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JP7748873B2 - display device - Google Patents
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JP7748873B2 - display device - Google Patents

display device

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JP7748873B2 JP2021213219A JP2021213219A JP7748873B2 JP 7748873 B2 JP7748873 B2 JP 7748873B2 JP 2021213219 A JP2021213219 A JP 2021213219A JP 2021213219 A JP2021213219 A JP 2021213219A JP 7748873 B2 JP7748873 B2 JP 7748873B2
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Description

本開示は、表示装置に関する。 This disclosure relates to a display device.

自発光型表示装置に用いられる電気光学素子として、有機EL素子が知られている。有機EL素子は、有機薄膜に電界をかけると発光する現象を利用した電気光学素子であり、有機EL素子を流れる電流値を制御することで発色の階調を得ている。そのため、有機EL素子を用いる有機EL表示装置は、有機EL素子の電流量を制御するための駆動トランジスタと、駆動トランジスタの制御電圧を保持する保持容量(キャパシタ)と、制御電圧を保持容量に書き込むためのサンプリングトランジスタ(書き込みトランジスタ)とを含む画素回路が画素ごとに設けられている(特許文献1を参照)。 Organic EL elements are known as electro-optical elements used in self-luminous display devices. Organic EL elements are electro-optical elements that utilize the phenomenon of light emission when an electric field is applied to an organic thin film, and the color gradation is achieved by controlling the amount of current flowing through the organic EL element. For this reason, organic EL display devices that use organic EL elements are provided with a pixel circuit for each pixel, which includes a drive transistor for controlling the amount of current through the organic EL element, a storage capacitor for storing the control voltage of the drive transistor, and a sampling transistor (write transistor) for writing the control voltage to the storage capacitor (see Patent Document 1).

特開2013-057947号公報JP 2013-057947 A

ところで、書き込みトランジスタ等のスイッチングトランジスタのオフリークによって、保持容量に保持された電荷が減少することにより、有機EL素子等の発光素子に流れる発光電流が減少し、所望の輝度を維持できない、つまりオフリークにより輝度が変化することが起こり得る。特許文献1には、書き込みトランジスタのオフリークによる輝度の変化を抑制することについては開示されていない。 However, off-leakage of a switching transistor such as a write transistor reduces the charge held in the storage capacitor, thereby reducing the light-emitting current flowing through a light-emitting element such as an organic EL element, making it impossible to maintain the desired brightness; in other words, off-leakage can cause brightness to change. Patent Document 1 does not disclose how to suppress changes in brightness caused by off-leakage of a write transistor.

そこで、本開示は、スイッチングトランジスタのオフリークによる輝度の変化を抑制することができる表示装置を提供する。 This disclosure therefore provides a display device that can suppress changes in brightness due to off-leakage of switching transistors.

本開示の一態様に係る表示装置は、2次元状に配置された複数の画素を備える表示装置であって、前記複数の画素のそれぞれは、発光素子と、データ信号線を介して供給されたデータ信号を保持する保持容量と、前記データ信号に応じた電流を前記発光素子に供給する駆動トランジスタと、前記データ信号線と前記駆動トランジスタのゲート電極との間に接続される書き込みトランジスタであって、ソース電極及びドレイン電極の一方が前記データ信号線と接続される書き込みトランジスタとを備え、前記保持容量は、前記駆動トランジスタのゲート電極、及び、前記書き込みトランジスタと接続される第1電極層と、第1電極層を覆う第1絶縁層と、前記駆動トランジスタのソース電極と接続され、前記第1絶縁層上に前記第1電極層と対向して配置される第1対向部を有する第2電極層と、前記第1絶縁層及び前記第2電極層を覆う第2絶縁層と、前記駆動トランジスタの前記ソース電極と接続され、少なくとも一部が前記第2絶縁層上に形成される第3電極層であって、前記第1電極層と対向して配置される第2対向部を有する第3電極層とにより形成され、前記第1対向部と前記第2対向部とは、前記表示装置の平面視において、互いに重ならない位置に形成され、前記第1電極層は、前記平面視において、前記第1対向部及び前記第2対向部のそれぞれと重なるように形成される。 A display device according to one aspect of the present disclosure is a display device comprising a plurality of pixels arranged two-dimensionally, each of the plurality of pixels comprising a light-emitting element, a storage capacitor for storing a data signal supplied via a data signal line, a drive transistor for supplying a current corresponding to the data signal to the light-emitting element, and a write transistor connected between the data signal line and a gate electrode of the drive transistor, the write transistor having one of its source electrode and drain electrode connected to the data signal line, and the storage capacitor comprising a gate electrode of the drive transistor and a first electrode layer connected to the write transistor, and a first insulating layer covering the first electrode layer. a second electrode layer connected to the source electrode of the driving transistor and having a first opposing portion disposed on the first insulating layer opposite the first electrode layer; a second insulating layer covering the first insulating layer and the second electrode layer; and a third electrode layer connected to the source electrode of the driving transistor and at least a portion of which is formed on the second insulating layer, the third electrode layer having a second opposing portion disposed opposite the first electrode layer, the first opposing portion and the second opposing portion being formed in positions that do not overlap each other in a plan view of the display device, and the first electrode layer being formed to overlap each of the first opposing portion and the second opposing portion in the plan view.

本開示の一態様に係る表示装置によれば、スイッチングトランジスタのオフリークによる輝度の変化を抑制することができる。 A display device according to one aspect of the present disclosure can suppress changes in luminance due to off-leakage of the switching transistor.

図1は、比較例に係る表示装置の画素回路の構成を模式的に示す平面図である。FIG. 1 is a plan view schematically showing the configuration of a pixel circuit of a display device according to a comparative example. 図2は、図1のII-II切断線で切断した、比較例に係る表示装置の画素回路の構成を模式的に示す断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line II-II in FIG. 1, and schematically showing the configuration of a pixel circuit of a display device according to a comparative example. 図3は、実施の形態1に係る表示装置の機能的な構成を示すブロック図である。FIG. 3 is a block diagram showing a functional configuration of the display device according to the first embodiment. 図4は、実施の形態1に係る表示装置の画素回路の構成を示す回路図である。FIG. 4 is a circuit diagram showing the configuration of a pixel circuit of the display device according to the first embodiment. 図5は、実施の形態1に係る表示装置の画素回路の構成を模式的に示す平面図である。FIG. 5 is a plan view schematically showing the configuration of a pixel circuit of the display device according to the first embodiment. 図6は、図5のVI-VI切断線で切断した、実施の形態1に係る表示装置の画素回路の構成を模式的に示す断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view taken along the line VI-VI in FIG. 5, and schematically showing the configuration of a pixel circuit of the display device according to the first embodiment. 図7は、図5のVII-VII切断線で切断した、実施の形態1に係る表示装置の画素回路の構成を模式的に示す断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view taken along the line VII-VII in FIG. 5, and schematically showing the configuration of a pixel circuit of the display device according to the first embodiment. 図8は、実施の形態1に係る表示装置の効果を説明するための図である。FIG. 8 is a diagram for explaining the effect of the display device according to the first embodiment. 図9は、実施の形態1に係る表示装置の各種ゲート制御信号のタイミングチャートを示す図である。FIG. 9 is a timing chart of various gate control signals of the display device according to the first embodiment. 図10は、図5のVI-VI切断線に対応する切断線で切断した、実施の形態2に係る表示装置の画素回路の構成の第1例を模式的に示す断面図である。FIG. 10 is a cross-sectional view schematically showing a first example of the configuration of a pixel circuit of a display device according to the second embodiment, taken along a cutting line corresponding to cutting line VI-VI in FIG. 図11は、図5のVI-VI切断線に対応する切断線で切断した、実施の形態2に係る表示装置の画素回路の構成の第2例を模式的に示す断面図である。FIG. 11 is a cross-sectional view schematically showing a second example of the configuration of a pixel circuit of a display device according to the second embodiment, taken along a cutting line corresponding to cutting line VI-VI in FIG. 図12は、図5のVII-VII切断線に対応する切断線で切断した、実施の形態2に係る表示装置の画素回路の構成を模式的に示す断面図である。FIG. 12 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of a pixel circuit of a display device according to the second embodiment, taken along a line corresponding to the line VII-VII in FIG. 図13は、実施の形態2に係る表示装置の製造方法を説明するための図である。FIG. 13 is a diagram for explaining a manufacturing method of the display device according to the second embodiment. 図14は、実施の形態3に係る表示装置の画素回路の構成を模式的に示す平面図である。FIG. 14 is a plan view schematically showing the configuration of a pixel circuit of a display device according to the third embodiment. 図15は、図14のXV-XV切断線で切断した、実施の形態3に係る表示装置の画素回路の構成を模式的に示す断面図である。FIG. 15 is a cross-sectional view taken along line XV-XV in FIG. 14, showing a schematic configuration of a pixel circuit of a display device according to the third embodiment.

(本開示に至った経緯)
本開示の説明に先立ち、本開示に至った経緯について図1及び図2を参照しながら説明する。図1は、比較例に係る表示装置の画素回路1011の構成を模式的に示す平面図である。図2は、図1のII-II切断線で切断した、比較例に係る表示装置の画素回路1011の構成を模式的に示す断面図である。なお、以下では、回路と回路が形成される領域とを、同一の符号で参照することがある。
(Background to this disclosure)
Prior to describing the present disclosure, the background to the present disclosure will be described with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. 1 is a plan view schematically showing the configuration of a pixel circuit 1011 of a display device according to a comparative example. FIG. 2 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the pixel circuit 1011 of the display device according to the comparative example, taken along the II-II cutting line in FIG. 1. Note that, hereinafter, the circuit and the region in which the circuit is formed may be referred to by the same reference numeral.

図1に示すように、サブ画素回路1011R、1011G、1011Bは、画素領域1011を分割した3つのサブ画素領域1011R、1011G、1011Bにそれぞれ形成されている。サブ画素回路1011R、1011G、1011Bは、互いに同一の構成を有している。 As shown in FIG. 1, the sub-pixel circuits 1011R, 1011G, and 1011B are formed in three sub-pixel regions 1011R, 1011G, and 1011B, respectively, which are obtained by dividing the pixel region 1011. The sub-pixel circuits 1011R, 1011G, and 1011B have the same configuration.

画素回路1011は、例えば、基板110上に、この順に配置された第1配線層、半導体層、第2配線層によって形成されている。第1配線層は、主に、制御信号線INI、REF、WS、参照電圧線VINI、VREF、保持容量Cs、Cs、Csの一方電極(例えば、図2に示す下部電極210)、及び、各トランジスタのゲート電極として用いられる。半導体層は、各トランジスタのチャネル領域として用いられる。第2配線層は、主に、データ信号線Vdat、Vdat、Vdat、正電源線VCC、保持容量Cs、Cs、Csの他方電極(例えば、図2に示す第1上部電極220)、及び、各トランジスタのソース電極、ドレイン電極として用いられる。異なる層同士は、ビアにより接続される。正電源線VCCは、電源線の一例である。 The pixel circuit 1011 is formed, for example, by a first wiring layer, a semiconductor layer, and a second wiring layer arranged in this order on a substrate 110. The first wiring layer is mainly used as control signal lines INI, REF, WS, reference voltage lines VINI, VREF, one electrode of storage capacitors CsR , CsG , and CsB (e.g., the lower electrode 210 shown in FIG. 2), and the gate electrodes of each transistor. The semiconductor layer is used as a channel region of each transistor. The second wiring layer is mainly used as data signal lines VdatR , VdatG , and VdatB , a positive power supply line VCC, the other electrodes of storage capacitors CsR , CsG , and CsB (e.g., the first upper electrode 220 shown in FIG. 2), and the source and drain electrodes of each transistor. Different layers are connected to each other by vias. The positive power supply line VCC is an example of a power supply line.

画素回路1011に含まれる発光素子EL、EL、ELは、同一の制御信号INI、REF、WSに従って同一のタイミングで保持容量Cs、Cs、Csに保持されたデータ信号(データ電圧)Vdat、Vdat、Vdatに応じた輝度で発光する。保持容量Cs、Cs、Csのそれぞれには、後述する駆動トランジスタTD、TD、TDのそれぞれのゲートソース間の電位差Vgsを決定するための電荷がデータ信号線Vdat、Vdat、Vdatを介して蓄積される。 The light-emitting elements EL R , EL G , and EL B included in the pixel circuit 1011 emit light at luminances corresponding to the data signals (data voltages) Vdat R , Vdat G , and Vdat B held in the storage capacitors Cs R , Cs G , and Cs B at the same timing in accordance with the same control signals INI, REF, and WS. Charges for determining a potential difference Vgs between the gate and source of each of the drive transistors TD R , TD G , and TD B described later are accumulated in the storage capacitors Cs R , Cs G , and Cs B via the data signal lines Vdat R , Vdat G , and Vdat B , respectively.

なお、図示は省略しているが、基板、第1配線層、半導体層、第2配線層を覆うように平坦化層が設けられ、発光素子EL、EL、ELは、平坦化層上に形成される。 Although not shown, a planarization layer is provided to cover the substrate, the first wiring layer, the semiconductor layer, and the second wiring layer, and the light-emitting elements EL R , EL G , and EL B are formed on the planarization layer.

なお、上記では、サブ画素回路に応じて各構成要素の符号に「R」、「G」及び「B」を付したが、以下において、3つのサブ画素回路を区別しない場合は、「R」、「G」及び「B」の記載を省略した符号を付す場合がある。保持容量Cs、Cs、Csを例に説明すると、保持容量Csとも記載する場合がある。 In the above, "R", "G", and "B" are attached to the reference numerals of the components according to the sub-pixel circuit, but hereinafter, when there is no need to distinguish between the three sub-pixel circuits, the reference numerals may be attached without the "R", "G", and "B" notation. Taking the storage capacitors CsR , CsG , and CsB as an example, they may also be referred to as storage capacitors Cs.

図2に示すように、画素回路1011は、断面構成として、基板110と、第1アンダーコート層120と、第2アンダーコート層130と、第1絶縁層140と、第2絶縁層150と、金属層160及び180と、発光層170と、第4絶縁層200と、下部電極210と、第1上部電極220と、正電源線VCC及びデータ信号線Vdatとを有する。図2の例では、表示装置は、トップエミッション型の表示装置である。すなわち、発光素子EL、EL、ELから発せられる光は、基板110の表面方向(Z軸プラス方向)に出射される。 2, the pixel circuit 1011 has, in cross section, a substrate 110, a first undercoat layer 120, a second undercoat layer 130, a first insulating layer 140, a second insulating layer 150, metal layers 160 and 180, a light-emitting layer 170, a fourth insulating layer 200, a lower electrode 210, a first upper electrode 220, a positive power supply line VCC, and a data signal line Vdat G. In the example of FIG. 2, the display device is a top-emission display device. That is, light emitted from the light-emitting elements EL R , EL G , and EL B is emitted toward the surface of the substrate 110 (the positive direction of the Z axis).

基板110は、例えば、ガラス基板又はガラスフィルムである。基板110上には、複数の画素(画素回路1011)が形成される。 The substrate 110 is, for example, a glass substrate or a glass film. A plurality of pixels (pixel circuits 1011) are formed on the substrate 110.

第1アンダーコート層120は、基板110の表面を覆うように設けられる。第1アンダーコート層120は例えば、例えば、窒化シリコン膜により構成される絶縁層(窒化シリコン層)である。 The first undercoat layer 120 is provided to cover the surface of the substrate 110. The first undercoat layer 120 is, for example, an insulating layer (silicon nitride layer) made of a silicon nitride film.

第2アンダーコート層130は、第1アンダーコート層120の表面を覆うように設けられる。第2アンダーコート層130は、例えば、例えば、酸化シリコン膜により構成される絶縁層(酸化シリコン層)である。なお、第2アンダーコート層130上に形成される電極により第1配線層が形成される。 The second undercoat layer 130 is provided to cover the surface of the first undercoat layer 120. The second undercoat layer 130 is, for example, an insulating layer (silicon oxide layer) made of a silicon oxide film. The first wiring layer is formed by electrodes formed on the second undercoat layer 130.

