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JP7727340B2 - Circuit board for high frequency induction heating device - Google Patents
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JP7727340B2 - Circuit board for high frequency induction heating device - Google Patents

Circuit board for high frequency induction heating device

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JP7727340B2
JP7727340B2 JP2024129727A JP2024129727A JP7727340B2 JP 7727340 B2 JP7727340 B2 JP 7727340B2 JP 2024129727 A JP2024129727 A JP 2024129727A JP 2024129727 A JP2024129727 A JP 2024129727A JP 7727340 B2 JP7727340 B2 JP 7727340B2
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Description

本発明は、高周波誘導加熱装置用回路基板に関するものである。 The present invention relates to a circuit board for a high-frequency induction heating device.

高周波誘導加熱装置は、例えば、特許文献1に示すように回路基板のパッド部分に、電子部品を、半田付けするものとして活用されている。
すなわち、この種、高周波誘導加熱装置は、電子部品の端子を、回路基板のパッド部に、半田付けする高周波誘導加熱ヘッドと、前記パッド部に、半田を供給する、半田供給手段と、を備えた構成となっている。
また、前記高周波誘導加熱ヘッドは、磁気ギャップを有するコア体と、前記コア体に磁束を供給するコイルと、このコイルへの通電制御を行う制御手段と、を有する構成となっていた。
この高周波誘導加熱装置を用いて、電子部品の端子を回路基板のパッド部に、半田付けする場合、先ず、高周波誘導加熱ヘッドの磁気ギャップを、パッド部に移動させて、このパッド部、および、電子部品の端子を、半田の溶融温度以上に加熱し、次に、前記磁気ギャップに、半田供給手段から、半田を供給し、半田を半溶融化させ、その後、半溶融状態の半田を、前記パッド部、端子部に押圧し、この状態で、前記パッド部、端子部、半田を加熱し、半田を溶融させ、半田付けを完了させるようにしていた。
High frequency induction heating devices are used to solder electronic components to pads on circuit boards, for example, as disclosed in Patent Document 1.
That is, this type of high-frequency induction heating device is configured to include a high-frequency induction heating head that solders the terminals of electronic components to the pad portions of the circuit board, and a solder supply means that supplies solder to the pad portions.
The high frequency induction heating head has a core body having a magnetic gap, a coil for supplying magnetic flux to the core body, and control means for controlling the supply of current to the coil.
When using this high-frequency induction heating device to solder the terminals of an electronic component to the pads of a circuit board, first the magnetic gap of the high-frequency induction heating head is moved to the pads, and the pads and the terminals of the electronic components are heated to a temperature above the melting point of the solder. Next, solder is supplied to the magnetic gap from a solder supply means to semi-melt the solder, and the semi-melted solder is then pressed against the pads and terminals. In this state, the pads, terminals and solder are heated to melt the solder and complete the soldering.

特開2014-120649号公報JP 2014-120649 A

上記先行技術においては、回路基板のパッド部に、電子部品の端子をはんだ付けしているが、回路基板のスルーホールを貫通した電子部品の端子を、このスルーホール内、および、前記スルーホールの半田面側パッド、および部品側パッドに、半田付けする点については、何ら、考慮されていない。
そこで、本発明は、磁気ギャップを有するコア体を備えた高周波誘導加熱装置によって、電子部品の端子が、適切に、半田付けされる高周波誘導加熱装置用回路基板を提供することを目的とするものである。
In the above prior art, terminals of electronic components are soldered to pads on a circuit board, but no consideration is given to soldering the terminals of electronic components that pass through through holes in the circuit board to the inside of the through holes, to the pads on the solder side of the through holes, and to the pads on the component side.
Therefore, an object of the present invention is to provide a circuit board for a high-frequency induction heating device to which terminals of electronic components can be properly soldered by a high-frequency induction heating device equipped with a core body having a magnetic gap.

そして、この目的を達成するために本発明の高周波誘導加熱装置用回路基板は、磁気ギャップを有するコア体を備えた高周波誘導加熱装置によって、電子部品の端子が、前記コア体の磁気ギャップ間で加熱され、半田付けされる回路基板を備えた高周波誘導加熱装置用回路基板であって、前記回路基板は、その半田面と部品面間を貫通したスルーホールと、前記回路基板の半田面側において、前記スルーホールに電気的に導通接続された半田面側パッド、および前記回路基板の部品面側において、前記スルーホールに電気的に導通接続された部品側パッドとを備え、前記半田面側パッド、および部品側パッドで、前記高周波誘導加熱装置のコア体の磁気ギャップ方向とは直交する部分に、ビアホールエリアを設け、このビアホールエリアには、回路基板の部品面、半田面間を貫通し、半田面側パッド、および部品側パッドに熱伝導的に接続されたビアホールを設けたものである。
また、本発明の高周波誘導加熱装置用回路基板は、前記半田面側パッド、および部品側パッドであって、前記スルーホールの外側で、磁気ギャップ方向の延長線上部分に、非ビアホールエリアを設けたものである。
To achieve this object, the circuit board for a high-frequency induction heating device of the present invention is a circuit board for a high-frequency induction heating device comprising a circuit board on which terminals of electronic components are heated and soldered across the magnetic gap of a core body by a high-frequency induction heating device having a core body with a magnetic gap, the circuit board having through holes that pass through between the solder surface and component surface, solder surface side pads on the solder surface side of the circuit board that are electrically connected to the through holes, and component surface side pads on the component surface side of the circuit board that are electrically connected to the through holes, and via hole areas are provided in the solder surface side pads and component surface pads in parts that are perpendicular to the magnetic gap direction of the core body of the high-frequency induction heating device, and the via hole areas have via holes that pass through between the component surface and solder surface of the circuit board and are thermally connected to the solder surface side pads and component surface pads.
In addition, the circuit board for a high-frequency induction heating device of the present invention has the solder side pads and component side pads, which have non-via hole areas outside the through holes and on the extension line in the magnetic gap direction.

以上の様に本発明の高周波誘導加熱装置用回路基板は、回路基板の半田面と部品面間を貫通したスルーホール、前記回路基板の半田面側において、前記スルーホールに電気的に導通接続された半田面側パッド、前記回路基板の部品面側において、前記スルーホールに電気的に導通接続された部品側パッドを備え、さらに、前記半田面側パッド、および部品側パッドで、前記高周波誘導加熱装置のコア体の磁気ギャップ方向とは直交する部分に、ビアホールエリアを設け、このビアホールエリアには、回路基板の部品面、半田面間を貫通し、半田面側パッド、および部品側パッドに熱伝導的に接続されたビアホールを設けたものである。
すなわち、本発明の高周波誘導加熱装置用回路基板においては、回路基板の半田面側パッドにおいて、高周波誘導加熱装置の磁気ギャップ方向とは直交する部分に、電流密度が高いエリアが形成されるので、半田面側パッド部分の発熱を、ビアホールを介して部品側パッドに伝達し、これによって、スルーホール近傍の部品側パッド、および、スルーホール内の温度を高めるもので、これにより、半田品質が低下したり、半田時間が長くなったりするのを防止することができる。
また、半田面側パッド部分のビアホールエリア部分の熱を、ビアホールを介して部品側パッドに伝達することで、半田面側パッドのビアホールエリア部分の異常高温化が避けられ、回路基板の損傷も防止できる。
As described above, the circuit board for a high-frequency induction heating device of the present invention comprises through holes that penetrate between the solder side and component side of the circuit board, solder side pads on the solder side of the circuit board that are electrically connected to the through holes, and component side pads on the component side of the circuit board that are electrically connected to the through holes, and further comprises via hole areas in parts of the solder side pads and component side pads that are perpendicular to the magnetic gap direction of the core body of the high-frequency induction heating device, and these via hole areas have via holes that penetrate between the component side and solder side of the circuit board and are thermally conductively connected to the solder side pads and component side pads.
That is, in the circuit board for a high-frequency induction heating device of the present invention, an area of high current density is formed in the solder-side pad of the circuit board in a portion that is perpendicular to the magnetic gap direction of the high-frequency induction heating device, so that the heat generated in the solder-side pad portion is transmitted to the component-side pad via the via hole, thereby increasing the temperature of the component-side pad near the through-hole and within the through-hole, thereby preventing a deterioration in solder quality and a prolonged soldering time.
In addition, by transferring the heat from the via hole area of the solder side pad to the component side pad through the via hole, the via hole area of the solder side pad can be prevented from becoming abnormally hot, and damage to the circuit board can also be prevented.

本発明の一実施形態にかかる高周波誘導加熱の斜視図である。1 is a perspective view of a high-frequency induction heater according to an embodiment of the present invention. 同、高周波誘導加熱装置の正面図である。FIG. 同、高周波誘導加熱装置の側面図である。FIG. 同、高周波誘導加熱装置の側面図である。FIG. 同、高周波誘導加熱装置の一部を取り除いた斜視図である。FIG. 2 is a perspective view of the high-frequency induction heating device with a part removed. 同、高周波誘導加熱装置の分解斜視図である。FIG. 同、高周波誘導加熱装置の分解斜視図である。FIG. 同、高周波誘導加熱装置の高周波誘導加熱ヘッド部分の拡大斜視図である。FIG. 2 is an enlarged perspective view of a high-frequency induction heating head portion of the high-frequency induction heating device according to the first embodiment. 同、高周波誘導加熱装置の高周波誘導加熱ヘッド部分の拡大分解斜視図である。FIG. 2 is an enlarged exploded perspective view of a high-frequency induction heating head portion of the high-frequency induction heating device according to the first embodiment. 同、高周波誘導加熱装置の高周波誘導加熱ヘッド部分の拡大分解斜視図である。FIG. 2 is an enlarged exploded perspective view of a high-frequency induction heating head portion of the high-frequency induction heating device according to the first embodiment. 同高周波誘導加熱装置の正面図である。FIG. 同、高周波誘導加熱装置の側面図である。FIG. 同、高周波誘導加熱装置の拡大斜視図である。FIG. 同、高周波誘導加熱装置の拡大斜視図である。FIG. 同、高周波誘導加熱装置の拡大斜視図である。FIG. 同、高周波誘導加熱装置の拡大斜視図である。FIG. 同、高周波誘導加熱装置の拡大斜視図である。FIG. 同、高周波誘導加熱装置の拡大斜視図である。FIG. 同、高周波誘導加熱装置の拡大斜視図である。FIG. 同、高周波誘導加熱装置の制御ブロック図である。FIG. 2 is a control block diagram of the high-frequency induction heating device according to the first embodiment. 同、高周波誘導加熱装置の動作を説明する図である。4A to 4C are diagrams illustrating the operation of the high-frequency induction heating device according to the first embodiment. 同、高周波誘導加熱装置の動作を説明する図である。4A to 4C are diagrams illustrating the operation of the high-frequency induction heating device according to the first embodiment. 同、高周波誘導加熱装置の動作を説明する図である。4A to 4C are diagrams illustrating the operation of the high-frequency induction heating device according to the first embodiment. 同、高周波誘導加熱装置の動作を説明する図である。4A to 4C are diagrams illustrating the operation of the high-frequency induction heating device according to the first embodiment. 同、高周波誘導加熱装置の動作を説明する図である。4A to 4C are diagrams illustrating the operation of the high-frequency induction heating device according to the first embodiment. 同、高周波誘導加熱装置の動作を説明する図である。4A to 4C are diagrams illustrating the operation of the high-frequency induction heating device according to the first embodiment. 同、高周波誘導加熱装置の動作を説明する図である。4A to 4C are diagrams illustrating the operation of the high-frequency induction heating device according to the first embodiment. 同、高周波誘導加熱装置の動作を説明する図である。4A to 4C are diagrams illustrating the operation of the high-frequency induction heating device according to the first embodiment. 同、高周波誘導加熱装置の動作を説明するフロチャートである。4 is a flowchart illustrating the operation of the high-frequency induction heating device. 同、高周波誘導加熱装置で半田付けする回路基板の他の実施形態を示す一部平面図である。10 is a partial plan view showing another embodiment of a circuit board to be soldered by the high-frequency induction heating device of the first embodiment; FIG. 図30のA―A線断面図である。31 is a cross-sectional view taken along line A-A in FIG. 30.

