JP7715604B2 - Grinding equipment - Google Patents
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- JP7715604B2 JP7715604B2 JP2021179409A JP2021179409A JP7715604B2 JP 7715604 B2 JP7715604 B2 JP 7715604B2 JP 2021179409 A JP2021179409 A JP 2021179409A JP 2021179409 A JP2021179409 A JP 2021179409A JP 7715604 B2 JP7715604 B2 JP 7715604B2
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Description
本発明は、保持ユニットと、研削砥石と、を備え、環状軌道上を移動する研削砥石の下に被加工物を保持する保持ユニットを送り、該被加工物を該研削砥石で研削する研削装置に関する。 The present invention relates to a grinding device that includes a holding unit and a grinding wheel, and that moves the holding unit, which holds a workpiece, under the grinding wheel that moves on a circular track, and grinds the workpiece with the grinding wheel.
携帯電話やパソコン等の電子機器に使用されるデバイスチップの製造工程では、まず、IC(Integrated Circuit)、LSI(Large-scale Integration)等のデバイスをそれぞれ備える半導体等の材料からなる複数のチップを準備する。そして、複数のチップを整列させてモールド樹脂で封止して一体化し、得られたパッケージ基板をチップ毎に分割すると、個々のデバイスチップが形成される。 The manufacturing process for device chips used in electronic devices such as mobile phones and personal computers begins with preparing multiple chips made of semiconductors or other materials, each equipped with devices such as ICs (Integrated Circuits) and LSIs (Large-scale Integration). The multiple chips are then aligned and integrated by sealing them with molding resin. The resulting package substrate is then divided into individual chips, forming the individual device chips.
近年、デバイスチップが搭載される電子機器の省スペース化の傾向が著しく、デバイスチップの薄型化への要求も高まっている。そこで、薄型のデバイスチップを製造するために、パッケージ基板を分割する前に該パッケージ基板を裏面側(モールド樹脂側)から研削して薄化する。パッケージ基板を研削する研削装置は、被加工物を吸引保持できる保持ユニット(例えば、チャックテーブル)と、環状に配置された研削砥石と、を備える。 In recent years, there has been a significant trend toward space-saving electronic devices equipped with device chips, and demand for thinner device chips is also increasing. Therefore, in order to manufacture thinner device chips, the package substrate is ground from the back side (the mold resin side) to thin it before being separated. The grinding device used to grind the package substrate includes a holding unit (e.g., a chuck table) that can hold the workpiece by suction, and grinding wheels arranged in a ring shape.
研削装置では、例えば、クリープフィード研削と呼ばれる研削加工が被加工物に実施される。クリープフィード研削を実施する際には、まず、研削砥石の底面の高さ位置を被加工物の被研削面(上面)の高さよりも低くするとともに、保持ユニットの上面と略平行な面内で研削砥石を回転移動させる。そして、被加工物を保持する保持ユニットを回転移動する研削砥石の下に送り、該研削砥石の側面及び底面を該被加工物に接触させて研削を実施する(特許文献1参照)。 In a grinding device, for example, a grinding process known as creep feed grinding is performed on a workpiece. When performing creep feed grinding, the bottom surface of the grinding wheel is first lowered below the height of the workpiece's surface (top surface), and the grinding wheel is rotated in a plane approximately parallel to the top surface of the holding unit. The holding unit holding the workpiece is then moved below the rotating grinding wheel, and the side and bottom surfaces of the grinding wheel are brought into contact with the workpiece to perform grinding (see Patent Document 1).
被加工物を研削すると研削砥石が徐々に消耗して薄くなり、該研削砥石の底面が上昇していく。そのため、このままでは被加工物の被研削面の研削を開始する際の研削砥石の底面の高さよりも研削が終了する際の該研削砥石の該底面の高さの方が高くなる。そこで、研削砥石の消耗の傾向を予め確認しておき、クリープフィード研削を実施する間、研削砥石の消耗量に対応する量で徐々に研削砥石を下降させることで、研削された被加工物の厚みの不均一さを低減する方法が開発されている(特許文献2参照)。 When a workpiece is ground, the grinding wheel gradually wears down and becomes thinner, causing the bottom surface of the grinding wheel to rise. As a result, if left unchecked, the height of the bottom surface of the grinding wheel at the end of grinding will be higher than the height of the bottom surface of the grinding wheel at the start of grinding the workpiece's surface. Therefore, a method has been developed to reduce unevenness in the thickness of the ground workpiece by checking the wear tendency of the grinding wheel in advance and gradually lowering the grinding wheel by an amount corresponding to the amount of wear during creep feed grinding (see Patent Document 2).
また、複数の被加工物を保持ユニット上に載置し、それぞれ異なる厚さになるようにクリープフィード研削を実施する方法が知られている(特許文献3参照)。この方法においては、研削する被加工物のそれぞれに設定された仕上げ厚みに合わせて研削砥石の高さを変更している。 A method is also known in which multiple workpieces are placed on a holding unit and creep feed grinded to different thicknesses (see Patent Document 3). In this method, the height of the grinding wheel is changed to match the finish thickness set for each workpiece to be ground.
このような研削を実現するためには、保持ユニット上において互いに隣接する2つの被加工物の間に大きな隙間を設ける必要がある。さもなければ、一つの被加工物を研削する際に研削砥石が他の被加工物に接触してしまい、この他の被加工物に設定された仕上げ厚みとは異なる厚みにこの他の被加工物が薄化されるおそれがある。 To achieve this type of grinding, a large gap must be provided between two adjacent workpieces on the holding unit. Otherwise, when grinding one workpiece, the grinding wheel may come into contact with the other workpiece, resulting in the other workpiece being thinned to a thickness different from the finish thickness set for that workpiece.
しかしながら、複数の被加工物を載せたときに互いに十分な距離を確保するために保持ユニットを比較的大きくすると、研削装置自体も大型化してしまう。大型の研削装置は、製造コスト及び運用コストが比較的大きくなる。また、例えば、クリーンルームに設置される研削装置が大型化すると、クリーンルームの容量を圧迫するとともにクリーンルームの運用コストも増大させる。したがって、複数の被加工物をそれぞれ異なる厚さとなるようにクリープフィード研削を実施する研削装置の小型化が望まれる。 However, if the holding unit is made relatively large to ensure sufficient distance between multiple workpieces when they are placed on it, the grinding device itself will also become larger. Large grinding devices have relatively high manufacturing and operating costs. Furthermore, for example, if a grinding device installed in a clean room becomes large, it will not only take up space in the clean room but also increase the operating costs of the clean room. Therefore, there is a demand for a smaller grinding device that performs creep feed grinding to grind multiple workpieces to different thicknesses.
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、複数の被加工物をそれぞれ異なる厚さとなるようにクリープフィード研削できる小型の研削装置を提供することである。 The present invention was made in consideration of these problems, and its purpose is to provide a compact grinding device that can creep feed grind multiple workpieces so that each has a different thickness.
