JP7737077B2 - Substrate with insulating resin layer, laminate using same, and method for manufacturing laminate - Google Patents
Substrate with insulating resin layer, laminate using same, and method for manufacturing laminateInfo
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Description
本発明は、絶縁性樹脂層付き基材、並びに、これを用いた積層体及び積層体の製造方法に関する。 The present invention relates to a substrate with an insulating resin layer, a laminate using the same, and a method for manufacturing the laminate.
電子機器、通信機器及びパーソナルコンピューター等に広く用いられる半導体パッケージの高機能化及び小型化は、近年益々加速している。また、このような技術の発展に伴い、半導体パッケージにおけるプリント配線板及び半導体素子搭載用基板の薄型化が要求されている。 In recent years, semiconductor packages, which are widely used in electronic devices, communications equipment, personal computers, and other devices, have become increasingly more functional and compact. Furthermore, with this technological development, there is a demand for thinner printed wiring boards and semiconductor element mounting substrates in semiconductor packages.
薄型のプリント配線板及び半導体素子搭載用基板の製造方法として、例えば、ステンレス鋼等剛性が高く、厚い支持基板(キャリア基板)上に、後の工程において剥離可能な銅の層を形成した積層体上に、パターンめっきにより回路パターンを形成し、エポキシ樹脂被覆ファイバーグラスのような絶縁層を積層して加熱及び加圧処理し、最後に支持基板を剥離、除去して薄型のプリント配線板を製造する方法が開示されている(例えば、特許文献1参照)。このように、剛性が高く、厚い支持基板上に回路パターンと絶縁材料とを積層させ、最後に支持基板を剥離、除去することで、既存の製造装置でも、薄型のプリント配線板及び半導体素子搭載用基板を製造できる。 One method for manufacturing thin printed wiring boards and semiconductor device mounting substrates has been disclosed (see, for example, Patent Document 1), which involves forming a circuit pattern on a laminate of a highly rigid, thick support substrate (carrier substrate) such as stainless steel, on which a layer of copper that can be peeled off in a subsequent process is formed by pattern plating, laminating an insulating layer such as epoxy resin-coated fiberglass, applying heat and pressure, and finally peeling and removing the support substrate to produce a thin printed wiring board. In this way, by laminating the circuit pattern and insulating material on a highly rigid, thick support substrate, and then finally peeling and removing the support substrate, thin printed wiring boards and semiconductor device mounting substrates can be manufactured even using existing manufacturing equipment.
また、これらプリント配線板に用いられる樹脂シートとして、樹脂組成物層を複層化したシートが知られている。このような技術としては、複層化したフィルムの性能を向上させるために、各層のエッチング量を制御した絶縁樹脂シートが知られている(例えば、特許文献2参照)。 Resin sheets used in these printed wiring boards are also known to be made of multiple layers of resin compositions. One such technology is an insulating resin sheet in which the amount of etching of each layer is controlled to improve the performance of the multilayered film (see, for example, Patent Document 2).
特許文献2に記載のシートは、各層のエッチング量を調整して、レーザー加工によるビア形状時の問題を解決することを意図している。しかしながら、そのシートは、各層の合計厚さが12μm以上であることが必須の条件である。このため、更なる薄膜化(例えば10μm未満)が可能でありながら、絶縁性及びパターン化された導体層の埋め込み性(以下、単に『埋め込み性』と称することがある。)などの要求を満足できる技術の開発が求められている。The sheet described in Patent Document 2 is intended to solve problems with via shaping using laser processing by adjusting the amount of etching for each layer. However, the sheet requires that the total thickness of each layer be 12 μm or more. Therefore, there is a need to develop technology that can achieve even thinner layers (e.g., less than 10 μm) while still satisfying requirements such as insulation and embeddability of patterned conductor layers (hereinafter sometimes simply referred to as "embedding ability").
本発明は、上述の課題を解決すべく、絶縁性及び埋め込み性に優れた絶縁性樹脂層付き基材、並びに、これを用いた積層体及び積層体の製造方法を提供することを目的とする。 In order to solve the above-mentioned problems, the present invention aims to provide a substrate with an insulating resin layer that has excellent insulating properties and embeddability, as well as a laminate and a method for manufacturing the laminate using the same.
すなわち、本発明は以下のとおりである。
<1> 基材と、前記基材上に設けられ、220℃及び3.0MPaの加圧条件下で60分間成形した際の厚み減少量が30%未満である第1の樹脂層と、前記第1の樹脂層上に設けられた第2の樹脂層と、を備える絶縁性樹脂層付き基材。
<2> 前記第2の樹脂層の最低溶融粘度が100,000Pa・s以下である、<1>に記載の絶縁性樹脂層付き基材。
<3> 前記第1の樹脂層の厚さが10μm未満である、<1>又は<2>に記載の絶縁性樹脂層付き基材。
<4> 前記第2の樹脂層の厚さが2.0μm以上である、<1>~<3>のいずれかに記載の絶縁性樹脂層付き基材。
<5> 前記第1の樹脂層と前記第2の樹脂層との合計の厚さが3μm以上20μm以下である、<1>~<4>のいずれかに記載の絶縁性樹脂層付き基材。
<6> 前記第1の樹脂層が、ポリイミド、液晶ポリエステル、エポキシ樹脂、シアン酸エステル化合物、マレイミド化合物、フェノール樹脂、熱硬化変性ポリフェニレンエーテル樹脂、ベンゾオキサジン化合物、有機基変性シリコーン化合物及び重合可能な不飽和基を有する化合物からなる群より選択される少なくとも1種を含有する、<1>~<5>のいずれかに記載の絶縁性樹脂層付き基材。
<7> 前記第2の樹脂層が、エポキシ樹脂、シアン酸エステル化合物、マレイミド化合物、フェノール樹脂、熱硬化変性ポリフェニレンエーテル樹脂、ベンゾオキサジン化合物、有機基変性シリコーン化合物及び重合可能な不飽和基を有する化合物からなる群より選択される少なくとも1種を含有する、<1>~<6>のいずれかに記載の絶縁性樹脂層付き基材。
<8> プリント配線板又は半導体素子搭載用基板に備えられるコアレス基板の作製に用いられる、<1>~<7>のいずれかに記載の絶縁性樹脂層付き基材。
<9> 前記コアレス基板が3層コアレス基板である、<8>に記載の絶縁性樹脂層付き基材。
<10> 導体層と、<1>~<9>のいずれかに記載の絶縁性樹脂層付き基材を用いて形成された絶縁層と、が積層されたビルドアップ層を有する積層体。
<11> 少なくとも1層の前記絶縁層の厚さが1μm以上15μm未満である、<10>に記載の積層体。
<12> 前記ビルドアップ層が複数の前記導体層と前記絶縁層とを有し、前記導体層が、各前記絶縁層の間と、前記ビルドアップ層の最外層の表面とに配置される、<10>又は<11>に記載の積層体。
<13> 前記ビルドアップ層において、前記導体層と前記絶縁層とが交互に積層され、前記ビルドアップ層が前記絶縁層を3層又は4層有する、<10>~<12>のいずれかに記載の積層体。
<14> コアレス基板である、<10>~<13>のいずれかに記載の積層体。
<15> 導体層表面に、<1>~<9>のいずれかに記載の絶縁性樹脂層付き基材を用いて絶縁層を形成することにより、前記導体層と前記絶縁層とが積層されたビルドアップ層を形成する工程を有する、積層体の製造方法。
<16> 少なくとも1層の前記絶縁層の厚さが1μm以上15μm未満である、<15>に記載の積層体の製造方法。
<17> 前記ビルドアップ層が複数の前記導体層と前記絶縁層とを有し、前記導体層が、各前記絶縁層の間、及び、前記ビルドアップ層の最外層の表面に配置された、<15>又は<16>に記載の積層体の製造方法。
<18> 前記絶縁層を3層又は4層有する、<15>~<17>のいずれかに記載の積層体の製造方法。
<19> 前記積層体がコアレス基板である、<15>~<18>のいずれかに記載の積層体の製造方法。
That is, the present invention is as follows.
<1> A substrate with an insulating resin layer, comprising: a substrate; a first resin layer provided on the substrate, the first resin layer having a thickness reduction of less than 30% when molded for 60 minutes under conditions of 220°C and a pressure of 3.0 MPa; and a second resin layer provided on the first resin layer.
<2> The substrate with an insulating resin layer according to <1>, wherein the second resin layer has a minimum melt viscosity of 100,000 Pa·s or less.
<3> The substrate with an insulating resin layer according to <1> or <2>, wherein the first resin layer has a thickness of less than 10 μm.
<4> The substrate with an insulating resin layer according to any one of <1> to <3>, wherein the second resin layer has a thickness of 2.0 μm or more.
<5> The substrate with an insulating resin layer according to any one of <1> to <4>, wherein a total thickness of the first resin layer and the second resin layer is 3 μm or more and 20 μm or less.
<6> The substrate with an insulating resin layer according to any one of <1> to <5>, wherein the first resin layer contains at least one selected from the group consisting of polyimide, liquid crystal polyester, epoxy resin, cyanate ester compound, maleimide compound, phenolic resin, thermosetting modified polyphenylene ether resin, benzoxazine compound, organic group-modified silicone compound, and compound having a polymerizable unsaturated group.
<7> The substrate with an insulating resin layer according to any one of <1> to <6>, wherein the second resin layer contains at least one selected from the group consisting of an epoxy resin, a cyanate ester compound, a maleimide compound, a phenolic resin, a thermosetting modified polyphenylene ether resin, a benzoxazine compound, an organic group-modified silicone compound, and a compound having a polymerizable unsaturated group.
<8> The substrate with an insulating resin layer according to any one of <1> to <7>, which is used for producing a coreless substrate to be provided in a printed wiring board or a substrate for mounting a semiconductor element.
<9> The substrate with an insulating resin layer according to <8>, wherein the coreless substrate is a three-layer coreless substrate.
<10> A laminate having a build-up layer in which a conductor layer and an insulating layer formed using the substrate with an insulating resin layer according to any one of <1> to <9> are laminated.
<11> The laminate according to <10>, wherein at least one of the insulating layers has a thickness of 1 μm or more and less than 15 μm.
<12> The laminate according to <10> or <11>, wherein the buildup layer has a plurality of the conductor layers and the insulating layers, and the conductor layers are disposed between the insulating layers and on the surface of the outermost layer of the buildup layer.
<13> The laminate according to any one of <10> to <12>, wherein the conductor layers and the insulating layers are alternately stacked in the build-up layer, and the build-up layer has three or four insulating layers.
<14> The laminate according to any one of <10> to <13>, which is a coreless substrate.
<15> A method for producing a laminate, comprising a step of forming an insulating layer on a surface of a conductor layer using the substrate with an insulating resin layer according to any one of <1> to <9>, thereby forming a build-up layer in which the conductor layer and the insulating layer are laminated.
<16> The method for producing a laminate according to <15>, wherein at least one of the insulating layers has a thickness of 1 μm or more and less than 15 μm.
<17> The method for manufacturing a laminate according to <15> or <16>, wherein the buildup layer has a plurality of the conductor layers and the insulating layers, and the conductor layers are disposed between the insulating layers and on the surface of the outermost layer of the buildup layer.
<18> The method for producing a laminate according to any one of <15> to <17>, wherein the insulating layer has three or four layers.
<19> The method for producing a laminate according to any one of <15> to <18>, wherein the laminate is a coreless substrate.
本発明によれば、絶縁性及び埋め込み性に優れた絶縁性樹脂層付き基材、並びに、これを用いた積層体及び積層体の製造方法を提供することができる。 The present invention provides a substrate with an insulating resin layer that has excellent insulating properties and embeddability, as well as a laminate and a method for manufacturing the laminate using the same.
以下、必要に応じて図面を参照しつつ、本発明を実施するための形態(以下、単に「本実施形態」と称す)について詳細に説明するが、本発明は以下の本実施形態に限定されるものではない。本発明は、その要旨を逸脱しない範囲で様々な変形が可能である。本明細書において、積層体は、各層が互いに接着したものであるが、その各層は、必要に応じて、互いに剥離可能なものであってもよい。なお、図面中、同一要素には同一符号を付すこととし、重複する説明は省略する。また、上下左右等の位置関係は、特に断らない限り、図面に示す位置関係に基づくものとする。更に、図面の寸法比率は図示の比率に限られるものではない。また、本明細書における「(メタ)アクリル」とは「アクリル」及びそれに対応する「メタクリル」を意味し、「(メタ)アクリレート」とは「アクリレート」及びそれに対応する「メタクリレート」を意味する。 The following describes in detail a mode for carrying out the present invention (hereinafter simply referred to as the "present embodiment"), with reference to the drawings as necessary. However, the present invention is not limited to the present embodiment. Various modifications of the present invention are possible without departing from the spirit of the present invention. In this specification, a laminate is one in which each layer is adhered to one another, but the layers may be peelable from one another as necessary. In the drawings, identical elements are designated by the same reference numerals, and redundant explanations will be omitted. Furthermore, unless otherwise specified, the positional relationships, such as up, down, left, and right, are based on the positional relationships shown in the drawings. Furthermore, the dimensional ratios of the drawings are not limited to those shown. In this specification, "(meth)acrylic" means "acrylic" and its corresponding "methacrylic," and "(meth)acrylate" means "acrylate" and its corresponding "methacrylate."
本実施形態において、「樹脂固形分」又は「絶縁性樹脂層中の樹脂固形分」とは、特に断りのない限り、絶縁性樹脂層又は樹脂組成物に含まれる樹脂及び硬化後に樹脂を構成する成分をいう。また、「樹脂固形分100質量部」とは、絶縁性樹脂層又は樹脂組成物における、樹脂及び硬化後に樹脂を構成する成分の合計が100質量部であることをいう。In this embodiment, unless otherwise specified, "resin solids" or "resin solids in an insulating resin layer" refers to the resin contained in the insulating resin layer or resin composition and the components that constitute the resin after curing. Furthermore, "100 parts by mass of resin solids" refers to a total of 100 parts by mass of the resin in the insulating resin layer or resin composition and the components that constitute the resin after curing.
[絶縁性樹脂層付き基材]
本実施形態の絶縁性樹脂層付き基材(以下、単に「樹脂層付き基材」と称することもある。)は、基材と、その基材上に設けられ、220℃及び3.0MPaの加圧条件下で60分間成形した際の厚み減少量が30%未満である第1の樹脂層(以下、単に『第1の樹脂層』と称することがある。)と、その第1の樹脂層上に設けられた第2の樹脂層(以下、単に『第2の樹脂層』称することがある。)とを備える。また、以下、「220℃及び3.0MPaの加圧条件下で60分間成形した際の厚み減少量」を、単に「厚み減少量」と称することがある。同様に、第1及び第2の樹脂層を総称して「本実施形態における樹脂層」と称することがある。
[Substrate with insulating resin layer]
The substrate with an insulating resin layer of this embodiment (hereinafter sometimes simply referred to as a "substrate with a resin layer") comprises a substrate, a first resin layer (hereinafter sometimes simply referred to as a "first resin layer") provided on the substrate, and having a thickness loss of less than 30% when molded for 60 minutes under conditions of 220°C and a pressure of 3.0 MPa, and a second resin layer (hereinafter sometimes simply referred to as a "second resin layer") provided on the first resin layer. Hereinafter, the "thickness loss when molded for 60 minutes under conditions of 220°C and a pressure of 3.0 MPa" will be simply referred to as the "thickness loss." Similarly, the first and second resin layers will be collectively referred to as the "resin layers of this embodiment."
本実施形態の樹脂層付き基材は、厚み減少量が30%未満である第1の樹脂層と、第2の樹脂層とを有する。ここで、第2の樹脂層は、通常、プレス処理時に流動性を有する樹脂を含む層であり、その層自体もプレス処理時に流動性を有する。第2の樹脂層は、通常、樹脂層付き基材と共に積層体を形成する部材を、その第2の樹脂層の面と接触する面の側から埋め込む層である(以下、この層を「埋設層」と称することもある。)。上記の部材としては、例えば、基板上に設けられた回路パターンのような導体層が挙げられ、その導体層は基板と共に形成した凹凸形状のうちの凸部に相当し、第2の樹脂層に埋め込まれる。また、第1の樹脂層は、第2の樹脂層に埋め込まれた凸部と基材との間の絶縁性を保つために、積層体形成時などのプレス処理後においても、基材及び第2の樹脂層間の距離を所定の範囲に維持する層である。(以下、この層を「膜厚維持層」と称することもある)。言い換えれば、第1の樹脂層は、プレス処理後においても、基材及び第2の樹脂層を離間する層である。第2の樹脂層は、埋設層として機能するため、構成する成分及び物性の少なくともいずれかが第1の樹脂層と異なる層であることが好ましい。特に限定されるものではないが、第1及び第2の樹脂層が異なる態様としては、例えば、第1及び第2の樹脂層の成分が異なる態様、及び、それらの層の物性が異なる態様、並びにこれらの態様を複合した態様が挙げられる。第1及び第2の樹脂層の成分が異なる態様としては、例えば、第1の樹脂層にポリイミド、第2の樹脂層にエポキシ樹脂を用いるというように、樹脂の種類が異なる態様が挙げられる。物性が異なる態様としては、例えば、各層に含まれる成分の配合比、又は、硬化状態を調整によって厚み減少量又は最低溶融粘度のような物性が異なる態様が挙げられる。第1及び第2の樹脂層の硬化状態を調整するには、例えば、各層の塗工条件を変更することで、第1の樹脂層を完全に硬化させ、第2の樹脂層を半硬化状態にすることが挙げられる。The resin-layered substrate of this embodiment includes a first resin layer with a thickness reduction of less than 30% and a second resin layer. The second resin layer typically contains a resin that exhibits fluidity during press processing, and the layer itself exhibits fluidity during press processing. The second resin layer typically embeds a component that forms a laminate together with the resin-layered substrate from the side that contacts the surface of the second resin layer (hereinafter, this layer may be referred to as the "embedded layer"). Examples of such components include a conductor layer, such as a circuit pattern on a substrate. This conductor layer corresponds to the convex portions of the uneven shape formed together with the substrate, and is embedded in the second resin layer. Furthermore, the first resin layer maintains the distance between the substrate and the second resin layer within a predetermined range even after press processing, such as during laminate formation, in order to maintain insulation between the convex portions embedded in the second resin layer and the substrate (hereinafter, this layer may be referred to as the "thickness-retaining layer"). In other words, the first resin layer separates the substrate and the second resin layer even after press processing. Because the second resin layer functions as a buried layer, it is preferable that the second resin layer differ from the first resin layer in at least one of its constituent components and physical properties. While not particularly limited, examples of the different first and second resin layers include those in which the first and second resin layers have different components, those in which the physical properties of these layers are different, and combinations of these. Examples of the different components of the first and second resin layers include those in which the resin types are different, such as using a polyimide for the first resin layer and an epoxy resin for the second resin layer. Examples of the different physical properties include those in which the compounding ratio of the components contained in each layer or the physical properties such as the thickness reduction amount or minimum melt viscosity are different by adjusting the curing state. To adjust the curing state of the first and second resin layers, for example, by changing the coating conditions of each layer, the first resin layer is completely cured and the second resin layer is semi-cured.
本実施形態の樹脂層付き基材は、例えば、回路パターンのような導体層上に設けられる絶縁層を形成するための材料として有用である。そのような材料として、例えば、電子機器、通信機器及びパーソナルコンピューター等の製造に用いられるプリント配線板又は半導体素子搭載用基板の絶縁層の形成材料が挙げられる。例えば、プリント配線板等を作製する場合、本実施形態の樹脂層付き基材を、回路パターンのような導体層が形成された基板上に、第2の樹脂層と導体層とが接するように配置し、その後、加熱押圧(プレス)して第1及び第2の樹脂層を硬化させることで、導体層上に絶縁層を形成する。この際、回路パターンのような導体層は、第2の樹脂層に埋め込まれる。一方、導体層上に存在する絶縁層の厚さは第1の樹脂層によって所定の範囲に維持される。このように、本実施形態の樹脂層付き基材によれば、第1の樹脂層が膜厚維持層として役割を果たし、第2の樹脂層が埋設層として役割を果たすことができる。特に、本実施形態の樹脂層付き基材は、第1の樹脂層の厚み減少量が30%未満であるため、プレス後においても絶縁層自体の厚みを所望の範囲に維持することができる。また、第2の樹脂層はプレス処理時に樹脂の流動性が向上し、回路パターンのような導体層を隙間を抑制しつつ埋設することができる。その結果、本実施形態に樹脂層付き基材は、絶縁層の厚みを所望の範囲に維持することによって絶縁層の厚み方向の絶縁性を優れたものとすることができると共に、絶縁層に隙間を抑制しつつ導体層を埋め込むことができる。The resin layer-attached substrate of this embodiment is useful, for example, as a material for forming an insulating layer on a conductor layer such as a circuit pattern. Examples of such materials include materials for forming insulating layers on printed wiring boards or semiconductor device mounting substrates used in the manufacture of electronic devices, communication devices, personal computers, etc. For example, when producing a printed wiring board or the like, the resin layer-attached substrate of this embodiment is placed on a substrate on which a conductor layer such as a circuit pattern is formed, with the second resin layer in contact with the conductor layer. The first and second resin layers are then heated and pressed to harden, thereby forming an insulating layer on the conductor layer. During this process, the conductor layer such as the circuit pattern is embedded in the second resin layer. Meanwhile, the thickness of the insulating layer present on the conductor layer is maintained within a predetermined range by the first resin layer. Thus, with the resin layer-attached substrate of this embodiment, the first resin layer can function as a thickness-maintaining layer, and the second resin layer can function as an embedding layer. In particular, in the substrate with a resin layer of this embodiment, the thickness of the first resin layer is reduced by less than 30%, so that the thickness of the insulating layer itself can be maintained within a desired range even after pressing. Furthermore, the fluidity of the second resin layer is improved during pressing, allowing a conductor layer such as a circuit pattern to be embedded while suppressing gaps. As a result, the substrate with a resin layer of this embodiment can maintain the thickness of the insulating layer within a desired range, thereby providing excellent insulation in the thickness direction of the insulating layer and allowing a conductor layer to be embedded in the insulating layer while suppressing gaps.
〔基材〕
基材としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム、ポリイミドフィルム、ポリアミドフィルム、ポリエステルフィルム、ポリブチレンテレフタレート(PBT)フィルム、ポリプロピレン(PP)フィルム、及びポリエチレン(PE)フィルム等の樹脂フィルム、並びに、銅箔、アルミニウム箔、及び金箔等の金属箔が挙げられる。本実施形態における基材としては、例えば、剥離層付き樹脂フィルムや剥離層付き銅箔のような剥離層付き基材を用いてもよい。基材は必要に応じて積層体形成時に第1の樹脂層から剥離してもよく、また、銅箔のような金属箔を用いる場合にはパターニングなどを施して導体層として用いてもよい。また、剥離層は、例えば、通常の剥離層付き基材に備えられる剥離層であってもよい。
[Base material]
Examples of the substrate include resin films such as polyethylene terephthalate (PET) film, polyimide film, polyamide film, polyester film, polybutylene terephthalate (PBT) film, polypropylene (PP) film, and polyethylene (PE) film, as well as metal foils such as copper foil, aluminum foil, and gold foil. In this embodiment, a substrate with a release layer, such as a resin film with a release layer or a copper foil with a release layer, may be used. The substrate may be peeled from the first resin layer as needed during laminate formation, and when a metal foil such as copper foil is used, it may be patterned and used as a conductor layer. The release layer may also be, for example, a release layer that is provided on a typical substrate with a release layer.
本実施形態における基材としては、特に限定されるものではないが、金属箔が好ましく、銅箔がより好ましい。銅箔としては、通常のプリント配線板に用いられる銅箔又は銅フィルムを用いることができる。銅箔の具体例としては、電解銅箔、圧延銅箔及び銅合金フィルムが挙げられる。銅箔又は銅フィルムには、例えば、マット処理、コロナ処理、ニッケル処理及びコバルト処理等の公知の表面処理が施されていてもよい。本実施形態における銅箔としては、市販品を用いることもでき、例えば、JX金属(株)製の「GHY5」(商品名、12μm厚銅箔)、三井金属鉱業(株)製の「3EC-VLP」(商品名、12μm厚銅箔)、「3EC-III」(商品名、12μm厚銅箔)及び「3EC-M2S-VLP」(商品名、12μm厚銅箔)、古河電気興業(株)製の銅箔「GTS-MP」(商品名、12μm厚銅箔)、並びにJX金属(株)製の「JXUT-I」(商品名、1.5μm厚銅箔)のような市販品を用いることができる。 The substrate in this embodiment is not particularly limited, but is preferably a metal foil, and more preferably a copper foil. The copper foil may be a copper foil or copper film used in ordinary printed wiring boards. Specific examples of copper foil include electrolytic copper foil, rolled copper foil, and copper alloy film. The copper foil or copper film may be subjected to a known surface treatment, such as a matte treatment, a corona treatment, a nickel treatment, or a cobalt treatment. As the copper foil in this embodiment, commercially available products can be used, and examples of commercially available products that can be used include "GHY5" (trade name, 12 μm thick copper foil) manufactured by JX Nippon Mining & Metals Corporation, "3EC-VLP" (trade name, 12 μm thick copper foil), "3EC-III" (trade name, 12 μm thick copper foil), and "3EC-M2S-VLP" (trade name, 12 μm thick copper foil) manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd., "GTS-MP" (trade name, 12 μm thick copper foil) manufactured by Furukawa Electric Co., Ltd., and "JXUT-I" (trade name, 1.5 μm thick copper foil) manufactured by JX Nippon Mining & Metals Corporation.
銅箔表面の算術平均粗さ(Ra)は、銅箔と本実施形態における樹脂層との密着強度を向上させ、長期間使用における層の剥離を防ぐことができる点から、通常0.05μm以上2μm以下であることが好ましく、0.08μm以上1.7μm以下であることが更に好ましい。その算術平均粗さ(Ra)は、銅箔と本実施形態における樹脂層とのより優れた密着性を得ることができる点から、0.2μm以上1.6μm以下であることが特に好ましい。本実施形態において、算術平均粗さが上記範囲にある銅箔を備える絶縁性樹脂層付き基材は、高密度な微細配線が形成されたプリント配線板及び半導体素子搭載用基板の製造に好適に用いることができる。なお、算術平均粗さは、市販の形状測定顕微鏡(レーザー顕微鏡、例えば、キーエンス株式会社製、「VK-X210」(商品名))を用いて測定できる。The arithmetic mean roughness (Ra) of the copper foil surface is typically preferably 0.05 μm or more and 2 μm or less, and more preferably 0.08 μm or more and 1.7 μm or less, in order to improve the adhesion strength between the copper foil and the resin layer of this embodiment and prevent layer delamination during long-term use. The arithmetic mean roughness (Ra) is particularly preferably 0.2 μm or more and 1.6 μm or less, in order to achieve better adhesion between the copper foil and the resin layer of this embodiment. In this embodiment, a substrate with an insulating resin layer comprising copper foil having an arithmetic mean roughness within the above range can be suitably used in the manufacture of printed wiring boards and semiconductor device mounting substrates with high-density fine wiring. The arithmetic mean roughness can be measured using a commercially available shape measuring microscope (a laser microscope, for example, Keyence Corporation's "VK-X210" (product name)).
本実施形態における基材の厚さは、本実施形態の効果を奏する限り、特に限定されず、例えば、ハンドリング性の向上やコスト削減の観点から、5μm以上200μm以下が好ましく、10μm以上150μm以下がより好ましく、15μm以上80μm以下が更に好ましい。また、基材として銅箔等の金属箔を設ける場合、金属箔の表面の粗化処理を考慮すると、その厚さは、1μm以上18μm以下が好ましい。さらに、薄型のプリント配線板及び半導体素子搭載用基板を好適に得ることができる点から、基材の厚さは、2μm以上15μm以下であることがより好ましい。 The thickness of the substrate in this embodiment is not particularly limited as long as the effects of this embodiment are achieved. For example, from the viewpoint of improving handleability and reducing costs, a thickness of 5 μm to 200 μm is preferred, 10 μm to 150 μm is more preferred, and 15 μm to 80 μm is even more preferred. Furthermore, when a metal foil such as copper foil is used as the substrate, taking into account the roughening treatment of the surface of the metal foil, the thickness is preferably 1 μm to 18 μm. Furthermore, from the viewpoint of being able to suitably obtain thin printed wiring boards and semiconductor element mounting substrates, a thickness of 2 μm to 15 μm is more preferred.
〔第1の樹脂層〕
本実施形態において、第1の樹脂層は220℃及び3.0MPaの加圧条件下で60分間成形した際の厚み減少量が30%未満である。
[First Resin Layer]
In this embodiment, the first resin layer has a thickness reduction of less than 30% when molded for 60 minutes under conditions of 220° C. and a pressure of 3.0 MPa.
まず、図1を用いて本実施形態における第1の樹脂層の厚み減少量を説明する。図1は、本実施形態における第1の樹脂層の厚み減少量を説明するための模式図である。図1の(A)に示すように、樹脂層付き基材10は、基材12と、第1の樹脂層14Aと、第2の樹脂層16Aとをこの順に積層して備える。同様に、図1の(A)に示すように、内層回路基板20は、基板22と、基板22上に配置された複数の導体層24とを備えており、導体層24がパターン形状を有する回路を形成している。また、樹脂層付き基材10において、第2の樹脂層16Aが内層回路基板20の導体層24が設けられている面と接するように配置され、その後、加熱押圧(プレス)される。当該プレス後、図1の(B)に示されるように、積層体30が形成される。積層体30は、第1の樹脂層14Aと第2の樹脂層16Aとの各々が硬化した第1の樹脂層14Bと第2の樹脂層16Bとで構成された絶縁層32を備えている。First, the thickness reduction amount of the first resin layer in this embodiment will be explained using FIG. 1. FIG. 1 is a schematic diagram for explaining the thickness reduction amount of the first resin layer in this embodiment. As shown in FIG. 1A, the substrate 10 with a resin layer comprises a substrate 12, a first resin layer 14A, and a second resin layer 16A laminated in this order. Similarly, as shown in FIG. 1A, the inner circuit board 20 comprises a substrate 22 and multiple conductor layers 24 disposed on the substrate 22, with the conductor layers 24 forming a circuit having a pattern shape. Furthermore, in the substrate 10 with a resin layer, the second resin layer 16A is disposed so as to contact the surface of the inner circuit board 20 on which the conductor layers 24 are disposed, and then the substrate 10 is heated and pressed (pressed). After this pressing, a laminate 30 is formed, as shown in FIG. 1B. The laminate 30 includes an insulating layer 32 formed of a first resin layer 14B and a second resin layer 16B that are formed by curing the first resin layer 14A and the second resin layer 16A, respectively.