以下、本発明の一実施形態を、添付図面を用いて説明する。
(実施の形態1)
本実施形態では、先ずは、高周波誘導加熱ヘッド1の構成について図1~図10を用いて説明し、他の部分の構成については、図11~図29を用いて説明する。
図1~図4において、本実施形態の高周波誘導加熱ヘッド1は、箱状の本体ケース2を備えている。
本体ケース2の上面2a、下面2b、4枚の外周面2cの、合計六面は、何れも樹脂で形成され、この本体ケース2の上面2aには、IH出力接続コネクター2Aと、2個の冷却水接続コネクター3が設けられている。
また、本体ケース2の下方には、コア体4と、このコア体4に磁束を供給するコイル5が配置されている。
本体ケース2の内部には、図5~図7に示すようにコンデンサ6が配置され、このコンデンサ6の両側には、それぞれ、コンデンサ6側から外方に向けて、電気水路接続体7、8が設けられている。
これらの電気水路接続体7、8はいずれも銅材によって形成され、当接する物品との電気的な導通が図れる構成となっている。
先ず、電気水路接続体8は、全体的な形状としてはビル状で、その内部には、上下方向に延びる水路(図示せず)が形成され、この水路の上端には、電気水路接続体8の上面において、冷却水接続コネクター3が結合されている。
また、電気水路接続体8内の水路の下端は、図7に示すように、電気水路接続体8の下部で、コンデンサ6側において水路結合部9となっている。
次に、電気水路接続体7は、全体的な形状としては板状であるが、下部の基台部10の内部には、電気水路接続体8側への横方向から、その後、下方へと延びる水路(図示せず)が形成されている。
そして、電気水路接続体7の水路で、電気水路接続体8側への端部は、図6に示すように水路結合部11となっている。
また、電気水路接続体7の水路で、下端側への端部は、図7に示すように水路結合部12となっている。
以上のような構成で、図6、図7に示す金属製のねじ13、14を用いて、左右の電気水路接続体7、8ともコンデンサ6の固定部にねじ止めすると、図5に示すように、コンデンサ6の両側に、それぞれ、電気水路接続体7、8が一体化された構成となる。
また、この一体化作業により、左右の電気水路接続体7、8とも、それぞれ、冷却水接続コネクター3、電気水路接続体8内の水路、その水路結合部9、電気水路接続体7の水路結合部11、電気水路接続体7の水路、水路結合部12への連続した水路が形成される。
前記コンデンサ6、電気水路接続体7、8の一体化物は、本体ケース2内において、図5の様に下面2b上に保持された状態となっており、冷却水接続コネクター3は、本体ケース2の上面2aの貫通孔A上に引き出された状態となっている。
また、二つの電気水路接続体7の基台部10の下面は、本体ケース2の下面2bの貫通孔B部に位置し、それによって、基台部10の下面の水路結合部12は、貫通孔Bを介して本体ケース2外に臨んだ状態となっている。
そして、二つの基台部10の下面に、図6、図7のねじ16で、コア体4と、コイル5が図5の様に結合されている。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
(Embodiment 1)
In this embodiment, first, the configuration of the high-frequency induction heating head 1 will be described with reference to FIGS. 1 to 10, and the configuration of other parts will be described with reference to FIGS. 11 to 29.
1 to 4, a high frequency induction heating head 1 of this embodiment includes a box-shaped main body case 2.
The six surfaces of the main body case 2, namely the top surface 2a, bottom surface 2b, and four outer surfaces 2c, are all formed of resin, and an IH output connection connector 2A and two cooling water connection connectors 3 are provided on the top surface 2a of the main body case 2.
Further, below the main body case 2, a core body 4 and a coil 5 for supplying magnetic flux to the core body 4 are arranged.
As shown in FIGS. 5 to 7, a capacitor 6 is disposed inside the main body case 2, and electrical waterway connectors 7 and 8 are provided on both sides of the capacitor 6, facing outward from the capacitor 6 side.
These electrical waterway connectors 7 and 8 are both made of copper material and are configured to provide electrical conduction with the articles they come into contact with.
First, the electrical waterway connector 8 has an overall building-like shape, and inside it is formed a waterway (not shown) that extends vertically, and at the upper end of this waterway, a cooling water connection connector 3 is connected on the upper surface of the electrical waterway connector 8.
7, the lower end of the water channel in the electrical water channel connector 8 forms a water channel joint 9 at the lower part of the electrical water channel connector 8 on the condenser 6 side.
Next, the electrical waterway connector 7 has an overall plate-like shape, but inside the lower base portion 10, a waterway (not shown) is formed that extends laterally toward the electrical waterway connector 8 and then downward.
The end of the water channel of the electrical water channel connector 7 on the electrical water channel connector 8 side is a water channel joint portion 11 as shown in FIG.
The water channel of the electrical water channel connector 7 has a water channel joint 12 at the end on the lower end side as shown in FIG.
With the above-mentioned configuration, when the left and right electrical waterway connectors 7, 8 are screwed to the fixing parts of the capacitor 6 using the metal screws 13, 14 shown in Figures 6 and 7, the electrical waterway connectors 7, 8 are integrated on both sides of the capacitor 6, as shown in Figure 5.
Furthermore, through this integration process, continuous water channels are formed in both the left and right electrical water channel connectors 7, 8, including the cooling water connection connector 3, the water channel within the electrical water channel connector 8, its water channel joint 9, the water channel joint 11 of the electrical water channel connector 7, the water channel of the electrical water channel connector 7, and the water channel joint 12.
The integrated capacitor 6 and electrical waterway connectors 7 and 8 are held on the lower surface 2b inside the main body case 2 as shown in Figure 5, and the cooling water connector 3 is pulled out onto the through hole A on the upper surface 2a of the main body case 2.
In addition, the undersides of the base portions 10 of the two electrical waterway connectors 7 are located in the through-hole B portion of the underside 2b of the main body case 2, so that the waterway coupling portion 12 on the underside of the base portions 10 faces outside the main body case 2 through the through-hole B.
The core body 4 and the coil 5 are connected to the underside of the two base portions 10 by screws 16 shown in FIGS. 6 and 7, as shown in FIG.

具体的に説明すると、先ず、コイル5は、内部に水路が形成された銅パイプによってU字状に形成され、その一端側と、他端は、それぞれ、銅材製の前、後のコイルベース17、18に結合されている。
前、後のコイルベース17、18は、それぞれの上辺に、ねじ16を貫通させる貫通孔が形成された水平方向のフランジ17a、18aが形成され、このフランジ17a、18aの貫通孔に、下方からねじ16を貫通させ、このねじ16を、電気水路接続体7の基台部10の下面のねじ穴に螺合させることで、前、後のコイルベース17、18は、電気水路接続体7の基台部10に結合される。
また、コイルベース17、18には、それぞれ、上下方向への水路(図示せず)が形成され、コイルベース17の水路の下端には、コイル5の一端側の水路結合部(図示せず)が連結され、コイルベース18の水路の下端には、コイル5の他端側の水路結合部(図示せず)が連結されている。
また、コイルベース17の水路の上端のフランジ17aには、図6のごとく水路結合部19が形成され、コイルベース18の水路の上端のフランジ18aには、図6のごとく水路結合部20が形成されている。
このため、二つの基台部10の下面に、図6、図7の金属製のねじ16で、コイルベース17、18を固定すると、二つの基台部10の下面の水路結合部12に、コイルベース17、18の水路結合部19、20が、それぞれ、別々にゴムパッキン15を介して連結されることになる。
なお、水路結合部9、11間にも、例えば、図7に示すようなゴムパッキン15が介在され、水漏れを防ぐ構造となっている。
以上の構成とすることで、一方の冷却水接続コネクター3から、例えば、25℃の冷却水を流し込むと、その冷却水は、一方の電気水路接続体8内の水路、水路結合部9、一方の電気水路接続体7の水路結合部11、一方の電気水路接続体7内の水路、水路結合部12、コイルベース17の水路結合部19、コイルベース17の水路、コイル5の一端側の水路結合部、コイル5の水路、コイル5の他端側の水路結合部、コイルベース18の水路、コイルベース18の水路結合部20、他方の電気水路接続体7の水路結合部12、他方の電気水路接続体7の水路、他方の電気水路接続体8内の水路、他方の冷却水接続コネクター3へと流れて、そのご、本体ケース2外の冷却部で冷却され、再び、上記一方の冷却水接続コネクター3へと循環される。
なお、コイルベース17、18間は、樹脂製の絶縁板21を介して重ね合わせ、しかも、これら両者を結合するねじ22は樹脂製で、絶縁性であるので、コイルベース17、18間における短絡的な電気的導通は起きない。
また、図5に示す、IH出力接続コネクター2Aの一端子と、一方の電気水路接続体8の端子部23は配線(図面の煩雑化を避けるために図示せず)で接続され、また、IH出力接続コネクター2Aの他端子と、他方の電気水路接続体8の端子部24は配線(図面の煩雑化を避けるために図示せず)で接続されている。
また、コンデンサ6と電気水路接続体7、8も上記金属製のねじ13、14による一体化で、電気的に接続された状態となっている。
さらに、コンデンサ6、電気水路接続体7、8、コイルベース17、18、コイル5も、電気的に接続された状態となっている。
つまり、IH出力接続コネクター2Aからの電源供給を行うと、コンデンサ6とコイル5による共振が発生し、この共振電流が、コイル5に供給され、磁束が発生する状態となる。
To be more specific, the coil 5 is formed in a U-shape using a copper pipe with a water channel formed inside, and one end and the other end are connected to front and rear coil bases 17 and 18 made of copper, respectively.
The front and rear coil bases 17, 18 are each formed on their upper edges with horizontal flanges 17a, 18a with through holes for passing screws 16 through. The front and rear coil bases 17, 18 are joined to the base part 10 of the electrical-waterway connector 7 by passing the screws 16 through the through holes of the flanges 17a, 18a from below and threading the screws 16 into the threaded holes on the underside of the base part 10 of the electrical-waterway connector 7.
In addition, each of the coil bases 17 and 18 has a water passage (not shown) formed in the vertical direction, and the lower end of the water passage in the coil base 17 is connected to a water passage joint (not shown) on one end side of the coil 5, and the lower end of the water passage in the coil base 18 is connected to a water passage joint (not shown) on the other end side of the coil 5.
In addition, a water channel joint 19 is formed on the flange 17a at the upper end of the water channel of the coil base 17 as shown in Figure 6, and a water channel joint 20 is formed on the flange 18a at the upper end of the water channel of the coil base 18 as shown in Figure 6.
Therefore, when the coil bases 17 and 18 are fixed to the underside of the two base portions 10 with the metal screws 16 shown in Figures 6 and 7, the water channel coupling portions 19 and 20 of the coil bases 17 and 18 are each separately connected to the water channel coupling portions 12 on the underside of the two base portions 10 via rubber gaskets 15.
In addition, a rubber packing 15 as shown in FIG. 7 is also interposed between the water channel joints 9 and 11 to prevent water leakage.
With the above configuration, when cooling water of, for example, 25°C is poured into one of the cooling water connection connectors 3, the cooling water flows through the water channel in one of the electrical water channel connectors 8, the water channel coupling part 9, the water channel coupling part 11 of one of the electrical water channel connectors 7, the water channel in one of the electrical water channel connectors 7, the water channel coupling part 12, the water channel coupling part 19 of the coil base 17, the water channel in the coil base 17, the water channel coupling part on one end of the coil 5, the water channel of the coil 5, the water channel coupling part on the other end of the coil 5, the water channel in the coil base 18, the water channel coupling part 20 of the coil base 18, the water channel coupling part 12 of the other electrical water channel connector 7, the water channel in the other electrical water channel connector 8, and the other cooling water connection connector 3, and then is cooled in the cooling part outside the main body case 2 and circulated again to the one of the cooling water connection connectors 3.
The coil bases 17 and 18 are overlapped with a resin insulating plate 21 in between, and the screws 22 that join them are made of resin and are insulating, so that no short-circuiting electrical conduction occurs between the coil bases 17 and 18.
Also, as shown in FIG. 5, one terminal of the IH output connection connector 2A and the terminal portion 23 of one of the electric waterway connectors 8 are connected by a wire (not shown in the drawing to avoid cluttering the drawing), and the other terminal of the IH output connection connector 2A and the terminal portion 24 of the other electric waterway connector 8 are connected by a wire (not shown in the drawing to avoid cluttering the drawing).
The capacitor 6 and the electrical waterway connectors 7 and 8 are also integrated with the metal screws 13 and 14 and are electrically connected.
Furthermore, the capacitor 6, the electrical waterway connectors 7 and 8, the coil bases 17 and 18, and the coil 5 are also electrically connected.
That is, when power is supplied from the IH output connector 2A, resonance occurs between the capacitor 6 and the coil 5, and this resonance current is supplied to the coil 5, generating a magnetic flux.