本発明の一態様によると、保持面を有し複数の被加工物を保持する保持ユニットと、該保持ユニットで保持された複数の該被加工物のそれぞれの上面を研削する研削砥石が配置された研削ユニットと、該研削ユニットを該保持面に垂直な方向に昇降させる昇降ユニットと、を備える研削装置であって、該保持ユニットは、該保持面に露出した複数の収容凹部と、それぞれ該収容凹部に収容された複数の保持テーブルと、複数の該収容凹部のそれぞれに収容され該保持面に垂直な方向にそれぞれの該保持テーブルを昇降させるための複数のテーブル昇降機構と、該保持ユニットと、該研削ユニットと、を該保持面に平行な方向に相対的に移動させる水平移動ユニットと、を備え、該保持ユニットは、それぞれの該保持テーブルの上面に載せられた複数の該被加工物を保持でき、それぞれの該テーブル昇降機構を作動させて複数の該保持テーブルの高さをそれぞれの該保持テーブルが保持する該被加工物の仕上げ厚みに応じてそれぞれ独立に調整し、該水平移動ユニットを作動させ該研削砥石でそれぞれの該保持テーブルに保持された複数の該被加工物の該上面を一端側から他端側に向かってクリープフィード研削することで、クリープフィード研削される前において該上面の高さが揃えられていない各被加工物をそれぞれの該仕上げ厚みにできることを特徴とする研削装置が提供される。 According to one aspect of the present invention, there is provided a grinding apparatus comprising: a holding unit having a holding surface for holding a plurality of workpieces; a grinding unit in which grinding wheels are disposed for grinding the upper surfaces of the plurality of workpieces held by the holding unit; and a lifting unit for raising and lowering the grinding unit in a direction perpendicular to the holding surface, wherein the holding unit comprises a plurality of accommodating recesses exposed on the holding surface, a plurality of holding tables respectively accommodated in the accommodating recesses , a plurality of table lifting mechanisms accommodated in the plurality of accommodating recesses respectively for raising and lowering the respective holding tables in a direction perpendicular to the holding surface, and a lifting unit for relatively moving the holding unit and the grinding unit in a direction parallel to the holding surface. and a horizontal movement unit configured to move the holding units so as to hold the plurality of workpieces placed on the upper surfaces of the respective holding tables, and to operate the respective table lifting mechanisms to independently adjust the heights of the plurality of holding tables in accordance with the finished thicknesses of the workpieces held by the respective holding tables , and to operate the horizontal movement units to creep feed grind the upper surfaces of the plurality of workpieces held on the respective holding tables from one end side to the other end side with the grinding wheels , thereby enabling each of the workpieces, the upper surfaces of which are not uniform in height before creep feed grinding, to be brought to the respective finished thicknesses.
また、好ましくは、該保持ユニットは、該研削砥石に対する該保持テーブルの該上面の傾きを調整する傾き調整機構をさらに備える。 Preferably, the holding unit further includes an inclination adjustment mechanism for adjusting the inclination of the upper surface of the holding table relative to the grinding wheel.
また、好ましくは、該被加工物は、第1層と、該第1層に重なる第2層と、を有し、
それぞれの該保持テーブルで該第1層側から該被加工物を保持し、該研削砥石で複数の該被加工物をクリープフィード研削したときにすべての該被加工物の該第2層の厚みが揃うようにそれぞれの該保持テーブルの高さを調整し、該研削砥石で複数の該被加工物をクリープフィード研削する。
Also, preferably, the workpiece has a first layer and a second layer overlying the first layer,
The workpieces are held by the respective holding tables from the first layer side, and the heights of the respective holding tables are adjusted so that the thicknesses of the second layers of all the workpieces are uniform when the workpieces are creep feed ground with the grinding wheels, and the workpieces are creep feed ground with the grinding wheels.
また、好ましくは、該研削ユニットは、該保持ユニットで保持された複数の該被加工物のうち2以上を同時に該研削砥石でクリープフィード研削できる。 Preferably, the grinding unit can simultaneously creep feed grind two or more of the plurality of workpieces held by the holding unit with the grinding wheel.
本発明の一態様に係る研削装置では、それぞれ独立に高さを調整可能な複数の保持テーブルを保持ユニットが備える。そして、複数の被加工物を各保持テーブルで保持し、各被加工物に設定された仕上げ厚みに応じて各保持テーブルの高さを調整し、研削ユニットで各被加工物の上面をクリープフィード研削する。すると、各被加工物は、各保持テーブルと研削砥石の距離に応じた厚みとなる。すなわち、本発明の一態様に係る研削装置では、複数の被加工物を同時にそれぞれ異なる仕上げ厚みに研削できる。 In one aspect of the grinding device of the present invention, a holding unit is provided with multiple holding tables, each of which can be adjusted in height independently. Multiple workpieces are held by each holding table, and the height of each holding table is adjusted according to the finish thickness set for each workpiece. The grinding unit then creep feed grinds the top surface of each workpiece. As a result, each workpiece has a thickness that corresponds to the distance between each holding table and the grinding wheel. In other words, the grinding device of this aspect of the present invention can simultaneously grind multiple workpieces to different finish thicknesses.
このとき、研削する被加工物毎に研削ユニットの高さを変化させる必要がなく、2以上の被加工物が同時に研削砥石で研削されても問題が生じない。したがって、各保持テーブルの間に大きな隙間を確保する必要がなく、保持ユニットを大型化する必要もない。そのため、研削装置を大型化させる必要もない。 In this case, there is no need to change the height of the grinding unit for each workpiece to be ground, and no problems arise even if two or more workpieces are ground simultaneously with the grinding wheel. Therefore, there is no need to ensure large gaps between each holding table, and there is no need to enlarge the holding unit. As a result, there is no need to enlarge the grinding device.
したがって、本発明により、複数の被加工物をそれぞれ異なる厚さとなるようにクリープフィード研削できる小型の研削装置が提供される。 Therefore, the present invention provides a compact grinding device that can creep feed grind multiple workpieces to different thicknesses.
本発明に係る実施形態について図面を参照して説明する。図1は、本実施形態に係る研削装置2を模式的に示す斜視図である。本実施形態に係る研削装置2は、複数の被加工物1を同時にクリープフィード研削できる。まず、研削装置2で研削される被加工物1について説明する。 An embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. Figure 1 is a perspective view showing a grinding device 2 according to this embodiment. The grinding device 2 according to this embodiment is capable of creep feed grinding multiple workpieces 1 simultaneously. First, the workpieces 1 to be ground by the grinding device 2 will be described.
被加工物1は、表面にIC、LSI等のデバイスが設けられたSi(シリコン)、SiC(シリコンカーバイド)、若しくは、その他の半導体等の材料からなる基板と、該基板を封止するモールド樹脂と、を備える矩形状のパッケージ基板である。例えば、パッケージ基板を研削して所定の厚みに薄化し、パッケージ基板をデバイス毎に分割すると、個々のデバイスチップが得られる。ただし、被加工物1はこれに限定されない。 The workpiece 1 is a rectangular package substrate comprising a substrate made of Si (silicon), SiC (silicon carbide), or other semiconductor material with devices such as ICs or LSIs mounted on its surface, and a molding resin that seals the substrate. For example, the package substrate can be ground to a predetermined thickness and then divided into individual devices to obtain individual device chips. However, the workpiece 1 is not limited to this.
