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JP7705603B2 - Information processing device, information processing method, and program - Google Patents
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JP7705603B2 - Information processing device, information processing method, and program - Google Patents

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Description

本発明は、情報処理装置、情報処理方法及びプログラムに関する。 The present invention relates to an information processing device, an information processing method, and a program.

従来より、食品等の分野において、食品自体の品質に問題がある場合や食品に異物等が含まれている場合に、それを検知し、取り除くことは重要な課題である。これに対して、例えば、検査対象となる食品等に対して光を照射することにより得られる吸収スペクトルに対して、2次微分処理を行い、2次微分分光画像を作成することによって、食品等に含まれる異物を検出できる方法が提案されている(例えば、特許文献1を参照)。 In the food industry, it has been important to detect and remove any problems with the quality of the food itself or any foreign matter contained in the food. In response to this, a method has been proposed that can detect foreign matter contained in food by, for example, irradiating the food to be inspected with light, performing second-order differential processing on the absorption spectrum obtained, and creating a second-order differential spectroscopic image (see, for example, Patent Document 1).

特開2004-301690号公報JP 2004-301690 A

しかしながら、上述の特許文献1に記載の技術では、各種演算処理や分光画像の取得に時間がかかる。また、上述の特許文献1に記載の技術は、単に所定の演算処理を適用するのみで、異物の検出を行うものであり、検査対象物の種別やデータの取得状況によっては、検出の精度が不十分な場合がある。さらに言えば、上述の特許文献1に記載の技術を含む従来技術は、あくまでも検査対象物に含まれる異物を検出することが目的のものがほとんどであり、検査対象物の品質の検出を目的とするものはほとんどない。 However, the technology described in Patent Document 1 above takes time to perform various calculation processes and acquire spectroscopic images. In addition, the technology described in Patent Document 1 above detects foreign objects by simply applying a predetermined calculation process, and the detection accuracy may be insufficient depending on the type of object to be inspected and the data acquisition conditions. Furthermore, most of the conventional technologies, including the technology described in Patent Document 1 above, are intended to detect foreign objects contained in objects to be inspected, and almost none are intended to detect the quality of the objects to be inspected.

本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、対象物のうちから、所定の条件を満たす対象物を精度よく検出できる技術を提供することを目的とする。 The present invention was made in consideration of these circumstances, and aims to provide a technology that can accurately detect objects that satisfy certain conditions.

上記目的を達成するため、本発明の一態様の情報処理装置は、
対象物の選別に用いる情報処理装置であって、
選別の対象となる前記対象物に関する所定の波長領域における光の強度に関する情報を取得する取得手段と、
1以上の正常対象物及び欠陥対象物における所定の波長領域における反射又は散乱の強度に関する情報に統計的手段を適用して、学習された結果に基づいて、選別の対象となる前記対象物の性質又は品質を判定する判定手段と、
前記判定手段による判定の結果を出力する出力手段と、
を備える。
In order to achieve the above object, an information processing device according to one aspect of the present invention comprises:
An information processing device used for sorting objects,
An acquisition means for acquiring information regarding the intensity of light in a predetermined wavelength range related to the object to be sorted;
A determination means for determining the nature or quality of the object to be sorted based on a learned result by applying a statistical method to information on the reflection or scattering intensity in a predetermined wavelength range of one or more normal objects and defective objects;
an output means for outputting a result of the determination by the determination means;
Equipped with.

本発明の一態様の情報処理方法及びプログラムも、本発明の一態様の情報処理装置に対応する情報処理方法又はプログラムとして提供される。 An information processing method and program according to one aspect of the present invention are also provided as an information processing method or program corresponding to an information processing device according to one aspect of the present invention.

本発明によれば、対象物のうちから、所定の条件を満たす対象物を精度よく検出できる技術を提供することができる。 The present invention provides a technology that can accurately detect objects that satisfy certain conditions.

本発明の一実施形態に係る情報処理システムの構成を示す図である。1 is a diagram showing a configuration of an information processing system according to an embodiment of the present invention; 図1の情報処理システムのうち学習装置のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。2 is a block diagram showing an example of a hardware configuration of a learning device in the information processing system of FIG. 1 . 図1の情報処理システムのうち推論装置のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。2 is a block diagram showing an example of a hardware configuration of an inference device in the information processing system of FIG. 1 . 図1の分析装置、図2の学習装置及び図3の推論装置の機能的構成の一例を示すブロック図である。4 is a block diagram showing an example of a functional configuration of the analysis device of FIG. 1, the learning device of FIG. 2, and the inference device of FIG. 3. 典型的な正常豆及びPTD豆の視覚的な特徴を含む画像の一例を示す図である。FIG. 1 shows an example of an image including visual features of typical normal and PTD beans. 図4の分析装置が各種情報を取得する方法の一例を示す図である。5 is a diagram showing an example of a method in which the analysis device of FIG. 4 acquires various types of information. 測定情報を平滑化して生成された平均スペクトルの一例を示す図である。FIG. 13 is a diagram showing an example of an average spectrum generated by smoothing measurement information. 図7の平均スペクトルに対して、所定の統計処理を行った結果の一例を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing an example of a result of performing a predetermined statistical process on the average spectrum of FIG. 7 . 図7の平均スペクトルに対して、所定の統計処理を行った結果の一例を示す図であり、図8の例とは異なる例を示す図である。9 is a diagram showing an example of a result of performing a predetermined statistical process on the average spectrum of FIG. 7, which is an example different from the example of FIG. 8. FIG. 図8の統計処理の結果に対して、さらに所定の統計処理を行った結果の一例を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing an example of a result of performing a predetermined statistical process on the result of the statistical process in FIG. 8 . 生データに対して、各種統計処理を行った結果の一例を示す図であり、図7乃至図10の例とは異なる例を示す図である。11 is a diagram showing an example of a result of performing various statistical processes on raw data, which is an example different from the examples in FIGS. 7 to 10 . FIG. 図4の学習装置により実行される学習処理の流れを説明するフローチャートである。5 is a flowchart illustrating the flow of a learning process executed by the learning device of FIG. 4 . 図4の推論装置により実行される推論処理の流れを説明するフローチャートである。5 is a flowchart illustrating the flow of an inference process executed by the inference device of FIG. 4 . 各種統計的前処理を行った結果を示すプロット図の一例である。FIG. 1 is an example of a plot showing the results of various statistical pre-processing steps.

<概要の説明>
以下、本発明の一実施形態について、図面を用いて説明する。図1は、本発明の一実施形態に係る情報処理システム(以下、「本システム」と呼ぶ)の構成を示す図である。
<Overview>
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will now be described with reference to the accompanying drawings, in which: Fig. 1 is a diagram showing the configuration of an information processing system (hereinafter referred to as "this system") according to an embodiment of the present invention.

ここで、図1の説明をするに先立ち、本システムに関わるPоtato Taste Defect(以下、「PTD」と呼ぶ)について説明する。
PTDは、特にルワンダ、ブルンジ、コンゴ共和国、コンゴ民主共和国、ウガンダ等で問題となる品質の劣悪なコーヒー豆及びそれに関連する各種課題を意味している。なお、PTDの原因は正確には明らかとなっていないが、例えば、カメムシ等がコーヒー豆に刺激を与えることによるストレスやカメムシの唾液等に含まれる細菌により引き起こされるものと考えられている。
具体的にPTDの特徴を有するコーヒー豆(以下、「PTD豆」と呼ぶ)は、通常のコーヒー豆(以下、「正常豆」と呼ぶ)とは異なり、焙煎時に強い異臭を発し、コーヒー特有の風味が損なわれることが知られている。そのため、上述の各国では、コーヒー豆の出荷にあたり、コーヒーチェリー(果実)収穫後の複数段階で、PTD豆を選別することが一般的に行われている。しかしながら、この正常豆とPTD豆の選別は、現状、多くの場合、人の手作業(目視や手触り)により行われており、非常に手間のかかる作業となっており、完全に分別することも困難である。
本システムは、汎用的な検査対象物に対して適用できるものの、このPTD豆と正常豆の選別を効率的に行うことに対して、特に有用である。
Before describing FIG. 1, a Potato Taste Defect (hereinafter, referred to as "PTD") related to this system will be described.
PTD refers to poor quality coffee beans and various associated issues that are a problem particularly in Rwanda, Burundi, the Republic of the Congo, the Democratic Republic of the Congo, Uganda, etc. Although the exact cause of PTD is not clear, it is thought to be caused by, for example, stress caused by irritation of coffee beans by stink bugs or bacteria contained in the saliva of stink bugs.
Specifically, coffee beans having the characteristics of PTD (hereinafter referred to as "PTD beans") are known to emit a strong unpleasant odor when roasted, unlike ordinary coffee beans (hereinafter referred to as "normal beans"), and to impair the flavor characteristic of coffee. For this reason, in the above-mentioned countries, when shipping coffee beans, it is common to select PTD beans at multiple stages after the harvesting of coffee cherries (fruits). However, currently, this selection of normal beans and PTD beans is often done manually (by visual inspection or touch), which is a very time-consuming task and makes it difficult to completely separate them.
Although the present system can be applied to general-purpose test objects, it is particularly useful for efficiently separating PTD beans from normal beans.

