JP7799438B2 - メモリコントローラ、メモリコントローラの制御方法およびプログラム - Google Patents
メモリコントローラ、メモリコントローラの制御方法およびプログラムInfo
- Publication number
- JP7799438B2 JP7799438B2 JP2021179351A JP2021179351A JP7799438B2 JP 7799438 B2 JP7799438 B2 JP 7799438B2 JP 2021179351 A JP2021179351 A JP 2021179351A JP 2021179351 A JP2021179351 A JP 2021179351A JP 7799438 B2 JP7799438 B2 JP 7799438B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- refresh
- dram
- timing
- command generation
- timing adjustment
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
- G11C11/40622—Partial refresh of memory arrays
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
- G11C11/40603—Arbitration, priority and concurrent access to memory cells for read/write or refresh operations
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
- G11C11/40611—External triggering or timing of internal or partially internal refresh operations, e.g. auto-refresh or CAS-before-RAS triggered refresh
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
- G11C11/40615—Internal triggering or timing of refresh, e.g. hidden refresh, self refresh, pseudo-SRAMs
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/406—Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles
- G11C11/40618—Refresh operations over multiple banks or interleaving
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/4078—Safety or protection circuits, e.g. for preventing inadvertent or unauthorised reading or writing; Status cells; Test cells
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Computer Security & Cryptography (AREA)
- Dram (AREA)
- Memory System (AREA)
Description
図1は、第1の実施形態によるメモリコントローラ100の構成例を示す図である。メモリコントローラ100は、DRAM110とバスマスタ120に接続される。バスマスタ120は、アドレス情報とライトデータを含むメモリアクセス要求をメモリコントローラ100に送信する。メモリコントローラ100は、バスマスタ120から受信したメモリアクセス要求を基にDRAMコマンドを生成し、DRAMコマンドをDRAM110に送信する。また、メモリコントローラ100は、送信したDRAMコマンドに基づいて、DRAM110に対してデータ転送を行う。DRAM110は、複数の領域(複数のバンク)を有し、全領域(全バンク)を一度にリフレッシュするオールバンクリフレッシュと、任意の領域(任意のバンク)をリフレッシュするパーバンクリフレッシュが可能である。DRAM110は、パーバンクリフレッシュを複数回実行して全バンクをリフレッシュする途中でオールバンクリフレッシュを実行すると、パーバンクリフレッシュではリフレッシュされなかった残りバンクの全てをリフレッシュすることができる。
図4は、第2の実施形態によるメモリコントローラ100の構成例を示す図である。第2の実施形態は、第1の実施形態によるDRAMコマンド生成部101を異なる形態にしたものであり、タイミング調整とキャリブレーションの実行周期がパーバンクリフレッシュの実行周期の整数倍でない場合にも対応する実施形態である。以下、第2の実施形態が第1の実施形態と異なる点を説明する。
本開示は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサがプログラムを読み出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
Claims (6)
- DRAMのリフレッシュ対象領域が異なる複数のリフレッシュ方式が前記DRAMの全領域をリフレッシュするリフレッシュ方式と前記DRAMの一部の領域をリフレッシュするリフレッシュ方式とを含み、前記DRAMの全領域をリフレッシュするリフレッシュ方式でリフレッシュを実行する周期より長い周期で前記DRAMの全領域にアクセスできない特定の事象が発生するメモリコントローラであって、
リフレッシュ実行期間に前記DRAMの全領域にアクセスできない特定の事象が発生するか否かに応じて、前記複数のリフレッシュ方式のうちの一つのリフレッシュ方式を選択する選択手段を有し、
前記選択手段は、
前記リフレッシュ実行期間に前記DRAMの全領域にアクセスできない特定の事象が発生する予定である場合には、前記DRAMの全領域をリフレッシュするリフレッシュ方式を選択し、
前記リフレッシュ実行期間に前記DRAMの全領域にアクセスできない特定の事象が発生しない予定である場合には、前記DRAMの一部の領域をリフレッシュするリフレッシュ方式を選択することを特徴とするメモリコントローラ。 - 前記DRAMの全領域にアクセスできない特定の事象は、前記DRAMとの通信を行うためのタイミング調整またはキャリブレーションであることを特徴とする請求項1に記載のメモリコントローラ。
- 前記DRAMの全領域にアクセスできない特定の事象は、前記DRAMとの通信を行うためのタイミング調整またはキャリブレーションであり、
