JP7792325B2 - Test system and test method - Google Patents
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Description
本発明は、テストツールに関する。 The present invention relates to a test tool.
ソフトウェア開発の効率化のため、種々の分野で標準化が推進され、標準規格が策定されている。そのため標準化の影響はソフトウェア自体には留まらず、ソフトウェアのテストにも適用され、標準規格の項目に基づいたテストが求められている。 To improve the efficiency of software development, standardization is being promoted in various fields and standards are being established. As a result, the impact of standardization is not limited to the software itself; it also applies to software testing, with testing based on standard items being required.
AUTOSAR(AUTomotive Open System ARchitecture)を対象としたテストでは、AUTOSARの各機能について、AUTOSARから受け入れテスト(Acceptance Test(AT))の仕様が定められ、提供されている。ただし、受け入れテストで対象としているテストは、AUTOSARの基本機能に限定されているため、製品に実装する構成に対するテストシナリオの作成が必要となる。 For testing targeting AUTOSAR (AUTomotive Open System ARchitecture), AUTOSAR defines and provides acceptance test (AT) specifications for each of AUTOSAR's functions. However, since the tests targeted in acceptance tests are limited to AUTOSAR's basic functions, it is necessary to create test scenarios for the configuration to be implemented in the product.
また、AUTOSARでは、コンフィギュレーションパラメータを変更した場合、全てのソースコードが再生成され、なおかつ、生成されるソースコードの量は膨大であるが、品質担保のためテストを行う際には全パターンの検証が必要である。 In addition, with AUTOSAR, when configuration parameters are changed, all source code is regenerated, and although the amount of source code generated is enormous, all patterns must be verified when testing to ensure quality.
本技術分野の背景技術として、以下の先行技術がある。特許文献1(特開2000-000000号公報)には、ハードウェアを抽象化した抽象化層の環境を設定するコンフィギュレーションパラメータと、APIパラメータと、網羅的にコンフィギュレーションパラメータの組み合わせと、網羅的にAPIパラメータの組み合わせを、それぞれ抽出する組み合わせ抽出手段と、処理シーケンスに含まれる処理に基づき、テストケースを生成するテストケース生成手段と、抽象化層のインタフェースをモデル化したインタフェースモデルと、コンフィギュレーションパラメータの組み合わせ、APIパラメータの組み合わせ、又は、テストケースを抽象化層に適用して抽象化層をテストするテスト実行手段と、を有するテストツールが記載されている。 The following prior art exists as background technology in this technical field. Patent Document 1 (JP 2000-000000) describes a test tool that includes configuration parameters that set the environment of an abstraction layer that abstracts hardware, API parameters, a combination extraction means that comprehensively extracts combinations of configuration parameters, and a comprehensive combination of API parameters, a test case generation means that generates test cases based on the processes included in the processing sequence, an interface model that models the interface of the abstraction layer, and a test execution means that applies combinations of configuration parameters, combinations of API parameters, or test cases to the abstraction layer to test the abstraction layer.
特許文献1に記載されたテストツールでは、AUTOSARを対象としたテストにおいてオールペア法を用い、コンフィギュレーションパラメータを当該手法における因子とし、対象となる四つの因子から二つの因子を選択し、選択された二つの因子に対してのテストは100%の組み合わせが得られる仕組みを構築している。しかし、前述の通り、この方法では、全パターンを検証できず、テストカバレッジの低下、選択されたコンフィギュレーションパラメータ・APIパラメータ組み合わせの偏りなどによるテストシナリオの漏れが懸念される。 The test tool described in Patent Document 1 uses the all-pairs method for testing AUTOSAR, using configuration parameters as factors in the method, selecting two factors from four target factors, and constructing a system that ensures 100% combinations of tests for the two selected factors. However, as mentioned above, this method cannot verify all patterns, and there are concerns about reduced test coverage and missing test scenarios due to bias in the selected configuration parameter/API parameter combinations.
そこで、標準規格に準拠しないコンフィギュレーションパラメータを付帯情報に基づいて変換して標準化する機能と、付帯情報に基づいてテストシナリオを自動的に生成する機能を持つ自動テスト環境の構築が望まれている。 Therefore, there is a need to build an automated testing environment that has the ability to convert and standardize non-standard configuration parameters based on additional information, and the ability to automatically generate test scenarios based on the additional information.
本願において開示される発明の代表的な一例を示せば以下の通りである。すなわち、所定の標準規格に基づくソフトウェアアーキテクチャに準拠してソフトウェアをテストするテストシステムであって、前記テストシステムは、所定の処理を実行する演算装置と、前記演算装置がアクセス可能な記憶装置とを有する計算機を備え、前記演算装置は、テストすべきソフトウェアを、前記ソフトウェアアーキテクチャに準拠した第1テスト対象と、前記前記ソフトウェアアーキテクチャに準拠していない第2テスト対象とに選別し、前記第2テスト対象であることを示す付帯情報を生成するテスト対象選別ステップと、前記第2テスト対象に含まれる前記標準規格に準拠しないコンフィギュレーションパラメータを、標準規格に準拠した形式に変換する標準変換ステップと、予め登録された第1ベーステストシナリオから第1テストシナリオを作成し、前記第1テスト対象をテストする第1テストステップと、予め登録された第2ベーステストシナリオから第2テストシナリオを作成し、前記第2テスト対象をテストする第2テストステップと、を実行することを特徴とする。 A representative example of the invention disclosed in this application is as follows: a test system for testing software in compliance with a software architecture based on a predetermined standard, the test system comprising a computer having an arithmetic unit that executes predetermined processing and a storage device accessible by the arithmetic unit, the arithmetic unit executing the following steps: a test target selection step that sorts software to be tested into a first test target that complies with the software architecture and a second test target that does not comply with the software architecture and generates accompanying information indicating the second test target; a standard conversion step that converts configuration parameters included in the second test target that do not comply with the standard into a format that complies with the standard; a first test step that creates a first test scenario from a pre-registered first base test scenario and tests the first test target; and a second test step that creates a second test scenario from a pre-registered second base test scenario and tests the second test target.
