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JP7794540B2 - Heat Treatment Equipment - Google Patents
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JP7794540B2 - Heat Treatment Equipment - Google Patents

Heat Treatment Equipment

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JP7794540B2
JP7794540B2 JP2022001299A JP2022001299A JP7794540B2 JP 7794540 B2 JP7794540 B2 JP 7794540B2 JP 2022001299 A JP2022001299 A JP 2022001299A JP 2022001299 A JP2022001299 A JP 2022001299A JP 7794540 B2 JP7794540 B2 JP 7794540B2
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Description

本開示は、加熱処理装置に関する。 This disclosure relates to a heat treatment device.

特許文献1及び特許文献2のそれぞれには、加熱手段が設けられた載置台と、載置台を連結して支持する支柱と、を備える被処理体を載置するための載置台構造が開示されている。また、特許文献3には、ヒータが埋設されるプレートと、プレートを支持するステムと、を備えるステージが開示されている。 Patent Documents 1 and 2 each disclose a mounting table structure for mounting an object to be processed, which includes a mounting table equipped with a heating means and a support column that connects and supports the mounting table. Patent Document 3 also discloses a stage that includes a plate in which a heater is embedded and a stem that supports the plate.

特開2009-054871号公報JP 2009-054871 A 特開2011-165891号公報JP 2011-165891 A 特開2004-207465号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-207465

本開示は、載置した基板を加熱する基台から支持部への熱伝導を抑制した基板加熱装置を提供する。 This disclosure provides a substrate heating device that suppresses heat conduction from a base that heats a placed substrate to a support.

本開示の一の態様によれば、基板が載置される第1面と、前記第1面と反対側の第2面と、を有し、内部にヒータを備える基台と、前記第2面の側に連結される支持部と、を備え、前記基台は、前記第2面の側に、第1ねじ部を有し、前記支持部は、前記第1ねじ部に締結される第2ねじ部を有する加熱処理装置が提供される。 According to one aspect of the present disclosure, there is provided a heat treatment apparatus comprising: a base having a first surface on which a substrate is placed and a second surface opposite the first surface, the base having an internal heater; and a support connected to the second surface side, the base having a first threaded portion on the second surface side, and the support having a second threaded portion fastened to the first threaded portion.

本開示は、載置した基板を加熱する基台から支持部への熱伝導を抑制した基板加熱装置を提供する。 This disclosure provides a substrate heating device that suppresses heat conduction from a base that heats a placed substrate to a support.

図1は、第1実施形態に係る加熱処理装置が用いられる基板処理装置の概略断面図である。FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of a substrate processing apparatus in which a heat treatment apparatus according to the first embodiment is used. 図2は、第1実施形態に係る加熱処理装置の概略断面図である。FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of the heat treatment apparatus according to the first embodiment. 図3は、第1実施形態に係る加熱処理装置の斜視図である。FIG. 3 is a perspective view of the heat treatment apparatus according to the first embodiment. 図4は、第1実施形態に係る加熱処理装置の断面図である。FIG. 4 is a cross-sectional view of the heat treatment apparatus according to the first embodiment. 図5は、第1実施形態に係る加熱処理装置が有する基台の下面図である。FIG. 5 is a bottom view of the base of the heat treatment apparatus according to the first embodiment. 図6は、第1実施形態に係る加熱処理装置が有する支持部の軸部の断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view of a shaft portion of a support portion of the heat treatment apparatus according to the first embodiment. 図7は、第2実施形態に係る加熱処理装置の概略断面図である。FIG. 7 is a schematic cross-sectional view of a heat treatment apparatus according to the second embodiment. 図8は、比較例の加熱処理装置の概略断面図である。FIG. 8 is a schematic cross-sectional view of a heat treatment apparatus of a comparative example.

以下、本開示を実施するための形態について図面を参照して説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の構成については、同一の符号を付することにより重複した説明を省く。 The following describes embodiments of the present disclosure with reference to the drawings. Note that in this specification and drawings, substantially identical components are designated by the same reference numerals, and redundant description will be omitted.

平行、直角、直交、水平、垂直、上下、左右などの方向には、実施形態の効果を損なわない程度のずれが許容される。角部の形状は、直角に限られず、弓状に丸みを帯びてもよい。平行、直角、直交、水平、垂直には、略平行、略直角、略直交、略水平、略垂直が含まれてもよい。 In directions such as parallel, right-angled, orthogonal, horizontal, vertical, up/down, left/right, deviations are permitted to the extent that they do not impair the effects of the embodiment. The shape of the corners is not limited to right angles and may be rounded like an arch. Parallel, right-angled, orthogonal, horizontal, and vertical may also include approximately parallel, approximately right-angled, approximately orthogonal, approximately horizontal, and approximately vertical.

≪第1実施形態≫
[基板処理装置100]
第1実施形態に係る加熱処理装置2が用いられる基板処理装置100について、図1を用いて説明する。図1は、第1実施形態に係る加熱処理装置2が用いられる基板処理装置100の概略断面図である。
First Embodiment
[Substrate Processing Apparatus 100]
A substrate processing apparatus 100 in which a heat treatment apparatus 2 according to the first embodiment is used will be described with reference to Fig. 1. Fig. 1 is a schematic cross-sectional view of the substrate processing apparatus 100 in which a heat treatment apparatus 2 according to the first embodiment is used.

基板処理装置100は、処理容器1と、加熱処理装置2と、シャワーヘッド3と、排気部4と、ガス供給機構5と、高周波電力供給部6と、制御部7と、を備える。各構成要素について説明する。 The substrate processing apparatus 100 includes a processing chamber 1, a heat treatment device 2, a shower head 3, an exhaust unit 4, a gas supply mechanism 5, a high-frequency power supply unit 6, and a control unit 7. Each component will be described below.

[処理容器1]
処理容器1は、アルミニウム等の金属により構成され、略円筒状の形状を有する。処理容器1は、基板Wを収容する。処理容器1の側壁には基板Wを搬入又は搬出するための搬入出口11が形成される。搬入出口11はゲートバルブ12により開閉される。
[Processing vessel 1]
The processing vessel 1 is made of a metal such as aluminum and has a substantially cylindrical shape. The processing vessel 1 accommodates a substrate W. A loading/unloading port 11 is formed in a sidewall of the processing vessel 1 for loading or unloading the substrate W. The loading/unloading port 11 is opened and closed by a gate valve 12.

処理容器1の本体の上には、断面が矩形状をなす円環状の排気ダクト13が設けられている。排気ダクト13には、内周面に沿ってスリット13aが形成されている。排気ダクト13の外壁には、排気口13bが形成されている。 A circular exhaust duct 13 with a rectangular cross section is provided on the main body of the processing vessel 1. A slit 13a is formed along the inner peripheral surface of the exhaust duct 13. An exhaust port 13b is formed in the outer wall of the exhaust duct 13.

排気ダクト13の上面には、絶縁体部材16を介して処理容器1の上部開口を塞ぐように天壁14が設けられている。排気ダクト13と絶縁体部材16との間はシールリング15で気密に封止されている。区画部材17は、処理容器1の内部を上下に区画する。 A ceiling wall 14 is provided on the upper surface of the exhaust duct 13, blocking the upper opening of the processing vessel 1 via an insulating member 16. A seal ring 15 provides an airtight seal between the exhaust duct 13 and the insulating member 16. A partition member 17 divides the interior of the processing vessel 1 into upper and lower sections.

