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JP7811166B2 - Substrate holder and method for manufacturing substrate - Google Patents
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JP7811166B2 - Substrate holder and method for manufacturing substrate - Google Patents

Substrate holder and method for manufacturing substrate

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JP7811166B2 JP2022155258A JP2022155258A JP7811166B2 JP 7811166 B2 JP7811166 B2 JP 7811166B2 JP 2022155258 A JP2022155258 A JP 2022155258A JP 2022155258 A JP2022155258 A JP 2022155258A JP 7811166 B2 JP7811166 B2 JP 7811166B2
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Description

本発明は、基板の表面にレジスト膜等の膜を形成するために利用される基板ホルダ及びこの基板ホルダを用いて基板表面に膜を形成する基板の製造方法に関する。 The present invention relates to a substrate holder used to form a film such as a resist film on the surface of a substrate, and a method for manufacturing a substrate using this substrate holder to form a film on the surface of the substrate.

従来から、基板の表面にレジスト膜等の膜を形成する方法として、スクリーン印刷法、カーテンコーテイング法、スプレーコーティング法、ロールコーティング法等が利用されている。ロールコーティング法においては、基板と基板に形成される膜材料を表面に含むローラとを相対移動して基板表面にローラ表面を接触させ、ローラ表面の膜材料を基板表面に付着させることで基板表面に膜を形成する(例えば、特許文献1参照。)。 Conventionally, methods for forming films such as resist films on the surface of a substrate include screen printing, curtain coating, spray coating, and roll coating. In roll coating, the substrate and a roller having a surface containing the film material to be formed on the substrate are moved relative to each other to bring the roller surface into contact with the substrate surface, and the film material on the roller surface is adhered to the substrate surface, thereby forming a film on the substrate surface (see, for example, Patent Document 1).

特開2000-135460号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-135460

ロールコーティング法による基板への膜形成では、基板の表面とローラの表面とを確実に密着させるため、ローラから基板に向かって所定の圧力を印加した状態で基板とローラとを相対移動させる。しかしながら、このローラから基板への圧力が大きいと、基板にクラックや破断といった不具合を生じることがある。このクラックや破断は、特に基板とローラとの接触が開始または終了する基板の端部において生じやすい。ここで、ローラから基板への圧力を小さくすることでこのクラックや破断を防止することは可能であるが、ローラから基板への圧力が小さいと基板とローラとの密着が不十分となり、基板表面と基板に付着される膜材料との間への気泡の混入や、形成された膜の厚みが均一でない等の不具合が生じる。 When forming a film on a substrate using the roll coating method, the roller and substrate are moved relative to each other while a certain amount of pressure is applied from the roller to the substrate to ensure close contact between the surface of the substrate and the surface of the roller. However, if the pressure from the roller to the substrate is too great, defects such as cracks or breaks in the substrate can occur. These cracks and breaks are particularly likely to occur at the edges of the substrate where contact between the substrate and roller begins or ends. While it is possible to prevent these cracks and breaks by reducing the pressure from the roller to the substrate, if the pressure from the roller to the substrate is too small, the adhesion between the substrate and roller will be insufficient, resulting in defects such as the inclusion of air bubbles between the substrate surface and the film material being applied to the substrate, and uneven thickness of the formed film.

本発明は、上記課題を鑑みてなされたものであり、ローラ体を利用した基板への膜形成において、基板のクラック、破断、気泡の混入等の不具合を抑制できる基板ホルダ及び基板の製造方法を提供することを目的とする。 The present invention was made in consideration of the above-mentioned problems, and aims to provide a substrate holder and a substrate manufacturing method that can prevent defects such as cracks, breakage, and the inclusion of air bubbles in the substrate when forming a film on the substrate using a roller body.

上面、下面及び前記上面と前記下面とを接続する側面を有し、前記上面に基板を収容する収容部を備え、当該収容部に収容された基板の表面にローラ体を接触させ膜を形成するための基板ホルダであって、前記側面は、前記上面または前記下面に向かうにしたがって前記基板ホルダの内方に傾斜した傾斜面を備える基板ホルダとする。
前記収容部は底面と側面とを備える凹部形状としてもよく、前記基板ホルダは前記基板より小さいヤング率を有する材料により構成してもよい。
また、基板の製造方法において、上面、下面及び前記上面と前記下面とを接続する側面を有し、前記上面に基板を収容する収容部を備えた基板ホルダを用意する工程と、前記収容部に基板を収容する工程と、前記収容部に収容された前記基板の表面に膜を形成する工程と、を有し、前記基板ホルダの前記側面は、前記上面または前記下面に向かうにしたがって前記基板ホルダの内方に傾斜した傾斜面を備え、前記膜を形成する工程は、前記膜となる材料を含むローラ体と前記基板ホルダとを相対移動させ、前記基板と前記ローラ体とを接触させて前記基板に前記膜となる材料を付着させる工程であり、前記傾斜面は、前記基板ホルダと前記ローラ体の移動方向上に配置されている基板の製造方法とする。
前記ローラ体は前記傾斜面を経由して前記基板と接触させてもよい。
また、前記ローラ体はロール状のフィルムレジストであり、前記膜は前記フィルムレジストとしてもよい。
また、前記ローラ体の下方に配置されたローラを備え、前記膜を形成する工程は、前記ローラ体と前記ローラとの間に前記収容部に収容された前記基板ホルダを通過させることで前記基板に前記膜を形成する工程としてもよい。
さらにまた、前記ローラ体または前記ローラは、前記基板の前記下面と直交する方向に移動可能としてもよい。
さらにまた、前記基板ホルダは前記基板より小さいヤング率を有する材料により構成してもよい。
A substrate holder has an upper surface, a lower surface, and a side surface connecting the upper surface and the lower surface, and is provided with a storage section on the upper surface for storing a substrate, and is used to form a film by contacting a roller body with the surface of the substrate stored in the storage section, and the side surface has an inclined surface that slopes inward toward the upper surface or the lower surface.
The accommodation portion may be a recess having a bottom surface and a side surface, and the substrate holder may be made of a material having a Young's modulus smaller than that of the substrate.
Further, a method for manufacturing a substrate includes the steps of preparing a substrate holder having an upper surface, a lower surface, and a side surface connecting the upper surface and the lower surface, and having a storage section on the upper surface for storing a substrate, a step of storing the substrate in the storage section, and a step of forming a film on the surface of the substrate stored in the storage section, wherein the side surface of the substrate holder has an inclined surface that slopes inward toward the upper surface or the lower surface, and the step of forming the film is a step of moving a roller body containing material that will become the film and the substrate holder relative to each other, bringing the substrate and the roller body into contact with each other to adhere the material that will become the film to the substrate, and the inclined surface is arranged in the direction of movement of the substrate holder and the roller body.
The roller body may contact the substrate via the inclined surface.
The roller body may be a roll of film resist, and the film may be the film resist.
Further, the film forming step may include a step of forming the film on the substrate by passing the substrate holder housed in the housing section between the roller body and the roller, and the step of forming the film on the substrate may include a step of forming the film on the substrate by passing the substrate holder housed in the housing section between the roller body and the roller.
Furthermore, the roller body or the roller may be movable in a direction perpendicular to the lower surface of the substrate.
Furthermore, the substrate holder may be made of a material having a smaller Young's modulus than the substrate.

本発明の基板ホルダ及び基板の製造方法によれば、ローラ体を利用した基板への膜形成において生じる前述する不具合を抑制することが可能である。 The substrate holder and substrate manufacturing method of the present invention make it possible to suppress the aforementioned problems that occur when forming a film on a substrate using a roller body.

本発明の一実施例による基板ホルダを示す図である。FIG. 1 shows a substrate holder according to an embodiment of the present invention. 本発明の一実施例による基板の製造方法を示す模式図である。1A to 1C are schematic diagrams illustrating a method for manufacturing a substrate according to an embodiment of the present invention.

以下に本発明を実施するための形態を、図面を用いて説明する。図面においては各構成をわかりやすくするために実際の形状や実際の構造と各構造における縮尺や数等を異ならせる場合がある。 The following describes embodiments of the present invention using drawings. In order to make each component easier to understand, the actual shapes and structures may differ in scale, number, etc. from those shown in the drawings.

図1は本発明の一実施例による基板ホルダを示す図であり、(a)は平面図、(b)はA-A断面における正面断面図である。基板ホルダ10は平面視が矩形形状の板状部材であり、例えば、ポリオキシメチレン(POM)やポリエーテルケトン(PEEK)、ポリテロラフルオロエチレン(PTFE)、ナイロン等の樹脂材料によって構成することができ、本実施例ではナイロンである。基板ホルダ10の上面11には、底面14aと側面14bとを備え、開口が矩形形状の凹部からなる収容部14が形成されている。なお、底面14aは上面11と平行であり、側面14bは上面11と直交する面である。また、基板ホルダ10は、上面11と下面12とを接続する側面13の一部に上面11に向かうにしたがって基板ホルダ10の内方に傾斜した傾斜面15を備える。 Figure 1 shows a substrate holder according to one embodiment of the present invention, with (a) being a plan view and (b) being a front cross-sectional view taken along the line A-A. The substrate holder 10 is a plate-like member having a rectangular shape when viewed from above, and can be made of a resin material such as polyoxymethylene (POM), polyetherketone (PEEK), polytetrafluoroethylene (PTFE), or nylon; in this embodiment, nylon is used. The top surface 11 of the substrate holder 10 is provided with a storage compartment 14, which has a bottom surface 14a and a side surface 14b and is a rectangular recess. The bottom surface 14a is parallel to the top surface 11, and the side surface 14b is perpendicular to the top surface 11. The substrate holder 10 also has an inclined surface 15, which slopes inward toward the top surface 11, on part of the side surface 13 connecting the top surface 11 and bottom surface 12.

基板ホルダ10は、ローラ体を利用して基板へ膜を形成する際に利用されるものであり、収容部14は膜が形成される基板を収容する収容空間として機能する。収容部14の開口は収容される基板よりわずかに大きく、上面11から底面14aまでの長さは収容される基板の厚みよりわずかに小さく設定されている。 The substrate holder 10 is used when forming a film on a substrate using a roller body, and the storage section 14 functions as a storage space for storing the substrate on which the film is to be formed. The opening of the storage section 14 is slightly larger than the substrate to be stored, and the length from the top surface 11 to the bottom surface 14a is set to be slightly smaller than the thickness of the substrate to be stored.

傾斜面15は、基板への膜形成において基板ホルダ10を経由してローラ体を基板へ接触させる際の経路上に位置した側面13の上面11側に形成されており、傾斜面15が形成された側面13の下面12側は上面11と直交する面である。本実施例では、基板ホルダ10における対向する2つの側面13のそれぞれの全体にわたって傾斜面15を備える。基板ホルダ10は傾斜面15を備えることで、基板とローラ体との接触の開始、終了時にローラ体が基板の端部へ及ぼす応力を小さくすることができ、基板のクラックや破断の発生を抑制することができる。ここで、傾斜面15と上面11とのなす角θは大きい程、ローラ体が基板の端部へ及ぼす応力は小さくなり、好ましくは135°以上である。 The inclined surface 15 is formed on the upper surface 11 of the side surface 13 located on the path when the roller body contacts the substrate via the substrate holder 10 during film formation on the substrate, and the lower surface 12 of the side surface 13 on which the inclined surface 15 is formed is perpendicular to the upper surface 11. In this embodiment, the inclined surface 15 is provided over the entirety of each of the two opposing side surfaces 13 of the substrate holder 10. By providing the inclined surface 15 on the substrate holder 10, the stress exerted by the roller body on the edge of the substrate at the start and end of contact between the substrate and the roller body can be reduced, thereby preventing cracks and breaks in the substrate. Here, the larger the angle θ formed by the inclined surface 15 and the upper surface 11, the smaller the stress exerted by the roller body on the edge of the substrate, and it is preferably 135° or greater.

なお、本実施例では、基板ホルダ10の対向する2つの側面13のそれぞれに傾斜面15を備えた例を示したが、一つの側面13にのみ傾斜面15を備えていてもよい。また、基板ホルダ10の側面13の上面11側に傾斜面15を備えた例を示したが、下面12から上面11にわたる側面13全体を傾斜面15としてもよい。また、図1に示す本実施例では、収容部14の開口端と傾斜面15とが離間している例を示しているが、収容部14の開口端部と傾斜面15とは離間せず、収容部14の縁部から傾斜面15が形成されていてもよい。 In this embodiment, an example is shown in which an inclined surface 15 is provided on each of the two opposing side surfaces 13 of the substrate holder 10, but an inclined surface 15 may be provided on only one side surface 13. Also, an example is shown in which an inclined surface 15 is provided on the upper surface 11 of the side surface 13 of the substrate holder 10, but the entire side surface 13 from the lower surface 12 to the upper surface 11 may be made into an inclined surface 15. Also, in this embodiment shown in Figure 1, an example is shown in which the opening end of the storage section 14 and the inclined surface 15 are spaced apart, but the opening end of the storage section 14 and the inclined surface 15 may not be spaced apart, and the inclined surface 15 may be formed from the edge of the storage section 14.

次に、本発明の一実施例による基板の製造方法を説明する。図2は本発明の基板の製造方法を示す模式図である。本実施例では、前述した基板ホルダ10を用い、基板にレジスト膜を形成する方法を例として本発明の基板の製造方法を説明する。 Next, a method for manufacturing a substrate according to one embodiment of the present invention will be described. Figure 2 is a schematic diagram showing a method for manufacturing a substrate according to the present invention. In this embodiment, the method for manufacturing a substrate according to the present invention will be described using the substrate holder 10 described above as an example of a method for forming a resist film on a substrate.

[基板収容工程:図2(a)]
まず、基板20と基板ホルダ10とを準備する。基板20は低温同時焼成セラミックス基板(LTCC基板)であり、一方の表面には銅箔(不図示)が形成されている。次に基板ホルダ10の収容部14に基板20を収容する。基板ホルダ10の収容部14は、基板20の外形よりわずかに大きく形成されており、基板20と収容部14の側面14bとの間には隙間21が形成される。また、基板ホルダ10の上面11から底面14aまでの長さは、収容部14に収容された基板20の厚みよりわずかに小さく設定されており、収容部14に収容された基板20の表面は基板ホルダ10の上面11からわずかに突出している。なお、基板ホルダ10の上面11から底面14aまでの長さを収容部14に収容される基板20の厚みと同じとし、収容部14に基板20を収容した際に、基板20と基板ホルダ10の上面11とが同一平面上となるようにしてもよい。
[Substrate accommodation step: FIG. 2(a)]
First, the substrate 20 and the substrate holder 10 are prepared. The substrate 20 is a low-temperature co-fired ceramics (LTCC) substrate, and copper foil (not shown) is formed on one surface. Next, the substrate 20 is accommodated in the accommodation portion 14 of the substrate holder 10. The accommodation portion 14 of the substrate holder 10 is formed slightly larger than the outer shape of the substrate 20, and a gap 21 is formed between the substrate 20 and the side surface 14b of the accommodation portion 14. Furthermore, the length from the top surface 11 to the bottom surface 14a of the substrate holder 10 is set to be slightly smaller than the thickness of the substrate 20 accommodated in the accommodation portion 14, and the surface of the substrate 20 accommodated in the accommodation portion 14 protrudes slightly from the top surface 11 of the substrate holder 10. In addition, the length from the top surface 11 to the bottom surface 14a of the substrate holder 10 may be the same as the thickness of the substrate 20 accommodated in the accommodation section 14, so that when the substrate 20 is accommodated in the accommodation section 14, the substrate 20 and the top surface 11 of the substrate holder 10 are on the same plane.

[膜形成工程:図2(b-1)、(b-2)]
次に、基板ホルダ10の収容部14に収容された基板20の表面にフィルムレジスト31の膜を形成する。本実施例において、基板20表面へのフィルムレジスト31の形成は、ロール状のフィルムレジスト31からなるローラ体を利用するロールコーティング法によって行う。ロール状のフィルムレジスト31は、シート状のフィルムレジスト31をロール状に巻いたものである。フィルムレジスト31は、感光性フィルム層とこの感光性フィルム層に積層された粘着剤層とからなり、ロール状のフィルムレジスト31の表面は粘着剤層が露出している。
[Membrane formation process: Figure 2 (b-1), (b-2)]
Next, a film of film resist 31 is formed on the surface of the substrate 20 accommodated in the accommodation portion 14 of the substrate holder 10. In this embodiment, the film resist 31 is formed on the surface of the substrate 20 by a roll coating method using a roller body consisting of a roll-shaped film resist 31. The roll-shaped film resist 31 is a sheet-shaped film resist 31 wound into a roll. The film resist 31 is composed of a photosensitive film layer and an adhesive layer laminated on this photosensitive film layer, and the adhesive layer is exposed on the surface of the roll-shaped film resist 31.

図2の(b-1)は膜形成工程において基板20へフィルムレジスト31を形成する前の状態を示し、(b-2)は基板20へフィルムレジスト31を形成した後の状態を示す。基板20の表面へのフィルムレジスト31の形成は、基板ホルダ10の上面11側に配置されたロール状のフィルムレジスト31と、基板ホルダ10の下面12側に配置されたローラ32との間に基板20を収容した基板ホルダ10を通過させることで行うことができる。ロール状のフィルムレジスト31とローラ32とはそれぞれの軸が平行となるように配置され、基板ホルダ10が通過していない状態では、フィルムレジスト31の外周とローラ32の外周とは基板ホルダ10の厚みより小さな隙間をもって対峙するようフィルムレジスト31とローラ32とは配置されている。ロール状のフィルムレジスト31は軸を中心に回転可能、かつ基板ホルダ10の下面12側を基準としたとき下面12と直交する上下方向に移動可能に保持され、フィルムレジスト31を回転させる回転機構(不図示)と接続されるとともに、フィルムレジスト31を下方向に向かって付勢する付勢機構(不図示)と接続されている。また、ローラ32は、フィルムレジスト31の下方に配置され、ローラ32の軸を中心として回転可能、かつ上下方向に移動しないよう固定、保持されている。 (b-1) in Figure 2 shows the state before film resist 31 is formed on substrate 20 in the film formation process, and (b-2) shows the state after film resist 31 has been formed on substrate 20. Film resist 31 can be formed on the surface of substrate 20 by passing substrate holder 10, which contains substrate 20, between roll-shaped film resist 31 arranged on the upper surface 11 of substrate holder 10 and roller 32 arranged on the lower surface 12 of substrate holder 10. Roll-shaped film resist 31 and roller 32 are arranged so that their axes are parallel, and when substrate holder 10 is not passing, film resist 31 and roller 32 are arranged so that the outer periphery of film resist 31 and the outer periphery of roller 32 face each other with a gap smaller than the thickness of substrate holder 10. The roll-shaped film resist 31 is held so that it can rotate around its axis and move vertically perpendicular to the lower surface 12 of the substrate holder 10 when the lower surface 12 is used as the reference surface. It is connected to a rotation mechanism (not shown) that rotates the film resist 31 and to a biasing mechanism (not shown) that biases the film resist 31 downward. In addition, the roller 32 is positioned below the film resist 31 and is fixed and held so that it can rotate around its axis and cannot move vertically.

