JP7778002B2 - Equivalent model creation device, equivalent model creation support method, and equivalent model creation support program - Google Patents
Equivalent model creation device, equivalent model creation support method, and equivalent model creation support programInfo
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Description
本開示技術は、等価モデル作成技術に関する。 This disclosed technology relates to equivalent model creation technology.
集積回路の開発段階においては、設計担当者により設計された集積回路に対し、検証担当者が等価回路を用いてＰＩ（パワーインテグリティ）検証などの種々の検証を行う場合がある。この場合、例えば、検証担当者は、集積回路をＬＣＲ部品（Ｌ（コイル）、Ｃ（コンデンサ）、Ｒ（抵抗））でモデル化した等価回路（等価モデル回路）を生成する。具体的には、検証担当者は、設計担当者から回路のインピーダンスに関する実測値を受け取り、実測値に基づくインピーダンス特性に近づくように、モデル回路におけるＬＣＲ部品を調整して等価モデル回路を生成する。 During the development stage of an integrated circuit, a verifier may use an equivalent circuit to perform various types of verification, such as PI (power integrity) verification, on an integrated circuit designed by a designer. In this case, for example, the verifier creates an equivalent circuit (equivalent model circuit) that models the integrated circuit using LCR components (L (coil), C (capacitor), R (resistor)). Specifically, the verifier receives actual measured values for the circuit's impedance from the designer, and adjusts the LCR components in the model circuit to approximate the impedance characteristics based on the actual measured values, creating an equivalent model circuit.
ところで、特許文献１には、回路を構成する回路網素子間の相互効果を予測して回路の周波数応答を生成し、周波数応答をグラフィック表示する回路分析装置が開示されている。特許文献１の回路分析装置においては、回路構成に基づいて、実測値に基づく周波数応答に近い、いわゆる「正しい周波数応答」（特許文献１）の波形が表示される。 Patent Document 1 discloses a circuit analysis device that predicts the interactions between the network elements that make up a circuit, generates the frequency response of the circuit, and graphically displays the frequency response. The circuit analysis device in Patent Document 1 displays a waveform of the so-called "correct frequency response" (Patent Document 1), which is close to the frequency response based on actual measurements, based on the circuit configuration.
しかしながら、従来、実測値に基づくインピーダンス特性の波形が複雑になるにしたがって、モデル回路におけるＬＣＲ部品を調整する回数が増える傾向にあり、等価モデル回路を生成する際の作業負荷が大きいという課題があった。
仮に、特許文献１の回路分析装置における上記開示を等価モデル回路の作成に利用しようとしても、実測値に基づくインピーダンス特性に近い、より複雑な波形を表示する程度であり、依然として、上記課題を解決できない。
However, conventionally, as the waveform of the impedance characteristics based on actual measurements becomes more complex, the number of times that LCR components in the model circuit need to be adjusted tends to increase, resulting in a problem of a large workload when generating an equivalent model circuit.
Even if the above disclosure of the circuit analysis device of Patent Document 1 were to be used to create an equivalent model circuit, it would only be able to display a more complex waveform that is closer to the impedance characteristics based on actual measurements, and would still not be able to solve the above problem.
本開示は、上記課題を解決するもので、等価モデル回路を生成する際の作業負荷を低減させることができる等価モデル作成装置を提供することを目的とする。 The present disclosure aims to solve the above problem by providing an equivalent model creation device that can reduce the workload when generating an equivalent model circuit.
本開示の等価モデル作成装置は、対象回路の周波数ごとのインピーダンスを示す第１波形データを取得する第１波形データ取得部と、前記第１波形データに基づく第１波形を示す表示データを出力する表示データ出力部と、それぞれ異なる周波数帯の領域ごとに、目標インピーダンスを決定するための目標条件を取得する目標条件取得部と、前記第１波形データおよび前記目標条件を用いて決定された前記対象回路についての周波数ごとの目標インピーダンスを示す第２波形データを生成する第２波形データ生成部と、ＬＣＲ部品で構成される前記対象回路のモデル回路における、周波数ごとのインピーダンスを示す第３波形データを生成する第３波形データ生成部と、を備え、前記表示データ出力部は、さらに、前記第２波形データに基づく第２波形を示す表示データおよび前記第３波形データに基づく第３波形を示す表示データを出力する、ように構成した。 The equivalent model creation device of the present disclosure includes a first waveform data acquisition unit that acquires first waveform data indicating the impedance for each frequency of a target circuit ; a display data output unit that outputs display data indicating the first waveform based on the first waveform data; a target condition acquisition unit that acquires target conditions for determining a target impedance for each region of a different frequency band; a second waveform data generation unit that generates second waveform data indicating the target impedance for each frequency of the target circuit determined using the first waveform data and the target conditions; and a third waveform data generation unit that generates third waveform data indicating the impedance for each frequency in a model circuit of the target circuit composed of LCR components, and the display data output unit is further configured to output display data indicating the second waveform based on the second waveform data and display data indicating the third waveform based on the third waveform data.
本開示によれば、等価モデル回路を生成する際の作業負荷を低減させることができる、という効果を奏する。 This disclosure has the advantage of reducing the workload involved in generating an equivalent model circuit.
以下、本開示をより詳細に説明するために、本開示を実施するための形態について、添付の図面に従って説明する。 To explain this disclosure in more detail, the following describes an embodiment of the disclosure with reference to the accompanying drawings.
実施の形態１．
実施の形態１においては、取得したインピーダンス特性、および、周波数帯ごとの目標条件を用いてインピーダンス特性を生成することができる形態を示す。
図１は、実施の形態１に係る等価モデル作成装置１０００の構成例および周辺装置を示す図である。
等価モデル作成装置１０００は、入力装置２０００と、表示装置３０００と、通信可能に接続されている。
等価モデル作成装置１０００は、入力装置２０００を介して取得したインピーダンス特性（第１波形データ）および周波数帯ごとの目標条件に基づいて目標インピーダンス特性（第２波形データ）を生成する。
また、等価モデル作成装置１０００は、取得したモデル回路の情報（モデル回路情報）に基づいてモデル回路のインピーダンス特性（第３波形データ）を生成する。
等価モデル作成装置１０００は、入力装置２０００を介して取得したインピーダンス特性を示す表示データ、目標インピーダンス特性を示す表示データ、または、モデル回路のインピーダンス特性を示す表示データを、表示装置３０００へ出力する。
また、等価モデル作成装置１０００は、外部からの指令にしたがってモデル回路のＬＣＲ値を出力する。
Embodiment 1.
In the first embodiment, an embodiment will be described in which an impedance characteristic can be generated using the acquired impedance characteristic and a target condition for each frequency band.
FIG. 1 is a diagram showing an example of the configuration of an equivalent model creating device 1000 according to the first embodiment and peripheral devices.
The equivalent model creating device 1000 is communicably connected to an input device 2000 and a display device 3000 .
The equivalent model creating device 1000 generates target impedance characteristics (second waveform data) based on the impedance characteristics (first waveform data) acquired via the input device 2000 and target conditions for each frequency band.
Furthermore, the equivalent model creating device 1000 generates impedance characteristics (third waveform data) of the model circuit based on the acquired information of the model circuit (model circuit information).
The equivalent model creation device 1000 outputs display data indicating the impedance characteristics acquired via the input device 2000, display data indicating the target impedance characteristics, or display data indicating the impedance characteristics of the model circuit to the display device 3000.
Furthermore, the equivalent model creating device 1000 outputs the LCR value of the model circuit in accordance with an external command.
等価モデル作成装置１０００の内部構成を説明する。
図１に示す等価モデル作成装置１０００は、波形データ出力部１１００、表示データ出力部１２００、および、ＬＣＲ値出力部１３００、を含んで構成されている。
The internal configuration of the equivalent model creating device 1000 will be described.
The equivalent model creating device 1000 shown in FIG. 1 includes a waveform data output section 1100, a display data output section 1200, and an LCR value output section 1300.
波形データ出力部１１００は、周波数ごとのインピーダンス特性を示す波形データを出力する。
具体的には、波形データ出力部１１００は、少なくとも第１波形データ、第２波形データ、および、第３波形データといった３種類の波形データを出力する。
第１波形データは、入力装置２０００を介して取得したインピーダンス特性を示し、具体的には、実測値に基づく、周波数ごとのインピーダンス値を示す。ただし、第１波形データ自体は、実測値に基づくデータであるかを判別できないため、実測値に基づくデータに限定することを意図しない。
第２波形データは、第１波形データおよび周波数帯ごとの目標条件に基づく、目標インピーダンス特性を示す。
第３波形データは、モデル回路情報に基づく、モデル回路のインピーダンス特性を示す。
モデル回路情報は、ＬＣＲ部品で構成されたモデル回路の構成を示す情報である。
ＬＣＲ部品は、Ｌ（コイル）、Ｃ（コンデンサ）、Ｒ（抵抗）といった受動部品である。ＬＣＲ値は、これらの部品の値を示す。
モデル回路は、受動部品の様々な組み合わせに変更可能である。
波形データ出力部１１００の詳細は、後述する。
The waveform data output section 1100 outputs waveform data indicating the impedance characteristics for each frequency.
Specifically, the waveform data output section 1100 outputs at least three types of waveform data: first waveform data, second waveform data, and third waveform data.
The first waveform data indicates impedance characteristics acquired via the input device 2000, and specifically indicates impedance values for each frequency based on actual measurement values. However, since it is not possible to determine whether the first waveform data itself is data based on actual measurement values, it is not intended to be limited to data based on actual measurement values.
The second waveform data indicates a target impedance characteristic based on the first waveform data and target conditions for each frequency band.
The third waveform data indicates the impedance characteristics of the model circuit based on the model circuit information.
The model circuit information is information that indicates the configuration of a model circuit that is made up of LCR components.
LCR components are passive components such as L (coil), C (capacitor), and R (resistor). The LCR value indicates the value of these components.
The model circuit can be modified with various combinations of passive components.
The waveform data output unit 1100 will be described in detail later.
表示データ出力部１２００は、表示装置３０００向けに表示データを生成して表示装置３０００へ出力する。
具体的には、表示データ出力部１２００は、波形データ出力部１１００の出力データ、または、ＬＣＲ値出力部１３００の出力データを用いて表示データを生成して表示装置３０００へ出力する。
表示データ出力部１２００の詳細は、後述する。
The display data output unit 1200 generates display data for the display device 3000 and outputs it to the display device 3000 .
Specifically, the display data output section 1200 generates display data using the output data of the waveform data output section 1100 or the output data of the LCR value output section 1300 , and outputs the generated display data to the display device 3000 .
The display data output unit 1200 will be described in detail later.
ＬＣＲ値出力部１３００は、外部から取得した指令信号（ＬＣＲ値出力指令信号）に応じて、第３波形データ生成部１１４０により用いられたモデル回路におけるＬＣＲ値を出力する。
具体的には、ＬＣＲ値出力部１３００は、外部から、入力装置２０００を介してＬＣＲ値を出力するよう指令する指令信号（ＬＣＲ値出力指令信号）を取得する。ＬＣＲ値出力部１３００は、ＬＣＲ値出力指令信号を取得すると、第３波形データ生成部１１４０からモデル回路におけるＬＣＲ値を取得し、ＬＣＲ値を表示データ出力部１２００へ出力する。ＬＣＲ値出力部１３００は、ＬＣＲ値を、さらに別の外部装置へ出力してもよい。
The LCR value output section 1300 outputs the LCR value in the model circuit used by the third waveform data generating section 1140 in response to an externally acquired command signal (LCR value output command signal).
Specifically, the LCR value output unit 1300 receives an external command signal (LCR value output command signal) that commands the output of an LCR value via the input device 2000. Upon receiving the LCR value output command signal, the LCR value output unit 1300 obtains the LCR value in the model circuit from the third waveform data generation unit 1140 and outputs the LCR value to the display data output unit 1200. The LCR value output unit 1300 may further output the LCR value to another external device.
波形データ出力部１１００は、第１波形データ取得部１１１０、目標条件取得部１１２０、第２波形データ生成部１１３０、および、第３波形データ生成部１１４０、を含んで構成されている。 The waveform data output unit 1100 includes a first waveform data acquisition unit 1110, a target condition acquisition unit 1120, a second waveform data generation unit 1130, and a third waveform data generation unit 1140.
第１波形データ取得部１１１０は、実測値に基づく、周波数ごとのインピーダンスを示す第１波形データを取得する。
第１波形データ取得部１１１０は、例えば、回路設計部門から提供された、実測値に基づく、周波数ごとのインピーダンス値を示す第１波形データを、入力装置２０００を介して取得する。
The first waveform data acquiring unit 1110 acquires first waveform data that indicates impedance for each frequency based on actual measurement values.
The first waveform data acquiring unit 1110 acquires, via the input device 2000, first waveform data that indicates impedance values for each frequency and is based on actual measurements provided by, for example, a circuit design department.
目標条件取得部１１２０は、それぞれ異なる周波数帯の領域ごとに、目標インピーダンスを決定するための目標条件を取得する。
具体的には、目標条件取得部１１２０は、まず、第１波形データに示される周波数帯を分割する、それぞれ異なる周波数帯を示す複数の周波数帯情報を、入力装置２０００を介して取得する。目標条件取得部１１２０は、次に、複数の周波数帯情報に示される周波数帯ごとに目標条件を取得する。
目標条件取得部１１２０が取得する目標条件は、それぞれ異なる複数の周波数帯情報と、当該周波数帯情報ごとの、第１波形データのインピーダンス値を基準にした増減の割合または目標インピーダンス値と、の組み合わせにより構成される。
周波数帯情報は、例えば、周波数自体で示される情報、または、周波数帯ごとの領域を識別する領域識別情報、である。周波数帯ごとの領域は、操作者により任意に定められる。
第１波形データのインピーダンス値を基準にした増減の割合は、例えば、第１波形データのインピーダンス値に対する増加率、または、増加率と低減率との組み合わせ（増減率）を用いて示される。
目標インピーダンス値は、例えば、Ωを単位とする数値を用いて示される。
目標条件取得部１１２０は、周波数帯情報と目標条件とを組み合わせた目標条件情報を出力する。
The target condition acquisition unit 1120 acquires target conditions for determining a target impedance for each of the different frequency band regions.
Specifically, the target condition acquiring unit 1120 first acquires, via the input device 2000, a plurality of pieces of frequency band information indicating different frequency bands into which the frequency band indicated in the first waveform data is divided. The target condition acquiring unit 1120 then acquires a target condition for each frequency band indicated in the plurality of pieces of frequency band information.
The target conditions acquired by the target condition acquisition unit 1120 are configured by a combination of a plurality of different frequency band information and, for each of the frequency band information, a rate of increase or decrease based on the impedance value of the first waveform data or a target impedance value.
The frequency band information is, for example, information indicated by the frequency itself, or area identification information that identifies an area for each frequency band. The area for each frequency band is arbitrarily determined by the operator.
The rate of increase or decrease based on the impedance value of the first waveform data is indicated, for example, by the increase rate relative to the impedance value of the first waveform data, or by a combination of the increase rate and the decrease rate (increase or decrease rate).
The target impedance value is expressed using a numerical value in units of Ω, for example.
The target condition acquisition unit 1120 outputs target condition information that combines frequency band information and target conditions.
第２波形データ生成部１１３０は、第１波形データおよび目標条件を用いて決定された周波数ごとの目標インピーダンスを示す第２波形データを生成する。
具体的には、第２波形データ生成部１１３０は、第１波形データ取得部１１１０から第１波形データを取得し、目標条件取得部１１２０から目標条件情報を取得する。
第２波形データ生成部１１３０は、第１波形データに示される周波数ごとのインピーダンス値、および、目標条件情報に示される周波数帯ごとの目標条件を用いて、周波数ごとの目標インピーダンス値を算出し、第２波形データを生成する。
第２波形データ生成部１１３０は、例えば、第１波形データのインピーダンス値に対し増加率の分を加算して目標インピーダンス値を算出する。
また、第２波形データ生成部１１３０は、例えば、第１波形データのインピーダンス値に対し、増加率の分を加算して目標インピーダンス値を算出するとともに、低減率の分を減算して目標インピーダンス値を算出する。この場合、第２波形データは、上限側第２波形データと下限側第２波形データとで目標インピーダンス値の範囲を示す。
また、第２波形データ生成部１１３０は、例えば、第１波形データのインピーダンス値に対し、増加率の分を加算して上限側目標インピーダンス値を算出するとともに、周波数帯の領域内における第１波形データのインピーダンス値の最大値を下限側目標インピーダンス値に決定する。この場合、第２波形データは、上限第２波形データと下限第２波形データとで目標インピーダンス値の範囲を示す。
The second waveform data generating section 1130 generates second waveform data indicating a target impedance for each frequency determined using the first waveform data and the target conditions.
Specifically, the second waveform data generating section 1130 acquires the first waveform data from the first waveform data acquiring section 1110 and acquires the target condition information from the target condition acquiring section 1120 .
The second waveform data generation unit 1130 calculates the target impedance value for each frequency using the impedance value for each frequency indicated in the first waveform data and the target conditions for each frequency band indicated in the target condition information, and generates the second waveform data.
The second waveform data generating section 1130 calculates the target impedance value by, for example, adding the increase rate to the impedance value of the first waveform data.
The second waveform data generating unit 1130 calculates the target impedance value by, for example, adding the increase rate to the impedance value of the first waveform data and subtracting the decrease rate from the impedance value of the first waveform data. In this case, the second waveform data indicates the range of the target impedance value by the upper limit second waveform data and the lower limit second waveform data.
The second waveform data generator 1130 calculates an upper-limit target impedance value by adding an increase rate to the impedance value of the first waveform data, and determines the maximum impedance value of the first waveform data within the frequency band as the lower-limit target impedance value. In this case, the second waveform data indicates a range of target impedance values by the upper-limit second waveform data and the lower-limit second waveform data.
図２は、実施の形態１の等価モデル作成装置１０００に係る機能の第１の例を説明する図である。
図２は、周波数を横軸にし、インピーダンス値を縦軸にして、第１波形５１００、第２波形５３００、および、各周波数帯の領域（Ａ領域５２１０、Ｂ１領域５２２０、Ｂ２領域５２３０、Ｃ領域５２４０）を示している。
第１波形５１００を示す第１波形データは、第１波形データ取得部１１１０により取得される。
FIG. 2 is a diagram illustrating a first example of the functions of the equivalent model creating device 1000 according to the first embodiment.
FIG. 2 shows a first waveform 5100, a second waveform 5300, and the regions of each frequency band (region A 5210, region B1 5220, region B2 5230, region C 5240), with frequency on the horizontal axis and impedance value on the vertical axis.
The first waveform data representing the first waveform 5100 is acquired by the first waveform data acquisition unit 1110 .
Ａ領域５２１０は、インピーダンス値の最大値周辺（複数のピークがある領域）においては集積回路のＣＨＩＰ（図４に示すモデル回路４０００のＣＨＩＰ部を参照）による影響が大きいと考えられるため、他の領域と区別した周波数帯である。
Ｂ１領域５２２０およびＢ２領域５２３０は、ＰＣＢ（Ｐｒｉｎｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ Ｂｏａｒｄ）（図４に示すモデル回路４０００のＰＣＢ部４１００を参照）およびＰＣＢのＶＩＡによる影響が大きいと考えられるため、他の領域と区別した周波数帯である。
Ｃ領域５２４０は、集積回路の電源の抵抗による影響が大きいと考えられるため、他の領域と区別した周波数帯である。
Ａ領域５２１０、Ｂ１領域５２２０、Ｂ２領域５２３０、および、Ｃ領域５２４０それぞれを示す周波数帯情報は、等価モデル作成装置１０００における目標条件取得部１１２０により取得される。
Region A 5210 is a frequency band that is distinguished from other regions because it is believed that the influence of the integrated circuit's CHIP (see the CHIP portion of model circuit 4000 shown in Figure 4) is large around the maximum value of the impedance value (a region with multiple peaks).
The B1 region 5220 and the B2 region 5230 are frequency bands that are distinguished from other regions because they are thought to be significantly affected by the PCB (Printed Circuit Board) (see the PCB section 4100 of the model circuit 4000 shown in FIG. 4) and the vias of the PCB.
The C region 5240 is a frequency band that is distinguished from other regions because it is believed to be significantly affected by the resistance of the power supply of the integrated circuit.
The frequency band information indicating each of the A region 5210 , the B1 region 5220 , the B2 region 5230 , and the C region 5240 is acquired by the target condition acquisition unit 1120 in the equivalent model creation device 1000 .
また、Ａ領域５２１０、Ｂ１領域５２２０、Ｂ２領域５２３０、および、Ｃ領域５２４０それぞれについての目標条件は、目標条件取得部１１２０により取得される。
図２に示す目標条件は、Ａ領域５２１０の目標条件が第１波形５１００におけるインピーダンス値の最大値の「＋（ａ）％」であり、Ｂ１領域５２２０の目標条件が第１波形５１００におけるインピーダンス値の「＋（ｂ１）％」、Ｂ２領域５２３０の目標条件が第１波形５１００におけるインピーダンス値の「＋（ｂ２）％」、Ｃ領域５２４０の目標条件が第１波形５１００におけるインピーダンス値の「＋（ｃ）％」である。
上記（ａ）、（ｂ１）、（ｂ２）、（ｃ）は、第１波形５１００のパターンに応じて、適宜設定されればよい。
なお、Ａ領域、Ｂ領域（Ｂ１領域、Ｂ２領域）、Ｃ領域は、それぞれがさらに複数に分割されて設定されてもよい。例えば、Ａ領域を分割してＡ１領域およびＡ２領域、Ｃ領域を分割してＣ１領域およびＣ２領域が設定されていてもよい。
Furthermore, the target conditions for each of the A area 5210, the B1 area 5220, the B2 area 5230, and the C area 5240 are acquired by the target condition acquisition unit 1120.
The target conditions shown in Figure 2 are as follows: the target condition for area A 5210 is "+(a)%" of the maximum impedance value in the first waveform 5100, the target condition for area B1 5220 is "+(b 1 )%" of the impedance value in the first waveform 5100, the target condition for area B2 5230 is "+(b 2 )%" of the impedance value in the first waveform 5100, and the target condition for area C 5240 is "+(c)%" of the impedance value in the first waveform 5100.
The above (a), (b 1 ), (b 2 ), and (c) may be set appropriately depending on the pattern of the first waveform 5100 .
Note that each of area A, area B (area B1, area B2), and area C may be further divided into multiple areas. For example, area A may be divided into areas A1 and A2, and area C may be divided into areas C1 and C2.
図３は、実施の形態１に係る第３波形データ生成部１１４０の構成例を示す図である。
第３波形データ生成部１１４０は、ＬＣＲ部品で構成されるモデル回路における、周波数ごとのインピーダンスを示す第３波形データを生成する。
図３に示す第３波形データ生成部１１４０は、モデル回路情報取得部１１４１、および、解析部１１４３、を含んで構成されている。
FIG. 3 is a diagram showing an example of the configuration of the third waveform data generating section 1140 according to the first embodiment.
The third waveform data generating section 1140 generates third waveform data indicating impedance for each frequency in a model circuit configured with LCR components.
The third waveform data generating section 1140 shown in FIG. 3 includes a model circuit information acquiring section 1141 and an analyzing section 1143 .
モデル回路情報取得部１１４１は、ＬＣＲ部品で構成されるモデル回路を示すモデル回路情報を取得する。
図４は、実施の形態１に係る等価モデル作成装置１０００に用いられるモデル回路４０００のイメージ図である。
モデル回路４０００は、例えば半導体パッケージを実装したプリント配線板からなる集積回路をモデル化した回路であり、 ＰＣＢ部４１００、 ＰＫＧ部４２００、 ＣＨＩＰ部４３００、を含んで構成されている。
ＰＣＢ部４１００は、例えば集積回路におけるＰＣＢをＬＣＲ部品でモデル化した回路部ものである。図４に示すＰＣＢ部４１００は、電源４１１０、電源４１１０のＬＣＲ部品４１２０、ＬＣＲ部品４１３０、ＬＣＲ部品４１４０（４１４０－１，・・・，４１４０－ｎ）、および、ＬＣＲ部品４１５０（４１５０－１，・・・，４１５０－ｎ）、を含んで構成されている。
ＬＣＲ部品４１４０（４１４０－１，・・・，４１４０－ｎ）、および、ＬＣＲ部品４１５０（４１５０－１，・・・，４１５０－ｎ）は、バイパスコンデンサ（パスコン）を構成している。具体的には、ＬＣＲ部品４１４０とＬＣＲ部品４１５０との組み合わせで１つのバイパスコンデンサを構成する。図４では、ＬＣＲ部品４１４０－１およびＬＣＲ部品４１５０－１からなるバイパスコンデンサから、ＬＣＲ部品４１４０－ｎおよびＬＣＲ部品４１５０－ｎからなるバイパスコンデンサまで、ｎ個のバイパスコンデンサを設定している。バイパスコンデンサの数ｎは、変更可能である。
ＰＫＧ部４２００は、例えば集積回路における半導体パッケージをモデル化した回路部であり、ＰＫＧ部４２００のＬＣＲ部品４２１０を含んで構成されている。
ＣＨＩＰ部４３００は、例えば集積回路における半導体チップをモデル化した回路部であり、ＣＨＩＰ部４３００のＬＣＲ部品４３１０を含んで構成されている。
各ＬＣＲ部品のＬＣＲ値は、変更可能である。
バイパスコンデンサの数ｎおよび各ＬＣＲ部品のＬＣＲ値は、等価モデル作成装置１０００の外部で設定または調整されてもよいし、後述する実施の形態２の構成により等価モデル作成装置１０００の内部で調整されてもよい。
The model circuit information acquisition unit 1141 acquires model circuit information indicating a model circuit configured of LCR components.
FIG. 4 is a conceptual diagram of a model circuit 4000 used in the equivalent model creating device 1000 according to the first embodiment.
The model circuit 4000 is a circuit modeling an integrated circuit made up of, for example, a printed wiring board on which a semiconductor package is mounted, and is configured to include a PCB section 4100, a PKG section 4200, and a CHIP section 4300.
The PCB section 4100 is a circuit section in which, for example, a PCB in an integrated circuit is modeled using LCR components. The PCB section 4100 shown in Figure 4 is configured to include a power supply 4110, an LCR component 4120 of the power supply 4110, an LCR component 4130, LCR components 4140 (4140-1, ..., 4140-n), and LCR components 4150 (4150-1, ..., 4150-n).
The LCR components 4140 (4140-1, ..., 4140-n) and the LCR components 4150 (4150-1, ..., 4150-n) configure bypass capacitors. Specifically, a single bypass capacitor is configured by combining the LCR components 4140 and 4150. In FIG. 4, n bypass capacitors are set, from the bypass capacitor configured by the LCR components 4140-1 and 4150-1 to the bypass capacitor configured by the LCR components 4140-n and 4150-n. The number n of bypass capacitors is changeable.
The PKG section 4200 is a circuit section that models, for example, a semiconductor package in an integrated circuit, and is configured to include an LCR component 4210 of the PKG section 4200 .
The CHIP section 4300 is a circuit section that models, for example, a semiconductor chip in an integrated circuit, and is configured to include an LCR component 4310 of the CHIP section 4300 .
The LCR value of each LCR component is variable.
The number n of bypass capacitors and the LCR value of each LCR component may be set or adjusted outside the equivalent model creation device 1000, or may be adjusted inside the equivalent model creation device 1000 using the configuration of embodiment 2 described below.
解析部１１４３は、モデル回路情報取得部１１４１から取得したモデル回路情報を用いて、当該モデル回路情報に示されるモデル回路における周波数ごとのインピーダンス値を示す第３波形データを生成する。
具体的には、解析部１１４３は、モデル回路情報取得部１１４１からモデル回路情報を取得する。次に、解析部１１４３は、モデル回路情報に示されるモデル回路を解析して、当該モデル回路情報に示されるモデル回路における周波数ごとのインピーダンス値を示す第３波形データを生成する。解析部１１４３は、生成した第３波形データを出力する。
The analysis unit 1143 uses the model circuit information acquired from the model circuit information acquisition unit 1141 to generate third waveform data indicating the impedance value for each frequency in the model circuit indicated in the model circuit information.
Specifically, the analysis unit 1143 acquires model circuit information from the model circuit information acquisition unit 1141. Next, the analysis unit 1143 analyzes the model circuit indicated in the model circuit information and generates third waveform data indicating impedance values for each frequency in the model circuit indicated in the model circuit information. The analysis unit 1143 outputs the generated third waveform data.
また、解析部１１４３は、モデル回路情報に示されるモデル回路を解析して、モデル回路のＬＣＲ部品におけるＬＣＲ値を出力する。
具体的には、解析部１１４３は、ＬＣＲ値出力部１３００においてＬＣＲ値出力指令信号が取得されると、モデル回路を解析して、モデル回路のＬＣＲ部品におけるＬＣＲ値をＬＣＲ値出力部１３００へ出力する。
Furthermore, the analysis unit 1143 analyzes the model circuit indicated in the model circuit information and outputs the LCR values of the LCR components of the model circuit.
Specifically, when the LCR value output unit 1300 acquires an LCR value output command signal, the analysis unit 1143 analyzes the model circuit and outputs the LCR values of the LCR components of the model circuit to the LCR value output unit 1300 .
表示データ出力部１２００の詳細を説明する。
図５は、実施の形態１に係る表示データ出力部１２００の構成例を示す図である。
図５に示す表示データ出力部１２００は、第１波形画像生成部１２１０、第２波形画像生成部１２２０、第３波形画像生成部１２３０、重畳画像生成部１２４０、および、ＬＣＲ値画像生成部１２５０、を含んで構成されている。
The display data output unit 1200 will now be described in detail.
FIG. 5 is a diagram showing an example of the configuration of the display data output unit 1200 according to the first embodiment.
The display data output unit 1200 shown in FIG. 5 is configured to include a first waveform image generating unit 1210, a second waveform image generating unit 1220, a third waveform image generating unit 1230, a superimposed image generating unit 1240, and an LCR value image generating unit 1250.
第１波形画像生成部１２１０は、第１波形データに基づく第１波形を示す表示データを出力する。
具体的には、第１波形画像生成部１２１０は、波形データ出力部１１００の第１波形データ取得部１１１０から出力された第１波形データを取得する。第１波形画像生成部１２１０は、第１波形データを用いて第１波形を示す表示データを生成する。第１波形画像生成部１２１０は、第１波形を示す表示データを表示装置３０００へ出力する。
The first waveform image generating section 1210 outputs display data showing a first waveform based on the first waveform data.
Specifically, first waveform image generating section 1210 acquires the first waveform data output from first waveform data acquiring section 1110 of waveform data output section 1100. First waveform image generating section 1210 generates display data showing the first waveform using the first waveform data. First waveform image generating section 1210 outputs the display data showing the first waveform to display device 3000.
第２波形画像生成部１２２０は、第２波形データに基づく第２波形を示す表示データを出力する。
具体的には、第２波形画像生成部１２２０は、波形データ出力部１１００の第２波形データ生成部１１３０から出力された第２波形データを取得する。第２波形画像生成部１２２０は、第２波形データを用いて第２波形を示す表示データを生成する。第２波形画像生成部１２２０は、第２波形を示す表示データを表示装置３０００へ出力する。
The second waveform image generating section 1220 outputs display data showing a second waveform based on the second waveform data.
Specifically, second waveform image generating section 1220 acquires second waveform data output from second waveform data generating section 1130 of waveform data output section 1100. Second waveform image generating section 1220 generates display data showing the second waveform using the second waveform data. Second waveform image generating section 1220 outputs the display data showing the second waveform to display device 3000.
第３波形画像生成部１２３０は、第３波形データに基づく第３波形を示す表示データを出力する。
具体的には、第３波形画像生成部１２３０は、波形データ出力部１１００の第３波形データ生成部１１４０から出力された第３波形データを取得する。第３波形画像生成部１２３０は、第３波形データを用いて第３波形を示す表示データを生成する。第３波形画像生成部１２３０は、第３波形を示す表示データを表示装置３０００へ出力する。
The third waveform image generating section 1230 outputs display data showing a third waveform based on the third waveform data.
Specifically, third waveform image generating section 1230 acquires third waveform data output from third waveform data generating section 1140 of waveform data output section 1100. Third waveform image generating section 1230 generates display data showing the third waveform using the third waveform data. Third waveform image generating section 1230 outputs the display data showing the third waveform to display device 3000.
重畳画像生成部１２４０は、第１波形データ、第２波形データ、および、第３波形データのうちの少なくとも２つの波形データを用いて、少なくとも２つの波形を重畳した表示画像を生成する。
重畳画像生成部１２４０は、例えば、第１波形データおよび第２波形データを用いて、当該第１波形データに示される第１波形および当該第２波形データに示される第２波形を重畳した表示画像を出力する。この表示画像は、例えば、第２波形データ生成部１１３０が第２波形データを生成し、操作者に第１波形データと第２波形データとを比較させて確認させる場合に用いられる。
重畳画像生成部１２４０は、例えば、第２波形データおよび第３波形データを用いて、当該第２波形データに示される第２波形および当該第３波形データに示される第３波形を重畳した表示画像を出力する。この表示画像は、例えば、第３波形データ生成部１１４０が第３波形データを生成し、操作者に第２波形データと第３波形データとを比較させて確認させる場合に用いられる。
重畳画像生成部１２４０は、例えば、第１波形データ、第２波形データ、および、第３波形データを用いて、当該第１波形データに示される第１波形、当該第２波形データに示される第２波形、および、当該第３波形データに示される第３波形を重畳した表示画像を出力する。この表示画像は、例えば、第３波形データ生成部１１４０が第３波形データを生成し、操作者に第１波形データと第２波形データと第３波形データとを比較させて確認させる場合に用いられる。
The superimposed image generating section 1240 generates a display image in which at least two waveforms are superimposed, using at least two waveform data from among the first waveform data, the second waveform data, and the third waveform data.
The superimposed image generating unit 1240 uses, for example, the first waveform data and the second waveform data to output a display image in which the first waveform indicated in the first waveform data and the second waveform indicated in the second waveform data are superimposed. This display image is used, for example, when the second waveform data generating unit 1130 generates second waveform data and allows the operator to compare and confirm the first waveform data and the second waveform data.
The superimposed image generating unit 1240 uses, for example, the second waveform data and the third waveform data to output a display image in which the second waveform indicated in the second waveform data and the third waveform indicated in the third waveform data are superimposed. This display image is used, for example, when the third waveform data generating unit 1140 generates the third waveform data and allows the operator to compare and confirm the second waveform data and the third waveform data.
The superimposed image generating unit 1240 uses, for example, the first waveform data, the second waveform data, and the third waveform data to output a display image in which the first waveform indicated in the first waveform data, the second waveform indicated in the second waveform data, and the third waveform indicated in the third waveform data are superimposed. This display image is used, for example, when the third waveform data generating unit 1140 generates the third waveform data and allows the operator to compare and confirm the first waveform data, the second waveform data, and the third waveform data.
ＬＣＲ値画像生成部１２５０は、ＬＣＲ値出力部１３００により出力されたＬＣＲ値を用いて、ＬＣＲ値を示す表示画像を出力する。
具体的には、ＬＣＲ値画像生成部１２５０は、ＬＣＲ値出力部１３００からＬＣＲ値を取得する。ＬＣＲ値画像生成部１２５０は、ＬＣＲ値を用いてＬＣＲ値を示す表示画像を生成する。ＬＣＲ値画像生成部１２５０は、ＬＣＲ値を示す表示画像を表示装置３０００へ出力する。
The LCR value image generating unit 1250 uses the LCR values output by the LCR value output unit 1300 to output a display image indicating the LCR values.
Specifically, the LCR value image generation unit 1250 acquires the LCR values from the LCR value output unit 1300. The LCR value image generation unit 1250 generates a display image indicating the LCR values using the LCR values. The LCR value image generation unit 1250 outputs the display image indicating the LCR values to the display device 3000.
図１に示す入力装置２０００は、操作者が操作することにより、等価モデル作成装置１０００において用いる情報を入力または選択できる装置である。具体的には、入力装置２０００は、マウス、キーボード、タッチパネルなどである。
また、入力装置２０００は、操作者が操作することにより、図示しない記憶装置から等価モデル作成装置１０００に情報を取得させるものであってもよい。
本開示における入力装置２０００は、実測値に基づく、周波数ごとのインピーダンスを示す第１波形データ、それぞれ異なる周波数帯ごとの目標条件、モデル回路情報、および、ＬＣＲ値を出力する指令、などを受け付け、等価モデル作成装置１０００に出力する。
1 is a device that can be operated by an operator to input or select information to be used in the equivalent model creation device 1000. Specifically, the input device 2000 is a mouse, a keyboard, a touch panel, or the like.
The input device 2000 may also be operated by an operator to cause the equivalent model creating device 1000 to acquire information from a storage device (not shown).
The input device 2000 in the present disclosure accepts first waveform data indicating impedance for each frequency based on actual measured values, target conditions for each different frequency band, model circuit information, and a command to output an LCR value, and outputs these to the equivalent model creation device 1000.
図１に示す表示装置３０００は、等価モデル作成装置１０００から出力される表示データを用いて表示する装置である。具体的には、表示装置３０００は、ディスプレイ、モニタなどである。
本開示における表示装置３０００は、等価モデル作成装置１０００から、各波形データに基づく波形を示す表示データ、および、ＬＣＲ値を示す表示データを受け付け、それぞれを表示する。
1 is a device that displays using the display data output from the equivalent model creating device 1000. Specifically, the display device 3000 is a display, a monitor, or the like.
The display device 3000 in the present disclosure receives display data indicating waveforms based on each waveform data and display data indicating LCR values from the equivalent model creation device 1000, and displays them.
図１に示す入力装置２０００および表示装置３０００は、それぞれ別の装置で示しているが、一体化した入出力装置であってもよい。具体的には、例えばタッチパネル付きディスプレイである。 The input device 2000 and display device 3000 shown in Figure 1 are shown as separate devices, but they may also be an integrated input/output device. Specifically, for example, they may be a display with a touch panel.
図６は、実施の形態１に係る等価モデル作成装置１０００の処理の例を示すフローチャートである。
等価モデル作成装置１０００は、処理を開始すると、まず、ステップＳＴ１０００において、等価モデル作成装置１０００は、第１波形データを取得する。
具体的には、等価モデル作成装置１０００における表示データ出力部１２００は、例えば、表示装置３０００へ第１波形データの入力を促す表示データを出力する。表示装置３０００による表示に対応して操作者が入力装置２０００を操作すると、第１波形データ取得部１１１０は、入力装置２０００から第１波形データを受け付け、第１波形データを表示データ出力部１２００へ出力する。表示データ出力部１２００は、第１波形データを受け付けると、表示データ出力部１２００における第１波形画像生成部１２１０が第１波形データを用いて第１波形画像を生成する。表示データ出力部１２００は、生成された第１波形画像を表示装置３０００へ出力する。
FIG. 6 is a flowchart showing an example of processing performed by the equivalent model creating device 1000 according to the first embodiment.
When the equivalent model creating device 1000 starts the process, first, in step ST1000, the equivalent model creating device 1000 acquires first waveform data.
Specifically, the display data output unit 1200 in the equivalent model creation device 1000 outputs, for example, display data prompting the input of first waveform data to the display device 3000. When the operator operates the input device 2000 in response to the display on the display device 3000, the first waveform data acquisition unit 1110 receives the first waveform data from the input device 2000 and outputs the first waveform data to the display data output unit 1200. When the display data output unit 1200 receives the first waveform data, the first waveform image generation unit 1210 in the display data output unit 1200 generates a first waveform image using the first waveform data. The display data output unit 1200 outputs the generated first waveform image to the display device 3000.
等価モデル作成装置１０００は、次に、周波数帯域ごとの目標条件を取得する（ステップＳＴ１０１０）。
具体的には、等価モデル作成装置１０００における表示データ出力部１２００は、例えば、表示装置３０００へ目標条件の入力を促す表示データを出力する。表示装置３０００による表示に対応して操作者が入力装置２０００を操作すると、目標条件取得部１１２０は、第１波形データに示される周波数帯を分割するための、それぞれ異なる周波数帯を示す複数の周波数帯情報を、入力装置２０００を介して取得する。次に、表示データ出力部１２００は、例えば、周波数帯情報に示される周波数帯の領域ごとに目標条件の入力を促す表示データを表示装置３０００へ出力する。表示装置３０００による表示に対応して操作者が入力装置２０００を操作すると、目標条件取得部１１２０は、複数の周波数帯情報に示される周波数帯ごとに目標条件を取得する。目標条件取得部１１２０は、周波数帯ごとに、周波数帯情報と目標条件とを組み合わせた目標条件情報を、第２波形データ生成部１１３０へ出力する。
Next, the equivalent model creating device 1000 acquires target conditions for each frequency band (step ST1010).
Specifically, the display data output unit 1200 in the equivalent model creation device 1000 outputs, for example, display data to the display device 3000 that prompts the user to input target conditions. When the operator operates the input device 2000 in response to the display on the display device 3000, the target condition acquisition unit 1120 acquires, via the input device 2000, a plurality of pieces of frequency band information that indicate different frequency bands for dividing the frequency band indicated in the first waveform data. Next, the display data output unit 1200 outputs, for example, display data to the display device 3000 that prompts the user to input target conditions for each region of the frequency band indicated in the frequency band information. When the operator operates the input device 2000 in response to the display on the display device 3000, the target condition acquisition unit 1120 acquires target conditions for each frequency band indicated in the plurality of pieces of frequency band information. The target condition acquisition unit 1120 outputs target condition information that combines frequency band information and target conditions for each frequency band to the second waveform data generation unit 1130.