前記リフレッシュ実行期間は、所定の周期で設けられ、
前記選択手段は、各リフレッシュ実行期間で、前記リフレッシュ実行期間に前記タイミング調整または前記キャリブレーションが発生する予定である場合には、前記DRAMの全領域をリフレッシュするリフレッシュ方式を選択し、前記リフレッシュ実行期間に前記タイミング調整または前記キャリブレーションが発生しない予定である場合には、前記DRAMの一部の領域をリフレッシュするリフレッシュ方式を選択することを特徴とする請求項1に記載のメモリコントローラ。 - 前記選択手段は、前記DRAMの全領域をリフレッシュするリフレッシュ方式を選択したリフレッシュ実行期間の直後の一または複数のリフレッシュ実行期間では、前記DRAMのリフレッシュを行わないように制御することを特徴とする請求項3に記載のメモリコントローラ。
- DRAMのリフレッシュ対象領域が異なる複数のリフレッシュ方式が前記DRAMの全領域をリフレッシュするリフレッシュ方式と前記DRAMの一部の領域をリフレッシュするリフレッシュ方式とを含み、前記DRAMの全領域をリフレッシュするリフレッシュ方式でリフレッシュを実行する周期より長い周期で前記DRAMの全領域にアクセスできない特定の事象が発生するメモリコントローラの制御方法であって、
リフレッシュ実行期間に前記DRAMの全領域にアクセスできない特定の事象が発生するか否かに応じて、前記複数のリフレッシュ方式のうちの一つのリフレッシュ方式を選択する選択ステップを有し、
前記選択ステップにおいて、
前記リフレッシュ実行期間に前記DRAMの全領域にアクセスできない特定の事象が発生する予定である場合には、前記DRAMの全領域をリフレッシュするリフレッシュ方式を選択し、
前記リフレッシュ実行期間に前記DRAMの全領域にアクセスできない特定の事象が発生しない予定である場合には、前記DRAMの一部の領域をリフレッシュするリフレッシュ方式を選択することを特徴とするメモリコントローラの制御方法。 - コンピュータを、請求項1~4のいずれか1項に記載されたメモリコントローラとして機能させるためのプログラム。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2021179351A JP7799438B2 (ja) | 2021-11-02 | 2021-11-02 | メモリコントローラ、メモリコントローラの制御方法およびプログラム |
| US18/051,811 US12211541B2 (en) | 2021-11-02 | 2022-11-01 | Memory controller, control method for memory controller, and storage medium |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2021179351A JP7799438B2 (ja) | 2021-11-02 | 2021-11-02 | メモリコントローラ、メモリコントローラの制御方法およびプログラム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2023068341A JP2023068341A (ja) | 2023-05-17 |
| JP7799438B2 true JP7799438B2 (ja) | 2026-01-15 |
Family
ID=86144829
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2021179351A Active JP7799438B2 (ja) | 2021-11-02 | 2021-11-02 | メモリコントローラ、メモリコントローラの制御方法およびプログラム |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US12211541B2 (ja) |
| JP (1) | JP7799438B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN121171282A (zh) * | 2025-09-24 | 2025-12-19 | 算苗科技(北京)有限公司 | 实现分布式dram刷新的方法、处理器核心和芯片 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011081893A (ja) | 2009-09-11 | 2011-04-21 | Elpida Memory Inc | 半導体装置及びこれを備えるデータ処理システム |
| JP2013242951A (ja) | 2012-05-21 | 2013-12-05 | Sk Hynix Inc | リフレッシュ方法及びそれを用いた半導体メモリ装置 |
| JP2016012362A (ja) | 2010-07-29 | 2016-01-21 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | マイクロコンピュータ及びデータ処理システム |
| US20190385670A1 (en) | 2018-06-19 | 2019-12-19 | Apple Inc. | Method and Apparatus for Optimizing Calibrations of a Memory Subsystem |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013008112A (ja) | 2011-06-22 | 2013-01-10 | Panasonic Corp | メモリコントローラおよび遅延調整方法 |
| US9355704B2 (en) * | 2012-12-28 | 2016-05-31 | Mediatek Inc. | Refresh method for switching between different refresh types based on at least one parameter of volatile memory and related memory controller |
| JP2015035229A (ja) | 2014-11-18 | 2015-02-19 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
| KR102326018B1 (ko) * | 2015-08-24 | 2021-11-12 | 삼성전자주식회사 | 메모리 시스템 |
| KR102443274B1 (ko) * | 2016-05-18 | 2022-09-16 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체장치 및 반도체시스템 |
