JP7779787B2 - PROTECTIVE SHEET FOR WORK PROCESSING AND METHOD FOR PRODUCING WORK INDUCED PRODUCT - Google Patents
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Description
本発明は、ワーク加工用保護シートおよびワーク個片化物の製造方法に関する。特に、裏面研削後のワークのTTVを小さくできるワーク加工用保護シート、および、当該ワーク加工用保護シートを用いるワーク個片化物の製造方法に関する。 The present invention relates to a protective sheet for workpiece processing and a method for manufacturing singulated workpieces. In particular, it relates to a protective sheet for workpiece processing that can reduce the total thickness variation (TTV) of a workpiece after backside grinding, and a method for manufacturing singulated workpieces using the protective sheet for workpiece processing.
半導体チップ等の回路が形成されたチップは、複数の回路が形成されたウエハ等のワークを個片化することによりワーク個片化物として得られる。このようなチップが搭載される電子機器の小型化および多機能化の急速な進展に伴い、チップにも小型化、低背化、高密度化が求められている。チップを小型化および低背化するには、ワークの表面に回路を形成した後、ワークの裏面を研削して、チップの厚さを薄くすることが一般的である。 Chips with circuits formed on them, such as semiconductor chips, are obtained as singulated workpieces by singulating a workpiece, such as a wafer, with multiple circuits formed on it. With the rapid progress in miniaturization and multi-functionality of electronic devices incorporating such chips, there is a demand for chips to be smaller, thinner, and more dense. To make chips smaller and thinner, it is common to form circuits on the surface of the workpiece, and then grind the backside of the workpiece to reduce the thickness of the chip.
ワークの裏面研削時には、ワーク表面の回路を一時的に保護し、かつ、ワークを保持するために、ワーク表面にバックグラインドテープと呼ばれる保護シートが貼付される。 When grinding the backside of a workpiece, a protective sheet called backgrind tape is applied to the surface of the workpiece to temporarily protect the circuits on the surface and to hold the workpiece in place.
ワークの表面には、回路を保護するための保護膜、チップと基板上の電極とを電気的に接続するためのバンプ電極等の凸状電極等が形成されており、ワークの表面には高低差が生じている。 The surface of the workpiece is formed with a protective film to protect the circuit, and convex electrodes such as bump electrodes to electrically connect the chip to electrodes on the substrate, resulting in height differences on the surface of the workpiece.
ワークの表面に貼付された保護シートは、ワークの表面の形状に倣うため、保護シートにもこのような高低差が反映されている。高低差が生じている状態で、ワークの裏面研削を行うと、研削時にワークに印加される圧力が研削面において不均等となり、研削後のワークの厚さが不均一となる。 The protective sheet attached to the surface of the workpiece follows the shape of the workpiece's surface, so these height differences are reflected in the protective sheet. If the backside of the workpiece is ground when there are height differences, the pressure applied to the workpiece during grinding will be uneven on the grinding surface, resulting in an uneven thickness of the workpiece after grinding.
研削後のワークの厚さの最大値と、研削後のワークの厚さの最小値と、の差はTTV(Total Thickness Variation)と呼ばれ、研削後のワークの厚さ精度の基準とされる。研削後のワークの厚さが不均一である場合、TTVが大きくなり、ワークにクラックが生じやすくなる、ワークの個片化時に不具合が生じる等の問題があった。 The difference between the maximum thickness of the workpiece after grinding and the minimum thickness of the workpiece after grinding is called the TTV (Total Thickness Variation), and is used as a standard for the thickness accuracy of the workpiece after grinding. If the thickness of the workpiece after grinding is uneven, the TTV will increase, making the workpiece more susceptible to cracks and causing problems when the workpiece is separated into individual pieces.
このような問題に対して、特許文献1および2には、半導体ウエハの表面に粘着シートを貼付した後、当該粘着シートの最表面を研削してから、半導体ウエハの裏面研削を行うことが記載され、これにより、研削後の半導体ウエハの厚さ精度が良好になることが記載されている。 To address this issue, Patent Documents 1 and 2 describe a method of attaching an adhesive sheet to the surface of a semiconductor wafer, grinding the outermost surface of the adhesive sheet, and then grinding the backside of the semiconductor wafer, which results in improved thickness accuracy for the semiconductor wafer after grinding.
特許文献1および2では、半導体ウエハの裏面研削前に研削される粘着シートの最表面の引張弾性率を所定の範囲内としている。 In Patent Documents 1 and 2, the tensile modulus of the outermost surface of the adhesive sheet that is ground before the backside of the semiconductor wafer is ground is set within a specified range.
しかしながら、本発明者は、ワークのTTVは、ワークに貼付される保護シートの最表面の引張弾性率ではなく、別のパラメータに依存することを見出した。すなわち、本発明者は、保護シートの最表面の引張弾性率よりも、研削される最表面の動摩擦係数および引張破断応力がワークのTTVに影響していることを見出した。 However, the inventors have discovered that the TTV of a workpiece depends not on the tensile modulus of elasticity of the outermost surface of the protective sheet attached to the workpiece, but on another parameter. In other words, the inventors have discovered that the dynamic friction coefficient and tensile breaking stress of the outermost surface to be ground affect the TTV of the workpiece more than the tensile modulus of elasticity of the outermost surface of the protective sheet.
本発明は、このような実状に鑑みてなされ、裏面研削後のワークのTTVを小さくできるワーク加工用保護シートを提供することを目的とする。また、当該ワーク加工用保護シートを用いて、ワークを個片化して得られるワーク個片化物を製造する方法を提供することを目的とする。 The present invention was made in consideration of these circumstances, and aims to provide a protective sheet for workpiece processing that can reduce the total thickness variation (TTV) of a workpiece after backside grinding. It also aims to provide a method for producing individual workpieces obtained by singulating a workpiece using the protective sheet for workpiece processing.
本発明の態様は、以下の通りである。 Aspects of the present invention are as follows:
[1]支持材と、支持材の一方の主面上に配置された粘着剤層と、を有するワーク加工用保護シートであって、
支持材の他方の主面が、ワーク加工用保護シートの最表面を構成し、ワーク加工用保護シートの最表面と、番手が1200番の紙やすりと、の動摩擦係数が1.40以下であり、
支持材の引張破断応力が250MPa以下であるワーク加工用保護シートである。
[1] A protective sheet for workpiece processing having a support material and an adhesive layer disposed on one main surface of the support material,
The other main surface of the support material constitutes the outermost surface of the workpiece processing protection sheet, and the dynamic friction coefficient between the outermost surface of the workpiece processing protection sheet and sandpaper having a grit size of 1200 is 1.40 or less;
This is a protection sheet for workpiece processing, in which the tensile breaking stress of the support material is 250 MPa or less.
[2]支持材が2層以上から構成される[1]に記載のワーク加工用保護シートである。 [2] A protective sheet for workpiece processing according to [1], in which the support material is composed of two or more layers.
[3]支持材が、剛性層と、剛性層よりも軟質である軟質層と、を有し、軟質層の一方の主面が、ワーク加工用保護シートの最表面を構成する[2]に記載のワーク加工用保護シートである。 [3] The workpiece processing protective sheet according to [2], wherein the support material has a rigid layer and a soft layer that is softer than the rigid layer, and one main surface of the soft layer constitutes the outermost surface of the workpiece processing protective sheet.
[4]表裏面を有するワークの裏面を研削する工程よりも前に、ワークの表面と粘着剤層とが貼付され、ワーク加工用保護シートの最表面が研削されて使用される[1]から[3]のいずれかに記載のワーク加工用保護シートである。 [4] A protective sheet for workpiece processing according to any one of [1] to [3], in which the adhesive layer is attached to the surface of the workpiece, and the outermost surface of the protective sheet for workpiece processing is ground prior to the process of grinding the back surface of the workpiece having a front and back surface.
[5]ワークの表面に溝、または、ワークの内部に改質領域が形成されたワークの裏面を研削することによりワークをワーク個片化物に個片化する工程において使用される[4]に記載のワーク加工用保護シートである。 [5] A protective sheet for workpiece processing according to [4], used in a process of dividing a workpiece into individual workpieces by grinding the back surface of the workpiece having grooves formed on its surface or modified regions formed inside the workpiece.
[6]粘着剤層がエネルギー線硬化性である[1]から[5]のいずれかに記載のワーク加工用保護シートである。 [6] A protective sheet for workpiece processing according to any one of [1] to [5], wherein the adhesive layer is energy ray curable.
[7][1]から[6]のいずれかに記載のワーク加工用保護シートの粘着剤層と、表裏面を有するワークの表面と、を貼付する工程と、
ワークの裏面を研削する工程と、
ワークを個片化して、複数のワーク個片化物を得る工程と、を有するワーク個片化物の製造方法である。
[7] A step of attaching the adhesive layer of the protective sheet for workpiece processing according to any one of [1] to [6] to the surface of a workpiece having a front and back surface;
A step of grinding the back surface of the workpiece;
and a step of dividing the workpiece into individual pieces to obtain a plurality of individual workpieces.
[8][4]または[5]に記載のワーク加工用保護シートにおいて、ワーク加工用保護シートの最表面を研削する工程をさらに有し、
ワークの裏面を研削する工程は、ワーク加工用保護シートの最表面を研削する工程の後に行う[7]に記載のワーク個片化物の製造方法である。
[8] The workpiece processing protective sheet according to [4] or [5], further comprising a step of grinding the outermost surface of the workpiece processing protective sheet,
The method for producing individual workpieces according to [7], wherein the step of grinding the back surface of the workpiece is carried out after the step of grinding the outermost surface of the protective sheet for workpiece processing.
[9]ワークの表面に溝を形成する工程、または、ワークの表面もしくは裏面からワーク内部に改質領域を形成する工程をさらに有し、
ワークの裏面を研削する工程において、溝または改質領域を起点として複数のワーク個片化物に個片化させる[7]または[8]に記載のワーク個片化物の製造方法である。
[9] The method further includes a step of forming a groove on the surface of the workpiece, or a step of forming a modified region inside the workpiece from the surface or back surface of the workpiece,
A method for manufacturing a workpiece singulation according to [7] or [8], wherein in the step of grinding the back surface of the workpiece, the workpiece is singulated into a plurality of workpiece singulations starting from grooves or modified regions.
[10]ワーク個片化物から、ワーク加工用保護シートを剥離する工程をさらに有する[7]から[9]のいずれかに記載のワーク個片化物の製造方法である。 [10] A method for manufacturing a workpiece singulated product according to any one of [7] to [9], further comprising a step of peeling off the workpiece processing protection sheet from the workpiece singulated product.
本発明によれば、裏面研削後のワークのTTVを小さくできるワーク加工用保護シートを提供することができる。また、本発明によれば、当該ワーク加工用保護シートを用いて、ワークを個片化して得られるワーク個片化物を製造する方法を提供することができる。 The present invention provides a protective sheet for workpiece processing that can reduce the total thickness variation (TTV) of a workpiece after backside grinding. The present invention also provides a method for producing individual workpieces obtained by singulating a workpiece using the protective sheet for workpiece processing.
以下、本発明を、具体的な実施形態に基づき、図面を用いて詳細に説明する。まず、本明細書で使用する主な用語を説明する。 The present invention will now be described in detail based on specific embodiments and with reference to the accompanying drawings. First, the main terms used in this specification will be explained.
ワークとは本実施形態に係るワーク加工用保護シートが貼付されて、その後、個片化される板状体を言う。ワークとしては、円形(ただし、オリエンテーションフラットを有する場合を含む)のウエハ、角形のパネルレベルパッケージおよびモールド樹脂封止を施したストリップ(短冊形基板)等が挙げられ、その中でも上述した効果が得られ易い観点から、ウエハが好ましい。ウエハとしては、例えばシリコンウエハ、ガリウム砒素ウエハ、炭化ケイ素ウエハ、窒化ガリウムウエハ、インジウム燐ウエハなどの半導体ウエハや、ガラスウエハ、タンタル酸リチウムウエハ、ニオブ酸リチウムウエハなどの絶縁体ウエハであってもよく、また、ファンアウトパッケージ等の作製に用いる樹脂と半導体から成る再構成ウエハであってもよい。上述した効果が得られ易い観点から、ウエハとしては、半導体ウエハまたは絶縁体ウエハが好ましく、半導体ウエハがより好ましい。 The term "workpiece" refers to a plate-like object to which the protective sheet for workpiece processing according to this embodiment is attached and then singulated. Examples of workpieces include circular wafers (including those with orientation flats), rectangular panel-level packages, and strips (rectangular substrates) sealed with molded resin. Among these, wafers are preferred because they facilitate the aforementioned effects. Examples of wafers include semiconductor wafers such as silicon wafers, gallium arsenide wafers, silicon carbide wafers, gallium nitride wafers, and indium phosphide wafers, as well as insulator wafers such as glass wafers, lithium tantalate wafers, and lithium niobate wafers. They may also be reconstructed wafers made of semiconductors and resins used in the manufacture of fan-out packages, etc. Because they facilitate the aforementioned effects, semiconductor wafers or insulator wafers are preferred, with semiconductor wafers being more preferred.
ワークの個片化は、ワークを回路毎に分割し、ワーク個片化物を得ることを言う。例えば、ワークがウエハである場合には、ワーク個片化物はチップであり、ワークがパネルレベルパッケージまたはモールド樹脂封止を施したストリップ(短冊形基板)である場合には、ワーク個片化物は半導体パッケージである。 Singulation of a workpiece refers to dividing the workpiece into individual circuits to obtain individual workpieces. For example, if the workpiece is a wafer, the individual workpieces are chips; if the workpiece is a panel-level package or a strip (rectangular substrate) sealed with molded resin, the individual workpieces are semiconductor packages.
ワークの「表面」は、回路、電極等が形成された面を指し、ワークの「裏面」は、回路等が形成されていない面を指す。電極としては、バンプ等の凸状電極であってもよい。 The "front surface" of a workpiece refers to the surface on which circuits, electrodes, etc. are formed, and the "back surface" of a workpiece refers to the surface on which circuits, etc. are not formed. Electrodes may be convex electrodes such as bumps.
DBGとは、ワークの表面側に所定深さの溝を形成した後、ワーク裏面側から研削を行い、研削によりワークを個片化する方法を言う。ワークの表面側に形成される溝は、ブレードダイシング、レーザーダイシング、プラズマダイシングなどの方法により形成される。 DBG is a method in which grooves of a specified depth are formed on the front side of a workpiece, and then the workpiece is ground from the back side, resulting in individual pieces being cut into individual pieces. Grooves formed on the front side of the workpiece are made using methods such as blade dicing, laser dicing, and plasma dicing.
また、LDBGとは、DBGの変形例であり、レーザーでワーク(例えばウエハ)内部に脆弱な改質領域を設け、ワーク裏面研削時の応力等により、改質領域を起点とする亀裂を進展させてワークの個片化を行う方法を言う。 LDBG is a variation of DBG, and refers to a method in which a weak modified region is created inside a workpiece (e.g., a wafer) using a laser, and cracks originating from the modified region are propagated by stress during back grinding of the workpiece, thereby dividing the workpiece into individual pieces.
「ワーク個片化物群」とは、ワークの個片化後に、本実施形態に係るワーク加工用保護シート上に保持された、複数のワーク個片化物をいう。これらのワーク個片化物は、全体として、ワークの形状と同様の形状を構成する。また、「チップ群」とは、ワークとしてのウエハの個片化後に、本実施形態に係るワーク加工用保護シート上に保持された、複数のチップをいう。これらのチップは、全体として、ウエハの形状と同様の形状を構成する。 A "group of individual workpieces" refers to a plurality of individual workpieces held on the protective sheet for workpiece processing according to this embodiment after the workpiece has been singulated. These individual workpieces collectively form a shape similar to that of the workpiece. Furthermore, a "group of chips" refers to a plurality of chips held on the protective sheet for workpiece processing according to this embodiment after the wafer serving as the workpiece has been singulated. These chips collectively form a shape similar to that of the wafer.
「(メタ)アクリレート」は、「アクリレート」および「メタクリレート」の双方を示す語として用いており、他の類似用語についても同様である。 The term "(meth)acrylate" is used to refer to both "acrylate" and "methacrylate," and similarly applies to other similar terms.
「エネルギー線」は、紫外線、電子線等を指し、好ましくは紫外線である。 "Energy rays" refers to ultraviolet rays, electron beams, etc., with ultraviolet rays being preferred.
「重量平均分子量」は、特に断りのない限り、ゲル・パーミエーション・クロマトグラフィー(GPC)法により測定されるポリスチレン換算値である。このような方法による測定は、たとえば、東ソー社製の高速GPC装置「HLC-8120GPC」に、高速カラム「TSK guard column HXL-H」、「TSK Gel GMHXL」、「TSK Gel G2000 HXL」(以上、全て東ソー社製)をこの順序で連結したものを用い、カラム温度:40℃、送液速度:1.0mL/分の条件で、検出器を示差屈折率計として行われる。 Unless otherwise specified, the "weight average molecular weight" is a polystyrene-equivalent value measured by gel permeation chromatography (GPC). Measurements by this method are carried out, for example, using a high-speed GPC apparatus "HLC-8120GPC" manufactured by Tosoh Corporation, connected in this order to high-speed columns "TSK guard column H XL -H,""TSK Gel GMH XL ," and "TSK Gel G2000 H XL " (all manufactured by Tosoh Corporation), under conditions of a column temperature of 40°C, a liquid flow rate of 1.0 mL/min, and a differential refractometer as a detector.
剥離シートは、粘着剤層を剥離可能に支持するシートである。シートとは、厚みを限定するものではなく、フィルムを含む概念で用いる。 A release sheet is a sheet that supports the adhesive layer in a releasable manner. The term "sheet" does not limit thickness, and is used to include films.
粘着剤層用組成物等の組成物に関する説明における質量比は、有効成分(固形分)に基づいており、特段の説明が無い限り、溶媒は算入しない。 The mass ratios in descriptions of compositions such as pressure-sensitive adhesive layer compositions are based on the active ingredient (solid content), and do not include the solvent unless otherwise specified.
(1.ワーク加工用保護シート)
ワーク加工用保護シートは、一方の面(表面)に回路等が形成され、他方の面(裏面)に回路等が形成されていないワークを加工する際に用いられる。ワークの加工としては、たとえば、ワークの裏面研削が例示される。ワークの裏面を研削することにより、ワークを個片化して得られるワーク個片化物の薄型化を実現することができる。
(1. Protective sheet for workpiece processing)
The protective sheet for workpiece processing is used when processing a workpiece having a circuit or the like formed on one side (front side) and no circuit or the like formed on the other side (back side). Examples of workpiece processing include backside grinding of the workpiece. Grinding the backside of the workpiece can reduce the thickness of the individual workpieces obtained by dividing the workpiece.
ワーク加工用保護シートは、ワークの裏面研削を行う前に、ワークの表面に貼付される。ワークの表面は、回路が露出している面であってもよいし、回路を保護するために回路上に形成されている保護層の主面であってもよい。また、回路上に、バンプ等の凸状電極が形成されていてもよい。したがって、ワークの表面に形成されている要素に起因して、通常、ワークの表面には高低差が生じている。 The workpiece processing protection sheet is applied to the surface of the workpiece before back grinding. The surface of the workpiece may be the surface on which the circuit is exposed, or the main surface of a protective layer formed on the circuit to protect the circuit. Also, convex electrodes such as bumps may be formed on the circuit. Therefore, differences in elevation usually occur on the surface of the workpiece due to the elements formed on the surface of the workpiece.
その結果、ワークの表面に貼付されたワーク加工用保護シートにもこのような高低差が反映されている。ワークの貼付後、ワーク加工用保護シートが、チャックテーブル等の研削用のテーブルに吸着され、ワークの裏面が研削されるが、ワーク加工用保護シートに高低差が生じていると、ワーク加工用保護シートとチャックテーブルとの間に空隙が形成され、裏面研削時に印加される力がワークに均等に伝達されないことがある。その結果、ワークの裏面において、研削が十分に進行する領域と研削が十分に進行しない領域とが発生する。このような研削の進行度合いの違いは、研削後のワーク厚さにムラをもたらす。すなわち、研削後のワーク厚さが厚い領域と、研削後のワーク厚さが薄い領域とが存在しているため、研削後のTTVが大きくなる傾向にある。 As a result, these height differences are also reflected in the workpiece processing protective sheet attached to the surface of the workpiece. After the workpiece is attached, the workpiece processing protective sheet is adsorbed to a grinding table such as a chuck table, and the backside of the workpiece is ground. However, if there are height differences in the workpiece processing protective sheet, gaps are formed between the workpiece processing protective sheet and the chuck table, and the force applied during backside grinding may not be transmitted evenly to the workpiece. As a result, there are areas on the backside of the workpiece where grinding has progressed sufficiently and areas where grinding has not progressed sufficiently. This difference in the degree of grinding progress causes unevenness in the workpiece thickness after grinding. In other words, the presence of areas where the workpiece is thick after grinding and areas where the workpiece is thin after grinding tends to increase the TTV after grinding.
TTVが大きくなると、上述したように、ワークにクラックが生じやすくなる、ワークの個片化時に不具合が生じる等の問題がある。 As mentioned above, if the TTV becomes large, problems such as cracks becoming more likely to occur in the workpiece and problems occurring when the workpiece is singulated can occur.
このような問題に対して、上述したように、ワークに貼付されたワーク加工用保護シートの最表面を研削することにより、TTVの改善を図る手法が知られている。この手法では、ワーク加工用保護シートの最表面部分の引張弾性率を所定の範囲内としている。 As mentioned above, one known approach to addressing this issue is to improve TTV by grinding the outermost surface of the workpiece processing protection sheet attached to the workpiece. In this approach, the tensile modulus of elasticity of the outermost surface of the workpiece processing protection sheet is set within a specified range.
しかしながら、本発明者は、ワーク加工用保護シートの最表面の動摩擦係数および引張破断応力に着目し、これらのパラメータを最適な状態とすることにより、ワークの裏面研削に好影響を与え、裏面研削後のワークのTTVを小さくできることを見出した。 However, the inventors focused on the dynamic friction coefficient and tensile breaking stress of the outermost surface of the protective sheet for workpiece processing and discovered that optimizing these parameters has a positive effect on the backside grinding of the workpiece and can reduce the total thickness variation (TTV) of the workpiece after backside grinding.
以下では、本実施形態に係るワーク加工用保護シートについて詳細に説明する。 The following describes in detail the protective sheet for workpiece processing according to this embodiment.
本実施形態に係るワーク加工用保護シート1は、図1Aに示すように、支持材10と、支持材10上に配置された粘着剤層20と、を有している。また、図2に示すように、ワーク加工用保護シート1は、ワーク100(例えばウエハ)の表面100aに粘着剤層20の主面20aが貼付される。 As shown in FIG. 1A, the protective sheet for workpiece processing 1 according to this embodiment includes a support material 10 and an adhesive layer 20 disposed on the support material 10. As shown in FIG. 2, the protective sheet for workpiece processing 1 is attached such that the main surface 20a of the adhesive layer 20 is attached to the surface 100a of the workpiece 100 (e.g., a wafer).
本実施形態に係るワーク加工用保護シート1は、ワーク100の裏面100bを研削する前に、ワーク加工用保護シート1の支持材10において、粘着剤層20が配置されている主面10aとは反対側の主面10bが研削される。したがって、主面10bは、ワーク加工用保護シート1の最表面を構成している。 In the protective sheet for workpiece processing 1 according to this embodiment, before grinding the back surface 100b of the workpiece 100, the main surface 10b of the support material 10 of the protective sheet for workpiece processing 1, opposite the main surface 10a on which the adhesive layer 20 is disposed, is ground. Therefore, the main surface 10b constitutes the outermost surface of the protective sheet for workpiece processing 1.
(1.1.支持材)
支持材は、粘着剤層を支持する部材であり、ワーク加工用保護シートがワークに貼付された後は、ワークを支持する部材である。したがって、支持材は剛性を有していることが好ましい。本実施形態では、支持材は以下の物性を有している。
(1.1. Support material)
The support material is a member that supports the adhesive layer and supports the workpiece after the workpiece processing protection sheet is attached to the workpiece. Therefore, it is preferable that the support material has rigidity. In this embodiment, the support material has the following physical properties.
(1.2.動摩擦係数)
本実施形態では、ワーク加工用保護シートの最表面を構成する支持材の主面と、番手が1200番の紙やすりと、の動摩擦係数が1.40以下である。動摩擦係数は、2つの物体が接触した状態で相対的に動いている場合に、接触面において動いている方向とは逆方向に作用する動摩擦力の比例係数である。動摩擦係数が大きいと、動いている物体を停止させようとする力が大きいことを示している。紙やすりは、支持材の主面を研削する研削手段(たとえば、研削ホイール)を想定しており、上記の動摩擦係数は、支持材の主面を研削する研削手段が受ける抵抗力の指標である。
(1.2. Coefficient of Dynamic Friction)
In this embodiment, the coefficient of dynamic friction between the main surface of the support material constituting the outermost surface of the workpiece processing protective sheet and sandpaper with a grit size of 1200 is 1.40 or less. The coefficient of dynamic friction is the proportional coefficient of the dynamic friction force acting in the opposite direction to the direction of movement at the contact surface when two objects are in contact and moving relative to each other. A large coefficient of dynamic friction indicates a large force attempting to stop the moving object. The sandpaper is intended as a grinding means (e.g., a grinding wheel) that grinds the main surface of the support material, and the above-mentioned coefficient of dynamic friction is an indicator of the resistance force experienced by the grinding means that grinds the main surface of the support material.
動摩擦係数が上記の範囲内であることにより、ワーク加工用保護シートの最表面が研削手段に付着することなく、当該最表面の研削が適切に行われ、研削後の最表面の平滑性が向上する。当該最表面の研削が適切に行われた後に、ワークの裏面を研削すると、ワークの裏面研削も適切に行われ、研削後のワークのTTVを小さくすることができる。特に、粘着剤層が比較的に軟らかい場合であっても、当該最表面の研削が適切に行われる。 By having the dynamic friction coefficient within the above range, the outermost surface of the workpiece processing protection sheet does not adhere to the grinding means, and grinding of the outermost surface is carried out properly, improving the smoothness of the outermost surface after grinding. If the backside of the workpiece is ground after the outermost surface has been properly ground, the backside of the workpiece is also ground properly, making it possible to reduce the total thickness variation (TTV) of the workpiece after grinding. In particular, grinding of the outermost surface is carried out properly even when the adhesive layer is relatively soft.
上記の動摩擦係数は1.38以下であることが好ましく、1.35以下であることがより好ましく、1.30以下であることがさらに好ましい。また、上記の動摩擦係数は、研削ホイールによる研削を可能とする観点から、0.1以上であることが好ましい。 The above-mentioned dynamic friction coefficient is preferably 1.38 or less, more preferably 1.35 or less, and even more preferably 1.30 or less. Furthermore, from the viewpoint of enabling grinding with a grinding wheel, the above-mentioned dynamic friction coefficient is preferably 0.1 or more.
上記の動摩擦係数は公知の方法により測定することができる。たとえば、JIS K 7125に準じて測定される。すなわち、JIS K 7125に規定されている測定方法と同様に測定するが、測定条件が異なっていてもよい。具体的な測定方法は実施例において説明する。 The above-mentioned dynamic friction coefficient can be measured by known methods. For example, it can be measured in accordance with JIS K 7125. That is, it is measured in the same manner as the measurement method specified in JIS K 7125, but the measurement conditions may be different. Specific measurement methods are explained in the examples.
(1.3.引張破断応力)
本実施形態では、支持材の引張破断応力が250MPa以下である。引張破断応力は、試料を引っ張り続けて、試料が破断した時の応力である。引張破断応力は、支持材が研削されやすいかどうかを示す指標である。
(1.3. Tensile Breaking Stress)
In this embodiment, the support material has a tensile breaking stress of 250 MPa or less. The tensile breaking stress is the stress at which the sample breaks when it is continuously pulled. The tensile breaking stress is an index showing whether the support material is susceptible to grinding.
引張破断応力が上記の範囲内であることにより、ワーク加工用保護シートの最表面が研削されやすく、当該最表面の研削が適切に行われ、研削後の最表面の平滑性が向上する。当該最表面の研削が適切に行われた後に、ワークの裏面を研削すると、ワークの裏面研削も適切に行われ、研削後のワークのTTVを小さくすることができる。特に、粘着剤層が比較的に軟らかい場合であっても、当該最表面の研削が適切に行われる。 When the tensile breaking stress is within the above range, the outermost surface of the workpiece processing protection sheet is easily ground, the grinding of the outermost surface is carried out appropriately, and the smoothness of the outermost surface after grinding is improved. If the backside of the workpiece is ground after the outermost surface has been properly ground, the backside of the workpiece is also properly ground, and the TTV of the workpiece after grinding can be reduced. In particular, the outermost surface is properly ground even when the adhesive layer is relatively soft.
なお、後述するように、支持材が2層以上から構成される場合、上記の引張破断応力は、ワーク加工用保護シートの最表面を構成する層の引張破断応力である。 As described below, if the support material is composed of two or more layers, the above tensile breaking stress is the tensile breaking stress of the layer that constitutes the outermost surface of the workpiece processing protection sheet.
上記の引張破断応力は240MPa以下であることが好ましく、230MPa以下であることがより好ましい。また、上記の引張破断応力は、製造時の破断を防ぐ観点から、1MPa以上であることが好ましい。 The above tensile breaking stress is preferably 240 MPa or less, and more preferably 230 MPa or less. Furthermore, from the perspective of preventing breakage during manufacturing, the above tensile breaking stress is preferably 1 MPa or more.
上記の引張破断応力は公知の方法により測定することができる。たとえば、JIS K 7161:1994およびJIS K 7127:1999に準じて測定される。すなわち、これらに規定されている測定方法と同様に測定するが、測定条件が異なっていてもよい。具体的な測定方法は実施例において説明する。 The above-mentioned tensile breaking stress can be measured by known methods. For example, it can be measured in accordance with JIS K 7161:1994 and JIS K 7127:1999. That is, it is measured in the same manner as the measurement methods specified in these standards, but the measurement conditions may be different. Specific measurement methods are explained in the examples.
(1.4.支持材の構成)
支持材は上記の物性を有していれば、支持材の構成は特に限定されない。以下では、支持材が1層から構成される場合と、支持材が2層以上から構成される場合について説明する。
(1.4. Configuration of Support Material)
The structure of the support material is not particularly limited as long as it has the above-mentioned physical properties. Below, a case where the support material is composed of one layer and a case where the support material is composed of two or more layers will be described.
(1.5.支持材が1層から構成される場合)
支持材が1層から構成される場合、支持材には、上記の物性を満足することに加えて、ワークの加工中に、粘着剤層およびワークを支持および保持できる材料で構成されている必要がある。したがって、支持材が1層から構成される場合、支持材は、支持材の引張破断応力が上記の範囲内であると共に、剛性が比較的高いことが好ましい。
(1.5. When the support material is composed of one layer)
When the support material is composed of a single layer, it is necessary that the support material be composed of a material that can support and hold the adhesive layer and the workpiece during processing of the workpiece in addition to satisfying the above physical properties. Therefore, when the support material is composed of a single layer, it is preferable that the tensile breaking stress of the support material is within the above range and that the rigidity of the support material is relatively high.
支持材が1層から構成される場合における支持材の材質としては、たとえば、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリイミド、ポリアミド、低密度ポリエチレン、高密度ポリエチレン、二軸延伸ポリプロピレン等が例示される。これらの中でも、ポリエチレンテレフタレートが好ましい。一方、支持材が1層から構成される場合における支持材の材質としては、ポリエチレンナフタレート、ポリカーボネート、エチレン-酢酸ビニル共重合体(EVA)、エチレン/メタクリル酸共重合体等は好ましくない。なお、上記の例示は一般的な例示であり、同じ材料であっても、製法により、上記の支持材の物性を満足することもある。 When the support material is composed of a single layer, examples of the support material include polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, polyimide, polyamide, low-density polyethylene, high-density polyethylene, and biaxially oriented polypropylene. Of these, polyethylene terephthalate is preferred. On the other hand, when the support material is composed of a single layer, materials such as polyethylene naphthalate, polycarbonate, ethylene-vinyl acetate copolymer (EVA), and ethylene/methacrylic acid copolymer are not preferred. Note that the above examples are general examples, and the same material may satisfy the physical properties of the support material described above depending on the manufacturing method.
