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JP7689430B2 - Measuring Equipment - Google Patents
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JP7689430B2 - Measuring Equipment - Google Patents

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Description

本発明は、板状の被測定物を測定する測定装置に関する。 The present invention relates to a measuring device for measuring a plate-shaped object.

この種の測定装置として、図13(a)および図13(b)に示すように、ベースブロック1と、ベースブロック1に設けられ円盤状のディスクなどの被測定物Dを水平に保持する測定台2と、センサ3とを備えたものが開示されている(特許文献1参照)。この測定装置は、センサを測定台2に保持された被測定物Dの表面と平行に非接触で移動させることにより被測定物Dの表面の平坦度を測定するように構成されている。 As shown in Figures 13(a) and 13(b), one such measuring device has been disclosed that includes a base block 1, a measuring stage 2 that is attached to the base block 1 and horizontally holds a measurement object D such as a circular disk, and a sensor 3 (see Patent Document 1). This measuring device is configured to measure the flatness of the surface of the measurement object D by moving the sensor in a non-contact manner parallel to the surface of the measurement object D held on the measuring stage 2.

特開平11-183115号公報Japanese Patent Application Publication No. 11-183115

しかしながら、特許文献1に記載の測定装置においては、被測定物Dが測定台2に水平に保持されているので、重力が被測定物Dをたわませる方向に作用する。即ち、被測定物Dの自重により被測定物Dにたわみが発生する。自重によるたわみが小さい比較的に厚い被測定物Dの場合は、良好に測定することができるが、被測定物Dが比較的に薄い形状の場合、自重によりたわみが大きく被測定物Dが変形してしまうため、平坦度を正確に測定することができないという問題がある。 However, in the measuring device described in Patent Document 1, since the object D is held horizontally on the measuring table 2, gravity acts in a direction that causes the object D to bend. That is, the weight of the object D causes the object D to bend. When the object D is relatively thick and the bending due to its own weight is small, the measurement can be performed satisfactorily. However, when the object D is relatively thin, the bending due to its own weight is large and the object D is deformed, resulting in a problem that the flatness cannot be measured accurately.

本発明は、このような問題を解決するためになされたもので、被測定物が比較的に薄い形状であっても、平坦度をより正確に測定することができる測定装置を提供することを課題とする。 The present invention was made to solve these problems, and aims to provide a measuring device that can measure flatness more accurately even when the object being measured has a relatively thin shape.

(1)本発明に係る測定装置は、被測定物を測定する測定装置であって、前記被測定物の表面および裏面の少なくとも一方の形状を測定する測定手段と、前記被測定物を搬送する搬送手段とを備え、前記測定手段は、鉛直方向から所定の角度だけ傾いている測定基準面を有し、前記搬送手段は、前記被測定物が前記測定基準面に対して平行になるように前記被測定物を保持する保持部を有し、前記保持部は、前記被測定物が前記所定の角度だけ傾いている姿勢を維持したまま、前記被測定物の前記測定手段への取付けおよび取外しを行うことを特徴とする。 (1) The measuring device according to the present invention is a measuring device for measuring an object to be measured, and includes a measuring means for measuring the shape of at least one of the front and back surfaces of the object to be measured, and a transporting means for transporting the object to be measured, the measuring means having a measurement reference surface tilted at a predetermined angle from the vertical direction, the transporting means having a holding section for holding the object to be measured so that the object to be measured is parallel to the measurement reference surface, and the holding section is adapted to attach and detach the object to and from the measuring means while maintaining the object to be measured in a position tilted at the predetermined angle.

(2)本発明に係る測定装置は、(1)に記載の測定装置であって、前記搬送手段が、前記被測定物を前記測定手段に取付ける取付用保持部と前記被測定物を前記測定手段から取外す取外用保持部とを有することを特徴とする。 (2) The measuring device according to the present invention is the measuring device described in (1), characterized in that the conveying means has an attachment holder for attaching the object to be measured to the measuring means and a removal holder for removing the object to be measured from the measuring means.

(3)本発明に係る測定装置は、(1)または(2)に記載の測定装置であって、前記搬送手段が、前記測定手段に対向して前記被測定物を搬送する際、前記被測定物が前記測定基準面に対して平行に搬送されることを特徴とする。 (3) The measuring device according to the present invention is the measuring device described in (1) or (2), characterized in that when the conveying means conveys the object to be measured facing the measuring means, the object to be measured is conveyed parallel to the measurement reference surface.

(4)本発明に係る測定装置は、(1)に記載の測定装置であって、前記測定手段が、互いに対向して配置される第1測定手段および第2測定手段を有することを特徴とする。 (4) The measuring device according to the present invention is the measuring device described in (1), characterized in that the measuring means has a first measuring means and a second measuring means arranged opposite each other.

(5)本発明に係る測定装置は、(4)に記載の測定装置であって、前記搬送手段が、前記第1測定手段に対向して前記被測定物を搬送する第1搬送手段と、前記第2測定手段に対向して前記被測定物を搬送する第2搬送手段とを有し、前記第1搬送手段の搬送方向と前記第2搬送手段の搬送方向とが互いに逆方向であることを特徴とする。 (5) The measuring device according to the present invention is the measuring device described in (4), characterized in that the conveying means has a first conveying means that conveys the object to be measured facing the first measuring means, and a second conveying means that conveys the object to be measured facing the second measuring means, and the conveying direction of the first conveying means and the conveying direction of the second conveying means are opposite to each other.

(6)本発明に係る測定装置は、(1)から(5)の何れか一つに記載の測定装置であって、前記被測定物が鉛直方向に沿って位置する鉛直姿勢と前記被測定物が鉛直方向から所定の角度だけ傾いて位置する傾斜姿勢との間で、前記鉛直姿勢と前記傾斜姿勢とを変換する受渡部を有することを特徴とする。 (6) The measuring device according to the present invention is the measuring device according to any one of (1) to (5), characterized in that it has a transfer unit that converts between a vertical position in which the object to be measured is positioned along the vertical direction and an inclined position in which the object to be measured is positioned at a predetermined angle from the vertical direction.

(7)本発明に係る測定装置は、(1)に記載の測定装置であって、前記搬送手段を駆動する駆動手段を有し、前記駆動手段は、前記測定手段よりも鉛直方向で下方に配置されていることを特徴とする。 (7) The measuring device according to the present invention is the measuring device described in (1), characterized in that it has a driving means for driving the conveying means, and the driving means is disposed vertically below the measuring means.

(8)本発明に係る測定装置は、(1)に記載の測定装置であって、前記搬送手段は、水平方向および測定基準面に対して垂直方向に往復移動可能に構成され、前記被測定物は、前記搬送手段により主面の向きを測定基準面側に維持したまま測定装置の入側から出側まで搬送されることを特徴とする。 (8) The measuring device according to the present invention is the measuring device described in (1), characterized in that the transport means is configured to be capable of reciprocating in the horizontal direction and in the direction perpendicular to the measurement reference surface, and the object to be measured is transported by the transport means from the entrance side to the exit side of the measuring device while maintaining the orientation of the main surface toward the measurement reference surface.

(9)本発明に係る測定装置は、(1)に記載の測定装置であって、前記被測定物が板厚方向に貫通する貫通孔を有し、前記保持部は、前記貫通孔の内壁部を保持することを特徴とする。 (9) The measuring device according to the present invention is the measuring device described in (1), characterized in that the object to be measured has a through hole penetrating in the plate thickness direction, and the holding part holds the inner wall part of the through hole.

(10)本発明に係る測定装置は、(1)に記載の測定装置であって、前記測定基準面は、前記被測定物を支持する支持体と、該支持体に支持された前記被測定物に当接する振れ止めを有することを特徴とする。 (10) The measuring device according to the present invention is the measuring device described in (1), characterized in that the measurement reference surface has a support that supports the object to be measured and a vibration rest that abuts against the object to be measured supported by the support.

上記(1)に記載した本発明に係る測定装置によれば、被測定物の表面および裏面の少なくとも一方の形状を測定する測定手段と被測定物を搬送する搬送手段とを備え、測定手段は、鉛直方向から所定の角度だけ傾いている測定基準面を有し、搬送手段は、被測定物が測定基準面に対して平行になるように被測定物を保持する保持部を有している。また、保持部は、被測定物が所定の角度だけ傾いている姿勢を維持したまま、被測定物の測定手段への取付けおよび取外しを行う。 The measuring device according to the present invention described in (1) above includes a measuring means for measuring the shape of at least one of the front and back surfaces of the object to be measured, and a transporting means for transporting the object to be measured, the measuring means having a measurement reference surface tilted at a predetermined angle from the vertical direction, and the transporting means having a holding section for holding the object to be measured so that the object is parallel to the measurement reference surface. The holding section also attaches and detaches the object to the measuring means while maintaining the object in a position tilted at the predetermined angle.

この構成により、従来の測定装置における問題、即ち、被測定物が測定台に水平に保持されたことによる被測定物のたわみを効果的に抑制でき、被測定物が薄い形状における平坦度測定精度の低下という問題が解消される。この構成によれば、被測定物を所定の角度だけ傾けた姿勢に保持してその表面及び裏面の少なくとも一方の形状を測定するので、被測定物に自重によるたわみが発生するのを抑制し、より正確に形状を測定できる。 This configuration effectively suppresses a problem with conventional measuring devices, namely, deflection of the object to be measured caused by the object being held horizontally on the measurement table, and resolves the problem of reduced flatness measurement accuracy when the object to be measured has a thin shape. With this configuration, the object to be measured is held in a position tilted at a predetermined angle and the shape of at least one of its front and back surfaces is measured, thereby suppressing deflection of the object to be measured due to its own weight and enabling more accurate shape measurement.

また、保持部は、被測定物が所定の角度で傾いている傾斜姿勢を維持したまま、被測定物の測定手段への取付けおよび取外しを行うように構成されている。この構成により、傾斜姿勢を高い精度で保持し、被測定物の測定手段への取付けおよび取外しが円滑に行われる。さらに、被測定物の自重によるたわみの影響を抑制し、測定装置に置かれたときの被測定物の姿勢を安定させることができる。 The holding section is also configured to mount and remove the object to be measured from the measuring means while maintaining the inclined posture in which the object is tilted at a predetermined angle. With this configuration, the inclined posture can be maintained with high precision, and the object to be measured can be smoothly mounted and removed from the measuring means. Furthermore, the effect of deflection due to the object's own weight can be suppressed, and the posture of the object to be measured when placed on the measuring device can be stabilized.

上記(2)に記載した本発明に係る測定装置によれば、被測定物が取付用搬送部により測定手段に取付けられ、取外用搬送部により測定手段から取外される。この構成により、被測定物が迅速に搬送され、被測定物の測定手段への取付けおよび取外しが円滑に行われ、効率よく被測定物を搬送することができる。 According to the measuring device of the present invention described in (2) above, the object to be measured is attached to the measuring means by the attachment transport section, and is removed from the measuring means by the removal transport section. With this configuration, the object to be measured is transported quickly, and the object to be measured can be smoothly attached to and removed from the measuring means, allowing the object to be transported efficiently.

上記(3)に記載した本発明に係る測定装置によれば、搬送手段が、測定手段に対向して被測定物を搬送する際、被測定物が測定基準面に対して平行に搬送される。この構成により、被測定物に対して余計な応力が発生することなく、効率よく多くの被測定物が搬送され、多数の被測定物を迅速に測定することができる。 According to the measuring device of the present invention described in (3) above, when the conveying means conveys the object to be measured facing the measuring means, the object is conveyed parallel to the measurement reference surface. With this configuration, many objects to be measured can be conveyed efficiently without generating unnecessary stress on the object to be measured, and a large number of objects to be measured can be measured quickly.

上記(4)に記載した本発明に係る測定装置によれば、測定手段が、互いに対向して配置される第1測定手段および第2測定手段を有するので、測定装置の構成要素の配置スペースが小さくなり、測定装置のコンパクト化が図られる。 According to the measuring device of the present invention described in (4) above, the measuring means has a first measuring means and a second measuring means arranged opposite each other, so that the arrangement space for the components of the measuring device is reduced, and the measuring device can be made compact.

上記(5)に記載した本発明に係る測定装置によれば、搬送手段が、第1測定手段に対向して被測定物を搬送する第1搬送手段と、第2測定手段に対向して被測定物を搬送する第2搬送手段とを有し、第1搬送手段の搬送方向と第2搬送手段の搬送方向とが互いに逆方向である。この構成により、第1搬送手段および第1測定手段と、第2搬送手段および第2測定手段との各配置スペースが小さくなり、測定装置のコンパクト化が図られる。 According to the measuring device of the present invention described in (5) above, the conveying means has a first conveying means which conveys the object to be measured opposite the first measuring means, and a second conveying means which conveys the object to be measured opposite the second measuring means, and the conveying directions of the first conveying means and the second conveying means are opposite to each other. With this configuration, the arrangement space of the first conveying means and the first measuring means, and the arrangement space of the second conveying means and the second measuring means are reduced, making the measuring device more compact.

上記(6)に記載した本発明に係る測定装置によれば、被測定物が鉛直方向に沿って位置する鉛直姿勢と被測定物の鉛直方向から所定の角度だけ傾いて位置する傾斜姿勢との間で、鉛直姿勢と傾斜姿勢とを変換する受渡部を有している。この構成により、搬送された鉛直姿勢の被測定物が受渡部で円滑に傾斜姿勢に変換され、傾斜姿勢で搬送された被測定物が受渡部で円滑に鉛直姿勢に変換されるため、搬送部で傾斜姿勢に変換する過程が不要となり、搬送中に被測定物に余計な応力が発生することを抑制し、測定装置に置かれた時の被測定物の姿勢を安定させることができる。 According to the measuring device of the present invention described in (6) above, the measuring device has a transfer section that converts the vertical posture between a vertical posture in which the object to be measured is positioned along the vertical direction and an inclined posture in which the object to be measured is positioned at a predetermined angle from the vertical direction of the object to be measured. With this configuration, the object to be measured that has been transported in a vertical posture is smoothly converted to an inclined posture in the transfer section, and the object to be measured that has been transported in an inclined posture is smoothly converted to a vertical posture in the transfer section , eliminating the need for a process of converting to an inclined posture in the transport section, suppressing the generation of unnecessary stress in the object to be measured during transport, and enabling the posture of the object to be measured when placed in the measuring device to be stabilized.

上記(7)に記載した本発明に係る測定装置によれば、搬送手段を駆動する駆動手段を有し、駆動手段は、測定手段よりも鉛直方向で下方に配置されている。この構成により、駆動手段から発生した細かな発塵物が測定手段を構成する基板などの構成要素に付着し難くなり、基板などの構成要素が汚染するリスクが減少する。 The measuring device according to the present invention described in (7) above has a driving means for driving the conveying means, and the driving means is disposed vertically below the measuring means. With this configuration, fine dust generated by the driving means is less likely to adhere to the components such as the substrate that constitute the measuring means, reducing the risk of contamination of the components such as the substrate.

上記(8)に記載した本発明に係る測定装置によれば、搬送手段は、水平方向および測定基準面に対して垂直方向に往復移動可能に構成されているので、効率的かつ迅速に被測定物が搬送される。また、被測定物は、搬送手段により主面の向きを測定基準面側に維持したまま測定装置の入側から出側まで搬送されるので、無駄なく多数の被測定物が迅速に測定され、搬送される。 According to the measuring device of the present invention described in (8) above, the conveying means is configured to be capable of reciprocating in the horizontal direction and in the direction perpendicular to the measurement reference surface, so that the objects to be measured are conveyed efficiently and quickly. In addition, the objects to be measured are conveyed by the conveying means from the entrance side to the exit side of the measuring device while maintaining the orientation of their main surfaces toward the measurement reference surface, so that a large number of objects to be measured are measured and conveyed quickly and without waste.

上記(9)に記載した本発明に係る測定装置によれば、被測定物が板厚方向に貫通する貫通孔を有し、保持部は、貫通孔の内壁部を保持するので、傾斜している被測定物に対して余計な応力を発生させることなく安定して被測定物が保持される。 According to the measuring device of the present invention described in (9) above, the object to be measured has a through hole that penetrates in the plate thickness direction, and the holding part holds the inner wall part of the through hole, so that the inclined object to be measured is stably held without generating unnecessary stress.