| US10777252B2 (en) * | 2018-08-22 | 2020-09-15 | Apple Inc. | System and method for performing per-bank memory refresh |
-
2021
- 2021-11-02 JP JP2021179351A patent/JP7799438B2/ja active Active
-
2022
- 2022-11-01 US US18/051,811 patent/US12211541B2/en active Active
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011081893A (ja) | 2009-09-11 | 2011-04-21 | Elpida Memory Inc | 半導体装置及びこれを備えるデータ処理システム |
| JP2016012362A (ja) | 2010-07-29 | 2016-01-21 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | マイクロコンピュータ及びデータ処理システム |
| JP2013242951A (ja) | 2012-05-21 | 2013-12-05 | Sk Hynix Inc | リフレッシュ方法及びそれを用いた半導体メモリ装置 |
| US20190385670A1 (en) | 2018-06-19 | 2019-12-19 | Apple Inc. | Method and Apparatus for Optimizing Calibrations of a Memory Subsystem |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2023068341A (ja) | 2023-05-17 |
| US20230133458A1 (en) | 2023-05-04 |
| US12211541B2 (en) | 2025-01-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6169658B2 (ja) | 有向自動リフレッシュ同期 | |
| US8397036B2 (en) | Memory control device and semiconductor processing apparatus | |
| US7603512B2 (en) | Dynamic memory refresh controller, memory system including the same and method of controlling refresh of dynamic memory | |
| JP6055884B2 (ja) | マイクロコンピュータ及びデータ処理システム | |
| JP2023521249A (ja) | Dramのリフレッシュ管理 | |
| JP2007035151A (ja) | 半導体メモリ装置およびメモリシステムのリフレッシュ制御方法 | |
| CN112612596B (zh) | 命令调度方法、装置、设备和存储介质 | |
| US7894290B2 (en) | Method and apparatus for performing internal hidden refreshes while latching read/write commands, address and data information for later operation | |
| JP2008210088A (ja) | メモリコントローラ、半導体メモリのアクセス制御方法およびシステム | |
| JP3728468B2 (ja) | メモリ制御装置 | |
| JP7799438B2 (ja) | メモリコントローラ、メモリコントローラの制御方法およびプログラム | |
| US20050268024A1 (en) | Memory controller for use in multi-thread pipeline bus system and memory control method | |
| KR20080069298A (ko) | 반도체 메모리 장치 및 그의 동작 제어방법 | |
| JP2011034214A (ja) | メモリ制御装置 | |
| CN115221080A (zh) | 存储装置、数据处理的方法及系统 | |
| JP7373034B1 (ja) | 擬似スタティックランダムアクセスメモリ | |
| TWI862966B (zh) | 虛擬靜態隨機存取記憶體 | |
| KR102733505B1 (ko) | 의사 스태틱 랜덤 액세스 메모리 | |
| US20250190146A1 (en) | Memory controller, method of controlling memory controller and memory device | |
| US12026107B2 (en) | Mitigating interference between commands for different access requests in LPDDR4 memory system | |
| JP2026056893A (ja) | メモリコントローラ及びメモリコントローラの制御方法 | |
| CN117894353A (zh) | 虚拟静态随机存取存储器 | |
| KR20130089266A (ko) | 온더플라이 메모리 디바이스 리프레시 명령들 | |
| JPH11176155A (ja) | Dramリフレッシュ回路 | |
| KR19980054012U (ko) | 디램(dram) 엑세스(access)장치 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20241010 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20250930 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20250930 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20251121 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20251202 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20251226 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7799438 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |