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JP7734604B2 - Appearance inspection support device, appearance inspection support method, and appearance inspection support program - Google Patents
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JP7734604B2 - Appearance inspection support device, appearance inspection support method, and appearance inspection support program - Google Patents

Appearance inspection support device, appearance inspection support method, and appearance inspection support program

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JP7734604B2 JP2022016336A JP2022016336A JP7734604B2 JP 7734604 B2 JP7734604 B2 JP 7734604B2 JP 2022016336 A JP2022016336 A JP 2022016336A JP 2022016336 A JP2022016336 A JP 2022016336A JP 7734604 B2 JP7734604 B2 JP 7734604B2
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Description

本開示は、外観検査支援装置、外観検査支援方法、及び外観検査支援プログラムに関する。 This disclosure relates to an appearance inspection support device, an appearance inspection support method, and an appearance inspection support program.

製品の不良の有無を検査する外観検査を支援する技術が知られている。例えば、特許文献1には、被検査部品に光を照射して、被検査部品からの反射光に基づいて不良の有無を検査する外観検査装置を利用することにより、外観検査を支援する方法が開示されている。特許文献1に開示されている技術では、被検査部品の正常箇所に光を照射した際に正反射光が撮像装置に入射するように正反射光用照明装置と撮像装置が設置され、被検査部品の不良箇所に光を照射した際に乱反射光が撮像装置に入射するように乱反射光用照明装置が設置されている。 Technologies for supporting visual inspections to check for product defects are known. For example, Patent Document 1 discloses a method for supporting visual inspections by using a visual inspection device that irradiates light onto a part to be inspected and checks for defects based on the light reflected from the part. In the technology disclosed in Patent Document 1, a specular reflection light illumination device and an imaging device are installed so that when light is irradiated onto a normal part of the part to be inspected, specular reflection light enters the imaging device, and a diffuse reflection light illumination device is installed so that when light is irradiated onto a defective part of the part to be inspected, diffuse reflection light enters the imaging device.

特開2007-271510号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2007-271510

生産ライン周辺に撮像装置及び照明装置が設置されると、設置スペースの占有によって、生産ライン全体が長大化する。外観検査としては、目視による外観検査が依然として重要視されている。ただ、目視による外観検査は、検査品質に属人性があり、未習熟な作業者では、検査の品質が低下しやすい。 When imaging and lighting devices are installed around the production line, the installation space taken up increases the length of the entire production line. Visual inspection remains important as a form of visual inspection. However, the quality of visual inspection is highly dependent on the individual, and inexperienced workers are prone to poor inspection quality.

本開示は、上記課題に鑑みてなされたものであり、生産ライン全体の長大化を抑制しつつ高品質の検査を可能とすることを目的とする。 This disclosure was made in consideration of the above issues, and aims to enable high-quality inspection while preventing the overall length of the production line from increasing.

上記目的を達成するため、本開示の外観検査支援装置は、被検査品に実施される外観検査を支援する。外観検査支援装置は、入力部と、分析部と、出力部と、第1の飛行体と、を備える。入力部は、被検査品のうちの不良品の不良箇所を示す不良箇所データを入力する。分析部は、複数の不良品の不良箇所データを分析し、不良発生件数または不良発生率が基準以上の予め設定された領域を不良が発生する傾向の高い特定の領域として設定する。出力部は、不良発生件数または不良発生率が基準以上の領域を示す情報を出力する。第1の飛行体は、出力部から不良発生件数または不良発生率が基準以上と分析された領域を示す情報が入力されるプロジェクタを有する。プロジェクタは、出力部から入力された情報に基づいて、被検査品に、予め設定された領域を指示する画像を投影する。 To achieve the above objective, the visual inspection support device disclosed herein supports visual inspections performed on products under inspection. The visual inspection support device includes an input unit, an analysis unit, an output unit, and a first flying object. The input unit inputs defect location data indicating defect locations of defective products among the products under inspection. The analysis unit analyzes the defect location data for multiple defective products and sets pre-set areas where the number of defects or the defect rate is above a standard as specific areas where defects are likely to occur. The output unit outputs information indicating the areas where the number of defects or the defect rate is above a standard. The first flying object has a projector to which information indicating the areas analyzed as having the number of defects or the defect rate above a standard is input from the output unit. The projector projects an image indicating the pre-set area onto the product under inspection based on the information input from the output unit.

本開示によれば、不良箇所データが分析され、不良発生件数または不良発生率が基準以上、即ち、不良が発生する傾向が高い領域が特定され、この領域を示す画像が、被検査品に投影される。検査者は、この画像を参考にしつつ被検査品を検査できる。従って、検査品質の属人性を抑えて、高品質の検査が可能となる。また、プロジェクタを飛行体に配置することにより、プロジェクタが占有する領域を検査場所に確保する必要がなく、外観検査用の装置を含んだ生産ライン全体の長大化の抑制を図ることができる。 According to the present disclosure, defective location data is analyzed, and areas where the number or rate of defects is above a certain standard, i.e., areas where defects are likely to occur, are identified. An image showing this area is then projected onto the product being inspected. Inspectors can refer to this image while inspecting the product being inspected. This reduces the dependency of inspection quality on individuals, enabling high-quality inspections. Furthermore, by placing the projector on the flying vehicle, there is no need to reserve an area for the projector at the inspection location, which helps prevent the overall production line, including the visual inspection equipment, from becoming too long.

実施の形態1に係る外観検査支援装置の概要を示す図FIG. 1 is a diagram showing an overview of a visual inspection support device according to a first embodiment; 実施の形態1に係る特定領域の一例を示す図FIG. 1 is a diagram showing an example of a specific region according to the first embodiment; 実施の形態1に係る被検査品に表示される注意喚起画像の一例を示す図FIG. 10 is a diagram showing an example of a warning image displayed on an inspected product according to the first embodiment; 実施の形態1に係る外観検査支援装置の構成を示すブロック図FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a visual inspection support device according to a first embodiment. 実施の形態1に係る制御装置の機能を示すブロック図A block diagram showing the functions of a control device according to a first embodiment. 実施の形態1に係る生産スケジュール記憶部の一例を示す図FIG. 1 is a diagram showing an example of a production schedule storage unit according to the first embodiment; 実施の形態1に係る機器マスタ記憶部の一例を示す図FIG. 1 is a diagram illustrating an example of a device master storage unit according to the first embodiment. 実施の形態1に係る良品画像関連データ記憶部の一例を示す図FIG. 1 is a diagram showing an example of a non-defective product image related data storage unit according to the first embodiment; 実施の形態1に係る不良品画像関連データ記憶部の一例を示す図FIG. 1 is a diagram showing an example of a defective product image related data storage unit according to the first embodiment; 実施の形態1に係る出力準備データ記憶部の一例を示す図FIG. 1 is a diagram showing an example of an output preparation data storage unit according to the first embodiment; 実施の形態1に係る入力処理を示すフロー図1 is a flowchart showing input processing according to the first embodiment; 実施の形態1に係る不良品画像の一例を示す図FIG. 1 is a diagram showing an example of a defective product image according to the first embodiment; 実施の形態1に係る良品画像の一例を示す図FIG. 1 is a diagram showing an example of a non-defective product image according to the first embodiment; 実施の形態1に係る分析処理を示すフロー図Flow diagram showing analysis processing according to the first embodiment 実施の形態1に係る出力処理を示すフロー図Flow diagram showing output processing according to the first embodiment 投影角度の一例を示す模式図。FIG. 4 is a schematic diagram showing an example of a projection angle. 投影角度の一例を示す模式図。FIG. 4 is a schematic diagram showing an example of a projection angle. 投影角度の一例を示す模式図。FIG. 4 is a schematic diagram showing an example of a projection angle. 実施の形態1の変形例に係るドローンの配置を示す模式図。FIG. 10 is a schematic diagram showing the arrangement of drones according to a modified example of the first embodiment. 実施の形態2に係る分析処理を示すフロー図Flow diagram showing analysis processing according to the second embodiment 実施の形態2に係る出力準備データ記憶部の一例を示す図FIG. 10 is a diagram showing an example of an output preparation data storage unit according to the second embodiment; 実施の形態3に係る制御装置の機能を示すブロック図A block diagram showing the functions of a control device according to a third embodiment. 実施の形態3に係る担当スケジュール記憶部の一例を示す図FIG. 10 is a diagram showing an example of a schedule storage unit according to the third embodiment. 実施の形態3に係る作業者マスタ記憶部の一例を示す図FIG. 13 is a diagram illustrating an example of a worker master storage unit according to the third embodiment. 実施の形態3に係る入力処理を示すフロー図Flow diagram showing input processing according to the third embodiment 実施の形態3に係る不良品画像関連データ記憶部の一例を示す図FIG. 10 is a diagram showing an example of a defective product image related data storage unit according to the third embodiment; 実施の形態3に係る出力処理を示すフロー図Flow diagram showing output processing according to the third embodiment 実施の形態3に係る出力準備データ記憶部の一例を示す図FIG. 10 is a diagram showing an example of an output preparation data storage unit according to the third embodiment; 実施の形態3に係る注意喚起画像の一例を示す図FIG. 10 is a diagram showing an example of an attention-calling image according to the third embodiment; 実施の形態3に係る注意喚起画像の他例を示す図FIG. 10 is a diagram showing another example of an attention-calling image according to the third embodiment; 実施の形態4に係る入力処理を示すフロー図Flow diagram showing input processing according to the fourth embodiment 実施の形態4に係る不良品画像関連データ記憶部の一例を示す図FIG. 13 is a diagram showing an example of a defective product image related data storage unit according to the fourth embodiment; 実施の形態4に係る出力準備データ記憶部の一例を示す図FIG. 13 is a diagram showing an example of an output preparation data storage unit according to the fourth embodiment. 実施の形態4に係る出力処理を示すフロー図Flow diagram showing output processing according to the fourth embodiment 実施の形態5に係る制御装置の機能を示すブロック図A block diagram showing the functions of a control device according to a fifth embodiment. 実施の形態5に係る学習処理を示すフロー図Flow diagram showing learning processing according to the fifth embodiment 実施の形態5に係る推論処理を示すフロー図Flow diagram showing inference processing according to the fifth embodiment 実施の形態5に係る改善策データ記憶部の一例を示す図FIG. 13 is a diagram showing an example of an improvement measure data storage unit according to the fifth embodiment. 実施の形態5に係る改善策データ記憶部の他例を示す図FIG. 13 is a diagram showing another example of the improvement measure data storage unit according to the fifth embodiment.

以下、本開示に係る外観検査支援装置、外観検査支援方法、及び外観検査支援プログラムの実施の形態について図面を参照して説明する。 Embodiments of the visual inspection support device, visual inspection support method, and visual inspection support program according to the present disclosure will be described below with reference to the drawings.

[実施の形態1]
図1を参照して、本実施の形態に係る外観検査支援装置100の概要について説明する。図1に示すように、外観検査支援装置100は、工場で生産される製品PRに実施される外観検査を支援する。外観検査では、作業者Pは、キズ、色むらなどの不良が製品PRにあるか否かを目視で判定する。目視の判定の際に、第1のドローンDR1に搭載されたプロジェクタ2は、製品PRの不良が発生する傾向の高い領域を示す情報に基づいて、製品PRの不良が発生する傾向の高い領域を指し示す画像を投影する。以下、外観検査の対象である製品PRを「被検査品W」といい、外観検査において不良が発見された被検査品Wを「不良品D」という。なお、製品PRは、例えば、除湿器、炊飯器、掃除機などの電化製品である。
[First Embodiment]
An overview of a visual inspection support device 100 according to this embodiment will be described with reference to FIG. 1. As shown in FIG. 1, the visual inspection support device 100 supports visual inspections of products PR produced in a factory. During the visual inspection, a worker P visually determines whether the product PR has defects such as scratches or uneven color. During the visual inspection, a projector 2 mounted on a first drone DR1 projects an image indicating areas of the product PR that are likely to have defects, based on information indicating areas of the product PR that are likely to have defects. Hereinafter, the product PR that is the subject of the visual inspection will be referred to as the "inspected product W," and an inspected product W in which a defect is found during the visual inspection will be referred to as the "defective product D." The product PR may be, for example, an electrical appliance such as a dehumidifier, rice cooker, or vacuum cleaner.

外観検査支援装置100は、不良箇所を含む領域を統計的に分析して不良が発生する確率が、基準以上の領域を特定し、その特定された領域を作業者Pに提示する。以下、不良品Dの不良箇所が存在する位置を「不良位置」といい、不良箇所を含む領域を「不良領域」という。また、不良が発生する傾向の高い領域、即ち、不良が発生する確率の高い領域として特定された領域を「特定領域」という場合がある。 The visual inspection support device 100 statistically analyzes areas containing defective parts to identify areas where the probability of defects occurring is above a certain standard, and presents these identified areas to the worker P. Hereinafter, the location of a defective part on a defective product D will be referred to as the "defective position," and the area containing the defective part will be referred to as the "defective area." Additionally, an area that is highly prone to defects occurring, i.e., an area identified as an area with a high probability of defects occurring, may also be referred to as the "specific area."

外観検査支援装置100は、プロジェクタ2を有する第1のドローンDR1と、カメラ1を有する第2のドローンDR2と、不良が発生する傾向の高い領域を特定する制御装置10を備える。第1のドローンDR1は、第1の飛行体の例、第2のドローンDR2は、第2の飛行体の例である。第1のドローンDR1は、プロジェクタ2を搭載した、例えば、バッテリー駆動のドローンである。第2のドローンDR2は、カメラ1を搭載した、例えば、バッテリー駆動のドローンである。以下、第1のドローンDR1と、第2のドローンDR2とを、それぞれ、単に「ドローンDR1」、「ドローンDR2」と呼ぶ。 The visual inspection support device 100 includes a first drone DR1 having a projector 2, a second drone DR2 having a camera 1, and a control device 10 that identifies areas where defects are likely to occur. The first drone DR1 is an example of a first aerial vehicle, and the second drone DR2 is an example of a second aerial vehicle. The first drone DR1 is, for example, a battery-powered drone equipped with a projector 2. The second drone DR2 is, for example, a battery-powered drone equipped with a camera 1. Hereinafter, the first drone DR1 and the second drone DR2 will be simply referred to as "drone DR1" and "drone DR2," respectively.

ドローンDR1は、外観検査場SVの上方の、プロジェクタ2が被検査品Wに画像を投影できる場所に、位置を調整して配置される。なお、「ドローンDR1が位置を調整して配置される」とは、「調整された位置にドローンDR1がホバリングしている」ことを意味する。 Drone DR1 is positioned above the visual inspection area SV, at a location where projector 2 can project an image onto the inspected product W. Note that "drone DR1 is positioned" means "drone DR1 is hovering at the adjusted position."

プロジェクタ2は、制御装置10からの不良が発生する傾向の高い領域を特定する情報に基づいて、被検査品Wに、不良が発生する傾向の高い領域を示す画像を投影する。作業者Pは、投影された画像が示す領域に注目しつつ、被検査品Wに不良箇所があるか否かを検査する。なお、以下では、被検査品Wの外観形状は、直方体であるものとする。また、被検査品Wの6つの面ごとに、外観検査場SVが異なり、担当する作業者Pも異なるものとする。各外観検査場SVには、プロジェクタ2が1台ずつ配置される。すなわち、ドローンDR1は、外観検査場SVの数に相当する台数、本実施の形態では、6台設置される。 Based on information from the control device 10 identifying areas where defects are likely to occur, the projector 2 projects an image showing areas where defects are likely to occur onto the inspected product W. The worker P focuses on the areas indicated by the projected image and inspects the inspected product W for defects. In the following, the external shape of the inspected product W is assumed to be a rectangular parallelepiped. Furthermore, each of the six sides of the inspected product W is assumed to be assigned to a different appearance inspection site SV and to be handled by a different worker P. One projector 2 is placed at each appearance inspection site SV. In other words, the number of drones DR1 installed corresponds to the number of appearance inspection sites SV, six in this embodiment.

ドローンDR2は、不良品置場SDの上方の、カメラ1が不良品Dを撮影できる場所に、位置を調整して配置される。なお、「ドローンDR2が位置を調整して配置される」とは、「調整された位置にドローンDR2がホバリングしている」ことを意味する。 Drone DR2 is positioned above the defective product storage area SD, in a location where camera 1 can photograph defective product D. Note that "drone DR2 is positioned" means "drone DR2 is hovering at the adjusted position."

作業者Pは、被検査品Wが不良品Dであると判定すると、外観検査を実施する外観検査場SVから不良品置場SDへ不良品Dを移動させる。前述のように、この例では、被検査品Wは直方体であり、被検査品Wの6つの面ごとに、外観検査場SVが異なり、各外観検査場SVに不良品置場SDが設置されている。各不良品置場SDに、カメラ1が1つずつ配置される。従って、ドローンDR2は、不良品置場SDの数に相当する6台設置される。 When worker P determines that the inspected product W is a defective product D, he moves the defective product D from the visual inspection area SV where the visual inspection is carried out to the defective product storage area SD. As mentioned above, in this example, the inspected product W is a rectangular parallelepiped, and a different visual inspection area SV is installed for each of the six sides of the inspected product W, with a defective product storage area SD installed at each visual inspection area SV. One camera 1 is placed at each defective product storage area SD. Therefore, six drones DR2 are installed, corresponding to the number of defective product storage areas SD.

作業者Pは、不良品Dを不良品置場SDへ移動させる度に、不良品DをドローンDR2のカメラ1に撮影させる。以下、不良品Dを示す画像を「不良品画像」という。 Every time worker P moves defective product D to the defective product storage area SD, he or she has camera 1 of drone DR2 take a photo of defective product D. Hereinafter, an image showing defective product D will be referred to as a "defective product image."

カメラ1は、不良品Dを撮影して、撮像データを制御装置10に出力する。なお、不良品画像のデータは、「不良箇所データ」の一例である。 Camera 1 captures an image of defective product D and outputs the image data to control device 10. Note that the data on the defective product image is an example of "defect location data."

制御装置10は、例えば、パーソナルコンピュータ、タブレット端末、PLC(Programmable Logic Controller)などで構成される。 The control device 10 may be configured, for example, as a personal computer, a tablet terminal, or a PLC (Programmable Logic Controller).

制御装置10は、カメラ1から出力された撮像データに基づいて、不良領域の位置を分析し、不良が発生する傾向、即ち、確率が高い領域を特定する。 The control device 10 analyzes the location of defective areas based on the image data output from the camera 1 and identifies areas where defects tend to occur, i.e., areas with a high probability of occurring.