次に、この磁束による加熱を行うコア体4について説明する。
コア体4は、図8~図10に示すように、Cの字状の第1のサブコア体25と、逆Cの字状の第2のサブコア体26の、それぞれの一端側(上端側)を重ね合わせ、前記サブコア体25、26の他端側(下端側)間に、隙間による磁気ギャップ27を形成した構成としている。
つまり、前記コア体4は、Cの字状のサブコア体25と、逆Cの字状のサブコア体26の、それぞれの一端側(上端側)を重ね合わせることで、正面視の状態で、リング状で、リングの一部に、前記磁気ギャップ27を形成する隙間が形成された構成としている。
そして、リング状のコア体4の内部空間に、コイル5が直線状に貫通した状態となっており、これにより、コイル5で発生した磁束が、コア体4、磁気ギャップ27に流れる構成となっている。
また、前記サブコア体25、26の一端側における重合部には、サブコア体25、26を貫通する貫通孔28を設け、この貫通孔28に貫通軸としてねじ29を貫通させ、このねじ29を開閉軸として、前記磁気ギャップ27の大きさを可変する構成としている。
また、前記コア体4は、正面視の状態で、外径寸法よりも、表裏方向の板厚寸法が小さい板状とし、この板状のコア体4の表面と、裏面には、それぞれ保護板30、31を配置している。
保護板30は、Cの字状の第1のサブ保護板32と、逆Cの字状の第2のサブ保護板33の一端側(上部側)を重ね合わせるとともに、これらサブ保護板32、33の重合部には、サブ保護板32、33を貫通す貫通孔34を設け、この貫通孔34には、前記貫通軸としてねじ29が貫通する。
また、保護板31は、Cの字状の第1のサブ保護板35と、逆Cの字状の第2のサブ保護板36の一端側(上部側)を重ね合わせるとともに、これらサブ保護板35、36の重合部には、サブ保護板35、36を貫通す貫通孔37を設け、この貫通孔37には、前記貫通軸としてねじ29が貫通する。
つまり、貫通軸としてねじ29は、サブ保護板32、33の貫通孔34、次に、サブコア体25、26の貫通孔28、その後、サブ保護板35、36の貫通孔37を貫通し、U字状の熱伝導部材38のねじ穴39にねじ込まれることになる。
そして、この構成により、コア体4は、表面も裏面も、熱伝導が可能な状態で、保護板30、31で覆われた状態となっている。
また、サブ保護板32、33の上部には、サブコア体25、26の上面を覆う様に、後方への折り曲部40が形成され、そこにねじ穴41を形成している。
さらに、サブ保護板35、36の上部には、サブ保護板32、33上部の後方への折り曲げ部を覆う様に、前方への折り曲部42が形成され、そこに貫通孔43を形成している。
また、サブ保護板35、36の上部には外方への取り付け部44を設け、そこに貫通孔45を設けている。
貫通孔43は前後方向への長孔、貫通孔45は外周方向への長孔となっている。
このような構成で、保護板31、コア体4、保護板30を重ね、熱伝導部材38に保持、固定するのであるが、その方法は、一例として、先ず、保護板31、コア体4、保護板30を重ね、貫通孔34、貫通孔28、貫通孔37に棒状の治具(図示せず)を貫通させて、軸合わせをする。
次に、保護板31の上方からねじ46を、貫通孔43を介して保護板30のねじ穴41に螺合させ、これによって、コア体4を前後から、保護板30、31で挟んだ状態とする。
そして、この様に仮のユニット化されたコア体4、保護板30、31から上記棒状の治具を抜き取り、次に、図9の熱伝導部材38の保持部38aに配置し、保護板31、コア体4、保護板30の貫通孔34、貫通孔28、貫通孔37にねじ29を貫通させ、このねじ29を熱伝導部材38のねじ穴39にねじ込む。
また、ねじ47は保護板31の貫通孔45を貫通させ、熱伝導部材38のねじ穴48にねじ込む。
この状態で、磁気ギャップ27の大きさを調整し、最終的に、上記ねじ29、47を強く締め付け、これによって保護板31、コア体4、保護板30の熱伝導部材38への保持、固定が完了する。
以上の構成とすれば、熱伝導部材38に、保護板31のコア体4とは反対側の面が当接され、熱伝導部材38と保護板31間の熱伝導が行いやすい状態となる。
つまり、コイルベース18が、コイル5を冷却する冷却水で冷却されると、その低温は、銅材製の熱伝導部材38、銅材製の保護板31を介して、フェライト材よりなるコア体4の冷却にも活用されることになり、本実施形態では、連続24時間の稼働をさせても、コア体4の温度を100℃程度に抑制できることとなった。
Next, the core body 4 that performs heating by this magnetic flux will be described.
As shown in Figures 8 to 10, the core body 4 is configured by overlapping one end (upper end) of a C-shaped first sub-core body 25 and one end (upper end) of an inverted C-shaped second sub-core body 26, and forming a magnetic gap 27 between the other end (lower end) of the sub-core bodies 25, 26.
In other words, the core body 4 is configured such that, when viewed from the front, it is ring-shaped by overlapping one end (upper end) of the C-shaped sub-core body 25 and the inverted C-shaped sub-core body 26, and a gap that forms the magnetic gap 27 is formed in part of the ring.
The coil 5 passes linearly through the internal space of the ring-shaped core body 4, thereby allowing the magnetic flux generated by the coil 5 to flow through the core body 4 and the magnetic gap 27.
Furthermore, a through hole 28 penetrating the sub-core bodies 25, 26 is provided in the overlapping portion at one end side of the sub-core bodies 25, 26, and a screw 29 is inserted into this through hole 28 as a penetrating shaft, and this screw 29 is used as an opening/closing shaft to change the size of the magnetic gap 27.
The core body 4 is formed in a plate shape with a thickness dimension in the front and back directions smaller than the outer diameter dimension when viewed from the front, and protective plates 30 and 31 are arranged on the front and back surfaces of this plate-shaped core body 4, respectively.
The protective plate 30 is formed by overlapping one end (upper side) of a C-shaped first sub-protective plate 32 and an inverted C-shaped second sub-protective plate 33, and a through hole 34 is provided at the overlapping portion of these sub-protective plates 32, 33, penetrating the sub-protective plates 32, 33, and a screw 29 passes through this through hole 34 as the penetrating axis.
In addition, the protective plate 31 is formed by overlapping one end (upper side) of a C-shaped first sub-protective plate 35 and an inverted C-shaped second sub-protective plate 36, and a through hole 37 that passes through the sub-protective plates 35, 36 is provided at the overlapping portion of these sub-protective plates 35, 36, and a screw 29 passes through this through hole 37 as the through axis.
In other words, the screw 29 acts as a through shaft, passing through the through hole 34 of the sub-protective plates 32 and 33, then the through hole 28 of the sub-core bodies 25 and 26, and then the through hole 37 of the sub-protective plates 35 and 36, and is screwed into the threaded hole 39 of the U-shaped heat conduction member 38.
With this configuration, the core body 4 is covered on both the front and back surfaces with the protective plates 30 and 31 in a state where heat can be conducted.
Further, rearward bent portions 40 are formed on the upper portions of the sub-protective plates 32 and 33 so as to cover the upper surfaces of the sub-core bodies 25 and 26, and screw holes 41 are formed in the bent portions.
Furthermore, forward bent portions 42 are formed in the upper portions of the sub-protective plates 35 and 36 so as to cover the rearward bent portions of the upper portions of the sub-protective plates 32 and 33, and through holes 43 are formed therein.
Further, the sub-protective plates 35 and 36 are provided at their upper portions with outward mounting portions 44 in which through holes 45 are formed.
The through-hole 43 is a long hole extending in the front-rear direction, and the through-hole 45 is a long hole extending in the outer circumferential direction.
With this configuration, the protective plate 31, core body 4, and protective plate 30 are stacked and held and fixed to the heat conduction member 38. As an example of the method, first, the protective plate 31, core body 4, and protective plate 30 are stacked, and a rod-shaped jig (not shown) is passed through the through holes 34, 28, and 37 to align the axes.
Next, the screw 46 is threaded from above the protective plate 31 through the through hole 43 into the screw hole 41 of the protective plate 30, thereby sandwiching the core body 4 between the protective plates 30 and 31 from the front and back.
Then, the rod-shaped jig is removed from the core body 4 and protective plates 30 and 31 that have been temporarily unitized in this manner, and is then placed in the holding portion 38a of the heat conduction member 38 in Figure 9. Screws 29 are then passed through the through holes 34, 28 and 37 of the protective plate 31, core body 4 and protective plate 30, and these screws 29 are then screwed into the threaded holes 39 of the heat conduction member 38.
The screws 47 are passed through the through holes 45 of the protection plate 31 and screwed into the screw holes 48 of the heat conducting member 38 .
In this state, the size of the magnetic gap 27 is adjusted, and finally, the screws 29 and 47 are tightly tightened, thereby completing the holding and fixing of the protection plate 31, the core body 4, and the protection plate 30 to the heat conduction member 38.
With the above configuration, the surface of the protection plate 31 opposite to the core body 4 is in contact with the heat conduction member 38, facilitating heat conduction between the heat conduction member 38 and the protection plate 31.
In other words, when the coil base 18 is cooled by the cooling water that cools the coil 5, the low temperature is also used to cool the core body 4 made of ferrite material via the copper heat conduction member 38 and the copper protective plate 31, and in this embodiment, even when operated continuously for 24 hours, the temperature of the core body 4 can be kept at around 100°C.