なお、アンダーコート層はSiO、SiNに限るものではなく、バリア性を有する薄膜であればよい。また、その厚みも適宜変更可能である。 The undercoat layer is not limited to SiO or SiN, and can be any thin film with barrier properties. Its thickness can also be changed as appropriate.

下部電極210は、第2アンダーコート層130上に形成される電極の一部であり、保持容量Cs_convを形成するための一方電極として機能する。下部電極210は、書き込みトランジスタT3及び駆動トランジスタTDのゲート電極のそれぞれと接続されている。 The lower electrode 210 is part of the electrode formed on the second undercoat layer 130 and functions as one electrode for forming the storage capacitance Cs_conv. The lower electrode 210 is connected to the gate electrodes of the write transistor T3 and the drive transistor TD.

第1絶縁層140は、下部電極210を含む1以上の電極(第1配線層)が形成された第2アンダーコート層130を覆うように設けられる。第1絶縁層140は、下部電極210と第1上部電極220との間に充填されている。第1絶縁層140は、例えば、酸化シリコン膜であるが、窒化シリコン膜、酸窒化シリコン膜及び酸化アルミニウム膜等の無機絶縁膜により構成されてもよい。第1絶縁層140上に形成される電極により第2配線層が形成される。なお、図2に示す保持容量Cs_convは、図1に示す保持容量Csに相当する。 The first insulating layer 140 is provided to cover the second undercoat layer 130, on which one or more electrodes (first wiring layer) including the lower electrode 210 are formed. The first insulating layer 140 is filled between the lower electrode 210 and the first upper electrode 220. The first insulating layer 140 is, for example, a silicon oxide film, but may also be composed of an inorganic insulating film such as a silicon nitride film, a silicon oxynitride film, or an aluminum oxide film. The second wiring layer is formed by electrodes formed on the first insulating layer 140. Note that the storage capacitance Cs_conv shown in FIG. 2 corresponds to the storage capacitance Cs shown in FIG. 1.

第1上部電極220、正電源線VCC及びデータ信号線Vdatは、第1絶縁層140上に形成される電極の一部である。本実施の形態では、第1上部電極220は、下部電極210と対向して設けられる部分(第1対向部)を有し、保持容量Cs_convを形成するための他方電極として機能する。第1対向部は、第1上部電極220のうち、平面視において、下部電極210と重なる部分である。なお、「A」と「B」とが対向して設けられるとは、「A」と「B」との間の少なくとも一部に他の金属層が形成されていていないことを意味する。 The first upper electrode 220, the positive power supply line VCC, and the data signal line Vdat are part of electrodes formed on the first insulating layer 140. In this embodiment, the first upper electrode 220 has a portion (first opposing portion) that faces the lower electrode 210, and functions as the other electrode for forming the storage capacitance Cs_conv. The first opposing portion is the portion of the first upper electrode 220 that overlaps with the lower electrode 210 in a planar view. Note that "A" and "B" being opposed to each other means that no other metal layer is formed in at least a portion between "A" and "B".

正電源線VCCは、駆動トランジスタTDのドレイン電極、及び、電源30(図3を参照)に接続され、平面視において、X軸方向に長尺状である。 The positive power supply line VCC is connected to the drain electrode of the drive transistor TD and the power supply 30 (see Figure 3), and is elongated in the X-axis direction in a plan view.

データ信号線Vdatは、サブ画素回路1011Bに隣接するサブ画素回路1011Gのデータ信号線である。正電源線VCC及びデータ信号線Vdatは、平面視において、下部電極210(画素回路1011Rの下部電極210)と重ならない位置に設けられる。 The data signal line Vdat G is a data signal line of the sub-pixel circuit 1011G adjacent to the sub-pixel circuit 1011B. The positive power supply line VCC and the data signal line Vdat G are provided at positions that do not overlap the lower electrode 210 (the lower electrode 210 of the pixel circuit 1011R) in a plan view.

第2絶縁層150は、第1上部電極220、データ信号線Vdat等を含む複数の電極(第2配線層)が形成された第1絶縁層140を覆うように設けられる。第2絶縁層150は、例えば、第1絶縁層140より厚み(Z軸方向の長さ)が厚い。第2絶縁層150は、例えば、酸化シリコン膜であるが、窒化シリコン膜、酸窒化シリコン膜及び酸化アルミニウム膜等の無機絶縁膜により構成されてもよい。また、第2絶縁層150は、無機絶縁膜と有機絶縁膜とにより構成されてもよい。有機絶縁膜は、例えば、基板110の表面を平坦化するための平坦化層として機能する。 The second insulating layer 150 is provided so as to cover the first insulating layer 140 on which a plurality of electrodes (second wiring layer) including the first upper electrode 220 and the data signal line Vdat G are formed. The second insulating layer 150 has a thickness (length in the Z-axis direction) greater than that of the first insulating layer 140, for example. The second insulating layer 150 is, for example, a silicon oxide film, but may also be composed of an inorganic insulating film such as a silicon nitride film, a silicon oxynitride film, or an aluminum oxide film. The second insulating layer 150 may also be composed of an inorganic insulating film and an organic insulating film. The organic insulating film functions, for example, as a planarizing layer for planarizing the surface of the substrate 110.

金属層160は、EL層を形成するための電極であり、例えば、陽極(アノード)である。金属層160は、サブ画素ごとに形成されている。 The metal layer 160 is an electrode for forming the EL layer, such as an anode. The metal layer 160 is formed for each subpixel.

発光層170は、第3絶縁層190により区画された領域ごとに設けられ、保持容量Csに蓄積される電荷量に応じた発光電流により発光する。 The light-emitting layer 170 is provided in each region partitioned by the third insulating layer 190, and emits light in response to a light-emitting current that corresponds to the amount of charge stored in the storage capacitor Cs.

金属層180は、EL層を形成するための電極であり、例えば、陰極(カソード)である。金属層180は、負電源線VCATHと接続される。金属層180は、複数の画素を一括して覆うように形成される。金属層180は、第4電極層の一例である。 Metal layer 180 is an electrode for forming the EL layer, for example, a cathode. Metal layer 180 is connected to the negative power supply line VCATH. Metal layer 180 is formed so as to cover multiple pixels collectively. Metal layer 180 is an example of a fourth electrode layer.

第3絶縁層190は、発光層170を形成するために基板110上を区画するバンク(隔壁)である。第3絶縁層190は、感光性の熱硬化性樹脂により形成される。 The third insulating layer 190 is a bank (partition) that divides the substrate 110 to form the light-emitting layer 170. The third insulating layer 190 is formed from a photosensitive thermosetting resin.

発光層170、第3絶縁層190、金属層160及び180によりEL層が形成される。 The EL layer is formed by the light-emitting layer 170, the third insulating layer 190, and the metal layers 160 and 180.

なお、EL層上に、保護膜、封止樹脂、及び、封止基板がこの順で積層されてもよい(図示省略)。 In addition, a protective film, sealing resin, and sealing substrate may be laminated on the EL layer in this order (not shown).

なお、下部電極210、第1上部電極220、正電源線VCC及びデータ信号線Vdatは、例えば、モリブデン(Mo)、タングステン(W)、アルミニウム(Al)、銅(Cu)、銀(Ag)及びチタン(Ti)等の金属、又は、合金により構成される。 The lower electrode 210, first upper electrode 220, positive power supply line VCC, and data signal line Vdat are made of metals such as molybdenum (Mo), tungsten (W), aluminum (Al), copper (Cu), silver (Ag), and titanium (Ti), or alloys.

上記のように、比較例に係る画素回路では、下部電極210、第1上部電極220、及び、下部電極210と第1上部電極220との間の第1絶縁層140により、保持容量Cs_convが形成される。 As described above, in the pixel circuit according to the comparative example, the storage capacitance Cs_conv is formed by the lower electrode 210, the first upper electrode 220, and the first insulating layer 140 between the lower electrode 210 and the first upper electrode 220.

図1に示す補償トランジスタT2、及び、書き込みトランジスタT3等のスイッチングトランジスタには、高速動作を重視する観点から、ポリシリコン半導体TFT(Thin Film Transistor)が一般的に用いられる。しかしながら、ポリシリコン半導体TFTは、結晶欠陥起因等のリークにより、オフリーク電流が比較的大きく、保持容量Cs_convに保持された電荷が抜けるため、駆動トランジスタTDのゲートソース間の電位差Vgsが小さくなり、発光素子ELに流れる発光電流が減少し、所望の輝度(所望の階調値)での表示を行えなくなる、又は、所望の輝度を維持できなくなる。 Polysilicon semiconductor TFTs (Thin Film Transistors) are generally used for switching transistors such as the compensation transistor T2 and write transistor T3 shown in Figure 1, as they emphasize high-speed operation. However, polysilicon semiconductor TFTs have a relatively large off-leakage current due to leakage caused by crystal defects, etc., and as the charge held in the storage capacitor Cs_conv is released, the potential difference Vgs between the gate and source of the drive transistor TD decreases, reducing the light-emitting current flowing through the light-emitting element EL. This makes it impossible to display at the desired brightness (desired gradation value) or to maintain the desired brightness.

なお、ポリシリコン半導体TFTのオフリーク電流は、製造時のプロセス制御(Si結晶性の制御)に依存する傾向が高く、既存技術では低減に限界がある。オフリーク電流が発生する要因としては、サブスレッショルドリーク電流(ドレイン-ソース間リーク)、ゲートリーク電流(ゲート絶縁膜リーク)、GIDL(Gate-Induced-Drain-Leakage current)電流、又は、接合リーク電流(結晶性欠陥リーク電流)の発生等が例示される。 The off-leakage current of polysilicon semiconductor TFTs tends to be highly dependent on process control (control of Si crystallinity) during manufacturing, and existing technology has limitations in how much it can be reduced. Examples of factors that cause off-leakage current include subthreshold leakage current (drain-source leakage), gate leakage current (gate insulating film leakage), GIDL (Gate-Induced-Drain-Leakage current), and junction leakage current (crystalline defect leakage current).

そこで、本願発明者は、スイッチングトランジスタのオフリークによる輝度の変化を抑制することができる表示装置について鋭意検討を行い、以下に説明する表示装置を創案した。 The inventors of the present application therefore conducted extensive research into display devices that can suppress changes in brightness due to off-leakage of switching transistors, and devised the display device described below.

以下、本開示の各実施の形態について、図面を用いて説明する。なお、以下に説明する各実施の形態は、いずれも本開示における一具体例を示すものである。したがって、以下の各実施の形態で示される、数値、形状、材料、構成要素、構成要素の配置位置及び接続形態等は、一例であって本開示を限定する主旨ではない。よって、以下の各実施の形態における構成要素のうち、本開示における独立請求項に記載されていない構成要素については、任意の構成要素として説明される。 Each embodiment of the present disclosure will be described below with reference to the drawings. Note that each embodiment described below represents a specific example of the present disclosure. Therefore, the numerical values, shapes, materials, components, component placement and connection configurations, etc. shown in each of the following embodiments are merely examples and are not intended to limit the present disclosure. Therefore, among the components in each of the following embodiments, any component not recited in an independent claim of the present disclosure will be described as an optional component.

また、各図は、模式図であり、必ずしも厳密に図示されたものではない。また、各図において、実質的に同一の構成に対しては同一の符号を付しており、重複する説明は省略又は簡略化する。 Furthermore, each figure is a schematic diagram and is not necessarily an exact illustration. Furthermore, in each figure, substantially identical components are assigned the same reference numerals, and redundant explanations are omitted or simplified.

また、本明細書及び図面において、X軸、Y軸及びZ軸は、右手系の三次元直交座標系の三軸を示している。各実施の形態では、Z軸方向を各層の積層方向としている。本明細書において、「平面視」とは、画素回路の厚み方向に沿って画素回路を見た場合を意味する。 In addition, in this specification and drawings, the X-axis, Y-axis, and Z-axis represent the three axes of a right-handed three-dimensional Cartesian coordinate system. In each embodiment, the Z-axis direction is the stacking direction of each layer. In this specification, "planar view" means when the pixel circuit is viewed along the thickness direction of the pixel circuit.

また、本明細書において、同一、平行等の要素間の関係性を示す用語、及び、矩形、長尺等の要素の形状を示す用語、並びに、数値、及び、数値範囲は、厳格な意味のみを表す表現ではなく、実質的に同等な範囲、例えば数%程度(例えば、10%程度)の差異をも含むことを意味する表現である。 In addition, in this specification, terms indicating the relationship between elements, such as identical or parallel, terms indicating the shape of elements, such as rectangular or elongated, as well as numerical values and numerical ranges, are not expressions that express only the strict meaning, but also expressions that include a substantially equivalent range, for example, a difference of about a few percent (e.g., about 10%).

(実施の形態1)
[1-1.表示装置の構成]
まずは、本実施の形態に係る表示装置1の概略構成について、図3~図5を参照しながら説明する。図3は、本実施の形態に係る表示装置1の機能的な構成を示すブロック図である。なお、以下の説明では、簡潔のため、信号と信号を伝達する配線とを、同一の符号で参照することがある。
(Embodiment 1)
[1-1. Configuration of display device]
First, the schematic configuration of the display device 1 according to this embodiment will be described with reference to Figures 3 to 5. Figure 3 is a block diagram showing the functional configuration of the display device 1 according to this embodiment. In the following description, for simplicity, signals and the wiring that transmits the signals may be referred to by the same reference numerals.

図3に示すように、表示装置1は、表示モジュール10と、制御部20と、電源30とを備える。表示モジュール10は、表示パネル12(表示部)と、ゲートドライバ13と、データドライバ14とを有する。 As shown in FIG. 3, the display device 1 includes a display module 10, a control unit 20, and a power supply 30. The display module 10 includes a display panel 12 (display unit), a gate driver 13, and a data driver 14.

表示パネル12は、複数の画素回路11(画素)を2次元状(マトリクス状)に配置して構成される。つまり、表示パネル12は、複数の画素行Lを有する。各画素回路11は、R、G、Bの発光色にそれぞれ対応するサブ画素回路11R、11G、11B(サブ画素)を有する。本実施の形態では、複数の画素行Lを構成する複数の画素のそれぞれは、発光素子として、有機EL素子を有する例について説明するが、これに限定されない。表示パネル12は、発光素子として、QLED(Quantum-dot Light Emitting Diode)素子を有していてもよい。 The display panel 12 is configured by arranging multiple pixel circuits 11 (pixels) in a two-dimensional array (matrix). That is, the display panel 12 has multiple pixel rows L. Each pixel circuit 11 has sub-pixel circuits 11R, 11G, and 11B (sub-pixels) corresponding to the emitted colors R, G, and B, respectively. In this embodiment, an example is described in which each of the multiple pixels constituting the multiple pixel rows L has an organic EL element as its light-emitting element, but this is not limited to this. The display panel 12 may also have QLED (Quantum-dot Light Emitting Diode) elements as its light-emitting elements.

行列状の各行には、同じ行に配置される複数の画素回路11に接続される3本の制御信号線INI、REF及びWSが設けられる。制御信号線INI、REF及びWSは、ゲートドライバ13から供給される制御信号INI、REF、WSを、画素回路11へ伝達する。なお、制御信号線の本数及び制御信号は一例であり、この例には限定されない。また、制御信号線INI、REF、WSは、走査線の一例である。 Each row of the matrix is provided with three control signal lines INI, REF, and WS that are connected to the multiple pixel circuits 11 arranged in the same row. The control signal lines INI, REF, and WS transmit the control signals INI, REF, and WS supplied from the gate driver 13 to the pixel circuits 11. Note that the number of control signal lines and the control signals are merely examples and are not limited to this example. The control signal lines INI, REF, and WS are also examples of scan lines.

走査線は、複数の画素行Lごとに配置され、映像信号に対応したデータ信号を書き込むための画素行Lを選択するために設けられる。 Scanning lines are arranged for each of multiple pixel rows L and are provided to select the pixel row L to which a data signal corresponding to a video signal is written.

行列状の各列には、同じ列に配置される複数の画素回路11に接続される3本のデータ信号線Vdat、Vdat、Vdatが設けられる。データ信号線Vdat、Vdat、Vdatは、データドライバ14から供給されるR、G、Bの発光輝度に関連するデータ信号Vdat、Vdat、Vdatを、画素回路11へ、それぞれ伝達する。 Each column of the matrix is provided with three data signal lines Vdat R , Vdat G , and Vdat B connected to the pixel circuits 11 arranged in the same column. The data signal lines Vdat R, Vdat G, and Vdat B transmit data signals Vdat R , Vdat G , and Vdat B related to the emission brightness of R, G , and B supplied from the data driver 14 to the pixel circuits 11, respectively.

なお、図3では、ゲートドライバ13は、表示パネル12の片側に配置されているが、両側に配置されていてもよい。また、データドライバ14は、表示パネル12にCOG(Chip on Glass)で実装されてもよく、COF(Chip On Film)で実装されてもよい。 In FIG. 3, the gate driver 13 is arranged on one side of the display panel 12, but it may be arranged on both sides. Furthermore, the data driver 14 may be mounted on the display panel 12 using COG (chip on glass) or COF (chip on film).

制御部20は、表示モジュール10の各構成要素を制御する。制御部20は、外部から映像信号を受信し、当該映像信号の各フレームの画像を表示パネル12において表示するための制御信号を、ゲートドライバ13及びデータドライバ14へ供給する。 The control unit 20 controls each component of the display module 10. The control unit 20 receives a video signal from an external device and supplies control signals to the gate driver 13 and data driver 14 to display an image of each frame of the video signal on the display panel 12.

電源30は、表示パネル12、ゲートドライバ13、データドライバ14、及び、制御部20へ動作用の電力を供給する。電源30は、例えば、参照電圧VINI、VREF、正電源電圧VCC、及び、負電源電圧VCATHを、表示パネル12へ供給する。 The power supply 30 supplies operating power to the display panel 12, gate driver 13, data driver 14, and control unit 20. The power supply 30 supplies, for example, reference voltages VINI and VREF, a positive power supply voltage VCC, and a negative power supply voltage VCATH to the display panel 12.

ここで、画素回路11の詳細な構成について、図4~図7を参照しながら説明する。図4は、本実施の形態に係る表示装置1の画素回路11の構成を示す回路図である。 The detailed configuration of the pixel circuit 11 will now be described with reference to Figures 4 to 7. Figure 4 is a circuit diagram showing the configuration of the pixel circuit 11 of the display device 1 according to this embodiment.

図4に示すように、画素回路11を構成するサブ画素回路11R、11G、11Bは、互いに同一の構成を有している。以下、画素回路11の構成について、サブ画素回路11Rに着目して説明する。 As shown in FIG. 4, the sub-pixel circuits 11R, 11G, and 11B that make up the pixel circuit 11 have the same configuration. Below, the configuration of the pixel circuit 11 will be explained, focusing on the sub-pixel circuit 11R.

サブ画素回路11Rは、初期化トランジスタT1と、補償トランジスタT2と、書き込みトランジスタT3と、保持容量Csと、駆動トランジスタTDと、発光素子ELとを有している。また、サブ画素回路11Rは、制御信号線INI、REF、WS、参照電圧線VINI、VREF、データ信号線Vdat、正電源線VCC、及び、負電源線VCATHを有している。なお、初期化トランジスタT1及び補償トランジスタT2は、必須の構成要素ではない。 The sub-pixel circuit 11R includes an initialization transistor T1R , a compensation transistor T2R , a write transistor T3R , a storage capacitor CsR , a drive transistor TD R , and a light-emitting element EL R. The sub-pixel circuit 11R also includes control signal lines INI, REF, WS, reference voltage lines VINI, VREF, a data signal line Vdat R , a positive power supply line VCC, and a negative power supply line VCATH. Note that the initialization transistor T1R and the compensation transistor T2R are not essential components.

初期化トランジスタT1は、制御信号INIに従ってオン状態となり、駆動トランジスタTDのソースノードを参照電圧(基準電圧)VINIに設定する。 The initialization transistor T1R is turned on in accordance with the control signal INI, and sets the source node of the drive transistor TDR to a reference voltage (standard voltage) VINI.

補償トランジスタT2は、制御信号REFに従ってオン状態となり、駆動トランジスタTDのゲート電極(ゲートノード)に参照電圧VREFを供給する。これは、発光素子ELの電極(例えば、アノード)の電位を初期化することに相当する。 The compensation transistor T2R is turned on in accordance with the control signal REF and supplies the reference voltage VREF to the gate electrode (gate node) of the drive transistor TDR . This corresponds to initializing the potential of the electrode (e.g., anode) of the light-emitting element ELRR .

書き込みトランジスタT3は、制御信号WSに従ってオン状態となり、データ信号Vdatの電圧を保持容量Csに保持させる。書き込みトランジスタT3は、データ信号線Vdatと駆動トランジスタTDのゲート電極との間に接続されている。具体的には、書き込みトランジスタT3は、ソース電極及びドレイン電極の一方がデータ信号線Vdatに接続され、ソース電極及びドレイン電極の他方が補償トランジスタT2のソース電極及びドレイン電極の一方、及び、駆動トランジスタTDのゲート電極に接続されている。 The write transistor T3R is turned on in response to the control signal WS, and causes the voltage of the data signal VdatR to be held in the holding capacitor CsR . The write transistor T3R is connected between the data signal line VdatR and the gate electrode of the drive transistor TDR . Specifically, one of the source electrode and the drain electrode of the write transistor T3R is connected to the data signal line VdatR , and the other of the source electrode and the drain electrode is connected to one of the source electrode and the drain electrode of the compensation transistor T2R and the gate electrode of the drive transistor TDR .

駆動トランジスタTDは、ソース電極及びドレイン電極の一方が正電源線VCCに接続され、ソース電極及びドレイン電極の他方が発光素子ELのアノードに接続され、保持容量Csに保持されたデータ信号Vdatに応じた発光電流を発光素子ELに供給する。これにより、発光素子ELは、データ信号Vdatに応じた輝度で発光する。 The drive transistor TD R has one of its source electrode and drain electrode connected to the positive power supply line VCC, and the other of its source electrode and drain electrode connected to the anode of the light-emitting element EL R , and supplies a light-emitting current to the light-emitting element EL R according to the data signal Vdat R held in the storage capacitor Cs R. This causes the light-emitting element EL R to emit light with a luminance according to the data signal Vdat R.

保持容量Csは、データ信号線Vdatを介して供給されたデータ信号Vdatを保持する。詳細は後述するが、本開示に係る保持容量Csは、比較例に係る保持容量Csに比べて容量が大きい。本開示に係る保持容量Csは、比較例で示した保持容量Cs_convと、保持容量Cs_add(図6を参照)との合成容量により実現される。 The storage capacitor CsR stores the data signal VdatR supplied via the data signal line VdatR . As will be described in detail later, the storage capacitor CsR according to the present disclosure has a larger capacitance than the storage capacitor CsR according to the comparative example. The storage capacitor CsR according to the present disclosure is realized by a combined capacitance of the storage capacitor Cs_conv shown in the comparative example and the storage capacitor Cs_add (see FIG. 6 ).

発光素子ELは、自発光型の発光素子であり、本実施の形態では、有機EL(Electro Luminescence)素子である。発光素子ELのアノード電極は、駆動トランジスタTDのソース電極及びドレイン電極の一方と接続される。発光素子ELのカソード電極には、カソード電源線(負電源線VCATH)によってカソード電圧(負電源電圧VCATH)が印加されている。 The light-emitting element EL R is a self-luminous light-emitting element, and in this embodiment, is an organic EL (Electro Luminescence) element. The anode electrode of the light-emitting element EL R is connected to one of the source electrode and the drain electrode of the drive transistor TD R. A cathode voltage (negative power supply voltage VCATH) is applied to the cathode electrode of the light-emitting element EL R via a cathode power supply line (negative power supply line VCATH).

なお、図4に示すゲート電位Vgは、駆動トランジスタTDのゲート電極の電位を示しており、ソース電位Vsは、駆動トランジスタTDのソース電極の電位を示している。 4 indicates the potential of the gate electrode of the driving transistor TDR , and the source potential VsR indicates the potential of the source electrode of the driving transistor TDR .

なお、上記で説明した各トランジスタは、例えば、n型の薄膜トランジスタ(n型TFT)で構成されるが、p型の薄膜トランジスタ(p型TFT)で構成されてもよい。また、上記で説明した各トランジスタには、例えば、ポリシリコン半導体TFTが用いられるがこれに限定されない。 Note that each of the transistors described above is, for example, an n-type thin film transistor (n-type TFT), but may also be a p-type thin film transistor (p-type TFT). Furthermore, each of the transistors described above may be, for example, a polysilicon semiconductor TFT, but is not limited to this.

ここで、画素回路11の断面構成について、図5~図7を参照しながら説明する。図5は、本実施の形態に係る表示装置1の画素回路11の構成を模式的に示す平面図である。図6は、図5のVI-VI切断線で切断した、本実施の形態に係る表示装置1の画素回路11の構成を模式的に示す断面図である。図7は、図5のVII-VII切断線で切断した、本実施の形態に係る表示装置1の画素回路11の構成を模式的に示す断面図である。 The cross-sectional configuration of the pixel circuit 11 will now be described with reference to Figures 5 to 7. Figure 5 is a plan view schematically showing the configuration of the pixel circuit 11 of the display device 1 according to this embodiment. Figure 6 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the pixel circuit 11 of the display device 1 according to this embodiment, taken along the VI-VI cutting line in Figure 5. Figure 7 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of the pixel circuit 11 of the display device 1 according to this embodiment, taken along the VII-VII cutting line in Figure 5.

図5~図7に示すように、本実施の形態に係る画素回路11は、比較例に係る画素回路1011の下部電極210に替えて下部電極310を有し、さらに第2上部電極320及び第4絶縁層200を有する。 As shown in Figures 5 to 7, the pixel circuit 11 according to this embodiment has a lower electrode 310 instead of the lower electrode 210 of the pixel circuit 1011 according to the comparative example, and further has a second upper electrode 320 and a fourth insulating layer 200.

下部電極310は、駆動トランジスタTDのゲート電極、及び、書き込みトランジスタT3と接続され、保持容量Cs_conv及びCs_addを形成するための一方電極として機能する。下部電極310は、比較例に係る下部電極210より平面視における面積が広い電極である。下部電極310は、例えば、平面視において、第1上部電極220、及び、第2上部電極320の一部を覆うように形成される。例えば、下部電極310は、平面視において、第1上部電極220の第1対向部、及び、第2上部電極320の第2対向部のそれぞれと重なるように設けられる。例えば、下部電極310は、正電源線VCCに跨がって形成されている。なお、下部電極310は、隣接するサブ画素回路のデータ信号線(図6の例では、データ信号線Vdat)とは平面視において重ならない。 The lower electrode 310 is connected to the gate electrode of the drive transistor TDR and the write transistor T3R , and functions as one electrode for forming the storage capacitors Cs_conv and Cs_add. The lower electrode 310 has a larger area in a planar view than the lower electrode 210 according to the comparative example. The lower electrode 310 is formed, for example, to cover a portion of the first upper electrode 220 and the second upper electrode 320 in a planar view. For example, the lower electrode 310 is arranged to overlap a first opposing portion of the first upper electrode 220 and a second opposing portion of the second upper electrode 320 in a planar view. For example, the lower electrode 310 is formed across the positive power supply line VCC. Note that the lower electrode 310 does not overlap a data signal line (the data signal line VdatG in the example of FIG. 6) of an adjacent subpixel circuit in a planar view.

下部電極310は、平面視において、第1上部電極220と対向する部分である第1電極部310aと、第1電極部320aと対向する第2電極部310bと、第2電極部320bと対向する第3電極部310cと、駆動トランジスタTDのゲート電極と接続される第4電極部310dとを有する。下部電極310は、第1上部電極220(例えば、後述する第1対向部)と、第1電極部320a及び第2電極部320bとを覆う。 In a plan view, the lower electrode 310 has a first electrode portion 310a which is a portion facing the first upper electrode 220, a second electrode portion 310b facing the first electrode portion 320a, a third electrode portion 310c facing the second electrode portion 320b, and a fourth electrode portion 310d connected to the gate electrode of the driving transistor TD R. The lower electrode 310 covers the first upper electrode 220 (for example, a first facing portion described later), the first electrode portion 320a, and the second electrode portion 320b.

第1電極部310aは、例えば、矩形状であり、第2電極部310b及び第3電極部310cは、長尺状である。例えば、第2電極部310b及び第3電極部310cは、正電源線VCCに沿って長尺状である。下部電極310は、平面視において、第2電極部310bと第3電極部310cとにより正電源線VCCを挟む構成を有する。第1電極部310aは、比較例に示す下部電極210に相当する。第4電極部310dは、第1配線部の一例である。 The first electrode portion 310a is, for example, rectangular, while the second electrode portion 310b and the third electrode portion 310c are elongated. For example, the second electrode portion 310b and the third electrode portion 310c are elongated along the positive power supply line VCC. In a plan view, the lower electrode 310 has a configuration in which the positive power supply line VCC is sandwiched between the second electrode portion 310b and the third electrode portion 310c. The first electrode portion 310a corresponds to the lower electrode 210 shown in the comparative example. The fourth electrode portion 310d is an example of a first wiring portion.

平面視において、下部電極310のうち第1上部電極220及び第2上部電極320と重なる部分、つまり下部電極310のうち第1上部電極220及び第2上部電極320を覆う部分は、第3対向部の一例である。また、平面視において、下部電極310と重なる第1上部電極220の部分は、第1対向部の一例である。第1上部電極220は、第1絶縁層140上において下部電極310と対向して配置される第1対向部を有するとも言える。第1上部電極220は、第2電極層の一例である。 In plan view, the portion of the lower electrode 310 that overlaps with the first upper electrode 220 and the second upper electrode 320, i.e., the portion of the lower electrode 310 that covers the first upper electrode 220 and the second upper electrode 320, is an example of a third opposing portion. In addition, in plan view, the portion of the first upper electrode 220 that overlaps with the lower electrode 310 is an example of a first opposing portion. It can also be said that the first upper electrode 220 has a first opposing portion that is disposed opposite the lower electrode 310 on the first insulating layer 140. The first upper electrode 220 is an example of a second electrode layer.

図6及び図7に示すように、画素回路11は、第2絶縁層150と、金属層160との間に第2上部電極320及び第3絶縁層190を有する。 As shown in Figures 6 and 7, the pixel circuit 11 has a second upper electrode 320 and a third insulating layer 190 between the second insulating layer 150 and the metal layer 160.

第1絶縁層140は、下部電極310を含む1以上の電極(第1配線層)が形成された第2アンダーコート層130を覆うように形成される。第1絶縁層140は、下部電極310を覆うように形成されるとも言える。 The first insulating layer 140 is formed to cover the second undercoat layer 130 on which one or more electrodes (first wiring layer) including the lower electrode 310 are formed. It can also be said that the first insulating layer 140 is formed to cover the lower electrode 310.

第2絶縁層150は、第1上部電極220を含む1以上の電極(第2配線層)が形成された第1絶縁層140を覆うように形成される。第2絶縁層150は、第1上部電極220及び第1絶縁層140を覆うとも言える。 The second insulating layer 150 is formed to cover the first insulating layer 140 on which one or more electrodes (second wiring layer) including the first upper electrode 220 are formed. It can also be said that the second insulating layer 150 covers the first upper electrode 220 and the first insulating layer 140.

