JP7780871B2 - 試験測定装置及び波形表示方法 - Google Patents

Description

本開示技術は、試験測定システムに関連する装置及び方法に関し、特に、取得した多数の波形をフィルタ処理して特定の波形を選択的に表示する試験測定装置及び波形表示方法に関する。

従来の試験測定装置は、典型的には、一度に１つのレコード（アクイジション：取得データ）を取得して保存する。この単一のアクイジション（取得データ）は、単純な視覚的調査に加えて、カーソル、数学的処理、測定値などを使用した分析調査の両方で利用できる。ユーザが試験測定装置の「停止（Stop）」ボタンを押すと、最新の取得データのみを分析に使用できる。

特開２００９－２５８１０８号公報 特開２００９－２３６９１８号公報 特開２００８－２６７９９４号公報 特開２００８－２３２９６８号公報

「５シリーズＭＳＯ ミックスド・シグナル・オシロスコープ」のデータシート、「FastFrameによるセグメント・メモリ・アクイジション・モード」に言及、テクトロニクス、［online］、［２０２１年３月４日検索］、インターネット<https://jp.tek.com/datasheet/5-series-mso>

一部の従来の試験測定装置では、高速フレーム（FastFrame）アクイジション、セグメント・メモリ・アクイジション、ウルトラ・セグメント・アクイジション、履歴などの追加のアクイジション（データ取得）モードを提供し、その結果、多数の取得データ（アクイジション）が試験測定装置のメモリに保存される。複数の取得データは、一度に１つずつ表示されるか（この場合、ユーザが複数の取得データをスクロールしなければならない）、又は、互いにオーバーレイされて表示される。関心のある取得データを見つけるには、数千単位の又は場合によっては数百万個単位の全ての取得データを、ユーザが手動でスクロールする必要がある。

本開示技術の例は、これら及び他の先行技術の欠陥に取り組むものである。

本願で開示される試験測定装置は、被試験デバイスから多数の波形を取得するように構成される入力部と、これら多数の波形を記憶するように構成されるメモリと、選択基準を受け取るように構成されるユーザ入力部と、１つ以上のプロセッサとを有している。１つ以上のプロセッサは、多数の波形が取得された後に、これら多数の波形を表示部上に描画させ、ユーザ入力部からフィルタ処理基準を示す視覚的な選択基準（表示された多数の波形中の関心のある領域など）を受け、多数の波形の中のどの波形がフィルタ処理基準内にあるかを判断し、関心領域に関連する波形のみを表示部上に描画させる。この試験測定装置によれば、ユーザが手動で数千又は場合によっては数百万の取得データをスクロールすることなく、取得した複数の波形を素早く視覚的にフィルタ処理することが可能になる。

本発明の実施形態の態様、特徴及び効果は、添付の図面を参照し、以下の実施形態の説明を読むことで明らかとなろう。

図１は、本開示技術の実施例による試験測定装置のブロック図である。 図２は、本開示技術の例による試験測定装置に表示されるグラフィカル・ユーザ・インタフェースの例の図である。 図３は、本開示技術の例による試験測定装置に関するユーザの選択の指示を受けたグラフィカル・ユーザ・インタフェースの例の図である。 図４は、本開示技術の例によるユーザの選択基準に基づいて波形をフィルタ処理したグラフィカル・ユーザ・インタフェースの例の図である。 図５は、本開示技術の例による試験測定装置の動作のフローチャートである。

図１は、本願に開示される開示技術の実施形態を実現するためのオシロスコープのような試験測定装置１００の例のブロック図である。試験測定装置１００には、１つ又は複数のポート１０２があり、これは、何らかの電気信号伝送媒体であっても良い。ポート１０２には、受信回路、送信回路、トランシーバが含まれても良い。各ポート１０２は、試験測定装置１００のチャンネルである。ポート１０２は、１つ以上の被試験デバイスからポート１０２で受信した信号や波形を処理するために、１つ以上のプロセッサ１０４に結合される。図１では、説明を簡単にするため、プロセッサ１０４が１つだけ示されているが、当業者であればわかるように、単一のプロセッサ１０４ではなく、様々な種類の複数のプロセッサ１０４を組み合わせて使用しても良い。