図1は、本システムの構成を示す図である。
図1に示すように、本システムは、分析装置1と、学習装置2と、推論装置3とを含み構成される。分析装置1と、学習装置2と、推論装置3とは、インターネット等による所定のネットワークNを介して相互に接続されている。なお、ネットワークNは、必須な構成要素ではなく、例えば、NFC(Near Field Communication)、ブルートゥース(登録商標)、LAN(Local Area Network)等が利用されてもよい。
FIG. 1 is a diagram showing the configuration of this system.
1, the system includes an analysis device 1, a learning device 2, and an inference device 3. The analysis device 1, the learning device 2, and the inference device 3 are connected to each other via a predetermined network N such as the Internet. Note that the network N is not a required component, and for example, NFC (Near Field Communication), Bluetooth (registered trademark), LAN (Local Area Network), etc. may be used.

ここで、分析装置1の分析する分析対象物は、例えば、食品、果実、薬品、飲料、調味料等であり、上述の通り、典型的にはコーヒー豆である。分析装置1は、正常豆又はPTD豆を含む分析対象物に対して、所定の波長の光を照射し、得られた反射スペクトルに基づいて、分析対象物が正常豆であるかPTD豆であるかを判定する。具体的に分析装置1には、分光器11と、光源12と、制御部13と、記憶部14とが備えられている。 The objects to be analyzed by the analysis device 1 are, for example, foods, fruits, medicines, beverages, seasonings, etc., and as described above, are typically coffee beans. The analysis device 1 irradiates light of a predetermined wavelength onto the objects to be analyzed, which include normal beans or PTD beans, and determines whether the objects to be analyzed are normal beans or PTD beans based on the obtained reflection spectrum. Specifically, the analysis device 1 is equipped with a spectrometer 11, a light source 12, a control unit 13, and a memory unit 14.

分光器11は、分析対象物を介した反射光を分光し、スペクトルの強度を測定する。分光器11は、汎用的な分光器、CCDカメラ、RGBカメラ、ハイパースペクトルカメラ、マルチスペクトルカメラ等により構成される。 The spectrometer 11 separates the reflected light through the object to be analyzed and measures the intensity of the spectrum. The spectrometer 11 is composed of a general-purpose spectrometer, a CCD camera, an RGB camera, a hyperspectral camera, a multispectral camera, etc.

光源12は、例えば、ハロゲンランプ等により構成される。光源12は、例えば、所定の波長領域の光を分析対象物等に対して、照射する。 The light source 12 is, for example, a halogen lamp. The light source 12 irradiates, for example, light in a predetermined wavelength range onto the subject to be analyzed.

制御部13は、分光器11で得られたスペクトルの強度に関する情報(以下、「スペクトル情報」と呼ぶ)に対して、各種演算処理を実行する。制御部13は、CPU(Central Processing Unit)等で構成される。 The control unit 13 performs various calculations on the information on the intensity of the spectrum obtained by the spectrometer 11 (hereinafter referred to as "spectral information"). The control unit 13 is composed of a CPU (Central Processing Unit) and the like.

記憶部14は、各種データを記憶する。記憶部14は、汎用的なHDD(Hard Disk Drive)やSSD(Solid State Drive)等で構成される。 The storage unit 14 stores various data. The storage unit 14 is composed of a general-purpose HDD (Hard Disk Drive) or SSD (Solid State Drive), etc.

学習装置2は、各種データに基づく学習のための各種演算処理を実行し、学習の結果を出力する。学習装置2は、汎用的なPC(Personal Computer)等で構成される。 The learning device 2 executes various calculation processes for learning based on various data and outputs the results of the learning. The learning device 2 is configured with a general-purpose PC (Personal Computer) or the like.

推論装置3は、学習装置2で出力された学習結果を含むプログラムに基づいて、分析対象物が正常豆であるかPTD豆であるかを判定するための各種処理を実行し、その結果を出力する。推論装置3は、汎用的なPC(Personal Computer)等で構成される。 The inference device 3 executes various processes to determine whether the object to be analyzed is a normal bean or a PTD bean based on a program including the learning results output by the learning device 2, and outputs the results. The inference device 3 is configured with a general-purpose PC (Personal Computer) or the like.

<ハードウェア構成>
図2は、図1の情報処理システムのうち学習装置のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。
学習装置2は、汎用的なPC(Personal Computer)等で構成される。図2に示すように、学習装置2は、制御部21と、ROM(Read Only Memory)22と、RAM(Random Access Memory)23と、バス24と、入出力インターフェース25と、出力部26と、入力部27と、記憶部28と、通信部29と、ドライブ30と、を備えている。
<Hardware Configuration>
FIG. 2 is a block diagram showing an example of a hardware configuration of a learning device in the information processing system of FIG.
The learning device 2 is composed of a general-purpose PC (Personal Computer) etc. As shown in Fig. 2, the learning device 2 includes a control unit 21, a ROM (Read Only Memory) 22, a RAM (Random Access Memory) 23, a bus 24, an input/output interface 25, an output unit 26, an input unit 27, a storage unit 28, a communication unit 29, and a drive 30.

制御部21は、CPU(Central Processing Unit)やGPU(Graphics Processing Unit)、及び半導体メモリを含むマイクロコンピュータ等で構成され、ROM22に記録されているプログラム、または、記憶部28からRAM23にロードされたプログラムに従って各種の処理を実行する。
RAM23には、制御部21が各種の処理を実行する上において必要な情報等も適宜記憶される。
The control unit 21 is composed of a microcomputer including a CPU (Central Processing Unit), a GPU (Graphics Processing Unit), and a semiconductor memory, and executes various processes according to a program recorded in a ROM 22 or a program loaded from a storage unit 28 to a RAM 23.
The RAM 23 also stores information necessary for the control unit 21 to execute various processes.

制御部21、ROM22およびRAM23は、バス24を介して相互に接続されている。このバス24にはまた、入出力インターフェース25も接続されている。入出力インターフェース25には、出力部26、入力部27、記憶部28、通信部29、ドライブ30が接続されている。 The control unit 21, ROM 22, and RAM 23 are interconnected via a bus 24. An input/output interface 25 is also connected to this bus 24. An output unit 26, an input unit 27, a memory unit 28, a communication unit 29, and a drive 30 are connected to the input/output interface 25.

出力部26は、各種液晶ディスプレイやスピーカ等で構成され、各種情報を画像や音声として出力する。 The output unit 26 is composed of various liquid crystal displays, speakers, etc., and outputs various information as images and sounds.

入力部27は、キーボードやマウス等で構成され、各種情報を入力する。 The input unit 27 is composed of a keyboard, mouse, etc., and is used to input various information.

記憶部28は、HDD(Hard Disk Drive)やSSD(Solid State Drive)等で構成され、各種データを記憶する。本実施形態では、例えば、各種プログラムや各種データベースを含む各種情報が記憶されている。 The storage unit 28 is configured with a hard disk drive (HDD) or a solid state drive (SSD) and stores various data. In this embodiment, for example, various information including various programs and various databases is stored.

通信部29は、インターネットを含むネットワークNを介して他の情報処理装置等との間で行う通信を制御する。 The communication unit 29 controls communication with other information processing devices, etc. via a network N including the Internet.

ドライブ30は、必要に応じて設けられる。ドライブ30には磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、或いは半導体メモリ等よりなる、リムーバブルメディア41が適宜装着される。ドライブ30によってリムーバブルメディア41から読み出されたプログラムは、必要に応じて記憶部28にインストールされる。またリムーバブルメディア41は、記憶部28に記憶されている各種データも、記憶部28と同様に記憶することができる。 The drive 30 is provided as necessary. Removable media 41, which may be a magnetic disk, optical disk, magneto-optical disk, or semiconductor memory, is appropriately attached to the drive 30. Programs read from the removable media 41 by the drive 30 are installed in the storage unit 28 as necessary. The removable media 41 can also store various data stored in the storage unit 28 in the same way as the storage unit 28.

図3は、図1の情報処理システムのうち推論装置のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。
推論装置3は、汎用的なPC(Personal Computer)等で構成される。図3に示すように、推論装置3は、制御部51と、ROM(Read Only Memory)52と、RAM(Random Access Memory)53と、バス54と、入出力インターフェース55と、出力部56と、入力部57と、記憶部58と、通信部59と、ドライブ60と、を備えている。
なお、ドライブ60には磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、或いは半導体メモリ等よりなる、リムーバブルメディア71が適宜装着される。
ただし、推論装置3の各ハードウェア構成は、学習装置2の各ハードウェア構成と、基本的に同様とすることができるため、ここでは説明を省略する。
FIG. 3 is a block diagram showing an example of a hardware configuration of an inference device in the information processing system of FIG.
The inference device 3 is configured with a general-purpose PC (Personal Computer) etc. As shown in Fig. 3, the inference device 3 includes a control unit 51, a ROM (Read Only Memory) 52, a RAM (Random Access Memory) 53, a bus 54, an input/output interface 55, an output unit 56, an input unit 57, a storage unit 58, a communication unit 59, and a drive 60.
The drive 60 is fitted with a removable medium 71, such as a magnetic disk, an optical disk, a magneto-optical disk, or a semiconductor memory.
However, since each hardware configuration of the inference device 3 can be basically similar to each hardware configuration of the learning device 2, a description thereof will be omitted here.

