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JP7769389B2 - X線透視装置 - Google Patents
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JP7769389B2 - X線透視装置 - Google Patents

X線透視装置

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Description

本発明は、X線透視装置に関する。特に、リール内に収納されたコンデンサ等の微少部品の数を計測できるX線透視装置に関する。
従来、基板実装業界では、コンデンサ等の部品の小型化と高速実装の実現のために、部品をテープに取り付け、テープをリールに巻いて使用している。部品の種類及び数量が多くなると、リールに巻かれたテープに含まれる部品の数量の管理が課題となっている。このため、リールの長さを測り、個数に換算する方法が一般的に行われている。長さを測るため、テープを別のリールに巻き取りそれを元に巻き戻す作業が必要となるため、テープを損傷する可能性がある。
そこで、テープを別のリールに巻き取る等の作業が不要なX線での非破壊検査が求められている。X線透視方法としては、例えば、タイリング方式がある。タイリング方式では、撮像は、円板状のリールの面は、複数の領域に分けて、エリアカメラを用いて領域ごとにX線透視撮影して得られた複数の画像について、各領域間の画像をつなぎ合わせる。これによって、円板状のリールの面のX線透視画像が得られる。得られた円板状のリールの面のX線透視画像から、その濃淡によって部品を識別でき、部品の数を計測できる。
特開2000-50063号公報
しかし、上記タイリング方式による画像撮影ではどうしても撮像時間がかかってしまうという問題があった。さらに、複数の領域の画像をつなぎ合わせる際に、領域間ではX線が斜めに照射されるために画像が歪むという問題もあった。
一方、時間遅延積分方式(TDI方式:Time Delay Integration)による撮像方法が知られている(例えば、特許文献1参照。)。TDI方式では、ラインセンサではなく、縦方向にも複数の画素(例えば、100画素等)を有するTDIセンサを用い、縦方向に対象物を移動させてその移動に合わせてTDIセンサの電荷転送のタイミングを同期させながら撮像する。この場合、縦方向のCCDに順に電荷が転送され積算される。その結果、縦方向のCCDの数の倍数で明るくなり、ノイズ軽減も期待できるという効果がある。また、撮像時間が速く、高感度な画像を得ることができる。
しかし、TDI方式で通常用いられるCCDは縦方向に約100ライン程度であるが、1ラインの横方向の幅が比較的長く、円板状のリールに含まれる部品の画像の重なりが生じる等の問題がある。また、通常、X線源のX線強度が十分でない場合があり、100ライン程度では感度が十分でない場合がある。
そこで、本発明は、撮像時間が短く、幅方向における部品の画像の重なりが抑制され、X線強度が十分でないX線源の場合にも十分な感度が得られるX線透視装置を提供することを目的とする。
本発明に係るX線透視装置は、放射状のX線を照射するX線源と、
前記放射状のX線がサンプルの面に照射されるように前記サンプルを保持するサンプルホルダーと、
前記X線源からみて、前記サンプルホルダーより離れた位置で前記サンプルの面を透過したX線を受光するCCDが面状に配置され、前記サンプルの面のX線透過画像を得る面状CCDと、
前記サンプルホルダー及び前記面状CCDを、前記面状CCDによる撮像と同期して相対移動させる移動部と、
を備え、
前記面状CCDは、前記サンプルとの相対移動方向に沿って500画素以上を有する。
本発明に係るX線透視装置によれば、撮像時間が短く、幅方向における部品の画像の重なりが抑制され、X線強度が十分でないX線源の場合にも十分な感度が得られる。