ポート１０２は、試験測定装置１００内の測定ユニットにも接続されていて良いが、これは、説明を簡単にするため、図示していない。このような測定ユニットは、ポート１０２を介して受信した信号の複数の特徴（例えば、電圧、アンペア数、振幅等）を測定できる任意のコンポーネントを含むことができる。試験測定装置は、更なる分析のために、例えば、コンディショニング回路やアナログ・デジタル・コンバータその他の受信信号を波形に変換する回路のような追加のハードウェアやプロセッサを有していても良い。その結果生じる波形は、次いで、表示部１０８で表示されるのに加えて、メモリ１０６に記憶される。

１つ以上のプロセッサ１０４は、メモリ１０６からの命令を実行するように構成され、こうした命令に示されるような、本開示技術の実施形態のグラフィカル・ユーザ・インタフェース（ＧＵＩ）を表示及び変更するような方法や関連する処理を実行しても良い。メモリ１０６は、１つ以上のプロセッサ・キャッシュ、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、読み取り専用メモリ（ＲＯＭ）、ソリッド・ステート・メモリ、ハード・ディスク・ドライブその他の任意のメモリ形式として実装されても良い。メモリ１０６は、データ、コンピュータ・プログラム・プロダクト、その他の命令を記憶するための媒体として機能する。

ユーザ入力部１１０は、１つ以上のプロセッサ１０４に結合される。ユーザ入力部１１０は、表示部１０８上のＧＵＩをインタラクティブに扱うためにユーザが利用できるキーボード、マウス、トラックボール、タッチスクリーンその他の任意の操作装置を有していても良い。表示部１０８は、波形、測定値その他のデータをユーザに表示するデジタル・スクリーン、陰極線管ベースの表示装置その他のモニターであっても良い。試験測定装置１００のこれらコンポーネントは、試験測定装置１００内に統合されて描画されているが、当業者であれば、これらのコンポーネントのいずれかが試験測定装置１００に外部に存在し、従来の任意の方法（例えば、有線や無線の通信媒体やメカニズム）で測定器１００と結合できることが理解できよう。例えば、いくつかの実施形態では、表示部１０８が、試験測定装置１００から遠隔にあっても良い。

図２は、ＧＵＩ２００の例を示す。ＧＵＩ２００は、試験測定装置１００によって取得され、メモリ１０６に記憶された多数の取得データ（アクイジション、波形データ）２０２を表示できる。ＧＵＩ２００は、互いの上に重ね合わされた（オーバーレイされた）多数の取得データを示しており、取得された信号中の間欠的な（又は、まれな）イベント（事象）又は潜在的な関心を持ち得る部分を一目で簡単に知ることができる。

上述のように、従来の試験測定装置１００は、全ての取得データ（アクイジション）を一度に表示し、ユーザは、取得データを手動でスクロールするか又はざっと目を通して、関心のある信号を見つける必要がある。いくつかの実施形態では、ＧＵＩ２００は、例えば、色分けするか又は波形を区別することによって、信号の発生頻度を示すことができる。

例えば、発生頻度が高い信号やイベントほど、赤、橙、黄のような、より暖色系の色で示され、発生頻度の少ないイベントほど、紫、藍、青のような、より寒色系の色で示される。これに代えて、図２に示すように、発生頻度の高いイベントほど、より太い線で表示したり、発生頻度が低いイベントほど、より細い線で表示することもできる。

取得した複数の波形が表示されると、ユーザは、特定の波形のみを調査するか又は特定の波形のみを更に表示するかを判断しても良い。図３は、ユーザによる関心のある波形又は領域の選択を示すＧＵＩ３００を示す図である。

ＧＵＩ３００では、取得した複数の波形の全てがオーバーレイされてユーザに表示される。図３に示すように、ユーザは、この例では、３つの関心のある領域３０２、３０４及び３０６を選択している。関心領域３０２、３０４及び３０６は、ＧＵＩ上に表示されたカーソル３０８を用いて選択する関心領域を描画するなどにより、ユーザ入力部１１０を介して選択できる。関心領域３０２、３０４及び３０６は、ボックス（箱）として表示されているが、本開示技術の例は、この構成に限定されない。ユーザ入力部１１０を通じてユーザが選択する関心領域は、限定するものではないが、円、三角形、自由に形成した形状などの任意の形状であり得る。関心領域又は選択基準は、形状でなくても良く、波形が有する特定の振幅、周波数、パルス幅などの波形の特性（又は複数の特性）であっても良い。