図4は、図1の分析装置、図2の学習装置及び図3の推論装置の機能的構成の一例を示すブロック図である。 Figure 4 is a block diagram showing an example of the functional configuration of the analysis device in Figure 1, the learning device in Figure 2, and the inference device in Figure 3.

図4に示すように、学習装置2の制御部21には、測定情報取得部80と、演算処理部82と、学習処理部84とが設けられている。
また、学習装置2の記憶部28の一領域には、学習結果DB300が設けられている。
As shown in FIG. 4, the control unit 21 of the learning device 2 is provided with a measurement information acquisition unit 80, a calculation processing unit 82, and a learning processing unit 84.
Furthermore, a learning result DB 300 is provided in one area of the memory unit 28 of the learning device 2 .

測定情報取得部80は、1以上の正常対象物及び欠陥対象物における所定の波長領域における反射又は散乱の強度に関する情報を取得する。
具体的に測定情報取得部80は、分析装置1から送信されてきた学習のための分析対象物(以下、「学習用分析対象物」と呼ぶ)の測定された結果に関する情報(以下、「測定情報」と呼ぶ)を、通信部29を介して取得する。なお、測定情報は、例えば、学習用分析対象物に対して照射された光に対する反射光のスペクトルの強度に関する情報等である。
なお、ここで取得される測定情報は、学習のための教師データとして機能するのが望ましい。すなわち、測定情報には、正常豆から取得された測定情報なのか、PTD豆から取得された測定情報なのかの情報が含まれていてもよい。
The measurement information acquisition unit 80 acquires information regarding the intensity of reflection or scattering in a predetermined wavelength range from one or more normal objects and defective objects.
Specifically, the measurement information acquisition unit 80 acquires information (hereinafter referred to as "measurement information") on the measurement results of the analysis object for learning (hereinafter referred to as the "analyte for learning") transmitted from the analysis device 1 via the communication unit 29. The measurement information is, for example, information on the spectral intensity of reflected light with respect to light irradiated onto the analysis object for learning.
It is preferable that the measurement information obtained here functions as teacher data for learning. In other words, the measurement information may include information on whether the measurement information is obtained from normal beans or from PTD beans.

演算処理部82は、測定情報に対する各種演算処理を実行する。具体的に演算処理部82には、平滑化処理部90と、正規化処理部92と、中心化処理部94と、波長選択部96とが設けられている。 The calculation processing unit 82 performs various calculation processes on the measurement information. Specifically, the calculation processing unit 82 includes a smoothing processing unit 90, a normalization processing unit 92, a centering processing unit 94, and a wavelength selection unit 96.

平滑化処理部90は、各測定点における測定情報を平滑化する処理を実行する。なお、平滑化処理部90で行われる平滑化処理は、例えば、ノイズ除去や局所的な傾向に捕らわれることなく差異を検知することを目的とするものである。
また、演算処理部82は、測定情報取得部80で取得された測定情報のそれぞれのスペクトル強度を平滑化した平均スペクトルを生成する。
The smoothing processor 90 executes a process for smoothing the measurement information at each measurement point. The smoothing process performed by the smoothing processor 90 is intended to, for example, remove noise or detect differences without being affected by local trends.
The calculation processing unit 82 also generates an average spectrum by smoothing the spectral intensity of each piece of measurement information acquired by the measurement information acquiring unit 80 .

正規化処理部92及び中心化処理部94はそれぞれ、平滑化処理部90で生成された平均スペクトルを正規化し、中心化する演算処理を実行する。このような処理を行うことで、各種情報の統計的な差異を際立たせることができることが知られている。なお、中心化処理部94による具体的な中心化処理の結果等については、図9等を参照しながら後述する。 The normalization processing unit 92 and the centering processing unit 94 each perform calculations to normalize and center the average spectrum generated by the smoothing processing unit 90. It is known that performing such processing can accentuate statistical differences in various pieces of information. The specific results of the centering processing performed by the centering processing unit 94 will be described later with reference to FIG. 9 etc.

波長選択部96は、各種統計的手法を用いて、正常豆かPTD豆かの判定に寄与する優先度の高い波長領域を選択する。
具体的に、本実施形態で波長選択部96は、部分的最小二乗法(PLS,Partial Least Squares)と関連する変数選択法であるPLS-βと呼ばれる手法を採用して、正常豆かPTD豆かの判定に寄与する優先度の高い波長領域を選択する。
ここで、PLS法及びPLS-β法について簡単に説明する。
PLS法は、主成分回帰法と同じく潜在変数による線形回帰モデルを生成する方法であるが、潜在変数を決定する際に、主成分回帰と異なり、潜在変数と目的変数との共分散が最大となるように決定する方法である。PLS法は、説明変数同士の相関が高い場合に有用であることが多く、本システムのように、スペクトル強度等のデータに適用するには好適である。
PLS-β法は、PLS回帰モデルを線形重回帰モデルに変換し、回帰係数の絶対値の大きさに基づいて、重要な説明変数を選択する方法である。本システムでは、正常豆かPTD豆かの判定に寄与の大きい変数(波長領域)を選択するためにPLS-β法を採用している。なお、波長選択部96による具体的な波長選択の方法や結果については、図10等を参照しながら後述する。
The wavelength selection unit 96 uses various statistical methods to select a wavelength region with high priority that contributes to determining whether a bean is normal or PTD bean.
Specifically, in this embodiment, the wavelength selection unit 96 employs a method called PLS-β, which is a variable selection method related to the partial least squares method (PLS), to select a wavelength region with high priority that contributes to determining whether beans are normal or PTD beans.
Here, the PLS method and the PLS-β method will be briefly explained.
The PLS method is a method for generating a linear regression model using latent variables, similar to the principal component regression method, but unlike the principal component regression method, the PLS method determines the latent variables so as to maximize the covariance between the latent variables and the objective variable. The PLS method is often useful when there is a high correlation between explanatory variables, and is suitable for application to data such as spectral intensity, as in this system.
The PLS-β method is a method of converting a PLS regression model into a linear multiple regression model and selecting important explanatory variables based on the magnitude of the absolute value of the regression coefficient. In this system, the PLS-β method is adopted to select variables (wavelength regions) that contribute greatly to determining whether beans are normal or PTD beans. The specific method and results of wavelength selection by the wavelength selection unit 96 will be described later with reference to FIG. 10 etc.

学習処理部84は、前記データ取得手段により取得された前記情報に統計的手段を適合することにより学習を行う。具体的に学習処理部84は、波長選択部96で選択された各波長領域における測定情報に対して、学習処理を実行し、学習結果を生成する。学習処理部84は、生成した学習結果を学習結果DB300に格納し、学習結果に関する情報(以下、「学習結果情報」と呼ぶ)を推論装置3へ送信する。
なお、本システムは、学習の手法として、例えば、ニューラルネットワーク、ディープラーニング、各種回帰モデル等の任意の統計的手法を組み合わせて学習処理を実行することができる。
また、学習結果情報とは、例えば、いわゆる学習済みモデルを含み、正常豆とPTD豆の判定に利用される各種プログラム、アルゴリズム、数式等に関する各種情報が含まれ得る。
The learning processing unit 84 performs learning by applying a statistical means to the information acquired by the data acquisition means. Specifically, the learning processing unit 84 executes a learning process for the measurement information in each wavelength region selected by the wavelength selection unit 96, and generates a learning result. The learning processing unit 84 stores the generated learning result in the learning result DB 300, and transmits information related to the learning result (hereinafter referred to as "learning result information") to the inference device 3.
In addition, the present system can execute the learning process by combining any statistical method such as neural networks, deep learning, and various regression models as a learning method.
In addition, the learning result information may include, for example, a so-called learned model, and may include various information regarding various programs, algorithms, formulas, etc. used to determine whether beans are normal or PTD beans.

図4に示すように、推論装置3の制御部51には、学習結果取得部120と、対象情報取得部122と、演算処理部124と、判定部126と、出力部128とが設けられている。
また、推論装置3の記憶部58の一領域には、学習結果DB400が設けられている。
As shown in FIG. 4, the control unit 51 of the inference device 3 is provided with a learning result acquisition unit 120 , a target information acquisition unit 122 , a calculation processing unit 124 , a determination unit 126 , and an output unit 128 .
Furthermore, a learning result DB 400 is provided in one area of the memory unit 58 of the inference device 3 .

学習結果取得部120は、1以上の正常対象物及び欠陥対象物における所定の波長領域における反射又は散乱の強度に関する情報に統計的手段を適用して、学習された結果を取得する。具体的に学習結果取得部120は、学習装置2から送信されてくる学習結果情報を、通信部59を介して取得する。また、学習結果取得部120は、取得した学習結果情報を学習結果DB400に格納する。 The learning result acquisition unit 120 applies statistical means to information regarding the reflection or scattering intensity in a specified wavelength region for one or more normal objects and defective objects to acquire the learning results. Specifically, the learning result acquisition unit 120 acquires the learning result information transmitted from the learning device 2 via the communication unit 59. In addition, the learning result acquisition unit 120 stores the acquired learning result information in the learning result DB 400.

