JP7818754B2 - Blade breakage detection device - Google Patents
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Description
本発明は、光をブレードに照射してブレードの破損を検出するブレード破損検出装置に関する。 The present invention relates to a blade breakage detection device that detects blade breakage by irradiating light onto the blade.
複数のデバイスが表面に形成されたウェハを個々のチップに分割するダイシング装置は、スピンドルによって高速回転されるブレードと、ウェハを吸着保持するテーブルとを備えている。半導体製造のプロセスのうちのダイシング加工プロセスでは、ダイシング装置のブレードを高速回転させて、テーブルに吸着保持されたウェハに対し、溝入れ加工又は切断加工が行われる。 Dicing machines, which divide wafers with multiple devices formed on their surface into individual chips, are equipped with a blade that is rotated at high speed by a spindle and a table that holds the wafer by suction. During the dicing process in semiconductor manufacturing, the blade of the dicing machine rotates at high speed to groove or cut the wafer held by suction on the table.
また、ダイシング加工プロセスの中で、ウェハを薄く研削するグラインダ工程を設ける場合がある。グラインダ工程においてウェハを薄く研削すると、ウェハの外周部がナイフエッジとなることがあり、このナイフエッジは加工不良を引き起こす原因となる。したがって、ナイフエッジの発生を防止するために、ブレードによりウェハの外周部に段付き加工を行う、エッジトリミングといわれるプロセスを設ける場合がある。 Furthermore, the dicing process may include a grinding process in which the wafer is ground thinly. Grinding the wafer thinly in the grinding process can create knife edges on the wafer's periphery, which can lead to processing defects. Therefore, to prevent knife edges from forming, a process called edge trimming is sometimes implemented, in which a blade is used to create a stepped edge on the wafer's periphery.
ここで、エッジトリミングを行う場合には、エッジ除去量によっては、通常よりも厚さの厚いブレードが使用されることがある。またダイシング加工プロセスで通常行われるように、ブレードを回転させてウェハの表面を加工する場合においても、ウェハをチップ毎に分断する目的ではなく、溝そのものの形状を形成することを目的として、厚さの厚いブレードを使用することがある。通常の使用されるブレードの厚みは数μmであるが、上述した厚いブレードの厚みは1mm~5mmである。 When performing edge trimming, a thicker blade than usual may be used depending on the amount of edge removal. Even when processing the wafer surface with a rotating blade, as is commonly done in dicing processes, a thick blade may be used not for the purpose of dividing the wafer into chips, but for the purpose of forming the shape of the groove itself. While the thickness of a blade normally used is several microns, the thickness of the thick blade mentioned above is between 1 mm and 5 mm.
ここで、ダイシング装置のブレードの破損を検出する為の様々な技術が提案されている。例えば、特許文献1では、発光部から発光された光を受光部で受光し、その受光した光の量に応じて、ブレードの破損を検出するブレード破損検出装置が記載されている。 A variety of technologies have been proposed for detecting blade damage in dicing machines. For example, Patent Document 1 describes a blade damage detection device that receives light emitted from a light-emitting element with a light-receiving element and detects blade damage based on the amount of light received.
特許文献1に記載のブレード破損検出装置では、ブレードの回転軸に対して平行に、発光部から光を出射させ、受光部でその光を受光する構成が採用されている。しかしながら、このような構成では、例えば厚いブレードの外周部の片面のみに欠けが発生した場合には、その欠けを検出できない場合がある。 The blade breakage detection device described in Patent Document 1 employs a configuration in which light is emitted from a light-emitting element parallel to the blade's rotation axis and received by a light-receiving element. However, with this configuration, for example, if a chip occurs on only one side of the outer periphery of a thick blade, the chip may not be detected.
また従来では、ダイシング加工を行った製品に異常が発生して初めて、厚いブレードに表面又は裏面の外周部のみの欠けの検査が行われていた。この検査は、作業員が顕微鏡などで目視によりブレードの状態を確認して欠けを検出する。このように、作業員が目視によりブレードの破損を検出する場合には、一旦ブレードをダイシング装置から外す必要があり、その間はダイシング装置を作動させることができず生産性が低下する。また、ダイシング加工を行った製品に異常が発生して初めて、作業員はブレードの確認を行うため、不良品を多量に生産してしまう恐れがある。 In addition, in the past, thick blades were inspected for chips only on the outer periphery of the front or back surface only after an abnormality occurred in a product that had undergone dicing processing. In this inspection, workers visually check the condition of the blade using a microscope or other device to detect chips. In this way, when a worker visually detects blade damage, the blade must be temporarily removed from the dicing device, during which time the dicing device cannot be operated, reducing productivity. Furthermore, because workers only check the blade once an abnormality occurs in a product that has undergone dicing processing, there is a risk of producing a large number of defective products.
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、その目的は、ブレードの外周部の片面のみに生じた欠けを検出することができる破損検出装置を提供することである。 The present invention was made in light of these circumstances, and its purpose is to provide a damage detection device that can detect chips that occur on only one side of the outer periphery of a blade.
上記目的を達成するための本発明の一の態様であるブレード破損検出装置は、回転可能なブレードの破損を検出するためのブレード破損検出装置であって、ブレードの外周部に向けてブレードの回転軸に対して斜めに光を照射する光照射手段と、光照射手段から照射されてブレードの外周部を介した光を受光する光受光手段と、光受光手段の受光結果に基づいて、ブレードの破損を検出する検出手段と、を備える。 To achieve the above objective, one aspect of the present invention is a blade breakage detection device for detecting breakage in a rotatable blade, and includes a light irradiation means that irradiates light obliquely with respect to the rotation axis of the blade toward the outer periphery of the blade, a light receiving means that receives light irradiated from the light irradiation means that passes through the outer periphery of the blade, and a detection means that detects blade breakage based on the light reception results of the light receiving means.
本態様によれば、ブレードの外周部に向けてブレードの回転軸に対して斜めに光を照射する。これにより、本態様は、ブレードの外周部の片面のみに生じた欠けを検出することができる。 In this embodiment, light is irradiated toward the outer periphery of the blade at an angle to the blade's rotation axis. This makes it possible to detect chips that occur on only one side of the outer periphery of the blade.
好ましくは、光照射手段は、ブレードの外周部を挟んで一方端から他方端に至る光軸を有する光を発光する発光素子を有する。 Preferably, the light irradiating means has a light emitting element that emits light having an optical axis extending from one end to the other end of the outer periphery of the blade.
好ましくは、光軸のブレードの回転軸に対する傾き角度は30度から60度の範囲内である。 Preferably, the angle of inclination of the optical axis relative to the blade rotation axis is within the range of 30 to 60 degrees.
本発明の他の態様であるブレード破損検出装置は、回転可能なブレードの破損を検出するためのブレード破損検出装置であって、ブレードの回転軸に平行な光軸を有する第1レンズを通過した光をブレードの外周部に向けて照射する光照射手段と、第1レンズとブレードの外周部を挟んで対向し、光軸と同一の光軸を有する第2レンズを通過した光を受光する光受光手段と、光受光手段の受光結果に基づいて、ブレードの破損を検出する検出手段と、を備える。 Another aspect of the present invention is a blade breakage detection device for detecting breakage in a rotatable blade, and includes a light irradiation means that irradiates light that has passed through a first lens having an optical axis parallel to the rotation axis of the blade toward the outer periphery of the blade, a light receiving means that faces the first lens across the outer periphery of the blade and receives light that has passed through a second lens having the same optical axis as the first lens, and a detection means that detects breakage of the blade based on the light reception results of the light receiving means.
本態様によれば、第1レンズを通過した光をブレードの外周部に向けて照射し、第2レンズを通過した光を受光する。これにより、本態様は、ブレードの外周部の片面のみに生じた欠けを検出することができる。 In this embodiment, light that passes through the first lens is directed toward the outer periphery of the blade, and light that passes through the second lens is received. This makes it possible to detect chips that occur on only one side of the outer periphery of the blade.
好ましくは、第1レンズ及び第2レンズの開口数NAは0.4以上である。 Preferably, the numerical aperture NA of the first lens and the second lens is 0.4 or greater.
好ましくは、第1レンズ及び第2レの焦点位置は、ブレードの幅方向の中心部に位置する。 Preferably, the focal positions of the first and second lenses are located at the center of the blade's width.
本発明によれば、ブレードの外周部の片面のみに生じた欠けを検出することができる。 This invention makes it possible to detect chips that occur on only one side of the blade's outer periphery.
以下、添付図面にしたがって本発明に係るブレード破損検出装置の好ましい実施の形態について説明する。 A preferred embodiment of the blade breakage detection device according to the present invention will now be described with reference to the accompanying drawings.
図1は、本発明のブレード破損検出装置10が搭載されたダイシング装置の外観を示す斜視図である。 Figure 1 is a perspective view showing the exterior of a dicing machine equipped with the blade breakage detection device 10 of the present invention.
ダイシング装置100は、互いに対向して配置された一対のスピンドル106、106と、ワークWを吸着保持するワークテーブル108と、を有する加工部110を備える。また、ダイシング装置100は、加工済みのワークWをスピン洗浄する洗浄部112と、複数枚のワークWを収納したカセットを載置するロードポート114と、ワークWを搬送する搬送装置116と、各部の動作を統括制御する制御部118と、を備えている。 The dicing device 100 includes a processing unit 110 having a pair of spindles 106, 106 arranged opposite each other and a work table 108 that holds the workpiece W by suction. The dicing device 100 also includes a cleaning unit 112 that spin-cleans the processed workpiece W, a load port 114 on which a cassette containing multiple workpieces W is placed, a transport device 116 that transports the workpieces W, and a control unit 118 that controls the overall operation of each unit.
上記のスピンドル106は、例えば、高周波モータ内蔵型のスピンドルであり、スピンドル106の先端には、ワークWに対して切削加工を行うブレード102が取り付けられている。ブレード102は、スピンドル106によって、例えば8000rpm~60000rpmで高速回転される。 The spindle 106 is, for example, a spindle with a built-in high-frequency motor, and a blade 102 that performs cutting on the workpiece W is attached to the tip of the spindle 106. The blade 102 is rotated by the spindle 106 at high speeds of, for example, 8,000 rpm to 60,000 rpm.
ブレード102は、円盤状に構成された切削刃である。ブレード102としては、ダイヤモンド砥粒やCBN(CubicBoronNitride)砥粒をニッケルで電着した電着ブレード、又は樹脂で結合したレジンブレード等が用いられる。また、ブレード102の厚みは厚さ1mm~5mmの厚いブレードが使用される。またブレード102の直径は、例えば50mmである。 Blade 102 is a cutting blade configured in a disk shape. Blade 102 can be an electroplated blade in which diamond abrasive grains or CBN (Cubic Boron Nitride) abrasive grains are electroplated with nickel, or a resin blade in which the grains are bonded with resin. Furthermore, blade 102 is typically a thick blade with a thickness of 1 mm to 5 mm. The diameter of blade 102 is, for example, 50 mm.
図2は、加工部110の構成を示した斜視図である。 Figure 2 is a perspective view showing the configuration of the processing unit 110.
図2に示す加工部110は、Xテーブル126を有している。このXテーブル126は、Xベース120に設けられたXガイド122にガイドされ、リニアモータ124によって図2のX-Xで示すX軸方向に駆動される。このXテーブル126には、Z軸を中心に回転する回転テーブル128が搭載され、この回転テーブル128にワークテーブル108が設けられている。 The processing unit 110 shown in Figure 2 has an X table 126. This X table 126 is guided by an X guide 122 provided on an X base 120, and is driven by a linear motor 124 in the X-axis direction indicated by X-X in Figure 2. This X table 126 is equipped with a rotary table 128 that rotates around the Z axis, and the work table 108 is provided on this rotary table 128.
また、加工部110は、Yベース130を有している。このYベース130は、リニアモータ124を跨ぐように設けられている。このYベース130の側面には、Yガイド132にガイドされ、図示しない駆動装置によって図2のY-Yで示すY軸方向に駆動されるYテーブル134が設けられている。各Yテーブル134には、図示しない駆動手段によってZ軸方向に駆動されるZテーブル136が設けられている。また、Zテーブル136には、先端にブレード102が取り付けられた上記のスピンドル106が固定されている。このような加工部110の構造により、ブレード102はY軸方向にインデックス送りされるとともにZ軸方向に切込み送りされ、ワークテーブル108はX軸方向に切削送りされる。なお、X、Y、Z軸の各軸は、互いに直交する軸であり、X、Y軸は水平方向に向いた軸であり、Z軸は鉛直(上下)方向に向いた軸である。 The processing unit 110 also has a Y base 130. This Y base 130 is installed so as to straddle the linear motor 124. A Y table 134 is installed on the side of this Y base 130, guided by a Y guide 132 and driven in the Y-axis direction indicated by Y-Y in FIG. 2 by a drive unit (not shown). Each Y table 134 is equipped with a Z table 136 that is driven in the Z-axis direction by a drive unit (not shown). The spindle 106, with the blade 102 attached to its tip, is also fixed to the Z table 136. With this structure of the processing unit 110, the blade 102 is indexed in the Y-axis direction and cut in the Z-axis direction, while the work table 108 is cut in the X-axis direction. The X, Y, and Z axes are mutually perpendicular, with the X and Y axes oriented horizontally and the Z axis oriented vertically (up and down).
図3は、スピンドル106の先端部構造を示した斜視図である。 Figure 3 is an oblique view showing the tip structure of the spindle 106.
図3に示すように、スピンドル106の先端部には、ブレード102の上部を覆うホイールカバー15が取り付けられている。このホイールカバー15は、カバー前部16、カバー後部18及びノズルブロック20等の部材を組み付けることによって構成され、ワークWの加工時に発生する切削粉や切削水及び冷却水の飛散を抑制する機能を有している。 As shown in Figure 3, a wheel cover 15 that covers the top of the blade 102 is attached to the tip of the spindle 106. This wheel cover 15 is constructed by assembling components such as a front cover 16, a rear cover 18, and a nozzle block 20, and has the function of suppressing the scattering of cutting powder, cutting water, and cooling water that are generated when machining the workpiece W.
カバー後部18の上面には、ホース21の端部が接続されており、ホース21からは切削水が供給される。供給された切削水は、ホイールカバー15に設けられたノズル23から回転中のブレード102に向けて噴射される。また、ノズルブロック20の上面には、ホース22の端部が接続されており、ホース22からは冷却水が供給される。供給された冷却水は、ブレード102を挟んで対向配置された一対のL字状のノズル24、24から回転中のブレード102とワークWに向けて噴射される。 The end of a hose 21 is connected to the upper surface of the rear cover 18, and cutting water is supplied from the hose 21. The supplied cutting water is sprayed toward the rotating blade 102 from a nozzle 23 provided on the wheel cover 15. In addition, the end of a hose 22 is connected to the upper surface of the nozzle block 20, and cooling water is supplied from the hose 22. The supplied cooling water is sprayed toward the rotating blade 102 and workpiece W from a pair of L-shaped nozzles 24, 24 arranged opposite each other with the blade 102 in between.
上記のように構成されたホイールカバー15には、ブレード破損検出装置10を構成する検出ユニット12と、検出ユニット12をZ軸方向に移動させる送り機構14とが設けられている。なお、ブレード破損検出装置10は、検出ユニット12及び制御部118(図1及び図7を参照)で構成される。 The wheel cover 15 configured as described above is provided with the detection unit 12 that constitutes the blade breakage detection device 10, and a feed mechanism 14 that moves the detection unit 12 in the Z-axis direction. The blade breakage detection device 10 is composed of the detection unit 12 and a control unit 118 (see Figures 1 and 7).
次に、検出ユニット12の構造について詳しく説明する。なお、以下の説明では、先ず本発明を説明する上での前提になる実施形態を図4で説明し、その後本発明に関して説明する。 Next, the structure of the detection unit 12 will be described in detail. In the following explanation, we will first explain the embodiment that serves as the basis for explaining the present invention using Figure 4, and then explain the present invention.
図4は、本発明の前提となる実施形態の検出ユニット12の一例を示す図であり、検出ユニット12の構造を示した概略構造図である。図4では、検出ユニット12を図3のX軸方向から見た場合の概略構造図が示されている。 Figure 4 is a diagram showing an example of a detection unit 12 according to an embodiment of the present invention, and is a schematic structural diagram showing the structure of the detection unit 12. Figure 4 shows a schematic structural diagram of the detection unit 12 as viewed from the X-axis direction in Figure 3.
図4に示すように、検出ユニット12は、投光部26と受光部28とから構成されている。図4に示した例では、投光部26と受光部28とは、検出ユニット本体12Aによりブレード102のZ軸の上部で一体として構成され、投光面36と受光面44とはブレード102を挟むように対向して配置されている。 As shown in Figure 4, the detection unit 12 is composed of a light-emitting unit 26 and a light-receiving unit 28. In the example shown in Figure 4, the light-emitting unit 26 and the light-receiving unit 28 are integrally formed by the detection unit main body 12A above the Z axis of the blade 102, and the light-emitting surface 36 and the light-receiving surface 44 are arranged opposite each other with the blade 102 sandwiched between them.
投光部26は、発光ダイオード又はレーザーダイオード等から構成される発光素子30と、発光素子30の光を伝送するオプティカルケーブル32と、オプティカルケーブル32から出射した光が通過する投光光路部26Aと、投光光路部26Aの下部に取り付けられて投光光路部26Aで伝送された光を反射して出射する直角プリズム34と、を有している。直角プリズム34の光出射端面が投光部26の投光面36として形成されている。この投光面36は、ブレード102の側面に対し離間して配置されている。 The light-emitting unit 26 has a light-emitting element 30, such as a light-emitting diode or laser diode; an optical cable 32 that transmits light from the light-emitting element 30; a light-emitting optical path 26A through which the light emitted from the optical cable 32 passes; and a right-angle prism 34 attached to the bottom of the light-emitting optical path 26A that reflects and emits the light transmitted by the light-emitting optical path 26A. The light-emitting end face of the right-angle prism 34 forms the light-emitting surface 36 of the light-emitting unit 26. This light-emitting surface 36 is positioned away from the side of the blade 102.
受光部28は、フォトダイオード等の受光素子38と、受光素子38に接続されたオプティカルケーブル40と、直角プリズム42から入射する光が通過する受光光路部28Aと、受光光路部28Aの下部に取り付けられてオプティカルケーブル40に接続された直角プリズム42と、を有している。そして、直角プリズム42の光入射端面が受光部28の受光面44として形成されている。この受光面44は、ブレード102の側面に対し離間して配置されている。 The light receiving unit 28 has a light receiving element 38 such as a photodiode, an optical cable 40 connected to the light receiving element 38, a light receiving optical path section 28A through which light incident from the right-angle prism 42 passes, and a right-angle prism 42 attached to the bottom of the light receiving optical path section 28A and connected to the optical cable 40. The light incident end face of the right-angle prism 42 forms the light receiving surface 44 of the light receiving unit 28. This light receiving surface 44 is positioned away from the side surface of the blade 102.
投光面36と受光面44とが、ブレード102の刃先である外周部102Rを挟むように対向して配置される。投光面36から受光面44に向けて出射された光のうち外周部102Rで遮られない光が受光面44に入射されるように構成されている。受光面44で入射された光は、受光素子38で受光される。受光素子38で受光された受光量に基づいて、後述の制御部118(図1参照)がブレード102の破損を検出する。 The light-emitting surface 36 and the light-receiving surface 44 are arranged opposite each other, sandwiching the outer periphery 102R, which is the cutting edge of the blade 102. Of the light emitted from the light-emitting surface 36 toward the light-receiving surface 44, the light that is not blocked by the outer periphery 102R is incident on the light-receiving surface 44. The light incident on the light-receiving surface 44 is received by the light-receiving element 38. The control unit 118 (see Figure 1), which will be described later, detects damage to the blade 102 based on the amount of light received by the light-receiving element 38.
図4で示すように、本発明の前提となる実施形態では、検出ユニット12の光軸Lにおける投光面36と受光面44との間の光軸部分Laが、ブレード102の回転軸Cと平行になるように設置されている。すなわち、ブレード102の外周部102Rに照射される光の光軸Lはブレード102の回転軸Cに対して平行となっており、投光面36から出射する光がブレード102の外周部102Rに向けてブレード102の回転軸Cに対して平行な方向に照射されるように構成される。 As shown in Figure 4, in the embodiment underlying the present invention, the optical axis portion La between the light-emitting surface 36 and the light-receiving surface 44 of the optical axis L of the detection unit 12 is installed so as to be parallel to the rotation axis C of the blade 102. In other words, the optical axis L of the light irradiated onto the outer periphery 102R of the blade 102 is parallel to the rotation axis C of the blade 102, and the light emitted from the light-emitting surface 36 is irradiated towards the outer periphery 102R of the blade 102 in a direction parallel to the rotation axis C of the blade 102.
ここで、本発明の前提となる実施形態における課題について説明する。 Here, we will explain the issues surrounding the underlying embodiment of the present invention.
図5は、薄いブレードと厚いブレードとの欠けの形態に関して説明する図である。なお、図5では検出ユニット12を構成する投光部26及び受光部28を簡略化して図示している。また、発明を分かりやすく説明するために、各ブレードの厚さを誇張して図示している。 Figure 5 is a diagram explaining the chipping patterns of thin and thick blades. Note that Figure 5 shows a simplified illustration of the light-emitting unit 26 and light-receiving unit 28 that make up the detection unit 12. Also, to make the invention easier to understand, the thickness of each blade is exaggerated.
図5の符号202では、薄いブレード210の欠けを示す模式図が示されており、符号204では、厚いブレード102の欠けを示す模式図が示されている。また、符号202及び符号204の双方において、検出ユニット12の光軸L(図4の投光面36と受光面44との間の光軸部分Laに相当)は、ブレード210の回転軸Cと平行な方向となっている。また、投光部26から出射される光Rは直径が1mm~2mmビーム状の光である。 In Figure 5, reference numeral 202 shows a schematic diagram illustrating a chip in the thin blade 210, and reference numeral 204 shows a schematic diagram illustrating a chip in the thick blade 102. In both reference numerals 202 and 204, the optical axis L of the detection unit 12 (corresponding to the optical axis portion La between the light-emitting surface 36 and the light-receiving surface 44 in Figure 4) is parallel to the rotation axis C of the blade 210. Furthermore, the light R emitted from the light-emitting unit 26 is a beam of light with a diameter of 1 mm to 2 mm.
符号202で示すように、薄いブレード210に欠けQ1が発生した場合には、投光部26から出射された光Rは、ブレード210が1回転する間に、ブレード210の欠けQ1の箇所でブレード210に遮られずに通過し、受光部28に受光される。したがって、ブレード210に欠けQ1が存在する場合には、ブレード210を回転させることにより、受光部28で受光する光の量においてピークM(図7参照)が検出される。これにより、ブレード破損検出装置10は、欠けQ1を検出することができる。 As shown by the reference numeral 202, when a chip Q1 occurs in the thin blade 210, the light R emitted from the light-emitting unit 26 passes through the chip Q1 of the blade 210 without being blocked by the blade 210 during one rotation of the blade 210, and is received by the light-receiving unit 28. Therefore, when a chip Q1 exists in the blade 210, a peak M (see Figure 7) is detected in the amount of light received by the light-receiving unit 28 by rotating the blade 210. This allows the blade breakage detection device 10 to detect the chip Q1.
一方、符号204では、厚いブレード102の外周部102Rに欠けQ2が発生した場合が示されている。欠けQ2は、ブレード102の外周部102Rの第1面102a側のみに欠けQ2が発生している。このような場合、投光部26から照射された光Rが、欠けQ2が発生した箇所に当てられたとしても、ブレード102の第2面102b(第1面の背面)で遮られてしまい受光部28で受光されない。そのため、ブレード102に欠けQ2が存在したとしても、受光部28では、欠けQ2が存在する位置においても、投光部26から照射された光Rを受光することができず、受光部28で受光する光の量においてピークMを検出することができない。 On the other hand, reference numeral 204 shows a case where a chip Q2 has occurred on the outer periphery 102R of a thick blade 102. The chip Q2 has occurred only on the first surface 102a side of the outer periphery 102R of the blade 102. In such a case, even if light R emitted from the light-emitting unit 26 is directed at the location where the chip Q2 has occurred, it is blocked by the second surface 102b (the back surface of the first surface) of the blade 102 and is not received by the light-receiving unit 28. Therefore, even if a chip Q2 exists on the blade 102, the light-receiving unit 28 cannot receive the light R emitted from the light-emitting unit 26, even at the position where the chip Q2 exists, and the peak M cannot be detected in the amount of light received by the light-receiving unit 28.
厚さの厚いブレード102では、第1面102a又は第2面102bのみに欠けQ2が発生する場合があるが、図5で示したようにブレード102の外周部102Rに、ブレード102の回転軸Cに対して平行な光を照射しても欠けQ2を検出することができない。そこで、以下で説明する本発明の実施形態(第1及び第2の実施形態)では、このように、厚さの厚いブレード102の外周部102Rの片面(第1面102a又は第2面102b)のみに発生した欠けQ2を検出することを可能としたものである。 In a thick blade 102, a chip Q2 may occur only on the first surface 102a or the second surface 102b. However, as shown in Figure 5, chip Q2 cannot be detected even if light parallel to the rotation axis C of the blade 102 is irradiated onto the outer periphery 102R of the blade 102. Therefore, the embodiments of the present invention (first and second embodiments) described below make it possible to detect chip Q2 that occurs on only one surface (first surface 102a or second surface 102b) of the outer periphery 102R of a thick blade 102.
<第1の実施形態>
本発明のブレード破損検出装置10の第1の実施形態に関して説明する。なお、以下の説明では、本発明の前提になる実施形態(特に図4で説明を行った検出ユニット12)と異なる点を中心にして説明を行う。
First Embodiment
A first embodiment of the blade breakage detection device 10 of the present invention will be described. The following description will focus on differences from the embodiment on which the present invention is based (particularly the detection unit 12 described in FIG. 4).
図6は、ブレード破損検出装置10の検出ユニット12に関して説明する図である。なお、図6では、図5と同様に投光部26及び受光部28を簡略化して図示しており、投光部26から出射する光Rは直径φが1~2mmのビーム状の光である。また、以下で説明する投光部26は本発明の光照射手段であり、受光部28は本発明の光受光手段である。 Figure 6 is a diagram illustrating the detection unit 12 of the blade breakage detection device 10. Similar to Figure 5, Figure 6 shows a simplified illustration of the light-emitting unit 26 and light-receiving unit 28, and the light R emitted from the light-emitting unit 26 is a beam of light with a diameter φ of 1 to 2 mm. The light-emitting unit 26 described below is the light-irradiating means of the present invention, and the light-receiving unit 28 is the light-receiving means of the present invention.
図6に示すように、第1の実施形態における検出ユニット12では、ブレード102の外周部102Rに照射される光Rの光軸Lがブレード102の回転軸Cに対して斜めに傾いている。すなわち、投光部26から出射する光Rがブレード102の外周部102Rに向けてブレード102の回転軸Cに対して斜めの方向に照射されるように構成される。このようにブレード102の回転軸Cに対して斜めに傾いた光軸Lを有する光Rを、投光部26からブレード102の外周部102Rに対して照射することにより、欠けQ2の箇所ではブレード102に遮られることなく、受光部28に受光される。これにより、ブレード破損検出装置10は、ブレード102の外周部102Rの片面(第1面102a)のみで発生した欠けQ2を検出することができる。 As shown in FIG. 6 , in the detection unit 12 of the first embodiment, the optical axis L of the light R irradiated onto the outer periphery 102R of the blade 102 is inclined obliquely with respect to the rotation axis C of the blade 102. That is, the light R emitted from the light-emitting unit 26 is irradiated toward the outer periphery 102R of the blade 102 in a direction oblique to the rotation axis C of the blade 102. By irradiating the outer periphery 102R of the blade 102 with light R having an optical axis L inclined obliquely with respect to the rotation axis C of the blade 102 from the light-emitting unit 26 in this manner, the light is received by the light-receiving unit 28 at the location of the chip Q2 without being blocked by the blade 102. This allows the blade breakage detection device 10 to detect chip Q2 that has occurred on only one surface (first surface 102a) of the outer periphery 102R of the blade 102.
ここで、回転軸Cに対する光軸Lの傾斜角度αは、30度から60度の範囲であることが好ましい。なお、傾斜角度αとは、図4に示すようにX軸方向からブレード102を見た場合における回転軸Cに対する光軸L(図4の投光面36と受光面44との間の光軸部分Laに相当)の傾き角度をいう。この範囲に傾斜角度αを設定することにより、光Rがブレード102で遮られることなく感度良く欠けQ2を検出することができる。また、傾斜角度αを略45度に設定することにより、さらに感度良く欠けQ2を検出することができる。なお、ここで光軸Lとは、投光部26の投光面36(図4参照)から出射され、受光部28の受光面44(図4参照)で受光されるまでの光Rの光路を示す光軸である。 Here, the inclination angle α of the optical axis L with respect to the rotation axis C is preferably in the range of 30 to 60 degrees. The inclination angle α refers to the inclination angle of the optical axis L (corresponding to the optical axis portion La between the light-emitting surface 36 and the light-receiving surface 44 in FIG. 4) with respect to the rotation axis C when the blade 102 is viewed from the X-axis direction as shown in FIG. 4. By setting the inclination angle α within this range, the chip Q2 can be detected with high sensitivity without the light R being blocked by the blade 102. Furthermore, by setting the inclination angle α to approximately 45 degrees, the chip Q2 can be detected with even higher sensitivity. Here, the optical axis L refers to the optical axis that indicates the optical path of the light R from the light-emitting surface 36 of the light-emitting unit 26 (see FIG. 4) to its reception by the light-receiving surface 44 of the light-receiving unit 28 (see FIG. 4).
図7は、ブレード破損検出装置10の動作を制御する制御部118の機能ブロック図である。なお、制御部118は、ダイシング装置100全体を統括制御するものであるが、図7では、ブレード破損検出装置10の動作を制御する機能部のみ図示している。 Figure 7 is a functional block diagram of the control unit 118, which controls the operation of the blade breakage detection device 10. Note that the control unit 118 controls the entire dicing device 100, but Figure 7 only shows the functional units that control the operation of the blade breakage detection device 10.
制御部118は、受光素子38(図4参照)が受光した受光量を単位時間毎に検出する受光量検出部62と、受光量検出部62の検出結果に基づきブレード102の破損を検出する破損検出部64と、を備えている。なお、制御部118は、CPU(Central Processing Unit)及びFPGA(field-programmable gate array)等含む1つ又は複数のプロセッサ(processor)と、1つ又は複数のメモリとを備えて構成されている。制御部118は、本発明の検出手段に相当する。 The control unit 118 includes a light-receiving amount detection unit 62 that detects the amount of light received by the light-receiving element 38 (see Figure 4) per unit time, and a damage detection unit 64 that detects damage to the blade 102 based on the detection results of the light-receiving amount detection unit 62. The control unit 118 is configured with one or more processors, including a CPU (Central Processing Unit) and FPGA (Field-Programmable Gate Array), and one or more memories. The control unit 118 corresponds to the detection means of the present invention.
図8は、受光量検出部62で検出される受光電圧を示す図である。 Figure 8 shows the light receiving voltage detected by the light receiving amount detection unit 62.
図8では、図6で示した検出ユニット12により欠けQ2で透過した光を受光した場合の受光電圧が示されている。 Figure 8 shows the light-receiving voltage when light transmitted through the notch Q2 is received by the detection unit 12 shown in Figure 6.
ブレード102が所定の周期で回転すると、欠けQ2で透過して受光部28で受光される光に起因する受光電圧のピークMを周期的に得ることができる。なお受光部28を構成する受光素子38は、受光した光量に応じた受光電圧を出力する。そして、破損検出部64は、この周期的に得られるピークMを検出することにより、ブレード102の破損(欠けQ2)を検出する。したがって、ブレード破損検出装置10は、受光量検出部62が受光した光量に応じた受光電圧である受光結果を出力し、破損検出部64でピークMを検出することにより、自動によりブレード102の欠けQ2を検出することができる。 When the blade 102 rotates at a predetermined cycle, peaks M of the light-receiving voltage caused by light passing through the chip Q2 and received by the light-receiving unit 28 can be periodically obtained. The light-receiving element 38 that constitutes the light-receiving unit 28 outputs a light-receiving voltage corresponding to the amount of light received. The breakage detection unit 64 then detects this periodically obtained peak M to detect breakage (chip Q2) in the blade 102. Therefore, the blade breakage detection device 10 can automatically detect chip Q2 in the blade 102 by having the light-receiving amount detection unit 62 output a light-receiving result, which is a light-receiving voltage corresponding to the amount of light received, and having the breakage detection unit 64 detect peaks M.
以上で説明したように、本実施形態のブレード破損検出装置10における検出ユニット12では、ブレード102の外周部102Rに照射される光Rの光軸Lがブレード102の回転軸Cに対して斜めに傾いて構成されるので、ブレード102の外周部102Rの片面のみに生じた欠けを検出することができる。 As explained above, in the detection unit 12 of the blade breakage detection device 10 of this embodiment, the optical axis L of the light R irradiated onto the outer periphery 102R of the blade 102 is configured to be inclined obliquely with respect to the rotation axis C of the blade 102, making it possible to detect chips that have occurred on only one side of the outer periphery 102R of the blade 102.
なお、上述した説明では、一例として、ブレード102の第1面102a側の外周部102Rに発生した欠けQ2を検出する場合について説明したが、本実施形態の態様はこれに限定されない。例えば図9で示すように、第2面102b側の外周部102Rに発生した欠けQ2を検出する場合には、ブレード102の外周部102Rに照射される光Rの光軸Lがブレード102の回転軸Cに対して斜めに傾ける方向を図6に示した構成とは逆にすればよい。すなわち、投光部26と回転軸Cとの距離を受光部28と回転軸Cとの距離よりも短くして(換言すれば、投光部26を受光部28よりも回転軸Cに近づけて)、投光部26からブレード102の第1面102a側の欠けQ2に向けて照射された光Rが受光部28で受光可能に構成されていればよい。 While the above description has been given as an example of detecting a chip Q2 occurring on the outer periphery 102R on the first surface 102a side of the blade 102, this embodiment is not limited to this. For example, as shown in FIG. 9, to detect a chip Q2 occurring on the outer periphery 102R on the second surface 102b side, the direction in which the optical axis L of the light R irradiated onto the outer periphery 102R of the blade 102 is inclined obliquely with respect to the rotation axis C of the blade 102 can be reversed from the configuration shown in FIG. 6. That is, the distance between the light-projecting unit 26 and the rotation axis C can be made shorter than the distance between the light-receiving unit 28 and the rotation axis C (in other words, the light-projecting unit 26 can be brought closer to the rotation axis C than the light-receiving unit 28), so that the light R irradiated from the light-projecting unit 26 toward the chip Q2 on the first surface 102a side of the blade 102 can be received by the light-receiving unit 28.
また、ブレード102の外周部102Rに欠けQ2が発生しやすい面(第1面102a又は第2面102b)はブレード102の利用形態等に応じて一定の傾向があることから、例えば、ブレード102の外周部102Rに照射される光Rの光軸Lの傾きが互いに異なる2種類の検出ユニット(図6に示した構成に対応した検出ユニット、図9に示した構成に対応した検出ユニット)を備えていてもよいし、それらの機能を1つの検出ユニットで実現するようにしてもよい。 Furthermore, since there is a certain tendency for chipping Q2 to occur on the surface (first surface 102a or second surface 102b) of the outer periphery 102R of the blade 102 depending on the usage pattern of the blade 102, for example, two types of detection units (a detection unit corresponding to the configuration shown in Figure 6 and a detection unit corresponding to the configuration shown in Figure 9) in which the optical axis L of light R irradiated onto the outer periphery 102R of the blade 102 has different inclinations may be provided, or both functions may be realized by a single detection unit.
なお、ブレード102の回転軸Cに対して斜めに傾いた光軸Lを有する光を、ブレード102の外周部102Rに照射できる機能を有するものであれば、その実施形態は特に限定されない。例えば、発光素子30及び受光素子38を任意の位置に配置して、発光素子30から受光素子38に向けて光を導くためのミラー又はプリズム等の反射部材を組み合わせて検出ユニット12を実現してもよい。また、図4に示す検出ユニット12をX軸方向周りに傾斜させて実現するようにしてもよい。 The embodiment is not particularly limited as long as it has the function of irradiating the outer periphery 102R of the blade 102 with light having an optical axis L inclined obliquely with respect to the rotation axis C of the blade 102. For example, the detection unit 12 may be realized by arranging the light-emitting element 30 and the light-receiving element 38 in any position and combining a reflective member such as a mirror or prism to guide light from the light-emitting element 30 to the light-receiving element 38. Furthermore, the detection unit 12 shown in Figure 4 may be realized by tilting it about the X-axis direction.
また、ブレード破損検出装置10は、例えば、検出ユニット12の傾斜角度を可変可能な傾斜機構を備えており、制御部118は、3つの検出モード(1)通常モード(光軸がブレード回転軸に平行)、(2)第1面欠け検出モード(図6に相当)、(3)第2面欠け検出モード(図9に相当)の中から任意の検出モードが操作部(不図示)を介してユーザにより選択されると、検出ユニット12の傾斜角度αを選択されたモードに対応した角度に変えて破損検出を行うようにしてもよい。 Furthermore, the blade breakage detection device 10 may be equipped with, for example, a tilt mechanism that can change the tilt angle of the detection unit 12, and when a user selects any of the three detection modes (1) normal mode (optical axis parallel to the blade rotation axis), (2) first surface chipping detection mode (corresponding to Figure 6), or (3) second surface chipping detection mode (corresponding to Figure 9) via the operation unit (not shown), the control unit 118 may change the tilt angle α of the detection unit 12 to an angle corresponding to the selected mode and perform damage detection.
<第2の実施形態>
次に、第2の実施形態に関して説明する。上述した第1の実施形態では、ブレード102の外周部102Rに照射される光Rの光軸Lがブレード102の回転軸Cに対して斜めに傾いて構成されるのに対して、第2の実施形態では、開口数NA(Numerical Aperture)が高い一対のレンズ(投光部側レンズ50及び受光部側レンズ52(図10及び図11参照))を用いて、ブレード102の外周部102Rの片面のみに生じた欠けを検出できるように構成したものである。
Second Embodiment
Next, a second embodiment will be described. In the first embodiment described above, the optical axis L of the light R irradiated onto the outer periphery 102R of the blade 102 is inclined obliquely with respect to the rotation axis C of the blade 102. In contrast, in the second embodiment, a pair of lenses (a light-emitting unit-side lens 50 and a light-receiving unit-side lens 52 (see FIGS. 10 and 11 )) with a high numerical aperture (NA) are used to enable detection of chips occurring on only one surface of the outer periphery 102R of the blade 102.
図10及び図11は、第2の実施形態のブレード破損検出装置10の検出ユニット12に関して説明する図である。なお、図5及び図6で説明を行った箇所は同じ符号を付し説明は省略する。 Figures 10 and 11 are diagrams illustrating the detection unit 12 of the blade breakage detection device 10 of the second embodiment. Note that parts that were previously described in Figures 5 and 6 are given the same reference numerals and will not be described again.
図10及び図11に示すように、投光部26は投光部側レンズ50を有し、受光部28は受光部側レンズ52を有する。なお、投光部側レンズ50は本発明の第1レンズに相当し、受光部側レンズ52は本発明の第2レンズに相当する。なお、本発明の光照射手段は、投光部側レンズ50を含み、必要に応じてミラー又はプリズム等の反射部材(不図示)や他の光学部材などを組み合わせて、発光素子30(図4参照)から投光部側レンズ50により、光が出射するように構成される。また、本発明の光受光手段は、受光部側レンズ52を含み、必要に応じてミラー又はプリズム等の反射部材(不図示)や他の光学部材などを組み合わせて、受光部側レンズ52から入射した光が受光素子38(図4参照)に受光されるように配置される。投光部側レンズ50及び受光部側レンズ52は同一のレンズ光軸S(検出ユニット12の光軸Lと一致)を有し、レンズ光軸Sはブレード102の回転軸Cと平行となるように配置されている。投光部側レンズ50及び受光部側レンズ52は、高い開口数NAを有するレンズで構成される。投光部側レンズ50及び受光部側レンズ52は、ブレード102の外周部102Rを挟み、互いに対向するように配置される。また、投光部側レンズ50及び受光部側レンズ52の焦点位置は、ブレード102の幅方向の中心部Raに配置される。 10 and 11, the light-emitting unit 26 has a light-emitting unit-side lens 50, and the light-receiving unit 28 has a light-receiving unit-side lens 52. The light-emitting unit-side lens 50 corresponds to the first lens of the present invention, and the light-receiving unit-side lens 52 corresponds to the second lens of the present invention. The light-irradiating means of the present invention includes the light-emitting unit-side lens 50, and is configured to emit light from the light-emitting element 30 (see FIG. 4) through the light-emitting unit-side lens 50, optionally in combination with a reflective member such as a mirror or prism (not shown) or other optical members. The light-receiving means of the present invention includes the light-receiving unit-side lens 52, and is configured to receive light incident from the light-receiving unit-side lens 52 by the light-receiving element 38 (see FIG. 4), optionally in combination with a reflective member such as a mirror or prism (not shown) or other optical members. The light-emitter-side lens 50 and the light-receiving-side lens 52 have the same lens optical axis S (coincident with the optical axis L of the detection unit 12), and are arranged so that the lens optical axis S is parallel to the rotation axis C of the blade 102. The light-emitter-side lens 50 and the light-receiving-side lens 52 are composed of lenses with a high numerical aperture NA. The light-emitter-side lens 50 and the light-receiving-side lens 52 are arranged facing each other, sandwiching the outer periphery 102R of the blade 102. The focal positions of the light-emitter-side lens 50 and the light-receiving-side lens 52 are located at the center Ra of the blade 102 in the width direction.
図10に示すように、ブレード102に欠けQ2が発生していない場合には、投光部側レンズ50に入射した光のうち、投光部側レンズ50の外周部(図10ではレンズの上側と下側の部分)を通過した光はブレード102の第1面102a及び第2面102bで遮られる。一方、投光部側レンズ50の中央部を通過した光R(図10に矢印で図示している)は受光部側レンズ52に入射して、受光部28で検出される。 As shown in Figure 10, when no chip Q2 occurs in the blade 102, of the light incident on the light-projecting unit side lens 50, light that passes through the outer periphery of the light-projecting unit side lens 50 (the upper and lower parts of the lens in Figure 10) is blocked by the first surface 102a and second surface 102b of the blade 102. On the other hand, light R that passes through the center of the light-projecting unit side lens 50 (indicated by the arrow in Figure 10) is incident on the light-receiving unit side lens 52 and is detected by the light-receiving unit 28.
これに対して、図11に示すようにブレード102に欠けQ2がある場合には、投光部側レンズ50に入射した光のうち、投光部側レンズ50の外周部の一部(図11ではレンズの下側)を通過した光Rはブレード102で遮られる。一方、投光部側レンズ50の外周部の一部(図11ではレンズの上側)を通過した光Rはブレード102の欠けQ2で遮られることなく、ブレード102の中央部を通過した光とともに受光部28で検出される。 In contrast, when there is a notch Q2 in the blade 102 as shown in Figure 11, of the light incident on the light-projecting unit side lens 50, light R that passes through a portion of the outer periphery of the light-projecting unit side lens 50 (the lower side of the lens in Figure 11) is blocked by the blade 102. On the other hand, light R that passes through a portion of the outer periphery of the light-projecting unit side lens 50 (the upper side of the lens in Figure 11) is not blocked by the notch Q2 in the blade 102, and is detected by the light-receiving unit 28 along with light that passes through the center of the blade 102.
したがって、ブレード102の欠けQ2の有無に応じて受光部28の検出光量が変化するので、その検出結果からブレード102の欠けQ2(破損)を検出することが可能となる。なお、受光部28の検出光量の変化によって欠けQ2が検出されることは、図7及び図8に沿って既に説明を行ったので、ここでは省略する。 As a result, the amount of light detected by the light receiving unit 28 changes depending on whether or not there is a chip Q2 in the blade 102, making it possible to detect chip Q2 (breakage) in the blade 102 from the detection results. Since the fact that chip Q2 is detected by changes in the amount of light detected by the light receiving unit 28 has already been explained using Figures 7 and 8, further explanation will be omitted here.
また、ブレード102の両面(第1面102a及び第2面102b)に欠けが発生した場合には、投光部側レンズ50の外周部の一部(図11ではレンズの上側及び下側)を通過した光Rは、ブレード102に遮られることなく、受光部28で検出される。したがって、この場合には、受光部28での検出光量が最も大きくなるので、ブレード102の片面だけでなく、両面にわたって欠けが発生した場合も検出可能である。 Furthermore, if chipping occurs on both sides of the blade 102 (first surface 102a and second surface 102b), light R that passes through part of the outer periphery of the light-emitter-side lens 50 (the upper and lower sides of the lens in Figure 11) is detected by the light-receiving unit 28 without being blocked by the blade 102. Therefore, in this case, the amount of light detected by the light-receiving unit 28 is the greatest, making it possible to detect chipping not only on one side of the blade 102 but on both sides.
なお、投光部側レンズ50及び受光部側レンズ52の開口数NAは、例えば、0.4以上であることが好ましい。投光部側レンズ50及び受光部側レンズ52の開口数NAが0.4以上であれば、ブレード102の外周部102Rにおける欠けQ2の発生状況に応じて受光部28の検出光量が変化するので、精度良く欠けQ2を検出することができる。 It is preferable that the numerical aperture NA of the light-emitter-side lens 50 and the light-receiver-side lens 52 be, for example, 0.4 or greater. If the numerical aperture NA of the light-emitter-side lens 50 and the light-receiver-side lens 52 is 0.4 or greater, the amount of light detected by the light-receiving unit 28 changes depending on the occurrence of chipping Q2 in the outer periphery 102R of the blade 102, allowing chipping Q2 to be detected with high accuracy.
また、一例として、図11において、ブレード102の厚さが3mmであり、ブレード102と投光部側レンズ50及び受光部側レンズ52との間隔2.25mm、投光部側レンズ50及び受光部側レンズ52のレンズ厚2.5mm、投光部側レンズ50及び受光部側レンズ52の焦点距離5mm、投光部側レンズ50及び受光部側レンズ52のレンズ径5mm、開口数NA=0.45である場合には、ブレード102に発生した1mm以下の欠けQ2であっても検出することができる。 As an example, in Figure 11, if the thickness of the blade 102 is 3 mm, the distance between the blade 102 and the light-emitter side lens 50 and the light-receiving side lens 52 is 2.25 mm, the lens thickness of the light-emitter side lens 50 and the light-receiving side lens 52 is 2.5 mm, the focal length of the light-emitter side lens 50 and the light-receiving side lens 52 is 5 mm, the lens diameter of the light-emitter side lens 50 and the light-receiving side lens 52 is 5 mm, and the numerical aperture NA is 0.45, even a chip Q2 of 1 mm or less that occurs in the blade 102 can be detected.
以上で説明したように、第2の実施形態のブレード破損検出装置10における検出ユニット12では、高い開口数NAを有する一対の投光部側レンズ50及び受光部側レンズ52がブレード102の外周部102Rを挟んで対向する位置に配置され、且つ、一対の投光部側レンズ50及び受光部側レンズ52のレンズ光軸Sがブレード102の回転軸Cと平行に配置される。これにより、ブレード102の外周部102Rの片面(第1面102a又は第2面102b)のみに欠けQ2が生じた場合においても、高い開口数NAを有する一対の投光部側レンズ50及び受光部側レンズ52を介してブレード102の外周部102Rに対して照射された光Rを受光部28で受光することで、ブレード102の外周部102Rにおける欠けQ2の発生状況に応じて受光部28の検出光量が変化する。したがって、第2の実施形態によれば、第1の実施形態と同様に、ブレード102の外周部102Rの片面のみに生じた欠けを検出することができる。また、ブレード102の片面のみに生じた欠けだけでなく、ブレード102の外周部102Rの両面にわたって欠けが発生した場合も検出可能である。 As described above, in the detection unit 12 of the blade breakage detection device 10 of the second embodiment, a pair of light-emitter-side lenses 50 and light-receiver-side lenses 52 with a high numerical aperture NA are positioned opposite each other across the outer periphery 102R of the blade 102, and the lens optical axes S of the pair of light-emitter-side lenses 50 and light-receiver-side lenses 52 are positioned parallel to the rotation axis C of the blade 102. As a result, even if a chip Q2 occurs on only one surface (first surface 102a or second surface 102b) of the outer periphery 102R of the blade 102, the light R irradiated onto the outer periphery 102R of the blade 102 via the pair of light-emitter-side lenses 50 and light-receiver-side lenses 52 with a high numerical aperture NA is received by the light-receiving unit 28, and the amount of light detected by the light-receiving unit 28 changes depending on the occurrence of the chip Q2 on the outer periphery 102R of the blade 102. Therefore, according to the second embodiment, as with the first embodiment, it is possible to detect chips that have occurred on only one side of the outer periphery 102R of the blade 102. Furthermore, it is possible to detect not only chips that have occurred on only one side of the blade 102, but also chips that have occurred on both sides of the outer periphery 102R of the blade 102.
以上で本発明の例に関して説明してきたが、本発明は上述した実施の形態に限定されず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の変形が可能であることは言うまでもない。 The above describes examples of the present invention, but it goes without saying that the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications are possible without departing from the spirit of the present invention.
10…ブレード破損検出装置、12…検出ユニット、14…送り機構、15…ホイールカバー、16…カバー前部、18…カバー後部、20…ノズルブロック、21…ホース、22…ホース、23…ノズル、24…ノズル、26…投光部、26A…投光光路部、28…受光部、28A…受光光路部、30…発光素子、32…オプティカルケーブル、34…直角プリズム、36…投光面、38…受光素子、40…オプティカルケーブル、42…直角プリズム、44…受光面、50…投光部側レンズ、52…受光部側レンズ、62…受光量検出部、64…破損検出部、100…ダイシング装置、102…ブレード、102R…外周部、102a…第1面、102b…第2面、106…スピンドル、108…ワークテーブル、110…加工部、112…洗浄部、114…ロードポート、116…搬送装置、118…制御部、C…回転軸、L…光軸 10...Blade breakage detection device, 12...Detection unit, 14...Feed mechanism, 15...Wheel cover, 16...Front cover, 18...Rear cover, 20...Nozzle block, 21...Hose, 22...Hose, 23...Nozzle, 24...Nozzle, 26...Light-emitting section, 26A...Light-emitting optical path section, 28...Light-receiving section, 28A...Light-receiving optical path section, 30...Light-emitting element, 32...Optical cable, 34...Rectangular prism, 36...Light-emitting surface, 38...Light-receiving element, 40...Optical Cable, 42...Right-angle prism, 44...Light-receiving surface, 50...Light-emitting unit lens, 52...Light-receiving unit lens, 62...Light-receiving amount detection unit, 64...Breakage detection unit, 100...Dicing device, 102...Blade, 102R...Outer periphery, 102a...First surface, 102b...Second surface, 106...Spindle, 108...Work table, 110...Processing unit, 112...Cleaning unit, 114...Load port, 116...Transport device, 118...Control unit, C...Rotation axis, L...Optical axis
Claims (2)
前記ブレードの回転軸の軸方向における両側の側面の一方と、前記ブレードの外周面とがなす前記ブレードの外周部の角部のみに向けて前記回転軸に対して斜めに光を照射する光照射手段と、
前記光照射手段から照射されて前記ブレードの外周部を介した光を受光する光受光手段と、
前記光受光手段の受光結果に基づいて、前記ブレードの前記角部の破損を検出する検出手段と、
を備え、
前記光照射手段の光軸の前記ブレードの回転軸に対する傾き角度は30度から60度の範囲内である、
ブレード破損検出装置。 1. A blade breakage detection device for detecting breakage of a rotatable blade, comprising:
a light irradiation means for irradiating light obliquely with respect to the rotation axis only toward a corner of the outer periphery of the blade formed by one of the side surfaces on both sides in the axial direction of the rotation axis of the blade and the outer periphery of the blade;
a light receiving means for receiving light emitted from the light emitting means and transmitted through the outer periphery of the blade;
a detection means for detecting damage to the corner of the blade based on the light reception result of the light receiving means;
Equipped with
the inclination angle of the optical axis of the light irradiation means with respect to the rotation axis of the blade is within a range of 30 degrees to 60 degrees ;
Blade breakage detection device.
請求項1に記載のブレード破損検出装置。 the light irradiating means has a light emitting element that emits light having the optical axis extending from one end to the other end across the outer periphery of the blade,
The blade breakage detection device according to claim 1 .
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| JP2021070093A (en) * | 2019-10-30 | 2021-05-06 | 株式会社ディスコ | Blade-shape detecting unit and cutting device |
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