(1.6.支持材が2層以上から構成される場合)
本実施形態では、支持材は、2層以上から構成されることが好ましい。支持材が2層以上から構成される場合、支持材が、剛性層と軟質層とを有することが好ましい。この場合、軟質層の主面が、ワーク加工用保護シート1の最表面を構成していることが好ましい。たとえば、図1Bに示すように、支持材10は、剛性層11と軟質層12とから構成されており、軟質層12の主面12bが、ワーク加工用保護シート1の最表面を構成している。また、図1Cに示すように、支持材10は、剛性層11と第1の軟質層12と第2の軟質層13とから構成されており、第1の軟質層12の主面12bが、ワーク加工用保護シート1の最表面を構成している。
(1.6. When the support material is composed of two or more layers)
In this embodiment, the support material preferably comprises two or more layers. When the support material comprises two or more layers, it preferably has a rigid layer and a soft layer. In this case, it is preferable that the main surface of the soft layer constitutes the outermost surface of the workpiece processing protective sheet 1. For example, as shown in FIG. 1B, the support material 10 comprises a rigid layer 11 and a soft layer 12, and the main surface 12b of the soft layer 12 constitutes the outermost surface of the workpiece processing protective sheet 1. Also, as shown in FIG. 1C, the support material 10 comprises a rigid layer 11, a first soft layer 12, and a second soft layer 13, and the main surface 12b of the first soft layer 12 constitutes the outermost surface of the workpiece processing protective sheet 1.
(1.6.1.剛性層)
剛性層は、支持材の剛性を担う層であり、粘着剤層およびワークを支持できる材料で構成されていれば制限されない。たとえば、バックグラインドテープの基材として使用されている各種の樹脂フィルムが例示される。このような樹脂フィルムを用いることにより、研削によりワークの厚みが薄くなっても破損することなくワークを保持できる。剛性層は、1つの樹脂フィルムからなる単層フィルムから構成されていてもよいし、複数の樹脂フィルムが積層された複層フィルムから構成されていてもよい。
(1.6.1. Rigid layer)
The rigid layer is a layer that provides the rigidity of the support material and is not limited as long as it is made of a material that can support the adhesive layer and the workpiece. For example, various resin films used as the substrate of backgrinding tape are exemplified. By using such a resin film, the workpiece can be held without being damaged even if the thickness of the workpiece is reduced by grinding. The rigid layer may be made of a single-layer film made of one resin film, or may be made of a multi-layer film made of multiple resin films laminated together.
本実施形態では、剛性層の材質としては、たとえば、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリブチレンテレフタレート、全芳香族ポリエステル等のポリエステル、ポリアミド、ポリカーボネート、ポリアセタール、変性ポリフェニレンオキシド、ポリフェニレンスルフィド、ポリスルホン、ポリエーテルケトン、二軸延伸ポリプロピレン等が挙げられる。これらの中でも、ポリエステルが好ましく、ポリエチレンテレフタレートがより好ましい。 In this embodiment, examples of materials for the rigid layer include polyesters such as polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, polybutylene terephthalate, wholly aromatic polyesters, polyamides, polycarbonates, polyacetals, modified polyphenylene oxides, polyphenylene sulfides, polysulfones, polyether ketones, and biaxially oriented polypropylenes. Among these, polyesters are preferred, and polyethylene terephthalate is more preferred.
剛性層の厚さは特に限定されないが、ワーク加工用保護シートの剛性に影響するため、剛性層の材質に応じて設定すればよい。本実施形態では、剛性層の厚さは、10μm以上200μm以下であることが好ましく、15μm以上150μm以下であることがより好ましく、20μm以上130μm以下であることがさらに好ましい。 The thickness of the rigid layer is not particularly limited, but since it affects the rigidity of the workpiece processing protection sheet, it should be set according to the material of the rigid layer. In this embodiment, the thickness of the rigid layer is preferably 10 μm or more and 200 μm or less, more preferably 15 μm or more and 150 μm or less, and even more preferably 20 μm or more and 130 μm or less.
剛性層の少なくとも一方の主面には、主面上に形成される層との密着性を向上させるために、コロナ処理等の接着処理を施してもよい。また、剛性層の少なくとも一方の主面には、当該主面上に形成される層(たとえば、軟質層)との密着性を向上させるために、易接着層が形成されていてもよい。 At least one of the main surfaces of the rigid layer may be subjected to an adhesion treatment such as corona treatment to improve adhesion with a layer formed on that main surface. Furthermore, at least one of the main surfaces of the rigid layer may have an easy-adhesion layer formed thereon to improve adhesion with a layer (e.g., a soft layer) formed on that main surface.
(1.6.2.軟質層)
軟質層は、剛性層よりも軟質の材料から構成される。本実施形態では、軟質層は、支持材において、ワーク加工用保護シートの最表面を構成する層であることが好ましい。すなわち、ワーク加工用保護シートがワーク表面に貼付された後、ワークの裏面研削が行われる前に、軟質層が研削される。比較的に軟質な材料は、比較的に硬質な材料よりも、上記の支持材の物性を満足しやすいからである。
(1.6.2. Soft layer)
The soft layer is made of a material softer than the rigid layer. In this embodiment, the soft layer is preferably the layer that forms the outermost surface of the workpiece processing protective sheet on the support material. That is, after the workpiece processing protective sheet is attached to the surface of the workpiece, the soft layer is ground before the backside of the workpiece is ground. This is because a relatively soft material is more likely to satisfy the physical properties of the support material than a relatively hard material.
(1.6.3 軟質層の材質)
本実施形態では、軟質層は、軟質な樹脂フィルムから構成されていてもよいし、エネルギー線硬化性化合物を含む軟質層用組成物を用いて形成してもよい。
(1.6.3 Soft Layer Material)
In this embodiment, the soft layer may be made of a soft resin film, or may be formed using a soft layer composition containing an energy ray-curable compound.
軟質な樹脂フィルムとしては、たとえば、低密度ポリエチレン(LDPE)、高密度ポリエチレン(HDPE)、リニア低密度ポリエチレン(LLDPE)、二軸延伸ポリプロピレン、ポリウレタンアクリレート等の樹脂フィルム等が例示される。これらの中でも、低密度ポリエチレン(LDPE)、リニア低密度ポリエチレン(LLDPE)、ポリウレタンアクリレート等の樹脂フィルム等が好ましい。一方、軟質な樹脂フィルムとしては、エチレン-酢酸ビニル共重合体(EVA)、エチレン-(メタ)アクリル酸共重合体、塩化ビニル等は好ましくない。なお、上記の例示は一般的な例示であり、同じ材料であっても、製法により、上記の支持材の物性を満足することもある。 Examples of soft resin films include low-density polyethylene (LDPE), high-density polyethylene (HDPE), linear low-density polyethylene (LLDPE), biaxially oriented polypropylene, polyurethane acrylate, and other resin films. Among these, low-density polyethylene (LDPE), linear low-density polyethylene (LLDPE), polyurethane acrylate, and other resin films are preferred. On the other hand, ethylene-vinyl acetate copolymer (EVA), ethylene-(meth)acrylic acid copolymer, vinyl chloride, and other soft resin films are not preferred. Note that the above examples are general examples, and the same material may satisfy the physical properties of the support material described above depending on the manufacturing method.
(1.6.4.軟質層用組成物)
本実施形態では、軟質層用組成物は、ウレタン(メタ)アクリレート(d1)と、環形成原子数6~20の脂環基又は複素環基を有する重合性化合物(d2)および/または多官能重合性化合物(d3)と、を含むことが好ましい。また、軟質層用組成物は、上記(d1)から(d3)成分に加えて、官能基を有する重合性化合物(d4)を含有してもよい。また、軟質層用組成物は、上記の成分に加えて、光重合開始剤を含有してもよい。さらに、軟質層用組成物は、上述した効果を損なわない範囲において、その他の添加剤や樹脂成分を含有してもよい。
(1.6.4. Composition for soft layer)
In this embodiment, the soft layer composition preferably contains a urethane (meth)acrylate (d1) and a polymerizable compound (d2) having an alicyclic group or heterocyclic group having 6 to 20 ring atoms and/or a polyfunctional polymerizable compound (d3). The soft layer composition may contain a polymerizable compound (d4) having a functional group in addition to the components (d1) to (d3). The soft layer composition may also contain a photopolymerization initiator in addition to the above components. Furthermore, the soft layer composition may contain other additives and resin components within a range that does not impair the above-described effects.
以下、エネルギー線硬化性化合物を含む軟質層用組成物中に含まれる各成分について詳細に説明する。 The following describes in detail each component contained in the energy ray-curable compound-containing soft layer composition.
(1.6.4.1 ウレタン(メタ)アクリレート(d1))
ウレタン(メタ)アクリレート(d1)とは、少なくとも(メタ)アクリロイル基及びウレタン結合を有する化合物であり、エネルギー線照射により重合硬化する性質を有するものである。ウレタン(メタ)アクリレート(d1)は、オリゴマーまたはポリマーである。
(1.6.4.1 Urethane (meth)acrylate (d1))
The urethane (meth)acrylate (d1) is a compound having at least a (meth)acryloyl group and a urethane bond, and has the property of being polymerized and cured by irradiation with energy rays. The urethane (meth)acrylate (d1) is an oligomer or a polymer.
成分(d1)の重量平均分子量(Mw)は、好ましくは1,000~100,000、より好ましくは2,000~60,000、さらに好ましくは3,000~20,000である。また、成分(d1)中の(メタ)アクリロイル基数(以下、「官能基数」ともいう)としては、単官能、2官能、もしくは3官能以上でもよいが、単官能又は2官能であることが好ましい。 The weight-average molecular weight (Mw) of component (d1) is preferably 1,000 to 100,000, more preferably 2,000 to 60,000, and even more preferably 3,000 to 20,000. Furthermore, the number of (meth)acryloyl groups (hereinafter also referred to as "functionality") in component (d1) may be monofunctional, bifunctional, or trifunctional or higher, but is preferably monofunctional or bifunctional.
成分(d1)は、例えば、ポリオール化合物と、多価イソシアネート化合物とを反応させて得られる末端イソシアネートウレタンプレポリマーに、ヒドロキシル基を有する(メタ)アクリレートを反応させて得ることができる。なお、成分(d1)は、単独で又は2種以上を組み合わせて用いてもよい。 Component (d1) can be obtained, for example, by reacting a polyol compound with a polyisocyanate compound to produce an isocyanate-terminated urethane prepolymer, followed by a (meth)acrylate having a hydroxyl group. Component (d1) may be used alone or in combination of two or more types.
軟質層用組成物中の成分(d1)の含有量は、軟質層用組成物100質量部に対して、好ましくは10~70質量部、より好ましくは20~60質量部、さらに好ましくは25~55質量部である。 The content of component (d1) in the soft layer composition is preferably 10 to 70 parts by mass, more preferably 20 to 60 parts by mass, and even more preferably 25 to 55 parts by mass, per 100 parts by mass of the soft layer composition.
(1.6.4.2.環形成原子数6~20の脂環基又は複素環基を有する重合性化合物(d2))
成分(d2)は、環形成原子数6~20の脂環基又は複素環基を有する重合性化合物であり、さらには、少なくとも1つの(メタ)アクリロイル基を有する化合物であることが好ましく、より好ましくは1つの(メタ)アクリロイル基を有する化合物である。成分(d2)を用いることで、得られる軟質層用組成物の成膜性を向上させることができる。
(1.6.4.2. Polymerizable Compound (d2) Having an Alicyclic Group or Heterocyclic Group with 6 to 20 Ring Atoms)
Component (d2) is a polymerizable compound having an alicyclic group or heterocyclic group containing 6 to 20 ring atoms, and is preferably a compound having at least one (meth)acryloyl group, more preferably a compound having one (meth)acryloyl group. Use of component (d2) can improve the film-forming properties of the resulting soft layer composition.
なお、成分(d2)の定義と、後述する成分(d3)や成分(d4)の定義とは重複する部分があるが、重複部分は成分(d3)または成分(d4)に含まれる。例えば、少なくとも1つの(メタ)アクリロイル基と、環形成原子数6~20の脂環基又は複素環基と、水酸基、エポキシ基、アミド基、アミノ基等の官能基とを有する化合物は、成分(d2)と成分(d4)の両方の定義に含まれるが、本実施形態において当該化合物は、成分(d4)に含まれるものとする。 Note that while the definition of component (d2) overlaps with the definitions of components (d3) and (d4) described below, the overlapping portions are included in component (d3) or component (d4). For example, a compound having at least one (meth)acryloyl group, an alicyclic or heterocyclic group having 6 to 20 ring atoms, and a functional group such as a hydroxyl group, an epoxy group, an amide group, or an amino group is included in the definitions of both component (d2) and component (d4), and in this embodiment, such a compound is considered to be included in component (d4).
具体的な成分(d2)としては、例えば、イソボルニル(メタ)アクリレート等の脂環基含有(メタ)アクリレート;テトラヒドロフルフリル(メタ)アクリレート等の複素環基含有(メタ)アクリレート;等が挙げられる。なお、成分(d2)は、単独で又は2種以上を組み合わせて用いてもよい。 Specific examples of component (d2) include alicyclic group-containing (meth)acrylates such as isobornyl (meth)acrylate; heterocyclic group-containing (meth)acrylates such as tetrahydrofurfuryl (meth)acrylate; and the like. Component (d2) may be used alone or in combination of two or more types.
軟質層用組成物中の成分(d2)の含有量は、軟質層用組成物100質量部に対して、好ましくは10~70質量部、より好ましくは20~60質量部、さらに好ましくは25~55質量部である。 The content of component (d2) in the soft layer composition is preferably 10 to 70 parts by mass, more preferably 20 to 60 parts by mass, and even more preferably 25 to 55 parts by mass, per 100 parts by mass of the soft layer composition.
(1.6.4.3.多官能重合性化合物(d3))
多官能重合性化合物とは、エネルギー線硬化性基を2つ以上有する化合物をいう。エネルギー線硬化性基は、炭素-炭素二重結合を含む官能基であり、例えば、(メタ)アクリロイル基、ビニル基、アリル基、ビニルベンジル基等が挙げられる。エネルギー線硬化性基は2種以上を組み合わせてもよい。多官能重合性化合物中のエネルギー線硬化性基と成分(d1)中の(メタ)アクリロイル基とが反応したり、成分(d3)中のエネルギー線硬化性基同士が反応することで、三次元網目構造(架橋構造)が形成される。多官能重合性化合物を使用すると、エネルギー線硬化性基を1つしか含まない化合物を使用した場合と比較して、エネルギー線照射により形成される架橋構造が増加するため、軟質層が特異な粘弾性を示し、最表面の動摩擦係数および引張破断応力が適切な状態になりやすくなる。
(1.6.4.3. Polyfunctional polymerizable compound (d3))
The term "polyfunctional polymerizable compound" refers to a compound having two or more energy ray-curable groups. The energy ray-curable group is a functional group containing a carbon-carbon double bond, such as a (meth)acryloyl group, a vinyl group, an allyl group, or a vinylbenzyl group. Two or more types of energy ray-curable groups may be used in combination. A three-dimensional network structure (crosslinked structure) is formed by a reaction between an energy ray-curable group in the polyfunctional polymerizable compound and a (meth)acryloyl group in component (d1), or by a reaction between energy ray-curable groups in component (d3). When a polyfunctional polymerizable compound is used, the number of crosslinked structures formed by energy ray irradiation increases compared to when a compound containing only one energy ray-curable group is used. This results in the soft layer exhibiting unique viscoelasticity, making it easier for the outermost surface to have an appropriate dynamic friction coefficient and tensile break stress.