対象情報取得部122は、選別の対象となる前記対象物における所定の波長領域における反射又は散乱の強度に関する情報を取得する。具体的に対象情報取得部122は、分析装置1から送信されてくる選別の対象となる分析対象物(以下、「測定用分析対象物」と呼ぶ)に対するそれぞれの反射光のスペクトルの強度に関する情報(以下、「対象情報」と呼ぶ)を、通信部59を介して取得する。なお、対象情報は、例えば、測定用分析対象物に対して照射された光に対する反射光のスペクトルの強度に関する情報等である。 The target information acquisition unit 122 acquires information regarding the reflection or scattering intensity in a predetermined wavelength region of the target object to be selected. Specifically, the target information acquisition unit 122 acquires information (hereinafter referred to as "target information") regarding the spectral intensity of each reflected light for the analysis target object to be selected (hereinafter referred to as "analyte object for measurement") transmitted from the analysis device 1 via the communication unit 59. The target information is, for example, information regarding the spectral intensity of reflected light for light irradiated onto the analysis target object for measurement.

演算処理部124は、対象情報に対して、各種統計処理(正規化処理や中心化処理等)を実行する。 The calculation processing unit 124 performs various statistical processing (normalization processing, centering processing, etc.) on the target information.

判定部126は、1以上の正常対象物及び欠陥対象物における所定の波長領域における反射又は散乱の強度に関する情報に統計的手段を適用して、学習された結果に基づいて、選別の対象となる前記対象物が正常対象物か欠陥対象物かを判定する。具体的に判定部126は、学習結果取得部120で取得された学習結果情報及び対象情報取得部122で取得された対象情報に基づいて、対象情報が取得されたそれぞれの測定用分析対象物が、正常豆かPTD豆かを判定する。 The determination unit 126 applies statistical means to information regarding the reflection or scattering intensity in a specified wavelength range for one or more normal objects and defective objects, and determines whether the object to be selected is a normal object or a defective object based on the learning results. Specifically, the determination unit 126 determines whether each measurement analysis object for which target information has been acquired is a normal bean or a PTD bean based on the learning result information acquired by the learning result acquisition unit 120 and the target information acquired by the target information acquisition unit 122.

出力部128は、判定部126で行われた判定結果を出力するための各種処理を実行する。 The output unit 128 performs various processes to output the judgment results made by the judgment unit 126.

図5は、典型的な正常豆及びPTD豆の視覚的な特徴を含む画像の一例を示す図である。
具体的に図5には、典型的な正常豆の画像と典型的なPTD豆の画像が表示されている。まず、図5の(A)に示す通り、正常豆は、特段の変色や内部障害はなく、自然な豆として人が認識できる。これに対して、図5の(B)に示す通り、PTD豆は(カメムシの侵入によって生じた)穴が表示されている。PTD豆は、このような不自然な穴の存在に加えて、豆の内部に緑や黒の変色が確認できる場合もあり、このような所見があるか否かが正常豆かPTD豆かの判断基準となり得る。また、たとえ豆の表面に穴があったとしても内部には影響がないものも存在する。
図5の例は、極めて分かりやすい例を例示しているが、実際には、穴の大きさや穴の角度などによっては分かりにくく、画像認識等での区別が難しかったり、目視による確認に時間がかかってしまうような場合も存在する。そのため、このようなPTD豆を効率的かつ正確に除外することができれば、PTD豆による被害を大幅に減らすことができると考えられる。
FIG. 5 shows an example of an image including visual features of typical normal and PTD beans.
Specifically, in FIG. 5, images of typical normal beans and images of typical PTD beans are displayed. First, as shown in FIG. 5(A), normal beans have no particular discoloration or internal damage and can be recognized by humans as natural beans. In contrast, as shown in FIG. 5(B), PTD beans show holes (caused by the intrusion of stink bugs). In addition to the presence of such unnatural holes, PTD beans may also show green or black discoloration inside the beans, and the presence or absence of such findings can be a criterion for determining whether a bean is normal or PTD. Also, even if there is a hole on the surface of a bean, there are some beans that have no effect inside.
The example in Figure 5 is very easy to understand, but in reality, depending on the size of the hole or the angle of the hole, it may be difficult to distinguish using image recognition or it may take time to visually check. Therefore, if such PTD beans can be efficiently and accurately removed, it is believed that the damage caused by PTD beans can be significantly reduced.

図6は、図4の分析装置が各種情報を取得する方法の一例を示す図である。
本システムは、図6に示す通り、コーヒー豆の表側に3点、裏側に3点の合計6点で各種情報(反射スペクトルの強度等)を取得する。これにより、本システムは、粗いながらも空間分解能を持つ情報を取得でき、より高い精度で正常豆とPTD豆との判定を行うことができると考えられる。
FIG. 6 is a diagram showing an example of a method in which the analysis device of FIG. 4 acquires various types of information.
This system obtains various information (such as the intensity of the reflection spectrum) from a total of six points, three points on the front side and three points on the back side of the coffee bean, as shown in Figure 6. This allows the system to obtain information that has a rough but still spatial resolution, and is believed to enable the system to distinguish between normal beans and PTD beans with higher accuracy.

次に、図7乃至図9を参照しながら、取得された測定情報に対して各種統計処理を行った結果の一例を説明していく。なお、図7乃至図9に示す統計処理の目的の一つは、測定情報の統計的な差異を際立たせ、本手法により取得された情報が正常豆及びPTD豆のスペクトル強度の傾向の差異を反映していることを確認することにある。
まず、図7は、測定情報を平均化して生成された平均スペクトルの一例を示す図である。すなわち、図7は、図6に示した6点において測定された測定情報を平均化することで、生成された平均スペクトルのグラフである。
Next, an example of the results of various statistical processing performed on the acquired measurement information will be described with reference to Figures 7 to 9. One of the purposes of the statistical processing shown in Figures 7 to 9 is to highlight the statistical differences in the measurement information and to confirm that the information acquired by this method reflects the difference in the trends of the spectral intensities of normal beans and PTD beans.
First, Fig. 7 is a diagram showing an example of an average spectrum generated by averaging measurement information, that is, Fig. 7 is a graph of an average spectrum generated by averaging measurement information measured at the six points shown in Fig. 6.

図7の例では、正常豆では概ね600nmから1100nmまでの波長領域においてグラフの立ち上がりが急であるのに対して、PTD豆では急な立ち上がりは認められなかった。 In the example of Figure 7, the graph for normal beans shows a steep rise in the wavelength range from roughly 600 nm to 1100 nm, whereas no steep rise was observed for PTD beans.

次に、図8は、図7で示した平均スペクトルに対して平滑化等の処理を行ったうえで、微分した結果を示すグラフである。図8の例では、より分かりやすく傾向が表現されているが、正常豆の一次微分データでは概ね600nmから1100nmまでの波長領域において減少の傾向が認められるのに対して、PTD豆の一次微分データでは概ね600nmから1100nmまでの波長領域において増加の傾向が認められる。 Next, Figure 8 is a graph showing the results of differentiation after smoothing and other processing of the average spectrum shown in Figure 7. The example in Figure 8 shows the trend more clearly, with the first derivative data for normal beans showing a decreasing trend in the wavelength range from roughly 600 nm to 1100 nm, whereas the first derivative data for PTD beans shows an increasing trend in the wavelength range from roughly 600 nm to 1100 nm.

同様に図9は、図7で示した平均スペクトルに対して、平滑化等の処理を行ったうえで、正規化処理及び中心化処理を行った結果を示すグラフである。
図9の例においても、特に正常豆の概ね600nmから1100nmの波長領域において、数値が右肩下がりに推移しているのに対して、PTD豆の同波長領域では、数値が右肩に下がっている傾向は見られず、むしろ全体として左下方向から右上方向に立ち上がっている傾向が認められる。
Similarly, FIG. 9 is a graph showing the results of normalization and centering on the average spectrum shown in FIG. 7 after smoothing and other processes have been performed.
In the example of Figure 9, the values for normal beans tend to decline to the right, particularly in the wavelength range of approximately 600 nm to 1100 nm, whereas in the same wavelength range for PTD beans, the values do not show a tendency to decline to the right, but rather tend to rise overall from the lower left to the upper right.

図10は、図9の統計処理の結果に対して、さらに所定の統計処理を行った結果の一例を示す図である。すなわち、図10は、図9の中心化処理の結果に対して、さらにPLS-β法を適用した結果の一例を示すグラフである。 Figure 10 is a diagram showing an example of the results of further performing a specified statistical process on the results of the statistical process in Figure 9. In other words, Figure 10 is a graph showing an example of the results of further applying the PLS-β method to the results of the centering process in Figure 9.