(a)は実施の形態1に係るX線透視装置のX線の照射方向に垂直な方向からみた構成を示す概略図であり、(b)は、面状CCDの平面図とそれによって得られる画像の例である。 部品の高さとサンプルとの相対移動方向に沿った間隔と、隣接する部品の画像が重なる場合のX線の中心軸からの角度との関係を示す概略図である。 部品の高さとサンプルとの相対移動方向と垂直な方向に沿った間隔と、隣接する部品の画像が重なる場合のX線の中心軸からの角度との関係を示す概略図である。 様々な部品の高さと間隔と、X線の中心軸からの角度との関係を示す概略図である。 複数の部品を取り付けたテープを巻き取った円板状のリールのX線透視画像である。 実施の形態2に係るX線透視装置において、2つの面状CCDをサンプルの移動方向及びX線の中心軸と直交する方向に並列して配置した場合を示す概略平面図である。 実施の形態2の変形例1に係るX線透視装置において、3つの面状CCDをサンプルの移動方向及びX線の中心軸と直交する方向に並列して配置した場合を示す概略平面図である。 実施の形態2の変形例1に係るX線透視装置において、4つの面状CCDをサンプルの移動方向及びX線の中心軸と直交する方向に並列して配置した場合を示す概略平面図である。
第1の態様に係るX線透視装置は、放射状のX線を照射するX線源と、
前記放射状のX線がサンプルの面に照射されるように前記サンプルを保持するサンプルホルダーと、
前記X線源からみて、前記サンプルホルダーより離れた位置で前記サンプルの面を透過したX線を受光するCCDが面状に配置され、前記サンプルの面のX線透過画像を得る面状CCDと、
前記サンプルホルダー及び前記面状CCDを、前記面状CCDによる撮像と同期して相対移動させる移動部と、
を備え、
前記面状CCDは、前記サンプルとの相対移動方向に沿って500画素以上を有する。
第2の態様に係るX線透視装置は、上記第1の態様において、前記面状CCDは、前記サンプルとの相対移動方向に沿った時間遅延積分方式のTDIセンサであってもよい。
第3の態様に係るX線透視装置は、上記第1又は第2の態様において、前記移動部は、前記サンプルホルダーを前記放射状のX線の中心軸と交差する一方向に沿って、前記面状CCDによる撮像と同期して移動させてもよい。
第4の態様に係るX線透視装置は、上記第1又は第2の態様において、前記移動部は、前記面状CCDを前記放射状のX線の中心軸と交差する一方向に沿って、前記面状CCDによる撮像と同期して移動させてもよい。
第5の態様に係るX線透視装置は、上記第1又は第2の態様において、前記移動部は、前記サンプルホルダーと前記面状CCDとを前記放射状のX線の中心軸と交差する一方向に沿って互いに逆方向に、前記面状CCDによる撮像と同期して移動させてもよい。
第6の態様に係るX線透視装置は、上記第1から第5のいずれかの態様において、前記サンプルは、面内に複数の部品を含む場合において、
前記サンプルを透過したX線からなる前記サンプルの面のX線透過画像の強度変化に基づいて、前記サンプルに含まれる複数の前記部品を識別して計測する、画像処理部をさらに備えてもよい。
第7の態様に係るX線透視装置は、上記第1から第6のいずれかの態様において、前記サンプルは、各部品が前記X線の中心軸に沿った高さhを有し、前記面状CCDと前記サンプルとの相対移動方向に沿って間隔t1で離間して配置されている複数の部品を面内に含む場合において、
前記面状CCDは、前記相対移動方向に沿って前記X線の前記中心軸からの最大傾斜角θ1が
θ1<arctan(t1/h)
を満たすように配置されていてもよい。
第8の態様に係るX線透視装置は、上記第1から第7のいずれかの態様において、前記サンプルは、各部品が前記X線の中心軸に沿った高さhを有し、前記面状CCDと前記サンプルとの相対移動方向及びX線の中心軸に垂直な方向に沿って間隔t2で離間して配置されている複数の部品を面内に含む場合において、
前記面状CCDは、前記相対移動方向及びX線の中心軸と垂直な方向に沿って前記X線の前記中心軸からの最大傾斜角θ2が
θ2<arctan(t2/h)
を満たすように配置されていてもよい。
第9の態様に係るX線透視装置は、上記第1から第8のいずれかの態様において、前記面状CCDは、前記サンプルホルダー及び前記面状CCDの相対移動において、撮像範囲が、前記サンプルの相対移動方向及び前記X線の中心軸に垂直な方向に互いに隣接するように配置され、互いに電荷転送方向が異なる2以上の面状CCDを有してもよい。
第10の態様に係るX線透視装置は、上記第1から第9のいずれかの態様において、撮影する前記サンプルの移動速度と、前記面状CCD内に発生した画像信号の転送速度とを同期させると共に、前記サンプルの移動速度と、前記画像信号の転送速度との複数の条件を設定してもよい。