なお、成分(d3)の定義と、後述する成分(d4)の定義とは重複する部分があるが、重複部分は成分(d3)に含まれる。例えば、水酸基、エポキシ基、アミド基、アミノ基等の官能基を含有し、(メタ)アクリロイル基を2つ以上有する化合物は、成分(d3)と成分(d4)の両方の定義に含まれるが、本実施形態において当該化合物は、成分(d3)に含まれるものとする。 Note that while there is some overlap between the definition of component (d3) and the definition of component (d4) described below, the overlapping portions are included in component (d3). For example, a compound containing a functional group such as a hydroxyl group, epoxy group, amide group, or amino group and having two or more (meth)acryloyl groups is included in the definitions of both component (d3) and component (d4), and in this embodiment, such a compound is considered to be included in component (d3).
上記観点から、多官能重合性化合物中におけるエネルギー線硬化性基の数(官能基数)は、2~10が好ましく、3~6がより好ましい。 From the above perspective, the number of energy ray-curable groups (number of functional groups) in the polyfunctional polymerizable compound is preferably 2 to 10, and more preferably 3 to 6.
また、成分(d3)の重量平均分子量は、好ましくは30~40000、より好ましくは100~10000、さらに好ましくは200~1000である。 Furthermore, the weight average molecular weight of component (d3) is preferably 30 to 40,000, more preferably 100 to 10,000, and even more preferably 200 to 1,000.
具体的な成分(d3)としては、例えば、ジエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、テトラエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、1,6-ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、ジビニルベンゼン、(メタ)アクリル酸ビニル、アジピン酸ジビニル、N,N’-メチレンビス(メタ)アクリルアミド等が挙げられる。これらの中でも、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレートが好ましい。なお、成分(d3)は、単独で又は2種以上を組み合わせて用いてもよい。 Specific examples of component (d3) include diethylene glycol di(meth)acrylate, ethylene glycol di(meth)acrylate, tetraethylene glycol di(meth)acrylate, neopentyl glycol di(meth)acrylate, 1,6-hexanediol di(meth)acrylate, trimethylolpropane tri(meth)acrylate, pentaerythritol tri(meth)acrylate, pentaerythritol tetra(meth)acrylate, dipentaerythritol hexa(meth)acrylate, divinylbenzene, vinyl (meth)acrylate, divinyl adipate, and N,N'-methylenebis(meth)acrylamide. Among these, neopentyl glycol di(meth)acrylate and dipentaerythritol hexa(meth)acrylate are preferred. Component (d3) may be used alone or in combination of two or more.
軟質層用組成物中の成分(d3)の含有量は、軟質層用組成物100質量部に対して、好ましくは2~40質量部、より好ましくは3~20質量部、さらに好ましくは5~15質量部である。 The content of component (d3) in the soft layer composition is preferably 2 to 40 parts by mass, more preferably 3 to 20 parts by mass, and even more preferably 5 to 15 parts by mass, per 100 parts by mass of the soft layer composition.
(1.6.4.4 官能基を有する重合性化合物(d4))
成分(d4)は、水酸基、エポキシ基、アミド基、アミノ基等の官能基を含有する重合性化合物であり、さらには、少なくとも1つの(メタ)アクリロイル基を有する化合物であることが好ましく、より好ましくは1つの(メタ)アクリロイル基を有する化合物である。
(1.6.4.4 Polymerizable compound (d4) having a functional group)
Component (d4) is a polymerizable compound containing a functional group such as a hydroxyl group, an epoxy group, an amide group, or an amino group, and is preferably a compound having at least one (meth)acryloyl group, more preferably a compound having one (meth)acryloyl group.
成分(d4)は、成分(d1)との相溶性が良好であり、軟質層用組成物の粘度を適度な範囲に調整しやすくなる。また、軟質層を比較的薄くしても緩衝性能が良好になる。 Component (d4) has good compatibility with component (d1), making it easier to adjust the viscosity of the soft layer composition within an appropriate range. Furthermore, good cushioning performance is achieved even when the soft layer is relatively thin.
成分(d4)としては、例えば、水酸基含有(メタ)アクリレート、エポキシ基含有化合物、アミド基含有化合物、アミノ基含有(メタ)アクリレート等が挙げられる。これらの中でも、水酸基含有(メタ)アクリレートが好ましい。 Examples of component (d4) include hydroxyl group-containing (meth)acrylates, epoxy group-containing compounds, amide group-containing compounds, and amino group-containing (meth)acrylates. Of these, hydroxyl group-containing (meth)acrylates are preferred.
軟質層用組成物中の成分(d4)の含有量は、軟質層用組成物の成膜性を向上させるために、軟質層用組成物100質量部に対して、好ましくは5~40質量部、より好ましくは7~35質量部、さらに好ましくは10~30質量部である。 In order to improve the film-forming properties of the soft layer composition, the content of component (d4) in the soft layer composition is preferably 5 to 40 parts by mass, more preferably 7 to 35 parts by mass, and even more preferably 10 to 30 parts by mass per 100 parts by mass of the soft layer composition.
(1.6.4.5 成分(d1)~(d4)以外の重合性化合物(d5))
軟質層形成用組成物には、上述したの効果を損なわない範囲において、上記の成分(d1)~(d4)以外のその他の重合性化合物(d5)を含有してもよい。
(1.6.4.5 Polymerizable compound (d5) other than components (d1) to (d4))
The soft layer-forming composition may contain a polymerizable compound (d5) other than the above components (d1) to (d4) as long as the above-mentioned effects are not impaired.
成分(d5)としては、例えば、炭素数1~20のアルキル基を有するアルキル(メタ)アクリレート;ビニル化合物等が挙げられる。 Examples of component (d5) include alkyl (meth)acrylates having an alkyl group with 1 to 20 carbon atoms; vinyl compounds, etc.
軟質層用組成物中の成分(d5)の含有量は、軟質層用組成物100質量部に対して、好ましくは0~20質量部、より好ましくは0~10質量部、さらに好ましくは0~5質量部である。 The content of component (d5) in the soft layer composition is preferably 0 to 20 parts by mass, more preferably 0 to 10 parts by mass, and even more preferably 0 to 5 parts by mass, per 100 parts by mass of the soft layer composition.
(1.6.4.6 光重合開始剤)
軟質層用組成物には、軟質層を形成する際、光照射による重合時間を短縮させ、また、光照射量を低減させる観点から、さらに光重合開始剤を含有することが好ましい。
1.6.4.6 Photoinitiators
The composition for the soft layer preferably further contains a photopolymerization initiator from the viewpoint of shortening the polymerization time by light irradiation and reducing the amount of light irradiation when forming the soft layer.
光重合開始剤としては、例えば、ベンゾイン化合物、アセトフェノン化合物、アシルフォスフィノキサイド化合物、チタノセン化合物、チオキサントン化合物、パーオキサイド化合物、さらには、アミンやキノン等の光増感剤等が挙げられる。より具体的には、例えば、1-ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、2-ヒドロキシ-2-メチル-1-フェニル-プロパン-1-オン等が挙げられる。これらの光重合開始剤は、単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。 Examples of photopolymerization initiators include benzoin compounds, acetophenone compounds, acylphosphinoxide compounds, titanocene compounds, thioxanthone compounds, peroxide compounds, and photosensitizers such as amines and quinones. More specific examples include 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone and 2-hydroxy-2-methyl-1-phenyl-propan-1-one. These photopolymerization initiators can be used alone or in combination of two or more.
軟質層用組成物中の光重合開始剤の含有量は、エネルギー線硬化性化合物の合計量100質量部に対して、好ましくは0.05~15質量部、より好ましくは0.1~10質量部、さらに好ましくは0.3~5質量部である。 The content of the photopolymerization initiator in the soft layer composition is preferably 0.05 to 15 parts by mass, more preferably 0.1 to 10 parts by mass, and even more preferably 0.3 to 5 parts by mass, per 100 parts by mass of the total amount of the energy ray-curable compounds.
(1.6.4.7 その他の添加剤)
軟質層用組成物には、上述した効果を損なわない範囲において、その他の添加剤を含有してもよい。その他の添加剤としては、例えば、帯電防止剤、酸化防止剤、軟化剤(可塑剤)、充填剤、防錆剤、顔料、染料等が挙げられる。これらの添加剤を配合する場合、軟質層用組成物中の各添加剤の含有量は、エネルギー線硬化性化合物の合計量100質量部に対して、好ましくは0.01~6質量部、より好ましくは0.1~3質量部である。
1.6.4.7 Other Additives
The soft layer composition may contain other additives as long as the above-described effects are not impaired. Examples of other additives include antistatic agents, antioxidants, softeners (plasticizers), fillers, rust inhibitors, pigments, dyes, etc. When these additives are blended, the content of each additive in the soft layer composition is preferably 0.01 to 6 parts by mass, more preferably 0.1 to 3 parts by mass, per 100 parts by mass of the total amount of the energy ray-curable compounds.
エネルギー線硬化性化合物を含む軟質層用組成物から形成される軟質層は、上記組成の軟質層用組成物をエネルギー線照射により重合硬化して得られる。つまり、当該軟質層は、軟質層用組成物を硬化した物である。 A soft layer formed from a soft layer composition containing an energy ray-curable compound is obtained by polymerizing and curing the soft layer composition having the above-described composition by irradiating it with energy rays. In other words, the soft layer is a product obtained by curing the soft layer composition.
軟質材の厚さは特に限定されないが、5μm以上100μm以下であることが好ましく、10μm以上90μm以下であることがより好ましく、15μm以上80μm以下であることがさらに好ましい。 The thickness of the soft material is not particularly limited, but is preferably 5 μm or more and 100 μm or less, more preferably 10 μm or more and 90 μm or less, and even more preferably 15 μm or more and 80 μm or less.
(2.粘着剤層)
粘着剤層は、ワークの表面(すなわち回路、電極等が形成された面)に貼付され、表面から剥離されるまで、表面を保護し、ワークを支持する。粘着剤層は1層(単層)から構成されていてもよいし、2層以上の複数層から構成されていてもよい。粘着剤層が複数層を有する場合、これら複数層は、互いに同一でも異なっていてもよく、これら複数層を構成する層の組み合わせは特に制限されない。
(2. Pressure-sensitive adhesive layer)
The adhesive layer is attached to the surface of the workpiece (i.e., the surface on which circuits, electrodes, etc. are formed) and protects the surface and supports the workpiece until it is peeled off from the surface. The adhesive layer may be composed of one layer (single layer), or may be composed of two or more layers. When the adhesive layer has multiple layers, these multiple layers may be the same or different from each other, and the combination of layers constituting these multiple layers is not particularly limited.
本実施形態では、粘着剤層は常温において適度な感圧接着性を有する限り特に限定はされず、また単層であっても複層であってもよい。粘着剤層の厚さは特に限定されないが、5μm以上200μm以下であることが好ましく、10μm以上190μm以下であることがより好ましい。 In this embodiment, the adhesive layer is not particularly limited as long as it has appropriate pressure-sensitive adhesive properties at room temperature, and may be a single layer or multiple layers. The thickness of the adhesive layer is not particularly limited, but is preferably 5 μm or more and 200 μm or less, and more preferably 10 μm or more and 190 μm or less.
なお、粘着剤層の厚さは、粘着剤層全体の厚さを意味する。たとえば、複数層から構成される粘着剤層の厚さは、粘着剤層を構成するすべての層の合計の厚さを意味する。 The thickness of an adhesive layer refers to the thickness of the entire adhesive layer. For example, the thickness of an adhesive layer composed of multiple layers refers to the total thickness of all layers that make up the adhesive layer.
粘着剤層の組成は、ワークの表面を保護できる程度の粘着性を有していれば限定されない。本実施形態では、粘着剤層は、たとえば、アクリル系粘着剤、ウレタン系粘着剤、ゴム系粘着剤、シリコーン系粘着剤等から構成されることが好ましい。 The composition of the adhesive layer is not limited as long as it has enough adhesiveness to protect the surface of the workpiece. In this embodiment, the adhesive layer is preferably composed of, for example, an acrylic adhesive, a urethane adhesive, a rubber adhesive, a silicone adhesive, or the like.
また、粘着剤層は、エネルギー線硬化性粘着剤から形成されることが好ましい。ワーク加工用保護シートの粘着剤層がエネルギー線硬化性粘着剤から形成されることにより、ワークに貼付する際には高い粘着力でワークに貼り付き、ワークから剥離される際には、エネルギー線を照射することで粘着力を低下させることができる。そのため、ワークの回路等を適切に保護しつつ、ワーク加工用保護シートを剥離する際、ワーク表面の回路、電極等の破壊、ワーク上への粘着剤の付着が防止される。すなわち、粘着剤層がエネルギー線硬化性であることにより、ワーク加工用保護シートの剥離性が良好となる。 The adhesive layer is preferably formed from an energy ray-curable adhesive. By forming the adhesive layer of the workpiece processing protective sheet from an energy ray-curable adhesive, the sheet adheres to the workpiece with high adhesive strength when attached to the workpiece, and the adhesive strength can be reduced by irradiating it with energy rays when peeling it off from the workpiece. Therefore, while adequately protecting the workpiece's circuits, etc., damage to the circuits, electrodes, etc. on the workpiece surface and adhesion of the adhesive to the workpiece are prevented when the workpiece processing protective sheet is peeled off. In other words, the energy ray-curable adhesive layer improves the peelability of the workpiece processing protective sheet.
本実施形態では、エネルギー線硬化性粘着剤は、アクリル系粘着剤を含む粘着剤組成物から構成されることが好ましい。アクリル系粘着剤は、アクリル系重合体を含有する。 In this embodiment, the energy ray-curable adhesive is preferably composed of an adhesive composition containing an acrylic adhesive. The acrylic adhesive contains an acrylic polymer.
アクリル系重合体としては、公知のアクリル系重合体であればよいが、本実施形態では、官能基含有アクリル系重合体が好ましい。官能基含有アクリル系重合体は、1種類のアクリル系モノマーから形成された単独重合体であってもよいし、複数種類のアクリル系モノマーから形成された共重合体であってもよいし、1種類または複数種類のアクリル系モノマーとアクリル系モノマー以外のモノマーとから形成された共重合体であってもよい。 The acrylic polymer may be any known acrylic polymer, but in this embodiment, a functional group-containing acrylic polymer is preferred. The functional group-containing acrylic polymer may be a homopolymer formed from one type of acrylic monomer, a copolymer formed from multiple types of acrylic monomers, or a copolymer formed from one or more types of acrylic monomers and a monomer other than an acrylic monomer.
本実施形態では、官能基含有アクリル系重合体は、アルキル(メタ)アクリレートと官能基含有モノマーとを共重合したアクリル系共重合体であることが好ましい。 In this embodiment, the functional group-containing acrylic polymer is preferably an acrylic copolymer obtained by copolymerizing an alkyl (meth)acrylate and a functional group-containing monomer.
アルキル(メタ)アクリレートとしては、メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、n-プロピル(メタ)アクリレート、イソプロピル(メタ)アクリレート、n-ブチル(メタ)アクリレート、イソブチル(メタ)アクリレート、t-ブチル(メタ)アクリレート、n-ペンチル(メタ)アクリレート、n-ヘキシル(メタ)アクリレート、2-エチルヘキシル(メタ)アクリレート、イソオクチル(メタ)アクリレート、n-オクチル(メタ)アクリレート等が挙げられる。 Examples of alkyl (meth)acrylates include methyl (meth)acrylate, ethyl (meth)acrylate, n-propyl (meth)acrylate, isopropyl (meth)acrylate, n-butyl (meth)acrylate, isobutyl (meth)acrylate, t-butyl (meth)acrylate, n-pentyl (meth)acrylate, n-hexyl (meth)acrylate, 2-ethylhexyl (meth)acrylate, isooctyl (meth)acrylate, and n-octyl (meth)acrylate.
官能基含有モノマーは、反応性官能基を含有するモノマーである。反応性官能基は、後述する架橋剤等の他の化合物と反応することが可能な官能基である。官能基含有モノマー中の官能基としては、たとえば、水酸基、カルボキシ基、エポキシ基が挙げられ、水酸基が好ましい。 The functional group-containing monomer is a monomer that contains a reactive functional group. The reactive functional group is a functional group that can react with other compounds, such as the crosslinking agent described below. Examples of functional groups in the functional group-containing monomer include a hydroxyl group, a carboxyl group, and an epoxy group, with a hydroxyl group being preferred.
水酸基含有モノマーとしては、たとえば、(メタ)アクリル酸ヒドロキシメチル、(メタ)アクリル酸2-ヒドロキシエチル、(メタ)アクリル酸2-ヒドロキシプロピル、(メタ)アクリル酸3-ヒドロキシプロピル、(メタ)アクリル酸2-ヒドロキシブチル、(メタ)アクリル酸3-ヒドロキシブチル、(メタ)アクリル酸4-ヒドロキシブチル等の(メタ)アクリル酸ヒドロキシアルキル;ビニルアルコール、アリルアルコール等の非(メタ)アクリル系不飽和アルコール((メタ)アクリロイル骨格を有しない不飽和アルコール)が挙げられる。 Examples of hydroxyl group-containing monomers include hydroxyalkyl (meth)acrylates such as hydroxymethyl (meth)acrylate, 2-hydroxyethyl (meth)acrylate, 2-hydroxypropyl (meth)acrylate, 3-hydroxypropyl (meth)acrylate, 2-hydroxybutyl (meth)acrylate, 3-hydroxybutyl (meth)acrylate, and 4-hydroxybutyl (meth)acrylate; and non-(meth)acrylic unsaturated alcohols (unsaturated alcohols without a (meth)acryloyl skeleton) such as vinyl alcohol and allyl alcohol.
アクリル系重合体は、さらに、エネルギー線硬化性基を有するエネルギー線硬化性物質が、アクリル系重合体が有する官能基と反応(例えば付加反応)して得た、エネルギー線硬化性基を有するエネルギー線硬化性のアクリル系重合体であることが好ましい。エネルギー線硬化性基を有するエネルギー線硬化性物質としては、エネルギー線硬化性基の他に、イソシアネート基、エポキシ基及びカルボキシ基から選ばれる1種または2種以上を有する化合物が好ましく、イソシアネート基を有する化合物がより好ましい。前記イソシアネート基は、官能基含有アクリル系重合体の水酸基に付加反応させることができる。 The acrylic polymer is preferably an energy ray-curable acrylic polymer having an energy ray-curable group, obtained by reacting (e.g., by addition reaction) an energy ray-curable substance having an energy ray-curable group with a functional group possessed by the acrylic polymer. The energy ray-curable substance having an energy ray-curable group is preferably a compound having, in addition to the energy ray-curable group, one or more groups selected from an isocyanate group, an epoxy group, and a carboxy group, and more preferably a compound having an isocyanate group. The isocyanate group can undergo an addition reaction with a hydroxyl group of the functional group-containing acrylic polymer.
イソシアネート基を有する化合物としては、たとえば、2-メタクリロイルオキシエチルイソシアネート、メタ-イソプロペニル-α,α-ジメチルベンジルイソシアネート、メタクリロイルイソシアネート、アリルイソシアネート、1,1-(ビスアクリロイルオキシメチル)エチルイソシアネート;ジイソシアネート化合物又はポリイソシアネート化合物と、ヒドロキシエチル(メタ)アクリレートとの反応により得られるアクリロイルモノイソシアネート化合物;ジイソシアネート化合物又はポリイソシアネート化合物と、ポリオール化合物と、ヒドロキシエチル(メタ)アクリレートとの反応により得られるアクリロイルモノイソシアネート化合物等が挙げられる。 Examples of compounds containing an isocyanate group include 2-methacryloyloxyethyl isocyanate, meta-isopropenyl-α,α-dimethylbenzyl isocyanate, methacryloyl isocyanate, allyl isocyanate, 1,1-(bisacryloyloxymethyl)ethyl isocyanate; acryloyl monoisocyanate compounds obtained by reacting a diisocyanate compound or polyisocyanate compound with hydroxyethyl (meth)acrylate; and acryloyl monoisocyanate compounds obtained by reacting a diisocyanate compound or polyisocyanate compound with a polyol compound and hydroxyethyl (meth)acrylate.
粘着剤組成物は、アクリル系重合体に加え、エネルギー線硬化性化合物を含有することが好ましい。エネルギー線硬化性化合物としては、分子内に不飽和基を有し、エネルギー線照射により重合硬化可能なモノマー又はオリゴマーが好ましい。 The pressure-sensitive adhesive composition preferably contains an energy ray-curable compound in addition to the acrylic polymer. The energy ray-curable compound is preferably a monomer or oligomer that has an unsaturated group in its molecule and can be polymerized and cured by energy ray irradiation.
このようなエネルギー線硬化性化合物としては、例えば、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトール(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、1,4-ブチレングリコールジ(メタ)アクリレート、1,6-へキサンジオール(メタ)アクリレート等の多価(メタ)アクリレートモノマー、ウレタン(メタ)アクリレート、ポリエステル(メタ)アクリレート,ポリエーテル(メタ)アクリレート、エポキシ(メタ)アクリレート等のオリゴマーが挙げられる。 Examples of such energy ray-curable compounds include polyvalent (meth)acrylate monomers such as trimethylolpropane tri(meth)acrylate, pentaerythritol (meth)acrylate, pentaerythritol tetra(meth)acrylate, dipentaerythritol hexa(meth)acrylate, 1,4-butylene glycol di(meth)acrylate, and 1,6-hexanediol (meth)acrylate, as well as oligomers such as urethane (meth)acrylate, polyester (meth)acrylate, polyether (meth)acrylate, and epoxy (meth)acrylate.
これらの中でも、ウレタン(メタ)アクリレートオリゴマーが好ましい。 Of these, urethane (meth)acrylate oligomers are preferred.
エネルギー線硬化性化合物の分子量(オリゴマーの場合は重量平均分子量)は、好ましくは100~12000、より好ましくは200~10000、さらに好ましくは400~8000、特に好ましくは600~6000である。 The molecular weight of the energy ray-curable compound (weight average molecular weight in the case of an oligomer) is preferably 100 to 12,000, more preferably 200 to 10,000, even more preferably 400 to 8,000, and particularly preferably 600 to 6,000.
粘着剤組成物におけるエネルギー線硬化性化合物の含有量は、アクリル系重合体100質量部に対して、好ましくは5~100質量部、より好ましくは10~70質量部、さらに好ましくは15~40質量部である。 The content of the energy ray-curable compound in the pressure-sensitive adhesive composition is preferably 5 to 100 parts by mass, more preferably 10 to 70 parts by mass, and even more preferably 15 to 40 parts by mass, per 100 parts by mass of the acrylic polymer.
粘着剤組成物は、さらに架橋剤を含有することが好ましい。架橋剤は、たとえば、官能基と反応して、官能基含有アクリル系重合体に含まれる樹脂同士を架橋する。 The pressure-sensitive adhesive composition preferably further contains a crosslinking agent. The crosslinking agent, for example, reacts with functional groups to crosslink resins contained in the functional group-containing acrylic polymer.
架橋剤としては、たとえば、トリレンジイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート、キシリレンジイソシアネート、これらジイソシアネートのアダクト体等のイソシアネート系架橋剤(イソシアネート基を有する架橋剤);エチレングリコールグリシジルエーテル等のエポキシ系架橋剤(グリシジル基を有する架橋剤);ヘキサ[1-(2-メチル)-アジリジニル]トリフオスファトリアジン等のアジリジン系架橋剤(アジリジニル基を有する架橋剤);アルミニウムキレート等の金属キレート系架橋剤(金属キレート構造を有する架橋剤);イソシアヌレート系架橋剤(イソシアヌル酸骨格を有する架橋剤)等が挙げられる。 Examples of crosslinking agents include isocyanate-based crosslinking agents (crosslinking agents having an isocyanate group) such as tolylene diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, xylylene diisocyanate, and adducts of these diisocyanates; epoxy-based crosslinking agents (crosslinking agents having a glycidyl group) such as ethylene glycol glycidyl ether; aziridine-based crosslinking agents (crosslinking agents having an aziridinyl group) such as hexa[1-(2-methyl)-aziridinyl]triphosphatriazine; metal chelate-based crosslinking agents (crosslinking agents having a metal chelate structure) such as aluminum chelate; and isocyanurate-based crosslinking agents (crosslinking agents having an isocyanuric acid skeleton).
粘着剤の凝集力を向上させて粘着剤層の粘着力を向上させる観点、および入手の容易性の観点から、架橋剤はイソシアネート系架橋剤であることが好ましい。 From the viewpoint of improving the cohesive strength of the adhesive and thereby improving the adhesive strength of the adhesive layer, and from the viewpoint of ease of availability, it is preferable that the crosslinking agent be an isocyanate-based crosslinking agent.
粘着剤組成物は、さらに光重合開始剤を含有していてもよい。粘着剤組成物が光重合開始剤を含有することにより、紫外線等の比較的低エネルギーのエネルギー線を照射しても、十分に硬化反応が進行する。 The pressure-sensitive adhesive composition may further contain a photopolymerization initiator. By containing a photopolymerization initiator, the curing reaction proceeds sufficiently even when irradiated with relatively low-energy energy rays such as ultraviolet light.
光重合開始剤としては、軟質層用組成物において説明した光重合開始剤が例示される。 Examples of photopolymerization initiators include the photopolymerization initiators described in the soft layer composition.
(3.ワーク加工用保護シートの製造方法)
本実施形態に係るワーク加工用保護シートを製造する方法は公知の方法であればよい。
(3. Manufacturing method of protective sheet for workpiece processing)
The method for producing the protection sheet for workpiece processing according to this embodiment may be any known method.
まず、支持材を準備する。支持材が1層から構成される場合、支持材を構成する樹脂フィルム等を準備すればよい。支持材が2層以上から構成される場合、たとえば、剛性層を構成する樹脂フィルムと、軟質層を構成する樹脂フィルムと、を積層して支持材を製造する。 First, prepare the support material. If the support material is composed of one layer, simply prepare a resin film or other material that will make up the support material. If the support material is composed of two or more layers, for example, the support material is manufactured by laminating a resin film that will make up a rigid layer and a resin film that will make up a soft layer.
樹脂フィルムと樹脂フィルムとを積層する方法としては、一方の樹脂フィルム(たとえば、剛性層を構成する樹脂フィルム)の一方の主面に形成された易接着層を介して、他方の樹脂フィルム(たとえば、軟質層を構成する樹脂フィルム)を貼り合わせて積層するドライラミネーション法が例示される。 An example of a method for laminating resin films is dry lamination, in which one resin film (e.g., a resin film constituting a rigid layer) is laminated to another resin film (e.g., a resin film constituting a flexible layer) via an easy-adhesion layer formed on one main surface of the other resin film.
ドライラミネーション法では、易接着層を備える樹脂フィルムを用いてもよいし、コロナ処理等の接着処理が施された面上に易接着層形成用組成物を塗工して易接着層を形成した樹脂フィルムを用いてもよい。 In the dry lamination method, a resin film with an easy-adhesion layer may be used, or a resin film on which an easy-adhesion layer has been formed by applying an easy-adhesion layer-forming composition to a surface that has been subjected to an adhesion treatment such as corona treatment may be used.
また、Tダイ製膜機等を使用して、軟質材を構成する樹脂を溶融・混練し、支持材を一定の速度にて移動させながら、支持材の一方の面側に、溶融した樹脂を押出してラミネートする方法が例示される。さらに、ヒートシール等により、軟質材を支持材上に直接積層する方法が例示される。 Another example is a method in which the resin that makes up the soft material is melted and kneaded using a T-die film-forming machine or the like, and the molten resin is extruded onto one side of the support material while moving the support material at a constant speed to laminate it. Another example is a method in which the soft material is directly laminated onto the support material by heat sealing or the like.
また、剛性層の一方の主面に、軟質層用組成物を用いて軟質層を形成する場合には、軟質層用組成物を、または、当該軟質層用組成物を溶媒で希釈した組成物(この2つの組成物を「軟質層用塗布剤」と称する。)を調製する。調製した軟質層用塗布剤を、剥離フィルムの剥離面に塗布し、必要に応じて乾燥させ剥離フィルム上に塗布膜を形成し、この塗布膜を硬化することにより(たとえば、エネルギー線の照射)、軟質層を形成することができる。その後、剛性層の一方の主面と軟質層とを貼り合わせる。この軟質層が、依然としてエネルギー線硬化性を有している場合には、必要に応じてさらに硬化(たとえば、エネルギー線の照射)してもよい。 When a soft layer is formed on one main surface of the rigid layer using a soft layer composition, the soft layer composition or a composition obtained by diluting the soft layer composition with a solvent (these two compositions are collectively referred to as the "soft layer coating agent") is prepared. The prepared soft layer coating agent is applied to the release surface of the release film, dried as needed to form a coating film on the release film, and the coating film is cured (e.g., by irradiation with energy rays) to form the soft layer. Then, one main surface of the rigid layer and the soft layer are bonded together. If this soft layer still has energy ray curability, it may be further cured (e.g., by irradiation with energy rays) as needed.
支持材を製造した後、粘着剤層を形成するための組成物として、たとえば、粘着剤層を構成する粘着剤層用組成物、または、当該粘着剤層用組成物を溶媒で希釈した組成物(この2つの組成物を「粘着剤層用塗布剤」と称する。)を調製する。調製した粘着剤層用塗布剤を、剥離フィルムの剥離面に塗布し、必要に応じて乾燥させ剥離フィルム上に粘着剤層を形成する。その後、支持材において、紙やすりとの動摩擦係数が上記の範囲内に制御された主面とは反対側の主面と、粘着剤層とを貼り合わせて、支持材の一方の主面上に粘着剤層が形成されたワーク加工用保護シートが得られる。あるいは、調製した粘着剤層用塗布剤を、支持材において、紙やすりとの動摩擦係数が上記の範囲内に制御された主面とは反対側の主面に直接塗布して、粘着剤層を形成してもよい。 After producing the support material, a composition for forming the adhesive layer is prepared. For example, an adhesive layer composition that constitutes the adhesive layer, or a composition obtained by diluting the adhesive layer composition with a solvent (these two compositions are collectively referred to as an "adhesive layer coating agent"). The prepared adhesive layer coating agent is applied to the release surface of a release film and dried as necessary to form an adhesive layer on the release film. The adhesive layer is then bonded to the main surface of the support material opposite the main surface whose dynamic friction coefficient with sandpaper is controlled within the above-mentioned range, resulting in a protective sheet for workpiece processing in which an adhesive layer is formed on one main surface of the support material. Alternatively, the prepared adhesive layer coating agent may be directly applied to the main surface of the support material opposite the main surface whose dynamic friction coefficient with sandpaper is controlled within the above-mentioned range to form an adhesive layer.
(4.ワーク個片化物の製造方法)
本実施形態に係るワーク加工用保護シートは、上述したように、一方の面(表面)に回路等が形成され、他方の面(裏面)に回路等が形成されていないワークの裏面研削に好適に使用され、裏面研削時、または、裏面研削後に、ワークが個片化され、複数のワーク個片化物(ワーク個片化物群)が得られる。
(4. Manufacturing method of workpiece singulation)
As described above, the protective sheet for workpiece processing according to this embodiment is suitable for use in back grinding of a workpiece having circuits or the like formed on one side (front surface) and no circuits or the like formed on the other side (back surface), and during or after back surface grinding, the workpiece is singulated to obtain a plurality of workpiece singulations (a group of workpiece singulations).
ワーク加工用保護シートの非限定的な使用例として、以下に、ワーク個片化物(例えばチップ)の製造方法について具体的に説明する。 As a non-limiting example of how the protective sheet for workpiece processing can be used, a method for producing individual workpieces (e.g., chips) is specifically described below.
ワーク個片化物の製造方法は、具体的には、以下の工程1~工程4を少なくとも備えることが好ましい。
工程1:上記のワーク加工用保護シートを、ワークの表面に貼付する工程
工程2:支持材において、ワーク加工用保護シートの最表面を構成する主面を研削する工程
工程3:ワークの裏面を研削する工程
工程4:ワークを個片化して、複数のワーク個片化物を得る工程
Specifically, the method for manufacturing the workpiece singulation preferably includes at least the following steps 1 to 4.
Step 1: A step of attaching the above-mentioned workpiece processing protection sheet to the surface of the workpiece. Step 2: A step of grinding the main surface of the support material that constitutes the outermost surface of the workpiece processing protection sheet. Step 3: A step of grinding the back surface of the workpiece. Step 4: A step of dividing the workpiece into individual pieces to obtain a plurality of workpiece individual pieces.