上記(10)に記載した本発明に係る測定装置によれば、測定基準面は、被測定物を支持する支持体と、振れ止めを有しているので、被測定物の振れを抑制し、被測定物の姿勢を維持し、安定させることで平坦度の測定精度を高めることができる。 According to the measuring device of the present invention described in (10) above, the measurement reference surface has a support that supports the object to be measured and a vibration prevention device, so that the vibration of the object to be measured is suppressed, the posture of the object to be measured is maintained, and the measurement accuracy of the flatness can be improved by stabilizing it.

本発明によれば、被測定物が比較的に薄い形状であってもより正確に平坦度を測定することができる測定装置を提供することができる。 The present invention provides a measuring device that can measure the flatness of an object more accurately, even if the object being measured has a relatively thin shape.

本発明の第1実施形態~第3実施形態に係る測定装置により測定されるディスクの図であり、図1(a)は、ディスクの斜視図を示し、図1(b)は、ディスクの断面図を示す。1A and 1B are diagrams of a disk measured by a measuring device according to first to third embodiments of the present invention, in which FIG. 1A shows a perspective view of the disk, and FIG. 1B shows a cross-sectional view of the disk. 本発明の第1実施形態~第3実施形態に係るディスクの製造工程を示す工程図。3A to 3D are process diagrams showing the manufacturing process of the disk according to the first to third embodiments of the present invention. 本発明の第1実施形態に係る測定装置の構成を模式的に示した模式図。1 is a schematic diagram showing a configuration of a measurement device according to a first embodiment of the present invention; 本発明の第1実施形態に係る測定装置の正面を模式的に示した模式図。1 is a schematic diagram showing a front view of a measurement device according to a first embodiment of the present invention; 本発明の第1実施形態に係る測定装置の模式図であり、図5(a)は、拡大した測定装置の正面を示し、図5(b)は、拡大した測定装置の側面を示す。5A and 5B are schematic diagrams of a measuring device according to a first embodiment of the present invention, where FIG. 5A shows an enlarged front view of the measuring device, and FIG. 5B shows an enlarged side view of the measuring device. 本発明の第1実施形態に係る測定装置の模式図であり、図6(a)は、ロボット搬送部のディスク保持部およびディスクの正面を示し、図6(b)は、ロボット搬送部のディスク保持部およびディスクの側面を示し、図6(c)は、A面測定部の測定基準面側に設けられた支持体、ディスクの振れ止めおよびディスクの正面を示し、図6(d)は、A面測定部の測定基準面側に設けられた支持体およびディスクの側面を示し、図6(e)は、取付用搬送機構または取外用搬送機構の保持部およびディスクの正面を示し、図6(f)は、取付用搬送機構または取外用搬送機構の保持部およびディスクの側面を示す。6(a) is a schematic diagram of a measuring device according to a first embodiment of the present invention, where FIG. 6(a) shows the disk holding part of the robot transport part and the front of the disk, FIG. 6(b) shows the disk holding part of the robot transport part and the side of the disk, FIG. 6(c) shows a support provided on the measurement reference surface side of the A-side measurement part, a disk vibration rest and the front of the disk, FIG. 6(d) shows a support provided on the measurement reference surface side of the A-side measurement part and the side of the disk, FIG. 6(e) shows the holding part of the mounting transport mechanism or the removal transport mechanism and the front of the disk, and FIG. 6(f) shows the holding part of the mounting transport mechanism or the removal transport mechanism and the side of the disk. 本発明の第1実施形態に係る測定装置の動作を示す模式図で有り、図7(1)は、保持部がディスクから離反した位置に待機している状態を示し、図7(2)は、保持部がディスクに接近した状態を示し、図7(3)は、保持部の上昇中の状態を示し、図7(4)は、保持部によりディスクを保持した状態を示す。7A and 7B are schematic diagrams showing the operation of the measuring device according to the first embodiment of the present invention, in which FIG. 7(1) shows a state in which the holding part is waiting in a position away from the disk, FIG. 7(2) shows a state in which the holding part is approaching the disk, FIG. 7(3) shows a state in which the holding part is rising, and FIG. 7(4) shows a state in which the disk is being held by the holding part. 本発明の第1実施形態に係る測定装置の動作を示す模式図であり、図8(a)は、ロボット搬送部のディスク保持部がディスクを入側受渡部に渡す状態を示し、図8(b)は、入側受渡部が第1搬送部の取付用搬送機構にディスクを渡す状態を示し、図8(c)は、取付用搬送機構がA面測定部のディスク保持部にディスクを取付ける状態を示す。8A and 8B are schematic diagrams showing the operation of the measuring device according to the first embodiment of the present invention, in which FIG. 8(a) shows the state in which the disk holding section of the robot transport section hands over the disk to the entry-side transfer section, FIG. 8(b) shows the state in which the entry-side transfer section hands over the disk to the attachment transport mechanism of the first transport section, and FIG. 8(c) shows the state in which the attachment transport mechanism attaches the disk to the disk holding section of the A-side measurement section. 本発明の第1実施形態に係る測定装置の動作を示す模式図であり、図9(a)は、第1搬送部の取付用搬送機構がA面測定部から離隔している状態を示し、図9(b)は、第1搬送部の取付用搬送機構がA面測定部に近接してディスクをA面測定部のディスク保持部に取付けた状態を示す。9A and 9B are schematic diagrams showing the operation of the measuring device according to the first embodiment of the present invention, in which FIG. 9(a) shows a state in which the attachment transport mechanism of the first transport unit is separated from the A-side measurement unit, and FIG. 9(b) shows a state in which the attachment transport mechanism of the first transport unit is close to the A-side measurement unit and has attached the disk to the disk holding unit of the A-side measurement unit. 本発明の第1実施形態に係る測定装置の動作を示す模式図であり、図10(a)は、A面測定部のセンサが入側受渡部の方向に移動しディスクのA面を測定した状態を示し、図10(b)は、第1搬送部の取外用搬送機構が出側受渡部にディスクを渡す状態を示し、図10(c)は、出側受渡部が第3搬送部のディスク保持部にディスクを渡す状態を示す。10A is a schematic diagram showing the operation of the measuring device according to the first embodiment of the present invention, in which FIG. 10(a) shows the state in which the sensor of the A-side measuring section moves toward the entrance transfer section to measure the A-side of the disk, FIG. 10(b) shows the state in which the removal transport mechanism of the first transport section delivers the disk to the exit transfer section, and FIG. 10(c) shows the state in which the exit transfer section delivers the disk to the disk holding section of the third transport section. 本発明の第2実施形態に係る測定装置の構成を模式的に示した模式図。FIG. 5 is a schematic diagram showing the configuration of a measurement device according to a second embodiment of the present invention. 本発明の第3実施形態に係る測定装置の構成を模式的に示した模式図。FIG. 11 is a schematic diagram showing the configuration of a measurement device according to a third embodiment of the present invention. 従来の測定装置の図であり、図13(a)は、測定装置の斜視図を示し、図13(b)は、測定装置の平面図を示す。13A and 13B are diagrams of a conventional measuring device, in which FIG. 13A shows a perspective view of the measuring device and FIG. 13B shows a plan view of the measuring device.

本発明に係る測定装置を適用した第1実施形態、第2実施形態および第3実施形態に係る測定装置20、20A、20Bについてそれぞれ図面を参照して説明する。 The measuring devices 20, 20A, and 20B according to the first, second, and third embodiments, which apply the measuring device according to the present invention, will be described with reference to the drawings.

まず、第1実施形態、第2実施形態および第3実施形態に係る測定装置20、20A、20Bにより測定される被測定物としてのディスク10について説明する。ディスク10は、図1(a)、図1(b)に示すように、厚みがth、外径がD、中心の貫通孔hの内径がdの円盤形状を有している。なお、ディスク10は、円盤に限定されず、例えば、方形や楕円形等の円盤以外の他の形状であってもよい。ディスク10は、本実施形態、第2実施形態および第3実施形態では、ハードディスク用ディスクであるが、他の用途に用いるディスクであってもよい。 First, a disk 10 will be described as an object to be measured by the measuring devices 20, 20A, and 20B according to the first, second, and third embodiments. As shown in FIG. 1(a) and FIG. 1(b), the disk 10 has a disk shape with a thickness th, an outer diameter D, and an inner diameter d of a central through hole h. Note that the disk 10 is not limited to a disk, and may have other shapes other than a disk, such as a square or elliptical shape. In the present embodiment, the second embodiment, and the third embodiment, the disk 10 is a disk for a hard disk, but it may also be a disk used for other purposes.

ディスク10の厚みthは0.3mm~2mm程度、外径Dは30mm~270mm程度、内径dは10mm~70mm程度の寸法を有している。具体的には、厚みthが1.75mm、1.6mm、1.27mm、1.0mm、0.8mm、0.635mm、0.6mm、0.5mm、0.38mm、0.3mm、外径Dのサイズが3.5inch、2.8inch、2.5inch、内径dが20mm、25mmの内から選択される何れかの円盤形状を有する。 The thickness th of the disk 10 is about 0.3 mm to 2 mm, the outer diameter D is about 30 mm to 270 mm, and the inner diameter d is about 10 mm to 70 mm. Specifically, the thickness th is 1.75 mm, 1.6 mm, 1.27 mm, 1.0 mm, 0.8 mm, 0.635 mm, 0.6 mm, 0.5 mm, 0.38 mm, 0.3 mm, the outer diameter D is 3.5 inches, 2.8 inches, 2.5 inches, and the inner diameter d is 20 mm, 25 mm.

ディスク10は、アルミニウムまたはアルミニウム合金の板材からなるアルミニウム基材によって構成されている。ディスク10は、平滑性と表面硬度を有しており、高速回転による振動の発生を抑制することができる剛性および耐衝撃性も有している。また、ディスク10は、例えば貫通孔hに挿入された支持部材により鉛直に支持された場合に、その姿勢状態を自己維持できる剛性を有している。これらの特性を備えるためにディスク10は硬い素材で形成されており、ガラスの板材からなるガラス基板であってもよい。 The disk 10 is made of an aluminum base material made of aluminum or aluminum alloy plate material. The disk 10 has smoothness and surface hardness, and also has the rigidity and impact resistance to suppress the generation of vibrations caused by high-speed rotation. In addition, the disk 10 has the rigidity to self-maintain its posture when supported vertically, for example, by a support member inserted into the through hole h. In order to have these characteristics, the disk 10 is made of a hard material, and may be a glass substrate made of a glass plate material.

次いで、ディスク10の製造工程の一例について図2を参照して簡単に説明する。
まず、基材としてのアルミブランクに対して面取りを含めた旋盤加工が行われ(ステップS1)円盤形状のディスクが形成される。形成されたディスクに対して焼鈍が施される(ステップS2)。
Next, an example of a manufacturing process for the disk 10 will be briefly described with reference to FIG.
First, an aluminum blank as a base material is turned on a lathe including chamfering (step S1) to form a disk, and the formed disk is then annealed (step S2).

次いで、ディスクに対するグラインド1段目(ステップS3)およびグラインド2段目(ステップS4)が順に行われ、ディスクの表面および裏面が研削され、ディスクに焼鈍が施される(ステップS5)。焼鈍後、ディスクの表面および裏面に、前処理および無電解ニッケル-りんメッキ(NiP)が施され、ディスクにニッケル-りんメッキの被膜が形成され(ステップS6)、ディスクに焼鈍が施される(ステップS7)。 Then, the first grinding stage (step S3) and the second grinding stage (step S4) are performed on the disk, the front and back surfaces of the disk are ground, and the disk is annealed (step S5). After annealing, the front and back surfaces of the disk are pretreated and electroless nickel-phosphorus plating (NiP) is performed, a nickel-phosphorus plating film is formed on the disk (step S6), and the disk is annealed (step S7).

次いで、研磨パッドによりディスクに対するポリッシュ1段目(ステップS8)およびポリッシュ2段目(ステップS9)が順に行われ、ディスクの表面および裏面が精密に研磨される。仕上げ研磨後に、ディスクに対して最終洗浄が行われ、洗浄後にディスクが乾燥され、ディスク10が完成する(ステップS10)。最終洗浄として、例えば、洗剤を使った超音波による精密洗浄が挙げられる。 Then, the first stage (step S8) and the second stage (step S9) of polishing are performed on the disk using a polishing pad, and the front and back surfaces of the disk are precisely polished. After the finish polishing, the disk is finally cleaned, and after cleaning, the disk is dried, completing the disk 10 (step S10). As the final cleaning, for example, ultrasonic precision cleaning using detergent can be used.

最終洗浄後に、第1実施形態に係る測定装置20により、ディスク10の全数に対して平坦度が測定される。平坦度は、ディスク10の表面および裏面の平坦の度合いを表す割合であり、例えば、JIS規格(JIS B 0621-1984)に定義される平面度と同様の度合いであってもよい。 After the final cleaning, the flatness of all the disks 10 is measured by the measuring device 20 according to the first embodiment. The flatness is a ratio that represents the degree of flatness of the front and back surfaces of the disk 10, and may be, for example, the same degree as the flatness defined in the JIS standard (JIS B 0621-1984).

平坦度全数測定後に、表面検査機によるディスク10の表面検査が行われる(ステップS11)。表面検査(ステップS11)において不良品とされたディスク10は、不良品の処理が行われ、良品とされたディスク10は、真空梱包が行われ(ステップS12)、段ボール箱梱包が行われ(ステップS13)、所定の送り先へ出荷される。 After measuring the flatness of all the disks 10, a surface inspection machine is used to inspect the surfaces of the disks 10 (step S11). Disks 10 that are determined to be defective in the surface inspection (step S11) are processed as defective products, and disks 10 that are determined to be non-defective are vacuum packed (step S12), packed in cardboard boxes (step S13), and shipped to a specified destination.

一方、ディスク10の仕様によっては、表面検査において良品とされたディスク10に対して出荷検査が行われる(ステップS14)。出荷検査において不良品とされたディスク10は、不良品の処理が行われ、良品とされたディスク10は、所定の梱包形態で所定の送り先へ出荷される。 On the other hand, depending on the specifications of the disk 10, a shipping inspection is performed on the disk 10 that is determined to be a good product in the surface inspection (step S14). Disks 10 that are determined to be defective in the shipping inspection are processed as defective products, and disks 10 that are determined to be good products are shipped to a specified destination in a specified packaging form.

次いで、本実施形態に係る測定装置20について図面を参照して説明する。
測定装置20は、図3、図4、図5(a)および図5(b)に示すように、第1ロボット搬送部21と、第1受渡部22と、A面測定部23と、第1搬送部24と、第1駆動部25とを有している。
Next, the measuring device 20 according to the present embodiment will be described with reference to the drawings.
As shown in Figures 3, 4, 5(a) and 5(b), the measuring device 20 has a first robot transport unit 21, a first delivery unit 22, an A-side measuring unit 23, a first transport unit 24, and a first drive unit 25.

また、測定装置20は、第3搬送部36と、第2受渡部32と、第2搬送部34と、第2駆動部35と、B面測定部33と、第2ロボット搬送部31と、各構成要素の動作を制御する図示しない制御部とを有している。 The measuring device 20 also has a third transport unit 36, a second delivery unit 32, a second transport unit 34, a second drive unit 35, a B-side measurement unit 33, a second robot transport unit 31, and a control unit (not shown) that controls the operation of each component.

測定装置20は、第1ロボット搬送部21により所定の場所からディスク10を搬入し、A面測定部23にてディスク10の表面の形状、即ちA面の平坦度を測定する。そして、ディスク10をA面測定部23からB面測定部33まで搬送し、B面測定部33にてディスク10の裏面の形状、即ちB面の平坦度を測定する。そして、測定後のディスク10を第2ロボット搬送部31により所定の場所へ搬出する構成を有している。測定装置20は、所定の場所からディスク10を搬入し、A面およびB面の平坦度を測定して所定の場所へ搬出するまでの間、全自動で行うことが可能になっている。 The measuring device 20 transports the disk 10 from a predetermined location using the first robot transport unit 21, and measures the shape of the surface of the disk 10, i.e., the flatness of side A, using the A-side measurement unit 23. The disk 10 is then transported from the A-side measurement unit 23 to the B-side measurement unit 33, which measures the shape of the back surface of the disk 10, i.e., the flatness of side B. The second robot transport unit 31 then transports the disk 10 after measurement to a predetermined location. The measuring device 20 is capable of fully automatically transporting the disk 10 from a predetermined location, measuring the flatness of sides A and B, and transporting it to the predetermined location.