以下、実施の形態に係るX線透視装置について、添付図面を参照しながら説明する。なお、図面において実質的に同一の部材については同一の符号を付している。
(実施の形態1)
図1(a)は実施の形態1に係るX線透視装置10のX線2の照射方向に垂直な方向からみた構成を示す概略図であり、図1(b)は、面状CCDの平面図とそれによって得られる画像の例である。なお、図面において、便宜上、面状CCDとサンプルとの相対移動方向をX方向とし、鉛直上方をZ方向とし、面状CCDの1ラインの方向をY方向として示している。
実施の形態1に係るX線透視装置10は、放射状のX線を照射するX線源と、サンプルを保持するサンプルホルダーと、サンプルの面のX線透過画像を得る面状CCDと、サンプルホルダーを移動させる移動部と、を備える。サンプルホルダーによって、放射状のX線がサンプルの面に照射されるようにサンプルを保持する。面状CCDは、サンプルの面を透過したX線を受光するCCDが面状に配置されている。また、面状CCDは、X線源からみて、サンプルホルダーより離れた位置で配置される。面状CCDは、サンプルとの相対移動方向に沿って500画素以上を有する。移動部は、サンプルホルダーを、面状CCDによる撮像と同期して移動させる。
このX線透視装置によれば、面状CCDは、サンプルとの相対移動方向に沿って500画素以上を有するので、TDI方式による撮像時の撮像時間が短く、幅方向における部品の画像の重なりが抑制され、X線強度が十分でないX線源の場合にも十分な感度が得られる。
以下に、このX線透視装置10を構成する各部材について説明する。
<X線源>
X線源1によって放射状のX線2をサンプルに照射する。X線源1としては、通常のX線源のほかに、X線強度が比較的弱いマイクロフォーカスX線源を使用できる。
<サンプル>
図5は、複数の部品を取り付けたテープを巻き取った円板状のリールのX線透視画像11である。
サンプル3は、例えば、図2及び図3に示すコンデンサ等の複数の部品4を取り付けたテープを巻き取った円板状のリールであってもよい。なお、各部品4は、リールの中心から半径方向にわたって少なくともテープ厚さの間隔で離間されている。図5では、部品の画像14は、間隔を空けて撮像されており、それぞれの部品を識別できる。また、リールの円周方向については、所定間隔で離間されている。具体的には、部品4は、テープ本体に設けられた穴に収納され、上下に脱落防止のカバーテープが設けられている。カバーテープは上下両方合わせて例えば厚さ0.1mm程度である。
なお、サンプルは、面のX線透視画像を撮像するためのものであればよく、上記の複数の部品を取り付けたテープを巻き取ったリールに限られない。
また、図1では、X線源1からサンプル3までの距離は、例えば、221.7mmである。
<サンプルホルダー>
サンプルホルダー5によってサンプル3を保持する。サンプルホルダー5は、X線2がサンプル3の面に照射されるようにサンプルを保持する。なお、図1では、X線源1からサンプルホルダー5までの距離は、例えば、229.7mmである。
<面状CCD>
面状CCD6は、X線2を受光する電荷結合素子(Charge Coupled Device:CCD)
がY方向に沿った1ラインではなく、X方向に沿って複数ラインを有する。また、面状CCD6は、X線源1からみて、サンプルホルダー5より離れた位置で配置されている。この面状CCD6によって、サンプル3の面を透過したX線2によるサンプル3の面のX線透過画像を得ることができる。面状CCD6は、サンプル3との相対移動方向(X方向)に沿って500画素以上を有する。この面状CCD6では、X方向への電荷転送タイミングをサンプルの相対移動のタイミングとを同期させている。つまり、撮影するサンプルの移動速度と、面状CCD6内に発生した画像信号の転送速度とを同期させている。これによって、面状CCD6のサンプルとの相対移動方向に沿った少なくとも500画素にわたる電荷を積算することができ、1ラインしかないラインセンサを用いた場合の500倍の明るさの画像を得ることができる。また、相対移動方向に沿って1000画素以上であってもよい。なお、図1では、X線の中心軸から面状CCD6の端部までの角度は2.11°、X線源から面状CCDの両端への角度は4.22°である。また、X線源1から面状CCD6サンプル3から面状CCD6までの距離は49.5mmであり、サンプルホルダー5から面状CCD6までの距離は41.5mmであり、X線源1から面状CCD6までの距離は271.2mmである。