ここで、第1の樹脂層における、「220℃及び3.0MPaの加圧条件下で60分間成形した際の厚み減少量」は、上記成形前の第1の樹脂層の厚さに対する、成形後の第1の樹脂層の厚さの減少量を百分率で示す数値である。この厚み減少量は、プレス処理前の第1の樹脂層14Aの厚さXと、220℃及び3.0MPaの加圧条件下で60分間成形(プレス処理)を施した後の第1の樹脂層14Bの厚さYとから算出される。例えば、まず、走査型電子顕微鏡(SEM)にて、樹脂層付き基材10について、その断面から第1の樹脂層の厚さ(図1における厚さX)を測定する。次いで、積層体30に対し、その積層に平行な断面が露出するよう研磨を施して試料を形成し、得られた試料について、走査型電子顕微鏡(SEM)にて第1の樹脂層の厚さ(図1における厚さY)を測定する。測定後、プレス前の第1の樹脂層14Aの厚さXと、プレス後の積層体30の第1の樹脂層14Bの厚さYとを比較することで厚み減少量を評価することができる。具体的には、例えば樹脂シートの形態である樹脂層付き基材における第1の樹脂層の厚さXと、例えば銅張積層板の形態である積層体における第1の樹脂層の厚さYとから、下記式(1)を用いて第1の樹脂層の厚み減少量(TΔ)を算出することができる。
厚み減少量(%)=(X-Y)/X×100 (1)
ただし、第1の樹脂層14Aと同一の材料からなる樹脂層を、平坦であって下記加圧条件で変形しないシートで挟んだ後に、上記加圧条件下で60分間成形(プレス処理)を施した前後の樹脂層の厚さから、同様にして厚み減少量を算出し、それを第1の樹脂層の厚み減少量としてもよい。
Here, the "thickness reduction amount when molded for 60 minutes under conditions of 220 ° C and 3.0 MPa" for the first resin layer is a numerical value indicating the reduction in the thickness of the first resin layer after molding, expressed as a percentage, relative to the thickness of the first resin layer before molding. This thickness reduction amount is calculated from the thickness X of the first resin layer 14A before press processing and the thickness Y of the first resin layer 14B after molding (press processing) for 60 minutes under conditions of 220 ° C and 3.0 MPa. For example, first, the thickness of the first resin layer (thickness X in FIG. 1) is measured from the cross section of the resin layer-attached substrate 10 using a scanning electron microscope (SEM). Next, the laminate 30 is polished to expose a cross section parallel to the lamination to form a sample, and the thickness of the first resin layer (thickness Y in FIG. 1) is measured for the obtained sample using a scanning electron microscope (SEM). After the measurement, the thickness reduction amount can be evaluated by comparing the thickness X of the first resin layer 14A before pressing with the thickness Y of the first resin layer 14B of the laminate 30 after pressing. Specifically, the thickness reduction amount (TΔ) of the first resin layer can be calculated using the following formula (1) from the thickness X of the first resin layer in a base material with a resin layer, for example, in the form of a resin sheet, and the thickness Y of the first resin layer in a laminate, for example, in the form of a copper-clad laminate.
Thickness reduction amount (%) = (X-Y)/X×100 (1)
However, a resin layer made of the same material as the first resin layer 14A may be sandwiched between flat sheets that do not deform under the pressure conditions described below, and then molded (pressed) for 60 minutes under the pressure conditions described above. The thickness reduction amount may then be calculated in the same manner from the thickness of the resin layer before and after the molding (press processing) and the thickness reduction amount may be used as the thickness reduction amount of the first resin layer.
第1の樹脂層の厚み減少量は、絶縁性確保の観点から30%未満である。第1の樹脂層の厚み減少量が30%以上であると、例えば220℃及び3.0MPaの加圧条件下で60分間成形のようなプレス処理の条件において第1の樹脂層の厚さが減少しすぎてしまい、絶縁層の絶縁性が低下する。第1の樹脂層の厚み減少量としては、絶縁性確保の観点から、28%未満が好ましく、25%以下が好ましく、20%未満が好ましく、10%未満がより好ましく、0%であることが特に好ましい。なお、この厚み減少量の下限は特に限定されず、0%であってもよい。第1の樹脂層の厚み減少量は、そこに含まれる熱硬化性樹脂の種類を適宜選択したり、樹脂の硬化度を制御したり、無機充填材を添加したりすることで所望の数値内に調整することができる。 The thickness reduction of the first resin layer is less than 30% from the viewpoint of ensuring insulation. If the thickness reduction of the first resin layer is 30% or more, the thickness of the first resin layer will be reduced too much under press processing conditions, such as molding for 60 minutes under conditions of 220°C and a pressure of 3.0 MPa, and the insulation properties of the insulating layer will be reduced. From the viewpoint of ensuring insulation, the thickness reduction of the first resin layer is preferably less than 28%, preferably 25% or less, preferably less than 20%, more preferably less than 10%, and particularly preferably 0%. Note that there is no particular limit to this thickness reduction, and it may be 0%. The thickness reduction of the first resin layer can be adjusted to the desired value by appropriately selecting the type of thermosetting resin contained therein, controlling the degree of curing of the resin, or adding an inorganic filler.
第1の樹脂層の厚さは、特に限定されるものではないが、より一層の薄膜化の観点から、10μm未満であることが好ましい。絶縁性を更に確実に奏することをも考慮すると、第1の樹脂層の厚さは、0.7μmを超え9.0μm以下であることがより好ましく、1.0μm以上9.0μm以下であることが更に好ましく、2.0μm以上9.0μm以下であることがなおもより好ましく、2.5μm以上9.0μm以下であることがなおも更に好ましく、3.0μm以上9.0μm以下であることが特に好ましい。なお、第1の樹脂層の厚さの上限は、7.0μmであってもよく、5.0μmであってもよく、3.0μmであってもよい。第1の樹脂層は、半硬化状態(B-Stage)であってもよいし、完全硬化状態(C-Stage)であってもよい。 The thickness of the first resin layer is not particularly limited, but from the perspective of achieving even thinner layers, it is preferably less than 10 μm. Considering the need to ensure even more reliable insulation, the thickness of the first resin layer is more preferably greater than 0.7 μm and less than 9.0 μm, even more preferably 1.0 μm or more and less than 9.0 μm, even more preferably 2.0 μm or more and less than 9.0 μm, even more preferably 2.5 μm or more and less than 9.0 μm, and particularly preferably 3.0 μm or more and less than 9.0 μm. The upper limit of the thickness of the first resin layer may be 7.0 μm, 5.0 μm, or 3.0 μm. The first resin layer may be in a semi-cured state (B-Stage) or a fully cured state (C-Stage).
第1の樹脂層の最低溶融粘度は、本発明の課題解決における寄与度が小さいため、特に限定されない。ただし、その最低溶融粘度は、厚み減少量及び絶縁性を向上させる観点から、10,000Pa・s以上であることが好ましく、100,000Pa・s以上50,000,000Pa・s以下であることがより好ましく、300,000Pa・s以上50,000,000Pa・s以下であることが特に好ましい。本明細書において、「最低溶融粘度」とは、レオメータ(粘弾性測定装置)を用い、開始温度80℃、終了温度180℃、昇温速度3℃/min、周波数10pts/s、歪0.1%の条件にて測定した粘度のうち最も低い値を示す粘度を意味する。第1の樹脂層の最低溶融粘度は、そこに含まれる熱硬化性樹脂の種類を適宜選択したり、樹脂の硬化度を制御したり、無機充填材を添加したりすることで所望の数値内に調整することができる。The minimum melt viscosity of the first resin layer is not particularly limited, as its contribution to solving the problems of the present invention is small. However, from the perspective of improving thickness reduction and insulation properties, the minimum melt viscosity is preferably 10,000 Pa·s or greater, more preferably 100,000 Pa·s to 50,000,000 Pa·s, and particularly preferably 300,000 Pa·s to 50,000,000 Pa·s. In this specification, "minimum melt viscosity" refers to the lowest viscosity measured using a rheometer (viscoelasticity measuring device) under the following conditions: starting temperature 80°C, ending temperature 180°C, heating rate 3°C/min, frequency 10 pts/s, and strain 0.1%. The minimum melt viscosity of the first resin layer can be adjusted to the desired value by appropriately selecting the type of thermosetting resin contained therein, controlling the degree of curing of the resin, or adding an inorganic filler.
第1の樹脂層の伸び率は、絶縁性樹脂層付き基材の製造性をより高める観点から、1%以上50%未満が好ましく、1%以上40%以下がより好ましく、2%以上30%以下が更に好ましい。本明細書において、「伸び率」は、JIS K7113-1に準じた測定方法によって算出する。 From the viewpoint of further improving the manufacturability of the substrate with an insulating resin layer, the elongation percentage of the first resin layer is preferably 1% or more but less than 50%, more preferably 1% or more but less than 40%, and even more preferably 2% or more but less than 30%. In this specification, "elongation percentage" is calculated using a measurement method in accordance with JIS K7113-1.
本実施形態における第1の樹脂層は、好ましくは熱硬化性樹脂を含む樹脂組成物の溶液であるワニスを用いて、塗布等の公知の手段により形成することができる。熱硬化性樹脂としては、厚み減少量が30%未満との条件を満たすものであれば、特に限定なく、好ましい物性に応じて所望の熱硬化性樹脂を用いることができる。また、樹脂組成物は、必要に応じて、後述する無機充填材や他の添加剤を含んでいてもよい。In this embodiment, the first resin layer can be formed by known methods such as coating using a varnish, which is a solution of a resin composition containing a thermosetting resin. The thermosetting resin is not particularly limited as long as it satisfies the condition that the thickness reduction is less than 30%, and any desired thermosetting resin can be used depending on the desired physical properties. Furthermore, the resin composition may contain inorganic fillers and other additives, as described below, as necessary.
(熱硬化性樹脂)
上述のように第1の樹脂層に用いられる熱硬化性樹脂は特に限定されるものではないが、例えば、ポリイミド、液晶ポリエステル、エポキシ樹脂、シアン酸エステル化合物、マレイミド化合物、フェノール樹脂、熱硬化変性ポリフェニレンエーテル樹脂、ベンゾオキサジン化合物、有機基変性シリコーン化合物及び重合可能な不飽和基を有する化合物が挙げられる。これらの熱硬化性樹脂は、1種を単独で又は2種以上を組み合わせて用いられる。
(thermosetting resin)
As described above, the thermosetting resin used in the first resin layer is not particularly limited, but examples thereof include polyimide, liquid crystal polyester, epoxy resin, cyanate ester compound, maleimide compound, phenolic resin, thermosetting modified polyphenylene ether resin, benzoxazine compound, organic group-modified silicone compound, and compound having a polymerizable unsaturated group. These thermosetting resins may be used alone or in combination of two or more.
これらの熱硬化性樹脂の中でも、より確実に厚み減少量を30%未満にする観点から、第1の樹脂層がポリイミド及び液晶ポリエステルのうちの少なくとも1種を含むことが好ましい。また、一層優れたピール強度を有する絶縁性樹脂層を得る観点から、ポリイミド及び液晶ポリエステルのうちの少なくとも1種に加えて、エポキシ樹脂及びフェノール樹脂のうちの少なくとも1種を含むことがより好ましく、これらと共に、ビスマレイミド化合物を更に含むことが更に好ましい。Among these thermosetting resins, it is preferable for the first resin layer to contain at least one of polyimide and liquid crystal polyester, in order to more reliably keep the thickness reduction to less than 30%. Furthermore, in order to obtain an insulating resin layer with even better peel strength, it is more preferable for the first resin layer to contain at least one of epoxy resin and phenol resin in addition to at least one of polyimide and liquid crystal polyester, and it is even more preferable for the first resin layer to further contain a bismaleimide compound.
-ポリイミド-
ポリイミドとしては、市販の製品を適宜選定して用いることができる。ポリイミドとしては、例えば、ブロック共重合ポリイミドを用いることができる。このようなブロック共重合体ポリイミドとしては、例えば、国際公開WO2010-073952号公報に記載のブロック共重合体ポリイミドが挙げられる。より具体的に、ブロック共重合ポリイミドとしては、第1の構造単位からなるイミドオリゴマーの末端に第2の構造単位からなるイミドオリゴマーが結合している構造Aと、第2の構造単位からなるイミドオリゴマーの末端に第1の構造単位からなるイミドオリゴマーが結合している構造Bとが交互に繰り返される構造を有する共重合ポリイミドが挙げられる。ここで、第2の構造単位は、第1の構造単位とは異なる。
-Polyimide-
As the polyimide, commercially available products can be appropriately selected and used. For example, a block copolymer polyimide can be used. Examples of such block copolymer polyimides include the block copolymer polyimides described in International Publication WO 2010-073952. More specifically, the block copolymer polyimide can be a copolymer polyimide having a structure in which Structure A, in which an imide oligomer composed of a first structural unit is bonded to the end of an imide oligomer composed of a second structural unit, and Structure B, in which an imide oligomer composed of the first structural unit is bonded to the end of an imide oligomer composed of the second structural unit, are alternately repeated. Here, the second structural unit is different from the first structural unit.
これらのブロック共重合ポリイミドは、極性溶媒中で、テトラカルボン酸二無水物とジアミンとを反応させてイミドオリゴマーを得た後、更にテトラカルボン酸二無水物と別のジアミン、又は、別のテトラカルボン酸二無水物とジアミンを加えてイミド化する逐次重合反応によって合成することができる。第1の構造単位からなるイミドオリゴマーとしては、例えば、重量平均分子量5,000以上30,000以下程度のイミドオリゴマーが好ましい。テトラカルボン酸二無水物としては、例えば、3,4,3’,4’-ビフェニルテトラカルボン酸二無水物が挙げられる。ジアミンとしては、例えば、1,3-ビス(3-アミノフェノキシ)ベンゼン、及び2,2-ビス{4-(4-アミノフェノキシ)フェニル}プロパンが挙げられる。これらは1種を単独で又は2種以上を組み合わせて用いられる。These block copolymer polyimides can be synthesized by a step-growth polymerization reaction in which a tetracarboxylic dianhydride and a diamine are reacted in a polar solvent to obtain an imide oligomer, and then a tetracarboxylic dianhydride and another diamine, or a different tetracarboxylic dianhydride and a diamine, are added to perform imidization. As an imide oligomer composed of the first structural unit, for example, an imide oligomer having a weight-average molecular weight of approximately 5,000 to 30,000 is preferred. Examples of tetracarboxylic dianhydrides include 3,4,3',4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride. Examples of diamines include 1,3-bis(3-aminophenoxy)benzene and 2,2-bis{4-(4-aminophenoxy)phenyl}propane. These may be used alone or in combination.
極性溶媒としては、例えば、N-メチル-2-ピロリドン、ジメチルアセトアミド、ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、スルホラン、及びテトラメチル尿素のような、ポリイミドを溶解する極性溶媒が挙げられる。また、ケトン系又はエーテル系の溶媒を混合して用いることも可能である。ケトン系溶媒としては、例えば、メチルエチルケトン、メチルプロピルケトン、メチルイソプロピルケトン、メチルブチルケトン、メチルイソブチルケトン、メチル-n-ヘキシルケトン、ジエチルケトン、ジイソプロピルケトン、ジイソブチルケトン、シクロペンタノン、シクロヘキサノン、メチルシクロヘキサノン、アセチルアセトン、ジアセトンアルコール、及びシクロヘキセン-n-オンが挙げられる。エーテル系溶媒としては、例えば、ジプロピルエーテル、ジイソプロピルエーテル、ジブチルエーテル、テトラヒドロフラン、テトラヒドロピラン、エチルイソアミルアルコール、エチル-t-ブチルエーテル、エチルベンジルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、クレジルメチルエーテル、アニソール、及びフェネトールが挙げられる。これらの極性溶媒は1種を単独で又は2種以上を組み合わせて用いられる。 Examples of polar solvents include polar solvents that dissolve polyimides, such as N-methyl-2-pyrrolidone, dimethylacetamide, dimethylformamide, dimethyl sulfoxide, sulfolane, and tetramethylurea. It is also possible to use a mixture of ketone and ether solvents. Examples of ketone solvents include methyl ethyl ketone, methyl propyl ketone, methyl isopropyl ketone, methyl butyl ketone, methyl isobutyl ketone, methyl-n-hexyl ketone, diethyl ketone, diisopropyl ketone, diisobutyl ketone, cyclopentanone, cyclohexanone, methylcyclohexanone, acetylacetone, diacetone alcohol, and cyclohexene-n-one. Examples of ether solvents include dipropyl ether, diisopropyl ether, dibutyl ether, tetrahydrofuran, tetrahydropyran, ethyl isoamyl alcohol, ethyl-t-butyl ether, ethyl benzyl ether, diethylene glycol dimethyl ether, cresyl methyl ether, anisole, and phenetole. These polar solvents may be used alone or in combination of two or more.
イミド化の際に生成する水を除去する方法として、トルエン及びキシレン等の水と共沸する溶媒を反応系に添加して、系外に水を除去することが好ましい。さらに、反応を促進するために、ピリジン等のアミン系触媒、又は、ピリジンのような塩基とγ-バレロラクトンのような環状エステルとの二成分系触媒を用いることができる。イミド化の反応温度は120℃以上200℃以下が好ましい。トルエン及びキシレン等の水と共沸する溶媒、及び、ピリジン等の触媒は、最終的に系外に留去させることによって、ブロック共重合ポリイミドのみの極性溶媒溶液を得ることが可能である。 A preferred method for removing the water produced during imidization is to add a solvent that forms an azeotrope with water, such as toluene or xylene, to the reaction system and remove the water from the system. Furthermore, to accelerate the reaction, an amine catalyst, such as pyridine, or a two-component catalyst consisting of a base such as pyridine and a cyclic ester such as γ-valerolactone can be used. The imidization reaction temperature is preferably 120°C or higher and 200°C or lower. By finally distilling off the solvent that forms an azeotrope with water, such as toluene or xylene, and the catalyst, such as pyridine, from the system, a polar solvent solution containing only the block copolymer polyimide can be obtained.
上記ブロック共重合ポリイミドとして、下記式(A)で表される構造単位と下記式(B)で表される構造単位とを有するブロック共重合ポリイミドを好適に用いることができる。ここで、式中のm及びnは、後述の好ましい重量平均分子量の範囲内になるような正の数であればよい。 The block copolymer polyimide preferably has a structural unit represented by the following formula (A) and a structural unit represented by the following formula (B): where m and n in the formula are positive numbers that fall within the range of the preferred weight-average molecular weight described below.
ブロック共重合ポリイミドの合成に用いられるテトラカルボン酸二無水物は、好ましくは3,4,3’,4’-ビフェニルテトラカルボン酸二無水物である。ブロック共重合ポリイミドの合成に用いられるジアミンは、好ましくは1,3-ビス(3-アミノフェノキシ)ベンゼン及び2,2-ビス{4-(4-アミノフェノキシ)フェニル}プロパンである。また、各構造単位のブロックの分子量を制御するために、例えば、一段目の反応ではテトラカルボン酸二無水物とジアミンとのモル比をいずれかが多くなるようにシフトさせ、それによって末端に酸無水物骨格又はアミン骨格を残し、二段目の反応ではテトラカルボン酸二無水物と別のジアミンとのモル比又は別のテトラカルボン酸二無水物とジアミンとのモル比を一段目の反応とは逆になるようにシフトさせてもよい。これにより、所望の分子量を有するブロック共重合ポリイミドを得ることが可能である。The tetracarboxylic dianhydride used in the synthesis of block copolymerized polyimides is preferably 3,4,3',4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride. The diamines used in the synthesis of block copolymerized polyimides are preferably 1,3-bis(3-aminophenoxy)benzene and 2,2-bis{4-(4-aminophenoxy)phenyl}propane. Furthermore, to control the molecular weight of the blocks of each structural unit, for example, in the first-stage reaction, the molar ratio of tetracarboxylic dianhydride to diamine may be shifted to a higher ratio, thereby leaving an acid anhydride or amine skeleton at the terminal, and in the second-stage reaction, the molar ratio of tetracarboxylic dianhydride to another diamine or another tetracarboxylic dianhydride to diamine may be shifted to the opposite ratio from the first-stage reaction. This makes it possible to obtain block copolymerized polyimides with the desired molecular weight.
特に限定されるものではないが、上述のブロック共重合ポリイミドの重量平均分子量(Mw)は、50,000以上300,000以下が好ましく、より好適には、80,000以上200,000以下である。重量平均分子量が50,000以上であると第1の樹脂層が脆くなることをより有効に抑制できる。重量平均分子量が300,000以下であると、溶液粘度が高くなることにより塗工が困難になるのをより有効に抑制することができる。本明細書において、重量平均分子量は、GPC(ゲルパーミエイションクロマトグラフィ)にて、NMPを溶媒とし、ポリスチレン換算して測定される。Although not particularly limited, the weight-average molecular weight (Mw) of the above-mentioned block copolymer polyimide is preferably 50,000 or more and 300,000 or less, and more preferably 80,000 or more and 200,000 or less. A weight-average molecular weight of 50,000 or more can more effectively prevent the first resin layer from becoming brittle. A weight-average molecular weight of 300,000 or less can more effectively prevent coating difficulties due to increased solution viscosity. In this specification, the weight-average molecular weight is measured by GPC (gel permeation chromatography) using NMP as a solvent and converted into polystyrene.
最終的な分子量を制御するために、テトラカルボン酸二無水物とジアミンとのモル比をいずれかが多くなるようにシフトして合成することも可能である。ブロック共重合体ポリイミドが上述の式(A)で表される構造単位と式(B)で表される構造単位とを有する場合、各々の構造単位のモル比は、好適には、(式(A)で表される構造単位):(式(B)で表される構造単位)=1:9~3:1であり、より好適には、(式(A)で表される構造単位):(式(B)で表される構造単位)=1:3~3:1である。それらの構造単位のモル比が上記範囲内にあると、接着力及びはんだ耐熱性の低下をより有効に抑制することができる。To control the final molecular weight, it is also possible to synthesize the product by shifting the molar ratio of tetracarboxylic dianhydride to diamine so that one is more abundant than the other. When the block copolymer polyimide has the structural unit represented by formula (A) and the structural unit represented by formula (B), the molar ratio of each structural unit is preferably (structural unit represented by formula (A)):(structural unit represented by formula (B)) = 1:9 to 3:1, and more preferably (structural unit represented by formula (A)):(structural unit represented by formula (B)) = 1:3 to 3:1. When the molar ratio of these structural units is within the above range, deterioration in adhesive strength and solder heat resistance can be more effectively suppressed.
本実施形態に用いられるポリイミドとして、例えば、特開2005-15629号公報に記載の製造方法によって合成される溶媒可溶性ポリイミドを用いることもできる。具体的には、溶媒可溶性ポリイミドは、下記式(C)で表される脂肪族テトラカルボン酸二無水物、並びに、下記式(D)で表される脂肪族テトラカルボン酸及び当該脂肪族テトラカルボン酸の誘導体からなる群より選ばれる1種以上(以下、まとめて単に「脂肪族テトラカルボン酸類」ともいう。)と、ジアミンのうちの1種以上とを、3級アミンの存在下に溶媒中にて重縮合させることで得られる。The polyimide used in this embodiment may be, for example, a solvent-soluble polyimide synthesized by the manufacturing method described in JP 2005-15629 A. Specifically, the solvent-soluble polyimide is obtained by polycondensing an aliphatic tetracarboxylic acid dianhydride represented by the following formula (C), and one or more aliphatic tetracarboxylic acids represented by the following formula (D) and derivatives of the aliphatic tetracarboxylic acids (hereinafter collectively referred to as "aliphatic tetracarboxylic acids") with one or more diamines in a solvent in the presence of a tertiary amine:
ここで、式(C)中、Rは炭素数4~16の4価の脂肪族炭化水素基である。
In formula (C), R is a tetravalent aliphatic hydrocarbon group having 4 to 16 carbon atoms.
ここで、式(D)中、Rは炭素数4~16の4価の脂肪族炭化水素基であり、Y1~Y4は、各々独立して水素原子又は炭素数1~8の1価の炭化水素基である。
In formula (D), R is a tetravalent aliphatic hydrocarbon group having 4 to 16 carbon atoms, and Y 1 to Y 4 are each independently a hydrogen atom or a monovalent hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms.
このような溶媒可溶ポリイミドの製造方法において、脂肪族テトラカルボン酸類とジアミンとのほぼ等モル量を3級アミンの存在下に溶媒中にて加熱し、重縮合することができる。また、脂肪族テトラカルボン酸類とジアミンとのモル比は、どちらか一方の100モル%に対してもう一方が95モル%以上105モル%以下の範囲であることが好ましい。In this method for producing solvent-soluble polyimides, approximately equimolar amounts of aliphatic tetracarboxylic acids and diamines are heated in a solvent in the presence of a tertiary amine to undergo polycondensation. Furthermore, the molar ratio of aliphatic tetracarboxylic acids to diamines is preferably 100 mol% of one to 95 mol% or more and 105 mol% or less of the other.
一般的なポリイミドの製造では、テトラカルボン酸類としてテトラカルボン酸二無水物を用いるのが普通である。しかしながら、上述の溶媒可溶ポリイミドの製造方法では、脂肪族テトラカルボン酸二無水物の他に、無水物ではない脂肪族テトラカルボン酸及び脂肪族テトラカルボン酸とアルコールとのエステル類のような誘導体を用いて実用的なポリイミドを製造することができる。脂肪族テトラカルボン酸をそのまま用いると、生産設備及びコストの面で有利である。In the production of typical polyimides, tetracarboxylic dianhydrides are typically used as the tetracarboxylic acids. However, in the above-mentioned method for producing solvent-soluble polyimides, practical polyimides can be produced using not only aliphatic tetracarboxylic dianhydrides, but also non-anhydride aliphatic tetracarboxylic acids and derivatives such as esters of aliphatic tetracarboxylic acids and alcohols. Using aliphatic tetracarboxylic acids directly is advantageous in terms of production equipment and costs.
式(C)で表される脂肪族テトラカルボン酸二無水物としては、例えば、1,2,3,4-シクロブタンテトラカルボン酸二無水物、1,2,4,5-シクロペンタンテトラカルボン酸二無水物、1,2,4,5-シクロヘキサンテトラカルボン酸二無水物、及びビシクロ[2.2.2]オクト-7-エン-2,3,5,6-テトラカルボン酸二無水物が挙げられる。式(D)で表される脂肪族テトラカルボン酸及びその誘導体としては、例えば、1,2,3,4-シクロブタンテトラカルボン酸、1,2,4,5-シクロペンタンテトラカルボン酸、1,2,4,5-シクロヘキサンテトラカルボン酸、及びビシクロ[2.2.2]オクト-7-エン-2,3,5,6-テトラカルボン酸、並びにそれらのアルコールエステル類が挙げられる。これらは1種を単独で又は2種類以上を組み合わせて用いられる。これらのうち好ましいのは、1,2,4,5-シクロヘキサンテトラカルボン酸二無水物、及び1,2,4,5-シクロヘキサンテトラカルボン酸である。 Examples of aliphatic tetracarboxylic acid dianhydrides represented by formula (C) include 1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic acid dianhydride, 1,2,4,5-cyclopentanetetracarboxylic acid dianhydride, 1,2,4,5-cyclohexanetetracarboxylic acid dianhydride, and bicyclo[2.2.2]oct-7-ene-2,3,5,6-tetracarboxylic acid dianhydride. Examples of aliphatic tetracarboxylic acids and derivatives thereof represented by formula (D) include 1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic acid, 1,2,4,5-cyclopentanetetracarboxylic acid, 1,2,4,5-cyclohexanetetracarboxylic acid, and bicyclo[2.2.2]oct-7-ene-2,3,5,6-tetracarboxylic acid, as well as alcohol esters thereof. These may be used alone or in combination of two or more. Of these, 1,2,4,5-cyclohexanetetracarboxylic acid dianhydride and 1,2,4,5-cyclohexanetetracarboxylic acid are preferred.
上記溶媒可溶ポリイミドの製造方法では、溶媒可溶性を損なわない範囲で、他のテトラカルボン酸及びその誘導体を混合して用いることができる。そのようなテトラカルボン酸及びその誘導体としては、例えば、ピロメリット酸、3,3’,4,4’-ビフェニルテトラカルボン酸、2,3,3’,4’-ビフェニルテトラカルボン酸、2,2-ビス(3,4-ジカルボキシフェニル)プロパン、2,2-ビス(2,3-ジカルボキシフェニル)プロパン、2,2-ビス(3,4-ジカルボキシフェニル)-1,1,1,3,3,3-ヘキサフルオロプロパン、2,2-ビス(2,3-ジカルボキシフェニル)-1,1,1,3,3,3-ヘキサフルオロプロパン、ビス(3,4-ジカルボキシフェニル)スルホン、ビス(3,4-ジカルボキシフェニル)エーテル、ビス(2,3-ジカルボキシフェニル)エーテル、3,3’,4,4’-ベンゾフェノンテトラカルボン酸、2,2’,3,3’-ベンゾフェノンテトラカルボン酸、4,4-(p-フェニレンジオキシ)ジフタル酸、4,4-(m-フェニレンジオキシ)ジフタル酸、エチレンテトラカルボン酸、3-カルボキシメチル-1,2,4-シクロペンタントリカルボン酸、1,1-ビス(2,3-ジカルボキシフェニル)エタン、及びビス(2,3-ジカルボキシフェニル)メタン、ビス(3,4-ジカルボキシフェニル)メタン、並びにそれらの誘導体が挙げられる。これらの他のテトラカルボン酸及びその誘導体の反応基質における割合は、反応基質中の全てのテトラカルボン酸及びその誘導体100モル%に対して50モル%未満であることが好ましい。In the above-mentioned method for producing solvent-soluble polyimide, other tetracarboxylic acids and their derivatives can be mixed and used as long as the solvent solubility is not impaired. Examples of such tetracarboxylic acids and their derivatives include pyromellitic acid, 3,3',4,4'-biphenyltetracarboxylic acid, 2,3,3',4'-biphenyltetracarboxylic acid, 2,2-bis(3,4-dicarboxyphenyl)propane, 2,2-bis(2,3-dicarboxyphenyl)propane, 2,2-bis(3,4-dicarboxyphenyl)-1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane, 2,2-bis(2,3-dicarboxyphenyl)-1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane, bis(3,4-dicarboxyphenyl)sulfone, bis(3,4-dicarboxyphenyl)sulfone, and bis(3,4-dicarboxyphenyl)sulfone. Examples of other tetracarboxylic acids and derivatives thereof include bis(2,3-dicarboxyphenyl)ether, bis(2,3-dicarboxyphenyl)ether, 3,3',4,4'-benzophenonetetracarboxylic acid, 2,2',3,3'-benzophenonetetracarboxylic acid, 4,4-(p-phenylenedioxy)diphthalic acid, 4,4-(m-phenylenedioxy)diphthalic acid, ethylenetetracarboxylic acid, 3-carboxymethyl-1,2,4-cyclopentanetricarboxylic acid, 1,1-bis(2,3-dicarboxyphenyl)ethane, and bis(2,3-dicarboxyphenyl)methane, bis(3,4-dicarboxyphenyl)methane, and derivatives thereof. The proportion of these other tetracarboxylic acids and derivatives thereof in the reaction substrate is preferably less than 50 mol % based on 100 mol % of all tetracarboxylic acids and derivatives thereof in the reaction substrate.