この例では、関心領域３０２、３０４及び３０６が特定されると、１つ以上のプロセッサ１０４が、取得した複数の波形の中のどの波形が関心領域３０２、３０４及び３０６内に入るかを判断しても良い。それら波形が特定されると、図４のＧＵＩ４００に示すように、関心領域３０２、３０４及び３０６内に入る波形のみが表示部１０８に表示される。このように、関心領域３０２、３０４及び３０６は、多数の取得波形の中から、ユーザにとって関心のある波形を視覚的に選択（フィルタ処理）する基準として機能するので、視覚的フィルタ処理基準又は視覚的選択基準と呼んでも良いことが理解できよう。

図５は、本開示技術の例による試験測定装置１００の動作例を示すフローチャートである。工程５００では、試験測定装置１００の動作中に、被試験デバイスから多数の波形が取得される。取得される波形の数は、少なくとも１個であれば良いが、本開示技術の実施形態は、限定するものではないが、数百、数千又は数百万の波形というように、取得した波形の数が、非常に多数の波形である場合に特に有用であろう。工程５０２では、取得した波形がメモリ１０６に記憶される。波形の取得後、１つ又は複数のプロセッサ１０４は、工程５０４において、全ての取得波形を互いに重ね合わせて（オーバーレイ）表示するＧＵＩを表示部１０８上に表示させる。

工程５０６では、ユーザ入力部１１０から１つ以上の関心領域を選択する指示を受けることで、ＧＵＩ上に表示される関心領域が示される。工程５０８では、１つ以上のプロセッサが、取得した複数の波形のうち、どの波形が選択された関心領域内に入るかを、そうした波形が存在する場合には、決定（判断）できる。関心領域は、ユーザが、含めたい波形（又は波形の一部）上に、その形状（図形）を描画することで選択できる。つまり、関心領域は、どのポイントを、関心のあるポイントとして含めるかを示す。別の例では、関心領域は、その形状（図形）内にあるものは含まれない、という意味で描画することができる。即ち、関心領域は、その形状の外側にあり、その形状の内部は、関心領域に含まれないことが示されても良い。

いくつかの例では、複数の形式の関心領域があっても良い。１つの実施形態では、ユーザは、例えば、選択した複数の関心領域の中のいずれか１つ以上に入った波形であれば、その全ての波形を関心のある波形として選択するようにしても良い。別の実施形態では、ユーザは、例えば、選択した複数の関心領域の全てに入る波形のみを関心のある波形として選択されるようにしても良い。即ち、ユーザは、関心領域の種類の異なる組み合わせを選択しても良い。関心領域の選択基準（criteria）は、例えば、関心領域に「ヒット（hit：命中）しなければならない（must hit）」、関心領域に「ヒットしてはならない（must not hit）」、関心領域にヒットしてもヒットしなくても「どちらでも良い（ドントケア：don't care）」などである。即ち、１つ以上のプロセッサ１０４は、ユーザが選択した関心領域に基づいて、取得した波形をフィルタリング（フィルタ処理）し、関心領域にユーザが設定した選択基準に該当しない波形をＧＵＩから除去できる。

いくつかの例では、複数のポート１０２からの波形が取得され、表示されても良い。ある１つの特定のポートに関して取得された複数の波形の夫々は、例えば、互いに重ね合わせられてオーバーレイ表示されると同時に、複数のウィンドウを設けて、各ウィンドウに、特定のポートに関する複数波形をオーバーレイ表示するようにしても良い。フィルタ処理基準は、複数のウィンドウ中の波形に基づいていても良い。例えば、被試験デバイスからの信号は、あるポートで受信され、温度信号は、別のポートから受けるとする。ユーザは、両方の信号に向けた基準を選択して、取得した波形をフィルタ処理することができる。例えば、ユーザは、被試験デバイスからの信号に関する関心領域その他のフィルタ処理基準を選択しても良いが、加えて、温度信号が特定のしきい値を突破したときのデータにのみ関心があることを指定しても良い。