第2上部電極320は、少なくとも一部が第2絶縁層150上に形成され、保持容量Cs_addを形成するための他方電極として機能する。第2上部電極320は、駆動トランジスタTDのソース電極及びドレイン電極の一方と接続部330を介して接続される。つまり、第2上部電極320は、第1上部電極220と電気的に接続されており、同電位である。また、本実施の形態では、第2上部電極320は、初期化トランジスタT1のソース電極及びドレイン電極の一方と接続部330を介して接続される。第2上部電極320は、第3電極層の一例である。 At least a portion of the second upper electrode 320 is formed on the second insulating layer 150, and functions as the other electrode for forming the storage capacitor Cs_add. The second upper electrode 320 is connected to one of the source electrode and drain electrode of the drive transistor TDR via a connection portion 330. In other words, the second upper electrode 320 is electrically connected to the first upper electrode 220 and has the same potential. In this embodiment, the second upper electrode 320 is also connected to one of the source electrode and drain electrode of the initialization transistor T1R via the connection portion 330. The second upper electrode 320 is an example of a third electrode layer.

なお、接続部330は、第1上部電極220を駆動トランジスタTDのソース電極及びドレイン電極の一方と接続する。接続部330は、第2配線部の一例である。 The connection section 330 connects the first upper electrode 220 to one of the source electrode and the drain electrode of the driving transistor TDR . The connection section 330 is an example of a second wiring section.

なお、図7に示すように、接続部330と第2上部電極320との接続は、コンタクト部Cにおいて実現される。第2絶縁層150には、接続部330と第2上部電極320(例えば、第3電極部320c)とが重なる位置に貫通孔151が形成されており、当該貫通孔151を介して、接続部330と第2上部電極320とが接続される。例えば、貫通孔151において、第1絶縁層140上に直接形成されている接続部330と、第2上部電極320とが接続される。第2上部電極320は、接続部330を介して駆動トランジスタTDのソース電極と電気的に接続されるとも言える。 As shown in FIG. 7 , the connection between the connection portion 330 and the second upper electrode 320 is realized at contact portion C. A through-hole 151 is formed in the second insulating layer 150 at a position where the connection portion 330 and the second upper electrode 320 (e.g., third electrode portion 320c) overlap, and the connection portion 330 and the second upper electrode 320 are connected via this through-hole 151. For example, the through-hole 151 connects the connection portion 330 formed directly on the first insulating layer 140 to the second upper electrode 320. It can also be said that the second upper electrode 320 is electrically connected to the source electrode of the drive transistor TD via the connection portion 330.

第2上部電極320は、第1電極部320aと、第2電極部320bと第3電極部320cとを有する。本実施の形態では、第2上部電極320は、第2絶縁層150上に直接形成されている。 The second upper electrode 320 has a first electrode portion 320a, a second electrode portion 320b, and a third electrode portion 320c. In this embodiment, the second upper electrode 320 is formed directly on the second insulating layer 150.

第1電極部320aは、第2電極部310bと対向する部分を有し、正電源線VCCよりデータ信号線Vdat側に設けられる。第1電極部320aは、正電源線VCCに沿ってX軸方向に長尺状である。第1電極部320aは、平面視において、下部電極310(例えば、第2電極部310b)と重なる部分である。 The first electrode portion 320a has a portion facing the second electrode portion 310b and is provided closer to the data signal line Vdat R than the positive power supply line VCC. The first electrode portion 320a is elongated in the X-axis direction along the positive power supply line VCC. The first electrode portion 320a is a portion that overlaps with the lower electrode 310 (e.g., the second electrode portion 310b) in a plan view.

第2電極部320bは、第3電極部310cと対向する部分を有し、正電源線VCCと、隣接するサブ画素のデータ信号線(図5の例では、データ信号線Vdat)との間に設けられる。第1電極部320aは、正電源線VCCに沿ってX軸方向に長尺状である。第2電極部320bは、平面視において、下部電極310(例えば、第3電極部310c)と重なる部分である。 The second electrode portion 320b has a portion facing the third electrode portion 310c, and is provided between the positive power supply line VCC and the data signal line of the adjacent subpixel (the data signal line Vdat G in the example of FIG. 5 ). The first electrode portion 320a is elongated in the X-axis direction along the positive power supply line VCC. The second electrode portion 320b is a portion that overlaps with the lower electrode 310 (for example, the third electrode portion 310c) in a plan view.

第1電極部320a及び第2電極部320bは、平面視において、第1対向部と重ならない位置に設けられる。第1電極部320a及び第2電極部320bは、平面視において、正電源線VCCを挟むように形成されている。第1電極部320a及び第2電極部320bは、平面視において、平行に設けられていてもよい。また、第2電極部320bのX軸方向の長さは、第1電極部320aのX軸方向の長さと同じであってもよい。第1電極部320a及び第2電極部320bは、第2対向部の一例である。 The first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b are provided at positions that do not overlap with the first opposing portion in a planar view. The first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b are formed to sandwich the positive power supply line VCC in a planar view. The first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b may be provided parallel to each other in a planar view. Furthermore, the length of the second electrode portion 320b in the X-axis direction may be the same as the length of the first electrode portion 320a in the X-axis direction. The first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b are an example of a second opposing portion.

第3電極部320cは、平面視において、第1電極部320a及び第2電極部320bの長尺方向(X軸方向)と交差する方向(例えば、直交する方向)に長尺であり、第1電極部320a及び第2電極部320bと、接続部330とを電気的に接続するために設けられる。第3電極部320cは、例えば、貫通孔151の内面を覆うように形成される。また、第3電極部320cは、平面視において、第4電極部310dと交差しており、第4電極部310dの一部と重なる。 The third electrode portion 320c is elongated in a direction intersecting (e.g., perpendicular to) the longitudinal direction (X-axis direction) of the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b in a plan view, and is provided to electrically connect the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b to the connection portion 330. The third electrode portion 320c is formed, for example, to cover the inner surface of the through-hole 151. Furthermore, the third electrode portion 320c intersects with the fourth electrode portion 310d in a plan view, and overlaps with a portion of the fourth electrode portion 310d.

なお、第2上部電極320は、既存配線の寄生容量の増加を抑制する観点から、下層に信号線等がない領域に形成されるとよい。 In order to prevent an increase in the parasitic capacitance of existing wiring, the second upper electrode 320 is preferably formed in an area where there are no signal lines or the like below.

第4絶縁層200は、第2上部電極320を含む1以上の電極(第3配線層)が形成された第2絶縁層150を覆うように設けられる。第4絶縁層200は、例えば、酸化シリコン膜であるが、窒化シリコン膜、酸窒化シリコン膜及び酸化アルミニウム膜等の無機絶縁膜により構成されてもよい。 The fourth insulating layer 200 is provided to cover the second insulating layer 150 on which one or more electrodes (third wiring layer) including the second upper electrode 320 are formed. The fourth insulating layer 200 is, for example, a silicon oxide film, but may also be composed of an inorganic insulating film such as a silicon nitride film, a silicon oxynitride film, or an aluminum oxide film.

なお、上記で説明した各電極層の構成材料は、例えば、チタン(Ti)、タングステン(W)、タンタル(Ta)、アルミニウム(Al)、モリブデン(Mo)、銀(Ag)、ネオジウム(Nd)及び銅(Cu)のうちの1種を含む単体又は合金が挙げられる。あるいは、それらのうちの少なくとも1種を含む化合物又は2種以上を含む積層膜であってもよい。また、例えば、ITO等の透明導電膜が用いられてもよい。 The constituent material of each electrode layer described above may be, for example, a simple substance or alloy containing one of titanium (Ti), tungsten (W), tantalum (Ta), aluminum (Al), molybdenum (Mo), silver (Ag), neodymium (Nd), and copper (Cu). Alternatively, it may be a compound containing at least one of these, or a laminated film containing two or more of these. Alternatively, a transparent conductive film such as ITO may be used.

上記のように、本実施の形態に係る画素回路11では、比較例に係る画素回路1011に示す保持容量Cs_convに加えて、下部電極310、第2上部電極320及び下部電極310と第2上部電極320との間の第1絶縁層140及び第2絶縁層150とにより、保持容量Cs_addが形成される。具体的には、第2電極部310bと第1電極部320aとの間の第1補助保持容量と、第3電極部310cと第2電極部320bとの間の第2補助保持容量と、第4電極部310dと第3電極部320cとの間の第3補助保持容量との合成容量により、保持容量Cs_addが形成される。 As described above, in the pixel circuit 11 according to the present embodiment, in addition to the storage capacitance Cs_conv shown in the pixel circuit 1011 according to the comparative example, the storage capacitance Cs_add is formed by the lower electrode 310, the second upper electrode 320, and the first insulating layer 140 and second insulating layer 150 between the lower electrode 310 and the second upper electrode 320. Specifically, the storage capacitance Cs_add is formed by the combined capacitance of the first auxiliary storage capacitance between the second electrode portion 310b and the first electrode portion 320a, the second auxiliary storage capacitance between the third electrode portion 310c and the second electrode portion 320b, and the third auxiliary storage capacitance between the fourth electrode portion 310d and the third electrode portion 320c.

保持容量Cs_addは、平面視において、下部電極310と、第2上部電極320とが重なる面積をSとし、下部電極310と、第2上部電極320との距離をd1とすると、以下の(式1)により算出可能である。 The storage capacitance Cs_add can be calculated using the following formula (1), where S is the area where the lower electrode 310 and the second upper electrode 320 overlap in a plan view, and d1 is the distance between the lower electrode 310 and the second upper electrode 320.

Cs_add=ε0×εx×S/d1 ・・・(式1) Cs_add=ε0×εx×S/d1 (Formula 1)

なお、ε0は、真空の誘電率を示し、εxは、比誘電率を示す。また、画素回路11の合計の保持容量Csは、以下の(式2)により算出可能である。 Note that ε0 represents the dielectric constant of a vacuum, and εx represents the relative dielectric constant. Furthermore, the total storage capacitance Cs of the pixel circuit 11 can be calculated using the following (Equation 2):

Cs=Cs_conv+Cs_add ・・・(式2) Cs=Cs_conv+Cs_add...(Formula 2)

保持容量Csは、保持容量Cs_convより大きな値となる。 The storage capacitance Cs is greater than the storage capacitance Cs_conv.

このように、本実施の形態に係る表示装置1は、保持容量Csを比較例で説明した保持容量Cs_convより大きくすることができる。 In this way, the display device 1 according to this embodiment can make the storage capacitance Cs larger than the storage capacitance Cs_conv described in the comparative example.

また、平面視において、第2電極部310bと第1電極部310aとが重なる面積、及び、第3電極部310cと第2電極部310bとが重なる面積は、例えば、等しくてもよい。つまり、第2電極部310bと第1電極部310aとで形成される保持容量Cs_addと、第3電極部310cと第2電極部310bとで形成される保持容量Cs_addとは、等しくてもよい。なお、2つの保持容量Cs_addは、等しいことに限定されず、互いに異なっていてもよい。 In addition, in a plan view, the area where the second electrode portion 310b and the first electrode portion 310a overlap, and the area where the third electrode portion 310c and the second electrode portion 310b overlap, may be equal, for example. In other words, the storage capacitance Cs_add formed by the second electrode portion 310b and the first electrode portion 310a may be equal to the storage capacitance Cs_add formed by the third electrode portion 310c and the second electrode portion 310b. Note that the two storage capacitances Cs_add are not limited to being equal, and may be different from each other.

[1-2.保持容量を大きくすることの効果]
保持容量Csを大きくすることの効果について、図8を参照しながら説明する。図8は、本実施の形態に係る表示装置1の効果を説明するための図である。図8の縦軸は、画素電流(発光電流)の低下度合いを示し、横軸は時間を示す。図8は、1フレームの開始時点の画素電流の値を基準とした、表示装置1及び従来技術の表示装置における1フレームの間の画素電流の低下度合いの比較を示す。なお、従来技術とは、保持容量Cs_conv及びCs_addのうち保持容量Cs_convのみで画素回路の保持容量が形成される表示装置を意味する。
[1-2. Effect of increasing storage capacitance]
The effect of increasing the storage capacitance Cs will be described with reference to FIG. 8 . FIG. 8 is a diagram for explaining the effect of the display device 1 according to the present embodiment. The vertical axis of FIG. 8 represents the degree of decrease in pixel current (light-emitting current), and the horizontal axis represents time. FIG. 8 shows a comparison of the degree of decrease in pixel current over one frame between the display device 1 and a display device of the prior art, based on the value of the pixel current at the start of one frame. Note that the prior art refers to a display device in which the storage capacitance of the pixel circuit is formed only by the storage capacitance Cs_conv, out of the storage capacitances Cs_conv and Cs_add.

図8に示すように、本実施の形態に係る表示装置1では、従来技術の表示装置に比べて、1フレームの間での画素電流の低下が抑制されている(図8に示す「-ΔIpixが改善」を参照)。表示装置1は、従来に比べて保持容量Csが大きいので、電荷の蓄積量も従来に比べて大きい。一方、オフリークにより抜ける画素電流の量は、保持容量Csに関わらず一定である。つまり、表示装置1は、電荷の蓄積量に対するオフリークによる電荷の低減量の割合が小さい。よって、本実施の形態に係る表示装置1は、図8に示すように、画素電流の低下度合いが緩和されるので、発光電流の減少が抑制され、オフリークによる輝度の変化を抑制することができる。 As shown in Figure 8, the display device 1 according to this embodiment reduces the decrease in pixel current over one frame compared to display devices of the prior art (see "Improved -ΔIpix" in Figure 8). The display device 1 has a larger storage capacitance Cs than conventional display devices, and therefore a larger amount of accumulated charge. On the other hand, the amount of pixel current lost due to off-leakage is constant regardless of storage capacitance Cs. In other words, the display device 1 has a small ratio of the amount of charge reduction due to off-leakage to the amount of accumulated charge. Therefore, as shown in Figure 8, the display device 1 according to this embodiment reduces the degree of decrease in pixel current, thereby reducing the decrease in light-emitting current and suppressing changes in brightness due to off-leakage.

例えば、保持容量Cs_conv及び保持容量Cs_addの合成の保持容量が保持容量Cs_conv単体の保持容量の1.5倍となる場合、駆動トランジスタTD、TD、TDのゲートソース間の電位差Vgsの低下をおよそ0.67倍に抑えることができるので、それに伴い画素電流Ipixの低下を抑制することができる。 For example, if the combined storage capacitance of the storage capacitance Cs_conv and the storage capacitance Cs_add is 1.5 times the storage capacitance of the storage capacitance Cs_conv alone, the decrease in the potential difference Vgs between the gate and source of the drive transistors TD R , TD G , and TD B can be suppressed to approximately 0.67 times, thereby suppressing the decrease in the pixel current Ipix.

なお、本実施の形態に係る表示装置1は、保持容量Cs_conv及び保持容量Cs_addの合成の保持容量Csが形成される構成を有するので、保持容量の増加に伴い画素電流が増加する。そのため、表示装置1では、保持容量Cs_convのみで保持容量Csが形成される構成(例えば、比較例に係る構成)を有する場合と、画素値が同じ場合の発光素子ELに流れる画素電流が一致するように、データ信号が調整されてもよい。 Note that the display device 1 according to this embodiment has a configuration in which a combined storage capacitance Cs of the storage capacitance Cs_conv and the storage capacitance Cs_add is formed, and therefore the pixel current increases as the storage capacitance increases. Therefore, in the display device 1, the data signal may be adjusted so that the pixel current flowing through the light-emitting element EL for the same pixel value matches that in a configuration in which the storage capacitance Cs is formed only by the storage capacitance Cs_conv (for example, a configuration according to a comparative example).

[1-3.画素回路の動作]
画素回路11の動作の動作について、図9を参照しながら説明する。図9は、本実施の形態に係る表示装置1の各種ゲート制御信号(制御信号INI、REF、WS)のタイミングチャートを示す図である。
[1-3. Operation of pixel circuit]
The operation of the pixel circuit 11 will be described with reference to Fig. 9. Fig. 9 is a timing chart showing various gate control signals (control signals INI, REF, WS) of the display device 1 according to the present embodiment.