ジアミンとしては、炭素数6~28の芳香族ジアミン、及び炭素数2~28の脂肪族ジアミンが好ましい。ジアミンとしては、例えば、p-フェニレンジアミン、m-フェニレンジアミン、4,4’-ジアミノビフェニル、4,4’-ジアミノ-2,2’-ジメチルビフェニル、4,4’-ジアミノ-3,3’-ジメチルビフェニル、4,4’-ジアミノ-2,2’-ジトリフルオロメチルビフェニル、4,4’-ジアミノジフェニルエーテル、3,4’-ジアミノジフェニルエーテル、4,4’-ジアミノジフェニルメタン、4,4’-ジアミノベンゾフェノン、4,4’-ジアミノジフェニルスルホン、4,4’-ジアミノジフェニルスルフィド、1,4-ビス(4-アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3-ビス(4-アミノフェノキシ)ベンゼン、4,4’-ビス(4-アミノフェノキシ)ビフェニル、ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]スルホン、2,2-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、2,2-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]-1,1,1,3,3,3-ヘキサフルオロプロパン、ビス[4-(3-アミノフェノキシ)フェニル]スルホン、及び9,9-ビス(4-アミノフェニル)フルオレンのような芳香族ジアミン;エチレンジアミン、ヘキサメチレンジアミン、ポリエチレングリコールビス(3-アミノプロピル)エーテル、ポリプロピレングリコールビス(3-アミノプロピル)エーテル、1,3-ビス(アミノメチル)シクロヘキサン、1,4-ビス(アミノメチル)シクロヘキサン、4,4’-ジアミノジシクロヘキシルメタン、3(4),8(9)-ビス(アミノメチル)-トリシクロ[5.2.1.02,6]デカン、メタキシリレンジアミン、パラキシリレンジアミン、イソホロンジアミン、及びノルボルナンジアミンのような脂肪族ジアミン;並びにシロキサンジアミン類が挙げられる。これらは1種を単独で又は2種以上を組み合わせて用いられる。これらのジアミンのうち、芳香族ジアミンでは4,4’-ジアミノ-3,3’-ジメチルビフェニル、4,4’-ジアミノ-2,2’-ジトリフルオロメチルビフェニル、4,4’-ジアミノジフェニルエーテル、4,4’-ジアミノジフェニルメタン、1,4-ビス(4-アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3-ビス(4-アミノフェノキシ)ベンゼン、4,4’-ビス(4-アミノフェノキシ)ビフェニル、2,2-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、及び2,2-ビス[4-(4-アミノフェノキシ)フェニル]-1,1,1,3,3,3-ヘキサフルオロプロパンが好ましい。脂肪族ジアミンでは4,4’-ジアミノジシクロヘキシルメタン、及び3(4),8(9)-ビス(アミノメチル)-トリシクロ[5.2.1.02,6]デカンが好ましい。 As diamines, aromatic diamines having 6 to 28 carbon atoms and aliphatic diamines having 2 to 28 carbon atoms are preferred. Examples of diamines include p-phenylenediamine, m-phenylenediamine, 4,4'-diaminobiphenyl, 4,4'-diamino-2,2'-dimethylbiphenyl, 4,4'-diamino-3,3'-dimethylbiphenyl, 4,4'-diamino-2,2'-ditrifluoromethylbiphenyl, 4,4'-diaminodiphenyl ether, 3,4'-diaminodiphenyl ether, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminobenzophenone, 4,4'-diaminodiphenyl sulfone, 4,4'-diaminodiphenyl sulfide, 1,4-bis(4-aminophenoxy)benzene, 1,3-bis(4-aminophenoxy)benzene, 4,4'-bis(4-aminophenoxy)biphenyl, bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl]sulfone, 2,2-bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl]propane, 2, Examples of the diamines include aromatic diamines such as 2-bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl]-1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane, bis[4-(3-aminophenoxy)phenyl]sulfone, and 9,9-bis(4-aminophenyl)fluorene; aliphatic diamines such as ethylenediamine, hexamethylenediamine, polyethylene glycol bis(3-aminopropyl)ether, polypropylene glycol bis(3-aminopropyl)ether, 1,3-bis(aminomethyl)cyclohexane, 1,4-bis(aminomethyl)cyclohexane, 4,4'-diaminodicyclohexylmethane, 3(4),8(9)-bis(aminomethyl)-tricyclo[5.2.1.02,6]decane, metaxylylenediamine, paraxylylenediamine, isophoronediamine, and norbornanediamine; and siloxanediamines. These may be used alone or in combination of two or more. Among these diamines, aromatic diamines such as 4,4'-diamino-3,3'-dimethylbiphenyl, 4,4'-diamino-2,2'-ditrifluoromethylbiphenyl, 4,4'-diaminodiphenyl ether, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 1,4-bis(4-aminophenoxy)benzene, 1,3-bis(4-aminophenoxy)benzene, 4,4'-bis(4-aminophenoxy)biphenyl, 2,2-bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl]propane, and 2,2-bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl]-1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane are preferred. Among aliphatic diamines, 4,4'-diaminodicyclohexylmethane and 3(4),8(9)-bis(aminomethyl)-tricyclo[5.2.1.02,6]decane are preferred.
上記溶媒可溶ポリイミドの製造方法では、脂肪族テトラカルボン酸類1モルに対して3級アミンを0.001モル以上1.0モル以下用いることが好ましく、0.01モル以上0.2モル以下用いることがより好ましい。In the above-mentioned method for producing solvent-soluble polyimide, it is preferable to use 0.001 moles or more and 1.0 moles or less of tertiary amine per mole of aliphatic tetracarboxylic acid, and it is more preferable to use 0.01 moles or more and 0.2 moles or less.
3級アミンとしては、例えば、トリメチルアミン、トリエチルアミン、トリプロピルアミン、トリブチルアミン、トリエタノールアミン、N,N-ジメチルエタノールアミン、N,N-ジエチルエタノールアミン、トリエチレンジアミン、N-メチルピロリジン、N-エチルピロリジン、N-メチルピペリジン、N-エチルピペリジン、イミダゾール、ピリジン、キノリン、及びイソキノリンが挙げられる。これらの3級アミンのうち、特に好ましいのはトリエチルアミンである。 Tertiary amines include, for example, trimethylamine, triethylamine, tripropylamine, tributylamine, triethanolamine, N,N-dimethylethanolamine, N,N-diethylethanolamine, triethylenediamine, N-methylpyrrolidine, N-ethylpyrrolidine, N-methylpiperidine, N-ethylpiperidine, imidazole, pyridine, quinoline, and isoquinoline. Of these tertiary amines, triethylamine is particularly preferred.
上記溶媒可溶ポリイミドの製造方法に用いられる溶媒としては、例えば、γ-ブチロラクトン、N,N-ジメチルアセトアミド、N-メチル-2-ピロリドン、N,N-ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、ヘキサメチルホスホルアミド、テトラメチレンスルホン、p-クロルフェノール、m-クレゾール、及び2-クロル-4-ヒドロキシトルエンが挙げられる。これらは1種を単独で又は2種以上を組み合わせて用いられる。これらのうち、γ-ブチロラクトン、N,N-ジメチルアセトアミド、及びN-メチル-2-ピロリドンが好ましく、γ-ブチロラクトン、及びN,N-ジメチルアセトアミドがよりに好ましい。また、重合体が析出しない程度でポリイミドの貧溶媒を併用することもできる。貧溶媒としては、例えば、ヘキサン、ヘプタン、ベンゼン、トルエン、キシレン、クロルベンゼン、及びo-ジクロロベンゼンが挙げられる。溶媒の使用量は、脂肪族テトラカルボン酸類及びジアミンの総質量が反応液全体の質量に対して1質量%以上50質量%以下となる使用量であると好ましく、20質量%以上45重量%以下となる使用量であるとより好ましい。 Solvents used in the above-mentioned method for producing solvent-soluble polyimide include, for example, γ-butyrolactone, N,N-dimethylacetamide, N-methyl-2-pyrrolidone, N,N-dimethylformamide, dimethyl sulfoxide, hexamethylphosphoramide, tetramethylene sulfone, p-chlorophenol, m-cresol, and 2-chloro-4-hydroxytoluene. These may be used alone or in combination of two or more. Of these, γ-butyrolactone, N,N-dimethylacetamide, and N-methyl-2-pyrrolidone are preferred, with γ-butyrolactone and N,N-dimethylacetamide being more preferred. A poor solvent for polyimide can also be used in combination to the extent that the polymer does not precipitate. Examples of poor solvents include hexane, heptane, benzene, toluene, xylene, chlorobenzene, and o-dichlorobenzene. The amount of the solvent used is preferably such that the total mass of the aliphatic tetracarboxylic acids and the diamine is 1% by mass or more and 50% by mass or less, and more preferably 20% by mass or more and 45% by mass or less, based on the mass of the entire reaction solution.
脂肪族テトラカルボン酸類とジアミンとの仕込み方法は特に限定されず、例えば、両成分を一括に仕込む方法、及び、いずれか一方の成分を含む溶液中(完全に溶解していなくてもよい)に他方の成分を固体又は溶液の状態で徐々に仕込む方法が挙げられる。特に、両成分を一括に仕込む方法は仕込み時間を短縮できることから生産性の面で有利である。 The method for adding the aliphatic tetracarboxylic acids and diamine is not particularly limited, and examples include adding both components at once, or gradually adding one of the components in solid or solution form to a solution containing the other component (it does not have to be completely dissolved). Adding both components at once is particularly advantageous in terms of productivity, as it shortens the addition time.
3級アミンは、その触媒効果をより十分に発揮させるために、昇温して目標温度に到達するまでに仕込むのが好ましい。特に、溶媒、脂肪族テトラカルボン酸類、及びジアミンを仕込むのと同時に仕込むのが好ましい。In order to maximize its catalytic effect, the tertiary amine is preferably added before the target temperature is reached. It is particularly preferable to add the tertiary amine at the same time as the solvent, aliphatic tetracarboxylic acids, and diamine.
溶媒の仕込み方法も特に限定されず、例えば、予め反応槽内へ溶媒を仕込む方法、脂肪族テトラカルボン酸類及びジアミンのいずれか一方、又はその両方が存在する反応槽内へ溶媒を仕込む方法、脂肪族テトラカルボン酸類及びジアミンのいずれか一方を予めその溶媒に溶解させてから反応槽内へ仕込む方法が挙げられる。これらの方法は、1種を単独で又は2種以上を組み合わせて用いられる。また、反応途中の状態、あるいは反応後に反応槽内に留まった状態、あるいは反応後に反応槽から取り出した状態の溶媒可溶性ポリイミド溶液中に、上述したような溶媒を目的に応じて添加できる。The method for adding the solvent is not particularly limited. Examples include a method in which the solvent is added to the reaction vessel in advance; a method in which the solvent is added to the reaction vessel containing either or both of the aliphatic tetracarboxylic acids and the diamine; and a method in which either the aliphatic tetracarboxylic acids and the diamine are dissolved in the solvent before adding it to the reaction vessel. These methods can be used alone or in combination of two or more. Furthermore, the above-mentioned solvents can be added, depending on the purpose, to the solvent-soluble polyimide solution during the reaction, while it remains in the reaction vessel after the reaction, or after it is removed from the reaction vessel after the reaction.
本実施形態において、第1の樹脂層がポリイミドを含む場合、その含有量は、特に限定されないが、耐熱性及び硬化性を向上させる点から、第1の樹脂層中の樹脂固形分100質量部に対して、10質量部以上90質量部以下が好ましく、30質量部以上80質量部以下がより好ましい。 In this embodiment, when the first resin layer contains polyimide, its content is not particularly limited, but from the viewpoint of improving heat resistance and curing properties, it is preferably 10 parts by mass or more and 90 parts by mass or less, and more preferably 30 parts by mass or more and 80 parts by mass or less, per 100 parts by mass of resin solids in the first resin layer.
-液晶ポリエステル-
液晶ポリエステルは、溶融時に液晶性を示す芳香族ポリエステルである。液晶ポリエステルとしては公知のものを適宜選定して用いることができる。公知の液晶ポリエステルとしては、例えば、特開2001-11296号公報に記載の芳香族ポリエステルが挙げられる。液晶ポリエステルとして、具体的には、下記式(E)で表される構造単位(以下、単に「構造単位(E)」という。)を90モル%以上含む芳香族ポリエステルが挙げられる。
- Liquid crystal polyester -
Liquid crystal polyester is an aromatic polyester that exhibits liquid crystallinity when melted. Known liquid crystal polyesters can be appropriately selected and used. Known liquid crystal polyesters include, for example, aromatic polyesters described in JP-A-2001-11296. Specific examples of liquid crystal polyesters include aromatic polyesters containing 90 mol % or more of a structural unit represented by the following formula (E) (hereinafter simply referred to as "structural unit (E)").
上述の構造単位(E)を含む芳香族ポリエステルとしては、例えば、入手性の観点から、実質的に構造単位(E)のホモポリマーであるポリオキシベンゾエートを用いることができる。当該芳香族ポリエステルの製造方法としては、公知の方法を採用することができる。なお、上述の構造単位(E)を含む芳香族ポリエステルは、通常の溶剤に対して難溶又は不溶であることが多く、また、難融又は不融であるため、液晶性を示さない。したがって、上述の構造単位(E)を含む芳香族ポリエステルは、粉末として用いるのが好ましい。該粉末は、芳香族ポリエステルの樹脂又は繊維を粉砕処理して得られ、平均粒径は、通常0.1μm以上100μm以下、好ましくは0.5μm以上15μm以下とすることができる。From the standpoint of availability, for example, polyoxybenzoate, which is essentially a homopolymer of structural unit (E), can be used as an aromatic polyester containing the structural unit (E). Known methods can be used to manufacture such aromatic polyesters. Note that aromatic polyesters containing the structural unit (E) are often poorly soluble or insoluble in common solvents, and because they are poorly soluble or infusible, they do not exhibit liquid crystallinity. Therefore, aromatic polyesters containing the structural unit (E) are preferably used as powders. The powders are obtained by pulverizing aromatic polyester resins or fibers, and the average particle size is typically between 0.1 μm and 100 μm, preferably between 0.5 μm and 15 μm.
特に限定されるものではないが、液晶ポリエステルの重量平均分子量は、通常1,000以上100,000以下であり、好ましくは10,000以上50,000以下である。 Although not particularly limited, the weight average molecular weight of the liquid crystal polyester is typically 1,000 or more and 100,000 or less, and preferably 10,000 or more and 50,000 or less.
液晶ポリエステルとしては、市販の製品を適宜選定して用いることができ、例えば、住友化学工業(株)製の「エコノールE101-F」(商品名)を用いることができる。 As the liquid crystal polyester, commercially available products can be selected appropriately and used, for example, "Econol E101-F" (trade name) manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd. can be used.
本実施形態において、第1の樹脂層が液晶ポリエステルを含む場合、その含有量は、特に限定されないが、耐熱性及び硬化性を向上させる点から、第1の樹脂層中の樹脂固形分100質量部に対して、10質量部以上90質量部が好ましく、30質量部以上80質量部以下がより好ましい。 In this embodiment, when the first resin layer contains liquid crystal polyester, its content is not particularly limited, but from the viewpoint of improving heat resistance and curability, it is preferably 10 parts by mass or more and 90 parts by mass or less per 100 parts by mass of the resin solid content in the first resin layer, and more preferably 30 parts by mass or more and 80 parts by mass or less.
-エポキシ樹脂-
エポキシ樹脂としては、1分子中に2個以上のエポキシ基を有するものであれば特に限定されず、従来公知の任意のエポキシ樹脂を用いることができる。エポキシ樹脂のエポキシ当量は、接着性及び可撓性をより良好にする点から、250g/eq以上850g/eq以下が好ましく、より好ましくは250g/eq以上450g/eq以下である。エポキシ当量は、常法により測定することができる。
-Epoxy resin-
The epoxy resin is not particularly limited as long as it has two or more epoxy groups in one molecule, and any conventionally known epoxy resin can be used. The epoxy equivalent of the epoxy resin is preferably 250 g/eq or more and 850 g/eq or less, more preferably 250 g/eq or more and 450 g/eq or less, in order to improve adhesiveness and flexibility. The epoxy equivalent can be measured by a conventional method.
エポキシ樹脂としては、例えば、ポリオキシナフチレン型エポキシ樹脂、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、ナフタレン4官能型エポキシ樹脂、キシレン型エポキシ樹脂、ナフトールアラルキル型エポキシ樹脂、ナフタレンアラルキル型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂、3官能フェノール型エポキシ樹脂、4官能フェノール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、アラルキルノボラック型エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、ポリオール型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、ブタジエンのようなジエン化合物の2重結合をエポキシ化した化合物、及び水酸基含有シリコーン樹脂類とエピクロルヒドリンとの反応により得られる化合物が挙げられる。これらの中でも、特にめっき銅付着性と難燃性の点から、エポキシ樹脂は、ポリオキシナフチレン型エポキシ樹脂、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、ナフタレン4官能型エポキシ樹脂、キシレン型エポキシ樹脂、ナフトールアラルキル型エポキシ樹脂、又はナフタレンアラルキル型エポキシ樹脂であることが好ましい。これらのエポキシ樹脂は、1種を単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。 Examples of epoxy resins include polyoxynaphthylene-type epoxy resins, biphenyl aralkyl-type epoxy resins, naphthalene tetrafunctional-type epoxy resins, xylene-type epoxy resins, naphthol aralkyl-type epoxy resins, naphthalene aralkyl-type epoxy resins, bisphenol A-type epoxy resins, bisphenol F-type epoxy resins, bisphenol A novolac-type epoxy resins, trifunctional phenol-type epoxy resins, tetrafunctional phenol-type epoxy resins, naphthalene-type epoxy resins, biphenyl-type epoxy resins, aralkyl novolac-type epoxy resins, alicyclic epoxy resins, polyol-type epoxy resins, glycidyl amine-type epoxy resins, glycidyl ester-type epoxy resins, compounds in which the double bonds of diene compounds such as butadiene have been epoxidized, and compounds obtained by reacting hydroxyl-containing silicone resins with epichlorohydrin. Among these, from the viewpoints of plating copper adhesion and flame retardancy in particular, the epoxy resin is preferably a polyoxynaphthylene-type epoxy resin, a biphenyl aralkyl-type epoxy resin, a naphthalene tetrafunctional-type epoxy resin, a xylene-type epoxy resin, a naphthol aralkyl-type epoxy resin, or a naphthalene aralkyl-type epoxy resin. These epoxy resins can be used alone or in combination of two or more.
本実施形態において、第1の樹脂層がエポキシ樹脂を含む場合、その含有量は、特に限定されないが、耐熱性及び硬化性を向上させる点から、第1の樹脂層中の樹脂固形分100質量部に対して、1質量部以上60質量部以下が好ましく、1質量部以上30質量部以下がより好ましい。 In this embodiment, if the first resin layer contains an epoxy resin, its content is not particularly limited, but from the standpoint of improving heat resistance and curing properties, it is preferably 1 part by mass or more and 60 parts by mass or less, and more preferably 1 part by mass or more and 30 parts by mass or less, per 100 parts by mass of resin solids in the first resin layer.
-シアン酸エステル化合物-
シアン酸エステル化合物は、耐薬品性、及び接着性等に優れた特性を有し、その優れた耐薬品性により、均一な粗化面を形成することが可能である。そのため、シアン酸エステル化合物は、本実施形態における樹脂層の成分として好適に用いることができる。
- Cyanate ester compounds -
Cyanate ester compounds have excellent properties such as chemical resistance and adhesiveness, and their excellent chemical resistance makes it possible to form a uniformly roughened surface, making them suitable for use as a component of the resin layer in this embodiment.
シアン酸エステル化合物としては、例えば、下記式(F)で表されるα-ナフトールアラルキル型シアン酸エステル化合物、下記式(G)で表されるノボラック型シアン酸エステル化合物、下記式(H)で表されるビフェニルアラルキル型シアン酸エステル化合物、1,3-ジシアナトベンゼン、1,4-ジシアナトベンゼン、1,3,5-トリシアナトベンゼン、ビス(3,5-ジメチル-4-シアナトフェニル)メタン、1,3-ジシアナトナフタレン、1,4-ジシアナトナフタレン、1,6-ジシアナトナフタレン、1,8-ジシアナトナフタレン、2,6-ジシアナトナフタレン、2,7-ジシアナトナフタレン、1,3,6-トリシアナトナフタレン、4,4’-ジシアナトビフェニル、ビス(4-シアナトフェニル)メタン、ビス(4-シアナトフェニル)プロパン、ビス(4-シアナトフェニル)エーテル、ビス(4-シアナトフェニル)チオエーテル、ビス(4-シアナトフェニル)スルホン、2,2’-ビス(4-シアナトフェニル)プロパン、及びビス(3,5-ジメチル-4-シアナトフェニル)メタンが挙げられる。これらのシアン酸エステル化合物は、1種を単独で又は2種以上を組み合わせて用いられる。 Examples of cyanate ester compounds include α-naphthol aralkyl cyanate ester compounds represented by the following formula (F), novolac cyanate ester compounds represented by the following formula (G), biphenyl aralkyl cyanate ester compounds represented by the following formula (H), 1,3-dicyanatobenzene, 1,4-dicyanatobenzene, 1,3,5-tricyanatobenzene, bis(3,5-dimethyl-4-cyanatophenyl)methane, 1,3-dicyanatonaphthalene, 1,4-dicyanatonaphthalene, and 1,6-dicyanatonaphthalene. , 1,8-dicyanatonaphthalene, 2,6-dicyanatonaphthalene, 2,7-dicyanatonaphthalene, 1,3,6-tricyanatonaphthalene, 4,4'-dicyanatobiphenyl, bis(4-cyanatophenyl)methane, bis(4-cyanatophenyl)propane, bis(4-cyanatophenyl)ether, bis(4-cyanatophenyl)thioether, bis(4-cyanatophenyl)sulfone, 2,2'-bis(4-cyanatophenyl)propane, and bis(3,5-dimethyl-4-cyanatophenyl)methane. These cyanate ester compounds may be used alone or in combination of two or more.
これらの中でも、式(F)で表されるα-ナフトールアラルキル型シアン酸エステル化合物、式(G)で表されるノボラック型シアン酸エステル化合物、及び式(H)で表されるビフェニルアラルキル型シアン酸エステル化合物が、難燃性に優れ、硬化性が高く、かつ硬化物の熱膨張係数が低いことから好ましい。 Of these, α-naphthol aralkyl cyanate ester compounds represented by formula (F), novolac cyanate ester compounds represented by formula (G), and biphenyl aralkyl cyanate ester compounds represented by formula (H) are preferred because they have excellent flame retardancy, high curability, and a low thermal expansion coefficient of the cured product.
ここで、式(F)中、R1は水素原子又はメチル基を示し、n1は1以上の整数を示す。n1は1~50の整数であることが好ましい。
In formula (F), R1 represents a hydrogen atom or a methyl group, and n1 represents an integer of 1 or more. n1 is preferably an integer of 1 to 50.
式(G)中、R2は水素原子又はメチル基を示し、n2は1以上の整数を示す。n2は1~50の整数であることが好ましい。 In formula (G), R2 represents a hydrogen atom or a methyl group, and n2 represents an integer of 1 or greater. n2 is preferably an integer of 1 to 50.
式(H)中、R3は水素原子又はメチル基を示し、n3は1以上の整数を示す。n3は1~50の整数であることが好ましい。 In formula (H), R3 represents a hydrogen atom or a methyl group, and n3 represents an integer of 1 or more. n3 is preferably an integer of 1 to 50.
本実施形態において、第1の樹脂層がシアン酸エステル化合物を含む場合、その含有量は、特に限定されないが、耐熱性及び銅箔との密着性を向上させる点から、第1の樹脂層中の樹脂固形分100質量部に対して、1質量部以上60質量部以下が好ましく、1質量部以上30質量部以下がより好ましい。 In this embodiment, when the first resin layer contains a cyanate ester compound, its content is not particularly limited, but from the viewpoint of improving heat resistance and adhesion to the copper foil, it is preferably 1 part by mass or more and 60 parts by mass or less, and more preferably 1 part by mass or more and 30 parts by mass or less, per 100 parts by mass of the resin solid content in the first resin layer.
-マレイミド化合物-
マレイミド化合物は、絶縁性樹脂層の吸湿耐熱性を向上させることが可能であるため、本実施形態における樹脂層の成分として好適に用いられる。マレイミド化合物としては、1分子中に2個以上のマレイミド基を有するものであれば特に限定されず、従来公知の任意のマレイミド化合物が用いられる。
-Maleimide compound-
The maleimide compound can improve the moisture absorption and heat resistance of the insulating resin layer, and is therefore preferably used as a component of the resin layer in this embodiment. The maleimide compound is not particularly limited as long as it has two or more maleimide groups in one molecule, and any conventionally known maleimide compound can be used.
マレイミド化合物としては、例えば、ビス(4-マレイミドフェニル)メタン、2,2-ビス{4-(4-マレイミドフェノキシ)-フェニル}プロパン、ビス(3,5-ジメチル-4-マレイミドフェニル)メタン、ビス(3-エチル-5-メチル-4-マレイミドフェニル)メタン、及びビス(3,5-ジエチル-4-マレイミドフェニル)メタン等のビスマレイミド化合物;並びにポリフェニルメタンマレイミドが挙げられる。なお、樹脂組成物の溶液には、これらマレイミド化合物のプレポリマー、又はマレイミド化合物とアミン化合物とのプレポリマー等の形で配合することもできる。これらのマレイミド化合物は、1種を単独で又は2種以上を組み合わせて用いられる。 Examples of maleimide compounds include bismaleimide compounds such as bis(4-maleimidophenyl)methane, 2,2-bis{4-(4-maleimidophenoxy)-phenyl}propane, bis(3,5-dimethyl-4-maleimidophenyl)methane, bis(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidophenyl)methane, and bis(3,5-diethyl-4-maleimidophenyl)methane; as well as polyphenylmethane maleimide. The resin composition solution can also be blended in the form of a prepolymer of these maleimide compounds, or a prepolymer of a maleimide compound and an amine compound. These maleimide compounds can be used alone or in combination of two or more.
これらの中でも、耐熱性を向上させる点から、ビスマレイミド化合物が好ましく、ビス(3-エチル-5-メチル-4-マレイミドフェニル)メタンがより好ましい。 Of these, bismaleimide compounds are preferred in terms of improving heat resistance, and bis(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidophenyl)methane is more preferred.
本実施形態において、第1の樹脂層がマレイミド化合物を含む場合、その含有量は、特に限定されないが、耐熱性と銅箔との密着性を向上させる点から、第1の樹脂層中の樹脂固形分100質量部に対して、5質量部以上75質量部以下が好ましく、5質量部以上45質量部以下がより好ましい。 In this embodiment, when the first resin layer contains a maleimide compound, its content is not particularly limited, but from the viewpoint of improving heat resistance and adhesion to copper foil, it is preferably 5 parts by mass or more and 75 parts by mass or less, and more preferably 5 parts by mass or more and 45 parts by mass or less, per 100 parts by mass of the resin solids in the first resin layer.
-フェノール樹脂-
フェノール樹脂としては、1分子内にフェノール性水酸基を2個以上有する樹脂であれば特に限定されず、従来公知の任意のフェノール樹脂が用いられる。フェノール樹脂としては、例えば、フェノールノボラック樹脂、アルキルフェノールボラック樹脂、ビスフェノールAノボラック樹脂、ジシクロペンタジエン型フェノール樹脂、キシロック(Xylok)型フェノール樹脂、テルペン変性フェノール樹脂、ポリビニルフェノール類、アラルキル型フェノール樹脂、及びビフェニルアラルキル型フェノール樹脂のような1分子内に芳香族性の環に結合する水素原子が水酸基で2個以上置換された化合物が挙げられる。これらのフェノール樹脂は、1種を単独で又は2種以上を組み合わせて用いられる。
-Phenol resin-
The phenolic resin is not particularly limited as long as it has two or more phenolic hydroxyl groups in one molecule, and any conventionally known phenolic resin can be used. Examples of phenolic resins include phenol novolac resins, alkylphenol volac resins, bisphenol A novolac resins, dicyclopentadiene-type phenolic resins, Xylok-type phenolic resins, terpene-modified phenolic resins, polyvinylphenols, aralkyl-type phenolic resins, and biphenylaralkyl-type phenolic resins, which are compounds in which two or more hydrogen atoms bonded to an aromatic ring in one molecule are substituted with hydroxyl groups. These phenolic resins can be used alone or in combination of two or more.
-熱硬化変性ポリフェニレンエーテル樹脂-
熱硬化変性ポリフェニレンエーテル樹脂は、熱可塑性ポリフェニレンエーテル樹脂とエポキシ樹脂とを配合してトルエン等の溶媒に溶解し、触媒として2-エチル-4-メチルイミダゾールを加えて架橋させた樹脂である。熱硬化変性ポリフェニレンエーテル樹脂は、1種を単独で又は2種以上を適宜混合して使用することができる。
-Thermosetting modified polyphenylene ether resin-
The thermosetting modified polyphenylene ether resin is a resin obtained by blending a thermoplastic polyphenylene ether resin and an epoxy resin, dissolving the blend in a solvent such as toluene, and adding 2-ethyl-4-methylimidazole as a catalyst to crosslink the blend. The thermosetting modified polyphenylene ether resin can be used alone or in a suitable mixture of two or more types.
-ベンゾオキサジン化合物-
ベンゾオキサジン化合物としては、基本骨格としてオキサジン環を有していれば、特に限定されない。また、本実施形態において、ベンゾオキサジン化合物には、ナフトオキサジン化合物等の多環オキサジン骨格を有する化合物も含まれる。ベンゾオキサジン化合物は、1種を単独で又は2種以上を適宜混合して使用することができる。
-Benzoxazine compounds-
The benzoxazine compound is not particularly limited as long as it has an oxazine ring as a basic skeleton. In the present embodiment, the benzoxazine compound also includes compounds having a polycyclic oxazine skeleton, such as naphthoxazine compounds. The benzoxazine compounds can be used alone or in appropriate mixtures of two or more.
-有機基変性シリコーン化合物-
有機基変性シリコーン化合物としては、特に限定されず、具体例としては、ジ(メチルアミノ)ポリジメチルシロキサン、ジ(エチルアミノ)ポリジメチルシロキサン、ジ(プロピルアミノ)ポリジメチルシロキサン、ジ(エポキシプロピル)ポリジメチルシロキサン、ジ(エポキシブチル)ポリジメチルシロキサンが挙げられる。これらの有機基変性シリコーン化合物は、1種又は2種以上を適宜混合して使用することができる。
-Organic group modified silicone compound-
The organic group-modified silicone compound is not particularly limited, and specific examples include di(methylamino)polydimethylsiloxane, di(ethylamino)polydimethylsiloxane, di(propylamino)polydimethylsiloxane, di(epoxypropyl)polydimethylsiloxane, and di(epoxybutyl)polydimethylsiloxane. These organic group-modified silicone compounds can be used alone or in appropriate mixtures of two or more.