本発明の一態様によれば、AUTOSAR等の標準規格でテストが提供されていないテスト対象に対しても、テスト対象を選別し個別対応を講じることでテストを実行できる環境を構築することができる。前述した以外の課題、構成及び効果は、以下の実施例の説明によって明らかにされる。 According to one aspect of the present invention, it is possible to create an environment in which tests can be performed on test subjects for which tests are not provided in standards such as AUTOSAR by selecting test subjects and taking individual measures. Issues, configurations, and effects other than those mentioned above will become clear from the description of the following examples.
<実施例1>
以下、図面を用いて実施例を詳細に説明する。
Example 1
Hereinafter, the embodiments will be described in detail with reference to the drawings.
図1は、本発明の実施例1のテストツールの全体構成図である。 Figure 1 is a diagram showing the overall configuration of a test tool according to the first embodiment of the present invention.
以下、実施例1のテストツールについて、テスト対象選別ステップ104、標準変換ステップ107、テストシナリオ作成ステップ113、及びテストステップ117に分けて説明する。 The test tool of Example 1 will be explained below, divided into the test target selection step 104, the standard conversion step 107, the test scenario creation step 113, and the test step 117.
テスト対象選別ステップ104において、本実施例のテストツールは、AUTOSAR DCM(Diagnostic Communication Manager)を対象としており、各コンフィギュレーションパラメータに対してテストが必要であり、全パターン検証が必須とされる。そのためコンフィギュレーションパラメータの数だけテストが必要になり、テストシナリオの数が膨大になる。そこで、テスト対象を機能全体のふるまいを定めるコンフィギュレーションパラメータか、要求固有のコンフィギュレーションパラメータかに選別し、テスト対象を扱いやすくする。 In the test target selection step 104, the test tool in this embodiment targets the AUTOSAR DCM (Diagnostic Communication Manager), and testing is required for each configuration parameter, with all pattern verification being mandatory. As a result, tests are required for each configuration parameter, resulting in a huge number of test scenarios. Therefore, the test targets are selected as either configuration parameters that determine the behavior of the entire function or configuration parameters specific to the requirement, making the test targets easier to handle.
次に、図2を参照して、本実施例のテストツールが利用するコンフィギュレーションパラメータが記載されるリスト101について説明する。 Next, referring to Figure 2, we will explain list 101, which contains the configuration parameters used by the test tool in this embodiment.
図2は、リスト101の構成を示す図である。リスト101には、Parameters202、session-service203、session-localId204、DID_List(OBD)205、DID_List(OBD)206、RID_List207、及びTID_List208が含まれており、各リストには本実施例のテストツールで使用するコンフィギュレーションパラメータが記録され、それぞれ図3Aから図3Gに示す情報が記入されている。 Figure 2 shows the configuration of list 101. List 101 includes Parameters 202, session-service 203, session-localId 204, DID_List(OBD) 205, DID_List(OBD) 206, RID_List 207, and TID_List 208. Each list records the configuration parameters used by the test tool of this embodiment, and contains the information shown in Figures 3A to 3G.
図4は、テスト対象選別ステップ104を示す図である。 Figure 4 shows the test target selection step 104.
テスト対象選別ステップ104では、リスト101を第1テスト対象102と第2テスト対象103とに選別する。それぞれの選別されたテスト対象について、第1テスト対象102を共通部とし、第2テスト対象103を固有部とする。共通部である第1テスト対象102には、AUTOSARにて利用される通信の基本部や定数のサイズなど、AUTOSAR DCMとしての動作に必要とされる基本的なコンフィギュレーションパラメータが纏められる。一方、固有部である第2テスト対象103には、AUTOSARの基本コンフィギュレーションパラメータに関連付けられる詳細なコンフィギュレーションパラメータや、製品固有の仕様によって変化するコンフィギュレーションパラメータが纏められる。 In the test target selection step 104, the list 101 is separated into a first test target 102 and a second test target 103. For each selected test target, the first test target 102 is designated as the common part, and the second test target 103 is designated as the specific part. The first test target 102, which is the common part, contains basic configuration parameters required for operation as an AUTOSAR DCM, such as the basic communication parts and constant sizes used by AUTOSAR. On the other hand, the second test target 103, which is the specific part, contains detailed configuration parameters associated with AUTOSAR's basic configuration parameters and configuration parameters that change depending on product-specific specifications.
次に、前述テスト対象選別ステップ104における、共通部と固有部を選別する種別判断ステップ201について説明する。図3Aに示すParameters202に含まれる "Specification" を付帯情報として利用し、この項目にsession-service203、session-localId204、DID_List(UDS)205、DID_List(OBD)206、RID_List207、TID_List208のいずれかが設定されていれば、固有部であると判定する。そして、第2テスト対象103に含まれる図2のParameters202に固有機能であることを示す付帯情報を記載する。選別した結果、図4のように、リスト101が,共通部である第1テスト対象102と固有部である第2テスト対象103に選別される。固有部は、製品固有仕様によって行なわれるテストの数、実施するテストが流動的に変化するため固有部として分離し、管理しやすい構造にする。 Next, we will explain the type determination step 201, which separates common and specific parts in the test object selection step 104. The "Specification" included in Parameters 202 shown in Figure 3A is used as additional information, and if any of session-service 203, session-localId 204, DID_List(UDS) 205, DID_List(OBD) 206, RID_List 207, and TID_List 208 is set in this item, it is determined to be a specific part. Then, additional information indicating that it is a specific function is entered in Parameters 202 of Figure 2, which is included in the second test object 103. As a result of this separation, as shown in Figure 4, list 101 is separated into the first test object 102, which is a common part, and the second test object 103, which is a specific part. Because the number of tests performed and the tests to be implemented change dynamically depending on the product's specific specifications, the specific part is separated as a specific part to create an easier-to-manage structure.