次に、本実施形態に係る研削装置2について説明する。図1は、研削装置2を模式的に示す斜視図である。研削装置2は、各構成要素を支持する略直方体状の基台4を有する。基台4の上面には、Y軸方向に沿った凹部4aが形成されている。凹部4aには、複数の被加工物1を保持できるY軸方向に移動可能な保持ユニット6と、保持ユニット6を露出しながら凹部4aの開口を覆う防塵防滴カバー4bと、が設けられる。保持ユニット6の上面は、被加工物1が載る保持面38となる。 Next, we will explain the grinding device 2 according to this embodiment. Figure 1 is a perspective view that schematically shows the grinding device 2. The grinding device 2 has a roughly rectangular parallelepiped base 4 that supports each component. A recess 4a is formed on the top surface of the base 4 along the Y-axis direction. The recess 4a is provided with a holding unit 6 that is movable in the Y-axis direction and can hold multiple workpieces 1, and a dust-proof and drip-proof cover 4b that covers the opening of the recess 4a while exposing the holding unit 6. The top surface of the holding unit 6 forms a holding surface 38 on which the workpieces 1 rest.
凹部4aの内部には、保持ユニット6を移動可能に支持するY軸移動機構(不図示)が配設されている。例えば、Y軸移動機構はボールねじ式の移動機構であり、保持ユニット6をY軸方向に移動させる機能を有する。または、研削装置2は、保持ユニット6に代えて後述の研削ユニット8をY軸方向に移動させるY軸移動機構を備えてもよい。 A Y-axis movement mechanism (not shown) that movably supports the holding unit 6 is disposed inside the recess 4a. For example, the Y-axis movement mechanism is a ball screw type movement mechanism that functions to move the holding unit 6 in the Y-axis direction. Alternatively, the grinding device 2 may be equipped with a Y-axis movement mechanism that moves the grinding unit 8 (described below) in the Y-axis direction instead of the holding unit 6.
すなわち、Y軸移動機構(水平移動ユニット)は、保持ユニット6と、研削ユニット8と、を保持面38に平行な方向(Y軸方向)に相対的に移動させる。保持ユニット6について、詳細は後述する。 That is, the Y-axis movement mechanism (horizontal movement unit) moves the holding unit 6 and the grinding unit 8 relatively in a direction parallel to the holding surface 38 (the Y-axis direction). The holding unit 6 will be described in more detail below.
研削装置2は、保持ユニット6で保持された被加工物1を研削する研削ユニット8と、研削ユニット8を昇降させる昇降ユニット12と、を備える。研削装置2の後方側には支持部10が立設されており、この支持部10により昇降ユニット12を介して研削ユニット8が支持されている。支持部10の前面には、Z軸方向(鉛直方向)に沿った一対のガイドレール14が設けられている。それぞれのガイドレール14には、移動プレート16がスライド可能に取り付けられている。 The grinding device 2 includes a grinding unit 8 that grinds the workpiece 1 held by the holding unit 6, and a lifting unit 12 that raises and lowers the grinding unit 8. A support part 10 is erected at the rear of the grinding device 2, and this support part 10 supports the grinding unit 8 via the lifting unit 12. A pair of guide rails 14 are provided on the front of the support part 10, extending along the Z-axis direction (vertical direction). A movable plate 16 is slidably attached to each guide rail 14.
移動プレート16の裏面側(後面側)には、ナット部(不図示)が設けられており、このナット部には、ガイドレール14に平行なボールねじ18が螺合されている。ボールねじ18の一端には、パルスモータ20が連結されている。パルスモータ20でボールねじ18を回転させると、移動プレート16は、ガイドレール14に沿ってZ軸方向に移動する。 A nut (not shown) is provided on the back side (rear side) of the moving plate 16, and a ball screw 18 parallel to the guide rail 14 is threadedly engaged with this nut. A pulse motor 20 is connected to one end of the ball screw 18. When the pulse motor 20 rotates the ball screw 18, the moving plate 16 moves in the Z-axis direction along the guide rail 14.
移動プレート16の前面側には、被加工物1の研削加工を実施する研削ユニット8が固定されている。昇降ユニット12を作動させて移動プレート16を移動させれば、研削ユニット8はZ軸方向に沿って移動できる。すなわち、昇降ユニット12は、研削ユニット8を保持ユニット6の保持面38に略垂直な方向に昇降させる機能を有する。 A grinding unit 8, which performs grinding on the workpiece 1, is fixed to the front side of the movable plate 16. By operating the lifting unit 12 to move the movable plate 16, the grinding unit 8 can move along the Z-axis direction. In other words, the lifting unit 12 has the function of raising and lowering the grinding unit 8 in a direction approximately perpendicular to the holding surface 38 of the holding unit 6.
研削ユニット8は、切断された円筒状の保持部材22を有する。保持部材22は、移動プレート16の前方側の表面に固定されている。保持部材22の内側には、スピンドルハウジング24が設けられている。スピンドルハウジング24は、ゴム等で形成された円環状の緩衝部材(不図示)を介して保持部材22の底壁に支持されている。 The grinding unit 8 has a cut cylindrical holding member 22. The holding member 22 is fixed to the front surface of the moving plate 16. A spindle housing 24 is provided inside the holding member 22. The spindle housing 24 is supported on the bottom wall of the holding member 22 via an annular buffer member (not shown) made of rubber or the like.
スピンドルハウジング24には、スピンドル26の一部が回転可能な態様で収容されている。スピンドル26の上端には、モータ等の回転駆動機構(不図示)が連結されている。回転駆動機構を動作させると、スピンドル26が回転する。なお、スピンドル26の向きはZ軸方向に厳密に沿っている必要はなく、スピンドル26のZ軸方向からの傾き角を所定の値に設定可能でもよい。例えば、研削ユニット8は、保持ユニット6の保持面38に垂直な方向からの傾き角が調整可能である。 A portion of the spindle 26 is rotatably housed in the spindle housing 24. A rotation drive mechanism (not shown), such as a motor, is connected to the upper end of the spindle 26. When the rotation drive mechanism is operated, the spindle 26 rotates. Note that the orientation of the spindle 26 does not need to be strictly along the Z-axis direction; the tilt angle of the spindle 26 from the Z-axis direction may be set to a predetermined value. For example, the tilt angle of the grinding unit 8 from the direction perpendicular to the holding surface 38 of the holding unit 6 is adjustable.
スピンドル26の下端は、保持部材22の底部よりも下方に位置している。スピンドル26の下端には、円盤状のホイールマウント28の上面が連結されている。ホイールマウント28の下面には、円環状の研削ホイール30の上面が装着されている。 The lower end of the spindle 26 is located below the bottom of the holding member 22. The upper surface of a disk-shaped wheel mount 28 is connected to the lower end of the spindle 26. The upper surface of an annular grinding wheel 30 is attached to the lower surface of the wheel mount 28.