-重合可能な不飽和基を有する化合物-
重合可能な不飽和基を有する化合物としては、上記以外のものであれば特に限定されず、エチレン、プロピレン、スチレン、ジビニルベンゼン、ジビニルビフェニル等のビニル化合物;メチル(メタ)アクリレート、2-ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2-ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、ポリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパンジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート等の1価又は多価アルコールの(メタ)アクリレート類;ビスフェノールA型エポキシ(メタ)アクリレート、ビスフェノールF型エポキシ(メタ)アクリレート等のエポキシ(メタ)アクリレート類;ベンゾシクロブテン樹脂等が挙げられる。これらの重合可能な不飽和基を有する化合物は、1種又は2種以上を適宜混合して使用することができる。なお、「(メタ)アクリレート」は、メタクリレート及びアクリレートを包含する概念である。
- Compound having a polymerizable unsaturated group -
Compounds having a polymerizable unsaturated group are not particularly limited as long as they are not limited to those mentioned above, and include vinyl compounds such as ethylene, propylene, styrene, divinylbenzene, and divinylbiphenyl; (meth)acrylates of monohydric or polyhydric alcohols such as methyl(meth)acrylate, 2-hydroxyethyl(meth)acrylate, 2-hydroxypropyl(meth)acrylate, polypropylene glycol di(meth)acrylate, trimethylolpropane di(meth)acrylate, trimethylolpropane tri(meth)acrylate, pentaerythritol tetra(meth)acrylate, and dipentaerythritol hexa(meth)acrylate; epoxy (meth)acrylates such as bisphenol A epoxy (meth)acrylate and bisphenol F epoxy (meth)acrylate; and benzocyclobutene resins. These compounds having a polymerizable unsaturated group can be used alone or in combination. The term "(meth)acrylate" encompasses both methacrylate and acrylate.
〔第2の樹脂層〕
本実施形態において、第2の樹脂層は、上述のように、通常、プレス処理時に流動性を有する樹脂を含む層であって、その層自体もプレス処理時に流動性を有する。第2の樹脂層は、通常、樹脂層付き基材と共に積層体を形成する部材を、その第2の樹脂層の面と接触する面の側から埋め込む層である。上記の部材としては、例えば、基板上に設けられた回路パターンのような(導体層)が挙げられ、その導体層は基板と共に形成した凹凸形状のうちの凸部に相当し、第2の樹脂層に埋め込まれる。
[Second Resin Layer]
In this embodiment, as described above, the second resin layer is typically a layer containing a resin that has fluidity during press processing, and the layer itself also has fluidity during press processing. The second resin layer is typically a layer in which a component that forms a laminate together with the resin layer-attached substrate is embedded from the side that contacts the surface of the second resin layer. Examples of the component include a (conductor layer) such as a circuit pattern provided on a substrate, and the conductor layer corresponds to the convex portion of the uneven shape formed together with the substrate and is embedded in the second resin layer.
第2の樹脂層の最低溶融粘度は、導体層の埋め込み性を良好にする観点から、100,000Pa・s以下であることが好ましく、10Pa・s以上80,000Pa・s以下であることがより好ましく、30Pa・s以上60,000Pa・s以下であることが更に好ましい。また、同様の観点から、第2の樹脂層の最低溶融粘度は、第1の樹脂層の最低溶融粘度よりも小さいことが好ましく、第1の樹脂層の最低溶融粘度よりも10,000Pa・s以上小さいことがより好ましく、20,000Pa・s以上小さいことが更に好ましく、40,000Pa・s以上小さいことが特に好ましい。なお、第2の樹脂層の最低溶融粘度は、50,000,000Pa・s未満小さくてもよく、49,950,000Pa・s以下小さくてもよく、49,900,000Pa・s以下小さくてもよい。第2の樹脂層の最低溶融粘度は、そこに含まれる熱硬化性樹脂の種類を適宜選択したり、樹脂の硬化度を制御したり、無機充填材を添加したりすることで所望の数値内に調整することができる。From the viewpoint of improving the embeddability of the conductor layer, the minimum melt viscosity of the second resin layer is preferably 100,000 Pa·s or less, more preferably 10 to 80,000 Pa·s, and even more preferably 30 to 60,000 Pa·s. From the same viewpoint, the minimum melt viscosity of the second resin layer is preferably lower than the minimum melt viscosity of the first resin layer, more preferably 10,000 Pa·s or more lower, even more preferably 20,000 Pa·s or more lower, and particularly preferably 40,000 Pa·s or more lower. The minimum melt viscosity of the second resin layer may be less than 50,000,000 Pa·s, 49,950,000 Pa·s or less, or 49,900,000 Pa·s or less. The minimum melt viscosity of the second resin layer can be adjusted to a desired value by appropriately selecting the type of thermosetting resin contained therein, controlling the degree of hardening of the resin, or adding an inorganic filler.
第2の樹脂層の厚さは、特に限定されるものではないが、導体層の埋め込み性をより良好にする観点及び絶縁性をより高める観点から、1.0μm以上であることが好ましく、2.0μm以上であることがより好ましく、3.0μm以上であることが更に好ましい。一方で、基板をより薄膜化する観点から、第2の樹脂層の厚さは25μm以下であることが好ましく、20μm以下であることがより好ましく、15μm以下であることが更に好ましく、10μm以下であることがなおも更に好ましく、9.0μm以下であることが特に好ましい。導体層の埋め込み性及び絶縁性をより高める観点に加えて、基板をより薄膜化する観点をも考慮すると、第2の樹脂層の厚さは、2.0μm以上20μm以下がより好ましく、3.0μm以上20μm以下が更に好ましく、4.0μm以上15μm以下がなおも更に好ましく、5.0μm以上10μm以下が特に好ましく、5.0μm以上9.0μm以下が極めて好ましい。The thickness of the second resin layer is not particularly limited, but from the viewpoint of improving the embeddability of the conductor layer and further enhancing the insulating properties, it is preferably 1.0 μm or more, more preferably 2.0 μm or more, and even more preferably 3.0 μm or more. On the other hand, from the viewpoint of further thinning the substrate, the thickness of the second resin layer is preferably 25 μm or less, more preferably 20 μm or less, even more preferably 15 μm or less, even more preferably 10 μm or less, and particularly preferably 9.0 μm or less. Considering the viewpoint of further thinning the substrate in addition to the viewpoint of further improving the embeddability and insulating properties of the conductor layer, the thickness of the second resin layer is more preferably 2.0 μm to 20 μm, even more preferably 3.0 μm to 20 μm, even more preferably 4.0 μm to 15 μm, particularly preferably 5.0 μm to 10 μm, and extremely preferably 5.0 μm to 9.0 μm.
第1の樹脂層と第2の樹脂層との合計の厚さは、基板をより薄膜化する観点から、30μm以下が好ましく、15μm以下がより好ましく、20μm以下が更に好ましく、15μm以下がなおもより好ましく、14μm以下がなおも更に好ましく、12μm未満が特に好ましく、10μm以下が極めて好ましい。基板をそのようにより薄膜化しても本発明による作用効果をより有効かつ確実に奏する観点から、その合計の厚さは、3.0μm以上が好ましく、5.0μm以上がより好ましく、6.0μm以上が更に好ましい。上記の観点から、その合計の厚さは、3.0μm以上30μm以下がより好ましく、3.0μm以上20μm以下が更に好ましく、5.0μm以上20μm以下がなおもより好ましく、5.0μm以上15μm以下がなおも更に好ましく、5.0μm以上14μm以下が特に好ましく、5.0μm以上12μm未満がなおも特に好ましく、5.0μm以上10μm以下が極めて好ましい。 From the viewpoint of making the substrate thinner, the total thickness of the first resin layer and the second resin layer is preferably 30 μm or less, more preferably 15 μm or less, even more preferably 20 μm or less, even more preferably 15 μm or less, even more preferably 14 μm or less, particularly preferably less than 12 μm, and extremely preferably 10 μm or less. From the viewpoint of more effectively and reliably achieving the effects of the present invention even with such a thinner substrate, the total thickness is preferably 3.0 μm or more, more preferably 5.0 μm or more, and even more preferably 6.0 μm or more. From the above viewpoints, the total thickness is more preferably 3.0 μm or more and 30 μm or less, even more preferably 3.0 μm or more and 20 μm or less, even more preferably 5.0 μm or more and 20 μm or less, even more preferably 5.0 μm or more and 15 μm or less, particularly preferably 5.0 μm or more and 14 μm or less, even more particularly preferably 5.0 μm or more and less than 12 μm, and extremely preferably 5.0 μm or more and 10 μm or less.
本実施形態における第2の樹脂層は、好ましくは熱硬化性樹脂を含む樹脂組成物の溶液であるワニスを用いて、塗布等の公知の手段により形成することができる。熱硬化性樹脂としては、特に限定なく、好ましい物性に応じて所望の熱硬化性樹脂を用いることができる。また、樹脂組成物は、必要に応じて、後述する無機充填材や他の添加剤を含んでいてもよい。 The second resin layer in this embodiment can be formed by known means such as coating using a varnish, which is preferably a solution of a resin composition containing a thermosetting resin. There are no particular limitations on the thermosetting resin, and any desired thermosetting resin can be used depending on the desired physical properties. Furthermore, the resin composition may contain inorganic fillers and other additives, as described below, as needed.
(熱硬化性樹脂)
上述のように第2の樹脂層に用いられる熱硬化性樹脂は特に限定されるものではないが、例えば、エポキシ樹脂、シアン酸エステル化合物、マレイミド化合物、フェノール樹脂、熱硬化変性ポリフェニレンエーテル樹脂、ベンゾオキサジン化合物、有機基変性シリコーン化合物及び重合可能な不飽和基を有する化合物が挙げられる。これらの熱硬化性樹脂としては、第1の樹脂層で用いられるものとして上述で例示したものと同様のものを用いることができる。これらの熱硬化性樹脂は、1種を単独で又は2種以上を組み合わせて用いられる。
(thermosetting resin)
As described above, the thermosetting resin used in the second resin layer is not particularly limited, but examples thereof include epoxy resins, cyanate ester compounds, maleimide compounds, phenolic resins, thermosetting modified polyphenylene ether resins, benzoxazine compounds, organic group-modified silicone compounds, and compounds having a polymerizable unsaturated group. These thermosetting resins may be the same as those exemplified above for use in the first resin layer. These thermosetting resins may be used alone or in combination of two or more.
これらの熱硬化性樹脂の中でも、さらに優れたピール強度を有する絶縁性樹脂層が得られる点から、第2の樹脂層がエポキシ樹脂及びフェノール樹脂のうちの少なくとも1種を含むことが好ましく、エポキシ樹脂及びフェノール樹脂の両方を含むことがより好ましい。また、同様の観点から、第2の樹脂層が、ビスマレイミド化合物を更に含むことがより好ましい。Among these thermosetting resins, the second resin layer preferably contains at least one of an epoxy resin and a phenolic resin, and more preferably contains both an epoxy resin and a phenolic resin, in order to obtain an insulating resin layer with even better peel strength. From the same perspective, it is also more preferable for the second resin layer to further contain a bismaleimide compound.
本実施形態において、第2の樹脂層がエポキシ樹脂を含む場合、その含有量は、特に限定されないが、耐熱性及び硬化性を向上させる点から、第2の樹脂層中の樹脂固形分100質量部に対して、10質量部以上80質量部以下が好ましく、30質量部以上70質量部以下がより好ましい。 In this embodiment, if the second resin layer contains an epoxy resin, its content is not particularly limited, but from the standpoint of improving heat resistance and curing properties, it is preferably 10 parts by mass or more and 80 parts by mass or less, and more preferably 30 parts by mass or more and 70 parts by mass or less, per 100 parts by mass of resin solids in the second resin layer.
本実施形態において、第2の樹脂層がシアン酸エステル化合物を含む場合、その含有量は、特に限定されないが、耐熱性及び銅箔との密着性を向上させる点から、第2の樹脂層中の樹脂固形分100質量部に対して、15質量部以上85質量部以下が好ましく、25質量部以上65質量部以下がより好ましい。 In this embodiment, when the second resin layer contains a cyanate ester compound, its content is not particularly limited, but from the viewpoint of improving heat resistance and adhesion to the copper foil, it is preferably 15 parts by mass or more and 85 parts by mass or less, and more preferably 25 parts by mass or more and 65 parts by mass or less, per 100 parts by mass of the resin solid content in the second resin layer.
本実施形態において、第2の樹脂層がマレイミド化合物を含む場合、その含有量は、特に限定されないが、耐熱性及び銅箔との密着性を向上させる点から、第2の樹脂層中の樹脂固形分100質量部に対して、5質量部以上75質量部以下が好ましく、5質量部以上45質量部以下がより好ましい。 In this embodiment, when the second resin layer contains a maleimide compound, its content is not particularly limited, but from the viewpoint of improving heat resistance and adhesion to copper foil, it is preferably 5 parts by mass or more and 75 parts by mass or less, and more preferably 5 parts by mass or more and 45 parts by mass or less, per 100 parts by mass of the resin solid content in the second resin layer.
[その他の成分]
本実施形態における第1及び第2の樹脂層は、各々必要に応じて、充填材など他の成分を含むことができる。
[Other ingredients]
The first and second resin layers in this embodiment may each contain other components such as a filler, if necessary.
-充填材-
充填材としては、低熱膨張率、成形性、充填性及び剛性の点から、球状フィラーが好ましい。球状フィラーは、プリント配線板の絶縁層に用いられる球状のフィラーであれば特に限定されない。
-Filling material-
As the filler, a spherical filler is preferred from the viewpoints of low thermal expansion coefficient, moldability, packing property, and rigidity. The spherical filler is not particularly limited as long as it is a spherical filler used in the insulating layer of a printed wiring board.
球状フィラーとしては、例えば、水酸化マグネシウム、酸化マグネシウム、天然シリカ、溶融シリカ、アモルファスシリカ、及び中空シリカ等のシリカ類;二硫化モリブデン、酸化モリブデン、及びモリブデン酸亜鉛等のモリブデン化合物;アルミナ;窒化アルミニウム;ガラス;酸化チタン;並びに酸化ジルコニウムが挙げられる。これらの球状フィラーは、1種を単独で又は2種以上を組み合わせて用いられる。 Spherical fillers include, for example, silicas such as magnesium hydroxide, magnesium oxide, natural silica, fused silica, amorphous silica, and hollow silica; molybdenum compounds such as molybdenum disulfide, molybdenum oxide, and zinc molybdate; alumina; aluminum nitride; glass; titanium oxide; and zirconium oxide. These spherical fillers may be used alone or in combination of two or more.
球状フィラーとしては、低熱膨張性の点から、球状溶融シリカのような球状シリカが好ましい。市販されている球状溶融シリカとしては、例えば、(株)アドマテックス製のSC2050-MB、SC2500-SQ、SC4500-SQ、SO-C2、及びSO-C1(いずれも商品名)、並びに電気化学工業(株)製のSFP-130MC(商品名)が挙げられる。As a spherical filler, spherical silica such as spherical fused silica is preferred due to its low thermal expansion. Commercially available spherical fused silica includes SC2050-MB, SC2500-SQ, SC4500-SQ, SO-C2, and SO-C1 (all trade names) manufactured by Admatechs Co., Ltd., and SFP-130MC (trade name) manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., Ltd.
球状シリカのような球状フィラーの平均粒径は、特に限定されないが、0.01μm以上5μm以下が好ましく、0.05μm以上3μm以下がより好ましく、0.1μm以上2μm以下が更に好ましく、0.3μm以上1.5μm以下が特に好ましい。球状シリカの平均粒径は、ミー(Mie)散乱理論に基づくレーザー回折・散乱法により測定することができる。具体的には、レーザー回折散乱式粒度分布測定装置により、球状シリカの粒度分布を体積基準で作成し、そのメジアン径を平均粒径とすることで測定することができる。測定サンプルは、球状シリカを超音波により水中に分散させたものを好ましく用いることができる。レーザー回折散乱式粒度分布測定装置としては、例えば株式会社堀場製作所製「LA-500」(商品名)を使用することができる。The average particle size of spherical fillers such as spherical silica is not particularly limited, but is preferably 0.01 μm to 5 μm, more preferably 0.05 μm to 3 μm, even more preferably 0.1 μm to 2 μm, and particularly preferably 0.3 μm to 1.5 μm. The average particle size of spherical silica can be measured using a laser diffraction/scattering method based on Mie scattering theory. Specifically, a particle size distribution of spherical silica is created on a volume basis using a laser diffraction/scattering particle size distribution analyzer, and the median diameter is used as the average particle size. A preferred measurement sample is spherical silica dispersed in water using ultrasonic waves. An example of a laser diffraction/scattering particle size distribution analyzer that can be used is the "LA-500" (product name) manufactured by Horiba, Ltd.
本実施形態において、球状フィラーの含有量は、特に限定されないが、成形性を向上させる点から、各樹脂層中の樹脂固形分100質量部に対して、50質量部以上500質量部以下が好ましく、100質量部以上400質量部以下がより好ましい。 In this embodiment, the content of spherical filler is not particularly limited, but in order to improve moldability, it is preferably 50 parts by mass or more and 500 parts by mass or less, and more preferably 100 parts by mass or more and 400 parts by mass or less, per 100 parts by mass of resin solids in each resin layer.
また、本実施形態の球状フィラーは、シランカップリング剤等で表面処理されていてもよい。シランカップリング剤としては、後述のシランカップリング剤を用いることができる。 The spherical filler of this embodiment may also be surface-treated with a silane coupling agent or the like. The silane coupling agent may be the silane coupling agent described below.
-その他の成分-
本実施形態における各樹脂層は、その他の成分として、例えば、本実施形態に係る絶縁性樹脂層の吸湿耐熱性を向上させる目的で、シランカップリング剤を含有してもよい。シランカップリング剤としては、一般に無機物の表面処理に用いられるシランカップリング剤であれば、特に限定されない。シランカップリング剤の具体例としては、例えば、γ-アミノプロピルトリエトキシシラン、及びN-β-(アミノエチル)-γ-アミノプロピルトリメトキシシランのようなアミノシラン系シランカップリング剤、例えば、γ-グリシドキシプロピルトリメトキシシランのようなエポキシシラン系シランカップリング剤、例えば、γ-メタアクリロキシプロピルトリメトキシシランのようなビニルシラン系シランカップリング剤、例えば、N-β-(N-ビニルベンジルアミノエチル)-γ-アミノプロピルトリメトキシシラン塩酸塩のようなカチオン性シラン系シランカップリング剤、並びにフェニルシラン系シランカップリング剤が挙げられる。これらのシランカップリング剤は、1種を単独で又は2種以上を組み合わせて用いられる。
-Other ingredients-
Each resin layer in this embodiment may contain, as an additional component, a silane coupling agent, for example, for the purpose of improving the moisture absorption and heat resistance of the insulating resin layer according to this embodiment. The silane coupling agent is not particularly limited, as long as it is a silane coupling agent generally used in the surface treatment of inorganic materials. Specific examples of silane coupling agents include aminosilane-based silane coupling agents such as γ-aminopropyltriethoxysilane and N-β-(aminoethyl)-γ-aminopropyltrimethoxysilane, epoxysilane-based silane coupling agents such as γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, vinylsilane-based silane coupling agents such as γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane, cationic silane-based silane coupling agents such as N-β-(N-vinylbenzylaminoethyl)-γ-aminopropyltrimethoxysilane hydrochloride, and phenylsilane-based silane coupling agents. These silane coupling agents may be used alone or in combination of two or more.
本実施形態において、各樹脂層におけるシランカップリング剤の含有量は、特に限定されないが、吸湿耐熱性を向上させる点から、球状フィラー100質量部に対して、0.05質量部以上5質量部以下が好ましく、0.1質量部以上3質量部以下がより好ましい。なお、2種以上のシランカップリング剤を併用する場合には、これらの合計量が上記範囲内であることが好ましい。In this embodiment, the content of the silane coupling agent in each resin layer is not particularly limited, but from the viewpoint of improving moisture absorption and heat resistance, it is preferably 0.05 parts by mass or more and 5 parts by mass or less, and more preferably 0.1 parts by mass or more and 3 parts by mass or less, per 100 parts by mass of spherical filler. When two or more types of silane coupling agents are used in combination, it is preferable that the total amount of these be within the above range.
本実施形態における各樹脂層は、本実施形態における樹脂層の製造性を向上させる等の目的として、湿潤分散剤を含有してもよい。湿潤分散剤としては、一般に塗料等に使用される湿潤分散剤であれば、特に限定されない。湿潤分散剤の具体例としては、ビックケミー・ジャパン(株)製のDisperbyk(登録商標)-110、同-111、同-180、同-161、BYK(登録商標)-W996、同-W9010、及び同-W903が挙げられる。これらの湿潤分散剤は、1種を単独で又は2種以上を組み合わせて用いられる。 Each resin layer in this embodiment may contain a wetting and dispersing agent for purposes such as improving the manufacturability of the resin layer in this embodiment. The wetting and dispersing agent is not particularly limited, as long as it is a wetting and dispersing agent generally used in paints, etc. Specific examples of wetting and dispersing agents include Disperbyk (registered trademark)-110, -111, -180, -161, BYK (registered trademark)-W996, -W9010, and -W903, all manufactured by BYK Japan K.K. These wetting and dispersing agents may be used alone or in combination of two or more.
本実施形態において、各樹脂層における湿潤分散剤の含有量は、特に限定されないが、本実施形態における樹脂層の製造性を向上させる点から、球状フィラー100質量部に対して、0.1質量部以上5質量部以下が好ましく、0.5質量部以上3質量部以下がより好ましい。なお、2種以上の湿潤分散剤を併用する場合には、これらの合計量が上記範囲内であることが好ましい。In this embodiment, the content of the wetting and dispersing agent in each resin layer is not particularly limited. However, in order to improve the manufacturability of the resin layer in this embodiment, the content is preferably 0.1 parts by mass or more and 5 parts by mass or less, and more preferably 0.5 parts by mass or more and 3 parts by mass or less, per 100 parts by mass of the spherical filler. When two or more types of wetting and dispersing agents are used in combination, it is preferable that the total amount of these be within the above range.
本実施形態における各樹脂層は、硬化速度の調整等の目的から、硬化促進剤を含有してもよい。硬化促進剤としては、特に限定されず、例えば、エポキシ樹脂又はシアン酸エステル化合物の硬化促進に用いられる硬化促進剤の一般に使用されるものであってもよい。硬化促進剤の具体例としては、例えば、オクチル酸亜鉛、ナフテン酸コバルト、オクチル酸ニッケル、及びオクチル酸マンガンのような、銅、亜鉛、コバルト、ニッケル、及びマンガンのような金属を含む有機金属塩類、例えば、2-エチル-4-メチルイミダゾール、1-ベンジル-2-フェニルイミダゾール、及び2,4,5-トリフェニルイミダゾールのようなイミダゾール類及びその誘導体、並びに、例えば、トリエチルアミン及びトリブチルアミンのような3級アミンが挙げられる。これらの硬化促進剤は、1種を単独で又は2種以上を組み合わせて用いられる。 Each resin layer in this embodiment may contain a curing accelerator for purposes such as adjusting the curing rate. The curing accelerator is not particularly limited and may be, for example, a commonly used curing accelerator used to accelerate the curing of epoxy resins or cyanate ester compounds. Specific examples of curing accelerators include organometallic salts containing metals such as copper, zinc, cobalt, nickel, and manganese, such as zinc octylate, cobalt naphthenate, nickel octylate, and manganese octylate; imidazoles and their derivatives, such as 2-ethyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, and 2,4,5-triphenylimidazole; and tertiary amines, such as triethylamine and tributylamine. These curing accelerators may be used alone or in combination.
本実施形態において、各樹脂層における硬化促進剤の含有量は、特に限定されないが、より高いガラス転移温度を得る点から、各樹脂層中の樹脂固形分100質量部に対して、0.001質量部以上5質量部以下が好ましく、0.01質量部以上3質量部以下がより好ましい。なお、2種以上の硬化促進剤を併用する場合には、これらの合計量が上記範囲内であることが好ましい。In this embodiment, the content of the curing accelerator in each resin layer is not particularly limited. However, in order to obtain a higher glass transition temperature, the content is preferably 0.001 to 5 parts by mass, and more preferably 0.01 to 3 parts by mass, per 100 parts by mass of the resin solids in each resin layer. When two or more types of curing accelerators are used in combination, it is preferable that the total amount of these accelerators be within the above range.
本実施形態における樹脂層は、その他の種々の高分子化合物及び/又は難燃性化合物等を含有してもよい。高分子化合物及び難燃性化合物としては、一般に用いられるものであれば、特に限定されない。 The resin layer in this embodiment may contain various other polymer compounds and/or flame-retardant compounds. There are no particular limitations on the polymer compounds and flame-retardant compounds, as long as they are commonly used.
高分子化合物としては、上述の熱硬化性樹脂以外であって、各種の熱可塑性樹脂並びにそのオリゴマー、エラストマー類等が挙げられる。高分子化合物として、具体的には、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリスチレン、ポリオレフィン、スチレンブタジエンゴム(SBR)、イソプレンゴム(IR)、ブタジエンゴム(BR)、アクリロニトリルブタジエンゴム(NBR)、ポリウレタン、ポリプロピレン、(メタ)アクリルオリゴマー、(メタ)アクリルポリマー及びシリコーン樹脂が挙げられる。相溶性の点から、高分子化合物として、アクリロニトリルブタジエンゴム及びスチレンブタジエンゴムが好ましい。 Polymer compounds include, other than the thermosetting resins mentioned above, various thermoplastic resins, as well as their oligomers and elastomers. Specific examples of polymer compounds include polyimide, polyamide-imide, polystyrene, polyolefin, styrene-butadiene rubber (SBR), isoprene rubber (IR), butadiene rubber (BR), acrylonitrile-butadiene rubber (NBR), polyurethane, polypropylene, (meth)acrylic oligomer, (meth)acrylic polymer, and silicone resin. From the standpoint of compatibility, acrylonitrile-butadiene rubber and styrene-butadiene rubber are preferred.
難燃性化合物としては、上述の充填材以外の難燃性化合物であればよく、例えば、リン含有化合物(例えば、リン酸エステル、リン酸メラミン、及びリン含有エポキシ樹脂)、窒素含有化合物(例えば、メラミン、及びベンゾグアナミン)、オキサジン環含有化合物、並びにシリコーン系化合物が挙げられる。これらの高分子化合物及び難燃性化合物は、1種を単独で又は2種以上を組み合わせて用いられる。 The flame-retardant compound may be any flame-retardant compound other than the fillers described above, such as phosphorus-containing compounds (e.g., phosphate esters, melamine phosphate, and phosphorus-containing epoxy resins), nitrogen-containing compounds (e.g., melamine and benzoguanamine), oxazine ring-containing compounds, and silicone-based compounds. These polymer compounds and flame-retardant compounds may be used alone or in combination of two or more.
本実施形態における樹脂層には、種々の目的により、その他、各種の添加剤を含有してもよい。添加剤の具体例としては、紫外線吸収剤、酸化防止剤、光重合開始剤、蛍光増白剤、光増感剤、染料、顔料、増粘剤、滑剤、消泡剤、分散剤、レベリング剤及び光沢剤が挙げられる。これらの添加剤は、1種を単独で又は2種以上を組み合わせて用いられる。The resin layer in this embodiment may also contain various additives for various purposes. Specific examples of additives include ultraviolet absorbers, antioxidants, photopolymerization initiators, fluorescent brighteners, photosensitizers, dyes, pigments, thickeners, lubricants, antifoaming agents, dispersants, leveling agents, and gloss agents. These additives may be used alone or in combination of two or more.
(樹脂組成物)
本実施形態における第1及び第2の樹脂層は、各々樹脂組成物を用いて形成することができる。各樹脂組成物は、上記熱硬化性樹脂に加え、必要に応じて、充填材などのその他の成分を混合することにより調製される。また、樹脂組成物は、必要に応じて、これらの成分を有機溶剤に溶解させた溶液の形態としてもよい。このような樹脂組成物の溶液は、後述する本実施形態の絶縁性樹脂層付き基材を作製する際のワニスとして、好適に用いることができる。有機溶剤としては、各成分を各々好適に溶解又は分散させることができ、且つ、本実施形態における樹脂層の効果を奏する限り、特に限定されない。有機溶剤の具体例としては、アルコール類(例えば、メタノール、エタノール及びプロパノール)、ケトン類(例えば、アセトン、メチルエチルケトン及びメチルイソブチルケトン)、アミド類(例えば、ジメチルアセトアミド及びジメチルホルムアミド)、芳香族炭化水素類(例えば、トルエン及びキシレン)が挙げられる。これらの有機溶剤は、1種を単独で又は2種以上を組み合わせて用いられる。
(Resin composition)
The first and second resin layers in this embodiment can each be formed using a resin composition. Each resin composition is prepared by mixing the above-mentioned thermosetting resin with other components, such as a filler, as needed. The resin composition may also be in the form of a solution in which these components are dissolved in an organic solvent, as needed. Such a resin composition solution can be suitably used as a varnish when preparing the substrate with an insulating resin layer of this embodiment, as described below. The organic solvent is not particularly limited as long as it can suitably dissolve or disperse each component and achieve the effects of the resin layer in this embodiment. Specific examples of organic solvents include alcohols (e.g., methanol, ethanol, and propanol), ketones (e.g., acetone, methyl ethyl ketone, and methyl isobutyl ketone), amides (e.g., dimethylacetamide and dimethylformamide), and aromatic hydrocarbons (e.g., toluene and xylene). These organic solvents can be used alone or in combination of two or more.
樹脂組成物の溶液中の有機溶剤の含有量は、それぞれの樹脂層の厚さを所望の範囲にするための溶液の粘度になるよう、適宜決めればよく、特に限定されない。その含有量は、例えば、樹脂組成物溶液100質量部に対して、20質量部以上1000質量部以下であってもよく、20質量部以上500質量部以下であってもよく、30質量部以上300質量部以下であってもよい。The content of organic solvent in the resin composition solution is not particularly limited and may be determined appropriately so as to achieve the viscosity of the solution that will achieve the desired thickness range for each resin layer. The content may be, for example, 20 to 1,000 parts by weight, 20 to 500 parts by weight, or 30 to 300 parts by weight, per 100 parts by weight of the resin composition solution.
本実施形態における各樹脂層表面の算術平均粗さ(Ra)は、2.0μm以下であることが好ましく、0.10μm以上1.0μm以下であることがより好ましく、0.15μm以上0.50μm以下であることが更に好ましい。その算術平均粗さ(Ra)が上述の範囲内にあることにより、銅箔等の基材と第1の樹脂層との密着強度、又は、樹脂層同士の密着強度が向上し、長期間の使用における層の剥離をより有効に防ぐことができる。樹脂層の表面は、目的に応じて各面が、各々、基材と接する面、及び、基材以外(例えば、他の樹脂層)と接する面となり得るが、いずれの面であっても、算術平均粗さ(Ra)が上述の範囲であることが好ましい。樹脂層表面の算術平均粗さは、市販の形状測定顕微鏡(レーザー顕微鏡、例えば、キーエンス株式会社製「VK-X210」(商品名))を用いて測定できる。In this embodiment, the arithmetic mean roughness (Ra) of each resin layer surface is preferably 2.0 μm or less, more preferably 0.10 μm to 1.0 μm, and even more preferably 0.15 μm to 0.50 μm. Having the arithmetic mean roughness (Ra) within the above-mentioned range improves the adhesion strength between the substrate (e.g., copper foil) and the first resin layer, or between the resin layers themselves, and more effectively prevents layer delamination during long-term use. Depending on the purpose, each surface of the resin layer may be in contact with the substrate or with something other than the substrate (e.g., another resin layer). However, it is preferable that the arithmetic mean roughness (Ra) of either surface be within the above-mentioned range. The arithmetic mean roughness of the resin layer surface can be measured using a commercially available shape measuring microscope (a laser microscope, for example, the "VK-X210" (product name) manufactured by Keyence Corporation).