基板20へのフィルムレジスト31の形成においては、まず、基板20を収容部14に収容した基板ホルダ10をフィルムレジスト31とローラ32との間に、基板ホルダ10の傾斜面15が形成された側面13側より進入させる。このときフィルムレジスト31は、フィルムレジスト31と接続された回転機構によってフィルムレジスト31のローラ32と対峙する面が基板20の進入方向に回転しており、基板ホルダ10はフィルムレジスト31との摩擦によって基板ホルダ10の進入方向へ移動する。また、フィルムレジスト31は上下方向に移動可能に保持されているため、基板ホルダ10の移動に伴い、フィルムレジスト31は基板ホルダ10の傾斜面15、上面11及び基板20の表面に沿って上方向に移動する。 To form the film resist 31 on the substrate 20, first, the substrate holder 10, with the substrate 20 accommodated in the accommodation section 14, is inserted between the film resist 31 and the roller 32 from the side 13 on which the inclined surface 15 of the substrate holder 10 is formed. At this time, the surface of the film resist 31 facing the roller 32 is rotated in the direction of the substrate 20 by a rotation mechanism connected to the film resist 31, and the substrate holder 10 moves in the direction of the substrate holder 10 due to friction with the film resist 31. Furthermore, because the film resist 31 is held so that it can move vertically, as the substrate holder 10 moves, the film resist 31 moves upward along the inclined surface 15, upper surface 11, and surface of the substrate 20 of the substrate holder 10.

そして、基板ホルダ10の移動に伴い、フィルムレジスト31と接触した基板ホルダ10及び基板20の表面にフィルムレジスト31が付着する。なお、基板ホルダ10及び基板20の表面に付着したフィルムレジスト31は、基板ホルダ10の移動に伴ってロール状に巻かれた状態から引き出されていく。この工程において、基板ホルダ10の収容部14に収容された基板20の表面を基板ホルダ10の上面11より僅かに突出させる、または基板20の表面と基板ホルダ10の上面11とを同一平面上となるよう基板ホルダ10の上面11から収容部14の底面14aまでの長さを設定しておく。このような構成とすることで、基板20を基板ホルダ10に収容せずにフィルムレジスト31とローラ32との間を通過させた場合と比較し、基板20とフィルムレジスト31及びローラ32との接触の開始、終了時にフィルムレジスト31が基板20の端部へ及ぼす応力を小さくすることができ、基板20のクラックや破断の発生を抑制することができる。 As the substrate holder 10 moves, the film resist 31 adheres to the surfaces of the substrate holder 10 and the substrate 20 that come into contact with the film resist 31. The film resist 31 adhered to the surfaces of the substrate holder 10 and the substrate 20 is unwound from its rolled state as the substrate holder 10 moves. In this process, the surface of the substrate 20 accommodated in the accommodation section 14 of the substrate holder 10 is set to slightly protrude from the top surface 11 of the substrate holder 10, or the length from the top surface 11 of the substrate holder 10 to the bottom surface 14a of the accommodation section 14 is set so that the surface of the substrate 20 and the top surface 11 of the substrate holder 10 are flush with each other. By using this configuration, the stress that the film resist 31 exerts on the edge of the substrate 20 at the start and end of contact between the substrate 20, film resist 31, and roller 32 can be reduced compared to when the substrate 20 is passed between the film resist 31 and roller 32 without being housed in the substrate holder 10, thereby suppressing the occurrence of cracks or breaks in the substrate 20.

また、基板ホルダ10に傾斜面15を備えた構成とすることで、フィルムレジスト31及びローラ32との接触の開始、終了時にフィルムレジスト31が基板ホルダ10の端部へ及ぼす応力を小さくすることができ、基板ホルダ10のクラックや破断や、基板ホルダ10とフィルムレジスト31やローラ32との接触時に生じる衝撃に起因した基板ホルダ10や基板20の位置ずれを抑制することが可能となる。 Furthermore, by configuring the substrate holder 10 with an inclined surface 15, the stress that the film resist 31 exerts on the edge of the substrate holder 10 when contact with the film resist 31 and roller 32 begins and ends can be reduced, making it possible to prevent cracks or breaks in the substrate holder 10, and to prevent misalignment of the substrate holder 10 or substrate 20 due to impacts that occur when the substrate holder 10 comes into contact with the film resist 31 or roller 32.

さらに、本実施例では、基板20をLTCC基板、基板ホルダ10をナイロンにより構成しており、基板20のヤング率は70~150GPa、基板ホルダ10のヤング率は約1GPaである。本実施例では、基板ホルダ10のヤング率を基板20のヤング率より小さくすることで、基板20の表面へのフィルムレジスト31の形成時においてフィルムレジスト31から基板20へ応力が作用した際に、基板20より先に基板20を支持する基板ホルダ10に歪みが生じることとなり、基板20に及ぼされる衝撃が緩和される。したがって基板20のクラックや破断の発生を抑制することができる。また、同様に、基板ホルダ10のヤング率が基板20のヤング率より小さいことで、フィルムレジスト31を基板20の表面に形成する際における基板20の基板ホルダ10の収容部14内でのがたつきを抑制することができ、基板20の表面へフィルムレジスト31を気泡の混入等なく適切に形成することができる。 Furthermore, in this embodiment, the substrate 20 is an LTCC substrate, the substrate holder 10 is made of nylon, and the Young's modulus of the substrate 20 is 70 to 150 GPa, and the Young's modulus of the substrate holder 10 is approximately 1 GPa. In this embodiment, by making the Young's modulus of the substrate holder 10 smaller than that of the substrate 20, when stress acts from the film resist 31 to the substrate 20 during the formation of the film resist 31 on the surface of the substrate 20, distortion occurs in the substrate holder 10 supporting the substrate 20 before the substrate 20, thereby mitigating the impact on the substrate 20. This prevents cracks and breaks in the substrate 20. Similarly, by making the Young's modulus of the substrate holder 10 smaller than that of the substrate 20, rattle of the substrate 20 within the accommodation portion 14 of the substrate holder 10 when the film resist 31 is formed on the surface of the substrate 20 is prevented, and the film resist 31 can be properly formed on the surface of the substrate 20 without the inclusion of air bubbles.

さらに、本実施例では、フィルムレジスト31を下方(ローラ32側)へ付勢する付勢機構と接続しているため、フィルムレジスト31を基板20へ付着させる際に基板20に所定の圧力を付与することができる。この所定の圧力を適宜調整することで、基板20のクラックや破断を防止し、フィルムレジスト31と基板20との間への気泡の混入や、基板20の表面に付着するフィルムレジスト31の厚みを均一とすることができる。なお、付勢機構としては、例えばフィルムレジスト31を固定する台座(不図示)とフィルムレジスト31の軸との間に自然長より伸長させた状態のばねを配置し、そのばねの復元力によってフィルムレジスト31を下方へ付勢する機構とすることができる。 Furthermore, in this embodiment, since the film resist 31 is connected to a biasing mechanism that biases the film resist 31 downward (toward the roller 32), a predetermined pressure can be applied to the substrate 20 when the film resist 31 is adhered to the substrate 20. By appropriately adjusting this predetermined pressure, it is possible to prevent cracks or breaks in the substrate 20, prevent air bubbles from getting between the film resist 31 and the substrate 20, and ensure that the thickness of the film resist 31 adhered to the surface of the substrate 20 is uniform. Note that the biasing mechanism can be, for example, a mechanism in which a spring stretched beyond its natural length is placed between the base (not shown) that secures the film resist 31 and the axis of the film resist 31, and the restoring force of the spring biases the film resist 31 downward.

[基板取り出し工程]
次に、基板ホルダ10より基板20を取り出す。膜形成工程でフィルムレジスト31が付着した基板ホルダ10及び基板20では、収容部14の側面14bと基板20との間に隙間21が形成されており、この隙間21にフィルムレジスト31が架橋している。この架橋したフィルムレジスト31を刃物などで基板20の外形に沿って切ることにより基板ホルダ10から基板20を取り出すことができる。
[Substrate removal process]
Next, the substrate 20 is removed from the substrate holder 10. In the substrate holder 10 and substrate 20 to which the film resist 31 has been attached in the film formation process, a gap 21 is formed between the side surface 14b of the accommodation section 14 and the substrate 20, and the film resist 31 is bridged across this gap 21. The substrate 20 can be removed from the substrate holder 10 by cutting this bridged film resist 31 along the outline of the substrate 20 with a blade or the like.

以上の工程によりフィルムレジスト31が表面に形成された基板20は、公知技術のフォトリソグラフィー技術を利用して、フィルムレジスト31をパターニングし、基板20の表面に形成された銅箔上に金属膜を形成したり、フォトレジスト31をマスクとして銅箔をエッチングしたりすることで、様々な要求に応じた配線基板を製造することができる。 The substrate 20, on whose surface the film resist 31 has been formed by the above process, can be patterned using well-known photolithography techniques to form a metal film on the copper foil formed on the surface of the substrate 20, or to etch the copper foil using the photoresist 31 as a mask, thereby manufacturing wiring boards that meet a variety of requirements.

以上、本発明の基板ホルダ及び基板の製造方法について、実施例に基づき説明してきたが、本発明の範囲は前述の実施例に限定されるものではなく本発明の技術的思想の範囲内で任意に変更可能である。例えば、実施例においては基板ホルダ10の傾斜面15を基板ホルダ10の上面11側に形成したが、基板ホルダ10の側面13の下面12側に向かうにしたがって基板ホルダ10の内方に傾斜した傾斜面15を備えた構成としてもよく、上面11側と下面12側の両方に傾斜面15を設けてもよい。下面12側に傾斜面15を設ける際には、下面12側のローラ32を上下方向に移動可能とするとよい。また、傾斜面15を基板ホルダ10における対向する2つの側面13のそれぞれの全体にわたって形成したが、傾斜面15は基板ホルダ10の少なくとも一部に形成されればよく、例えば、基板ホルダ10の側面13を形成する一辺に部分的に形成してもよい。 The substrate holder and substrate manufacturing method of the present invention have been described above based on the examples. However, the scope of the present invention is not limited to the above-described examples, and any modifications can be made within the scope of the technical concept of the present invention. For example, in the examples, the inclined surface 15 of the substrate holder 10 is formed on the upper surface 11 of the substrate holder 10. However, the substrate holder 10 may be configured with an inclined surface 15 that slopes inward toward the lower surface 12 of the side surface 13 of the substrate holder 10, or the inclined surfaces 15 may be provided on both the upper surface 11 and the lower surface 12. When providing the inclined surface 15 on the lower surface 12, it is preferable that the roller 32 on the lower surface 12 side be movable in the vertical direction. Furthermore, while the inclined surface 15 is formed over the entirety of each of the two opposing side surfaces 13 of the substrate holder 10, the inclined surface 15 may be formed on at least a portion of the substrate holder 10. For example, the inclined surface 15 may be formed partially on one of the sides that form the side surface 13 of the substrate holder 10.

また、実施例においては基板20に形成する膜をフィルムレジスト31の膜としたが、例えばフィルムレジスト31の代わりに液状のレジストを基板20の表面に形成してもよい。液状のレジストを基板20の表面に形成する場合は、ロール状のフィルムレジスト31の代わりに円柱状のローラ体を準備し、その円柱状のローラ体の側面に液状のレジストを供給し、液状のレジストが供給されたローラ体の側面と基板ホルダ10及び基板20とを接触させることでそれぞれの表面に液状のレジストを塗布し、塗布後にレジストを乾燥することで膜を形成してもよい。また、膜はレジストに限定されず、様々なコーティングフィルムや塗液とすることができる。さらにまた、実施例ではフィルムレジスト31とローラ32の二つのローラ体によって膜を形成する工程を説明したが、ローラ体が一つでもよく、また、二つ以上のローラ体を組み合わせてもよい。 In addition, in the examples, the film formed on the substrate 20 is a film of film resist 31. However, for example, liquid resist may be formed on the surface of the substrate 20 instead of film resist 31. When forming liquid resist on the surface of the substrate 20, a cylindrical roller may be prepared instead of a roll of film resist 31, liquid resist may be supplied to the side of the cylindrical roller, and the side of the roller to which the liquid resist has been supplied may be brought into contact with the substrate holder 10 and the substrate 20 to apply the liquid resist to each surface, and the resist may be dried after application to form a film. Furthermore, the film is not limited to resist, and various coating films and coating liquids can be used. Furthermore, in the examples, the process of forming a film using two rollers, film resist 31 and roller 32, has been described. However, a single roller may be used, or two or more rollers may be combined.

10 基板ホルダ
11 上面
12 下面
13 側面
14 収容部
14a 底面
14b 側面
15 傾斜面
20 基板
21 隙間
31 フィルムレジスト
32 ローラ
REFERENCE SIGNS LIST 10 substrate holder 11 upper surface 12 lower surface 13 side surface 14 storage section 14a bottom surface 14b side surface 15 inclined surface 20 substrate 21 gap 31 film resist 32 roller

Claims (9)

上面、下面及び前記上面と前記下面とを接続する側面を有し、前記上面に基板を収容する収容部を備え、当該収容部に収容された基板の表面にローラ体を接触させ膜を形成するための基板ホルダであって、
前記側面は、前記上面または前記下面に向かうにしたがって前記基板ホルダの内方に傾斜した傾斜面を備えることを特徴とする基板ホルダ。
A substrate holder having an upper surface, a lower surface, and a side surface connecting the upper surface and the lower surface, and comprising a storage section on the upper surface for storing a substrate, and for forming a film by bringing a roller body into contact with a surface of the substrate stored in the storage section,
The side surface of the substrate holder has an inclined surface that slopes inward toward the upper surface or the lower surface.
前記収容部は底面と側面とを備える凹部形状であることを特徴とする請求項1に記載の基板ホルダ。 The substrate holder described in claim 1, characterized in that the storage portion is recessed and has a bottom surface and side surfaces. 前記基板ホルダは前記基板より小さいヤング率を有する材料により構成されていることを特徴とする請求項1に記載の基板ホルダ。 The substrate holder of claim 1, wherein the substrate holder is made of a material having a Young's modulus smaller than that of the substrate. 基板の製造方法において、
上面、下面及び前記上面と前記下面とを接続する側面を有し、前記上面に基板を収容する収容部を備えた基板ホルダを用意する工程と、
前記収容部に基板を収容する工程と、
前記収容部に収容された前記基板の表面に膜を形成する工程と、を有し、
前記基板ホルダの前記側面は、前記上面または前記下面に向かうにしたがって前記基板ホルダの内方に傾斜した傾斜面を備え、
前記膜を形成する工程は、前記膜となる材料を含むローラ体と前記基板ホルダとを相対移動させ、前記基板と前記ローラ体とを接触させて前記基板に前記膜となる材料を付着させる工程であり、
前記傾斜面は、前記基板ホルダと前記ローラ体の移動方向上に配置されている
ことを特徴とする基板の製造方法。
In a method for manufacturing a substrate,
preparing a substrate holder having an upper surface, a lower surface, and a side surface connecting the upper surface and the lower surface, the substrate holder having a housing portion on the upper surface for housing a substrate;
a step of accommodating a substrate in the accommodation section;
forming a film on the surface of the substrate accommodated in the accommodation unit,
the side surface of the substrate holder includes an inclined surface that is inclined inward of the substrate holder toward the upper surface or the lower surface,
the step of forming the film is a step of moving a roller body containing the material to be the film relative to the substrate holder, and bringing the substrate into contact with the roller body to adhere the material to be the film to the substrate;
A method for manufacturing a substrate, wherein the inclined surface is arranged in the direction of movement of the substrate holder and the roller body.
前記ローラ体は前記傾斜面を経由して前記基板と接触することを特徴とする請求項4に記載の基板の製造方法。 The method for manufacturing a substrate described in claim 4, characterized in that the roller body contacts the substrate via the inclined surface. 前記ローラ体はロール状のフィルムレジストであり、前記膜は前記フィルムレジストであることを特徴とする請求項4に記載の基板の製造方法。 The method for manufacturing a substrate described in claim 4, characterized in that the roller body is a roll-shaped film resist, and the film is the film resist. 前記ローラ体の下方に配置されたローラを備え、前記膜を形成する工程は、前記ローラ体と前記ローラとの間に前記収容部に収容された前記基板ホルダを通過させることで前記基板に前記膜を形成する工程であることを特徴とする請求項4に記載の基板の製造方法。 The method for manufacturing a substrate according to claim 4, characterized in that a roller is disposed below the roller body, and the film forming process is a process in which the film is formed on the substrate by passing the substrate holder housed in the housing between the roller body and the roller. 前記ローラ体または前記ローラは、前記基板の前記下面と直交する方向に移動可能である、ことを特徴とする請求項7に記載の基板の製造方法。 The method for manufacturing a substrate according to claim 7, wherein the roller body or the roller is movable in a direction perpendicular to the lower surface of the substrate. 前記基板ホルダは前記基板より小さいヤング率を有する材料により構成されていることを特徴とする請求項4に記載の基板の製造方法。

5. The method for manufacturing a substrate according to claim 4, wherein the substrate holder is made of a material having a Young's modulus smaller than that of the substrate.

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