処理容器1の下面には、加熱処理装置2を冷却するための冷却部18を備える。冷却部18の内部には、冷媒、例えば、冷却水、が流れる流路が設けられる。冷却部18には、配線等が追加する開口18hが形成される。 A cooling unit 18 for cooling the heat treatment device 2 is provided on the underside of the processing vessel 1. A flow path is provided inside the cooling unit 18 through which a refrigerant, such as cooling water, flows. An opening 18h is formed in the cooling unit 18 to which wiring, etc. can be added.

[加熱処理装置2]
加熱処理装置2は、処理容器1内で基板Wを水平に支持する。加熱処理装置2は、基台21と、支持部22と、を備える。基台21は、基板Wに対応した大きさの円板状に形成される。基台21は、支持部22に支持される。支持部22は、軸部22aと、取付部22bと、を備える。加熱処理装置2には、上面の外周領域及び側面を覆うようにアルミナ等のセラミックスにより形成されたカバー部材24が設けられている。
[Heat treatment device 2]
The heat treatment device 2 supports the substrate W horizontally within the processing chamber 1. The heat treatment device 2 includes a base 21 and a support portion 22. The base 21 is formed in a disk shape corresponding to the size of the substrate W. The base 21 is supported by the support portion 22. The support portion 22 includes a shaft portion 22a and an attachment portion 22b. The heat treatment device 2 is provided with a cover member 24 made of ceramics such as alumina so as to cover the outer peripheral region of the top surface and the side surfaces.

図2は、第1実施形態に係る加熱処理装置2が冷却部18に取り付けられた状態を示す概略断面図である。図3は、第1実施形態に係る加熱処理装置2の斜視図である。図4は、第1実施形態に係る加熱処理装置2の断面図である。なお、図4においては、ヒータ21hは省略している。 Figure 2 is a schematic cross-sectional view showing the heat treatment device 2 according to the first embodiment attached to the cooling unit 18. Figure 3 is a perspective view of the heat treatment device 2 according to the first embodiment. Figure 4 is a cross-sectional view of the heat treatment device 2 according to the first embodiment. Note that the heater 21h is omitted in Figure 4.

基台21は、円盤状の形状を有する。支持部22の軸部22aは、円筒状の形状を有する。支持部22の取付部22bは、断面が矩形の環体状の形状を有する。 The base 21 has a disk-like shape. The shaft portion 22a of the support portion 22 has a cylindrical shape. The mounting portion 22b of the support portion 22 has a ring-like shape with a rectangular cross section.

加熱処理装置2は、処理容器1の冷却部18に取り付けられる。具体的には、加熱処理装置2の取付部22bが、固定部22cと冷却部18との間に挟まれることにより、加熱処理装置2は、冷却部18に取り付けられる。固定部22cは、ねじ22nにより、冷却部18に固定される。 The heat treatment device 2 is attached to the cooling part 18 of the processing vessel 1. Specifically, the attachment part 22b of the heat treatment device 2 is sandwiched between the fixing part 22c and the cooling part 18, thereby attaching the heat treatment device 2 to the cooling part 18. The fixing part 22c is fixed to the cooling part 18 with screws 22n.

基台21は、内部にヒータ21hを備える。いいかえると、ヒータ21hは、基台21の内部に埋め込まれている。 The base 21 has a heater 21h inside. In other words, the heater 21h is embedded inside the base 21.

ヒータ21hは、基板Wを加熱する。ヒータ21hは、ヒータ電源23から給電されて発熱する。そして、基台21の上面の近傍に設けられた熱電対23tcの温度信号によりヒータ21hの出力を制御する。熱電対23tcの温度信号によりヒータ21hの出力を制御することにより、基板Wが所定の温度に制御される。ヒータ電源23は、ヒータ21hに電力を供給する。 The heater 21h heats the substrate W. The heater 21h generates heat when power is supplied from the heater power supply 23. The output of the heater 21h is controlled by a temperature signal from a thermocouple 23tc provided near the top surface of the base 21. By controlling the output of the heater 21h using the temperature signal from the thermocouple 23tc, the substrate W is controlled to a predetermined temperature. The heater power supply 23 supplies power to the heater 21h.

(基台21)
基台21は基板Wに載置するとともに、基板Wを加熱する。基台21は、上面21S1と、上面21S1と反対側に位置する下面21S2と、を有する。上面21S1には、基板Wが載置される。下面21S2側には、支持部22が連結される。
(Base 21)
The base 21 supports the substrate W and heats the substrate W. The base 21 has an upper surface 21S1 and a lower surface 21S2 located opposite the upper surface 21S1. The substrate W is supported on the upper surface 21S1. A support 22 is connected to the lower surface 21S2.

基台21は、快削性セラミックスにより形成される。快削性セラミックスは、高い耐熱性を有する。快削性セラミックスは、高い耐熱性を有することから、例えば、基板Wを300℃以上に加熱する用途に好適である。また、快削性セラミックスは、従来用いられている窒化アルミニウム(AlN)及びアルミナ(Al)よりも、高い耐熱衝撃性を有する。さらに、快削性セラミックスは、切削加工等に対して高い加工性を有する。さらにまた、快削性セラミックスは、比較的高い耐食性を有する。 The base 21 is made of a machinable ceramic. The machinable ceramic has high heat resistance. Because of its high heat resistance, the machinable ceramic is suitable for applications in which the substrate W is heated to 300°C or higher. Furthermore, the machinable ceramic has higher thermal shock resistance than conventionally used aluminum nitride (AlN) and alumina (Al 2 O 3 ). Furthermore, the machinable ceramic has high workability for cutting and the like. Furthermore, the machinable ceramic has relatively high corrosion resistance.

快削性セラミックスとしては、窒化シリコン(SiN)、炭化シリコン(SiC)、酸化シリコン(SiO)又はこれらの混合体等のシリコン系のセラミックスや窒化ホウ素系のセラミックスが好適に用いることができる。また、快削性セラミックスとしては、マイカ成分を含んでいてもよい。 Silicon-based ceramics such as silicon nitride (SiN), silicon carbide (SiC), silicon oxide (SiO), or mixtures thereof, and boron nitride-based ceramics are suitable for use as machinable ceramics. Machinable ceramics may also contain mica components.

図5は、第1実施形態に係る加熱処理装置2が有する基台21の下面図である。基台21は、例えば、円盤状の快削性セラミックスを切削加工して形成される。基台21は、下面21S2側に、下面視で円環状の溝部21gを有する。溝部21gは、下面21S2から内部に切削加工して形成される。 Figure 5 is a bottom view of the base 21 of the heat treatment apparatus 2 according to the first embodiment. The base 21 is formed, for example, by cutting a disk-shaped piece of machinable ceramic. The base 21 has a groove 21g on the lower surface 21S2 side that is annular in bottom view. The groove 21g is formed by cutting inward from the lower surface 21S2.

溝部21gは、下面視で基台21の中心側に位置する第1側面21g1と、下面視で基台21の外側に位置する第2側面21g2と、下面21S2と略平行な底面21g3と、を有する。底面21g3は、第1側面21g1と第2側面21g2のそれぞれの上面21S1側に接続する。 The groove portion 21g has a first side surface 21g1 located toward the center of the base 21 in a bottom view, a second side surface 21g2 located outside the base 21 in a bottom view, and a bottom surface 21g3 that is approximately parallel to the bottom surface 21S2. The bottom surface 21g3 is connected to the top surface 21S1 sides of the first side surface 21g1 and the second side surface 21g2.