また、この面状CCD6は、サンプルとの相対移動方向に沿った時間遅延積分方式のTDIセンサである。そこで、面状CCD6におけるX方向の電荷転送方向をサンプルとの相対移動方向と合わせる必要がある。
図2は、部品4の高さhとサンプル3との相対移動方向(X方向)に沿った間隔t1と、隣接する部品4の画像が重なる場合のX線2の中心軸からの角度θ1との関係を示す概略図である。図3は、部品4の高さとサンプル3との相対移動方向と垂直な方向(Y方向)に沿った間隔と、隣接する部品4の画像が重なる場合のX線2の中心軸からの角度との関係を示す概略図である。
図2では、サンプル3において、各部品4a、4bがX線2の中心軸に沿った高さhを有し、面状CCDとサンプルとの相対移動方向(X方向)に沿って間隔t1で離間して配置されている。この場合、端部の最も傾斜角が大きい箇所では、部品4aの上端を透過するX線と、その部品4aに隣接する部品4bの下端を透過するX線とが重なり合う場合がある。このような場合、隣接する2つの部品4a、4bから得られる画像には濃淡が生じないため互いに識別することが困難になる。
そこで、面状CCDは、相対移動方向(X方向)に沿ってX線2の中心軸からの最大傾斜角θ1が
θ1<arctan(t1/h)
を満たすように配置してもよい。
これによって、隣接する部品4a、4bの画像の重なりを抑制できる。
図3では、サンプル3において、各部品4c、4dがX線2の中心軸に沿った高さhを有し、面状CCDとサンプルとの相対移動方向(X方向)及びX線の中心軸(Z方向)に垂直な幅方向(Y方向)に沿って間隔t2で離間して配置されている。この場合も図2と同様に、端部の最も傾斜角が大きい箇所では、部品4cの上端を透過するX線と、その部品4cに隣接する部品4dの下端を透過するX線とが重なり合う場合がある。
そこで、面状CCDは、相対移動方向(X方向)及びX線の中心軸(Z方向)と垂直な方向(Y方向)に沿ってX線2の中心軸からの最大傾斜角θ2が
θ2<arctan(t2/h)
を満たすように配置してもよい。
これによって、隣接する部品4c、4dの画像の重なりを抑制できる。
図4は、様々な部品の高さと間隔と、X線の中心軸からの角度との関係を示す概略図である。
具体的には、部品の高さhが2mm、間隔t(t1又はt2)が1mmの場合、最大傾斜角θ1、θ2は、26.48°となる。部品の高さhが2mm、間隔t(t1又はt2)が0.55mmの場合、最大傾斜角θ1、θ2は、15.47°となる。部品の高さhが2mm、間隔t(t1又はt2)が0.11mmの場合、最大傾斜角θ1、θ2は、3.17°となる。なお、高さhと間隔t(t1又はt2)との比が同じ場合には、同じ最大傾斜角となる。つまり、高さhが1mm、間隔t(t1又はt2)が0.50mmの場合、高さhが2mm、間隔t(t1又はt2)が1mmの場合と同じ最大傾斜角となる。そこで、図4では、高さhが2mm、1mm、0.4mmのそれぞれについて、同じ最大傾斜角となる間隔t(t1又はt2)をそれぞれ示している。
また、図4では、放射状のX線2の中心軸に1つのCCDが配置される場合と、その両側に順に複数のCCDを配置した場合を示している。
部品の間隔が狭くなるにつれて許容される最大傾斜角は小さくなり、部品の高さhが2mm、間隔t(t1又はt2)が0.11mmの場合には最大傾斜角3.17°、つまり、1500画素×1000画素の1つのCCDのみで受光する必要があることを示している。一方、高さhが2mm、間隔t(t1又はt2)が1mmの場合、最大傾斜角θ1、θ2は、26.48°であり、相対移動方向(X方向)の両側に9つのCCDを配置してサンプルを移動させることなく受光してもよいことを示している。しかし、この場合、上述したように各CCDでは十分な明るさが得られない場合がある。そこで、この場合には、9つのCCDを用いるのではなく、1つのCCDを用いて、CCD又はサンプルを移動させて受光してもよい。それによってより明るい画像を得ることができる。
<移動部>
移動部7によって、サンプルホルダー5及び面状CCD6を、面状CCD6による撮像と同期して相対移動させる。例えば、移動部7は、サンプルホルダー5を放射状のX線2の中心軸と交差する一方向に沿って、面状CCD6による撮像と同期して移動させてもよい。この場合には面状CCDを移動させず、中心軸に固定する。そこで面状CCDへのX線の角度を狹角にでき、特定の深さの画像を強調できる。また、面状CCDを移動させないで撮像するので、面状CCDへのX線の角度が狹角であるので、得られた画像から、例えば、リール内の部品の識別が容易に行え、部品のカウントを確実にすることができる。
また、移動部7は、面状CCD6をX線2の中心軸と交差する一方向に沿って、面状CCD6による撮像と同期して移動させてもよい。この場合、広角度な撮像が実現できる。
さらに、移動部7は、サンプルホルダー5と面状CCD6とをX線2の中心軸と交差する一方向に沿って互いに逆方向に、面状CCD6による撮像と同期して相対移動させてもよい。この場合、面状CCDの最大傾斜角の範囲内で移動させることができると共に、サンプルの移動範囲を抑制できる。
つまり、移動部7は、サンプルホルダー5又は面状CCD6のいずれを移動させてもよく、両方を移動させてもよい。また、面状CCDは、図4に示すように、部品の高さと間隔t(t1又はt2)とによって決まる最大傾斜角を越えないように移動させる。
<画像処理部>
サンプルに含まれる複数の部品を識別して計測する、画像処理部12をさらに備えてもよい。画像処理部12によれば、X線透視画像から、例えば、その濃淡によって部品を識別でき、部品の数を計測できる。画像処理部12は、例えば、コンピュータ上で動作するソフトウエアによって構成されていてもよい。
<倍率と移動量について>
図1に示すように、X線源1からサンプル3までの距離は221.7mmであり、サンプル3から面状CCDまでの距離は49.5mmである。そこで、サンプルの点の倍率は、
271.2mm/(271.2mm-49.5mm)=1.223
となる。
次に、1ラインごとの長さに合わせてサンプルを移動させる。相対移動方向を全て積算した後、1ラインごとに出力する。この場合のサンプル移動量は、CCDピクセルサイズを倍率で割った量である。このサンプル移動とCCDからの読み出しとを続けるとエンドレスに画像が出力される。
なお、サンプルにおいてX線の照射方向(Z方向)に厚さを有する場合、倍率を算出した厚さの上下について画像にボケを生じる。従来はCCDの移動をセンサの幅に設定して間欠的に撮影しているが、TDI方式では幅広いエリアを短時間に撮像できる。また、センサ間の接合部が連続的になり、断層撮像において時間短縮効果が大きい。特に、面状CCDを移動させると移動方向に長いセンサが存在しているような画像が撮影できる。本発明に係るX線透視装置では、面状CCDに相対移動方向(X方向)に沿って500画素を有するので、厚さの上下の画像のボケから断層情報を取得できる。
(実施の形態2)
図6は、実施の形態2に係るX線透視装置において、2つの面状CCD6a、6bをサンプルの移動方向(X方向)及びX線の中心軸(Z方向)と直交する方向(Y方向)に並列して配置した場合を示す概略平面図である。図7は、実施の形態2の変形例1に係るX線透視装置において、3つの面状CCD6a、6b、6cをサンプルの移動方向(X方向)及びX線の中心軸(Z方向)と直交する方向(Y方向)に並列して配置した場合を示す概略平面図である。図8は、実施の形態2の変形例2に係るX線透視装置において、4つの面状CCD6a、6b、6c、6dをサンプルの移動方向(X方向)及びX線の中心軸(Z方向)と直交する方向(Y方向)に並列して配置した場合を示す概略平面図である。
実施の形態2に係るX線透視装置における2つの面状CCD6a、6bのそれぞれの撮像範囲16a、16bは、図6に示すように、相対移動方向(X方向)及びX線の中心軸(Z方向)に垂直な方向(Y方向)に互いに隣接するように配置されている。なお、それぞれの面状CCD6a、6bは、有効な撮像範囲16a、16bを囲む外形部を有するので、撮像範囲が隣接するようにそれぞれの面状CCD6a、6bはY方向だけでなくX方向にもずらせて斜めに配置している。つまり、面状CCD6aの撮像範囲16aと面状CCD6bの撮像範囲16bとは、Y方向のそれぞれの撮像端部18aで互いに接するように配置されている。
また、面状CCD6aの電荷転送方向17aと面状CCD6bの電荷転送方向17bとは互いに反対方向となるように配置している。これによって、Y方向に隣接する面状CCD6aと面状CCD6bとをサンプルの移動の行きと帰りとでそれぞれ撮像を行うことができ、サンプルの往復移動を有効に利用できる。