本実施形態の高周波誘導加熱ヘッドは、磁気ギャップ27部分において、回路基板のパッドに、電子部品の端子部を半田付けするものであり、このような、半田付け作業が24時間連続で行えるという事は、生産性を飛躍的に高めることが出来るものとなる。
また、本実施形態では、保護板30、31は、前記コア体4よりも比透磁率が低く、かつ、前記コア体4よりも電気抵抗値が低い金属材によって構成した。
具体的には、コア体4はフェライト材により形成し、前記保護板30、31は銅材、あるいはアルミニウム材により形成した。
コア体4を構成するフェライト材の比透磁率が50~5000であるのに対して、保護板30、31を銅材やアルミニウム材で構成した場合は、その比透磁率は略1であるので、コア体4を流れる磁束は、専らコア体4内を流れ、保護板30、31へと漏洩することは少ない。
しかしながら、本実施形態では、コイル5に100A程度の大きな電流を流すので、漏れ磁束が磁気ギャップ27を流れる磁束量に比較して十分に少なくても、コア体4近傍の構成体を十分に加熱、高温化させてしまうこともある。
これに対して本実施形態では、コア体4から漏れ出した磁束は、前記コア体4よりも比透磁率が低い保護板30、31を通過し、また、この保護板30、31は、前記コア体4よりも電気抵抗値が低い金属材によって構成したものであるので、前記磁束の通過により、渦電流が流れ、この渦電流で、前記保護板30、31を通過する磁束とは反対方向の磁束を発生させ、その結果として、前記コア体4から保護板30、31を介して漏れ出す磁束量が減少し、これによって、近傍の他の構成体を不用意に加熱することが無くなる。
実験によれば、磁気ギャップ27から4mm離れた位置における不用意な加熱を20%減少、8mm離れた位置における不用意な加熱を40%減少させることが出来た。
これにより、本来は加熱するものではない物品が、コア体4からの磁束で不用意に加熱され、それが劣化することが無くなる。
また、磁気ギャップ27近傍で、本来は加熱する予定の無い物品が、磁束によって不用意に加熱されないので、加熱作業の自由度が向上し、生産性も高まる。
また、漏れ磁束が減少するという事は、磁気ギャップ27の磁束が増加するという事でもあり、加熱効率を高めることもできる。
なお、保護板30、31を銅材で形成した場合、その電気抵抗値は、1.68×10-8Ωm、また、保護板30、31をアルミニウム材で形成した場合、その電気抵抗値は、2.83×10-8Ωmで、フェライト材が略絶縁性であるのに対して、極めての電気抵抗値が小さいものである。
また、前記コア体4の外形と、前記保護板30、31の外形を、略同一として、このコア体4の正面と、裏面を保護板30、31で覆ったので、コア体4に、直接的に、他の物品が衝突するのを保護板30、31で保護することが出来、この結果として、コア体4の損傷を抑制することが出来る。
つまり、コア体4は、フェライトで構成されるので、他の物品の衝突や、コア体4自身の落下により損傷を受けやすいものであるが、前記コア体4の外形と、前記保護板30、31の外形を、略同一として、このコア体4の正面と、裏面を保護板30、31で覆えば、コア体4に、直接的に、他の物品が衝突するのを保護板30、31で保護することが出来、この結果として、コア体4の損傷を抑制することが出来るのである。
また、前記保護板31を銅材で形成した場合の熱伝導は、403W/m・K、アルミニウム材により形成した場合の熱伝導は、236W/m・Kと熱伝導度の良いものであるので、上記コイル5を冷却水で冷却すると、保護板31を介してコア体4を十分に冷却することが出来るが、コア体4と前記保護板31間には、例えばシリコーン系グリス等の熱伝導性グリスを介在させると、さらに冷却効果を高めることができる。
なお、上記実施形態では、コア体4を水冷する例を示したが、コア体4を空冷する構成としても良い。
例えば、熱伝導部材38、保護板30、31に空冷用の送風を行っても良い。
また、そのために熱伝導部材38、保護板30、31に放熱フィンを設けても良い。
The high frequency induction heating head of this embodiment solders the terminals of electronic components to the pads of the circuit board in the magnetic gap 27 area, and the fact that this soldering work can be performed continuously for 24 hours a day dramatically increases productivity.
In this embodiment, the protection plates 30 and 31 are made of a metal material that has a lower relative magnetic permeability than the core body 4 and a lower electrical resistance than the core body 4 .
Specifically, the core body 4 is made of a ferrite material, and the protection plates 30 and 31 are made of a copper material or an aluminum material.
The relative permeability of the ferrite material that makes up the core body 4 is 50 to 5000, whereas when the protective plates 30 and 31 are made of copper or aluminum, the relative permeability is approximately 1. Therefore, the magnetic flux that flows through the core body 4 flows solely within the core body 4 and rarely leaks to the protective plates 30 and 31.
However, in this embodiment, a large current of about 100 A is passed through the coil 5, so even if the leakage magnetic flux is sufficiently small compared to the amount of magnetic flux flowing through the magnetic gap 27, it may still cause the components near the core body 4 to be sufficiently heated and reach a high temperature.
In contrast, in this embodiment, the magnetic flux leaking from the core body 4 passes through the protective plates 30, 31, which have a lower relative magnetic permeability than the core body 4. Furthermore, since these protective plates 30, 31 are made of a metal material with a lower electrical resistance than the core body 4, the passage of the magnetic flux causes eddy currents to flow, and these eddy currents generate magnetic flux in the opposite direction to the magnetic flux passing through the protective plates 30, 31. As a result, the amount of magnetic flux leaking from the core body 4 through the protective plates 30, 31 is reduced, thereby preventing other nearby components from being inadvertently heated.
According to an experiment, it was possible to reduce inadvertent heating at a position 4 mm away from the magnetic gap 27 by 20%, and to reduce inadvertent heating at a position 8 mm away by 40%.
This prevents an article that is not intended to be heated from being accidentally heated by the magnetic flux from the core body 4 and from being deteriorated.
Furthermore, since articles that are not intended to be heated in the vicinity of the magnetic gap 27 are not inadvertently heated by the magnetic flux, the degree of freedom in the heating operation is improved, and productivity is also increased.
Furthermore, the reduction in leakage flux also means that the magnetic flux in the magnetic gap 27 increases, which can improve the heating efficiency.
When the protective plates 30 and 31 are made of copper, the electrical resistance is 1.68×10 −8 Ωm. When the protective plates 30 and 31 are made of aluminum, the electrical resistance is 2.83×10 −8 Ωm. These are extremely small electrical resistance values compared to the ferrite material, which is substantially insulating.
Furthermore, the outer shape of the core body 4 and the outer shapes of the protective plates 30, 31 are made substantially the same, and the front and back surfaces of the core body 4 are covered with the protective plates 30, 31, so that the protective plates 30, 31 can protect the core body 4 from being directly hit by other objects, and as a result, damage to the core body 4 can be suppressed.
In other words, since the core body 4 is made of ferrite, it is susceptible to damage when struck by other objects or when the core body 4 itself falls. However, if the outer shape of the core body 4 and the outer shape of the protective plates 30, 31 are made approximately the same and the front and back of the core body 4 are covered with the protective plates 30, 31, the protective plates 30, 31 can protect the core body 4 from being directly struck by other objects, and as a result, damage to the core body 4 can be suppressed.
Furthermore, when the protective plate 31 is made of copper, the thermal conductivity is 403 W/m·K, and when it is made of aluminum, the thermal conductivity is 236 W/m·K, which is a good thermal conductivity. Therefore, when the coil 5 is cooled with cooling water, the core body 4 can be sufficiently cooled through the protective plate 31, but the cooling effect can be further enhanced by placing a thermally conductive grease such as silicone grease between the core body 4 and the protective plate 31.
In the above embodiment, the core body 4 is water-cooled, but the core body 4 may be air-cooled.
For example, air may be blown to the heat conducting member 38 and the protection plates 30 and 31 for cooling.
For this purpose, the heat conducting member 38 and the protection plates 30 and 31 may be provided with heat dissipation fins.

以上の説明は、高周波誘導加熱ヘッド1を構成するコア体4、コイル5などを中心に説明を行ったが、本実施形態の高周波誘導加熱装置は、前記高周波誘導加熱ヘッド1以外に、図11~図29に示す半田供給装置の一例としての、糸半田供給装置49、および、温度測定手段の一例として放射温度計50、51を備えている。
なお、図11~図29は、図1~図10に示したものと同一のものであるが、糸半田供給装置49、放射温度計50、51を中心に説明するので、図面の煩雑化を避けるため、図1~図10で説明した一部の符号は、あえて、付与していない。
先ず、本実施形態の高周波誘導加熱装置は、図11~図20に示すように、高周波誘導加熱ヘッド1以外に、半田供給装置の一例としての、糸半田供給装置49、温度測定手段の一例として放射温度計50、51を設けている。
図15に示す回路基板52は、例えば搬送手段の一例として用いたXYΘテーブル(図示せず)によって高周波誘導加熱ヘッド1部分に、搬送される。
回路基板52は、図17、図18、図21に示すように、この回路基板52を貫通したスルーホール52a(内面には導電膜が存在している)と、前記回路基板52の半田面側(本実施形態では、図17、図18、図21の上面側)において、前記スルーホール52aに電気的に導通された半田面側パッド53a、前記回路基板52の部品面側(本実施形態では、図17、図18、図21の下面側)において、前記スルーホール52aに電気的に導通された部品面側パッド53bと、を備えている。
また、回路基板52の部品面側には、トランスなどの電子部品(図示せず)が実装され、その端子54が、スルーホール52aを部品面側(下面側)から半田面側(上面側)へと貫通し、回路基板52の半田面側(上面側)に突出されている。
この端子54は、図21に示すように、高周波誘導加熱ヘッド1の磁気ギャップ27間に移動され、この状態で、半田面側パッド53a、部品側パッド53b、スルーホール52a部分に、半田付けされる。
つまり、回路基板52の半田面側(上面側)に突出されている端子54部分は、サブコア体25、26によって形成される磁気ギャップ27部分において、これらのサブコア体25、26とは、所定間隔を置いて、左右に挟まれた状態となる。
その状態で、スルーホール52aの上方に突出した端子54の上端部分の温度を測定するのが、図11~図20に示す放射温度計50である。
この放射温度計50は本発明における第1の温度検出手段に該当する。
また、半田面側パッド53a部分、および、この半田面側パッド53aに近接する端子54の温度を測定するのが放射温度計51である。
この放射温度計51は本発明における第2の温度検出手段に該当する。
また、これらの放射温度計50、51は図20のごとく制御手段の一例としての制御部55に接続されている。
制御部55にはタイマ56、メモリ57(図29のプログラム等を内蔵)、電源部58も接続され、電源部58にコイル5とコンデンサ6が接続された状態となっている。
なお、糸半田供給装置49は、図15に示すように、保持手段59によって、熱伝導部材38に保持させており、図21~図24に示すように、磁気ギャップ27部に位置する端子54部分に、糸半田供給装置49から適切に糸半田49aが供給されるようにしている。
ここで、スルーホール52aを半田面側に突出した端子54への糸半田供給装置49からの糸半田49a供給位置と、放射温度計50による温度検出位置の関係について説明すると、糸半田供給装置49は、放射温度計50による温度検出部分よりも半田面側パッド53a側の端子54部分に、糸半田49a供給する構成としている。
つまり、放射温度計50は溶融する糸半田49a部分の影響を受けずに、端子54部分の温度を検出するようにしている。
一方、放射温度計51は半田面側パッド53a部分、および、この半田面側パッド53aに近接する端子54の温度を測定するように設定しているので、糸半田49a溶融状態に影響を受ける状態で、温度を検出するようになっている。
The above explanation has focused on the core body 4, coil 5, etc. that constitute the high-frequency induction heating head 1, but the high-frequency induction heating device of this embodiment also includes, in addition to the high-frequency induction heating head 1, a wire solder supply device 49 as an example of a solder supply device shown in Figures 11 to 29, and radiation thermometers 50, 51 as examples of temperature measuring means.
Although Figures 11 to 29 are the same as those shown in Figures 1 to 10, the explanation will focus on the wire solder supply device 49 and the radiation thermometers 50 and 51, and therefore, in order to avoid complicating the drawings, some of the symbols explained in Figures 1 to 10 have not been added.
First, as shown in Figures 11 to 20, the high-frequency induction heating device of this embodiment is provided with, in addition to the high-frequency induction heating head 1, a wire solder supply device 49 as an example of a solder supply device, and radiation thermometers 50 and 51 as examples of temperature measuring means.
The circuit board 52 shown in FIG. 15 is transported to the high frequency induction heating head 1 by, for example, an XYΘ table (not shown) used as an example of transport means.
As shown in Figures 17, 18, and 21, the circuit board 52 includes through holes 52a (having a conductive film on the inner surface) penetrating the circuit board 52, solder surface side pads 53a electrically connected to the through holes 52a on the solder surface side of the circuit board 52 (the upper surface side in Figures 17, 18, and 21 in this embodiment), and component surface side pads 53b electrically connected to the through holes 52a on the component surface side of the circuit board 52 (the lower surface side in Figures 17, 18, and 21 in this embodiment).
In addition, electronic components such as a transformer (not shown) are mounted on the component side of the circuit board 52, and their terminals 54 penetrate the through holes 52a from the component side (lower side) to the solder side (upper side) and protrude onto the solder side (upper side) of the circuit board 52.
As shown in FIG. 21, this terminal 54 is moved into the magnetic gap 27 of the high frequency induction heating head 1, and in this state is soldered to the solder surface side pad 53a, the component side pad 53b and the through hole 52a.
In other words, the terminal 54 portion protruding from the solder surface side (top surface side) of the circuit board 52 is sandwiched between the sub-core bodies 25 and 26 at a predetermined distance in the magnetic gap 27 portion formed by the sub-core bodies 25 and 26.
In this state, the radiation thermometer 50 shown in FIGS. 11 to 20 measures the temperature of the upper end portion of the terminal 54 protruding above the through hole 52a.
The radiation thermometer 50 corresponds to the first temperature detecting means in the present invention.
A radiation thermometer 51 measures the temperature of the solder surface side pad 53a and the terminal 54 adjacent to the solder surface side pad 53a.
The radiation thermometer 51 corresponds to the second temperature detecting means in the present invention.
As shown in FIG. 20, these radiation thermometers 50 and 51 are connected to a control unit 55, which is an example of a control means.
The control unit 55 is also connected to a timer 56, a memory 57 (containing the program shown in FIG. 29, etc.), and a power supply unit 58, which is connected to the coil 5 and the capacitor 6.
As shown in Figure 15, the solder wire supply device 49 is held on the heat conduction member 38 by a holding means 59, and as shown in Figures 21 to 24, the solder wire supply device 49 is configured to appropriately supply solder wire 49a to the terminal 54 portion located in the magnetic gap 27.
Here, we will explain the relationship between the supply position of the solder thread 49a from the solder thread supply device 49 to the terminal 54 protruding from the through hole 52a toward the solder surface side and the temperature detection position by the radiation thermometer 50.The solder thread supply device 49 is configured to supply the solder thread 49a to the terminal 54 portion that is closer to the solder surface side pad 53a than the temperature detection portion by the radiation thermometer 50.
In other words, the radiation thermometer 50 detects the temperature of the terminal 54 without being affected by the melting wire solder 49a.
On the other hand, the radiation thermometer 51 is set to measure the temperature of the solder surface side pad 53a and the terminal 54 close to this solder surface side pad 53a, so that it detects the temperature in a state that is affected by the melting state of the wire solder 49a.