基台21は、溝部21gが形成されることにより、下面視で溝部21gに囲まれた突部21eを備える。突部21eは、溝部21gの第1側面21g1を側面とする円筒状に形成される。突部21eは、側面、すなわち、第1側面21g1に、雄ねじ21sが形成される。雄ねじ21sは、例えば、切削加工により形成される。雄ねじ21sは、軸部22aに形成される雌ねじ22asと締結する。 The base 21 has a groove 21g formed therein, which provides a protrusion 21e surrounded by the groove 21g when viewed from below. The protrusion 21e is formed in a cylindrical shape with the first side surface 21g1 of the groove 21g as its lateral surface. A male thread 21s is formed on the lateral surface of the protrusion 21e, i.e., the first side surface 21g1. The male thread 21s is formed, for example, by cutting. The male thread 21s fastens to a female thread 22as formed on the shaft portion 22a.

基台21は、快削性セラミックスの表面に、窒化アルミニウム(AlN)等の被覆層21rを備える。窒化アルミニウム(AlN)等の被覆層21rを備えることにより、ハロゲンに対する耐性(ハロゲン耐性)を改善できる。 The base 21 is made of a machinable ceramic and has a coating layer 21r such as aluminum nitride (AlN) on its surface. By providing a coating layer 21r such as aluminum nitride (AlN), resistance to halogens (halogen resistance) can be improved.

(支持部22)
支持部22は、基台21を支持する。支持部22は、基台21と冷却部18との間に設けられる。支持部22は、基台21の下面21S2側に連結される。
(Support part 22)
The support part 22 supports the base 21. The support part 22 is provided between the base 21 and the cooling part 18. The support part 22 is connected to the lower surface 21S2 side of the base 21.

支持部22は、基台21と同様に快削性セラミックスにより形成される。いいかえると、軸部22a及び取付部22bのそれぞれは、快削性セラミックスにより形成される。軸部22a及び取付部22bのそれぞれは、基台21と同じ材質のセラミックスにより形成されてもよい。 The support portion 22 is made of the same machinable ceramic as the base 21. In other words, the shaft portion 22a and the mounting portion 22b are each made of machinable ceramic. The shaft portion 22a and the mounting portion 22b may each be made of the same ceramic material as the base 21.

(軸部22a)
図6は、第1実施形態に係る加熱処理装置2が有する支持部22の軸部22aの断面図である。軸部22aは、例えば、円筒状の快削性セラミックスを切削加工して形成される。軸部22aは、内面22a1と外面22a2とを有する円筒状の形状を有する。
(Shaft portion 22a)
6 is a cross-sectional view of the shaft portion 22a of the support portion 22 of the heat treatment device 2 according to the first embodiment. The shaft portion 22a is formed, for example, by cutting a cylindrical piece of machinable ceramic. The shaft portion 22a has a cylindrical shape with an inner surface 22a1 and an outer surface 22a2.

軸部22aは、基台21側の端部の内面22a1に雌ねじ22asが形成される。雌ねじ22asは、例えば、切削加工により形成される。雌ねじ22asは、基台21の雄ねじ21sと締結する。 A female thread 22as is formed on the inner surface 22a1 of the end of the shaft 22a facing the base 21. The female thread 22as is formed, for example, by cutting. The female thread 22as fastens to the male thread 21s of the base 21.

本実施形態に係る加熱処理装置2では、基台21と支持部22とは、基台21に形成される雄ねじ21sと支持部22の軸部22aに形成される雌ねじ22asにより連結される。雄ねじ21sと雌ねじ22asとのねじによる連結部分は、熱の伝達において熱抵抗として作用する。したがって、本実施形態に係る加熱処理装置2によれば、基台21から支持部22への熱の伝達を抑制できる。 In the heat treatment device 2 according to this embodiment, the base 21 and the support part 22 are connected by a male thread 21s formed on the base 21 and a female thread 22as formed on the shaft part 22a of the support part 22. The threaded connection between the male thread 21s and the female thread 22as acts as a thermal resistor in the transfer of heat. Therefore, with the heat treatment device 2 according to this embodiment, the transfer of heat from the base 21 to the support part 22 can be suppressed.

軸部22aは、取付部22b側の端部の外面22a2に雄ねじ22atが形成される。雄ねじ22atは、例えば、切削加工により形成される。雄ねじ22atは、取付部22bの雌ねじ22bsと締結する。 A male thread 22at is formed on the outer surface 22a2 of the end of the shaft 22a facing the mounting portion 22b. The male thread 22at is formed, for example, by cutting. The male thread 22at fastens to the female thread 22bs of the mounting portion 22b.

本実施形態に係る加熱処理装置2では、軸部22aと取付部22bとは、軸部22aに形成される雄ねじ22atと取付部22bに形成される雌ねじ22bsにより連結される。雄ねじ2atと雌ねじ22bsとのねじによる連結部分は、熱の伝達において熱抵抗として作用する。したがって、本実施形態に係る加熱処理装置2によれば、支持部22の内部における熱の伝達を抑制できる。 In the heat treatment device 2 according to this embodiment, the shaft portion 22a and the mounting portion 22b are connected by a male thread 22at formed on the shaft portion 22a and a female thread 22bs formed on the mounting portion 22b. The threaded connection between the male thread 2at and the female thread 22bs acts as a thermal resistor in the transfer of heat. Therefore, the heat treatment device 2 according to this embodiment can suppress the transfer of heat inside the support portion 22.

軸部22aは、快削性セラミックスの表面に、窒化アルミニウム(AlN)等の被覆層22arを備える。窒化アルミニウム(AlN)等の被覆層22arを備えることにより、ハロゲンに対する耐性(ハロゲン耐性)を改善できる。 The shaft portion 22a is made of a machinable ceramic and has a coating layer 22ar made of aluminum nitride (AlN) or the like on its surface. By providing a coating layer 22ar made of aluminum nitride (AlN) or the like, it is possible to improve resistance to halogens (halogen resistance).

(取付部22b)
取付部22bは、加熱処理装置2を冷却部18に取り付ける際に、固定部22cに押さえられる部材である。取付部22bが固定部22cにより押さえられて、取付部22bが固定部22cと冷却部18との間に挟まれることにより、加熱処理装置2が、冷却部18に取り付けられる。
(Mounting portion 22b)
The attachment portion 22b is a member that is pressed by the fixing portion 22c when attaching the heat treatment device 2 to the cooling portion 18. The attachment portion 22b is pressed by the fixing portion 22c, and the attachment portion 22b is sandwiched between the fixing portion 22c and the cooling portion 18, thereby attaching the heat treatment device 2 to the cooling portion 18.

取付部22bは、例えば、円盤状の快削性セラミックスを切削加工して形成される。軸部22aは、内面22b1を有する断面が矩形の環体状の形状を有する。 The mounting portion 22b is formed, for example, by cutting a disk-shaped piece of machinable ceramic. The shaft portion 22a has an annular shape with a rectangular cross section and an inner surface 22b1.

取付部22bにおける軸部22a側の端部の内面22b1に雌ねじ22bsが形成される。雌ねじ22bsは、例えば、切削加工により形成される。雌ねじ22bsは、軸部22aの雄ねじ22atと締結する。 A female thread 22bs is formed on the inner surface 22b1 of the end of the mounting portion 22b facing the shaft portion 22a. The female thread 22bs is formed, for example, by cutting. The female thread 22bs fastens to the male thread 22at of the shaft portion 22a.

