JP7739722B2 - Growth condition determination support device, single crystal growth system, growth condition determination support method and program - Google Patents
Growth condition determination support device, single crystal growth system, growth condition determination support method and programInfo
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Description
本発明は、育成条件決定支援装置、単結晶育成システム、育成条件決定支援方法およびプログラムに関する。 The present invention relates to a growth condition determination support device, a single crystal growth system, a growth condition determination support method, and a program.
SAWフィルターの材料となるLT、LN単結晶は、主にチョクラルスキー法(以下、「Cz法」と称す)によって育成されている。Cz法は、坩堝(ルツボ)内の原料融液の表面に、種結晶となる単結晶片を接触させ、種結晶を回転させながら上方に引き上げることにより同一方位の円筒状の単結晶を育成する方法である。Cz法において、結晶の回転速度や引き上げ速度、育成時の温度環境は種類に応じて適切に選定する必要がある。 LT and LN single crystals, which are used to make SAW filters, are primarily grown by the Czochralski method (hereafter referred to as the "Cz method"). The Cz method involves contacting a seed crystal, a single crystal piece, with the surface of the raw material melt in a crucible, and then pulling the seed crystal upward while rotating it to grow a cylindrical single crystal of the same orientation. In the Cz method, the rotation speed and pulling speed of the crystal, as well as the temperature environment during growth, must be appropriately selected depending on the type of crystal.
例えば、特許文献1には、種結晶の融解に関する状態を精度よく評価することを目的として、種結晶が融解する際に測定された測定重量の変動幅に基づいて、種結晶の融解に関する状態の評価をする方法が開示されている。 For example, Patent Document 1 discloses a method for evaluating the state of melting of a seed crystal based on the range of fluctuation in the weight measured as the seed crystal melts, with the aim of accurately evaluating the state of melting of the seed crystal.
従来、坩堝などの育成装置は、使用による劣化等の影響が大きいため、使用回数によって育成される結晶の品質が変わってしまい、品質の正確な予測が困難であるという問題があった。 Conventionally, growth equipment such as crucibles has been subject to significant deterioration due to use, which means that the quality of the grown crystals changes depending on the number of times they are used, making it difficult to accurately predict the quality.
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、結晶の育成装置の使用回数に応じた育成条件の決定を支援することを目的としている。 The present invention was made in consideration of the above circumstances, and aims to assist in determining growth conditions according to the number of times the crystal growth device is used.
上記目的を達成するため、本発明の一態様に係る育成条件決定支援装置は、
結晶の育成条件の決定を支援するための装置であって、
育成条件と結晶の品質情報とが関連付けられた学習データを取得する取得部と、
前記結晶の育成に使用した育成装置の使用回数に応じて分類された前記学習データに基づき、前記関連付けられた前記育成条件を入力及び前記結晶の品質情報を出力とする機械学習によって、前記使用回数ごとの予測モデルを更新する予測モデル学習部と、
前記使用回数ごとの前記予測モデルに育成条件を入力することによって前記育成装置の使用回数ごとの結晶の品質予測値を算出する品質予測値算出部と、
算出された品質予測値に基づいて、出力する育成条件を決定する育成条件決定部と、
を備え、
前記使用回数ごとの前記予測モデルのそれぞれは、ロジスティック回帰モデルであって、
前記予測モデル学習部は、前記ロジスティック回帰モデルの損失関数が最小となるように、前記予測モデルを更新する。
In order to achieve the above object, a cultivation condition determination support device according to one aspect of the present invention comprises:
An apparatus for assisting in determining crystal growth conditions, comprising:
an acquisition unit that acquires learning data in which growth conditions and crystal quality information are associated;
a prediction model learning unit that updates a prediction model for each number of uses by machine learning using the associated growth conditions as an input and the crystal quality information as an output, based on the learning data classified according to the number of uses of the growth device used to grow the crystal;
a quality prediction value calculation unit that calculates a predicted quality value of the crystal for each number of times the growth apparatus is used by inputting growth conditions into the prediction model for each number of times the growth apparatus is used;
a growth condition determination unit that determines the growth conditions to be output based on the calculated quality prediction value;
Equipped with
Each of the prediction models for each of the number of uses is a logistic regression model,
The prediction model learning unit updates the prediction model so that a loss function of the logistic regression model is minimized .
結晶の育成装置の使用回数に応じた育成条件の決定を支援することができる。 It can help determine growth conditions based on the number of times the crystal growth equipment is used.
以下に、図面を参照して、本発明の実施の形態(本実施の形態)について説明する。 The following describes an embodiment of the present invention (present embodiment) with reference to the drawings.
(単結晶育成システム1のシステム構成)
図1は、単結晶育成システムのシステム構成の一例を示す図である。
(System configuration of single crystal growth system 1)
FIG. 1 is a diagram showing an example of the system configuration of a single crystal growth system.
本実施の形態に係る単結晶育成システム1は、単結晶育成装置2と、育成条件決定支援装置3と、育成管理データベース4と、を備える。単結晶育成装置2、育成条件決定支援装置3および育成管理データベース4は、通信ネットワーク5を介して通信可能に接続されている。通信ネットワーク5は、インターネットでも構内ネットワークでも良い。 The single crystal growth system 1 according to this embodiment comprises a single crystal growth apparatus 2, a growth condition determination support device 3, and a growth management database 4. The single crystal growth apparatus 2, the growth condition determination support device 3, and the growth management database 4 are communicatively connected via a communication network 5. The communication network 5 may be the Internet or an in-house network.
単結晶育成装置2は、坩堝等を備え、ニオブ酸リチウム等の単結晶を育成する装置である。単結晶育成装置2は、育成条件決定支援装置3により決められた育成条件を用いて、原料を溶融した原料融液に種結晶を接触させ、種結晶を回転させながら上昇させて結晶を育成する。 The single crystal growth apparatus 2 is equipped with a crucible and other components, and is used to grow single crystals such as lithium niobate. Using the growth conditions determined by the growth condition determination support device 3, the single crystal growth apparatus 2 brings a seed crystal into contact with a molten raw material, and raises the seed crystal while rotating it to grow the crystal.