不良が発生する傾向の高い領域は、利用者によって予め設定された期間において、発生した不良の数又は割合が第1不良閾値T1以上の領域である。第1不良閾値T1は、「3」、「5」、「10」、「3%」、「10%」などの値が、外観検査支援装置100の利用者によって予め設定される。利用者は、生産管理者、生産技術者、不良分析担当者などを含む。なお、第1不良閾値T1は、基準の一例である。 Areas where defects are likely to occur are areas where the number or percentage of defects occurring in a period preset by the user is equal to or greater than the first defect threshold T1. The first defect threshold T1 is preset by the user of the visual inspection support device 100 as a value such as "3," "5," "10," "3%," or "10%." Users include production managers, production engineers, and defect analysts. Note that the first defect threshold T1 is an example of a standard.

制御装置10は、不良が発生する傾向の高い領域を特定領域として特定すると、特定領域を指し示す画像のデータを生成し、ドローンDR1のプロジェクタ2へ出力する。 When the control device 10 identifies an area that is highly prone to defects as a specific area, it generates image data indicating the specific area and outputs it to the projector 2 of the drone DR1.

前述のように、ドローンDR1は、外観検査場SVの数に相当する台数、本実施の形態では、6台設置される。プロジェクタ2は、入力された画像のデータに基づいて、被検査品Wに向けて不良が発生する傾向の高い領域を指し示す画像を投影することにより、被検査品Wの表面に画像を表示する。以下、プロジェクタ2が被検査品Wに向けて画像を投影することにより、被検査品Wの表面に画像を表示することを単に「画像を表示する」という場合がある。また、被検査品Wに表示される画像を「注意喚起画像」という。なお、注意喚起画像のデータは、「不良が発生する傾向の高い領域を示す情報」の一例である。 As mentioned above, the number of drones DR1 installed corresponds to the number of visual inspection sites SV; in this embodiment, six drones DR1 are installed. Based on the input image data, the projector 2 projects an image indicating areas where defects are likely to occur toward the inspected product W, thereby displaying the image on the surface of the inspected product W. Hereinafter, the act of the projector 2 projecting an image toward the inspected product W and displaying an image on the surface of the inspected product W may be simply referred to as "displaying an image." The image displayed on the inspected product W is also referred to as a "warning image." The data of the warning image is an example of "information indicating areas where defects are likely to occur."

被検査品Wは、各外観検査場SVの検査台の予め設定された位置に予め定めされた向きで配置される。詳しくは、被検査品Wは、検査対象の面が注意喚起画像を表示できる形態で外観検査場SVの検査台の予め定められた位置に定められた向きで配置される。ドローンDR2は、被検査品Wの検査対象の面に、プロジェクタ2を使用して注意喚起画像を表示できる位置に調整して配置される。 The product W to be inspected is placed in a predetermined orientation at a predetermined position on the inspection table at each visual inspection area SV. More specifically, the product W to be inspected is placed in a predetermined orientation at a predetermined position on the inspection table at the visual inspection area SV in a form that allows the surface of the inspection target to display a warning image. Drone DR2 is adjusted and placed in a position that allows the warning image to be displayed on the surface of the product W to be inspected using projector 2.

図2A及び図2Bを参照して、被検査品Wに表示される注意喚起画像GCについて説明する。図2Aは、制御装置10によって不良が発生する傾向の高い領域として特定された特定領域R1の一例を示す図であり、図2Bは、被検査品Wに表示される注意喚起画像GCの一例を示す図である。なお、図2A及び図2Bに示すX軸及びY軸は、被検査品Wが配置される検査台上の座標軸であるものとする。X軸は、作業者Pからみて被検査品Wの左右方向であり、Y軸は、作業者Pからみて被検査品Wの前後方向であり、X軸と直交する。 The attention drawing image GC displayed on the inspected product W will be described with reference to Figures 2A and 2B. Figure 2A is a diagram showing an example of a specific area R1 identified by the control device 10 as an area with a high tendency for defects to occur, and Figure 2B is a diagram showing an example of an attention drawing image GC displayed on the inspected product W. Note that the X-axis and Y-axis shown in Figures 2A and 2B are coordinate axes on the inspection table on which the inspected product W is placed. The X-axis is the left-right direction of the inspected product W as seen by the operator P, and the Y-axis is the front-to-back direction of the inspected product W as seen by the operator P, and is perpendicular to the X-axis.

図2Aに示すように、特定領域R1が、製品PRの+X側かつ-Y側の角近傍である場合、図1を参照して説明したプロジェクタ2は、図2Bに示すように、被検査品Wの+X側かつ-Y側の角部分を囲う画像GC1を投影する。この結果、被検査品Wに特定領域R1を指し示す画像GC1を含む注意喚起画像GCが表示される。なお、注意喚起画像GCは、特定領域R1が複数である場合、複数の特定領域R1を囲む画像を含む。 As shown in Figure 2A, when specific region R1 is near a corner on the +X side and the -Y side of product PR, projector 2, described with reference to Figure 1, projects image GC1 that surrounds the corner on the +X side and the -Y side of the inspected product W, as shown in Figure 2B. As a result, an attention drawing image GC including image GC1 pointing to specific region R1 is displayed on the inspected product W. Note that if there are multiple specific regions R1, the attention drawing image GC includes images surrounding multiple specific regions R1.

次に、図1に示す制御装置10の構成について、図3及び図4を参照して詳細に説明する。 Next, the configuration of the control device 10 shown in Figure 1 will be described in detail with reference to Figures 3 and 4.

図3に示すように、制御装置10は、利用者による操作を受け付ける操作部11、画像を表示するディスプレイ12、複数のドローンDR2における各々のカメラ1からの撮像データが入力される入力部13、注意喚起画像GCのデータを出力する出力部14、各種処理を実行するプロセッサ15、プロセッサ15の作業領域として用いられる主記憶装置16a、及びプログラムなどの各種データを記憶する補助記憶装置16bを更に備える。主記憶装置16aは、RAM(Random Access Memory)を含む。補助記憶装置16bは、フラッシュメモリ、HDD(Hard Disk Drive)、SDD(Solid State Drive)などの不揮発性メモリを含む。 As shown in FIG. 3, the control device 10 further includes an operation unit 11 that accepts user operations, a display 12 that displays images, an input unit 13 that receives image data from each camera 1 of multiple drones DR2, an output unit 14 that outputs data for a warning image GC, a processor 15 that executes various processes, a main memory device 16a used as a work area for the processor 15, and an auxiliary memory device 16b that stores various data such as programs. The main memory device 16a includes RAM (Random Access Memory). The auxiliary memory device 16b includes non-volatile memory such as flash memory, HDD (Hard Disk Drive), and SSD (Solid State Drive).

操作部11は、利用者による操作を受け付けると、その操作に応じた信号をプロセッサ15へ出力する。利用者による操作は、例えば、不良が発生する傾向の高い領域を指し示す画像がプロジェクタ2から被検査品W上へ投影される位置に、ドローンDR1の位置を調整する操作である。なお、利用者による操作は、かかる位置を調整する操作に限らず、利用者による他の任意の種類の操作を含む。操作部11は、例えば、タッチセンサ、キーボード、マウスなどである。 When the operation unit 11 receives an operation from the user, it outputs a signal corresponding to that operation to the processor 15. An example of an operation by the user is an operation to adjust the position of the drone DR1 to a position where an image indicating an area with a high tendency for defects is projected from the projector 2 onto the inspected product W. Note that an operation by the user is not limited to an operation to adjust the position, but also includes any other type of operation by the user. The operation unit 11 is, for example, a touch sensor, a keyboard, a mouse, etc.

外観検査支援装置100は、図示しない送信部を備えている。送信部は、操作部11への操作に従った動作を指示する制御信号をドローンDR1に送信する。ドローンDR1は、送信部からの制御信号に従って、動作する。 The visual inspection support device 100 is equipped with a transmission unit (not shown). The transmission unit transmits control signals to the drone DR1 that instruct it to operate in accordance with operations on the operation unit 11. The drone DR1 operates in accordance with the control signals from the transmission unit.

ディスプレイ12は、プロセッサ15から出力された信号に基づいて画像を表示する。ディスプレイ12は、例えば、液晶ディスプレイ、有機EL(Electro Luminescence)ディスプレイなどである。 The display 12 displays an image based on a signal output from the processor 15. The display 12 may be, for example, a liquid crystal display or an organic electroluminescence (EL) display.

入力部13は、複数のドローンDR2の各々のカメラ1と接続し、各カメラ1から出力された撮像データが入力される。入力部13は、撮像データが入力可能な機器であればよく、例えば、ビデオカード、グラフィックカードなどである。なお、入力部13は、例えば、Wi-fi(登録商標)、イーサネット(登録商標)、USB(Universal Serial Bus)などの通信規格に対応する通信を行う通信機器であってもよい。 The input unit 13 is connected to each camera 1 of the multiple drones DR2, and receives the image data output from each camera 1. The input unit 13 may be any device capable of receiving image data, such as a video card or graphics card. The input unit 13 may also be a communications device capable of communicating in accordance with communications standards such as Wi-Fi (registered trademark), Ethernet (registered trademark), or USB (Universal Serial Bus).

出力部14は、複数のドローンDR1のプロジェクタ2の各々と接続し、注意喚起画像GCのデータを各プロジェクタ2に出力する。出力部14は、注意喚起画像GCのデータをプロジェクタ2へ出力可能な機器であればよく、例えば、ビデオカード、グラフィックカードなどである。なお、出力部14は、例えば、Wi-fi(登録商標)、イーサネット(登録商標)、USBなどの通信規格に対応する通信を行う通信機器であってもよい。 The output unit 14 connects to each of the projectors 2 of the multiple drones DR1 and outputs data of the attention warning image GC to each projector 2. The output unit 14 may be any device capable of outputting data of the attention warning image GC to the projector 2, such as a video card or graphics card. The output unit 14 may also be a communications device that communicates in accordance with communications standards such as Wi-Fi (registered trademark), Ethernet (registered trademark), or USB.

プロセッサ15は、MPU(Micro processing Unit)、CPU(Central Processing Unit)などである。プロセッサ15は、補助記憶装置16bに記憶されている外観検査支援プログラムを主記憶装置16aに読み出して実行する。 The processor 15 is an MPU (Micro Processing Unit), CPU (Central Processing Unit), or the like. The processor 15 reads the appearance inspection support program stored in the auxiliary storage device 16b into the main storage device 16a and executes it.

補助記憶装置16bは、図4に示すように、データ記憶部16を含む。データ記憶部16は、複数の不良品Dに関するデータを記憶する。複数の不良品Dに関するデータは、不良が発生した領域の傾向を分析する際に使用される。 As shown in FIG. 4, the auxiliary storage device 16b includes a data storage unit 16. The data storage unit 16 stores data on multiple defective products D. The data on multiple defective products D is used when analyzing trends in areas where defects occur.

データ記憶部16は、不良品画像のデータを記憶する画像データ記憶部160を含む。 The data storage unit 16 includes an image data storage unit 160 that stores data on defective product images.

画像データ記憶部160は、利用者によって予め撮影された良品画像のデータを更に記憶する。良品画像のデータは、不良領域を特定する際に利用される。利用者は、被検査品Wの良品画像を撮影すると、操作部11を操作することにより、入力部13を介して良品画像のデータを制御装置10に入力し、画像データ記憶部160に記憶させる。なお、良品画像は、機種毎に、被検査品Wの全面の画像を含む。 The image data storage unit 160 also stores data on non-defective product images previously captured by the user. The non-defective product image data is used when identifying defective areas. After capturing a non-defective product image of the inspected product W, the user operates the operation unit 11 to input the non-defective product image data into the control device 10 via the input unit 13, and stores the data in the image data storage unit 160. Note that the non-defective product image includes an image of the entire surface of the inspected product W for each model.

また、データ記憶部16は、工場の生産スケジュールを示すデータを記憶する生産スケジュール記憶部161、外観検査支援装置100が備える機器に関するデータを記憶する機器マスタ記憶部162、良品画像に関するデータを記憶する良品画像関連データ記憶部163、カメラ1によって撮影された不良品画像に関するデータを記憶する不良品画像関連データ記憶部164、及び図1に示すプロジェクタ2への出力に必要な出力準備データを記憶する出力準備データ記憶部165を含む。 The data storage unit 16 also includes a production schedule storage unit 161 that stores data indicating the factory's production schedule, an equipment master storage unit 162 that stores data related to the equipment equipped in the visual inspection support device 100, a good product image related data storage unit 163 that stores data related to good product images, a defective product image related data storage unit 164 that stores data related to defective product images captured by the camera 1, and an output preparation data storage unit 165 that stores output preparation data required for output to the projector 2 shown in Figure 1.

生産スケジュール記憶部161は、図5に示すように、工場で生産する製品PRの機種を示す機種データ161aと、その機種の製品PRを生産するスケジュールを示す生産スケジュールデータ161bと、を関連付けて記憶する。生産スケジュールデータ161bは、生産開始日時を示す生産開始日時データ161c及び生産終了日時を示す生産終了日時データ161dを含む。生産スケジュール記憶部161に記憶されるデータは、利用者によって予め登録される。 As shown in FIG. 5, the production schedule storage unit 161 associates and stores model data 161a indicating the model of product PR produced in the factory with production schedule data 161b indicating the schedule for producing that model of product PR. The production schedule data 161b includes production start date and time data 161c indicating the date and time when production starts and production end date and time data 161d indicating the date and time when production ends. The data stored in the production schedule storage unit 161 is registered in advance by the user.

図4に示す機器マスタ記憶部162は、図6に示すように、外観検査支援装置100が備える機器の機器名を示す機器名データ162aと、機器の識別名を示す機器識別名データ162bと、機器が設置される場所を示す設置場所データ162cと、機器が設置される場所に対応する外観検査の内容を示す検査内容データ162dと、を関連付けて記憶する。機器識別名データ162bは、例えば、機器のMACアドレス(Media Access Control address)、IPアドレス(Internet Protocol address)などの識別データである。設置場所データ162cは、その機器の機能に応じた設置場所を示す。設置場所としては、例えば、不良品置場SD、外観検査場SVなどがある。検査内容データ162dは、その設置場所でその機器が供される外観検査の対象の面を示す。機器マスタ記憶部162に記憶されるデータは、利用者によって予め登録される。 As shown in FIG. 6, the equipment master memory unit 162 shown in FIG. 4 associates and stores equipment name data 162a indicating the equipment name of the equipment equipped in the visual inspection support device 100, equipment identification name data 162b indicating the identification name of the equipment, installation location data 162c indicating the location where the equipment is installed, and inspection content data 162d indicating the content of the visual inspection corresponding to the location where the equipment is installed. The equipment identification name data 162b is identification data such as the equipment's MAC address (Media Access Control address) or IP address (Internet Protocol address). The installation location data 162c indicates the installation location according to the function of the equipment. Examples of installation locations include the defective product storage area SD and the visual inspection area SV. The inspection content data 162d indicates the surface that is the target of the visual inspection for which the equipment is used at the installation location. The data stored in the device master storage unit 162 is registered in advance by the user.

図4に示す良品画像関連データ記憶部163は、図7に示すように、良品画像を識別する良品画像識別名データ163aと、良品画像によって示される良品の機種を示す機種データ163bと、良品画像の撮影部分を示す撮影部分データ163cと、を関連付けて記憶する。良品画像関連データ記憶部163に記憶される良品画像に関するデータは、利用者によって良品画像関連データ記憶部163に予め登録されている。 As shown in FIG. 7, the good-quality image related data storage unit 163 shown in FIG. 4 stores, in association with one another, good-quality image identification name data 163a that identifies a good-quality image, model data 163b that indicates the model of the good-quality product indicated by the good-quality image, and photographed portion data 163c that indicates the photographed portion of the good-quality image. The data related to good-quality images stored in the good-quality image related data storage unit 163 is registered in advance in the good-quality image related data storage unit 163 by the user.

図4に示す不良品画像関連データ記憶部164は、図8に示すように、不良品画像を識別する不良品画像識別名データ164aと、不良品画像によって示される不良品Dの機種を示す機種データ164bと、不良品Dの撮影部分を示す撮影部分データ164cと、不良が発見された日時を示す発見日時データ164dと、不良領域を示す不良領域データ164eと、を関連付けて記憶する。不良品画像関連データは、図4に示す入力処理部151が入力処理を実行することにより、不良品画像関連データ記憶部164に記憶される。 As shown in FIG. 8, the defective product image related data storage unit 164 shown in FIG. 4 associates and stores defective product image identification name data 164a that identifies the defective product image, model data 164b that indicates the model of the defective product D indicated by the defective product image, photographed portion data 164c that indicates the photographed portion of the defective product D, discovery date and time data 164d that indicates the date and time the defect was discovered, and defective area data 164e that indicates the defective area. The defective product image related data is stored in the defective product image related data storage unit 164 by the input processing unit 151 shown in FIG. 4 executing input processing.

図4に示す出力準備データ記憶部165は、図9に示すように、被検査品Wの機種を示す機種データ165aと、被検査品Wの注意喚起画像GCが表示される部分を示す撮影部分データ165bと、注意喚起画像GCが指し示す特定領域R1を示す特定領域データ165cと、を関連付けて記憶する。 As shown in FIG. 9, the output preparation data storage unit 165 shown in FIG. 4 stores, in association with each other, model data 165a indicating the model of the inspected product W, photographed portion data 165b indicating the portion of the inspected product W where the attention alert image GC is displayed, and specific area data 165c indicating the specific area R1 indicated by the attention alert image GC.

図3に示すプロセッサ15は、図4に示すように、入力処理を実行する入力処理部151、分析処理を実行する分析部152、及び、出力処理を実行する出力処理部153として機能する。 As shown in Figure 4, the processor 15 shown in Figure 3 functions as an input processing unit 151 that performs input processing, an analysis unit 152 that performs analysis processing, and an output processing unit 153 that performs output processing.

入力処理部151は、入力部13を介して、ドローンDR2のカメラ1から撮像データが入力されると、不良領域を分析するために必要なデータを取得して、データ記憶部16に記憶させる入力処理を実行する。 When image data is input from camera 1 of drone DR2 via input unit 13, input processing unit 151 acquires the data necessary to analyze the defective area and performs input processing to store it in data storage unit 16.

分析部152は、ドローンDR2のカメラ1から撮像データが入力されて、画像データ記憶部160に不良領域の傾向を分析するためのデータが記憶される。画像データ記憶部160に記憶されたデータに基づいて、不良領域の傾向を分析し、不良が発生する傾向の高い領域を特定する分析処理を実行する。 The analysis unit 152 receives image data from camera 1 of drone DR2 and stores data for analyzing the tendency of defective areas in the image data storage unit 160. Based on the data stored in the image data storage unit 160, it analyzes the tendency of defective areas and performs an analysis process to identify areas that are highly prone to defects.

出力処理部153は、分析部152によって特定された不良が発生する傾向の高い領域を指し示す注意喚起画像GCのデータを生成し、プロジェクタ2へ注意喚起画像GCのデータを出力する出力処理を実行する。 The output processing unit 153 generates data for a warning image GC that indicates areas identified by the analysis unit 152 that are likely to have defects, and performs output processing to output the data for the warning image GC to the projector 2.

被検査品Wに注意喚起画像GCを投影する処理は、i)不良品Dの不良データを入力して蓄積する入力処理、ii)蓄積された不良データを分析して、不良が発生する傾向が基準以上の特定領域を特定する分析処理、iii)分析に基づいて、特定領域を示す情報をプロジェクタ2に出力する処理、iv)プロジェクタ2が注意喚起画像GCを被検査品Wに投影する処理により実現される。なお、入力処理は、入力ステップの一例であり、分析処理は、分析ステップの一例であり、出力処理は、出力ステップの一例である。
以下、入力処理と、分析処理と、出力処理を、図10から図13を参照して、順次説明する。
The process of projecting the warning image GC onto the inspected product W is realized by i) an input process of inputting and accumulating defect data of defective products D, ii) an analysis process of analyzing the accumulated defect data and identifying specific areas where defects tend to occur above a standard, iii) a process of outputting information indicating the specific areas to the projector 2 based on the analysis, and iv) a process of the projector 2 projecting the warning image GC onto the inspected product W. Note that the input process is an example of an input step, the analysis process is an example of an analysis step, and the output process is an example of an output step.
The input process, analysis process, and output process will be described below in order with reference to FIGS.

(入力処理)
作業者Pは、担当する外観検査場SVに、被検査品Wが搬送されてくると、その被検査品Wを検査台に載置する。この際、作業者Pは、検査台の予め定められた位置に被検査品Wを載置する。詳しくは、作業者Pは、予め定められた向きで検査台の予め定められた位置に被検査品Wを載置する。作業者Pは、その外観検査場SVでの検査部位、実施の形態1では、6つの面のいずれかを上向にして被検査品Wを検査台に載置する。
(Input processing)
When the product W to be inspected is transported to the appearance inspection site SV that the operator P is in charge of, the operator P places the product W on the inspection table. At this time, the operator P places the product W to be inspected in a predetermined position on the inspection table. More specifically, the operator P places the product W to be inspected in a predetermined position on the inspection table in a predetermined orientation. The operator P places the product W to be inspected on the inspection table with the inspection portion at the appearance inspection site SV, in embodiment 1, one of the six faces, facing upward.

次に、作業者Pは、被検査品Wの検査対象の面を目視で検査する。この際、その外観検査場SVに配置されたドローンDR1のプロジェクタ2が、被検査品Wに向けて注意喚起画像GCを投影する。これにより、被検査品Wの表面に不良が発生する傾向の高い領域が指し示されて、作業者Pの注意を喚起する。 Next, worker P visually inspects the surface of the inspected product W. At this time, projector 2 of drone DR1 located at the visual inspection site SV projects a warning image GC toward the inspected product W. This indicates areas on the surface of the inspected product W that are likely to have defects, drawing the worker P's attention.

作業者Pは、不良箇所を発見すると、その被検査品Wを、不良品Dとして不良品置場SDに移動させる。本実施の形態では、作業者Pは、被検査品Wの不良箇所を含む面を上向きにして不良品置場SDの作業台に被検査品Wを載置する。 When a worker P finds a defect, he or she moves the inspected product W to the defective product storage area SD as a defective product D. In this embodiment, the worker P places the inspected product W on the workbench in the defective product storage area SD with the side of the inspected product W containing the defect facing up.

次に、作業者Pは、操作部11を操作して、不良品Dをカメラ1に撮影させる指示を制御装置10に入力する。プロセッサ15は、操作部11からの信号に応答して、カメラ1に不良品Dの不良箇所を含む面を撮影させる。カメラ1は、撮像データとプロパティデータを生成し、制御装置10に出力する。 Next, worker P operates operation unit 11 to input an instruction to control device 10 to have camera 1 photograph defective product D. In response to the signal from operation unit 11, processor 15 causes camera 1 to photograph the surface of defective product D that contains the defective part. Camera 1 generates imaging data and property data and outputs them to control device 10.

プロセッサ15は、入力処理部151として、図10に示す入力処理を開始する。入力処理部151は、供給された不良品画像のデータを、入力部13を介して取り込み、取り込んだ不良品画像のデータを、図4に示す画像データ記憶部160に記憶させる(ステップS102)。 The processor 15, functioning as the input processing unit 151, starts the input processing shown in FIG. 10. The input processing unit 151 acquires the supplied defective product image data via the input unit 13 and stores the acquired defective product image data in the image data storage unit 160 shown in FIG. 4 (step S102).

次に、入力処理部151は、不良品画像を識別するデータを取得する(ステップS104)。不良品画像を識別するデータは、カメラ1から入力された撮像データに含まれ、例えば、不良品画像のファイル名、保存先などを示すデータである。 Next, the input processing unit 151 acquires data identifying the defective product image (step S104). The data identifying the defective product image is included in the image data input from the camera 1, and is data indicating, for example, the file name and save location of the defective product image.

次に、入力処理部151は、撮像データに含まれる撮影時刻に基づいて、不良品Dの機種を特定する(ステップS106)。詳しくは、入力処理部151は、不良品画像が撮影された撮影時刻データを検索条件として、図5に示す生産スケジュール記憶部161から、撮影時刻データが、生産開始日時データ161cが示す日時以降、かつ生産終了日時データ161dが示す日時以前のレコードを検索する。入力処理部151は、検索条件に合致するレコードを発見すると、そのレコードの機種データ161aを取得することにより、不良品Dの機種を特定する。 Next, the input processing unit 151 identifies the model of defective product D based on the image capture time included in the image data (step S106). More specifically, the input processing unit 151 uses the image capture time data when the defective product image was captured as a search condition to search the production schedule storage unit 161 shown in FIG. 5 for records whose image capture time data is after the date and time indicated by the production start date and time data 161c and before the date and time indicated by the production end date and time data 161d. When the input processing unit 151 finds a record that matches the search condition, it acquires the model data 161a of that record to identify the model of defective product D.

次に、入力処理部151は、不良品Dの撮影された面を特定する(図10のステップS108)。以下、撮影された面を「撮影部分」という。 Next, the input processing unit 151 identifies the photographed surface of defective product D (step S108 in Figure 10). Hereinafter, the photographed surface will be referred to as the "photographed portion."

詳しくは、入力処理部151は、撮像データに含まれるカメラ1の識別名を示すデータを検索条件として、図6に示す機器マスタ記憶部162から、カメラ1の識別名を示すデータが機器識別名データ162bと一致するレコードを検索する。入力処理部151は、検索条件に合致するレコードを発見すると、そのレコードの検査内容データ162dを取得することにより、不良品Dの撮影部分を特定する。 In more detail, the input processing unit 151 uses data indicating the identification name of camera 1 contained in the image data as a search condition to search the equipment master storage unit 162 shown in FIG. 6 for records in which the data indicating the identification name of camera 1 matches the equipment identification name data 162b. When the input processing unit 151 finds a record that matches the search condition, it acquires the inspection content data 162d of that record to identify the photographed portion of defective product D.

次に、入力処理部151は、その不良品画像によって示される不良領域を特定する(ステップS110)。詳しくは、入力処理部151は、図7に示す良品画像関連データ記憶部163に記憶されたデータから、機種データ163bがステップS106で取得した機種データ161aに一致し、撮影部分データ163cがステップS108において取得した検査内容データ162dと一致するレコードを検索する。入力処理部151は、検索条件に合致するレコードを発見すると、発見したレコードの良品画像識別名データ163aを検索条件として、画像データ記憶部160に記憶されたデータの中から良品画像のデータを取得する。入力処理部151は、良品画像のデータを取得すると、不良品画像と良品画像とを比較することにより、不良領域を特定する。 Next, the input processing unit 151 identifies the defective area indicated by the defective product image (step S110). More specifically, the input processing unit 151 searches the data stored in the non-defective product image related data storage unit 163 shown in FIG. 7 for a record whose model data 163b matches the model data 161a acquired in step S106 and whose captured portion data 163c matches the inspection content data 162d acquired in step S108. When the input processing unit 151 finds a record that matches the search criteria, it uses the non-defective product image identification name data 163a of the found record as a search condition to acquire non-defective product image data from the data stored in the image data storage unit 160. When the input processing unit 151 acquires the non-defective product image data, it identifies the defective area by comparing the non-defective product image with the non-defective product image.

以下、図11A及び図11Bを参照して、不良領域の特定方法について説明する。図11Aは、不良品画像GDの一例を示す図であり、図11Bは、良品画像GRの一例を示す図である。 The method for identifying defective areas will now be described with reference to Figures 11A and 11B. Figure 11A shows an example of a defective product image GD, and Figure 11B shows an example of a non-defective product image GR.

入力処理部151は、図11A及び図11Bに示すように、不良品画像GD及び良品画像GRのそれぞれを9つの区画SCに分割する。図11A及び図11Bでは、理解を容易にするために、各区画SCの境界を2点鎖線で示している。なお、分割する区画SCの数は、9つに限定されず、利用者によって予め設定される。 As shown in Figures 11A and 11B, the input processing unit 151 divides each of the defective product image GD and the non-defective product image GR into nine sections SC. In Figures 11A and 11B, for ease of understanding, the boundaries of each section SC are indicated by two-dot chain lines. Note that the number of sections SC to be divided is not limited to nine and can be set in advance by the user.

以下では、-X側かつ+Y側の区画SCを「SECTION1」とし、「SECTION1」から+X側へ順次「SECTION2」、「SECTION3」とする。また、「SECTION1」の-Y側に隣接する区画SCを「SECTION4」とし、「SECTION4」から+X側へ順次「SECTION5」、「SECTION6」とする。更に、「SECTION4」の-Y側に隣接する区画SCを「SECTION7」とし、「SECTION7」から+X側へ順次「SECTION8」、「SECTION9」とする。 In the following, the section SC on the -X side and +Y side will be referred to as "SECTION 1," and the sections from "SECTION 1" to the +X side will be referred to as "SECTION 2" and "SECTION 3." The section SC adjacent to "SECTION 1" on the -Y side will be referred to as "SECTION 4," and the sections from "SECTION 4" to the +X side will be referred to as "SECTION 5" and "SECTION 6." The section SC adjacent to "SECTION 4" on the -Y side will be referred to as "SECTION 7," and the sections from "SECTION 7" to the +X side will be referred to as "SECTION 8" and "SECTION 9."

各区画SCの位置を示すデータは、例えば、分割する区画SCの数が設定されると、各区画SCに応じた座標データがプロセッサ15によって演算されて補助記憶装置16bに記憶される。 For example, when the number of sections SC to be divided is set, the data indicating the position of each section SC is calculated by the processor 15 and stored in the auxiliary storage device 16b as coordinate data corresponding to each section SC.

入力処理部151は、区画SCごとに不良品画像GDと良品画像GRとをマッチングし、不良品画像GDと良品画像GRとの画像が異なる区画SC、すなわち、不良箇所を含む領域を不良領域として特定する。 The input processing unit 151 matches the defective product image GD with the good product image GR for each section SC, and identifies sections SC where the defective product image GD and the good product image GR differ, i.e., areas containing defective parts, as defective areas.

図11Aに示す例では、不良品画像GDの「SECTION9」に、キズを示す画像GSが含まれる。このため、入力処理部151は、不良品画像GDの「SECTION9」の画像と、良品画像GRの「SECTION9」の画像とが一致しないと判定し、「SECTION9」を不良領域として特定する。入力処理部151は、特定した不良領域を示すデータを生成する。 In the example shown in FIG. 11A, "SECTION 9" of the defective product image GD includes an image GS showing a scratch. Therefore, the input processing unit 151 determines that the image of "SECTION 9" of the defective product image GD does not match the image of "SECTION 9" of the non-defective product image GR, and identifies "SECTION 9" as a defective area. The input processing unit 151 generates data indicating the identified defective area.

入力処理部151は、不良領域を特定すると、図10のステップS104からステップS110で取得したデータを関連付けて、図8に示す不良品画像関連データ記憶部164に記憶させる(ステップS112)。詳しくは、入力処理部151は、ステップS104からステップS110で取得したデータをそれぞれ、「不良品画像識別名データ164a」、「機種データ164b」、「撮影部分データ164c」、「不良領域データ164e」として、不良品画像関連データ記憶部164に記憶させる。また、入力処理部151は、不良品画像GDを撮影した時刻を示す撮影時刻データを「発見日時データ164d」として、不良品画像関連データ記憶部164に記憶させる。 When the input processing unit 151 identifies a defective area, it associates the data acquired in steps S104 to S110 of FIG. 10 and stores the data in the defective product image related data storage unit 164 shown in FIG. 8 (step S112). Specifically, the input processing unit 151 stores the data acquired in steps S104 to S110 in the defective product image related data storage unit 164 as "defective product image identification name data 164a," "model data 164b," "photographed portion data 164c," and "defective area data 164e," respectively. The input processing unit 151 also stores the photography time data indicating the time the defective product image GD was photographed in the defective product image related data storage unit 164 as "discovery date and time data 164d."

以上で、入力処理部151は、入力処理を終了する。 The input processing unit 151 then completes the input processing.

次に、図12を参照して、分析処理について説明する。分析処理は、例えば、工場が終業する度に実行される。なお、分析処理が実行されるタイミングは、利用者によって予め設定される。 Next, the analysis process will be explained with reference to Figure 12. The analysis process is executed, for example, every time the factory closes. The timing at which the analysis process is executed is set in advance by the user.

プロセッサ15は、予め設定された開始時刻になると、分析部152として、図12に示す分析処理を開始する。 When the preset start time arrives, the processor 15, as the analysis unit 152, starts the analysis process shown in Figure 12.

分析部152は、図8に示す不良品画像関連データ記憶部164に蓄積された複数の不良品Dの画像(不良品画像GD)に関するデータを、機種、撮影部分、及び不良領域ごとに集計し、集計されたレコード数を不良発生件数として取得する(ステップS202)。なお、不良発生件数は、不良が発生した件数である。分析部152は、例えば、1日、1週間など、予め設定された期間に蓄積された不良品画像GDに関するデータに基づいて不良発生件数を集計する。 The analysis unit 152 tallyes data related to images of multiple defective products D (defective product images GD) stored in the defective product image-related data storage unit 164 shown in FIG. 8 by model, photographed part, and defective area, and obtains the number of tallied records as the number of defects (step S202). The number of defects is the number of cases in which defects occurred. The analysis unit 152 tallyes the number of defects based on data related to defective product images GD stored over a preset period, such as one day or one week.

分析部152は、不良発生件数に基づいて、不良が発生する傾向が高い領域を特定する(ステップS204)。分析部152は、ステップS202で集計された結果である不良発生件数が第1不良閾値T1以上の不良領域を、不良が発生する傾向が高い領域、すなわち、特定領域R1として特定する。なお、第1不良閾値T1は、不良発生件数を集計する期間に応じた値が、利用者によって予め設定される。なお、不良が発生する傾向が高い領域を特定する際に、不良発生件数に限らず、任意の種類の基準を用いてもよい。例えば、不良発生率を用いてもよい。 The analysis unit 152 identifies areas where defects are likely to occur based on the number of defects (step S204). The analysis unit 152 identifies defect areas where the number of defects, which is the result of the aggregation in step S202, is equal to or exceeds the first defect threshold T1 as areas where defects are likely to occur, i.e., specific areas R1. Note that the first defect threshold T1 is set in advance by the user as a value according to the period over which the number of defects is aggregated. Note that when identifying areas where defects are likely to occur, any type of criterion may be used, not limited to the number of defects. For example, the defect occurrence rate may be used.

例えば、利用者によって設定された期間が1日間、かつ第1不良閾値T1が「3」に設定されている場合、図8に示す不良品画像関連データ記憶部164のデータを、機種、撮影部分、及び不良領域ごとに集計すると、「2020年8月26日」の1日間で、機種「炊飯器」、撮影部分「天面」、及び不良領域「SECTION9」のレコードの件数が7件となり、3件以上になる。したがって、分析部152は、機種「炊飯器」、及び撮影部分「天面」の不良領域「SECTION9」を不良が発生する傾向が高い領域、すなわち、特定領域R1として特定する。 For example, if the period set by the user is one day and the first defect threshold T1 is set to "3," when the data in the defective product image-related data storage unit 164 shown in FIG. 8 is aggregated by model, photographed part, and defective area, the number of records for the model "Rice Cooker," photographed part "Top Surface," and defective area "SECTION 9" for the one day of "August 26, 2020" is seven, which is more than three. Therefore, the analysis unit 152 identifies the model "Rice Cooker" and the defective area "SECTION 9" of the photographed part "Top Surface" as areas with a high tendency for defects to occur, i.e., specific area R1.

分析部152は、特定領域R1を特定すると、出力処理部153による出力に必要なデータを、図9に示す出力準備データ記憶部165に記憶させる(ステップS206)。詳しくは、分析部152は、不良品画像関連データ記憶部164から抽出したレコードの機種データ164b、撮影部分データ164c、不良領域データ164eを「機種データ165a」、「撮影部分データ165b」、「特定領域データ165c」として、出力準備データ記憶部165に記憶させる。 Once the analysis unit 152 has identified the specific region R1, it stores the data necessary for output by the output processing unit 153 in the output preparation data storage unit 165 shown in FIG. 9 (step S206). In more detail, the analysis unit 152 stores the model data 164b, photographed portion data 164c, and defective region data 164e of the record extracted from the defective product image related data storage unit 164 in the output preparation data storage unit 165 as "model data 165a," "photographed portion data 165b," and "specific region data 165c."

以上で、分析部152は、分析処理を終了する。 The analysis unit 152 then completes the analysis process.

プロセッサ15は、目視による外観検査の実行期間中、例えば、定期的に、出力処理部153として、出力処理を実行する。 The processor 15 performs output processing as the output processing unit 153, for example, periodically, during the period in which the visual appearance inspection is being performed.

図13に示すように、出力処理部153は、被検査品Wの機種を特定するために、直近n時間に生産された生産対象の機種を特定する(ステップS302)。詳しくは、出力処理部153は、タイマから現在時刻を示すデータを取得する。出力処理部153は、取得した現在時刻データを検索条件として、図5に示す生産スケジュール記憶部161に記憶されたデータを検索する。出力処理部153は、検索条件に合致するレコードを発見すると、そのレコードの機種データ161aが示す機種を、直近n時間に工場で生産され、外観検査の対象とされる機種として特定する。 As shown in FIG. 13, the output processing unit 153 identifies the model of the production target produced in the last n hours in order to identify the model of the inspected product W (step S302). More specifically, the output processing unit 153 acquires data indicating the current time from the timer. The output processing unit 153 searches the data stored in the production schedule storage unit 161 shown in FIG. 5 using the acquired current time data as a search condition. When the output processing unit 153 finds a record that matches the search condition, it identifies the model indicated by the model data 161a of that record as the model that was produced in the factory in the last n hours and is the target of visual inspection.