図9に示すように、時間t1~時間t4は、消灯期間である。時間t1において制御信号REFが低レベルから高レベルとなり補償トランジスタT2、T2、T2がオンすることで、消灯期間が開始される。時間t2~時間t3は、制御信号REFが低レベルであり、制御信号INIが高レベルであり、初期化動作が行われる初期化期間である。時間t3~時間t4は、制御信号REFが高レベルであり、制御信号INIが低レベルであり、閾値補償動作が行われる閾値補償期間(Vth補償期間)である。 As shown in Figure 9, the period from time t1 to time t4 is the off period. At time t1, the control signal REF changes from low to high, turning on the compensation transistors T2R , T2G , and T2B , thereby starting the off period. From time t2 to time t3, the control signal REF is at low level, the control signal INI is at high level, and an initialization period is performed during which an initialization operation is performed. From time t3 to time t4, the control signal REF is at high level, the control signal INI is at low level, and a threshold compensation period (Vth compensation period) is performed during which a threshold compensation operation is performed.

時間t4~時間t5において、制御信号WSが高レベルであるので、書き込みトランジスタT3、T3、T3がオンになり、保持容量Cs、Cs、Csのそれぞれにデータ信号線Vdat、Vdat、Vdatのそれぞれに保持されているデータ信号の書き込みが行われる。時間t4~時間t5の期間は、データ書き込み期間である。時間t4~時間t5では、例えば、保持容量Cs_conv、及び、Cs_addに同時に電荷が蓄積される。 Between time t4 and time t5, the control signal WS is at a high level, so the write transistors T3R , T3G , and T3B are turned on, and the data signals held in the data signal lines VdatR , VdatG , and VdatB are written to the storage capacitors CsR , CsG , and CsB , respectively. The period from time t4 to time t5 is a data write period. Between time t4 and time t5, for example, charge is stored simultaneously in the storage capacitors Cs_conv and Cs_add.

そして、時間t5において、制御信号WSが低レベルとなることで、発光素子EL、EL、ELが発光する。 Then, at time t5, the control signal WS goes to low level, causing the light-emitting elements EL R , EL G , and EL B to emit light.

なお、消灯期間は、初期設定のための期間であり、具体的には当該サブ画素回路が点灯していない(つまり、黒表示である)期間である。画素行がn行であり、1水平期間を1Hとすると、消灯期間は、例えば、n×Hで規定される期間である。なお、「黒表示」は、完全な黒(非発光)であることに限定されず、実質的に黒であるものも含まれ、例えば、所定の輝度以下であることも含まれてもよい。 The off period is a period for initial setting, and more specifically, a period during which the subpixel circuit is not lit (i.e., black display). If there are n pixel rows and one horizontal period is 1H, the off period is, for example, a period defined by n x H. Note that "black display" is not limited to complete black (non-emission), but also includes substantially black, and may include, for example, a brightness below a predetermined level.

[1-4.効果等]
以下では、表示装置1の効果を記載するが、便宜上、発光素子EL、EL、ELを発光素子ELと記載し、データ信号線及びデータ信号Vdat、Vdat、Vdatをデータ信号線及びデータ信号Vdatと記載し、保持容量Cs、Cs、Csを保持容量Csと記載し、駆動トランジスタTD、TD、TDを駆動トランジスタTDと記載し、書き込みトランジスタT3、T3、T3を書き込みトランジスタT3と記載する。
[1-4. Effects, etc.]
The effects of the display device 1 will be described below, but for convenience, the light-emitting elements EL R , EL G , and EL B will be referred to as light-emitting elements EL, the data signal lines and data signals Vdat R , Vdat G , and Vdat B will be referred to as data signal lines and data signals Vdat, the storage capacitors Cs R , Cs G , and Cs B will be referred to as storage capacitors Cs, the drive transistors TD R , TD G , and TD B will be referred to as drive transistors TD, and the write transistors T3 R , T3 G , and T3 B will be referred to as write transistors T3.

以上のように、本実施の形態に係る表示装置1は、2次元状に配置された複数の画素(画素回路11)を備える表示装置である。複数の画素のそれぞれは、発光素子ELと、データ信号線Vdatを介して供給されたデータ信号を保持する保持容量Csと、データ信号Vdatに応じた電流を発光素子ELに供給する駆動トランジスタTDと、データ信号線Vdatと駆動トランジスタTDのゲート電極との間に接続される書き込みトランジスタT3であって、ソース電極及びドレイン電極の一方がデータ信号線Vdatと接続される書き込みトランジスタT3とを備える。保持容量Csは、駆動トランジスタTDのゲート電極、及び、書き込みトランジスタT3と接続される下部電極310(第1電極層の一例)と、下部電極310を覆う第1絶縁層140と、駆動トランジスタTDのソース電極と接続され、第1絶縁層140上に下部電極310と対向して配置される第1対向部を有する第1上部電極220と、第1絶縁層140及び下部電極310を覆う第2絶縁層150と、駆動トランジスタTDのソース電極と接続され、少なくとも一部が第2絶縁層150上に形成される第2上部電極320(第3電極層の一例)であって、下部電極310と対向して配置される第2対向部(例えば、第1電極部320a及び第2電極部320b)を有する第2上部電極320とにより形成され、第1対向部と第2対向部とは、表示装置1の平面視において、互いに重ならない位置に形成され、下部電極310は、平面視において、第1対向部及び第2対向部のそれぞれと重なるように形成される。 As described above, the display device 1 according to this embodiment is a display device including a plurality of pixels (pixel circuits 11) arranged two-dimensionally. Each of the plurality of pixels includes a light-emitting element EL, a storage capacitor Cs that holds a data signal supplied via a data signal line Vdat, a drive transistor TD that supplies a current corresponding to the data signal Vdat to the light-emitting element EL, and a write transistor T3 connected between the data signal line Vdat and the gate electrode of the drive transistor TD, with one of its source electrode and drain electrode connected to the data signal line Vdat. The storage capacitor Cs includes a lower electrode 310 (an example of a first electrode layer) connected to the gate electrode of the drive transistor TD and the write transistor T3, a first insulating layer 140 covering the lower electrode 310, a first upper electrode 220 connected to the source electrode of the drive transistor TD and having a first opposing portion disposed on the first insulating layer 140 opposite the lower electrode 310, a second insulating layer 150 covering the first insulating layer 140 and the lower electrode 310, and a second insulating layer 150 connected to the source electrode of the drive transistor TD and having a small The display device 1 is formed of a second upper electrode 320 (an example of a third electrode layer) at least a portion of which is formed on the second insulating layer 150, the second upper electrode 320 having a second opposing portion (e.g., a first electrode portion 320a and a second electrode portion 320b) arranged opposite the lower electrode 310, the first opposing portion and the second opposing portion being formed in positions that do not overlap each other in a planar view of the display device 1, and the lower electrode 310 being formed so as to overlap each of the first opposing portion and the second opposing portion in a planar view.

これにより、下部電極310、第1上部電極220(第1対向部)及び第1絶縁層140で形成される保持容量Cs_convに加え、下部電極310、第2上部電極320(第2対向部)及び第1絶縁層140(又は第1絶縁層140及び第2絶縁層150)で形成される保持容量Cs_addが形成される。つまり、表示装置1では、複数の画素のそれぞれにおいて、保持容量Csが従来より増加する。このような表示装置1は、図8で説明したように、蓄積される電荷量が従来より多いので、オフリークによる影響を受けにくい。よって、本実施の形態に係る表示装置1は、書き込みトランジスタT3(スイッチングトランジスタ)のオフリークによる輝度の変化を抑制することができる。 As a result, in addition to the storage capacitance Cs_conv formed by the lower electrode 310, the first upper electrode 220 (first opposing portion), and the first insulating layer 140, a storage capacitance Cs_add formed by the lower electrode 310, the second upper electrode 320 (second opposing portion), and the first insulating layer 140 (or the first insulating layer 140 and the second insulating layer 150) is formed. In other words, in the display device 1, the storage capacitance Cs is larger than in the past in each of the multiple pixels. As described in FIG. 8, this display device 1 accumulates a larger amount of charge than in the past, and is therefore less susceptible to the effects of off-leakage. Therefore, the display device 1 according to this embodiment can suppress changes in luminance due to off-leakage of the writing transistor T3 (switching transistor).

また、第2対向部は、第2絶縁層150上に直接形成されている。 In addition, the second opposing portion is formed directly on the second insulating layer 150.

これにより、第2絶縁層150上に直接形成されている第2対向部(例えば、第1電極部320a及び第2電極部320b)と下部電極310とにより保持容量Cs_addが形成されるので画素ごとの保持容量Csを増やすことができる。 As a result, a storage capacitance Cs_add is formed by the second opposing portion (e.g., the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b) formed directly on the second insulating layer 150 and the lower electrode 310, thereby increasing the storage capacitance Cs for each pixel.

また、下部電極310は、第1対向部及び第2対向部を覆う第3対向部と、第3対向部及び駆動トランジスタTDのゲート電極を接続する第4電極部310dとを有し、第2上部電極320は、平面視において、第4電極部310d(第1配線部の一例)の一部と重なる。 The lower electrode 310 also has a third opposing portion that covers the first opposing portion and the second opposing portion, and a fourth electrode portion 310d that connects the third opposing portion to the gate electrode of the drive transistor TD, and the second upper electrode 320 overlaps a portion of the fourth electrode portion 310d (an example of a first wiring portion) in a plan view.

これにより、第2上部電極320と第4電極部310dとが重なる部分でも容量が形成されるので、保持容量Cs_addをより増加させることができる。 This allows capacitance to be formed in the area where the second upper electrode 320 and the fourth electrode portion 310d overlap, further increasing the storage capacitance Cs_add.

また、第1対向部は、平面視において、矩形状であり、第2対向部は、平面視において、長尺状である。 Furthermore, the first opposing portion is rectangular in plan view, and the second opposing portion is elongated in plan view.

これにより、第1対向部と第2対向部とが異なる形状により形成されるので、第1対向部及び第2対向部を設けることができるレイアウト面積に制限がある場合であっても、保持容量Cs_addを効果的に増加させることができる。 As a result, the first opposing portion and the second opposing portion are formed with different shapes, so even if there is a limit to the layout area in which the first opposing portion and the second opposing portion can be provided, the storage capacitance Cs_add can be effectively increased.

また、第2絶縁層150は、平面視において、第1上部電極220及び駆動トランジスタTDのソース電極を接続する接続部330(第2配線部の一例)と第2上部電極320とが重なる位置に貫通孔151が形成されており、第2上部電極320は、貫通孔151を介して駆動トランジスタTDのソース電極と電気的に接続される。 In addition, the second insulating layer 150 has a through-hole 151 formed in a position where, in a plan view, the second upper electrode 320 overlaps with a connection section 330 (an example of a second wiring section) that connects the first upper electrode 220 and the source electrode of the driving transistor TD, and the second upper electrode 320 is electrically connected to the source electrode of the driving transistor TD via the through-hole 151.

これにより、第2上部電極320をより広く形成することが可能となるので、保持容量Cs_addをさらに増加させることができる。 This allows the second upper electrode 320 to be formed wider, further increasing the storage capacitance Cs_add.

また、さらに、駆動トランジスタTDのドレイン電極に接続され、平面視において、長尺状に形成された正電源線VCC(電源線の一例)を備え、第2対向部は、平面視において、正電源線VCCを挟むように形成されている。 Furthermore, the second opposing portion is provided with a positive power supply line VCC (an example of a power supply line) that is connected to the drain electrode of the drive transistor TD and is formed in an elongated shape in a planar view, and is formed so as to sandwich the positive power supply line VCC in a planar view.

これにより、平面視における正電源線VCCの周囲のスペースを利用して、保持容量Cs_addを効果的に増加させることができる。 This allows the storage capacitance Cs_add to be effectively increased by utilizing the space around the positive power supply line VCC in a plan view.

(実施の形態2)
以下では、本実施の形態に係る表示装置について、図10~図13を参照しながら説明する。以下では、実施の形態1との相違点を中心に説明し、実施の形態1と同一又は類似の内容については説明を省略又は簡略化する。本実施の形態では、保持容量Cs_addを形成する他方電極が第2絶縁層150の上面よりも下方の位置に形成されている例について説明する。図10を用いて第2絶縁層150の貫通孔に他方電極が形成される場合の構成を説明し、図11を用いて第2絶縁層150の有底の凹部に他方電極が形成される場合の構成を説明する。
(Embodiment 2)
The display device according to the present embodiment will be described below with reference to FIGS. 10 to 13. The following description will focus on differences from the first embodiment, and descriptions of content that is the same as or similar to the first embodiment will be omitted or simplified. In the present embodiment, an example will be described in which the other electrode that forms the storage capacitor Cs_add is formed at a position below the upper surface of the second insulating layer 150. A configuration in which the other electrode is formed in a through-hole in the second insulating layer 150 will be described using FIG. 10, and a configuration in which the other electrode is formed in a bottomed recess in the second insulating layer 150 will be described using FIG. 11.

[2-1.表示装置の構成]
図10は、図5のVI-VI切断線に対応する切断線で切断した、本実施の形態に係る表示装置1の画素回路11の構成の第1例を模式的に示す断面図である。
[2-1. Configuration of display device]
FIG. 10 is a cross-sectional view schematically showing a first example of the configuration of the pixel circuit 11 of the display device 1 according to the present embodiment, taken along a cutting line corresponding to cutting line VI-VI in FIG.

図10に示すように、第2上部電極320の第1電極部320a及び第2電極部320bは、第2絶縁層150上ではなく、第2絶縁層150に形成された貫通孔152及び153に形成されている。図10の例では、貫通孔152及び153は、第2絶縁層150をZ軸方向に貫通する凹部である。第2絶縁層150には、平面視において、第1電極部320a及び第2電極部320bと重なる位置に第1絶縁層140側(Z軸マイナス側)に貫通する凹部(貫通孔152及び153)が形成されているとも言える。 As shown in FIG. 10, the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b of the second upper electrode 320 are formed not on the second insulating layer 150 but in through holes 152 and 153 formed in the second insulating layer 150. In the example of FIG. 10, the through holes 152 and 153 are recesses that penetrate the second insulating layer 150 in the Z-axis direction. In other words, the second insulating layer 150 has recesses (through holes 152 and 153) that penetrate toward the first insulating layer 140 (negative Z-axis side) at positions that overlap the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b in a plan view.

この場合、第1電極部320a及び第2電極部320bは、第1絶縁層140上に形成される。つまり、第1電極部320a及び第2電極部320bと、第1上部電極220とは同層(第2配線層)に形成され、下部電極310までの距離d2が等しい。距離d2は、距離d1より小さい距離である。 In this case, the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b are formed on the first insulating layer 140. In other words, the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b and the first upper electrode 220 are formed on the same layer (second wiring layer), and the distance d2 to the lower electrode 310 is equal. Distance d2 is smaller than distance d1.

第1電極部320aは、断面視において、第1上部電極220と、正電源線VCCとの間に、互いに接触しないように配置され、第2電極部320bは、正電源線VCCと、データ信号線Vdatとの間に、互いに接触しないように配置される。つまり、第1電極部320a及び第2電極部320bのそれぞれは、第1上部電極220、正電源線VCC及びデータ信号線Vdatと電気的に分離されている。第1電極部320a及び第2電極部320bは、下部電極310と対向する部分(第1部分)を有する。 In a cross-sectional view, the first electrode unit 320a is arranged between the first upper electrode 220 and the positive power supply line VCC so as not to contact each other, and the second electrode unit 320b is arranged between the positive power supply line VCC and the data signal line Vdat G so as not to contact each other. In other words, the first electrode unit 320a and the second electrode unit 320b are electrically isolated from the first upper electrode 220, the positive power supply line VCC, and the data signal line Vdat G. The first electrode unit 320a and the second electrode unit 320b have a portion (first portion) facing the lower electrode 310.

保持容量Cs_addは、平面視において、下部電極310と、第2上部電極320とが平面視において重なる面積をSとし、下部電極310と、第2上部電極320との距離をd2とすると、以下の(式3)により算出可能である。 The storage capacitance Cs_add can be calculated using the following formula (3), where S is the area where the lower electrode 310 and the second upper electrode 320 overlap in a planar view, and d2 is the distance between the lower electrode 310 and the second upper electrode 320.

Cs_add=ε0×εx×S/d2 ・・・(式3) Cs_add=ε0×εx×S/d2 (Formula 3)

また、第1電極部320aは、貫通孔152の内面152aを覆うように形成されており、第2電極部320bは、貫通孔153の内面153aを覆うように形成されている。貫通孔152及び153は、平面視において、第2配線層の各電極(第1上部電極220、正電源線VCC及びデータ信号線Vdat)と重ならない位置に形成される。貫通孔152は、平面視において第1上部電極220及び正電源線VCCの間であって、正電源線VCCに沿って長尺状に形成されており、貫通孔153は、平面視において正電源線VCC及びデータ信号線Vdatの間であって、正電源線VCCに沿って長尺状に形成されている。例えば、貫通孔152及び153は、平面視において、平行な貫通溝である。 Furthermore, the first electrode portion 320a is formed so as to cover the inner surface 152a of the through hole 152, and the second electrode portion 320b is formed so as to cover the inner surface 153a of the through hole 153. The through holes 152 and 153 are formed at positions that do not overlap with the electrodes of the second wiring layer (the first upper electrode 220, the positive power supply line VCC, and the data signal line Vdat G ) in a planar view. The through hole 152 is formed in an elongated shape along the positive power supply line VCC between the first upper electrode 220 and the positive power supply line VCC in a planar view, and the through hole 153 is formed in an elongated shape along the positive power supply line VCC between the positive power supply line VCC and the data signal line Vdat G in a planar view. For example, the through holes 152 and 153 are parallel through grooves in a planar view.

第1電極部320aのうち貫通孔152の内面152aに形成される部分(第2部分の一例)、及び、第2電極部320bのうち貫通孔153の内面153aに形成される部分(第2部分の一例)は、平面視において、正電源線VCCに沿って延在する。内面152a及び153aに電極が形成されることで、当該電極と下部電極310との間での容量が形成される。つまり、内面152a及び153aに電極が形成されることで、保持容量Cs_addをさらに増やす効果が期待される。なお、第2部分は、第1部分と接続されている。 The portion of the first electrode portion 320a formed on the inner surface 152a of the through-hole 152 (an example of the second portion) and the portion of the second electrode portion 320b formed on the inner surface 153a of the through-hole 153 (an example of the second portion) extend along the positive power supply line VCC in a planar view. By forming electrodes on the inner surfaces 152a and 153a, capacitance is formed between the electrodes and the lower electrode 310. In other words, by forming electrodes on the inner surfaces 152a and 153a, it is expected that the effect of further increasing the storage capacitance Cs_add will be achieved. The second portion is connected to the first portion.

なお、第2絶縁層150に形成される貫通孔152及び153の数は2つに限定されず、平面視において下部電極310と第2上部電極320とが重なる領域に形成されていれば、1つであってもよいし、3つ以上であってもよい。また、貫通孔152及び153は、貫通溝であることに限定されず、筒状の複数の貫通孔により実現されてもよい。 The number of through holes 152 and 153 formed in the second insulating layer 150 is not limited to two, and may be one, three, or more, as long as they are formed in the area where the lower electrode 310 and the second upper electrode 320 overlap in a plan view. Furthermore, the through holes 152 and 153 are not limited to being through grooves, and may be realized by multiple cylindrical through holes.

図11は、図5のVI-VI切断線に対応する切断線で切断した、本実施の形態に係る表示装置1の画素回路11の構成の第2例を模式的に示す断面図である。 Figure 11 is a cross-sectional view schematically showing a second example of the configuration of a pixel circuit 11 of a display device 1 according to this embodiment, taken along a cutting line corresponding to cutting line VI-VI in Figure 5.

図11に示すように、第2上部電極320の第1電極部320a及び第2電極部320bは、第2絶縁層150に形成された凹部154及び155内に形成されている。図11の例では、凹部154及び155は、第2絶縁層150をZ軸方向に貫通していない有底(未貫通)の溝である。第2絶縁層150には、平面視において、第1電極部320a及び第2電極部320bと重なる位置に第1絶縁層140側(Z軸マイナス側)に凹む有底の凹部154及び155が形成されているとも言える。 As shown in FIG. 11, the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b of the second upper electrode 320 are formed in recesses 154 and 155 formed in the second insulating layer 150. In the example of FIG. 11, the recesses 154 and 155 are bottomed (open) grooves that do not penetrate the second insulating layer 150 in the Z-axis direction. In other words, the second insulating layer 150 has bottomed recesses 154 and 155 formed in a plan view at positions that overlap the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b and are recessed toward the first insulating layer 140 (negative Z-axis side).

凹部154及び154が有底の溝であるので、第1電極部320a及び第2電極部320bは、凹部154及び155の底面上に形成される。つまり、第1電極部320a及び第2電極部320bは、第2配線層と第3配線層との間に形成され、下部電極310までの距離は距離d3となる。距離d3は、距離d1より小さく、かつ、距離d2(図10を参照)より大きい距離である。 Since the recesses 154 and 155 are bottomed grooves, the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b are formed on the bottom surfaces of the recesses 154 and 155. In other words, the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b are formed between the second wiring layer and the third wiring layer, and the distance to the lower electrode 310 is distance d3. Distance d3 is smaller than distance d1 and larger than distance d2 (see Figure 10).

凹部154及び155が形成される平面視上の位置は、貫通孔152及び153と同じである。 The recesses 154 and 155 are formed at the same positions in a plan view as the through holes 152 and 153.

保持容量Cs_addは、平面視において、下部電極310と、第2上部電極320とが重なる面積をSとし、下部電極310と、第2上部電極320との距離をd3とすると、以下の(式4)により算出可能である。 The storage capacitance Cs_add can be calculated using the following equation (4), where S is the area where the lower electrode 310 and the second upper electrode 320 overlap in a plan view, and d3 is the distance between the lower electrode 310 and the second upper electrode 320.

Cs_add=ε0×εx×S/d3 ・・・(式4) Cs_add = ε0 × εx × S/d3 ... (Equation 4)

また、第1電極部320aは、凹部154の内面を覆うように形成されており、第2電極部320bは、凹部155の内面を覆うように形成されている。 Furthermore, the first electrode portion 320a is formed to cover the inner surface of the recess 154, and the second electrode portion 320b is formed to cover the inner surface of the recess 155.

図12は、図5のVII-VII切断線に対応する切断線で切断した、本実施の形態に係る表示装置1の画素回路11の構成を模式的に示す断面図である。 Figure 12 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of a pixel circuit 11 of a display device 1 according to this embodiment, taken along a cutting line corresponding to cutting line VII-VII in Figure 5.

図12に示すように、第2上部電極320は、平面視において第3電極部310cと重なるので、第2上部電極320と第3電極部310cとの間にも保持容量Cs_addが形成される。これにより、さらに保持容量Csを大きくすることができる。また、図12の例では、第3電極部310cの上方に凹部は形成されていない。第3電極部310cの上方とは、平面視において、第3電極部310cと第4電極部310dとが重なる領域である。当該領域が駆動トランジスタTDと物理的に近い位置であるので、駆動トランジスタTDの動作への影響を考慮して当該領域に凹部は形成されていない。 As shown in FIG. 12, the second upper electrode 320 overlaps with the third electrode portion 310c in a planar view, so a storage capacitance Cs_add is also formed between the second upper electrode 320 and the third electrode portion 310c. This makes it possible to further increase the storage capacitance Cs. Also, in the example of FIG. 12, no recess is formed above the third electrode portion 310c. The area above the third electrode portion 310c is the area where the third electrode portion 310c and the fourth electrode portion 310d overlap in a planar view. Because this area is physically close to the drive transistor TD, no recess is formed in this area in consideration of the impact on the operation of the drive transistor TD.

この場合、平面視において第2電極部310bと第1電極部320aとが重なる面積をS1とし、第2電極部310bと第1電極部320aとで形成される保持容量をCs_add_1(図12中の第2電極部310bと第1電極部320aとの間の保持容量Cs_add)とし、平面視において第4電極部310dと第3電極部320cとが重なる面積をS2とし、第2電極部310bと第1電極部320aとで形成される保持容量をCs_add_2(図12中の第4電極部310dと第3電極部320cとの間の保持容量Cs_add)とは、以下の(式5)の関係が成り立つ。 In this case, the area where the second electrode portion 310b and the first electrode portion 320a overlap in a planar view is S1, the storage capacitance formed by the second electrode portion 310b and the first electrode portion 320a is Cs_add_1 (the storage capacitance Cs_add between the second electrode portion 310b and the first electrode portion 320a in FIG. 12), the area where the fourth electrode portion 310d and the third electrode portion 320c overlap in a planar view is S2, and the storage capacitance formed by the second electrode portion 310b and the first electrode portion 320a is Cs_add_2 (the storage capacitance Cs_add between the fourth electrode portion 310d and the third electrode portion 320c in FIG. 12), the relationship shown in Equation 5 below holds.

Cs_add_2/S2<Cs_add_1/S1 ・・・(式5) Cs_add_2/S2<Cs_add_1/S1 (Formula 5)

なお、第2絶縁層150は、第3電極部310cの上方において、駆動トランジスタTDの動作に影響を及ぼさない程度の有底の凹部が形成されており、当該凹部の底面に第2上部電極320が形成されていてもよい。このような凹部の深さは、例えば、実験等により取得可能である。 The second insulating layer 150 may have a bottomed recess formed above the third electrode portion 310c, the recess having a depth that does not affect the operation of the drive transistor TD, and the second upper electrode 320 may be formed on the bottom surface of the recess. The depth of such a recess can be obtained, for example, by experimentation.

なお、第2絶縁層150に形成される凹部154及び155の数は2つに限定されず、平面視において下部電極310と重なる領域に形成されていれば、1つであってもよいし、3つ以上であってもよい。また、凹部154及び155は、溝状の凹みであることに限定されず、筒状の複数の凹みにより実現されてもよい。 The number of recesses 154 and 155 formed in the second insulating layer 150 is not limited to two, and may be one, or three or more, as long as they are formed in an area that overlaps with the lower electrode 310 in a plan view. Furthermore, the recesses 154 and 155 are not limited to being groove-shaped recesses, and may be realized as multiple cylindrical recesses.

[2-2.表示装置の製造方法]
次に、図11及び図12に示す貫通孔151、凹部154及び凹部155の作製方法について、図13を参照しながら説明する。図13は、本実施の形態に係る表示装置1の製造方法を説明するための図である。図13は、貫通孔151、凹部154及び凹部155を形成するための露光工程を模式的に示す。なお、フォトマスク500に入射する光(例えば、UV光)の光量は、平面視において、例えば、均一である。また、第2絶縁層150の材料となる樹脂は、ポジ型の感光性樹脂であるとするが、これに限定されない。
[2-2. Display device manufacturing method]
Next, a method for manufacturing the through-hole 151, recess 154, and recess 155 shown in FIGS. 11 and 12 will be described with reference to FIG. 13 . FIG. 13 is a diagram for explaining a manufacturing method of the display device 1 according to the present embodiment. FIG. 13 schematically shows an exposure process for forming the through-hole 151, recess 154, and recess 155. Note that the amount of light (e.g., UV light) incident on the photomask 500 is, for example, uniform in plan view. Furthermore, the resin used as the material for the second insulating layer 150 is assumed to be a positive photosensitive resin, but is not limited to this.

第2絶縁層150は、第1絶縁層140上に下部電極310を含む第1配線層が形成された後、第2絶縁層150を形成するためのポジ型の感光性樹脂を塗布し、プリベークで硬化(仮硬化)させ、図13に示すフォトマスク500で露光し、現像液でエッチング部の樹脂を除去し、ポストベークで最終硬化(本硬化)させることで形成される。 The second insulating layer 150 is formed by forming a first wiring layer including the lower electrode 310 on the first insulating layer 140, applying a positive photosensitive resin to form the second insulating layer 150, hardening it (temporarily hardening) by pre-baking, exposing it to light using a photomask 500 shown in Figure 13, removing the resin in the etched areas with a developer, and finally hardening it (mainly hardening) by post-baking.

図13に示すように、フォトマスク500を用いた露光工程により貫通孔151、凹部154及び凹部155が形成される。フォトマスク500は、遮光部510と、透過部520と、ハーフトーン部530とを有する。フォトマスク500は、遮光部510以外に光透過率が互いに異なる透過部分を2つ以上有するように構成されるマルチトーンマスクである。 As shown in FIG. 13, through-holes 151, recesses 154, and recesses 155 are formed by an exposure process using photomask 500. Photomask 500 has a light-shielding portion 510, a transparent portion 520, and a halftone portion 530. Photomask 500 is a multi-tone mask configured to have two or more transparent portions with different light transmittances in addition to light-shielding portion 510.

遮光部510は、貫通孔151、凹部154及び凹部155が形成されない領域(例えば、第3電極部310cが形成される含む領域)に設けられ、フォトマスク500に入射する光を遮光する部分である。 The light-shielding portion 510 is provided in areas where the through-holes 151, recesses 154, and recesses 155 are not formed (for example, areas including the areas where the third electrode portions 310c are formed), and blocks light from entering the photomask 500.

透過部520は、貫通孔151が形成される領域に設けられ、フォトマスク500に入射する光を透過する部分である。 The transparent portion 520 is provided in the area where the through-hole 151 is formed, and is a portion that transmits light incident on the photomask 500.

ハーフトーン部530は、有底の溝が形成される領域(例えば、第1電極部310a及び第2電極部310bが形成される領域)に設けられ、フォトマスク500に入射する光を一部透過する部分である。ハーフトーン部530は、透過部520より透過率が小さく、かつ、遮光部510より透過率が高い部分である。なお、ハーフトーン部530は、X軸方向に長尺状に設けられる。 The halftone section 530 is provided in the area where the bottomed grooves are formed (for example, the area where the first electrode section 310a and the second electrode section 310b are formed), and is a section that transmits a portion of the light incident on the photomask 500. The halftone section 530 has a lower transmittance than the transmitting section 520 and a higher transmittance than the light-shielding section 510. The halftone section 530 is provided in an elongated shape in the X-axis direction.

このようなフォトマスク500を用いることで、互いに深さの異なる溝(例えば、貫通溝、及び、貫通未時)を1回の露光で形成することができる。なお、図10に示す貫通孔152及び153を形成する場合、ハーフトーン部530の部分を透過部520に置き換えたフォトマスクを用いればよい。 By using such a photomask 500, grooves of different depths (for example, through-hole grooves and non-through-hole grooves) can be formed with a single exposure. When forming the through-holes 152 and 153 shown in Figure 10, a photomask in which the halftone portions 530 are replaced with transmissive portions 520 can be used.

[2-3.効果等]
以上のように、本実施の形態に係る表示装置1の第2絶縁層150には、平面視において、下部電極310(第1電極層の一例)と重なる位置に第1絶縁層140側(Z軸マイナス側)に凹む有底の凹部154及び155が形成されており、第2対向部(例えば、第1電極部320a及び第2電極部320b)は、凹部154及び155の底面上に形成されていてもよい。
[2-3. Effects, etc.]
As described above, the second insulating layer 150 of the display device 1 according to this embodiment has bottomed recesses 154 and 155 formed on the first insulating layer 140 side (negative Z-axis side) at positions that overlap the lower electrode 310 (an example of a first electrode layer) in a planar view, and the second opposing portions (e.g., the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b) may be formed on the bottom surfaces of the recesses 154 and 155.

これにより、第1電極部320a及び第2電極部320bと下部電極310との距離を近づけることができるので、保持容量Cs_addをより増加させることができる。また、第1電極部320a及び第2電極部320bと下層の信号線との間には、第2絶縁層150が存在する。よって、表示装置1は、第1電極部320a及び第2電極部320bが他の信号線とショートすることを抑制しつつ保持容量Csを増加させることができる。 This allows the distance between the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b and the lower electrode 310 to be reduced, further increasing the storage capacitance Cs_add. Furthermore, the second insulating layer 150 is present between the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b and the underlying signal lines. Therefore, the display device 1 can increase the storage capacitance Cs while preventing the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b from shorting out with other signal lines.

また、第2絶縁層150には、平面視において、下部電極310と重なる位置に第1絶縁層140側に貫通する貫通孔152及び153(凹部の一例)が形成されており、第2対向部は、第1絶縁層140上に直接形成されている。 In addition, through holes 152 and 153 (examples of recesses) that penetrate toward the first insulating layer 140 are formed in the second insulating layer 150 at positions that overlap the lower electrode 310 in a plan view, and the second opposing portion is formed directly on the first insulating layer 140.

これにより、第1電極部320a及び第2電極部320bと下部電極310との距離を第1上部電極220と下部電極310との距離d2まで近づけることができるので、保持容量Cs_addをさらに増加させることができる。よって、表示装置1は、保持容量Csをさらに増加させることができる。 This allows the distance between the first electrode portion 320a and the second electrode portion 320b and the lower electrode 310 to be reduced to the distance d2 between the first upper electrode 220 and the lower electrode 310, thereby further increasing the storage capacitance Cs_add. Therefore, the display device 1 can further increase the storage capacitance Cs.

また、第2対向部は、下部電極310と対向する第1部分と、凹部の内面(例えば、貫通孔152及び153の内面152a及び153a)に形成される第2部分とにより構成される。 The second opposing portion is composed of a first portion that faces the lower electrode 310 and a second portion that is formed on the inner surface of the recess (e.g., the inner surfaces 152a and 153a of the through holes 152 and 153).

これにより、第2部分と下部電極310とにより容量が形成されるので、さらに保持容量Cs_addを増加させることができる。 This forms a capacitance between the second portion and the lower electrode 310, further increasing the storage capacitance Cs_add.

(実施の形態3)
以下では、本実施の形態に係る表示装置について、図14及び図15を参照しながら説明する。以下では、実施の形態1との相違点を中心に説明し、実施の形態1と同一又は類似の内容については説明を省略又は簡略化する。本実施の形態では、画素回路11にVCC補助線410及びVCATH補助線420が形成されている場合について説明する。なお、図14では、画素回路11にVCC補助線410及びVCATH補助線420の両方が形成されている例について図示しているが、VCC補助線410及びVCATH補助線420の少なくとも一方が形成されていればよい。
(Embodiment 3)
The display device according to the present embodiment will be described below with reference to FIGS. 14 and 15. The following description will focus on differences from the first embodiment, and descriptions of the same or similar aspects as those of the first embodiment will be omitted or simplified. The present embodiment will describe a case where a VCC auxiliary line 410 and a VCATH auxiliary line 420 are formed in a pixel circuit 11. While FIG. 14 illustrates an example in which both the VCC auxiliary line 410 and the VCATH auxiliary line 420 are formed in the pixel circuit 11, it is sufficient that at least one of the VCC auxiliary line 410 and the VCATH auxiliary line 420 is formed.

[3-1.表示装置の構成]
図14は、本実施の形態に係る表示装置1の画素回路11の構成を模式的に示す平面図である。図15は、図14のXV-XV切断線で切断した、本実施の形態に係る表示装置1の画素回路11の構成を模式的に示す断面図である。
[3-1. Configuration of display device]
Fig. 14 is a plan view schematically showing the configuration of a pixel circuit 11 of a display device 1 according to the present embodiment. Fig. 15 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of a pixel circuit 11 of a display device 1 according to the present embodiment, taken along the XV-XV cutting line in Fig. 14.

図14及び図15に示すように、本実施の形態に係る表示装置1の画素回路11は、実施の形態1に係る画素回路11に加えて、VCC補助線410及びVCATH補助線420を備える。VCC補助線410は、第1補助線の一例であり、VCATH補助線420は、第2補助線の一例である。 As shown in Figures 14 and 15, the pixel circuit 11 of the display device 1 according to this embodiment includes a VCC auxiliary line 410 and a VCATH auxiliary line 420 in addition to the pixel circuit 11 according to embodiment 1. The VCC auxiliary line 410 is an example of a first auxiliary line, and the VCATH auxiliary line 420 is an example of a second auxiliary line.

VCC補助線410は、正電源線VCCと電気的に接続され、表示エリア内での正電源電圧VCCの電圧ドロップを抑制するために画素回路11内に設けられる配線である。VCC補助線410は、例えば、正電源線VCCより低抵抗な金属配線である。例えば、VCC補助線410は、メタル配線である。また、VCC補助線410は、例えば、平面視において、データ信号線Vdat(図14の例では、データ信号線Vdat)と少なくとも一部が重なるようにデータ信号線Vdatに沿って長尺状に形成されるが、データ信号線Vdatと重ならなくてもよい。VCC補助線410は、例えば、各画素に設けられる。 The VCC auxiliary line 410 is electrically connected to the positive power supply line VCC and is provided in the pixel circuit 11 to suppress a voltage drop of the positive power supply voltage VCC in the display area. The VCC auxiliary line 410 is, for example, a metal line having a lower resistance than the positive power supply line VCC. For example, the VCC auxiliary line 410 is a metal line. Furthermore, the VCC auxiliary line 410 is, for example, formed in an elongated shape along the data signal line Vdat (the data signal line Vdat R in the example of FIG. 14 ) so as to overlap at least a portion of the data signal line Vdat in a plan view, but does not have to overlap the data signal line Vdat. The VCC auxiliary line 410 is provided in each pixel, for example.

VCATH補助線420は、金属層180と電気的に接続され、表示エリア内での負電源電圧VCATHの電圧ドロップを抑制するために画素回路11内に設けられる配線である。VCATH補助線420は、例えば、金属層180より低抵抗な金属配線である。例えば、VCATH補助線420は、メタル配線である。また、VCATH補助線420は、例えば、平面視において、データ信号線Vdat(図14の例では、データ信号線Vdat)と少なくとも一部が重なるように、データ信号線Vdatに沿って長尺状に形成されるが、データ信号線Vdatと重ならなくてもよい。VCATH補助線420は、例えば、各画素に設けられる。 The VCATH auxiliary line 420 is electrically connected to the metal layer 180 and is a line provided in the pixel circuit 11 to suppress a voltage drop of the negative power supply voltage VCATH in the display area. The VCATH auxiliary line 420 is, for example, a metal line having a lower resistance than the metal layer 180. For example, the VCATH auxiliary line 420 is a metal line. Furthermore, the VCATH auxiliary line 420 is, for example, formed in an elongated shape along the data signal line Vdat so that at least a portion of the VCATH auxiliary line 420 overlaps with the data signal line Vdat (the data signal line Vdat B in the example of FIG. 14 ) in a plan view, but does not have to overlap with the data signal line Vdat. The VCATH auxiliary line 420 is provided in each pixel, for example.

このようなVCC補助線410及びVCATH補助線420は、第2絶縁層150上に形成され、VCC補助線410及びVCATH補助線420を備える画素回路11は、第4絶縁層200が形成される。VCC補助線410及びVCATH補助線420は、平面視において、下部電極310及び接続部330と重ならない位置に設けられる。 Such VCC auxiliary lines 410 and VCATH auxiliary lines 420 are formed on the second insulating layer 150, and the pixel circuits 11 including the VCC auxiliary lines 410 and VCATH auxiliary lines 420 are formed on the fourth insulating layer 200. The VCC auxiliary lines 410 and VCATH auxiliary lines 420 are arranged in positions that do not overlap the lower electrodes 310 and connection portions 330 in a plan view.

そこで、VCC補助線410及びVCATH補助線420を備える画素回路11においては、追加の層を形成することなく、平面視においてVCC補助線410及びVCATH補助線420が形成されている領域以外の領域に第2上部電極320を形成することができる。 Therefore, in a pixel circuit 11 having a VCC auxiliary line 410 and a VCATH auxiliary line 420, the second upper electrode 320 can be formed in an area other than the area where the VCC auxiliary line 410 and the VCATH auxiliary line 420 are formed in a plan view without forming an additional layer.

データ信号線VdatとVCC補助線410との距離をd4、データ信号線Vdatと第1電極部320a及び第2電極部320bとの距離をd5とすると、以下の(式6)が成り立つ。 If the distance between the data signal line Vdat R and the auxiliary VCC line 410 is d4, and the distance between the data signal line Vdat R and the first electrode unit 320a and the second electrode unit 320b is d5, the following (Equation 6) holds.

d4>d5 ・・・(式6) d4>d5...(Formula 6)

これにより、VCC補助線410の下層の絶縁層(第2絶縁層150)の厚みが厚いので、データ信号線VdatとVCC補助線410とがショートすることを抑制することができる。つまり、データ信号線VdatとVCC補助線410との間の絶縁性を保持することができる。 This makes it possible to prevent a short circuit between the data signal line Vdat R and the VCC auxiliary line 410, since the insulating layer (second insulating layer 150) below the VCC auxiliary line 410 is thick. In other words, the insulation between the data signal line Vdat R and the VCC auxiliary line 410 can be maintained.

なお、図15にはVCATH補助線420は図示していないが、データ信号線VdatとVCATH補助線420との距離も距離d4となる。 Although the VCATH auxiliary line 420 is not shown in FIG. 15, the distance between the data signal line Vdat R and the VCATH auxiliary line 420 is also the distance d4.

なお、第2電極部320b及び第3電極部320cの少なくとも一部は、断面視において、VCC補助線410及びVCATH補助線420より下部電極310側(Z軸マイナス側)に設けられる。 In addition, at least a portion of the second electrode portion 320b and the third electrode portion 320c are located closer to the lower electrode 310 (negative Z-axis side) than the VCC auxiliary line 410 and the VCATH auxiliary line 420 in a cross-sectional view.

[3-2.効果等]
以上のように、本実施の形態に係る表示装置1は、駆動トランジスタTDのドレイン電極に接続され、平面視において、長尺状に形成される正電源線VCCと、正電源線VCCと接続され、正電源線VCCより低抵抗なVCC補助線410(第1補助線の一例)とを備える。そして、VCC補助線410は、第2絶縁層150上に形成されていてもよい。また、本実施の形態に係る表示装置1は、発光素子ELのカソード電極と接続され、複数の画素を覆う金属層180(第4電極層の一例)と、金属層180と接続され、金属層180より低抵抗なVCATH補助線420(第2補助線の一例)とを備え、VCATH補助線420は、第2絶縁層150上に形成されていてもよい。
[3-2. Effects, etc.]
As described above, the display device 1 according to the present embodiment includes a positive power supply line VCC that is connected to the drain electrode of the drive transistor TD and that is formed in a long shape in a plan view, and a VCC auxiliary line 410 (an example of a first auxiliary line) that is connected to the positive power supply line VCC and has a lower resistance than the positive power supply line VCC. The VCC auxiliary line 410 may be formed on the second insulating layer 150. The display device 1 according to the present embodiment also includes a metal layer 180 (an example of a fourth electrode layer) that is connected to the cathode electrode of the light-emitting element EL and covers a plurality of pixels, and a VCATH auxiliary line 420 (an example of a second auxiliary line) that is connected to the metal layer 180 and has a lower resistance than the metal layer 180. The VCATH auxiliary line 420 may be formed on the second insulating layer 150.

これにより、VCC補助線410及びVCATH補助線420の少なくとも一方の補助線が設けられる表示装置1においては、当該少なくとも一方の補助線を形成するために設けられる第2絶縁層150上に第2上部電極320を形成することができる。つまり、表示装置1は、第2上部電極320を形成するための専用の絶縁層を備えなくてもよい。よって、オフリークによる輝度の変化を抑制することができる表示装置1を低コストで実現することができる。 As a result, in a display device 1 provided with at least one of the VCC auxiliary line 410 and the VCATH auxiliary line 420, the second upper electrode 320 can be formed on the second insulating layer 150 provided for forming the at least one auxiliary line. In other words, the display device 1 does not need to be provided with a dedicated insulating layer for forming the second upper electrode 320. Therefore, a display device 1 that can suppress changes in brightness due to off-leakage can be realized at low cost.

(その他の実施の形態)
以上、本開示に係る表示装置について、各実施の形態に基づいて説明してきたが、本開示に係る表示装置は、上記各実施の形態に限定されるものではない。各実施の形態における任意の構成要素を組み合わせて実現される別の実施の形態や、各実施の形態に対して本開示の主旨を逸脱しない範囲で当業者が思いつく各種変形を施して得られる変形例や、本実施の形態に係る表示装置を内蔵した各種機器も本開示に含まれる。
(Other embodiments)
While the display device according to the present disclosure has been described above based on each embodiment, the display device according to the present disclosure is not limited to the above-described each embodiment. The present disclosure also includes other embodiments realized by combining any of the components in each embodiment, modifications obtained by applying various modifications to each embodiment that would occur to those skilled in the art without departing from the spirit of the present disclosure, and various devices incorporating a display device according to the present embodiment.

例えば、第2絶縁層に形成される溝(保持容量を形成するための溝)は、一方が貫通溝であり、他方が有底の溝であってもよい。 For example, one of the grooves (grooves for forming a storage capacitor) formed in the second insulating layer may be a through groove and the other may be a bottomed groove.

また、上記の本開示は、表示パネル単体として実現されてもよい。本開示は、電源及び制御部を備えていない構成で実現されてもよい。このような表示パネルは、2次元状に配置された複数の画素を備える表示パネルであって、複数の画素のそれぞれは、発光素子と、データ信号線を介して供給されたデータ信号を保持する保持容量と、データ信号に応じた電流を発光素子に供給する駆動トランジスタと、データ信号線と駆動トランジスタのゲート電極との間に接続された書き込みトランジスタであって、ソース電極及びドレイン電極の一方がデータ信号線と接続された書き込みトランジスタとを備える。保持容量は、駆動トランジスタのゲート電極、及び、書き込みトランジスタと接続される第1電極層と、第1電極層上に形成される第1絶縁層と、駆動トランジスタのソース電極と接続され、第1絶縁層上に第1電極層と対向して配置される第1電極部を有する第2電極層と、第1絶縁層上に形成される第2絶縁層と、駆動トランジスタのソース電極と接続され、少なくとも一部が第2絶縁層上に形成される第3電極層であって、第1電極層と対向して配置される第2電極部を有する第3電極層とにより形成される。そして、第1電極部と第2電極部とは、表示パネルの平面視において、互いに重ならない位置に設けられ、第1電極層は、第1電極部及び第2電極部を覆う。なお、制御部を構成するICは、表示パネルに実装されていてもよい。 The present disclosure may also be realized as a display panel alone. The present disclosure may also be realized in a configuration that does not include a power supply or a control unit. Such a display panel includes a plurality of pixels arranged two-dimensionally, each of which includes a light-emitting element, a storage capacitor that stores a data signal supplied via a data signal line, a drive transistor that supplies a current corresponding to the data signal to the light-emitting element, and a write transistor connected between the data signal line and the gate electrode of the drive transistor, the write transistor having one of its source and drain electrodes connected to the data signal line. The storage capacitor is formed by: a first electrode layer connected to the gate electrode of the drive transistor and the write transistor; a first insulating layer formed on the first electrode layer; a second electrode layer connected to the source electrode of the drive transistor and having a first electrode portion disposed on the first insulating layer opposite the first electrode layer; a second insulating layer formed on the first insulating layer; and a third electrode layer connected to the source electrode of the drive transistor, at least a portion of which is formed on the second insulating layer, the third electrode layer having a second electrode portion disposed opposite the first electrode layer. The first electrode portion and the second electrode portion are positioned so that they do not overlap each other when viewed from above, and the first electrode layer covers the first electrode portion and the second electrode portion. Note that the IC that constitutes the control portion may be mounted on the display panel.