育成条件決定支援装置3は、育成管理データベース4から育成結果データを受信して、受信した育成結果データを分析する。そして、育成条件決定支援装置3は、分析の結果に基づいて、育成条件を示す情報を出力する。 The development condition determination support device 3 receives development result data from the development management database 4 and analyzes the received development result data. Then, the development condition determination support device 3 outputs information indicating the development conditions based on the results of the analysis.
育成条件は、例えば結晶の引き上げ速度、結晶の回転速度、ヒーター、例えば高周波加熱装置の温度管理に関する条件である。育成条件は、結晶育成過程における各種の測定結果を含んでいてもよい。育成条件は、例えば、結晶の融液と種結晶とが接したのちに、肩部が形成されるが、肩部の形成開示時刻や、結晶径が直胴部の直径に達した際の時刻、融液を貯留する坩堝の温度変化、装置内の雰囲気温度、冷却部の温度変化等である。これらは結晶の引き上げ速度や回転速度、加熱装置の温度制御に直接的に係わるものでなくてもよいし、これらを合わせた統計値でもよい。より具体的には、育成条件は、結晶の肩部の開始または終了時刻、直胴部の開始または終了、ルツボの底温度または温度変化、固化熱発生の時刻または発熱量とその時の融液重量、電源出力開始または終了時間、出力上昇時間、継続時間、または出力上昇量、シーディング開始時刻、チャンバーの平均温度、冷却器の平均温度、るつぼ台の平均温度、窓の平均温度、チャンバーへの流入または流出の平均温度、高周波電源の平均温度、冷却器から出力する管またはケーブルの平均温度、シールの平均温度、チャンバー扉の平均温度、チャンバー本体の平均温度、チャンバーへの流入または流出の流量、水冷器の平均流出入量、シールに用いるオイルの流量、チャンバーの水冷管の平均流量、ハンチング収束時の重量、直胴部成長速度の平均、肩部と直径との差分平均、底付き発生時期、等が挙げられる。なお、平均値を例示した値は、最大値、最小値などに適宜変更可能である。 Growth conditions include, for example, the crystal pulling speed, the crystal rotation speed, and conditions related to the temperature control of a heater, such as a high-frequency heating device. Growth conditions may also include various measurement results during the crystal growth process. Growth conditions include, for example, the time at which a shoulder begins to form after the crystal melt and seed crystal come into contact, the time at which the crystal diameter reaches the diameter of the straight body, the temperature change in the crucible that stores the melt, the ambient temperature inside the device, and the temperature change in the cooling section. These do not have to be directly related to the crystal pulling speed or rotation speed or the temperature control of the heating device, and may be statistical values that combine these. More specifically, growth conditions include the start or end time of the shoulder of the crystal, the start or end of the body, the crucible bottom temperature or temperature change, the time or amount of heat generated by solidification and the weight of the melt at that time, the start or end time of power output, the power rise time, duration, or power rise amount, the start time of seeding, the average temperature of the chamber, the average temperature of the cooler, the average temperature of the crucible stand, the average temperature of the window, the average temperature of the inflow or outflow into the chamber, the average temperature of the high-frequency power source, the average temperature of the tube or cable output from the cooler, the average temperature of the seal, the average temperature of the chamber door, the average temperature of the chamber body, the flow rate of the inflow or outflow into the chamber, the average inflow and outflow rate of the water cooler, the flow rate of oil used for sealing, the average flow rate of the water-cooled tubes in the chamber, the weight at the time of convergence of hunting, the average growth rate of the body, the average difference between the shoulder and diameter, and the time of bottoming out. Note that the values exemplified as averages can be changed to maximum or minimum values as appropriate.
育成管理データベース4は、単結晶の育成状態を管理する情報を記憶する装置である。育成管理データベース4は、育成条件決定支援装置3に育成結果データを送信する。育成結果データは、単結晶の育成の結果を示すデータであって、単結晶の育成条件と、育成した単結晶の品質情報(具体的には、良不良の判定結果)と、が関連付けられたデータである。また、育成管理データベース4は、育成条件を示す情報を単結晶育成装置2に送信する。育成条件を示す情報と単結晶の品質情報とは、初期設定されたIDなどで対応付けられる。育成管理データベース4は、育成条件を示す情報と品質情報とを関連付けて記憶してもよい。 The growth management database 4 is a device that stores information for managing the growth status of single crystals. The growth management database 4 transmits growth result data to the growth condition determination support device 3. The growth result data is data indicating the results of single crystal growth, and is data that associates the single crystal growth conditions with quality information of the grown single crystal (specifically, the result of determining whether the crystal is good or bad). The growth management database 4 also transmits information indicating the growth conditions to the single crystal growth device 2. The information indicating the growth conditions and the single crystal quality information are associated with each other using an initially set ID or the like. The growth management database 4 may store information indicating the growth conditions and the quality information in association with each other.
ここで単結晶の品質情報とは結晶の多結晶化に関する情報、Cz法により引き上げられた結晶のクラックや割れの発生に関する情報、結晶の落下に関する情報などをさす。単結晶とは、一つの結晶子で構成されていることを意味し、多結晶とは複数の結晶子が存在していることを意味する。従って、目視により、不定形な模様のようなものが含まれる場合は多結晶化したことが推定される。また、電子線後方散乱回折法(EBSD)により、断面を観察することで確認することができる。多結晶体である場合は、複数の方位を持つ結晶体が存在することを確認できる。 Here, quality information on single crystals refers to information on the polycrystallization of crystals, information on the occurrence of cracks or breaks in crystals pulled using the Cz method, information on the falling of crystals, etc. Single crystals mean that they are composed of a single crystallite, while polycrystals mean that there are multiple crystallites. Therefore, if a visual inspection reveals that the crystal contains something resembling an amorphous pattern, it is assumed that the crystal has become polycrystallized. This can also be confirmed by observing the cross section using electron backscatter diffraction (EBSD). In the case of polycrystalline bodies, it can be confirmed that there are crystallites with multiple orientations.