(絶縁性樹脂層付き基材の製造方法)
本実施形態における絶縁性樹脂層付き基材の製造方法は、銅箔等の基材上に、上記の樹脂組成物からなる絶縁性樹脂層を積層する工程を有する方法であれば、特に限定されない。積層する工程では、例えば、まず、樹脂組成物を有機溶剤に溶解又は分散させた溶液(ワニス)を、基材の表面に塗布し、加熱及び/又は減圧下で乾燥し、有機溶剤を除去して樹脂組成物を固化させて、第1の樹脂層を形成する。上述のように、第1の樹脂層は半硬化状態のみならず完全に硬化した状態であってもよい。その後、第1の樹脂層上に、別の樹脂組成物を有機溶剤に溶解又は分散させた溶液(ワニス)を、基材の表面に塗布し、加熱及び/又は減圧下で乾燥し、有機溶媒を除去して樹脂組成物を固化させて、第2の樹脂層を形成する。この際、第2の樹脂層はB-stage(半硬化状態)とすることが好ましい。また、第2の樹脂層には、プラスチックフィルムなどの保護層を設けてもよい。当該保護層は、後述の積層体作製時に適宜除去される。乾燥条件は、特に限定されないが、各樹脂層に対する有機溶剤の含有比率が、各樹脂層100質量部に対して、通常10質量部以下、好ましくは5質量部以下となるような条件である。乾燥を達成する条件は、ワニス中の有機溶剤量によっても異なるが、例えば、ワニス100質量部に対して、30質量部以上60質量部以下の有機溶剤を含むワニスの場合、50℃以上160℃以下の加熱条件下で3~10分間程度乾燥させればよい。
(Method for producing substrate with insulating resin layer)
The method for producing a substrate with an insulating resin layer in this embodiment is not particularly limited as long as it includes a step of laminating an insulating resin layer made of the above-mentioned resin composition on a substrate such as copper foil. In the laminating step, for example, first, a solution (varnish) in which the resin composition is dissolved or dispersed in an organic solvent is applied to the surface of the substrate, and the solution is dried under heat and/or reduced pressure to remove the organic solvent and solidify the resin composition, thereby forming a first resin layer. As described above, the first resin layer may be in a semi-cured state or a fully cured state. Then, a solution (varnish) in which another resin composition is dissolved or dispersed in an organic solvent is applied to the surface of the substrate on the first resin layer, and the solution is dried under heat and/or reduced pressure to remove the organic solvent and solidify the resin composition, thereby forming a second resin layer. In this case, the second resin layer is preferably in a B-stage (semi-cured state). In addition, a protective layer such as a plastic film may be provided on the second resin layer. The protective layer is appropriately removed during the production of the laminate described below. The drying conditions are not particularly limited, but are such that the content of the organic solvent in each resin layer is typically 10 parts by mass or less, and preferably 5 parts by mass or less, per 100 parts by mass of each resin layer. The conditions for achieving drying vary depending on the amount of organic solvent in the varnish, but for example, in the case of a varnish containing 30 parts by mass or more and 60 parts by mass or less of organic solvent per 100 parts by mass of varnish, drying can be carried out for about 3 to 10 minutes under heating conditions of 50°C or more and 160°C or less.
基材上に樹脂組成物を塗布する方法についても特に限定されるものではないが、例えば、バーコーター塗布、エアナイフ塗布、グラビア塗布、リバースグラビア塗布、マイクログラビア塗布、マイクロリバースグラビアコーター塗布、ダイコーター塗布、ディップ塗布、スピンコート塗布、及びスプレー塗布のような公知の塗布法を用いることができる。 The method for applying the resin composition to the substrate is not particularly limited, but known application methods such as bar coater application, air knife application, gravure application, reverse gravure application, microgravure application, micro reverse gravure coater application, die coater application, dip application, spin coat application, and spray application can be used.
<本実施形態の積層体及びその製造方法>
本実施形態の絶縁性樹脂層付き基材を用いた積層体(以下、単に「積層体」と称することがある。)は、例えば、プリント配線板又は半導体素子搭載用基板に備えられるコアレス基板の作製に用いることができる。そのコアレス基板はビルドアップ材料用のコアレス基板であってもよい。本実施形態の積層体は、例えば、導体層と、本実施形態の絶縁性樹脂層付き基材を用いて形成された絶縁層とが積層されたものであり、ビルドアップ層を有してもよい。上記導体層及び絶縁層は、少なくとも一方が複数の層であり、積層体が、導体層と絶縁層を交互に積層したものであってもよい。ここで、例えば、本実施形態の絶縁性樹脂層付き基材を積層して絶縁層を形成する場合、導体層が形成された基板に、基材として銅箔を用いた本実施形態の絶縁性樹脂層付き基材における第2の樹脂層が接するように積層して、絶縁層を構成することができる。また、3つ以上の絶縁性樹脂層付き基材を用いて絶縁層を形成する場合、必要に応じて基材を除去し、各樹脂層を積層して、絶縁層を形成することができる。また、本実施形態の絶縁性樹脂層付き基材における基材が銅箔である場合、その銅箔が導体層の役割を担ってもよいし、銅張積層板の銅箔など他の導体(銅箔等)を絶縁層に積層して導体層を形成してもよい。
<Laminate of this embodiment and manufacturing method thereof>
A laminate using the substrate with an insulating resin layer of this embodiment (hereinafter, sometimes simply referred to as a "laminate") can be used, for example, to produce a coreless substrate to be provided in a printed wiring board or a substrate for mounting semiconductor elements. The coreless substrate may be a coreless substrate for a build-up material. The laminate of this embodiment is, for example, a laminate in which a conductor layer and an insulating layer formed using the substrate with an insulating resin layer of this embodiment are laminated, and may have a build-up layer. At least one of the conductor layer and the insulating layer may be a plurality of layers, and the laminate may be formed by alternately laminating the conductor layer and the insulating layer. Here, for example, when forming an insulating layer by laminating the substrate with an insulating resin layer of this embodiment, the insulating layer can be formed by laminating the second resin layer of the substrate with an insulating resin layer of this embodiment using copper foil as the substrate so that it contacts the substrate on which the conductor layer is formed. Furthermore, when forming an insulating layer using three or more substrates with insulating resin layers, the substrate can be removed as necessary, and each resin layer can be laminated to form the insulating layer. Furthermore, when the substrate in the substrate with an insulating resin layer of this embodiment is copper foil, the copper foil may serve as the conductor layer, or the conductor layer may be formed by laminating another conductor (copper foil, etc.), such as the copper foil of a copper-clad laminate, on the insulating layer.
本実施形態の積層体がビルドアップ層を有する場合、例えば、当該ビルドアップ層は、複数の導体層と絶縁層とを有し、導体層が、各絶縁層の間と、ビルドアップ層の最外層の表面とに配置される。この際、絶縁層の数は特に限定はないが、例えば、3層又は4層とすることできる。また、本実施形態の積層体を用いて、コアレス基板を作製することができる。コアレス基板としては、例えば、2層以上のコアレス基板が挙げられ、例えば、3層コアレス基板であってもよい。コアレス基板の構成については後述する。 When the laminate of this embodiment has a build-up layer, for example, the build-up layer has multiple conductor layers and insulating layers, with the conductor layers being arranged between each insulating layer and on the surface of the outermost layer of the build-up layer. In this case, there is no particular limit to the number of insulating layers, but it can be, for example, three or four layers. Furthermore, a coreless substrate can be produced using the laminate of this embodiment. Examples of coreless substrates include coreless substrates with two or more layers, and may be, for example, a three-layer coreless substrate. The configuration of the coreless substrate will be described later.
本実施形態の積層体において、薄膜化の要望を実現する観点から、少なくとも1層の絶縁層の厚さが、1μm以上15μm未満であると好ましい。当該絶縁層の厚さは、種々の積層体用途によって異なるが、例えば、1μm以上14μm以下であるとより好ましく、1μm以上12μm以下であると更に好ましい。また、同様の観点から、全ての絶縁層の厚さが上記の数値範囲内であると特に好ましい。 In the laminate of this embodiment, from the viewpoint of realizing the demand for thinner films, it is preferable that the thickness of at least one insulating layer be 1 μm or more and less than 15 μm. The thickness of the insulating layer varies depending on the various uses of the laminate, but, for example, it is more preferable that it be 1 μm or more and 14 μm or less, and even more preferable that it be 1 μm or more and 12 μm or less. Furthermore, from the same viewpoint, it is particularly preferable that the thicknesses of all insulating layers be within the above numerical range.
積層体において、上述の第1の樹脂層に由来する層の厚さは、特に限定されるものではないが、より一層の薄膜化の観点から、10μm未満であることが好ましい。絶縁性を更に確実に奏することをも考慮すると、その層の厚さは、1.0μm以上9.0μm以下であることがより好ましく、2.0μm以上9.0μm以下であることがより好ましく、2.5μm以上9.0μm以下であることが更に好ましく、3.0μm以上9.0μm以下であることが特に好ましい。なお、その層の厚さの上限は、7.0μmであってもよく、5.0μmであってもよい。In the laminate, the thickness of the layer derived from the first resin layer described above is not particularly limited, but from the perspective of even thinner film thickness, it is preferably less than 10 μm. Considering the need to ensure even more reliable insulation, the thickness of the layer is more preferably 1.0 μm to 9.0 μm, more preferably 2.0 μm to 9.0 μm, even more preferably 2.5 μm to 9.0 μm, and particularly preferably 3.0 μm to 9.0 μm. The upper limit of the layer thickness may be 7.0 μm or 5.0 μm.
積層体において、上述の第2の樹脂層に由来する層の厚さは、特に限定されるものではないが、導体層の埋め込み性をより良好にする観点及び絶縁性をより高める観点から、2.0μm以上であることが好ましく、3.0μm以上であることがより好ましい。一方で、基板をより薄膜化する観点から、その層の厚さは20μm以下であることが好ましく、15μm以下であることがより好ましく、10μm以下であることが更に好ましく、9.0μm以下であることが特に好ましい。導体層の埋め込み性及び絶縁性をより高める観点に加えて、基板をより薄膜化する観点をも考慮すると、その層の厚さは、2.0μm以上20μm以下がより好ましく、3.0μm以上20μm以下が更に好ましく、4.0μm以上15μm以下がなおも更に好ましく、5.0μm以上10μm以下が特に好ましく、5.0μm以上9.0μm以下が極めて好ましい。In the laminate, the thickness of the layer derived from the second resin layer described above is not particularly limited, but from the perspective of improving the embeddability of the conductor layer and further enhancing the insulating properties, it is preferably 2.0 μm or more, and more preferably 3.0 μm or more. On the other hand, from the perspective of making the substrate thinner, the layer thickness is preferably 20 μm or less, more preferably 15 μm or less, even more preferably 10 μm or less, and particularly preferably 9.0 μm or less. Considering the perspective of making the substrate thinner in addition to the perspective of further enhancing the embeddability and insulating properties of the conductor layer, the layer thickness is more preferably 2.0 μm to 20 μm or less, even more preferably 3.0 μm to 20 μm or less, even more preferably 4.0 μm to 15 μm or less, particularly preferably 5.0 μm to 10 μm or less, and extremely preferably 5.0 μm to 9.0 μm or less.
[プリント配線板]
本実施形態の積層体はプリント配線板として用いることができる。ここで、プリント配線板は、コア基材と呼ばれる絶縁性樹脂層が完全硬化した金属箔張積層板に対し、ビルドアップ材料として本実施形態の絶縁性樹脂層付き基材から得られる積層体を用いることにより得ることができる。本実施形態の絶縁性樹脂層付き基材及びそれから得られる積層体を用いると、例えば、厚い支持基板(キャリア基板)を用いずに薄型のプリント配線板を製造することが可能である。また、本実施形態の絶縁性樹脂層付き基材を用いて得られるプリント配線板は、各層間における密着力や生産性(歩留率)に一層優れる。
[Printed wiring board]
The laminate of this embodiment can be used as a printed wiring board. Here, the printed wiring board can be obtained by using a laminate obtained from the substrate with an insulating resin layer of this embodiment as a build-up material for a metal foil-clad laminate in which the insulating resin layer, called a core substrate, is fully cured. By using the substrate with an insulating resin layer of this embodiment and the laminate obtained therefrom, it is possible to manufacture a thin printed wiring board without using a thick support substrate (carrier substrate), for example. Furthermore, the printed wiring board obtained using the substrate with an insulating resin layer of this embodiment has even better adhesion between layers and productivity (yield rate).
金属箔張積層板の表面には、通常用いられる金属箔張積層板の金属箔及び/又は金属箔を剥離した後にめっきする等して得られる導体層により導体回路が形成される。また、金属箔張積層板の基材は、特に限定されないが、例えば主として、ガラスエポキシ基板、金属基板、ポリエステル基板、ポリイミド基板、BTレジン基板及び熱硬化型ポリフェニレンエーテル基板が挙げられる。 A conductor circuit is formed on the surface of a metal foil-clad laminate using the metal foil of a commonly used metal foil-clad laminate and/or a conductor layer obtained by plating after peeling off the metal foil. The substrate of the metal foil-clad laminate is not particularly limited, but examples include glass epoxy substrates, metal substrates, polyester substrates, polyimide substrates, BT resin substrates, and thermosetting polyphenylene ether substrates.
本実施形態において、「ビルドアップ」とは、金属箔張積層板の表面の金属箔及び/又は導体層に対して、本実施形態の絶縁性樹脂層付き基材における絶縁性樹脂層を積層させることである。 In this embodiment, "build-up" means laminating the insulating resin layer of the insulating resin layer-equipped substrate of this embodiment onto the metal foil and/or conductor layer on the surface of the metal foil-clad laminate.
通常、ビルドアップ材料として接着フィルム等を用いて、金属箔張積層板に絶縁性樹脂層(樹脂組成物層)を積層させた場合、得られるプリント配線板はその片面又は両面に硬化後の絶縁性樹脂層、すなわち絶縁層を有する。この絶縁層に対して導体層を形成するが、絶縁層の表面粗度は低い。そのため、通常、デスミア処理を含む粗化処理により絶縁層に凹凸を形成させ、その後、無電解めっき及び/又は電解めっきを用いて導体層を形成する。Typically, when an insulating resin layer (resin composition layer) is laminated onto a metal foil-clad laminate using an adhesive film or similar build-up material, the resulting printed wiring board has a cured insulating resin layer, i.e., an insulating layer, on one or both sides. A conductor layer is formed on this insulating layer, but the surface roughness of the insulating layer is low. For this reason, roughening treatments, including desmearing, are typically used to create irregularities in the insulating layer, and then the conductor layer is formed using electroless plating and/or electrolytic plating.
しかしながら、ビルドアップ材料として本実施形態の絶縁性樹脂層付き基材を金属箔張積層板に積層させると、得られるプリント配線板の片面又は両面に銅箔などの基材を有することになる。このため、基材が銅箔などのように導電性を有する場合、めっき処理を施さなくても、基材に対して、直接、回路パターンを形成でき、高密度な微細配線を形成することができる。また、プリント配線板又は半導体素子搭載用基板の製造に際し、基材をエッチングした後にめっき処理を施しても、基材面が絶縁性樹脂層に転写されていることから、絶縁層とめっきとの間の密着性が向上する。However, when the substrate with an insulating resin layer of this embodiment is laminated to a metal foil-clad laminate as a build-up material, the resulting printed wiring board will have a substrate such as copper foil on one or both sides. Therefore, if the substrate is conductive, such as copper foil, a circuit pattern can be formed directly on the substrate without plating, allowing for the formation of high-density fine wiring. Furthermore, when manufacturing a printed wiring board or a substrate for mounting semiconductor elements, even if plating is performed after etching the substrate, the substrate surface is transferred to the insulating resin layer, improving adhesion between the insulating layer and the plating.
プリント配線板の製造では、必要に応じて、各導体層を電気的に接続するため、ビアホール及び/又はスルーホール等の穴加工が行われる。この穴加工が行われた場合、その後、デスミア処理を含む粗化処理を行う。プリント配線板の表面が、絶縁層との密着性に優れる銅箔のような導体層で保護される場合、粗化処理を行っても、プリント配線板の表面が荒れるのを抑制できる。 In the manufacture of printed wiring boards, holes such as via holes and/or through holes are drilled as needed to electrically connect each conductor layer. After drilling, a roughening treatment, including a desmearing process, is then performed. If the surface of the printed wiring board is protected by a conductor layer, such as copper foil, that has excellent adhesion to the insulating layer, roughening of the surface of the printed wiring board can be suppressed even when a roughening process is performed.
穴加工は、通常、メカニカルドリル、炭酸ガスレーザー、UVレーザー及びYAGレーザー等を用いて行われる。プリント配線板の表面が銅箔のような導体層で保護されている場合、これらのドリル又はレーザーのエネルギーを強くすることができる。そのため、本実施形態によれば、穴加工において、穴の表面から露出したガラス繊維等の無機物を好適に除去できる。なお、通常、粗化処理は、膨潤工程、表面粗化及びスミア溶解工程、並びに中和工程からなる。 Drilling is typically performed using a mechanical drill, carbon dioxide laser, UV laser, YAG laser, or the like. If the surface of a printed wiring board is protected by a conductive layer such as copper foil, the energy of these drills or lasers can be increased. Therefore, according to this embodiment, inorganic materials such as glass fibers exposed on the surface of the hole during drilling can be effectively removed. Note that roughening treatment typically consists of a swelling process, a surface roughening and smear dissolution process, and a neutralization process.
膨潤工程では、膨潤剤を用いて絶縁層の表面を膨潤させる。膨潤剤としては、絶縁層の表面の濡れ性が向上し、次の表面粗化及びスミア溶解工程において酸化分解が促進される程度にまで絶縁層の表面を膨潤させることができるものであれば、特に限定されない。その例としては、アルカリ溶液及び界面活性剤溶液が挙げられる。In the swelling process, a swelling agent is used to swell the surface of the insulating layer. There are no particular restrictions on the swelling agent, so long as it improves the wettability of the insulating layer surface and swells the insulating layer surface to an extent that promotes oxidative decomposition in the subsequent surface roughening and smear dissolution processes. Examples include alkaline solutions and surfactant solutions.
表面粗化及びスミア溶解工程では、酸化剤を用いて絶縁層の表面を粗化させると共にスミアを溶解する。酸化剤としては、例えば、アルカリ性の過マンガン酸塩溶液が挙げられ、好適な具体例としては、過マンガン酸カリウム水溶液、及び過マンガン酸ナトリウム水溶液等が挙げられる。かかる酸化剤処理はウェットデスミアと呼ばれるが、当該ウェットデスミアに加えて、プラズマ処理やUV処理によるドライデスミア、バフ等による機械研磨、サンドブラスト等の他の公知の粗化処理を、適宜組み合わせてもよい。In the surface roughening and smear dissolution process, an oxidizing agent is used to roughen the surface of the insulating layer and dissolve the smear. Examples of oxidizing agents include alkaline permanganate solutions, with specific examples including aqueous potassium permanganate solutions and aqueous sodium permanganate solutions. This type of oxidizing agent treatment is called wet desmearing, but other known roughening treatments, such as dry desmearing using plasma treatment or UV treatment, mechanical polishing using a buff, or sandblasting, may also be used in combination with wet desmearing.
中和工程では、前工程で使用した酸化剤を還元剤で中和する。還元剤としては、例えば、アミン系還元剤が挙げられる。その、好適な具体例としては、ヒドロキシルアミン硫酸塩水溶液、エチレンジアミン四酢酸水溶液、ニトリロ三酢酸水溶液等の酸性水溶液が挙げられる。In the neutralization step, the oxidizing agent used in the previous step is neutralized with a reducing agent. Examples of reducing agents include amine-based reducing agents. Suitable examples include acidic aqueous solutions such as an aqueous solution of hydroxylamine sulfate, an aqueous solution of ethylenediaminetetraacetic acid, and an aqueous solution of nitrilotriacetic acid.
本実施形態において、ビアホール及び/又はスルーホールを設けた後、又はビアホール及び/又はスルーホール内をデスミア処理した後に、各導体層を電気的に接続するために金属めっき処理することが好ましい。本実施形態では、金属めっき処理を施しても、導体層の面が絶縁層に転写されていることから絶縁層と金属めっきとの間の密着性が向上する。In this embodiment, after providing the via holes and/or through holes, or after desmearing the interior of the via holes and/or through holes, it is preferable to perform metal plating to electrically connect the conductor layers. In this embodiment, even after metal plating, the surface of the conductor layer is transferred to the insulating layer, improving adhesion between the insulating layer and the metal plating.
金属めっき処理の方法としては、特に限定されず、通常の多層プリント配線板の製造における金属めっき処理の方法を適宜用いることができる。金属めっき処理の方法及びめっきに使用される薬液の種類は、特に限定されず、通常の多層プリント配線板の製造における金属めっき処理の方法及び薬液を適宜用いることができる。金属めっき処理に使用される薬液は、市販品であってもよい。金属めっき処理方法としては、特に限定されず、例えば、脱脂液による処理、ソフトエッチング液による処理、酸洗浄、プレディップ液による処理、キャタリスト液による処理、アクセレーター液による処理、化学銅液による処理、酸洗浄及び硫酸銅液に浸漬し電流を流す処理が挙げられる。The metal plating method is not particularly limited, and any metal plating method commonly used in the manufacture of multilayer printed wiring boards can be used as appropriate. The metal plating method and the type of chemicals used for plating are not particularly limited, and any metal plating method and chemicals commonly used in the manufacture of multilayer printed wiring boards can be used as appropriate. The chemicals used for metal plating may be commercially available products. The metal plating method is not particularly limited, and examples include treatment with a degreasing solution, treatment with a soft etching solution, acid cleaning, treatment with a pre-dip solution, treatment with a catalyst solution, treatment with an accelerator solution, treatment with a chemical copper solution, acid cleaning, and immersion in a copper sulfate solution followed by application of an electric current.
また、半硬化状態の絶縁性樹脂層付き基材を用いてビルドアップさせた場合には、通常、半硬化状態の絶縁性樹脂層に対して熱処理等を施して完全硬化させることでプリント配線板を得ることができる。本実施形態では、得られたプリント配線板に対して、別の絶縁性樹脂層付き基材を更に積層させてもよい。 Furthermore, when a build-up is performed using a substrate with a semi-cured insulating resin layer, a printed wiring board can usually be obtained by subjecting the semi-cured insulating resin layer to a heat treatment or the like to completely cure it. In this embodiment, another substrate with an insulating resin layer may be further laminated on the obtained printed wiring board.
ビルドアップ法による積層(ラミネート)方法としては、特に限定されないが、真空加圧式ラミネーターを好適に用いることができる。この場合、金属箔張積層板に対してゴム等の弾性体を介して本実施形態の絶縁性樹脂層付き基材を積層することもできる。ラミネート条件としては、通常のプリント配線板の積層において使用される条件であれば特に限定されないが、例えば、70℃以上140℃以下の温度、1kgf/cm2以上11kgf/cm2以下の範囲の接触圧力、並びに20hPa以下の雰囲気減圧下が挙げられる。ラミネートの後に、金属板による熱プレスにより、積層された絶縁性樹脂層の平滑化を行ってもよい。ラミネート及び平滑化は、市販されている真空加圧式ラミネーターによって連続的に行うことができる。ラミネートの後に、又は平滑化の後に、絶縁性樹脂層を加熱して熱硬化させることで、完全に硬化させることができる。熱硬化条件は、樹脂組成物に含まれる成分の種類等によって異なるが、通常、硬化温度が100℃以上300℃以下、圧力が0.kgf/cm2以上100kgf/cm2以下(約9.8kPa以上約9.8MPa以下)、硬化時間が30秒~5時間である。 The lamination method using the build-up method is not particularly limited, but a vacuum pressure laminator can be suitably used. In this case, the substrate with the insulating resin layer of this embodiment can be laminated to a metal foil-clad laminate via an elastic material such as rubber. The lamination conditions are not particularly limited as long as they are conditions used in laminating ordinary printed wiring boards, but examples include a temperature of 70°C to 140°C, a contact pressure of 1 kgf/ cm2 to 11 kgf/ cm2 , and a reduced atmospheric pressure of 20 hPa or less. After lamination, the laminated insulating resin layer may be smoothed by hot pressing with a metal plate. Lamination and smoothing can be performed continuously using a commercially available vacuum pressure laminator. After lamination or smoothing, the insulating resin layer can be completely cured by heating and thermal curing. The thermal curing conditions vary depending on the types of components contained in the resin composition, but typically include a curing temperature of 100°C to 300°C and a pressure of 0. The pressure is from kgf/cm 2 to 100 kgf/cm 2 (from about 9.8 kPa to about 9.8 MPa), and the curing time is from 30 seconds to 5 hours.
本実施形態におけるプリント配線板の片面又は両面の銅箔又は導体層に対して、回路パターンを形成する方法としては、セミアディティブ法、フルアディティブ法、及びサブトラクティブ法が挙げられる。中でも、微細配線パターンを形成する点からは、セミアディティブ法が好ましい。 In this embodiment, methods for forming a circuit pattern on the copper foil or conductor layer on one or both sides of the printed wiring board include the semi-additive method, the full-additive method, and the subtractive method. Of these, the semi-additive method is preferred from the perspective of forming fine wiring patterns.
セミアディティブ法で回路パターンを形成する方法の例としては、めっきレジストを用いて選択的に電解めっきを施し(パターンめっき)、その後めっきレジストを剥離し、全体を適量エッチングして配線パターンを形成する手法が挙げられる。セミアディティブ法による回路パターン形成では、無電解めっきと電解めっきとを組み合わせて行うが、その際、無電解めっきの後と、電解めっきの後に、それぞれ乾燥を行うことが好ましい。無電解めっき後の乾燥は、特に限定されないが、例えば、80℃以上180℃以下で10分間~120分間行うことが好ましい。電解めっき後の乾燥は、特に限定されないが、例えば、130℃以上220℃以下で10分間~120分間行うことが好ましい。めっきとしては、銅めっきが好ましい。An example of a method for forming a circuit pattern using the semi-additive method is to selectively apply electrolytic plating using a plating resist (pattern plating), then peel off the plating resist and etch the entire surface appropriately to form a wiring pattern. When forming a circuit pattern using the semi-additive method, electroless plating and electrolytic plating are combined, and in this case, it is preferable to dry the surface after both electroless plating and electrolytic plating. There are no particular restrictions on the drying method after electroless plating, but it is preferable to dry the surface at a temperature of 80°C or higher and 180°C or lower for 10 to 120 minutes. There are no particular restrictions on the drying method after electrolytic plating, but it is preferable to dry the surface at a temperature of 130°C or higher and 220°C or lower for 10 to 120 minutes. Copper plating is preferred as the plating method.
本実施形態の樹脂層付き基材を用いて形成した絶縁層は、めっき密着性に優れる。ここで、「めっき密着性」は、例えば、厚さ18μmの導体層(めっき銅)が形成されたサンプルを用い、その導体層の接着力をJIS C6481(5.7.(引きはがし強さ))に準じて3回測定し、平均値を求めることで評価できる。なお、電解銅めっき後の乾燥で膨れたサンプルに関しては、膨れていない部分を用いて評価する。「めっき密着性」は、0.1kN/m以上が好ましく、0.2kN/m以上がより好ましく、0.3kN/m以上が更に好ましい。 The insulating layer formed using the resin-layered substrate of this embodiment has excellent plating adhesion. Here, "plating adhesion" can be evaluated by, for example, using a sample on which a conductor layer (plated copper) with a thickness of 18 μm has been formed, measuring the adhesive strength of the conductor layer three times in accordance with JIS C6481 (5.7. (Peel Strength)) and calculating the average value. For samples that swell due to drying after electrolytic copper plating, evaluation is performed using the unswelled portion. "Plating adhesion" is preferably 0.1 kN/m or more, more preferably 0.2 kN/m or more, and even more preferably 0.3 kN/m or more.
サブトラクティブ法で回路パターンを形成する方法の例としては、エッチングレジストを用いて選択的に導体層を除去することにより、回路パターンを形成する手法が挙げられる。具体的には、例えば、次のようにして回路パターンを形成する。銅箔の全面に、温度110±10℃、圧力0.50±0.02MPaでドライフィルムレジスト(例えば、日立化成製RD-1225(商品名))を積層貼着(ラミネート)する。次いで、回路パターンに沿って露光し、マスキングを行う。その後、1%炭酸ナトリウム水溶液にてドライフィルムレジストを現像処理し、最終的にアミン系のレジスト剥離液にてドライフィルムレジストを剥離する。これにより、銅箔に回路パターンを形成することができる。An example of a subtractive method for forming a circuit pattern is a technique in which a conductor layer is selectively removed using an etching resist to form the circuit pattern. Specifically, the circuit pattern is formed as follows: A dry film resist (e.g., RD-1225 (trade name) manufactured by Hitachi Chemical) is laminated onto the entire surface of the copper foil at a temperature of 110±10°C and a pressure of 0.50±0.02 MPa. Next, the surface is exposed to light along the circuit pattern and masked. The dry film resist is then developed using a 1% aqueous sodium carbonate solution, and finally stripped using an amine-based resist stripper. This allows the circuit pattern to be formed on the copper foil.
本実施形態では、プリント配線板に、更に絶縁層及び/又は導体層を積層させ、多層プリント配線板を得ることもできる。多層プリント配線板の内層には、回路基板を有していてもよい。本実施形態の絶縁性樹脂層付き基材における絶縁性樹脂層は、多層プリント配線板の絶縁層及び導体層の一つを構成することになる。 In this embodiment, an insulating layer and/or a conductor layer can be further laminated on the printed wiring board to obtain a multilayer printed wiring board. The multilayer printed wiring board may have a circuit board as an inner layer. The insulating resin layer in the substrate with an insulating resin layer of this embodiment constitutes one of the insulating layers and conductor layers of the multilayer printed wiring board.
積層の方法は、特に限定されず、通常のプリント配線板の積層成形に一般に使用される方法を用いることができる。積層方法としては、例えば、多段プレス、多段真空プレス、ラミネーター、真空ラミネーター、及びオートクレーブ成形機が挙げられる。積層時の温度は、特に限定されないが、例えば、100℃以上300℃以下である。積層時の圧力は、特に限定されないが、例えば、0.1kgf/cm2以上100kgf/cm2以下(約9.8kPa以上約9.8MPa以下)である。積層時の加熱時間は、特に限定されないが、例えば、30秒~5時間である。また、必要に応じて、例えば、150℃以上300℃以下の温度範囲で後硬化を行い、硬化度を調整してもよい。 The lamination method is not particularly limited, and methods commonly used in lamination molding of ordinary printed wiring boards can be used. Examples of lamination methods include a multi-stage press, a multi-stage vacuum press, a laminator, a vacuum laminator, and an autoclave molding machine. The temperature during lamination is not particularly limited, but is, for example, 100°C or higher and 300°C or lower. The pressure during lamination is not particularly limited, but is, for example, 0.1 kgf/ cm2 or higher and 100 kgf/cm2 or lower (approximately 9.8 kPa or higher and approximately 9.8 MPa or lower). The heating time during lamination is not particularly limited, but is, for example, 30 seconds to 5 hours. Furthermore, if necessary, post-curing may be performed at a temperature range of, for example, 150°C or higher and 300°C or lower to adjust the degree of curing.