(変形例1)
図7に示すように、変形例1に係るX線透視装置において、3つの面状CCD6a、6b、6cは、図6に示す2つの面状CCD6a、6bに加えて、3つめの面状CCD6cをY方向に千鳥状(ジグザグ)に配置されていることを特徴とする。図7では、3つめのCCD6cは、面状CCD6aについて-Y方向に隣接するように配置しているが、これに限られず、面状CCD6bについてY方向に隣接するように配置してもよい。
3つめの面状CCD6cは、その電荷転送方向17bがY方向に隣接する面状CCD6aの電荷転送方向17aと互いに反対方向になるように配置されている。これによって、サンプルの移動の行きでは面状CCD6aによって撮像し、帰りは面状CCD6b、6cによって撮像できる。そこで、サンプルの1回の往復移動でY方向について3つの面状CCD6a、6b、6cの撮像範囲16a、16b、16cをX方向に走査して撮像できる。つまり、サンプルのX方向への往復移動後、サンプルをY方向に移動させる場合には、3つの撮像範囲16a、16b、16cのY方向の長さを単位としてシフトさせればよい。
(変形例2)
図8に示すように、変形例2に係るX線透視装置において、4つの面状CCD6a、6b、6c、6dは、図6に示す2つの面状CCD6a、6bに加えて、Y方向にさらに2つの面状CCD6c、6dが千鳥状に配置されていることを特徴とする。
3つめの面状CCD6cは、その電荷転送方向17aがY方向に隣接する面状CCD6bの電荷転送方向17bと互いに反対方向になるように配置されている。4つめの面状CCD6dは、その電荷転送方向17bがY方向に隣接する面状CCD6cの電荷転送方向17aと互いに反対方向になるように配置されている。これによって、サンプルの移動の行きでは面状CCD6a、6cによって撮像し、帰りは面状CCD6b、6dによって撮像できる。そこで、サンプルの1回の往復移動でY方向について4つの面状CCD6a、6b、6c、6dの撮像範囲16a、16b、16c、16dをX方向に走査して撮像できる。つまり、サンプルのX方向への往復移動後、サンプルをY方向に移動させる場合には、4つの撮像範囲16a、16b、16c、16dのY方向の長さを単位としてシフトさせればよい。
(実施の形態3)
実施の形態3に係るX線透視装置では、撮影するサンプルの移動速度と、面状CCD内に発生した画像信号の転送速度とを同期させるだけでなく、複数の条件で設定することを特徴とする。複数の条件とは、同期したサンプルの移動速度と画像信号の転送速度との組み合わせの条件を複数設ける、つまり、異なるサンプルの移動速度と画像信号の転送速度との複数の組み合わせという意味である。
これによって、設定されたサンプル移動速度とCCD画素の転送速度との複数の条件で得られた複数の画像から、撮影するサンプルの3次元構造データを得ることができる。
また、サンプル内の各深さの注目ポイントは、その深さポイントの倍率分だけ、面状CCDの電荷の移動距離を多くすることにより、画像としての鮮鋭性が向上する。つまり、サンプルの厚さ方向に解像度の向上を行う場合は、幾何学的な倍率を上げることにより、高精細な立体画像情報が得られる。幾何学的な倍率を上げることで、撮影ポイントの拡大率を大きくして、結果的にサンプルの層間の分解能を上げる、つまり1ピクセルのサイズを小さくすることができる。
実施の形態3に係るX線透視装置によれば、大面積の三次元検査体を検査体の1次元走査とそれに同期した面状CCDの画像転送とを同期して行う走査と、それの繰り返しと、それらの画像合成を行うという構成を有する。これによって、大面積の2次元画像を得て、例えばリールに巻きとられたチップ部品の個数を高精度に計数することができる。そして、これらの走査の深さ条件を複数設定して、その深さ情報とそれにより得られた画像情報を合成して、被検体の3次元画像を再構成することができる。
実施の形態3に係るX線透視装置は、例えば、多層プリント基板の内層パターンの分離撮影などに応用できる。
なお、従来は、基板をその平面のX軸或いはY軸を回転中心とする回転方式のCT撮影や、サンプルとセンサとを同期して回転させるラミノグラフィ方式のCTやサンプルの視角の差を活用したステレオ撮影方式などがある。しかし、上記の場合には、装置が非常に大型で高価であったり、或いは撮影に長時間を有するなどそれぞれ課題があった。