研削ホイール30は、円環状のホイール基台32を有する。ホイール基台32は、アルミニウム等の金属で形成され、保持ユニット6の保持面38の径に対応する径とされる。このホイール基台32の上面側がホイールマウント28の下面側に連結される。つまり、研削ホイール30は、ホイールマウント28を介してスピンドル26に装着される。 The grinding wheel 30 has an annular wheel base 32. The wheel base 32 is made of a metal such as aluminum and has a diameter corresponding to the diameter of the holding surface 38 of the holding unit 6. The upper surface of this wheel base 32 is connected to the lower surface of the wheel mount 28. In other words, the grinding wheel 30 is attached to the spindle 26 via the wheel mount 28.
ホイール基台32の下面には、複数の研削砥石34が設けられている。各研削砥石34は、例えば、ビトリファイドやレジノイド等の結合材に、ダイヤモンドやcBN(cubic boron nitride)等の砥粒を混合し、混合体を焼結することで形成されている。スピンドル26を回転させて研削ホイール30を回転させると、研削砥石34が環状軌道上を回転移動する。 A plurality of grinding wheels 34 are provided on the underside of the wheel base 32. Each grinding wheel 34 is formed by mixing abrasive grains such as diamond or cBN (cubic boron nitride) with a binder such as vitrified or resinoid, and then sintering the mixture. When the spindle 26 is rotated to rotate the grinding wheel 30, the grinding wheels 34 rotate and move on an annular orbit.
被加工物1を研削して所定の厚みにする手法としてクリープフィード研削が知られている。クリープフィード研削では、まず、研削砥石34の底面の高さ位置を被加工物1の被研削面(上面)の高さよりも低くするとともに、保持ユニット6の保持面38と略平行な面内で研削砥石34を回転移動させる。そして、被加工物1を保持する保持ユニット6を保持面38に平行な方向(Y軸方向)に移動させて回転移動する研削砥石34の下に送り、研削砥石34の側面及び底面を被加工物1に接触させて研削を実施する。 Creep feed grinding is known as a method for grinding the workpiece 1 to a predetermined thickness. In creep feed grinding, the bottom surface of the grinding wheel 34 is first positioned lower than the surface (top surface) of the workpiece 1 to be ground, and the grinding wheel 34 is rotated in a plane approximately parallel to the holding surface 38 of the holding unit 6. The holding unit 6, which holds the workpiece 1, is then moved in a direction parallel to the holding surface 38 (Y-axis direction) to be placed below the rotating grinding wheel 34, and the sides and bottom of the grinding wheel 34 are brought into contact with the workpiece 1 to perform grinding.
ここで、厚みの異なる複数の被加工物1を保持ユニット6の保持面38上に載置し、それぞれ異なる厚さになるようにクリープフィード研削を実施する方法が知られている。この方法においては、研削する被加工物1に合わせて研削砥石34の高さを変更している。すなわち、保持ユニット6を移動させる間に研削砥石34が未加工の被加工物1に重なる際、昇降ユニット12を作動させて研削砥石34の底面の高さを変更する。このときの研削砥石34の底面の高さは、当該被加工物1の仕上げ厚みが参照されて決定される。 A known method involves placing multiple workpieces 1 of different thicknesses on the holding surface 38 of the holding unit 6 and performing creep feed grinding to achieve different thicknesses. In this method, the height of the grinding wheel 34 is adjusted to match the workpiece 1 being ground. That is, when the grinding wheel 34 overlaps the unmachined workpiece 1 while the holding unit 6 is being moved, the lifting unit 12 is operated to change the height of the bottom surface of the grinding wheel 34. The height of the bottom surface of the grinding wheel 34 at this time is determined based on the finished thickness of the workpiece 1.
ここで、ある仕上げ厚みが設定された被加工物1をクリープフィード研削する間に、より厚い仕上げ厚みが設定された他の被加工物1に研削砥石34が当たると、この他の被加工物1が過度に薄化されてしまう。そこで、仕上げ厚みの異なる複数の被加工物1の研削を実現するために、保持ユニット6の上において互いに隣接する2つの被加工物1の間に、広い隙間を確保する必要がある。この隙間は、例えば、一つの被加工物1を研削する研削砥石34が環状軌道を回転移動する過程で他の被加工物1に当たらないような大きさとされる。 If, during creep feed grinding of a workpiece 1 with a certain finish thickness, the grinding wheel 34 comes into contact with another workpiece 1 with a thicker finish thickness, the other workpiece 1 will be excessively thinned. Therefore, in order to grind multiple workpieces 1 with different finish thicknesses, it is necessary to ensure a wide gap between two adjacent workpieces 1 on the holding unit 6. This gap is set to a size that prevents the grinding wheel 34 grinding one workpiece 1 from coming into contact with the other workpiece 1 as it rotates around the circular orbit.
しかしながら、複数の被加工物1を保持できる保持ユニット6において、被加工物1の間隔を十分に広く確保する場合、保持ユニット6の保持面38を大きくする必要がある。保持ユニット6を大型化すると研削装置2自体が大型化してしまい、研削装置2の占有領域が大きくなる。例えば、研削装置2がクリーンルームに置かれる場合、クリーンルームの容量を圧迫することとなり、他の装置が設置しにくくなる。そのため、クリーンルームの稼働効率等が悪くなる。また、大型の研削装置2には、製造及び運用に大きなコストがかかる。 However, in a holding unit 6 capable of holding multiple workpieces 1, if the workpieces 1 need to be spaced apart sufficiently, the holding surface 38 of the holding unit 6 must be made larger. Increasing the size of the holding unit 6 results in the grinding device 2 itself becoming larger, increasing the area occupied by the grinding device 2. For example, if the grinding device 2 is placed in a clean room, it will take up space in the clean room, making it difficult to install other devices. This reduces the operating efficiency of the clean room. Furthermore, a large grinding device 2 requires significant manufacturing and operation costs.
したがって、複数の被加工物1をそれぞれ異なる厚さとなるようにクリープフィード研削を実施する研削装置2の小型化が望まれる。そこで、装置構成を大型化することなく複数の被加工物1をそれぞれ異なる厚さとなるようにクリープフィード研削できる研削装置として、本実施形態に係る研削装置2が開発された。 Therefore, there is a demand for a more compact grinding device 2 that performs creep feed grinding on multiple workpieces 1 so that each has a different thickness. Therefore, the grinding device 2 according to this embodiment was developed as a grinding device that can creep feed grind multiple workpieces 1 so that each has a different thickness without increasing the size of the device configuration.
図2は、本実施形態に係る研削装置2の保持ユニット6を模式的に示す斜視図である。図3は、保持ユニット6を模式的に示す断面図である。本実施形態に係る研削装置2では、保持ユニット6は、それぞれ保持面38に露出した複数の保持テーブル40を備える。図2等に示す例では、保持ユニット6は、第1の保持テーブル40aと、第2の保持テーブル40bと、第3の保持テーブル40cと、を備え、3つの被加工物1を保持可能である。ただし、保持テーブル40の数はこれに限定されない。 Figure 2 is a perspective view schematically showing the holding unit 6 of the grinding device 2 according to this embodiment. Figure 3 is a cross-sectional view schematically showing the holding unit 6. In the grinding device 2 according to this embodiment, the holding unit 6 includes multiple holding tables 40, each exposed on the holding surface 38. In the example shown in Figure 2 and other figures, the holding unit 6 includes a first holding table 40a, a second holding table 40b, and a third holding table 40c, and is capable of holding three workpieces 1. However, the number of holding tables 40 is not limited to this.