[半導体素子搭載用基板]
上述のように、本実施形態の積層体は半導体素子搭載用基板として用いることができる。半導体素子搭載用基板は、例えば、金属箔張積層板に本実施形態の絶縁性樹脂層付き基材を積層させ、得られた積層体の表面又は片面における銅箔のような基材をマスキング及びパターニングして回路パターンを形成することで作製される。マスキング及びパターニングは、プリント配線板の製造において行われる公知のマスキング及びパターニングを用いることができ、特に限定されないが、前述のサブトラクティブ法によって、回路パターンを形成することが好ましい。回路パターンは、積層体の片面にだけ形成されてもよく、両面に形成されてもよい。
[Semiconductor element mounting substrate]
As described above, the laminate of this embodiment can be used as a semiconductor device mounting substrate. A semiconductor device mounting substrate can be produced, for example, by laminating the insulating resin layer-equipped substrate of this embodiment on a metal foil-clad laminate, and then masking and patterning a substrate such as copper foil on one side or the surface of the resulting laminate to form a circuit pattern. The masking and patterning can be performed using known masking and patterning methods used in the manufacture of printed wiring boards, and are not particularly limited, but it is preferable to form the circuit pattern by the subtractive method described above. The circuit pattern may be formed on only one side of the laminate, or on both sides.
[多層コアレス基板(多層プリント配線板)]
本実施形態の積層体は、コアレス基板とすることができる。コアレス基板の一例として、多層コアレス基板が挙げられる。多層コアレス基板は、例えば、第1の絶縁層と、第1の絶縁層の片面側に積層された1つ又は複数の第2の絶縁層とからなる複数の絶縁層と、複数の絶縁層の各々の間に配置された第1の導体層と、複数の絶縁層の最外層の表面に配置された第2の導体層とからなる複数の導体層とを有し、第1の絶縁層及び前記第2の絶縁層が、それぞれ、本実施形態の絶縁性樹脂層付き基材における絶縁性樹脂層の硬化物を有する。多層コアレス基板の具体例について図2を用いて説明する。図2は、本実施形態における多層コアレス基板の一例を示す模式図である。図2に示す多層コアレス基板100は、第1の絶縁層111と、第1の絶縁層111の片面方向(図示下面方向)に積層された2つの第2の絶縁層112を含み、第1の絶縁層111及び2つの第2の絶縁層112は、それぞれ1つの本実施形態の絶縁性樹脂層付き基材における絶縁性樹脂層を用いて形成されている。また、図2に示す多層コアレス基板100は、複数の絶縁層(絶縁層111及び112)の各々の間に配置された第1の導体層113、及び、それらの複数の絶縁層(絶縁層111及び112)の最外層に配置された第2の導体層113からなる複数の導体層を有する。
[Multilayer coreless substrate (multilayer printed wiring board)]
The laminate of this embodiment can be a coreless substrate. An example of a coreless substrate is a multilayer coreless substrate. The multilayer coreless substrate has, for example, a plurality of insulating layers each consisting of a first insulating layer and one or more second insulating layers laminated on one side of the first insulating layer, a first conductor layer disposed between each of the plurality of insulating layers, and a second conductor layer disposed on the surface of the outermost layer of the plurality of insulating layers, wherein the first insulating layer and the second insulating layer each comprise a cured product of the insulating resin layer in the substrate with an insulating resin layer of this embodiment. A specific example of a multilayer coreless substrate will be described with reference to FIG. 2. FIG. 2 is a schematic diagram showing an example of a multilayer coreless substrate of this embodiment. The multilayer coreless substrate 100 shown in Fig. 2 includes a first insulating layer 111 and two second insulating layers 112 stacked on one side of the first insulating layer 111 (toward the bottom surface in the figure), and the first insulating layer 111 and the two second insulating layers 112 are each formed using the insulating resin layer in one of the base materials with an insulating resin layer of this embodiment. The multilayer coreless substrate 100 shown in Fig. 2 also has a plurality of conductor layers, including a first conductor layer 113 disposed between each of the plurality of insulating layers (insulating layers 111 and 112) and a second conductor layer 113 disposed on the outermost layer of the plurality of insulating layers (insulating layers 111 and 112).
以下に実施例及び比較例を用いて本発明を更に具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例により何ら限定されない。 The present invention will be explained in more detail below using examples and comparative examples, but the present invention is not limited to these examples in any way.
[実施例1]
ブロック共重合ポリイミド(製品名:YN-003N、ピーアイ技術研究所製)60質量部、2,2-ビス-{4-(4-マレイミドフェノキシ)フェニル}プロパン(製品名:BMI-80、ケイ・アイ化成(株)製)40質量部、球状シリカ(製品名:SO-C1、平均粒径0.3μm、アドマテックス(株)製)60質量部、湿潤分散剤(製品名:BYK-W903、ビックケミー・ジャパン(株)製)0.2質量部を配合して混合し、その後、N-メチル-2-ピロリドン(以下、「NMP」と称する。)で希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスAを得た。得られたワニスAを、バーコーターによって12μm厚の銅箔(製品名:3EC-M2S-VLP、三井金属鉱業(株)製)のマット面側に塗布し塗布膜を得た。次いで、塗布膜を180℃で10分間加熱乾燥することによって、第1の樹脂層を銅箔上に形成した樹脂付き銅箔を得た。
[Example 1]
60 parts by mass of block copolymer polyimide (product name: YN-003N, manufactured by PI Technical Research Institute), 40 parts by mass of 2,2-bis-{4-(4-maleimidophenoxy)phenyl}propane (product name: BMI-80, manufactured by K.I. Chemical Co., Ltd.), 60 parts by mass of spherical silica (product name: SO-C1, average particle size 0.3 μm, manufactured by Admatechs Co., Ltd.), and 0.2 parts by mass of a wetting and dispersing agent (product name: BYK-W903, manufactured by BYK Japan Co., Ltd.) were blended and mixed, and then diluted with N-methyl-2-pyrrolidone (hereinafter referred to as "NMP") to obtain a resin composition solution, Varnish A. The obtained Varnish A was applied to the matte side of a 12 μm thick copper foil (product name: 3EC-M2S-VLP, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then dried by heating at 180° C. for 10 minutes to obtain a resin-coated copper foil having a first resin layer formed on the copper foil.
次に、ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂(製品名:KAYAHARD GPH-103、水酸基当量:231g/eq.、日本化薬(株)製)36質量部、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:NC-3000-FH、日本化薬(株)製、エポキシ当量:320g/eq.)39質量部、ナフタレンアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:HP-9900、エポキシ当量:274g/eq.、DIC(株)製)7質量部、ビス(3-エチル-5-メチル-4-マレイミドフェニル)メタン(製品名:BMI-70、ケイ・アイ化成(株)製)18質量部、2,4,5-トリフェニルイミダゾール(東京化成工業(株)製)0.5質量部を配合して混合し、その後メチルエチルケトンで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスBを得た。得られたワニスBを、バーコーターによって上述の方法で得られた樹脂付き銅箔の第1の樹脂層側に塗布して塗布膜を得た。次いで、塗布膜を150℃で10分間加熱乾燥することによって、基材側から第1の樹脂層と第2の樹脂層とをこの順に有する絶縁性樹脂層付き基材(樹脂シート)を得た。第1の樹脂層の厚さは2.5μm、第2の樹脂層の厚さは5.4μmであった。Next, biphenyl aralkyl phenolic resin (product name: KAYAHARD GPH-103, hydroxyl group equivalent: 231 g/eq., manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 36 parts by mass, biphenylaralkyl type epoxy resin (product name: NC-3000-FH, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent: 320 g/eq.) 39 parts by mass, naphthalenearalkyl type epoxy resin (product name: HP-9900, epoxy equivalent: 274 g/eq., manufactured by DIC Corporation) 7 parts by mass, bis(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidophenyl)methane (product name: BMI-70, manufactured by K.I. Kasei Co., Ltd.) 18 parts by mass, and 2,4,5-triphenylimidazole (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) 0.5 parts by mass were blended and mixed, and then diluted with methyl ethyl ketone to obtain varnish B, which is a solution of the resin composition. The resulting varnish B was applied to the first resin layer side of the resin-coated copper foil obtained by the above method using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then heated and dried at 150°C for 10 minutes to obtain a substrate (resin sheet) with an insulating resin layer having a first resin layer and a second resin layer in this order from the substrate side. The thickness of the first resin layer was 2.5 μm, and the thickness of the second resin layer was 5.4 μm.
[実施例2]
ブロック共重合ポリイミド(製品名:YN-003N、ピーアイ技術研究所製)60質量部、2,2-ビス-{4-(4-マレイミドフェノキシ)フェニル}プロパン(製品名:BMI-80、ケイ・アイ化成(株)製)40質量部、球状シリカ(製品名:SO-C1、平均粒径0.3μm、アドマテックス(株)製)60質量部、湿潤分散剤(製品名:BYK-W903、ビックケミー・ジャパン(株)製)0.2質量部を配合して混合し、その後、NMPで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスAを得た。得られたワニスAを、バーコーターによって12μm厚の銅箔(製品名:3EC-M2S-VLP、三井金属鉱業(株)製)のマット面側に塗布し塗布膜を得た。次いで、塗布膜を180℃で10分間加熱乾燥することによって、第1の樹脂層を銅箔上に形成した樹脂付き銅箔を得た。
[Example 2]
60 parts by mass of block copolymer polyimide (product name: YN-003N, manufactured by PI Technical Research Institute), 40 parts by mass of 2,2-bis-{4-(4-maleimidophenoxy)phenyl}propane (product name: BMI-80, manufactured by K.I. Chemical Co., Ltd.), 60 parts by mass of spherical silica (product name: SO-C1, average particle size 0.3 μm, manufactured by Admatechs Co., Ltd.), and 0.2 parts by mass of a wetting dispersant (product name: BYK-W903, manufactured by BYK Japan Co., Ltd.) were blended and mixed, and then diluted with NMP to obtain a resin composition solution, Varnish A. The obtained Varnish A was applied to the matte side of a 12 μm thick copper foil (product name: 3EC-M2S-VLP, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then dried by heating at 180° C. for 10 minutes to obtain a resin-coated copper foil having a first resin layer formed on the copper foil.
次に、ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂(製品名:KAYAHARD GPH-103、水酸基当量:231g/eq.、日本化薬(株)製)36質量部、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:NC-3000-FH、日本化薬(株)製、エポキシ当量:320g/eq.)39質量部、ナフタレンアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:HP-9900、エポキシ当量:274g/eq.、DIC(株)製)7質量部、ビス(3-エチル-5-メチル-4-マレイミドフェニル)メタン(製品名:BMI-70、ケイ・アイ化成(株)製)18質量部、スラリーシリカ(製品名:SC2050-MB、平均粒径0.7μm、アドマテックス(株)製)300質量部、スチレンブタジエンゴム(製品名:JSR TR2003、JSR(株)製)20質量部、湿潤分散剤1(製品名:DISPERBYK-161、ビックケミー・ジャパン(株)製)1質量部、湿潤分散剤2(製品名:DISPERBYK-111、ビックケミー・ジャパン(株)製)2質量部、シランカップリング剤(製品名:KBM-403、信越化学(株)製)1質量部、2,4,5-トリフェニルイミダゾール(東京化成工業(株)製)0.5質量部を配合して混合し、その後メチルエチルケトンで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスBを得た。得られたワニスB(樹脂組成物)を、バーコーターによって上述の方法で得られた樹脂付き銅箔の第1の樹脂層側に塗布して塗布膜を得た。次いで、塗布膜を150℃で10分間加熱乾燥することによって、基材側から第1の樹脂層と第2の樹脂層とをこの順に有する絶縁性樹脂層付き基材(樹脂シート)を得た。第1の樹脂層の厚さは2.5μm、第2の樹脂層の厚さは5.1μmであった。Next, biphenyl aralkyl phenolic resin (product name: KAYAHARD GPH-103, hydroxyl equivalent: 231 g/eq., manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 36 parts by mass, biphenyl aralkyl type epoxy resin (product name: NC-3000-FH, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent: 320 g/eq.) 39 parts by mass, naphthalene aralkyl type epoxy resin (product name: HP-9900, epoxy equivalent: 274 g/eq., manufactured by DIC Corporation) 7 parts by mass, bis(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidophenyl)methane (product name: BMI-70, manufactured by K.I. Kasei Co., Ltd.) 18 parts by mass, slurry silica (product name: SC2050-MB, average particle size 0.7 μm, manufactured by Admatechs Co., Ltd.) 300 parts by mass, styrene butadiene rubber (product name: JSR 20 parts by weight of wetting and dispersing agent 1 (product name: DISPERBYK-161, manufactured by BYK Japan KK), 1 part by weight of wetting and dispersing agent 2 (product name: DISPERBYK-111, manufactured by BYK Japan KK), 2 parts by weight of silane coupling agent (product name: KBM-403, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.), and 0.5 parts by weight of 2,4,5-triphenylimidazole (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) were blended and mixed, and then diluted with methyl ethyl ketone to obtain a resin composition solution, Varnish B. The obtained Varnish B (resin composition) was applied to the first resin layer side of the resin-coated copper foil obtained by the above-mentioned method using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then dried by heating at 150°C for 10 minutes to obtain a substrate (resin sheet) with an insulating resin layer, which had a first resin layer and a second resin layer in this order from the substrate side. The thickness of the first resin layer was 2.5 µm, and the thickness of the second resin layer was 5.1 µm.
[実施例3]
ブロック共重合ポリイミド(製品名:YN-003N、ピーアイ技術研究所製)60質量部、2,2-ビス-{4-(4-マレイミドフェノキシ)フェニル}プロパン(製品名:BMI-80、ケイ・アイ化成(株)製)40質量部、球状シリカ(製品名:SO-C1、平均粒径0.3μm、アドマテックス(株)製)60質量部、湿潤分散剤(製品名:BYK-W903、ビックケミー・ジャパン(株)製)0.2質量部を配合して混合し、その後、NMPで希釈して樹脂組成物出るワニスAを得た。得られたワニスAを、バーコーターによって12μm厚の銅箔(製品名:3EC-M2S-VLP、三井金属鉱業(株)製)のマット面側に塗布し塗布膜を得た。次いで、塗布膜を180℃で10分間加熱乾燥することによって、第1の樹脂層を銅箔上に形成した樹脂付き銅箔を得た。
[Example 3]
60 parts by mass of block copolymer polyimide (product name: YN-003N, manufactured by PI Technical Research Institute), 40 parts by mass of 2,2-bis-{4-(4-maleimidophenoxy)phenyl}propane (product name: BMI-80, manufactured by K.I. Chemical Co., Ltd.), 60 parts by mass of spherical silica (product name: SO-C1, average particle size 0.3 μm, manufactured by Admatechs Co., Ltd.), and 0.2 parts by mass of a wetting and dispersing agent (product name: BYK-W903, manufactured by BYK Japan Co., Ltd.) were blended and mixed, and then diluted with NMP to obtain a resin composition, Varnish A. The obtained Varnish A was applied to the matte side of a 12 μm thick copper foil (product name: 3EC-M2S-VLP, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then dried by heating at 180° C. for 10 minutes to obtain a resin-coated copper foil having a first resin layer formed on the copper foil.
次に、ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂(製品名:KAYAHARD GPH-103、水酸基当量:231g/eq.、日本化薬(株)製)36質量部、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:NC-3000-FH、日本化薬(株)製、エポキシ当量:320g/eq.)39質量部、ナフタレンアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:HP-9900、エポキシ当量:274g/eq.、DIC(株)製)7質量部、ビス(3-エチル-5-メチル-4-マレイミドジフェニル)メタン(製品名:BMI-70、ケイ・アイ化成(株)製)18質量部、スラリーシリカ(製品名:SC2050-MB、平均粒径0.7μm、アドマテックス(株)製)420質量部、スチレンブタジエンゴム(製品名:JSR TR2003、JSR(株)製)20質量部、湿潤分散剤1(製品名:DISPERBYK-161、ビックケミー・ジャパン(株)製)1質量部、湿潤分散剤2(製品名:DISPERBYK-111、ビックケミー・ジャパン(株)製)2質量部、シランカップリング剤(製品名:KBM-403、信越化学(株)製)1質量部、2,4,5-トリフェニルイミダゾール(東京化成工業(株)製)0.5質量部を配合して混合し、その後メチルエチルケトンで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスBを得た。得られたワニスBを、バーコーターによって上述の方法で得られた樹脂付き銅箔の第1の樹脂層側に塗布して塗布膜を得た。次いで、塗布膜を150℃で10分間加熱乾燥することによって、基材側から第1の樹脂層と第2の樹脂層とをこの順に有する絶縁性樹脂層付き基材(樹脂シート)を得た。第1の樹脂層の厚さは2.5μm、第2の樹脂層の厚さは4.7μmであった。Next, biphenyl aralkyl phenolic resin (product name: KAYAHARD GPH-103, hydroxyl group equivalent: 231 g/eq., manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 36 parts by mass, biphenyl aralkyl type epoxy resin (product name: NC-3000-FH, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent: 320 g/eq.) 39 parts by mass, naphthalene aralkyl type epoxy resin (product name: HP-9900, epoxy equivalent: 274 g/eq., manufactured by DIC Corporation) 7 parts by mass, bis(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidodiphenyl)methane (product name: BMI-70, manufactured by K.I. Kasei Co., Ltd.) 18 parts by mass, slurry silica (product name: SC2050-MB, average particle size 0.7 μm, manufactured by Admatechs Co., Ltd.) 420 parts by mass, styrene butadiene rubber (product name: JSR 20 parts by mass of wetting and dispersing agent 1 (product name: DISPERBYK-161, manufactured by BYK Japan K.K.), 1 part by mass of wetting and dispersing agent 2 (product name: DISPERBYK-111, manufactured by BYK Japan K.K.), 2 parts by mass of silane coupling agent (product name: KBM-403, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.), and 0.5 parts by mass of 2,4,5-triphenylimidazole (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) were blended and mixed, and then diluted with methyl ethyl ketone to obtain a resin composition solution, Varnish B. The obtained Varnish B was applied to the first resin layer side of the resin-coated copper foil obtained by the above-mentioned method using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then heated and dried at 150°C for 10 minutes to obtain a substrate (resin sheet) with an insulating resin layer, having a first resin layer and a second resin layer in this order from the substrate side. The first resin layer had a thickness of 2.5 μm, and the second resin layer had a thickness of 4.7 μm.
[実施例4]
ブロック共重合ポリイミド(製品名:YN-003N、ピーアイ技術研究所製)50質量部、2,2-ビス-{4-(4-マレイミドフェノキシ)フェニル}プロパン(製品名:BMI-80、ケイ・アイ化成(株)製)50質量部、球状シリカ(製品名:SO-C1、平均粒径0.3μm、アドマテックス(株)製)60質量部、湿潤分散剤(製品名:BYK-W903、ビックケミー・ジャパン(株)製)0.2質量部を配合して混合し、その後、NMPで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスAを得た。得られたワニスAを、バーコーターによって12μm厚の銅箔(製品名:3EC-M2S-VLP、三井金属鉱業(株)製)のマット面側に塗布し塗布膜を得た。次いで、塗布膜を180℃で10分間加熱乾燥することによって、第1の樹脂層を銅箔上に形成した樹脂付き銅箔を得た。
[Example 4]
50 parts by mass of block copolymer polyimide (product name: YN-003N, manufactured by PI Technical Research Institute), 50 parts by mass of 2,2-bis-{4-(4-maleimidophenoxy)phenyl}propane (product name: BMI-80, manufactured by K.I. Chemical Co., Ltd.), 60 parts by mass of spherical silica (product name: SO-C1, average particle size 0.3 μm, manufactured by Admatechs Co., Ltd.), and 0.2 parts by mass of a wetting and dispersing agent (product name: BYK-W903, manufactured by BYK Japan Co., Ltd.) were blended and mixed, and then diluted with NMP to obtain a resin composition solution, Varnish A. The obtained Varnish A was applied to the matte side of a 12 μm thick copper foil (product name: 3EC-M2S-VLP, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then dried by heating at 180° C. for 10 minutes to obtain a resin-coated copper foil having a first resin layer formed on the copper foil.
次に、ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂(製品名:KAYAHARD GPH-103、水酸基当量:231g/eq.、日本化薬(株)製)36質量部、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:NC-3000-FH、日本化薬(株)製、エポキシ当量:320g/eq.)39質量部、ナフタレンアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:HP-9900、エポキシ当量:274g/eq.、DIC(株)製)7質量部、ビス(3-エチル-5-メチル-4-マレイミドフェニル)メタン(製品名:BMI-70、ケイ・アイ化成(株)製)18質量部、スラリーシリカ(製品名:SC2050-MB、平均粒径0.7μm、アドマテックス(株)製)300質量部、スチレンブタジエンゴム(製品名:JSR TR2003、JSR(株)製)20質量部、湿潤分散剤1(製品名:DISPERBYK-161、ビックケミー・ジャパン(株)製)1質量部、湿潤分散剤2(製品名:DISPERBYK-111、ビックケミー・ジャパン(株)製)2質量部、シランカップリング剤(製品名:KBM-403、信越化学(株)製)1質量部、2,4,5-トリフェニルイミダゾール(東京化成工業(株)製)0.5質量部を配合して混合し、その後メチルエチルケトンで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスBを得た。得られたワニスB(樹脂組成物)を、バーコーターによって上述の方法で得られた樹脂付き銅箔の第1の樹脂層側に塗布して塗布膜を得た。次いで、塗布膜を150℃で10分間加熱乾燥することによって、基材側から第1の樹脂層と第2の樹脂層とをこの順に有する絶縁性樹脂層付き基材(樹脂シート)を得た。第1の樹脂層の厚さは2.5μm、第2の樹脂層の厚さは5.1μmであった。Next, biphenyl aralkyl phenolic resin (product name: KAYAHARD GPH-103, hydroxyl equivalent: 231 g/eq., manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 36 parts by mass, biphenyl aralkyl type epoxy resin (product name: NC-3000-FH, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent: 320 g/eq.) 39 parts by mass, naphthalene aralkyl type epoxy resin (product name: HP-9900, epoxy equivalent: 274 g/eq., manufactured by DIC Corporation) 7 parts by mass, bis(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidophenyl)methane (product name: BMI-70, manufactured by K.I. Kasei Co., Ltd.) 18 parts by mass, slurry silica (product name: SC2050-MB, average particle size 0.7 μm, manufactured by Admatechs Co., Ltd.) 300 parts by mass, styrene butadiene rubber (product name: JSR 20 parts by weight of wetting and dispersing agent 1 (product name: DISPERBYK-161, manufactured by BYK Japan KK), 1 part by weight of wetting and dispersing agent 2 (product name: DISPERBYK-111, manufactured by BYK Japan KK), 2 parts by weight of silane coupling agent (product name: KBM-403, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.), and 0.5 parts by weight of 2,4,5-triphenylimidazole (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) were blended and mixed, and then diluted with methyl ethyl ketone to obtain a resin composition solution, Varnish B. The obtained Varnish B (resin composition) was applied to the first resin layer side of the resin-coated copper foil obtained by the above-mentioned method using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then dried by heating at 150°C for 10 minutes to obtain a substrate (resin sheet) with an insulating resin layer, which had a first resin layer and a second resin layer in this order from the substrate side. The thickness of the first resin layer was 2.5 µm, and the thickness of the second resin layer was 5.1 µm.
[実施例5]
ブロック共重合ポリイミド(製品名:YN-003N、ピーアイ技術研究所製)60質量部、2,2-ビス-{4-(4-マレイミドフェノキシ)フェニル}プロパン(製品名:BMI-80、ケイ・アイ化成(株)製)40質量部、球状シリカ(製品名:SO-C1、平均粒径0.3μm、アドマテックス(株)製)60質量部、湿潤分散剤(製品名:BYK-W903、ビックケミー・ジャパン(株)製)0.2質量部を配合して混合し、その後、NMPで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスAを得た。得られたワニスAを、バーコーターによって12μm厚の銅箔(製品名:3EC-M2S-VLP、三井金属鉱業(株)製)のマット面側に塗布し塗布膜を得た。次いで、塗布膜を180℃で10分間加熱乾燥することによって、第1の樹脂層を銅箔上に形成した樹脂付き銅箔を得た。
[Example 5]
60 parts by mass of block copolymer polyimide (product name: YN-003N, manufactured by PI Technical Research Institute), 40 parts by mass of 2,2-bis-{4-(4-maleimidophenoxy)phenyl}propane (product name: BMI-80, manufactured by K.I. Chemical Co., Ltd.), 60 parts by mass of spherical silica (product name: SO-C1, average particle size 0.3 μm, manufactured by Admatechs Co., Ltd.), and 0.2 parts by mass of a wetting dispersant (product name: BYK-W903, manufactured by BYK Japan Co., Ltd.) were blended and mixed, and then diluted with NMP to obtain a resin composition solution, Varnish A. The obtained Varnish A was applied to the matte side of a 12 μm thick copper foil (product name: 3EC-M2S-VLP, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then dried by heating at 180° C. for 10 minutes to obtain a resin-coated copper foil having a first resin layer formed on the copper foil.
次に、ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂(製品名:KAYAHARD GPH-103、水酸基当量:231g/eq.、日本化薬(株)製)36質量部、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:NC-3000-FH、日本化薬(株)製、エポキシ当量:320g/eq.)39質量部、ナフタレンアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:HP-9900、エポキシ当量:274g/eq.、DIC(株)製)7質量部、ビス(3-エチル-5-メチル-4-マレイミドフェニル)メタン(製品名:BMI-70、ケイ・アイ化成(株)製)18質量部、2,4,5-トリフェニルイミダゾール(東京化成工業(株)製)0.5質量部を配合して混合し、その後メチルエチルケトンで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスBを得た。得られたワニスBを、バーコーターによって上述の方法で得られた樹脂付き銅箔の第1の樹脂層側に塗布して塗布膜を得た。次いで、塗布膜を150℃で10分間加熱乾燥することによって、基材側から第1の樹脂層と第2の樹脂層とをこの順に有する絶縁性樹脂層付き基材(樹脂シート)を得た。第1の樹脂層の厚さは2.5μm、第2の樹脂層の厚さは8.9μmであった。Next, biphenyl aralkyl phenolic resin (product name: KAYAHARD GPH-103, hydroxyl group equivalent: 231 g/eq., manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 36 parts by mass, biphenylaralkyl type epoxy resin (product name: NC-3000-FH, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent: 320 g/eq.) 39 parts by mass, naphthalenearalkyl type epoxy resin (product name: HP-9900, epoxy equivalent: 274 g/eq., manufactured by DIC Corporation) 7 parts by mass, bis(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidophenyl)methane (product name: BMI-70, manufactured by K.I. Kasei Co., Ltd.) 18 parts by mass, and 2,4,5-triphenylimidazole (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) 0.5 parts by mass were blended and mixed, and then diluted with methyl ethyl ketone to obtain varnish B, which is a solution of the resin composition. The resulting varnish B was applied to the first resin layer side of the resin-coated copper foil obtained by the above method using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then heated and dried at 150°C for 10 minutes to obtain a substrate (resin sheet) with an insulating resin layer having a first resin layer and a second resin layer in this order from the substrate side. The thickness of the first resin layer was 2.5 μm, and the thickness of the second resin layer was 8.9 μm.
[実施例6]
ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:NC-3000-FH、日本化薬(株)製40質量部、2,2-ビス-{4-(4-マレイミドフェノキシ)フェニル}プロパン(製品名:BMI-80、ケイ・アイ化成(株)製)60質量部、球状シリカ(製品名:SO-C1、平均粒径0.3μm、アドマテックス(株)製)60質量部、湿潤分散剤(製品名:BYK-W903、ビックケミー・ジャパン(株)製)0.2質量部を配合して混合し、その後、NMPで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスAを得た。得られたワニスAを、バーコーターによって12μm厚の銅箔(製品名:3EC-M2S-VLP、三井金属鉱業(株)製)のマット面側に塗布し塗布膜を得た。次いで、塗布膜を200℃で10分間加熱乾燥することによって、第1の樹脂層を銅箔上に形成した樹脂付き銅箔を得た。
[Example 6]
Biphenyl aralkyl type epoxy resin (product name: NC-3000-FH, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 40 parts by mass, 2,2-bis-{4-(4-maleimidophenoxy)phenyl}propane (product name: BMI-80, manufactured by K.I. Kasei Co., Ltd.) 60 parts by mass, spherical silica (product name: SO-C1, average particle size 0.3 μm, manufactured by Admatechs Co., Ltd.) 60 parts by mass, wetting and dispersing agent (product name: BYK-W903, manufactured by BYK-Chemie Co., Ltd.) 0.2 parts by mass of PEG-1000 (manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) were blended and mixed, and then diluted with NMP to obtain a solution of resin composition, Varnish A. The obtained Varnish A was applied to the matte side of a 12 μm thick copper foil (product name: 3EC-M2S-VLP, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then heated and dried at 200°C for 10 minutes to obtain a resin-coated copper foil having a first resin layer formed on the copper foil.
次に、ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂(製品名:KAYAHARD GPH-103、水酸基当量:231g/eq.、日本化薬(株)製)36質量部、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:NC-3000-FH、日本化薬(株)製、エポキシ当量:320g/eq.)39質量部、ナフタレンアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:HP-9900、エポキシ当量:274g/eq.、DIC(株)製)7質量部、ビス(3-エチル-5-メチル-4-マレイミドフェニル)メタン(製品名:BMI-70、ケイ・アイ化成(株)製)18質量部、2,4,5-トリフェニルイミダゾール(東京化成工業(株)製)0.5質量部を配合して混合し、その後メチルエチルケトンで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスBを得た。得られたワニスBを、バーコーターによって上述の方法で得られた樹脂付き銅箔の第1の樹脂層側に塗布して塗布膜を得た。次いで、塗布膜を150℃で10分間加熱乾燥することによって、基材側から第1の樹脂層と第2の樹脂層とをこの順に有する絶縁性樹脂層付き基材(樹脂シート)を得た。第1の樹脂層の厚さは2.7μm、第2の樹脂層の厚さは5.4μmであった。Next, biphenyl aralkyl phenolic resin (product name: KAYAHARD GPH-103, hydroxyl group equivalent: 231 g/eq., manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 36 parts by mass, biphenylaralkyl type epoxy resin (product name: NC-3000-FH, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent: 320 g/eq.) 39 parts by mass, naphthalenearalkyl type epoxy resin (product name: HP-9900, epoxy equivalent: 274 g/eq., manufactured by DIC Corporation) 7 parts by mass, bis(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidophenyl)methane (product name: BMI-70, manufactured by K.I. Kasei Co., Ltd.) 18 parts by mass, and 2,4,5-triphenylimidazole (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) 0.5 parts by mass were blended and mixed, and then diluted with methyl ethyl ketone to obtain varnish B, which is a solution of the resin composition. The resulting varnish B was applied to the first resin layer side of the resin-coated copper foil obtained by the above method using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then heated and dried at 150°C for 10 minutes to obtain a substrate (resin sheet) with an insulating resin layer having a first resin layer and a second resin layer in this order from the substrate side. The thickness of the first resin layer was 2.7 μm, and the thickness of the second resin layer was 5.4 μm.