本実施例では、テストツールを自動実行するための施策として、標準変換ステップ107において、AUTOSARに準拠したリストを作成する。標準変換ステップ107は、前述したリスト101に含まれるテストプラットフォームごとの固有のコンフィギュレーションパラメータを特定し、AUTOSARに準拠したコンフィギュレーションパラメータへ変換できる仕組みを構築する。 In this embodiment, as a measure for automatically executing the test tool, a list compliant with AUTOSAR is created in standard conversion step 107. Standard conversion step 107 identifies the unique configuration parameters for each test platform included in the aforementioned list 101 and creates a mechanism for converting them into configuration parameters compliant with AUTOSAR.
図1を参照して、標準変換ステップ107の全体構成を説明する。テスト対象選別ステップ104において選別された第1テスト対象102と第2テスト対象103に対し、標準変換ツール105を用いて、複数のリストを纏めてAUTOSARに準拠した一つのコンフィギュレーションリスト106を作成する。例えば、標準変換ツール105は、固有のコンフィギュレーションパラメータと共通のコンフィギュレーションパラメータとの対応表を有し、設計者の操作に従って、固有のコンフィギュレーションパラメータを共通のコンフィギュレーションパラメータに変換する。 The overall configuration of the standard conversion step 107 will be explained with reference to Figure 1. For the first test target 102 and second test target 103 selected in the test target selection step 104, a standard conversion tool 105 is used to combine multiple lists to create a single configuration list 106 that complies with AUTOSAR. For example, the standard conversion tool 105 has a correspondence table between unique configuration parameters and common configuration parameters, and converts the unique configuration parameters into common configuration parameters according to the designer's operations.
標準変換ステップ107において、変換対象となるのは、テストプラットフォームごとの固有の仕様を利用するためのコンフィギュレーションパラメータであり、これらコンフィギュレーションパラメータをそのままリストに反映した場合、AUTOSARとして標準的なリストでなくなる。 In the standard conversion step 107, the conversion targets are configuration parameters for utilizing the unique specifications of each test platform. If these configuration parameters were reflected in the list as is, it would no longer be a standard list for AUTOSAR.
前述のようなコンフィギュレーションパラメータに関して、図2のParameters202に記載される付帯情報を見て、設計者は、固有機能のコンフィギュレーションパラメータについて、図2に示すコンフィギュレーションパラメータの各設定値を検討し、コンフィギュレーションリスト106の作成時に検討した値に変換する。 Regarding the configuration parameters described above, the designer looks at the additional information listed in Parameters 202 in Figure 2, considers the setting values of each of the configuration parameters shown in Figure 2 for the configuration parameters of the specific functions, and converts them to the values considered when creating the configuration list 106.
また、前述の通り、固有仕様を有効にした場合、標準化したリストではなくなってしまうが、利用される場合もあるため、設定自体を有効にすることは可能としている。また一方で、変換する必要のないコンフィギュレーションパラメータに関しては、共通部と固有部ともにコンフィギュレーションリスト106へ転記する。 Also, as mentioned above, if a unique specification is enabled, it will no longer be a standardized list, but since it may be used, it is possible to enable the setting itself. On the other hand, for configuration parameters that do not need to be converted, both the common and unique parts are transcribed into the configuration list 106.
次に、テストシナリオ作成ステップ113において、コンフィギュレーションリスト106の付帯情報を利用し、第1テスト対象102と第2テスト対象103それぞれに対してテストシナリオを作成する。例えば、ベースとなるテストシナリオを予め作成し、コンフィギュレーションリスト106に登録された内容に基づいてテストシナリオを作成するとよい。 Next, in test scenario creation step 113, test scenarios are created for each of the first test target 102 and the second test target 103 using the additional information in the configuration list 106. For example, it is advisable to create a base test scenario in advance and then create test scenarios based on the contents registered in the configuration list 106.
テストステップ117において、ツールより得られた結果を自動的に判定するために、各ベーステストシナリオに期待値を予め組み込む。ベーステストシナリオの期待値は、ISO(国際標準化機構:International Organization for Standardization)やAUTOSARの規格301に基づいて設計者が作成するとよい。期待値は、コンフィギュレーションリスト106に登録されるコンフィギュレーションパラメータに従って、利用する期待値が自動的に設定される。 In test step 117, expected values are pre-built into each base test scenario to automatically judge the results obtained by the tool. The expected values of the base test scenarios should be created by the designer based on the ISO (International Organization for Standardization) or AUTOSAR standard 301. The expected values to be used are automatically set according to the configuration parameters registered in the configuration list 106.
図5は、テストシナリオ作成ステップ113の全体構成を示す図である。コンフィギュレーションリスト106に基づいて、予め用意してあるAUTOSAR規格301から作成された第1ベーステストシナリオ109を用いて、第1テスト対象102(共通部)に対して第1テストシナリオ111を作成し、テストシナリオ作成用データテーブル302から作成した第2ベーステストシナリオ110を用いて、第2テスト対象103(固有部)に対して第2テストシナリオ112を作成する。以下にそれぞれのテストシナリオ作成方法を示す。 Figure 5 shows the overall configuration of the test scenario creation step 113. Based on the configuration list 106, a first base test scenario 109 created from a pre-prepared AUTOSAR standard 301 is used to create a first test scenario 111 for the first test target 102 (common part), and a second base test scenario 110 created from the test scenario creation data table 302 is used to create a second test scenario 112 for the second test target 103 (specific part). The respective test scenario creation methods are explained below.
第1テストシナリオ111は、テスト対象選別ステップにおけるAUTOSARでのふるまいに必要とされるコンフィギュレーションパラメータを対象としているテストシナリオであり、AUTOSAR規格301から作成された第1ベーステストシナリオ109に基づいて作成される。更にテストシナリオ作成ツール108では、コンフィギュレーションリスト106に登録されるコンフィギュレーションパラメータに従って、第1ベーステストシナリオ109から必要なテストシナリオと期待値が選択され、第1テストシナリオ111を作成する。 The first test scenario 111 is a test scenario that targets the configuration parameters required for AUTOSAR behavior in the test target selection step, and is created based on the first base test scenario 109 created from the AUTOSAR standard 301. Furthermore, the test scenario creation tool 108 selects the necessary test scenarios and expected values from the first base test scenario 109 according to the configuration parameters registered in the configuration list 106, and creates the first test scenario 111.
第2テストシナリオ112は、コンフィギュレーションリスト106の情報に基づいて、第2ベーステストシナリオ110を用いて作成される。第2ベーステストシナリオ110は、コンフィギュレーションリスト106に含まれるリストのうち、session-service203、DID_List(UDS)205、DID_List(OBD)206、RID_List207、TID_List208のそれぞれに対してテストシナリオ作成用データテーブル302を用意する。 The second test scenario 112 is created using the second base test scenario 110 based on the information in the configuration list 106. The second base test scenario 110 prepares a test scenario creation data table 302 for each of the lists included in the configuration list 106: session-service 203, DID_List(UDS) 205, DID_List(OBD) 206, RID_List 207, and TID_List 208.
ここで、テストシナリオ作成用データテーブル302について説明する。図6に、session-service203、DID_List(UDS)205、DID_List(OBD)206、RID_List207、TID_List208に対するテストシナリオ作成用データテーブル302の内容を示す。図6に示すように、各テストシナリオ作成用データテーブル302は、有効なIDの数、データサイズ、コンフィギュレーションリスト106に存在しているかに基づいて、構造体として定義できる構造を予め用意する。そのため、コンフィギュレーションリスト106に無効な値が入力されているコンフィギュレーションパラメータは、不要なテストシナリオとして判定する。また、session-service203は、実施するテスト領域の定義であるため、実施しないIDをテストシナリオから除外する。 Here, we will explain the test scenario creation data table 302. Figure 6 shows the contents of the test scenario creation data table 302 for session-service 203, DID_List(UDS) 205, DID_List(OBD) 206, RID_List 207, and TID_List 208. As shown in Figure 6, each test scenario creation data table 302 has a structure that can be defined as a structure based on the number of valid IDs, data size, and whether it exists in the configuration list 106. Therefore, configuration parameters with invalid values entered in the configuration list 106 are determined to be unnecessary test scenarios. Furthermore, since session-service 203 defines the test area to be implemented, IDs that will not be implemented are excluded from the test scenario.
また、テストステップ117において、テストツールで利用するCAN(Controller Area Network)通信のIDとアドレッシング方法を定義する必要があるため、図7に示すテスト定義ファイル303を作成する。図7に示すテスト定義ファイル303は、テスト情報401とIDリスト402とCAN定義リスト403を含む。テスト情報401は、図8に示すテスト方法とテスト実施可否の情報に基づいて作成され、テスト情報401にテストシナリオ名が登録される。テスト情報401に登録されたテストシナリオは、後のテストステップ117において実施される。CAN IDリスト402とCAN定義リスト403は、テストステップ117におけるツールとの通信に使用されるCANの定義情報である。これら定義情報は図9に示すCANの定義情報に基づいて、テストシナリオごとにCANのID、アドレッシング方法を定義する。これらの情報も、テストシナリオ作成用データテーブル302に組み込まれ、テスト定義ファイル303が作成される。 Furthermore, in test step 117, it is necessary to define the ID and addressing method for the CAN (Controller Area Network) communication used by the test tool, so a test definition file 303 as shown in FIG. 7 is created. The test definition file 303 shown in FIG. 7 includes test information 401, an ID list 402, and a CAN definition list 403. Test information 401 is created based on the test method and test implementation information shown in FIG. 8, and the test scenario name is registered in test information 401. The test scenario registered in test information 401 is executed in the subsequent test step 117. The CAN ID list 402 and CAN definition list 403 are CAN definition information used for communication with the tool in test step 117. This definition information defines the CAN ID and addressing method for each test scenario based on the CAN definition information shown in FIG. 9. This information is also incorporated into the test scenario creation data table 302, and the test definition file 303 is created.
次に、関連情報抽出ステップについて説明する。関連情報抽出ステップは、コンフィギュレーションリスト106を参照して実施される。コンフィギュレーションリスト106は、記載されたコンフィギュレーションパラメータごとに特徴が分かるように記載されているため、設計者がテストシナリオの変更や確認を行う際に、該当テストシナリオのコンフィギュレーションパラメータを容易に選択できる。また、コンフィギュレーションリスト106は、AUTOSARのコンフィギュレーションパラメータごとに整理されたリストであるため、設計者によるテストシナリオ関連情報を容易に確認できる。 Next, the related information extraction step will be described. The related information extraction step is performed by referencing the configuration list 106. The configuration list 106 is written in a way that makes the characteristics of each listed configuration parameter clear, so when a designer modifies or checks a test scenario, they can easily select the configuration parameters for the relevant test scenario. Furthermore, because the configuration list 106 is a list organized by AUTOSAR configuration parameter, the designer can easily check test scenario-related information.
本実施例では、テストステップ117において、テストシナリオ作成ステップ113で作成したテストシナリオを実施する。テストはテスト定義ファイル303に基づいて、ファイル記載内容に従って実施される。テストの実施によって得られた結果であるテスト結果116は、ベーステストシナリオに定義された期待値と比較され、それぞれのテストシナリオごとにテスト判定結果が通知される。 In this embodiment, in test step 117, the test scenario created in test scenario creation step 113 is executed. The test is executed based on the test definition file 303 and in accordance with the contents of the file. The test results 116 obtained by executing the test are compared with the expected values defined in the base test scenario, and the test judgment results are notified for each test scenario.
図5を参照して、テストステップ117の全体構成を説明する。テストステップ117では、テストシナリオ作成ステップ113で作成された第1テストシナリオ111を、テスト定義ファイル303に基づいて第1テストステップ114においてテストを実施し、第1ベーステストシナリオ109に記載された期待値とテスト結果116を比較し、テスト判定を行う。また、テストシナリオ作成ステップ113で作成された第2テストシナリオ112を、テスト定義ファイル303に基づいて第2テストステップ115においてテストを実施し、第2ベーステストシナリオ110に記載された期待値とテスト結果116を比較し、テスト判定を行う。 The overall configuration of test step 117 will be explained with reference to Figure 5. In test step 117, the first test scenario 111 created in test scenario creation step 113 is tested in first test step 114 based on test definition file 303, and the expected values described in the first base test scenario 109 are compared with test results 116 to make a test judgment. Furthermore, the second test scenario 112 created in test scenario creation step 113 is tested in second test step 115 based on test definition file 303, and the expected values described in the second base test scenario 110 are compared with test results 116 to make a test judgment.
図10は、テスト実施結果が記載されるファイルであるテスト結果116を示す図である。図中の期待値の下部がベーステストシナリオから得られた期待値であり、実測値がテストの結果である。結果判定は、それぞれCANデータを比較し、送受信データが一致しているかをツールで判定し、正常か不正かを表中の判定の項目に記載する。 Figure 10 shows test results 116, a file that records the results of the test. The values below the expected values in the figure are the expected values obtained from the base test scenario, and the actual measured values are the test results. The results are determined by comparing the CAN data and using a tool to determine whether the sent and received data match, and the result is recorded in the determination section in the table as normal or invalid.
また、全てのテストシナリオは、コンフィギュレーションリスト106に関連付けられていることから、テスト判定結果が不正となったコンフィギュレーションパラメータのテストに関して、対応関係が明らかであり、不正となった設定値、原因の解析にコンフィギュレーションリスト106の情報を用いることが可能である。 In addition, since all test scenarios are associated with the configuration list 106, the correspondence is clear regarding tests of configuration parameters that resulted in invalid test judgment results, and the information in the configuration list 106 can be used to analyze the invalid setting values and their causes.
また、テストステップ117では、前記第1テストステップにおけるテストの結果及び前記第2テストステップにおけるテストの結果に基づいて、前記テストの結果が異常を示すテスト対象を抽出するとよい。このようにすると、テスト結果が異常であるテスト対象を抽出でき、設計者の不具合対策の作業効率を向上できる。 Furthermore, in test step 117, it is preferable to extract test objects whose test results indicate an abnormality based on the test results of the first test step and the test results of the second test step. In this way, test objects whose test results indicate an abnormality can be extracted, improving the efficiency of designers' work to address defects.
次に、本実施例のテストツールが動作する計算機について説明する。本実施例のテストツールは、プロセッサ(CPU)、メモリ、補助記憶装置、及び通信インタフェースを有する計算機で実行されるプログラムである。テストツールが実行される計算機は、テストシステムを構成する。 Next, we will explain the computer on which the test tool of this embodiment runs. The test tool of this embodiment is a program executed on a computer that has a processor (CPU), memory, auxiliary storage device, and a communication interface. The computer on which the test tool runs constitutes a test system.
プロセッサは、メモリに格納されたプログラムを実行する演算装置である。プロセッサが、各種プログラムを実行することによって、テストツールの各機能が実現される。なお、プロセッサがプログラムを実行して行う処理の一部を、他の演算装置(例えば、ASIC、FPGA等のハードウェア)で実行してもよい。 The processor is a computing device that executes programs stored in memory. The processor executes various programs to realize the various functions of the test tool. Note that some of the processing performed by the processor when executing programs may be executed by another computing device (e.g., hardware such as an ASIC or FPGA).
メモリは、不揮発性の記憶素子であるROM及び揮発性の記憶素子であるRAMを含む。ROMは、不変のプログラム(例えば、BIOS)などを格納する。RAMは、DRAM(Dynamic Random Access Memory)のような高速かつ揮発性の記憶素子であり、プロセッサ1が実行するプログラム及びプログラムの実行時に使用されるデータを一時的に格納する。 Memory includes ROM, a non-volatile storage element, and RAM, a volatile storage element. ROM stores unchanging programs (e.g., BIOS). RAM is a high-speed, volatile storage element such as DRAM (Dynamic Random Access Memory), and temporarily stores programs executed by Processor 1 and data used when executing programs.
補助記憶装置は、例えば、磁気記憶装置(HDD)、フラッシュメモリ(SSD)等の大容量かつ不揮発性の記憶装置である。また、補助記憶装置は、プロセッサがプログラムの実行時に使用するデータ、及びプロセッサが実行するプログラムを格納する。すなわち、プログラムは、補助記憶装置から読み出されて、メモリにロードされて、プロセッサによって実行されることによって、テストツールの各機能を実現する。 The auxiliary storage device is a large-capacity, non-volatile storage device such as a magnetic storage device (HDD) or flash memory (SSD). The auxiliary storage device also stores data used by the processor when executing programs, as well as the programs executed by the processor. In other words, programs are read from the auxiliary storage device, loaded into memory, and executed by the processor to realize the various functions of the test tool.
通信インタフェースは、所定のプロトコルに従って、他の装置との通信を制御するネットワークインタフェース装置である。計算機は、入力インタフェース及び出力インタフェースを有してもよい。 A communication interface is a network interface device that controls communication with other devices according to a specific protocol. A computer may have an input interface and an output interface.
プロセッサが実行するプログラムは、リムーバブルメディア(CD-ROM、フラッシュメモリなど)又はネットワークを介して計算機に提供され、非一時的記憶媒体である不揮発性の補助記憶装置に格納される。このため、計算機は、リムーバブルメディアからデータを読み込むインタフェースを有するとよい。 The program executed by the processor is provided to the computer via removable media (CD-ROM, flash memory, etc.) or a network, and is stored in a non-volatile auxiliary storage device, which is a non-temporary storage medium. For this reason, the computer should have an interface for reading data from removable media.
本実施例の計算機が実行するテストツールは、物理的に一つの計算機上で、又は、論理的又は物理的に構成された複数の計算機上で構成される計算機システムであり、複数の物理的計算機資源上に構築された仮想計算機上で動作してもよい。例えば、各機能部は、各々別個の物理的又は論理的計算機上で動作するものでも、複数が組み合わされて一つの物理的又は論理的計算機上で動作するものでもよい。 The test tool executed by the computer in this embodiment is a computer system configured on a single physical computer, or on multiple logically or physically configured computers, and may operate on a virtual computer constructed on multiple physical computer resources. For example, each functional unit may operate on a separate physical or logical computer, or multiple functional units may be combined to operate on a single physical or logical computer.
以上に説明したように、本実施例のテストツールは、AUTOSARを対象とした膨大なテストシナリオの全パターンを検証するために効率的にテストシナリオを作成する方法と環境を提案するもので、演算装置が、テストすべきソフトウェアを、ソフトウェアアーキテクチャ(例えば、標準規格であるAUTOSAR)に準拠し、当該ソフトウェアアーキテクチャの基本コンフィギュレーションパラメータ203~208を対象としたテスト対象である第1テスト対象102と、ソフトウェアアーキテクチャに準拠しておらず、基本コンフィギュレーションパラメータ203~208に関連付けられる詳細なコンフィギュレーションパラメータを対象とした第2テスト対象103とに選別し、前記第2テスト対象であることを示す付帯情報を生成するテスト対象選別ステップ104と、演算装置が、第2テスト対象103に含まれる標準規格に準拠しないコンフィギュレーションパラメータを、標準規格に準拠した形式に変換する標準変換ステップ107と、演算装置が、予め登録された第1ベーステストシナリオ109から第1テストシナリオ111を作成し、第1テスト対象102をテストする第1テストステップ114と、演算装置が、予め登録された第2ベーステストシナリオ110から第2テストシナリオ112を作成し、第2テスト対象103をテストする第2テストステップ115と、を含むので、リスト101中のテスト対象のうち、ソフトウェアアーキテクチャに準拠しているかで選別し、更に、ソフトウェアアーキテクチャに準拠しないテスト対象をソフトウェアアーキテクチャに準拠する形式に変換して、ソフトウェアテストの自動化の範囲を拡大し、テストシナリオ作成工数を低減し、設計者の負荷を低減し、テスト期間を短縮できる。 As explained above, the test tool of this embodiment proposes a method and environment for efficiently creating test scenarios to verify all patterns of a huge number of test scenarios targeting AUTOSAR. The computing device selects the software to be tested into a first test target 102 that conforms to a software architecture (for example, the standard AUTOSAR) and is a test target targeting the basic configuration parameters 203-208 of the software architecture, and a second test target 103 that does not conform to the software architecture and is a test target targeting detailed configuration parameters associated with the basic configuration parameters 203-208, and generates additional information indicating that it is the second test target in a test target selection step 104. The computing device also selects the software to be tested from the second test target 103. The system includes a standard conversion step 107 that converts non-standard configuration parameters into a format that complies with the standard, a first test step 114 in which the computing device creates a first test scenario 111 from a pre-registered first base test scenario 109 and tests a first test target 102, and a second test step 115 in which the computing device creates a second test scenario 112 from a pre-registered second base test scenario 110 and tests a second test target 103. This allows the test targets in the list 101 to be selected based on whether they comply with the software architecture, and further converts test targets that do not comply with the software architecture into a format that complies with the software architecture, thereby expanding the scope of software test automation, reducing the man-hours required to create test scenarios, reducing the burden on designers, and shortening the testing period.
また、コンフィギュレーションリストの設定値に応じて、ベーステストシナリオからテストシナリオを作成するので、全パターン検証が可能であり、テストシナリオの漏れを抑制でき、テストカバレッジの低下を抑制できる。換言すると、各コンフィギュレーションパラメータに対して全パターン検証を行うとテストシナリオが膨大になるが、コンフィギュレーションパラメータとテストシナリオ作成において工夫を加えたので、テストの効率化を実現できる。 In addition, test scenarios are created from base test scenarios according to the settings in the configuration list, making it possible to verify all patterns, preventing test scenario omissions and reducing test coverage. In other words, verifying all patterns for each configuration parameter would result in an enormous number of test scenarios, but by taking measures in creating configuration parameters and test scenarios, testing can be made more efficient.
また、テスト対象選別ステップ104は、演算装置が、第1テスト対象102の付帯情報と第2テスト対象103の付帯情報に基づいて、テスト対象の種別を判断する種別判断ステップ201を含むので、付帯情報に基づいて、簡便かつ高精度に選別できる。 In addition, the test target selection step 104 includes a type determination step 201 in which the calculation device determines the type of test target based on the additional information of the first test target 102 and the additional information of the second test target 103, allowing for simple and highly accurate selection based on the additional information.
また、標準変換ステップ107では、演算装置が、種別が判断されたテスト対象に対して、標準規格に準拠していないコンフィギュレーションパラメータを標準規格へ準拠するコンフィギュレーションパラメータへ変換し、変換されたコンフィギュレーションパラメータの特徴を含むコンフィギュレーションリスト106を作成する。例えば、CAN通信を使用するDCMであれば、CAN ID等をソフトウェアアーキテクチャに準拠した形式に変換する。このため、テスト対象の種別に応じて変換して、変換精度や変換効率を向上できる。 Furthermore, in the standard conversion step 107, the computing device converts non-standard-compliant configuration parameters for the test target whose type has been determined into configuration parameters that comply with the standard, and creates a configuration list 106 that includes the characteristics of the converted configuration parameters. For example, in the case of a DCM that uses CAN communication, the CAN ID, etc. is converted into a format that complies with the software architecture. Therefore, conversion can be performed according to the type of test target, improving conversion accuracy and conversion efficiency.