この状態は、下記にて詳細に説明する。
なお、放射温度計50、51は、他の保持手段によって、本体ケース2に保持させているが、図面の煩雑化を避けるために、その保持手段は図示していない。
以上の構成において、XYΘテーブル(図示せず)によって回路基板52が搬送され、図17、図21のように、その端子54が磁気ギャップ27部分に配置されると、予備加熱として、コイル5への電源供給が開始され(図29のS1)、放射温度計50、51による温度測定も開始される(図29のS2)。
なお、図29に示したフロー図では放射温度計50を放射温度計1、放射温度計51を放射温度計2と表示してある。
また、端子をピンと表示してある。
この予備加熱(図27の期間A)では、例えば105A、130Wで、加熱が行われる。
放射温度計50は、図17~図19に示すように、スルーホール52aを、回路基板52の半田面側に突出した端子54の上端部分の温度を測定している。
また、放射温度計51は、図17~図19に示すように、半田面側パッド53a部分、半田面側パッド53a部分近傍の端子54部分の温度を測定している。
まず、放射温度計50による測定温度(端子54の上端部分の温度)が、糸半田49aを十分に溶融させることが出来る半田溶融温度(例えば300℃)を超えているか、否かの判定が行われる(図29のS3)。
なお、今回使用する糸半田49aの溶融温度は図27の様に約220℃のものを使用している。
したがって、上記半田溶融温度(例えば300℃)であれば、糸半田49aを十分に溶融することが出来る。
放射温度計50で検出した端子54の上端部分の温度が300℃を超えていなければ、次に、放射温度計51による検出温度(半田面側パッド53a、その近傍の端子54部分の温度)が過熱閾値温度(例えば350℃)を超えているか、否かの判定が行われる(図29のS4)。
放射温度計51による検出温度(半田面側パッド53a、その近傍の端子54部分の温度)が過熱閾値温度(例えば350℃)を超えていなければ(図29のS3)に戻って予備加熱が継続される。
図27の(期間A)は、この予熱状態における放射温度計50で検出した端子54の上端部分の温度(E線)と、この予熱状態における放射温度計51で検出した半田面側パッド53a、その近傍の端子54部分の温度(F線)を示している。
これらの(E線)と(F線)から理解されるように、予備加熱(図27の期間A)において、時間経過とともに、徐々に温度上昇が起きるが、端子54は磁気ギャップ27間で加熱されるので、半田面側パッド53a、その近傍の端子54部分よりも温度上昇スピードが速くなっている。
なお、(図29のS4)において、放射温度計51による検出温度(半田面側パッド53a部分、その近傍の端子54部分の温度)が、過熱閾値温度(例えば350℃)を超えていれば、コイル5への電源供給を停止させる(図29のS5)。
また、(図29のS3)において、端子54の上端部分の温度が、糸はんだ49aを十分に溶融させることが出来る300℃を超えると、次に、放射温度計50による検出温度(端子54の上端部分の温度)が、過熱閾値温度(例えば350℃)を超えているか、否かの判定が行われる(図29のS6)。
(図29のS6)において、端子54の上端部分の温度が過熱閾値温度(例えば350℃)を超えていると、コイル5への電源供給を停止させる(図29のS7)。
(図29のS6)において、端子54の上端部分の温度が過熱閾値温度(例えば350℃)を超えていなければ、次に、放射温度計51による検出温度(半田面側パッド53a部分、その近傍の端子54部分の温度)が、過熱閾値温度(例えば350℃)を超えているか、否かの判定が行われる(図29のS8)。
(図29のS8)において、放射温度計51による検出温度(半田面側パッド53a部分、その近傍の端子54部分の温度)が、過熱閾値温度(例えば350℃)を超えていれば、コイル5への電源供給を停止させる(図29のS9)。
(図29のS8)において、放射温度計51による検出温度(半田面側パッド53a部分、その近傍の端子54部分の温度)が、過熱閾値温度(例えば350℃)を超えていなければ、図21から図22の様に、糸半田供給装置49による糸半田49aの供給を開始し(図27の期間B)、また、本加熱として、コイル5への出力を150A、270Wへと変更(出力アップ)する(図29のS10)。
すなわち、糸半田供給装置49から糸はんだ49aを、端子54の磁気ギャップ27部分に、予め設定した量だけ供給する。
端子54部に供給された糸半田49aは、端子54の熱で溶融し、図23の様に、半田面側パッド53a部分で球状となり、次に、図24のようにスルーホール52a内へと流動、流入することになる。
なお、図22は、図27の(期間Bポイント)、図23は図27の(本加熱期間Caの図23ポイント時の状態)、図24は(本加熱期間Cbの図24ポイント時の状態)を示している。
つまり、図22は、糸半田供給装置49からの糸はんだ49a供給開始時点を示し、放射温度計50による検出温度(端子54の上端部分の温度)は310℃に到達しているが、放射温度計51による検出温度(半田面側パッド53a部分、その近傍の端子54部分の温度)は200℃となっている。
また、参考までに、部品面側パッド53bの検出温度(他の温度検出手段を使用し、参考までに測定)は150℃となっている。
端子54の上端部分の温度が310℃に到達しているのは、端子54が磁気ギャップ27間で集中的に加熱されているからで、それに比べ、半田面側パッド53a部分、その近傍の端子54部分の検出温度が200℃と低いのは、磁気ギャップ27部に比べると磁束密度が低いからである。
さらに、部品面側パッド53bでは、磁気ギャップ27部に比べるとさらに、磁束密度が低く、主として、スルーホール52aを通じての熱伝導で温度上昇が起きているからである。
また、図23は、糸半田供給装置49からの糸はんだ49a供給が開始され、本加熱状態となっており、放射温度計50による検出温度(端子54の上端部分の温度)は310℃を維持し、放射温度計51による検出温度(半田面側パッド53a部分、その近傍の端子54部分の温度)は155℃となっている。
また、部品面側パッド53bの検出温度は160℃となっている。
端子54の上端部分の温度が310℃で維持されているのは、本加熱状態であるからで、それに比べ、半田面側パッド53a部分、その近傍の端子54部分は155℃まで低下している。
これは半田面側パッド53a部分、その近傍の端子54部分の温度を検出する温度検出手段として、放射温度計51を用いたからである。
つまり、図23の様に、半田面側パッド53a部分、その近傍の端子54部分で半田が溶融状態になると、溶融した半田により、温度検出部分からの温度放射状態が低下すること、および、溶融した半田が半田面側パッド53aに触れることで、回路基板52側へと熱伝導が起こることが理由で、結論として、放射温度計51による検出温度(半田面側パッド53a部分、その近傍の端子54部分の温度)は、図27のF線のように徐々に低下することになる。
また、部品面側パッド53bの検出温度が160℃と僅かながら上昇しているのは、スルーホール52aを通じての熱伝導が進んだからである。
また、図24は、糸半田供給装置49からの糸はんだ49a供給、および本加熱状態が継続されている状態で、放射温度計50による検出温度(端子54の上端部分の温度)は310℃を維持し、放射温度計51による検出温度(半田面側パッド53a部分、その近傍の端子54部分の温度)は95℃となっている。
また、部品面側パッド53bの検出温度は180℃となっている。
端子54の上端部分の温度が310℃で維持されているのは、本加熱状態であるからで、それに比べ、半田面側パッド53a部分、その近傍の端子54部分は95℃まで低下している。
This condition is explained in more detail below.
The radiation thermometers 50 and 51 are held in the main body case 2 by other holding means, but these holding means are not shown in order to avoid complicating the drawing.
In the above configuration, when the circuit board 52 is transported by the XYΘ table (not shown) and its terminal 54 is positioned in the magnetic gap 27 portion as shown in Figures 17 and 21, power supply to the coil 5 is started as preheating (S1 in Figure 29), and temperature measurement by the radiation thermometers 50 and 51 is also started (S2 in Figure 29).
In the flow chart shown in FIG. 29, the radiation thermometer 50 is represented as radiation thermometer 1, and the radiation thermometer 51 is represented as radiation thermometer 2.
Terminals are also labeled as pins.
In this preheating (period A in FIG. 27), heating is performed at 105 A and 130 W, for example.
As shown in FIGS. 17 to 19, the radiation thermometer 50 measures the temperature of the upper end portion of the terminal 54 protruding from the through hole 52 a toward the solder surface of the circuit board 52 .
As shown in FIGS. 17 to 19, the radiation thermometer 51 measures the temperature of the solder surface side pad 53a and the terminal 54 near the solder surface side pad 53a.
First, it is determined whether the temperature measured by the radiation thermometer 50 (the temperature at the upper end of the terminal 54) exceeds the solder melting temperature (e.g., 300°C) that can sufficiently melt the wire solder 49a (S3 in Figure 29).
The melting temperature of the wire solder 49a used here is about 220° C. as shown in FIG.
Therefore, at the above-mentioned solder melting temperature (for example, 300° C.), the wire solder 49a can be sufficiently melted.
If the temperature of the upper end portion of the terminal 54 detected by the radiation thermometer 50 does not exceed 300°C, then it is determined whether the temperature detected by the radiation thermometer 51 (the temperature of the solder surface side pad 53a and the terminal 54 portion nearby) exceeds the overheat threshold temperature (e.g., 350°C) (S4 in Figure 29).
If the temperature detected by the radiation thermometer 51 (the temperature of the solder surface side pad 53a and the terminal 54 portion nearby) does not exceed the overheat threshold temperature (e.g., 350°C), the process returns to (S3 in Figure 29) and preheating continues.
(Period A) in Figure 27 shows the temperature (line E) of the upper end portion of the terminal 54 detected by the radiation thermometer 50 in this preheating state, and the temperature (line F) of the solder side pad 53a and the nearby portion of the terminal 54 detected by the radiation thermometer 51 in this preheating state.
As can be seen from these (line E) and (line F), during preheating (period A in Figure 27), the temperature gradually rises over time, but because the terminal 54 is heated within the magnetic gap 27, the temperature rise speed is faster in the solder surface side pad 53a than in the terminal 54 portion nearby.
In addition, in (S4 in Figure 29), if the temperature detected by the radiation thermometer 51 (the temperature of the solder side pad 53a part and the terminal 54 part nearby) exceeds the overheat threshold temperature (e.g., 350°C), the power supply to the coil 5 is stopped (S5 in Figure 29).
Also, in S3 of Figure 29, when the temperature of the upper end portion of the terminal 54 exceeds 300°C, which is sufficient to melt the wire solder 49a, a determination is then made as to whether the temperature detected by the radiation thermometer 50 (the temperature of the upper end portion of the terminal 54) exceeds the overheat threshold temperature (e.g., 350°C) (S6 of Figure 29).
If the temperature of the upper end portion of the terminal 54 exceeds the overheat threshold temperature (for example, 350° C.) (S6 in FIG. 29), the power supply to the coil 5 is stopped (S7 in FIG. 29).
If the temperature of the upper end portion of the terminal 54 does not exceed the overheat threshold temperature (e.g., 350°C) in (S6 in Figure 29), then it is determined whether the temperature detected by the radiation thermometer 51 (the temperature of the solder surface side pad 53a portion and the terminal 54 portion nearby) exceeds the overheat threshold temperature (e.g., 350°C) (S8 in Figure 29).
In step S8 of FIG. 29, if the temperature detected by the radiation thermometer 51 (the temperature of the solder surface side pad 53a and the nearby terminal 54) exceeds the overheat threshold temperature (e.g., 350°C), the power supply to the coil 5 is stopped (step S9 of FIG. 29).
In (S8 in Figure 29), if the temperature detected by the radiation thermometer 51 (the temperature of the solder surface side pad 53a and the terminal 54 in the vicinity thereof) does not exceed the overheat threshold temperature (e.g., 350°C), as shown in Figures 21 and 22, the supply of wire solder 49a by the wire solder supply device 49 is started (period B in Figure 27), and the output to the coil 5 is changed (output increased) to 150 A and 270 W for main heating (S10 in Figure 29).
That is, a preset amount of solder wire 49 a is supplied from the solder wire supply device 49 to the magnetic gap 27 portion of the terminal 54 .
The wire solder 49a supplied to the terminal 54 melts due to the heat of the terminal 54, and becomes spherical at the solder surface side pad 53a as shown in Figure 23, and then flows and flows into the through hole 52a as shown in Figure 24.
22 shows FIG. 27 (point B in period), FIG. 23 shows FIG. 27 (state at point 23 in FIG. 23 during main heating period Ca), and FIG. 24 shows FIG. 24 (state at point 24 in FIG. 24 during main heating period Cb).
In other words, Figure 22 shows the point at which the supply of solder thread 49a from solder thread supply device 49 begins, and the temperature detected by radiation thermometer 50 (the temperature of the upper end part of terminal 54) reaches 310°C, but the temperature detected by radiation thermometer 51 (the temperature of the solder surface side pad 53a part and the terminal 54 part nearby) is 200°C.
For reference, the detected temperature of the component surface side pad 53b (measured using another temperature detection means for reference) is 150°C.
The temperature of the upper end portion of terminal 54 reaches 310°C because terminal 54 is heated intensively within magnetic gap 27. In comparison, the detected temperature of the solder surface side pad 53a and the nearby portion of terminal 54 is low at 200°C because the magnetic flux density is lower than that of the magnetic gap 27.
Furthermore, the magnetic flux density is even lower in the component surface side pad 53b than in the magnetic gap 27, and the temperature rise occurs mainly due to heat conduction through the through hole 52a.
Also, in Figure 23, the supply of solder thread 49a from the solder thread supply device 49 has started, and the heating state has been reached. The temperature detected by the radiation thermometer 50 (the temperature of the upper end part of the terminal 54) is maintained at 310°C, and the temperature detected by the radiation thermometer 51 (the temperature of the solder surface side pad 53a part and the terminal 54 part nearby) is 155°C.
The detected temperature of the component surface side pad 53b is 160°C.
The temperature of the upper end portion of the terminal 54 is maintained at 310°C because of the main heating state, whereas the temperature of the solder surface side pad 53a and the nearby portion of the terminal 54 drops to 155°C.
This is because the radiation thermometer 51 is used as a temperature detection means for detecting the temperature of the solder surface side pad 53a and the terminal 54 in the vicinity thereof.
In other words, as shown in Figure 23, when the solder becomes molten in the solder surface side pad 53a portion and the nearby terminal 54 portion, the molten solder reduces the temperature radiation from the temperature detection portion, and when the molten solder comes into contact with the solder surface side pad 53a, heat is conducted to the circuit board 52 side. As a result, the temperature detected by the radiation thermometer 51 (the temperature of the solder surface side pad 53a portion and the nearby terminal 54 portion) gradually decreases as shown by line F in Figure 27.
The detected temperature of the component surface side pad 53b is slightly increased to 160° C. because heat conduction through the through hole 52a has progressed.
Also, in Figure 24, when the supply of solder thread 49a from the solder thread supply device 49 and this heating state are continued, the temperature detected by the radiation thermometer 50 (the temperature of the upper end part of the terminal 54) is maintained at 310°C, and the temperature detected by the radiation thermometer 51 (the temperature of the solder surface side pad 53a part and the terminal 54 part nearby) is 95°C.
The detected temperature of the component surface side pad 53b is 180°C.
The temperature of the upper end portion of the terminal 54 is maintained at 310°C because of the main heating state, whereas the temperature of the solder surface side pad 53a and the nearby portion of the terminal 54 drops to 95°C.