[実施例7]
ブロック共重合ポリイミド(製品名:YN-003N、ピーアイ技術研究所製)60質量部、2,2-ビス-{4-(4-マレイミドフェノキシ)フェニル}プロパン(製品名:BMI-80、ケイ・アイ化成(株)製)40質量部、球状シリカ(製品名:SO-C1、平均粒径0.3μm、アドマテックス(株)製)60質量部、湿潤分散剤(製品名:BYK-W903、ビックケミー・ジャパン(株)製)0.2質量部を配合して混合し、その後、NMPで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスAを得た。得られたワニスAを、バーコーターによって12μm厚の銅箔(製品名:3EC-M2S-VLP、三井金属鉱業(株)製)のマット面側に塗布し塗布膜を得た。次いで、塗布膜を180℃で10分間加熱乾燥することによって、第1の樹脂層を銅箔上に形成した樹脂付き銅箔を得た。
[Example 7]
60 parts by mass of block copolymer polyimide (product name: YN-003N, manufactured by PI Technical Research Institute), 40 parts by mass of 2,2-bis-{4-(4-maleimidophenoxy)phenyl}propane (product name: BMI-80, manufactured by K.I. Chemical Co., Ltd.), 60 parts by mass of spherical silica (product name: SO-C1, average particle size 0.3 μm, manufactured by Admatechs Co., Ltd.), and 0.2 parts by mass of a wetting dispersant (product name: BYK-W903, manufactured by BYK Japan Co., Ltd.) were blended and mixed, and then diluted with NMP to obtain a resin composition solution, Varnish A. The obtained Varnish A was applied to the matte side of a 12 μm thick copper foil (product name: 3EC-M2S-VLP, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then dried by heating at 180° C. for 10 minutes to obtain a resin-coated copper foil having a first resin layer formed on the copper foil.
次に、ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂(製品名:KAYAHARD GPH-103、水酸基当量:231g/eq.、日本化薬(株)製)36質量部、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:NC-3000-FH、日本化薬(株)製、エポキシ当量:320g/eq.)39質量部、ナフタレンアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:HP-9900、エポキシ当量:274g/eq.、DIC(株)製)7質量部、ビス(3-エチル-5-メチル-4-マレイミドフェニル)メタン(製品名:BMI-70、ケイ・アイ化成(株)製)18質量部、スラリーシリカ(製品名:SC2050-MB、平均粒径0.7μm、アドマテックス(株)製)350質量部、スチレンブタジエンゴム(製品名:JSR TR2003、JSR(株)製)20質量部、湿潤分散剤1(製品名:DISPERBYK-161、ビックケミー・ジャパン(株)製)1質量部、湿潤分散剤2(製品名:DISPERBYK-111、ビックケミー・ジャパン(株)製)2質量部、シランカップリング剤(製品名:KBM-403、信越化学(株)製)1質量部、2,4,5-トリフェニルイミダゾール(東京化成工業(株)製)0.5質量部を配合して混合し、その後メチルエチルケトンで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスBを得た。得られたワニスB(樹脂組成物)を、バーコーターによって上述の方法で得られた樹脂付き銅箔の第1の樹脂層側に塗布して塗布膜を得た。次いで、塗布膜を150℃で10分間加熱乾燥することによって、基材側から第1の樹脂層と第2の樹脂層とをこの順に有する絶縁性樹脂層付き基材(樹脂シート)を得た。第1の樹脂層の厚さは2.5μm、第2の樹脂層の厚さは4.8μmであった。Next, biphenyl aralkyl phenolic resin (product name: KAYAHARD GPH-103, hydroxyl equivalent: 231 g/eq., manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 36 parts by mass, biphenyl aralkyl type epoxy resin (product name: NC-3000-FH, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent: 320 g/eq.) 39 parts by mass, naphthalene aralkyl type epoxy resin (product name: HP-9900, epoxy equivalent: 274 g/eq., manufactured by DIC Corporation) 7 parts by mass, bis(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidophenyl)methane (product name: BMI-70, manufactured by K.I. Kasei Co., Ltd.) 18 parts by mass, slurry silica (product name: SC2050-MB, average particle size 0.7 μm, manufactured by Admatechs Co., Ltd.) 350 parts by mass, styrene butadiene rubber (product name: JSR 20 parts by weight of wetting and dispersing agent 1 (product name: DISPERBYK-161, manufactured by BYK Japan KK), 1 part by weight of wetting and dispersing agent 2 (product name: DISPERBYK-111, manufactured by BYK Japan KK), 2 parts by weight of silane coupling agent (product name: KBM-403, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.), and 0.5 parts by weight of 2,4,5-triphenylimidazole (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) were blended and mixed, and then diluted with methyl ethyl ketone to obtain a resin composition solution, Varnish B. The obtained Varnish B (resin composition) was applied to the first resin layer side of the resin-coated copper foil obtained by the above-mentioned method using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then dried by heating at 150°C for 10 minutes to obtain a substrate (resin sheet) with an insulating resin layer, which had a first resin layer and a second resin layer in this order from the substrate side. The thickness of the first resin layer was 2.5 µm, and the thickness of the second resin layer was 4.8 µm.
[実施例8]
ブロック共重合ポリイミド(製品名:YN-003N、ピーアイ技術研究所製)60質量部、2,2-ビス-{4-(4-マレイミドフェノキシ)フェニル}プロパン(製品名:BMI-80、ケイ・アイ化成(株)製)40質量部、球状シリカ(製品名:SO-C1、平均粒径0.3μm、アドマテックス(株)製)30質量部、湿潤分散剤(製品名:BYK-W903、ビックケミー・ジャパン(株)製)0.2質量部を配合して混合し、その後、NMPで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスAを得た。得られたワニスAを、バーコーターによって12μm厚の銅箔(製品名:3EC-M2S-VLP、三井金属鉱業(株)製)のマット面側に塗布し塗布膜を得た。次いで、塗布膜を180℃で10分間加熱乾燥することによって、第1の樹脂層を銅箔上に形成した樹脂付き銅箔を得た。
[Example 8]
60 parts by mass of block copolymer polyimide (product name: YN-003N, manufactured by PI Technical Research Institute), 40 parts by mass of 2,2-bis-{4-(4-maleimidophenoxy)phenyl}propane (product name: BMI-80, manufactured by K.I. Chemical Co., Ltd.), 30 parts by mass of spherical silica (product name: SO-C1, average particle size 0.3 μm, manufactured by Admatechs Co., Ltd.), and 0.2 parts by mass of a wetting dispersant (product name: BYK-W903, manufactured by BYK Japan Co., Ltd.) were blended and mixed, and then diluted with NMP to obtain a resin composition solution, Varnish A. The obtained Varnish A was applied to the matte side of a 12 μm thick copper foil (product name: 3EC-M2S-VLP, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then dried by heating at 180° C. for 10 minutes to obtain a resin-coated copper foil having a first resin layer formed on the copper foil.
次に、ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂(製品名:KAYAHARD GPH-103、水酸基当量:231g/eq.、日本化薬(株)製)36質量部、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:NC-3000-FH、日本化薬(株)製、エポキシ当量:320g/eq.)39質量部、ナフタレンアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:HP-9900、エポキシ当量:274g/eq.、DIC(株)製)7質量部、ビス(3-エチル-5-メチル-4-マレイミドフェニル)メタン(製品名:BMI-70、ケイ・アイ化成(株)製)18質量部、スラリーシリカ(製品名:SC2050-MB、平均粒径0.7μm、アドマテックス(株)製)350質量部、スチレンブタジエンゴム(製品名:JSR TR2003、JSR(株)製)20質量部、湿潤分散剤1(製品名:DISPERBYK-161、ビックケミー・ジャパン(株)製)1質量部、湿潤分散剤2(製品名:DISPERBYK-111、ビックケミー・ジャパン(株)製)2質量部、シランカップリング剤(製品名:KBM-403、信越化学(株)製)1質量部、2,4,5-トリフェニルイミダゾール(東京化成工業(株)製)0.5質量部を配合して混合し、その後メチルエチルケトンで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスBを得た。得られたワニスB(樹脂組成物)を、バーコーターによって上述の方法で得られた樹脂付き銅箔の第1の樹脂層側に塗布して塗布膜を得た。次いで、塗布膜を150℃で10分間加熱乾燥することによって、基材側から第1の樹脂層と第2の樹脂層とをこの順に有する絶縁性樹脂層付き基材(樹脂シート)を得た。第1の樹脂層の厚さは1.8μm、第2の樹脂層の厚さは3.2μmであった。
[実施例9]
ブロック共重合ポリイミド(製品名:YN-003N、ピーアイ技術研究所製)60質量部、2,2-ビス-{4-(4-マレイミドフェノキシ)フェニル}プロパン(製品名:BMI-80、ケイ・アイ化成(株)製)40質量部、球状シリカ(製品名:SO-C1、平均粒径0.3μm、アドマテックス(株)製)30質量部、湿潤分散剤(製品名:BYK-W903、ビックケミー・ジャパン(株)製)0.2質量部を配合して混合し、その後、NMPで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスAを得た。得られたワニスAを、バーコーターによって12μm厚の銅箔(製品名:3EC-M2S-VLP、三井金属鉱業(株)製)のマット面側に塗布し塗布膜を得た。次いで、塗布膜を180℃で10分間加熱乾燥することによって、第1の樹脂層を銅箔上に形成した樹脂付き銅箔を得た。
Next, biphenyl aralkyl phenolic resin (product name: KAYAHARD GPH-103, hydroxyl equivalent: 231 g/eq., manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 36 parts by mass, biphenyl aralkyl type epoxy resin (product name: NC-3000-FH, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent: 320 g/eq.) 39 parts by mass, naphthalene aralkyl type epoxy resin (product name: HP-9900, epoxy equivalent: 274 g/eq., manufactured by DIC Corporation) 7 parts by mass, bis(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidophenyl)methane (product name: BMI-70, manufactured by K.I. Kasei Co., Ltd.) 18 parts by mass, slurry silica (product name: SC2050-MB, average particle size 0.7 μm, manufactured by Admatechs Co., Ltd.) 350 parts by mass, styrene butadiene rubber (product name: JSR 20 parts by weight of wetting and dispersing agent 1 (product name: DISPERBYK-161, manufactured by BYK Japan KK), 1 part by weight of wetting and dispersing agent 2 (product name: DISPERBYK-111, manufactured by BYK Japan KK), 2 parts by weight of silane coupling agent (product name: KBM-403, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.), and 0.5 parts by weight of 2,4,5-triphenylimidazole (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) were blended and mixed, and then diluted with methyl ethyl ketone to obtain a resin composition solution, Varnish B. The obtained Varnish B (resin composition) was applied to the first resin layer side of the resin-coated copper foil obtained by the above-mentioned method using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then dried by heating at 150°C for 10 minutes to obtain a substrate (resin sheet) with an insulating resin layer, which had a first resin layer and a second resin layer in this order from the substrate side. The thickness of the first resin layer was 1.8 µm, and the thickness of the second resin layer was 3.2 µm.
[Example 9]
60 parts by mass of block copolymer polyimide (product name: YN-003N, manufactured by PI Technical Research Institute), 40 parts by mass of 2,2-bis-{4-(4-maleimidophenoxy)phenyl}propane (product name: BMI-80, manufactured by K.I. Chemical Co., Ltd.), 30 parts by mass of spherical silica (product name: SO-C1, average particle size 0.3 μm, manufactured by Admatechs Co., Ltd.), and 0.2 parts by mass of a wetting dispersant (product name: BYK-W903, manufactured by BYK Japan Co., Ltd.) were blended and mixed, and then diluted with NMP to obtain a resin composition solution, Varnish A. The obtained Varnish A was applied to the matte side of a 12 μm thick copper foil (product name: 3EC-M2S-VLP, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then dried by heating at 180° C. for 10 minutes to obtain a resin-coated copper foil having a first resin layer formed on the copper foil.
次に、ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂(製品名:KAYAHARD GPH-103、水酸基当量:231g/eq.、日本化薬(株)製)36質量部、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:NC-3000-FH、日本化薬(株)製、エポキシ当量:320g/eq.)39質量部、ナフタレンアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:HP-9900、エポキシ当量:274g/eq.、DIC(株)製)7質量部、ビス(3-エチル-5-メチル-4-マレイミドフェニル)メタン(製品名:BMI-70、ケイ・アイ化成(株)製)18質量部、スラリーシリカ(製品名:SC2050-MB、平均粒径0.7μm、アドマテックス(株)製)350質量部、スチレンブタジエンゴム(製品名:JSR TR2003、JSR(株)製)20質量部、湿潤分散剤1(製品名:DISPERBYK-161、ビックケミー・ジャパン(株)製)1質量部、湿潤分散剤2(製品名:DISPERBYK-111、ビックケミー・ジャパン(株)製)2質量部、シランカップリング剤(製品名:KBM-403、信越化学(株)製)1質量部、2,4,5-トリフェニルイミダゾール(東京化成工業(株)製)0.5質量部を配合して混合し、その後メチルエチルケトンで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスBを得た。得られたワニスB(樹脂組成物)を、バーコーターによって上述の方法で得られた樹脂付き銅箔の第1の樹脂層側に塗布して塗布膜を得た。次いで、塗布膜を150℃で10分間加熱乾燥することによって、基材側から第1の樹脂層と第2の樹脂層とをこの順に有する絶縁性樹脂層付き基材(樹脂シート)を得た。第1の樹脂層の厚さは1.8μm、第2の樹脂層の厚さは1.6μmであった。Next, biphenyl aralkyl phenolic resin (product name: KAYAHARD GPH-103, hydroxyl equivalent: 231 g/eq., manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 36 parts by mass, biphenyl aralkyl type epoxy resin (product name: NC-3000-FH, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent: 320 g/eq.) 39 parts by mass, naphthalene aralkyl type epoxy resin (product name: HP-9900, epoxy equivalent: 274 g/eq., manufactured by DIC Corporation) 7 parts by mass, bis(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidophenyl)methane (product name: BMI-70, manufactured by K.I. Kasei Co., Ltd.) 18 parts by mass, slurry silica (product name: SC2050-MB, average particle size 0.7 μm, manufactured by Admatechs Co., Ltd.) 350 parts by mass, styrene butadiene rubber (product name: JSR 20 parts by weight of wetting and dispersing agent 1 (product name: DISPERBYK-161, manufactured by BYK Japan KK), 1 part by weight of wetting and dispersing agent 2 (product name: DISPERBYK-111, manufactured by BYK Japan KK), 2 parts by weight of silane coupling agent (product name: KBM-403, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.), and 0.5 parts by weight of 2,4,5-triphenylimidazole (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) were blended and mixed, and then diluted with methyl ethyl ketone to obtain a resin composition solution, Varnish B. The obtained Varnish B (resin composition) was applied to the first resin layer side of the resin-coated copper foil obtained by the above-mentioned method using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then dried by heating at 150°C for 10 minutes to obtain a substrate (resin sheet) with an insulating resin layer, which had a first resin layer and a second resin layer in this order from the substrate side. The thickness of the first resin layer was 1.8 µm, and the thickness of the second resin layer was 1.6 µm.
[実施例10]
ブロック共重合ポリイミド(製品名:YN-003N、ピーアイ技術研究所製)60質量部、2,2-ビス-{4-(4-マレイミドフェノキシ)フェニル}プロパン(製品名:BMI-80、ケイ・アイ化成(株)製)40質量部、球状シリカ(製品名:SO-C1、平均粒径0.3μm、アドマテックス(株)製)60質量部、湿潤分散剤(製品名:BYK-W903、ビックケミー・ジャパン(株)製)0.2質量部を配合して混合し、その後、NMPで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスAを得た。得られたワニスAを、バーコーターによって12μm厚の銅箔(製品名:3EC-M2S-VLP、三井金属鉱業(株)製)のマット面側に塗布し塗布膜を得た。次いで、塗布膜を180℃で10分間加熱乾燥することによって、第1の樹脂層を銅箔上に形成した樹脂付き銅箔を得た。
[Example 10]
60 parts by mass of block copolymer polyimide (product name: YN-003N, manufactured by PI Technical Research Institute), 40 parts by mass of 2,2-bis-{4-(4-maleimidophenoxy)phenyl}propane (product name: BMI-80, manufactured by K.I. Chemical Co., Ltd.), 60 parts by mass of spherical silica (product name: SO-C1, average particle size 0.3 μm, manufactured by Admatechs Co., Ltd.), and 0.2 parts by mass of a wetting dispersant (product name: BYK-W903, manufactured by BYK Japan Co., Ltd.) were blended and mixed, and then diluted with NMP to obtain a resin composition solution, Varnish A. The obtained Varnish A was applied to the matte side of a 12 μm thick copper foil (product name: 3EC-M2S-VLP, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then dried by heating at 180° C. for 10 minutes to obtain a resin-coated copper foil having a first resin layer formed on the copper foil.
次に、ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂(製品名:KAYAHARD GPH-103、水酸基当量:231g/eq.、日本化薬(株)製)36質量部、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:NC-3000-FH、日本化薬(株)製、エポキシ当量:320g/eq.)39質量部、ナフタレンアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:HP-9900、エポキシ当量:274g/eq.、DIC(株)製)7質量部、ビス(3-エチル-5-メチル-4-マレイミドフェニル)メタン(製品名:BMI-70、ケイ・アイ化成(株)製)18質量部、2,4,5-トリフェニルイミダゾール(東京化成工業(株)製)0.5質量部を配合して混合し、その後メチルエチルケトンで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスBを得た。得られたワニスBを、バーコーターによって上述の方法で得られた樹脂付き銅箔の第1の樹脂層側に塗布して塗布膜を得た。次いで、塗布膜を150℃で10分間加熱乾燥することによって、基材側から第1の樹脂層と第2の樹脂層とをこの順に有する絶縁性樹脂層付き基材(樹脂シート)を得た。第1の樹脂層の厚さは2.5μm、第2の樹脂層の厚さは23.2μmであった。Next, biphenyl aralkyl phenolic resin (product name: KAYAHARD GPH-103, hydroxyl group equivalent: 231 g/eq., manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 36 parts by mass, biphenylaralkyl type epoxy resin (product name: NC-3000-FH, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent: 320 g/eq.) 39 parts by mass, naphthalenearalkyl type epoxy resin (product name: HP-9900, epoxy equivalent: 274 g/eq., manufactured by DIC Corporation) 7 parts by mass, bis(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidophenyl)methane (product name: BMI-70, manufactured by K.I. Kasei Co., Ltd.) 18 parts by mass, and 2,4,5-triphenylimidazole (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) 0.5 parts by mass were blended and mixed, and then diluted with methyl ethyl ketone to obtain varnish B, which is a solution of the resin composition. The resulting varnish B was applied to the first resin layer side of the resin-coated copper foil obtained by the above method using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then heated and dried at 150°C for 10 minutes to obtain a substrate (resin sheet) with an insulating resin layer having a first resin layer and a second resin layer in this order from the substrate side. The thickness of the first resin layer was 2.5 μm, and the thickness of the second resin layer was 23.2 μm.
[実施例11]
ブロック共重合ポリイミド(製品名:YN-003N、ピーアイ技術研究所製)60質量部、2,2-ビス-{4-(4-マレイミドフェノキシ)フェニル}プロパン(製品名:BMI-80、ケイ・アイ化成(株)製)40質量部、球状シリカ(製品名:SO-C1、平均粒径0.3μm、アドマテックス(株)製)60質量部、湿潤分散剤(製品名:BYK-W903、ビックケミー・ジャパン(株)製)0.2質量部を配合して混合し、その後、NMPで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスAを得た。得られたワニスAを、バーコーターによって12μm厚の銅箔(製品名:3EC-M2S-VLP、三井金属鉱業(株)製)のマット面側に塗布し塗布膜を得た。次いで、塗布膜を180℃で10分間加熱乾燥することによって、第1の樹脂層を銅箔上に形成した樹脂付き銅箔を得た。
[Example 11]
60 parts by mass of block copolymer polyimide (product name: YN-003N, manufactured by PI Technical Research Institute), 40 parts by mass of 2,2-bis-{4-(4-maleimidophenoxy)phenyl}propane (product name: BMI-80, manufactured by K.I. Chemical Co., Ltd.), 60 parts by mass of spherical silica (product name: SO-C1, average particle size 0.3 μm, manufactured by Admatechs Co., Ltd.), and 0.2 parts by mass of a wetting dispersant (product name: BYK-W903, manufactured by BYK Japan Co., Ltd.) were blended and mixed, and then diluted with NMP to obtain a resin composition solution, Varnish A. The obtained Varnish A was applied to the matte side of a 12 μm thick copper foil (product name: 3EC-M2S-VLP, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then dried by heating at 180° C. for 10 minutes to obtain a resin-coated copper foil having a first resin layer formed on the copper foil.
次に、ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂(製品名:KAYAHARD GPH-103、水酸基当量:231g/eq.、日本化薬(株)製)36質量部、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:NC-3000-FH、日本化薬(株)製、エポキシ当量:320g/eq.)39質量部、ナフタレンアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:HP-9900、エポキシ当量:274g/eq.、DIC(株)製)7質量部、ビス(3-エチル-5-メチル-4-マレイミドフェニル)メタン(製品名:BMI-70、ケイ・アイ化成(株)製)18質量部、2,4,5-トリフェニルイミダゾール(東京化成工業(株)製)0.5質量部を配合して混合し、その後メチルエチルケトンで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスBを得た。得られたワニスBを、バーコーターによって上述の方法で得られた樹脂付き銅箔の第1の樹脂層側に塗布して塗布膜を得た。次いで、塗布膜を150℃で10分間加熱乾燥することによって、基材側から第1の樹脂層と第2の樹脂層とをこの順に有する絶縁性樹脂層付き基材(樹脂シート)を得た。第1の樹脂層の厚さは2.5μm、第2の樹脂層の厚さは17.9μmであった。Next, biphenyl aralkyl phenolic resin (product name: KAYAHARD GPH-103, hydroxyl group equivalent: 231 g/eq., manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 36 parts by mass, biphenylaralkyl type epoxy resin (product name: NC-3000-FH, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent: 320 g/eq.) 39 parts by mass, naphthalenearalkyl type epoxy resin (product name: HP-9900, epoxy equivalent: 274 g/eq., manufactured by DIC Corporation) 7 parts by mass, bis(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidophenyl)methane (product name: BMI-70, manufactured by K.I. Kasei Co., Ltd.) 18 parts by mass, and 2,4,5-triphenylimidazole (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) 0.5 parts by mass were blended and mixed, and then diluted with methyl ethyl ketone to obtain varnish B, which is a solution of the resin composition. The resulting varnish B was applied to the first resin layer side of the resin-coated copper foil obtained by the above method using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then heated and dried at 150°C for 10 minutes to obtain a substrate (resin sheet) with an insulating resin layer having a first resin layer and a second resin layer in this order from the substrate side. The thickness of the first resin layer was 2.5 μm, and the thickness of the second resin layer was 17.9 μm.
[実施例12]
ブロック共重合ポリイミド(製品名:YN-003N、ピーアイ技術研究所製)60質量部、2,2-ビス-{4-(4-マレイミドフェノキシ)フェニル}プロパン(製品名:BMI-80、ケイ・アイ化成(株)製)40質量部、球状シリカ(製品名:SO-C1、平均粒径0.3μm、アドマテックス(株)製)60質量部、湿潤分散剤(製品名:BYK-W903、ビックケミー・ジャパン(株)製)0.2質量部を配合して混合し、その後、NMPで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスAを得た。得られたワニスAを、バーコーターによって12μm厚の銅箔(製品名:3EC-M2S-VLP、三井金属鉱業(株)製)のマット面側に塗布し塗布膜を得た。次いで、塗布膜を180℃で10分間加熱乾燥することによって、第1の樹脂層を銅箔上に形成した樹脂付き銅箔を得た。
[Example 12]
60 parts by mass of block copolymer polyimide (product name: YN-003N, manufactured by PI Technical Research Institute), 40 parts by mass of 2,2-bis-{4-(4-maleimidophenoxy)phenyl}propane (product name: BMI-80, manufactured by K.I. Chemical Co., Ltd.), 60 parts by mass of spherical silica (product name: SO-C1, average particle size 0.3 μm, manufactured by Admatechs Co., Ltd.), and 0.2 parts by mass of a wetting dispersant (product name: BYK-W903, manufactured by BYK Japan Co., Ltd.) were blended and mixed, and then diluted with NMP to obtain a resin composition solution, Varnish A. The obtained Varnish A was applied to the matte side of a 12 μm thick copper foil (product name: 3EC-M2S-VLP, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then dried by heating at 180° C. for 10 minutes to obtain a resin-coated copper foil having a first resin layer formed on the copper foil.
次に、ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂(製品名:KAYAHARD GPH-103、水酸基当量:231g/eq.、日本化薬(株)製)36質量部、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:NC-3000-FH、日本化薬(株)製、エポキシ当量:320g/eq.)39質量部、ナフタレンアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:HP-9900、エポキシ当量:274g/eq.、DIC(株)製)7質量部、ビス(3-エチル-5-メチル-4-マレイミドフェニル)メタン(製品名:BMI-70、ケイ・アイ化成(株)製)18質量部、2,4,5-トリフェニルイミダゾール(東京化成工業(株)製)0.5質量部を配合して混合し、その後メチルエチルケトンで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスBを得た。得られたワニスBを、バーコーターによって上述の方法で得られた樹脂付き銅箔の第1の樹脂層側に塗布して塗布膜を得た。次いで、塗布膜を150℃で10分間加熱乾燥することによって、基材側から第1の樹脂層と第2の樹脂層とをこの順に有する絶縁性樹脂層付き基材(樹脂シート)を得た。第1の樹脂層の厚さは2.5μm、第2の樹脂層の厚さは14.3μmであった。Next, biphenyl aralkyl phenolic resin (product name: KAYAHARD GPH-103, hydroxyl group equivalent: 231 g/eq., manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 36 parts by mass, biphenylaralkyl type epoxy resin (product name: NC-3000-FH, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent: 320 g/eq.) 39 parts by mass, naphthalenearalkyl type epoxy resin (product name: HP-9900, epoxy equivalent: 274 g/eq., manufactured by DIC Corporation) 7 parts by mass, bis(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidophenyl)methane (product name: BMI-70, manufactured by K.I. Kasei Co., Ltd.) 18 parts by mass, and 2,4,5-triphenylimidazole (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) 0.5 parts by mass were blended and mixed, and then diluted with methyl ethyl ketone to obtain varnish B, which is a solution of the resin composition. The resulting varnish B was applied to the first resin layer side of the resin-coated copper foil obtained by the above method using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then heated and dried at 150°C for 10 minutes to obtain a substrate (resin sheet) with an insulating resin layer having a first resin layer and a second resin layer in this order from the substrate side. The thickness of the first resin layer was 2.5 μm, and the thickness of the second resin layer was 14.3 μm.
[実施例13]
ブロック共重合ポリイミド(製品名:YN-003N、ピーアイ技術研究所製)60質量部、2,2-ビス-{4-(4-マレイミドフェノキシ)フェニル}プロパン(製品名:BMI-80、ケイ・アイ化成(株)製)40質量部、球状シリカ(製品名:SO-C1、平均粒径0.3μm、アドマテックス(株)製)60質量部、湿潤分散剤(製品名:BYK-W903、ビックケミー・ジャパン(株)製)0.2質量部を配合して混合し、その後、NMPで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスAを得た。得られたワニスAを、バーコーターによって12μm厚の銅箔(製品名:3EC-M2S-VLP、三井金属鉱業(株)製)のマット面側に塗布し塗布膜を得た。次いで、塗布膜を180℃で10分間加熱乾燥することによって、第1の樹脂層を銅箔上に形成した樹脂付き銅箔を得た。
[Example 13]
60 parts by mass of block copolymer polyimide (product name: YN-003N, manufactured by PI Technical Research Institute), 40 parts by mass of 2,2-bis-{4-(4-maleimidophenoxy)phenyl}propane (product name: BMI-80, manufactured by K.I. Chemical Co., Ltd.), 60 parts by mass of spherical silica (product name: SO-C1, average particle size 0.3 μm, manufactured by Admatechs Co., Ltd.), and 0.2 parts by mass of a wetting dispersant (product name: BYK-W903, manufactured by BYK Japan Co., Ltd.) were blended and mixed, and then diluted with NMP to obtain a resin composition solution, Varnish A. The obtained Varnish A was applied to the matte side of a 12 μm thick copper foil (product name: 3EC-M2S-VLP, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then dried by heating at 180° C. for 10 minutes to obtain a resin-coated copper foil having a first resin layer formed on the copper foil.
次に、ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂(製品名:KAYAHARD GPH-103、水酸基当量:231g/eq.、日本化薬(株)製)36質量部、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:NC-3000-FH、日本化薬(株)製、エポキシ当量:320g/eq.)39質量部、ナフタレンアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:HP-9900、エポキシ当量:274g/eq.、DIC(株)製)7質量部、ビス(3-エチル-5-メチル-4-マレイミドフェニル)メタン(製品名:BMI-70、ケイ・アイ化成(株)製)18質量部、2,4,5-トリフェニルイミダゾール(東京化成工業(株)製)0.5質量部を配合して混合し、その後メチルエチルケトンで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスBを得た。得られたワニスBを、バーコーターによって上述の方法で得られた樹脂付き銅箔の第1の樹脂層側に塗布して塗布膜を得た。次いで、塗布膜を150℃で10分間加熱乾燥することによって、基材側から第1の樹脂層と第2の樹脂層とをこの順に有する絶縁性樹脂層付き基材(樹脂シート)を得た。第1の樹脂層の厚さは2.5μm、第2の樹脂層の厚さは4.5μmであった。Next, biphenyl aralkyl phenolic resin (product name: KAYAHARD GPH-103, hydroxyl group equivalent: 231 g/eq., manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 36 parts by mass, biphenylaralkyl type epoxy resin (product name: NC-3000-FH, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent: 320 g/eq.) 39 parts by mass, naphthalenearalkyl type epoxy resin (product name: HP-9900, epoxy equivalent: 274 g/eq., manufactured by DIC Corporation) 7 parts by mass, bis(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidophenyl)methane (product name: BMI-70, manufactured by K.I. Kasei Co., Ltd.) 18 parts by mass, and 2,4,5-triphenylimidazole (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) 0.5 parts by mass were blended and mixed, and then diluted with methyl ethyl ketone to obtain varnish B, which is a solution of the resin composition. The resulting varnish B was applied to the first resin layer side of the resin-coated copper foil obtained by the above method using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then heated and dried at 150°C for 10 minutes to obtain a substrate (resin sheet) with an insulating resin layer having a first resin layer and a second resin layer in this order from the substrate side. The thickness of the first resin layer was 2.5 μm, and the thickness of the second resin layer was 4.5 μm.