図10の例では、学習用データ、検証用データのデータ分割に用いる乱数を変え、2500回の試行の結果の中から選択された各波長領域の頻度(回数 縦軸)が結果として表示されている。そのため、図10の例では、縦軸の波長の頻度が多い波長領域が、正常豆かPTD豆かの判定に寄与するか否か検証するにあたって優先度の高い波長領域ということができる。具体的に図10の例では、370nm,410nm,450nm,490nm,520nm,550nm,565nm,580nm,600nm,620nm,635nm,660nm,675nm,730nm,760nm,800nm,875nm,935nm,960nm,995nm,1020nm,1080nm,1090nm,1100nm,1120nm,1140nm,1155nmが寄与の大きい波長と推測することができる。
これらのデータから、本出願の発明者等は、例えば、550nmから580nm、600nmから680nm、715nmから745nm、785nmから815nm、935から995nm、1005nmから1035nm、1080nmから1120nmの波長領域が特に寄与の大きい波長領域と推定した。
In the example of Fig. 10, the random numbers used for dividing the learning data and the verification data are changed, and the frequency (number of times, vertical axis) of each wavelength region selected from the results of 2500 trials is displayed as a result. Therefore, in the example of Fig. 10, the wavelength region with a high frequency of wavelengths on the vertical axis can be said to be a wavelength region with a high priority in verifying whether it contributes to the determination of whether the beans are normal or PTD. Specifically, in the example of Fig. 10, it can be assumed that 370 nm, 410 nm, 450 nm, 490 nm, 520 nm, 550 nm, 565 nm, 580 nm, 600 nm, 620 nm, 635 nm, 660 nm, 675 nm, 730 nm, 760 nm, 800 nm, 875 nm, 935 nm, 960 nm, 995 nm, 1020 nm, 1080 nm, 1090 nm, 1100 nm, 1120 nm, 1140 nm, and 1155 nm are wavelengths with a high contribution.
From these data, the inventors of the present application estimated that the wavelength regions with the greatest contributions are, for example, 550 nm to 580 nm, 600 nm to 680 nm, 715 nm to 745 nm, 785 nm to 815 nm, 935 to 995 nm, 1005 nm to 1035 nm, and 1080 nm to 1120 nm.

選択波長の組み合わせを変更して、学習を行った場合の例を図11に示す。図11は、生データから選択波長におけるスペクトル強度のみをデータとしたものに対して、各種統計処理と学習を行い、精度を確認した結果の一例を示す図であり、図7乃至図10の例とは異なる例を示す図である。
図11の例では、各処理の結果選択された波長の個数、選択された波長の長さ、正常豆に対する正解率、異常豆(PTD豆)に対する正解率、全体(正常豆及びPTD豆)に対する正解率等の情報が、リストとしてまとめられている。
本出願の発明者等は、さらに他の多くのサンプルや統計処理の組み合わせを含む検討を行い、特に550nmから580nm,600nmから680nm,715nmから745nm,785nmから815nmの4つ波長領域を選択することで、安定して高い精度で正常豆とPTD豆の判定を行えることを明らかにした。また、例えば、875nm,935nmの2波長を選択した場合も、十分な精度で正常豆とPTD豆の判定を行えることを明らかにした。
An example of the case where learning is performed by changing the combination of selected wavelengths is shown in Fig. 11. Fig. 11 shows an example of the results of performing various statistical processes and learning on data obtained by converting only the spectral intensities at selected wavelengths from the raw data, and confirming the accuracy, and is a diagram showing an example different from the examples in Figs. 7 to 10.
In the example of Figure 11, information such as the number of wavelengths selected as a result of each process, the length of the selected wavelengths, the accuracy rate for normal beans, the accuracy rate for abnormal beans (PTD beans), and the accuracy rate for the whole (normal beans and PTD beans) are compiled in a list.
The inventors of the present application further conducted studies including many other combinations of samples and statistical processing, and clarified that by selecting the four wavelength ranges of 550 nm to 580 nm, 600 nm to 680 nm, 715 nm to 745 nm, and 785 nm to 815 nm, it is possible to stably and accurately distinguish between normal beans and PTD beans. It was also clarified that by selecting two wavelengths, for example, 875 nm and 935 nm, it is possible to distinguish between normal beans and PTD beans with sufficient accuracy.

ここで、本発明者等は、測定実験中の観察からPTD豆には正常豆と変わらない部分とPTD豆特有のスペクトルの特徴を持つ部分があることを知ることができた。この点、本システムは、平均化処理等の空間分解能を下げる処理を行った状態でもPTD豆特有のスペクトルの特徴の影響が残るような演算処理の結果を利用して、学習処理や波長領域の選択を行うことができる。
そして、本システムは、その結果から特定された所定の波長領域が有効であるかどうかを、任意の空間分解能の高いデータの該当する波長領域のデータのみを用いて学習処理を行い、正常豆かPTD豆かの判定の精度を検討し、高い精度で判定を実現できる条件を検討した。
本システムは、このような方法により、学習処理と波長領域の選択の負荷を減らすことができ、また、他に組み合わせて採用する演算処理の選択肢を広く確保する。
Here, the inventors learned from observations during measurement experiments that PTD beans have parts that are no different from normal beans and parts that have spectral characteristics unique to PTD beans. In this regard, the present system can perform learning processing and wavelength range selection using the results of calculation processing that retains the influence of the spectral characteristics unique to PTD beans even after processing that reduces the spatial resolution, such as averaging processing.
The system then performs a learning process using only data from the corresponding wavelength range of any high spatial resolution data to determine whether a specific wavelength range identified from the results is valid, and examines the accuracy of determining whether the bean is normal or PTD, and considers the conditions under which a highly accurate determination can be made.
By using this method, the present system can reduce the load of learning processing and wavelength region selection, and also ensure a wide range of options for other calculation processing that can be combined and adopted.

図12は、図4の学習装置により実行される学習処理の流れを説明するフローチャートである。 Figure 12 is a flowchart explaining the flow of the learning process executed by the learning device of Figure 4.

ステップS1において、学習装置2の測定情報取得部80は、分析装置1から送信されてきたコーヒー豆の外側と内側を含む合計6点の測定情報を、通信部29を介して取得する。 In step S1, the measurement information acquisition unit 80 of the learning device 2 acquires measurement information for a total of six points, including the outside and inside of the coffee beans, transmitted from the analysis device 1 via the communication unit 29.

ステップS2において、学習装置2の平滑化処理部90は、測定情報取得部80で取得された測定情報のそれぞれのスペクトル強度を平滑化した平均スペクトルを生成する。 In step S2, the smoothing processing unit 90 of the learning device 2 generates an average spectrum by smoothing the spectral intensity of each piece of measurement information acquired by the measurement information acquisition unit 80.

ステップS3において、正規化処理部92及び中心化処理部94はそれぞれ、平滑化処理部90で生成された平均スペクトルを正規化し、中心化する演算処理を実行する。 In step S3, the normalization processing unit 92 and the centering processing unit 94 perform calculations to normalize and center the average spectrum generated by the smoothing processing unit 90, respectively.

ステップS4において、学習装置2の波長選択部96は、中心化処理部94で実行された演算処理の結果に対して、各種統計的手法(例えば、PLS-β)を適用することで、正常豆かPTD豆かの判定に寄与する優先度の高い波長領域を選択する。 In step S4, the wavelength selection unit 96 of the learning device 2 applies various statistical methods (e.g., PLS-β) to the results of the calculations performed by the centering processing unit 94 to select a wavelength region with high priority that contributes to determining whether the beans are normal or PTD beans.

ステップS5において、学習装置2の学習処理部84は、波長選択部96で選択された各波長領域の組における測定情報に対して、学習処理を実行し、学習結果を生成する。
ここで、学習処理部84が学習に使用する測定情報は、取得された測定情報をそのまま利用してもよいし、測定情報に基づく平均スペクトルを使用してもよい。なお、本実施形態では、学習処理部84は、平均化した測定情報に基づいて決定された選択波長における、平均化していない測定情報を利用して学習処理を実行するものとする。
In step S5, the learning processing unit 84 of the learning device 2 executes learning processing on the measurement information for each set of wavelength regions selected by the wavelength selection unit 96, and generates a learning result.
Here, the measurement information used by the learning processing unit 84 for learning may be the acquired measurement information as it is, or an average spectrum based on the measurement information may be used. In this embodiment, the learning processing unit 84 executes the learning process by using non-averaged measurement information at the selected wavelength determined based on the averaged measurement information.

ステップS6において、学習装置2の学習処理部84は、生成した学習結果に関する学習結果情報を推論装置3へ送信する。これにより、学習装置2で実行される学習処理は終了する。 In step S6, the learning processing unit 84 of the learning device 2 transmits learning result information regarding the generated learning result to the inference device 3. This ends the learning process executed by the learning device 2.

続いて、推論装置3により実行される推論処理の流れを説明する。図13は、図4の推論装置により実行される推論処理の流れを説明するフローチャートである。 Next, the flow of the inference process executed by the inference device 3 will be described. Figure 13 is a flowchart explaining the flow of the inference process executed by the inference device of Figure 4.

ステップS21において、推論装置3の学習結果取得部120は、学習装置2から送信されてくる学習結果情報を、通信部59を介して取得する。 In step S21, the learning result acquisition unit 120 of the inference device 3 acquires the learning result information transmitted from the learning device 2 via the communication unit 59.

ステップS22において、推論装置3の対象情報取得部122は、分析装置1から送信されてくる、それぞれの測定用分析対象物における選択波長の対象情報を、通信部59を介して取得する。 In step S22, the target information acquisition unit 122 of the inference device 3 acquires the target information of the selected wavelength for each analyte to be measured, which is transmitted from the analysis device 1, via the communication unit 59.