これは、上述のごとく、半田面側パッド53a部分、その近傍の端子54部分の温度を検出する温度検出手段として、放射温度計51を用いたからである。
つまり、図24の様に、半田面側パッド53a部分、その近傍の端子54部分で半田が溶融し、スルーホール52a内に流入する状態になると、溶融した半田により、温度検出部分からの温度放射状態が低下すること、および、溶融した半田が半田面側パッド53aに触れ、スルーホール52a内に流入し、回路基板52側へと熱伝導が進むことが理由で、結論として、放射温度計51による検出温度(半田面側パッド53a部分、その近傍の端子54部分の温度)は、図27のF線のように徐々に低下することになる。
また、部品面側パッド53bの検出温度が180℃と僅かながら上昇しているのは、スルーホール52aを通じての熱伝導が進んだからである。
このような本加熱状態でも、放射温度計50による検出温度(端子54の上端部分の温度)が、過熱閾値温度(例えば350℃)を超えているか、否かの判定が継続的に行われている(図29のS11)。
(図29のS11)において、放射温度計50による検出温度(端子54の上端部分の温度)が、過熱閾値温度(例えば350℃)を超えていれば、コイル5への電源供給を停止させる(図29のS12)。
(図29のS11)において、放射温度計50による測定温度(端子54の上端部分の温度)が、過熱閾値温度(例えば350℃)を超えていなければ、本加熱が継続され、また、糸半田供給装置49による糸半田49aの供給も、予め定めた量だけが継続的に供給される。
これにより、溶融した糸はんだ49aは、図25のように、部品側パッド53b部分にまで到達する。
また、この図25に示す状態では、糸半田49aの供給も終了している。
図25の状態は、図27、図28の(期間Dの図25ポイント時の状態)を示している。
図25は、糸半田供給装置49からの糸半田49a供給が終了しているが、本加熱状態が継続されている状態で、放射温度計50による検出温度(端子54の上端部分の温度)は320℃、放射温度計51による検出温度(半田面側パッド53a部分、その近傍の端子54部分の温度)は90℃となっている。
また、部品面側パッド53bの検出温度は220℃となっている。
この図25の各部検出温度については、下記にて詳細に説明する。
図27で注目すべきは、糸半田49aの供給を開始(図27の期間B)から、(本加熱期間Ca、Cb)の間、放射温度計50による検出温度(端子54の上端部分の温度)は300℃以上となっているのに対して、放射温度計51による検出温度(半田面側パッド53a部分、その近傍の端子54部分の温度)が、200℃程度から徐々に低下していることである。
放射温度計50による検出温度(端子54の上端部分の温度)が300℃以上となっているのは、サブコア体25、26による高周波誘導加熱が継続的に行われているからである。
サブコア体25、26による高周波誘導加熱が継続的に行われていれば、放射温度計51による検出温度(半田面側パッド53a部分、その近傍の端子54部分の温度)も徐々に上昇するようにも考えられるが、実際には、放射温度計51による検出温度は、図27のF線のように徐々に低下する。
これは半田面側パッド53a部分、その近傍の端子54部分の温度を検出する温度検出手段として、放射温度計51を用いたからである。
つまり、図23、図24の様に、半田面側パッド53a部分、その近傍の端子54部分で溶融状態になると、溶融した半田により、温度検出部分からの温度放射状態が低下すること、および、溶融した半田が半田面側パッド53aに触れ、スルーホール52a内に流入することで、回路基板52側へと熱伝導が起こることの理由で、結論として、本加熱状態が継続されていても、放射温度計51による検出温度(半田面側パッド53a部分、その近傍の端子54部分の温度)は、図27のF線のように徐々に低下することになる。
しかしながら、図27、図28の(期間D)になると、下降していた放射温度計51による検出温度が上昇に転じることになる。
この状態を、図27、図28の(期間D)における図25ポイント部分を示す、図25を用いて説明する。
この図25では、糸半田49aの供給も終了、端子54に供給された半田は、半田面側パッド53aからスルーホール52a内を通り、部品面側パッド53bにも到達した状態となっている。
部品面側パッド53bは、端子54、スルーホール52a、半田を介した熱伝導により、温度上昇が続き、この図25の状態では糸半田49aの溶融温度よりも高い220℃となっている。
つまり、放射温度計51による検出温度は、図23、図24の状態では、半田面側パッド53a、スルーホール52a、部品面側パッド53bによる吸熱状態により、徐々に低下していくが、図25の状態では、部品面側パッド53bですら220℃となっているので、上記吸熱状態が起きず、その結果として、放射温度計51による検出温度が上昇へと転じることになる。
本実施形態では、放射温度計51による検出温度が上昇に転じ、0、3秒後(タイマ56で設定)には、「半田が部品面側パッド53bにも到達し、半田面側パッド53a、部品面側パッド53bに、フィレットが形成された」と判定する(図29のS13)。
なお、(図29のS13)において、上記放射温度計51による検出温度の上昇が検出されない状態では、再び(図29のS11)に戻り、本加熱が継続される。
次に、(図29のS13)で、上記放射温度計51による検出温度の上昇が検出されると、次に、放射温度計50による検出温度(端子54の上端部分の温度)が、過熱閾値温度(例えば350℃)を超えているか、否かの判定が行われる(図29のS14)。
(図29のS14)において、端子54の上端部分の温度が過熱閾値温度(例えば350℃)を超えていると、コイル5への電源供給を停止させる(図29のS15)。
また、(図29のS14)において、端子54の上端部分の温度が過熱閾値温度(例えば350℃)を超えていなければ、タイマ56で設定した仕上げ時間だけ、コイル5への電源供給を継続し、仕上げ時間が経過すると、コイル5への出力を停止する(図29のS16、S17)。
図26は図27、図28の期間Dの図26ポイントの状態である。
つまり、半田付けが完了し、コイル5への出力が停止された状態で、放射温度計50による検出温度(端子54の上端部分の温度)は330℃、放射温度計51による検出温度(半田面側パッド53a部分、その近傍の端子54部分の温度)は100℃、また、部品面側パッド53bの検出温度は230℃となっている。
そして、このような制御を行う事で、図26のように、半田面側パッド53a、部品面側パッド53bの両方に、適切なフィレットが形成されることになる。
つまり、スルーホール52aを有する回路基板52に対して電子部品の端子54を適切に半田付けすることが出来るのである。
なお、上記実施形態では、回路基板52の半田面側パッド53aを上面、部品面側パッド53bを下面として平面状態に配置し、半田付けを行ったが、半田面側パッド53aを下面、部品面側パッド53bを上面として平面状態に配置しても半田付けを行う事も出来る。
つまり、端子54で溶融した半田は、その濡れ状態、スルーホール52a部分の毛細管現象によって、半田面側パッド53a、スルーホール52a、部品面側パッド53bへと進行するので、半田面側パッド53aを下面、部品面側パッド53bを上面としても半田付けを行う事も出来る。
また、回路基板52を立てた状態でも、半田面側パッド53a、横向きのスルーホール52a、部品面側パッド53bへと溶融した半田が進行するので、この場合でも、適切な半田付けを行う事も出来る。
なお、上記実施の形態では、放射温度計51による検出温度(半田面側パッド53a部分、その近傍の端子54部分の温度)が下降傾向を示した後に、上昇に転じたことを検出すると、制御部55によって、前記コイル5への通電を停止したが、この場合に、前記コイル5への供給電力量を低下させる構成としても良い。
This is because, as described above, the radiation thermometer 51 is used as the temperature detection means for detecting the temperature of the solder surface side pad 53a and the terminal 54 in the vicinity thereof.
In other words, as shown in Figure 24, when the solder melts in the solder surface side pad 53a and the nearby terminal 54 and flows into the through hole 52a, the temperature radiation from the temperature detection part decreases due to the melted solder, and the melted solder comes into contact with the solder surface side pad 53a, flows into the through hole 52a, and heat conduction proceeds toward the circuit board 52 side. As a result, the temperature detected by the radiation thermometer 51 (the temperature of the solder surface side pad 53a and the nearby terminal 54) gradually decreases as shown by line F in Figure 27.
The detected temperature of the component surface side pad 53b is slightly increased to 180° C. because heat conduction through the through hole 52a has progressed.
Even in this heating state, a determination is continuously made as to whether the temperature detected by the radiation thermometer 50 (the temperature at the upper end of the terminal 54) exceeds the overheat threshold temperature (e.g., 350°C) (S11 in Figure 29).
If the temperature detected by the radiation thermometer 50 (the temperature at the upper end of the terminal 54) exceeds the overheat threshold temperature (e.g., 350°C) (S11 in Figure 29), the power supply to the coil 5 is stopped (S12 in Figure 29).
In (S11 in Figure 29), if the temperature measured by the radiation thermometer 50 (the temperature of the upper end part of the terminal 54) does not exceed the overheat threshold temperature (e.g., 350°C), the heating continues, and the solder wire supply device 49 continues to supply only a predetermined amount of solder wire 49a.
As a result, the molten solder wire 49a reaches the component-side pad 53b as shown in FIG.
In addition, in the state shown in FIG. 25, the supply of the wire solder 49a has also been completed.
The state of FIG. 25 shows the state of FIG. 27 and FIG. 28 (the state at the point of FIG. 25 during period D).
In Figure 25, the supply of solder wire 49a from solder wire supply device 49 has ended, but the heating state continues, and the temperature detected by radiation thermometer 50 (the temperature of the upper end part of terminal 54) is 320°C, and the temperature detected by radiation thermometer 51 (the temperature of the solder surface side pad 53a part and the terminal 54 part nearby) is 90°C.
The detected temperature of the component surface side pad 53b is 220°C.
The detected temperatures at each point in FIG. 25 will be described in detail below.
What is noteworthy in Figure 27 is that from the start of the supply of wire solder 49a (period B in Figure 27) through (main heating periods Ca and Cb), the temperature detected by radiation thermometer 50 (the temperature of the upper end portion of terminal 54) is 300°C or higher, while the temperature detected by radiation thermometer 51 (the temperature of the solder surface side pad 53a portion and the terminal 54 portion nearby) gradually decreases from around 200°C.
The temperature detected by the radiation thermometer 50 (the temperature at the upper end of the terminal 54) is 300° C. or higher because high frequency induction heating by the sub-core bodies 25 and 26 is being performed continuously.
If high-frequency induction heating by the sub-core bodies 25, 26 is performed continuously, it is thought that the temperature detected by the radiation thermometer 51 (the temperature of the solder surface side pad 53a portion and the terminal 54 portion nearby) will also gradually increase, but in reality, the temperature detected by the radiation thermometer 51 gradually decreases as shown by line F in Figure 27.
This is because the radiation thermometer 51 is used as a temperature detection means for detecting the temperature of the solder surface side pad 53a and the terminal 54 in the vicinity thereof.
In other words, as shown in Figures 23 and 24, when the solder surface side pad 53a and the nearby terminal 54 become molten, the molten solder reduces the temperature radiation from the temperature detection portion, and the molten solder comes into contact with the solder surface side pad 53a and flows into the through hole 52a, causing heat conduction to the circuit board 52 side.In conclusion, even if this heating state continues, the temperature detected by the radiation thermometer 51 (the temperature of the solder surface side pad 53a and the nearby terminal 54) will gradually decrease as shown by line F in Figure 27.
However, in (period D) in FIGS. 27 and 28, the temperature detected by the radiation thermometer 51, which had been decreasing, begins to increase.
This state will be explained with reference to FIG. 25, which shows the portion indicated by the point in FIG. 25 in (period D) of FIGS.
In FIG. 25, the supply of the wire solder 49a has also finished, and the solder supplied to the terminal 54 has passed from the solder surface side pad 53a through the through hole 52a and reached the component surface side pad 53b.
The temperature of component surface side pad 53b continues to rise due to heat conduction through terminal 54, through hole 52a and solder, and in the state shown in FIG. 25, the temperature has reached 220° C., which is higher than the melting point of wire solder 49a.
In other words, in the states of Figures 23 and 24, the temperature detected by radiation thermometer 51 gradually decreases due to the heat absorption state of solder surface side pad 53a, through hole 52a, and component surface side pad 53b, but in the state of Figure 25, even component surface side pad 53b is at 220°C, so the heat absorption state does not occur, and as a result, the temperature detected by radiation thermometer 51 begins to rise.
In this embodiment, the temperature detected by the radiation thermometer 51 starts to rise, and after 0.3 seconds (set by the timer 56), it is determined that "the solder has reached the component surface side pad 53b, and fillets have been formed on the solder surface side pad 53a and the component surface side pad 53b" (S13 in Figure 29).
In addition, in the state where an increase in the temperature detected by the radiation thermometer 51 is not detected in (S13 in FIG. 29), the process returns to (S11 in FIG. 29) again, and the main heating is continued.
Next, when an increase in the temperature detected by the radiation thermometer 51 is detected (S13 in FIG. 29), it is then determined whether the temperature detected by the radiation thermometer 50 (the temperature at the upper end of the terminal 54) exceeds the overheat threshold temperature (e.g., 350°C) (S14 in FIG. 29).
If the temperature of the upper end portion of the terminal 54 exceeds the overheat threshold temperature (for example, 350° C.) (S14 in FIG. 29), the power supply to the coil 5 is stopped (S15 in FIG. 29).
Also, in (S14 in FIG. 29), if the temperature of the upper end portion of the terminal 54 does not exceed the overheat threshold temperature (e.g., 350°C), power supply to the coil 5 continues for the finishing time set by the timer 56, and when the finishing time has elapsed, output to the coil 5 is stopped (S16 and S17 in FIG. 29).
FIG. 26 shows the state at point 26 during period D in FIGS. 27 and 28.
In other words, when soldering is completed and output to coil 5 is stopped, the temperature detected by radiation thermometer 50 (the temperature of the upper end portion of terminal 54) is 330°C, the temperature detected by radiation thermometer 51 (the temperature of solder surface side pad 53a and the nearby terminal 54 portion) is 100°C, and the temperature detected by component surface side pad 53b is 230°C.
By carrying out such control, appropriate fillets are formed on both the solder surface side pads 53a and the component surface side pads 53b, as shown in FIG.
That is, the terminals 54 of the electronic components can be properly soldered to the circuit board 52 having the through holes 52a.
In the above embodiment, the soldering was performed by arranging the solder surface pads 53a of the circuit board 52 on a flat surface with the solder surface pads 53a on the upper surface and the component surface pads 53b on the lower surface, but soldering can also be performed by arranging the solder surface pads 53a on a flat surface with the component surface pads 53b on the upper surface.
In other words, the solder melted at the terminal 54 advances to the solder surface side pad 53a, the through hole 52a, and the component surface side pad 53b due to its wet state and capillary action in the through hole 52a, so soldering can also be performed with the solder surface side pad 53a as the lower surface and the component surface side pad 53b as the upper surface.
Furthermore, even when the circuit board 52 is in an upright position, the molten solder advances to the solder surface pads 53a, the horizontal through holes 52a, and the component surface pads 53b, so that proper soldering can be performed even in this case.
In the above embodiment, when the temperature detected by the radiation thermometer 51 (the temperature of the solder surface side pad 53a and the terminal 54 in the vicinity thereof) shows a downward trend and then starts to rise, the control unit 55 stops the supply of electricity to the coil 5. However, in this case, the amount of power supplied to the coil 5 may be reduced.