以下、上記ワーク個片化物の製造方法の各工程を詳細に説明する。説明には、ワークの具体例としてウエハを用い、ワーク個片化物の具体例としてチップを用いる。 The following describes in detail each step of the manufacturing method for the above-mentioned workpiece singulation. In the explanation, a wafer is used as an example of the workpiece, and a chip is used as an example of the workpiece singulation.
(4.1.工程1)
工程1では、図2に示すように、ウエハ表面に、本実施形態に係るワーク加工用保護シートの粘着剤層を貼付する。ワーク加工用保護シートをウエハの表面に貼付することにより、ウエハの表面が十分に保護される。
(4.1. Process 1)
In step 1, the adhesive layer of the protective sheet for workpiece processing according to this embodiment is attached to the surface of the wafer, as shown in Fig. 2. By attaching the protective sheet for workpiece processing to the surface of the wafer, the surface of the wafer is sufficiently protected.
本製造方法で用いられるウエハの研削前の厚さは特に限定されないが、通常は500~1000μm程度である。また、ウエハの表面に回路が形成されている。ウエハ表面への回路の形成は、エッチング法、リフトオフ法などの従来汎用されている方法を含む様々な方法により行うことができる。 The thickness of the wafer used in this manufacturing method before grinding is not particularly limited, but is usually around 500 to 1000 μm. Furthermore, a circuit is formed on the surface of the wafer. Forming the circuit on the wafer surface can be done by a variety of methods, including conventional methods such as etching and lift-off.
形成された回路は露出していてもよいし、回路を保護するために回路保護層が形成されていてもよい。回路保護層は、通常、回路保護層を構成する組成物を塗布し熱硬化して形成される。また、回路に、バンプ、ピラー等の凸状電極が形成されていてもよい。 The formed circuit may be exposed, or a circuit protection layer may be formed to protect the circuit. The circuit protection layer is usually formed by applying a composition that constitutes the circuit protection layer and then thermally curing it. Furthermore, convex electrodes such as bumps and pillars may be formed on the circuit.
(4.2.工程2)
工程2は、工程1の後に行われる。工程2では、図3に示すように、支持材において、ワーク加工用保護シート1の最表面を構成する主面10b(12b)を研削する。ワーク加工用保護シートの最表面を構成する主面は、図1Aに示すワーク加工用保護シートでは、主面10bであり、図1Bおよび図1Cに示すワーク加工用保護シートでは、主面12bである。
(4.2. Process 2)
Step 2 is performed after step 1. In step 2, as shown in Fig. 3, the main surface 10b (12b) constituting the outermost surface of the protective sheet for workpiece processing 1 is ground on the support material. The main surface constituting the outermost surface of the protective sheet for workpiece processing is main surface 10b in the protective sheet for workpiece processing shown in Fig. 1A, and is main surface 12b in the protective sheets for workpiece processing shown in Fig. 1B and Fig. 1C.
研削に用いられる装置は、工程2の効率化および簡略化の観点から、ウエハの裏面研削を行う研削装置であることが好ましい。このような研削装置では、図3に示すように、研削ホイール50とワーク加工用保護シート1の最表面を構成する主面10b(12b)とが対向するように、ウエハ100の裏面100b側がチャックテーブル60に保持される。続いて、研削ホイール50と、ウエハ100およびワーク加工用保護シート1と、が相対的に回転しながら接触し、研削ホイール50の砥粒により当該主面10b(12b)が研削される。 From the perspective of streamlining and simplifying step 2, the equipment used for grinding is preferably a grinding device that grinds the backside of the wafer. In such a grinding device, as shown in FIG. 3, the backside 100b of the wafer 100 is held on a chuck table 60 so that the grinding wheel 50 and the main surface 10b (12b) that forms the outermost surface of the protective sheet 1 for workpiece processing face each other. The grinding wheel 50 then comes into contact with the wafer 100 and the protective sheet 1 for workpiece processing while rotating relative to each other, and the main surface 10b (12b) is ground by the abrasive grains of the grinding wheel 50.
ワーク加工用保護シートの最表面を構成する支持材の主面は上述した物性を有しているので、研削時に、当該主面が研削されやすく、かつ研削ホイールに付着しにくい。その結果、当該主面は適切に研削され、凹凸の少ない面が得られる。 The main surface of the support material that forms the outermost surface of the workpiece processing protection sheet has the physical properties described above, so during grinding, this main surface is easily ground and does not easily adhere to the grinding wheel. As a result, this main surface is ground properly, resulting in a surface with minimal irregularities.
(4.3.工程3)
工程3では、図4に示すように、工程2において研削された支持材の主面10b(12b)がチャックテーブル60に保持され、その後、研削ホイール50によりウエハ100の裏面100bが研削される。工程2において研削された支持材の主面10b(12b)は凹凸が少ないので、ワーク加工用保護シート1の支持材とチャックテーブル60との間に空隙がほとんど形成されない。したがって、裏面研削時に印加される力がウエハ100の裏面100bに均等に伝達され、ウエハ100の裏面100bが均一に研削される。その結果、研削後のウエハ厚さのムラが小さく、研削後のウエハのTTVを小さくすることができる。
(4.3. Process 3)
In step 3, as shown in FIG. 4 , the main surface 10b (12b) of the support material ground in step 2 is held on a chuck table 60, and then the back surface 100b of the wafer 100 is ground by a grinding wheel 50. Because the main surface 10b (12b) of the support material ground in step 2 has little unevenness, almost no gap is formed between the support material of the workpiece processing protection sheet 1 and the chuck table 60. Therefore, the force applied during back surface grinding is evenly transmitted to the back surface 100b of the wafer 100, and the back surface 100b of the wafer 100 is ground uniformly. As a result, the wafer thickness after grinding is less uneven, and the total thickness variation (TTV) of the wafer after grinding can be reduced.
(4.4.工程4)
工程4では、ウエハを個片化して、複数のチップ(チップ群)を得る。ウエハの個片化は、工程3の後に行ってもよいし、工程3において行ってもよい。
(4.4. Process 4)
In step 4, the wafer is divided into individual chips (chip groups). The wafer may be divided into individual chips after step 3 or during step 3.
ウエハの個片化を工程3の後に行う場合、たとえば、支持材とチャックテーブルとの吸着を解除し、ワーク加工用保護シートとウエハとが貼付された状態で、ダイシング工程に搬送する。ダイシング工程において、ウエハを複数のチップに個片化する。個片化する方法としては、公知の方法を採用することができる。たとえば、ダイサー等の回転刃を用いてウエハの表面と裏面とを貫通する溝を形成することにより、ウエハを切断して個片化された複数のチップを得る方法が例示される。 If the wafer is singulated after step 3, for example, the suction between the support material and the chuck table is released, and the wafer is transported to the dicing step with the workpiece processing protection sheet attached. In the dicing step, the wafer is singulated into multiple chips. Any known method can be used for singulation. For example, a rotary blade such as a dicer is used to form grooves that penetrate the front and back surfaces of the wafer, thereby cutting the wafer into multiple singulated chips.
本実施形態では、工程4は、DBGまたはLDBGにより個片化する工程であることが好ましい。この場合、工程4は、工程3において行われる。 In this embodiment, step 4 is preferably a step of singulating by DBG or LDBG. In this case, step 4 is performed in step 3.
DBGまたはLDBGにより個片化する場合、上記の工程1~4に加えて、ワークの表面側から溝を形成する工程(工程5a)、または、当該ワークの表面若しくは裏面から当該ワーク内部に改質領域を形成する工程(工程5b)を有する。 When singulating using DBG or LDBG, in addition to steps 1 to 4 above, there is also a step of forming grooves from the front side of the workpiece (step 5a), or a step of forming modified regions inside the workpiece from the front or back side of the workpiece (step 5b).
(4.5.工程5a)
工程5aは工程1~3の前に行う。工程5aにおいて形成される溝は、ウエハの厚さより浅い深さの溝である。溝の形成は、従来公知のウエハダイシング装置等を用いてダイシングにより行うことが可能である。この溝は、ウエハの分割の起点となる。すなわち、溝は、工程3において、ウエハが分割されてチップに個片化される際の分割線に沿うように形成される。
(4.5. Step 5a)
Step 5a is performed before steps 1 to 3. The grooves formed in step 5a are shallower than the thickness of the wafer. The grooves can be formed by dicing using a conventionally known wafer dicing device or the like. These grooves serve as starting points for dividing the wafer. In other words, the grooves are formed so as to follow the dividing lines that will be used when the wafer is divided into individual chips in step 3.
(4.6.工程5b)
工程5bは工程3の前に行う。また、工程5bは、工程1および工程2の前に行ってもよいし、工程1の後であって、工程2の前に行ってもよいし、工程1および工程2の後に行ってもよい。本実施形態では、工程5bは、工程1および工程2の後に行うことが好ましい。
(4.6. Step 5b)
Step 5b is performed before step 3. Step 5b may be performed before steps 1 and 2, or after step 1 and before step 2, or after steps 1 and 2. In this embodiment, step 5b is preferably performed after steps 1 and 2.
工程5bで形成される改質領域は、ウエハにおいて、脆質化された部分である。改質領域では、裏面研削時にウエハに印加される剪断力および圧力による亀裂が生じやすい。このような亀裂はウエハの分割の起点となる。すなわち、改質領域は、工程3において、ウエハが分割されてチップに個片化される際の分割線に沿うように形成される。 The modified region formed in step 5b is an embrittled portion of the wafer. In the modified region, cracks are likely to occur due to the shear force and pressure applied to the wafer during backside grinding. These cracks become the starting point for dividing the wafer. In other words, the modified region is formed so as to follow the dividing line when the wafer is divided into individual chips in step 3.
改質領域の形成は、ウエハの内部に焦点を合わせたレーザーの照射により行う。したがって、改質領域は、ウエハの内部に形成される。レーザーの照射は、ウエハの表面側から行っても、裏面側から行ってもよい。なお、工程5bを工程1の後に行いウエハの表面からレーザー照射を行う場合、ワーク加工用保護シートを介してウエハにレーザーを照射することになる。 The modified region is formed by irradiating the wafer with a laser focused on the interior of the wafer. Therefore, the modified region is formed inside the wafer. The laser can be irradiated from either the front or back side of the wafer. Note that if step 5b is performed after step 1 and the laser is irradiated from the front side of the wafer, the laser will be irradiated onto the wafer through the workpiece processing protective sheet.
工程5aまたは工程5bの後に、工程3が行われる。すなわち、ウエハに溝または改質領域が形成された後に、ウエハの裏面を研削して、ウエハを複数のチップに個片化する。換言すれば、工程3において工程4を行う。 Step 3 is performed after step 5a or step 5b. That is, after grooves or modified regions are formed in the wafer, the backside of the wafer is ground to separate the wafer into multiple chips. In other words, step 4 is performed in step 3.
工程5aを経た工程3では、裏面研削は、少なくとも溝の底部に至る位置までウエハを薄くするように行う。この裏面研削により、溝は、ウエハを貫通する切り込みとなり、ウエハは切り込みにより分割されて、個々のチップに個片化される。 In step 3, which follows step 5a, backside grinding is performed to thin the wafer at least to the point where it reaches the bottom of the groove. This backside grinding turns the groove into a notch that penetrates the wafer, and the wafer is divided by the notch into individual chips.
工程5bを経た工程3では、研削面(ウエハ裏面)が改質領域に至るまで裏面研削を行ってもよいが、研削面が厳密に改質領域まで至らなくてもよい。すなわち、改質領域を起点としてウエハが分割され個片化されたチップが得られるように、改質領域に近接する位置まで研削すればよい。たとえば、改質領域に近接する位置まで研削して、改質領域に生じた亀裂により、ウエハの完全な個片化を行ってもよい。また、改質領域に生じた亀裂により、ウエハの一部の個片化を行い、その後、後述するピックアップテープを貼付してからピックアップテープを延伸することにより、ウエハの完全な個片化を行ってもよい。また、ピックアップテープの延伸により、ウエハの完全な個片化を行ってもよい。 In step 3 after step 5b, back grinding may be performed until the ground surface (wafer back surface) reaches the modified region, but the grinding surface does not have to reach the modified region exactly. That is, grinding may be performed to a position close to the modified region so that the wafer is divided starting from the modified region and individual chips are obtained. For example, grinding may be performed to a position close to the modified region, and the wafer may be completely singulated using cracks that appear in the modified region. Alternatively, the wafer may be partially singulated using cracks that appear in the modified region, and then the wafer may be completely singulated by applying a pickup tape (described below) and stretching the pickup tape. Alternatively, the wafer may be completely singulated by stretching the pickup tape.
また、研削ホイールを用いた裏面研削の終了後、ドライポリッシュ等のストレスリリーフを行ってもよい。 Furthermore, after backside grinding using a grinding wheel is completed, stress relief such as dry polishing may be performed.
工程4を経て個片化されたチップの形状は、方形でもよいし、矩形等の細長形状となっていてもよい。また、個片化されたチップの厚さは特に限定されないが、好ましくは5~100μm程度、より好ましくは10~45μmである。LDBGによれば、個片化されたチップの厚さを50μm以下、より好ましくは10~45μmとすることが容易になる。また、個片化されたチップの大きさは、特に限定されない。たとえば、チップ面積が好ましくは600mm2未満、より好ましくは400mm2未満、さらに好ましくは120mm2未満である。 The shape of the chips singulated through step 4 may be square or elongated, such as rectangular. The thickness of the singulated chips is not particularly limited, but is preferably about 5 to 100 μm, and more preferably 10 to 45 μm. LDBG facilitates the thickness of the singulated chips to be 50 μm or less, and more preferably 10 to 45 μm. The size of the singulated chips is not particularly limited. For example, the chip area is preferably less than 600 mm 2 , more preferably less than 400 mm 2 , and even more preferably less than 120 mm 2 .
(4.7.工程6)
本実施形態では、ワーク個片化物の製造方法は、個片化が済んだワーク(すなわち、複数のワーク個片化物)から、ワーク加工用保護シートを剥離する工程(工程6)を有することが好ましい。工程6は、工程4の後に行われる。工程6は、例えば、以下の方法により行う。
(4.7. Process 6)
In this embodiment, the method for manufacturing the workpiece singulation preferably includes a step (step 6) of peeling off the workpiece processing protection sheet from the singulated workpiece (i.e., the plurality of workpiece singulations). Step 6 is performed after step 4. Step 6 is performed, for example, by the following method.
まず、ワーク加工用保護シートの粘着剤層が、エネルギー線硬化性粘着剤から形成される場合には、エネルギー線を照射して粘着剤層を硬化する工程(工程6a)を行う。工程6aは、上述したように、エネルギー線の照射により、粘着剤層の粘着力を低下させる工程である。工程6aを行うことにより、工程1~5において粘着剤層の粘着力により十分に保護されたウエハの表面から、ワーク表面の回路、電極等の破壊、ワーク上への粘着剤の付着を抑制しつつ、ワーク加工用保護シートを剥離することができる。 First, if the adhesive layer of the workpiece processing protection sheet is formed from an energy ray-curable adhesive, a step (step 6a) is performed in which the adhesive layer is cured by irradiating it with energy rays. As described above, step 6a is a step in which the adhesive strength of the adhesive layer is reduced by irradiating it with energy rays. By performing step 6a, the workpiece processing protection sheet can be peeled from the surface of the wafer, which has been sufficiently protected by the adhesive strength of the adhesive layer in steps 1 to 5, while preventing damage to the circuits, electrodes, etc. on the workpiece surface and adhesion of the adhesive to the workpiece.
一方、エネルギー線硬化性の粘着剤層はエネルギー線の照射により硬化するので、ウエハの裏面を安定して研削し、研削後のウエハの厚さ精度を高める観点では、ウエハの裏面研削時には、粘着剤層が硬い方が好ましい。 On the other hand, since energy ray-curable adhesive layers are cured by irradiation with energy rays, it is preferable for the adhesive layer to be hard when grinding the backside of the wafer, from the perspective of stably grinding the backside of the wafer and improving the thickness accuracy of the wafer after grinding.
すなわち、研削後のウエハの厚さ精度と、ワーク加工用保護シートの剥離時の剥離性とはトレードオフの関係にある。 In other words, there is a trade-off between the thickness accuracy of the wafer after grinding and the removability of the workpiece processing protection sheet.