これに対して、上記の実施の形態3に係るX線透視装置によれば、小型で、短時間でサンプルを撮影することが出来る。
なお、本開示においては、前述した様々な実施の形態及び/又は実施例のうちの任意の実施の形態及び/又は実施例を適宜組み合わせることを含むものであり、それぞれの実施の形態及び/又は実施例が有する効果を奏することができる。
本発明に係るX線透視装置によれば、撮像時間が短く、幅方向における部品の画像の重なりが抑制され、X線強度が十分でないX線源の場合にも十分な感度が得られる。そこで、特に、リール内に収納されたコンデンサ等の微少部品の数を計測するX線透視装置として有用である。
1 X線源
2 X線
3 対象物(サンプル)
4 部品
5 サンプルホルダー
6、6a、6b、6c、6d 面状CCD
7 移動部
10 X線透視装置
11 サンプル全体の画像
12 画像処理部
14 部品の画像
16a、16b、16c、16d 撮像範囲
17a、17b 電荷転送方向
18a、18b、18c 撮像端部

Claims (3)

  1. 放射状のX線を照射するX線源と、
    前記放射状のX線が前記X線の中心軸に沿った高さを有する複数の部品を含むサンプルの面に照射されるように前記サンプルを保持するサンプルホルダーと、
    前記X線源からみて、前記サンプルホルダーより離れた位置で前記サンプルの面を透過したX線を受光するCCDが面状に配置され、前記サンプルの面のX線透過画像を得る面状CCDと、
    前記部品の所定高さの断層情報を取得するように、前記サンプルホルダーを前記放射状のX線の中心軸と交差する一方向に沿って、前記部品の所定高さを前記面状CCDによる撮像と同期して移動させる移動部と、
    を備え、
    前記面状CCDは、前記サンプルの移動方向に沿って500画素以上を有する共に、固定されており、
    前記面状CCDは、前記サンプルホルダーの移動において、撮像範囲が、前記サンプルの移動方向及び前記X線の中心軸に垂直な方向に互いに隣接するように配置され、互いに電荷転送方向が異なる2以上の面状CCDを有し、
    前記面状CCDは、前記サンプルの移動方向に沿った時間遅延積分方式のTDIセンサを構成する、X線透視装置。
  2. 前記サンプルを透過したX線からなる前記サンプルの面のX線透過画像の強度変化に基づいて、前記サンプルに含まれる複数の前記部品を識別して計測する、画像処理部をさらに備える、請求項1に記載のX線透視装置。
  3. 撮影する前記サンプルの移動速度と、前記面状CCD内に発生した画像信号の転送速度とを同期させると共に、前記サンプルの移動速度と、前記画像信号の転送速度との複数の条件を設定する、請求項1又は2に記載のX線透視装置。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7769389B2 (ja) * 2020-09-10 2025-11-13 株式会社ビームセンス X線透視装置
EP4358505A4 (en) * 2021-07-13 2025-02-26 Hamamatsu Photonics K.K. X-ray image acquisition device and x-ray image acquisition system

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009168590A (ja) 2008-01-16 2009-07-30 Ishida Co Ltd X線検査装置
JP2011149701A (ja) 2010-01-19 2011-08-04 Shonai Create Kogyo:Kk ラインセンサーカメラを用いたx線検査装置
JP2011242374A (ja) 2010-05-21 2011-12-01 Anritsu Sanki System Co Ltd X線検査装置
JP2014089094A (ja) 2012-10-30 2014-05-15 Komatsu Denshi Kk X線計数装置
JP2015043174A (ja) 2013-08-26 2015-03-05 株式会社アイビット 電子部品の計数装置
JP2015531580A (ja) 2012-10-12 2015-11-02 ソルラブス、インコーポレイテッド Ccdイメージャを使用した時間遅延および積分走査