本実施の形態では、単結晶の品質情報は、育成結果を目視して、多結晶化していないものを「良」、多結晶化したものを「不良」と判定した情報とする。 In this embodiment, the quality information for the single crystal is determined by visually inspecting the growth results, with those that have not become polycrystallized being judged as "good" and those that have become polycrystallized being judged as "bad."
(各装置のハードウェア構成)
次に、各装置のハードウェア構成について説明する。図2は、単結晶育成装置のハードウェア構成の一例を示す図である。なお、図2は、単結晶を育成する装置を概念的に示す図である。
(Hardware configuration of each device)
Next, the hardware configuration of each device will be described. Fig. 2 is a diagram showing an example of the hardware configuration of a single crystal growth device. Fig. 2 is a diagram conceptually showing the device for growing a single crystal.
単結晶育成装置2は、坩堝10内の原料を溶融した原料融液Lに種結晶SCを接触させ、種結晶SCを回転させながら上昇させて単結晶CRを育成する装置である。単結晶育成装置2は、例えば、坩堝10と、坩堝台20と、坩堝昇降機構30と、引上げ軸40と、ヒーター50と、耐火物内筒60と、耐火物シールド板70と、耐火材80と、制御装置90と、を備える。また、関連構成要素として、種結晶100と、原料融液110と、単結晶120とが示されている。 The single crystal growth apparatus 2 is an apparatus that brings a seed crystal SC into contact with a raw material melt L, which is a melted raw material contained in a crucible 10, and grows a single crystal CR by rotating and raising the seed crystal SC. The single crystal growth apparatus 2 includes, for example, a crucible 10, a crucible stand 20, a crucible lifting mechanism 30, a pulling shaft 40, a heater 50, a refractory inner cylinder 60, a refractory shield plate 70, a refractory material 80, and a control device 90. Also shown as related components are a seed crystal 100, a raw material melt 110, and a single crystal 120.
坩堝10は、坩堝台20に載置される。チャンバー内には、坩堝10を囲むように耐火材80が配置されている。坩堝10と耐火材80との間にヒーター50が配置される。必要に応じ、ヒーター50を複数段配置してもよい。図1においては、2段に配置されたヒーター50が示されている。ヒーター50により坩堝10を加熱する。 The crucible 10 is placed on the crucible stand 20. A refractory material 80 is arranged in the chamber so as to surround the crucible 10. A heater 50 is arranged between the crucible 10 and the refractory material 80. If necessary, the heaters 50 may be arranged in multiple stages. Figure 1 shows heaters 50 arranged in two stages. The crucible 10 is heated by the heaters 50.
また、坩堝10の上方を取り囲むように耐火物内筒60、耐火物シールド板70を設置してもよい。耐火物内筒60、耐火物シールド板70は、引き上げられた単結晶120を保温するために設けられている。耐火材80の上部には引き上げ軸40が回転可能かつ上下方向に移動可能に設けられている。引き上げ軸40の下端の先端部には、種結晶保持部41が設けられ、種結晶100を保持している。坩堝10及び坩堝台20は、坩堝昇降機構30により上下に可動する。 A refractory inner cylinder 60 and a refractory shield plate 70 may also be installed to surround the upper part of the crucible 10. The refractory inner cylinder 60 and the refractory shield plate 70 are provided to keep the pulled single crystal 120 warm. A pulling shaft 40 is provided above the refractory material 80 so as to be rotatable and movable up and down. A seed crystal holder 41 is provided at the tip of the lower end of the pulling shaft 40, and holds the seed crystal 100. The crucible 10 and crucible stand 20 can be moved up and down by a crucible lifting mechanism 30.
坩堝10は、原料融液を貯留保持し、単結晶を育成するための容器である。LN等の酸化物結晶育成では酸素を含む雰囲気で育成されるため、耐熱性があり酸素と反応しない貴金属、Pt(白金)、Rh(ロジウム)やIr(イリジウム)等の単体又はそれらの合金からなることが好ましい。なお、坩堝10は、結晶の育成に使用する育成装置の一例である。 Crucible 10 is a container for storing and holding the raw material melt and growing a single crystal. Because oxide crystals such as LN are grown in an oxygen-containing atmosphere, it is preferable for the crucible to be made of a heat-resistant, oxygen-insensitive precious metal such as Pt (platinum), Rh (rhodium), or Ir (iridium), or an alloy of these metals. Crucible 10 is an example of a growth device used to grow crystals.
坩堝台20は、坩堝10を下方から支持する支持台として設けられる。坩堝台20は、ヒーター50の加熱に耐え得る十分な耐熱性及び坩堝10を支持する耐久性を有すれば、種々の材料から構成されてよい。 The crucible stand 20 is provided as a support stand that supports the crucible 10 from below. The crucible stand 20 may be made of various materials as long as it has sufficient heat resistance to withstand the heat of the heater 50 and durability to support the crucible 10.
坩堝昇降機構30は、坩堝10を昇降させるための駆動機構である。本実施形態においては、坩堝10は、坩堝台20上に載置されているため、坩堝台20を支持している昇降プレート31を昇降させることにより坩堝10を昇降させる構成であってもよい。即ち、直接的でも間接的であっても、坩堝10を昇降させることができればよい。 The crucible lifting mechanism 30 is a drive mechanism for raising and lowering the crucible 10. In this embodiment, the crucible 10 is placed on the crucible stand 20, so the crucible 10 may be raised and lowered by raising and lowering the lifting plate 31 that supports the crucible stand 20. In other words, it is sufficient that the crucible 10 can be raised and lowered directly or indirectly.
坩堝昇降機構30は、坩堝10を回転させずに昇降可能に構成される。坩堝昇降機構30は、坩堝10を回転させずに昇降できる限り、その機構は問わない。例えば、ボールネジを用いて昇降プレート31を上昇させ、昇降プレート31が供回りしないように中継治具が設けられている構成であってもよい。 The crucible lifting mechanism 30 is configured to be able to lift and lower the crucible 10 without rotating it. The crucible lifting mechanism 30 can be any mechanism as long as it can lift and lower the crucible 10 without rotating it. For example, a ball screw may be used to lift the lifting plate 31, and an intermediate jig may be provided to prevent the lifting plate 31 from rotating.
引き上げ軸40は、下端部の種結晶保持部41に種結晶100を保持し、坩堝10に保持された原料融液110の表面に種結晶100を接触させ、回転しながら単結晶を引き上げるための手段である。引き上げ軸40は、種結晶100を保持する種結晶保持部41を下端部に有するとともに、図示しない引き上げ軸駆動モータを備える。なお、引き上げ軸駆動モータは、結晶の引き上げの際、結晶を回転させながら引き上げる動作を行うための回転駆動機構である。 The pulling shaft 40 holds the seed crystal 100 on the seed crystal holder 41 at its lower end, brings the seed crystal 100 into contact with the surface of the raw material melt 110 held in the crucible 10, and rotates to pull up a single crystal. The pulling shaft 40 has the seed crystal holder 41 at its lower end that holds the seed crystal 100, and is equipped with a pulling shaft drive motor (not shown). The pulling shaft drive motor is a rotational drive mechanism that rotates the crystal while pulling it up.
ヒーター50は、坩堝10を加熱するための手段であり、坩堝10の周囲を囲むように配置する。抵抗加熱方式のヒーターでも、高周波誘導加熱方式の誘導コイルを用いて加熱するヒーターでもよい。 The heater 50 is a means for heating the crucible 10 and is arranged to surround the periphery of the crucible 10. It may be a resistance heating heater or a high-frequency induction heating heater that uses an induction coil for heating.
耐火物内筒60、耐火物シールド板70及び耐火材80にはアルミナやジルコニア、マグネシア、カルシア等の焼結体耐火物が使われ、熱が外部に漏れないようにする機能を果たす。 The refractory inner tube 60, refractory shield plate 70, and refractory material 80 are made of sintered refractories such as alumina, zirconia, magnesia, and calcia, and function to prevent heat from leaking to the outside.
制御装置90は、単結晶育成装置2の全体の動作を制御する。制御装置90は、例えば、CPU、メインメモリ、ハードディスクなどの記憶装置、有線あるいは無線により通信を行う通信装置、キーボード、タッチパネルあるいはマウスなどの入力装置、ディスプレイなどの表示装置を備えるコンピュータ、シーケンサ等により構成される。制御装置90は、記憶装置に記憶されているプログラムに従って各種の処理を実行する。また、制御装置90は、回転引き上げ法により単結晶を育成する育成装置を制御する制御装置として、単体で用いても(供給されても)よい。すなわち、制御装置90は、単体で、公知の単結晶育成装置に適用することができる。 The control device 90 controls the overall operation of the single crystal growth apparatus 2. The control device 90 is composed of, for example, a CPU, main memory, storage devices such as a hard disk, a communication device for wired or wireless communication, an input device such as a keyboard, touch panel, or mouse, a computer equipped with a display device such as a monitor, a sequencer, etc. The control device 90 executes various processes according to the programs stored in the storage device. The control device 90 may also be used (or supplied) alone as a control device for controlling a growth apparatus that grows a single crystal by the rotational pulling method. In other words, the control device 90 can be applied alone to known single crystal growth apparatuses.
制御装置90は、ヒーター50の温度を制御する。また、制御装置90は、引き上げ軸駆動モータを制御することにより、引上げ軸40の回転及び昇降を制御する。 The control device 90 controls the temperature of the heater 50. The control device 90 also controls the rotation and elevation of the pulling shaft 40 by controlling the pulling shaft drive motor.
次に、育成条件決定支援装置3のハードウェア構成について説明する。図3は、育成条件決定支援装置のハードウェア構成の一例を示す図である。 Next, we will explain the hardware configuration of the development condition determination support device 3. Figure 3 shows an example of the hardware configuration of the development condition determination support device.
育成条件決定支援装置3は、CPU(Central Processing Unit)101、主記憶装置102、補助記憶装置103、入力装置104、表示装置105、通信インターフェース装置106、ドライブ装置107を備える。これらの各装置は、バスで接続されている。 The growth condition determination support device 3 includes a CPU (Central Processing Unit) 101, a main memory device 102, an auxiliary memory device 103, an input device 104, a display device 105, a communication interface device 106, and a drive device 107. Each of these devices is connected via a bus.
CPU101は、育成条件決定支援装置3の動作を制御する主制御部であり、主記憶装置102に格納されたプログラムを読みだして実行することで、後述する各種の機能を実現する。 The CPU 101 is the main control unit that controls the operation of the growth condition determination support device 3, and realizes various functions described below by reading and executing programs stored in the main memory device 102.
主記憶装置102は、育成条件決定支援装置3の起動時に補助記憶装置103からプログラムを読み出して格納する。補助記憶装置103は、インストールされたプログラムを格納すると共に、後述する各種機能に必要なファイル、データ等を格納する。 When the development condition determination support device 3 is started, the main memory device 102 reads and stores the program from the auxiliary memory device 103. The auxiliary memory device 103 stores the installed program, as well as files, data, etc. required for the various functions described below.
入力装置104は、各種の情報の入力を行うための装置であり、例えばキーボードやポインティングデバイス等により実現される。表示装置105は、各種の情報の表示を行うためものであり、例えばディスプレイ等により実現される。通信インターフェース装置106は、LANカード等を含み、育成管理データベース20との接続の為に用いられる。 The input device 104 is a device for inputting various types of information and is realized, for example, by a keyboard or pointing device. The display device 105 is for displaying various types of information and is realized, for example, by a display. The communication interface device 106 includes a LAN card, etc., and is used for connecting to the development management database 20.