次に、出力処理部153は、各プロジェクタ2について、そのプロジェクタ2が設置される外観検査場SVで実施される外観検査の内容を特定する(ステップS304)。詳しくは、出力処理部153は、各プロジェクタ2の識別名を示すデータを検索条件として、図6に示す機器マスタ記憶部162を検索する。出力処理部153は、検索条件に合致するレコードを発見すると、そのレコードの検査内容データ162dが示す検査内容を、各プロジェクタ2が設置される外観検査場SVで実施される外観検査として特定する。なお、プロジェクタ2の識別名を示すデータは、例えば、操作部11を介して利用者によって
入力される。
Next, the output processing unit 153 specifies, for each projector 2, the content of the appearance inspection to be performed at the appearance inspection site SV where the projector 2 is installed (step S304). Specifically, the output processing unit 153 searches the device master storage unit 162 shown in FIG. 6 using data indicating the identification name of each projector 2 as a search condition. When the output processing unit 153 finds a record that matches the search condition, it specifies the inspection content indicated by the inspection content data 162d of that record as the appearance inspection to be performed at the appearance inspection site SV where the projector 2 is installed. Note that the data indicating the identification name of the projector 2 is input by the user via the operation unit 11, for example.

次に、出力処理部153は、ステップS302で取得した機種データ161aが機種データ165aと一致し、ステップS304で取得した検査内容データ162dが撮影部分データ165bと一致するレコードを図9に示す出力準備データ記憶部165に記憶されたデータの中から検索する。出力処理部153は、検索条件に合致するレコードを発見すると、そのレコードの特定領域データ165cを取得する。出力処理部153は、取得した特定領域データ165cが示す特定領域R1を指し示す注意喚起画像GCのデータを生成する。出力処理部153は、注意喚起画像GCのデータを、出力部14を介して、対応するドローンDR1のプロジェクタ2へ出力して(ステップS306)、出力処理を終了する。なお、出力処理部153は、出力処理において、プロジェクタ2ごとに注意喚起画像GCのデータを生成し、対応するプロジェクタ2へ出力する。 Next, the output processing unit 153 searches the data stored in the output preparation data storage unit 165 shown in FIG. 9 for a record in which the model data 161a acquired in step S302 matches the model data 165a and the inspection content data 162d acquired in step S304 matches the captured portion data 165b. When the output processing unit 153 finds a record that matches the search criteria, it acquires the specific area data 165c of that record. The output processing unit 153 generates data for an attention alert image GC that indicates the specific area R1 indicated by the acquired specific area data 165c. The output processing unit 153 outputs the data for the attention alert image GC to the projector 2 of the corresponding drone DR1 via the output unit 14 (step S306), and ends the output processing. Note that in the output processing, the output processing unit 153 generates data for an attention alert image GC for each projector 2 and outputs it to the corresponding projector 2.

プロジェクタ2は、出力部14から注意喚起画像GCのデータが入力されると、入力された注意喚起画像GCのデータに基づいて、図2Bに示すように、特定領域R1を指し示す注意喚起画像GCを被検査品Wの表面に表示する。例えば、図11Aの場合、上述したように、特定領域R1として特定された「SECTION9」を指し示す注意喚起画像GCが被検査品Wの表面に投影される。 When the projector 2 receives data for the attention drawing image GC from the output unit 14, it displays the attention drawing image GC pointing to the specific region R1 on the surface of the inspected product W, as shown in FIG. 2B, based on the received data for the attention drawing image GC. For example, in the case of FIG. 11A, as described above, the attention drawing image GC pointing to "SECTION 9" identified as the specific region R1 is projected onto the surface of the inspected product W.

作業者Pは、注意喚起画像GCが指し示す領域に不良が発生する傾向があることを意識した上で、目視による外観検査を実施する。なお、出力処理部153は、n時間経過する度、あるいは、製造する製品PRが切り替わる度に、出力処理を実行し、機種の切り替えに対応する。 Worker P performs a visual appearance inspection, being aware that defects tend to occur in the area indicated by the warning image GC. The output processing unit 153 executes output processing every time n hours have passed or whenever the manufactured product PR is changed, and responds to changes in model.

以上説明したように、実施の形態1に係る外観検査支援装置100によれば、外観検査場の空間を活用して、プロジェクタ2を搭載したバッテリー駆動のドローンDR1が配置される。このため、外観検査場の電源箇所による装置導入の制約が抑制されると共に、外観検査用の装置を含んだ生産ライン全体の長大化が抑制される。また、プロジェクタ2を用いて、不良が発生する傾向が高い領域を指し示す注意喚起画像GCが被検査品Wの表面に表示される。このため、作業者Pは、不良が発生する傾向の高い領域を容易に把握できる。これにより、習熟度の低い作業者Pが外観検査を担当した場合であっても、不良の見落としを抑制できる。この結果、外観検査の品質を保つことができる。すなわち、外観検査の高品質化を図ることができる。 As described above, with the visual inspection support device 100 according to embodiment 1, a battery-powered drone DR1 equipped with a projector 2 is placed by utilizing the space in the visual inspection area. This reduces restrictions on the introduction of equipment due to the location of power sources in the visual inspection area, and also prevents the overall production line, including visual inspection equipment, from becoming too long. In addition, the projector 2 is used to display a warning image GC on the surface of the inspected product W, indicating areas where defects are likely to occur. This allows the operator P to easily identify areas where defects are likely to occur. This prevents defects from being overlooked, even when an operator P with low proficiency is in charge of the visual inspection. As a result, the quality of the visual inspection can be maintained. In other words, the quality of the visual inspection can be improved.

また、作業者Pが特定領域R1を容易に把握できるため、外観検査に要する時間を短縮することができ、外観検査の効率化を図ることができる。 In addition, because worker P can easily identify the specific area R1, the time required for the visual inspection can be shortened, making the visual inspection more efficient.

また、作業者Pが特定領域R1を容易に把握できることにより、作業者Pの早期習熟化を図ることができる。 In addition, since worker P can easily grasp the specific area R1, worker P can quickly become proficient.

作業者Pが不良を見落としてしまうと、被検査品Wが戻る所謂「手戻り」が発生し、生産ロス、生産時間ロスなどが生じる虞がある。しかしながら、外観検査支援装置100によれば、作業者Pが特定領域R1を容易に把握できるため、不良が見落されることが抑制される。これにより、手戻りの発生が抑制され、生産ロス、生産時間ロスなどの発生を低減することができる。 If an operator P overlooks a defect, the inspected product W will have to be returned, which could result in a "rework" and loss of production time. However, the visual inspection support device 100 allows the operator P to easily identify the specific area R1, preventing defects from being overlooked. This prevents rework and reduces loss of production time and production time.

また、作業者Pは、不良品Dを不良品置場SDへ移動させる度に、不良品Dを、ドローンDR2に搭載されたカメラ1に撮影させる。すなわち、作業者Pは、すべての不良品Dをカメラ1に撮影させる。この結果、外観検査支援装置100は、不良が発生したすべての不良品Dに関するデータを収集し、統計的に分析することができる。したがって、例えば、人手により不良の傾向を分析するといった理由により、発生したすべての不良に関するデータを分析できない場合と比べて、分析結果の信頼性を向上させることができる。また、上述のドローンDR1と同様に、外観検査場の空間を活用して、カメラ1を搭載したバッテリー駆動のドローンDR2が配置される。このため、外観検査場の電源箇所による装置導入の制約が抑制されると共に、外観検査用の装置を含んだ生産ライン全体の長大化が抑制される。 Furthermore, each time worker P moves a defective product D to the defective product storage area SD, worker P has camera 1 mounted on drone DR2 photograph the defective product D. In other words, worker P has camera 1 photograph all defective products D. As a result, the visual inspection support device 100 can collect data on all defective products D for which defects have occurred and statistically analyze it. Therefore, the reliability of the analysis results can be improved compared to when data on all defects cannot be analyzed, for example, because defects trends are analyzed manually. Furthermore, similar to the drone DR1 described above, battery-powered drone DR2 equipped with camera 1 is placed utilizing the space in the visual inspection area. This reduces restrictions on the introduction of equipment due to the location of power sources in the visual inspection area and prevents the overall production line, including visual inspection equipment, from becoming too long.

また、外観検査支援装置100は、不良が存在する被検査品Wについてのみ、特定領域R1を特定できればよい。このため、外観検査を完全自動化する場合と比べて、外観検査支援装置100の処理負担を軽減することができる。外観検査支援装置100の処理負担を軽減できることにより、外観検査の判定の高速化を実現することができる。あるいは、特定領域R1を特定する品質を向上させることができる。 Furthermore, the visual inspection support device 100 only needs to identify the specific region R1 for the inspected product W where defects exist. This reduces the processing burden on the visual inspection support device 100 compared to when visual inspection is fully automated. Reducing the processing burden on the visual inspection support device 100 makes it possible to speed up visual inspection decisions. Alternatively, the quality of identifying the specific region R1 can be improved.

[実施の形態1の変形例]
なお、実施の形態1では、作業者Pが操作部11を操作することにより不良品Dを撮影したが、不良品Dを撮影する撮影者は、作業者Pに限定されず、例えば、生産管理者、分析担当者などであってもよい。
[Modification of the First Embodiment]
In the first embodiment, the worker P photographs the defective product D by operating the operation unit 11, but the person who photographs the defective product D is not limited to the worker P and may be, for example, a production manager, an analyst, etc.

また、実施の形態1では、不良品置場SDに配置される度に不良品Dが撮影されたが、不良品Dは、不良品置場SDに配置される度に撮影されなくてもよく、例えば、不良品Dは、半日単位又は1日単位でまとめて撮影されてもよい。この場合、不良が発生した日時を示すデータは、例えば、不良発見シートといった書類に記録された内容に基づいて、撮影者によって制御装置10に入力される。 In addition, in embodiment 1, defective products D were photographed each time they were placed in the defective product storage area SD, but defective products D do not need to be photographed each time they are placed in the defective product storage area SD. For example, defective products D may be photographed in batches every half day or every day. In this case, data indicating the date and time the defect occurred is entered into the control device 10 by the photographer based on the contents recorded in a document such as a defect discovery sheet.

また、不良品Dを撮影するタイミングは、作業者P、生産管理者、分析担当者などの人によって決定される場合に限定されず、カメラ1が決定してもよい。カメラ1は、例えば、不良品Dが不良品置場SDに配置されたことを画像認識技術を利用して検知すると、不良品Dを撮影する。あるいは、カメラ1は、不良品置場SDに設置された不良品Dの有無を検知するセンサから不良品Dを検知したことを示す信号を受信すると、不良品Dを撮影してもよい。なお、センサは、不良品Dの有無を検知できればよく、反射型センサ、透過型センサなどが利用できる。 The timing for photographing defective product D does not necessarily have to be determined by a person such as worker P, production manager, or analyst, but may also be determined by camera 1. For example, camera 1 photographs defective product D when it detects that defective product D has been placed in the defective product storage area SD using image recognition technology. Alternatively, camera 1 may photograph defective product D when it receives a signal indicating that defective product D has been detected from a sensor that detects the presence or absence of defective product D installed in the defective product storage area SD. Note that the sensor may be a reflective sensor, a transmissive sensor, or the like, as long as it is capable of detecting the presence or absence of defective product D.

また、不良領域は、不良品画像GD及び良品画像GRがそれぞれ9つの区画SCに分割して比較することにより特定されたが、不良品画像GD及び良品画像GRを、例えば、取手部、蓋部などパーツごとに分割して比較することにより、特定されてもよい。 Furthermore, while the defective areas were identified by dividing the defective product image GD and the non-defective product image GR into nine sections SC and comparing them, they may also be identified by dividing the defective product image GD and the non-defective product image GR into parts, such as the handle and lid, and comparing them.

また、不良領域は、機械学習の技術が利用されて特定されてもよい。例えば、入力処理部151は、不良品画像GDのデータに、不良領域を示すデータを付加した教師データを用いて学習させた学習済みモデルを生成する。入力処理部151は、生成された学習済みモデルに不良品画像GDのデータを入力パラメータとして入力し、出力パラメータとして出力された不良領域を示すデータを取得することにより、不良領域を特定してもよい。学習済みモデルを生成することなく、予め教師データを用いて学習させた機械学習のソフトが用いられてもよい。 Failure areas may also be identified using machine learning techniques. For example, the input processing unit 151 generates a trained model trained using training data in which data indicating the failure area is added to data on the defective product image GD. The input processing unit 151 may input the data on the defective product image GD as an input parameter into the generated trained model, and obtain data indicating the failure area that is output as an output parameter, thereby identifying the failure area. Machine learning software that has been trained in advance using training data may also be used, without generating a trained model.

また、画像データ記憶部160に記憶されるデータは、適宜変更可能である。例えば、分析部152は、特定領域R1を他の不良領域と識別するためにフラグを利用してもよい。フラグは、特定領域R1と関連付けて不良品画像関連データ記憶部164に更に記憶される。出力処理部153は、不良品画像関連データ記憶部164に記憶されたフラグに基づいて、特定領域R1を指し示す画像データを生成し、プロジェクタ2へ出力してもよい。 The data stored in the image data storage unit 160 can also be changed as appropriate. For example, the analysis unit 152 may use a flag to distinguish the specific region R1 from other defective regions. The flag is further stored in the defective product image related data storage unit 164 in association with the specific region R1. The output processing unit 153 may generate image data indicating the specific region R1 based on the flag stored in the defective product image related data storage unit 164 and output the image data to the projector 2.

また、図14A~図14Cに示すように、プロジェクタ2は、被検査品Wに画像を投影する投影角度を予め定められた範囲内で変更してもよい。本変形例では、操作部11は、プロジェクタ2が被検査品Wに画像を投影する投影角度を調整する操作を受け付け、送信部は、操作部11への操作に従った角度調整を指示する制御信号をドローンDR1に送信する。ドローンDR1は、送信部からの制御信号に従って投影角度を調整する。本変形例において、投影角度の予め定められた角度は、0度~90度である。本変形例では、操作部11は、プロジェクタ2が被検査品Wに画像を投影する投影角度を変更する操作を受け付ける。プロジェクタ2は、図14Aに示すような鉛直下方に画像を投影する場合、投影角度は0度であるとする。投影角度が変更されていくと、例えば、図14Bに示す投影角度を経て、図14Cに示すように、投影角度が90度変更される。図14A~図14Cに示すように、鉛直下方から鉛直方向と垂直な方向に至るまで、プロジェクタ2は画像を投影可能となる。本変形例によれば、外観検査場SVにおいて、被検査品Wの上面に対して鉛直上方にドローンDR1が配置されていなくても、プロジェクタ2は、投影角度の変更によって、被検査品Wの上面に画像を投影できる。本変形例におけるプロジェクタ2は、歪み補正機能を備えている。例えば、プロジェクタ2は、上下方向に歪んだ映像を自動的に補正する機能である縦方向の台形補正機能と、横方向に歪んだ映像を自動的に補正する機能である横方向の台形補正機能とを備えている。なお、本変形例において、プロジェクタ2の変更可能な予め定められた角度の範囲は、0度~90度であったが、0度~90度に限らず、0度~135度など、本開示の作用効果を奏するならば、任意の角度の範囲であってもよい。 Also, as shown in Figures 14A to 14C, the projector 2 may change the projection angle at which the projector 2 projects an image onto the inspected product W within a predetermined range. In this modified example, the operation unit 11 accepts an operation to adjust the projection angle at which the projector 2 projects an image onto the inspected product W, and the transmission unit transmits a control signal to the drone DR1 instructing the drone DR1 to adjust the angle in accordance with the operation on the operation unit 11. The drone DR1 adjusts the projection angle in accordance with the control signal from the transmission unit. In this modified example, the predetermined projection angle is between 0 degrees and 90 degrees. In this modified example, the operation unit 11 accepts an operation to change the projection angle at which the projector 2 projects an image onto the inspected product W. When the projector 2 projects an image vertically downward as shown in Figure 14A, the projection angle is set to 0 degrees. As the projection angle is changed, for example, the projection angle shown in Figure 14B is changed to 90 degrees as shown in Figure 14C. As shown in Figures 14A to 14C, the projector 2 can project images from vertically downward to in a direction perpendicular to the vertical. According to this modification, even if the drone DR1 is not positioned vertically above the top surface of the product W at the visual inspection site SV, the projector 2 can project an image onto the top surface of the product W by changing the projection angle. The projector 2 in this modification also has a distortion correction function. For example, the projector 2 has a vertical keystone correction function that automatically corrects images distorted in the vertical direction, and a horizontal keystone correction function that automatically corrects images distorted in the horizontal direction. While the predetermined angle range that the projector 2 can change is 0 to 90 degrees in this modification, it is not limited to 0 to 90 degrees and may be any angle range, such as 0 to 135 degrees, as long as the effects of the present disclosure are achieved.

また、図15に示すように、被検査品Wの鉛直方向の上方と、被検査品Wの鉛直方向の上方からずれた位置に、ドローンDR1a、DR1bを配置する。そして、被検査品Wの上面と、側面のうちの1つの面(正面)に対して、それぞれのプロジェクタ2a、2bから画像を投影できる角度に、それぞれのプロジェクタ2a、2bの投影角度が変更される。本変形例では、1つの外観検査場SVで、被検査品Wの上面と、正面との2つの面に対して、検査可能となる。プロジェクタ2の投影角度を変更することなく、ドローンDR1が、例えば45度傾いてホバリングしながら被検査品Wの正面に画像を投影することも可能であるが、プロジェクタ2の投影角度を変更する場合に比べて、傾いたドローンDR1のホバリング状態は不安定である。1つの外観検査場SVに、複数のドローンDR1a、DR1bを配置すれば、外観検査場SVの個数が減少し、生産現場において外観検査のために使用される領域が削減できる。 As shown in FIG. 15, drones DR1a and DR1b are placed vertically above the product W and at a position offset from the vertical position above the product W. The projection angles of projectors 2a and 2b are then changed so that they can project images onto the top surface of the product W and one of its side surfaces (the front surface). In this modification, inspection of two surfaces, the top surface and the front surface, of the product W can be performed at a single visual inspection site SV. While drone DR1 can hover at an angle of, for example, 45 degrees without changing the projection angle of projector 2, projecting an image onto the front surface of the product W, the hovering state of a tilted drone DR1 is more unstable than when the projection angle of projector 2 is changed. Placing multiple drones DR1a and DR1b at a single visual inspection site SV reduces the number of visual inspection sites SV and reduces the area used for visual inspection at the production site.

