JP7784701B2 - レーザーハンダ付け装置における放射温度計の校正システム及び校正方法並びに校正用温度計の製造方法 - Google Patents
レーザーハンダ付け装置における放射温度計の校正システム及び校正方法並びに校正用温度計の製造方法Info
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Description
また、前記仕切板における前記測温用ハンダが載置された部位には、孔部が形成されており、前記温度センサーの前記測温部は、前記孔部を通して前記測温用ハンダの底面に接着されている。
また、前記校正用温度計は、前記レーザーハンダ付け装置の、前記ハンダ付け部位が配置されたハンダ付け領域の近傍に設置されている。
前記仕切板18は、ハンダに対する濡れ性を有さない素材で形成されているため、放射温度計7(図2参照)の校正時に、前記測温用ハンダ20がレーザー光で加熱されて溶融しても、溶融した測温用ハンダが該仕切板18上を濡れ広がることはない。
なお、前記酸化防止ガラス23は、前記測定室17を大気から遮断するように前記開口部17aに気密に取り付けられていても良い。
図6において、ステップS1で校正が開始されると、ステップS2において、前記照射ヘッド6からレーザー光Lが前記校正用温度計15の前記測温用ハンダ20に酸化防止ガラス23を通して照射される。このときの前記レーザー光Lの強度(出力)は、例えば数W程度の低出力に設定されている。
前記温度センサー19による第1測定値T1と放射温度計7による第2測定値T2との間に差がない場合には、前記放射温度計7の放射率は書き換えられずに校正は終了する。
前記放射温度計7の校正が終了すると、前記照射ヘッド6及び放射温度計7は、図1及び図2に示すハンダ付け位置に復帰し、ハンダ付け作業が開始される。
さらに、前記校正用温度計15に照射するレーザー光Lの出力は、数W程度の低出力で良いため、消費電力が少なく、経済的である。
6 照射ヘッド
7 放射温度計
8a ハンダ付けエリア
15 校正用温度計
16 ボディ
18 仕切板
18a 孔(孔部)
19 温度センサー
19a,19b 金属線
19c 測温部
20 測温用ハンダ
23 酸化防止ガラス
25 校正システム
Claims (6)
- ハンダ付け部位にレーザー光を照射する照射ヘッドと、前記ハンダ付け部位に供給されて加熱により溶融したハンダから放射される赤外光を受光することにより該ハンダの温度を測定する放射温度計と、装置全体を制御するコントローラとを有するレーザーハンダ付け装置において、前記放射温度計を校正するための校正システムであって、
前記校正システムは、前記照射ヘッド及び前記放射温度計と、前記レーザーハンダ付け装置に設置された校正用温度計と、校正用プログラムが入力された前記コントローラとにより構成され、
前記校正用温度計は、ボディと、該ボディの上面に形成された測定室と、該測定室内に収容された温度測定対象である測温用ハンダと、該測温用ハンダに接続されることにより該測温用ハンダの温度を直接測定する温度センサーとを有し、
前記温度センサーは、2本の異種金属線を相互に接続して接続点を温度測定のための測温部とした熱電対からなっていて、前記測温部に前記測温用ハンダが接合されており、
前記測定室には、前記測温用ハンダの大気との接触による酸化を防止するための透明で耐熱性を有する酸化防止ガラスが該測温用ハンダを覆うように取り付けられていて、
前記レーザーハンダ付け装置の前記照射ヘッドから出力されるレーザー光が前記酸化防止ガラスを通じて前記測温用ハンダに照射されるようになっており、
該酸化防止ガラスの下面に前記測温用ハンダが隙間なく密に接着されている、
ことを特徴とするレーザーハンダ付け装置における放射温度計の校正システム。 - 前記測定室内には、前記測温用ハンダを載置する仕切板が設けられており、
前記酸化防止ガラスの下面と前記仕切板の上面とは、前記測温用ハンダに対して濡れ性を有しない素材で形成されている、
ことを特徴とする請求項1に記載の校正システム。 - 前記仕切板における前記測温用ハンダが載置された部位には、孔部が形成されており、
前記温度センサーの前記測温部は、前記孔部を通して前記測温用ハンダの底面に接着されている、
ことを特徴とする請求項2に記載の校正システム。 - 請求項1から3の何れかに記載の校正システムにおける前記校正用温度計の製造方法であって、
前記測温用ハンダは、前記酸化防止ガラスに超音波ハンダ付けによって接着されていることを特徴とする校正用温度計の製造方法。 - 前記校正用温度計は、前記レーザーハンダ付け装置の、前記ハンダ付け部位が配置されたハンダ付け領域の近傍に設置されていることを特徴とする請求項1から3の何れかに記載の校正システム。
- 請求項1、2、3、5の何れかに記載の校正システムにより前記放射温度計を校正する方法であって、前記照射ヘッドからレ-ザー光を前記校正用温度計の前記測温用ハンダに照射することにより該測温用ハンダを溶融させ、溶融した前記測温用ハンダの温度を前記温度センサーにより測定して測定値を前記コントローラに入力すると共に、前記測温用ハンダから放射される赤外光を前記放射温度計で受光することにより、該放射温度計で前記測温用ハンダの温度を測定して測定値を前記コントローラに入力し、該コントローラにおいて、前記温度センサーによる測定値と前記放射温度計による測定値との差に応じた放射率オフセット量を算出し、算出した放射率オフセット量に基づいて前記放射温度計の放射率をオフセットすることを特徴とする放射温度計の校正方法。
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| JP2011022039A (ja) | 2009-07-16 | 2011-02-03 | Olympus Corp | 温度測定装置および温度測定方法 |
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