本実施形態に係るプログラムは、育成条件決定支援装置3を制御する各種プログラムの少なくとも一部である。プログラムは、例えば記憶媒体108の配布やネットワークからのダウンロード等によって提供される。プログラムを記録した記憶媒体108は、CD-ROM、フレキシブルディスク、光磁気ディスク等の様に情報を光学的、電気的或いは磁気的に記録する記憶媒体、ROM、フラッシュメモリ等の様に情報を電気的に記録する半導体メモリ等、様々なタイプの記憶媒体を用いることができる。 The program according to this embodiment is at least a part of the various programs that control the cultivation condition determination support device 3. The program is provided, for example, by distributing a storage medium 108 or by downloading it from a network. The storage medium 108 on which the program is recorded can be of various types, including storage media that record information optically, electrically, or magnetically, such as CD-ROMs, flexible disks, and magneto-optical disks, and semiconductor memories that record information electrically, such as ROMs and flash memories.
また、プログラムは、プログラムを記録した記憶媒体108がドライブ装置107にセットされると、記憶媒体108からドライブ装置107を介して補助記憶装置103にインストールされる。ネットワークからダウンロードされたプログラムは、通信インターフェース装置106を介して補助記憶装置103にインストールされる。 In addition, when the storage medium 108 on which the program is recorded is inserted into the drive device 107, the program is installed from the storage medium 108 into the auxiliary storage device 103 via the drive device 107. Programs downloaded from the network are installed into the auxiliary storage device 103 via the communication interface device 106.
(育成条件決定支援装置3の機能構成)
次に、育成条件決定支援装置3の機能について説明する。図4は、育成条件決定支援装置の機能構成の一例を示す図である。
(Functional configuration of the development condition determination support device 3)
Next, a description will be given of the functions of the cultivation condition determination support device 3. Fig. 4 is a diagram showing an example of the functional configuration of the cultivation condition determination support device.
育成条件決定支援装置3は、取得部31と、学習部32と、品質予測値算出部33と、育成条件決定部34と、出力部35と、を備える。 The growth condition determination support device 3 includes an acquisition unit 31, a learning unit 32, a quality prediction value calculation unit 33, a growth condition determination unit 34, and an output unit 35.
取得部31は、学習処理において、育成条件と結晶の品質情報とが関連付けられた学習データを取得する。 During the learning process, the acquisition unit 31 acquires learning data that associates growth conditions with crystal quality information.
学習部32は、学習データに基づく学習によって、予測モデルを更新する。具体的には、学習部32は、学習データ分類部321と、予測モデル学習部322と、を含む。学習データ分類部321は、学習データを、坩堝10の使用回数に応じて分類する。なお、坩堝10は、育成装置の一例であって、他でも良い。 The learning unit 32 updates the prediction model by learning based on the learning data. Specifically, the learning unit 32 includes a learning data classification unit 321 and a prediction model learning unit 322. The learning data classification unit 321 classifies the learning data according to the number of times the crucible 10 has been used. Note that the crucible 10 is an example of a growth device and may be other devices.
予測モデル学習部322は、分類された学習データに基づく機械学習によって、使用回数ごとの予測モデルを更新する。すなわち、予測モデルは、坩堝10の使用回数ごとに構築しておく。坩堝10の使用回数の上限が20の場合には、0から19までの20個の予測モデルを構築しておく。そして、例えば、予測モデル学習部322は、使用回数N回の学習データに基づいて、使用回数N回の予測モデルを更新する。なお、予測モデルは、例えばロジスティック回帰モデルである。なお、予測モデルは、他でも良く、例えば、サポートベクターマシン、ニューラルネットワーク等であっても良い。 The prediction model learning unit 322 updates the prediction model for each number of uses through machine learning based on the classified learning data. That is, a prediction model is constructed for each number of uses of the crucible 10. If the upper limit for the number of uses of the crucible 10 is 20, 20 prediction models ranging from 0 to 19 are constructed. Then, for example, the prediction model learning unit 322 updates the prediction model for the Nth number of uses based on the learning data for the Nth number of uses. The prediction model is, for example, a logistic regression model. However, other prediction models may also be used, such as a support vector machine or a neural network.
品質予測値算出部33は、与えられた育成条件に応じた品質の予測値を算出する。この育成条件には、坩堝10の使用回数が含まれる。そして品質予測値算出部33は、使用回数に応じた予測モデルに基づいて、品質の予測値を算出する。品質の予測値は、例えば、品質が良である確率を0から1までの数値で示した値である。その場合、良である確率が100%であれば、予測値は1であり、良である確率が50%であれば、予測値は0.5である。 The quality prediction value calculation unit 33 calculates a predicted quality value according to the given growth conditions. These growth conditions include the number of times the crucible 10 has been used. The quality prediction value calculation unit 33 then calculates a predicted quality value based on a prediction model according to the number of times it has been used. The predicted quality value is, for example, a value that indicates the probability that the quality is good, expressed as a number between 0 and 1. In this case, if the probability of good quality is 100%, the predicted value is 1, and if the probability of good quality is 50%, the predicted value is 0.5.
育成条件決定部34は、算出された閾値に基づいて、出力する育成条件を決定する。出力部35は、決定された育成条件を示す情報を出力する。 The growth condition determination unit 34 determines the growth conditions to be output based on the calculated threshold. The output unit 35 outputs information indicating the determined growth conditions.
(育成条件決定支援装置3の動作)
次に、育成条件決定支援装置3の動作について、図面を参照して説明する。図5は、機械学習処理の流れの一例を示すフローチャートである。
(Operation of the growth condition determination support device 3)
Next, the operation of the breeding condition determination support device 3 will be described with reference to the drawings. Fig. 5 is a flowchart showing an example of the flow of machine learning processing.