フィルタ処理が行われたら、１つ以上のプロセッサ１０４は、各種の測定など、フィルタ処理された波形に対して、各種の処理を行っても良い。また、ユーザがデータ取得（アクイジション）中に以前に設定したトリガ基準のような関心領域の基準が、ユーザに提案されても良い。

工程５１０では、ユーザが選択した基準を満たす波形が表示される。工程５１２では、現在の関心領域の新たな選択又は変更について、ユーザ入力部１１０を介して受けても良い。１つ以上のプロセッサ１０４は、次いで、工程５１０に戻り、新しい関心領域に従って、取得した波形をフィルタ処理する。つまり、関心領域が変更、移動、追加又は削除されると、ＧＵＩに表示される取得波形は、関心領域に応じて、自動的に表示又は非表示になり、これによって、ユーザは、数千又は場合によっては数百万件の取得データを手動で調査する必要がなく、ユーザが関心のある特定の取得データ（波形データ）をすばやく、簡単に、直感的に見つけることができる。

本開示技術の態様は、特別に作成されたハードウェア、ファームウェア、デジタル・シグナル・プロセッサ又はプログラムされた命令に従って動作するプロセッサを含む特別にプログラムされた汎用コンピュータ上で動作できる。本願における「コントローラ」又は「プロセッサ」という用語は、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、ＡＳＩＣ及び専用ハードウェア・コントローラ等を意図する。本開示技術の態様は、１つ又は複数のコンピュータ（モニタリング・モジュールを含む）その他のデバイスによって実行される、１つ又は複数のプログラム・モジュールなどのコンピュータ利用可能なデータ及びコンピュータ実行可能な命令で実現できる。概して、プログラム・モジュールとしては、ルーチン、プログラム、オブジェクト、コンポーネント、データ構造などを含み、これらは、コンピュータその他のデバイス内のプロセッサによって実行されると、特定のタスクを実行するか、又は、特定の抽象データ形式を実現する。コンピュータ実行可能命令は、ハードディスク、光ディスク、リムーバブル記憶媒体、ソリッド・ステート・メモリ、ＲＡＭなどのコンピュータ可読記憶媒体に記憶しても良い。当業者には理解されるように、プログラム・モジュールの機能は、様々な実施例において必要に応じて組み合わせられるか又は分散されても良い。更に、こうした機能は、集積回路、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（ＦＰＧＡ）などのようなファームウェア又はハードウェア同等物において全体又は一部を具体化できる。特定のデータ構造を使用して、本開示技術の１つ以上の態様をより効果的に実施することができ、そのようなデータ構造は、本願に記載されたコンピュータ実行可能命令及びコンピュータ使用可能データの範囲内と考えられる。

開示された態様は、場合によっては、ハードウェア、ファームウェア、ソフトウェア又はこれらの任意の組み合わせで実現されても良い。開示された態様は、１つ以上のプロセッサによって読み取られ、実行され得る１つ又は複数のコンピュータ可読媒体によって運搬されるか又は記憶される命令として実現されても良い。そのような命令は、コンピュータ・プログラム・プロダクトと呼ぶことができる。本願で説明するコンピュータ可読媒体は、コンピューティング装置によってアクセス可能な任意の媒体を意味する。限定するものではないが、一例としては、コンピュータ可読媒体は、コンピュータ記憶媒体及び通信媒体を含んでいても良い。

コンピュータ記憶媒体とは、コンピュータ読み取り可能な情報を記憶するために使用することができる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、コンピュータ記憶媒体としては、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）、電気消去可能プログラマブル読み出し専用メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）、フラッシュメモリやその他のメモリ技術、コンパクト・ディスク読み出し専用メモリ（ＣＤ-ＲＯＭ）、ＤＶＤ（Digital Video Disc）やその他の光ディスク記憶装置、磁気カセット、磁気テープ、磁気ディスク記憶装置やその他の磁気記憶装置、及び任意の技術で実装された任意の他の揮発性又は不揮発性の取り外し可能又は取り外し不能の媒体を含んでいても良い。コンピュータ記憶媒体としては、信号そのもの及び信号伝送の一時的な形態は除外される。