(実施の形態2)
図30、図31(図30のA-A染断面図)は、上記(実施の形態1)で説明した高周波誘導加熱装置で半田付けをする回路基板60を示すものである。
この回路基板60は、半田面側パッドとなる表面側パッド61aと、部品側パッドとなる裏面側パッド61bを備えている。
また、回路基板60を貫通したスルーホール62を有し、このスルーホール62と表面側パッド61aと、裏面側パッド61bは電気的に接続されている。
また、この回路基板60の裏面側に実装される電子部品63の端子64は、スルーホール62を、裏面側パッド61b側から表面側パッド61a方向に貫通している。
そして、高周波誘導加熱装置のコア体4によって半田付けが行われる。
具体的には、コア体4の左右のサブコア体25、26間の磁気ギャップ27において、端子64がコア体4の左右のサブコア体25、26によって挟まれた状態となる。
この回路基板60の特徴は、大きな電流を流す電子部品63等が実装されるので、表面側パッド61a、裏面側パッド61bが、例えば、電子部品63の外径よりも大きいという事である。
この様に大きな表面側パッド61a、裏面側パッド61bが存在する回路基板60に対し、高周波誘導加熱装置によって電子部品63の端子64を半田付けする場合には、スルーホール62内、裏面側パッド61bの温度上昇が緩慢となり、その結果として、半田品質が低下したり、半田時間が長くなったりする。
すなわち、高周波誘導加熱装置のコア体4によって電子部品63の端子64を加熱しても、表面側パッド61a、裏面側パッド61bが大きいと、スルーホール62内、裏面側パッド61bの温度上昇が緩慢となってしまうのである。
そこで、本実施形態では、前記表面側パッド部61a、および裏面側パッド部61bで、前記高周波誘導加熱装置のコア体4の磁気ギャップ27方向とは直交する部分に、ビアホールエリア65を設け、このビアホールエリア65には、回路基板60の表裏面間を貫通し、表面側パッド部61a、および裏面側パッド部61bに熱伝導的に接続された複数のビアホール66を設けた。
また、表面側パッド部61a、および裏面側パッド部61bであって、前記スルーホール62の外側で、磁気ギャップ27方向の延長線上部分には、非ビアホールエリア67を設けた。
以上の構成とすると、スルーホール62内、このスルーホール62近傍の表面側パッド部61a、裏面側パッド部61bの温度上昇を促進することが出来るので、半田品質が低下したり、半田時間が長くなったりするのを防止できる。
(Embodiment 2)
30 and 31 (sectional view taken along line AA in FIG. 30) show a circuit board 60 to be soldered by the high frequency induction heating device described above (Embodiment 1).
The circuit board 60 has front surface pads 61a which serve as solder surface pads, and rear surface pads 61b which serve as component pads.
The circuit board 60 also has a through-hole 62 penetrating through it, and the through-hole 62 is electrically connected to the front-side pad 61a and the back-side pad 61b.
Furthermore, terminals 64 of an electronic component 63 mounted on the back side of this circuit board 60 penetrate through the through holes 62 in the direction from the back side pads 61b to the front side pads 61a.
Then, soldering is performed by the core body 4 of the high frequency induction heating device.
Specifically, in the magnetic gap 27 between the left and right sub-core bodies 25 and 26 of the core body 4 , the terminal 64 is sandwiched between the left and right sub-core bodies 25 and 26 of the core body 4 .
A feature of this circuit board 60 is that, since electronic components 63 that pass a large current are mounted on it, the front surface pads 61a and rear surface pads 61b are larger than the outer diameter of the electronic components 63, for example.
When the terminals 64 of the electronic component 63 are soldered to the circuit board 60 having such large front-side pads 61a and back-side pads 61b using a high-frequency induction heating device, the temperature rise in the through-holes 62 and back-side pads 61b becomes slow, resulting in a deterioration in solder quality and a longer soldering time.
In other words, even if the terminal 64 of the electronic component 63 is heated by the core body 4 of the high-frequency induction heating device, if the front-side pad 61a and the back-side pad 61b are large, the temperature rise in the through-hole 62 and the back-side pad 61b will be slow.
Therefore, in this embodiment, a via hole area 65 is provided in the front side pad portion 61a and the back side pad portion 61b in a portion that is perpendicular to the direction of the magnetic gap 27 of the core body 4 of the high-frequency induction heating device, and this via hole area 65 is provided with a plurality of via holes 66 that penetrate between the front and back surfaces of the circuit board 60 and are thermally connected to the front side pad portion 61a and the back side pad portion 61b.
Furthermore, non-via hole areas 67 are provided on the front surface side pad portion 61 a and the back surface side pad portion 61 b outside the through holes 62 and on the extension line in the direction of the magnetic gap 27 .
With the above configuration, it is possible to promote temperature rise in the through-hole 62 and in the front-side pad portion 61a and the back-side pad portion 61b in the vicinity of the through-hole 62, thereby preventing a deterioration in solder quality and a prolonged soldering time.