本実施形態では、硬化性の粘着剤層が未硬化、または、非硬化性の粘着剤層が比較的に軟らかくても、支持材において、ワーク加工用保護シートの最表面を構成する主面が上記の物性を有しているので、当該主面は適切に研削され、凹凸の少ない面が得られる。その結果、粘着剤層が比較的に軟らかくても、研削後のウエハのTTVを小さくすることができる。すなわち、研削後のウエハの厚さ精度と、ワーク加工用保護シートの剥離時の剥離性とを両立することができる。 In this embodiment, even if the curable adhesive layer is uncured or the non-curable adhesive layer is relatively soft, the main surface of the support material that constitutes the outermost surface of the workpiece processing protective sheet has the above-mentioned physical properties, so that the main surface can be properly ground, resulting in a surface with minimal irregularities. As a result, even if the adhesive layer is relatively soft, the total thickness variation (TTV) of the wafer after grinding can be reduced. In other words, it is possible to achieve both high thickness accuracy of the wafer after grinding and good removability when peeling off the workpiece processing protective sheet.
したがって、工程6aは、工程1の後に行ってもよいし、工程2の後に行ってもよいし、工程5bの後に行ってもよいが、工程3の後に行うことが好ましい。 Thus, step 6a may be performed after step 1, step 2, or step 5b, but is preferably performed after step 3.
エネルギー線照射時の条件は、たとえば、エネルギー線の照度は、120~280mW/cm2、エネルギー線の光量は、100~1000mJ/cm2であることが好ましい。エネルギー線としては、紫外線が好ましい。 The conditions for energy ray irradiation are preferably, for example, an illuminance of the energy ray of 120 to 280 mW/cm 2 and a light amount of the energy ray of 100 to 1000 mJ/cm 2. The energy ray is preferably ultraviolet light.
粘着剤層の硬化後、複数のワーク個片化物の裏面側に、ピックアップテープを貼付し、ピックアップが可能なように位置および方向合わせを行う。この際、ウエハの外周側に位置するリングフレームもピックアップテープに貼り合わせ、ピックアップテープの外周縁部をリングフレームに固定する。ピックアップテープには、ウエハとリングフレームとを同時に貼り合わせてもよいし、別々のタイミングで貼り合わせてもよい。次いで、ピックアップテープ上に保持された複数のチップからワーク加工用保護シートを剥離する。 After the adhesive layer has hardened, a pickup tape is attached to the backside of the multiple workpieces, and they are positioned and oriented so that they can be picked up. At this time, the ring frame located on the outer periphery of the wafer is also attached to the pickup tape, and the outer edge of the pickup tape is fixed to the ring frame. The wafer and ring frame may be attached to the pickup tape at the same time, or they may be attached at different times. Next, the workpiece processing protective sheet is peeled off from the multiple chips held on the pickup tape.
なお、ピックアップテープは、特に限定されないが、例えば、基材と、基材の一方の面に設けられた粘着剤層とを備える粘着シートである。 The pickup tape is not particularly limited, but may be, for example, an adhesive sheet comprising a substrate and an adhesive layer provided on one side of the substrate.
以上、本実施形態について説明してきたが、本発明は上記の実施形態に何ら限定されるものではなく、本発明の範囲内において種々の態様で改変しても良い。 This embodiment has been described above, but the present invention is not limited to the above embodiment and may be modified in various ways within the scope of the present invention.
以下、実施例を用いて、発明をより詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。 The present invention will be explained in more detail below using examples, but the present invention is not limited to these examples.
本実施例における測定方法および評価方法は以下の通りである。 The measurement and evaluation methods used in this example are as follows:
(支持材と紙やすりとの動摩擦係数)
実施例および比較例で作製した支持材を長さ200mm、幅80mmのサイズにカットし、動摩擦係数を測定するための測定用試料を得た。測定用試料を、番手が1200番の紙やすり上に載置し、測定用試料上に一辺の長さが63mmであり、測定用試料との接触面がフェルトであるすべり片を載置し、さらに、すべり片上に、すべり片との合計質量が1000gとなるように重りを載置した。100mm/分の速度で、測定用試料を測定用試料の長さ方向に引張り、測定用試料が動き始める際の荷重は考慮せずに、測定用試料と紙やすりとの接触面間の相対ずれ運動が開始された時点から60mm移動するまでの荷重の平均値を動摩擦力とした。得られた動摩擦力を、すべり片と重りとの合計質量により生じる法線力で除することにより、動摩擦係数を算出した。結果を表1に示す。
(Coefficient of dynamic friction between support material and sandpaper)
The support materials prepared in the Examples and Comparative Examples were cut to a length of 200 mm and a width of 80 mm to obtain test samples for measuring the coefficient of dynamic friction. The test sample was placed on sandpaper with a grit size of 1200. A sliding piece with a side length of 63 mm and a felt surface in contact with the test sample was placed on the test sample. A weight was then placed on the sliding piece so that the total mass of the sliding piece and the weight was 1000 g. The test sample was pulled in the longitudinal direction of the test sample at a rate of 100 mm/min. The average load from the start of relative shear movement between the contact surfaces of the test sample and the sandpaper to the point of movement of 60 mm was taken as the kinetic friction force, without taking into account the load at the time the test sample began to move. The coefficient of dynamic friction was calculated by dividing the obtained kinetic friction force by the normal force generated by the total mass of the sliding piece and the weight. The results are shown in Table 1.
(支持材の引張破断応力)
実施例および比較例で作製した支持材を長さ140mm、幅15mmのサイズにカットし、引張破断応力を測定するための測定用試料を得た。得られた測定用試料の両端20mm部分にフィルム引張り用のラベルを貼付し、測定対象部分が15mm×100mmのサンプルを作製した。該サンプルについて、引張試験機(株式会社島津製作所製、商品名「オートグラフAG-IS 1kN」)を使用して、チャック間100mm、引張速度200mm/分の条件で測定した時の引張破断応力を測定した。結果を表1に示す。なお、支持材が2層以上から構成される実施例1から3および5と比較例1、3および4とでは、引張破断応力として、ワーク加工用保護シートの最表面を構成する層、すなわち、軟質層の引張破断応力を測定した。
(Tensile breaking stress of support material)
The support materials prepared in the Examples and Comparative Examples were cut to a size of 140 mm in length and 15 mm in width to obtain measurement samples for measuring tensile stress at break. Film tension labels were attached to 20 mm sections on both ends of the obtained measurement samples to prepare samples with a measurement area of 15 mm x 100 mm. The tensile stress at break of the samples was measured using a tensile tester (Shimadzu Corporation, product name "Autograph AG-IS 1kN") under conditions of a chuck distance of 100 mm and a tensile speed of 200 mm/min. The results are shown in Table 1. In Examples 1 to 3 and 5 and Comparative Examples 1, 3 and 4, where the support material was composed of two or more layers, the tensile stress at break of the layer constituting the outermost surface of the workpiece processing protection sheet, i.e., the soft layer, was measured as the tensile stress at break.
(研削後のウエハのTTV評価)
実施例1から4および比較例1から4では、直径12インチ、厚み775μmのシリコンウエハに、実施例および比較例で作製したワーク加工用保護シートを、バックグラインド用テープラミネーター(リンテック社製、装置名「RAD-3510F/12」)を用いて貼付した。次いで、グラインダー(株式会社ディスコ製、装置名「DGP8760」)を用いて、ワーク加工用保護シートの最表面を12μm研削した。
(TTV evaluation of wafer after grinding)
In Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 to 4, the protective sheets for workpiece processing prepared in the Examples and Comparative Examples were attached to a silicon wafer having a diameter of 12 inches and a thickness of 775 μm using a back-grinding tape laminator (manufactured by Lintec Corporation, device name "RAD-3510F/12"). Next, the outermost surface of the protective sheet for workpiece processing was ground by 12 μm using a grinder (manufactured by Disco Corporation, device name "DGP8760").
次いで、裏面研削装置(ディスコ社製、装置名「DGP8761」)を用いて、厚さ30μmになるまで研削(ドライポリッシュを含む)を行った。 Next, a back grinding machine (manufactured by Disco Corporation, model number "DGP8761") was used to grind (including dry polish) the substrate until it reached a thickness of 30 μm.
実施例5では、上記のように、シリコンウエハにワーク加工用保護シートを貼付し、ワーク加工用保護シートの最表面を12μm研削した後に、レーザーソー(ディスコ社製、装置名「DFL7361」)を用い、格子サイズが10mm×10mmとなるようにウエハに改質領域を形成した。次に、上記のように、ウエハを厚さが30μmになるまで裏面研削して、ウエハを複数のチップに個片化した。 In Example 5, as described above, a workpiece processing protective sheet was attached to a silicon wafer, and the top surface of the workpiece processing protective sheet was ground by 12 μm. After that, a laser saw (manufactured by Disco Corporation, device name "DFL7361") was used to form a modified region on the wafer with a grid size of 10 mm x 10 mm. Next, as described above, the backside of the wafer was ground to a thickness of 30 μm, and the wafer was divided into multiple chips.
研削後のウエハ、または、個片化された複数のチップの全面において、ウエハの厚さを、ウェーハ厚みマッピングシステム(浜松ホトニクス株式会社製、装置名「C8870ー02」)を用いて測定ピッチ10mmにて測定し、厚さの最大値と厚さの最小値とから、研削後のウエハのTTVを算出し、以下の基準で評価した。結果を表1に示す。
◎:ワーク加工用保護シートの最表面が研削可能であり、TTVが5μm未満
○:ワーク加工用保護シートの最表面が研削が研削可能であり、TTVが5μm以上10μm未満
×:ワーク加工用保護シートの最表面が研削可能であり、TTVが10μm以上
××:ワーク加工用保護シートの最表面が研削不可
The thickness of the ground wafer or the entire surface of each of the individual chips was measured at a measurement pitch of 10 mm using a wafer thickness mapping system (manufactured by Hamamatsu Photonics K.K., device name "C8870-02"), and the TTV of the ground wafer was calculated from the maximum and minimum thickness values and evaluated according to the following criteria. The results are shown in Table 1.
◎: The outermost surface of the workpiece processing protection sheet can be ground, and the TTV is less than 5 μm. ○: The outermost surface of the workpiece processing protection sheet can be ground, and the TTV is 5 μm or more and less than 10 μm. ×: The outermost surface of the workpiece processing protection sheet can be ground, and the TTV is 10 μm or more. XX: The outermost surface of the workpiece processing protection sheet cannot be ground.
(実施例1)
(1)支持材
まず、剛性層として、ポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム(厚さ:50μm)を準備した。
Example 1
(1) Support Material First, a polyethylene terephthalate (PET) film (thickness: 50 μm) was prepared as a rigid layer.
続いて、低密度ポリエチレンを溶融させ、Tダイ法により溶融物を押し出し、冷却ロールを用いて押し出し物を2軸で延伸することにより、厚さが25μmであるLDPEフィルム(引張弾性率:420MPa)を得た。準備したPETフィルムの一方の面に、厚さ2.5μmの易接着層を設け、軟質層として、得られたLDPEフィルムをドライラミネーション法により貼り合わせた。続いて、PETフィルムの他方の面に、厚さ2.5μmの易接着層を設け、軟質層として、得られたLDPEフィルムをドライラミネーション法により貼り合わせて、剛性層と軟質層とが積層された、軟質層/剛性層/軟質層の3層で構成された支持材を得た。支持材の厚さは105μmであった。 Next, low-density polyethylene was melted and extruded using a T-die method. The extrudate was then biaxially stretched using a cooling roll to obtain a 25 μm-thick LDPE film (tensile modulus: 420 MPa). A 2.5 μm-thick easy-adhesion layer was formed on one side of the prepared PET film, and the resulting LDPE film was bonded to the soft layer using a dry lamination method. Next, a 2.5 μm-thick easy-adhesion layer was formed on the other side of the PET film, and the resulting LDPE film was bonded to the soft layer using a dry lamination method to obtain a support material composed of a three-layer structure: soft layer/rigid layer/soft layer, in which a rigid layer and a soft layer were laminated. The support material had a thickness of 105 μm.
(2)粘着剤層
(粘着剤層用組成物の調製)
n-ブチルアクリレート(BA)65質量部、メチルメタクリレート(MMA)20質量部、及び2-ヒドロキシエチルアクリレート(2HEA)15質量部を共重合して得たアクリル系重合体に、アクリル系重合体の全水酸基(100当量)のうち80当量の水酸基に付加するように、2-メタクリロイルオキシエチルイソシアネート(MOI)を反応させて、エネルギー線硬化性のアクリル系共重合体(Mw:50万)を得た。
(2) Pressure-sensitive adhesive layer (Preparation of composition for pressure-sensitive adhesive layer)
An energy ray-curable acrylic copolymer (Mw: 500,000) was obtained by reacting an acrylic polymer obtained by copolymerizing 65 parts by mass of n-butyl acrylate (BA), 20 parts by mass of methyl methacrylate (MMA), and 15 parts by mass of 2-hydroxyethyl acrylate (2HEA) with 2-methacryloyloxyethyl isocyanate (MOI) so that MOI was added to 80 equivalents of hydroxyl groups out of all hydroxyl groups (100 equivalents) of the acrylic polymer.
このエネルギー線硬化性のアクリル系共重合体100質量部に、多官能ウレタンアクリレート系紫外線硬化性化合物(三菱ケミカル社製、製品名「UT-4332」)を10質量部、イソシアネート系架橋剤(東ソー社製、製品名「コロネートL」)を0.38質量部、光重合開始剤としてビス(2,4,6-トリメチルベンゾイル)フェニルフォスフィンオキシドを1質量部配合し、メチルエチルケトンで希釈し、固形分濃度34質量%の粘着剤層用組成物の塗布剤を調製した。 100 parts by weight of this energy ray-curable acrylic copolymer was blended with 10 parts by weight of a multifunctional urethane acrylate ultraviolet-curable compound (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, product name "UT-4332"), 0.38 parts by weight of an isocyanate-based crosslinking agent (manufactured by Tosoh Corporation, product name "Coronate L"), and 1 part by weight of bis(2,4,6-trimethylbenzoyl)phenylphosphine oxide as a photopolymerization initiator, and diluted with methyl ethyl ketone to prepare a coating agent for a pressure-sensitive adhesive layer composition with a solids concentration of 34% by weight.
(ワーク加工用保護シートの作製)
剥離シート(リンテック社製、商品名「SP-PET381031」)のシリコーン剥離処理面に、上記で得た粘着剤層用組成物の塗布剤を塗工し、加熱乾燥させて、剥離シート上に厚さが20μmの粘着剤層を形成した。
(Production of protective sheet for workpiece processing)
The adhesive layer composition obtained above was applied to the silicone release-treated surface of a release sheet (manufactured by Lintec Corporation, product name "SP-PET381031") and dried by heating to form an adhesive layer with a thickness of 20 μm on the release sheet.
その後、支持材の一方の軟質層と、粘着剤層とを貼り合わせ、ワーク加工用保護シートを作製した。すなわち、図1Cに示すワーク加工用保護シートを製造した。 Then, one of the soft layers of the support material was bonded to the adhesive layer to produce a workpiece processing protection sheet. In other words, the workpiece processing protection sheet shown in Figure 1C was produced.
(実施例2)
軟質層/剛性層の2層で構成された支持材を以下のようにして作製した以外は、実施例1と同じ方法により、図1Bに示すワーク加工用保護シートを製造した。
Example 2
The protection sheet for workpiece processing shown in FIG. 1B was produced in the same manner as in Example 1, except that a support material composed of two layers, a soft layer/a rigid layer, was produced as follows.
剛性層として、PETフィルム(厚さ:50μm)を準備した。次に、軟質層を形成するための軟質層用組成物を以下のようにして調製した。 A PET film (thickness: 50 μm) was prepared as the rigid layer. Next, a soft layer composition for forming the soft layer was prepared as follows.
まず、ポリエステルジオールと、イソホロンジイソシアネートを反応させて得られた末端イソシアネートウレタンプレポリマーに、2-ヒドロキシエチルアクリレートを反応させて、重量平均分子量(Mw)5000の2官能のウレタンアクリレート系オリゴマー(UA-1)を得た。 First, a terminal isocyanate urethane prepolymer obtained by reacting polyester diol with isophorone diisocyanate was reacted with 2-hydroxyethyl acrylate to obtain a bifunctional urethane acrylate oligomer (UA-1) with a weight-average molecular weight (Mw) of 5,000.