[実施の形態2]
図16から図17を参照して、実施の形態2に係る外観検査支援装置100について説明する。実施の形態2に係る外観検査支援装置100の基本構成及び基本動作は、実施の形態1の外観検査支援装置100の基本構成及び基本動作と同様である。ただし、不良発見件数に基づいた重みが設定される点、及び、プロジェクタ2へ出力する特定領域R1の重みを利用者が指定できる点が実施の形態1と異なる。以下、実施の形態1と異なる点を中心に説明する。なお、「不良発生件数に基づいた重み」は、本開示の「不良が発生する程度」の一例である。また、不良発生件数に基づいた重みに限らず、不良発生率に基づいた重みが設定されてもよい。
[Embodiment 2]
16 and 17 , a visual inspection support device 100 according to a second embodiment will be described. The basic configuration and basic operation of the visual inspection support device 100 according to the second embodiment are the same as those of the visual inspection support device 100 according to the first embodiment. However, the second embodiment differs from the first embodiment in that a weight is set based on the number of defects found and that the user can specify the weight of the specific region R1 to be output to the projector 2. The following mainly describes the differences from the first embodiment. Note that the "weight based on the number of defects" is an example of the "degree of defect occurrence" in the present disclosure. Furthermore, the weight is not limited to being based on the number of defects, and may be set based on the defect occurrence rate.

分析部152は、分析処理において、利用者によって設定された期間における不良発生件数に基づいて、重みを特定領域R1ごとに設定する。重みは、特定領域R1の重要性を評価する値であり、その値が高いほど、特定領域R1の重要性が高い。 During the analysis process, the analysis unit 152 sets a weight for each specific region R1 based on the number of defects that occurred during a period set by the user. The weight is a value that evaluates the importance of the specific region R1; the higher the weight, the greater the importance of the specific region R1.

図16に示すように、分析部152は、図8に示す不良品画像関連データ記憶部164に記憶された不良品画像GDに関するデータを、機種、撮影部分、及び不良領域ごとに集計し(ステップS202)、集計されたレコード数、すなわち、機種、撮影部分、及び不良領域ごとの不良発生件数に基づいて、特定領域R1に重みを設定する(ステップS402)。 As shown in FIG. 16, the analysis unit 152 aggregates the data related to the defective product images GD stored in the defective product image-related data storage unit 164 shown in FIG. 8 by model, photographed part, and defective area (step S202), and sets a weight for the specific area R1 based on the aggregated number of records, i.e., the number of defects for each model, photographed part, and defective area (step S402).

例えば、分析部152は、利用者によって予め設定された期間における不良発生件数が3件以上5件未満の特定領域R1の重みを「1」、不良発生件数が5件以上の特定領域R1の重みを「2」に設定する。なお、重みは、2段階に限定されず、5段階、10段階など、利用者によって予め設定できる。また、重みは、予め定められた重み基準値以上、例えば「2」を「高い」といい、重み基準値未満、例えば、「1」を「低い」という。 For example, the analysis unit 152 sets a weight of "1" for a specific region R1 where the number of defect occurrences is between 3 and 5 during a period preset by the user, and a weight of "2" for a specific region R1 where the number of defect occurrences is 5 or more. Note that the weight is not limited to 2 levels, and can be preset by the user in 5 levels, 10 levels, etc. Furthermore, a weight equal to or greater than a predetermined weight reference value, for example "2," is considered "high," and a weight less than the weight reference value, for example "1," is considered "low."

図8に示す例において、「2020年08月26日」の1日間で、機種「炊飯器」、撮影部分「天面」、及び不良領域「SECTION9」のレコードの件数は、7件である。したがって、分析部152は、特定領域R1「SECTION9」の重みを「2」に設定する。分析部152は、重みを設定すると、設定した重みを示すデータを生成する。 In the example shown in Figure 8, for the one day of "August 26, 2020," there are seven records for the model "Rice Cooker," the photographed portion "Top Surface," and the defective area "SECTION 9." Therefore, the analysis unit 152 sets the weight of the specific area R1 "SECTION 9" to "2." After setting the weight, the analysis unit 152 generates data indicating the set weight.

分析部152は、生成した重みを示すデータを「重みデータ165d」として、図17に示す出力準備データ記憶部165に更に記憶させて(図16のステップS206)、分析処理を終了する。 The analysis unit 152 further stores the data indicating the generated weights as "weight data 165d" in the output preparation data storage unit 165 shown in FIG. 17 (step S206 in FIG. 16), and then terminates the analysis process.

図17に示す出力準備データ記憶部165は、機種データ165aと、撮影部分データ165bと、特定領域データ165cとに加え、重みデータ165dを更に関連付けて記憶する。 The output preparation data storage unit 165 shown in Figure 17 stores weight data 165d in association with model data 165a, photographed portion data 165b, and specific area data 165c.

出力処理部153は、出力処理において、利用者によって、出力対象として指定された重みの特定領域R1を指し示す注意喚起画像GCのデータを生成し、出力部14を介してプロジェクタ2へ出力する。なお、利用者は、操作部11を操作することにより重みを指定できる。出力処理部153は、操作部11から指定された重みを示すデータを受信すると、その重みを示すデータを生成する。生成された重みを示すデータは、例えば、補助記憶装置16bに記憶される。出力処理部153は、補助記憶装置16bに記憶された重みを示すデータを参照することにより、注意喚起画像GCのデータを生成する。 In the output process, the output processing unit 153 generates data for an attention drawing image GC that indicates the specific area R1 of the weight specified by the user as the output target, and outputs the data to the projector 2 via the output unit 14. The user can specify the weight by operating the operation unit 11. When the output processing unit 153 receives data indicating the specified weight from the operation unit 11, it generates data indicating the weight. The generated data indicating the weight is stored, for example, in the auxiliary storage device 16b. The output processing unit 153 generates data for the attention drawing image GC by referencing the data indicating the weight stored in the auxiliary storage device 16b.

詳しくは、図13に示す出力処理のステップS306において、出力処理部153は、ステップS302及びステップS304で取得したデータに加え、指定された重みを示すデータを含むレコードを、図17に示す出力準備データ記憶部165に記憶されたデータの中から検索する。具体的には、出力処理部153は、ステップS302で取得した機種データ161aが機種データ165aと一致し、ステップS304で取得した検査内容データ162dが撮影部分データ165bと一致し、かつ指定された重みを示す重みデータ165dのレコードを、出力準備データ記憶部165に記憶されたデータの中から検索する。 More specifically, in step S306 of the output process shown in FIG. 13, the output processing unit 153 searches the data stored in the output preparation data storage unit 165 shown in FIG. 17 for a record that includes data indicating the specified weight in addition to the data acquired in steps S302 and S304. Specifically, the output processing unit 153 searches the data stored in the output preparation data storage unit 165 for a record in which the model data 161a acquired in step S302 matches the model data 165a, the examination content data 162d acquired in step S304 matches the photographed portion data 165b, and the weight data 165d indicates the specified weight.

出力処理部153は、検索条件に合致するレコードを発見すると、そのレコードの特定領域データ165cが示す特定領域R1を指し示す注意喚起画像GCのデータを生成する。出力処理部153は、注意喚起画像GCのデータを、出力部14を介してプロジェクタ2へ出力して(図13のステップS306)、出力処理を終了する。 When the output processing unit 153 finds a record that matches the search criteria, it generates data for an attention drawing image GC that points to the specific area R1 indicated by the specific area data 165c of that record. The output processing unit 153 outputs the data for the attention drawing image GC to the projector 2 via the output unit 14 (step S306 in Figure 13), and then ends the output process.

例えば、重みとして「2」が指定されている場合、図2Bに示すように、「SECTION9」を指し示す注意喚起画像GCが被検査品Wに表示される。以上の処理により、利用者により指定された重みが設定された特定領域R1を指し示す注意喚起画像GCが被検査品Wに表示される。 For example, if "2" is specified as the weight, as shown in Figure 2B, an attention drawing image GC pointing to "SECTION 9" is displayed on the inspected product W. Through the above processing, an attention drawing image GC pointing to the specific region R1 for which the weight specified by the user has been set is displayed on the inspected product W.

以上説明したように、実施の形態2の外観検査支援装置100によれば、指定した重みが設定された注意喚起画像GCを被検査品Wに表示させることができる。したがって、作業者Pの利便性を図ることができ、外観検査の高品質化を図ることができる。 As described above, the visual inspection support device 100 of embodiment 2 can display an attention-calling image GC with a specified weight set on the inspected product W. This improves convenience for the operator P and enables higher quality visual inspections.

[実施の形態2の変形例]
なお、出力処理部153は、作業者Pに特定領域R1の重み、すなわち、重要度を容易に把握させるために、例えば、重みに応じて注意喚起画像GCに含まれる画像の色、明るさ、太さなどの属性を変化させてもよい。
[Modification of the Second Embodiment]
In addition, the output processing unit 153 may change attributes such as color, brightness, thickness, etc. of the image contained in the warning image GC according to the weight, so that the worker P can easily understand the weight, i.e., importance, of the specific area R1.

[実施の形態3]
図18から図26を参照して、実施の形態3に係る外観検査支援装置100について説明する。実施の形態3は、外観検査を担当する作業者Pの習熟度に応じて、被検査品Wに表示される注意喚起画像GCが変化する点が実施の形態1及び2と異なる。以下、実施の形態1及び2と異なる点を中心に説明する。
Third Embodiment
18 to 26, a visual inspection support device 100 according to a third embodiment will be described. The third embodiment differs from the first and second embodiments in that the attention-calling image GC displayed on the inspected product W changes depending on the proficiency level of the operator P in charge of the visual inspection. The following description will focus on the differences from the first and second embodiments.

図18に示すデータ記憶部16は、外観検査を担当する作業者Pの習熟度を特定するために必要なデータを更に含む。データ記憶部16は、外観検査を担当する作業者Pの担当スケジュールに関するデータを記憶する担当スケジュール記憶部166、及び作業者Pの習熟度に関するデータを記憶する作業者マスタ記憶部167を更に含む。 The data storage unit 16 shown in FIG. 18 further includes data necessary to identify the proficiency level of the worker P in charge of the visual inspection. The data storage unit 16 further includes a schedule storage unit 166 that stores data related to the schedule of the worker P in charge of the visual inspection, and a worker master storage unit 167 that stores data related to the proficiency level of the worker P.

図19に示す担当スケジュール記憶部166は、外観検査を担当する担当者データ166aと、作業者Pが外観検査を担当するスケジュールを示す担当スケジュールデータ166bと、担当する外観検査の検査内容を示す検査内容データ166eと、を関連付けて記憶する。担当スケジュールデータ166bは、担当開始日時を示す担当開始日時データ166c及び担当終了日時を示す担当終了日時データ166dを含む。担当スケジュールに関するデータは、例えば、利用者によって、担当スケジュール記憶部166に予め登録される。 The assigned schedule storage unit 166 shown in FIG. 19 associates and stores data 166a of the person in charge of the visual inspection, assigned schedule data 166b indicating the schedule for which worker P is in charge of the visual inspection, and inspection content data 166e indicating the inspection content of the visual inspection for which worker P is in charge. The assigned schedule data 166b includes assigned start date and time data 166c indicating the start date and time of the assignment and assigned end date and time data 166d indicating the end date and time of the assignment. Data related to the assigned schedule is registered in advance in the assigned schedule storage unit 166 by, for example, the user.

図20に示す作業者マスタ記憶部167は、外観検査を担当する作業者Pを示す作業者データ167aと、作業者Pの習熟度を示す習熟度データ167bと、を関連付けて記憶する。習熟度データ167bには、作業者Pの勤続年数、経験、技術力などに基づいて、例えば、3段階で評価された値(「1」~「3」)が設定される。習熟度は、その値が大きいほど、作業者Pの習熟度が高いことを示す。なお、習熟度の評価は、3段階に限定されず、5段階、10段階など利用者によって予め設定される。また、習熟度は、予め定められた習熟度基準値以上、例えば、「2」以上を「高い」といい、習熟度基準値未満、例えば、「1」を「低い」という。 The worker master storage unit 167 shown in FIG. 20 stores worker data 167a indicating worker P in charge of visual inspection and proficiency data 167b indicating worker P's proficiency, in association with each other. Proficiency data 167b is set, for example, as a three-level evaluation value ("1" to "3") based on worker P's years of service, experience, technical ability, etc. The higher the proficiency value, the higher the proficiency level of worker P. Note that proficiency evaluation is not limited to three levels, and can be preset by the user on a scale of five or ten, for example. Furthermore, proficiency levels equal to or above a predetermined proficiency standard value, for example, "2" or higher, are considered "high," while proficiency levels below the proficiency standard value, for example, "1," are considered "low."

入力処理部151は、図21に示す入力処理において、不良領域を特定すると(ステップS110)、不良を発見した作業者Pを特定する(ステップS502)。入力処理部151は、ステップS108で取得した検査内容データ162dと、撮影時刻データと、を検索条件として、図19に示す担当スケジュール記憶部166に記憶されたデータの中から、検索条件に合致するレコードを検索する。 In the input process shown in FIG. 21, when the input processing unit 151 identifies a defective area (step S110), it identifies the worker P who discovered the defect (step S502). The input processing unit 151 uses the inspection content data 162d and the photography time data acquired in step S108 as search conditions to search for records that match the search conditions from among the data stored in the in-charge schedule storage unit 166 shown in FIG. 19.

詳しくは、入力処理部151は、図21のステップS108で取得した検査内容データ162dが検査内容データ166eと一致し、撮影時刻データが担当開始日時データ166c以降、かつ担当終了日時データ166d以前のレコードを、担当スケジュール記憶部166に記憶されたデータの中から検索する。入力処理部151は、検索条件に合致するレコードを発見すると、そのレコードの担当者データ166aを取得することにより、不良を発見した作業者Pを特定する。 In detail, the input processing unit 151 searches the data stored in the assigned schedule storage unit 166 for records in which the inspection content data 162d acquired in step S108 of FIG. 21 matches the inspection content data 166e, and the photography time data is after the assigned start date and time data 166c and before the assigned end date and time data 166d. When the input processing unit 151 finds a record that matches the search criteria, it acquires the person in charge data 166a of that record to identify the worker P who discovered the defect.

入力処理部151は、不良を発見した作業者Pを特定すると、ステップS104からステップS502で取得したデータを関連付けて、図22に示すように、不良品画像関連データ記憶部164に記憶させる(図21のステップS112)。詳しくは、入力処理部151は、ステップS502で取得した担当者データ166aを「作業者データ164f」として、不良品画像関連データ記憶部164に更に記憶させて、入力処理を終了する。 When the input processing unit 151 identifies the worker P who discovered the defect, it associates the data acquired in steps S104 to S502 and stores it in the defective product image related data storage unit 164, as shown in FIG. 22 (step S112 in FIG. 21). In more detail, the input processing unit 151 further stores the person in charge data 166a acquired in step S502 as "worker data 164f" in the defective product image related data storage unit 164, and then terminates the input process.

不良品画像関連データ記憶部164は、不良品画像識別名データ164aと、機種データ164bと、撮影部分データ164cと、発見日時データ164dと、不良領域データ164eと、に加え、不良を発見した作業者Pを示す作業者データ164fを更に関連付けて記憶する。 The defective product image related data storage unit 164 stores defective product image identification name data 164a, model data 164b, photographed part data 164c, discovery date and time data 164d, defective area data 164e, and worker data 164f indicating the worker P who discovered the defect, in association with each other.

出力処理部153は、出力処理において、外観検査を担当する作業者Pを特定し、その作業者Pの習熟度に応じた注意喚起画像GCのデータを、出力部14を介してプロジェクタ2に出力する。すなわち、出力処理部153は、外観検査を担当する作業者Pの習熟度に応じて、注意喚起画像GCのデータを出力する。 In the output process, the output processing unit 153 identifies the worker P in charge of the visual inspection and outputs data of the attention drawing image GC according to the proficiency level of that worker P to the projector 2 via the output unit 14. In other words, the output processing unit 153 outputs data of the attention drawing image GC according to the proficiency level of the worker P in charge of the visual inspection.

図23に示すように、出力処理部153は、外観検査の内容を特定すると(ステップS304)、出力対象のプロジェクタ2が設置される外観検査場SVで外観検査を担当する作業者Pを特定する(ステップS602)。出力処理部153は、ステップS304で取得した検査内容データ162dと、現在時刻を示すデータとを検索条件として、図19に示す担当スケジュール記憶部166に記憶されたデータを検索する。 As shown in FIG. 23, once the output processing unit 153 identifies the content of the visual inspection (step S304), it identifies the worker P in charge of the visual inspection at the visual inspection site SV where the projector 2 to be output is installed (step S602). The output processing unit 153 searches for data stored in the in-charge schedule storage unit 166 shown in FIG. 19 using the inspection content data 162d acquired in step S304 and data indicating the current time as search conditions.

詳しくは、出力処理部153は、ステップS304で取得した検査内容データ162dが検査内容データ166eと一致し、撮影時刻データが担当開始日時データ166c以降で、かつ担当終了日時データ166d以前のレコードを、担当スケジュール記憶部166に記憶されたデータの中から検索する。出力処理部153は、検索条件に合致するレコードを発見すると、そのレコードの担当者データ166aを取得することにより、出力対象のプロジェクタ2が設置される外観検査場SVで外観検査を担当する作業者Pを特定する。 In detail, the output processing unit 153 searches the data stored in the assigned schedule storage unit 166 for records in which the inspection content data 162d acquired in step S304 matches the inspection content data 166e, and the shooting time data is after the assigned start date and time data 166c and before the assigned end date and time data 166d. When the output processing unit 153 finds a record that matches the search criteria, it acquires the person in charge data 166a of that record, thereby identifying the worker P in charge of the appearance inspection at the appearance inspection site SV where the projector 2 to be output is installed.

次に、出力処理部153は、図23のステップS602で特定した作業者Pの習熟度を特定する(ステップS604)。出力処理部153は、ステップS602で取得した担当者データ166aを検索条件として、図20に示す作業者マスタ記憶部167に記憶されたデータを検索する。 Next, the output processing unit 153 identifies the proficiency level of worker P identified in step S602 of FIG. 23 (step S604). The output processing unit 153 searches the data stored in the worker master storage unit 167 shown in FIG. 20 using the person in charge data 166a acquired in step S602 as a search condition.

詳しくは、出力処理部153は、ステップS602で取得した担当者データ166aが作業者データ167aと一致するレコードを、作業者マスタ記憶部167に記憶されたデータの中から検索する。出力処理部153は、検索条件に合致するレコードを発見すると、そのレコードの習熟度データ167bを取得することにより、作業者Pの習熟度を特定する。 In detail, the output processing unit 153 searches the data stored in the worker master storage unit 167 for records in which the person in charge data 166a acquired in step S602 matches the worker data 167a. When the output processing unit 153 finds a record that matches the search criteria, it acquires the proficiency data 167b of that record to identify the proficiency of worker P.

出力処理部153は、作業者Pの習熟度を特定すると、図24に示す出力準備データ記憶部165に記憶されたデータの中から、特定した作業者Pの習熟度に関連付けられた特定領域データ165cを取得する。 When the output processing unit 153 identifies the proficiency level of worker P, it obtains specific area data 165c associated with the identified proficiency level of worker P from the data stored in the output preparation data storage unit 165 shown in FIG. 24.