保持ユニット6は、各構成要素を収容するアルミニウムまたはステンレス鋼等で形成された枠体36を備える。枠体36は、それぞれ保持テーブル40a,40b,40cを収容できる保持面38に露出した収容凹部46a,46b,46cを備える。枠体36には、ポンプまたはエジェクター等の吸引源48が吸引路52を介して接続されている。吸引路52の一端は吸引源48に接続されており、他端は分岐されて枠体36の底面に接続され収容凹部46a,46b,46cの底面に通じている。 The holding unit 6 includes a frame 36 made of aluminum, stainless steel, or the like that houses each component. The frame 36 includes storage recesses 46a, 46b, and 46c exposed on a holding surface 38 that can house the holding tables 40a, 40b, and 40c, respectively. A suction source 48, such as a pump or ejector, is connected to the frame 36 via a suction path 52. One end of the suction path 52 is connected to the suction source 48, and the other end branches off, connects to the bottom of the frame 36, and leads to the bottom of the storage recesses 46a, 46b, and 46c.
分岐された吸引路52には、それぞれ、ソレノイドバルブ等で構成された開閉バルブ50a,50b,50cが設けられている。開閉バルブ50a,50b,50cを作動させると、吸引源48で生じた負圧の各収容凹部46a,46b,46cへの供給と、供給の停止と、を切り替えられる。 Each of the branched suction paths 52 is provided with on-off valves 50a, 50b, and 50c, such as solenoid valves. Activating the on-off valves 50a, 50b, and 50c switches between supplying and halting the negative pressure generated by the suction source 48 to each of the storage recesses 46a, 46b, and 46c.
また、保持ユニット6は、保持面38に垂直な方向(Z軸方向)にそれぞれの保持テーブル40a,40b,40cを昇降させるための複数のテーブル昇降機構54a,54b,54cを備える。さらに、保持ユニット6は、研削砥石34に対する保持面38(各保持テーブル40a,40b,40cの上面)の傾きを調整する複数の傾き調整機構62a,62b,62cをさらに備える。 The holding unit 6 also includes multiple table lifting mechanisms 54a, 54b, and 54c for raising and lowering the respective holding tables 40a, 40b, and 40c in a direction perpendicular to the holding surface 38 (the Z-axis direction). Furthermore, the holding unit 6 further includes multiple tilt adjustment mechanisms 62a, 62b, and 62c for adjusting the tilt of the holding surface 38 (the upper surfaces of the respective holding tables 40a, 40b, and 40c) relative to the grinding wheel 34.
それぞれの収容凹部46a,46b,46cには、テーブル昇降機構54a,54b,54cが枠体36により支持されて収容されており、傾き調整機構62a,62b,62cがテーブル昇降機構54a,54b,54cにより支持されて収容されている。そして、各保持テーブル40a,40b,40cは、傾き調整機構62a,62b,62cにより支持されて収容凹部46a,46b,46cに収容されている。 Table lifting mechanisms 54a, 54b, 54c are supported and housed in the respective storage recesses 46a, 46b, 46c by the frame 36, and tilt adjustment mechanisms 62a, 62b, 62c are supported and housed by the table lifting mechanisms 54a, 54b, 54c. The holding tables 40a, 40b, 40c are supported by the tilt adjustment mechanisms 62a, 62b, 62c and housed in the storage recesses 46a, 46b, 46c.
図4(A)は、収容凹部46a,46b,46cの底部において枠体36に支持されたテーブル昇降機構54a,54b,54cの一部を模式的に示す斜視図である。テーブル昇降機構54a,54b,54cは、該底部の中央に設けられた圧電アクチュエータ56a,56b,56cを備える。 Figure 4(A) is a perspective view schematically illustrating a portion of the table lifting mechanisms 54a, 54b, and 54c supported by the frame 36 at the bottom of the storage recesses 46a, 46b, and 46c. The table lifting mechanisms 54a, 54b, and 54c include piezoelectric actuators 56a, 56b, and 56c provided in the center of the bottom.
圧電アクチュエータ56a,56b,56cは、研削装置2の図示しない制御ユニットに電気的に接続されており、制御ユニットから供給された電気信号に応じて伸縮する。圧電アクチュエータ56a,56b,56cの上端には、傾き調整機構62a,62b,62cのベース板58a,58b,58c(図4(B)参照)が載せられており、各圧電アクチュエータ56a,56b,56cを作動させると、ベース板58a,58b,58cが昇降する。 Piezoelectric actuators 56a, 56b, and 56c are electrically connected to a control unit (not shown) of the grinding device 2, and expand and contract in response to electrical signals supplied from the control unit. Base plates 58a, 58b, and 58c (see Figure 4(B)) of tilt adjustment mechanisms 62a, 62b, and 62c are placed on the upper ends of piezoelectric actuators 56a, 56b, and 56c, and when each piezoelectric actuator 56a, 56b, and 56c is operated, base plates 58a, 58b, and 58c rise and fall.
また、図4(B)は、テーブル昇降機構54a,54b,54cに支持された傾き調整機構62a,62b,62cを模式的に示す斜視図である。傾き調整機構62a,62b,62cは、ベース板58a,58b,58cの上面に一直線上に並ばない3つの圧電アクチュエータ64a,64b,64cを備える。この3つの圧電アクチュエータ64a,64b,64cは、研削装置2の制御ユニットに電気的に接続されており、制御ユニットから供給された電気信号に応じて伸縮する。 Figure 4(B) is a perspective view schematically showing the tilt adjustment mechanisms 62a, 62b, and 62c supported by the table lifting mechanisms 54a, 54b, and 54c. The tilt adjustment mechanisms 62a, 62b, and 62c include three piezoelectric actuators 64a, 64b, and 64c that are not aligned in a straight line on the upper surfaces of the base plates 58a, 58b, and 58c. These three piezoelectric actuators 64a, 64b, and 64c are electrically connected to the control unit of the grinding device 2 and expand and contract in response to electrical signals supplied from the control unit.
3つの圧電アクチュエータ64a,64b,64cの上端には、保持テーブル40a,40b,40cがそれぞれ載せられている。各圧電アクチュエータ64a,64b,64cを作動させて、その長さを独立に制御すると、保持テーブル40a,40b,40cの傾きを調整できる。 Holding tables 40a, 40b, and 40c are placed on the upper ends of the three piezoelectric actuators 64a, 64b, and 64c, respectively. By operating each piezoelectric actuator 64a, 64b, and 64c and independently controlling its length, the tilt of holding tables 40a, 40b, and 40c can be adjusted.