ステップS23において、演算処理部124は、対象情報に対して、各種統計処理(正規化処理や中心化処理等)を実行する。 In step S23, the calculation processing unit 124 performs various statistical processing (normalization processing, centering processing, etc.) on the target information.

ステップS24において、推論装置3の判定部126は、学習結果取得部120で取得された学習結果情報及び対象情報取得部122で取得された対象情報に基づいて、対象情報が取得されたそれぞれの測定用分析対象物が、正常豆かPTD豆かを判定する。 In step S24, the judgment unit 126 of the inference device 3 judges whether each of the measurement analytes for which target information has been acquired is normal beans or PTD beans, based on the learning result information acquired by the learning result acquisition unit 120 and the target information acquired by the target information acquisition unit 122.

ステップS25において、推論装置3の出力部128は、判定部126で行われた判定結果を出力する。これにより、推論装置3で実行される推論処理は終了する。 In step S25, the output unit 128 of the inference device 3 outputs the judgment result made by the judgment unit 126. This ends the inference process executed by the inference device 3.

以上本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、上述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。 Although one embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above-mentioned embodiment, and modifications and improvements that can achieve the object of the present invention are included in the present invention.

ここで、図14を参照しながら、本システムの応用例の一例を示す。図14は、各種統計的前処理を行った結果を示すプロット図の一例である。 Here, an example of an application of this system is shown with reference to Figure 14. Figure 14 is an example of a plot showing the results of various statistical preprocessing steps.

図14の例では、重要な潜在変数を軸とする二次元空間上に、演算処理を施した各々のスペクトルを射影したグラフが表示されている。例えば、図14の例では、図の左上方向に正常豆の群が、図の右下方向にPTD豆の群が比較的多く表示されている。本システムは、このように生データに対して、各種前処理を行い、その結果をそのまま利用することで、測定用分析対象物が正常豆であるかPTD豆であるかの判定を行うことができる可能性もある。 In the example of Figure 14, a graph is displayed in which each spectrum that has been subjected to computational processing is projected onto a two-dimensional space with important latent variables as its axis. For example, in the example of Figure 14, a relatively large group of normal beans is displayed in the upper left direction of the figure, while a relatively large group of PTD beans is displayed in the lower right direction of the figure. In this way, this system performs various preprocessing operations on raw data, and by using the results as is, it may be possible to determine whether the analyte being measured is normal or PTD beans.

また、上述の実施形態において、本システムは、コーヒー豆の表側と裏側の合計6点で各種情報を取得するものとして説明したが限定されない。本システムが各種情報を取得する場所や数は任意であり、限定されない。
さらに言えば、本システムは、各種カメラやイメージング技術等、より空間分解能の高い手法を採用し、各種情報(反射スペクトルの強度等)を取得してもよい。
In the above embodiment, the present system has been described as acquiring various pieces of information from a total of six points on the front and back sides of the coffee beans, but this is not limited thereto. The locations and number of points where the present system acquires various pieces of information are arbitrary and are not limited thereto.
Furthermore, the system may employ methods with higher spatial resolution, such as various cameras and imaging technologies, to acquire various information (such as the intensity of the reflected spectrum).

また、上述の実施形態では、本システムは、PLS-β法を用いて波長領域の選択を行うものとして説明したが、限定されない。本システムは、例えば、PLS-VIP(Variable Importance in Projection),LASSO(Least Absolute Shrinkage and Selection Operator),Stepwise,GA-PLS(Genetic Algorithm-PLS)等の各種変数選択のための統計的手法を採用してもよい。



In the above embodiment, the present system has been described as selecting the wavelength region using the PLS-β method, but is not limited thereto. The present system may employ various statistical methods for variable selection, such as PLS -VIP (Variable Importance in Projection), LASSO (Least Absolute Shrinkage and Selection Operator), Stepwise, and GA-PLS (Genetic Algorithm-PLS).



また、上述の実施形態では、本システムは、550nmから580nm,615nmから645nm,715nmから745nm,785nmから815nmの4つ波長領域を選択することで、安定して高い精度で正常豆とPTD豆の判定を行えるものとして説明したが、あくまでもこれらの選択波長は例示である。本システムは、例えば、上述の波長領域以外を選択波長として選択してもよいし、例えば、550nmから580nm,615nmから645nm,715nmから745nm,785nmから815nmの4つ波長領域のうち1又は複数の波長領域のみを選択波長として選択してもよい。 In the above embodiment, the system is described as being able to stably and accurately distinguish between normal beans and PTD beans by selecting four wavelength regions, 550 nm to 580 nm, 615 nm to 645 nm, 715 nm to 745 nm, and 785 nm to 815 nm, but these selected wavelengths are merely examples. The system may, for example, select wavelengths other than the above-mentioned wavelength regions as the selected wavelengths, or may select only one or more of the four wavelength regions, 550 nm to 580 nm, 615 nm to 645 nm, 715 nm to 745 nm, and 785 nm to 815 nm, as the selected wavelengths.

また、上述の実施形態では説明を省略したが、本システムは、例えば、カメラで撮像した画像に対して、スペクトル情報、画像の領域選択、豆の品質(正常又はPTD豆)水分含有量等の情報を追加で取得又はラベル付け等を行ってもよい。なお、この場合、本システムは、例えば、これらの情報を測定情報の一部として取得してもよい。 Although not described in the above embodiment, the system may acquire or label additional information, such as spectral information, image region selection, bean quality (normal or PTD beans), moisture content, etc., for an image captured by a camera. In this case, the system may acquire such information as part of the measurement information.

また例えば、上述のシステム構成は、一例であり、限定されない。特に、分析装置1、学習装置2、推論装置3は必ずしも、個別のハードウェアとして機能する必要はなく、例えば、分析装置1と学習装置2の機能は一体となって提供されてもよいし、分析装置1と推論装置3の機能も一体となって提供されてもよいし、学習装置2と、推論装置3の機能も一体となって提供されてもよい。 For example, the above-mentioned system configuration is an example and is not limiting. In particular, the analysis device 1, the learning device 2, and the inference device 3 do not necessarily need to function as separate hardware. For example, the functions of the analysis device 1 and the learning device 2 may be provided together, the functions of the analysis device 1 and the inference device 3 may also be provided together, and the functions of the learning device 2 and the inference device 3 may also be provided together.

また例えば、上述した一連の処理は、ハードウェアにより実行させることもできるし、ソフトウェアにより実行させることもできる。
すなわち、図4の機能的構成は例示に過ぎず限定されない。上述した一連の処理を全体として実行できる機能が情報処理システムに備えられていれば足り、この機能を実現するためにどのような機能ブロックを用いるかは特に限定されない。また、機能ブロックの存在場所も、図4の例に限定されず、任意でよい。
さらに言えば、1つの機能ブロックは、ハードウェア単体で構成してもよいし、ソフトウェア単体で構成してもよいし、それらの組み合わせで構成してもよい。
Furthermore, for example, the above-described series of processes can be executed by hardware or software.
That is, the functional configuration in Fig. 4 is merely an example and is not limited to the above. It is sufficient that the information processing system is provided with a function capable of executing the above-mentioned series of processes as a whole, and there is no particular limitation on the type of functional block to be used to realize this function. In addition, the location of the functional block is not limited to the example in Fig. 4 and may be arbitrary.
Furthermore, one functional block may be configured as a single piece of hardware, a single piece of software, or a combination of both.

一連の処理をソフトウェアにより実行させる場合には、そのソフトウェアを構成するプログラムが、コンピュータ等にネットワークや記録媒体からインストールされる。
コンピュータ等は、専用のハードウェアに組み込まれているコンピュータであってもよい。また、コンピュータ等は、各種のプログラムをインストールすることで、各種の機能を実行することが可能なコンピュータ、例えばサーバの他汎用のスマートフォンや汎用的なPC(Personal Computer)であってもよい。
When the series of processes is executed by software, the program constituting the software is installed into a computer or the like from a network or a recording medium.
The computer may be a computer built into dedicated hardware. The computer may also be a computer capable of executing various functions by installing various programs, such as a server, a general-purpose smartphone, or a general-purpose PC (Personal Computer).

このようなプログラムを含む記録媒体は、ユーザにプログラムを提供するために装置本体とは別に配布される図示せぬリムーバブルメディアにより構成されるだけでなく、装置本体に予め組み込まれた状態でユーザに提供される記録媒体等で構成されてもよい。 The recording medium containing such a program may be configured not only as a removable medium (not shown) that is distributed separately from the device body in order to provide the program to the user, but also as a recording medium that is provided to the user in a state where it is already installed in the device body.

なお、本明細書において、記録媒体に記録されるプログラムを記述するステップは、その順序に沿って時系列的に行われる処理はもちろん、必ずしも時系列的に処理されなくとも、並列的あるいは個別に実行される処理をも含むものである。
すなわち、図12及び図13のステップの一部のステップは、適宜、変更もしくは省略されてもよい。
In this specification, the steps of describing a program to be recorded on a recording medium include not only processes that are performed chronologically according to the order, but also processes that are not necessarily performed chronologically but are executed in parallel or individually.
That is, some of the steps in FIG. 12 and FIG. 13 may be modified or omitted as appropriate.

また例えば、本明細書において、システムの用語は、複数の装置や複数の手段等より構成される全体的な装置を意味するものとする。 For example, in this specification, the term "system" refers to an overall device that is composed of multiple devices, multiple means, etc.