エネルギー線硬化性化合物として、上記で合成したウレタンアクリレート系オリゴマー(UA-1)50質量部、イソボルニルアクリレート(IBXA)45質量部、及びポリエチレングリコール600ジアクリレート5質量部を配合し、さらに光重合開始剤としての1-ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン(IGM Resins社製、製品名「OMNIRAD1173」)2質量部を配合し、軟質層用組成物を調製した。 A soft layer composition was prepared by blending 50 parts by weight of the urethane acrylate oligomer (UA-1) synthesized above, 45 parts by weight of isobornyl acrylate (IBXA), and 5 parts by weight of polyethylene glycol 600 diacrylate as energy ray-curable compounds, and further blending in 2 parts by weight of 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone (manufactured by IGM Resins, product name "OMNIRAD1173") as a photopolymerization initiator.
剥離シート(リンテック社製、SP-PET381031、厚さ:38μm)のシリコーン剥離処理面に、上記の軟質層用組成物を塗布し塗布膜を形成した。そして、当該塗布膜に対して、紫外線を照射して、当該塗布膜を半硬化させ、厚さ55μmの軟質層の半硬化膜を形成した。 The above-mentioned soft layer composition was applied to the silicone release-treated surface of a release sheet (SP-PET381031, manufactured by Lintec Corporation, thickness: 38 μm) to form a coating film. The coating film was then semi-cured by irradiating it with ultraviolet light, forming a semi-cured soft layer film with a thickness of 55 μm.
なお、上記の紫外線照射は、ベルトコンベア式紫外線照射装置(アイグラフィクス社製、ECS-401GX)及び高圧水銀ランプ(アイグラフィクス社製、H04-L41)を使用し、ランプ高さ260mm、出力80W/cm、照度70mW/cm2、照射量30mW/cm2の照射条件下にて行った。そして、形成した半硬化膜の表面と、剛性層としてのPETフィルムの一方の主面とを貼り合わせ、半硬化膜上の剥離シート側から再度紫外線を照射して、当該半硬化膜を完全に硬化させ、厚さ55μmの軟質層を形成した。 The ultraviolet irradiation was carried out using a belt conveyor-type ultraviolet irradiation device (ECS-401GX, manufactured by iGraphics) and a high-pressure mercury lamp (H04-L41, manufactured by iGraphics) under irradiation conditions of a lamp height of 260 mm, an output of 80 W/cm, an illuminance of 70 mW/cm 2 , and an irradiation amount of 30 mW/cm 2. The surface of the formed semi-cured film was then bonded to one main surface of a PET film serving as a rigid layer, and ultraviolet light was irradiated again from the release sheet side of the semi-cured film to completely cure the semi-cured film and form a soft layer with a thickness of 55 μm.
(実施例3)
軟質層/剛性層/軟質層の3層で構成された支持材において、厚さが25μmであるリニア低密度ポリエチレン(LLDPE)を軟質層として形成した以外は実施例1と同じ方法により、図1Cに示すワーク加工用保護シートを製造した。LLDPEは、リニア状低密度ポリエチレンを溶融させ、Tダイ法により溶融物を押し出し、冷却ロールを用いて押し出し物を2軸で延伸することにより得た。LLDPEの引張弾性率は90MPaであった。
Example 3
The protective sheet for workpiece processing shown in Figure 1C was produced in the same manner as in Example 1, except that a 25 μm-thick linear low-density polyethylene (LLDPE) was formed as the soft layer in a support material composed of three layers: soft layer/rigid layer/soft layer. The LLDPE was obtained by melting the linear low-density polyethylene, extruding the melt using a T-die method, and biaxially stretching the extrudate using a chill roll. The tensile modulus of the LLDPE was 90 MPa.
(実施例4)
PETフィルム(東レ尖端素材社製、製品名「XG7PH8」、厚さ:50μm)1層からなる支持材を用いた以外は実施例1と同じ方法によりワーク加工用保護シートを製造した。すなわち、図1Aに示すワーク加工用保護シートを製造した。
Example 4
A workpiece processing protection sheet was produced in the same manner as in Example 1, except that a support material consisting of one layer of PET film (manufactured by Toray Advanced Materials Co., Ltd., product name "XG7PH8", thickness: 50 μm) was used. That is, the workpiece processing protection sheet shown in FIG. 1A was produced.
(実施例5)
実施例2と同じ方法によりワーク加工用保護シートを製造した。
Example 5
A protection sheet for workpiece processing was produced in the same manner as in Example 2.
(比較例1)
軟質層/剛性層の2層で構成された支持材において、以下に示す軟質層用組成物を用いて軟質層を形成した以外は実施例2と同じ方法により、図1Bに示すワーク加工用保護シートを製造した。
(Comparative Example 1)
A protective sheet for workpiece processing shown in FIG. 1B was produced in the same manner as in Example 2, except that the soft layer was formed using the soft layer composition shown below in a support material composed of two layers: a soft layer/a rigid layer.
ポリカーボネートジオールと、イソホロンジイソシアネートとを反応させて得られた末端イソシアネートウレタンプレポリマーに、2-ヒドロキシエチルアクリレートを反応させて、重量平均分子量(Mw)が約25000のウレタンアクリレート系オリゴマー(UA-2)を得た。 A urethane acrylate oligomer (UA-2) with a weight-average molecular weight (Mw) of approximately 25,000 was obtained by reacting 2-hydroxyethyl acrylate with a terminal isocyanate urethane prepolymer obtained by reacting polycarbonate diol with isophorone diisocyanate.
エネルギー線硬化性化合物として、上記で合成したウレタンアクリレート系オリゴマー(UA-2)25質量部、イソボルニルアクリレート(IBXA)65質量部、及びフェニルヒドロキシプロピルアクリレート(HPPA)10質量部を配合し、さらに光重合開始剤として2-ヒドロキシ-2-メチル-1-フェニル-プロパン-1-オン(IGM Resins社製、製品名「Omnirad 1173」)を2.0質量部を配合し、軟質層用組成物を調製した。 A soft layer composition was prepared by blending 25 parts by weight of the urethane acrylate oligomer (UA-2) synthesized above, 65 parts by weight of isobornyl acrylate (IBXA), and 10 parts by weight of phenylhydroxypropyl acrylate (HPPA) as energy ray-curable compounds, and further blending 2.0 parts by weight of 2-hydroxy-2-methyl-1-phenyl-propan-1-one (manufactured by IGM Resins, product name "Omnirad 1173") as a photopolymerization initiator.
(比較例2)
ポリエチレンナフタレート(PEN)フィルム(厚さ:50μm)1層からなる支持材を用いた以外は実施例4と同じ方法によりワーク加工用保護シートを製造した。
(Comparative Example 2)
A protection sheet for workpiece processing was produced in the same manner as in Example 4, except that a support material consisting of one layer of polyethylene naphthalate (PEN) film (thickness: 50 μm) was used.
(比較例3)
軟質層/剛性層/軟質層の3層で構成された支持材において、厚さが25μmである、無色透明のエチレン-メタクリル酸共重合体を軟質層として形成した以外は実施例1と同じ方法により、図1Cに示すワーク加工用保護シートを製造した。
(Comparative Example 3)
The protective sheet for workpiece processing shown in FIG. 1C was produced in the same manner as in Example 1, except that a colorless and transparent ethylene-methacrylic acid copolymer having a thickness of 25 μm was formed as the soft layer in a support material composed of three layers: soft layer/rigid layer/soft layer.
(比較例4)
軟質層/剛性層/軟質層の3層で構成された支持材において、厚さが25μmである、無色透明のエチレン-酢酸ビニル共重合体を軟質層として形成した以外は実施例1と同じ方法により、図1Cに示すワーク加工用保護シートを製造した。
(Comparative Example 4)
A protective sheet for workpiece processing shown in FIG. 1C was produced in the same manner as in Example 1, except that a colorless and transparent ethylene-vinyl acetate copolymer having a thickness of 25 μm was formed as the soft layer in a support material composed of three layers: soft layer/rigid layer/soft layer.
得られた試料(実施例1~5および比較例1~4)に対して、上記の測定および評価を行った。結果を表1に示す。 The above measurements and evaluations were performed on the obtained samples (Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 4). The results are shown in Table 1.
表1より、支持材と紙やすりとの動摩擦係数および支持材の引張破断応力が上述した範囲内である場合には、支持材においてワーク加工用保護シートの最表面を構成する主面を研削し、その後ウエハを裏面研削することにより、裏面研削後のウエハのTTVが小さいことが確認できた。 Table 1 shows that when the coefficient of dynamic friction between the support material and sandpaper and the tensile breaking stress of the support material are within the above-mentioned ranges, grinding the main surface of the support material that forms the outermost surface of the workpiece processing protection sheet and then backgrinding the wafer results in a small TTV of the wafer after backgrinding.
1…ワーク加工用保護シート
10…支持材
11…剛性層
12…軟質層
20…粘着剤層
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1...protective sheet for workpiece processing 10...support material 11...rigid layer 12...soft layer 20...adhesive layer
Claims (10)
前記支持材の他方の主面が、前記ワーク加工用保護シートの最表面を構成し、前記ワーク加工用保護シートの最表面と、番手が1200番の紙やすりと、の動摩擦係数が1.40以下であり、
前記支持材の引張破断応力が250MPa以下であるワーク加工用保護シート。 A protective sheet for workpiece processing having a support material and an adhesive layer disposed on one main surface of the support material,
The other main surface of the support material constitutes the outermost surface of the workpiece processing protection sheet, and the dynamic friction coefficient between the outermost surface of the workpiece processing protection sheet and sandpaper having a grit size of 1200 is 1.40 or less;
A protective sheet for workpiece processing, wherein the support material has a tensile breaking stress of 250 MPa or less.
前記ワークの裏面を研削する工程と、
前記ワークを個片化して、複数のワーク個片化物を得る工程と、を有するワーク個片化物の製造方法。 A step of attaching the adhesive layer of the protective sheet for workpiece processing according to any one of claims 1 to 6 to the surface of a workpiece having a front and back surfaces;
grinding the back surface of the workpiece;
and a step of dividing the work into individual pieces to obtain a plurality of individual work pieces.
前記ワークの裏面を研削する工程は、前記ワーク加工用保護シートの最表面を研削する工程の後に行う請求項7に記載のワーク個片化物の製造方法。 The workpiece processing protective sheet according to claim 4 or 5, further comprising a step of grinding the outermost surface of the workpiece processing protective sheet,
The method for producing individual workpieces according to claim 7, wherein the step of grinding the back surface of the workpiece is carried out after the step of grinding the outermost surface of the protection sheet for workpiece processing.
前記ワークの裏面を研削する工程において、前記溝または前記改質領域を起点として複数のワーク個片化物に個片化させる請求項7または8に記載のワーク個片化物の製造方法。 The method further includes a step of forming a groove on the surface of the workpiece, or a step of forming a modified region inside the workpiece from the surface or back surface of the workpiece,
The method for manufacturing a workpiece singulation product according to claim 7 or 8, wherein in the step of grinding the back surface of the workpiece, the workpiece is singulated into a plurality of workpiece singulation products starting from the groove or the modified region.
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2022056786A JP7779787B2 (en) | 2022-03-30 | 2022-03-30 | PROTECTIVE SHEET FOR WORK PROCESSING AND METHOD FOR PRODUCING WORK INDUCED PRODUCT |
| CN202310174684.6A CN116890299A (en) | 2022-03-30 | 2023-02-28 | Method for manufacturing protective sheet for workpiece processing and workpiece singulation |
| KR1020230035754A KR20230141501A (en) | 2022-03-30 | 2023-03-20 | Protective sheet for workpiece processing and manufacturing method of divided workpiece |
| TW112111480A TW202338964A (en) | 2022-03-30 | 2023-03-27 | Method for manufacturing protective sheet for workpiece processing and individualized workpieces |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2022056786A JP7779787B2 (en) | 2022-03-30 | 2022-03-30 | PROTECTIVE SHEET FOR WORK PROCESSING AND METHOD FOR PRODUCING WORK INDUCED PRODUCT |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2023148645A JP2023148645A (en) | 2023-10-13 |
| JP7779787B2 true JP7779787B2 (en) | 2025-12-03 |
Family
ID=88287612
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2022056786A Active JP7779787B2 (en) | 2022-03-30 | 2022-03-30 | PROTECTIVE SHEET FOR WORK PROCESSING AND METHOD FOR PRODUCING WORK INDUCED PRODUCT |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP7779787B2 (en) |
| KR (1) | KR20230141501A (en) |
| CN (1) | CN116890299A (en) |
| TW (1) | TW202338964A (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2025115436A1 (en) * | 2023-11-30 | 2025-06-05 | 三井化学Ictマテリア株式会社 | Back grinding tape and method for manufacturing electronic device |
| WO2025115435A1 (en) * | 2023-11-30 | 2025-06-05 | 三井化学Ictマテリア株式会社 | Back grinding tape and method for manufacturing electronic device |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004311750A (en) | 2003-04-08 | 2004-11-04 | Teijin Dupont Films Japan Ltd | Base film for semiconductor wafer processing |
| JP4261260B2 (en) | 2003-06-26 | 2009-04-30 | 日東電工株式会社 | Semiconductor wafer grinding method and semiconductor wafer grinding adhesive sheet |
| JP2014175334A (en) | 2013-03-06 | 2014-09-22 | Furukawa Electric Co Ltd:The | Adhesive tape for semiconductor wafer surface protection |
| JP2015195264A (en) | 2014-03-31 | 2015-11-05 | 日東電工株式会社 | Die bonding film, die bonding film with dicing sheet, semiconductor device and semiconductor device manufacturing method |
| WO2018066480A1 (en) | 2016-10-03 | 2018-04-12 | リンテック株式会社 | Adhesive tape for semiconductor processing, and semiconductor device manufacturing method |
| JP2021163768A (en) | 2020-03-30 | 2021-10-11 | リンテック株式会社 | Protective sheet for semiconductor processing and method for manufacturing semiconductor device |
-
2022
- 2022-03-30 JP JP2022056786A patent/JP7779787B2/en active Active
-
2023
- 2023-02-28 CN CN202310174684.6A patent/CN116890299A/en active Pending
- 2023-03-20 KR KR1020230035754A patent/KR20230141501A/en active Pending
- 2023-03-27 TW TW112111480A patent/TW202338964A/en unknown
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004311750A (en) | 2003-04-08 | 2004-11-04 | Teijin Dupont Films Japan Ltd | Base film for semiconductor wafer processing |
| JP4261260B2 (en) | 2003-06-26 | 2009-04-30 | 日東電工株式会社 | Semiconductor wafer grinding method and semiconductor wafer grinding adhesive sheet |
| JP2014175334A (en) | 2013-03-06 | 2014-09-22 | Furukawa Electric Co Ltd:The | Adhesive tape for semiconductor wafer surface protection |
| JP2015195264A (en) | 2014-03-31 | 2015-11-05 | 日東電工株式会社 | Die bonding film, die bonding film with dicing sheet, semiconductor device and semiconductor device manufacturing method |
| WO2018066480A1 (en) | 2016-10-03 | 2018-04-12 | リンテック株式会社 | Adhesive tape for semiconductor processing, and semiconductor device manufacturing method |
| JP2021163768A (en) | 2020-03-30 | 2021-10-11 | リンテック株式会社 | Protective sheet for semiconductor processing and method for manufacturing semiconductor device |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 三ツ井みらい、五藤歩果、松本雄人,紙やすりの表面の凹凸による動摩擦係数の変化,共生のひろば,17,日本,兵庫県立 人 と自然の博物館,2022年04月01日,81-83,https://web.archive.org/web/20220401100111/https://www.hitohaku.jp/publication/book/kyousei17-p081.pd |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN116890299A (en) | 2023-10-17 |
| JP2023148645A (en) | 2023-10-13 |
| KR20230141501A (en) | 2023-10-10 |
| TW202338964A (en) | 2023-10-01 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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| A621 | Written request for application examination |
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| A977 | Report on retrieval |
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| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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