図3等には、傾き調整機構62a,62b,62cに支持された保持テーブル40a,40b,40cを模式的に示す断面図が示されている。保持テーブル40a,40b,40cは、保持面38に露出した多孔質部材42a,42b,42cと、多孔質部材42a,42b,42cを収容するテーブル枠体44a,44b,44cと、を有する。 Figure 3 and other figures show cross-sectional views of the holding tables 40a, 40b, and 40c supported by the tilt adjustment mechanisms 62a, 62b, and 62c. The holding tables 40a, 40b, and 40c have porous members 42a, 42b, and 42c exposed on the holding surface 38, and table frames 44a, 44b, and 44c that house the porous members 42a, 42b, and 42c.
また、テーブル枠体44a,44b,44cの底板には、上下に貫通した通気口66a,66b,66cが形成されている。そして、ベース板58a,58b,58cにも、上下に貫通した通気口60a,60b,60cが形成されている。通気口66a,66b,66c及び通気口60a,60b,60cの位置に制限はない。 In addition, vertically penetrating ventilation holes 66a, 66b, 66c are formed in the bottom plates of the table frames 44a, 44b, 44c. Vertically penetrating ventilation holes 60a, 60b, 60c are also formed in the base plates 58a, 58b, 58c. There are no restrictions on the positions of the ventilation holes 66a, 66b, 66c and the ventilation holes 60a, 60b, 60c.
そして、図5に示す通り、各保持テーブル40a,40b,40cに被加工物1a,1b,1cを載せ、吸引源48を作動させると、通気口60a,60b,60c及び通気口66a,66b,66cを経て被加工物1a,1b,1cに負圧を作用できる。すなわち、保持ユニット6の各保持テーブル40a,40b,40cで被加工物1a,1b,1cを吸引保持できる。 As shown in Figure 5, when workpieces 1a, 1b, and 1c are placed on each holding table 40a, 40b, and 40c and suction source 48 is activated, negative pressure is applied to workpieces 1a, 1b, and 1c through vents 60a, 60b, and 60c and vents 66a, 66b, and 66c. In other words, workpieces 1a, 1b, and 1c can be held by suction on each holding table 40a, 40b, and 40c of holding unit 6.
本実施形態に係る研削装置2では、それぞれのテーブル昇降機構54a,54b,54cを作動させて複数の保持テーブル40a,40b,40cの高さをそれぞれ独立に調整できる。図2及び図5には、互いに独立に保持テーブル40a,40b,40cの高さが調整された保持ユニット6が模式的に示されている。 In the grinding device 2 according to this embodiment, the heights of the multiple holding tables 40a, 40b, and 40c can be adjusted independently by operating the respective table lifting mechanisms 54a, 54b, and 54c. Figures 2 and 5 schematically show a holding unit 6 in which the heights of the holding tables 40a, 40b, and 40c are adjusted independently of one another.
次に、本実施形態に係る研削装置2で互いに仕上げ厚みが異なる複数の被加工物1a,1b,1cを同時に研削する方法について、図5及び図6を用いて説明する。ここで、各被加工物1a,1b,1cは、例えば、第1層3a,3b,3cと、該第1層3a,3b,3cに重なる第2層5a,5b,5cと、を有する。例えば、第1層3a,3b,3cは配線基板であり、第2層5a,5b,5cは半導体チップである。ただし、各被加工物1a,1b,1cの種別や備える層の数はこれに限定されない。 Next, a method for simultaneously grinding multiple workpieces 1a, 1b, 1c having different finished thicknesses using the grinding device 2 according to this embodiment will be described with reference to Figures 5 and 6. Here, each workpiece 1a, 1b, 1c has, for example, a first layer 3a, 3b, 3c and a second layer 5a, 5b, 5c that overlaps the first layer 3a, 3b, 3c. For example, the first layers 3a, 3b, 3c are wiring boards, and the second layers 5a, 5b, 5c are semiconductor chips. However, the type of each workpiece 1a, 1b, 1c and the number of layers provided are not limited to these.
これらの層は、厚みのばらつき有する。そして、この説明においては、被加工物1a,1b,1cを研削したときにすべての被加工物1a,1b,1cの第2層5a,5b,5cの厚みが揃うようにクリープフィード研削を実施する。 These layers vary in thickness. In this explanation, creep feed grinding is performed so that the thicknesses of the second layers 5a, 5b, and 5c of all workpieces 1a, 1b, and 1c are uniform when the workpieces 1a, 1b, and 1c are ground.
まず、各被加工物1a,1b,1cを研削装置2に搬入する前に、各被加工物1a,1b,1cの各層の厚みを厚み測定器で測定する。次に、各被加工物1a,1b,1cを保持ユニット6に搬入し、各保持テーブル40a,40b,40cに載せる。そして、吸引源48を作動させ、それぞれの保持テーブル40a,40b,40cで第1層3a,3b,3c側から被加工物1a,1b,1cを保持する。 First, before each workpiece 1a, 1b, 1c is loaded into the grinding device 2, the thickness of each layer of each workpiece 1a, 1b, 1c is measured using a thickness gauge. Next, each workpiece 1a, 1b, 1c is loaded into the holding unit 6 and placed on each holding table 40a, 40b, 40c. Then, the suction source 48 is activated, and each holding table 40a, 40b, 40c holds the workpieces 1a, 1b, 1c from the side of the first layers 3a, 3b, 3c.
そして、テーブル昇降機構54a,54b,54cを作動させ、それぞれの保持テーブル40a,40b,40cの高さを調整する。例えば、研削砥石34で複数の被加工物1a,1b,1cを研削したときにすべての被加工物1a,1b,1cの第2層5a,5b,5cの厚みが揃うようにそれぞれの保持テーブル40a,40b,40cの高さが調整される。 Then, the table lifting mechanisms 54a, 54b, and 54c are operated to adjust the height of each holding table 40a, 40b, and 40c. For example, when multiple workpieces 1a, 1b, and 1c are ground with the grinding wheel 34, the height of each holding table 40a, 40b, and 40c is adjusted so that the thicknesses of the second layers 5a, 5b, and 5c of all workpieces 1a, 1b, and 1c are uniform.
また、被加工物1a,1b,1cの第1層3a,3b,3cまたは第2層5a,5b,5cにそれぞれ厚みの不均一性が存在する場合、この不均一性により加工結果が受ける影響を低減するように被加工物1a,1b,1cの傾きが調整されてもよい。このとき、傾き調整機構62a,62b,62cを構成する複数の圧電アクチュエータ64a,64b,64cを独立に作動させて保持テーブル40a,40b,40cの傾きが調整される。 Furthermore, if there is thickness non-uniformity in the first layers 3a, 3b, 3c or second layers 5a, 5b, 5c of the workpieces 1a, 1b, 1c, the tilt of the workpieces 1a, 1b, 1c may be adjusted to reduce the effect of this non-uniformity on the processing results. In this case, the tilt of the holding tables 40a, 40b, 40c is adjusted by independently operating the multiple piezoelectric actuators 64a, 64b, 64c that make up the tilt adjustment mechanisms 62a, 62b, 62c.