以上を換言すると、本発明が適用される情報処理装置は、次のような構成を有していれば足り、各種各様な実施の形態を取ることができる。
即ち、本発明が適用される情報処理装置は、
対象物の選別に用いる情報処理装置であって、
選別の対象となる前記対象物に関する所定の波長領域における光の強度に関する情報を取得する取得手段(例えば、対象情報取得部122)と、
1以上の正常対象物及び欠陥対象物における所定の波長領域における反射又は散乱の強度に関する情報に統計的手段を適用して、学習された結果に基づいて、選別の対象となる前記対象物の性質又は品質を判定する(例えば、判定部126)判定手段と、
前記判定手段による判定の結果を出力する出力手段(例えば、出力部128)と、
を備える情報処理装置であれば足りる。
In other words, it is sufficient for an information processing device to which the present invention is applied to have the following configuration, and various embodiments can be adopted.
That is, the information processing device to which the present invention is applied is
An information processing device used for sorting objects,
An acquisition unit (e.g., an object information acquisition unit 122) that acquires information about the light intensity in a predetermined wavelength range related to the object to be sorted;
A determination means (e.g., a determination unit 126) that applies a statistical method to information regarding the reflection or scattering intensity in a predetermined wavelength range in one or more normal objects and defective objects, and determines the nature or quality of the objects to be selected based on the learned results;
An output unit (e.g., an output unit 128) for outputting a result of the determination by the determination unit;
Any information processing device having the above will suffice.

また、前記判定手段は、310nmから1180nmの波長領域における反射又は散乱の強度に関する情報に統計的手段を適用して、学習された結果に基づいて、選別の対象となる前記対象物が正常対象物か欠陥対象物かを判定してもよい。 The determination means may also apply statistical means to information relating to the intensity of reflection or scattering in the wavelength range from 310 nm to 1180 nm, and determine whether the object to be selected is a normal object or a defective object based on the learned results.

また、前記波長領域は、選別の対象となる前記対象物の2以上の領域における反射又は散乱の強度に関する情報に統計的手法を実行することで算出されてもよい。 The wavelength range may also be calculated by applying statistical methods to information regarding the intensity of reflection or scattering in two or more regions of the object to be selected.

また、前記統計的手法には、選別の対象となる前記対象物の2以上の領域における反射又は散乱の強度に関する情報に対する空間分解能を下げる処理が含まれてもよい。 The statistical method may also include a process for reducing the spatial resolution of information relating to the intensity of reflection or scattering in two or more regions of the object to be selected.

前記判定手段は、550nmから580nm、600nmから680nm、715nmから745nm、785nmから815nm、935から995nm、1005nmから1035nm、1080nmから1120nmのうちの少なくとも1つを含む波長領域における反射又は散乱の強度に関する情報に統計的手段を適用して、学習された結果に基づいて、選別の対象となる前記対象物が正常対象物か欠陥対象物かを判定してもよい。 The determination means may apply statistical means to information regarding the intensity of reflection or scattering in wavelength ranges including at least one of 550 nm to 580 nm, 600 nm to 680 nm, 715 nm to 745 nm, 785 nm to 815 nm, 935 to 995 nm, 1005 nm to 1035 nm, and 1080 nm to 1120 nm, and determine whether the object to be selected is a normal object or a defective object based on the learned results.

また、本発明の第2の態様として、本発明が適用される情報処理装置は、
対象物の選別にかかる情報処理装置であって、
1以上の正常対象物及び欠陥対象物における所定の波長領域における反射又は散乱の強度に関する情報を取得するデータ取得手段(例えば、測定情報取得部80)と、
前記データ取得手段により取得された前記情報に統計的手段を適合することにより学習を行う学習手段(例えば、学習処理部84)と、
を備える情報処理装置であれば足りる。
In addition, as a second aspect of the present invention, there is provided an information processing device to which the present invention is applied,
An information processing device for sorting objects,
A data acquisition means (e.g., a measurement information acquisition unit 80) for acquiring information regarding the intensity of reflection or scattering in a predetermined wavelength range in one or more normal objects and defective objects;
A learning means (e.g., a learning processing unit 84) that performs learning by applying a statistical method to the information acquired by the data acquisition means;
Any information processing device having the above will suffice.

また、本発明の第3の態様として、本発明が適用される情報処理方法は、
対象物の選別に用いるコンピュータが実行する情報処理方法であって、
選別の対象となる対象物に関する所定の波長領域における光の強度に関する情報を取得する取得手段と、
1以上の正常対象物及び欠陥対象物における所定の波長領域における反射又は散乱の強度に関する情報に統計的手段を適用して、学習された結果に基づいて、選別の対象となる前記対象物の性質又は品質を判定する判定手段と、
前記判定手段による判定の結果を出力する出力手段と、
を含む情報処理方法であれば足りる。
As a third aspect of the present invention, there is provided an information processing method to which the present invention is applied, comprising:
1. An information processing method executed by a computer for use in sorting objects, comprising:
An acquisition means for acquiring information regarding the intensity of light in a predetermined wavelength range related to the object to be sorted;
A determination means for determining the nature or quality of the object to be sorted based on a learned result by applying a statistical method to information on the reflection or scattering intensity in a predetermined wavelength range of one or more normal objects and defective objects;
an output means for outputting a result of the determination by the determination means;
Any information processing method including the above will suffice.

また、本発明の第4の態様として、本発明が適用されるプログラムは、
対象物の選別に用いるコンピュータに、
選別の対象となる対象物に関する所定の波長領域における光の強度に関する情報を取得する取得手段と、
1以上の正常対象物及び欠陥対象物における所定の波長領域における反射又は散乱の強度に関する情報に統計的手段を適用して、学習された結果に基づいて、選別の対象となる前記対象物の性質又は品質を判定する判定手段と、
前記判定手段による判定の結果を出力する出力手段と、
を含む制御処理を実行させるプログラムであれば足りる。
In addition, as a fourth aspect of the present invention, a program to which the present invention is applied is
The computer used to select the objects is
An acquisition means for acquiring information regarding the intensity of light in a predetermined wavelength range related to the object to be sorted;
A determination means for determining the nature or quality of the object to be sorted based on a learned result by applying a statistical method to information on the reflection or scattering intensity in a predetermined wavelength range of one or more normal objects and defective objects;
an output means for outputting a result of the determination by the determination means;
Any program that executes a control process including the above is sufficient.

1・・・分析装置
2・・・学習装置
21・・・制御部
80・・・測定情報取得部
82・・・演算処理部
90・・・平滑化処理部
92・・・正規化処理部
94・・・中心化処理部
96・・・波長選択部
84・・・学習処理部
300・・・学習結果DB
3・・・推論装置
51・・・制御部
120・・・学習結果取得部
122・・・対象情報取得部
124・・・演算処理部
126・・・判定部
128・・・出力部
400・・・学習結果DB
REFERENCE SIGNS LIST 1 Analysis device 2 Learning device 21 Control unit 80 Measurement information acquisition unit 82 Arithmetic processing unit 90 Smoothing processing unit 92 Normalization processing unit 94 Centering processing unit 96 Wavelength selection unit 84 Learning processing unit 300 Learning result DB
3... Inference device 51... Control unit 120... Learning result acquisition unit 122... Target information acquisition unit 124... Arithmetic processing unit 126... Determination unit 128... Output unit 400... Learning result DB

Claims (8)