[比較例1]
ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂(製品名:KAYAHARD GPH-103、水酸基当量:231g/eq.、日本化薬(株)製)36質量部、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:NC-3000-FH、日本化薬(株)製、エポキシ当量:320g/eq.)39質量部、ナフタレンアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:HP-9900、エポキシ当量:274g/eq.、DIC(株)製)7質量部、ビス(3-エチル-5-メチル-4-マレイミドジフェニル)メタン(製品名:BMI-70、ケイ・アイ化成(株)製)18質量部、2,4,5-トリフェニルイミダゾール(東京化成工業(株)製)0.5質量部を配合して混合し、その後メチルエチルケトンで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスAを得た。得られたワニスAを、バーコーターによって12μm厚の銅箔(製品名:3EC-M2S-VLP、三井金属鉱業(株)製)のマット面側に塗布し塗布膜を得た。次いで、塗布膜を150℃で10分間加熱乾燥することによって、第1の樹脂層を銅箔上に形成した樹脂付き銅箔を得た。
[Comparative Example 1]
Biphenyl aralkyl phenolic resin (product name: KAYAHARD) GPH-103, hydroxyl group equivalent: 231 g/eq., manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 36 parts by mass, biphenylaralkyl type epoxy resin (product name: NC-3000-FH, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent: 320 g/eq.) 39 parts by mass, naphthalenearalkyl type epoxy resin (product name: HP-9900, epoxy equivalent: 274 g/eq., manufactured by DIC Corporation) 7 parts by mass, bis(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidodiphenyl)methane (product name: BMI-70, manufactured by K.I. Kasei Co., Ltd.) 18 parts by mass, and 2,4,5-triphenylimidazole (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) 0.5 parts by mass were blended and mixed, and then diluted with methyl ethyl ketone to obtain varnish A, which is a solution of a resin composition. The obtained varnish A was applied to the matte side of a 12 μm thick copper foil (product name: 3EC-M2S-VLP, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then dried by heating at 150° C. for 10 minutes to obtain a resin-coated copper foil having a first resin layer formed on the copper foil.
ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂(製品名:KAYAHARD GPH-103、水酸基当量:231g/eq.、日本化薬(株)製)36質量部、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:NC-3000-FH、日本化薬(株)製、エポキシ当量:320g/eq.)39質量部、ナフタレンアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:HP-9900、エポキシ当量:274g/eq.、DIC(株)製)7質量部、ビス(3-エチル-5-メチル-4-マレイミドジフェニル)メタン(製品名:BMI-70、ケイ・アイ化成(株)製)18質量部、スラリーシリカ(製品名:SC2050-MB、平均粒径0.7μm、アドマテックス(株)製)300質量部、スチレンブタジエンゴム(製品名:JSR TR2003、JSR(株)製)20質量部、湿潤分散剤1(製品名:DISPERBYK-161、ビックケミー・ジャパン(株)製)1質量部、湿潤分散剤2(製品名:DISPERBYK-111、ビックケミー・ジャパン(株)製)2質量部、シランカップリング剤(製品名:KBM-403、信越化学(株)製)1質量部、2,4,5-トリフェニルイミダゾール(東京化成工業(株)製)0.5質量部を配合して混合し、その後メチルエチルケトンで希釈して樹脂組成物であるワニスBを得た。得られたワニスBを、バーコーターによって上述の方法で得られた樹脂付き銅箔の第1の樹脂層側に塗布して塗布膜を得た。次いで、塗布膜を150℃で10分間加熱乾燥することによって、基材側から第1の樹脂層と第2の樹脂層とをこの順に有する絶縁性樹脂層付き基材(樹脂シート)を得た。第1の樹脂層の厚さは約2.0μm、第2の樹脂層の厚さは5.1μmであった。 Biphenyl aralkyl phenolic resin (product name: KAYAHARD) GPH-103, hydroxyl equivalent: 231 g/eq., manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 36 parts by mass, biphenyl aralkyl type epoxy resin (product name: NC-3000-FH, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent: 320 g/eq.) 39 parts by mass, naphthalene aralkyl type epoxy resin (product name: HP-9900, epoxy equivalent: 274 g/eq., manufactured by DIC Corporation) 7 parts by mass, bis(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidodiphenyl)methane (product name: BMI-70, manufactured by K.I. Kasei Co., Ltd.) 18 parts by mass, slurry silica (product name: SC2050-MB, average particle size 0.7 μm, manufactured by Admatechs Co., Ltd.) 300 parts by mass, styrene butadiene rubber (product name: JSR 20 parts by mass of wetting and dispersing agent 1 (product name: DISPERBYK-161, manufactured by BYK Japan K.K.), 2 parts by mass of wetting and dispersing agent 2 (product name: DISPERBYK-111, manufactured by BYK Japan K.K.), 1 part by mass of silane coupling agent (product name: KBM-403, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.), and 0.5 parts by mass of 2,4,5-triphenylimidazole (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) were blended and mixed, and then diluted with methyl ethyl ketone to obtain a resin composition, Varnish B. The resulting Varnish B was applied to the first resin layer side of the resin-coated copper foil obtained by the above-mentioned method using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then heated and dried at 150°C for 10 minutes to obtain a substrate (resin sheet) with an insulating resin layer, having a first resin layer and a second resin layer in this order from the substrate side. The first resin layer had a thickness of about 2.0 μm, and the second resin layer had a thickness of 5.1 μm.
[比較例2]
ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂(製品名:KAYAHARD GPH-103、水酸基当量:231g/eq.、日本化薬(株)製)36質量部、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:NC-3000-FH、日本化薬(株)製、エポキシ当量:320g/eq.)39質量部、ナフタレンアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:HP-9900、エポキシ当量:274g/eq.、DIC(株)製)7質量部、ビス(3-エチル-5-メチル-4-マレイミドジフェニル)メタン(製品名:BMI-70、ケイ・アイ化成(株)製)18質量部、2,4,5-トリフェニルイミダゾール(東京化成工業(株)製)0.5質量部を配合して混合し、その後、メチルエチルケトンで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスAを得た。得られたワニスAを、バーコーターによって12μm厚の銅箔(製品名:3EC-M2S-VLP、三井金属鉱業(株)製)のマット面側に塗布し塗布膜を得た。次いで、塗布膜を150℃で10分間加熱乾燥することによって、第1の樹脂層を銅箔上に形成した樹脂付き銅箔を得た。
[Comparative Example 2]
Biphenyl aralkyl phenolic resin (product name: KAYAHARD) GPH-103, hydroxyl group equivalent: 231 g/eq., manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 36 parts by mass, biphenylaralkyl type epoxy resin (product name: NC-3000-FH, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent: 320 g/eq.) 39 parts by mass, naphthalenearalkyl type epoxy resin (product name: HP-9900, epoxy equivalent: 274 g/eq., manufactured by DIC Corporation) 7 parts by mass, bis(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidodiphenyl)methane (product name: BMI-70, manufactured by K.I. Kasei Co., Ltd.) 18 parts by mass, and 2,4,5-triphenylimidazole (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) 0.5 parts by mass were blended and mixed, and then diluted with methyl ethyl ketone to obtain varnish A, which is a solution of a resin composition. The obtained varnish A was applied to the matte side of a 12 μm thick copper foil (product name: 3EC-M2S-VLP, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then dried by heating at 150° C. for 10 minutes to obtain a resin-coated copper foil having a first resin layer formed on the copper foil.
次に、ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂(製品名:KAYAHARD GPH-103、水酸基当量:231g/eq.、日本化薬(株)製)36質量部、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:NC-3000-FH、日本化薬(株)製、エポキシ当量:320g/eq.)39質量部、ナフタレンアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:HP-9900、エポキシ当量:274g/eq.、DIC(株)製)7質量部、ビス(3-エチル-5-メチル-4-マレイミドジフェニル)メタン(製品名:BMI-70、ケイ・アイ化成(株)製)18質量部、スラリーシリカ(製品名:SC2050-MB、平均粒径0.7μm、アドマテックス(株)製)420質量部、スチレンブタジエンゴム(製品名:JSR TR2003、JSR(株)製)40質量部、湿潤分散剤1(製品名:DISPERBYK-161、ビックケミー・ジャパン(株)製)1質量部、湿潤分散剤2(製品名:DISPERBYK-111、ビックケミー・ジャパン(株)製)2質量部、シランカップリング剤(製品名:KBM-403、信越化学(株)製)1質量部、2,4,5-トリフェニルイミダゾール(東京化成工業(株)製)0.5質量部を配合して混合し、その後、メチルエチルケトンで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスBを得た。得られたワニスBを、バーコーターによって上述の方法で得られた樹脂付き銅箔の第1の樹脂層側に塗布して塗布膜を得た。次いで、塗布膜を150℃で10分間加熱乾燥することによって、基材側から第1の樹脂層と第2の樹脂層とをこの順に有する絶縁性樹脂層付き基材(樹脂シート)を得た。第1の樹脂層の厚さは2.0μm、第2の樹脂層の厚さは4.3μmであった。Next, biphenyl aralkyl phenolic resin (product name: KAYAHARD GPH-103, hydroxyl group equivalent: 231 g/eq., manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 36 parts by mass, biphenyl aralkyl type epoxy resin (product name: NC-3000-FH, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent: 320 g/eq.) 39 parts by mass, naphthalene aralkyl type epoxy resin (product name: HP-9900, epoxy equivalent: 274 g/eq., manufactured by DIC Corporation) 7 parts by mass, bis(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidodiphenyl)methane (product name: BMI-70, manufactured by K.I. Kasei Co., Ltd.) 18 parts by mass, slurry silica (product name: SC2050-MB, average particle size 0.7 μm, manufactured by Admatechs Co., Ltd.) 420 parts by mass, styrene butadiene rubber (product name: JSR 40 parts by weight of wetting and dispersing agent 1 (product name: DISPERBYK-161, manufactured by BYK Japan KK), 1 part by weight of wetting and dispersing agent 2 (product name: DISPERBYK-111, manufactured by BYK Japan KK), 2 parts by weight of silane coupling agent (product name: KBM-403, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.), and 0.5 parts by weight of 2,4,5-triphenylimidazole (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) were blended and mixed, and then diluted with methyl ethyl ketone to obtain a resin composition solution, Varnish B. The obtained Varnish B was applied to the first resin layer side of the resin-coated copper foil obtained by the above-mentioned method using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then dried by heating at 150°C for 10 minutes to obtain a substrate (resin sheet) with an insulating resin layer, which had a first resin layer and a second resin layer in this order from the substrate side. The thickness of the first resin layer was 2.0 µm, and the thickness of the second resin layer was 4.3 µm.
[比較例3]
ブロック共重合ポリイミド(製品名:YN-003N、ピーアイ技術研究所製)60質量部、2,2-ビス-{4-(4-マレイミドフェノキシ)フェニル}プロパン(製品名:BMI-80、ケイ・アイ化成(株)製)40質量部を配合して混合し、その後、NMPで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスAを得た。得られたワニスAを、バーコーターによって12μm厚の銅箔(製品名:3EC-M2S-VLP、三井金属鉱業(株)製)のマット面側に塗布し塗布膜を得た。次いで、塗布膜を180℃で10分間加熱乾燥することによって、第1の樹脂層を銅箔上に形成した樹脂付き銅箔を得た。
[Comparative Example 3]
60 parts by mass of a block copolymer polyimide (product name: YN-003N, manufactured by PI Technical Research Institute) and 40 parts by mass of 2,2-bis-{4-(4-maleimidophenoxy)phenyl}propane (product name: BMI-80, manufactured by K.I. Chemical Co., Ltd.) were blended and mixed, and then diluted with NMP to obtain a resin composition solution, Varnish A. The obtained Varnish A was applied to the matte side of a 12 μm thick copper foil (product name: 3EC-M2S-VLP, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then heated and dried at 180°C for 10 minutes to obtain a resin-coated copper foil having a first resin layer formed thereon.
次に、ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂(製品名:KAYAHARD GPH-103、水酸基当量:231g/eq.、日本化薬(株)製)36質量部、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:NC-3000-FH、日本化薬(株)製、エポキシ当量:320g/eq.)39質量部、ナフタレンアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:HP-9900、エポキシ当量:274g/eq.、DIC(株)製)7質量部、ビス(3-エチル-5-メチル-4-マレイミドフェニル)メタン(製品名:BMI-70、ケイ・アイ化成(株)製)18質量部、スラリーシリカ(製品名:SC2050-MB、平均粒径0.7μm、アドマテックス(株)製)300質量部、スチレンブタジエンゴム(製品名:JSR TR2003、JSR(株)製)20質量部、湿潤分散剤1(製品名:DISPERBYK-161、ビックケミー・ジャパン(株)製)1質量部、湿潤分散剤2(製品名:DISPERBYK-111、ビックケミー・ジャパン(株)製)2質量部、シランカップリング剤(製品名:KBM-403、信越化学(株)製)1質量部、2,4,5-トリフェニルイミダゾール(東京化成工業(株)製)0.5質量部を配合して混合し、その後メチルエチルケトンで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスBを得た。得られたワニスB(樹脂組成物)を、バーコーターによって上述の方法で得られた樹脂付き銅箔の第1の樹脂層側に塗布して塗布膜を得た。次いで、塗布膜を150℃で10分間加熱乾燥することによって、基材側から第1の樹脂層と第2の樹脂層とをこの順に有する絶縁性樹脂層付き基材(樹脂シート)を得た。第1の樹脂層の厚さは2.5μm、第2の樹脂層の厚さは5.1μmであった。Next, biphenyl aralkyl phenolic resin (product name: KAYAHARD GPH-103, hydroxyl equivalent: 231 g/eq., manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 36 parts by mass, biphenyl aralkyl type epoxy resin (product name: NC-3000-FH, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent: 320 g/eq.) 39 parts by mass, naphthalene aralkyl type epoxy resin (product name: HP-9900, epoxy equivalent: 274 g/eq., manufactured by DIC Corporation) 7 parts by mass, bis(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidophenyl)methane (product name: BMI-70, manufactured by K.I. Kasei Co., Ltd.) 18 parts by mass, slurry silica (product name: SC2050-MB, average particle size 0.7 μm, manufactured by Admatechs Co., Ltd.) 300 parts by mass, styrene butadiene rubber (product name: JSR 20 parts by weight of wetting and dispersing agent 1 (product name: DISPERBYK-161, manufactured by BYK Japan KK), 1 part by weight of wetting and dispersing agent 2 (product name: DISPERBYK-111, manufactured by BYK Japan KK), 2 parts by weight of silane coupling agent (product name: KBM-403, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.), and 0.5 parts by weight of 2,4,5-triphenylimidazole (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) were blended and mixed, and then diluted with methyl ethyl ketone to obtain a resin composition solution, Varnish B. The obtained Varnish B (resin composition) was applied to the first resin layer side of the resin-coated copper foil obtained by the above-mentioned method using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then dried by heating at 150°C for 10 minutes to obtain a substrate (resin sheet) with an insulating resin layer, which had a first resin layer and a second resin layer in this order from the substrate side. The thickness of the first resin layer was 2.5 µm, and the thickness of the second resin layer was 5.1 µm.
[比較例4]
ブロック共重合ポリイミド(製品名:YN-003N、ピーアイ技術研究所製)30質量部、2,2-ビス-{4-(4-マレイミドフェノキシ)フェニル}プロパン(製品名:BMI-80、ケイ・アイ化成(株)製)60質量部を配合して混合し、その後、NMPで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスAを得た。得られたワニスAを、バーコーターによって12μm厚の銅箔(製品名:3EC-M2S-VLP、三井金属鉱業(株)製)のマット面側に塗布し塗布膜を得た。次いで、塗布膜を180℃で10分間加熱乾燥することによって、第1の樹脂層を銅箔上に形成した樹脂付き銅箔を得た。
[Comparative Example 4]
30 parts by mass of a block copolymer polyimide (product name: YN-003N, manufactured by PI Technical Research Institute) and 60 parts by mass of 2,2-bis-{4-(4-maleimidophenoxy)phenyl}propane (product name: BMI-80, manufactured by K.I. Chemical Co., Ltd.) were blended and mixed, and then diluted with NMP to obtain a resin composition solution, Varnish A. The obtained Varnish A was applied to the matte side of a 12 μm thick copper foil (product name: 3EC-M2S-VLP, manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.) using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then heated and dried at 180°C for 10 minutes to obtain a resin-coated copper foil having a first resin layer formed thereon.
次に、ビフェニルアラルキル型フェノール樹脂(製品名:KAYAHARD GPH-103、水酸基当量:231g/eq.、日本化薬(株)製)36質量部、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:NC-3000-FH、日本化薬(株)製、エポキシ当量:320g/eq.)39質量部、ナフタレンアラルキル型エポキシ樹脂(製品名:HP-9900、エポキシ当量:274g/eq.、DIC(株)製)7質量部、ビス(3-エチル-5-メチル-4-マレイミドフェニル)メタン(製品名:BMI-70、ケイ・アイ化成(株)製)18質量部、スラリーシリカ(製品名:SC2050-MB、平均粒径0.7μm、アドマテックス(株)製)300質量部、スチレンブタジエンゴム(製品名:JSR TR2003、JSR(株)製)20質量部、湿潤分散剤1(製品名:DISPERBYK-161、ビックケミー・ジャパン(株)製)1質量部、湿潤分散剤2(製品名:DISPERBYK-111、ビックケミー・ジャパン(株)製)2質量部、シランカップリング剤(製品名:KBM-403、信越化学(株)製)1質量部、2,4,5-トリフェニルイミダゾール(東京化成工業(株)製)0.5質量部を配合して混合し、その後メチルエチルケトンで希釈して樹脂組成物の溶液であるワニスBを得た。得られたワニスB(樹脂組成物)を、バーコーターによって上述の方法で得られた樹脂付き銅箔の第1の樹脂層側に塗布して塗布膜を得た。次いで、塗布膜を150℃で10分間加熱乾燥することによって、基材側から第1の樹脂層と第2の樹脂層とをこの順に有する絶縁性樹脂層付き基材(樹脂シート)を得た。第1の樹脂層の厚さは4μm、第2の樹脂層の厚さは5.1μmであった。Next, biphenyl aralkyl phenolic resin (product name: KAYAHARD GPH-103, hydroxyl equivalent: 231 g/eq., manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 36 parts by mass, biphenyl aralkyl type epoxy resin (product name: NC-3000-FH, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., epoxy equivalent: 320 g/eq.) 39 parts by mass, naphthalene aralkyl type epoxy resin (product name: HP-9900, epoxy equivalent: 274 g/eq., manufactured by DIC Corporation) 7 parts by mass, bis(3-ethyl-5-methyl-4-maleimidophenyl)methane (product name: BMI-70, manufactured by K.I. Kasei Co., Ltd.) 18 parts by mass, slurry silica (product name: SC2050-MB, average particle size 0.7 μm, manufactured by Admatechs Co., Ltd.) 300 parts by mass, styrene butadiene rubber (product name: JSR 20 parts by weight of wetting and dispersing agent 1 (product name: DISPERBYK-161, manufactured by BYK Japan KK), 1 part by weight of wetting and dispersing agent 2 (product name: DISPERBYK-111, manufactured by BYK Japan KK), 2 parts by weight of silane coupling agent (product name: KBM-403, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.), and 0.5 parts by weight of 2,4,5-triphenylimidazole (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) were blended and mixed, and then diluted with methyl ethyl ketone to obtain a resin composition solution, Varnish B. The obtained Varnish B (resin composition) was applied to the first resin layer side of the resin-coated copper foil obtained by the above-mentioned method using a bar coater to obtain a coating film. The coating film was then dried by heating at 150°C for 10 minutes to obtain a substrate (resin sheet) with an insulating resin layer, which had a first resin layer and a second resin layer in this order from the substrate side. The thickness of the first resin layer was 4 µm, and the thickness of the second resin layer was 5.1 µm.
<特性>
絶縁性樹脂層付き基材の特性を以下の方法により測定した。
<Characteristics>
The properties of the substrate with an insulating resin layer were measured by the following methods.
[内層回路基板の作製]
銅残率60%とした内層回路を形成したガラス布基材BT樹脂両面銅張積層板(銅箔厚さ12μm、厚さ0.2mm、三菱ガス化学(株)製、製品名:CCL-HL832NS)の両面の銅箔表面に対して、前処理液(メック(株)製、製品名:CZ8100)にて粗化処理を施し、内層回路基板を得た。
[Fabrication of inner layer circuit board]
The copper foil surfaces on both sides of a glass cloth-based BT resin double-sided copper-clad laminate (copper foil thickness 12 μm, thickness 0.2 mm, manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc., product name: CCL-HL832NS) on which an inner layer circuit with a copper residual ratio of 60% was formed were subjected to a roughening treatment with a pretreatment liquid (manufactured by MEC Co., Ltd., product name: CZ8100) to obtain an inner layer circuit board.
[金属箔張積層板の作製]
2つの絶縁性樹脂層付き基材を、その第2の樹脂層表面を内層回路基板に向けて、内層回路基板を挟むようにして配置した後、圧力3.0MPa、温度220℃で60分間の積層成型を行い、銅張積層板を得た。
[Preparation of metal foil-clad laminate]
The two substrates with insulating resin layers were arranged with the second resin layer surfaces facing the inner layer circuit board, sandwiching the inner layer circuit board, and then laminate molding was performed at a pressure of 3.0 MPa and a temperature of 220°C for 60 minutes to obtain a copper-clad laminate.
[厚み減少量(TΔ)の測定]
上述のようにして得られた銅張積層板を、その積層方向に平行に研磨して断面を露出させることで試料を得た。得られた試料について、走査型電子顕微鏡(SEM)にて第1の樹脂層の厚さを測定し、絶縁性樹脂層付き基材での第1の樹脂層の厚さと比較することで厚み減少量を評価した。絶縁性樹脂層付き基材の第1の樹脂層の厚さと、銅張積層板の第1の樹脂層の厚さから、上述のようにして第1の樹脂層の厚み減少量(TΔ)を算出した。第2の樹脂層についても、上述のようにして厚み減少量を算出した。
[Measurement of thickness reduction (TΔ)]
The copper-clad laminate obtained as described above was polished parallel to the lamination direction to expose the cross section, thereby obtaining a sample. The thickness of the first resin layer of the obtained sample was measured using a scanning electron microscope (SEM), and the thickness reduction was evaluated by comparing it with the thickness of the first resin layer in the insulating resin layer-attached substrate. The thickness reduction (TΔ) of the first resin layer was calculated as described above from the thickness of the first resin layer in the insulating resin layer-attached substrate and the thickness of the first resin layer in the copper-clad laminate. The thickness reduction of the second resin layer was also calculated as described above.
[プリント配線板の成形性(埋め込み性)]
銅張積層板から両面の銅箔をエッチングにより除去して試料を得た。得られた試料について、目視にて表面を観察してボイドの有無を評価した。ここで、ボイドは、空隙があり樹脂が存在しない領域を意味する。ボイドの存在が多く確認された場合、具体的には、観察エリア中、ボイドの占める面積が樹脂に対して平均で30%以上の場合は、成形ができないものとして「C」と評価した。ボイドの存在が確認されたものの、その数が少ない場合、具体的には、観察エリア中、ボイドの占める面積が樹脂に対して平均で30%未満の場合は、成形可能であるとして「B」と評価した。ボイドの存在が確認されない場合は、良好に成形可能であるとしてAと評価した。結果を表1に示す。
[Formability (embedding) of printed wiring boards]
Copper foils on both sides of the copper-clad laminate were removed by etching to obtain samples. The surfaces of the obtained samples were visually observed to evaluate the presence or absence of voids. Here, voids refer to areas where there are gaps and no resin. If many voids were observed, specifically, if the area occupied by voids in the observation area was 30% or more on average relative to the resin, the sample was evaluated as "C" as it was not moldable. If the presence of voids was confirmed but the number was small, specifically, if the area occupied by voids in the observation area was less than 30% on average relative to the resin, the sample was evaluated as "B" as it was moldable. If no voids were confirmed, the sample was evaluated as "A" as it was well moldable. The results are shown in Table 1.
《樹脂シートの最低溶融粘度》
上述のようにして得られた絶縁性樹脂層付き基材における第2の樹脂層の最低溶融粘度を、レオメータ(ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン株式会社製)を用い、開始温度80℃、終了温度180℃、昇温速度3℃/min、周波数10pts/s、歪0.1%の条件にて測定した。この最低溶融粘度が低いほど、積層板作製時の流れ特性(樹脂フロー性)が良好であり、成形性に優れていることを意味する。第2の樹脂層の最低溶融粘度の結果を表1に示す。
<Minimum melt viscosity of resin sheet>
The minimum melt viscosity of the second resin layer in the substrate with an insulating resin layer obtained as described above was measured using a rheometer (manufactured by TA Instruments Japan Co., Ltd.) under conditions of a starting temperature of 80°C, an ending temperature of 180°C, a heating rate of 3°C/min, a frequency of 10 pts/s, and a strain of 0.1%. The lower this minimum melt viscosity, the better the flow characteristics (resin flow properties) during laminate production and the more excellent the moldability. The results of the minimum melt viscosity of the second resin layer are shown in Table 1.
《絶縁信頼性評価》
(絶縁信頼性評価用内層回路基板の作製)
絶縁信頼性評価用の内層回路をサブトラクティブ法によって形成したガラス布基材BT樹脂両面銅張積層板(銅箔厚さ12μm、厚み0.2mm、三菱ガス化学(株)製、製品名:CCL-HL832NS)の両面の銅箔表面に対して、前処理液(メック(株)製、製品名:CZ8101)にて粗化処理を施し、絶縁信頼性評価用の内層回路基板を得た。
<Insulation reliability evaluation>
(Preparation of inner layer circuit board for insulation reliability evaluation)
An inner layer circuit for evaluating insulation reliability was formed by a subtractive method on a glass fabric-based BT resin double-sided copper-clad laminate (copper foil thickness 12 μm, thickness 0.2 mm, manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc., product name: CCL-HL832NS). The copper foil surfaces on both sides of the laminate were subjected to a roughening treatment with a pretreatment liquid (manufactured by MEC Co., Ltd., product name: CZ8101), to obtain an inner layer circuit board for evaluating insulation reliability.
(絶縁信頼性評価用基板の作製)
絶縁性樹脂層付き基材を、その第2の樹脂層表面を絶縁信頼性評価用の内層回路基板に向けて、内装回路基板を挟むようにして配置した後、圧力3.0MPa、温度220℃で120分間の積層成型を行い、絶縁層の厚さが5μmとなる銅張積層板を得た。その銅張積層板から、サブトラクティブ法により絶縁信頼性評価用の外層回路を作製し、絶縁信頼性評価用基板を得た。
(Preparation of substrate for evaluation of insulation reliability)
The substrate with an insulating resin layer was placed with the second resin layer surface facing the inner layer circuit board for insulation reliability evaluation, so as to sandwich the inner circuit board, and then laminate molding was performed for 120 minutes at a pressure of 3.0 MPa and a temperature of 220°C to obtain a copper-clad laminate with an insulating layer thickness of 5 µm. An outer layer circuit for insulation reliability evaluation was fabricated from the copper-clad laminate by a subtractive method to obtain a substrate for insulation reliability evaluation.
-絶縁信頼性評価方法-
上述の絶縁信頼性評価用基板を、85℃、60%RHの条件下で168時間吸湿処理してから、260℃で3回リフロー処理を行った。リフロー処理後の絶縁信頼性評価用基板について、HAST条件(130℃、85%RH、5.0V)で96時間抵抗値を測定を行った際の最終抵抗値を算出し、測定中の目視と共に以下の基準に従って評価した。
<基準>
「A」:測定中に短絡がなく、最終抵抗値が1.0×108Ω以上である。
「B」:測定中に短絡がなく、最終抵抗値が1.0×108Ω未満である。
「C」:測定中に短絡がある。
結果を表1に示す。
-Insulation reliability evaluation method-
The above-mentioned insulation reliability evaluation substrate was subjected to moisture absorption treatment under conditions of 85° C. and 60% RH for 168 hours, and then to reflow treatment three times at 260° C. For the insulation reliability evaluation substrate after reflow treatment, the resistance value was measured for 96 hours under HAST conditions (130° C., 85% RH, 5.0 V), and the final resistance value was calculated and evaluated according to the following criteria, together with visual inspection during the measurement.
<Standards>
"A": No short circuit occurs during the measurement, and the final resistance is 1.0 x 10 8 Ω or more.
"B": No short circuit occurs during measurement and the final resistance is less than 1.0 x 10 8 Ω.
"C": There is a short circuit during measurement.
The results are shown in Table 1.
表1に示すように、実施例では、絶縁信頼性、及び埋め込み性がB以上と全て優れていた。一方、第1の樹脂層の厚み減少量が30%を超える比較例は、絶縁信頼性がCと低かった。さらに、第2の樹脂層の最低溶融粘度が150,000Pa・sである比較例2は、埋め込み性がCと劣っていた。As shown in Table 1, the examples all had excellent insulation reliability and embeddability, with a rating of B or higher. On the other hand, the comparative examples, in which the thickness reduction of the first resin layer exceeded 30%, had a low insulation reliability rating of C. Furthermore, comparative example 2, in which the minimum melt viscosity of the second resin layer was 150,000 Pa·s, had poor embeddability, with a rating of C.
本発明によると、プリント配線板又は半導体素子搭載用基板用途に有用な絶縁性樹脂層付き基材、並びに、これを用いた積層体及び積層体の製造方法を提供することができ、これらの分野に産業上の利用可能性がある。 The present invention provides a substrate with an insulating resin layer that is useful for printed wiring boards or substrates for mounting semiconductor elements, as well as a laminate and a method for manufacturing a laminate using the same, and has industrial applicability in these fields.
10…樹脂層付き基材、12…基材、14…第1の樹脂層、16…第2の樹脂層、20…内層回路基板、22…基板、24…導体層、30…積層体、100…多層コアレス基板、111,112…絶縁層、113…導体層。
10...substrate with resin layer, 12...substrate, 14...first resin layer, 16...second resin layer, 20...inner layer circuit board, 22...substrate, 24...conductor layer, 30...laminated body, 100...multilayer coreless substrate, 111, 112...insulating layer, 113...conductor layer.
Claims (19)
前記基材上に設けられ、220℃及び3.0MPaの加圧条件下で60分間成形した際の厚み減少量が30%未満である第1の樹脂層と、
前記第1の樹脂層上に設けられた第2の樹脂層と、
を備え、
前記第1の樹脂層が、ポリイミドと、ビスマレイミド化合物と、樹脂固形分100質量部に対して50~500質量部の球状シリカとを含む、絶縁性樹脂層付き基材。 A substrate;
a first resin layer provided on the substrate, the first resin layer having a thickness reduction of less than 30% when molded for 60 minutes under conditions of 220°C and a pressure of 3.0 MPa;
a second resin layer provided on the first resin layer;
Equipped with
The substrate with an insulating resin layer, wherein the first resin layer contains polyimide, a bismaleimide compound, and 50 to 500 parts by mass of spherical silica per 100 parts by mass of resin solids.
The method for producing a laminate according to any one of claims 15 to 18, wherein the laminate is a coreless substrate.
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