育成条件決定支援装置3は、定期的に、またはユーザの操作に応じたタイミングで、機械学習処理を実行する。育成条件決定支援装置3が機械学習処理を開始すると、取得部31は、育成管理データベース4から育成条件と品質情報とが関連付けられた学習データを取得する(ステップS11)。次に、学習データ分類部321は、坩堝10の使用回数によって学習データを分類する(ステップS12)。 The growth condition determination support device 3 performs machine learning processing periodically or at times in response to user operation. When the growth condition determination support device 3 starts machine learning processing, the acquisition unit 31 acquires learning data that associates growth conditions with quality information from the growth management database 4 (step S11). Next, the learning data classification unit 321 classifies the learning data by the number of times the crucible 10 has been used (step S12).
予測モデル学習部322は、分類された学習データに基づく学習によって、坩堝10の使用回数ごとの予測モデルを更新する(ステップS13)。具体的には、各予測モデルは、単結晶の品質が良となる確率yを育成条件xによって表すロジスティック関数 The prediction model training unit 322 updates the prediction model for each use count of the crucible 10 by learning based on the classified training data (step S13). Specifically, each prediction model is a logistic function that represents the probability y of a single crystal being of good quality depending on the growth conditions x.
予測モデル学習部322は、単結晶の品質が良となる確率yが0.5以上の場合を良、0.5未満の場合を不良として、損失関数Lが最小となるようにパラメータw,bを決定する。 The prediction model learning unit 322 determines the parameters w and b so that the loss function L is minimized, with the probability y of the single crystal being good being 0.5 or greater as good and the probability y being poor being poor if it is less than 0.5.
ここで、Nは育成条件のデータのサンプル数、Mは育成条件の数、yjはj番目の育成条件から予測した単結晶の品質、tjはj番目の育成条件で育成した単結晶の品質である。また、 where N is the number of samples of data on growth conditions, M is the number of growth conditions, yj is the quality of the single crystal predicted from the jth growth condition, and tj is the quality of the single crystal grown under the jth growth condition.
図6は、育成条件決定支援処理の流れの一例を示すフローチャートである。育成条件決定支援装置3は、単結晶の育成を開始する前などに、ユーザの操作に応じたタイミングで、育成条件決定支援処理を実行する。 Figure 6 is a flowchart showing an example of the flow of the growth condition determination support process. The growth condition determination support device 3 executes the growth condition determination support process at a timing corresponding to a user operation, such as before starting single crystal growth.
育成条件決定支援装置3が、育成条件決定支援処理を開始すると、品質予測値算出部33は、育成条件の入力を受ける(ステップS21)。育成条件は、坩堝10の使用回数を含む。例えば、N回使用した坩堝10を用いて育成を開始する際には、品質予測値算出部33は、坩堝10の使用回数Nを含む育成条件の入力を受ける。 When the growth condition determination support device 3 starts the growth condition determination support process, the quality prediction value calculation unit 33 receives input of the growth conditions (step S21). The growth conditions include the number of times the crucible 10 has been used. For example, when starting growth using a crucible 10 that has been used N times, the quality prediction value calculation unit 33 receives input of the growth conditions including the number N of times the crucible 10 has been used.
次に、品質予測値算出部33は、前述の機械学習処理によって学習済みの使用回数Nの予測モデルを用いて、入力された育成条件における品質予測値を算出する(ステップS22)。品質予測値は、例えば、品質が良である確率を0から1までの数値で示した値である。 Next, the quality prediction value calculation unit 33 calculates a quality prediction value under the input growth conditions using the prediction model for the number of uses N that has been learned through the above-mentioned machine learning process (step S22). The quality prediction value is, for example, a value between 0 and 1 that indicates the probability that the quality is good.
続いて、育成条件決定部34は、品質予測値が閾値以上であるか否かを判定する(ステップS23)。閾値は、あらかじめ設定された値であり、例えば0.5である。 Next, the growth condition determination unit 34 determines whether the quality prediction value is equal to or greater than a threshold value (step S23). The threshold value is a preset value, for example, 0.5.
育成条件決定部34が、品質予測値が閾値以上でないと判定すると(ステップS23:No)、ステップS21に戻る。 If the growth condition determination unit 34 determines that the quality prediction value is not greater than or equal to the threshold value (step S23: No), the process returns to step S21.
育成条件決定部34は、品質予測値が閾値以上であると判定すると(ステップS23:Yes)、入力された育成条件に決定して育成条件決定支援処理を終了する。 If the growth condition determination unit 34 determines that the quality prediction value is equal to or greater than the threshold value (step S23: Yes), it determines the input growth conditions and terminates the growth condition determination support process.
図7は、学習データの一例を示す図である。学習データは、育成条件と当該育成条件によって判定された品質情報(良否)とが関連付けられたデータである。図7の例では、例えばLotIDは、坩堝10の使用回数を表している。 Figure 7 shows an example of learning data. Learning data is data that associates growth conditions with quality information (good or bad) determined under those growth conditions. In the example of Figure 7, for example, Lot ID represents the number of times the crucible 10 has been used.
(実験結果)
上述した育成条件決定支援装置3による予測モデルを評価した。各使用回数の予測モデルの性能をF1スコアによって評価した。F1スコアは、表1に示す混同行列から算出した。
(Experimental results)
The prediction model by the above-described cultivation condition determination support device 3 was evaluated. The performance of the prediction model for each number of uses was evaluated by F1 score. The F1 score was calculated from the confusion matrix shown in Table 1.
表1に示すように、混同行列は真陽性(TruePositive;TP)、真陰性(TrueNegative;TN)、偽陽性(FalsePositive;FP)、偽陰性(FalseNegative;FN)の4つの観点で分類し、それぞれに当てはまる予測結果の個数をまとめたものである。これらから、「良」または「不良」と判定される再現率、適合率、F1スコアは次のように表される。 As shown in Table 1, the confusion matrix is classified into four categories: true positive (TP), true negative (TN), false positive (FP), and false negative (FN), and summarizes the number of prediction results that fall into each category. From these, the recall, precision, and F1 score that are judged to be "good" or "bad" can be expressed as follows:
良の再現率Recall=TP/(TP+FN)
良の適合率Precision=TP/(TP+FP)
良のF値=2×Recall×Precision/(Recall+Precision)
不良の再現率TNR=TN/(TN+FP)
不良の適合率=TN/(TN+FN)
不良のF値=2×TNR×不良の適合率/(TNR+不良の適合率)
F1スコア=(良のサンプル数×良のF値+不良のサンプル×不良のF値)/全サンプル数
Good recall Recall = TP/(TP + FN)
Good precision Precision = TP/(TP + FP)
Good F-score = 2 x Recall x Precision / (Recall + Precision)
Defect reproducibility rate TNR = TN/(TN + FP)
Defective conformance rate = TN/(TN+FN)
F-score of defects = 2 × TNR × defective precision / (TNR + defective precision)
F1 score = (number of good samples x F-score of good samples + bad samples x F-score of bad samples) / total number of samples
図8は、実験結果を示す図である。比較のため、図8は、使用回数に関わらず1つの予測モデルで予測した結果902と、本実施の形態に係る予測モデルで予測した結果901とを示す。なお、結果902は、坩堝10の使用回数に応じた計算を行わないため、F1スコアの平均値を示している。 Figure 8 shows the experimental results. For comparison, Figure 8 shows the results 902 predicted using a single prediction model regardless of the number of uses, and the results 901 predicted using the prediction model according to this embodiment. Note that the results 902 show the average F1 score because calculations were not performed according to the number of uses of the crucible 10.
本実施の形態に係る予測モデルでは、坩堝10の使用回数によってF1スコアが異なるが、どの使用回数のF1スコアも、結果902におけるF1スコア(約0.4)を上回った。なお、本実施の形態に係る予測モデルで予測した結果901において、使用回数4回、10回、11回および12回については、不良品が少なく、サンプルが少ないために解析ができなかった。なお、解析できたF1スコアの平均値は約0.6であった。 In the prediction model according to this embodiment, the F1 score differs depending on the number of times the crucible 10 is used, but the F1 score for each number of uses exceeded the F1 score (approximately 0.4) in result 902. Note that in result 901 predicted by the prediction model according to this embodiment, analysis was not possible for the 4th, 10th, 11th, and 12th uses due to the small number of defective products and the small number of samples. Note that the average F1 score that could be analyzed was approximately 0.6.
本実施の形態に係る育成条件決定支援装置3によれば、育成装置の一例である坩堝10の使用回数に応じた機械学習によって、使用回数に応じた育成条件の決定を支援することができる。 The growth condition determination support device 3 according to this embodiment can assist in determining growth conditions according to the number of times the crucible 10, an example of a growth device, has been used, through machine learning according to the number of times it has been used.
上述した各実施形態では、育成結果データ30に含まれる判定結果が良と不良の2値である例を示した。使用する予測モデルによっては、2値でなくても良い。例えば、製品の性能には問題ない程度だが、傷や汚れなど、製品に不要な要素が認められたものを、良「○」と不良「×」の間を示す「△」等として付け加えても良い。 In the above-described embodiments, examples have been shown in which the judgment results included in the cultivation result data 30 are binary values, either good or bad. Depending on the prediction model used, it may not be binary. For example, if an unnecessary element of the product, such as a scratch or stain, is found, but it does not affect the product's performance, it may be indicated by a "△" or similar symbol, indicating a gap between good "○" and bad "×".
以上、各実施形態に基づき本発明の説明を行ってきたが、上記実施形態に示した要件に本発明が限定されるものではない。これらの点に関しては、本発明の主旨をそこなわない範囲で変更することができ、その応用形態に応じて適切に定めることができる。 The present invention has been described above based on various embodiments, but the present invention is not limited to the requirements set forth in the above embodiments. These aspects can be modified without departing from the spirit of the present invention, and can be determined appropriately depending on the application form.
本発明は、結晶の育成に適用することができる。 The present invention can be applied to crystal growth.
1 単結晶育成システム
2 単結晶育成装置
3 育成条件決定支援装置
4 育成管理データベース
5 通信ネットワーク
31 取得部
32 学習部
33 品質予測値算出部
34 育成条件決定部
35 出力部
321 学習データ分類部
322 予測モデル学習部
REFERENCE SIGNS LIST 1 Single crystal growth system 2 Single crystal growth device 3 Growth condition determination support device 4 Growth management database 5 Communication network 31 Acquisition unit 32 Learning unit 33 Quality prediction value calculation unit 34 Growth condition determination unit 35 Output unit 321 Learning data classification unit 322 Prediction model learning unit
Claims (5)
育成条件と結晶の品質情報とが関連付けられた学習データを取得する取得部と、
前記結晶の育成に使用した育成装置の使用回数に応じて分類された前記学習データに基づき、前記関連付けられた前記育成条件を入力及び前記結晶の品質情報を出力とする機械学習によって、前記使用回数ごとの予測モデルを更新する予測モデル学習部と、
前記使用回数ごとの前記予測モデルに育成条件を入力することによって前記育成装置の使用回数ごとの結晶の品質予測値を算出する品質予測値算出部と、
算出された品質予測値に基づいて、出力する育成条件を決定する育成条件決定部と、
を備え、
前記使用回数ごとの前記予測モデルのそれぞれは、ロジスティック回帰モデルであって、
前記予測モデル学習部は、前記ロジスティック回帰モデルの損失関数が最小となるように、前記予測モデルを更新する、
育成条件決定支援装置。 An apparatus for assisting in determining crystal growth conditions, comprising:
an acquisition unit that acquires learning data in which growth conditions and crystal quality information are associated;
a prediction model learning unit that updates a prediction model for each number of uses by machine learning using the associated growth conditions as an input and the crystal quality information as an output, based on the learning data classified according to the number of uses of the growth device used to grow the crystal;
a quality prediction value calculation unit that calculates a predicted quality value of the crystal for each number of times the growth apparatus is used by inputting growth conditions into the prediction model for each number of times the growth apparatus is used;
a growth condition determination unit that determines the growth conditions to be output based on the calculated quality prediction value;
Equipped with
Each of the prediction models for each of the number of uses is a logistic regression model,
the prediction model learning unit updates the prediction model so as to minimize a loss function of the logistic regression model.
A support device for determining cultivation conditions.
請求項1に記載の育成条件決定支援装置。 a training data classification unit that classifies the training data acquired by the acquisition unit according to the number of times the growth device used to grow the crystal has been used;
The cultivation condition determination support device according to claim 1.
前記育成条件決定支援装置は、
結晶の育成条件の決定を支援するための装置であって、
育成条件と結晶の品質情報とが関連付けられた学習データを取得する取得部と、
前記結晶の育成に使用した育成装置の使用回数に応じて分類された前記学習データに基づき、前記関連付けられた前記育成条件を入力及び前記結晶の品質情報を出力とする機械学習によって、前記使用回数ごとの予測モデルを更新する予測モデル学習部と、
前記使用回数ごとの前記予測モデルに育成条件を入力することによって前記育成装置の使用回数ごとの結晶の品質予測値を算出する品質予測値算出部と、
算出された品質予測値に基づいて、出力する育成条件を決定する育成条件決定部と、を備え、
前記使用回数ごとの前記予測モデルのそれぞれは、ロジスティック回帰モデルであって、
前記予測モデル学習部は、前記ロジスティック回帰モデルの損失関数が最小となるように、前記予測モデルを更新し、
前記単結晶育成装置は、
出力された前記育成条件に従って、単結晶を育成する、
単結晶育成システム。 A single crystal growth system comprising a single crystal growth apparatus and a growth condition determination support apparatus,
The cultivation condition determination support device comprises:
An apparatus for assisting in determining crystal growth conditions, comprising:
an acquisition unit that acquires learning data in which growth conditions and crystal quality information are associated;
a prediction model learning unit that updates a prediction model for each number of uses by machine learning using the associated growth conditions as an input and the crystal quality information as an output, based on the learning data classified according to the number of uses of the growth device used to grow the crystal;
a quality prediction value calculation unit that calculates a predicted quality value of the crystal for each number of times the growth apparatus is used by inputting growth conditions into the prediction model for each number of times the growth apparatus is used;
a growth condition determination unit that determines the growth conditions to be output based on the calculated quality prediction value,
Each of the prediction models for each of the number of uses is a logistic regression model,
the prediction model learning unit updates the prediction model so as to minimize a loss function of the logistic regression model;
The single crystal growth apparatus is
growing a single crystal according to the output growth conditions;
Single crystal growth system.
育成条件と結晶の品質情報とが関連付けられた学習データを取得するステップと、
前記結晶の育成に使用した育成装置の使用回数に応じて分類された前記学習データに基づき、前記関連付けられた前記育成条件を入力及び前記結晶の品質情報を出力とする機械学習によって、前記使用回数ごとの予測モデルを更新するステップと、
前記使用回数ごとの前記予測モデルに育成条件を入力することによって前記育成装置の使用回数ごとの結晶の品質予測値を算出するステップと、
算出された品質予測値に基づいて、出力する育成条件を決定するステップと、
を備え、
前記使用回数ごとの前記予測モデルのそれぞれは、ロジスティック回帰モデルであって、
前記更新するステップは、前記ロジスティック回帰モデルの損失関数が最小となるように、前記予測モデルを更新する、
育成条件決定支援方法。 1. A computer-implemented method comprising:
acquiring learning data that associates growth conditions with crystal quality information;
updating a prediction model for each number of uses by machine learning using the learning data classified according to the number of uses of the growth device used to grow the crystal, with the associated growth conditions as input and the quality information of the crystal as output;
calculating a predicted value of crystal quality for each number of times the growth apparatus is used by inputting growth conditions into the prediction model for each number of times the growth apparatus is used;
determining growth conditions to be output based on the calculated quality prediction value;
Equipped with
Each of the prediction models for each of the number of uses is a logistic regression model,
the updating step updates the prediction model so as to minimize a loss function of the logistic regression model.
A method for supporting the determination of development conditions.
育成条件と結晶の品質情報とが関連付けられた学習データを取得するステップと、
前記結晶の育成に使用した育成装置の使用回数に応じて分類された前記学習データに基づき、前記関連付けられた前記育成条件を入力及び前記結晶の品質情報を出力とする機械学習によって、前記使用回数ごとの予測モデルを更新するステップと、
前記使用回数ごとの前記予測モデルに育成条件を入力することによって前記育成装置の使用回数ごとの結晶の品質予測値を算出するステップと、
算出された品質予測値に基づいて、出力する育成条件を決定するステップと、
を実行させ、
前記使用回数ごとの前記予測モデルのそれぞれは、ロジスティック回帰モデルであって、
前記更新するステップは、前記ロジスティック回帰モデルの損失関数が最小となるように、前記予測モデルを更新する、
プログラム。 On the computer,
acquiring learning data that associates growth conditions with crystal quality information;
updating a prediction model for each number of uses by machine learning using the learning data classified according to the number of uses of the growth device used to grow the crystal, with the associated growth conditions as input and the quality information of the crystal as output;
calculating a predicted value of crystal quality for each number of times the growth apparatus is used by inputting growth conditions into the prediction model for each number of times the growth apparatus is used;
determining growth conditions to be output based on the calculated quality prediction value;
Execute
Each of the prediction models for each of the number of uses is a logistic regression model,
the updating step updates the prediction model so as to minimize a loss function of the logistic regression model.
program.
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