等価モデル作成装置１０００は、次に、第２波形データを取得する（ステップＳＴ１０２０）。
具体的には、第２波形データ生成部１１３０は、第１波形データ取得部１１１０から第１波形データを取得し、目標条件取得部１１２０から目標条件情報を取得する。第２波形データ生成部１１３０は、第１波形データに示される周波数ごとのインピーダンス値、および、目標条件情報に示される周波数帯ごとの目標条件を用いて、周波数ごとの目標インピーダンス値を算出し、第２波形データを生成する。
Next, the equivalent model creating device 1000 acquires second waveform data (step ST1020).
Specifically, the second waveform data generating unit 1130 acquires the first waveform data from the first waveform data acquiring unit 1110 and acquires the target condition information from the target condition acquiring unit 1120. The second waveform data generating unit 1130 calculates the target impedance value for each frequency using the impedance value for each frequency indicated in the first waveform data and the target condition for each frequency band indicated in the target condition information, and generates the second waveform data.
等価モデル作成装置１０００は、次に、第２波形データを出力する（ステップＳＴ１０３０）。
具体的には、等価モデル作成装置１０００における第２波形データ生成部１１３０は、生成した第２波形データを、表示データ出力部１２００へ出力する。表示データ出力部１２００は、第２波形データを受け付けると、表示データ出力部１２００における第２波形画像生成部１２２０が第２波形データを用いて第２波形画像を生成する。表示データ出力部１２００は、生成された第２波形画像を表示装置３０００へ出力する。
Next, the equivalent model creating device 1000 outputs the second waveform data (step ST1030).
Specifically, second waveform data generation unit 1130 in equivalent model creation device 1000 outputs the generated second waveform data to display data output unit 1200. When display data output unit 1200 receives the second waveform data, second waveform image generation unit 1220 in display data output unit 1200 generates a second waveform image using the second waveform data. Display data output unit 1200 outputs the generated second waveform image to display device 3000.
等価モデル作成装置１０００は、処理を開始すると、上記ステップＳＴ１０００からステップＳＴ１０３０までのフローと並行して、ステップＳＴ１０４０からステップＳＴ１０７０までの処理を実行する。
等価モデル作成装置１０００は、ステップＳＴ１０４０において、モデル回路情報を取得する。
具体的には、等価モデル作成装置１０００における表示データ出力部１２００は、例えば、表示装置３０００へモデル回路情報の入力を促す表示データを出力する。表示装置３０００による表示に対応して操作者が入力装置２０００を操作すると、等価モデル作成装置１０００の第３波形データ生成部１１４０におけるモデル回路情報取得部１１４１は、ＬＣＲ部品で構成されるモデル回路を示すモデル回路情報を取得する。モデル回路情報取得部１１４１は、モデル回路情報を、解析部１１４３へ出力する。
When the equivalent model creating device 1000 starts the process, it executes the process from step ST1040 to step ST1070 in parallel with the flow from step ST1000 to step ST1030.
In step ST1040, the equivalent model creating device 1000 acquires model circuit information.
Specifically, the display data output unit 1200 in the equivalent model creating device 1000 outputs, for example, display data prompting the input of model circuit information to the display device 3000. When the operator operates the input device 2000 in response to the display on the display device 3000, the model circuit information acquisition unit 1141 in the third waveform data generation unit 1140 of the equivalent model creating device 1000 acquires model circuit information indicating a model circuit configured of LCR components. The model circuit information acquisition unit 1141 outputs the model circuit information to the analysis unit 1143.
等価モデル作成装置１０００は、次に、モデル回路を解析する（ステップＳＴ１０５０）。
具体的には、等価モデル作成装置１０００の第３波形データ生成部１１４０における解析部１１４３は、モデル回路情報取得部１１４１から出力されたモデル回路情報を取得する。解析部１１４３は、モデル回路情報に示されるモデル回路の構成を解析する。
Next, the equivalent model creating device 1000 analyzes the model circuit (step ST1050).
Specifically, the analysis unit 1143 in the third waveform data generation unit 1140 of the equivalent model creation device 1000 acquires the model circuit information output from the model circuit information acquisition unit 1141. The analysis unit 1143 analyzes the configuration of the model circuit indicated in the model circuit information.
等価モデル作成装置１０００は、第３波形データを生成する（ステップＳＴ１０６０）。
具体的には、解析部１１４３は、解析結果として、当該モデル回路情報に示されるモデル回路における周波数ごとのインピーダンス値を示す第３波形データを生成する。
The equivalent model creating device 1000 generates third waveform data (step ST1060).
Specifically, the analysis unit 1143 generates, as the analysis result, third waveform data indicating the impedance value for each frequency in the model circuit indicated in the model circuit information.
等価モデル作成装置１０００は、第３波形データを出力する（ステップＳＴ１０７０）。
具体的には、解析部１１４３は、第３波形データを表示データ出力部１２００へ出力する。表示データ出力部１２００の第３波形画像生成部１２３０は、波形データ出力部１１００の第３波形データ生成部１１４０から出力された第３波形データを取得する。第３波形画像生成部１２３０は、第３波形データを用いて第３波形を示す表示データを生成する。第３波形画像生成部１２３０は、第３波形を示す表示データを表示装置３０００へ出力する。
The equivalent model creating device 1000 outputs the third waveform data (step ST1070).
Specifically, analysis unit 1143 outputs the third waveform data to display data output unit 1200. Third waveform image generation unit 1230 of display data output unit 1200 acquires the third waveform data output from third waveform data generation unit 1140 of waveform data output unit 1100. Third waveform image generation unit 1230 generates display data showing the third waveform using the third waveform data. Third waveform image generation unit 1230 outputs the display data showing the third waveform to display device 3000.
なお、等価モデル作成装置１０００は、ステップＳＴ１０３０の処理、および、ステップＳＴ１０７０の処理を実行した後、第１波形画像、第２波形画像、および、第３波形画像のうちの２つ以上の画像を重畳した画像を表示装置３０００へ出力してもよい。
この場合、具体的には、等価モデル作成装置１０００の表示データ出力部１２００における重畳画像生成部１２４０が、第１波形画像、第２波形画像、および、第３波形画像のうちの２つ以上の画像を重畳した画像を生成する。
After executing the processing of step ST1030 and the processing of step ST1070, the equivalent model creation device 1000 may output to the display device 3000 an image in which two or more images selected from the first waveform image, the second waveform image, and the third waveform image are superimposed.
In this case, specifically, the superimposed image generation unit 1240 in the display data output unit 1200 of the equivalent model creation device 1000 generates an image in which two or more images selected from the first waveform image, the second waveform image, and the third waveform image are superimposed.
等価モデル作成装置１０００は、ステップＳＴ１０３０の処理、および、ステップＳＴ１０７０の処理を実行すると、ステップＳＴ１０８０の処理へ移行する。 After executing the processing of step ST1030 and the processing of step ST1070, the equivalent model creation device 1000 proceeds to the processing of step ST1080.
ステップＳＴ１０８０において、等価モデル作成装置１０００は、「ＬＣＲ値出力指令あり」であるかを判定する。
具体的には、等価モデル作成装置１０００における表示データ出力部１２００は、例えば、ＬＣＲ値出力指令を実行させるボタンの画像を示す表示データを、表示装置３０００へ出力する。表示装置３０００によるボタンの画像の表示に対して操作者が入力装置２０００を操作すると、ＬＣＲ値出力部１３００は、ＬＣＲ値出力指令信号を受け付けて「ＬＣＲ値出力指令あり」と判定する。ＬＣＲ値出力部１３００は、所定の一定時間の間に操作がない場合、「ＬＣＲ値出力指令あり」ではないと判定する。
In step ST1080, the equivalent model creating device 1000 determines whether an "LCR value output command is issued."
Specifically, the display data output unit 1200 in the equivalent model creation device 1000 outputs, for example, display data showing an image of a button for executing an LCR value output command to the display device 3000. When the operator operates the input device 2000 in response to the button image displayed by the display device 3000, the LCR value output unit 1300 receives an LCR value output command signal and determines that an "LCR value output command has been issued." If no operation is performed within a predetermined period of time, the LCR value output unit 1300 determines that an "LCR value output command has not been issued."
等価モデル作成装置１０００は、「ＬＣＲ値出力指令あり」と判定した場合（ステップＳＴ１０８０“ＹＥＳ”）、ＬＣＲ値を出力する（ステップＳＴ１０９０）。
具体的には、等価モデル作成装置１０００におけるＬＣＲ値出力部１３００は、ＬＣＲ値出力指令信号を受け付けると、「ＬＣＲ値出力指令あり」と判定し、第３波形データ生成部１１４０の解析部１１４３からモデル回路のＬＣＲ部品における各ＬＣＲ値を取得し、各ＬＣＲ値を表示データ出力部１２００へ出力する。
なお、等価モデル作成装置１０００は、第３波形データ生成部１１４０の解析部１１４３からＬＣＲ値を出力するとともに、モデル回路を示すモデル回路情報を出力してもよい。
When it is determined that "an LCR value output command has been issued"("YES" in step ST1080), the equivalent model creating device 1000 outputs the LCR value (step ST1090).
Specifically, when the LCR value output unit 1300 in the equivalent model creation device 1000 receives an LCR value output command signal, it determines that an "LCR value output command has been issued," obtains each LCR value in the LCR components of the model circuit from the analysis unit 1143 of the third waveform data generation unit 1140, and outputs each LCR value to the display data output unit 1200.
The equivalent model creating device 1000 may output the LCR value from the analysis section 1143 of the third waveform data generating section 1140, and may also output model circuit information indicating the model circuit.
等価モデル作成装置１０００は、「ＬＣＲ値出力指令あり」ではないと判定した場合（ステップＳＴ１０８０“ＮＯ”）、または、ステップＳＴ１０９０を実行した後、処理を終了するかを判定する（ステップＳＴ１１００）。 If the equivalent model creation device 1000 determines that an "LCR value output command is not present" (step ST1080 "NO"), or after executing step ST1090, it determines whether to end processing (step ST1100).
等価モデル作成装置１０００は、処理を終了しないと判定した場合（ステップＳＴ１１００“ＮＯ”）、ステップＳＴ１０４０の処理へ移行し、例えば新たなモデル回路情報を取得するまで待機する。 If the equivalent model creation device 1000 determines not to end the process (step ST1100 "NO"), it proceeds to the process of step ST1040 and waits, for example, until new model circuit information is acquired.
等価モデル作成装置１０００は、処理を終了すると判定した場合（ステップＳＴ１１００“ＹＥＳ”）、処理を終了する。 If the equivalent model creation device 1000 determines to end the processing (step ST1100 "YES"), it ends the processing.
ここで、等価モデル作成装置１０００に係る機能の第２の例を説明する。
図７は、実施の形態１の等価モデル作成装置１０００に係る機能の第２の例を説明する図である。
第２の例は、第２波形データが上限側第２波形データと下限側第２波形データとで目標インピーダンス値の範囲を示す例である。
図７は、周波数を横軸にし、インピーダンス値を縦軸にして、第１波形６１００、上限側第２波形６３１０、下限側第２波形６３２０、第３波形６４００、および、各周波数帯の領域（Ａ１領域６２１０、Ｂ１領域６２２０、Ｂ２領域６２３０、Ｃ１領域６２４０、Ｃ２領域６２５０）を示している。
図８は、図７の各領域における波形の拡大図である。
第１波形６１００を示す第１波形データは、例えば実測値に基づくインピーダンス特性を示し、第１波形データ取得部１１１０により取得される。
上限側第２波形６３１０を示す上限側第２波形データは、目標とするべきインピーダンス特性の範囲の上限側の目標インピーダンス特性を示し、第２波形データ生成部１１３０により生成される。
下限側第２波形６３２０を示す下限側第２波形データは、目標とするべきインピーダンス特性の範囲の下限側の目標インピーダンス特性を示し、第２波形データ生成部１１３０により生成される。
第３波形６４００を示す第３波形データは、モデル回路のインピーダンス特性を示し、第３波形データ生成部１１４０により生成される。
Here, a second example of the function of the equivalent model creating device 1000 will be described.
FIG. 7 is a diagram illustrating a second example of the functions of the equivalent model creating device 1000 according to the first embodiment.
In the second example, the second waveform data indicates the range of the target impedance value by upper limit second waveform data and lower limit second waveform data.
Figure 7 shows a first waveform 6100, an upper limit second waveform 6310, a lower limit second waveform 6320, a third waveform 6400, and the regions of each frequency band (A1 region 6210, B1 region 6220, B2 region 6230, C1 region 6240, C2 region 6250), with frequency on the horizontal axis and impedance value on the vertical axis.
FIG. 8 is an enlarged view of the waveforms in each region of FIG.
The first waveform data representing the first waveform 6100 indicates, for example, impedance characteristics based on actual measurement values, and is acquired by the first waveform data acquisition unit 1110 .
The upper limit second waveform data indicating the upper limit second waveform 6310 indicates the target impedance characteristic on the upper limit side of the range of the impedance characteristic to be targeted, and is generated by the second waveform data generating section 1130 .
The lower-limit second waveform data representing the lower-limit second waveform 6320 indicates a target impedance characteristic on the lower limit side of the range of the impedance characteristic to be targeted, and is generated by the second waveform data generating section 1130 .
The third waveform data representing the third waveform 6400 indicates the impedance characteristics of the model circuit, and is generated by the third waveform data generating section 1140 .
Ａ１領域６２１０は、インピーダンス値の最大値周辺（複数のピークがある領域）においては集積回路のＣＨＩＰ（図４に示すモデル回路のＣＨＩＰ部を参照）による影響が大きいと考えられるため、他の領域と区別した周波数帯である。
図７および図８においてＡ１領域６２１０は、５４ＭＨｚから１３０ＭＨｚまでの周波数帯の領域である。
The A1 region 6210 is a frequency band that is distinguished from other regions because it is believed that the influence of the integrated circuit chip (see the chip portion of the model circuit shown in Figure 4) is large around the maximum value of the impedance value (a region with multiple peaks).