JP2015194423A (ja) 2014-03-31 2015-11-05 株式会社日立ハイテクサイエンス X線透過検査装置
JP2016500493A (ja) 2012-12-10 2016-01-12 ケーエルエー−テンカー コーポレイション パルス照射を使用する移動画像の高速取得のための方法および装置
JP2018105839A (ja) 2016-12-28 2018-07-05 松定プレシジョン株式会社 撮影装置、検査装置、および撮影装置の制御プログラム
WO2020004435A1 (ja) 2018-06-27 2020-01-02 東レ株式会社 放射線透過検査方法及び装置、並びに微多孔膜の製造方法
US20200234431A1 (en) 2019-01-22 2020-07-23 Xavis Co., Ltd X-ray detecting type of a component counter and a method for counting components using the same

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000050063A (ja) 1998-07-31 2000-02-18 Minolta Co Ltd 画像読取り装置
US6324249B1 (en) * 2001-03-21 2001-11-27 Agilent Technologies, Inc. Electronic planar laminography system and method
JP5827064B2 (ja) * 2011-08-05 2015-12-02 株式会社日立ハイテクサイエンス 透過x線分析装置及び方法
JP6397690B2 (ja) * 2014-08-11 2018-09-26 株式会社日立ハイテクノロジーズ X線透過検査装置及び異物検出方法
JP7769389B2 (ja) * 2020-09-10 2025-11-13 株式会社ビームセンス X線透視装置

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009168590A (ja) 2008-01-16 2009-07-30 Ishida Co Ltd X線検査装置
JP2011149701A (ja) 2010-01-19 2011-08-04 Shonai Create Kogyo:Kk ラインセンサーカメラを用いたx線検査装置
JP2011242374A (ja) 2010-05-21 2011-12-01 Anritsu Sanki System Co Ltd X線検査装置
JP2015531580A (ja) 2012-10-12 2015-11-02 ソルラブス、インコーポレイテッド Ccdイメージャを使用した時間遅延および積分走査
JP2014089094A (ja) 2012-10-30 2014-05-15 Komatsu Denshi Kk X線計数装置
JP2016500493A (ja) 2012-12-10 2016-01-12 ケーエルエー−テンカー コーポレイション パルス照射を使用する移動画像の高速取得のための方法および装置
JP2015043174A (ja) 2013-08-26 2015-03-05 株式会社アイビット 電子部品の計数装置
JP2015194423A (ja) 2014-03-31 2015-11-05 株式会社日立ハイテクサイエンス X線透過検査装置
JP2018105839A (ja) 2016-12-28 2018-07-05 松定プレシジョン株式会社 撮影装置、検査装置、および撮影装置の制御プログラム
WO2020004435A1 (ja) 2018-06-27 2020-01-02 東レ株式会社 放射線透過検査方法及び装置、並びに微多孔膜の製造方法
US20200234431A1 (en) 2019-01-22 2020-07-23 Xavis Co., Ltd X-ray detecting type of a component counter and a method for counting components using the same

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