すなわち、高周波誘導加熱装置の磁気ギャップ27部分においては、端子64を通過する磁束以外に、コア体4のサブコア体25、表面側パッド部61a、回路基板60内、サブコア体26、次の瞬間には、サブコア体26、表面側パッド部61a、回路基板60内、サブコア体25へと磁束が流れ、このように、スルーホール62の両側において磁束が通過する表面側パッド部61a部分に、渦電流が流れる。
この時、スルーホール62の両側の一方では、表面側パッド部61aの上側から下側に磁束が通過し、他方では、逆に、表面側パッド部61aの下側から上側に磁束が通過し、それぞれの磁束通過部において、前記磁束通過による渦電流が発生する。
その結果、図30に示すように、磁気ギャップ27方向とは直交する部分のビアホールエリア65部においては、スルーホール62の両側において、同じ向きの渦電流68が流れることになる。
また、65aはビアホールエリア65において、電流密度が高いエリアを示しており、このエリア65aにビアホール66を設けた。
その結果、表面側パッド部61aのビアホールエリア65は他の場所よりも高い温度上昇が起きる。
そこで、本実施形態では、このビアホールエリア65に、回路基板60の表裏面間を貫通し、表面側パッド部61a、および裏面側パッド部61bに熱伝導的に接続された複数のビアホール66を設けた。
この結果、表面側パッド部61aのビアホールエリア65部分の発熱を、図31の矢印のごとく、ビアホール66を介して裏面側パッド部61bに伝達し、これによって、スルーホール62近傍の裏面側パッド部61b、スルーホール62内の温度を高め、これによって、スルーホール62内、このスルーホール62近傍の表面側パッド部61a、裏面側パッド部61bの温度上昇を促進することが出来、半田品質が低下したり、半田時間が長くなったりするのを防止できるのである。
また、表面側パッド部61aのビアホールエリア65部分の熱を、ビアホール66を介して裏面側パッド部61bに伝達することで、表面側パッド部61aのビアホールエリア65部分の異常高温化が避けられ、回路基板60の損傷も防止できる。
さらに、表面側パッド部61a、および裏面側パッド部61bであって、前記スルーホール62の外側で、磁気ギャップ27方向の延長線上部分に、非ビアホールエリア67を設けたので、コストダウンが図れるだけでなく、表面側パッド部61a、および裏面側パッド部61bの熱的負荷を不用意に大きくすることなく、上記スルーホール62近傍の表面側パッド部61a、裏面側パッド部61bの温度上昇を促進することが出来る。
なお、図31において、69は表面側パッド部61a、裏面側パッド部61bに設けたレジスト膜である。
That is, in the magnetic gap 27 portion of the high-frequency induction heating device, in addition to the magnetic flux passing through the terminal 64, magnetic flux flows through the sub-core body 25 of the core body 4, the surface side pad portion 61 a, inside the circuit board 60, the sub-core body 26, and the next moment through the sub-core body 26, the surface side pad portion 61 a, inside the circuit board 60, and the sub-core body 25. In this way, eddy currents flow in the surface side pad portion 61 a portion where magnetic flux passes on both sides of the through hole 62.
At this time, magnetic flux passes from the upper side to the lower side of the surface-side pad portion 61a on one side of the through-hole 62, and conversely, magnetic flux passes from the lower side to the upper side of the surface-side pad portion 61a on the other side, and eddy currents are generated in each magnetic flux passage portion due to the passage of the magnetic flux.
As a result, as shown in FIG. 30, in the via hole area 65 portion perpendicular to the direction of the magnetic gap 27, eddy currents 68 flow in the same direction on both sides of the through hole 62.
Also, 65a indicates an area in the via hole area 65 where the current density is high, and a via hole 66 is provided in this area 65a.
As a result, the via hole area 65 of the front surface side pad portion 61a experiences a higher temperature rise than other locations.
Therefore, in this embodiment, a plurality of via holes 66 are provided in this via hole area 65, which penetrate between the front and back surfaces of the circuit board 60 and are thermally conductively connected to the front surface pad portion 61a and the back surface pad portion 61b.
As a result, the heat generated in the via hole area 65 of the front surface side pad portion 61a is transmitted to the back surface side pad portion 61b through the via hole 66, as shown by the arrow in Figure 31, thereby increasing the temperature of the back surface side pad portion 61b near the through hole 62 and within the through hole 62, thereby accelerating the temperature rise within the through hole 62 and the front surface side pad portion 61a and back surface side pad portion 61b near this through hole 62, and preventing a deterioration in soldering quality and a prolonged soldering time.
In addition, by transferring heat from the via hole area 65 of the front surface pad portion 61a to the back surface pad portion 61b through the via hole 66, the via hole area 65 of the front surface pad portion 61a is prevented from becoming abnormally hot, and damage to the circuit board 60 is also prevented.
Furthermore, non-via hole areas 67 are provided in the front-side pad portion 61a and the back-side pad portion 61b outside the through-hole 62, on the extension line toward the magnetic gap 27. This not only reduces costs but also promotes the temperature rise of the front-side pad portion 61a and the back-side pad portion 61b near the through-hole 62 without unnecessarily increasing the thermal load on the front-side pad portion 61a and the back-side pad portion 61b.
In FIG. 31, reference numeral 69 denotes a resist film provided on the front surface pad portion 61a and the back surface pad portion 61b.

本発明に係る高周波誘導加熱装置用回路基板は、磁気ギャップで電子部品の端子を挟んで加熱する高周波誘導加熱装置を用いた半田付けにおいて、スルーホールへの半田付けが適切に行えるようになる。 The circuit board for a high-frequency induction heating device according to the present invention enables proper soldering to through holes when soldering using a high-frequency induction heating device, which heats the terminals of electronic components by sandwiching them in a magnetic gap.

1 高周波誘導加熱ヘッド
2 本体ケース
2a 上面
2b 下面
2c 外周面
2A IH出力接続コネクター
3 冷却水接続コネクター
4 コア体
5 コイル
6 コンデンサ
7 電気水路接続体
8 電気水路接続体
9 水路結合部
10 基台部
11 水路結合部
12 水路結合部
13 ねじ
14 ねじ
15 ゴムパッキン
16 ねじ
17 コイルベース
18 コイルベース
19 水路結合部
20 水路結合部
21 絶縁板
22 ねじ
23 端子部
24 端子部
25 サブコア体
26 サブコア体
27 磁気ギャップ
28 貫通孔
29 ねじ
30 保護板
31 保護板
32 サブ保護板
33 サブ保護板
34 貫通孔
35 サブ保護板
36 サブ保護板
37 貫通孔
38 熱伝導部材
39 ねじ穴
40 折り曲部
41 ねじ穴
42 折り曲部
43 貫通孔
44 取り付け部
45 貫通孔
46 ねじ
47 ねじ
48 ねじ穴
49 糸半田供給装置
50 放射温度計(放射温度計1,第1の温度検出手段)
51 放射温度計(放射温度計2,第2の温度検出手段)
52 回路基板
52a スルーホール
53a 半田面側パッド
53b 部品面側パッド
54 端子(ピン)
55 制御部
56 タイマ
57 メモリ
58 電源部
59 保持手段
60 回路基板
61a 表面側パッド(半田面側パッド)
61b 裏面側パッド(部品面側パッド)
62 スルーホール
63 電子部品
64 端子
65 ビアホールエリア
65a エリア
66 ビアホール
67 非ビアホールエリア
68 渦電流
69 レジスト膜
1 High frequency induction heating head 2 Main body case 2a Upper surface 2b Lower surface 2c Outer peripheral surface 2A IH output connection connector 3 Cooling water connection connector 4 Core body 5 Coil 6 Capacitor 7 Electrical water channel connector 8 Electrical water channel connector 9 Water channel coupling portion 10 Base portion 11 Water channel coupling portion 12 Water channel coupling portion 13 Screw 14 Screw 15 Rubber packing 16 Screw 17 Coil base 18 Coil base 19 Water channel coupling portion 20 Water channel coupling portion 21 Insulating plate 22 Screw 23 Terminal portion 24 Terminal portion 25 Sub-core body 26 Sub-core body 27 Magnetic gap 28 Through hole 29 Screw 30 Protective plate 31 Protective plate 32 Sub-protective plate 33 Sub-protective plate 34 Through hole 35 Sub-protective plate 36 Sub-protective plate 37 Through hole 38 Heat conduction member 39 Screw hole 40 Bent portion 41 Screw hole 42 Bent portion 43 Through hole 44, mounting portion 45, through hole 46, screw 47, screw 48, screw hole 49, solder wire supply device 50, radiation thermometer (radiation thermometer 1, first temperature detection means)
51 Radiation thermometer (radiation thermometer 2, second temperature detection means)
52 Circuit board 52a Through hole 53a Solder surface side pad 53b Component surface side pad 54 Terminal (pin)
55 Control unit 56 Timer 57 Memory 58 Power supply unit 59 Holding means 60 Circuit board 61a Surface side pad (solder surface side pad)
61b Back surface pad (component surface pad)
62 through hole 63 electronic component 64 terminal 65 via hole area 65a area 66 via hole 67 non-via hole area 68 eddy current 69 resist film

Claims (1)

磁気ギャップを有するコア体を備えた高周波誘導加熱装置によって、電子部品の端子が、前記コア体の磁気ギャップ間で加熱され、半田付けされる回路基板を備えた高周波誘導加熱装置用回路基板であって、
前記回路基板は、その半田面と部品面間を貫通したスルーホールと、前記回路基板の半田面側において、前記スルーホールに電気的に導通接続された半田面側パッド、および前記回路基板の部品面側において、前記スルーホールに電気的に導通接続された部品側パッドとを備え、
前記半田面側パッド、および部品側パッドで、前記高周波誘導加熱装置のコア体の磁気ギャップ方向とは直交する部分に、ビアホールエリアを設け、このビアホールエリアには、回路基板の部品面、半田面間を貫通し、半田面側パッド、および部品側パッドに熱伝導的に接続されたビアホールを設け、
記半田面側パッド、および部品側パッドであって、前記スルーホールの外側で、磁気ギャップ方向の延長線上部分に、非ビアホールエリアを設けたことを特徴とする周波誘導加熱装置用回路基板。
A circuit board for a high frequency induction heating device, the circuit board including a core body having a magnetic gap, and a terminal of an electronic component being heated and soldered in the magnetic gap of the core body by a high frequency induction heating device,
the circuit board includes a through-hole penetrating between its solder surface and component surface, a solder surface pad on the solder surface side of the circuit board that is electrically conductively connected to the through-hole, and a component surface pad on the component surface side of the circuit board that is electrically conductively connected to the through-hole;
via hole areas are provided in the solder surface side pads and component side pads at portions perpendicular to the magnetic gap direction of the core body of the high frequency induction heating device, and via holes are provided in the via hole areas that penetrate between the component surface and solder surface of the circuit board and are thermally conductively connected to the solder surface side pads and component side pads;
A circuit board for a high-frequency induction heating device, characterized in that the solder side pads and component side pads have non-via hole areas outside the through holes, on the extension line in the magnetic gap direction.
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