In FIGS. 7 and 8, the A1 region 6210 is a frequency band region from 54 MHz to 130 MHz.
Ｂ１領域６２２０およびＢ２領域６２３０は、ＰＣＢ基板（図４に示すモデル回路のＰＣＢ部４１００を参照）およびＰＣＢ基板のＶＩＡによる影響が大きいと考えられるため、他の領域と区別した周波数帯である。
図７および図８においてＢ１領域６２２０は、１０ＭＨｚから５４ＭＨｚまでの周波数帯の領域である。
図７および図８においてＢ２領域６２３０は、１３０ＭＨｚから１ＧＨｚまでの周波数帯の領域である。
The B1 region 6220 and the B2 region 6230 are frequency bands that are distinguished from other regions because they are thought to be significantly affected by the PCB board (see the PCB section 4100 of the model circuit shown in FIG. 4) and the vias on the PCB board.
In Figures 7 and 8, B1 region 6220 is a frequency band region from 10 MHz to 54 MHz.
In FIGS. 7 and 8, the B2 region 6230 is a frequency band region from 130 MHz to 1 GHz.
Ｃ１領域６２４０およびＣ２領域６２５０は、集積回路の電源の抵抗による影響が大きいと考えられるため、他の領域と区別した周波数帯である。
図７および図８においてＣ１領域６２４０は、１ｋＨｚから１００ｋＨｚまでの周波数帯の領域である。
図７および図８においてＣ２領域６２５０は、１００ｋＨｚから１０ＭＨｚまでの周波数帯の領域である。
The C1 region 6240 and the C2 region 6250 are frequency bands that are distinguished from other regions because they are considered to be significantly affected by the resistance of the power supply of the integrated circuit.
In FIGS. 7 and 8, the C1 region 6240 is a frequency band region from 1 kHz to 100 kHz.
In FIGS. 7 and 8, the C2 region 6250 is a frequency band region from 100 kHz to 10 MHz.
Ａ１領域６２１０、Ｂ１領域６２２０、Ｂ２領域６２３０、Ｃ１領域６２４０、および、Ｃ２領域６２５０それぞれを示す周波数帯情報は、等価モデル作成装置１０００における目標条件取得部１１２０により取得される。 Frequency band information indicating each of the A1 region 6210, B1 region 6220, B2 region 6230, C1 region 6240, and C2 region 6250 is acquired by the target condition acquisition unit 1120 in the equivalent model creation device 1000.
また、Ａ１領域６２１０、Ｂ１領域６２２０、Ｂ２領域６２３０、Ｃ１領域６２４０、および、Ｃ２領域６２５０それぞれについての目標条件は、目標条件取得部１１２０により取得される。
図７および図８に示すＡ１領域６２１０の目標条件は、上限側の目標条件が、第１波形６１００におけるインピーダンス値の最大値の「＋（ａ１）％」であり、下限側の目標条件が、第１波形６１００におけるインピーダンス値の最大値と同じ（増減率「０％」）である。
図７および図８に示すＢ１領域６２２０の目標条件は、上限側の目標条件が、第１波形６１００におけるインピーダンス値の「＋（ｂ１）％」であり、下限側の目標条件が、第１波形６１００におけるインピーダンス値の「－（ｂ１）％」である。
なお、説明においては、上限側の目標条件と下限側の目標条件とは同じ（ｂ１）であるが、それぞれを異なる値に設定してもよい。
図７および図８に示すＢ２領域６２３０の目標条件は、上限側の目標条件が、第１波形６１００におけるインピーダンス値の「＋（ｂ２）％」であり、下限側の目標条件が、第１波形６１００におけるインピーダンス値の「－（ｂ２）％」である。
なお、説明においては、上限側の目標条件と下限側の目標条件とは同じ（ｂ２）であるが、それぞれを異なる値に設定してもよい。
図７および図８に示すＣ１領域６２４０の目標条件は、上限側の目標条件が、第１波形６１００におけるインピーダンス値の「＋（ｃ１）％」であり、下限側の目標条件が、第１波形６１００におけるインピーダンス値の「－（ｃ１）％」である。
なお、説明においては、上限側の目標条件と下限側の目標条件とは同じ（ｃ１）であるが、それぞれを異なる値に設定してもよい。
図７および図８に示すＣ２領域６２５０の目標条件は、上限側の目標条件が、インピーダンス値「５０ｍΩ」であり、下限側の目標条件が、インピーダンス値「０Ω」である。
なお、上記（ａ１）、（ｂ１）、（ｂ２）、（ｃ１）は、第１波形６１００のパターンに応じて、適宜設定されればよい。
Furthermore, the target conditions for each of the A1 area 6210, the B1 area 6220, the B2 area 6230, the C1 area 6240, and the C2 area 6250 are acquired by the target condition acquisition unit 1120.
The target conditions for the A1 region 6210 shown in Figures 7 and 8 are such that the upper limit target condition is "+( a1 )%" of the maximum impedance value in the first waveform 6100, and the lower limit target condition is the same as the maximum impedance value in the first waveform 6100 (increase/decrease rate "0%").
The target conditions for the B1 region 6220 shown in Figures 7 and 8 are such that the upper limit target condition is "+(b 1 )%" of the impedance value in the first waveform 6100, and the lower limit target condition is "-(b 1 )%" of the impedance value in the first waveform 6100.
In the description, the upper limit target condition and the lower limit target condition are the same (b 1 ), but they may be set to different values.
The target conditions for the B2 region 6230 shown in Figures 7 and 8 are such that the upper limit target condition is "+(b 2 )%" of the impedance value in the first waveform 6100, and the lower limit target condition is "-(b 2 )%" of the impedance value in the first waveform 6100.
In the description, the upper limit target condition and the lower limit target condition are the same (b 2 ), but they may be set to different values.
The target conditions for the C1 region 6240 shown in Figures 7 and 8 are such that the upper limit target condition is "+(c 1 )%" of the impedance value in the first waveform 6100, and the lower limit target condition is "-(c 1 )%" of the impedance value in the first waveform 6100.
In the description, the upper limit target condition and the lower limit target condition are the same (c 1 ), but they may be set to different values.
The target conditions for the C2 region 6250 shown in FIGS. 7 and 8 are such that the upper limit target condition is an impedance value of "50 mΩ" and the lower limit target condition is an impedance value of "0Ω."
It should be noted that the above (a 1 ), (b 1 ), (b 2 ), and (c 1 ) may be set appropriately depending on the pattern of the first waveform 6100 .
上述してきた開示内容により、実測値に基づくインピーダンス特性の波形が仮に複雑であっても、波形に応じて分割した周波数帯の領域ごとに波形を簡略化した目標インピーダンスを表示することができる。また、領域に応じて対応するＬＣＲ部品におけるＬＣＲ値を変更することが容易になり、等価モデル回路を生成する際の作業負荷を低減させることができるようになる。 The above-described disclosure makes it possible to display a target impedance with a simplified waveform for each frequency band region divided according to the waveform, even if the waveform of the impedance characteristics based on actual measurements is complex. It also makes it easy to change the LCR values of the corresponding LCR components according to the region, reducing the workload when generating an equivalent model circuit.
本開示に係る等価モデル作成装置は、周波数ごとのインピーダンスを示す第１波形データを取得する第１波形データ取得部と、前記第１波形データに基づく第１波形を示す表示データを出力する表示データ出力部と、それぞれ異なる周波数帯の領域ごとに、目標インピーダンスを決定するための目標条件を取得する目標条件取得部と、前記第１波形データおよび前記目標条件を用いて決定された周波数ごとの目標インピーダンスを示す第２波形データを生成する第２波形データ生成部と、ＬＣＲ部品で構成されるモデル回路における、周波数ごとのインピーダンスを示す第３波形データを生成する第３波形データ生成部と、を備え、前記表示データ出力部は、さらに、前記第２波形データに基づく第２波形を示す表示データおよび前記第３波形データに基づく第３波形を示す表示データを出力する、ように構成した。
これにより、等価モデル回路を生成する際の作業負荷を低減させることができる、という効果を奏する。
The equivalent model creation device according to the present disclosure includes a first waveform data acquisition unit that acquires first waveform data indicating impedance for each frequency, a display data output unit that outputs display data indicating the first waveform based on the first waveform data, a target condition acquisition unit that acquires target conditions for determining a target impedance for each region of a different frequency band, a second waveform data generation unit that generates second waveform data indicating the target impedance for each frequency determined using the first waveform data and the target conditions, and a third waveform data generation unit that generates third waveform data indicating the impedance for each frequency in a model circuit formed of LCR components, and the display data output unit is further configured to output display data indicating the second waveform based on the second waveform data and display data indicating the third waveform based on the third waveform data.
This has the effect of reducing the workload involved in generating an equivalent model circuit.
本開示に係る等価モデル作成支援方法は、第１波形データ取得部が、周波数ごとのインピーダンスを示す第１波形データを取得する第１波形データ取得ステップと、表示データ出力部が、前記第１波形データに基づく第１波形を示す表示データを出力する表示データ出力ステップと、目標条件取得部が、それぞれ異なる周波数帯の領域ごとに、目標インピーダンスを決定するための目標条件を取得する目標条件取得ステップと、第２波形データ生成部が、前記第１波形データおよび前記目標条件を用いて決定された周波数ごとの目標インピーダンスを示す第２波形データを生成する第２波形データ生成ステップと、第３波形データ生成部が、ＬＣＲ部品で構成されるモデル回路における、周波数ごとのインピーダンスを示す第３波形データを生成する第３波形データ生成ステップと、を備え、前記表示データ出力ステップは、さらに、前記第２波形データに基づく第２波形を示す表示データおよび前記第３波形データに基づく第３波形を示す表示データを出力する、ように構成した。
これにより、等価モデル回路を生成する際の作業負荷を低減させることができる、という効果を奏する。
The equivalent model creation support method according to the present disclosure includes a first waveform data acquisition step in which a first waveform data acquisition unit acquires first waveform data indicating impedance for each frequency; a display data output step in which a display data output unit outputs display data indicating a first waveform based on the first waveform data; a target condition acquisition step in which a target condition acquisition unit acquires target conditions for determining a target impedance for each region of a different frequency band; a second waveform data generation step in which a second waveform data generation unit generates second waveform data indicating a target impedance for each frequency determined using the first waveform data and the target conditions; and a third waveform data generation step in which a third waveform data generation unit generates third waveform data indicating impedance for each frequency in a model circuit formed of LCR components, and the display data output step is further configured to output display data indicating a second waveform based on the second waveform data and display data indicating a third waveform based on the third waveform data.
This has the effect of reducing the workload involved in generating an equivalent model circuit.
本開示に係る等価モデル作成支援プログラムは、コンピュータを、周波数ごとのインピーダンスを示す第１波形データを取得する第１波形データ取得部と、前記第１波形データに基づく第１波形を示す表示データを出力する表示データ出力部と、それぞれ異なる周波数帯の領域ごとに、目標インピーダンスを決定するための目標条件を取得する目標条件取得部と、前記第１波形データおよび前記目標条件を用いて決定された周波数ごとの目標インピーダンスを示す第２波形データを生成する第２波形データ生成部と、ＬＣＲ部品で構成されるモデル回路における、周波数ごとのインピーダンスを示す第３波形データを生成する第３波形データ生成部と、を備え、前記表示データ出力部は、さらに、前記第２波形データに基づく第２波形を示す表示データおよび前記第３波形データに基づく第３波形を示す表示データを出力する、等価モデル作成装置、として動作させる、ように構成した。
これにより、等価モデル回路を生成する際の作業負荷を低減させることができる、という効果を奏する。
An equivalent model creation support program according to the present disclosure is configured to cause a computer to operate as an equivalent model creation device, comprising: a first waveform data acquisition unit that acquires first waveform data indicating impedance for each frequency; a display data output unit that outputs display data indicating the first waveform based on the first waveform data; a target condition acquisition unit that acquires target conditions for determining a target impedance for each region of a different frequency band; a second waveform data generation unit that generates second waveform data indicating the target impedance for each frequency determined using the first waveform data and the target conditions; and a third waveform data generation unit that generates third waveform data indicating the impedance for each frequency in a model circuit formed of LCR components, wherein the display data output unit further outputs display data indicating the second waveform based on the second waveform data and display data indicating the third waveform based on the third waveform data.
This has the effect of reducing the workload involved in generating an equivalent model circuit.
本開示の等価モデル作成装置において、前記目標条件取得部が取得する目標条件は、それぞれ異なる複数の周波数帯情報と、当該周波数帯情報ごとの、前記第１波形データのインピーダンス値を基準にした増減の割合または目標インピーダンス値と、の組み合わせにより構成される、ように構成した。
これにより、周波数帯の領域ごとにより適当な目標条件を設定できるようになり、等価モデル回路を生成する際の作業負荷をより低減させることができる、という効果を奏する。
また、上記構成を、等価モデル作成支援方法または等価モデル作成プログラムに適用することにより、等価モデル作成支援方法または等価モデル作成支援プログラムは、上記効果と同様の効果を奏する。
In the equivalent model creation device disclosed herein, the target conditions acquired by the target condition acquisition unit are configured to be composed of a combination of a plurality of different frequency band information and, for each of the frequency band information, a rate of increase/decrease based on the impedance value of the first waveform data or a target impedance value.
This makes it possible to set more appropriate target conditions for each frequency band region, and has the effect of further reducing the workload when generating an equivalent model circuit.
Furthermore, by applying the above configuration to an equivalent model creation support method or an equivalent model creation program, the equivalent model creation support method or the equivalent model creation support program can achieve the same effects as those described above.