出力準備データ記憶部165は、機種データ165aと、撮影部分データ165bと、特定領域データ165cと、に加え、習熟度データ165eを更に関連付けて記憶する。なお、習熟度データ165eは、例えば、図22に示す不良品画像関連データ記憶部164に記憶されたデータに基づいて、利用者によって登録される。 The output preparation data storage unit 165 stores model data 165a, photographed portion data 165b, specific area data 165c, and proficiency data 165e in association with each other. Note that the proficiency data 165e is registered by the user based on, for example, data stored in the defective product image related data storage unit 164 shown in FIG. 22.

出力処理部153は、特定した作業者Pの習熟度に関連付けられた特定領域データ165cを取得すると、取得した特定領域データ165cが示す特定領域R1を指し示す注意喚起画像GCのデータを生成する。出力処理部153は、生成した注意喚起画像GCのデータを、出力部14を介してプロジェクタ2へ出力して(図23のステップS306)、出力処理を終了する。 When the output processing unit 153 acquires the specific area data 165c associated with the identified proficiency level of the worker P, it generates data for an attention drawing image GC that indicates the specific area R1 indicated by the acquired specific area data 165c. The output processing unit 153 outputs the generated data for the attention drawing image GC to the projector 2 via the output unit 14 (step S306 in Figure 23), and ends the output process.

各プロジェクタ2は、出力処理部153から注意喚起画像GCのデータが入力されると、入力された注意喚起画像GCのデータに基づいて、注意喚起画像GCを被検査品Wの表面に投影する。 When data for the attention drawing image GC is input from the output processing unit 153, each projector 2 projects the attention drawing image GC onto the surface of the inspected product W based on the input data for the attention drawing image GC.

例えば、図24に示す例において、直近n時間における生産対象の機種が「炊飯器」で、注意喚起画像GCのデータを出力するプロジェクタ2が設置される外観検査場SVで実施される外観検査の内容が「天面」、外観検査を担当する作業者Pの習熟度が「1」の場合、図25に示すように、特定領域R1「SECTION1」を指し示す画像GC2、及び特定領域R1「SECTION9」を指し示す画像GC1を含む注意喚起画像GCがプロジェクタ2によって被検査品Wへ向けて投影されて、被検査品Wの表面に表示される。一方、作業者Pの習熟度が「3」の場合、図26に示すように、特定領域R1「SECTION1」を指し示す画像GC2を含む注意喚起画像GCが被検査品Wの表面に表示される。 For example, in the example shown in Figure 24, if the model of the object to be produced in the last n hours is a "rice cooker," the content of the visual inspection performed at the visual inspection site SV where projector 2 that outputs the data for the attention image GC is installed is "top surface," and the proficiency level of operator P in charge of the visual inspection is "1," then, as shown in Figure 25, an attention image GC including an image GC2 pointing to specific area R1 "SECTION 1" and an image GC1 pointing to specific area R1 "SECTION 9" is projected by projector 2 toward the inspected product W and displayed on the surface of the inspected product W. On the other hand, if operator P's proficiency level is "3," an attention image GC including an image GC2 pointing to specific area R1 "SECTION 1" is displayed on the surface of the inspected product W, as shown in Figure 26.

例えば、習熟度が高い作業者Pは、特定領域R1を指し示す画像が被検査品Wの表面に多く表示されると、煩雑さを感じる虞がある。一方、習熟度の低い作業者Pは、すべての特定領域R1を指し示す画像が被検査品Wの表面に表示されないと、不良を見落としてしまう虞がある。実施の形態3に係る外観検査支援装置100によれば、被検査品Wの表面に表示される注意喚起画像GCを作業者Pの習熟度に応じて変化させることができる。これにより、作業者Pの利便性を図ることができ、外観検査の高品質化を図ることができる。 For example, a highly skilled worker P may feel cumbered if many images pointing to specific regions R1 are displayed on the surface of the inspected product W. On the other hand, a less skilled worker P may overlook defects if images pointing to all specific regions R1 are not displayed on the surface of the inspected product W. According to the visual inspection support device 100 of embodiment 3, the warning image GC displayed on the surface of the inspected product W can be changed according to the proficiency of the worker P. This improves convenience for the worker P and enables higher quality visual inspections.

また、実施の形態3によれば、作業者Pごとに発見した不良領域を集計することができるため、利用者は、作業者Pの習熟度を客観的に把握することができる。 Furthermore, according to embodiment 3, it is possible to tally up the defective areas discovered by each worker P, allowing the user to objectively grasp the proficiency level of each worker P.

[実施の形態3の変形例]
なお、入力処理が実行される順番は、適宜変更可能である。図21に示すステップS502の処理は、ステップS108よりも後であって、ステップS112よりも前に実行されればよく、例えば、ステップS108とステップS110との間で実行されてもよい。
[Modification of the Third Embodiment]
The order in which the input processes are performed can be changed as appropriate. The process of step S502 shown in Fig. 21 may be performed after step S108 and before step S112, for example, between step S108 and step S110.

[実施の形態4]
図27から図30を参照して、実施の形態4に係る外観検査支援装置100について説明する。実施の形態4は、時間帯ごとの不良領域の傾向が分析され、外観検査が行われる時間帯に応じて、注意喚起画像GCが変化する点が実施の形態1から3と異なる。以下、実施の形態1から3と異なる点を中心に説明する。なお、「時間帯」は、本開示の「時間区分」の一例である。
[Fourth embodiment]
27 to 30, a visual inspection support device 100 according to a fourth embodiment will be described. The fourth embodiment differs from the first to third embodiments in that the tendency of defective areas for each time period is analyzed, and the attention-calling image GC changes depending on the time period during which the visual inspection is performed. The following description will focus on the differences from the first to third embodiments. Note that the "time period" is an example of the "time segment" in the present disclosure.

図27に示すように、入力処理部151は、不良領域を特定すると(ステップS110)、その不良が発見された時間帯を特定する(ステップS702)。入力処理部151は、撮影時刻データに基づいて、不良が発見された時間帯が5つの時間帯「第1時間帯」、「第2時間帯」、「第3時間帯」、「第4時間帯」、及び「その他」のいずれに属するかを判定する。 As shown in FIG. 27, once the input processing unit 151 identifies a defective area (step S110), it identifies the time period in which the defect was discovered (step S702). Based on the image capture time data, the input processing unit 151 determines whether the time period in which the defect was discovered belongs to one of the five time periods: "First Time Period," "Second Time Period," "Third Time Period," "Fourth Time Period," or "Other."

5つの時間帯「第1時間帯」、「第2時間帯」、「第3時間帯」、「第4時間帯」、及び「その他」の時間範囲は、利用者によって予め設定される。利用者は、例えば、「第1時間帯」を始業後の「9:00~10:00」、「第2時間帯」を昼食前の「11:00~12:00」、「第3時間帯」を昼食後の「13:00~14:00」、「第4時間帯」を終業前の「16:00~17:00」、及び「第1時間帯」~「第4時間帯」以外の時間範囲を「その他」として設定する。入力処理部151は、不良箇所が発見された時間帯を特定すると、その時間帯を示すデータを生成する。 The time ranges for the five time periods, "First Time Period," "Second Time Period," "Third Time Period," "Fourth Time Period," and "Other," are set in advance by the user. For example, the user might set "First Time Period" as "9:00-10:00" after work begins, "Second Time Period" as "11:00-12:00" before lunch, "Third Time Period" as "13:00-14:00" after lunch, "Fourth Time Period" as "16:00-17:00" before work ends, and any time range outside of "First Time Period" to "Fourth Time Period" as "Other." When the input processing unit 151 identifies the time period in which the defect was discovered, it generates data indicating that time period.

次に、入力処理部151は、ステップS104からステップS702で取得したデータを関連付けて記憶させる(ステップS112)。詳しくは、入力処理部151は、ステップS702で取得した時間帯を示すデータを「時間帯データ164g」として、図28に示す不良品画像関連データ記憶部164に更に記憶させて、入力処理を終了する。 Next, the input processing unit 151 associates and stores the data acquired in steps S104 to S702 (step S112). Specifically, the input processing unit 151 further stores the data indicating the time period acquired in step S702 as "time period data 164g" in the defective product image related data storage unit 164 shown in FIG. 28, and then terminates the input process.

図28に示す不良品画像関連データ記憶部164は、不良品画像識別名データ164aと、機種データ164bと、撮影部分データ164cと、発見日時データ164dと、不良領域データ164eと、に加え、不良が発見された時間帯を示す時間帯データ164gを更に関連付けて記憶する。 The defective product image related data storage unit 164 shown in Figure 28 stores defective product image identification name data 164a, model data 164b, photographed portion data 164c, discovery date and time data 164d, defective area data 164e, and time period data 164g indicating the time period in which the defect was discovered, in association with each other.

分析部152は、分析処理において、利用者によって設定された期間における不良が発生した時間帯ごとの不良領域の不良発生件数を分析する。分析部152は、時間帯ごとの不良発生件数が第2不良閾値T2以上の不良領域を、その時間帯における不良が発生する傾向が高い領域として特定する。なお、第2不良閾値T2は、第1不良閾値T1と同じ値が設定されてもよいし、異なる値が設定されてもよい。第2不良閾値T2は、基準の一例である。 In the analysis process, the analysis unit 152 analyzes the number of defects occurring in defective areas for each time period in which defects occurred during a period set by the user. The analysis unit 152 identifies defective areas in which the number of defects occurring for each time period is equal to or greater than the second defect threshold T2 as areas that are likely to experience defects during that time period. Note that the second defect threshold T2 may be set to the same value as the first defect threshold T1, or may be set to a different value. The second defect threshold T2 is an example of a criterion.

詳しくは、図12に示す分析処理のステップS202において、分析部152は、不良品画像関連データ記憶部164に記憶された不良品画像GDに関するデータを、機種、撮影部分、不良領域、及び時間帯ごとに集計する。 More specifically, in step S202 of the analysis process shown in FIG. 12, the analysis unit 152 aggregates data related to defective product images GD stored in the defective product image-related data storage unit 164 by model, photographed part, defective area, and time period.

次に、分析部152は、集計されたレコード数、すなわち、不良発生件数に基づいて、不良の発生する傾向が高い領域を時間帯ごとに特定する(ステップS204)。例えば、第2不良閾値T2が「3」に設定されている場合、図28に示す不良品画像関連データ記憶部164のデータを、「2020年8月26日」の1日間で、機種、撮影部分、不良領域、及び時間帯ごとに集計すると、機種「炊飯器」、撮影部分「天面」、時間帯「第4時間帯」、及び不良領域「SECTION9」のレコードの件数が4件となり、3件以上になる。したがって、分析部152は、時間帯「第4時間帯」において、機種「炊飯器」、及び撮影部分「天面」の不良領域「SECTION9」を不良が発生する傾向が高い領域、すなわち、特定領域R1として特定する。 Next, the analysis unit 152 identifies areas with a high tendency for defects to occur for each time period based on the aggregated number of records, i.e., the number of defects (step S204). For example, if the second defect threshold T2 is set to "3," and the data in the defective product image-related data storage unit 164 shown in FIG. 28 is aggregated for one day, "August 26, 2020," by model, photographed part, defective area, and time period, the number of records for the model "Rice Cooker," the photographed part "Top Surface," the time period "Fourth Time Period," and the defective area "SECTION 9" is four, which is more than three. Therefore, the analysis unit 152 identifies the model "Rice Cooker" and the defective area "SECTION 9" of the photographed part "Top Surface" as areas with a high tendency for defects to occur for the time period "Fourth Time Period," i.e., the identified area R1.

分析部152は、時間帯ごとの特定領域R1を特定すると、集計に使用した時間帯を示すデータを「時間帯データ165f」として、図29に示す出力準備データ記憶部165に更に記憶させて(図12のステップS206)、分析処理を終了する。 Once the analysis unit 152 has identified the specific area R1 for each time period, it further stores the data indicating the time period used for the aggregation as "time period data 165f" in the output preparation data storage unit 165 shown in FIG. 29 (step S206 in FIG. 12), and terminates the analysis process.

図29に示す出力準備データ記憶部165は、機種データ165aと、撮影部分データ165bと、特定領域データ165cと、に加え、時間帯データ165fを更に関連付けて記憶する。 The output preparation data storage unit 165 shown in Figure 29 stores model data 165a, photographed portion data 165b, specific area data 165c, and time period data 165f in association with each other.

出力処理部153は、出力処理において、外観検査が実施される時間帯の特定領域R1を指し示す画像を含む注意喚起画像GCのデータを生成し、出力部14を介してプロジェクタ2へ出力する。 During the output process, the output processing unit 153 generates data for an attention-calling image GC that includes an image indicating the specific area R1 during the time period in which the visual inspection is to be performed, and outputs this data to the projector 2 via the output unit 14.

図30に示す出力処理において、出力処理部153は、外観検査の内容を特定すると(ステップS304)、現在時刻データに基づいて、直近1時間が5つのいずれの時間帯に属するかを特定する(ステップS802)。 In the output process shown in FIG. 30, the output processing unit 153 identifies the content of the visual inspection (step S304), and then identifies which of the five time zones the most recent hour belongs to based on the current time data (step S802).

次に、出力処理部153は、図29に示す出力準備データ記憶部165に記憶されたデータから、特定した時間帯に関連付けられた特定領域データ165cを取得する。 Next, the output processing unit 153 obtains the specific area data 165c associated with the identified time period from the data stored in the output preparation data storage unit 165 shown in FIG. 29.

出力処理部153は、特定した時間帯に関連付けられた特定領域データ165cを取得すると、取得した特定領域データ165cが示す特定領域R1を指し示す注意喚起画像GCのデータを生成する。出力処理部153は、注意喚起画像GCのデータを、出力部14を介してプロジェクタ2へ出力して(図30のステップS306)、出力処理を終了する。 When the output processing unit 153 acquires the specific area data 165c associated with the identified time period, it generates data for an attention drawing image GC that indicates the specific area R1 indicated by the acquired specific area data 165c. The output processing unit 153 outputs the data for the attention drawing image GC to the projector 2 via the output unit 14 (step S306 in Figure 30), and ends the output process.

プロジェクタ2は、出力処理部153から注意喚起画像GCのデータが入力されると、入力された注意喚起画像GCのデータに基づいて、注意喚起画像GCを被検査品Wの表面に投影する。以上の処理により、外観検査が行われる時間帯に応じた注意喚起画像GCが被検査品Wの表面に表示される。 When the projector 2 receives data for the attention drawing image GC from the output processing unit 153, it projects the attention drawing image GC onto the surface of the inspected product W based on the received data for the attention drawing image GC. Through the above processing, the attention drawing image GC corresponding to the time period during which the visual inspection is performed is displayed on the surface of the inspected product W.

一般的に、時間帯が変化すると、発生する不良の傾向が変化する。例えば、始業直後は、各工程の作業者の集中力が高く、終業直前は、作業者の集中力が始業直後よりも低下する傾向がある。このため、終業直前は、部品をコンベアに接触させることに起因する不良といった作業者の不注意による不良が始業直後よりも多く発生する傾向がある。一方、始業直後は、作業者による不注意による不良よりも、生産ラインの問題、又は製品設計上の問題による不良が発生する傾向がある。実施の形態4に係る外観検査支援装置100によれば、外観検査が実施される時間帯に応じて、被検査品Wの表面に表示される注意喚起画像GCが変化する。したがって、外観検査の効率化を図ることができる。 Generally, the tendency for defects to occur changes as the time of day changes. For example, workers in each process tend to be highly concentrated immediately after the start of work, and less so immediately before the end of work. For this reason, defects caused by carelessness by workers, such as defects resulting from parts touching the conveyor, tend to occur more frequently immediately before the end of work than immediately after the start of work. On the other hand, defects caused by problems with the production line or product design tend to occur more frequently immediately after the start of work than defects caused by carelessness by workers. According to the visual inspection support device 100 of embodiment 4, the attention-calling image GC displayed on the surface of the inspected product W changes depending on the time of day when the visual inspection is performed. This makes it possible to improve the efficiency of visual inspection.

[実施の形態4の変形例]
なお、入力処理が実行される順番は、適宜変更可能である。図27に示すステップS702の処理は、ステップS112よりも前に実行されればよく、例えば、ステップS108とステップS110との間で実行されてもよい。また、同様に出力処理が実行される順番は、適宜変更可能である。図30に示すステップS802の処理は、ステップS306よりも前に実行されればよく、例えば、ステップS302とステップS304との間で実行されてもよい。
[Modification of the Fourth Embodiment]
The order in which the input processes are performed can be changed as appropriate. The process of step S702 shown in Fig. 27 may be performed before step S112, for example, between step S108 and step S110. Similarly, the order in which the output processes are performed can be changed as appropriate. The process of step S802 shown in Fig. 30 may be performed before step S306, for example, between step S302 and step S304.

[実施の形態5]
図31から図35を参照して、実施の形態5に係る外観検査支援装置100について説明する。実施の形態5は、外観検査支援装置100が、不良発生件数と、過去に発生した不良に対して実施済みの実施済み改善策に関する事項と、に基づいて、被検査品Wの改善すべき改善対象領域を提示する点が実施の形態1から4と異なる。以下、実施の形態5について実施の形態1から4と異なる点を中心に説明する。
Fifth Embodiment
31 to 35, a visual inspection support device 100 according to a fifth embodiment will be described. The fifth embodiment differs from the first to fourth embodiments in that the visual inspection support device 100 presents improvement target areas of the inspected product W based on the number of defects and items related to improvement measures that have been implemented for defects that have occurred in the past. The following describes the fifth embodiment, focusing on the differences from the first to fourth embodiments.

図31に示すように、外観検査支援装置100は、不良発生件数と、実施済み改善策に関する事項と、に基づいて、改善対象領域を提示する改善策提示部154を更に備える。改善策提示部154は、図3に示すプロセッサ15が、制御プログラムを実行することにより、操作部11、ディスプレイ12、入力部13、出力部14、主記憶装置16a及び補助記憶装置16bを資源として利用することにより実現される。 As shown in FIG. 31, the visual inspection support device 100 further includes an improvement measure presentation unit 154 that presents areas to be improved based on the number of defects and information related to implemented improvement measures. The improvement measure presentation unit 154 is realized by the processor 15 shown in FIG. 3 executing a control program and using the operation unit 11, display 12, input unit 13, output unit 14, main memory device 16a, and auxiliary memory device 16b as resources.

データ記憶部16は、学習済みモデル記憶部168及び改善策データ記憶部169を更に含む。 The data storage unit 16 further includes a trained model storage unit 168 and an improvement plan data storage unit 169.

学習済みモデル記憶部168は、学習済みモデルを記憶する。学習済みモデルは、公知の機械学習ライブラリを利用し、例えば、学習データに正解ラベルを付けたデータの組を学習させる「教師あり学習方法」によって生成される。なお、学習済みモデルは、「教師なし学習方法」、「強化学習方法」、「半教師あり学習方法」などの他の学習方法によって学習し生成されてもよい。 The trained model storage unit 168 stores trained models. Trained models are generated using a publicly known machine learning library, for example, by a "supervised learning method" in which training data is trained using a set of data with correct answer labels attached. Note that trained models may also be trained and generated using other learning methods, such as "unsupervised learning methods," "reinforcement learning methods," and "semi-supervised learning methods."

学習アルゴリズムは、ニューラルネットワークといった公知の学習アルゴリズムを利用することができる。ニューラルネットワークは、異なる入力パラメータが入力される複数のノードで構成される入力層、入力層の各ノードから出力された信号が入力される中間層、及び、中間層から出力された信号が入力され、出力パラメータを出力する出力層を有する。なお、ニューラルネットワークの中間層は、1又は2以上で構成されてもよい。 The learning algorithm can be a well-known learning algorithm such as a neural network. A neural network has an input layer composed of multiple nodes to which different input parameters are input, an intermediate layer to which signals output from each node in the input layer are input, and an output layer to which signals output from the intermediate layer are input and which outputs output parameters. Note that a neural network may be composed of one or more intermediate layers.

学習データとしては、実施済み改善策に関するデータが用いられ、正解ラベルとして、改善対象領域を示すデータ及び改善優先ポイントを示すデータが用いられる。 Data related to implemented improvement measures is used as training data, and data indicating areas to be improved and data indicating priority points for improvement are used as correct labels.

実施済み改善策に関する事項は、機種を示すデータと、被検査品Wの検査対象の面を示すデータと、不良領域を示すデータと、不良発生件数を示すデータと、不良を改善する際に発生した手戻り時間に基づいて設定される手戻係数を示すデータと、不良を改善するために要した代替品の費用に基づいて設定される代替係数を示すデータと、を含む。機種を示すデータと、被検査品Wの検査対象の面を示すデータと、不良領域を示すデータと、不良発生件数を示すデータと、手戻係数を示すデータと、代替係数を示すデータと、は互いに関連付けられている。なお、不良発生件数は、機種、被検査品Wの検査対象の面、及び不良領域ごとに集計されて求められる。 Items related to implemented improvement measures include data indicating the model, data indicating the surface of the inspected product W to be inspected, data indicating the defective area, data indicating the number of defects, data indicating a rework coefficient set based on the rework time required to correct the defect, and data indicating a replacement coefficient set based on the cost of a replacement product required to correct the defect. The data indicating the model, data indicating the surface of the inspected product W to be inspected, data indicating the defective area, data indicating the number of defects, data indicating the rework coefficient, and data indicating the replacement coefficient are associated with each other. The number of defects is calculated by tallying up the data for each model, surface of the inspected product W to be inspected, and defective area.

正解ラベルに用いられる改善優先ポイントは、機種、被検査品Wの検査対象の面、及び不良領域ごとに設定される。改善優先ポイントは、不良発生件数と、手戻り時間係数と、代替係数と、を乗算することにより求められる。改善優先ポイントは、不良発生件数と、手戻り時間係数と、代替係数と、を乗算して得られた値が大きいものから順に、高いポイントが設定される。あるいは、改善優先ポイントは、例えば、乗算して得られた値の幅に応じてポイントが設定されてもよい。改善対策ポイントは、乗算して得られた値が1以上10未満の場合に「1」が設定され、乗算して得られた値が10以上50未満の場合に「2」が設定されてもよい。 The improvement priority points used for the correct answer label are set for each model, surface of the inspected product W to be inspected, and defective area. The improvement priority points are calculated by multiplying the number of defects by the rework time coefficient and the replacement coefficient. The improvement priority points are set in descending order of the value obtained by multiplying the number of defects by the rework time coefficient and the replacement coefficient. Alternatively, the improvement priority points may be set according to the range of the value obtained by multiplication, for example. The improvement measure points may be set to "1" when the value obtained by multiplication is equal to or greater than 10 and less than 10, and "2" when the value obtained by multiplication is equal to or greater than 10 and less than 50.

改善策提示部154は、学習済みモデルを生成し、生成した学習済みモデルを利用して改善策を利用者に提示する。 The improvement measure presentation unit 154 generates a trained model and presents improvement measures to the user using the trained model.

図31に示すように、改善策提示部154は、学習済みモデルを生成する学習部154a、及び学習済みモデルを利用して改善策を推論する推論部154bを含む。 As shown in FIG. 31, the improvement measure presentation unit 154 includes a learning unit 154a that generates a trained model, and an inference unit 154b that infers improvement measures using the trained model.

以下、学習部154aによる学習処理について説明する。図32に示す学習処理は、利用者による実行を指示する操作を操作部11が受け付けると開始される。 The learning process performed by the learning unit 154a is described below. The learning process shown in Figure 32 begins when the operation unit 11 receives an instruction from the user to execute the process.

学習部154aは、正解ラベルが付加された実施済み改善策に関するデータを教師データとして受け付ける(ステップS902)。教師データは、入力部13を介して学習部154aに入力される。 The learning unit 154a accepts data related to implemented improvement measures to which correct answer labels have been added as training data (step S902). The training data is input to the learning unit 154a via the input unit 13.

学習部154aは、教師データを用いて繰り返し学習し(ステップS904)、教師データに含まれるデータの特徴、規則などを解析する。学習部154aは、学習済みモデルを学習済みモデル記憶部168に記憶させて(ステップS906)、学習処理を終了する。 The learning unit 154a repeatedly learns using the training data (step S904) and analyzes the characteristics and rules of the data contained in the training data. The learning unit 154a stores the trained model in the trained model storage unit 168 (step S906) and ends the learning process.

推論部154bは、学習済みモデルを利用して、図33に示す推論処理を実行する。推論処理は、利用者によって予め設定されたタイミングで実行される。利用者は、推論処理を実行するタイミングとして、例えば、1週間単位又は1か月単位に設定する。 The inference unit 154b uses the trained model to execute the inference process shown in Figure 33. The inference process is executed at a timing preset by the user. The user sets the timing for executing the inference process to, for example, once a week or once a month.

推論部154bは、入力パラメータとして実施済み改善策に関するデータを学習済みモデルへ入力する(ステップS1002)。入力パラメータは、操作部11、入力部13などを介して入力されるデータが利用される。 The inference unit 154b inputs data related to the implemented improvement measures as input parameters to the trained model (step S1002). The input parameters are data input via the operation unit 11, input unit 13, etc.

推論部154bは、学習済みモデルを利用して、入力パラメータに基づく推論を実行し(ステップS1004)、改善対象領域を示すデータ及び改善優先ポイントを示すデータを出力パラメータとして出力して(ステップS1006)、推論処理を終了する。 The inference unit 154b uses the trained model to perform inference based on the input parameters (step S1004), outputs data indicating areas to be improved and data indicating priority points for improvement as output parameters (step S1006), and terminates the inference process.

改善策提示部154は、推論部154bから出力された出力パラメータを改善策データとして取得する。改善策提示部154は、改善策データを取得すると、図34に示す改善策データ記憶部169に改善策データを記憶させる。 The improvement proposal presentation unit 154 acquires the output parameters output from the inference unit 154b as improvement proposal data. Upon acquiring the improvement proposal data, the improvement proposal presentation unit 154 stores the improvement proposal data in the improvement proposal data storage unit 169 shown in FIG. 34.

改善策データ記憶部169には、改善が必要な順位である優先順位を示す優先順位データ169aと、機種を示す機種データ169bと、被検査品Wの検査対象の面を示す部分データ169cと、改善対象領域を示す改善対象領域データ169dと、が関連付けて記憶される。改善策提示部154は、出力パラメータに含まれる改善対象領域を示すデータを改善対象領域データ169dとして記憶させる。改善策提示部154は、推論部154bが出力した出力パラメータに含まれる改善優先ポイントを示すデータに基づいて優先順位を設定し、その設定したデータを優先順位データ169aとして記憶させる。改善策提示部154は、例えば、改善優先ポイントの値が高い順に優先順位を高く設定する。 The improvement measure data storage unit 169 stores, in association with one another, priority order data 169a indicating the order of priority in which improvement is required, model data 169b indicating the model, part data 169c indicating the surface of the inspected product W to be inspected, and improvement target area data 169d indicating the area to be improved. The improvement measure presentation unit 154 stores data indicating the area to be improved contained in the output parameters as improvement target area data 169d. The improvement measure presentation unit 154 sets priorities based on data indicating improvement priority points contained in the output parameters output by the inference unit 154b, and stores the set data as priority order data 169a. The improvement measure presentation unit 154 sets priorities, for example, in descending order of the value of the improvement priority points.

改善策提示部154は、改善策データを取得すると、取得した改善策データに基づいて、優先順位が付された改善対象領域を改善策として利用者に提示する。 When the improvement measure presentation unit 154 acquires the improvement measure data, it presents prioritized areas to be improved as improvement measures to the user based on the acquired improvement measure data.

改善策提示部154は、例えば、改善策データに基づいて、表計算ソフトといったアプリケーションを利用して、ディスプレイ12に改善策を表示してもよい。改善策データは、新人の教育資料として活用することができる。また、改善策データは、類似の不良が発生した際に参考資料として利用できる。 The improvement measure presentation unit 154 may, for example, use an application such as a spreadsheet software to display improvement measures on the display 12 based on the improvement measure data. The improvement measure data can be used as training material for new employees. The improvement measure data can also be used as reference material when a similar defect occurs.

以上説明したように、実施の形態5の外観検査支援装置100によれば、改善策提示部154は、過去に発生した不良に対する手戻り時間、代替品の費用などを含むデータで学習した学習済みモデルを利用して改善策を利用者に提示する。すなわち、改善策提示部154は、過去に発生した不良に対する手戻り時間、代替品の費用などのロスが考慮された改善策を利用者に提示する。利用者は、改善策提示部154が提示した改善策を実施することにより、効率のよい改善活動を実施できる。この結果、不良の発生が低減し、外観検査の作業負担が軽減する。よって、外観検査の効率化を図ることができ、外観検査の高品質化を図ることができる。 As described above, according to the visual inspection support device 100 of embodiment 5, the improvement measure presentation unit 154 presents improvement measures to the user using a trained model that has been trained using data including the rework time for defects that occurred in the past, the cost of replacement products, and the like. In other words, the improvement measure presentation unit 154 presents improvement measures to the user that take into account losses such as the rework time for defects that occurred in the past and the cost of replacement products. By implementing the improvement measures presented by the improvement measure presentation unit 154, the user can carry out efficient improvement activities. As a result, the occurrence of defects is reduced and the workload of visual inspections is lightened. This makes it possible to improve the efficiency of visual inspections and to improve the quality of visual inspections.

改善策提示部154は、優先順位を付した改善対象領域を利用者に提示するため、利用者は、効率よく改善活動を実施できる。 The improvement measure presentation unit 154 presents prioritized areas for improvement to the user, allowing the user to carry out improvement activities efficiently.

また、時間の制約により、発生したすべての不良を分析できない工場もあるが、発生した一部の不良に基づいて分析された結果の信頼度は低く、信頼度の低い分析結果に基づく改善策は、実情に即していない可能性がある。実情に即していない改善策は、各工程を担当する作業者が要望する改善策と乖離している場合が多く、作業者の要望と乖離する改善策では効率のよい改善活動が実施できない。しかしながら、外観検査支援装置100によれば、発生したすべての不良に関するデータが収集されて分析されるため、信頼度の高い分析結果を得ることができる。したがって、実情に即した改善策を利用者に提示することができ、効率のよい改善活動を実施することができる。 In addition, due to time constraints, some factories are unable to analyze all defects that occur. Analysis results based on a portion of the defects that occur are unreliable, and improvement measures based on unreliable analysis results may not be in line with the actual situation. Improvement measures that are unreliable often deviate from the improvement measures desired by the workers in charge of each process, and improvement measures that deviate from the workers' requests make it impossible to implement efficient improvement activities. However, with the visual inspection support device 100, data on all defects that occur is collected and analyzed, making it possible to obtain highly reliable analysis results. Therefore, improvement measures that are in line with the actual situation can be presented to the user, enabling efficient improvement activities to be implemented.

また、不良が発生したタイミングと改善活動の実施タイミングとの間のタイムラグが発生すると、改善活動で実施する改善策が実情に即していない可能性があるが、実施の形態5に係る外観検査支援装置100によれば、不良が発生したタイミングと改善活動の実施タイミングとの間のタイムラグの発生を抑制することができる。これにより、実情に即した改善策を利用者に提示することができ、効率のよい改善活動を実施することができる。 Furthermore, if a time lag occurs between when a defect occurs and when improvement activities are implemented, there is a possibility that the improvement measures implemented in the improvement activities may not be in line with the actual situation. However, the visual inspection support device 100 according to embodiment 5 can suppress the occurrence of a time lag between when a defect occurs and when improvement activities are implemented. This allows improvement measures that are in line with the actual situation to be presented to the user, enabling efficient improvement activities to be implemented.

[実施の形態5の変形例]
なお、改善策データ記憶部169は、図35に示すように、利用者によって設定された期間において発生した不良発生件数を示す件数データ169e、過去に発生した不良を改善する際に発生した手戻り時間を示す手戻り時間データ169f、及び過去に発生した不良を改善するために要した代替品の費用を示す代替費用データ169gを更に関連付けて記憶してもよい。手戻り時間データ169fは、手戻り係数に基づいて求められ、代替費用データ169gは、代替係数に基づいて求められる。
[Modification of the Fifth Embodiment]
35, the improvement data storage unit 169 may further store, in association with one another, number data 169e indicating the number of defects that occurred during a period set by the user, rework time data 169f indicating the rework time required to correct defects that occurred in the past, and replacement cost data 169g indicating the cost of substitute products required to correct defects that occurred in the past. The rework time data 169f is calculated based on the rework coefficient, and the replacement cost data 169g is calculated based on the replacement coefficient.

改善策提示部154は、改善策データ記憶部169に記憶されたデータに基づいて、不良発生件数、手戻り時間、及び代替費用を更に利用者に提示してもよい。これにより、利用者は、手戻り時間、代替費用など発生した不良に関する事項を定量的、かつ客観的に把握することができる。 The improvement measure presentation unit 154 may further present the number of defects, rework time, and replacement costs to the user based on the data stored in the improvement measure data storage unit 169. This allows the user to quantitatively and objectively grasp the details of the defects that have occurred, such as rework time and replacement costs.

また、改善策提示部154は、優先順位が付された改善対象領域を改善策として利用者に提示したが、優先順位を付さなくてもよい。この場合、学習部154aが学習する教師データは、改善優先ポイントを省略することができる。また、推論部154bは、出力パラメータとして、改善対象領域を示すデータを出力する。 In addition, the improvement measure presentation unit 154 presents prioritized areas to be improved as improvement measures to the user, but prioritization is not necessary. In this case, the training data learned by the learning unit 154a can omit the priority improvement points. Furthermore, the inference unit 154b outputs data indicating the areas to be improved as output parameters.

また、学習部154aに入力される入力パラメータは、改善困難度を示すデータを更に含んでもよい。改善困難度は、不良の要因(キズ、色むら)と、不良の領域と、に基づいて、3段階、5段階など、利用者によって予め設定される。例えば、被検査品Wの汚れは、汚れの拭き取り作業といった比較的容易な作業で不良が改善されるため、改善困難度として「1」に設定される。また、被検査品Wの打痕は、汚れの拭き取り作業よりも手間を要する打痕箇所の修正作業によって不良が改善されるため、改善困難度が「2」に設定される。また、被検査品Wのキズは、汚れの拭き取り作業及び打痕箇所の修正作業よりも手間を要する部品の交換によって不良が改善されるため、改善困難度が「3」に設定される。学習部154aに入力される入力パラメータとして、改善困難度が更に含まれることにより、より効率的な改善活動を実施することができる。 The input parameters input to the learning unit 154a may further include data indicating the degree of difficulty of improvement. The degree of difficulty of improvement is preset by the user as a 3-level, 5-level, or other level based on the cause of the defect (scratches, color unevenness) and the area of the defect. For example, a stain on the inspected product W can be remedied by a relatively easy task such as wiping off the stain, so the degree of difficulty of improvement is set to "1." A dent on the inspected product W can be remedied by repairing the dent, which requires more time than wiping off the stain, so the degree of difficulty of improvement is set to "2." A scratch on the inspected product W can be remedied by replacing the part, which requires more time than wiping off the stain and repairing the dent, so the degree of difficulty of improvement is set to "3." By further including the degree of difficulty of improvement as an input parameter input to the learning unit 154a, more efficient improvement activities can be carried out.

実施の形態5では、学習部154aがニューラルネットワークを学習アルゴリズムとして利用する場合を例に説明したが、学習部154aは、他の公知の方法、例えば、遺伝的プログラミング、機能論理プログラミング、サポートベクターマシンなどを学習アルゴリズムとして利用してもよい。 In embodiment 5, the learning unit 154a uses a neural network as the learning algorithm, but the learning unit 154a may also use other known methods, such as genetic programming, functional logic programming, or support vector machines, as the learning algorithm.

実施の形態5において、学習部154aと推論部154bとが制御装置10に備えられたが、学習部154aと推論部154bとは、制御装置10とは異なる装置に設けられてもよい。改善策提示部154は、制御装置10とは異なる装置に設けられた推論部154bから出力された出力パラメータを改善策データとして取得する。 In embodiment 5, the learning unit 154a and the inference unit 154b are provided in the control device 10, but the learning unit 154a and the inference unit 154b may be provided in a device different from the control device 10. The improvement measure presentation unit 154 acquires, as improvement measure data, output parameters output from the inference unit 154b provided in a device different from the control device 10.

また、改善策データ記憶部169は、複数の部門間で共有可能な装置に記憶されてもよい。例えば、工場の各工程の作業において、作業品の持ち方を工夫することにより、コンベア、作業台などといった工場の設備と作業品との衝突が抑制され、不良の発生が低減できることが多い。したがって、複数の部門で共有可能な形態で改善策データ記憶部169が記憶されることにより、有効な改善策が工場全体に展開され、改善活動を効率よく実施することができる。 The improvement measure data storage unit 169 may also be stored in a device that can be shared among multiple departments. For example, by devising ways to hold workpieces during each process in a factory, collisions between the workpieces and factory equipment such as conveyors and workbenches can be reduced, often reducing the occurrence of defects. Therefore, by storing the improvement measure data storage unit 169 in a format that can be shared among multiple departments, effective improvement measures can be deployed throughout the factory, enabling improvement activities to be carried out efficiently.

また、改善策提示部154は、同一機種だけでなく類似の機種の実施済み改善策に関するデータを利用してもよい。すなわち、改善策提示部154は、学習データとして類似機種の実施済み改善策に関するデータを利用することもできる。 In addition, the improvement measure presentation unit 154 may use data on implemented improvement measures for similar models as well as the same model. In other words, the improvement measure presentation unit 154 can also use data on implemented improvement measures for similar models as learning data.

なお、本開示は、上述した実施の態様の例に限定されることなく、適宜の変更を加えることにより、その他の態様で実施できる。 Note that the present disclosure is not limited to the example embodiments described above, and can be implemented in other embodiments by making appropriate modifications.

例えば、実施の形態1~5は、適宜組み合わせ可能である。詳しくは、被検査品Wに表示される注意喚起画像GCは、実施の形態2で説明した重みと、実施の形態3を参照して説明した外観検査を担当する作業者Pの習熟度とに応じて変化してもよい。例えば、注意喚起画像GCは、外観検査を担当する作業者Pの習熟度が低い「1」である場合、すべての重み「1」-「3」が設定された特定領域R1を指し示す画像を含み、外観検査を担当する作業者Pの習熟度が高い「3」である場合、重みの高い「3」が設定された特定領域R1を指し示す画像を含んでもよい。 For example, embodiments 1 to 5 can be combined as appropriate. In particular, the attention drawing image GC displayed on the inspected product W may change depending on the weight described in embodiment 2 and the proficiency level of the operator P in charge of the visual inspection described with reference to embodiment 3. For example, if the proficiency level of the operator P in charge of the visual inspection is low at "1," the attention drawing image GC may include an image pointing to the specific region R1 to which all weights "1" to "3" have been set, and if the proficiency level of the operator P in charge of the visual inspection is high at "3," the attention drawing image GC may include an image pointing to the specific region R1 to which the high weight "3" has been set.

本開示では、不良の傾向として、不良領域の傾向が分析されたが、外観検査支援装置100が分析する傾向は、不良領域に限定されず、キズ、色むらといった不良の要因であってもよい。また、不良領域の傾向として、不良が発生する傾向が高い領域が特定されたが、不良が発生する傾向の低い領域が特定されてもよい。 In this disclosure, the tendency of defective areas was analyzed as the tendency of defects, but the tendency analyzed by the visual inspection support device 100 is not limited to defective areas, and may also include causes of defects such as scratches and color unevenness. Furthermore, while areas with a high tendency for defects to occur were identified as the tendency of defective areas, areas with a low tendency for defects to occur may also be identified.

本開示では、不良箇所データが不良品画像GDのデータであったが、不良箇所データは、不良品Dの不良箇所に関するデータであればよく、不良品画像GDのデータに限定されない。不良箇所データは、例えば、テキストデータ、音声データなどであってもよい。 In this disclosure, the defect location data is data of the defective product image GD, but the defect location data may be data related to the defect location of the defective product D and is not limited to data of the defective product image GD. The defect location data may also be, for example, text data, audio data, etc.

本開示では、注意喚起画像GCがプロジェクタ2によって被検査品W上に投影されたが、作業者Pが被検査品W上の領域を識別できればよく、注意喚起画像GCは、例えば、外観検査場SVに設置されたモニタに表示されてもよい。 In this disclosure, the warning image GC is projected onto the inspected product W by the projector 2, but as long as the worker P can identify the area on the inspected product W, the warning image GC may also be displayed, for example, on a monitor installed in the visual inspection area SV.

本開示では、不良が発生する傾向の高い領域を示す情報として、特定領域R1を指し示す注意喚起画像GCを示すデータが出力されたが、不良が発生する傾向の高い領域情報は、注意喚起画像GCを示すデータに限定されず、特定領域R1を説明する音声データであってもよい。 In the present disclosure, data showing a warning image GC pointing to the specific region R1 is output as information indicating an area where defects are likely to occur. However, information about areas where defects are likely to occur is not limited to data showing the warning image GC, and may also be audio data explaining the specific region R1.

また、特定領域R1を指し示す画像GC1、GC2は、作業者Pが特定領域R1を認識できる画像であればよく、その形状は、任意であって円形に限定されない。特定領域R1を指し示す画像GC1、GC2は、四角形、楕円形、矢印などであってもよい。あるいは、被検査品Wの外観色とは異なる色のソリッド画像であってもよい。あるいは、「SECTION9」、「SECTION9に注意」などのテキストの画像であってもよい。 The images GC1 and GC2 pointing out the specific region R1 may be any shape that allows the worker P to recognize the specific region R1, and are not limited to being circular. The images GC1 and GC2 pointing out the specific region R1 may be a rectangle, oval, arrow, etc. Alternatively, they may be solid images in a color different from the external color of the inspected product W. Alternatively, they may be images of text such as "SECTION 9" or "Pay attention to SECTION 9."

本開示では、データ記憶部16は、制御装置10の補助記憶装置16bに記憶されたが、データ記憶部16は、制御装置10とは異なる装置、例えば、社内の共有サーバ、クラウドサーバなどの装置の記憶領域に記憶されてもよい。 In this disclosure, the data storage unit 16 is stored in the auxiliary storage device 16b of the control device 10, but the data storage unit 16 may also be stored in the memory area of a device different from the control device 10, such as an in-house shared server or cloud server.

本開示において、飛行体DR1、DR2はドローンであったが、ドローンに限られない。飛行体DR1、DR2は、空中で停止、言い換えるとホバリングができ、本開示の作用効果を奏するならば、ドローンに限らず、任意の種類の無人の飛行体または有人の飛行体であってもよい。例えば、有人または無人のヘリコプターであってもよい。 In this disclosure, the air vehicles DR1 and DR2 are drones, but they are not limited to drones. As long as the air vehicles DR1 and DR2 can stop in the air, in other words, hover, and achieve the effects of this disclosure, they may be any type of unmanned or manned air vehicle, not just drones. For example, they may be manned or unmanned helicopters.

本開示では、製品PRが電化製品であったが、製品PRは、電化製品に限らず、外観検査を必要とする製品であり得る。 In this disclosure, the product PR was for electrical appliances, but product PR is not limited to electrical appliances and can be any product that requires visual inspection.

1 カメラ、2,2a,2b プロジェクタ、10 制御装置、11 操作部、12 ディスプレイ、13 入力部、14 出力部、15 プロセッサ、16 データ記憶部、16a 主記憶装置、16b 補助記憶装置、100 外観検査支援装置、151 入力処理部、152 分析部、153 出力処理部、154 改善策提示部、154a 学習部、154b 推論部、160 画像データ記憶部、161 生産スケジュール記憶部、161a 機種データ、161b 生産スケジュールデータ、161c 生産開始日時データ、161d 生産終了日時データ、162 機器マスタ記憶部、162a 機器名データ、162b 機器識別名データ、162c 設置場所データ、162d 検査内容データ、163 良品画像関連データ記憶部、163a 良品画像識別名データ、163b 機種データ、163c 撮影部分データ、164 不良品画像関連データ記憶部、164a 不良品画像識別名データ、164b 機種データ、164c 撮影部分データ、164d 発見日時データ、164e 不良領域データ、164f 作業者データ、164g 時間帯データ、165 出力準備データ記憶部、165a 機種データ、165b 撮影部分データ、165c 特定領域データ、165d 重みデータ、165e 習熟度データ、165f 時間帯データ、166 担当スケジュール記憶部、166a 担当者データ、166b 担当スケジュールデータ、166c 担当開始日時データ、166d 担当終了日時データ、166e 検査内容データ、167 作業者マスタ記憶部、167a 作業者データ、167b 習熟度データ、168 学習済みモデル記憶部、169 改善策データ記憶部、169a 優先順位データ、169b 機種データ、169c 部分データ、169d 改善対象領域データ、169e 件数データ、169f 手戻り時間データ、169g 代替費用データ、D 不良品、GC 注意喚起画像、GD 不良品画像、GR 良品画像、GS 画像、P 作業者、PR 製品、R1 特定領域、SC 区画、SD 不良品置場、SV 外観検査場、T1 第1不良閾値、T2 第2不良閾値、W 被検査品、DR1,DR2,DR1a,DR1b ドローン。 1 Camera, 2, 2a, 2b Projector, 10 Control device, 11 Operation unit, 12 Display, 13 Input unit, 14 Output unit, 15 Processor, 16 Data storage unit, 16a Main storage unit, 16b Auxiliary storage unit, 100 Visual inspection support device, 151 Input processing unit, 152 Analysis unit, 153 Output processing unit, 154 Improvement measure presentation unit, 154a Learning unit, 154b Inference unit, 160 Image data storage unit, 161 Production schedule storage unit, 161a Model data, 161b Production schedule data, 161c Production start date and time data, 161d Production end date and time data, 162 Equipment master storage unit, 162a Equipment name data, 162b Equipment identification name data, 162c Installation location data, 162d Inspection content data, 163 Non-defective product image related data storage unit, 163a Good product image identification name data, 163b model data, 163c photographed portion data, 164 defective product image related data storage unit, 164a defective product image identification name data, 164b model data, 164c photographed portion data, 164d discovery date and time data, 164e defective area data, 164f worker data, 164g time period data, 165 output preparation data storage unit, 165a model data, 165b photographed portion data, 165c specific area data, 165d weight data, 165e proficiency data, 165f time period data, 166 assigned schedule storage unit, 166a worker data, 166b assigned schedule data, 166c assigned start date and time data, 166d assigned end date and time data, 166e inspection content data, 167 worker master storage unit, 167a worker data, 167b Proficiency data, 168: trained model storage unit, 169: improvement measure data storage unit, 169a: priority data, 169b: model data, 169c: partial data, 169d: improvement target area data, 169e: number data, 169f: rework time data, 169g: replacement cost data, D: defective product, GC: warning image, GD: defective product image, GR: good product image, GS: image, P: worker, PR: product, R1: specific area, SC: section, SD: defective product storage area, SV: visual inspection area, T1: first defect threshold, T2: second defect threshold, W: inspected product, DR1, DR2, DR1a, DR1b: drone.

Claims (14)

被検査品の外観検査を支援する外観検査支援装置であって、
前記被検査品のうちの不良品の不良箇所を示す不良箇所データを入力する入力部と、
複数の前記不良品の前記不良箇所データを分析し、不良発生件数または不良発生率が基準以上の予め設定された領域を前記不良が発生する傾向の高い特定の領域として設定する分析部と、
不良発生件数または不良発生率が前記基準以上の領域を示す情報を出力する出力部と、
前記出力部から前記不良発生件数または前記不良発生率が基準以上と分析された領域を示す情報が入力されるプロジェクタを有する第1の飛行体と、
を備え、
前記プロジェクタは、前記出力部から入力された前記情報に基づいて、前記被検査品に、前記予め設定された領域を指示する画像を投影する、外観検査支援装置。
An appearance inspection support device that supports the appearance inspection of an inspected product,
an input unit for inputting defect location data indicating defect locations of defective products among the products to be inspected;
an analysis unit that analyzes the defect location data of the plurality of defective products and sets a predetermined area where the number of occurrences of defects or the rate of occurrence of defects is equal to or greater than a standard as a specific area where the occurrence of defects is likely to occur;
an output unit that outputs information indicating an area where the number of occurrences of defects or the rate of occurrence of defects is equal to or greater than the standard;
a first flying object having a projector to which information indicating an area analyzed to determine that the number of defect occurrences or the defect occurrence rate is equal to or higher than a standard is input from the output unit;
Equipped with
The projector projects an image indicating the predetermined area onto the product to be inspected based on the information input from the output unit.
前記第1の飛行体は、ドローンを備える、請求項1に記載の外観検査支援装置。 The visual inspection support device of claim 1, wherein the first air vehicle comprises a drone. 利用者による操作を受け付ける操作部と、前記第1の飛行体に制御信号を送信する送信部と、を更に備え、
前記送信部は、前記操作部への操作に従った動作を指示する制御信号を前記第1の飛行体に送信し、
前記第1の飛行体は、前記送信部からの制御信号に従って動作する、請求項1または2に記載の外観検査支援装置。
Further comprising an operation unit that receives an operation by a user and a transmission unit that transmits a control signal to the first flying object,
the transmitter transmits a control signal to the first aircraft instructing the first aircraft to perform an operation in accordance with the operation of the operation unit;
The visual inspection support device according to claim 1 or 2, wherein the first flying object operates in accordance with a control signal from the transmitter.
利用者による操作を受け付ける操作部と、前記第1の飛行体に制御信号を送信する送信部と、を更に備え、
前記操作部は、前記プロジェクタが前記被検査品に画像を投影する投影角度を調整する操作を受け付け、
前記送信部は、前記操作部への操作に従った角度調整を指示する制御信号を前記第1の飛行体に送信し、
前記第1の飛行体は、前記送信部からの制御信号に従って投影角度を調整する、
請求項1または2に記載の外観検査支援装置。
Further comprising an operation unit that receives an operation by a user and a transmission unit that transmits a control signal to the first flying object,
the operation unit accepts an operation to adjust a projection angle at which the projector projects an image onto the product to be inspected,
the transmitter transmits a control signal to the first aircraft, the control signal instructing the first aircraft to adjust the angle in accordance with the operation of the operation unit;
the first flying object adjusts the projection angle in accordance with the control signal from the transmitter;
3. The visual inspection support device according to claim 1.
前記分析部は、前記不良発生件数または前記不良発生率が第1不良閾値以上となる不良が発生する領域を前記不良が発生する傾向の高い特定の領域として設定する、請求項1から4のいずれか1項に記載の外観検査支援装置。 The visual inspection support device of any one of claims 1 to 4, wherein the analysis unit sets an area where defects occur, where the number of defects or the defect rate is equal to or greater than a first defect threshold, as a specific area where the defects are likely to occur. 前記分析部は、前記不良発生件数または前記不良発生率に基づいて、前記被検査品の領域毎に、不良が発生する程度を求め、
前記出力部は、予め指定された程度で不良が発生する領域を指示する前記画像を出力する、請求項5に記載の外観検査支援装置。
the analysis unit determines the degree of occurrence of defects for each region of the product to be inspected based on the number of occurrences of defects or the rate of occurrence of defects;
6. The visual inspection support device according to claim 5, wherein the output unit outputs the image indicating an area where defects occur to a predetermined degree.
前記外観検査を担当する作業者の前記外観検査の習熟度を求める手段を備え、
前記出力部は、前記習熟度に応じて、前記不良が発生する領域を指示する画像を出力する、請求項5または6に記載の外観検査支援装置。
a means for determining a proficiency level of the visual inspection of a worker in charge of the visual inspection,
7. The visual inspection support device according to claim 5, wherein the output unit outputs an image indicating an area where the defect occurs, according to the level of proficiency.
前記分析部は、
前記不良が検出された時間区分ごとの前記不良箇所を含む領域ごとに、前記不良箇所の前記不良発生件数を分析し、
該分析された不良発生件数が、第2不良閾値以上の前記不良箇所を含む領域を、前記不良が発生する傾向が高い領域として特定し、
前記出力部は、前記外観検査が実施される時間が含まれる前記時間区分に対応する前記不良が発生する傾向が高い領域を示す情報を出力する、請求項5から7のいずれか1項に記載の外観検査支援装置。
The analysis unit
Analyzing the number of occurrences of defects at the defective part for each area including the defective part for each time segment in which the defect is detected;
Identifying an area including the defect portion where the analyzed number of defect occurrences is equal to or greater than a second defect threshold as an area where the defect is likely to occur;
8. The visual inspection support device according to claim 5, wherein the output unit outputs information indicating an area where the defect is likely to occur, the area corresponding to the time segment that includes a time when the visual inspection is performed.
前記不良発生件数と、実施済みの改善策に関する事項と、に基づいて、前記被検査品の改善すべき改善対象領域を提示する改善策提示部を更に備える、請求項5から8のいずれか1項に記載の外観検査支援装置。 The visual inspection support device of any one of claims 5 to 8, further comprising an improvement measure suggestion unit that suggests areas of the inspected product that should be improved based on the number of defects and information related to implemented improvement measures. 前記改善策提示部は、
前記実施済みの改善策に関するデータを学習した学習済みモデルを生成する学習部と、
前記実施済みの改善策に関するデータを前記学習済みモデルに入力して、前記改善対象領域を示すデータ、及び改善優先ポイントを示すデータを出力する推論部と、
を備え、
前記改善策提示部は、
前記推論部が出力した前記改善優先ポイントを示すデータに基づいて、改善が必要な順位を優先順位として前記改善対象領域ごとに設定し、
前記優先順位と前記改善対象領域とを提示する、請求項9に記載の外観検査支援装置。
The improvement measure suggestion unit
a learning unit that generates a trained model that has learned data related to the implemented improvement measures;
an inference unit that inputs data related to the implemented improvement measures into the trained model and outputs data indicating the improvement target area and data indicating priority points for improvement;
Equipped with
The improvement measure suggestion unit
setting a priority order of improvement needs for each improvement target area based on the data indicating the priority points for improvement output by the inference unit;
The visual inspection support device according to claim 9 , further comprising: displaying the priority order and the improvement target area.
前記不良品を撮影して前記不良品の画像のデータを生成するカメラを有する第2の飛行体を更に備え、
前記カメラは、前記不良品の画像のデータを前記不良箇所データとして前記入力部に出力する、請求項1から10のいずれか1項に記載の外観検査支援装置。
a second flying object having a camera that photographs the defective product and generates image data of the defective product;
The visual inspection support device according to claim 1 , wherein the camera outputs image data of the defective product to the input unit as the defect location data.
前記第2の飛行体は、ドローンを備える、請求項11に記載の外観検査支援装置。 The visual inspection support device of claim 11, wherein the second air vehicle comprises a drone. 被検査品のうちの不良が発見された不良品の不良箇所を示す不良箇所データが入力される入力ステップと、
複数の前記不良品の前記不良箇所データに基づいて前記不良箇所を含む領域の傾向を分析し、前記不良が発生する傾向が基準以上の領域を特定する分析ステップと、
前記不良が発生する傾向が基準以上の領域を示す情報を出力する出力ステップと、
を含む、外観検査支援方法。
an input step of inputting defect location data indicating defect locations of defective products in which defects are found among the products to be inspected;
an analysis step of analyzing the tendency of an area including the defective portion based on the defect portion data of the plurality of defective products, and identifying an area where the tendency of the occurrence of the defect is above a standard;
an output step of outputting information indicating an area where the tendency for defects to occur is equal to or greater than a standard;
A visual inspection support method, comprising:
被検査品のうちの不良が発見された不良品の不良箇所を示す不良箇所データが入力される入力ステップと、
複数の前記不良品の前記不良箇所データに基づいて前記不良箇所を含む領域の傾向を分析し、前記不良が発生する傾向が基準以上の領域を特定する分析ステップと、
前記不良が発生する傾向が基準以上の領域を示す情報を出力する出力ステップと、を含む外観検査支援方法をコンピュータに実行させる外観検査支援プログラム。
an input step of inputting defect location data indicating defect locations of defective products in which defects are found among the products to be inspected;
an analysis step of analyzing the tendency of an area including the defective portion based on the defect portion data of the plurality of defective products, and identifying an area where the tendency of the occurrence of the defect is above a standard;
and an output step of outputting information indicating the area where the tendency for defects to occur is above a standard.
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