対象物の選別に用いる情報処理装置であって、
選別の対象となる前記対象物に関する所定の波長領域における光の強度に関する情報を取得する取得手段と、
1以上の正常対象物及び欠陥対象物における所定の波長領域における反射又は散乱の強度に関する学習情報に統計的手段を適用して、学習された結果に基づいて、選別の対象となる前記対象物の性質又は品質を判定する判定手段と、
前記判定手段による判定の結果を出力する出力手段と、
を備え
前記判定手段は、前記対象物のコーヒー豆の表側と裏側を少なくとも含む場所で取得された前記学習情報に対して、前記学習情報のぞれぞれのスペクトル強度を平滑化した平均スペクトルを生成し、当該平均スペクトルを正規化した演算処理の結果に対して、所定の統計的手法を適用することで、正常豆かPTD豆かの判定に寄与する優先度の高い波長領域を選択し、選択した波長領域の組における前記学習情報に対して学習処理を実行することにより生成されたアルゴリズムに基づいて、前記対象物のコーヒー豆が正常豆かPTD豆かを判定する、
情報処理装置。
An information processing device used for sorting objects,
An acquisition means for acquiring information regarding the intensity of light in a predetermined wavelength range related to the object to be sorted;
a determination means for applying a statistical method to learning information regarding the reflection or scattering intensity in a predetermined wavelength range in one or more normal objects and defective objects, and determining the nature or quality of the objects to be selected based on the learning results;
an output means for outputting a result of the determination by the determination means;
Equipped with
the determination means generates an average spectrum by smoothing the spectral intensity of each piece of learning information acquired at locations including at least the front and back sides of the coffee bean of interest, applies a predetermined statistical method to the result of a calculation process that normalizes the average spectrum, and selects a wavelength range with a high priority that contributes to determining whether the bean is normal or PTD, and determines whether the coffee bean of interest is normal or PTD based on an algorithm generated by executing a learning process on the learning information in the selected set of wavelength ranges.
Information processing device.
正常豆かPTD豆かの判定に寄与する優先度の高い波長領域の選択が、600nmから1100nmにおけるスペクトル強度の差異に基づいて行われた、The selection of high priority wavelength regions that contribute to the determination of normal beans or PTD beans was based on the difference in spectral intensity from 600 nm to 1100 nm;
請求項1に記載の情報処理装置。The information processing device according to claim 1 .
前記判定手段は、310nmから1180nmの波長領域における反射又は散乱の強度に関する前記学習情報に統計的手段を適用して、学習された結果に基づいて、選別の対象となる前記対象物が正常対象物か欠陥対象物かを判定する、
請求項1に記載の情報処理装置。
the determining means applies a statistical means to the learning information regarding the intensity of reflection or scattering in the wavelength region of 310 nm to 1180 nm, and determines whether the object to be sorted is a normal object or a defective object based on the learning result.
The information processing device according to claim 1 .
前記波長領域は、選別の対象となる前記対象物の2以上の領域における反射又は散乱の強度に関する前記学習情報に統計的手法を実行することで算出される、
請求項に記載の情報処理装置。
The wavelength range is calculated by performing a statistical method on the learning information regarding the reflection or scattering intensity in two or more regions of the object to be selected;
The information processing device according to claim 3 .
前記統計的手法には、選別の対象となる前記対象物の2以上の領域における反射又は散乱の強度に関する前記学習情報に対する空間分解能を下げる処理が含まれる、
請求項に記載の情報処理装置。
The statistical method includes a process of reducing the spatial resolution of the learning information regarding the reflection or scattering intensity in two or more regions of the object to be selected.
The information processing device according to claim 4 .
対象物の選別にかかる情報処理装置であって、
1以上の正常対象物及び欠陥対象物における所定の波長領域における反射又は散乱の強度に関する学習情報を取得するデータ取得手段と、
前記データ取得手段により取得された前記学習情報に統計的手段を適合することにより学習を行う学習手段と、
を備え
前記学習手段は、前記対象物のコーヒー豆の表側と裏側を少なくとも含む場所で取得された前記学習情報に対して、前記学習情報のぞれぞれのスペクトル強度を平滑化した平均スペクトルを生成し、当該平均スペクトルを正規化した演算処理の結果に対して、所定の統計的手法を適用することで、正常豆かPTD豆かの判定に寄与する優先度の高い波長領域を選択し、選択した波長領域の組における前記学習情報に対して学習処理を実行する、
情報処理装置。
An information processing device for sorting objects,
A data acquisition means for acquiring learning information regarding the intensity of reflection or scattering in a predetermined wavelength range in one or more normal objects and defective objects;
a learning means for performing learning by applying a statistical means to the learning information acquired by the data acquisition means;
Equipped with
the learning means generates an average spectrum by smoothing the spectral intensity of each of the learning information acquired at locations including at least the front and back sides of the coffee beans of the object, and applies a predetermined statistical method to the result of a calculation process in which the average spectrum is normalized, thereby selecting a wavelength region with a high priority that contributes to determining whether the beans are normal or PTD beans, and executes a learning process on the learning information for the selected set of wavelength regions;
Information processing device.
対象物の選別に用いるコンピュータが実行する情報処理方法であって、
選別の対象となる前記対象物に関する所定の波長領域における光の強度に関する情報を取得する取得ステップと、
1以上の正常対象物及び欠陥対象物における所定の波長領域における反射又は散乱の強度に関する学習情報に統計的手段を適用して、学習された結果に基づいて、選別の対象となる前記対象物の性質又は品質を判定する判定ステップと、
前記判定ステップによる判定の結果を出力する出力ステップと、
を含み、
前記判定ステップは、前記対象物のコーヒー豆の表側と裏側を少なくとも含む場所で取得された前記学習情報に対して、前記学習情報のぞれぞれのスペクトル強度を平滑化した平均スペクトルを生成し、当該平均スペクトルを正規化した演算処理の結果に対して、所定の統計的手法を適用することで、正常豆かPTD豆かの判定に寄与する優先度の高い波長領域を選択し、選択した波長領域の組における前記学習情報に対して学習処理を実行することにより生成されたアルゴリズムに基づいて、前記対象物のコーヒー豆が正常豆かPTD豆かを判定する、
情報処理方法。
1. An information processing method executed by a computer for use in sorting objects, comprising:
acquiring information about the light intensity in a predetermined wavelength range related to the object to be sorted ;
a determining step of applying a statistical method to learning information regarding the reflection or scattering intensity in a predetermined wavelength range in one or more normal objects and defective objects, and determining the nature or quality of the object to be sorted based on the learning result;
an output step of outputting a result of the determination by the determination step ;
Including,
The determination step generates an average spectrum by smoothing the spectral intensity of each piece of learning information acquired at a location including at least the front and back sides of the coffee bean of interest, applies a predetermined statistical method to the result of a calculation process that normalizes the average spectrum, and determines whether the coffee bean of interest is a normal bean or a PTD bean based on an algorithm generated by executing a learning process on the learning information in the selected set of wavelength regions.
Information processing methods.
対象物の選別に用いるコンピュータに、
選別の対象となる前記対象物に関する所定の波長領域における光の強度に関する情報を取得する取得手段と、
1以上の正常対象物及び欠陥対象物における所定の波長領域における反射又は散乱の強度に関する学習情報に統計的手段を適用して、学習された結果に基づいて、選別の対象となる前記対象物の性質又は品質を判定する判定手段と、
前記判定手段による判定の結果を出力する出力手段と、
を含む制御処理を実行させ、
前記判定手段は、前記対象物のコーヒー豆の表側と裏側を少なくとも含む場所で取得された前記学習情報に対して、前記学習情報のぞれぞれのスペクトル強度を平滑化した平均スペクトルを生成し、当該平均スペクトルを正規化した演算処理の結果に対して、所定の統計的手法を適用することで、正常豆かPTD豆かの判定に寄与する優先度の高い波長領域を選択し、選択した波長領域の組における前記学習情報に対して学習処理を実行することにより生成されたアルゴリズムに基づいて、前記対象物のコーヒー豆が正常豆かPTD豆かを判定する、
プログラム。
The computer used to select the objects is
An acquisition means for acquiring information regarding the intensity of light in a predetermined wavelength range related to the object to be sorted;
a determination means for applying a statistical method to learning information regarding the reflection or scattering intensity in a predetermined wavelength range in one or more normal objects and defective objects, and determining the nature or quality of the objects to be selected based on the learning results;
an output means for outputting a result of the determination by the determination means;
Executing a control process including
the determination means generates an average spectrum by smoothing the spectral intensity of each piece of learning information acquired at locations including at least the front and back sides of the coffee bean of interest, applies a predetermined statistical method to the result of a calculation process that normalizes the average spectrum, and selects a wavelength range with a high priority that contributes to determining whether the bean is normal or PTD, and determines whether the coffee bean of interest is normal or PTD based on an algorithm generated by executing a learning process on the learning information in the selected set of wavelength ranges.
program.
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002012969A1 (en) 2000-08-07 2002-02-14 Mitsui Chemicals, Inc. Production control method
WO2015146821A1 (en) 2014-03-28 2015-10-01 国立大学法人秋田大学 Fiber identification method
JP2015232543A (en) 2014-05-15 2015-12-24 パナソニック株式会社 Fish freshness estimation method and freshness estimation apparatus
JP2019174481A (en) 2016-08-22 2019-10-10 キユーピー株式会社 Inspection device and learning method of identification means of the same
JP2020524328A (en) 2017-06-19 2020-08-13 インパクトビジョン インコーポレイテッド System and method for hyperspectral image processing for foreign object identification

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6765036B2 (en) * 2016-03-28 2020-10-07 パナソニックIpマネジメント株式会社 Visual inspection equipment and visual inspection method
US20210121922A1 (en) * 2018-06-11 2021-04-29 Cryovac, Llc Process and system for in-line inspection of product stream for detection of foreign objects
TWI714088B (en) * 2019-05-17 2020-12-21 東駒股份有限公司 A rotary-disk-based system for coffee bean sorting
JP7482475B2 (en) * 2020-05-22 2024-05-14 株式会社Ihi Section classification device, section classification method, and section classification program
JP7440044B2 (en) * 2022-02-08 2024-02-28 ユーシーシー上島珈琲株式会社 A non-defective product inspection system and a non-defective product inspection method with a function for identifying non-defective coffee beans

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002012969A1 (en) 2000-08-07 2002-02-14 Mitsui Chemicals, Inc. Production control method
WO2015146821A1 (en) 2014-03-28 2015-10-01 国立大学法人秋田大学 Fiber identification method
JP2015232543A (en) 2014-05-15 2015-12-24 パナソニック株式会社 Fish freshness estimation method and freshness estimation apparatus
JP2019174481A (en) 2016-08-22 2019-10-10 キユーピー株式会社 Inspection device and learning method of identification means of the same
JP2020524328A (en) 2017-06-19 2020-08-13 インパクトビジョン インコーポレイテッド System and method for hyperspectral image processing for foreign object identification

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