なお、本実施形態に係る測定装置20の第1搬送部24および第2搬送部34は、本発明に係る搬送装置の搬送手段を構成する第1搬送手段および第2搬送手段に対応する。第1受渡部22および第2受渡部32は、本発明に係る搬送装置の受渡部に対応し、A面測定部23およびB面測定部33は、本発明に係る搬送装置の測定手段を構成する第1測定手段および第2測定手段に対応し、第1駆動部25および第2駆動部35は、本発明に係る搬送装置の駆動手段に対応する。 The first conveying section 24 and the second conveying section 34 of the measuring device 20 according to this embodiment correspond to the first conveying means and the second conveying means constituting the conveying means of the conveying device according to the present invention. The first delivery section 22 and the second delivery section 32 correspond to the delivery section of the conveying device according to the present invention, the A-side measuring section 23 and the B-side measuring section 33 correspond to the first measuring means and the second measuring means constituting the measuring means of the conveying device according to the present invention, and the first driving section 25 and the second driving section 35 correspond to the driving means of the conveying device according to the present invention.

第1ロボット搬送部21は、図4に示すように、アーム41、42と、ディスク保持部43とを有している。第1ロボット搬送部21は、ディスク10を所定の場所から搬送し、入側受渡部51に渡すように構成されている。 As shown in FIG. 4, the first robot transport unit 21 has arms 41 and 42 and a disk holding unit 43. The first robot transport unit 21 is configured to transport the disk 10 from a predetermined location and deliver it to the inlet delivery unit 51.

第1ロボット搬送部21は、小型の多関節ロボットにより構成される。多関節ロボットは、例えば、様々な姿勢を取ることが可能であり重力方向で広い範囲で動作することができる垂直多関節ロボットでもよく、水平方向にアームが動作する水平多関節ロボットであってもよい。 The first robot transport unit 21 is composed of a small multi-joint robot. The multi-joint robot may be, for example, a vertical multi-joint robot that can assume various postures and operate over a wide range in the direction of gravity, or a horizontal multi-joint robot whose arms operate in the horizontal direction.

第1ロボット搬送部21のディスク保持部43は、図6(a)および図6(b)に示すように、上部ディスク受け43aと、溝付フック43bとを有しており、ディスク10を鉛直方向に沿って、即ち垂直に保持する構成を有している。ディスク保持部43は、溝付フック43bが上下に可動し、上部ディスク受け43aと溝付フック43bの間でディスク10を把持する。 As shown in Figures 6(a) and 6(b), the disk holding section 43 of the first robot transfer section 21 has an upper disk receiver 43a and a grooved hook 43b, and is configured to hold the disk 10 vertically, i.e., vertically. The grooved hook 43b of the disk holding section 43 moves up and down, and grips the disk 10 between the upper disk receiver 43a and the grooved hook 43b.

第1受渡部22は、図3に示すように、入側受渡部51と、出側受渡部52を有している。入側受渡部51は、第1駆動部25の入側に配置されており、第1ロボット搬送部21のディスク保持部43からディスク10を受け取り、X方向に沿って移動して、第1搬送部24の取付用搬送機構71にディスク10を渡す構成を有している。 As shown in FIG. 3, the first transfer section 22 has an entry-side transfer section 51 and an exit-side transfer section 52. The entry-side transfer section 51 is disposed on the entry side of the first drive section 25, and is configured to receive the disk 10 from the disk holding section 43 of the first robot transfer section 21, move along the X direction, and transfer the disk 10 to the attachment transfer mechanism 71 of the first transfer section 24.

入側受渡部51は、ディスク保持部43からディスク10を受け取って保持する際に、ディスク保持部43により垂直に保持されたディスク10の鉛直姿勢を、図5(b)、図6(c)~図6(f)に示すように、鉛直方向から傾斜角θで傾く傾斜姿勢に変換して保持する構成を有している。つまり、入側受渡部51は、ディスク保持部43によって垂直となる姿勢に保持されたディスク10を受け渡されると、垂直の姿勢から傾けて傾斜角θとなる傾斜姿勢に保持する。なお、本実施形態に係る傾斜角θは、本発明の測定装置に係る所定の角度に対応し、傾斜角θは、例えば0°よりも大きく、15°よりも小さい範囲であり、好ましくは5°~10°程度の角度に設定されている。 When receiving and holding the disk 10 from the disk holding unit 43, the entry-side transfer unit 51 is configured to convert the vertical posture of the disk 10 held vertically by the disk holding unit 43 into an inclined posture inclined at an inclination angle θ from the vertical direction and hold the disk 10 as shown in Figures 5(b) and 6(c) to 6(f). In other words, when the entry-side transfer unit 51 receives the disk 10 held in a vertical posture by the disk holding unit 43, it holds the disk 10 in an inclined posture inclined from the vertical posture to an inclination angle θ. The inclination angle θ according to this embodiment corresponds to a predetermined angle according to the measuring device of the present invention, and the inclination angle θ is set to, for example, a range greater than 0° and less than 15°, and is preferably set to an angle of about 5° to 10°.

出側受渡部52は、第1駆動部25の出側に配置されており、ディスク10を第1搬送部24から受け取り、傾斜角θで傾く傾斜姿勢を維持しつつ、X方向に移動する。そして、傾斜角θで傾くディスク10の姿勢を鉛直姿勢に変換してから、第3搬送部36に受け渡す構成を有している。 The exit-side transfer section 52 is disposed on the exit side of the first drive section 25, and receives the disk 10 from the first transport section 24, and moves it in the X direction while maintaining the inclined position at the inclination angle θ. It is configured to convert the position of the disk 10, which is inclined at the inclination angle θ, to a vertical position, and then transfer it to the third transport section 36.

入側受渡部51および出側受渡部52は、ディスク10の姿勢を鉛直姿勢と傾斜姿勢とに変換する機能を、後述する搬送機構とは分離して有している。したがって、搬送機構によって搬送される際に余計な応力がディスク10に発生することを抑制し、ディスク10が測定装置20に置かれた時のディスクの角度を含む姿勢を安定させることができ、平坦度の測定精度を高めることもできる。 The inlet-side delivery section 51 and the outlet-side delivery section 52 have the function of converting the attitude of the disk 10 between a vertical attitude and an inclined attitude, separate from the transport mechanism described below. This prevents unnecessary stress from being generated in the disk 10 when it is transported by the transport mechanism, stabilizes the attitude, including the angle, of the disk when the disk 10 is placed on the measuring device 20, and also improves the accuracy of flatness measurement.

例えば、鉛直姿勢では自立しているが水平姿勢では自重により撓むような剛性を有する薄さのディスクの場合、ディスクの姿勢を鉛直姿勢から傾斜姿勢に変換した際に、ディスク10に応力が作用し、ディスク10の姿勢が不安定になるおそれがある。これに対し、本実施形態では、入側受渡部51および出側受渡部52において予めディスク10の姿勢変換を済ませておき、同じ姿勢のままディスクをA面測定部23やB面測定部33に渡している。したがって、自重によるたわみの影響を抑制し、A面測定部23やB面測定部33に取付けられたときの被測定物の姿勢を安定させ、より正確な測定を行うことができる。 For example, in the case of a thin disk that is rigid enough to stand on its own in a vertical position but bend under its own weight in a horizontal position, when the attitude of the disk is changed from a vertical position to an inclined position, stress acts on the disk 10, which may cause the attitude of the disk 10 to become unstable. In contrast, in this embodiment, the attitude of the disk 10 is changed in advance at the inlet-side delivery section 51 and the outlet-side delivery section 52, and the disk is delivered to the A-side measurement section 23 and the B-side measurement section 33 in the same attitude. This suppresses the effects of bending due to its own weight, stabilizes the attitude of the object to be measured when attached to the A-side measurement section 23 and the B-side measurement section 33, and allows for more accurate measurements.

また、本実施形態において入側受渡部51および出側受渡部52はX方向に移動するように構成されているが、入側受渡部51および出側受渡部52はX方向に移動せず、ディスク10の姿勢を鉛直姿勢と傾斜姿勢とに変換する機能を有する構成のみとしてもよい。受渡部の駆動部によって、ディスク10をX方向に移送することで、特に第1ロボット搬送部21および第2ロボット搬送部31から搬送機構への距離が長い場合に、搬送作業の作業効率を向上させることができる。 In addition, in this embodiment, the inlet-side transfer section 51 and the outlet-side transfer section 52 are configured to move in the X direction, but the inlet-side transfer section 51 and the outlet-side transfer section 52 may not move in the X direction and may only have the function of converting the attitude of the disk 10 between a vertical attitude and an inclined attitude. By transferring the disk 10 in the X direction using the drive section of the transfer section, the work efficiency of the transfer operation can be improved, especially when the distance from the first robot transfer section 21 and the second robot transfer section 31 to the transfer mechanism is long.

A面測定部23は、図5(a)および図5(b)に示すように、測定部本体61と、支持体62と、センサ63と、振れ止め64と、図示しないセンサ移動機構とを有している。A面測定部23は、測定部本体61の測定基準面61aにディスク10を保持し、測定基準面61aに対向して配置されたセンサ63を測定基準面61aに沿って移動させることによって、ディスク10の表面であるA面の平坦度を測定するように構成されている。 As shown in Figures 5(a) and 5(b), the A-side measurement unit 23 has a measurement unit main body 61, a support 62, a sensor 63, a vibration prevention device 64, and a sensor movement mechanism (not shown). The A-side measurement unit 23 is configured to hold the disk 10 on the measurement reference surface 61a of the measurement unit main body 61, and to measure the flatness of the A-side, which is the surface of the disk 10, by moving the sensor 63, which is arranged opposite the measurement reference surface 61a, along the measurement reference surface 61a.

測定部本体61には、センサ63を支持して測定基準面61aに沿って移動させるセンサ移動機構が設けられている。測定基準面61aは、A面測定部23によってディスク10の表面の平坦度を測定する際の基準となる面であり、測定基準面61aの平坦度は限りなくゼロに近い値を有している。ディスク10は、B面が測定基準面61aに対向してA面が露出するように支持体62に支持される。 The measurement unit main body 61 is provided with a sensor movement mechanism that supports the sensor 63 and moves it along the measurement reference surface 61a. The measurement reference surface 61a is a surface that serves as a reference when the A-side measurement unit 23 measures the flatness of the surface of the disk 10, and the flatness of the measurement reference surface 61a has a value that is infinitely close to zero. The disk 10 is supported by the support body 62 so that the B side faces the measurement reference surface 61a and the A side is exposed.

支持体62は、ディスク10の貫通孔hに挿入してディスク10を引っ掛けて測定基準面61aに対向して吊り下げた状態で支持するためのものであり、本実施形態では一対のフックにより構成されている。支持体62は、図6(c)および図6(d)に示すように、鉛直方向の上方の角に面取り部が形成されており、面取り部とディスク10の貫通孔hの内壁部(ディスクの主面を除く貫通孔の一部)が当接している。即ち、ディスク10は、支持体62の面取り部に掛けられている。 The support 62 is inserted into the through hole h of the disk 10 to hook the disk 10 and support it in a suspended state facing the measurement reference surface 61a, and in this embodiment is composed of a pair of hooks. As shown in Figures 6(c) and 6(d), the support 62 has a chamfered portion formed at the upper vertical corner, and the chamfered portion abuts against the inner wall portion of the through hole h of the disk 10 (a part of the through hole excluding the main surface of the disk). In other words, the disk 10 is hung on the chamfered portion of the support 62.

振れ止め64は、支持体62によって測定基準面61aにディスク10を支持させた際に、ディスク10の振れを止めて、予め設定された傾斜角θに支持するものであり、測定基準面61aに設けられている。振れ止め64は、図6(c)および図6(d)に示すように、鉛直方向の上方の角に面取り部が形成されており、面取り部とディスクの外壁部(ディスクの主面を除く外周端面の一部)が当接する。振れ止め64は、図6(c)に示す通り、ディスク下部の左右に接するように対をなして設けられている。振れ止め64は、ディスク10が支持体62によって支持されたときのディスク10の姿勢を維持し、安定させることができ、センサ63による平坦度の測定精度を高める機能がある。一対の振れ止め64の間の間隔は、後述する取付用搬送機構71及び取外用搬送機構72がそれぞれ有する保持部80の下部ディスク受け81bが一対の振れ止め64の間を上下に通過できる間隔に設定されている。 The vibration stopper 64 is provided on the measurement reference surface 61a to stop the vibration of the disk 10 and support it at a preset inclination angle θ when the disk 10 is supported on the measurement reference surface 61a by the support 62. As shown in Figures 6(c) and 6(d), the vibration stopper 64 has a chamfered portion formed at the upper corner in the vertical direction, and the chamfered portion abuts against the outer wall of the disk (a part of the outer peripheral end face excluding the main surface of the disk). As shown in Figure 6(c), the vibration stopper 64 is provided in pairs so as to contact the left and right sides of the lower part of the disk. The vibration stopper 64 can maintain and stabilize the attitude of the disk 10 when the disk 10 is supported by the support 62, and has the function of improving the accuracy of the flatness measurement by the sensor 63. The distance between the pair of vibration-stops 64 is set so that the lower disk receiver 81b of the holding portion 80 of each of the attachment transport mechanism 71 and removal transport mechanism 72 described below can pass between the pair of vibration-stops 64 vertically.

センサ63は、ディスク10のA面の平坦度を測定することができる公知のセンサにより構成されている。センサ63は、センサ移動機構により測定部本体61の測定基準面61aに沿って平行に移動され、その際に支持体62に掛けられて測定基準面61aに保持されているディスク10のA面の平坦度を測定する。 The sensor 63 is composed of a known sensor capable of measuring the flatness of side A of the disk 10. The sensor 63 is moved parallel to the measurement reference surface 61a of the measurement unit main body 61 by the sensor movement mechanism, and at that time, it is hung on the support 62 and measures the flatness of side A of the disk 10 held on the measurement reference surface 61a.

センサとしては、例えば、センサを非接触で移動させながらディスク10のA面の高さ方向の変位量を検出することにより平坦度を高精度に測定することができるレーザー変位センサや、センサを非接触で移動させながら電磁誘導によりコイルを流れる誘導電流の強度を検出することにより平坦度を高精度に測定することができる渦電流変位センサが挙げられる。 Examples of sensors include a laser displacement sensor that can measure flatness with high precision by detecting the amount of displacement in the height direction of side A of disk 10 while moving the sensor in a non-contact manner, and an eddy current displacement sensor that can measure flatness with high precision by detecting the strength of the induced current flowing through a coil by electromagnetic induction while moving the sensor in a non-contact manner.

センサ移動機構は、公知の駆動機構、例えば、図示しない直線的な方向に動力を発するリニアモータを備えている。なお、駆動機構は、直線的な方向に動力を発するものに限定されず、モータなどの回転電機と、回転電機の回転運動を直線運動に変換するタイミングプーリおよびタイミングベルト、ボールねじなどの変換機構とを有する移動機構も含まれる。 The sensor movement mechanism is equipped with a known drive mechanism, for example, a linear motor (not shown) that generates power in a linear direction. Note that the drive mechanism is not limited to one that generates power in a linear direction, and also includes a movement mechanism that has a rotating electric machine such as a motor, and a conversion mechanism such as a timing pulley, timing belt, or ball screw that converts the rotational motion of the rotating electric machine into linear motion.

第1搬送部24は、A面測定部23に対向してディスク10を搬送する際、ディスク10が測定基準面61aに対して平行に搬送する構成を有している。第1搬送部24は、図3および図4に示すように、入側受渡部51と出側受渡部52の間をX方向に沿って往復移動してディスク10をシャトル搬送可能な構成を有している。第1搬送部24には、取付用搬送機構71と取外用搬送機構72が取付けられている。取付用搬送機構71と取外用搬送機構72は、ディスク10を保持する保持部81をそれぞれ有している。取付用搬送機構71は、入側受渡部51からディスク10を受け取り、測定部本体61の測定基準面61aにセットし、取外用搬送機構72は、測定部本体61の測定基準面61aからディスク10を取外し、出側受渡部52に受け渡す動作を行う。取付用搬送機構71と取外用搬送機構72は、ディスク10のA面が測定部本体61から離隔する側に露出する向きとなり、ディスク10のB面が測定部本体61に接近する側で対向する向きとなるように、ディスク10を保持して搬送する。 When the first transport section 24 transports the disk 10 facing the A-side measurement section 23, the disk 10 is transported parallel to the measurement reference surface 61a. As shown in Figures 3 and 4, the first transport section 24 is configured to shuttle transport the disk 10 by moving back and forth between the entrance side delivery section 51 and the exit side delivery section 52 along the X direction. The first transport section 24 is equipped with an attachment transport mechanism 71 and a removal transport mechanism 72. The attachment transport mechanism 71 and the removal transport mechanism 72 each have a holding section 81 that holds the disk 10. The attachment transport mechanism 71 receives the disk 10 from the entrance side delivery section 51 and sets it on the measurement reference surface 61a of the measurement section main body 61, and the removal transport mechanism 72 removes the disk 10 from the measurement reference surface 61a of the measurement section main body 61 and delivers it to the exit side delivery section 52. The attachment transport mechanism 71 and removal transport mechanism 72 hold and transport the disk 10 so that side A of the disk 10 is exposed on the side away from the measurement unit main body 61, and side B of the disk 10 is oriented to face the side approaching the measurement unit main body 61.

保持部81は、図5(a)、図6(e)および図6(f)に示すように、フック部81aと、下部ディスク受け81bと、上部ディスク受け81cと、枠81dとを有している。フック部81aは、ディスク10の貫通孔hに挿入されて貫通孔hの内壁部を引っ掛けて保持する構成を有し、下部ディスク受け81bは、ディスク10の下部を載せて保持する構成を有する。上部ディスク受け81cは、枠81dに固定されており、ディスク10の上部に当接してディスク10の上方への移動を規制する構成を有している。フック部81aと下部ディスク受け81bは、枠81dに対して一体に移動可能に設けられており、不図示の移動手段によってZ方向とY方向に移動されることにより、上部ディスク受け81cと協働してディスク10を保持し、また、解放する。 As shown in Fig. 5(a), Fig. 6(e) and Fig. 6(f), the holding portion 81 has a hook portion 81a, a lower disk receiver 81b, an upper disk receiver 81c and a frame 81d. The hook portion 81a is inserted into the through hole h of the disk 10 and hooks the inner wall of the through hole h to hold the disk 10, and the lower disk receiver 81b is configured to hold the lower portion of the disk 10. The upper disk receiver 81c is fixed to the frame 81d and abuts against the upper portion of the disk 10 to restrict the upward movement of the disk 10. The hook portion 81a and the lower disk receiver 81b are provided so as to be movable together with the frame 81d, and are moved in the Z direction and the Y direction by a moving means (not shown) to hold and release the disk 10 in cooperation with the upper disk receiver 81c.

取付用搬送機構71及び取外用搬送機構72は、第1駆動部25の第1搬送部24に一体に固定されており、第1駆動部25の水平移動部91によって第1搬送部24が移動されることによって水平方向、即ち図4に示すX方向に沿って往復移動される。また、第1駆動部25は、第1搬送部24と水平移動部91との間に、幅方向移動部92を有しており、幅方向移動部92によって第1搬送部24を移動させることによって、取付用搬送機構71及び取外用搬送機構72を測定基準面61aに対して接近又は離隔する垂直方向、即ち、図5(b)に示すY方向に往復移動させことができるようになっている。 The attachment transport mechanism 71 and the removal transport mechanism 72 are fixed integrally to the first transport section 24 of the first drive section 25, and are moved back and forth in the horizontal direction, i.e., along the X direction shown in FIG. 4, by the horizontal movement section 91 of the first drive section 25 moving the first transport section 24. The first drive section 25 also has a width direction movement section 92 between the first transport section 24 and the horizontal movement section 91, and by moving the first transport section 24 with the width direction movement section 92, the attachment transport mechanism 71 and the removal transport mechanism 72 can be moved back and forth in the vertical direction approaching or moving away from the measurement reference surface 61a, i.e., in the Y direction shown in FIG. 5(b).

取付用搬送機構71は、第1駆動部25の水平移動部91によって、保持部81を入側受渡部51に対向する位置に配置させることができる(図7(1)を参照)。そして、第1駆動部25の幅方向移動部92によって保持部81をY方向に移動させて、フック部81aをディスク10の貫通孔hに挿入しかつ下部ディスク受け81bをディスク10の下方に配置し、上部ディスク受け81cをディスク10の上部に対向して配置することができる(図7(2)を参照)。そして、フック部81aと下部ディスク受け81bをZ方向に沿って上昇させ(図7(3)を参照)、ディスク10を上部ディスク受け81cとの間に挟持し、持ち上げることにより入側受渡部51から受け取り、保持部81に保持することができる(図7(4)を参照)。 The attachment transport mechanism 71 can position the holding portion 81 in a position facing the entry-side delivery portion 51 by the horizontal movement portion 91 of the first drive portion 25 (see FIG. 7(1)). Then, the width-direction movement portion 92 of the first drive portion 25 can move the holding portion 81 in the Y direction to insert the hook portion 81a into the through hole h of the disk 10, position the lower disk receiver 81b below the disk 10, and position the upper disk receiver 81c facing the upper portion of the disk 10 (see FIG. 7(2)). Then, the hook portion 81a and the lower disk receiver 81b are raised along the Z direction (see FIG. 7(3)), and the disk 10 is sandwiched between the hook portion 81a and the upper disk receiver 81c, and the disk 10 can be received from the entry-side delivery portion 51 by lifting it up and held by the holding portion 81 (see FIG. 7(4)).

そして、取付用搬送機構71は、第1駆動部25の水平移動部91によってX方向に移動され、保持部81を測定基準面61aに対向する位置に配置し、保持部81をY方向に沿って移動させて測定部本体61の測定基準面61aに接近させる。これにより、測定部本体61の支持体62をディスク10の貫通孔hに挿入することができる。そして、フック部81aと下部ディスク受け81bをZ方向に沿って下降させ、保持部81によるディスク10の保持を解除する。これにより、ディスク10は、貫通孔hに支持体62が引っ掛けられてディスク10の下部に振れ止め64を接触させて、測定基準面61aに保持される(図6(c)、(d)を参照)。 Then, the attachment transport mechanism 71 is moved in the X direction by the horizontal moving part 91 of the first driving part 25, and the holding part 81 is placed in a position facing the measurement reference surface 61a, and the holding part 81 is moved along the Y direction to approach the measurement reference surface 61a of the measurement part main body 61. This allows the support 62 of the measurement part main body 61 to be inserted into the through hole h of the disk 10. Then, the hook part 81a and the lower disk receiver 81b are lowered along the Z direction, and the holding of the disk 10 by the holding part 81 is released. As a result, the support 62 of the disk 10 is hooked into the through hole h, and the vibration stopper 64 is brought into contact with the lower part of the disk 10, and the disk 10 is held on the measurement reference surface 61a (see Figures 6(c) and (d)).

取付用搬送機構71は、保持部81に保持していたディスク10を測定部本体61の測定基準面61aに保持させると、第1駆動部25の水平移動部91によって第1搬送部24が出側受渡部52から入側受渡部51に向かって移動され、保持部81が入側受渡部51に対向する位置に配置される。なお、この第1搬送部24が出側受渡部52から入側受渡部51に向かって移動されるタイミングで、センサ63が入側受渡部51側から出側受渡部52側に向かって、あるいは出側受渡部52側から入側受渡部51側に向かって移動され、測定基準面61aに保持されているディスク10のA面の平坦度が測定される。 When the mounting transport mechanism 71 holds the disk 10 held by the holding section 81 on the measurement reference surface 61a of the measurement section main body 61, the first transport section 24 is moved from the exit transfer section 52 toward the entry transfer section 51 by the horizontal movement section 91 of the first drive section 25, and the holding section 81 is positioned opposite the entry transfer section 51. At the same time that the first transport section 24 is moved from the exit transfer section 52 toward the entry transfer section 51, the sensor 63 is moved from the entry transfer section 51 side toward the exit transfer section 52 side, or from the exit transfer section 52 side toward the entry transfer section 51 side, and the flatness of the A side of the disk 10 held on the measurement reference surface 61a is measured.

取外用搬送機構72は、取付用搬送機構71と同様に、保持部81を有している。取外用搬送機構72は、第1駆動部25の水平移動部91によってX方向に移動されて取付用搬送機構71の保持部81が入側受渡部51に対向する位置に配置されると、取外用搬送機構72の保持部81が測定基準面61aに対向する位置に配置されるようになっている。 The removal transport mechanism 72 has a holding portion 81, similar to the attachment transport mechanism 71. When the removal transport mechanism 72 is moved in the X direction by the horizontal movement portion 91 of the first drive unit 25 so that the holding portion 81 of the attachment transport mechanism 71 is positioned opposite the inlet delivery portion 51, the holding portion 81 of the removal transport mechanism 72 is positioned opposite the measurement reference surface 61a.

取外用搬送機構72は、保持部81が測定基準面61aに対向する位置に配置された状態で、第1駆動部25の幅方向移動部92によって保持部81をY方向に移動させる。そして、測定基準面61aに保持されているディスク10の貫通孔hにフック部81aを挿入しかつ下部ディスク受け81bをディスク10の下方に配置し、上部ディスク受け81cをディスク10の上部に対向して配置する。そして、フック部81aと下部ディスク受け81bをZ方向に沿って上昇させ、ディスク10を上部ディスク受け81cとの間に挟持し、持ち上げることにより測定基準面61aから取外し、保持部81に保持する。 With the holding part 81 positioned opposite the measurement reference surface 61a, the removal transport mechanism 72 moves the holding part 81 in the Y direction by the width direction moving part 92 of the first drive part 25. Then, the hook part 81a is inserted into the through hole h of the disk 10 held on the measurement reference surface 61a, the lower disk receiver 81b is positioned below the disk 10, and the upper disk receiver 81c is positioned opposite the upper part of the disk 10. Then, the hook part 81a and the lower disk receiver 81b are raised along the Z direction, and the disk 10 is sandwiched between the hook part 81a and the upper disk receiver 81c, and is lifted up to remove it from the measurement reference surface 61a and hold it in the holding part 81.

そして、取外用搬送機構72は、第1駆動部25の水平移動部91によってX方向に移動され、保持部81を出側受渡部52に対向する位置に配置する。そして、フック部81aと下部ディスク受け81bをZ方向に沿って下降させて、上部ディスク受け81cと協働した保持部81によるディスク10の把持を解除する。これにより、ディスク10は、出側受渡部52に保持される。 Then, the removal transport mechanism 72 is moved in the X direction by the horizontal movement part 91 of the first drive part 25, and the holding part 81 is positioned opposite the exit-side delivery part 52. Then, the hook part 81a and the lower disk receiver 81b are lowered along the Z direction, and the holding part 81 working together with the upper disk receiver 81c releases the grip of the disk 10 by the holding part 81. As a result, the disk 10 is held by the exit-side delivery part 52.

第1駆動部25は、図9に示すように、水平移動部91と幅方向移動部92とを有している。水平移動部91は、公知の駆動機構、例えば、直線的な方向に動力を発する図示しないリニアモータを備えている。なお、駆動機構は、直線的な方向に動力を発するものに限定されず、モータなどの回転電機と、回転電機の回転運動を直線運動に変換するタイミングプーリおよびタイミングベルト、ボールねじなどの変換機構とを有するものであってもよい。 As shown in FIG. 9, the first drive unit 25 has a horizontal movement unit 91 and a width direction movement unit 92. The horizontal movement unit 91 has a known drive mechanism, for example, a linear motor (not shown) that generates power in a linear direction. Note that the drive mechanism is not limited to one that generates power in a linear direction, and may have a rotating electric machine such as a motor, and a conversion mechanism such as a timing pulley, timing belt, or ball screw that converts the rotational motion of the rotating electric machine into linear motion.

水平移動部91は、第1搬送部24をX方向に往復移動させるように構成される。そして、幅方向移動部92は、測定基準面61aに対して垂直方向に、すなわち、図4に示すY方向に保持部81を往復移動させるように構成されている。 The horizontal movement unit 91 is configured to reciprocate the first conveying unit 24 in the X direction. The width direction movement unit 92 is configured to reciprocate the holding unit 81 in a direction perpendicular to the measurement reference surface 61a, i.e., in the Y direction shown in FIG. 4.

ディスク10は、図3に示すように、出側受渡部52から第3搬送部36に受け渡されて、対向する第2受渡部32まで搬送され、第2受渡部32の入側受渡部51に受け渡される。 As shown in FIG. 3, the disk 10 is delivered from the exit delivery section 52 to the third transport section 36, transported to the opposing second delivery section 32, and delivered to the entry delivery section 51 of the second delivery section 32.

第2受渡部32は、第1受渡部22と同様、入側受渡部51と、出側受渡部52とを有しており、入側受渡部51でディスク10を第3搬送部36から受け取り、出側受渡部52で第2ロボット搬送部31に渡すように構成されている。 The second transfer section 32, like the first transfer section 22, has an entry-side transfer section 51 and an exit-side transfer section 52, and is configured to receive the disk 10 from the third transport section 36 at the entry-side transfer section 51 and to transfer it to the second robot transport section 31 at the exit-side transfer section 52.

B面測定部33は、図3に示すように、A面測定部23に対して、対向して配置されている。B面測定部33は、A面測定部23と同様に、測定部本体61と、支持体62と、センサ63と、振れ止め64と、図示しないセンサ移動機構とを有している。B面測定部33は、測定部本体61の測定基準面61aにディスク10を保持し、測定基準面61aに対向して配置されたセンサ63を測定基準面61aに沿って移動させることによって、ディスク10の裏面であるB面の平坦度を測定する。 As shown in FIG. 3, the B-side measuring unit 33 is disposed opposite the A-side measuring unit 23. Like the A-side measuring unit 23, the B-side measuring unit 33 has a measuring unit main body 61, a support 62, a sensor 63, a vibration prevention device 64, and a sensor moving mechanism (not shown). The B-side measuring unit 33 holds the disk 10 on the measurement reference surface 61a of the measuring unit main body 61, and measures the flatness of the B-side, which is the back surface of the disk 10, by moving the sensor 63, disposed opposite the measurement reference surface 61a, along the measurement reference surface 61a.

第2搬送部34は、B面測定部33に対向してディスク10を搬送する際、ディスク10が測定基準面61aに対して平行搬送されるように構成されている。第2搬送部34は、第1搬送部24と同様、入側受渡部51および出側受渡部52の間をX方向に往復移動してディスク10をシャトル搬送可能に構成されており、取付用搬送機構71と取外用搬送機構72が取付けられている。 The second transport section 34 is configured so that when transporting the disk 10 facing the B-side measurement section 33, the disk 10 is transported parallel to the measurement reference surface 61a. Similar to the first transport section 24, the second transport section 34 is configured to shuttle transport the disk 10 by moving back and forth in the X direction between the entrance side delivery section 51 and the exit side delivery section 52, and is equipped with an attachment transport mechanism 71 and a removal transport mechanism 72.

取付用搬送機構71及び取外用搬送機構72は、第2駆動部35の第2搬送部34に一体に固定されており、第2駆動部35の水平移動部91によって第2搬送部34が移動されることによってX方向に往復移動される。また、第2駆動部35は、第2搬送部34と水平移動部91との間に、幅方向移動部92を有しており、幅方向移動部92によって第2搬送部34を移動させることによって、取付用搬送機構71及び取外用搬送機構72をB面測定部33の測定基準面61aに対して接近又は離隔する垂直方向であるY方向に往復移動させことができるようになっている。 The attachment transport mechanism 71 and the removal transport mechanism 72 are fixed integrally to the second transport section 34 of the second drive section 35, and are moved back and forth in the X direction by the horizontal movement section 91 of the second drive section 35 moving the second transport section 34. The second drive section 35 also has a width direction movement section 92 between the second transport section 34 and the horizontal movement section 91, and by moving the second transport section 34 with the width direction movement section 92, the attachment transport mechanism 71 and the removal transport mechanism 72 can be moved back and forth in the Y direction, which is the vertical direction approaching or moving away from the measurement reference surface 61a of the B-side measurement section 33.

第3搬送部36は、図示しないディスク保持部と、図示しない搬送駆動部とにより構成されており、ディスク保持部は、第1ロボット搬送部21のディスク保持部43と同様に構成されている。第3搬送部36は、出側受渡部52から鉛直姿勢のディスク10を受け取り、ディスク保持部で鉛直姿勢を維持しつつ保持し、第2受渡部32の入側受渡部51にディスク10を渡す構成を有している。 The third transport section 36 is composed of a disk holding section (not shown) and a transport drive section (not shown), and the disk holding section is configured similarly to the disk holding section 43 of the first robot transport section 21. The third transport section 36 is configured to receive a vertically oriented disk 10 from the exit-side transfer section 52, hold the disk 10 in the vertical position in the disk holding section, and transfer the disk 10 to the entrance-side transfer section 51 of the second transfer section 32.

第3搬送部36の搬送駆動部は、図3に示すように、第3搬送部36のディスク保持部をY方向に往復移動させる構成を有している。 As shown in FIG. 3, the transport drive unit of the third transport unit 36 has a configuration for reciprocating the disk holding unit of the third transport unit 36 in the Y direction.

制御部は、演算処理を行う中央処理装置および制御プログラムを格納したメモリを備え、測定装置20を構成する各構成要素の動作、即ち第1ロボット搬送部21からディスク10を受け取って、ディスク10のA面およびB面の平坦度を測定し、測定が終了したディスク10を第2ロボット搬送部31へ渡すまでの各動作を制御するように構成されている。 The control unit is equipped with a central processing unit that performs calculations and a memory that stores a control program, and is configured to control the operation of each component that makes up the measuring device 20, i.e., the operation of receiving the disk 10 from the first robot transport unit 21, measuring the flatness of sides A and B of the disk 10, and passing the disk 10 after measurement to the second robot transport unit 31.

次いで、本実施形態に係る測定装置20の動作について、図面を参照して説明する。
なお、測定装置20の各構成要素の動作は、制御部により制御されているので、主に各構成要素の動作について説明し、各構成要素の各動作が制御部により制御されていることの説明については省略する。測定装置20の各構成要素の動作は全て自動的に行われる。
Next, the operation of the measuring device 20 according to this embodiment will be described with reference to the drawings.
In addition, since the operation of each component of the measuring device 20 is controlled by the control unit, the operation of each component will be mainly described, and the explanation of the control of each operation of each component by the control unit will be omitted. The operation of each component of the measuring device 20 is all performed automatically.

測定装置20は、まず、A面測定部23によりディスク10のA面の平坦度を測定し、次いでB面測定部33によりディスク10のB面の平坦度を測定する。 The measuring device 20 first measures the flatness of the A side of the disk 10 using the A side measuring unit 23, and then measures the flatness of the B side of the disk 10 using the B side measuring unit 33.

(A面の平坦度の測定)
測定装置20においては、まず、図3に示す第1ロボット搬送部21のディスク保持部43により所定の場所のディスク10が図6(a)および図6(b)に示す鉛直姿勢で保持され、所定の場所からX方向、Y方向およびZ方向に移動して第1受渡部22の入側受渡部51まで搬送される。
(Measurement of flatness of side A)
In the measuring device 20, first, the disk 10 at a predetermined location is held in the vertical position shown in FIGS. 6(a) and 6(b) by the disk holding portion 43 of the first robot transfer unit 21 shown in FIG. 3, and then the disk 10 is moved from the predetermined location in the X-, Y-, and Z-directions to be transferred to the entry transfer unit 51 of the first transfer unit 22.

搬送されたディスク10は、図8(a)に示すように、ディスク保持部43から第1受渡部22の入側受渡部51に渡され、渡された際にディスク10は、例えば鉛直方向から5°傾けられた傾斜姿勢に変換されて第1受渡部22の入側受渡部51に保持される。 As shown in FIG. 8(a), the transported disk 10 is handed over from the disk holding section 43 to the entry-side delivery section 51 of the first delivery section 22, and when handed over, the disk 10 is converted to an inclined position, for example, tilted 5° from the vertical direction, and held by the entry-side delivery section 51 of the first delivery section 22.

次いで、入側受渡部51が、図8(b)に示すように、水平移動部91によりX方向に移動され、第1搬送部24の取付用搬送機構71に到達し、ディスク10が、入側受渡部51から取付用搬送機構71の保持部81に渡される。このとき、渡されたディスク10は、傾斜姿勢が維持される。 Then, as shown in FIG. 8(b), the entry-side delivery section 51 is moved in the X direction by the horizontal moving section 91 until it reaches the attachment transport mechanism 71 of the first transport section 24, and the disk 10 is delivered from the entry-side delivery section 51 to the holding section 81 of the attachment transport mechanism 71. At this time, the delivered disk 10 maintains an inclined posture.

次いで、第1搬送部24が水平移動部91によりX方向に移動され、取付用搬送機構71の保持部81が、図8(c)および図9(a)に示すように、A面測定部23の測定基準面61aに対向する位置に配置される。それから、取付用搬送機構71の保持部81は、図9(a)に示す位置から矢印aで示すZ方向に一端上昇し、そのまま図9(b)に示すようにY方向に沿って測定基準面61aに近接する方向に移動し、支持体62がディスク10の貫通孔hに挿入される位置にディスク10を配置させる。 Then, the first transport unit 24 is moved in the X direction by the horizontal moving unit 91, and the holding unit 81 of the mounting transport mechanism 71 is positioned opposite the measurement reference surface 61a of the A-side measurement unit 23, as shown in Figures 8(c) and 9(a). The holding unit 81 of the mounting transport mechanism 71 then rises once in the Z direction indicated by the arrow a from the position shown in Figure 9(a), and then moves in the Y direction in a direction approaching the measurement reference surface 61a as shown in Figure 9(b), positioning the disk 10 in a position where the support 62 is inserted into the through-hole h of the disk 10.

停止後、取付用搬送機構71の保持部81は、Z方向に沿って下降し、ディスク10を支持体62に掛けることによりディスク10を測定基準面61aに保持させる。次いで、取付用搬送機構71は、第1搬送部24が幅方向移動部92によりY方向に移動され、測定基準面61aから離隔して、図9(a)に示す位置に戻る。そして、図10(a)に示すように、第1搬送部24が水平移動部91によりX方向に移動され、取外用搬送機構72の保持部81が、A面測定部23の測定基準面61aに対向する位置に配置される。 After stopping, the holding part 81 of the attachment transport mechanism 71 descends in the Z direction and hangs the disk 10 on the support 62, thereby holding the disk 10 on the measurement reference surface 61a. Next, the attachment transport mechanism 71 has the first transport part 24 moved in the Y direction by the width direction moving part 92, and moves away from the measurement reference surface 61a, returning to the position shown in FIG. 9(a). Then, as shown in FIG. 10(a), the first transport part 24 is moved in the X direction by the horizontal moving part 91, and the holding part 81 of the removal transport mechanism 72 is positioned opposite the measurement reference surface 61a of the A-side measuring part 23.

取付用搬送機構71が図10(a)に示す位置に戻る際に、A面測定部23のセンサ63が、センサ移動機構により移動されて、図5(a)に示す矢印a方向に移動され、ディスク10のA面の上を通過する。センサ63がディスク10のA面の上を通過することにより、A面の平坦度が測定される。なお、図5(a)に示す例では、センサ63が保持部81よりも入側受渡部51に偏った位置に待機している状態から矢印a方向に移動する場合について説明したが、センサ63が保持部81よりも出側受渡部52に偏った位置に待機している場合には、矢印a方向とは反対向きの方向に移動することによって平坦度が測定される。 When the attachment transport mechanism 71 returns to the position shown in FIG. 10(a), the sensor 63 of the A-side measuring unit 23 is moved by the sensor moving mechanism in the direction of the arrow a shown in FIG. 5(a) and passes over the A-side of the disk 10. The sensor 63 passes over the A-side of the disk 10, thereby measuring the flatness of the A-side. Note that in the example shown in FIG. 5(a), the sensor 63 moves in the direction of the arrow a from a standby position biased toward the entry-side transfer section 51 rather than the holding section 81. However, if the sensor 63 is waiting in a position biased toward the exit-side transfer section 52 rather than the holding section 81, the sensor 63 moves in the direction opposite to the arrow a to measure the flatness.

第1駆動部25によって取外用搬送機構72の保持部81がA面測定部23の測定基準面61aの支持体62に対向する位置に配置され、かつセンサ63によるA面の平坦度測定が完了すると、取外用搬送機構72の保持部81は、図9(a)および図9(b)に示す取付用搬送機構71と同様に、幅方向移動部92によってY方向に沿って測定基準面61aに接近する方向に移動される。そして、フック部81aがディスク10の貫通孔hに挿入され、下部ディスク受け81bがディスク10の下方に配置され、上部ディスク受け81cがディスク10の上部に対向する位置に配置される。 When the first drive unit 25 positions the holding unit 81 of the removal transport mechanism 72 in a position facing the support 62 of the measurement reference surface 61a of the A-side measurement unit 23 and the sensor 63 completes the measurement of the flatness of the A-side, the holding unit 81 of the removal transport mechanism 72 is moved by the width direction moving unit 92 in the Y direction in a direction approaching the measurement reference surface 61a, similar to the attachment transport mechanism 71 shown in Figures 9(a) and 9(b). Then, the hook unit 81a is inserted into the through hole h of the disk 10, the lower disk receiver 81b is positioned below the disk 10, and the upper disk receiver 81c is positioned facing the top of the disk 10.

そして、取外用搬送機構72の保持部81は、フック部81aと下部ディスク受け81bをZ方向に沿って上昇させ、ディスク10を上部ディスク受け81cとの間に挟持し、持ち上げることにより測定基準面61aから取外して保持する。そして、保持部81をZ方向に上昇させることで支持体62からディスク10を取外し、Y方向に沿って測定基準面61aから離隔する方向に移動し、さらにZ方向に下降させて、取付用搬送機構71の保持部81と同様、図9(a)に示す位置に戻って停止させる。 Then, the holding part 81 of the removal transport mechanism 72 raises the hook part 81a and the lower disk receiver 81b along the Z direction, clamps the disk 10 between the upper disk receiver 81c, and lifts it up to remove it from the measurement reference surface 61a and hold it. The holding part 81 is then raised in the Z direction to remove the disk 10 from the support 62, moves it along the Y direction away from the measurement reference surface 61a, and further lowers it in the Z direction, returning to the position shown in FIG. 9(a) and stopping it, just like the holding part 81 of the attachment transport mechanism 71.

この状態で、ディスク10は、取外用搬送機構72の保持部81に傾斜姿勢で保持されている。さらに、取付用搬送機構71の保持部81と取外用搬送機構72の保持部81は、次に測定するディスク10の取付け準備と、測定を終了したディスク10の取外しとを、同時に行うことで多数のディスク10を連続測定する際、搬送効率を向上させる機能を有している。 In this state, the disk 10 is held in an inclined position by the holding portion 81 of the removal transport mechanism 72. Furthermore, the holding portion 81 of the attachment transport mechanism 71 and the holding portion 81 of the removal transport mechanism 72 have the function of improving transport efficiency when measuring multiple disks 10 consecutively by simultaneously preparing to attach the next disk 10 to be measured and removing the disk 10 that has been measured.

次いで、第1搬送部24の取付用搬送機構71および取外用搬送機構72が水平移動部91によりX方向に沿って出側受渡部52に近接する方向に移動され、図10(b)に示すように、第1搬送部24の取外用搬送機構72の保持部81が、出側受渡部52に対向する位置に停止される。そして、ディスク10が、取外用搬送機構72の保持部81から出側受渡部52に渡される。この状態でも、ディスク10は、出側受渡部52に傾斜姿勢で保持されている。 Then, the attachment transport mechanism 71 and removal transport mechanism 72 of the first transport section 24 are moved by the horizontal moving section 91 along the X direction in a direction approaching the exit-side transfer section 52, and as shown in FIG. 10(b), the holding section 81 of the removal transport mechanism 72 of the first transport section 24 is stopped at a position facing the exit-side transfer section 52. Then, the disk 10 is transferred from the holding section 81 of the removal transport mechanism 72 to the exit-side transfer section 52. Even in this state, the disk 10 is held in an inclined position by the exit-side transfer section 52.

続いて、出側受渡部52は、図10(c)に示すように、取外用搬送機構72から離隔する方向に移動して停止する。このとき、ディスク10は、傾斜姿勢から鉛直姿勢に変換される。そして、図3に示すように、ディスク10が、出側受渡部52から第3搬送部36の図示しないディスク保持部に渡される。 Then, as shown in FIG. 10(c), the exit-side delivery section 52 moves away from the removal transport mechanism 72 and stops. At this time, the disk 10 is converted from an inclined position to a vertical position. Then, as shown in FIG. 3, the disk 10 is delivered from the exit-side delivery section 52 to a disk holding section (not shown) of the third transport section 36.

第3搬送部36は図示しない搬送駆動部により、Y方向で出側受渡部52から離隔する方向に移動し、B面を測定するB面測定部33側の入側受渡部51に到達する。そして、ディスク10は、第3搬送部36のディスク保持部からB面測定部33側の入側受渡部51に渡される。 The third transport section 36 is moved in the Y direction away from the exit-side delivery section 52 by a transport drive section (not shown) and reaches the entry-side delivery section 51 on the B-side measurement section 33 side, which measures the B-side. The disk 10 is then delivered from the disk holding section of the third transport section 36 to the entry-side delivery section 51 on the B-side measurement section 33 side.

(B面の平坦度の測定)
B面の測定は、A面の測定と同様に行われるが、A面測定部23と、B面測定部33とは互いに対向して配置されているので、第1搬送部24によるディスク10の搬送方向と、第2搬送部34によるディスク10の搬送方向とは、互いに逆方向に搬送される。しかしながら、ディスク10自体は、第1ロボット搬送部21の搬送開始から、第1搬送部24、第3搬送部および第2搬送部34を経て、第2ロボット搬送部31の搬送が完了するまでの間、一方向に搬送される。
(Measurement of flatness of side B)
The measurement of side B is performed in the same manner as the measurement of side A, but since side A measurement unit 23 and side B measurement unit 33 are disposed opposite to each other, the transport direction of disk 10 by first transport unit 24 and the transport direction of disk 10 by second transport unit 34 are opposite to each other. However, disk 10 itself is transported in one direction from the start of transport by first robot transport unit 21, through first transport unit 24, third transport unit and second transport unit 34, until transport by second robot transport unit 31 is completed.

B面の測定においては、まず、図3に示すように、B面測定部33側の入側受渡部51は、第3搬送部36からディスク10を受け取ると、例えば鉛直方向から5°傾けられた傾斜姿勢に変換する。そして、第2駆動部35の出側に向かってX方向に移動して、第2搬送部34の取付用搬送機構71に渡す。ディスク10は、鉛直方向から5°傾けられた傾斜姿勢が維持されたまま、入側受渡部51から第2搬送部34の取付用搬送機構71の保持部81に渡される。 3, when the entry-side transfer section 51 on the B-side measurement section 33 side receives the disk 10 from the third transport section 36 , it converts the disk 10 to an inclined position, for example, tilted by 5° from the vertical direction. It then moves in the X direction toward the exit side of the second drive section 35 and passes the disk 10 to the attachment transport mechanism 71 of the second transport section 34. The disk 10 is passed from the entry-side transfer section 51 to the holder 81 of the attachment transport mechanism 71 of the second transport section 34 while maintaining the inclined position tilted by 5° from the vertical direction.

次いで、第2搬送部34が第2駆動部35の出側に向かってX方向に移動され、取付用搬送機構71の保持部81が、B面測定部33の測定基準面61aに設けられている支持体62に対向する位置に停止する。そして、取付用搬送機構71の保持部81は、Z方向に一旦上昇し、そのままY方向に沿って支持体62に近接する方向に移動し、支持体62がディスク10の貫通孔hに挿入された位置で停止する。 Next, the second transport unit 34 is moved in the X direction toward the exit side of the second drive unit 35, and the holding unit 81 of the attachment transport mechanism 71 stops at a position facing the support 62 provided on the measurement reference surface 61a of the B-side measurement unit 33. The holding unit 81 of the attachment transport mechanism 71 then rises once in the Z direction and continues to move in the Y direction in a direction approaching the support 62, stopping at a position where the support 62 is inserted into the through-hole h of the disk 10.

停止後、取付用搬送機構71の保持部81は下降し、ディスク10を支持体62に掛けることによりディスク10を支持体62に取付ける。次いで、取付用搬送機構71は、Y方向に沿って測定基準面61aから離隔する方向に移動し、元の位置に戻る。そして、第2搬送部34が第2駆動部35の入側に向かってX方向に移動され、取外用搬送機構72の保持部81が、B面測定部33の測定基準面61aに対向する元の位置に戻る。 After stopping, the holding part 81 of the attachment transport mechanism 71 descends and attaches the disk 10 to the support 62 by hanging the disk 10 on the support 62. Next, the attachment transport mechanism 71 moves in the Y direction away from the measurement reference surface 61a and returns to its original position. Then, the second transport unit 34 moves in the X direction toward the entry side of the second drive unit 35, and the holding part 81 of the removal transport mechanism 72 returns to its original position facing the measurement reference surface 61a of the B-side measurement unit 33.

取付用搬送機構71が元の位置に戻る際に、B面測定部33のセンサ63が、センサ移動機構により移動されて、ディスク10のB面の上を通過する。センサ63がディスク10のB面の上を通過することにより、B面の平坦度が測定される。 When the attachment transport mechanism 71 returns to its original position, the sensor 63 of the B-side measurement unit 33 is moved by the sensor movement mechanism and passes over the B-side of the disk 10. As the sensor 63 passes over the B-side of the disk 10, the flatness of the B-side is measured.

第2駆動部35によって取外用搬送機構72の保持部81がB面測定部33の測定基準面61aの支持体62に対向する位置に配置され、かつセンサ63によるB面の平坦度測定が完了すると、取外用搬送機構72の保持部81は、幅方向移動部92によってY方向に沿って測定基準面61aに接近する方向に移動される。そして、フック部81aがディスク10の貫通孔hに挿入され、下部ディスク受け81bがディスク10の下方に配置され、上部ディスク受け81cがディスク10の上部に対向する位置に配置される。 When the second drive unit 35 positions the holding unit 81 of the removal transport mechanism 72 at a position facing the support body 62 of the measurement reference surface 61a of the B-side measurement unit 33 and the measurement of the flatness of the B-side by the sensor 63 is completed, the holding unit 81 of the removal transport mechanism 72 is moved in the Y direction toward the measurement reference surface 61a by the width direction movement unit 92. Then, the hook portion 81a is inserted into the through hole h of the disk 10, the lower disk receiver 81b is positioned below the disk 10, and the upper disk receiver 81c is positioned opposite the upper part of the disk 10.

そして、取外用搬送機構72は、保持部81をZ方向に上昇させることで支持体62からディスク10を取外し、Y方向に沿って測定基準面61aから離隔する方向に移動し、さらにZ方向に下降させて、元の位置に戻って停止する。この状態で、ディスク10は、取外用搬送機構72の保持部81に傾斜姿勢で保持されている。 Then, the removal transport mechanism 72 removes the disk 10 from the support 62 by raising the holding part 81 in the Z direction, moves it along the Y direction away from the measurement reference surface 61a, and then lowers it further in the Z direction, returning to its original position and stopping. In this state, the disk 10 is held in an inclined position by the holding part 81 of the removal transport mechanism 72.

次いで、第2搬送部34が第2駆動部35の出側に向かってX方向に移動され、取外用搬送機構72の保持部81が、出側受渡部52に対向する位置に停止される。そして、ディスク10が、取外用搬送機構72の保持部81から出側受渡部52に渡される。この状態で、ディスク10は、出側受渡部52に傾斜姿勢で保持されている。 Then, the second transport unit 34 is moved in the X direction toward the exit side of the second drive unit 35, and the holding unit 81 of the removal transport mechanism 72 is stopped at a position facing the exit delivery unit 52. The disk 10 is then transferred from the holding unit 81 of the removal transport mechanism 72 to the exit delivery unit 52. In this state, the disk 10 is held in an inclined position by the exit delivery unit 52.

続いて、出側受渡部52は、取外用搬送機構72から離隔する方向に移動して停止する。そして、図3に示すように、ディスク10が、出側受渡部52から第2ロボット搬送部31のディスク保持部43に渡される。 Next, the exit-side transfer section 52 moves away from the removal transport mechanism 72 and stops. Then, as shown in FIG. 3, the disk 10 is transferred from the exit-side transfer section 52 to the disk holding section 43 of the second robot transport section 31.

このとき、ディスク10は、傾斜姿勢から鉛直姿勢に変換され、第2ロボット搬送部31が、ディスク10を所定の場所に搬送する。続いて、第1ロボット搬送部21が搬送を開始してから第2ロボット搬送部31が搬送を終了するまでの動作が繰り返し行われ、全てのディスク10のA面およびB面の平坦度の測定が完了すると、測定装置20の動作が終了する。 At this time, the disk 10 is converted from an inclined position to a vertical position, and the second robot transport unit 31 transports the disk 10 to a predetermined location. Next, the operation from when the first robot transport unit 21 starts transporting to when the second robot transport unit 31 finishes transporting is repeated, and when the measurement of the flatness of sides A and B of all disks 10 is completed, the operation of the measuring device 20 ends.

以下、本実施形態に係る測定装置20の効果について説明する。
(1)本実施形態に係る測定装置20は、ディスク10のA面測定部23およびB面測定部33と、第1搬送部24と第2搬送部34とを備えている。A面測定部23およびB面測定部33は、鉛直方向から傾斜角θ°傾いている測定基準面61aを有し、第1搬送部24と第2搬送部34は、ディスク10が測定基準面61aに対して平行になるようにディスク10を保持する保持部81を有している。保持部81は、ディスク10が傾斜角θ°傾いている傾斜姿勢を維持したまま、ディスク10のA面測定部23またはB面測定部33への取付けおよび取外しを行うように構成されている。
The effects of the measurement device 20 according to this embodiment will be described below.
(1) The measuring device 20 according to this embodiment includes an A-side measuring unit 23 and a B-side measuring unit 33 for measuring a disk 10, and a first transport unit 24 and a second transport unit 34. The A-side measuring unit 23 and the B-side measuring unit 33 have a measurement reference surface 61a that is inclined at an inclination angle θ° from the vertical direction, and the first transport unit 24 and the second transport unit 34 have a holding unit 81 that holds the disk 10 so that the disk 10 is parallel to the measurement reference surface 61a. The holding unit 81 is configured to attach and detach the disk 10 to and from the A-side measuring unit 23 or the B-side measuring unit 33 while the disk 10 maintains its inclined position at an inclination angle θ°.

本実施形態に係る測定装置20は、A面測定部23およびB面測定部33が、鉛直方向から傾斜角θ°傾いている測定基準面61aを有し、ディスク10は、測定基準面61aに沿って支持される。その結果、従来の測定装置における問題、即ち、ディスクが測定台に水平に保持されたことによるディスクのたわみを効果的に抑制でき、平坦度をより正確に測定することができるという効果が得られる。 In the measuring device 20 according to this embodiment, the A-side measuring section 23 and the B-side measuring section 33 have a measurement reference surface 61a that is inclined at an inclination angle of θ° from the vertical direction, and the disk 10 is supported along the measurement reference surface 61a. As a result, a problem with conventional measuring devices, i.e., deflection of the disk caused by the disk being held horizontally on the measuring table, can be effectively suppressed, and the effect of being able to measure the flatness more accurately can be obtained.

また、保持部81は、ディスク10が傾斜角θ°傾いている傾斜姿勢を維持したまま、ディスク10のA面測定部23またはB面測定部33への取付けおよび取外しを行うように構成されている。その結果、傾斜姿勢を高い精度で保持し、ディスク10のA面測定部23またはB面測定部33への取付けおよび取外しを円滑に行うことができるという効果が得られる。さらに、自重によるたわみの影響を抑制し、測定装置に置かれたときの被測定物の姿勢を安定させることができる。 The holding section 81 is also configured to mount and remove the disk 10 to and from the A-side measurement section 23 or the B-side measurement section 33 while maintaining the inclined position of the disk 10 at an inclination angle of θ°. As a result, the inclined position can be maintained with high precision, and the disk 10 can be smoothly mounted and removed from the A-side measurement section 23 or the B-side measurement section 33. Furthermore, the effect of deflection due to its own weight can be suppressed, and the position of the object to be measured can be stabilized when placed on the measurement device.

また、第1実施形態に係る測定装置20は、第1ロボット搬送部21および第2ロボット搬送部31を含んで構成されており、第1ロボット搬送部21からディスク10が搬送されてから第2ロボット搬送部31で搬送されるまでの間は、自動的にディスク10を測定するので、多数のディスク10を比較的に速やかに測定することができるという効果が得られる。 The measuring device 20 according to the first embodiment is configured to include a first robot transport unit 21 and a second robot transport unit 31, and automatically measures the disk 10 from when the disk 10 is transported from the first robot transport unit 21 until when it is transported by the second robot transport unit 31, thereby achieving the effect of being able to measure a large number of disks 10 relatively quickly.

(2)本実施形態に係る測定装置20は、第1搬送部24が取付用搬送機構71と、取外用搬送機構72とを有している。そして、取付用搬送機構71によりディスク10がA面測定部23またはB面測定部33に取付けられ、取外用搬送機構72により、ディスク10がA面測定部23またはB面測定部33から取外される。その結果、ディスク10を迅速に搬送することができるとともに、ディスク10のA面測定部23またはB面測定部33への取付けおよび取外しを円滑に行うことができ、効率よく搬送することができるという効果が得られる。 (2) In the measuring device 20 according to this embodiment, the first transport section 24 has an attachment transport mechanism 71 and a removal transport mechanism 72. The attachment transport mechanism 71 attaches the disk 10 to the A-side measurement section 23 or the B-side measurement section 33, and the removal transport mechanism 72 removes the disk 10 from the A-side measurement section 23 or the B-side measurement section 33. As a result, the disk 10 can be transported quickly, and the disk 10 can be smoothly attached to and removed from the A-side measurement section 23 or the B-side measurement section 33, resulting in the effect of efficient transport.

(3)本実施形態に係る測定装置20は、第1搬送部24が、A面測定部23に対向してディスク10を搬送する際、および第2搬送部34が、B面測定部33に対向してディスク10を搬送する際、ディスク10が測定基準面61aに対して平行に搬送されるように構成されている。その結果、ディスク10に対して余計な応力が発生することなく、効率よく多くのディスク10を搬送することができるという効果が得られる。 (3) The measuring device 20 according to this embodiment is configured so that when the first transport unit 24 transports the disk 10 facing the A-side measurement unit 23, and when the second transport unit 34 transports the disk 10 facing the B-side measurement unit 33, the disk 10 is transported parallel to the measurement reference surface 61a. As a result, no unnecessary stress is generated on the disk 10, and the effect is obtained that many disks 10 can be transported efficiently.

(4)本実施形態に係る測定装置20は、A面測定部23およびB面測定部33が、互いに対向して配置されているので、測定装置20の構成要素の配置スペースが小さくなり、測定装置20のコンパクト化を図ることができるという効果が得られる。 (4) In the measuring device 20 according to this embodiment, the A-side measuring unit 23 and the B-side measuring unit 33 are arranged opposite each other, so that the space required for arranging the components of the measuring device 20 is reduced, and the measuring device 20 can be made more compact.

(5)本実施形態に係る測定装置20は、第1搬送部24がA面測定部23に対向して配置され、第2搬送部34がB面測定部33に対向して配置され、第1搬送部24の搬送方向と第2搬送部34の搬送方向とが互いに逆方向になるように構成されている。その結果、第1搬送部24およびA面測定部23と、第2搬送部34およびB面測定部33との各配置スペースが小さくなり、測定装置20のコンパクト化を図ることができるという効果が得られる。 (5) The measuring device 20 according to this embodiment is configured such that the first conveying unit 24 is disposed opposite the A-side measuring unit 23, and the second conveying unit 34 is disposed opposite the B-side measuring unit 33, and the conveying directions of the first conveying unit 24 and the second conveying unit 34 are opposite to each other. As a result, the respective arrangement spaces of the first conveying unit 24 and the A-side measuring unit 23, and the second conveying unit 34 and the B-side measuring unit 33 are reduced, resulting in an effect of making the measuring device 20 more compact.

(6)本実施形態に係る測定装置20は、ディスク10が鉛直方向に沿って位置する鉛直姿勢とディスク10の鉛直方向から傾斜角θ°度傾いて位置する傾斜姿勢との間で、鉛直姿勢と傾斜姿勢とを変換する第1受渡部22および第2受渡部32を有している。その結果、第1ロボット搬送部21から搬送された鉛直姿勢のディスク10を第1受渡部22で円滑に傾斜姿勢にすることができ、傾斜姿勢で搬送されたディスク10を第2受渡部32で円滑に鉛直姿勢に変換している。すなわち、搬送部で傾斜姿勢に変換する過程が不要となり、ディスク10に発生する余計な応力を抑制し、測定装置に置かれた時の被測定物の姿勢を安定させることができるという効果が得られる。 (6) The measuring device 20 according to this embodiment has a first transfer section 22 and a second transfer section 32 that convert between a vertical position in which the disk 10 is positioned along the vertical direction and an inclined position in which the disk 10 is inclined at an inclination angle of θ degrees from the vertical direction of the disk 10. As a result, the disk 10 in a vertical position transferred from the first robot transfer section 21 can be smoothly converted to an inclined position by the first transfer section 22, and the disk 10 transferred in an inclined position is smoothly converted to a vertical position by the second transfer section 32. In other words, the process of converting to an inclined position in the transfer section is no longer necessary, unnecessary stress generated in the disk 10 is suppressed, and the position of the object to be measured when placed in the measuring device can be stabilized.

(7)本実施形態に係る測定装置20は、第1搬送部24を駆動する水平移動部91を有し、第1駆動部25は、測定部本体61よりも鉛直方向で下方に配置されている。この構成により、第1駆動部25から発生した細かな発塵物はそのまま下方に落下し、第1駆動部25の上方に位置する測定部本体61には付着し難くなる。したがって、発塵物により測定部本体61が汚染されるリスクが減少する。 (7) The measuring device 20 according to this embodiment has a horizontal movement unit 91 that drives the first transport unit 24, and the first drive unit 25 is disposed vertically below the measuring unit main body 61. With this configuration, fine dust generated by the first drive unit 25 falls directly downward and is less likely to adhere to the measuring unit main body 61 located above the first drive unit 25. Therefore, the risk of the measuring unit main body 61 being contaminated by dust is reduced.

(8)本実施形態に係る測定装置20は、第1搬送部24は、水平方向および測定基準面に対して垂直方向に往復移動可能に構成されているので、効率的かつ迅速にディスク10を搬送し、A面測定部23の支持体62に掛けることができるという効果が得られる。また、第1搬送部24は、ディスク10を主面の向きを測定基準面側に維持したまま測定装置の入側から出側まで搬送するので、無駄なく多数のディスク10を迅速に測定し、ディスク10を搬送することができるという効果が得られる。 (8) In the measuring device 20 according to this embodiment, the first transport unit 24 is configured to be capable of reciprocating horizontally and vertically relative to the measurement reference surface, which provides the effect of efficiently and quickly transporting the disk 10 and hanging it on the support 62 of the A-side measuring unit 23. In addition, the first transport unit 24 transports the disk 10 from the entrance side to the exit side of the measuring device while maintaining the orientation of the main surface toward the measurement reference surface, which provides the effect of quickly measuring a large number of disks 10 without waste and transporting the disks 10.

(9)本実施形態に係る測定装置20は、ディスク10が板厚方向に貫通する貫通孔を有し、取付用搬送機構71および取外用搬送機構72の保持部81は、貫通孔の内壁部を保持するので、傾斜姿勢のディスク10を余計な応力を発生させることなく安定して保持することができるという効果が得られる。 (9) The measuring device 20 according to this embodiment has a through hole through which the disk 10 passes in the thickness direction, and the holding portion 81 of the attachment transport mechanism 71 and the removal transport mechanism 72 holds the inner wall of the through hole, so that the disk 10 in an inclined position can be stably held without generating unnecessary stress.

(10)本実施形態に係る測定装置20は、測定基準面61aにディスク10を支持する支持体62と、支持体62に支持されたディスク10に当接する振れ止め64を有している。その結果、支持体62に支持されたディスク10の振れを抑制し、ディスク10の姿勢を維持し、安定させることでセンサ63による平坦度の測定精度を高めることができるという効果が得られる。 (10) The measuring device 20 according to this embodiment has a support 62 that supports the disk 10 on the measurement reference surface 61a, and a vibration stopper 64 that abuts against the disk 10 supported by the support 62. As a result, the vibration of the disk 10 supported by the support 62 is suppressed, and the attitude of the disk 10 is maintained and stabilized, thereby improving the accuracy of the flatness measurement by the sensor 63.

なお、第1実施形態に係る測定装置20においては、A面測定部23と、B面測定部33を互いに対向して配置した構造で構成した場合について説明した。しかしながら、本発明に係る測定装置においては、A面測定部23と、B面測定部33を互いに対向して配置した構造以外の構造で構成するようにしてもよい。 In the measurement device 20 according to the first embodiment, the A-side measurement unit 23 and the B-side measurement unit 33 are configured to face each other. However, in the measurement device according to the present invention, the A-side measurement unit 23 and the B-side measurement unit 33 may be configured to face each other in a structure other than that.

例えば、A面測定部23とB面測定部33を向きが同じ方向で並列に配置した構造で構成した測定装置20Aであってもよく、A面測定部23とB面測定部33を向きが異なる方向で並列に配置した構造で構成した測定装置20Bであってもよい。 For example, the measuring device 20A may be configured with a structure in which the A-side measuring unit 23 and the B-side measuring unit 33 are arranged in parallel in the same direction, or the measuring device 20B may be configured with a structure in which the A-side measuring unit 23 and the B-side measuring unit 33 are arranged in parallel in different directions.

また、本実施形態では、測定装置20がA面測定部23とB面測定部33の両方を有する構成の場合を例に説明したが、いずれか一方だけでもよく、A面測定部23とB面測定部33の少なくとも一方だけ有していてもよい。 In addition, in this embodiment, the measurement device 20 is described as having both the A-side measurement unit 23 and the B-side measurement unit 33, but it may have only one of them, or at least one of the A-side measurement unit 23 and the B-side measurement unit 33.

(第2実施形態)
以下、第2実施形態に係る測定装置20Aについて図面を参照して説明する。
第2実施形態に係る測定装置20Aは、図11に示すように、第1実施形態に係る測定装置20と異なり、A面測定部23と、B面測定部33とが同じ向きで並列に配置されている。なお、第1実施形態に係る測定装置20と同様の構成要素には、第1実施形態に係る測定装置20と同一の符号を付し、詳しい説明を省略する。
Second Embodiment
Hereinafter, a measuring device 20A according to the second embodiment will be described with reference to the drawings.
11, the measuring apparatus 20A according to the second embodiment differs from the measuring apparatus 20 according to the first embodiment in that the A-side measuring unit 23 and the B-side measuring unit 33 are arranged in parallel in the same orientation. Note that the same components as those in the measuring apparatus 20 according to the first embodiment are given the same reference numerals as those in the measuring apparatus 20 according to the first embodiment, and detailed explanations will be omitted.

第2実施形態に係る測定装置20Aは、A面測定ユニット11と、B面測定ユニット12と、表裏反転機構13とを備えている。測定装置20Aは、A面測定ユニット11によりディスク10のA面の平坦度を測定し、表裏反転機構13でディスク10の表裏を反転させ、B面測定ユニット12によりディスク10のB面の平坦度を測定する構成を有する。 The measuring device 20A according to the second embodiment includes an A-side measuring unit 11, a B-side measuring unit 12, and a front/back inversion mechanism 13. The measuring device 20A is configured to measure the flatness of the A-side of the disk 10 using the A-side measuring unit 11, invert the disk 10 using the front/back inversion mechanism 13, and measure the flatness of the B-side of the disk 10 using the B-side measuring unit 12.

A面測定ユニット11は、入側受渡部51と、第1搬送部24と、A面測定部23と、水平移動部91とを備えている。B面測定ユニット12は、B面測定部33と、第2搬送部34と、出側受渡部52とを備えている。 The A-side measurement unit 11 includes an entrance transfer section 51, a first transport section 24, an A-side measurement section 23, and a horizontal movement section 91. The B-side measurement unit 12 includes a B-side measurement section 33, a second transport section 34, and an exit transfer section 52.

表裏反転機構13は、図示しない公知の反転機構で構成されている。表裏反転機構13は、ディスク10のA面がA面測定部23の測定基準面61aに対向する姿勢でA面測定ユニット11からディスク10を受け取ると、ディスク10のB面がB面測定部33の測定基準面61aに対向する姿勢になるように、ディスク10の姿勢を維持してB面測定ユニット12に渡す構成を有している。ディスク10は、表裏反転機構13によりディスク10のA面とB面が反転される。 The front/back inversion mechanism 13 is composed of a known inversion mechanism (not shown). When the front/back inversion mechanism 13 receives the disk 10 from the A-side measurement unit 11 with the A-side of the disk 10 facing the measurement reference surface 61a of the A-side measurement section 23, the front/back inversion mechanism 13 is configured to maintain the orientation of the disk 10 and hand it over to the B-side measurement unit 12 so that the B-side of the disk 10 faces the measurement reference surface 61a of the B-side measurement section 33. The A-side and B-side of the disk 10 are inverted by the front/back inversion mechanism 13.

次いで、第2実施形態に係る測定装置20Aの動作について図面を参照して説明する。第1実施形態に係る測定装置20と同一の符号が付された構成要素の動作は測定装置20の構成要素と同様に動作するので簡単に説明する。 Next, the operation of the measuring device 20A according to the second embodiment will be described with reference to the drawings. The operation of the components with the same reference numerals as those of the measuring device 20 according to the first embodiment will be described briefly as they operate in the same manner as the components of the measuring device 20.

測定装置20Aにおいては、まず、図11に示す入側受渡部51でディスク10を受け取るとディスク10が傾斜姿勢に変換され、ディスク10が傾斜姿勢のまま、水平移動部91によりX方向で第1搬送部24に近接する方向に移動し第1搬送部24にディスクを渡す位置で停止する。 In the measuring device 20A, first, when the disk 10 is received at the inlet delivery section 51 shown in FIG. 11, the disk 10 is converted to an inclined posture, and while the disk 10 remains in the inclined posture, the horizontal moving section 91 moves the disk 10 in the X direction toward the first conveying section 24, and stops at a position where the disk can be handed over to the first conveying section 24.

ディスク10の停止後、傾斜姿勢のまま、ディスク10が第1搬送部24の取付用搬送機構71の保持部81に渡され、取付用搬送機構71が水平移動部91により移動されて、ディスク10がA面測定部23の支持体62に掛けられる。続いて、センサ63が移動してディスク10のA面の平坦度が測定される。そして、取外用搬送機構72により支持体62からディスク10が取外され、取外用搬送機構72が水平移動部91により移動して、表裏反転機構13にディスク10を渡す位置で停止する。 After the disk 10 has stopped, while still in the tilted position, the disk 10 is handed over to the holder 81 of the attachment transport mechanism 71 of the first transport section 24, and the attachment transport mechanism 71 is moved by the horizontal movement section 91, and the disk 10 is hung on the support 62 of the A-side measurement section 23. Next, the sensor 63 moves to measure the flatness of the A-side of the disk 10. Then, the removal transport mechanism 72 removes the disk 10 from the support 62, and the removal transport mechanism 72 moves by the horizontal movement section 91, stopping at a position where it will hand over the disk 10 to the front/back reversal mechanism 13.

ディスク10の停止後、ディスク10は、表裏反転機構13に渡され、ディスク10の表裏が反転される。表裏反転機構13は、ディスク10を反転させると、ディスク10の傾斜姿勢をB面測定部33側に傾斜する姿勢に変更する。これにより、ディスク10の傾斜姿勢は、表裏反転機構13に渡される前と同じ方向に傾斜した姿勢に維持される。 After the disk 10 has stopped, the disk 10 is handed over to the front/back inversion mechanism 13, which inverts the disk 10. After inverting the disk 10, the front/back inversion mechanism 13 changes the inclination of the disk 10 to a position inclined toward the B-side measurement unit 33. This maintains the inclination of the disk 10 in the same direction as before it was handed over to the front/back inversion mechanism 13.

表裏が反転されたディスク10は、第2搬送部34の取付用搬送機構71の保持部81に傾斜姿勢を維持したまま渡される。ディスク10は、取付用搬送機構71により、B面測定部33の支持体62に掛けられる。 The inverted disc 10 is delivered to the holder 81 of the attachment transport mechanism 71 of the second transport section 34 while maintaining an inclined position. The attachment transport mechanism 71 places the disc 10 on the support 62 of the B-side measurement section 33.

続いて、センサ63が移動してディスク10のB面の平坦度が測定される。そして、取外用搬送機構72により支持体62からディスク10が取外され、取外用搬送機構72が水平移動部91により移動して、次の搬送工程に渡す位置で停止する。 Then, the sensor 63 moves to measure the flatness of side B of the disk 10. Then, the disk 10 is removed from the support 62 by the removal transport mechanism 72, which then moves by the horizontal movement section 91 and stops at a position where it will be handed over to the next transport process.

以下、第2実施形態に係る測定装置20Aの効果について説明する。測定装置20Aは、第1実施形態に係る測定装置20と同様に構成され、動作も測定装置20と同様に行われるので、測定装置20Aは、測定装置20と同様の効果が得られる。 The effects of the measuring device 20A according to the second embodiment will be described below. The measuring device 20A is configured similarly to the measuring device 20 according to the first embodiment, and operates similarly to the measuring device 20, so the measuring device 20A can obtain the same effects as the measuring device 20.

即ち、第2実施形態に係る測定装置20Aは、従来の測定装置におけるディスクのたわみ発生の問題が解消されるという効果が得られる。また、ディスク10にたわみが発生するおそれがないので、平坦度をより正確に測定することができる。 That is, the measuring device 20A according to the second embodiment has the effect of eliminating the problem of disk bending that occurs in conventional measuring devices. In addition, since there is no risk of bending of the disk 10, the flatness can be measured more accurately.

また、第2実施形態に係る測定装置20Aの第1搬送部24の保持部81は、ディスク10が傾斜角θ°傾いている傾斜姿勢を維持したまま、ディスク10を保持して鉛直方向に移動し、ディスク10のA面測定部23またはB面測定部33への取付けおよび取外しを行うように構成されている。その結果、ディスク10のA面測定部23またはB面測定部33への取付けおよび取外しを円滑に行うことができるという効果が得られる。さらに、自重によるたわみの影響を抑制し、測定装置に置かれたときの被測定物の姿勢を安定させることができる。 The holding section 81 of the first transport section 24 of the measuring device 20A according to the second embodiment is configured to hold the disk 10 and move it vertically while maintaining the inclined position of the disk 10 at an inclination angle of θ°, thereby attaching and detaching the disk 10 to and from the A-side measuring section 23 or the B-side measuring section 33. As a result, it is possible to obtain the effect that the disk 10 can be smoothly attached and detached to and from the A-side measuring section 23 or the B-side measuring section 33. Furthermore, it is possible to suppress the effect of deflection due to its own weight, and to stabilize the position of the object to be measured when placed on the measuring device.

なお、第2実施形態に係る測定装置20Aにおいて、表裏反転機構13が、ディスク10の表裏を反転させ、ディスク10の傾斜姿勢を変換せず、ディスク10をA面測定部23に向けて、A面測定ユニット11の第1搬送部24に渡すようにして、A面測定部23により、ディスク10のB面の平坦度を測定するように構成してもよい。この構成により、B面を測定するB面測定ユニット12が不要となり、構成が簡素化されるという効果が得られる。 In the measuring device 20A according to the second embodiment, the front/back inversion mechanism 13 may be configured to invert the front/back of the disk 10, and without changing the inclined attitude of the disk 10, pass the disk 10 toward the A-side measurement section 23 and deliver it to the first transport section 24 of the A-side measurement unit 11, so that the A-side measurement section 23 measures the flatness of the B-side of the disk 10. This configuration eliminates the need for the B-side measurement unit 12 that measures the B-side, and has the effect of simplifying the configuration.

(第3実施形態)
第3実施形態に係る測定装置20Bは、図12に示すように、第1実施形態に係る測定装置20と第2実施形態に係る測定装置20Aと異なり、A面測定部23と、B面測定部33とが異なる向きで並列に配置されている。第1実施形態に係る測定装置20と同様の構成要素には、第1実施形態に係る測定装置20と同一の符号を付し、詳しい説明を省略する。
Third Embodiment
12, the measuring apparatus 20B according to the third embodiment differs from the measuring apparatus 20 according to the first embodiment and the measuring apparatus 20A according to the second embodiment in that the A-side measuring unit 23 and the B-side measuring unit 33 are arranged in parallel but in different orientations. The same components as those in the measuring apparatus 20 according to the first embodiment are given the same reference numerals as those in the measuring apparatus 20 according to the first embodiment, and detailed explanations will be omitted.

第3実施形態に係る測定装置20Bは、図12に示すように、A面測定ユニット11と、B面測定ユニット12と、傾斜変換機構14とを備えている。測定装置20Bは、A面測定ユニット11によりディスク10のA面の平坦度を測定し、傾斜変換機構14でディスク10の傾斜姿勢を変換し、B面測定ユニット12によりディスク10のB面の平坦度を測定する構成を有している。 As shown in FIG. 12, the measuring device 20B according to the third embodiment includes an A-side measuring unit 11, a B-side measuring unit 12, and a tilt conversion mechanism 14. The measuring device 20B is configured to measure the flatness of the A-side of the disk 10 using the A-side measuring unit 11, convert the tilt attitude of the disk 10 using the tilt conversion mechanism 14, and measure the flatness of the B-side of the disk 10 using the B-side measuring unit 12.

A面測定ユニット11は、入側受渡部51と、第1搬送部24と、A面測定部23と、水平移動部91とを有している。B面測定ユニット12は、B面測定部33と、第2搬送部34と、出側受渡部52とを有している。A面測定部23とB面測定部33は、水平移動部91の移動方向に対して幅方向一方側である右側と幅方向他方側である左側とに分かれて配置される。 The A-side measurement unit 11 has an entrance transfer section 51, a first transport section 24, an A-side measurement section 23, and a horizontal movement section 91. The B-side measurement unit 12 has a B-side measurement section 33, a second transport section 34, and an exit transfer section 52. The A-side measurement section 23 and the B-side measurement section 33 are arranged separately on the right side, which is one side in the width direction, and on the left side, which is the other side in the width direction, with respect to the movement direction of the horizontal movement section 91.

傾斜変換機構14は、入側受渡部14aと、出側受渡部14bと、図示しない公知の変換機構で構成されている。変換機構は、ディスク10のA面がA面測定部23の測定基準面に平行に対向する姿勢でA面測定ユニット11からディスク10を受け取る。そして、ディスク10のB面がB面測定部33に平行に対向する姿勢になるようにディスク10の姿勢を変換してB面測定ユニット12に渡すように構成されている。 The tilt conversion mechanism 14 is composed of an inlet delivery section 14a, an outlet delivery section 14b, and a known conversion mechanism (not shown). The conversion mechanism receives the disk 10 from the A-side measurement unit 11 in a position where the A-side of the disk 10 faces parallel to the measurement reference surface of the A-side measurement section 23. The conversion mechanism is configured to convert the position of the disk 10 so that the B-side of the disk 10 faces parallel to the B-side measurement section 33, and then pass it to the B-side measurement unit 12.

次いで、第3実施形態に係る測定装置20Bの動作について図面を参照して説明する。第1実施形態に係る測定装置20と同一の符号が付された構成要素の動作は測定装置20の構成要素と同様に動作するので簡単に説明する。 Next, the operation of the measuring device 20B according to the third embodiment will be described with reference to the drawings. The operation of the components with the same reference numerals as those of the measuring device 20 according to the first embodiment will be described briefly as they operate in the same manner as the components of the measuring device 20.

測定装置20Bにおいては、まず、入側受渡部51でディスク10を受け取るとディスク10がA面測定部23側に傾斜した傾斜姿勢に変換される。そして、ディスク10が傾斜姿勢のまま、入側受渡部51がX方向に沿って第1搬送部24に近接する方向に移動し、第1搬送部24にディスク10を渡す位置で停止する。 In the measuring device 20B, first, when the disk 10 is received by the inlet transfer section 51, the disk 10 is converted to an inclined posture inclined toward the A-side measuring section 23. Then, while the disk 10 remains in the inclined posture, the inlet transfer section 51 moves in the X direction toward the first transport section 24, and stops at a position where the disk 10 is handed over to the first transport section 24.

ディスク10の停止後、傾斜姿勢のまま、第1搬送部24の取付用搬送機構71の保持部81に渡され、取付用搬送機構71が水平移動部91により移動して、ディスク10がA面測定部23の支持体62に掛けられる。続いて、センサ63が移動してディスク10のA面の平坦度が測定される。そして、取外用搬送機構72により支持体62からディスク10が取外され、取外用搬送機構72が水平移動部91により移動して、傾斜変換機構14の入側受渡部14aにディスク10を渡す位置で停止する。 After the disk 10 has stopped, it is handed over in an inclined position to the holding section 81 of the attachment transport mechanism 71 of the first transport section 24, and the attachment transport mechanism 71 is moved by the horizontal movement section 91, and the disk 10 is hung on the support 62 of the A-side measurement section 23. Next, the sensor 63 moves to measure the flatness of the A-side of the disk 10. Then, the removal transport mechanism 72 removes the disk 10 from the support 62, and the removal transport mechanism 72 moves by the horizontal movement section 91 to stop at a position where it delivers the disk 10 to the entry-side delivery section 14a of the tilt conversion mechanism 14.

ディスク10の停止後、ディスク10は、傾斜変換機構14の入側受渡部14aに渡され、ディスク10の傾斜が反対側への傾斜に変換される。つまり、A面測定部23側に傾いた傾斜姿勢からB面測定部33側に傾いた傾斜姿勢に変換される。そして、ディスク10は、傾斜変換機構14の出側受渡部14bに搬送される。ディスク10は、出側受渡部14bで取付用搬送機構71に渡され、取付用搬送機構71により、B面測定部33の支持体62に掛けられる。 After the disk 10 has stopped, the disk 10 is handed over to the inlet transfer section 14a of the inclination conversion mechanism 14, and the inclination of the disk 10 is converted to a tilt to the opposite side. In other words, the inclination is converted from a tilted attitude toward the A-side measurement section 23 to a tilted attitude toward the B-side measurement section 33. The disk 10 is then transported to the outlet transfer section 14b of the inclination conversion mechanism 14. The disk 10 is handed over to the attachment transport mechanism 71 at the outlet transfer section 14b, and the attachment transport mechanism 71 hangs the disk 10 on the support 62 of the B-side measurement section 33.

続いて、センサ63が移動してディスク10のB面の平坦度が測定される。そして、取外用搬送機構72により支持体62からディスク10が取外され、取外用搬送機構72が水平移動部91により移動して、次の搬送工程に渡す位置で停止する。 Then, the sensor 63 moves to measure the flatness of side B of the disk 10. Then, the disk 10 is removed from the support 62 by the removal transport mechanism 72, which then moves by the horizontal movement section 91 and stops at a position where it will be handed over to the next transport process.

以下、第3実施形態に係る測定装置20Bの効果について説明する。
測定装置20Bは、測定装置20Aおよび第1実施形態に係る測定装置20と同様に構成され、動作も測定装置20と同様に行われるので、測定装置20Bは、測定装置20と同様の効果が得られる。
The effects of the measurement device 20B according to the third embodiment will be described below.
The measuring device 20B is configured similarly to the measuring device 20A and the measuring device 20 according to the first embodiment, and operates similarly to the measuring device 20, so that the measuring device 20B can obtain the same effects as the measuring device 20.

即ち、第3実施形態に係る測定装置20Bは、従来の測定装置におけるディスクのたわみ発生の問題が解消されるという効果が得られる。また、ディスク10にたわみが発生するおそれがないので、平坦度をより正確に測定することができる。 That is, the measuring device 20B according to the third embodiment has the effect of eliminating the problem of disk bending that occurs in conventional measuring devices. In addition, since there is no risk of bending of the disk 10, the flatness can be measured more accurately.

また、第3実施形態に係る測定装置20Bの第1搬送部24の保持部81は、ディスク10が傾斜角θ°傾いている傾斜姿勢を維持したまま、ディスク10を保持して鉛直方向に移動し、ディスク10のA面測定部23またはB面測定部33への取付けおよび取外しを行うように構成されている。その結果、ディスク10のA面測定部23またはB面測定部33への取付けおよび取外しを円滑に行うことができるという効果が得られる。さらに、自重によるたわみの影響を抑制し、測定装置に置かれたときの被測定物の姿勢を安定させることができる。 The holding section 81 of the first transport section 24 of the measuring device 20B according to the third embodiment is configured to hold the disk 10 and move it vertically while maintaining the inclined position of the disk 10 at an inclination angle of θ°, thereby attaching and detaching the disk 10 to and from the A-side measuring section 23 or the B-side measuring section 33. As a result, it is possible to obtain the effect that the disk 10 can be smoothly attached and detached to and from the A-side measuring section 23 or the B-side measuring section 33. Furthermore, it is possible to suppress the effect of deflection due to its own weight, and to stabilize the position of the object to be measured when placed on the measuring device.

以上、本発明の第1実施形態~第3実施形態について詳述したが、本発明は、前記の第1実施形態~第3実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、種々の設計変更を行うことができるものである。
特に、上述の各実施形態では、本発明に係る測定装置が被測定物を測定する測定装置に使用した場合を例に説明したが、これに限定されるものではなく、例えば、被測定物を検査する検査装置や、検査後に良品と不良品に仕分ける仕分装置として使用することもできる。
Although the first to third embodiments of the present invention have been described in detail above, the present invention is not limited to the above-described first to third embodiments, and various design modifications can be made without departing from the spirit of the present invention as described in the claims.
In particular, in each of the above-described embodiments, the measuring device according to the present invention has been described as being used as a measuring device for measuring an object to be measured, but the present invention is not limited to this, and can also be used, for example, as an inspection device for inspecting an object to be measured, or a sorting device for sorting objects into good and defective after inspection.

10・・・ディスク(被測定物)
11・・・A面測定ユニット
12・・・B面測定ユニット
13・・・表裏反転機構
14・・・傾斜変換機構
14a、51・・・入側受渡部(受渡部)
14b、52・・・出側受渡部(受渡部)
20、20A、20B・・・測定装置
21・・・第1ロボット搬送部
22・・・第1受渡部(受渡部)
23・・・A面測定部(測定手段、第1測定手段)
24・・・第1搬送部(搬送手段、第1搬送手段)
25・・・第1駆動部(駆動手段)
31・・・第2ロボット搬送部
32・・・第2受渡部(受渡部)
33・・・B面測定部(測定手段、第2測定手段)
34・・・第2搬送部(搬送手段、第2搬送手段)
35・・・第2駆動部(駆動手段)
36・・・第3搬送部
41、42・・・アーム
43・・・ディスク保持部
43a・・・上部ディスク受け
43b・・・溝付フック
61・・・測定部本体
61a・・・測定基準面
61b・・・支持部
62・・・支持体
63・・・センサ
64・・・振れ止め
71・・・取付用搬送機構(第1取付用搬送部)
72・・・取外用搬送機構(第2取外用搬送部)
81・・・保持部
81a・・・フック部(保持部)
81b・・・下部ディスク受け(保持部)
81c・・・上部ディスク受け(保持部)
81d・・・枠
91・・・水平移動部(搬送駆動部)
92・・・幅方向移動部
θ・・・傾斜角(所定の角度)
10...Disk (object to be measured)
11: A-side measuring unit 12: B-side measuring unit 13: front/back inversion mechanism 14: tilt conversion mechanism 14a, 51: inlet delivery section (delivery section)
14b, 52... Output side delivery section (delivery section)
20, 20A, 20B: Measuring device 21: First robot transport unit 22: First delivery unit (delivery unit)
23...A side measuring section (measuring means, first measuring means)
24: First conveying section (conveying means, first conveying means)
25...First drive unit (drive means)
31: Second robot transport unit 32: Second delivery unit (delivery unit)
33... B-side measuring section (measuring means, second measuring means)
34: Second conveying section (conveying means, second conveying means)
35: Second driving unit (driving means)
36: Third transport unit 41, 42: Arm 43: Disk holding unit 43a: Upper disk receiver 43b: Grooved hook 61: Measurement unit main body 61a: Measurement reference surface 61b: Support unit 62: Support body 63: Sensor 64: Vibration prevention device 71: Installation transport mechanism (first installation transport unit)
72: Removal transport mechanism (second removal transport unit)
81: Holding portion 81a: Hook portion (holding portion)
81b: Lower disc holder (holding part)
81c: Upper disk receiver (holding part)
81d: Frame 91: Horizontal moving unit (transport driving unit)
92: Width direction moving part θ: Incline angle (predetermined angle)

Claims (9)

被測定物を測定する測定装置であって、
前記被測定物の表面および裏面の少なくとも一方の形状を測定する測定手段と、
前記被測定物を搬送する搬送手段と、を備え、
前記測定手段は、鉛直方向から所定の角度だけ傾いている測定基準面を有し、
前記搬送手段は、前記被測定物が前記測定基準面に対して平行になるように前記被測定物を保持する保持部を有し、
前記保持部は、前記被測定物が前記所定の角度だけ傾いている姿勢を維持したまま、前記被測定物の前記測定手段への取付けおよび取外しを行い、
前記搬送手段は、水平方向および前記測定基準面に対して垂直方向に往復移動可能に構成され、前記被測定物は、前記搬送手段により主面の向きを前記測定基準面側に維持したまま前記測定装置の入側から出側まで搬送されることを特徴とする測定装置。
A measuring device for measuring an object to be measured,
A measuring means for measuring the shape of at least one of the front surface and the back surface of the object to be measured;
A conveying means for conveying the object to be measured,
The measuring means has a measurement reference surface that is inclined at a predetermined angle from the vertical direction,
the conveying means has a holder that holds the object to be measured so that the object is parallel to the measurement reference surface,
the holding unit attaches and detaches the object to and from the measuring means while maintaining the object in a position tilted at the predetermined angle;
the conveying means is configured to be capable of reciprocating movement in a horizontal direction and in a direction perpendicular to the measurement reference surface, and the object to be measured is conveyed by the conveying means from an entrance side to an exit side of the measurement device while maintaining the orientation of its principal surface toward the measurement reference surface.
被測定物を測定する測定装置であって、
前記被測定物の表面および裏面の少なくとも一方の形状を測定する測定手段と、
前記被測定物を搬送する搬送手段と、を備え、
前記測定手段は、鉛直方向から所定の角度だけ傾いている測定基準面を有し、
前記搬送手段は、前記被測定物が前記測定基準面に対して平行になるように前記被測定物を保持する保持部を有し、
前記保持部は、前記被測定物が前記所定の角度だけ傾いている姿勢を維持したまま、前記被測定物の前記測定手段への取付けおよび取外しを行い、
前記測定基準面は、前記被測定物を支持する支持体と、該支持体に支持された前記被測定物に当接する振れ止めを有し、
前記支持体は、前記被測定物の貫通孔に挿入されて前記被測定物を吊り下げた状態で支持し、
前記振れ止めは、前記支持体に吊り下げ支持された前記被測定物を予め設定された傾斜角に支持する
ことを特徴とする測定装置。
A measuring device for measuring an object to be measured,
A measuring means for measuring the shape of at least one of the front surface and the back surface of the object to be measured;
A conveying means for conveying the object to be measured,
The measuring means has a measurement reference surface that is inclined at a predetermined angle from the vertical direction,
the conveying means has a holder that holds the object to be measured so that the object is parallel to the measurement reference surface,
the holding unit attaches and detaches the object to and from the measuring means while maintaining the object in a position tilted at the predetermined angle;
the measurement reference surface has a support that supports the object to be measured and a vibration rest that abuts against the object to be measured supported by the support,
the support body is inserted into a through hole of the object to be measured and supports the object to be measured in a suspended state;
The vibration rest supports the object to be measured, which is suspended and supported by the support, at a preset inclination angle.
A measuring device comprising :
前記搬送手段が、前記被測定物を前記測定手段に取付ける取付用保持部および前記被測定物を前記測定手段から取外す取外用保持部を有することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の測定装置。 3. The measuring apparatus according to claim 1 , wherein the transport means has a mounting holder for mounting the object to the measuring means and a detachment holder for detaching the object from the measuring means. 前記搬送手段が、前記測定手段に対向して前記被測定物を搬送する際、前記被測定物が前記測定基準面に対して平行に搬送されることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の測定装置。 The measuring device according to claim 1 or 2, characterized in that when the conveying means conveys the object to be measured facing the measuring means, the object is conveyed parallel to the measurement reference surface. 前記測定手段が、互いに対向して配置される第1測定手段および第2測定手段を有することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の測定装置。 3. The measuring apparatus according to claim 1, wherein the measuring means comprises a first measuring means and a second measuring means arranged opposite to each other. 前記搬送手段が、前記第1測定手段に対向して前記被測定物を搬送する第1搬送手段と、前記第2測定手段に対向して前記被測定物を搬送する第2搬送手段とを有し、前記第1搬送手段の搬送方向と前記第2搬送手段の搬送方向とが互いに逆方向であることを特徴とする請求項5に記載の測定装置。 6. The measuring apparatus according to claim 5, wherein the conveying means includes a first conveying means for conveying the object to be measured opposite the first measuring means, and a second conveying means for conveying the object to be measured opposite the second measuring means, and the conveying direction of the first conveying means and the conveying direction of the second conveying means are opposite to each other. 前記被測定物が鉛直方向に沿って位置する鉛直姿勢と前記被測定物の鉛直方向から所定の角度だけ傾いて位置する傾斜姿勢との間で、前記鉛直姿勢と前記傾斜姿勢とを変換する受渡部を有することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の測定装置。 3. The measuring device according to claim 1, further comprising a transfer unit that converts the object to be measured between a vertical position in which the object is positioned along a vertical direction and an inclined position in which the object is positioned at a predetermined angle from the vertical direction . 前記搬送手段を駆動する駆動手段を有し、前記駆動手段は、前記測定手段よりも鉛直方向で下方に配置されていることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の測定装置。 3. The measuring apparatus according to claim 1, further comprising a driving means for driving the transporting means, the driving means being disposed vertically below the measuring means. 前記被測定物が板厚方向に貫通する貫通孔を有し、前記保持部は、前記貫通孔の内壁部を保持することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の測定装置。 3. The measuring device according to claim 1, wherein the object to be measured has a through hole penetrating in a plate thickness direction, and the holding portion holds an inner wall portion of the through hole.
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