通信媒体とは、コンピュータ可読情報の通信に利用できる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、通信媒体には、電気、光、無線周波数（ＲＦ）、赤外線、音又はその他の形式の信号の通信に適した同軸ケーブル、光ファイバ・ケーブル、空気又は任意の他の媒体を含むことができる。

実施例

以下では、本願で開示される技術の理解に有益な実施例が提示される。この技術の実施形態は、以下で記述する実施例の１つ以上及び任意の組み合わせを含んでいても良い。

実施例１は、試験測定装置であって、被試験デバイスから複数の波形を取得するように構成される入力部と、取得した上記波形を記憶するように構成されるメモリと、選択基準を受けるように構成されるユーザ入力部と、１つ以上のプロセッサとを具え、１つ以上の上記プロセッサは、取得した上記波形を表示部上に描画させ、表示された取得した上記波形中の関心領域を示す選択基準を上記ユーザ入力部から受け、取得した上記波形の中のどの波形が上記関心領域内にあるかを判断し、上記関心領域に関連する波形のみを上記表示部上に描画させる。

実施例２は、実施例１の試験測定装置であって、上記選択基準には、複数の関心領域が含まれており、１つ以上の上記プロセッサが、取得した上記波形中のどの波形が上記複数の関心領域の中の少なくとも１つの関心領域内にあるかを決定し、上記少なくとも１つの関心領域に関連する波形のみを上記表示部上に描画するよう更に構成される。

実施例３は、実施例２の試験測定装置であって、１つ以上の上記プロセッサが、取得した上記波形中のどの波形が全ての上記関心領域内にあるかを決定し、全ての上記関心領域に関連する波形のみを上記表示部上に描画するよう更に構成される。

実施例４は、実施例１～３のいずれかの試験測定装置であって、上記選択基準は、第１選択基準であり、１つ以上の上記プロセッサは、表示された取得した上記波形中の第２関心領域を示す第２選択基準を上記ユーザ入力部から受け、取得した上記波形中のどの波形が上記第２関心領域内にあるかを決定し、上記第２関心領域に関連する波形のみを上記表示部上に描画するよう更に構成される。

実施例５は、実施例１～３のいずれかの試験測定装置であって、上記選択基準は、第１選択基準であり、１つ以上の上記プロセッサは、上記関心領域の変更を示す第２選択基準を上記ユーザ入力部から受け、取得した上記波形中のどの波形が、変更された上記関心領域内にあるかを決定し、変更された上記関心領域に関連する波形のみを上記表示部上に描画するよう更に構成される。

実施例６は、実施例５の試験測定装置であって、上記関心領域の変更は、第２関心領域を追加する処理か、上記関心領域を削除する処理か、又は、上記関心領域の特性を変更する処理である。

実施例７は、実施例１～６のいずれかの試験測定装置であって、上記選択基準は、波形特性を選択する指示を含み、１つ以上の上記プロセッサは、上記波形特性に基づいて上記関心領域を決定する。

実施例８は、取得した波形を選択的に表示する方法であって、メモリの中から複数の取得した波形を表示部上で表示する処理と、ユーザ入力部から視覚的なフィルタ処理基準を受ける処理と、上記フィルタ処理基準に基づいて上記メモリからの取得した上記波形をフィルタ処理してフィルタ処理波形を決定する処理と、上記表示部の表示を更新して取得した上記波形の中から上記フィルタ処理波形のみを表示する処理とを具える。

実施例９は、実施例８の方法であって、上記フィルタ処理基準は、複数の関心領域を含み、上記フィルタ処理波形は、取得した上記波形の中の上記関心領域の少なくとも１つの内にある波形を含む。

実施例１０は、実施例９の方法であって、上記フィルタ処理波形は、取得した上記波形の中の全ての上記関心領域内にある波形を含む。

実施例１１は、実施例８又は９のいずれかの方法であって、上記フィルタ処理基準は、第１フィルタ処理基準であり、上記方法が、上記ユーザ入力部から第２フィルタ処理基準を受ける処理と、上記第２フィルタ処理基準に基づいて上記メモリからの取得した上記波形をフィルタ処理して新たなフィルタ処理波形を決定する処理とを更に具えている。