図5には、高さ等が調整された保持テーブル40a,40b,40cが模式的に示されている。このとき、第2層5a,5b,5cの下端から第2層5a,5b,5cの仕上げ厚み7だけ高い高さ位置9に研削砥石54の最下端が位置付けられるように、昇降ユニット12を作動させる。ここで、各被加工物1a,1b,1cでは、第1層3a,3b,3cの厚みの差の分だけ仕上げ厚みが変わる。 Figure 5 shows a schematic of holding tables 40a, 40b, and 40c with their heights adjusted. At this time, the lifting unit 12 is operated so that the bottom end of the grinding wheel 54 is positioned at a height position 9 that is higher than the bottom end of the second layers 5a, 5b, and 5c by the finishing thickness 7 of the second layers 5a, 5b, and 5c. Here, the finishing thickness of each workpiece 1a, 1b, and 1c changes by the difference in thickness between the first layers 3a, 3b, and 3c.
さらに、スピンドル26の傾きを調整し、スピンドル26を保持ユニット6の保持面38に垂直な方向(Z軸方向)から所定の角度で傾ける。スピンドル26を傾けると、スピンドル26を回転させたときに回転移動する研削砥石34の環状軌道が傾く。この場合、研削砥石34は、該環状軌道の比較的低い位置を通る際に被加工物1を研削し、該環状軌道の比較的高い位置を通過するときには被加工物1に接触しにくくなる。これにより、被加工物1の被研削面の平坦性が向上する場合がある。 Furthermore, the tilt of the spindle 26 is adjusted so that the spindle 26 is tilted at a predetermined angle from the direction perpendicular to the holding surface 38 of the holding unit 6 (Z-axis direction). Tilting the spindle 26 tilts the circular orbit of the grinding wheel 34 that rotates when the spindle 26 is rotated. In this case, the grinding wheel 34 grinds the workpiece 1 when passing through a relatively low position on the circular orbit, and is less likely to come into contact with the workpiece 1 when passing through a relatively high position on the circular orbit. This may improve the flatness of the ground surface of the workpiece 1.
または、スピンドル26の傾きを調整し、保持ユニット6の保持面38に垂直方向(Z軸方向)にスピンドル26の向きを合わせる。この場合、スピンドル26を回転させたときに回転移動する研削砥石34の環状軌道が保持面38と平行になる。この状態において研削砥石34で被加工物1を研削すると、被加工物1の被研削面の平坦性が向上する場合がある。 Alternatively, the tilt of the spindle 26 can be adjusted to align the spindle 26 perpendicular to the holding surface 38 of the holding unit 6 (in the Z-axis direction). In this case, the circular orbit of the grinding wheel 34 that rotates when the spindle 26 is rotated becomes parallel to the holding surface 38. When the workpiece 1 is ground with the grinding wheel 34 in this state, the flatness of the ground surface of the workpiece 1 may be improved.
次に、図6に示す通り、スピンドル26を回転させて研削砥石34を環状軌道上に回転移動させ、Y軸移動機構(水平移動ユニット)を作動させて保持ユニット6を初期位置から移動させて研削砥石34の下方を通過させる。図6には、各被加工物1a,1b,1cが研削砥石34に研削されそれぞれの仕上げ厚みとなった状態で、保持ユニット6が該初期位置に戻された様子が模式的に示されている。 Next, as shown in Figure 6, the spindle 26 is rotated to rotate the grinding wheel 34 on the circular orbit, and the Y-axis movement mechanism (horizontal movement unit) is operated to move the holding unit 6 from its initial position and pass below the grinding wheel 34. Figure 6 schematically shows the state in which the holding unit 6 has been returned to its initial position after each workpiece 1a, 1b, 1c has been ground by the grinding wheel 34 to its respective finishing thickness.
より詳細には、まず、回転移動する研削砥石34が第3の被加工物1cの第2層5cに接触して第3の被加工物1cが研削される。その後、研削砥石34が第2の被加工物1bの第2層5bに接触して第2の被加工物1bが研削される。このとき、回転移動する研削砥石34が第3の被加工物1cの上を通過するときに研削砥石34が第3の被加工物1cに接触しても問題がない。 More specifically, first, the rotating grinding wheel 34 comes into contact with the second layer 5c of the third workpiece 1c, grinding the third workpiece 1c. Then, the grinding wheel 34 comes into contact with the second layer 5b of the second workpiece 1b, grinding the second workpiece 1b. At this time, there is no problem if the rotating grinding wheel 34 comes into contact with the third workpiece 1c as it passes over it.
さらにその後、研削砥石34が第1の被加工物1aの第2層5aに接触して第1の被加工物1aが研削される。このとき、回転移動する研削砥石34が第2の被加工物1bの上を通過するときに研削砥石34が第2の被加工物1bに接触しても問題がない。こうして、被加工物1a,1b,1cの上面が一端側から他端側に向かって研削砥石34によりクリープフィード研削される。 Furthermore, the grinding wheel 34 then comes into contact with the second layer 5a of the first workpiece 1a, grinding the first workpiece 1a. At this time, there is no problem if the grinding wheel 34 comes into contact with the second workpiece 1b as it passes over it. In this way, the top surfaces of the workpieces 1a, 1b, and 1c are creep feed ground by the grinding wheel 34 from one end to the other.
すなわち、本実施形態に係る研削装置2では、研削砥石34でそれぞれの保持テーブル40a,40b,40cに保持された複数の被加工物1a,1b,1cを研削することで各被加工物1a,1b,1cがそれぞれの仕上げ厚みに研削される。このとき、研削ユニット8は、保持ユニット6で保持された複数の被加工物1a,1b,1cのうち2以上を同時に研削砥石34で研削できる。 In other words, in the grinding device 2 according to this embodiment, the grinding wheels 34 grind the multiple workpieces 1a, 1b, and 1c held on the respective holding tables 40a, 40b, and 40c, thereby grinding each of the workpieces 1a, 1b, and 1c to their respective finishing thicknesses. At this time, the grinding unit 8 can simultaneously grind two or more of the multiple workpieces 1a, 1b, and 1c held by the holding unit 6 with the grinding wheels 34.
以上に説明するように、本実施形態に係る研削装置2を使用すると、仕上げ厚みの異なる複数の被加工物1を同時にクリープフィード研削する際、研削ユニット8の高さを各被加工物1で変更する必要がない。また、ある被加工物1を研削する研削砥石34が隣接する他の被加工物1に接触しても問題がないため、各保持テーブル40a,40b,40cの間に大きな隙間を確保する必要がなく、保持ユニット6を大型化する必要もない。そのため、研削装置2を大型化させる必要もない。 As explained above, when using the grinding device 2 according to this embodiment, when simultaneously creep feed grinding multiple workpieces 1 with different finish thicknesses, there is no need to change the height of the grinding unit 8 for each workpiece 1. Furthermore, because there is no problem if the grinding wheel 34 grinding one workpiece 1 comes into contact with another adjacent workpiece 1, there is no need to ensure large gaps between the holding tables 40a, 40b, and 40c, and there is no need to enlarge the holding unit 6. Therefore, there is no need to enlarge the grinding device 2.