本開示の等価モデル作成装置において、前記表示データ出力部は、前記第２波形データおよび前記第３波形データを用いて、当該第２波形データに示される第２波形および当該第３波形データに示される第３波形を重畳した表示画像を出力する、ように構成した。
これにより、目標インピーダンス特性とモデル回路のインピーダンス特性とが比較しやすくなり、等価モデル回路を生成する際の作業負荷をより低減させることができる、という効果を奏する。
また、上記構成を、等価モデル作成支援方法または等価モデル作成プログラムに適用することにより、等価モデル作成支援方法または等価モデル作成支援プログラムは、上記効果と同様の効果を奏する。
In the equivalent model creation device of the present disclosure, the display data output unit is configured to use the second waveform data and the third waveform data to output a display image in which the second waveform indicated in the second waveform data and the third waveform indicated in the third waveform data are superimposed.
This makes it easier to compare the target impedance characteristics with the impedance characteristics of the model circuit, and has the effect of further reducing the workload when generating an equivalent model circuit.
Furthermore, by applying the above configuration to an equivalent model creation support method or an equivalent model creation program, the equivalent model creation support method or the equivalent model creation support program can achieve the same effects as those described above.
本開示の等価モデル作成装置において、前記表示データ出力部は、前記第１波形データ、前記第２波形データ、および、前記第３波形データを用いて、当該第１波形データに示される第１波形、当該第２波形データに示される第２波形、および、当該第３波形データに示される第３波形を重畳した表示画像を出力する、ように構成した。
これにより、実測値に基づくインピーダンス特性と目標インピーダンス特性とモデル回路のインピーダンス特性とが比較しやすくなり、等価モデル回路を生成する際の作業負荷をより低減させることができる、という効果を奏する。
また、上記構成を、等価モデル作成支援方法または等価モデル作成プログラムに適用することにより、等価モデル作成支援方法または等価モデル作成支援プログラムは、上記効果と同様の効果を奏する。
In the equivalent model creation device of the present disclosure, the display data output unit is configured to use the first waveform data, the second waveform data, and the third waveform data to output a display image in which the first waveform indicated in the first waveform data, the second waveform indicated in the second waveform data, and the third waveform indicated in the third waveform data are superimposed.
This makes it easier to compare the impedance characteristics based on actual measurements, the target impedance characteristics, and the impedance characteristics of the model circuit, thereby achieving the effect of further reducing the workload when generating an equivalent model circuit.
Furthermore, by applying the above configuration to an equivalent model creation support method or an equivalent model creation program, the equivalent model creation support method or the equivalent model creation support program can achieve the same effects as those described above.
本開示の等価モデル作成装置において、外部から取得した指令信号に応じて、前記第３波形データ生成部により用いられたモデル回路におけるＬＣＲ値を出力するＬＣＲ値出力部、をさらに備えるように構成した。
これにより、モデル回路の調整後の等価モデル回路のＬＣＲ値を取得が容易になり、等価モデル回路を生成する際の作業負荷をより低減させることができる、という効果を奏する。
また、上記構成を、等価モデル作成支援方法または等価モデル作成プログラムに適用することにより、等価モデル作成支援方法または等価モデル作成支援プログラムは、上記効果と同様の効果を奏する。
The equivalent model creating device of the present disclosure is configured to further include an LCR value output unit that outputs the LCR value in the model circuit used by the third waveform data generating unit in response to a command signal obtained from the outside.
This makes it easier to obtain the LCR value of the equivalent model circuit after adjusting the model circuit, and has the effect of further reducing the workload when generating the equivalent model circuit.
Furthermore, by applying the above configuration to an equivalent model creation support method or an equivalent model creation program, the equivalent model creation support method or the equivalent model creation support program can achieve the same effects as those described above.
実施の形態２．
実施の形態２は、等価モデル作成装置において、モデル回路におけるＬＣＲ部品の調整を可能にした構成を含む形態である。
実施の形態２の説明においては、実施の形態１において説明した構成についての説明を、適宜省略する場合がある。
Embodiment 2.
The second embodiment is an embodiment including a configuration in which the equivalent model creating device is capable of adjusting LCR components in a model circuit.
In the description of the second embodiment, the description of the configuration described in the first embodiment may be omitted as appropriate.
図９は、実施の形態２に係る等価モデル作成装置１０００Ａの構成例および周辺装置を示す図である。
図９に示す等価モデル作成装置１０００Ａは、図１に示す等価モデル作成装置１０００の構成とは異なる構成である。
入力装置２０００および表示装置３０００は、図１と同様であるため、その説明を省略する。
FIG. 9 is a diagram showing an example of the configuration of an equivalent model creating device 1000A according to the second embodiment and peripheral devices.
An equivalent model creating device 1000A shown in FIG. 9 has a different configuration from the equivalent model creating device 1000 shown in FIG.
The input device 2000 and the display device 3000 are the same as those in FIG. 1, and therefore their description will be omitted.
等価モデル作成装置１０００Ａの内部構成を説明する。
図９に示す等価モデル作成装置１０００Ａは、波形データ出力部１１００Ａ、表示データ出力部１２００、および、ＬＣＲ値出力部１３００、を含んで構成されている。
The internal configuration of the equivalent model creating device 1000A will be described.
The equivalent model creating device 1000A shown in FIG. 9 includes a waveform data output unit 1100A, a display data output unit 1200, and an LCR value output unit 1300.
波形データ出力部１１００Ａは、第１波形データ取得部１１１０、目標条件取得部１１２０、第２波形データ生成部１１３０、および、第３波形データ生成部１１４０Ａ、を含んで構成されている。 The waveform data output unit 1100A includes a first waveform data acquisition unit 1110, a target condition acquisition unit 1120, a second waveform data generation unit 1130, and a third waveform data generation unit 1140A.
図１０は、実施の形態２に係る第３波形データ生成部１１４０Ａの構成例を示す図である。
第３波形データ生成部１１４０Ａは、ＬＣＲ部品で構成されるモデル回路における、周波数ごとのインピーダンスを示す第３波形データを生成する。
また、第３波形データ生成部１１４０Ａは、モデル回路に対する編集操作を受け付け、編集後のモデル回路における、周波数ごとのインピーダンスを示す第３波形データを生成する。
図３に示す第３波形データ生成部１１４０Ａは、モデル回路情報取得部１１４１、モデル回路編集部１１４２、および、解析部１１４３、を含んで構成されている。
FIG. 10 is a diagram showing an example of the configuration of the third waveform data generating section 1140A according to the second embodiment.
The third waveform data generating section 1140A generates third waveform data indicating impedance for each frequency in a model circuit configured with LCR components.
Furthermore, the third waveform data generating unit 1140A receives an editing operation on the model circuit, and generates third waveform data indicating the impedance for each frequency in the edited model circuit.
The third waveform data generating unit 1140A shown in FIG. 3 includes a model circuit information acquiring unit 1141, a model circuit editing unit 1142, and an analyzing unit 1143.
モデル回路情報取得部１１４１は、ＬＣＲ部品で構成されるモデル回路を示すモデル回路情報を取得する。
モデル回路情報は、実施の形態１において説明したモデル回路情報と同様であるため、詳細な説明を省略する。
The model circuit information acquisition unit 1141 acquires model circuit information indicating a model circuit configured of LCR components.
The model circuit information is the same as the model circuit information described in the first embodiment, and therefore a detailed description thereof will be omitted.
モデル回路編集部１１４２は、モデル回路情報に示されるモデル回路を編集する。
具体的には、モデル回路編集部１１４２は、モデル回路情報取得部１１４１が出力したモデル回路情報、および、入力装置２０００を介して取得した操作情報に基づいて、操作情報にしたがってモデル回路情報を編集する。このとき、モデル回路情報は、モデル回路における例えばバイパスコンデンサの数ｎおよび各ＬＣＲ部品のＬＣＲ値といった情報が編集される。
モデル回路の編集においては、第２波形データと第３波形データとを比較しながらモデル回路情報を編集することを考えた場合、例えば、図２のＡ領域（または、図７および図８のＡ１領域）において差分が大きい場合、図４に示すモデル回路のＣＨＩＰ部のＬＣＲ値を調整することにより、Ａ領域におけるモデル回路のインピーダンス値が変化すると考えられる。また、同様に、例えば、図２のＢ１領域またはＢ２領域（または、図７および図８のＢ１領域またはＢ２領域）において差分が大きい場合、ＰＣＢ部４１００のＬＣＲ部品４１３０におけるＬＣＲ値を調整することにより、Ｂ１領域またはＢ２領域におけるモデル回路のインピーダンス値が変化すると考えられる。また、同様に、例えば、図２のＣ領域において差分が大きい場合、電源４１１０のＬＣＲ部品４１２０におけるＬＣＲ値を調整することにより、Ｃ領域におけるモデル回路のインピーダンス値が変化すると考えられる。
The model circuit editing unit 1142 edits the model circuit indicated in the model circuit information.
Specifically, the model circuit editing unit 1142 edits the model circuit information in accordance with the operation information based on the model circuit information output by the model circuit information acquisition unit 1141 and the operation information acquired via the input device 2000. At this time, the model circuit information edited includes information such as the number n of bypass capacitors in the model circuit and the LCR value of each LCR component.
When editing a model circuit, if the model circuit information is edited while comparing the second waveform data and the third waveform data, for example, if the difference is large in region A of FIG. 2 (or region A1 of FIGS. 7 and 8 ), adjusting the LCR value of the CHIP section of the model circuit shown in FIG. 4 is considered to change the impedance value of the model circuit in region A. Similarly, if the difference is large in region B1 or region B2 of FIG. 2 (or region B1 or region B2 of FIGS. 7 and 8 ), adjusting the LCR value of LCR component 4130 of PCB section 4100 is considered to change the impedance value of the model circuit in region B1 or region B2. Similarly, if the difference is large in region C of FIG. 2 , adjusting the LCR value of LCR component 4120 of power supply 4110 is considered to change the impedance value of the model circuit in region C.
解析部１１４３は、モデル回路情報取得部１１４１またはモデル回路編集部１１４２から取得したモデル回路情報を用いて、当該モデル回路情報に示されるモデル回路における周波数ごとのインピーダンス値を示す第３波形データを生成する。
具体的には、解析部１１４３は、モデル回路情報取得部１１４１またはモデル回路編集部１１４２からモデル回路情報を取得する。次に、解析部１１４３は、モデル回路情報に示されるモデル回路を解析して、当該モデル回路情報に示されるモデル回路における周波数ごとのインピーダンス値を示す第３波形データを生成する。解析部１１４３は、生成した第３波形データを出力する。
The analysis unit 1143 uses the model circuit information acquired from the model circuit information acquisition unit 1141 or the model circuit editing unit 1142 to generate third waveform data indicating the impedance value for each frequency in the model circuit indicated in the model circuit information.
Specifically, the analysis unit 1143 acquires model circuit information from the model circuit information acquisition unit 1141 or the model circuit editing unit 1142. Next, the analysis unit 1143 analyzes the model circuit indicated in the model circuit information and generates third waveform data indicating the impedance value for each frequency in the model circuit indicated in the model circuit information. The analysis unit 1143 outputs the generated third waveform data.
また、解析部１１４３は、モデル回路情報に示されるモデル回路を解析して、モデル回路のＬＣＲ部品におけるＬＣＲ値、および、解析に用いたモデル回路を示すモデル回路情報を出力する。
具体的には、解析部１１４３は、ＬＣＲ値出力部１３００においてＬＣＲ値出力指令信号が取得されると、モデル回路情報に示されるモデル回路を解析して、モデル回路のＬＣＲ部品における各ＬＣＲ値、および、解析に用いたモデル回路を示すモデル回路情報を得る。解析部１１４３は、ＬＣＲ値をＬＣＲ値出力部１３００へ出力する。また、解析部１１４３は、モデル回路情報を表示データ出力部１２００へ出力する。
Furthermore, the analysis unit 1143 analyzes the model circuit indicated in the model circuit information, and outputs the LCR values of the LCR components of the model circuit, and model circuit information indicating the model circuit used for the analysis.
Specifically, when the LCR value output unit 1300 acquires an LCR value output command signal, the analysis unit 1143 analyzes the model circuit indicated in the model circuit information to obtain each LCR value of the LCR components in the model circuit and model circuit information indicating the model circuit used for the analysis. The analysis unit 1143 outputs the LCR values to the LCR value output unit 1300. The analysis unit 1143 also outputs the model circuit information to the display data output unit 1200.
実施の形態２に係る等価モデル作成装置１０００Ａの処理の一例を説明する。
図１１は、実施の形態２に係る等価モデル作成装置１０００Ａの処理の例を示すフローチャートである。
図１１のフローチャートに示す処理は、ステップＳＴ２１１０の処理を追加した点で、図６のフローチャートと異なる。
図１１のフローチャートに示すステップＳＴ２０００からステップＳＴ２１００までの処理のそれぞれは、図６のフローチャートに示すステップＳＴ１０００からステップＳＴ１１００までの処理のそれぞれに対応するため、ここでの詳細な説明は省略する。
An example of processing by the equivalent model creation device 1000A according to the second embodiment will be described.
FIG. 11 is a flowchart showing an example of processing by the equivalent model creation device 1000A according to the second embodiment.
The process shown in the flowchart of FIG. 11 differs from the flowchart of FIG. 6 in that step ST2110 is added.
The processes from step ST2000 to step ST2100 shown in the flowchart of FIG. 11 correspond to the processes from step ST1000 to step ST1100 shown in the flowchart of FIG. 6, respectively, and therefore detailed description thereof will be omitted here.
等価モデル作成装置１０００Ａは、ステップＳＴ２１００において、図６に示すステップＳＴ１１００と同様に判定を行い、処理を終了しないと判定した場合（ステップＳＴ２１００“ＮＯ”）、モデル回路編集処理（ステップＳＴ２１１０）を実行する。
具体的には、等価モデル作成装置１０００Ａの表示データ出力部１２００は、モデル回路編集用の画像である表示データを生成して表示装置３０００へ出力する。表示装置３０００によるモデル回路編集用の画像の表示に対応して操作者が入力装置２０００を操作すると、モデル回路編集部１１４２は、入力装置２０００を介して操作情報を取得する。モデル回路編集部１１４２は、モデル回路情報取得部１１４１が出力したモデル回路情報、および、入力装置２０００を介して取得した操作情報に基づいて、操作情報にしたがってモデル回路情報におけるバイパスコンデンサの数ｎ、ＬＣＲ部品のＬＣＲ値といった情報を編集する。モデル回路編集部１１４２は、編集後のモデル回路情報を解析部１１４３へ出力する。
In step ST2100, the equivalent model creation device 1000A makes a determination similar to step ST1100 shown in FIG. 6, and if it determines not to terminate the processing (step ST2100 "NO"), it executes a model circuit editing process (step ST2110).
Specifically, the display data output unit 1200 of the equivalent model creation device 1000A generates display data that is an image for editing the model circuit and outputs it to the display device 3000. When the operator operates the input device 2000 in response to the display of the image for editing the model circuit by the display device 3000, the model circuit editing unit 1142 acquires operation information via the input device 2000. Based on the model circuit information output by the model circuit information acquisition unit 1141 and the operation information acquired via the input device 2000, the model circuit editing unit 1142 edits information such as the number n of bypass capacitors and the LCR values of LCR components in the model circuit information in accordance with the operation information. The model circuit editing unit 1142 outputs the edited model circuit information to the analysis unit 1143.
等価モデル作成装置１０００Ａは、ステップＳＴ２１１０の処理を実行すると、ステップＳＴ２０５０の処理へ移行する。
等価モデル作成装置１０００Ａは、ステップＳＴ２０５０の処理において、モデル回路を解析する。
具体的には、等価モデル作成装置１０００Ａの第３波形データ生成部１１４０Ａにおける解析部１１４３は、モデル回路編集部１１４２から出力されたモデル回路情報を取得する。解析部１１４３は、モデル回路情報に示されるモデル回路の構成を解析する。
After executing the process of step ST2110, the equivalent model creating device 1000A proceeds to the process of step ST2050.
The equivalent model creating device 1000A analyzes the model circuit in the process of step ST2050.
Specifically, the analysis unit 1143 in the third waveform data generation unit 1140A of the equivalent model creation device 1000A acquires the model circuit information output from the model circuit editing unit 1142. The analysis unit 1143 analyzes the configuration of the model circuit indicated in the model circuit information.
ステップＳＴ２０５０の処理を実行すると、等価モデル作成装置１０００Ａは、ステップＳＴ２０６０の処理へ移行して実行する。ステップＳＴ２０６０の処理以降の処理は、既に説明した内容と同様であるため、説明を省略する。 After executing the processing of step ST2050, the equivalent model creation device 1000A proceeds to and executes the processing of step ST2060. The processing from step ST2060 onwards is the same as that already explained, so explanations will be omitted.
上述してきた開示内容により、領域ごとに波形を比較させながら、領域に応じて対応するＬＣＲ部品におけるＬＣＲ値を変更することが容易になり、等価モデル回路を生成する際の作業負荷を低減させることができるようになる。 The above disclosure makes it easy to compare waveforms for each region and change the LCR values of corresponding LCR components depending on the region, thereby reducing the workload when generating an equivalent model circuit.
本開示の等価モデル作成装置において、前記第３波形データ生成部は、モデル回路を示すモデル回路情報を取得するモデル回路情報取得部と、操作情報に基づいて前記モデル回路情報に示されるモデル回路を編集する等価モデル編集部と、前記モデル回路情報取得部または前記等価モデル編集部から取得したモデル回路情報を用いて、当該モデル回路情報に示されるモデル回路における周波数ごとのインピーダンス値を示す第３波形データを生成する解析部と、を備える、ように構成した。
これにより、領域ごとに波形を比較させながら、領域に応じて対応するＬＣＲ部品におけるＬＣＲ値を変更することが容易になり、等価モデル回路を生成する際の作業負荷を低減させることができるようになる、という効果を奏する。
また、上記構成を、等価モデル作成支援方法または等価モデル作成プログラムに適用することにより、等価モデル作成支援方法または等価モデル作成支援プログラムは、上記効果と同様の効果を奏する。
In the equivalent model creation device of the present disclosure, the third waveform data generation unit is configured to include: a model circuit information acquisition unit that acquires model circuit information that indicates a model circuit; an equivalent model editing unit that edits the model circuit that is indicated in the model circuit information based on operation information; and an analysis unit that uses the model circuit information acquired from the model circuit information acquisition unit or the equivalent model editing unit to generate third waveform data that indicates an impedance value for each frequency in the model circuit that is indicated in the model circuit information.
This makes it easy to compare waveforms for each region and change the LCR values of corresponding LCR components depending on the region, thereby reducing the workload when generating an equivalent model circuit.
Furthermore, by applying the above configuration to an equivalent model creation support method or an equivalent model creation program, the equivalent model creation support method or the equivalent model creation support program can achieve the same effects as those described above.
ここで、本開示に係る等価モデル作成装置１０００，１０００Ａの機能を実現するハードウェア構成を説明する。
図１２は、本開示に係る機能を実現するためのハードウェア構成の第１の例を示す図である。
図１３は、本開示に係る機能を実現するためのハードウェア構成の第２の例を示す図である。
本開示の等価モデル作成装置１０００，１０００Ａは、図１２または図１３に示されるようなハードウェアにより実現される。
Here, a hardware configuration for realizing the functions of the equivalent model creation devices 1000 and 1000A according to the present disclosure will be described.
FIG. 12 is a diagram illustrating a first example of a hardware configuration for realizing the functions according to the present disclosure.
FIG. 13 is a diagram illustrating a second example of a hardware configuration for realizing the functions according to the present disclosure.
The equivalent model creating device 1000, 1000A of the present disclosure is realized by hardware such as that shown in FIG. 12 or FIG.
等価モデル作成装置１０００，１０００Ａは、図１２に示すように、プロセッサ１０００１、メモリ１０００２により構成される。
プロセッサ１０００１、メモリ１０００２は、例えば、コンピュータに搭載されているものである。
メモリ１０００２には、当該コンピュータを、波形データ出力部１１００，１１００Ａ、第１波形データ取得部１１１０、目標条件取得部１１２０、第２波形データ生成部１１３０、第３波形データ生成部１１４０，１１４０Ａ、モデル回路情報取得部１１４１、モデル回路編集部１１４２、解析部１１４３、表示データ出力部１２００、第１波形画像生成部１２１０、第２波形画像生成部１２２０、第３波形画像生成部１２３０、重畳画像生成部１２４０、ＬＣＲ値画像生成部１２５０、ＬＣＲ値出力部１３００、および、図示しない制御部として機能させるためのプログラムが記憶されている。メモリ１０００２に記憶されたプログラムをプロセッサ１０００１が読み出して実行することにより、波形データ出力部１１００，１１００Ａ、第１波形データ取得部１１１０、目標条件取得部１１２０、第２波形データ生成部１１３０、第３波形データ生成部１１４０，１１４０Ａ、モデル回路情報取得部１１４１、モデル回路編集部１１４２、解析部１１４３、表示データ出力部１２００、第１波形画像生成部１２１０、第２波形画像生成部１２２０、第３波形画像生成部１２３０、重畳画像生成部１２４０、ＬＣＲ値画像生成部１２５０、ＬＣＲ値出力部１３００、および、図示しない制御部の機能が実現される。
また、メモリ１０００２または図示しない他のメモリにより、図示しない記憶部が実現される。
プロセッサ１０００１は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＧＰＵ（Ｇｒａｐｈｉｃｓ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、マイクロプロセッサ、マイクロコントローラ又はＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）などを用いたものである。
メモリ１０００２は、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＥＰＲＯＭ（Ｅｒａｓａｂｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ ＲＯＭ）、ＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ Ｅｒａｓａｂｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ)又はフラッシュメモリ等の不揮発性もしくは揮発性の半導体メモリであってもよいし、ハードディスク又はフレキシブルディスク等の磁気ディスクであってもよいし、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｃ）又はＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ ＶｅｒｓａｔｉｌｅＤｉｓｃ）等の光ディスクであってもよいし、光磁気ディスクであってもよい。
プロセッサ１０００１とメモリ１０００２とは、相互にデータを伝送することが可能な状態に接続されている。また、プロセッサ１０００１とメモリ１０００２とは、入出力インタフェース１０００３を介して他のハードウェアと相互にデータを伝送することが可能な状態に接続されている。
As shown in FIG. 12, the equivalent model creating device 1000, 1000A includes a processor 10001 and a memory 10002.
The processor 10001 and the memory 10002 are, for example, installed in a computer.
Memory 10002 stores programs that cause the computer to function as waveform data output units 1100, 1100A, first waveform data acquisition unit 1110, target condition acquisition unit 1120, second waveform data generation unit 1130, third waveform data generation unit 1140, 1140A, model circuit information acquisition unit 1141, model circuit editing unit 1142, analysis unit 1143, display data output unit 1200, first waveform image generation unit 1210, second waveform image generation unit 1220, third waveform image generation unit 1230, superimposed image generation unit 1240, LCR value image generation unit 1250, LCR value output unit 1300, and a control unit not shown. When the processor 10001 reads out and executes the program stored in the memory 10002, the functions of the waveform data output unit 1100, 1100A, the first waveform data acquisition unit 1110, the target condition acquisition unit 1120, the second waveform data generation unit 1130, the third waveform data generation unit 1140, 1140A, the model circuit information acquisition unit 1141, the model circuit editing unit 1142, the analysis unit 1143, the display data output unit 1200, the first waveform image generation unit 1210, the second waveform image generation unit 1220, the third waveform image generation unit 1230, the superimposed image generation unit 1240, the LCR value image generation unit 1250, the LCR value output unit 1300, and a control unit not shown are realized.
Furthermore, the memory 10002 or another memory not shown implements a storage unit not shown.
The processor 10001 is, for example, a CPU (Central Processing Unit), a GPU (Graphics Processing Unit), a microprocessor, a microcontroller, or a DSP (Digital Signal Processor).
The memory 10002 may be a non-volatile or volatile semiconductor memory such as RAM (Random Access Memory), ROM (Read Only Memory), EPROM (Erasable Programmable ROM), EEPROM (Electrically Erasable Programmable Read Only Memory) or flash memory, or may be a magnetic disk such as a hard disk or flexible disk, or may be an optical disk such as a CD (Compact Disc) or DVD (Digital Versatile Disc), or may be a magneto-optical disk.
The processor 10001 and the memory 10002 are connected in a state where they can transmit data to each other. The processor 10001 and the memory 10002 are also connected to other hardware via the input/output interface 10003 in a state where they can transmit data to each other.
または、波形データ出力部１１００，１１００Ａ、第１波形データ取得部１１１０、目標条件取得部１１２０、第２波形データ生成部１１３０、第３波形データ生成部１１４０，１１４０Ａ、モデル回路情報取得部１１４１、モデル回路編集部１１４２、解析部１１４３、表示データ出力部１２００、第１波形画像生成部１２１０、第２波形画像生成部１２２０、第３波形画像生成部１２３０、重畳画像生成部１２４０、ＬＣＲ値画像生成部１２５０、ＬＣＲ値出力部１３００、および、図示しない制御部の機能は、図１３に示すように、専用の処理回路１０００４により実現されるものであっても良い。
処理回路１０００４は、例えば、単一回路、複合回路、プログラム化したプロセッサ、並列プログラム化したプロセッサ、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）、ＰＬＤ（Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ－Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）、ＳｏＣ（Ｓｙｓｔｅｍ－ｏｎ－ａ－Ｃｈｉｐ）またはシステムＬＳＩ（Ｌａｒｇｅ－Ｓｃａｌｅ Ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ）等を用いたものである。
また、メモリ１０００５または図示しない他のメモリにより、図示しない記憶部が実現される。
メモリ１０００５は、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＥＰＲＯＭ（Ｅｒａｓａｂｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ ＲＯＭ）、ＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ Ｅｒａｓａｂｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ)又はフラッシュメモリ等の不揮発性もしくは揮発性の半導体メモリであってもよいし、ハードディスク又はフレキシブルディスク等の磁気ディスクであってもよいし、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｃ）又はＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ ＶｅｒｓａｔｉｌｅＤｉｓｃ）等の光ディスクであってもよいし、光磁気ディスクであってもよい。
処理回路１０００４とメモリ１０００５とは、相互にデータを伝送することが可能な状態に接続されている。また、処理回路１０００４とメモリ１０００５とは、入出力インタフェース１０００６を介して他のハードウェアと相互にデータを伝送することが可能な状態に接続されている。
なお、波形データ出力部１１００，１１００Ａ、第１波形データ取得部１１１０、目標条件取得部１１２０、第２波形データ生成部１１３０、第３波形データ生成部１１４０，１１４０Ａ、モデル回路情報取得部１１４１、モデル回路編集部１１４２、解析部１１４３、表示データ出力部１２００、第１波形画像生成部１２１０、第２波形画像生成部１２２０、第３波形画像生成部１２３０、重畳画像生成部１２４０、ＬＣＲ値画像生成部１２５０、ＬＣＲ値出力部１３００、および、図示しない制御部の機能をそれぞれ別の処理回路で実現しても良いし，まとめて処理回路で実現しても良い。
Alternatively, the functions of the waveform data output units 1100, 1100A, first waveform data acquisition unit 1110, target condition acquisition unit 1120, second waveform data generation unit 1130, third waveform data generation unit 1140, 1140A, model circuit information acquisition unit 1141, model circuit editing unit 1142, analysis unit 1143, display data output unit 1200, first waveform image generation unit 1210, second waveform image generation unit 1220, third waveform image generation unit 1230, superimposed image generation unit 1240, LCR value image generation unit 1250, LCR value output unit 1300, and a control unit not shown may be realized by a dedicated processing circuit 10004, as shown in FIG. 13.