取付部22bは、下面に溝22gを有する。溝22gには、Oリング等のシール部材22pが設けられる。シール部材22pにより、処理容器1と外部との間の気密が保たれる。 The mounting portion 22b has a groove 22g on its underside. A sealing member 22p, such as an O-ring, is provided in the groove 22g. The sealing member 22p maintains airtightness between the processing vessel 1 and the outside.

取付部22bは、快削性セラミックスの表面に、窒化アルミニウム(AlN)等の被覆層22brを備える。窒化アルミニウム(AlN)等の被覆層22brを備えることにより、ハロゲンに対する耐性(ハロゲン耐性)を改善できる。 The mounting portion 22b is made of a machinable ceramic and has a coating layer 22br made of aluminum nitride (AlN) or similar on the surface. By providing a coating layer 22br made of aluminum nitride (AlN) or similar, it is possible to improve resistance to halogens (halogen resistance).

[シャワーヘッド3]
シャワーヘッド3は、処理容器1内に処理ガスをシャワー状に供給する。シャワーヘッド3は、金属により形成される。シャワーヘッド3は、加熱処理装置2に対向するように設けられる。シャワーヘッド3は、加熱処理装置2とほぼ同じ直径を有する。
[Shower head 3]
The shower head 3 supplies a processing gas into the processing chamber 1 in a shower-like manner. The shower head 3 is made of metal. The shower head 3 is provided to face the heat processing apparatus 2. The shower head 3 has approximately the same diameter as the heat processing apparatus 2.

シャワーヘッド3は、本体部31と、シャワープレート32と、を備える。本体部31は、処理容器1の天壁14に固定される。シャワープレート32は、本体部31の下に接続される。本体部31とシャワープレート32との間にはガス拡散空間33が形成される。処理容器1の天壁14及び本体部31には、それぞれの中央を貫通するガス導入孔36が設けられる。ガス導入孔36は、ガス拡散空間33につながる。 The showerhead 3 comprises a main body 31 and a shower plate 32. The main body 31 is fixed to the ceiling wall 14 of the processing vessel 1. The shower plate 32 is connected below the main body 31. A gas diffusion space 33 is formed between the main body 31 and the shower plate 32. The ceiling wall 14 of the processing vessel 1 and the main body 31 each have a gas inlet hole 36 that penetrates through the center. The gas inlet hole 36 is connected to the gas diffusion space 33.

シャワープレート32の周縁部には下方に突出する環状突起部34が形成される。環状突起部34の内側の平坦面には、ガス吐出孔35が形成される。加熱処理装置2が処理位置に存在した状態では、加熱処理装置2とシャワープレート32との間に処理空間38が形成される。また、カバー部材24の上面と環状突起部34とが近接して環状隙間39が形成される。 A downwardly protruding annular protrusion 34 is formed on the periphery of the shower plate 32. Gas ejection holes 35 are formed on the inner flat surface of the annular protrusion 34. When the heat treatment device 2 is in the processing position, a processing space 38 is formed between the heat treatment device 2 and the shower plate 32. In addition, the upper surface of the cover member 24 and the annular protrusion 34 are close to each other, forming an annular gap 39.

[排気部4]
排気部4は、処理容器1の内部を排気する。排気部4は、排気配管41と、排気機構42と、を備える。排気配管41は、排気口13bに接続される。排気機構42は、排気配管41に接続される。排気機構42は、真空ポンプや圧力制御バルブ等を備える。
[Exhaust section 4]
The exhaust unit 4 exhausts the inside of the processing chamber 1. The exhaust unit 4 includes an exhaust pipe 41 and an exhaust mechanism 42. The exhaust pipe 41 is connected to the exhaust port 13b. The exhaust mechanism 42 is connected to the exhaust pipe 41. The exhaust mechanism 42 includes a vacuum pump, a pressure control valve, etc.

排気部4は、スリット13aを介して排気ダクト13に至る処理容器1内のガスを、排気ダクト13から排気配管41を通って排気機構42により排気する。 The exhaust unit 4 exhausts gas from the processing vessel 1, which reaches the exhaust duct 13 via the slit 13a, from the exhaust duct 13 through the exhaust piping 41 using the exhaust mechanism 42.

[ガス供給機構5]
ガス供給機構5は、処理容器1内に処理ガスを供給する。ガス供給機構5は、ガス供給ライン51を介してガス導入孔36に接続される。
[Gas supply mechanism 5]
The gas supply mechanism 5 supplies a processing gas into the processing chamber 1. The gas supply mechanism 5 is connected to the gas inlet 36 via a gas supply line 51.

また、基板処理装置100は、容量結合プラズマ装置であって、加熱処理装置2が下部電極となり、シャワーヘッド3が上部電極となる。下部電極となる加熱処理装置2は、コンデンサ(図示せず)を介して接地される。 The substrate processing apparatus 100 is a capacitively coupled plasma apparatus, with the heat treatment apparatus 2 serving as the lower electrode and the showerhead 3 serving as the upper electrode. The heat treatment apparatus 2 serving as the lower electrode is grounded via a capacitor (not shown).

[高周波電力供給部6]
高周波電力供給部6は、上部電極となるシャワーヘッド3に高周波電力を供給する。上部電極となるシャワーヘッド3は、高周波電力供給部6によって高周波電力(以下、「高周波パワー」ともいう。)が印加される。高周波電力供給部6は、給電ライン61と、整合器62と、高周波電源63と、を備える。
[High frequency power supply unit 6]
The high frequency power supply unit 6 supplies high frequency power to the shower head 3 serving as the upper electrode. High frequency power (hereinafter also referred to as "high frequency power") is applied to the shower head 3 serving as the upper electrode by the high frequency power supply unit 6. The high frequency power supply unit 6 includes a power feed line 61, a matching box 62, and a high frequency power supply 63.

高周波電源63は、高周波電力を発生する電源である。高周波電力は、プラズマの生成に適した周波数を有する。高周波電力の周波数は、例えば450キロヘルツから100メガヘルツの範囲内の周波数である。高周波電源63は、整合器62及び給電ライン61を介してシャワーヘッド3の本体部31に接続される。整合器62は、高周波電源63の出力リアクタンスと負荷(上部電極)のリアクタンスを整合させるための回路を有する。 The high-frequency power supply 63 is a power supply that generates high-frequency power. The high-frequency power has a frequency suitable for generating plasma. The frequency of the high-frequency power is, for example, within the range of 450 kHz to 100 MHz. The high-frequency power supply 63 is connected to the main body 31 of the showerhead 3 via a matching box 62 and a power supply line 61. The matching box 62 has a circuit for matching the output reactance of the high-frequency power supply 63 with the reactance of the load (upper electrode).

なお、高周波電力供給部6は、上部電極となるシャワーヘッド3に高周波電力を印加するものとして説明したが、これに限られるものではない。下部電極となる加熱処理装置2に高周波電力を印加する構成であってもよい。また、基板処理装置は、高周波電力を印加する構成を備えていなくてもよい。 Note that while the high-frequency power supply unit 6 has been described as applying high-frequency power to the shower head 3, which serves as the upper electrode, this is not limited to this. It may also be configured to apply high-frequency power to the heat treatment device 2, which serves as the lower electrode. Furthermore, the substrate processing device does not necessarily have to be configured to apply high-frequency power.

[制御部7]
制御部7は、例えばコンピュータであり、CPU(Central Processing Unit)、RAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only Memory)、補助記憶装置等を備える。CPUは、ROM又は補助記憶装置に格納されたプログラムに基づいて動作し、基板処理装置の動作を制御する。制御部7は、基板処理装置の内部に設けられていてもよく、外部に設けられていてもよい。制御部7が基板処理装置の外部に設けられている場合、制御部7は、有線又は無線等の通信手段によって、基板処理装置を制御できる。
[Control unit 7]
The control unit 7 is, for example, a computer, and includes a CPU (Central Processing Unit), RAM (Random Access Memory), ROM (Read Only Memory), an auxiliary storage device, etc. The CPU operates based on a program stored in the ROM or the auxiliary storage device, and controls the operation of the substrate processing apparatus. The control unit 7 may be provided inside or outside the substrate processing apparatus. When the control unit 7 is provided outside the substrate processing apparatus, the control unit 7 can control the substrate processing apparatus via a communication means such as a wired or wireless communication means.

<作用、効果>
第1実施形態に係る加熱処理装置2によれば、基台21と支持部22とをねじにより連結することにより、載置した基板Wを加熱する基台21から支持部22への熱伝導を抑制できる。
<Actions and Effects>
According to the heat treatment apparatus 2 of the first embodiment, by connecting the base 21 and the support part 22 with screws, heat conduction from the base 21, which heats the substrate W placed thereon, to the support part 22 can be suppressed.

基板Wを加熱するために、加熱処理装置2の基台21で発生した熱の一部は、支持部22を通過して冷却部18に伝熱する。加熱処理装置2の基台21は、下面21S2側に設けられた雄ねじ21sと、支持部22の雌ねじ22asと、を締結することにより支持部22に連結される。雄ねじ21sと雌ねじ22asとの連結部分における熱の伝達は、連結部分が熱抵抗となって、例えば、基台21と支持部22とが一体に形成される場合と比較して抑制される。すなわち、基台21から支持部22に伝わる熱の量は、雄ねじ21sと雌ねじ22asとの連結部分において抑制される。 To heat the substrate W, a portion of the heat generated in the base 21 of the heat treatment device 2 passes through the support 22 and is transferred to the cooling unit 18. The base 21 of the heat treatment device 2 is connected to the support 22 by fastening a male screw 21s provided on the underside 21S2 to the female screw 22as of the support 22. Heat transfer at the connection between the male screw 21s and the female screw 22as is suppressed compared to, for example, when the base 21 and the support 22 are formed integrally, because the connection acts as a thermal resistor. In other words, the amount of heat transferred from the base 21 to the support 22 is suppressed at the connection between the male screw 21s and the female screw 22as.

したがって、第1実施形態に係る加熱処理装置2によれば、載置した基板Wを加熱する基台21から支持部22への熱伝導を抑制できる。また、第1実施形態に係る加熱処理装置2によれば、基台21から支持部22への熱伝導を抑制できることから、支持部22の長さを短くできる。支持部22の長さを短くすることにより、処理容器1の縦方向の長さを短くできる。処理容器1の縦方向の長さを短くすることにより、基板処理装置100の大きさを小さくできる。いいかえると、処理容器1の縦方向の長さを短くすることにより、基板処理装置100が備える処理容器1の体積を小さくできる。 Therefore, the heat treatment apparatus 2 according to the first embodiment can suppress heat conduction from the base 21, which heats the placed substrate W, to the support part 22. Furthermore, the heat treatment apparatus 2 according to the first embodiment can suppress heat conduction from the base 21 to the support part 22, thereby allowing the length of the support part 22 to be shortened. By shortening the length of the support part 22, the vertical length of the processing vessel 1 can be shortened. By shortening the vertical length of the processing vessel 1, the size of the substrate processing apparatus 100 can be reduced. In other words, by shortening the vertical length of the processing vessel 1, the volume of the processing vessel 1 provided in the substrate processing apparatus 100 can be reduced.

効果を説明するために、比較例の加熱処理装置2zについて説明する。図8は、比較例の加熱処理装置2zの概略断面図である。加熱処理装置2zは、基台21zと、支持部22zと、を備える。基台21z及び支持部22zのそれぞれは窒化アルミニウム等のセラミックスにより形成される。基台21zと支持部22zとは、拡散接合等により一体に形成される。 To explain the effect, a comparative example of heat treatment device 2z will be described. Figure 8 is a schematic cross-sectional view of the comparative example of heat treatment device 2z. Heat treatment device 2z includes a base 21z and a support portion 22z. Base 21z and support portion 22z are each formed from a ceramic such as aluminum nitride. Base 21z and support portion 22z are integrally formed by diffusion bonding or the like.

加熱処理装置2zは、固定部22cをねじ22nzにより冷却部18に固定される。加熱処理装置2zと冷却部18との間には、シール部材22pzが設けられる。 The heat treatment device 2z is fixed to the cooling unit 18 by the fixing portion 22c with screws 22nz. A sealing member 22pz is provided between the heat treatment device 2z and the cooling unit 18.

加熱処理装置2zでは、基台21zと支持部22zとは、拡散接合等により一体に形成されていることにより、基台21zから支持部22zへ多くの熱が伝達する。例えば、基台21z及び支持部22zが窒化アルミニウムにより形成されていると、窒化アルミニウムは伝熱性が高いことから多くの熱が矢印付き線Aに示すように冷却部18に流れる。 In the heat treatment device 2z, the base 21z and the support portion 22z are integrally formed by diffusion bonding or the like, allowing a large amount of heat to be transferred from the base 21z to the support portion 22z. For example, if the base 21z and the support portion 22z are made of aluminum nitride, aluminum nitride has high thermal conductivity, and therefore a large amount of heat flows to the cooling portion 18, as indicated by the arrowed line A.

一方、加熱処理装置2zと冷却部18と間のシール部材22pzは、例えば、真空シール材により形成されている。シール部材22pzの耐熱温度を満たすために、支持部22zの冷却部18との接合部分の温度を所定の温度以下にする必要がある。 On the other hand, the sealing member 22pz between the heat treatment device 2z and the cooling unit 18 is formed, for example, from a vacuum sealing material. To ensure that the sealing member 22pz meets the heat resistance temperature limit, the temperature at the joint between the support unit 22z and the cooling unit 18 must be kept below a predetermined temperature.

加熱処理装置2zでは、支持部22zの上下方向の長さHzを長くすることによって、基台21zと支持部22zの冷却部18との接合部分と間の距離を長くして、支持部22zの冷却部18との接合部分の温度が低くなるようにしている。すなわち、基台21zと支持部22zの冷却部18との接合部分と間の距離を長くして、基台21と冷却部18とを離隔して、基台21zと支持部22zの冷却部18とにおける温度差を設けている。 In the heat treatment device 2z, the vertical length Hz of the support part 22z is increased, thereby increasing the distance between the joint between the base 21z and the cooling part 18 of the support part 22z, thereby lowering the temperature of the joint between the base 21z and the cooling part 18 of the support part 22z. In other words, by increasing the distance between the joint between the base 21z and the cooling part 18 of the support part 22z, the base 21z and the cooling part 18 are separated, creating a temperature difference between the base 21z and the cooling part 18 of the support part 22z.

なお、例えば、支持部に熱伝導率の低い材料を用いる場合は、基台と支持部との間で異種材料の接合となる。異種材料を接合する場合には、熱膨張率の差があるためクラック等の発生を抑えながら接合することは困難である。 For example, if a material with low thermal conductivity is used for the support, dissimilar materials will be joined between the base and the support. When joining dissimilar materials, it is difficult to join them while preventing cracks from occurring due to the difference in thermal expansion coefficients.