また、上記の本開示は、アクティブマトリクス基板単体として実現されてもよい。本開示は、電源、制御部及びEL層(例えば、発光層及び発光層を挟む電極層)を備えていない構成で実現されてもよい。このようなアクティブマトリクス基板は、2次元状に配置された複数の画素を備える表示装置に用いられるアクティブマトリクス基板であって、複数の画素のそれぞれを形成するための画素回路は、発光素子と、データ信号線を介して供給されたデータ信号を保持する保持容量と、データ信号に応じた電流を発光素子に供給する駆動トランジスタと、データ信号線と駆動トランジスタのゲート電極との間に接続された書き込みトランジスタであって、ソース電極及びドレイン電極の一方がデータ信号線と接続された書き込みトランジスタとを備え、保持容量は、駆動トランジスタのゲート電極、及び、書き込みトランジスタと接続される第1電極層と、第1電極層上に形成される第1絶縁層と、駆動トランジスタのソース電極と接続され、第1絶縁層上に第1電極層と対向して配置される第1電極部を有する第2電極層と、第1絶縁層上に形成される第2絶縁層と、駆動トランジスタのソース電極と接続され、少なくとも一部が第2絶縁層上に形成される第3電極層であって、第1電極層と対向して配置される第2電極部を有する第3電極層とにより形成される。そして、第1電極部と第2電極部とは、アクティブマトリクス基板の平面視において、互いに重ならない位置に設けられ、第1電極層は、第1電極部及び第2電極部を覆う。 The present disclosure may also be realized as an active matrix substrate alone. The present disclosure may also be realized in a configuration that does not include a power source, a control unit, or an EL layer (e.g., a light-emitting layer and electrode layers sandwiching the light-emitting layer). Such an active matrix substrate is an active matrix substrate used in a display device having a plurality of pixels arranged two-dimensionally, and a pixel circuit for forming each of the plurality of pixels includes a light-emitting element, a storage capacitor for storing a data signal supplied via a data signal line, a drive transistor for supplying a current corresponding to the data signal to the light-emitting element, and a write transistor connected between the data signal line and a gate electrode of the drive transistor, the write transistor having one of its source electrode and drain electrode connected to the data signal line. The storage capacitor is formed by: a first electrode layer connected to the gate electrode of the drive transistor and the write transistor; a first insulating layer formed on the first electrode layer; a second electrode layer connected to the source electrode of the drive transistor and having a first electrode portion arranged on the first insulating layer opposite the first electrode layer; a second insulating layer formed on the first insulating layer; and a third electrode layer connected to the source electrode of the drive transistor, at least a portion of which is formed on the second insulating layer, the third electrode layer having a second electrode portion arranged opposite the first electrode layer. The first electrode portion and the second electrode portion are arranged in positions that do not overlap each other when viewed in a plan view of the active matrix substrate, and the first electrode layer covers the first electrode portion and the second electrode portion.

また、上記各実施の形態では、表示パネルは、トップエミッション構造型の表示パネルである例について説明したが、ボトムエミッション構造型の表示パネルであってもよい。 Furthermore, in each of the above embodiments, the display panel has been described as a top-emission structure display panel, but it may also be a bottom-emission structure display panel.

また、上記各実施の形態における制御部及びデータドライバは、1つのICで実現されてもよいし、互いに異なるICにより実現されてもよい。 Furthermore, the control unit and data driver in each of the above embodiments may be implemented as a single IC, or may be implemented as separate ICs.

また、上記各実施の形態における初期化トランジスタT1及びT1の機能及び構成は、例えば、初期化トランジスタT1と同じであり、補償トランジスタT2及びT2の機能及び構成は、例えば、補償トランジスタT2と同じであり、書き込みトランジスタT3及びT3の機能及び構成は、例えば、書き込みトランジスタT3と同じであり、駆動トランジスタTD及びTDの機能及び構成は、例えば、駆動トランジスタTDと同じであってもよい。 In addition, in each of the above embodiments, the function and configuration of the initialization transistors T1G and T1B may be the same as, for example, the initialization transistor T1R , the function and configuration of the compensation transistors T2G and T2B may be the same as, for example, the compensation transistor T2R , the function and configuration of the write transistors T3G and T3B may be the same as, for example, the write transistor T3R , and the function and configuration of the drive transistors TDG and TDB may be the same as, for example, the drive transistor TDR .

また、上記各実施の形態における発光素子EL及びELの機能及び構成は、例えば、発光素子ELと同じであってもよい。 Furthermore, the functions and configurations of the light-emitting elements ELLG and ELLB in the above-described embodiments may be the same as, for example, the light-emitting element ELLR .

また、上記各実施の形態における保持容量Cs及びCsの機能及び構成は、例えば、保持容量Csと同じであってもよい。 Furthermore, the functions and configurations of the storage capacitors CsG and CsB in the above-described embodiments may be the same as those of the storage capacitor CsR , for example.

また、上記各実施の形態における表示装置は、カラー画像を表示する例について説明したが、これに限定されず、例えば、モノクロ画像を表示してもよい。 Furthermore, while the display devices in the above embodiments have been described as displaying color images, this is not limited to this and, for example, may also display monochrome images.

本開示は、例えば、有機EL素子等を用いた表示装置に有用である。 This disclosure is useful, for example, for display devices using organic EL elements, etc.

1 表示装置
10 表示モジュール
11 画素回路
11B、11G、11R サブ画素回路
12 表示パネル
13 ゲートドライバ
14 データドライバ
20 制御部
30 電源
110 基板
120 第1アンダーコート層
130 第2アンダーコート層
140 第1絶縁層
150 第2絶縁層
151 貫通孔
152、153 貫通孔(凹部)
152a、153a 内面
154、155 凹部
160 金属層
180 金属層(第4電極層)
170 発光層
190 第3絶縁層
200 第4絶縁層
220 第1上部電極(第2電極層)
310 下部電極(第1電極層)
310a 第1電極部
310b 第2電極部
310c、320c 第3電極部
310d 第4電極部(第1配線部)
320 第2上部電極(第3電極層)
320a 第1電極部(第2対向部)
320b 第2電極部(第2対向部)
330 接続部(第2配線部)
410 VCC補助線(第1補助線)
420 VCATH補助線(第2補助線)
500 フォトマスク
510 遮光部
520 透過部
530 ハーフトーン部
C コンタクト部
Cs、Cs、Cs、Cs、Cs_add、Cs_conv 保持容量
d1、d2、d3、d4、d5 距離
EL、EL、EL 発光素子
INI 初期化信号線、制御信号
L 画素行
REF 参照信号線、制御信号
t1、t2、t3、t4、t5 時間
T1、T1、T1 初期化トランジスタ
T2、T2、T2 補償トランジスタ
T3、T3、T3 書き込みトランジスタ
TD、TD、TD 駆動トランジスタ
VCATH 負電源線、負電源電圧
VCC 正電源線(電源線)、正電源電圧
Vdat、Vdat、Vdat データ信号線、データ信号
WS 書き込み信号線、制御信号
REFERENCE SIGNS LIST 1 display device 10 display module 11 pixel circuit 11B, 11G, 11R sub-pixel circuit 12 display panel 13 gate driver 14 data driver 20 control unit 30 power supply 110 substrate 120 first undercoat layer 130 second undercoat layer 140 first insulating layer 150 second insulating layer 151 through-hole 152, 153 through-hole (recess)
152a, 153a: inner surfaces 154, 155: recesses 160: metal layer 180: metal layer (fourth electrode layer)
170 Light-emitting layer 190 Third insulating layer 200 Fourth insulating layer 220 First upper electrode (second electrode layer)
310 Lower electrode (first electrode layer)
310a First electrode part 310b Second electrode part 310c, 320c Third electrode part 310d Fourth electrode part (first wiring part)
320 Second upper electrode (third electrode layer)
320a First electrode part (second opposing part)
320b Second electrode part (second opposing part)
330 Connection section (second wiring section)
410 VCC auxiliary line (1st auxiliary line)
420 VCATH auxiliary line (second auxiliary line)
500 Photomask 510 Light-shielding portion 520 Transparent portion 530 Halftone portion C Contact portion Cs, Cs B , Cs G , Cs R , Cs_add, Cs_conv Storage capacitance d1, d2, d3, d4, d5 Distance EL B , EL G , EL R Light-emitting element INI Initialization signal line, control signal L Pixel row REF Reference signal line, control signal t1, t2, t3, t4, t5 Time T1 B , T1 G , T1 R Initialization transistor T2 B , T2 G , T2 R Compensation transistor T3 B , T3 G , T3 R Write transistor TD B , TD G , TD R Drive transistor VCATH Negative power supply line, negative power supply voltage VCC Positive power supply line (power supply line), positive power supply voltage Vdat B , Vdat G , Vdat R Data signal line, data signal WS Write signal line, control signal

Claims (11)

2次元状に配置された複数の画素を備える表示装置であって、
前記複数の画素のそれぞれは、
発光素子と、
データ信号線を介して供給されたデータ信号を保持する保持容量と、
前記データ信号に応じた電流を前記発光素子に供給する駆動トランジスタと、
前記データ信号線と前記駆動トランジスタのゲート電極との間に接続される書き込みトランジスタであって、ソース電極及びドレイン電極の一方が前記データ信号線と接続される書き込みトランジスタとを備え、
前記保持容量は、
前記駆動トランジスタのゲート電極、及び、前記書き込みトランジスタと接続される第1電極層と、
第1電極層を覆う第1絶縁層と、
前記駆動トランジスタのソース電極と接続され、前記第1絶縁層上に前記第1電極層と対向して配置される第1対向部を有する第2電極層と、
前記第1絶縁層及び前記第2電極層を覆う第2絶縁層と、
前記駆動トランジスタの前記ソース電極と接続され、少なくとも一部が前記第2絶縁層上に形成される第3電極層であって、前記第1電極層と対向して配置される第2対向部を有する第3電極層とにより形成され、
前記第1対向部と前記第2対向部とは、前記表示装置の平面視において、互いに重ならない位置に形成され、
前記第1電極層は、前記平面視において、前記第1対向部及び前記第2対向部のそれぞれと重なるように形成される
表示装置。
A display device comprising a plurality of pixels arranged two-dimensionally,
Each of the plurality of pixels is
A light-emitting element;
a storage capacitor that stores a data signal supplied via a data signal line;
a driving transistor that supplies a current corresponding to the data signal to the light emitting element;
a write transistor connected between the data signal line and the gate electrode of the drive transistor, one of a source electrode and a drain electrode of the write transistor being connected to the data signal line;
The retention capacity is
a first electrode layer connected to a gate electrode of the drive transistor and the write transistor;
a first insulating layer covering the first electrode layer;
a second electrode layer connected to a source electrode of the driving transistor and having a first opposing portion disposed on the first insulating layer so as to oppose the first electrode layer;
a second insulating layer covering the first insulating layer and the second electrode layer;
a third electrode layer connected to the source electrode of the driving transistor, at least a portion of which is formed on the second insulating layer, the third electrode layer having a second opposing portion disposed opposite to the first electrode layer;
the first opposing portion and the second opposing portion are formed at positions that do not overlap with each other in a plan view of the display device,
the first electrode layer is formed so as to overlap with each of the first opposing portion and the second opposing portion in the plan view.
前記第2対向部は、前記第2絶縁層上に直接形成されている
請求項1に記載の表示装置。
The display device according to claim 1 , wherein the second opposing portion is formed directly on the second insulating layer.
前記第2絶縁層には、前記平面視において、前記第1電極層と重なる位置に前記第1絶縁層側に凹む有底の凹部が形成されており、
前記第2対向部は、前記凹部の底面上に形成されている
請求項1に記載の表示装置。
a recess having a bottom recessed toward the first insulating layer at a position overlapping the first electrode layer in the plan view;
The display device according to claim 1 , wherein the second opposing portion is formed on a bottom surface of the recess.
前記第2絶縁層には、前記平面視において、前記第1電極層と重なる位置に前記第1絶縁層側に貫通する凹部が形成されており、
前記第2対向部は、前記第1絶縁層上に形成されている
請求項1に記載の表示装置。
a recessed portion that penetrates the second insulating layer toward the first insulating layer at a position that overlaps the first electrode layer in the plan view,
The display device according to claim 1 , wherein the second opposing portion is formed on the first insulating layer.
前記第2対向部は、前記第1電極層と対向する第1部分と、前記凹部の内面に形成される第2部分とにより構成される
請求項3又は4に記載の表示装置。
The display device according to claim 3 , wherein the second opposing portion is configured by a first portion opposing the first electrode layer and a second portion formed on an inner surface of the recess.
さらに、
前記駆動トランジスタのドレイン電極に接続され、前記平面視において、長尺状に形成される電源線と、
前記電源線と接続され、前記電源線より低抵抗な第1補助線とを備え、
前記第1補助線は、前記第2絶縁層上に形成されている
請求項1~5のいずれか1項に記載の表示装置。
moreover,
a power supply line connected to a drain electrode of the driving transistor and formed in an elongated shape in the plan view;
a first auxiliary line connected to the power supply line and having a lower resistance than the power supply line;
The display device according to any one of claims 1 to 5, wherein the first auxiliary lines are formed on the second insulating layer.
さらに、
前記発光素子のカソード電極と接続され、前記複数の画素を覆う第4電極層と、
前記第4電極層と接続され、前記第4電極層より低抵抗な第2補助線とを備え、
前記第2補助線は、前記第2絶縁層上に形成される
請求項1~6のいずれか1項に記載の表示装置。
moreover,
a fourth electrode layer connected to a cathode electrode of the light-emitting element and covering the plurality of pixels;
a second auxiliary line connected to the fourth electrode layer and having a lower resistance than the fourth electrode layer;
The display device according to claim 1 , wherein the second auxiliary lines are formed on the second insulating layer.
前記第1電極層は、
前記第1対向部及び前記第2対向部を覆う第3対向部と、
前記駆動トランジスタの前記ゲート電極と接続される第1配線部を有し、
前記第3電極層は、前記平面視において、前記第1配線部の一部と重なる
請求項1~7のいずれか1項に記載の表示装置。
The first electrode layer is
a third opposing portion covering the first opposing portion and the second opposing portion;
a first wiring portion connected to the gate electrode of the driving transistor;
The display device according to claim 1 , wherein the third electrode layer overlaps a part of the first wiring portion in the plan view.
前記第1対向部は、前記平面視において、矩形状であり、
前記第2対向部は、前記平面視において、長尺状である
請求項8に記載の表示装置。
The first opposing portion has a rectangular shape in the plan view,
The display device according to claim 8 , wherein the second opposing portion has an elongated shape in the plan view.
前記第2絶縁層には、前記平面視において、前記第2電極層及び前記駆動トランジスタの前記ソース電極を接続する第2配線部と前記第3電極層とが重なる位置に貫通孔が形成されており、
前記第3電極層は、前記貫通孔を介して前記駆動トランジスタの前記ソース電極と電気的に接続される
請求項1~9のいずれか1項に記載の表示装置。
a through hole is formed in the second insulating layer at a position where, in the plan view, a second wiring portion that connects the second electrode layer and the source electrode of the driving transistor and the third electrode layer overlaps with each other;
The display device according to any one of claims 1 to 9, wherein the third electrode layer is electrically connected to the source electrode of the driving transistor via the through hole.
さらに、前記駆動トランジスタのドレイン電極に接続され、前記平面視において、長尺状に形成される電源線を備え、
前記第2対向部は、前記平面視において、前記電源線を挟むように形成されている
請求項1~5のいずれか1項に記載の表示装置。
further comprising a power supply line connected to a drain electrode of the driving transistor and formed in an elongated shape in the plan view,
The display device according to claim 1 , wherein the second opposing portions are formed so as to sandwich the power line in the plan view.
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