The processing circuit 10004 may be, for example, a single circuit, a composite circuit, a programmed processor, a parallel programmed processor, an ASIC (Application Specific Integrated Circuit), a PLD (Programmable Logic Device), an FPGA (Field-Programmable Gate Array), a SoC (System-on-a-Chip), or a system LSI (Large-Scale Integration).
Furthermore, the memory 10005 or another memory not shown implements a storage unit not shown.
The memory 10005 may be a non-volatile or volatile semiconductor memory such as a RAM (Random Access Memory), a ROM (Read Only Memory), an EPROM (Erasable Programmable ROM), an EEPROM (Electrically Erasable Programmable Read Only Memory), or a flash memory, or may be a magnetic disk such as a hard disk or a flexible disk, or may be an optical disk such as a CD (Compact Disc) or a DVD (Digital Versatile Disc), or may be a magneto-optical disk.
The processing circuit 10004 and the memory 10005 are connected in a state where they can transmit data to each other. The processing circuit 10004 and the memory 10005 are also connected in a state where they can transmit data to other hardware via the input/output interface 10006.
The functions of the waveform data output units 1100, 1100A, first waveform data acquisition unit 1110, target condition acquisition unit 1120, second waveform data generation unit 1130, third waveform data generation unit 1140, 1140A, model circuit information acquisition unit 1141, model circuit editing unit 1142, analysis unit 1143, display data output unit 1200, first waveform image generation unit 1210, second waveform image generation unit 1220, third waveform image generation unit 1230, superimposed image generation unit 1240, LCR value image generation unit 1250, LCR value output unit 1300, and a control unit (not shown) may be realized by separate processing circuits, or may be realized together by a processing circuit.
または、波形データ出力部１１００，１１００Ａ、第１波形データ取得部１１１０、目標条件取得部１１２０、第２波形データ生成部１１３０、第３波形データ生成部１１４０，１１４０Ａ、モデル回路情報取得部１１４１、モデル回路編集部１１４２、解析部１１４３、表示データ出力部１２００、第１波形画像生成部１２１０、第２波形画像生成部１２２０、第３波形画像生成部１２３０、重畳画像生成部１２４０、ＬＣＲ値画像生成部１２５０、ＬＣＲ値出力部１３００、および、図示しない制御部のうちの一部の機能がプロセッサ１０００１およびメモリ１０００２により実現され、かつ、残りの機能が処理回路１０００４により実現されるものであっても良い。 Alternatively, some of the functions of the waveform data output units 1100, 1100A, first waveform data acquisition unit 1110, target condition acquisition unit 1120, second waveform data generation unit 1130, third waveform data generation unit 1140, 1140A, model circuit information acquisition unit 1141, model circuit editing unit 1142, analysis unit 1143, display data output unit 1200, first waveform image generation unit 1210, second waveform image generation unit 1220, third waveform image generation unit 1230, superimposed image generation unit 1240, LCR value image generation unit 1250, LCR value output unit 1300, and a control unit (not shown) may be realized by the processor 10001 and memory 10002, and the remaining functions may be realized by the processing circuit 10004.
なお、本開示は、その発明の範囲内において、各実施の形態の自由な組み合わせ、各実施の形態の任意の構成要素の変形、または各実施の形態の任意の構成要素の省略が可能である。 In addition, within the scope of the present disclosure, it is possible to freely combine the embodiments, modify any of the components of each embodiment, or omit any of the components of each embodiment.
１０００，１０００Ａ 等価モデル作成装置、１１００，１１００Ａ 波形データ出力部、１１１０ 第１波形データ取得部、１１２０ 目標条件取得部、１１３０ 第２波形データ生成部、１１４０，１１４０Ａ 第３波形データ生成部、１１４１ モデル回路情報取得部、１１４２ モデル回路編集部、１１４３ 解析部、１２００ 表示データ出力部、１２１０ 第１波形画像生成部、１２２０ 第２波形画像生成部、１２３０ 第３波形画像生成部、１２４０ 重畳画像生成部、１２５０ ＬＣＲ値画像生成部、１３００ ＬＣＲ値出力部、２０００ 入力装置、３０００ 表示装置、４０００ モデル回路、４１００ ＰＣＢ部、４１１０ 電源、４１２０ ＬＣＲ部品、４１３０ ＬＣＲ部品、４１４０（４１４０－１，・・・，４１４０－ｎ） ＬＣＲ部品、４１５０（４１５０－１，・・・，４１５０－ｎ） ＬＣＲ部品、４２００ ＰＫＧ部、４２１０ ＬＣＲ部品、４３００ ＣＨＩＰ部、４３１０ ＬＣＲ部品、５１００ 第１波形、５２１０ Ａ領域、５２２０ Ｂ１領域、５２３０ Ｂ２領域、５２４０ Ｃ領域、５３００ 第２波形、６１００ 第１波形、６２１０ Ａ１領域、６２２０ Ｂ１領域、６２３０ Ｂ２領域、６２４０ Ｃ１領域、６２５０ Ｃ２領域、６３１０ 上限側第２波形、６３２０ 下限側第２波形、６４００ 第３波形、１０００１ プロセッサ、１０００２ メモリ、１０００３ 入出力インタフェース、１０００４ 処理回路、１０００５ メモリ、１０００６ 入出力インタフェース。 1000, 1000A Equivalent model creation device, 1100, 1100A Waveform data output unit, 1110 First waveform data acquisition unit, 1120 Target condition acquisition unit, 1130 Second waveform data generation unit, 1140, 1140A Third waveform data generation unit, 1141 Model circuit information acquisition unit, 1142 Model circuit editing unit, 1143 Analysis unit, 1200 Display data output unit, 1210 First waveform image generation unit, 1220 Second waveform image generation unit, 1230 Third waveform image generation unit, 1240 Superimposed image generation unit, 1250 LCR value image generation unit, 1300 LCR value output unit, 2000 Input device, 3000 Display device, 4000 Model circuit, 4100 PCB unit, 4110 Power supply, 4120 LCR component, 4130 LCR parts, 4140 (4140-1,...,4140-n) LCR parts, 4150 (4150-1,...,4150-n) LCR parts, 4200 PKG part, 4210 LCR parts, 4300 CHIP part, 4310 LCR parts, 5100 1st waveform, 5210 A area, 5220 B1 area, 5230 B2 area, 5240 C area, 5300 second waveform, 6100 first waveform, 6210 A1 area, 6220 B1 area, 6230 B2 area, 6240 C1 area, 6250 C2 area, 6310 Upper limit side second waveform, 6320 Lower limit side second waveform, 6400 Third waveform, 10001 Processor, 10002 Memory, 10003 Input/output interface, 10004 Processing circuit, 10005 Memory, 10006 Input/output interface.
Claims (8)
前記第１波形データに基づく第１波形を示す表示データを出力する表示データ出力部と、
それぞれ異なる周波数帯の領域ごとに、目標インピーダンスを決定するための目標条件を取得する目標条件取得部と、
前記第１波形データおよび前記目標条件を用いて決定された前記対象回路についての周波数ごとの目標インピーダンスを示す第２波形データを生成する第２波形データ生成部と、
ＬＣＲ部品で構成される前記対象回路のモデル回路における、周波数ごとのインピーダンスを示す第３波形データを生成する第３波形データ生成部と、
を備え、
前記表示データ出力部は、さらに、前記第２波形データに基づく第２波形を示す表示データおよび前記第３波形データに基づく第３波形を示す表示データを出力する、
等価モデル作成装置。 a first waveform data acquisition unit that acquires first waveform data indicating impedance for each frequency of the target circuit ;
a display data output unit that outputs display data showing a first waveform based on the first waveform data;
a target condition acquisition unit that acquires target conditions for determining a target impedance for each of different frequency band regions;
a second waveform data generating unit that generates second waveform data indicating a target impedance for each frequency for the target circuit determined using the first waveform data and the target condition;
a third waveform data generating unit that generates third waveform data indicating impedance for each frequency in a model circuit of the target circuit configured with LCR components;
Equipped with
the display data output unit further outputs display data showing a second waveform based on the second waveform data and display data showing a third waveform based on the third waveform data.
Equivalent model creation device.
前記モデル回路を示すモデル回路情報を取得するモデル回路情報取得部と、
操作情報に基づいてモデル回路情報に示される前記モデル回路を編集する等価モデル編集部と、
前記モデル回路情報取得部または前記等価モデル編集部から取得したモデル回路情報を用いて、当該モデル回路情報に示される前記モデル回路における周波数ごとのインピーダンス値を示す第３波形データを生成する解析部と、
を備える、
請求項１に記載の等価モデル作成装置。 The third waveform data generating unit
a model circuit information acquisition unit that acquires model circuit information indicating the model circuit;
an equivalent model editing unit that edits the model circuit indicated in the model circuit information based on operation information;
an analysis unit that generates third waveform data indicating an impedance value for each frequency in the model circuit indicated in the model circuit information, using the model circuit information acquired from the model circuit information acquisition unit or the equivalent model editing unit;
Equipped with
2. The equivalent model creating device according to claim 1.
請求項１または請求項２に記載の等価モデル作成装置。 The target conditions acquired by the target condition acquisition unit are configured by a combination of a plurality of different frequency band information and, for each of the frequency band information, a rate of increase or decrease based on the impedance value of the first waveform data or a target impedance value.
3. The equivalent model creating device according to claim 1.
前記第２波形データおよび前記第３波形データを用いて、当該第２波形データに示される第２波形および当該第３波形データに示される第３波形を重畳した表示画像を出力する、
請求項１から請求項３のうちのいずれか１項に記載の等価モデル作成装置。 The display data output unit
outputting a display image in which the second waveform represented by the second waveform data and the third waveform represented by the third waveform data are superimposed using the second waveform data and the third waveform data;
4. The equivalent model creating device according to claim 1.
前記第１波形データ、前記第２波形データ、および、前記第３波形データを用いて、当該第１波形データに示される第１波形、当該第２波形データに示される第２波形、および、当該第３波形データに示される第３波形を重畳した表示画像を出力する、
請求項１から請求項４のうちのいずれか１項に記載の等価モデル作成装置。 The display data output unit
outputting a display image in which a first waveform represented by the first waveform data, a second waveform represented by the second waveform data, and a third waveform represented by the third waveform data are superimposed using the first waveform data, the second waveform data, and the third waveform data;
5. The equivalent model creating device according to claim 1.
をさらに備えた、請求項１から請求項５のうちのいずれか１項に記載の等価モデル作成装置。 an LCR value output unit that outputs the LCR value in the model circuit used by the third waveform data generation unit in response to a command signal obtained from an external device;
The equivalent model creating device according to claim 1 , further comprising:
表示データ出力部が、前記第１波形データに基づく第１波形を示す表示データを出力する表示データ出力ステップと、
目標条件取得部が、それぞれ異なる周波数帯の領域ごとに、目標インピーダンスを決定するための目標条件を取得する目標条件取得ステップと、
第２波形データ生成部が、前記第１波形データおよび前記目標条件を用いて決定された前記対象回路についての周波数ごとの目標インピーダンスを示す第２波形データを生成する第２波形データ生成ステップと、
第３波形データ生成部が、ＬＣＲ部品で構成される前記対象回路のモデル回路における、周波数ごとのインピーダンスを示す第３波形データを生成する第３波形データ生成ステップと、
を備え、
前記表示データ出力ステップは、さらに、前記第２波形データに基づく第２波形を示す表示データおよび前記第３波形データに基づく第３波形を示す表示データを出力する、
等価モデル作成支援方法。 a first waveform data acquiring step in which a first waveform data acquiring unit acquires first waveform data indicating impedance for each frequency of the target circuit ;
a display data output step in which a display data output unit outputs display data showing a first waveform based on the first waveform data;
a target condition acquisition step in which a target condition acquisition unit acquires target conditions for determining a target impedance for each of different frequency band regions;
a second waveform data generating step in which a second waveform data generating unit generates second waveform data indicating a target impedance for each frequency for the target circuit determined using the first waveform data and the target condition;
a third waveform data generating step in which a third waveform data generating unit generates third waveform data indicating impedance for each frequency in a model circuit of the target circuit configured with LCR components;
Equipped with
The display data output step further includes outputting display data showing a second waveform based on the second waveform data and display data showing a third waveform based on the third waveform data.
A method for supporting the creation of equivalent models.
対象回路の周波数ごとのインピーダンスを示す第１波形データを取得する第１波形データ取得部と、
前記第１波形データに基づく第１波形を示す表示データを出力する表示データ出力部と、
それぞれ異なる周波数帯の領域ごとに、目標インピーダンスを決定するための目標条件を取得する目標条件取得部と、
前記第１波形データおよび前記目標条件を用いて決定された前記対象回路についての周波数ごとの目標インピーダンスを示す第２波形データを生成する第２波形データ生成部と、
ＬＣＲ部品で構成される前記対象回路のモデル回路における、周波数ごとのインピーダンスを示す第３波形データを生成する第３波形データ生成部と、
を備え、
前記表示データ出力部は、さらに、前記第２波形データに基づく第２波形を示す表示データおよび前記第３波形データに基づく第３波形を示す表示データを出力する、
等価モデル作成装置、
として動作させることを特徴とする等価モデル作成支援プログラム。 Computer,
a first waveform data acquisition unit that acquires first waveform data indicating the impedance of the target circuit for each frequency;
a display data output unit that outputs display data showing a first waveform based on the first waveform data;
a target condition acquisition unit that acquires target conditions for determining a target impedance for each of different frequency band regions;
a second waveform data generating unit that generates second waveform data indicating a target impedance for each frequency for the target circuit determined using the first waveform data and the target condition;
a third waveform data generating unit that generates third waveform data indicating impedance for each frequency in a model circuit of the target circuit configured with LCR components;
Equipped with
the display data output unit further outputs display data showing a second waveform based on the second waveform data and display data showing a third waveform based on the third waveform data.
Equivalent model creation device,
10. An equivalent model creation support program that operates as follows:
Priority Applications (1)
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| JP2022019393A JP7778002B2 (en) | 2022-02-10 | 2022-02-10 | Equivalent model creation device, equivalent model creation support method, and equivalent model creation support program |
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