なお、本発明は上記実施形態の記載に限定されず、種々変更して実施可能である。例えば、上記実施形態では、保持ユニット6は、各保持テーブル40a,40b,40cの高さを調整するテーブル昇降機構54a,54b,54cと、傾きを調整する傾き調整機構62a,62b,62cと、を備える場合について説明した。しかし、本発明の一態様に係る研削装置2はこれに限定されない。 The present invention is not limited to the above embodiment and can be implemented with various modifications. For example, in the above embodiment, the holding unit 6 is described as including table lifting mechanisms 54a, 54b, and 54c that adjust the height of each holding table 40a, 40b, and 40c, and tilt adjustment mechanisms 62a, 62b, and 62c that adjust the tilt. However, the grinding device 2 according to one aspect of the present invention is not limited to this.
例えば、研削装置2は、テーブル昇降機構及び傾き調整機構の機能を兼ねたテーブル調整機構68を備えてもよい。図4(C)は、テーブル調整機構68を模式的に示す斜視図である。テーブル調整機構68は、例えば、図4(C)に示される通り6つの圧電アクチュエータ70により構成される。テーブル調整機構68は、6つの圧電アクチュエータ70を独立に作動させて伸縮させることにより、保持テーブル40a,40b,40cの高さ及び傾きを同時に調整できる。 For example, the grinding device 2 may be equipped with a table adjustment mechanism 68 that combines the functions of a table lifting mechanism and an inclination adjustment mechanism. Figure 4(C) is a perspective view that schematically shows the table adjustment mechanism 68. As shown in Figure 4(C), the table adjustment mechanism 68 is composed of, for example, six piezoelectric actuators 70. The table adjustment mechanism 68 can simultaneously adjust the height and inclination of the holding tables 40a, 40b, and 40c by independently operating the six piezoelectric actuators 70 to expand and contract.
上記実施形態に係る構造、方法等は、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施できる。 The structures, methods, etc. described in the above embodiments can be modified as appropriate without departing from the scope of the present invention.
1,1a,1b,1c 被加工物
3a,3b,3c 第1層
5a,5b,5c 第2層
7 仕上げ厚み
9 高さ位置
2 研削装置
4 基台
4a 凹部
4b 防塵防滴カバー
6 保持ユニット
8 研削ユニット
10 支持部
12 昇降ユニット
14 ガイドレール
16 移動プレート
18 ボールねじ
20 パルスモータ
22 保持部材
24 スピンドルハウジング
26 スピンドル
28 ホイールマウント
30 研削ホイール
32 ホイール基台
34 研削砥石
36 枠体
38 保持面
40,40a,40b,40c 保持テーブル
42a,42b,42c 多孔質部材
44a,44b,44c テーブル枠体
46a,46b,46c 収容凹部
48 吸引源
50a,50b,50c 開閉バルブ
52 吸引路
54 研削砥石
54a,54b,54c テーブル昇降機構
56a,56b,56c 圧電アクチュエータ
58a,58b,58c ベース板
60a,60b,60c 通気口
62a,62b,62c 傾き調整機構
64a,64b,64c 圧電アクチュエータ
66a,66b,66c 通気口
68 テーブル調整機構
70 圧電アクチュエータ
REFERENCE SIGNS LIST 1, 1a, 1b, 1c Workpiece 3a, 3b, 3c First layer 5a, 5b, 5c Second layer 7 Finishing thickness 9 Height position 2 Grinding device 4 Base 4a Recess 4b Dust-proof and drip-proof cover 6 Holding unit 8 Grinding unit 10 Support portion 12 Lifting unit 14 Guide rail 16 Moving plate 18 Ball screw 20 Pulse motor 22 Holding member 24 Spindle housing 26 Spindle 28 Wheel mount 30 Grinding wheel 32 Wheel base 34 Grinding stone 36 Frame 38 Holding surface 40, 40a, 40b, 40c Holding table 42a, 42b, 42c Porous member 44a, 44b, 44c Table frame 46a, 46b, 46c Storage recess 48 Suction source 50a, 50b, 50c Opening and closing valve 52 Suction path 54 Grinding wheel 54a, 54b, 54c Table lifting mechanism 56a, 56b, 56c Piezoelectric actuator 58a, 58b, 58c Base plate 60a, 60b, 60c Ventilation port 62a, 62b, 62c Tilt adjustment mechanism 64a, 64b, 64c Piezoelectric actuator 66a, 66b, 66c Ventilation port 68 Table adjustment mechanism 70 Piezoelectric actuator
Claims (4)
該保持ユニットは、該保持面に露出した複数の収容凹部と、それぞれ該収容凹部に収容された複数の保持テーブルと、複数の該収容凹部のそれぞれに収容され該保持面に垂直な方向にそれぞれの該保持テーブルを昇降させるための複数のテーブル昇降機構と、
該保持ユニットと、該研削ユニットと、を該保持面に平行な方向に相対的に移動させる水平移動ユニットと、を備え、
該保持ユニットは、それぞれの該保持テーブルの上面に載せられた複数の該被加工物を保持でき、
それぞれの該テーブル昇降機構を作動させて複数の該保持テーブルの高さをそれぞれの該保持テーブルが保持する該被加工物の仕上げ厚みに応じてそれぞれ独立に調整し、該水平移動ユニットを作動させ該研削砥石でそれぞれの該保持テーブルに保持された複数の該被加工物の該上面を一端側から他端側に向かってクリープフィード研削することで、クリープフィード研削される前において該上面の高さが揃えられていない各被加工物をそれぞれの該仕上げ厚みにできることを特徴とする研削装置。 A grinding device comprising: a holding unit having a holding surface for holding a plurality of workpieces; a grinding unit in which grinding wheels are disposed for grinding the upper surfaces of the plurality of workpieces held by the holding unit; and a lifting unit for lifting and lowering the grinding unit in a direction perpendicular to the holding surface,
The holding unit includes a plurality of accommodating recesses exposed on the holding surface, a plurality of holding tables accommodated in the accommodating recesses , and a plurality of table lifting mechanisms accommodated in the respective accommodating recesses for lifting and lowering the respective holding tables in a direction perpendicular to the holding surface.
a horizontal movement unit that moves the holding unit and the grinding unit relatively in a direction parallel to the holding surface ,
the holding unit is capable of holding a plurality of the workpieces placed on the upper surface of each of the holding tables;
a horizontal movement unit that operates the grinding wheels to creep feed grind the upper surfaces of the workpieces held on the respective holding tables from one end to the other end, thereby enabling each of the workpieces, the upper surfaces of which are not uniform in height before creep feed grinding, to be brought to the respective finishing thicknesses.
それぞれの該保持テーブルで該第1層側から該被加工物を保持し、該研削砥石で複数の該被加工物をクリープフィード研削したときにすべての該被加工物の該第2層の厚みが揃うようにそれぞれの該保持テーブルの高さを調整し、該研削砥石で複数の該被加工物をクリープフィード研削することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の研削装置。 the workpiece has a first layer and a second layer overlying the first layer;
3. The grinding device according to claim 1, wherein each of the holding tables holds the workpiece from the first layer side, the height of each of the holding tables is adjusted so that when the plurality of workpieces are creep feed ground with the grinding wheel , the thickness of the second layer of all of the workpieces is uniform, and the plurality of workpieces are creep feed ground with the grinding wheel.
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