JP7669404B2 - 撮像装置、撮像装置の処理方法及びプログラム - Google Patents
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Description
<導入部分>
図1は、第1の実施形態に係る光電変換素子100の構成例を示す図である。以下では、光電変換素子100が、センサ基板11と、回路基板21の2枚の基板が積層され、且つ、センサ基板11と回路基板21が電気的に接続されることにより構成される、所謂積層構造である光電変換素子を例にとって説明する。しかしながら、光電変換素子100は、センサ基板11に含まれる構成と、回路基板21に含まれる構成が共通の半導体層に配された、所謂非積層構造であってもよい。センサ基板11は、画素領域12を有する。回路基板21は、画素領域12で生成された信号を処理する回路領域22を有する。
図2は、図1のセンサ基板11の構成例を示す図である。センサ基板11の画素領域12は、複数行及び複数列方向に渡って、二次元状に配置された複数の画素101を含む。複数の画素101の各々は、アバランシェフォトダイオード(以下、APD)を含む光電変換部102を備える。光電変換部102は、光電変換により、光を電荷に変換する。なお、画素101の行数及び列数は、限定されるものではない。
図3は、図1の回路基板21の構成例を示す図である。回路基板21は、図2の光電変換部102で光電変換された電荷を処理する信号処理回路103と、読み出し回路112と、制御パルス生成部115と、水平走査回路111と、信号線113と、垂直走査回路110と、出力回路114を有する。
図2及び図3に示すように、平面視で複数の画素101に重なる領域には、それぞれ、複数の信号処理回路103が配される。そして、平面視で、センサ基板11の端と画素領域12の端との間の領域に重なるように、垂直走査回路110と、水平走査回路111と、読み出し回路112と、出力回路114と、制御パルス生成部115が配される。言い換えると、センサ基板11は、画素領域12と画素領域12の周りに配された非画素領域とを有する。そして、平面視で非画素領域に重なる領域に、垂直走査回路110と、水平走査回路111と、読み出し回路112と、出力回路114と、制御パルス生成部115が配される。
図4は、図2及び図3のうち、光電変換部102および、光電変換部102に対応した信号処理回路103の構成例を示す等価回路図である。
VR=VL-VH (1)
図5は、図4のAPD201の動作と出力信号の関係を示す図である。図4の波形整形部210の入力側をnodeAとし、波形整形部210の出力側をnodeBとしている。時刻t0から時刻t1の間において、APD201には、VH-VLの電位差が印加されている。時刻t1において、光子(フォトン)がAPD201に入射すると、APD201でアバランシェ増倍が生じ、クエンチ素子202にアバランシェ増倍電流が流れ、nodeAの電圧は降下する。nodeAの電圧降下量がさらに大きくなり、APD201に印加される電位差が小さくなると、時刻t2のように、APD201のアバランシェ増倍が停止し、nodeAの電圧レベルはある一定値以上降下しなくなる。その後、時刻t2から時刻t3の間において、nodeAには駆動電圧VLから電圧降下分を補う電流が流れ、時刻t3において、nodeAは元の電位レベルに静定する。このとき、波形整形部210は、nodeAの波形値が波形閾値より低い部分をハイレベルとし、nodeAの波形値が波形閾値より高い部分をローレベルとするnodeBの信号を出力する。
第2の実施形態では、領域ごとの変化度合い推定値に基づいて、領域ごとに画像処理パラメータを設定する構成について説明する。
本開示は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサがプログラムを読み出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
(構成1)
アバランシェフォトダイオードを含む撮像部と、
前記撮像部の変化度合い推定値を算出する推定値算出部と、
前記変化度合い推定値と第1の閾値に基づく画像処理パラメータを基に、前記撮像部の出力信号に対して画像処理を行う画像処理部と
を有することを特徴とする撮像装置。
(構成2)
前記撮像部は、
前記アバランシェフォトダイオードと、
前記アバランシェフォトダイオードの信号をカウントするカウンタとを有することを特徴とする構成1に記載の撮像装置。
(構成3)
前記撮像部は、前記アバランシェフォトダイオードの信号の波形を整形する整形部をさらに有し、
前記カウンタは、前記整形部により整形された信号をカウントすることを特徴とする構成2に記載の撮像装置。
(構成4)
前記推定値算出部は、稼働開始からのアバランシェ発光回数や、露光条件、温度、又は被写体の輝度情報に基づき、前記撮像部の変化度合い推定値を算出することを特徴とする構成1~3のいずれか1項に記載の撮像装置。
(構成5)
前記推定値算出部は、前記撮像部の出力信号を基に輝度の累積値を算出し、前記輝度の累積値を基に前記撮像部の変化度合い推定値を算出することを特徴とする構成1~4のいずれか1項に記載の撮像装置。
(構成6)
前記撮像装置の設定情報を基に前記第1の閾値を設定する閾値設定部をさらに有することを特徴とする構成1~5のいずれか1項に記載の撮像装置。
(構成7)
前記撮像装置の設定情報は、コーデック、階調補正、ノイズ低減処理、キズ画素補正、デモザイキング処理、シャープネス処理、彩度強調処理、又は暗部補正の設定情報であることを特徴とする構成1~6のいずれか1項に記載の撮像装置。
(構成8)
前記撮像装置の設定情報は、エンコーダのビットレートを含み、
前記閾値設定部は、前記ビットレートが第2の閾値以上である場合には、前記第1の閾値として第1の値を設定し、前記ビットレートが第2の閾値以上でない場合には、前記第1の閾値として前記第1の値より大きい第2の値を設定することを特徴とする構成6に記載の撮像装置。
(構成9)
前記撮像装置の設定情報は、エンコーダのQp値を含み、
前記閾値設定部は、前記Qp値が第3の閾値以下である場合には、前記第1の閾値として第3の値を設定し、前記Qp値が第3の閾値以下でない場合には、前記第1の閾値として前記第3の値より大きい第4の値を設定することを特徴とする構成6に記載の撮像装置。
(構成10)
前記撮像装置の設定情報は、エンコーダのエンコーディング方法とビットレートとQp値を含み、
前記閾値設定部は、
前記エンコーディング方法がVBRエンコーディングであり、かつ、前記ビットレートが第2の閾値以上である場合には、前記第1の閾値として第1の値を設定し、
前記エンコーディング方法がVBRエンコーディングであり、かつ、前記ビットレートが第2の閾値以上でない場合には、前記第1の閾値として前記第1の値より大きい第2の値を設定し、
前記エンコーディング方法がCBRエンコーディングであり、かつ、前記Qp値が第3の閾値以下である場合には、前記第1の閾値として第3の値を設定し、
前記エンコーディング方法がCBRエンコーディングであり、かつ、前記Qp値が第3の閾値以下でない場合には、前記第1の閾値として前記第3の値より大きい第4の値を設定することを特徴とする構成6に記載の撮像装置。
(構成11)
前記撮像装置の設定情報は、暗部補正機能のオン/オフ情報であり、
前記閾値設定部は、前記暗部補正機能がオンである場合には、前記第1の閾値として第5の値を設定し、前記暗部補正機能がオフである場合には、前記第1の閾値として前記第5の値より大きい第6の値を設定することを特徴とする構成6に記載の撮像装置。
(構成12)
前記変化度合い推定値が前記第1の閾値以上である場合には、第1の画像処理パラメータを設定し、前記変化度合い推定値が前記第1の閾値以上でない場合には、第2の画像処理パラメータを設定するパラメータ設定部をさらに有し、
前記画像処理部は、前記パラメータ設定部により設定された第1の画像処理パラメータ又は第2の画像処理パラメータを基に、画像処理を行うことを特徴とする構成1~11のいずれか1項に記載の撮像装置。
(構成13)
前記第1の画像処理パラメータは、前記第2の画像処理パラメータよりも、ノイズ又はキズ画素ノイズを強く低減する処理を行うためのパラメータであることを特徴とする構成12に記載の撮像装置。
(構成14)
前記画像処理部が行う画像処理は、階調補正、ノイズ低減処理、キズ画素補正、デモザイキング処理、シャープネス処理、彩度強調処理、又は暗部補正であることを特徴とする構成1~13のいずれか1項に記載の撮像装置。
(構成15)
前記推定値算出部は、前記撮像部の領域ごとの変化度合い推定値を算出し、
前記画像処理部は、前記領域ごとの変化度合い推定値と第1の閾値に基づく領域ごとの画像処理パラメータを基に、前記撮像部の出力信号に対して領域ごとの画像処理を行うことを特徴とする構成1~14のいずれか1項に記載の撮像装置。
(方法1)
アバランシェフォトダイオードを含む撮像部の変化度合い推定値を算出する推定値算出ステップと、
前記変化度合い推定値と第1の閾値に基づく画像処理パラメータを基に、前記撮像部の出力信号に対して画像処理を行う画像処理ステップと
を有することを特徴とする撮像装置の処理方法。
(プログラム1)
アバランシェフォトダイオードを含む撮像部の変化度合い推定値を算出する推定値算出ステップと、
前記変化度合い推定値と第1の閾値に基づく画像処理パラメータを基に、前記撮像部の出力信号に対して画像処理を行う画像処理ステップと
をコンピュータに実行させるためのプログラム。
Claims (17)
- アバランシェフォトダイオードを含む撮像部と、
前記アバランシェフォトダイオードにおけるアバランシェ発光回数、前記撮像部の露光条件及び前記撮像部の温度に関する情報の少なくとも1つに基づいて、前記撮像部の劣化度合いを示す推定値を算出する推定値算出部と、
前記劣化度合いを示す推定値と第1の閾値に基づく画像処理パラメータを基に、前記撮像部の出力信号に対して画像処理を行う画像処理部と
を有することを特徴とする撮像装置。 - 前記撮像部は、
前記アバランシェフォトダイオードと、
前記アバランシェフォトダイオードの信号をカウントするカウンタとを有することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。 - 前記撮像部は、前記アバランシェフォトダイオードの信号の波形を整形する整形部をさらに有し、
前記カウンタは、前記整形部により整形された信号をカウントすることを特徴とする請求項2に記載の撮像装置。 - 前記推定値算出部は、稼働開始からのアバランシェ発光回数や、露光条件、温度、又は被写体の輝度情報に基づき、前記撮像部の劣化度合いを示す推定値を算出することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
- 前記推定値算出部は、前記撮像部の出力信号に基づいて得られる複数の画像の輝度の累積値を算出し、前記輝度の累積値を基に前記撮像部の劣化度合いを示す推定値を算出することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
- 前記撮像装置の設定情報を基に前記第1の閾値を設定する閾値設定部をさらに有することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
- 前記撮像装置の設定情報は、コーデックの設定情報であることを特徴とする請求項6に記載の撮像装置。
- 前記撮像装置の設定情報は、エンコーダのビットレートを含み、
前記閾値設定部は、前記ビットレートが第2の閾値以上である場合には、前記第1の閾値として第1の値を設定し、前記ビットレートが第2の閾値以上でない場合には、前記第1の閾値として前記第1の値より大きい第2の値を設定することを特徴とする請求項6に記載の撮像装置。 - 前記撮像装置の設定情報は、エンコーダのQp値を含み、
前記閾値設定部は、前記Qp値が第3の閾値以下である場合には、前記第1の閾値として第3の値を設定し、前記Qp値が第3の閾値以下でない場合には、前記第1の閾値として前記第3の値より大きい第4の値を設定することを特徴とする請求項6に記載の撮像装置。 - 前記撮像装置の設定情報は、エンコーダのエンコーディング方法とビットレートとQp値を含み、
前記閾値設定部は、
前記エンコーディング方法がVBRエンコーディングであり、かつ、前記ビットレートが第2の閾値以上である場合には、前記第1の閾値として第1の値を設定し、
前記エンコーディング方法がVBRエンコーディングであり、かつ、前記ビットレートが第2の閾値以上でない場合には、前記第1の閾値として前記第1の値より大きい第2の値を設定し、
前記エンコーディング方法がCBRエンコーディングであり、かつ、前記Qp値が第3の閾値以下である場合には、前記第1の閾値として第3の値を設定し、
前記エンコーディング方法がCBRエンコーディングであり、かつ、前記Qp値が第3の閾値以下でない場合には、前記第1の閾値として前記第3の値より大きい第4の値を設定することを特徴とする請求項6に記載の撮像装置。 - 前記撮像装置の設定情報は、暗部補正機能のオン/オフ情報であり、
前記閾値設定部は、前記暗部補正機能がオンである場合には、前記第1の閾値として第5の値を設定し、前記暗部補正機能がオフである場合には、前記第1の閾値として前記第5の値より大きい第6の値を設定することを特徴とする請求項6に記載の撮像装置。 - 前記劣化度合いを示す推定値が前記第1の閾値以上である場合には、第1の画像処理パラメータを設定し、前記劣化度合いを示す推定値が前記第1の閾値以上でない場合には、第2の画像処理パラメータを設定するパラメータ設定部をさらに有し、
前記画像処理部は、前記パラメータ設定部により設定された第1の画像処理パラメータ又は第2の画像処理パラメータを基に、画像処理を行うことを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。 - 前記第1の画像処理パラメータは、前記第2の画像処理パラメータよりも、ノイズ又はキズ画素ノイズを強く低減する処理を行うためのパラメータであることを特徴とする請求項12に記載の撮像装置。
- 前記画像処理部が行う画像処理は、ノイズ低減処理又はキズ画素補正であることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
- 前記推定値算出部は、前記撮像部の領域ごとの劣化度合いを示す推定値を算出し、
前記画像処理部は、前記領域ごとの劣化度合いを示す推定値と第1の閾値に基づく領域ごとの画像処理パラメータを基に、前記撮像部の出力信号に対して領域ごとの画像処理を行うことを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。 - アバランシェフォトダイオードを含む撮像部の劣化度合いを示す推定値を、前記アバランシェフォトダイオードにおけるアバランシェ発光回数、前記撮像部の露光条件及び温度に関する情報の少なくとも1つに基づいて算出する推定値算出ステップと、
前記劣化度合いを示す推定値と第1の閾値に基づく画像処理パラメータを基に、前記撮像部の出力信号に対して画像処理を行う画像処理ステップと
を有することを特徴とする撮像装置の処理方法。 - アバランシェフォトダイオードを含む撮像部の劣化度合いを示す推定値を、前記アバランシェフォトダイオードにおけるアバランシェ発光回数、前記撮像部の露光条件及び温度に関する情報の少なくとも1つに基づいて算出する推定値算出ステップと、
前記劣化度合いを示す推定値と第1の閾値に基づく画像処理パラメータを基に、前記撮像部の出力信号に対して画像処理を行う画像処理ステップと
をコンピュータに実行させるためのプログラム。
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| JP2023018576A JP7669404B2 (ja) | 2023-02-09 | 2023-02-09 | 撮像装置、撮像装置の処理方法及びプログラム |
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| JP2021089962A (ja) | 2019-12-04 | 2021-06-10 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 受光装置及び受光装置の制御方法、並びに、測距装置 |
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2023
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