また、テストシナリオ作成ステップ113では、演算装置が、コンフィギュレーションリスト106の共通部の付帯情報に基づいて、第1テスト対象102に必要なテストを選別し、予め登録された第1ベーステストシナリオ109を用いて、第1テストシナリオ111を作成し、コンフィギュレーションリスト106の固有部の付帯情報に基づいて、第2テスト対象103に必要なテストを選別し、予め登録された第2ベーステストシナリオ110を用いて、前記第2テストシナリオを作成するので、コンフィギュレーションリスト106に記載されているかによって、必要テストを自動的に選別して、テストシナリオを作成できる。 In addition, in the test scenario creation step 113, the computing device selects the tests required for the first test target 102 based on the additional information in the common section of the configuration list 106, creates a first test scenario 111 using a pre-registered first base test scenario 109, and selects the tests required for the second test target 103 based on the additional information in the specific section of the configuration list 106, and creates the second test scenario using a pre-registered second base test scenario 110.Therefore, the necessary tests can be automatically selected based on whether they are listed in the configuration list 106, and test scenarios can be created.
また、関連情報抽出ステップでは、演算装置が、第2テストシナリオ112を作成するために使用されるベーステストシナリオに関連する情報を抽出するので、設計者がハンドコーディングにより第2テストシナリオを作成する際、自動的に抽出された関連情報を使用でき、作業効率を向上できる。 In addition, in the related information extraction step, the computing device extracts information related to the base test scenario used to create the second test scenario 112, so when the designer creates the second test scenario by hand-coding, the automatically extracted related information can be used, improving work efficiency.
また、テスト対象抽出ステップでは、第1テストステップ114におけるテストの結果及び第2テストステップ115におけるテストの結果に基づいて、前記テストの結果が異常を示すテスト対象を抽出するので、テスト結果が異常であるテスト対象を抽出でき、設計者の不具合対策の作業効率を向上できる。 In addition, in the test target extraction step, test targets whose test results indicate an abnormality are extracted based on the test results in the first test step 114 and the test results in the second test step 115.This makes it possible to extract test targets whose test results indicate an abnormality, thereby improving the efficiency of designers' work in addressing defects.
なお、本発明は前述した実施例に限定されるものではなく、添付した特許請求の範囲の趣旨内における様々な変形例及び同等の構成が含まれる。例えば、前述した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに本発明は限定されない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えてもよい。また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えてもよい。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をしてもよい。 The present invention is not limited to the above-described embodiments, and includes various modifications and equivalent configurations within the spirit of the appended claims. For example, the above-described embodiments have been described in detail to clearly explain the present invention, and the present invention is not necessarily limited to configurations that include all of the described configurations. Furthermore, part of the configuration of one embodiment may be replaced with the configuration of another embodiment. Furthermore, the configuration of another embodiment may be added to the configuration of one embodiment. Furthermore, part of the configuration of each embodiment may be added to, deleted from, or replaced with other configurations.
また、前述した各構成、機能、処理部、処理手段等は、それらの一部又は全部を、例えば集積回路で設計する等により、ハードウェアで実現してもよく、プロセッサがそれぞれの機能を実現するプログラムを解釈し実行することにより、ソフトウェアで実現してもよい。 Furthermore, the aforementioned configurations, functions, processing units, processing means, etc. may be realized in part or in whole in hardware, for example by designing them as integrated circuits, or in software, by a processor interpreting and executing a program that realizes each function.
各機能を実現するプログラム、テーブル、ファイル等の情報は、メモリ、ハードディスク、SSD(Solid State Drive)等の記憶装置、又は、ICカード、SDカード、DVD等の記録媒体に格納することができる。 Information such as programs, tables, and files that implement each function can be stored in storage devices such as memory, hard disks, and solid-state drives (SSDs), or in recording media such as IC cards, SD cards, and DVDs.
また、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、実装上必要な全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には、ほとんど全ての構成が相互に接続されていると考えてよい。 Furthermore, the control lines and information lines shown are those considered necessary for explanation, and do not necessarily represent all control lines and information lines necessary for implementation. In reality, it is safe to assume that almost all components are interconnected.
101 コンフィギュレーションリスト
102 第1テスト対象
103 第2テスト対象
104 テスト対象選別ステップ
105 コンフィギュレーションパラメータ標準変換ツール
106 コンフィギュレーションリスト
107 標準変換ステップ
108 テストシナリオ作成ツール
109 第1ベーステストシナリオファイル
110 第2ベーステストシナリオファイル
111 第1テストシナリオファイル
112 第2テストシナリオファイル
113 テストシナリオ作成ステップ
114 第1テストステップ
115 第2テストステップ
116 テスト結果
117 テストステップ
201 種別判断ステップ
202、202、203、204、205、206、207、208 コンフィギュレーションパラメータファイル
301 AUTOSAR規格
302 テストシナリオ作成用データテーブル
303 テスト定義ファイル
401 テスト情報
402 CAN IDリスト
403 CAN定義リスト
101 Configuration list 102 First test target 103 Second test target 104 Test target selection step 105 Configuration parameter standard conversion tool 106 Configuration list 107 Standard conversion step 108 Test scenario creation tool 109 First base test scenario file 110 Second base test scenario file 111 First test scenario file 112 Second test scenario file 113 Test scenario creation step 114 First test step 115 Second test step 116 Test result 117 Test step 201 Type determination step 202, 202, 203, 204, 205, 206, 207, 208 Configuration parameter file 301 AUTOSAR standard 302 Test scenario creation data table 303 Test definition file 401 Test information 402 CAN ID list 403 CAN definition list
Claims (7)
前記テストシステムは、
所定の処理を実行する演算装置と、前記演算装置がアクセス可能な記憶装置とを有する計算機を備え、
前記演算装置は、
テストすべきソフトウェアを、前記ソフトウェアアーキテクチャに準拠した第1テスト対象と、前記前記ソフトウェアアーキテクチャに準拠していない第2テスト対象とに選別し、前記第2テスト対象であることを示す付帯情報を生成するテスト対象選別ステップと、
前記第2テスト対象に含まれる前記標準規格に準拠しないコンフィギュレーションパラメータを、標準規格に準拠した形式に変換する標準変換ステップと、
予め登録された第1ベーステストシナリオから第1テストシナリオを作成し、前記第1テスト対象をテストする第1テストステップと、
予め登録された第2ベーステストシナリオから第2テストシナリオを作成し、前記第2テスト対象をテストする第2テストステップと、を実行することを特徴とするテストシステム。 A test system for testing software in compliance with a software architecture based on a predetermined standard,
The test system includes:
a computer having an arithmetic unit that executes predetermined processing and a storage device that can be accessed by the arithmetic unit;
The computing device
a test target selection step of sorting the software to be tested into a first test target that conforms to the software architecture and a second test target that does not conform to the software architecture, and generating supplemental information indicating that the software is the second test target;
A standard conversion step of converting configuration parameters that do not comply with the standard included in the second test target into a format that complies with the standard;
a first test step of creating a first test scenario from a pre-registered first base test scenario and testing the first test target;
a second test step for creating a second test scenario from a second base test scenario registered in advance and testing the second test target.
前記テスト対象選別ステップでは、前記演算装置が、前記第1テスト対象の付帯情報と前記第2テスト対象の付帯情報に基づいて、テスト対象の種別を判断することを特徴とするテストシステム。 10. The test system of claim 1,
A test system characterized in that in the test target selection step, the calculation device determines the type of test target based on additional information of the first test target and additional information of the second test target.
前記標準変換ステップでは、前記演算装置が、前記第2テスト対象に含まれる標準規格に準拠していないコンフィギュレーションパラメータを標準規格へ準拠するコンフィギュレーションパラメータへ変換し、前記変換されたコンフィギュレーションパラメータの特徴を含むコンフィギュレーションリストを作成することを特徴とするテストシステム。 3. The test system of claim 2,
In the standard conversion step, the arithmetic device converts configuration parameters that do not comply with the standard included in the second test target into configuration parameters that comply with the standard, and creates a configuration list including characteristics of the converted configuration parameters. A test system characterized by the above.
前記演算装置は、テストシナリオを作成するテストシナリオ作成ステップを実行し、
前記テストシナリオ作成ステップでは、
前記演算装置が、前記コンフィギュレーションリストの共通部の付帯情報に基づいて、前記第1テスト対象に必要なテストを選別し、予め登録された第1ベーステストシナリオを用いて、前記第1テストシナリオを作成し、
前記演算装置が、前記コンフィギュレーションリストの固有部の付帯情報に基づいて、前記第2テスト対象に必要なテストを選別し、予め登録された第2ベーステストシナリオを用いて、前記第2テストシナリオを作成することを特徴とするテストシステム。 4. The test system of claim 3,
the computing device executes a test scenario creation step of creating a test scenario;
In the test scenario creation step,
the computing device selects tests necessary for the first test target based on additional information in the common part of the configuration list, and creates the first test scenario using a first base test scenario registered in advance;
A test system characterized in that the calculation device selects tests necessary for the second test target based on additional information in the unique part of the configuration list, and creates the second test scenario using a pre-registered second base test scenario.
前記演算装置が、前記第2テストシナリオを作成するために使用されるベーステストシナリオに関連する情報を抽出する関連情報抽出ステップを含むことを特徴とするテストシステム。 5. The test system of claim 4,
A test system, comprising: a related information extraction step in which the computing device extracts information related to a base test scenario used to create the second test scenario.
前記第1テストステップにおけるテストの結果及び前記第2テストステップにおけるテストの結果に基づいて、前記テストの結果が異常を示すテスト対象を抽出するテスト対象抽出ステップを含むことを特徴とするテストシステム。 10. The test system of claim 1,
A test system comprising a test object extraction step of extracting test objects whose test results show an abnormality based on the test results in the first test step and the test results in the second test step.
前記計算機は、所定の処理を実行する演算装置と、前記演算装置がアクセス可能な記憶装置とを有し、
前記テスト方法は、
前記演算装置が、テストすべきソフトウェアを、前記ソフトウェアアーキテクチャに準拠した第1テスト対象と、前記前記ソフトウェアアーキテクチャに準拠していない第2テスト対象とに選別し、前記第2テスト対象であることを示す付帯情報を記載するテスト対象選別ステップと、
前記演算装置が、前記第2テスト対象に含まれる前記標準規格に準拠しないコンフィギュレーションパラメータを、標準規格に準拠した形式に変換する標準変換ステップと、
前記演算装置が、予め登録された第1ベーステストシナリオから第1テストシナリオを作成し、前記第1テスト対象をテストする第1テストステップと、
前記演算装置が、予め登録された第2ベーステストシナリオから第2テストシナリオを作成し、前記第2テスト対象をテストする第2テストステップと、を含むことを特徴とするテスト方法。 A testing method in which a computer tests software in compliance with a software architecture based on a predetermined standard, comprising:
the computer has an arithmetic unit that executes predetermined processing and a storage device that can be accessed by the arithmetic unit;
The test method comprises:
a test target selection step in which the computing device sorts the software to be tested into a first test target that conforms to the software architecture and a second test target that does not conform to the software architecture, and writes additional information indicating that the software is the second test target;
A standard conversion step in which the arithmetic device converts configuration parameters that do not comply with the standard and are included in the second test target into a format that complies with the standard;
a first test step in which the computing device creates a first test scenario from a pre-registered first base test scenario and tests the first test target;
a second test step in which the computing device creates a second test scenario from a pre-registered second base test scenario and tests the second test target.
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