実施例１２は、実施例８～１１のいずれかの方法であって、上記ユーザ入力部から上記フィルタ処理基準の変更の指示を受ける処理と、変更された上記フィルタ処理基準に基づいてメモリからの取得した上記波形をフィルタ処理して新規にフィルタ処理波形を決定する処理とを更に具える。

実施例１３は、実施例１２の方法であって、上記フィルタ処理基準の変更は、第２フィルタ処理基準を追加する処理、上記フィルタ処理基準を削除する処理又は上記フィルタ処理基準の特性を変更する処理である。

実施例１４は、実施例８～１３のいずれかの方法であって、上記フィルタ処理基準が、波形特性を含む。

実施例１５は、プログラムであって、試験測定装置の１つ以上のプロセッサによって実行されると、上記試験測定装置が、メモリからの複数の取得された波形を表示し、ユーザ入力部からフィルタ処理基準を受け取り、上記フィルタ処理基準に基づいて上記メモリからの取得した上記波形をフィルタ処理してフィルタ処理波形を決定し、波形表示を更新して上記フィルタ処理波形のみを表示する命令を含んでいる。

実施例１６は、実施例１５のプログラムであって、上記フィルタ処理基準には、複数の関心領域が含まれており、上記フィルタ処理波形には、取得した上記波形の中の少なくとも１つの上記関心領域内にある波形が含まれる。

実施例１７は、実施例１５のプログラムであって、上記フィルタ処理基準には、複数の関心領域が含まれており、上記フィルタ処理波形には、取得した上記波形の中の全ての上記関心領域内にある波形が含まれる。

実施例１８は、実施例１５～１７のいずれかのプログラムであって、上記試験測定装置の１つ以上の上記プロセッサによって実行されると、上記試験測定装置が、上記ユーザ入力部から上記フィルタ処理基準の変更を受け、変更された上記フィルタ処理基準に基づいて上記メモリからの取得した上記波形をフィルタ処理して第２フィルタ処理波形を決定する命令を更に含んでいる。

実施例１９は、実施例１８のプログラムであって、上記フィルタ処理基準の変更は、第２フィルタ処理基準を追加する処理、上記フィルタ処理基準を削除する処理又は上記フィルタ処理基準の特性を変更する処理である。

実施例２０は、実施例１５～１９のいずれかのプログラムであって、上記フィルタ処理基準が波形特性を含む。

開示された主題の上述のバージョンは、記述したか又は当業者には明らかであろう多くの効果を有する。それでも、開示された装置、システム又は方法のすべてのバージョンにおいて、これらの効果又は特徴のすべてが要求されるわけではない。

加えて、本願の記述は、特定の特徴に言及している。本明細書における開示には、これらの特定の特徴の全ての可能な組み合わせが含まれると理解すべきである。ある特定の特徴が特定の態様又は実施例の状況において開示される場合、その特徴は、可能である限り、他の態様及び実施例の状況においても利用できる。

また、本願において、２つ以上の定義されたステップ又は工程を有する方法に言及する場合、これら定義されたステップ又は工程は、状況的にそれらの可能性を排除しない限り、任意の順序で又は同時に実行しても良い。

説明の都合上、本発明の具体的な実施例を図示し、説明してきたが、本発明の要旨と範囲から離れることなく、種々の変更が可能なことが理解できよう。従って、本発明は、添付の請求項以外では、限定されるべきではない。

１００ 試験測定装置
１０２ ポート
１０４ プロセッサ
１０６ メモリ
１０８ 表示部
１１０ ユーザ入力部
２００ ＧＵＩ
２０２ 取得波形データ
３００ ＧＵＩ
３０２ 関心領域
３０４ 関心領域
３０６ 関心領域
３０８ マウス・カーソル
４００ ＧＵＩ

Claims (10)

1. 被試験デバイスから受ける入力信号の異なる複数の部分の夫々から波形を取得するように構成される入力部と、
   取得した複数の上記波形を記憶するように構成されるメモリと、
   取得した複数の上記波形を表示するように構成される表示部と、
   取得した複数の上記波形の中から、選択的に表示する選択波形をユーザが指定するための縦軸の範囲及び横軸の範囲を定める関心領域であって、選択の種類を有する上記関心領域を選択基準として上記ユーザから受けるように構成されるユーザ入力部と、
   １つ以上のプロセッサと
   を具え、
   １つ以上の上記プロセッサは、
   取得した複数の上記波形をオーバーレイさせて上記表示部上に描画する処理と、
   取得した複数の上記波形が描画された後に、上記選択基準を上記ユーザ入力部から受ける処理と、
   取得した複数の上記波形の中のどの波形が上記関心領域内にあるかを決定する処理と、
   上記関心領域の上記種類に従って上記関心領域に関連する上記選択波形のみを上記表示部上に描画する処理と
   を行うように構成され、
   上記選択の種類は、上記関心領域に上記波形がヒットする、又は、上記関心領域に上記波形がヒットしないのいずれかである
   試験測定装置。
2. 上記選択基準には、複数の関心領域が含まれており、１つ以上の上記プロセッサが、取得した上記波形中のどの波形が少なくとも１つの上記関心領域内にあるかを決定し、少なくとも１つの上記関心領域に関連する波形のみを上記表示部上に描画するよう更に構成される請求項１の試験測定装置。
3. 上記選択基準には、複数の関心領域が含まれており、１つ以上の上記プロセッサが、取得した上記波形中のどの波形が全ての上記関心領域内にあるかを決定し、全ての上記関心領域に関連する波形のみを上記表示部上に描画するよう更に構成される請求項１の試験測定装置。
4. 上記選択基準は、第１選択基準であり、１つ以上の上記プロセッサは、上記関心領域の変更を示す第２選択基準を上記ユーザ入力部から受け、取得した上記波形中のどの波形が変更された上記関心領域内にあるかを決定し、変更された上記関心領域に関連する波形のみを上記表示部上に描画するよう更に構成される請求項１から３のいずれかの試験測定装置。
5. 上記選択基準は、波形特性に関する基準を更に含み、１つ以上の上記プロセッサは、上記波形特性に基づいて上記関心領域を決定する請求項１から４のいずれかの試験測定装置。
6. 取得した波形を選択的に表示する方法であって、
   被試験デバイスから受ける入力信号の異なる複数の部分の夫々から波形を取得する処理と、
   取得した複数の上記波形をメモリ中に記憶する処理と、
   上記メモリの中から取得した複数の上記波形をオーバーレイさせて表示部上に表示する処理と、
   取得した複数の上記波形の中から、選択的に表示するフィルタ処理波形をユーザが指定するための縦軸の範囲及び横軸の範囲を定める関心領域であって、フィルタ処理の種類を有する上記関心領域を視覚的なフィルタ処理基準としてユーザ入力部から受ける処理と、
   上記フィルタ処理基準及び上記フィルタ処理の種類に基づいて上記メモリからの取得した複数の上記波形をフィルタ処理して上記フィルタ処理波形を決定する処理と、
   上記表示部の表示を更新して取得した複数の上記波形の中から上記フィルタ処理波形のみを表示する処理と
   を具え、
   上記フィルタ処理の種類は、上記関心領域に上記波形がヒットする、又は、上記関心領域に上記波形がヒットしないのいずれかである波形表示方法。
7. 上記フィルタ処理基準は、複数の関心領域を含み、上記フィルタ処理波形は、取得した上記波形の中の１つ以上の上記関心領域に入る波形を含む請求項６の波形表示方法。
8. 上記ユーザ入力部から上記フィルタ処理基準の変更の指示を受ける処理と、変更された上記フィルタ処理基準に基づいて上記メモリからの取得した上記波形をフィルタ処理して第２フィルタ処理波形を決定する処理とを更に具える請求項６又は７の波形表示方法。
9. 上記フィルタ処理基準の変更は、第２フィルタ処理基準を追加する処理、上記フィルタ処理基準を削除する処理、又は、上記フィルタ処理基準の特性を変更する処理である請求項８の波形表示方法。
10. 試験測定装置の１つ以上のプロセッサによって実行されると、上記試験測定装置に、請求項６から９のいずれかの波形表示方法を実行させる命令を含むプログラム。