第1実施形態に係る加熱処理装置2によれば、基台21から支持部22に伝わる熱の量を、雄ねじ21sと雌ねじ22asとの連結部分において抑制する。基台21から支持部22に伝わる熱の量を抑制することによって、加熱処理装置2における冷却部18と接続する部分の温度を低くできる。加熱処理装置2における冷却部18と接続する部分の温度を低くすることによって、加熱処理装置2の支持部22の上下方向の長さHを短くできる。すなわち、加熱処理装置2の基台21と冷却部18との間隔を短くできる。したがって、加熱処理装置2の処理容器1を小さくして、加熱処理装置2の大きさを小さくできる。 The heat treatment device 2 according to the first embodiment reduces the amount of heat transferred from the base 21 to the support part 22 at the connection between the male thread 21s and the female thread 22as. By reducing the amount of heat transferred from the base 21 to the support part 22, the temperature of the part of the heat treatment device 2 that connects to the cooling part 18 can be reduced. By reducing the temperature of the part of the heat treatment device 2 that connects to the cooling part 18, the vertical length H of the support part 22 of the heat treatment device 2 can be reduced. In other words, the distance between the base 21 and the cooling part 18 of the heat treatment device 2 can be reduced. Therefore, the processing vessel 1 of the heat treatment device 2 can be made smaller, thereby reducing the size of the heat treatment device 2.

第1実施形態に係る加熱処理装置2は、支持部22を軸部22aと取付部22bとをねじにより締結していることから、軸部22aと取付部22bとの間で熱の伝達を更に抑制できる。したがって、基台21から冷却部18への熱の伝達を、支持部22において更に抑制できる。基台21から冷却部18への熱の伝達を、支持部22において抑制することによって、加熱処理装置2の支持部22の上下方向の長さHを更に短くできる。 In the heat treatment device 2 according to the first embodiment, the support portion 22 is fastened by screws between the shaft portion 22a and the mounting portion 22b, which further reduces heat transfer between the shaft portion 22a and the mounting portion 22b. Therefore, the transfer of heat from the base 21 to the cooling portion 18 can be further reduced at the support portion 22. By reducing the transfer of heat from the base 21 to the cooling portion 18 at the support portion 22, the vertical length H of the support portion 22 of the heat treatment device 2 can be further reduced.

また、第1実施形態に係る加熱処理装置2によれば、快削性セラミックスにより加熱処理装置2を形成していることから、切削加工により汎用的な装置を用いて、加熱処理装置2を製造できる。 Furthermore, according to the heat treatment device 2 of the first embodiment, since the heat treatment device 2 is made of machinable ceramics, the heat treatment device 2 can be manufactured using general-purpose equipment through cutting processing.

例えば、比較例の加熱処理装置2zでは、基台21zと支持部22zとを拡散接合等により一体に形成するために、専用の特殊な加工装置が必要となる。セラミックス同士の拡散接合技術は、高価で高難易度の技術が必要なため、加熱処理装置2zを製造するのに必要な費用が増加する。 For example, in the comparative example of heat treatment device 2z, the base 21z and the support portion 22z are integrally formed by diffusion bonding or the like, requiring specialized processing equipment. Diffusion bonding between ceramics is expensive and requires highly sophisticated techniques, which increases the cost of manufacturing the heat treatment device 2z.

第1実施形態に係る加熱処理装置2によれば、比較例の加熱処理装置2zを製造するような特殊な製造工程を削除することにより、製造工程を簡略化できる。加熱処理装置2を簡略化した製造工程により製造することにより、製造に必要な費用を削減できる。 The heat treatment device 2 according to the first embodiment can simplify the manufacturing process by eliminating the special manufacturing process used to manufacture the heat treatment device 2z of the comparative example. By manufacturing the heat treatment device 2 using a simplified manufacturing process, the costs required for manufacturing can be reduced.

さらに、第1実施形態に係る加熱処理装置2によれば、快削性セラミックスの表面に、窒化アルミニウム(AlN)等の被覆層を備えることにより、基板処理に用いられるハロゲンに対する耐性(ハロゲン耐性)を向上できる。 Furthermore, with the heat treatment device 2 according to the first embodiment, the surface of the machinable ceramic can be provided with a coating layer such as aluminum nitride (AlN), thereby improving resistance to halogens used in substrate processing (halogen resistance).

化学気相成長(CVD(Chemical Vapor Deposition))又は原子層堆積(ALD(Atomic Layer Deposition))において、原料としてハロゲンを含んだガスが用いられる。一般に、快削性セラミックスは、ハロゲンを含んだガスへの耐腐食性が低い。 In chemical vapor deposition (CVD) or atomic layer deposition (ALD), gases containing halogens are used as raw materials. Generally, machinable ceramics have low corrosion resistance to gases containing halogens.

第1実施形態に係る加熱処理装置2によれば、快削性セラミックスの表面に、窒化アルミニウム(AlN)等の被覆層を備えることにより、ハロゲン耐性を向上できる。快削性セラミックスの表面に被覆層を備えることにより、窒化アルミニウム等の耐食性の高い部材を使用する量を減らして、コストを削減できる。 The heat treatment device 2 according to the first embodiment can improve halogen resistance by providing a coating layer such as aluminum nitride (AlN) on the surface of the machinable ceramic. By providing a coating layer on the surface of the machinable ceramic, the amount of highly corrosion-resistant material such as aluminum nitride used can be reduced, resulting in cost savings.

なお、基台21の上面21S1が第1面の一例、下面21S2が第2面の一例、雄ねじ21sが第1ねじ部の一例、雌ねじ22asが第2ねじ部の一例、である。 The upper surface 21S1 of the base 21 is an example of the first surface, the lower surface 21S2 is an example of the second surface, the male thread 21s is an example of the first threaded portion, and the female thread 22as is an example of the second threaded portion.

<変形例>
なお、第1実施形態に係る加熱処理装置2は、基台21の溝部21gにおける第1側面21g1に雄ねじ21sを形成しているが、第2側面21g2に雌ねじを形成するようにしてもよい。第2側面21g2に雌ねじを形成する場合には、軸部22aにおける基台21側の端部の外面22a2に雄ねじを形成する。
<Modification>
In the heat treatment device 2 according to the first embodiment, the male thread 21s is formed on the first side surface 21g1 of the groove 21g of the base 21, but the female thread may be formed on the second side surface 21g2. When the female thread is formed on the second side surface 21g2, the male thread is formed on the outer surface 22a2 of the end of the shaft portion 22a on the base 21 side.

また、第1実施形態に係る加熱処理装置2は、基台21の溝部21gに雄ねじ21sを形成しているが、下面21S2から突出する突部を設けて、突部の側面に雄ねじを形成してもよい。 In addition, the heat treatment device 2 according to the first embodiment has a male thread 21s formed in the groove 21g of the base 21, but it is also possible to provide a protrusion protruding from the lower surface 21S2 and form a male thread on the side of the protrusion.

≪第2実施形態≫
[加熱処理装置102]
次に、第2実施形態に係る加熱処理装置102について説明する。図7は、第2実施形態に係る加熱処理装置102の概略断面図である。
Second Embodiment
[Heat Treatment Device 102]
Next, a description will be given of a heat treatment apparatus 102 according to a second embodiment of the present invention. Fig. 7 is a schematic cross-sectional view of the heat treatment apparatus 102 according to the second embodiment of the present invention.

加熱処理装置102は、処理容器1内で基板Wを水平に支持する。また、加熱処理装置102は、基板Wを加熱する。加熱処理装置102は、基台121と、支持部122と、を備える。基台121は、基板Wに対応した大きさの円板状に形成される。基台121は、支持部122に支持される。 The heat treatment device 102 supports the substrate W horizontally within the processing chamber 1. The heat treatment device 102 also heats the substrate W. The heat treatment device 102 includes a base 121 and a support 122. The base 121 is formed in a circular plate shape with a size corresponding to the substrate W. The base 121 is supported by the support 122.

加熱処理装置102は、更に、支持部122と冷却部18との間に、台部125を備える。 The heat treatment device 102 further includes a base portion 125 between the support portion 122 and the cooling portion 18.

基台121は、円盤状の形状を有する。支持部122は、円筒状の形状を有する円筒部122aと、断面が矩形である環体状の形状を有する環体部122bと、を有する。円筒部122aと環体部122bとは、一体に形成される。 The base 121 has a disk-like shape. The support portion 122 has a cylindrical portion 122a that has a cylindrical shape and an annular portion 122b that has a ring-like shape with a rectangular cross section. The cylindrical portion 122a and the annular portion 122b are formed integrally.

基台121は、内部にヒータ121hを備える。いいかえると、ヒータ121hは、基台121の内部に埋め込まれている。ヒータ121hの駆動については、第1実施形態におけるヒータ21hと同じ駆動方法を用いていることから、説明は省略する。 The base 121 has a heater 121h inside. In other words, the heater 121h is embedded inside the base 121. The heater 121h is driven using the same driving method as the heater 21h in the first embodiment, so a detailed explanation will be omitted.

(基台121)
基台121は基板Wを載置するとともに、基板Wを加熱する。基台121は、上面121S1と、上面121S1と反対側に位置する下面121S2と、を有する。上面121S1には、基板Wが載置される。下面121S2側には、支持部122が連結される。
(Base 121)
The base 121 supports the substrate W and heats the substrate W. The base 121 has an upper surface 121S1 and a lower surface 121S2 located opposite the upper surface 121S1. The substrate W is supported on the upper surface 121S1. A support 122 is connected to the lower surface 121S2.

基台121は、快削性セラミックスにより形成される。基台121は、基台21と同様に、下面121S2に、下面視で円環状の溝部121gを有する。溝部121gは、下面121S2から内部に切削加工して形成される。 The base 121 is made of a machinable ceramic. Like the base 21, the base 121 has a groove 121g on its lower surface 121S2 that is circular when viewed from below. The groove 121g is formed by cutting inward from the lower surface 121S2.

溝部121gは、下面視で基台121の中心側に位置する側面に、雄ねじ121sが形成される。雄ねじ121sは、例えば、切削加工により形成される。雄ねじ121sは、支持部122に形成される雌ねじ122sと締結する。 A male thread 121s is formed on the side surface of the groove 121g that is located toward the center of the base 121 when viewed from below. The male thread 121s is formed, for example, by cutting. The male thread 121s fastens to a female thread 122s formed on the support portion 122.

基台121は、快削性セラミックスの表面に、窒化アルミニウム(AlN)等の被覆層121rを備える。窒化アルミニウム(AlN)等の被覆層121rを備えることにより、ハロゲンに対する耐性(ハロゲン耐性)を改善できる。 The base 121 is made of a machinable ceramic and has a coating layer 121r made of aluminum nitride (AlN) or similar on its surface. By providing a coating layer 121r made of aluminum nitride (AlN) or similar, the base 121 can improve its resistance to halogens (halogen resistance).

(支持部122)
支持部122は、基台121を支持する。支持部122は、基台121と台部125との間に設けられる。
(Support part 122)
The support portion 122 supports the base 121. The support portion 122 is provided between the base 121 and the platform portion 125.

支持部122は、基台121と同様に快削性セラミックスにより形成される。支持部122は、基台121と同じ材質のセラミックスにより形成されてもよい。 The support portion 122 is made of the same machinable ceramic as the base 121. The support portion 122 may also be made of the same ceramic material as the base 121.

支持部122は、円筒部122aと、環体部122bと、を有する。円筒部122aと環体部122bとは一体に形成される。円筒部122aと環体部122bとを、例えば、型により成形して一体に形成してもよいし、快削性セラミックスのブロックから切削加工して一体に形成してもよい。また、例えば、円筒部122aと環体部122bとを拡散接合等により一体にしてもよい。 The support portion 122 has a cylindrical portion 122a and an annular portion 122b. The cylindrical portion 122a and the annular portion 122b are integrally formed. The cylindrical portion 122a and the annular portion 122b may be integrally formed, for example, by molding using a mold, or may be integrally formed by cutting from a block of machinable ceramic. Alternatively, the cylindrical portion 122a and the annular portion 122b may be integrally formed by diffusion bonding or the like.

円筒部122aは、基台121側の端部の内面に雌ねじ122sが形成される。雌ねじ122sは、例えば、切削加工により形成される。雌ねじ122sは、基台121の雄ねじ121sと締結する。 A female thread 122s is formed on the inner surface of the cylindrical portion 122a at the end facing the base 121. The female thread 122s is formed, for example, by cutting. The female thread 122s fastens to the male thread 121s of the base 121.

環体部122bには、上下方向に貫通し、内側にねじが形成されたねじ穴122hが設けられる。ねじ穴122hにねじ125nを締結することにより、環体部122bは台部125に固定される。環体部122bを台部125に固定することにより、支持部122は、台部125に固定される。また、ねじ125nの緩み防止のために、ナット125mをねじ125nに設けてもよい。なお、ナット125mは備えなくてもよい。さらに、加熱処理装置102は、支持部122と台部125との間には、漏れ防止のために、メタルシール125eを備える。 The annular body portion 122b has a threaded hole 122h that penetrates vertically and has a thread formed on the inside. The annular body portion 122b is fixed to the base portion 125 by fastening a screw 125n into the threaded hole 122h. By fixing the annular body portion 122b to the base portion 125, the support portion 122 is fixed to the base portion 125. Furthermore, a nut 125m may be provided on the screw 125n to prevent loosening of the screw 125n. However, the nut 125m may not be provided. Furthermore, the heat treatment device 102 has a metal seal 125e between the support portion 122 and the base portion 125 to prevent leakage.

なお、支持部122は、ねじ穴122hを有しているが、ねじ穴122hに換えて貫通孔を形成して、ナット125mで環体部122bを台部125に固定してもよい。 The support portion 122 has a screw hole 122h, but a through hole may be formed instead of the screw hole 122h, and the annular portion 122b may be fixed to the base portion 125 with a nut 125m.

支持部122は、快削性セラミックスの表面に、窒化アルミニウム(AlN)等の被覆層122rを備える。窒化アルミニウム(AlN)等の被覆層122rを備えることにより、ハロゲンに対する耐性(ハロゲン耐性)を改善できる。 The support part 122 has a coating layer 122r made of aluminum nitride (AlN) or the like on the surface of the machinable ceramic. By providing a coating layer 122r made of aluminum nitride (AlN) or the like, it is possible to improve resistance to halogens (halogen resistance).

(台部125)
台部125は、支持部122を冷却部18に固定する。台部125は、支持部122と冷却部18との間に設けられる。
(Base part 125)
The base 125 fixes the support 122 to the cooling unit 18. The base 125 is provided between the support 122 and the cooling unit 18.

台部125は、金属により形成される。台部125は、上面視で円環状の上板部125aと、円筒状の円筒部125bと、上面視で円環状の下板部125cと、を有する。上板部125aと、円筒部125bと、下板部125cとは、一体に形成される。台部125は、例えば、曲げ加工等の機械加工により形成される。 The base portion 125 is made of metal. The base portion 125 has an upper plate portion 125a that is annular in top view, a cylindrical portion 125b, and a lower plate portion 125c that is also annular in top view. The upper plate portion 125a, the cylindrical portion 125b, and the lower plate portion 125c are integrally formed. The base portion 125 is formed, for example, by machining such as bending.

上板部125aは、メタルシール125eを介して、支持部122の環体部122bを載置する。上板部125aは、ねじ125nにより支持部122と締結される。円筒部125bは、上板部125aと下板部125cとを接続する。円筒部125bにより、上板部125aは、下板部125cから離隔して設けられる。 The upper plate portion 125a supports the annular portion 122b of the support portion 122 via a metal seal 125e. The upper plate portion 125a is fastened to the support portion 122 with a screw 125n. The cylindrical portion 125b connects the upper plate portion 125a and the lower plate portion 125c. The cylindrical portion 125b separates the upper plate portion 125a from the lower plate portion 125c.

下板部125cは、冷却部18に載置される。下板部125cは、冷却部18側の面に溝125gを有する。溝125gには、Oリング等のシール部材125pが設けられる。シール部材125pにより、処理容器1と外部との間の気密が保たれる。 The lower plate 125c is placed on the cooling unit 18. The lower plate 125c has a groove 125g on the surface facing the cooling unit 18. A sealing member 125p such as an O-ring is provided in the groove 125g. The sealing member 125p maintains airtightness between the processing vessel 1 and the outside.

<作用、効果>
第2実施形態に係る加熱処理装置102によれば、第1実施形態に係る加熱処理装置2の作用、効果に加えて、支持部122の長さを更に短くできる。また、第2実施形態に係る加熱処理装置102によれば、支持部122と台部125との間において、ねじにより締結を用いることによって、支持部122と台部125との間における熱の伝達を更に抑制できる。さらに、第2実施形態に係る加熱処理装置102によれば、台部125に金属材料を用いることから、材料費等の製造費用を削減できる。
<Actions and Effects>
In addition to the effects and advantages of the heat treatment device 2 according to the first embodiment, the heat treatment device 102 according to the second embodiment can further shorten the length of the support portion 122. Furthermore, the heat treatment device 102 according to the second embodiment can further suppress heat transfer between the support portion 122 and the base portion 125 by using screws to fasten the support portion 122 and the base portion 125. Furthermore, the heat treatment device 102 according to the second embodiment uses a metal material for the base portion 125, thereby reducing manufacturing costs such as material costs.

なお、例えば、台部125において、基台121側と絶縁するために、ねじ125nの部分に絶縁スリーブを挿入してもよい。 For example, an insulating sleeve may be inserted into the screw 125n portion of the platform 125 to insulate it from the base 121.

今回開示された本実施形態に係る加熱処理装置は、すべての点において例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。上記の実施形態は、添付の請求の範囲及びその主旨を逸脱することなく、様々な形態で変形及び改良が可能である。上記複数の実施形態に記載された事項は、矛盾しない範囲で他の構成も取り得ることができ、また、矛盾しない範囲で組み合わせることができる。 The heat treatment device according to the present embodiment disclosed herein should be considered in all respects to be illustrative and not restrictive. The above-described embodiment can be modified and improved in various ways without departing from the spirit and scope of the appended claims. The features described in the above-described embodiments can be configured in other ways as long as they are not inconsistent, and can be combined as long as they are not inconsistent.

100 基板処理装置
1 処理容器
2、102 加熱処理装置
21、121 基台
21S1、121S1 上面
21S2、121S2 下面
21g、121g 溝部
21h、121h ヒータ
21r、121r 被覆層
21s、121s 雄ねじ
22、122 支持部
22as、122s 雌ねじ
22a 軸部
22a1 内面
22a2 外面
22ar、22br 被覆層
122a 円筒部
125 台部
W 基板
100 Substrate processing apparatus 1 Processing container 2, 102 Heating processing apparatus 21, 121 Base 21S1, 121S1 Upper surface 21S2, 121S2 Lower surface 21g, 121g Groove portion 21h, 121h Heater 21r, 121r Covering layer 21s, 121s Male screw 22, 122 Support portion 22as, 122s Female screw 22a Shaft portion 22a1 Inner surface 22a2 Outer surface 22ar, 22br Covering layer 122a Cylindrical portion 125 Base portion W Substrate

Claims (10)

基板が載置される第1面と、前記第1面と反対側の第2面と、を有し、内部にヒータを備える基台と、
前記第2面の側に連結される支持部と、を備え、
前記基台は、前記第2面の側に、第1ねじ部を有し、
前記支持部は、軸部と、取付部と、を備え、
前記軸部は、
前記基台側の第1端部に、前記第1ねじ部に締結される第2ねじ部を有
前記基台と反対側の第2端部に、第3ねじ部を有し、
前記取付部は、前記第3ねじ部に締結される第4ねじ部を有する、
加熱処理装置。
a base having a first surface on which a substrate is placed and a second surface opposite to the first surface, the base having a heater therein;
a support portion connected to the second surface side,
the base has a first screw portion on the second surface side,
The support portion includes a shaft portion and an attachment portion,
The shaft portion is
a second threaded portion at a first end portion on the base side, the second threaded portion being fastened to the first threaded portion;
a third threaded portion at a second end opposite the base;
The mounting portion has a fourth threaded portion fastened to the third threaded portion.
Heat treatment equipment.
前記基台及び前記支持部のそれぞれは、セラミックスにより形成される、
請求項1に記載の加熱処理装置。
The base and the support are each made of ceramics.
The heat treatment device according to claim 1 .
前記セラミックスは、窒化シリコンを含む、
請求項2に記載の加熱処理装置。
The ceramic includes silicon nitride.
The heat treatment device according to claim 2 .
前記支持部を載置する台部を更に備える、
請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の加熱処理装置。
Further provided is a base portion on which the support portion is placed.
The heat treatment device according to any one of claims 1 to 3.
前記台部は、金属により形成される、
請求項4に記載の加熱処理装置。
The base is formed of metal.
The heat treatment device according to claim 4 .
前記基台及び前記支持部のそれぞれは、表面に被覆層を備える、
請求項1から請求項5のいずれか一項に記載の加熱処理装置。
Each of the base and the support has a coating layer on a surface thereof.
The heat treatment device according to any one of claims 1 to 5.
前記被覆層は、窒化アルミニウムにより形成される、
請求項6に記載の加熱処理装置。
The coating layer is formed of aluminum nitride.
The heat treatment device according to claim 6 .
前記基台は、前記第2面の側に環状の溝部を有し、
前記第1ねじ部は、前記溝部に形成されている、
請求項1から請求項7のいずれか一項に記載の加熱処理装置。
the base has an annular groove on the second surface side,
The first thread portion is formed in the groove portion.
The heat treatment device according to any one of claims 1 to 7.
前記支持部は、筒状の形状を有し、
前記第2ねじ部は、前記筒状の形状の内面に形成される、
請求項1から請求項8のいずれか一項に記載の加熱処理装置。
The support portion has a cylindrical shape,
The second threaded portion is formed on the inner surface of the cylindrical shape.
The heat treatment device according to any one of claims 1 to 8.
前記第1ねじ部は、雄ねじであり、
前記第2ねじ部は、雌ねじである、
請求項1から請求項9のいずれか一項に記載の加熱処理装置。
the first threaded portion is a male thread,
The second threaded portion is a female thread.
The heat treatment device according to any one of claims 1 to 9.
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