JP7699133B2 - 生涯深層ニューラルネットワークを使用した異常の認識および検出のためのシステムおよび方法 - Google Patents
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Description
本出願は、2020年1月12日出願の米国特許出願第62/960,132号の米国特許法119条(e)の下での優先権の利益を主張し、引用によりその全体があらゆる目的のため本明細書の一部を成すものとする。
●AIの待ち時間の減少:クラウドまたはリモートサーバではなくコンピューティングエッジに位置することができるため、L-DNN AIは、データが、クラウドまたはデータセンターリソースではなく、ローカルデバイスレベルに直接位置するプロセッサ上で処理されるため、リアルタイムまたはほぼリアルタイムのデータ解析を達成できる。
●データ転送およびネットワークトラフィックの低減:データはデバイスレベルで処理されるため、生データはコンピュータネットワークを介してデバイスからデータセンタまたはクラウドに送信される必要はなく、それによってネットワークトラフィックが低減される。
●メモリ使用量の削減:L-DNN技術により、ワンショット学習が可能になり、将来使用するためにデータを保存する必要性が排除される。
●データプライバシ:デバイスにおけるデータ(推論と学習の両方)の処理は、ユーザデータがデバイスレベルで生成、処理、破棄され、どうあってもデバイスから送信されることなく、またデバイス上に生の形態で永続的に保存されることがないため、ユーザのプライバシおよびデータセキュリティを強化する。
●柔軟な運用:L-DNNは、教師あり、教師なし、または半教師ありモードで運用できる。
●未知の物体クラスの取り扱い:L-DNNは、欠陥部品または異常部品を含む、訓練中に遭遇しなかった物体について、「何も知らない(Nothing I know)」と識別し、報告することができる。
L-DNN技術の詳細については、例えば、参照によりその全体が本明細書に組み込まれる、米国特許付与前公開第2018/0330238A1号および米国特許出願第16/952,250号を参照されたい。
a.正常な状況の例のみを使用して、導入現場で迅速に訓練を行う。
b.異常を認識または検出し、ユーザに警告する。
c.任意選択で、システムの運用を中断することなく、各々の異常ありのデータでその知識を更新する。
L-DNN技術では、関心のある実体または事象を表す特徴の、高速だが安定的な学習を実現するように、表現豊富なDNNに基づくサブシステム(モジュールA)を高速学習サブシステム(モジュールB)と組み合わせる。これらの特徴セットは、逆伝播など、低速学習の方法論によって事前に訓練できる。本明細書に記載される(他の特徴に関する記載は、モジュールAに非DNN方法論を採用することにより可能である)DNNに基づく事例の場合、DNNの高水準特徴抽出層は、知っている実体および事象を分類し、知らない実体および事象の知識をオンザフライで追加するように、モジュールBの高速学習システムへの入力として機能する。モジュールBは、重要な情報を学習し、遅い学習の欠点なしに、正しい入力または挙動の記述的および高度に予測可能な特徴を捕捉し、以前に見られなかった間違った入力および挙動を識別することができる。
図2は、工場のフロアで目視検査を可能にすることができるシステムの例として、L-DNN技術に基づく、目視検査自動化(VIA)プラットフォーム200を示す。VIAプラットフォーム200は、ユーザがL-DNNシステムを構成、訓練、導入、およびさらに洗練することを可能にするグラフィカルユーザインターフェース(GUI)を有する一つ以上のプロセッサ上で実行されるソフトウェアを含む。VIAプラットフォーム200は、初期設定および訓練のために、ラップトップ201上または産業用PC202に接続されたコンピュータ上で実行されるローカル産業用PC(ローカルサーバ)202およびL-DNN訓練(例えば、ブレインビルダ)ソフトウェアを含む。VIAシステム200はまた、エッジコンピュータ204を含む。各エッジコンピュータ204は、対応するカメラ208、または対応するノード209を形成するために評価または検査のためにデータを収集するマイク、カウンタ、タイマ、もしくは圧力センサなどの他のセンサに結合される。各ノード209は、異なるタイプのセンサを含んでもよく、そのセンサによって取得された正常および異常なデータを認識するように訓練されたL-DNNを実装してもよい。
従来の深層学習ネットワークとは異なり、L-DNNは、小さな不均衡なデータセット上で迅速に訓練することができる。さらに、L-DNNは、より低速の逆伝播を通して学習する従来の深層学習ネットワークとは異なり、以前に学習した物体を認識する方法を忘れることなく、新しい物体を迅速に認識することを学ぶことができる。従来の深層学習ネットワークはまた、壊滅的な忘れ、または認識するように訓練された物体の認識の欠如を受けやすい。これにより、新規または異なる物体を検査するための深層学習ネットワーク検査よりも、L-DNN検査システムを再構成するのを容易かつ迅速にする。
単一の画像において、多数のカメラまたは多数の関心領域(ROI)からの画像を検査する際の推論時間を低減するために、L-DNNは、複数のモジュールB(分類器またはヘッド)を供給する、事前訓練された低速学習バックボーンを有する、単一のモジュールAを有するマルチヘッドL-DNNとして実装することができる。マルチヘッドL-DNNは、単一の組立、検査、または生産ラインにおける複数の検査点からの画像および/または単一の画像における複数のROIを分析することができる。シングルヘッドL-DNNと同様に、マルチヘッドL-DNNは、音声データおよび計量器、温度計、カウンタ、ならびに他のセンサからの信号を含む、他のタイプのデータで動作するように訓練されてもよい。
L-DNNが、どのように正確に異常を識別するかは、部分的に、ユーザによって調整され得る優勢パラメータに依存する。L-DNNヘッド(モジュールB)は、この優勢パラメータを使用して、L-DNNバックボーン(モジュールA)によって抽出された特徴ベクトルが、既知の(良好な)物体の特定の表現とどの程度よく合致するかを判定する。これは、抽出された特徴が、他のすべての表現に対して、この特定の表現にどれだけ近いかを判定することによって、これを行う。優勢値10は、特定のクラスの例として受け入れられるためには、入力の特徴が、任意の他のクラスのプロトタイプよりも、このクラスのプロトタイプに10倍近似しているべきであることを意味する。この条件が満たされていない場合、入力は異常として認識される。優勢パラメータが小さすぎる場合、L-DNNは、より多くの偽陽性を報告してもよく、すなわち、より多くの異常を正常な物体(表1の上部)として報告する。また、優勢パラメータが大きすぎる場合、L-DNNは、より多くの偽陰性を報告することができ、すなわち、より多くの正常な物体を異常なものとして報告する(表1の下部)。オペレータは、システム性能に応答してこの優勢係数を変更することによって、偽陰性/偽陽性比を調整できる。
発明に関するさまざまな実施形態を本明細書に記述し、かつ例示してきたが、当業者は、本明細書に記載の機能を実施するための、ならびに/または結果および/もしくは利点の一つ以上を得るための、さまざまな他の手段および/または構造を容易に想定し、またこうした変形および/または修正のそれぞれは、本明細書に記載の発明に関する実施形態の範囲内であるものと見なされる。より一般的に、当業者は、本明細書に記載のすべてのパラメータ、寸法、材料、および構成が例示であることを意味することと、実際のパラメータ、寸法、材料、および/または構成が、本発明の教示が使用される特定の用途に依存することとを容易に理解するであろう。当業者は、本明細書に記載の特定の発明に関する実施形態の多くの同等物を、単に通常の実験を用いて認識し、または確認することができるであろう。従って、前述の実施形態は、例としてのみ提示されていて、添付の特許請求の範囲およびその均等物の範囲内で、発明に関する実施形態は、具体的に記述および特許請求される以外の形で実践されうることが理解される。本開示の発明に関する実施形態は、本明細書に記載の各個々の特徴、システム、物品、材料、キット、および/または方法を対象とする。加えて、二つ以上のこうした特徴、システム、物品、材料、キット、および/または方法の任意の組み合わせは、こうした特徴、システム、物品、材料、キット、および/または方法が相互に矛盾しない場合、本開示の発明の範囲内に含まれる。
Claims (31)
- 事前に訓練されたバックボーンと、センサに接続されたプロセッサ上で実行される高速学習ヘッドとを用いて組立ライン上の異常のある物体を識別する方法であって、
異常のある物体を認識できるよう前記高速学習ヘッドを訓練することなく、前記組立ライン上の正常な物体を認識できるよう前記高速学習ヘッドを訓練することと、
前記組立ライン上の物体を表すデータを前記センサにより取得することと、
前記事前に訓練されたバックボーンにより、前記物体のデータの特徴を抽出することと、
前記高速学習ヘッドにより、前記事前に訓練されたバックボーンによって抽出された前記データの特徴に基づいて、前記物体に異常があることを自動的に認識することと
を含み、
前記高速学習ヘッドが第一の高速学習ヘッドであり、前記センサが第一のセンサであり、
さらに、
異常のある物体を認識できるよう第二の高速学習ヘッドを訓練することなく、前記組立ライン上の正常な物体を認識できるよう前記第二の高速学習ヘッドを訓練することと、
前記組立ライン上の前記物体の別のビューを表すデータを第二のセンサにより取得することと、
前記事前に訓練されたバックボーンにより、前記物体の前記別のビューのデータの特徴を抽出することと、
前記第二の高速学習ヘッドにより、前記事前に訓練されたバックボーンによって抽出された前記物体の前記別のビューを表すデータの特徴に基づいて、前記物体に異常があることを自動認識することと
を含む方法。 - 前記第一のセンサがカメラであり、前記データを取得することが前記物体の画像を取得することを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記第一の高速学習ヘッドの訓練が、前記第一の高速学習ヘッドを正常な物体の100枚未満の画像により訓練することを含む、請求項2に記載の方法。
- 前記物体を表すデータの取得が時系列データの取得を含む、請求項1に記載の方法。
- 前記データの特徴を抽出することが、正常な物体を認識できるように訓練されたニューラルネットワークの畳み込み層を通じて前記データを伝播することを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記データの特徴を抽出することが、前記データをフーリエ変換またはウェーブレット変換することのうちの少なくとも一つを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記第一の高速学習ヘッドにより、前記物体に以前には見られなかったタイプの異常があると識別することをさらに含む請求項1に記載の方法。
- ユーザからの入力に応じて、前記以前には見られなかったタイプの異常を第一のタイプの異常としてラベル付けすることをさらに含む請求項7に記載の方法。
- 前記物体が第一の物体であり、
前記組立ライン上の第二の物体を表すデータを取得することと、
前記第二の物体を表すデータの特徴を、前記事前に訓練されたバックボーンにより抽出することと、
前記第一の高速学習ヘッドにより、前記第二の物体を表すデータから抽出された特徴に基づいて、前記第二の物体に異常があることを自動的に認識することと
をさらに含む請求項8に記載の方法。 - 前記第一の高速学習ヘッドにより、前記第二の物体を前記第一のタイプの異常を有するものとして分類することをさらに含む請求項9に記載の方法。
- 前記以前には見られなかったタイプの異常が、第一の、以前には見られなかったタイプの異常であり、
前記第二の物体が、第二の、以前には見られなかったタイプの異常を有するものと識別することと、
ユーザからの入力に応じて、前記第二の、以前には見られなかったタイプの異常を第二のタイプの異常としてラベル付けすることと
をさらに含む請求項9に記載の方法。 - 事前に訓練されたバックボーンと、センサに接続されたプロセッサ上で実行される高速学習ヘッドとを用いて組立ライン上の異常のある物体を識別する方法であって、
異常のある物体を認識できるよう前記高速学習ヘッドを訓練することなく、前記組立ライン上の正常な物体を認識できるよう前記高速学習ヘッドを訓練することと、
前記組立ライン上の物体を表すデータを前記センサにより取得することと、
前記事前に訓練されたバックボーンにより、前記物体のデータの特徴を抽出することと、
前記高速学習ヘッドにより、前記事前に訓練されたバックボーンによって抽出された前記データの特徴に基づいて、前記物体に異常があることを自動的に認識することと
を含み、
前記高速学習ヘッドが第一の高速学習ヘッドであり、前記センサが第一のセンサであり、前記物体が第一の物体であり、
さらに、
異常のある物体を認識できるよう第二の高速学習ヘッドを訓練することなく、前記組立ライン上の正常な物体を認識できるよう前記第二の高速学習ヘッドを訓練することと、
前記組立ライン上の第二の物体を表すデータを第二のセンサにより取得することと、
前記第二の物体のデータの特徴を前記事前に訓練されたバックボーンにより抽出することと、
前記第二の高速学習ヘッドにより、前記事前に訓練されたバックボーンによって抽出された前記データの特徴に基づいて、前記第二の物体に異常があることを自動的に認識することと
を含む方法。 - 事前に訓練されたバックボーンと、センサに接続されたプロセッサ上で実行される高速学習ヘッドとを用いて組立ライン上の異常のある物体を識別する方法であって、
異常のある物体を認識できるよう前記高速学習ヘッドを訓練することなく、前記組立ライン上の正常な物体を認識できるよう前記高速学習ヘッドを訓練することと、
前記組立ライン上の物体を表すデータを前記センサにより取得することと、
前記事前に訓練されたバックボーンにより、前記物体のデータの特徴を抽出することと、
前記高速学習ヘッドにより、前記事前に訓練されたバックボーンによって抽出された前記データの特徴に基づいて、前記物体に異常があることを自動的に認識することと
を含み、
前記高速学習ヘッドが第一の高速学習ヘッドであり、前記データが画像を含み、前記第一の高速学習ヘッドを訓練して正常な物体を認識することが、前記第一の高速学習ヘッドを訓練して、訓練画像において正常な第一の関心領域を認識することを含み、
さらに、
異常のある第二の関心領域を認識できるよう第二の高速学習ヘッドを訓練することなく、前記訓練画像の正常な第二の関心領域を認識できるよう前記第二の高速学習ヘッドを訓練することと、
前記第二の高速学習ヘッドにより、前記事前に訓練されたバックボーンによって抽出された前記データの特徴に基づいて、前記画像の第二の関心領域に異常があることを自動的に認識することと
を含む方法。 - 前記第一の高速学習ヘッドにより、前記物体の画像内の異常のある位置を自動的に特定することをさらに含む請求項1に記載の方法。
- 前記物体に異常があると前記第一の高速学習ヘッドが認識したことに応じて、前記物体を前記組立ラインから自動的に除くことをさらに含む請求項1に記載の方法。
- 前記物体に異常があると前記高速学習ヘッドが認識したことに応じて、警報をトリガすることをさらに含む請求項1に記載の方法。
- 組立ライン上の物体を検査するシステムであって、
前記組立ライン上の物体を表すデータを取得するセンサと、
前記センサに動作可能に接続され、
事前に訓練されたバックボーンに対し、前記データから前記物体の特徴を抽出させ、
正常な物体を表すデータのみに関して訓練された高速学習ヘッドに対し、前記事前に訓練されたバックボーンから前記特徴を受け取り、前記特徴に基づいて前記物体が正常か異常かを識別させる
プロセッサと
を備え、
前記センサがカメラであり、前記データが画像であり、前記高速学習ヘッドは、正常な訓練画像における第一の関心領域のみを認識できるよう訓練された第一の高速学習ヘッドであり、
前記プロセッサが、前記正常な訓練画像における第二の関心領域のみを認識できるよう訓練された第二の高速学習ヘッドに対し、前記事前に訓練されたバックボーンによって抽出された前記データの特徴に基づいて、前記画像の第二の関心領域に異常があると認識させる、
システム。 - 前記第一の高速学習ヘッドが、正常な物体の100枚未満の画像により訓練される、請求項17に記載のシステム。
- 前記センサが、前記物体を表す時系列データを取得する、請求項17に記載のシステム。
- 前記事前に訓練されたバックボーンが、正常な物体を認識できるよう訓練されたニューラルネットワークの畳み込み層を含む、請求項17に記載のシステム。
- 前記事前に訓練されたバックボーンが、前記データをフーリエ変換またはウェーブレット変換することのうちの少なくとも一つによって前記特徴を抽出する、請求項17に記載のシステム。
- 前記第一の高速学習ヘッドが、前記物体を、以前には見られなかったタイプの異常を有するものとして識別する、請求項17に記載のシステム。
- 前記プロセッサに動作可能に接続され、ユーザが前記以前には見られなかったタイプの異常を第一のタイプの異常としてラベル付けすることを可能にするインターフェースをさらに備える請求項22に記載のシステム。
- 前記物体が第一の物体であり、前記センサが、前記組立ライン上の第二の物体を表すデータを取得し、前記事前に訓練されたバックボーンが、前記第二の物体を表すデータの特徴を抽出し、前記第一の高速学習ヘッドは、前記第二の物体に、前記第二の物体を表すデータから抽出された特徴に基づき異常があると自動的に認識する、請求項22に記載のシステム。
- 前記第一の高速学習ヘッドが、前記第二の物体を第一のタイプの異常を有するものとして分類する、請求項24に記載のシステム。
- 前記以前には見られなかったタイプの異常が、第一のタイプの異常であり、前記第一の高速学習ヘッドが、前記第二の物体を、第二の、以前には見られなかったタイプの異常を有するものとして識別し、
前記プロセッサに動作可能に接続され、ユーザが前記第二の、以前には見られなかったタイプの異常を第二のタイプの異常としてラベル付けすることを可能にするインターフェースをさらに備える請求項24に記載のシステム。 - 組立ライン上の物体を検査するシステムであって、
前記組立ライン上の物体を表すデータを取得するセンサと、
前記センサに動作可能に接続され、
事前に訓練されたバックボーンに対し、前記データから前記物体の特徴を抽出させ、
正常な物体を表すデータのみに関して訓練された高速学習ヘッドに対し、前記事前に訓練されたバックボーンから前記特徴を受け取り、前記特徴に基づいて前記物体が正常か異常かを識別させる
プロセッサと
を備え、
前記高速学習ヘッドが第一の高速学習ヘッドであり、前記センサが第一のセンサであり、
前記プロセッサに動作可能に接続され、前記組立ライン上の前記物体の別のビューを表すデータを取得する第二のセンサをさらに備え、
前記プロセッサが、正常な物体を表すデータでのみ訓練された第二の高速学習ヘッドに対し、前記事前に訓練されたバックボーンによって抽出された前記物体の前記別のビューを表すデータの特徴に基づいて、前記物体に異常があると認識させる、
システム。 - 組立ライン上の物体を検査するシステムであって、
前記組立ライン上の物体を表すデータを取得するセンサと、
前記センサに動作可能に接続され、
事前に訓練されたバックボーンに対し、前記データから前記物体の特徴を抽出させ、
正常な物体を表すデータのみに関して訓練された高速学習ヘッドに対し、前記事前に訓練されたバックボーンから前記特徴を受け取り、前記特徴に基づいて前記物体が正常か異常かを識別させる
プロセッサと
を備え、
前記物体が第一の物体であり、前記高速学習ヘッドが第一の高速学習ヘッドであり、前記センサが第一のセンサであり、前記物体が第一の物体であり、
前記プロセッサに動作可能に接続され、前記組立ライン上の第二の物体のデータを取得する第二のセンサをさらに備え、
前記プロセッサが、正常な物体を表すデータでのみ訓練された第二の高速学習ヘッドに対し、前記事前に訓練されたバックボーンによって抽出された前記第二の物体のデータの特徴に基づいて、前記第二の物体に異常があると認識させる、
システム。 - 前記第一の高速学習ヘッドが、前記物体の画像における異常のある位置を特定する、請求項17に記載のシステム。
- 前記プロセッサに動作可能に接続され、前記物体に異常があると前記第一の高速学習ヘッドが認識したことに応じて前記物体を前記組立ラインから除くプログラム可能な論理コントローラをさらに備える請求項17に記載のシステム。
- 前記プロセッサは、前記物体に異常があると前記第一の高速学習ヘッドが認識したことに応じて警報をトリガする、請求項17に記載のシステム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2025100271A JP2025157224A (ja) | 2020-01-12 | 2025-06-16 | 生涯深層ニューラルネットワークを使用した異常の認識および検出のためのシステムおよび方法 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US202062960132P | 2020-01-12 | 2020-01-12 | |
| US62/960,132 | 2020-01-12 | ||
| PCT/US2021/013056 WO2021142475A1 (en) | 2020-01-12 | 2021-01-12 | Systems and methods for anomaly recognition and detection using lifelong deep neural networks |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2025100271A Division JP2025157224A (ja) | 2020-01-12 | 2025-06-16 | 生涯深層ニューラルネットワークを使用した異常の認識および検出のためのシステムおよび方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2023510329A JP2023510329A (ja) | 2023-03-13 |
| JP7699133B2 true JP7699133B2 (ja) | 2025-06-26 |
Family
ID=76787615
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2022542288A Active JP7699133B2 (ja) | 2020-01-12 | 2021-01-12 | 生涯深層ニューラルネットワークを使用した異常の認識および検出のためのシステムおよび方法 |
| JP2025100271A Pending JP2025157224A (ja) | 2020-01-12 | 2025-06-16 | 生涯深層ニューラルネットワークを使用した異常の認識および検出のためのシステムおよび方法 |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2025100271A Pending JP2025157224A (ja) | 2020-01-12 | 2025-06-16 | 生涯深層ニューラルネットワークを使用した異常の認識および検出のためのシステムおよび方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US12591227B2 (ja) |
| EP (1) | EP4088233A4 (ja) |
| JP (2) | JP7699133B2 (ja) |
| WO (1) | WO2021142475A1 (ja) |
Families Citing this family (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113798920B (zh) * | 2021-09-23 | 2022-07-22 | 大连理工大学 | 一种基于变分自动编码器与极限学习机的刀具磨损状态监测方法 |
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- 2021-01-12 JP JP2022542288A patent/JP7699133B2/ja active Active
- 2021-01-12 WO PCT/US2021/013056 patent/WO2021142475A1/en not_active Ceased
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2021142475A1 (en) | 2021-07-15 |
| EP4088233A1 (en) | 2022-11-16 |
| US12591227B2 (en) | 2026-03-31 |
| JP2023510329A (ja) | 2023-03-13 |
| US20230011901A1 (en) | 2023-01-12 |
| JP2025157224A (ja) | 2025-10-15 |
| EP4088233A4 (en) | 2024-02-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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|
| A977 | Report on retrieval |
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|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
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|
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| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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