JP7691272B2 - 金属含有シリルオキシ化合物、金属含有シリルオキシ基被覆粒子、その製造方法、及び分散組成物 - Google Patents
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Description
R1は、炭素原子数1~30の有機基を表し、
R2は、OR3で表される基、又は下記式(2)で表される基を表し、
R3は、炭素原子数1~30の有機基を表し、
n1及びn2は、それぞれ独立に、0以上の整数を表し、但し、n1+2×n2は、Lの種類により決まる価数であり、
Lは、アルミニウム、ガリウム、イットリウム、チタン、ジルコニウム、ハフニウム、ビスマス、スズ、バナジウム、又はタンタルを表し、
*は結合手を表す。)
前記製造方法は、
水酸基を表面に有する粒子を、下記式(30)で表される化合物と反応させて、上記式(1)で表される構造を表面に有する粒子を得る粒子被覆工程
を有し、又は、
前記製造方法は、
水酸基を表面に有する粒子を、下記式(4)で表される化合物と反応させて、下記式(5)で表される構造を表面に有する粒子を得る第一の反応工程と、
第一の反応工程で得た粒子を、下記式(6)で表される化合物と反応させて、上記式(1)で表される構造を表面に有する粒子を得る第二の反応工程と、
を有する
製造方法。
本発明に係る化合物は、上記式(1)で表される構造を有する。上記化合物は、分散性及び屈折率に優れる粒子を与えるキャッピング剤として用いることができる。
(式中、Rは炭素原子数1~3のアルキレン基を表し、R’は炭素原子数1~3のアルキル基を表し、nは0以上の数、例えば、0以上10以下の数、好ましくは0以上5以下の数を表す。)
本発明に係る粒子は、上記式(1)で表される構造を有する。上記粒子は、分散性及び屈折率に優れるため、高屈折率材料に好適に用いることができる。
式(1)で表される構造を表面に有する粒子は、例えば、上述の通り、粒子被覆工程を有する製造方法(以下、「製造方法1」ともいう。)、又は、第一の反応工程と第二の反応工程とを有する製造方法(以下、「製造方法2」ともいう。)により製造することができる。
下記4-Aで表される化合物(以下、「化合物4-A」ともいう。)と下記6-Aで表される化合物(以下、「化合物6-A」ともいう。)とを、60分間、室温で加水分解縮合させた。化合物4-Aと化合物6-Aとのモル比は、1:1であった。加水分解縮合後の反応混合物をゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)に供したところ、化合物4-A又は化合物6-Aを単独で上記条件下に置いた後にGPCに供した場合には観察されなかった新規ピークが出現した。この新規ピークについて、ポリスチレン換算の数平均分子量を算出したところ、1300であった。上述の結果及び1H-NMR測定の結果から、上記新規ピークに該当する生成物として、下記3-Aで表される化合物が得られたことが確認された。なお、上記新規ピークは肩を有しており、その肩に基づき算出されるポリスチレン換算の数平均分子量から、下記3-Bで表される化合物が生成していることも確認された。また、生成物を13C-NMR測定に供した結果においては、原料を同様の測定に供した際にはピークが現れなかった領域である5~7ppmにかけて、生成物中の(CH3O)1、(CH3O)2、又はSiCH2と考えられるピークが確認された。
(酸化チタン粒子の調製)
国際公開第2020/106860号の実施例8を参照して、酸化チタン粒子を回収した。酸化チタン粒子をTEMで観察したところ、形状は球形であり、粒径は7nmであった。表1において、上記酸化チタン粒子を「TiO2」と表記する。
20ccバイアル中で、表1に示す割合で、上記酸化チタン粒子と化合物4-Aとを混合した後、110℃で30分間、撹拌した。その後、上記バイアル中に、更に、化合物6-Aを添加し、110℃で20分間、撹拌して、被覆粒子を得た。なお、比較例1では、この段階で、ゲル化してしまい、続く評価を行えなかった。また、上記反応は、PGMEA中で行った。また、被覆粒子の洗浄条件を以下のように場合分けした。
1.PGMEAを含む反応系中にn-ヘプタンを添加して、被覆粒子を沈殿させた後、遠心分離した。(表1中の洗浄条件の行において、1と示す。)
2.次いで、遠心分離した被覆粒子を採取後、テトラヒドロフラン(THF)で分散し、ヘプタンを添加して、被覆粒子を沈殿させた後、遠心分離した。(表1中の洗浄条件の行において、2と示す。)
3.再度、遠心分離した被覆粒子を採取後、テトラヒドロフラン(THF)で分散し、ヘプタンを添加して、被覆粒子を沈殿させた後、遠心分離した。(表1中の洗浄条件の行において、3と示す。)
・分散性
濾別した被覆粒子について、洗浄液:n-ヘプタンによる洗浄、濾別後に25℃での乾燥、分散媒:PGMEAへの再分散、及び濾過を試みた。
被覆粒子の分散性を下記の基準で評価した。結果を表1に示す。
+(良好):洗浄、乾燥、再分散、及び濾過の全てが可能であった。
-(不良):被覆粒子はゲル化しており、洗浄、乾燥、再分散、及び濾過の少なくとも1つが不可能であり、以降の測定はできなかった。
調製した被覆粒子について、X線光電子分光分析(XPS分析)を行い、当該被覆粒子に含まれるリンとケイ素とのモル比を算出し、更に、それに基づき、当該被覆粒子において、化合物6-Aに由来する部分と化合物4-Aに由来する部分とのモル比を算出した。結果を表1に示す。
濾別した被覆粒子を分散媒:PGMEAに再分散させ、50質量%の分散液を調製した。この分散液について、熱重量分析(TGA)を行い、該分散液中の固形分に占める化合物6-Aに由来する部分及び化合物4-Aに由来する部分の合計の割合を算出し、被覆粒子の被覆率(質量%)とした。結果を表1に示す。
被覆粒子中で酸化チタン粒子を被覆している部分(即ち、化合物6-Aに由来する部分と化合物4-Aに由来する部分との合計)において、チタンの含有量が多いほど、被覆粒子の屈折率がより向上しやすい。チタンは化合物6-Aに由来する部分に含まれているので、化合物6-Aに由来する部分の量が多いほど、被覆粒子の屈折率がより向上しやすくなると合理的に理解することができる。そこで、被覆粒子の屈折率を、XPSによる化合物6-A由来部分と化合物4-A由来部分とのモル比(以下、「化合物6-A/化合物4-A」ともいう。)を用いて、下記の基準で評価した。結果を表1に示す。
++(極めて良好):化合物6-A/化合物4-Aが0.5以上であった。
+(良好):化合物6-A/化合物4-Aが0超0.5未満であった。
-(不良):化合物6-A/化合物4-Aが0であった。又は、被覆粒子の分散性が不良であった。
実施例1~5各々の被覆粒子を5質量%以下の濃度でPGMEA等の分散媒中に分散させて分散組成物を得、Malvern Zetasizer Nano S(動的光散乱(DLS)装置)により、該分散組成物における上記被覆粒子の平均径を測定した。その結果、平均径は、実施例1~5のいずれについても20nm以下であった。
Claims (5)
- 下記式(3)で表される化合物。
(式中、R 1 は、炭素原子数1~30のアルキル基、炭素原子数3~30のシクロアルキル基、炭素原子数2~30のアルケニル基、炭素原子数6~30のアリール基、又は炭素原子数2~30のアルコキシアルキル基を表し、
R 2 は、OR 3 で表される基、又は下記式(2)で表される基を表し、
R 3 は、炭素原子数1~30のアルキル基、炭素原子数3~30のシクロアルキル基、炭素原子数2~30のアルケニル基、炭素原子数6~30のアリール基、炭素原子数2~30のアルコキシアルキル基、炭素原子数5~30のアルキルアセトアセテート基、2,4-ペンタンジオナト基、又は2,2,6,6-テトラメチル-3,5-ヘプタンジオナト基を表し、
n1及びn2は、それぞれ独立に、0以上の整数を表し、但し、n1+2×n2は、Lの種類により決まる価数であり、
Lは、アルミニウム、ガリウム、イットリウム、チタン、ジルコニウム、ハフニウム、ビスマス、スズ、バナジウム、又はタンタルを表し、
R6及びR7は、それぞれ独立に、炭素原子数1~30のアルキル基、炭素原子数3~30のシクロアルキル基、炭素原子数2~30のアルケニル基、炭素原子数6~30のアリール基、炭素原子数2~30のアルコキシアルキル基又はL(R2)n1(O)n2で表される基を表す。)
(式中、R 4 及びR 5 は、酸素原子を有していてもよい、炭素原子数1~30のアルキル基、炭素原子数3~30のシクロアルキル基、炭素原子数2~30のアルケニル基、炭素原子数6~30のアリール基、又は炭素原子数2~30のアルコキシアルキル基を表す。) - 下記式(1)で表される構造を表面に有する粒子。
(式中、
R1は、炭素原子数1~30のアルキル基、炭素原子数3~30のシクロアルキル基、炭素原子数2~30のアルケニル基、炭素原子数6~30のアリール基、又は炭素原子数2~30のアルコキシアルキル基を表し、
R2は、OR3で表される基、又は下記式(2)で表される基を表し、
R3は、炭素原子数1~30のアルキル基、炭素原子数3~30のシクロアルキル基、炭素原子数2~30のアルケニル基、炭素原子数6~30のアリール基、炭素原子数2~30のアルコキシアルキル基、炭素原子数5~30のアルキルアセトアセテート基、2,4-ペンタンジオナト基、又は2,2,6,6-テトラメチル-3,5-ヘプタンジオナト基を表し、
n1及びn2は、それぞれ独立に、0以上の整数を表し、但し、n1+2×n2は、Lの種類により決まる価数であり、
Lは、アルミニウム、ガリウム、イットリウム、チタン、ジルコニウム、ハフニウム、ビスマス、スズ、バナジウム、又はタンタルを表し、
*は結合手を表す。)
(式中、R4及びR5は、酸素原子を有していてもよい、炭素原子数1~30のアルキル基、炭素原子数3~30のシクロアルキル基、炭素原子数2~30のアルケニル基、炭素原子数6~30のアリール基、又は炭素原子数2~30のアルコキシアルキル基を表す。) - 請求項3に記載の粒子を含む、分散組成物。
- 下記式(1)で表される構造を表面に有する粒子の製造方法であって、
前記製造方法は、
水酸基を表面に有する粒子を、下記式(30)で表される化合物と反応させて、下記式(1)で表される構造を表面に有する粒子を得る粒子被覆工程
を有し、又は、
前記製造方法は、
水酸基を表面に有する粒子を、下記式(4)で表される化合物と反応させて、下記式(5)で表される構造を表面に有する粒子を得る第一の反応工程と、
第一の反応工程で得た粒子を、下記式(6)で表される化合物と反応させて、下記式(1)で表される構造を表面に有する粒子を得る第二の反応工程と、
を有する
製造方法。
(式中、
R1は、炭素原子数1~30のアルキル基、炭素原子数3~30のシクロアルキル基、炭素原子数2~30のアルケニル基、炭素原子数6~30のアリール基、又は炭素原子数2~30のアルコキシアルキル基を表し、
R2は、OR3で表される基、又は下記式(2)で表される基を表し、
R3は、炭素原子数1~30のアルキル基、炭素原子数3~30のシクロアルキル基、炭素原子数2~30のアルケニル基、炭素原子数6~30のアリール基、炭素原子数2~30のアルコキシアルキル基、炭素原子数5~30のアルキルアセトアセテート基、2,4-ペンタンジオナト基、又は2,2,6,6-テトラメチル-3,5-ヘプタンジオナト基を表し、
n1及びn2は、それぞれ独立に、0以上の整数を表し、但し、n1+2×n2は、Lの種類により決まる価数であり、
Lは、アルミニウム、ガリウム、イットリウム、チタン、ジルコニウム、ハフニウム、ビスマス、スズ、バナジウム、又はタンタルを表し、
*は結合手を表す。)
(式中、R4及びR5は、酸素原子を有していてもよい、炭素原子数1~30のアルキル基、炭素原子数3~30のシクロアルキル基、炭素原子数2~30のアルケニル基、炭素原子数6~30のアリール基、又は炭素原子数2~30のアルコキシアルキル基を表す。)
(式中、R1、R2、n1、n2、及びLは、前記の通りであり、R60及びR70は、炭素原子数1~30のアルキル基、炭素原子数3~30のシクロアルキル基、炭素原子数2~30のアルケニル基、炭素原子数6~30のアリール基、又は炭素原子数2~30のアルコキシアルキル基を表す。)
(式中、R1、R60、及びR70は、前記の通りであり、R8は、炭素原子数1~30のアルキル基、炭素原子数3~30のシクロアルキル基、炭素原子数2~30のアルケニル基、炭素原子数6~30のアリール基、又は炭素原子数2~30のアルコキシアルキル基を表す。)
(式中、R1及びR8は、前記の通りである。)
R9O-L(R2)n1(O)n2 (6)
(式中、R2、n1、n2、及びLは、前記の通りであり、R9は、炭素原子数1~30のアルキル基、炭素原子数3~30のシクロアルキル基、炭素原子数2~30のアルケニル基、炭素原子数6~30のアリール基、又は炭素原子数2~30のアルコキシアルキル基を表す。)
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| REGISTRY(STN) [オンライン],2017年10月11日,[検索日 2022.06.01],CAS登録番号 2133837-27-9 |
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