
| JP6858539B2 (ja) | 研削装置 | |
| JP7668151B2 (ja) | 研磨装置 | |
| CN111761506A (zh) | 一种台式双面研抛机 | |
| JP4243006B2 (ja) | ワークの研磨方法及び装置 | |
| JP2005052944A (ja) | 研磨装置 | |
| JP2017124484A (ja) | 研削・研磨複合加工装置及び研磨装置 | |
| JP2017047504A (ja) | 加工装置 | |
| JPH065568A (ja) | 半導体ウエハの全自動ポリッシング装置 | |
| JP2004283962A (ja) | 板状ワークの平面研磨方法および平面研磨盤 | |
| JPH11291159A (ja) | 両面研磨装置 | |
| JP3744390B2 (ja) | 加工装置 | |
| KR200414570Y1 (ko) | 자동연마장치 | |
| JPH11207579A (ja) | 薄板状工作物の両面研削方法 | |
| JPS6335382B2 (ja) | ||
| CN220921771U (zh) | 一种抛光拉丝机 | |
| JP3643686B2 (ja) | ウェーハの研磨方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20240321 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20241218 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20250107 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20250227 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20250401 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20250414 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7668151 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |