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JP7819466B2 - Calibration method and calibration device - Google Patents
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JP7819466B2 - Calibration method and calibration device - Google Patents

Calibration method and calibration device

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JP7819466B2 JP2021181600A JP2021181600A JP7819466B2 JP 7819466 B2 JP7819466 B2 JP 7819466B2 JP 2021181600 A JP2021181600 A JP 2021181600A JP 2021181600 A JP2021181600 A JP 2021181600A JP 7819466 B2 JP7819466 B2 JP 7819466B2
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Description

本開示は、分析装置を較正する較正方法、分析装置を較正するために用いられる較正用の標準試料、および分析装置を較正する較正装置に関する。 This disclosure relates to a calibration method for calibrating an analytical device, a calibration standard sample used to calibrate an analytical device, and a calibration device for calibrating an analytical device.

試料に光を照射し、試料中の物質からの散乱光を検出して、得られた検出結果から試料の性質を分析する分析装置が知られている。 Analytical devices are known that irradiate a sample with light, detect scattered light from substances in the sample, and analyze the properties of the sample from the detection results obtained.

特開2020-060586号公報(特許文献1)には、血漿などの検体に試薬を添加することで調製された測定試料に光を照射し、得られた散乱光を検出して解析することで、血液の凝固能に関する分析を行う血液凝固分析装置が開示されている。 JP 2020-060586 A (Patent Document 1) discloses a blood coagulation analyzer that analyzes blood coagulation ability by irradiating a measurement sample prepared by adding a reagent to a specimen such as plasma with light and detecting and analyzing the resulting scattered light.

特開2020-060586号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2020-060586

このような分析装置において、光源、および散乱光を検出する検出部は、個体差がある。そのため、分析装置は、基準となる標準物質を用いて較正されている必要がある。分析装置の較正は、たとえば、分析装置の製造時、または、メンテナンス時などに行われる。 In such analytical devices, there are individual differences in the light source and the detection unit that detects scattered light. Therefore, analytical devices must be calibrated using a standard reference material. Calibration of analytical devices is performed, for example, when the analytical device is manufactured or during maintenance.

しかし、試料からの散乱光に基づいて試料の性質を分析する分析装置に用いる標準試料、および較正方法について十分な検討がされていなかった。 However, there has been insufficient consideration given to standard samples and calibration methods used in analytical instruments that analyze sample properties based on scattered light from the sample.

本開示は、試料からの散乱光に基づいて試料の性質を分析する分析装置に適した較正方法、較正用の標準試料、および較正装置を提供することを一の目的とする。 An object of the present disclosure is to provide a calibration method, a calibration standard sample, and a calibration device suitable for an analytical device that analyzes the properties of a sample based on scattered light from the sample.

本開示の較正方法は、試料を格納する格納部と、前記格納部に格納された試料に光を照射する光源と、試料からの散乱光を測定する検出部とを備える分析装置を較正する較正方法である。較正方法は、粒子径の分布が所定範囲内となるように調製された標準粒子を液体中に分散させた標準試料を格納部に格納する工程と、格納部に標準試料を格納したときに得られる検出部の検出値を取得する工程と、検出値が予め定められた値となるように分析装置を較正する工程とを含む。 The calibration method disclosed herein is a method for calibrating an analytical device that includes a storage unit for storing a sample, a light source for irradiating light onto the sample stored in the storage unit, and a detection unit for measuring scattered light from the sample. The calibration method includes the steps of storing a standard sample in the storage unit, in which standard particles prepared so that the particle size distribution falls within a predetermined range are dispersed in a liquid; acquiring the detection value obtained by the detection unit when the standard sample is stored in the storage unit; and calibrating the analytical device so that the detection value becomes a predetermined value.

また、本開示の標準試料は、試料に光を照射する光源と、試料からの散乱光を検出する検出部とを含む分析装置を較正するために用いられる較正用の標準試料である。較正用の標準試料は、粒子径の分布範囲が所定範囲内となるように調製された標準粒子が液体中に分散されている。 The standard sample disclosed herein is a calibration standard sample used to calibrate an analytical instrument that includes a light source that irradiates a sample with light and a detection unit that detects scattered light from the sample. The calibration standard sample contains standard particles dispersed in a liquid, the standard particles being prepared so that the particle size distribution range falls within a predetermined range.

また、本開示の較正装置は、試料を格納する格納部と、格納部に格納された試料に光を照射する発光素子と、発光素子の輝度を調整する調整機構と、試料からの散乱光を測定する検出部とを備える分析装置を較正する。較正装置は、プロセッサと、分析装置と通信するための通信ポートとを備え、プロセッサは、粒子径の分布が所定範囲内となるように調製された標準粒子を液体中に分散させた標準試料が格納部に格納されているときに、検出部で検出された値を通信ポートを介して分析装置から受信し、プロセッサは、標準試料が格納部に格納されているときに予め定められた検出値が検出部で得られるようにするために、発光素子の輝度を調整する信号を通信ポートを介して分析装置に出力する。 The calibration device of the present disclosure also calibrates an analytical instrument that includes a storage unit for storing a sample, a light-emitting element that irradiates the sample stored in the storage unit with light , an adjustment mechanism for adjusting the luminance of the light -emitting element, and a detection unit that measures scattered light from the sample. The calibration device includes a processor and a communication port for communicating with the analytical instrument, and the processor receives, from the analytical instrument via the communication port, a value detected by the detection unit when a standard sample, in which standard particles prepared so that the particle size distribution falls within a predetermined range are dispersed in a liquid, is stored in the storage unit, and the processor outputs, to the analytical instrument via the communication port, a signal for adjusting the luminance of the light-emitting element so that the detection unit obtains a predetermined detection value when the standard sample is stored in the storage unit.

本開示によれば、粒子径の分布範囲が所定範囲内となるように調製された標準粒子を用いるため、散乱特性の揃った標準試料が提供される。また、このような標準試料を用いて較正することで、較正時に使用した標準試料が異なることにより生じる測定結果への影響を抑えた較正方法が提供されると共に、較正時に使用した標準試料が異なることにより生じる測定結果への影響を抑えた較正をすることが可能な較正装置が提供される。その結果、測定値の再現性が向上する。 According to the present disclosure, standard particles prepared so that the particle size distribution range falls within a predetermined range are used, thereby providing a standard sample with consistent scattering properties. Furthermore, by performing calibration using such a standard sample, a calibration method is provided that minimizes the impact on measurement results caused by differences in the standard sample used during calibration, and a calibration device is provided that is capable of performing calibration that minimizes the impact on measurement results caused by differences in the standard sample used during calibration. As a result, the reproducibility of measurement values is improved.

実施の形態に従う分析装置1000の全体構成を機能的に示す図である。FIG. 1 is a diagram functionally illustrating an overall configuration of an analysis device 1000 according to an embodiment. 分析装置1000の分析テーブルの構成例を示す平面図である。FIG. 2 is a plan view showing an example of the configuration of an analysis table of the analysis device 1000. 測光部130の構成例を示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating an example of the configuration of a photometry unit 130. 凝固ポートP3aの構成例を示す平面図である。FIG. 10 is a plan view showing an example of the configuration of the coagulation port P3a. 分析装置1000および制御装置500のシステム構成の一例を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing an example of a system configuration of an analysis device 1000 and a control device 500. 制御装置500のハードウエアの構成の一例を示す図である。FIG. 2 is a diagram illustrating an example of the hardware configuration of a control device 500. 凝固ポートP3aの較正手順の一例を示すフローチャートである。10 is a flowchart illustrating an example of a calibration procedure for the coagulation port P3a. 試薬添加後のコントロール血漿の散乱強度の変化を示す図である。FIG. 10 shows the change in scattering intensity of control plasma after the addition of a reagent. サンプルの散乱光を測定した結果を示すグラフである。10 is a graph showing the results of measuring scattered light from a sample. 測定装置300および制御装置500の構成を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing the configurations of a measuring device 300 and a control device 500. 測定装置300および制御装置500のハードウエア構成をより詳細に示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing in more detail the hardware configuration of the measurement device 300 and the control device 500. 制御装置500が分析装置1000に含まれる測定装置300を較正する手順を示すフローチャートである。10 is a flowchart showing a procedure in which the control device 500 calibrates the measurement device 300 included in the analysis device 1000. 較正に用いる基準値の入力を制御装置500が受け付ける手順を示すフローチャートである(変形例)。10 is a flowchart showing a procedure in which the control device 500 receives input of a reference value used for calibration (modification); 制御装置500が基準値に基づいて分析装置1000に含まれる測定装置300を較正する手順を示すフローチャートである(変形例)。10 is a flowchart showing a procedure in which the control device 500 calibrates the measurement device 300 included in the analysis device 1000 based on a reference value (variation).

以下、本開示の実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、図中同一または相当部分には同一符号を付してその説明は繰り返さない。 Embodiments of the present disclosure will now be described in detail with reference to the drawings. Note that identical or equivalent parts in the drawings will be designated by the same reference numerals and their descriptions will not be repeated.

本開示の分析装置は、プローブ(ノズル)によりサンプルをキュベットに分注し、キュベット内の反応状態を光学的に測定するように構成される。本開示において、「サンプル」には、測定対象である「測定試料」に加えて較正に使用される「標準試料」を含み得る。「測定試料」は、「検体」と称する場合があり、たとえば、血液成分(血漿)である。また、本開示では、キュベットについて、使い捨てタイプのもの(ディスポーザブルキュベット)が採用される。 The analytical device of the present disclosure is configured to dispense a sample into a cuvette using a probe (nozzle) and optically measure the reaction state within the cuvette. In this disclosure, "sample" can include not only the "measurement sample" that is the object of measurement, but also a "standard sample" used for calibration. The "measurement sample" may also be referred to as a "specimen," such as a blood component (plasma). In addition, in this disclosure, disposable cuvettes are used.

[分析装置1000の全体構成]
図1は、実施の形態に従う分析装置1000の全体構成を機能的に示す図である。本実施の形態で説明される分析装置1000は、血液凝固(線溶)自動分析装置として機能し得る。
[Overall configuration of the analysis device 1000]
1 is a diagram functionally illustrating the overall configuration of an analyzer 1000 according to an embodiment. The analyzer 1000 described in this embodiment can function as an automatic blood coagulation (fibrinolysis) analyzer.

図1を参照して、分析装置1000は、キュベット供給装置110と、キュベット移送装置120と、攪拌装置200と、測定装置300と、キュベット廃棄容器400とを備える。なお、以下では、キュベット供給装置110、キュベット移送装置120、およびキュベット廃棄容器400を、それぞれ単に「供給装置110」、「移送装置120」、および「廃棄容器400」と称する。 Referring to FIG. 1, the analytical device 1000 includes a cuvette supplying device 110, a cuvette transporting device 120, a stirring device 200, a measuring device 300, and a cuvette waste container 400. Note that, hereinafter, the cuvette supplying device 110, the cuvette transporting device 120, and the cuvette waste container 400 will be simply referred to as the "supplying device 110," the "transporting device 120," and the "waste container 400," respectively.

分析装置1000は、サンプル分注ポートP1をさらに備える。供給装置110は、キュベット収容部111(以下、単に「収容部111」と称する。)と、供給機構112とを含む。収容部111は、多数のキュベット(たとえば最大で1000個)を収容可能に構成される。供給機構112は、収容部111に収容されているキュベットをサンプル分注ポートP1へ供給する。収容部111および供給機構112の詳細については、後ほど図2にて説明する。 The analytical device 1000 further includes a sample dispensing port P1. The supply device 110 includes a cuvette storage unit 111 (hereinafter simply referred to as "storage unit 111") and a supply mechanism 112. The storage unit 111 is configured to be able to store a large number of cuvettes (for example, up to 1,000). The supply mechanism 112 supplies the cuvettes stored in the storage unit 111 to the sample dispensing port P1. Details of the storage unit 111 and the supply mechanism 112 will be explained later with reference to Figure 2.

サンプル分注ポートP1は、図示しないサンプル分注装置によってキュベットにサンプルを分注可能な位置に配置される。サンプル分注ポートP1にキュベットがセットされると、サンプル分注装置によってキュベットにサンプルが分注される。 The sample dispensing port P1 is positioned so that a sample can be dispensed into a cuvette by a sample dispensing device (not shown). When a cuvette is set in the sample dispensing port P1, the sample is dispensed into the cuvette by the sample dispensing device.

移送装置120は、チャック付きアーム121(以下、単に「アーム121」と称する)と、駆動装置122とを含む。アーム121は、キュベットを把持可能に構成されたチャックを有する。アーム121は、チャックによってキュベットを着脱可能に保持するように構成されている。駆動装置122は、アーム121(チャック)を作動させてチャックの位置を変えるように構成される。アーム121および駆動装置122の詳細についても、後ほど図2にて説明する。 The transfer device 120 includes an arm 121 with a chuck (hereinafter simply referred to as "arm 121") and a drive device 122. The arm 121 has a chuck configured to grip a cuvette. The arm 121 is configured to removably hold the cuvette with the chuck. The drive device 122 is configured to operate the arm 121 (chuck) to change the position of the chuck. Details of the arm 121 and drive device 122 will also be explained later with reference to Figure 2.

分析装置1000は、移送装置120によりキュベットを移送可能な複数のポート、具体的には、攪拌ポートP2、測光ポートP3、および廃棄ポートP5をさらに備える。測光ポートP3は、複数の凝固ポートP3aと、複数の比色ポートP3bとを含む。サンプル分注ポートP1には、キュベットの有無を検出するポートセンサが設けられている。なお、他のポート(攪拌ポートP2、測光ポートP3、および廃棄ポートP5など)に、ポートセンサが設けられていてもよい。 The analytical device 1000 further includes multiple ports through which cuvettes can be transferred by the transfer device 120, specifically, an agitation port P2, a photometry port P3, and a waste port P5. The photometry port P3 includes multiple coagulation ports P3a and multiple colorimetric ports P3b. The sample dispensing port P1 is provided with a port sensor that detects the presence or absence of a cuvette. Port sensors may also be provided in other ports (such as the agitation port P2, photometry port P3, and waste port P5).

攪拌ポートP2は、攪拌装置200の攪拌位置に配置される。攪拌装置200は、攪拌ポートP2にキュベットがセットされると、所定の条件(たとえば、攪拌速度および攪拌時間)でキュベットの内容物を攪拌するように構成されている。 Agitation port P2 is positioned at the agitation position of agitation device 200. When a cuvette is set in agitation port P2, agitation device 200 is configured to agitate the contents of the cuvette under predetermined conditions (e.g., agitation speed and agitation time).

凝固ポートP3aおよび比色ポートP3bの各々は、図示しない測光部に配置されている。凝固ポートP3aおよび比色ポートP3bの各々には、光源から光が照射され、照射された光を検出する検出器(図示せず)が設けられている。 The coagulation port P3a and the colorimetric port P3b are each located in a photometric unit (not shown). Light is irradiated from a light source onto each of the coagulation port P3a and the colorimetric port P3b, and a detector (not shown) is provided to detect the irradiated light.

測定装置300は、凝固ポートP3aおよび比色ポートP3bの各々の検出器から光量の検出結果を受け、各ポートにセットされたキュベットの内容物に対して所定の測定を行う。すなわち、測定装置300は、凝固ポートP3aについては、検出器によって検出される散乱光の光量を用いて、キュベット内の検体の凝固測定を行う。また、測定装置300は、比色ポートP3bについては、検出器によって検出される透過光の光量を用いて、キュベット内の吸光度を測定する。 The measuring device 300 receives the light intensity detection results from the detectors of the coagulation port P3a and colorimetric port P3b, and performs a predetermined measurement on the contents of the cuvette set in each port. That is, for the coagulation port P3a, the measuring device 300 uses the amount of scattered light detected by the detector to perform a coagulation measurement of the sample in the cuvette. For the colorimetric port P3b, the measuring device 300 uses the amount of transmitted light detected by the detector to measure the absorbance in the cuvette.

なお、凝固ポートP3aに対する光源には、たとえば発光ダイオードを採用することができ、凝固ポートP3aに設けられる検出器には、たとえばフォトダイオードを採用することができる。凝固ポートP3aの検出器は、90°散乱光(光の照射方向に直交する方向の散乱光)の光量を検出するように配置されている。 The light source for the coagulation port P3a can be, for example, a light-emitting diode, and the detector provided in the coagulation port P3a can be, for example, a photodiode. The detector in the coagulation port P3a is positioned to detect the amount of 90° scattered light (light scattered in a direction perpendicular to the light irradiation direction).

また、比色ポートP3bに対する光源には、たとえばハロゲンランプを採用することができる。比色ポートP3bに供給される光の波長は、分析条件に応じてフィルタにより切替可能である。比色ポートP3bに設けられる検出器には、たとえばフォトダイオードを採用することができる。比色ポートP3bの検出器は、透過光の光量を検出するように配置されている。 The light source for colorimetric port P3b can be, for example, a halogen lamp. The wavelength of light supplied to colorimetric port P3b can be switched using a filter depending on the analysis conditions. The detector provided at colorimetric port P3b can be, for example, a photodiode. The detector at colorimetric port P3b is positioned to detect the amount of transmitted light.

分析装置1000は、比色ポートP3bにセットされたキュベット内の吸光度を測定するために、参照ポートP4をさらに備える。参照ポートP4は、各比色ポートP3bと同じ構成を有しているが、キュベットがセットされることはなく、光源からの光以外の光が参照ポートP4内に入らないように蓋等で遮光されている。そして、比色ポートP3bに設けられる検出器によって検出される光量と、参照ポートP4に設けられる検出器によって検出される光量との比(光量比)から吸光度が測定され、検体の比色分析が行われる。 The analytical device 1000 further includes a reference port P4 for measuring the absorbance in a cuvette set in the colorimetric port P3b. The reference port P4 has the same configuration as each colorimetric port P3b, but no cuvette is set in it, and it is shielded by a lid or the like to prevent light other than that from the light source from entering the reference port P4. The absorbance is then measured from the ratio (light intensity ratio) between the amount of light detected by the detector provided in the colorimetric port P3b and the amount of light detected by the detector provided in the reference port P4, and colorimetric analysis of the sample is performed.

廃棄ポートP5は、使用済みのキュベットを回収するように構成される。廃棄ポートP5は、たとえば配管を通じて廃棄容器400に接続されている。廃棄ポートP5にキュベットが投入されると、キュベットは廃棄容器400へ導かれる。 The waste port P5 is configured to collect used cuvettes. The waste port P5 is connected to the waste container 400, for example, via piping. When a cuvette is inserted into the waste port P5, the cuvette is guided into the waste container 400.

[分析テーブルの構成]
図2は、分析装置1000の分析テーブルの構成例を示す平面図である。図2には、互いに直交する3つの軸(X軸、Y軸およびZ軸)が示されており、X軸およびY軸は、それぞれ分析装置1000の幅方向および奥行き方向を示し、Z軸は、鉛直方向(すなわち上下方向)を示している。Z軸の矢印が指し示す方向は上方向であり、その反対方向は下方向(すなわち重力方向)である。
[Analysis table configuration]
Fig. 2 is a plan view showing an example of the configuration of the analysis table of the analysis device 1000. Fig. 2 shows three mutually orthogonal axes (X-axis, Y-axis, and Z-axis), where the X-axis and Y-axis indicate the width and depth directions of the analysis device 1000, respectively, and the Z-axis indicates the vertical direction (i.e., the up-down direction). The direction indicated by the arrow on the Z-axis is the upward direction, and the opposite direction is the downward direction (i.e., the direction of gravity).

図2および図1を参照して、収容部111には、多数のキュベット100が収容されている。ユーザは、収容部111の投入口(図示せず)から収容部111内へキュベット100を補給することができる。キュベット100は、光を透過可能であれば材質は任意であり、たとえば透明のアクリル製のものを採用することができる。 Referring to Figures 2 and 1, the storage unit 111 stores a large number of cuvettes 100. A user can replenish the storage unit 111 with cuvettes 100 through an inlet (not shown) in the storage unit 111. The cuvettes 100 can be made of any material that is light-transmitting, and for example, transparent acrylic can be used.

供給機構112は、収容部111からキュベット100を1つずつ取り出してサンプル分注ポートP1に供給するように構成される。供給機構112におけるキュベット100の移送方式は任意であり、たとえば、滑り台方式(自重方式)、ベルトコンベア方式、ローラ方式、スライド方式のいずれであってもよい。供給機構112は、サンプル分注ポートP1のポートセンサの検出結果を受信し、サンプル分注ポートP1が空いたら次のキュベット100をポートP1に供給するように構成される。但し、これに限られず、供給機構112は、後述の制御装置からの指示に従ってキュベット100をサンプル分注ポートP1に供給するように構成されてもよい。 The supply mechanism 112 is configured to remove cuvettes 100 one by one from the storage section 111 and supply them to the sample dispensing port P1. The supply mechanism 112 may transport the cuvettes 100 in any manner, including, for example, a slide system (gravity system), a belt conveyor system, a roller system, or a slide system. The supply mechanism 112 is configured to receive the detection results of the port sensor of the sample dispensing port P1, and supply the next cuvette 100 to the port P1 when the sample dispensing port P1 becomes empty. However, the present invention is not limited to this, and the supply mechanism 112 may also be configured to supply cuvettes 100 to the sample dispensing port P1 in accordance with instructions from the control device described below.

アーム21は、サンプル吸引ポートP21から吸引されるサンプルを、サンプル分注ポートP1にセットされたキュベット100へ分注するための機器(サンプル分注装置)であり、プローブ21aと、アーム本体21bとを含む。アーム本体21bは、回転軸23aの回りを旋回可能に構成されており、アーム本体21bが旋回することによって、アーム本体21bの先端に設けられるプローブ21aは、XY平面において円弧状の軌道L2を描くように移動することができる。 The arm 21 is a device (sample dispensing device) for dispensing the sample aspirated from the sample suction port P21 into the cuvette 100 set in the sample dispensing port P1, and includes a probe 21a and an arm body 21b. The arm body 21b is configured to be rotatable around a rotation axis 23a, and as the arm body 21b rotates, the probe 21a attached to the tip of the arm body 21b can move along an arc-shaped trajectory L2 in the XY plane.

アーム本体21bが旋回することによって、プローブ21aは、軌道L2上に設けられたサンプル分注ポートP1、サンプル吸引ポートP21、SポートP22(より特定的には、ポートP22a~P22i)、および洗浄ポートP23の各々に移動することができる。なお、SポートP22について、たとえば、ポートP22a,P22bは洗剤ポートであり、ポートP22c,P22d,P22eは緩衝液ポートであり、ポートP22f,P22g,P22h,P22iは欠乏血漿ポートである。 By rotating the arm body 21b, the probe 21a can move to each of the sample dispensing port P1, sample suction port P21, S port P22 (more specifically, ports P22a to P22i), and washing port P23, which are provided on the track L2. Regarding the S port P22, for example, ports P22a and P22b are detergent ports, ports P22c, P22d, and P22e are buffer solution ports, and ports P22f, P22g, P22h, and P22i are plasma-deficient ports.

なお、図示していないが、サンプル吸引ポートP21の下方には、可動式のサンプルラックが設けられている。サンプルラックには、複数のサンプル容器が載置されている。これらのサンプル容器の各々には、検体の分析時には、血液成分(たとえば、血漿)や尿等の検体がセットされ、分析装置1000を較正する時には、後述する標準試料がセットされる。サンプルラックは、サンプル分注ポートP1にセットされたキュベット100へのサンプルの分注に先立ち、分注対象のサンプル容器がサンプル吸引ポートP21の直下に配置されるように作動する。CTS機構24は、サンプル吸引ポートP21の近傍に設けられ、分注対象のサンプル容器にキャップが付いている場合に、ピアサでキャップを穿孔するように構成される。 Although not shown, a movable sample rack is provided below the sample aspiration port P21. A plurality of sample containers are placed on the sample rack. When analyzing a sample, a blood component (e.g., plasma) or urine sample is placed in each of these sample containers, and when calibrating the analyzer 1000, a standard sample (described below) is placed in each of these sample containers. Prior to dispensing a sample into a cuvette 100 set in the sample dispensing port P1, the sample rack operates to position the sample container to be dispensed directly below the sample aspiration port P21. The CTS mechanism 24 is provided near the sample aspiration port P21 and is configured to pierce the cap of the sample container to be dispensed if it has a cap.

測光部130には、複数の測光ポートP3(複数の凝固ポートP3aおよび比色ポートP3b)が円弧状に配置されている。この例では、14個の凝固ポートP3aと、6個の比色ポートP3bが配置されている。アーム11は、吸引ポートP11から吸引される試薬を、測光ポートP3にセットされている対象のキュベット100へ分注するための機器であり、プローブ11aと、アーム本体11bとを含む。アーム本体11bは、回転軸13aの回りを旋回可能に構成されており、アーム本体11bが旋回することによって、アーム本体11bの先端に設けられるプローブ11aは、XY平面において円弧状の軌道L1を描くように移動することができる。 The photometry unit 130 has multiple photometry ports P3 (multiple coagulation ports P3a and colorimetric ports P3b) arranged in an arc. In this example, 14 coagulation ports P3a and 6 colorimetric ports P3b are arranged. The arm 11 is an instrument for dispensing reagent aspirated from the suction port P11 into the target cuvette 100 set in the photometry port P3, and includes a probe 11a and an arm body 11b. The arm body 11b is configured to be rotatable around a rotation axis 13a, and by rotating the arm body 11b, the probe 11a attached to the tip of the arm body 11b can move in an arc-shaped trajectory L1 in the XY plane.

アーム本体11bが旋回することによって、プローブ11aは、軌道L1上に設けられた各凝固ポートP3a、各比色ポートP3b、吸引ポートP11,P12、洗浄ポートP13の各々に移動することができる。なお、特に図示していないが、実際には、プローブ11aは試薬間のコンタミネーションを回避するために2本のプローブで構成されると共に、試薬トレイ31a(後述)は外周トレイと内周トレイとを有しており、外周トレイ上の試薬(または洗浄液)および内周トレイ上の試薬(または洗浄液)をそれぞれ2本のプローブで吸引ポートP11,P12から吸引することができる。なお、洗浄ポートP13は、プローブ11aを洗浄するためのポートである。 By rotating the arm body 11b, the probe 11a can move to each of the coagulation ports P3a, colorimetric ports P3b, suction ports P11 and P12, and washing port P13 provided on the track L1. Although not specifically shown, in reality, the probe 11a is composed of two probes to prevent contamination between reagents, and the reagent tray 31a (described below) has an outer tray and an inner tray, allowing the reagent (or washing solution) on the outer tray and the reagent (or washing solution) on the inner tray to be aspirated from the suction ports P11 and P12 using two probes, respectively. The washing port P13 is a port for washing the probe 11a.

参照ポートP4は、測光ポートP3(測光部130)とは別の場所に設けられる。上述のように、参照ポートP4は、各比色ポートP3bと同じ構成であるが、キュベット100をセットする必要がないため、たとえば、分析テーブル上ではなく分析装置1000の内部に配置される。 The reference port P4 is provided in a location separate from the photometric port P3 (photometric unit 130). As described above, the reference port P4 has the same configuration as each colorimetric port P3b, but because there is no need to set the cuvette 100, it is placed, for example, inside the analysis device 1000 rather than on the analysis table.

吸引ポートP11,P12の下方には、複数の試薬容器1および複数の洗剤容器1aが載置された試薬トレイ31aが設けられており、試薬トレイ31aは、試薬保冷庫31内に設けられている。複数の試薬容器1は、互いに異なる試薬を保有しており、複数の洗剤容器1aは、互いに異なる洗剤を保有している。試薬トレイ31aは、円盤状のターンテーブルによって構成され、ターンテーブルを駆動することにより、所望の試薬容器1または洗剤容器1aを吸引ポートP11,P12の直下に配置することができる。 Below the suction ports P11 and P12, a reagent tray 31a on which multiple reagent containers 1 and multiple detergent containers 1a are placed is provided, and the reagent tray 31a is provided inside the reagent refrigerator 31. The multiple reagent containers 1 contain different reagents, and the multiple detergent containers 1a contain different detergents. The reagent tray 31a is composed of a disc-shaped turntable, and by driving the turntable, the desired reagent container 1 or detergent container 1a can be positioned directly below the suction ports P11 and P12.

アーム121は、チャック121aと、アーム本体121bとを含む。チャック121aは、キュベット100を把持可能に構成される。チャック121aがキュベット100を保持する方式は任意であり、チャック121aは、メカニカルチャックであってもよいし、マグネットチャックであってもよいし、真空チャックであってもよい。アーム本体121bは、回転軸13aの回りを回転体122aと共に旋回可能に構成されている。回転体122aが回転することによって、回転体122aと一体的にアーム本体121bが旋回し、アーム本体121bの先端に設けられるチャック121aは、XY平面において円弧状の軌道L1を描くように移動することができる。 The arm 121 includes a chuck 121a and an arm body 121b. The chuck 121a is configured to be able to grip the cuvette 100. The chuck 121a may hold the cuvette 100 in any manner, and the chuck 121a may be a mechanical chuck, a magnetic chuck, or a vacuum chuck. The arm body 121b is configured to be able to rotate together with the rotating body 122a around the rotation axis 13a. When the rotating body 122a rotates, the arm body 121b rotates integrally with the rotating body 122a, and the chuck 121a provided at the tip of the arm body 121b can move in a circular arc-shaped trajectory L1 on the XY plane.

上記のように、アーム11とアーム121との旋回中心は同じである。軌道L1上には、サンプル分注ポートP1と、攪拌ポートP2と、廃棄ポートP5と、複数の測光ポートP3(複数の凝固ポートP3aおよび複数の比色ポートP3b)と、吸引ポートP11,P12と、洗浄ポートP13とが設けられている。そして、アーム121は、サンプル分注ポートP1、攪拌ポートP2、各測光ポートP3、および廃棄ポートP5にチャック121aを移動させることができ、アーム11は、吸引ポートP11,P12、洗浄ポートP13、攪拌ポートP2、および各測光ポートP3にプローブ11aを移動させることができる。 As described above, arm 11 and arm 121 share the same center of rotation. On orbit L1, there are provided a sample dispensing port P1, an agitation port P2, a waste port P5, multiple photometric ports P3 (multiple coagulation ports P3a and multiple colorimetric ports P3b), suction ports P11 and P12, and a cleaning port P13. Arm 121 can move chuck 121a to sample dispensing port P1, agitation port P2, each photometric port P3, and waste port P5, while arm 11 can move probe 11a to aspiration ports P11 and P12, cleaning port P13, agitation port P2, and each photometric port P3.

[測光部130の構成]
図3は、測光部130の構成例を示す図である。図3を参照して、測光部130には、複数の凝固ポートP3aおよび比色ポートP3bが円弧状に配置されている。より詳しくは、複数の凝固ポートP3aおよび比色ポートP3bは、各ポートの格納部が円弧状の軌道L1に沿うように配置されている。この例では、14個の凝固ポートP3aと、6個の比色ポートP3bが配置されている。なお、凝固ポートP3aおよび比色ポートP3bの数および配置順は、図示されたものに限定されるものではない。
[Configuration of photometry unit 130]
FIG. 3 is a diagram showing an example of the configuration of the photometry unit 130. Referring to FIG. 3, the photometry unit 130 has a plurality of coagulation ports P3a and colorimetric ports P3b arranged in an arc. More specifically, the plurality of coagulation ports P3a and colorimetric ports P3b are arranged so that the storage portions of each port are aligned along an arc-shaped trajectory L1. In this example, 14 coagulation ports P3a and 6 colorimetric ports P3b are arranged. Note that the number and arrangement order of the coagulation ports P3a and colorimetric ports P3b are not limited to those shown in the figure.

図4は、凝固ポートP3aの構成例を示す平面図である。凝固ポートP3aは、格納部312と、光源の一例となる発光ダイオード316と、検出器または受光素子の一例となるフォトダイオード314とを含む。図4において、発光ダイオード316から格納部312に向けて照射される照射光の光軸Liが破線で模式的に示される。 Figure 4 is a plan view showing an example configuration of the coagulation port P3a. The coagulation port P3a includes a storage section 312, a light-emitting diode 316 serving as an example of a light source, and a photodiode 314 serving as an example of a detector or light-receiving element. In Figure 4, the optical axis Li of the light emitted from the light-emitting diode 316 toward the storage section 312 is schematically shown by a dashed line.

格納部312は、移送装置120(アーム121)により移送されたキュベット100を脱着可能に構成され、試料を格納するための「格納部」の具体例である。 The storage unit 312 is configured to allow the cuvette 100 transferred by the transfer device 120 (arm 121) to be detached, and is a specific example of a "storage unit" for storing samples.

発光ダイオード316は、格納部312に格納された試料(キュベット100)に光を照射する。発光ダイオード316は、たとえば、波長660nmの光を照射する赤色の発光ダイオードである。なお、発光ダイオード316は、これに限定されない。たとえば、波長が405nm、570nm、730nm、または800nmの光を照射する発光ダイオード316を採用してもよい。 The light-emitting diode 316 irradiates light onto the sample (cuvette 100) stored in the storage section 312. The light-emitting diode 316 is, for example, a red light-emitting diode that irradiates light with a wavelength of 660 nm. However, the light-emitting diode 316 is not limited to this. For example, a light-emitting diode 316 that irradiates light with a wavelength of 405 nm, 570 nm, 730 nm, or 800 nm may also be used.

フォトダイオード314は、試料からの所定方向の散乱光を検出する。具体的には、フォトダイオード314は、発光ダイオード316からの照射光の光軸Liに直交する方向に設けられており、試料からの90°散乱光を検出する。なお、本実施の形態において、フォトダイオード314は、試料からの90°散乱光を検出するように構成されているものの、他の角度の散乱光を検出するように構成されていてもよい。 The photodiode 314 detects light scattered in a predetermined direction from the sample. Specifically, the photodiode 314 is disposed in a direction perpendicular to the optical axis Li of the light emitted from the light-emitting diode 316, and detects light scattered at a 90° angle from the sample. In this embodiment, the photodiode 314 is configured to detect light scattered at a 90° angle from the sample, but it may also be configured to detect light scattered at other angles.

凝固ポートP3aは、検体の凝固機能を分析するために、凝固時間を測定する場合に利用される。具体的には、検体である血液成分(たとえば、血漿)に試薬を加えると、凝固反応が起きて、検体中のフィブリノーゲンがフィブリンに変化する。フィブリノーゲンは水に可溶性である一方、フィブリンは水に不溶性であり、反応液中の濁度が変化する。フォトダイオード314は、反応液中の濁度を示す指標として、反応液に光を照射したときに生じる散乱光を測定する。フォトダイオード314は、散乱光を経時的に測定する。凝固時間は、散乱光の経時的変化が示す反応曲線にアルゴリズムを適用することで、算出される。 The coagulation port P3a is used to measure the coagulation time in order to analyze the coagulation function of a sample. Specifically, when a reagent is added to a blood component (e.g., plasma) that serves as the sample, a coagulation reaction occurs, converting fibrinogen in the sample to fibrin. While fibrinogen is soluble in water, fibrin is insoluble in water, causing a change in the turbidity of the reaction solution. The photodiode 314 measures the scattered light generated when light is irradiated onto the reaction solution as an indicator of the turbidity of the reaction solution. The photodiode 314 measures the scattered light over time. The coagulation time is calculated by applying an algorithm to the reaction curve indicated by the change in scattered light over time.

[システム構成]
図5は、分析装置1000および制御装置500のシステム構成の一例を示すブロック図である。図5では、図1に示した分析装置1000の構成のうち、光を用いた測定に関する構成のみを概念的に図示している。図5を参照して、分析装置1000は、測光部130と、ロボット部150と、測定装置300とを備える。分析装置1000には、制御装置500が接続される。
[System configuration]
Fig. 5 is a block diagram showing an example of a system configuration of analysis device 1000 and control device 500. Fig. 5 conceptually illustrates only the configuration related to measurement using light, among the configuration of analysis device 1000 shown in Fig. 1. Referring to Fig. 5, analysis device 1000 includes photometry unit 130, robot unit 150, and measurement device 300. Control device 500 is connected to analysis device 1000.

測光部130は、複数の凝固ポートP3aと、複数の比色ポートP3bと、参照ポートP4とを含む。 The photometry unit 130 includes multiple coagulation ports P3a, multiple colorimetric ports P3b, and a reference port P4.

ロボット部150は、アーム11,21,121、キュベット供給装置110、CTS機構24、試薬保冷庫31、試薬トレイ31a(以上図2参照)、サンプルラック等の可動装置を総括的に示したものである。ロボット部150は、アーム21およびサンプルラックならびにCTS機構24によるサンプルのハンドリング、アーム11ならびに試薬保冷庫31および試薬トレイ31aによる試薬のハンドリング、供給装置110およびアーム121によるキュベット100の移送ハンドリング等を行う。ロボット部150は、測定装置300の移送制御部376によって全自動で制御される。 The robot unit 150 collectively refers to movable devices such as the arms 11, 21, 121, cuvette supply device 110, CTS mechanism 24, reagent refrigerator 31, reagent tray 31a (see Figure 2), and sample rack. The robot unit 150 handles samples using the arm 21, sample rack, and CTS mechanism 24, handles reagents using the arm 11, reagent refrigerator 31, and reagent tray 31a, and transports and handles cuvettes 100 using the supply device 110 and arm 121. The robot unit 150 is fully automatically controlled by the transport control unit 376 of the measuring device 300.

測定装置300は、測光制御部370と、データ収集部372と、AD変換部374と、移送制御部376とを含む。測光制御部370は、データ収集部372からの指示に従って、測光部130における測光全般を制御する。たとえば、測光制御部370は、凝固ポートP3aを用いた測定を行う場合に、発光ダイオード316を制御する。 The measurement device 300 includes a photometry control unit 370, a data collection unit 372, an AD conversion unit 374, and a transport control unit 376. The photometry control unit 370 controls all photometry in the photometry unit 130 in accordance with instructions from the data collection unit 372. For example, the photometry control unit 370 controls the light-emitting diode 316 when performing measurements using the coagulation port P3a.

データ収集部372は、制御装置500からのデータ収集指示に従って、測定データを取得する凝固ポートP3aを決定し、その凝固ポートP3aで測定を行うための指示を測光制御部370へ出力する。そして、データ収集部372は、凝固ポートP3aのフォトダイオード314において検出された散乱光の測定データ(測定信号)をAD変換部374から取得し、収集されたデータを制御装置500へ出力する。 The data collection unit 372 determines the coagulation port P3a from which measurement data will be acquired in accordance with data collection instructions from the control unit 500, and outputs instructions to the photometry control unit 370 to perform measurements at that coagulation port P3a. The data collection unit 372 then acquires measurement data (measurement signals) of scattered light detected by the photodiode 314 of the coagulation port P3a from the AD conversion unit 374, and outputs the collected data to the control unit 500.

AD変換部374は、各凝固ポートP3aのフォトダイオード314からの検出信号をデジタル信号に変換し、測定信号としてデータ収集部372へ出力する。移送制御部376は、制御装置500のデータ処理部510からの指示に従って、ロボット部150の各種動作を制御するための指令を生成し、ロボット部150の各種動作を制御する。 The AD conversion unit 374 converts the detection signal from the photodiode 314 of each coagulation port P3a into a digital signal and outputs it as a measurement signal to the data collection unit 372. The transfer control unit 376 generates commands for controlling various operations of the robot unit 150 in accordance with instructions from the data processing unit 510 of the control device 500, and controls the various operations of the robot unit 150.

制御装置500は、データ処理部510と、記憶部512とを含む。制御装置500には、表示装置520と、キーボード530とが接続される。制御装置500は、たとえば、パーソナルコンピュータなどによって構成される。制御装置500は、分析装置1000を較正する較正装置の一例である。 The control device 500 includes a data processing unit 510 and a memory unit 512. A display device 520 and a keyboard 530 are connected to the control device 500. The control device 500 is configured, for example, by a personal computer. The control device 500 is an example of a calibration device that calibrates the analysis device 1000.

表示装置520には、測定および較正に関わる各種の情報が表示される。ユーザは表示装置520の画面を見ながら、様々な指示をキーボード530から入力する。キーボード530は、操作部の一例である。なお、制御装置500には、キーボードに加えて、操作部の他の例となるマウスを接続してもよい。 The display device 520 displays various information related to measurement and calibration. The user inputs various instructions from the keyboard 530 while looking at the screen of the display device 520. The keyboard 530 is an example of an operation unit. In addition to the keyboard, a mouse, which is another example of an operation unit, may also be connected to the control device 500.

データ処理部510は、ユーザによる測定指示に従って、測定を行うための各種指示を生成し、生成された各種指示を測定装置300のデータ収集部372および移送制御部376へ出力する。また、データ処理部510は、測定装置300のデータ収集部372から受ける各種測定データに基づいて、比色分析を行うための各種データ処理を実行し、また、凝固分析を行うための各種データ処理を実行する。 The data processing unit 510 generates various instructions for performing measurements in accordance with measurement instructions from the user, and outputs the various generated instructions to the data collection unit 372 and transport control unit 376 of the measuring device 300. The data processing unit 510 also performs various data processing for performing colorimetric analysis and coagulation analysis based on the various measurement data received from the data collection unit 372 of the measuring device 300.

また、データ処理部510は、ユーザによる分析装置1000の較正指示に従って、標準試料の測定を実行するための指令を生成し、生成された指令を測定装置300へ出力する。そして、データ処理部510は、標準試料の測定結果を測定装置300から受け、各凝固ポートP3aに含まれる各フォトダイオード314からの各出力値が予め定められた値(以下、基準値ともいう)となるように、各凝固ポートP3aを較正する。較正方法および較正に用いる標準試料については、後述する。 The data processing unit 510 also generates commands to measure the standard sample in accordance with a user's instruction to calibrate the analytical device 1000, and outputs the generated commands to the measuring device 300. The data processing unit 510 then receives the measurement results of the standard sample from the measuring device 300, and calibrates each coagulation port P3a so that the output values from each photodiode 314 included in each coagulation port P3a become predetermined values (hereinafter also referred to as reference values). The calibration method and the standard sample used for calibration will be described below.

記憶部512は、制御装置500により各種処理を実行するための制御プログラムや、各種情報(データ)等を記憶しており、データ処理部510からの要求に従って、各種制御プログラムや情報(データ)をデータ処理部510へ出力する。 The memory unit 512 stores control programs and various information (data) for executing various processes by the control device 500, and outputs various control programs and information (data) to the data processing unit 510 in response to requests from the data processing unit 510.

[制御装置のハードウエアの構成]
図6は、制御装置500のハードウエアの構成の一例を示す図である。図6を参照して、制御装置500は、CPU(Central Processing Unit)531と、RAM(Random Access Memory)532と、記憶装置534と、外部の装置との間で通信するための通信ポート535とを含んで構成される。図5に示したデータ処理部510および記憶部512は、図6に示されるハードウエアによって実現される。
[Hardware configuration of the control device]
Fig. 6 is a diagram showing an example of the hardware configuration of the control device 500. Referring to Fig. 6, the control device 500 includes a CPU (Central Processing Unit) 531, a RAM (Random Access Memory) 532, a storage device 534, and a communication port 535 for communicating with external devices. The data processing unit 510 and the storage unit 512 shown in Fig. 5 are realized by the hardware shown in Fig. 6.

CPU531は、記憶装置534に格納されている制御プログラムをRAM532に展開して実行する。この制御プログラムは、制御装置500により実行される各種処理の手順が記されたプログラムである。記憶装置534には、制御プログラムの他、各種処理に用いられる各種情報やデータも格納されている。制御装置500は、これらの制御プログラムならびに各種情報およびデータに従って、分析装置1000における各種処理を実行する。なお、処理については、ソフトウェアによるものに限られず、専用のハードウェア(電子回路)で実行することも可能である。 The CPU 531 loads into the RAM 532 a control program stored in the storage device 534 and executes it. This control program is a program that describes the procedures for various processes executed by the control device 500. In addition to the control program, the storage device 534 also stores various information and data used in the various processes. The control device 500 executes various processes in the analysis device 1000 in accordance with these control programs and various information and data. Note that the processes are not limited to those executed by software, and can also be executed by dedicated hardware (electronic circuits).

なお、記憶装置534には、たとえば、処理手順を記した制御プログラムの他、試薬情報、分析スケジュール、分析履歴、較正情報等の情報またはデータが登録されている。試薬情報は、試薬トレイ31a(図2)に準備されている各試薬の情報(たとえば、試薬ID、試薬の種類、有効期限等)である。 In addition, the storage device 534 stores information or data such as a control program that describes processing procedures, as well as reagent information, analysis schedules, analysis history, and calibration information. The reagent information is information about each reagent prepared in the reagent tray 31a (Figure 2) (e.g., reagent ID, reagent type, expiration date, etc.).

分析スケジュールは、予約された全てのサンプルの分析を効率良く行うために、サンプル情報(たとえば、各サンプルの分析項目)および各ポートの空き状況等に基づいて決定される。たとえば、分析スケジュールは、分注および測定の各々のタイミングと、分注対象のサンプルおよび試薬と、測定を行う測光ポートP3(凝固ポートP3aおよび/または比色ポートP3b)とを含む。分析スケジュールは、サンプルID毎(サンプル容器毎)に管理される。 The analysis schedule is determined based on sample information (e.g., the analysis items for each sample) and the availability of each port, in order to efficiently analyze all reserved samples. For example, the analysis schedule includes the timing of each dispensing and measurement, the sample and reagent to be dispensed, and the photometric port P3 (coagulation port P3a and/or colorimetric port P3b) where the measurement will be performed. The analysis schedule is managed for each sample ID (each sample container).

分析履歴は、分析の途中経過を含む進行度合いを示し、分析の進行に応じて逐次更新される。分析履歴は、たとえば、キュベットの移動経路(現在位置を含む)と、キュベットに分注されたサンプルおよび試薬と、測定が行われた測光ポートP3と、測定結果とを含む。分析履歴は、キュベットごとに管理される。制御装置500およびユーザの各々は、分析履歴を参照することにより、分析スケジュールどおりに分析が行われたか(または進行しているか)を確認することができる。 The analysis history indicates the progress of the analysis, including intermediate steps, and is updated sequentially as the analysis progresses. The analysis history includes, for example, the cuvette's movement path (including its current position), the sample and reagent dispensed into the cuvette, the photometric port P3 where the measurement was performed, and the measurement results. The analysis history is managed for each cuvette. By referencing the analysis history, the control device 500 and the user can confirm whether the analysis was performed (or is progressing) according to the analysis schedule.

較正情報は、分析装置1000に含まれる各凝固ポートP3aを較正するために必要な情報、および較正した結果を示す情報を含む。較正するために必要な情報は、たとえば、較正する際に基準とするフォトダイオード314からの出力値の基準値である。また、較正した結果を示す情報は、たとえば、発光ダイオード316ごとに設定された所定値、フォトダイオード314ごとに設定された検出結果を補正するための補正値である。 The calibration information includes information necessary to calibrate each coagulation port P3a included in the analyzer 1000, and information indicating the calibration results. The information necessary for calibration is, for example, a reference value for the output value from the photodiode 314 that is used as a reference during calibration. The information indicating the calibration results is, for example, a predetermined value set for each light-emitting diode 316, and a correction value set for each photodiode 314 to correct the detection results.

[較正手順]
図7は、凝固ポートP3aの較正手順の一例を示すフローチャートである。図7を参照して、分析装置1000の製造者、分析装置1000の使用者またはサービスマンなどのユーザは、標準試料を作成する(S10)。より具体的には、ユーザは、粒子径の分布範囲が所定範囲内となるように調製された標準粒子を含む試料(原液)を液体(希釈液)で希釈することで標準試料を作成する。
Calibration Procedure
7 is a flowchart showing an example of a procedure for calibrating the coagulation port P3a. Referring to FIG. 7, a user such as a manufacturer of the analytical device 1000, a user of the analytical device 1000, or a service technician prepares a standard sample (S10). More specifically, the user prepares the standard sample by diluting a sample (stock solution) containing standard particles prepared so that the particle size distribution range falls within a predetermined range with a liquid (dilution solution).

次に、ユーザは、標準試料の各々を各格納部312に格納する(S20)。たとえば、ユーザは、サンプル容器に標準試料を分注し、標準試料が分注されたサンプル容器をサンプルラックに載置する。分析装置1000のアーム21は、標準試料が分注されたサンプル容器から吸引される標準試料を、サンプル分注ポートP1にセットされたキュベット100に分注する。なお、アーム21が吸引可能な液量の最大値は限られているため、アーム21は、サンプル容器から標準試料を吸引する動作と、キュベット100に分注する動作とを、キュベット100に必要な量の標準試料が分注されるまで繰り返す。そして、アーム121は、サンプル分注ポートP1にセットされた標準試料の入ったキュベット100を凝固ポートP3aの格納部312に格納する。これにより、S20の処理が実現される。なお、ユーザが複数のキュベット100の各々に標準試料を分注し、ユーザが凝固ポートP3aの各々の格納部312に標準試料の入ったキュベット100をセットするようにしてS20の処理が実現されてもよい。 Next, the user stores each of the standard samples in the respective storage units 312 (S20). For example, the user dispenses the standard sample into a sample container and places the sample container with the dispensed standard sample on the sample rack. The arm 21 of the analytical device 1000 aspirates the standard sample from the sample container into the cuvette 100 set in the sample dispensing port P1. Note that the maximum amount of liquid that the arm 21 can aspirate is limited, so the arm 21 repeats the operation of aspirating the standard sample from the sample container and dispensing it into the cuvette 100 until the required amount of standard sample has been dispensed into the cuvette 100. The arm 121 then stores the cuvette 100 containing the standard sample set in the sample dispensing port P1 in the storage unit 312 of the coagulation port P3a. This achieves the processing of S20. Alternatively, the process of S20 may be performed by the user dispensing a standard sample into each of multiple cuvettes 100, and then setting the cuvettes 100 containing the standard sample in the storage section 312 of each of the coagulation ports P3a.

制御装置500は、各格納部312に格納された標準試料に光を照射するように各発光ダイオード316を制御する(S30)。 The control device 500 controls each light-emitting diode 316 to irradiate light onto the standard samples stored in each storage section 312 (S30).

制御装置500は、各フォトダイオード314からの検出値を取得する(S40)。 The control device 500 acquires the detection values from each photodiode 314 (S40).

制御装置500は、各フォトダイオード314からの検出値が予め定められた基準値となるように、分析装置1000を較正する(S50)。たとえば、制御装置500は、発光ダイオード316から照射される光の光量を調整するための指令値を、フォトダイオード314からの検出値が基準値となるように設定する。また、他の方法として、制御装置500は、フォトダイオード314からの検出値を基準値とするための補正値を求める。制御装置500の較正手順の具体例については、後に詳細に説明する。 The control device 500 calibrates the analysis device 1000 so that the detection value from each photodiode 314 matches a predetermined reference value (S50). For example, the control device 500 sets a command value for adjusting the amount of light emitted from the light-emitting diode 316 so that the detection value from the photodiode 314 matches the reference value. Alternatively, the control device 500 determines a correction value for adjusting the detection value from the photodiode 314 to the reference value. Specific examples of the calibration procedure of the control device 500 will be described in detail later.

なお、図7に示した凝固ポートP3aの較正手順は、標準試料を作成する工程を含むものとした。なお、標準試料は予め用意されているものであってもよい。 The calibration procedure for the coagulation port P3a shown in Figure 7 includes the step of preparing a standard sample. The standard sample may also be prepared in advance.

なお、標準試料を作成する工程(S10)は、ユーザではなく、分析装置1000によって行われてもよい。具体的には、標準試料を作成する工程(S10)は、原液をキュベットに分注する工程と、原液が分注されるキュベットに希釈液を分注する工程とを分析装置1000が実行することで実現されてもよい。このとき、原液は、たとえば、サンプル容器に入れられた状態でサンプルラックにセットされる。また、希釈液は、たとえば、Sポート22または試薬容器1にセットされる。一例として、分析装置1000は、次のように標準試料を作成してもよい。まず、アーム21は、サンプル容器に入れられた原液をサンプル分注ポートP1に供給されたキュベット100に所定量分注する。次に、アーム121は、原液が分注されたキュベット100をサンプル分注ポートP1から凝固ポートP3aに移動させる。その後、アーム11は、試薬容器1に入れられた希釈液を所定の量、凝固ポートP3aに格納された原液の入ったキュベット100に分注する。このとき、アーム11は、凝固ポートP3aに格納されたキュベット100内の標準粒子の濃度が所定濃度範囲内となるように、希釈液を分注する。 The step (S10) of preparing a standard sample may be performed by the analytical device 1000, rather than by a user. Specifically, the step (S10) of preparing a standard sample may be realized by the analytical device 1000 executing a step of dispensing a stock solution into a cuvette and a step of dispensing a diluent into the cuvette into which the stock solution has been dispensed. In this case, the stock solution is set in a sample rack, for example, in a sample container. The diluent is set in the S port 22 or the reagent container 1, for example. As an example, the analytical device 1000 may prepare a standard sample as follows: First, the arm 21 dispenses a predetermined amount of the stock solution contained in the sample container into the cuvette 100 supplied to the sample dispensing port P1. Next, the arm 121 moves the cuvette 100 into which the stock solution has been dispensed from the sample dispensing port P1 to the coagulation port P3a. Then, the arm 11 dispenses a predetermined amount of the diluent contained in the reagent container 1 into the cuvette 100 containing the stock solution stored in the coagulation port P3a. At this time, the arm 11 dispenses the dilution solution so that the concentration of the standard particles in the cuvette 100 stored in the coagulation port P3a is within a predetermined concentration range.

[標準試料]
標準試料について、詳細に説明する。標準試料は、粒子径の分布範囲が所定範囲内となるように調製された標準粒子を液体中に分散されるように構成される。液体は、たとえば水である。標準粒子を容易に分散させるために、液体の粘度は、水の粘度以下のものが好ましい。たとえば、ユーザは、標準粒子と水からなる試料にさらに水を加えて、標準粒子が液体中に分散されている標準試料を作成する。
[Standard sample]
The standard sample will now be described in detail. The standard sample is configured by dispersing standard particles, which have been prepared so that the particle size distribution range falls within a predetermined range, in a liquid. The liquid is, for example, water. To easily disperse the standard particles, the viscosity of the liquid is preferably equal to or less than that of water. For example, a user may add water to a sample consisting of standard particles and water to create a standard sample in which the standard particles are dispersed in the liquid.

標準粒子として利用する粒子の粒子径は、たとえば、発光ダイオード316からの光の波長と、フォトダイオード314が検出する散乱光の角度とに基づいて選択される。好ましくは、使用する標準粒子は、発光ダイオード316の波長の光を照射したときに、フォトダイオード314が検出する方向に多く散乱するような粒子径が、粒子径分布のピークとなるものが好ましい。 The particle diameter of the particles used as standard particles is selected, for example, based on the wavelength of light from the light-emitting diode 316 and the angle of scattered light detected by the photodiode 314. Preferably, the standard particles used are those whose particle diameter distribution peaks at a particle diameter that scatters most in the direction detected by the photodiode 314 when irradiated with light of the wavelength of the light-emitting diode 316.

たとえば、フォトダイオード314が90°散乱光を検出するように配置されている場合、粒子径分布のピークとなる粒子径は小さい方がよい。たとえば、発光ダイオード316から照射される光の波長が660nmであって、フォトダイオード314が90°散乱光を検出するように配置されている場合、標準粒子は、粒子径分布のピークとなる粒子径は350nm以下となるものが好ましい。 For example, if the photodiode 314 is positioned to detect 90° scattered light, the smaller the particle diameter at the peak of the particle diameter distribution, the better. For example, if the wavelength of the light emitted from the light-emitting diode 316 is 660 nm and the photodiode 314 is positioned to detect 90° scattered light, the standard particles preferably have a particle diameter at the peak of the particle diameter distribution of 350 nm or less.

このように、標準粒子として、発光ダイオード316の波長の光を照射したときに、フォトダイオード314が検出する方向に多く散乱するような粒子径が粒子径分布のピークとなる試料を選択することで、所定の散乱強度を取得するために必要とする標準粒子の量を少なくすることができる。この観点で、上述の標準粒子は、粒子径分布のピークとなる粒子径は、350nm以下となるものが好ましい。 In this way, by selecting a sample as the standard particle with a particle diameter that is the peak of the particle diameter distribution and that scatters a lot in the direction detected by the photodiode 314 when irradiated with light of the wavelength of the light-emitting diode 316, the amount of standard particle required to obtain a predetermined scattering intensity can be reduced. From this perspective, it is preferable that the above-mentioned standard particle has a particle diameter that is the peak of the particle diameter distribution of 350 nm or less.

また、標準粒子に含まれる各粒子の粒子径のばらつきが大きいと、同じ散乱強度の試料を意図的に作り出すことが難しいため、標準粒子に含まれる各粒子の粒子径は、ばらつきが小さいことが好ましい。 Furthermore, if there is a large variation in the particle diameters of the particles contained in the standard particles, it will be difficult to intentionally create samples with the same scattering intensity, so it is preferable that there is a small variation in the particle diameters of the particles contained in the standard particles.

たとえば、粒子径の分布(粒子径の均一さ)を示す指標であって、平均粒子径に対する標準偏差の割合を示すCV値(Coefficient of Variation)は、3%未満であることが好ましい。CV値が3%未満であることは、平均直径の周りに狭い分布を持つ母集団が形成されていることを示す。 For example, the CV (Coefficient of Variation) value, which is an index of particle size distribution (uniformity of particle size) and indicates the ratio of standard deviation to the average particle size, is preferably less than 3%. A CV value of less than 3% indicates that a population with a narrow distribution has been formed around the average diameter.

較正に用いる標準試料として、エポキシ樹脂中に顔料を混ぜた試料が用いることが考えられる。しかし、顔料は、粒子径の分布が所定範囲内となるように調製されたものではなく、一度作成した標準試料と同様の散乱強度が得られる標準試料を意図的に作り出すことができないという課題がある。 A possible standard sample to use for calibration is one in which a pigment is mixed into epoxy resin. However, pigments are not prepared so that the particle size distribution falls within a specified range, and there is a problem in that it is not possible to intentionally create a standard sample that will produce the same scattering intensity as a standard sample that has already been created.

本開示にかかる標準試料は、粒子径の分布範囲が所定範囲内となるように調製された標準粒子を用いて作成されるため、同様の散乱強度を得られる標準試料を意図的に作り出すことができる。 The standard samples disclosed herein are created using standard particles that have been prepared so that the particle size distribution range falls within a specified range, making it possible to intentionally create standard samples that provide similar scattering intensities.

また、同様の散乱強度(所定範囲内の散乱強度)を得られる標準試料を作成しようとした場合に、粒子径の分布が広い試料を使用すると、散乱強度が所定範囲内となるように、基準とする分析装置1000を用いて、散乱強度を確認しながら試料を希釈する必要が生じる。これに対して、粒子径の分布が狭い試料を使用することで、散乱強度を確認しなくとも、希釈率(標準試料中の標準粒子の濃度)を固定すれば、基準とする分析装置1000を用いて得られる散乱強度を所定範囲内におさめることができる。 Furthermore, when attempting to create a standard sample that will provide a similar scattering intensity (scattering intensity within a specified range), if a sample with a wide particle size distribution is used, it will be necessary to dilute the sample using the reference analytical device 1000 while checking the scattering intensity so that the scattering intensity falls within the specified range. In contrast, by using a sample with a narrow particle size distribution, the scattering intensity obtained using the reference analytical device 1000 can be kept within the specified range by fixing the dilution rate (concentration of standard particles in the standard sample) without having to check the scattering intensity.

次に、標準試料の散乱強度について説明する。本実施の形態にかかる分析装置1000は、血液中の凝固因子能の観測に利用される。そのため、標準試料は、凝固反応途中の試料を測定したときに得られる散乱強度と同程度の散乱強度が得られるものであることが好ましい。換言すると、標準試料に光を照射したときに検出される散乱光の強度は、少なくとも血漿を含む検体に凝固反応を引き起こすための試薬を添加して得られるサンプルに光を照射したときに検出される散乱光の経時的な変化を測定することで得られる散乱光の強度分布範囲内にあることが好ましい。また、他の観点から、標準試料に光を照射したときに検出される散乱光の強度は、予め設定された範囲内にあることが好ましい。当該範囲は、たとえば、少なくとも血漿を含む検体に凝固反応を引き起こすための試薬を添加して得られるサンプルに光を照射したときに検出される散乱光の経時的な変化を測定することで得られる散乱光の強度分布に従って設定されることが好ましい。 Next, the scattering intensity of a standard sample will be described. The analytical device 1000 according to this embodiment is used to observe the coagulation factor activity in blood. Therefore, it is preferable that the standard sample provide a scattering intensity similar to that obtained when measuring a sample in the middle of a coagulation reaction. In other words, the intensity of scattered light detected when light is irradiated onto the standard sample is preferably within the range of the scattered light intensity distribution obtained by measuring the change over time in scattered light detected when light is irradiated onto a sample obtained by adding a reagent for inducing a coagulation reaction to a specimen containing at least plasma. From another perspective, it is also preferable that the intensity of scattered light detected when light is irradiated onto a standard sample is within a predetermined range. This range is preferably set, for example, according to the scattered light intensity distribution obtained by measuring the change over time in scattered light detected when light is irradiated onto a sample obtained by adding a reagent for inducing a coagulation reaction to a specimen containing at least plasma.

図8は、試薬添加後のコントロール血漿の散乱強度の変化を示す図である。より具体的には、図8に示す散乱強度の変化は、測定項目をプロトロンビン時間およびフィブリノーゲンとして、分析装置1000(CP3000、島津製作所社製)を用いてコントロール血漿(積水メディカル社製、コアグピア用コントロールP-N I)に試薬を加えた後の散乱強度の変化により検出器で検出される電圧の変化を示している。図8中の実線で示した散乱強度の変化は、プロトロンビン時間を測定項目としたときに得られた結果であって、コントロール血漿に試薬(積水メディカル社製、コアグピアPT-N)を加えて得られた結果である。図8中の破線で示した散乱強度の変化は、フィブリノーゲンを測定項目としたときに得られた結果でであって、コントロール血漿に試薬(積水メディカル社製、コアグピアFbgトロンビン試薬)と希釈液(積水メディカル社製、コアグピアFbg検体希釈液)とを加えて得られた結果である。図8に示すように、いずれの測定項目においても、出力電圧の中央値は、250mV~500mVの間の値を取る。 Figure 8 shows the change in scattering intensity of control plasma after the addition of a reagent. More specifically, the change in scattering intensity shown in Figure 8 represents the change in voltage detected by the detector due to the change in scattering intensity after adding a reagent to control plasma (Coagpia Control P-N I, manufactured by Sekisui Medical Co., Ltd.) using an analyzer 1000 (CP3000, manufactured by Shimadzu Corporation) with prothrombin time and fibrinogen as the measurement items. The change in scattering intensity shown by the solid line in Figure 8 represents the result obtained when prothrombin time was the measurement item and the reagent (Coagpia PT-N, manufactured by Sekisui Medical Co., Ltd.) was added to the control plasma. The change in scattering intensity shown by the dashed line in Figure 8 represents the result obtained when fibrinogen was the measurement item and the reagent (Coagpia Fbg Thrombin Reagent, manufactured by Sekisui Medical Co., Ltd.) and diluent (Coagpia Fbg Sample Diluent, manufactured by Sekisui Medical Co., Ltd.) were added to the control plasma. As shown in Figure 8, the median output voltage for all measurement items is between 250mV and 500mV.

そのため、標準試料は、たとえば、分析装置1000(CP3000、島津製作所社製)の検出器で検出される出力電圧が、250mV~500mVの間の値となるように調製されていることが好ましい。 For this reason, it is preferable that the standard sample be prepared so that the output voltage detected by the detector of the analytical device 1000 (CP3000, manufactured by Shimadzu Corporation) is between 250 mV and 500 mV.

次に、標準粒子の濃度と散乱強度との関係について説明する。標準粒子として、平均粒子径が約270nmであって、CV値が1.6%、粒子濃度が1wt%の試料(製品番号3269A,Thermo Fisher Scientific社製)と、平均粒子径が約300nmであって、CV値が1.6%、粒子濃度が1wt%の試料(製品番号3300A,Thermo Fisher Scientific社製)と、平均粒子径が約350nmであって、CV値が1.9%、粒子濃度が1wt%の試料(製品番号3350A,Thermo Fisher Scientific社製)とを用いた。ここで、粒子濃度は、試料の質量に対する粒子の質量の割合である。試料を水で251倍希釈した液(たとえば、試料1mLを水250mLで希釈した液)を原液として、原液をさらに希釈して、複数種類のサンプルを作成した。分析装置1000(CP3000、島津製作所社製)を用いて、サンプルの散乱光を測定した。 Next, we will explain the relationship between the concentration of standard particles and scattering intensity. The standard particles used were a sample with an average particle diameter of approximately 270 nm, a CV value of 1.6%, and a particle concentration of 1 wt% (product number 3269A, Thermo Fisher Scientific), a sample with an average particle diameter of approximately 300 nm, a CV value of 1.6%, and a particle concentration of 1 wt% (product number 3300A, Thermo Fisher Scientific), and a sample with an average particle diameter of approximately 350 nm, a CV value of 1.9%, and a particle concentration of 1 wt% (product number 3350A, Thermo Fisher Scientific). Here, particle concentration is the ratio of particle mass to sample mass. A stock solution was prepared by diluting the sample 251 times with water (for example, 1 mL of sample diluted with 250 mL of water). The stock solution was further diluted to create multiple samples. The scattered light from the sample was measured using an analytical instrument 1000 (CP3000, manufactured by Shimadzu Corporation).

図9は、サンプルの散乱光を測定した結果を示すグラフである。図9の横軸は原液の希釈系列(原液の体積/(原液の体積+水の体積))を示し、縦軸は散乱強度に相当する出力電圧を示す。希釈系列0の値は、水を測定したときに得られた出力電圧を示す。図9中の点線で示した測定結果は、平均粒子径が270nmの標準粒子を用いて作成したサンプルの結果である。図9中の実線で示した測定結果は、平均粒子径が300nmの標準粒子を用いて作成したサンプルの結果である。図9中の一点鎖線で示した測定結果は、平均粒子径が350nmの標準粒子を用いて作成したサンプルの結果である。 Figure 9 is a graph showing the results of measuring the scattered light of a sample. The horizontal axis of Figure 9 shows the dilution series of the stock solution (volume of stock solution / (volume of stock solution + volume of water)), and the vertical axis shows the output voltage corresponding to the scattering intensity. The value of 0 in the dilution series shows the output voltage obtained when measuring water. The measurement results shown by the dotted line in Figure 9 are the results for a sample made using standard particles with an average particle size of 270 nm. The measurement results shown by the solid line in Figure 9 are the results for a sample made using standard particles with an average particle size of 300 nm. The measurement results shown by the dashed line in Figure 9 are the results for a sample made using standard particles with an average particle size of 350 nm.

なお、粒子濃度が1wt%の試料の比重と水の比重とが等しいとすれば、希釈系列1の試料に含まれる標準粒子の粒子濃度は、約0.004wt%(=1wt%/251)である。同様に、粒子濃度が1wt%の試料の比重と水の比重とが等しいとすれば、希釈系列0.2の試料に含まれる標準粒子の粒子濃度は約0.0008wt%(=1wt%/251×0.2)である。以下では、粒子濃度が1wt%の試料の比重と水の比重とが等しいものとして標準試料の粒子濃度を算出した。 If the specific gravity of a sample with a particle concentration of 1 wt% is equal to the specific gravity of water, the particle concentration of the standard particles contained in the sample in dilution series 1 is approximately 0.004 wt% (= 1 wt% / 251). Similarly, if the specific gravity of a sample with a particle concentration of 1 wt% is equal to the specific gravity of water, the particle concentration of the standard particles contained in the sample in dilution series 0.2 is approximately 0.0008 wt% (= 1 wt% / 251 x 0.2). Below, the particle concentrations of the standard samples are calculated assuming that the specific gravity of a sample with a particle concentration of 1 wt% is equal to the specific gravity of water.

図9に示すように、希釈系列が小さくなるほど散乱光として検出される出力電圧は低くなる。なお、希釈系列が小さいほど標準粒子の粒子濃度は低いため、換言すると、標準粒子の粒子濃度が低くなるほど散乱光として検出される出力電圧は低くなる。 As shown in Figure 9, the smaller the dilution series, the lower the output voltage detected as scattered light. Note that the smaller the dilution series, the lower the particle concentration of the standard particles. In other words, the lower the particle concentration of the standard particles, the lower the output voltage detected as scattered light.

図9に示すように、水を測定したときに得られる出力電圧は、29.6mVであった。そのため、水からの散乱の影響を下げるため、標準試料は、出力値が所定値以上となるような濃度に調製されていることが好ましい。たとえば、標準試料は、出力値が200mV以上にとなるような濃度に調製されていることが好ましい。 As shown in Figure 9, the output voltage obtained when measuring water was 29.6 mV. Therefore, to reduce the effects of scattering from water, it is preferable that the standard sample be prepared to a concentration that will result in an output value above a predetermined value. For example, it is preferable that the standard sample be prepared to a concentration that will result in an output value of 200 mV or more.

平均粒子径が270nmの標準粒子を用いた場合、希釈系列0.4(粒子濃度:約0.0016wt%)のサンプルを測定したときに得られる出力電圧は、228.1mVである。そのため、平均粒子径が270nmの標準粒子を用いた場合、粒子濃度は、0.0016wt%以上に調製されていることが好ましい。 When using standard particles with an average particle size of 270 nm, the output voltage obtained when measuring a sample in the dilution series of 0.4 (particle concentration: approximately 0.0016 wt%) is 228.1 mV. Therefore, when using standard particles with an average particle size of 270 nm, it is preferable to adjust the particle concentration to 0.0016 wt% or higher.

平均粒子径が300nmの標準粒子を用いた場合、希釈系列0.4(粒子濃度:約0.0016wt%)のサンプルを測定したときに得られる出力電圧は、207.5mVである。そのため、平均粒子径が300nmの標準粒子を用いた場合、粒子濃度は、0.0016wt%以上に調製されていることが好ましい。 When using standard particles with an average particle size of 300 nm, the output voltage obtained when measuring a sample in the dilution series of 0.4 (particle concentration: approximately 0.0016 wt%) is 207.5 mV. Therefore, when using standard particles with an average particle size of 300 nm, it is preferable to adjust the particle concentration to 0.0016 wt% or higher.

平均粒子径が350nmの標準粒子を用いた場合、希釈系列0.5(粒子濃度:約0.002wt%)のサンプルを測定したときに得られる出力電圧は、192.9mVであって、約200mVである。そのため、平均粒子径が350nmの標準粒子を用いた場合、粒子濃度は、0.002wt%以上に調製されていることが好ましい。 When using standard particles with an average particle size of 350 nm, the output voltage obtained when measuring a sample in the dilution series of 0.5 (particle concentration: approximately 0.002 wt%) is 192.9 mV, which is approximately 200 mV. Therefore, when using standard particles with an average particle size of 350 nm, it is preferable to adjust the particle concentration to 0.002 wt% or higher.

また、上述したように、標準試料は、たとえば、分析装置1000(CP3000、島津製作所社製)の検出器で検出される出力電圧の中央値が、250mV~500mVの間の値となるように調製されていることが好ましい。 Furthermore, as mentioned above, it is preferable that the standard sample be prepared so that the median output voltage detected by the detector of the analytical device 1000 (CP3000, manufactured by Shimadzu Corporation) is between 250 mV and 500 mV.

平均粒子径が270nmの標準粒子を用いた場合、希釈系列0.5(粒子濃度:約0.002wt%)~希釈系列1.0(粒子濃度:約0.004wt%)のサンプルを測定したときに得られる出力電圧は、約250mV~約500mVである。そのため、平均粒子径が270nmの標準粒子を用いた場合、粒子濃度は、0.002wt%以上0.004wt%以下に調製されていることが好ましい。 When using standard particles with an average particle size of 270 nm, the output voltage obtained when measuring samples in the dilution series 0.5 (particle concentration: approximately 0.002 wt%) to 1.0 (particle concentration: approximately 0.004 wt%) is approximately 250 mV to approximately 500 mV. Therefore, when using standard particles with an average particle size of 270 nm, it is preferable to adjust the particle concentration to between 0.002 wt% and 0.004 wt%.

平均粒子径が300nmの標準粒子を用いた場合、希釈系列0.5(粒子濃度:約0.002wt%)~希釈系列1.0(粒子濃度:約0.004wt%)のサンプルを測定したときに得られる出力電圧は、約250mV~約500mVである。そのため、平均粒子径が300nmの標準粒子を用いた場合、粒子濃度は、0.002wt%以上0.004wt%以下に調製されていることが好ましい。 When using standard particles with an average particle size of 300 nm, the output voltage obtained when measuring samples in the dilution series 0.5 (particle concentration: approximately 0.002 wt%) to 1.0 (particle concentration: approximately 0.004 wt%) is approximately 250 mV to approximately 500 mV. Therefore, when using standard particles with an average particle size of 300 nm, it is preferable to adjust the particle concentration to between 0.002 wt% and 0.004 wt%.

平均粒子径が350nmの標準粒子を用いた場合、希釈系列0.7(粒子濃度:約0.0028wt%)のサンプルを測定したときに得られる出力電圧は、261mVであり、希釈系列1(粒子濃度:約0.004wt%)のサンプルを測定したときに得られる出力電圧は、375.8mVである。そのため、平均粒子径が350nmの標準粒子を用いた場合、粒子濃度は、少なくとも、0.0028wt%以上に調製されていることが好ましい。 When using standard particles with an average particle size of 350 nm, the output voltage obtained when measuring a sample in dilution series 0.7 (particle concentration: approximately 0.0028 wt%) is 261 mV, and the output voltage obtained when measuring a sample in dilution series 1 (particle concentration: approximately 0.004 wt%) is 375.8 mV. Therefore, when using standard particles with an average particle size of 350 nm, it is preferable that the particle concentration be adjusted to at least 0.0028 wt% or higher.

このように、標準試料の濃度を調製することで、凝固反応途中の状態を模式的に作り出すことができ、測定対象の検体と類似した標準試料を用いて、較正を行うことができる。 In this way, by adjusting the concentration of the standard sample, it is possible to simulate the state during the clotting reaction, and calibration can be performed using a standard sample similar to the sample being measured.

[制御装置500が標準試料を用いて分析装置1000を較正する手順]
較正手順を説明する前に、背景技術を説明する。従来、分析装置に用いる光源として発光ダイオードが広く利用されている。ところで、様々な濃度の検体に対応する広範囲の測定領域を確保するためには、分析装置に用いる光源の発光強度を一定の範囲に保つことが必要とされる。したがって、分析装置において、光源の発光強度を適正値に較正することは非常に重要である。
[Procedure for the control device 500 to calibrate the analytical device 1000 using a standard sample]
Before describing the calibration procedure, we will explain the background art. Light-emitting diodes (LEDs) have been widely used as light sources in analytical instruments. However, to ensure a wide measurement range that can accommodate samples of various concentrations, it is necessary to maintain the emission intensity of the light source used in the analytical instrument within a certain range. Therefore, it is extremely important to calibrate the emission intensity of the light source to an appropriate value in the analytical instrument.

しかし、発光ダイオードの輝度は個体差が大きいため、製造ロットによっては、輝度が基準を逸脱するものもある。分析装置には、受光素子の出力値を補正する補正回路が設けられる場合もある。しかし、発光ダイオードの発光輝度が基準から大幅に外れる場合には、補正回路を用いたとしても、受光素子の出力値を基準値に調整することができない。したがって、補正回路の存在を考慮したとしても、一定の範囲の発光輝度を有する発光ダイオードを選定する手間がかかる。また、このことは、生産の歩留まりが悪化する要因にもなる。 However, because the brightness of light-emitting diodes varies greatly from one to another, some production lots may have brightness that deviates from the standard. Analytical devices are sometimes equipped with a correction circuit that corrects the output value of the light-receiving element. However, if the light-emitting diode's brightness deviates significantly from the standard, the output value of the light-receiving element cannot be adjusted to the standard value, even with the correction circuit. Therefore, even taking into account the existence of a correction circuit, it is still time-consuming to select light-emitting diodes that have a certain range of brightness. This can also be a factor in reducing production yields.

しかも、発光ダイオードは、経年劣化により、発光輝度が徐々に低下する。このため、受光素子の出力値が基準値となるように維持するためには、分析処理の度に、較正をする必要がある。分析装置において使用する発光ダイオードの数が多くなるほど、較正に手間がかかる。しかも、従来、補正回路による補正は、分析装置の製造時にのみ実施されることが多く、発光ダイオードの経年劣化に対して十分に対応できていなかった。 Furthermore, the brightness of light-emitting diodes gradually decreases over time due to deterioration. Therefore, to maintain the output value of the light-receiving element at a reference value, calibration is required after each analysis process. The more light-emitting diodes used in an analytical device, the more time-consuming calibration becomes. Furthermore, in the past, correction using a correction circuit was often only performed during the manufacturing of the analytical device, and this did not adequately address the deterioration of light-emitting diodes over time.

発光ダイオードの発光効率は、年々、高まる傾向にある。このため、流通する標準的な発光ダイオードの輝度も年を追って高くなる。したがって、過去に採用した発光ダイオードと同程度の発光性能を有する発光ダイオードを入手することが、年々、困難になる。新たに入手した発光ダイオードの発光輝度が高過ぎるため、分析装置に設けた当時の補正回路では、受光素子の出力値を適正値に補正できないという問題が生じる。 The luminous efficiency of light-emitting diodes tends to increase year by year. As a result, the brightness of standard light-emitting diodes in circulation also increases year by year. As a result, it is becoming more and more difficult to obtain light-emitting diodes with the same level of luminous performance as light-emitting diodes used in the past. Because the luminous brightness of newly obtained light-emitting diodes is too high, the correction circuit installed in the analytical device at the time is unable to correct the output value of the light-receiving element to the appropriate value, which is a problem.

これらの背景技術に関わる問題に鑑み、以下では、図11~図14を参照して、制御装置500が標準試料を用いて分析装置1000を較正する手順を説明する。 In light of these background art issues, the following describes the procedure by which the control device 500 calibrates the analytical device 1000 using a standard sample, with reference to Figures 11 to 14.

図10は、測定装置300および制御装置500の構成を示すブロック図である。分析装置1000の一部を構成する測定装置300は、14個の凝固ポートP3aの各々に対応する基板310を備える。基板310には、発光素子の一例となる発光ダイオード316と、受光素子の一例となるフォトダイオード314とが接続される。測定装置300は、較正装置の一例となる制御装置500と双方に通信可能に構成される。図5にも示したように、制御装置500には、表示装置520と、キーボード530とが接続される。 Figure 10 is a block diagram showing the configuration of the measuring device 300 and the control device 500. The measuring device 300, which constitutes part of the analytical device 1000, includes a board 310 corresponding to each of the 14 coagulation ports P3a. Connected to the board 310 are light-emitting diodes 316, which are an example of light-emitting elements, and photodiodes 314, which are an example of light-receiving elements. The measuring device 300 is configured to be able to communicate with the control device 500, which is an example of a calibration device. As also shown in Figure 5, the control device 500 is connected to a display device 520 and a keyboard 530.

制御装置500は、測定または較正対象の凝固ポートP3aに対応する基板310に対して、測定または較正に関する指令を出力する。ユーザは、キーボード530を操作することにより、測定または較正対象の凝固ポートP3aを選択する。 The control device 500 outputs a measurement or calibration command to the substrate 310 corresponding to the coagulation port P3a to be measured or calibrated. The user selects the coagulation port P3a to be measured or calibrated by operating the keyboard 530.

図11は、測定装置300および制御装置500のハードウエア構成をより詳細に示すブロック図である。図11においては、測定装置300に含まれる複数の基板310のうちの1つを例示している。図5に示した測定装置300の各種の構成は、図11に示されるハードウエアによって実現される。 Figure 11 is a block diagram showing the hardware configuration of the measurement device 300 and the control device 500 in more detail. Figure 11 illustrates one of the multiple boards 310 included in the measurement device 300. The various components of the measurement device 300 shown in Figure 5 are realized by the hardware shown in Figure 11.

測定装置300が備える基板310には、マイクロコンピュータ311と、I/V変換回路313と、増幅回路315と、電流制御回路319とが搭載される。電流制御回路319は発光ダイオード316と接続される。I/V変換回路313はフォトダイオード314と接続される。発光ダイオード316およびフォトダイオード314は、格納部312と共に凝固ポートP3aに格納されている(図4参照)。なお、図10に示される測定装置300には、複数のマイクロコンピュータ310が設けられている。各マイクロコンピュータ311は、発光ダイオード316およびフォトダイオード314のそれぞれの組み合せに対応する。しかし、測定装置300に設けた1つのマイクロコンピュータ311に全ての発光ダイオード316およびフォトダイオード314を接続してもよい。 The measuring device 300 includes a board 310 on which a microcomputer 311, an I/V conversion circuit 313, an amplifier circuit 315, and a current control circuit 319 are mounted. The current control circuit 319 is connected to a light-emitting diode 316. The I/V conversion circuit 313 is connected to a photodiode 314. The light-emitting diode 316 and the photodiode 314 are stored in the coagulation port P3a together with the storage section 312 (see FIG. 4). The measuring device 300 shown in FIG. 10 is provided with multiple microcomputers 310. Each microcomputer 311 corresponds to a respective combination of the light-emitting diodes 316 and the photodiodes 314. However, all of the light-emitting diodes 316 and the photodiodes 314 may be connected to a single microcomputer 311 provided in the measuring device 300.

分析装置1000を較正する場合、格納部312には、標準試料が格納される。標準試料として、たとえば、本実施の形態としてこれまでに説明した標準試料が用いられる。 When calibrating the analytical device 1000, a standard sample is stored in the storage unit 312. For example, the standard sample described above in this embodiment may be used as the standard sample.

電流制御回路319は、発光ダイオード316に流す順方向電流Ifを制御する。増幅回路315は、入力された電圧の所定の倍率幅の範囲で増幅するように構成されている。 The current control circuit 319 controls the forward current If flowing through the light-emitting diode 316. The amplifier circuit 315 is configured to amplify the input voltage within a predetermined range of magnification.

マイクロコンピュータ311は、制御装置500と通信する。制御装置500は通信ポート535を介して種々の指令をマイクロコンピュータ311へ出力する。種々の指令には、発光ダイオード316に流す順方向電流Ifの値に関する指令と、増幅回路315の増幅倍率に関する指令とが含まれる。順方向電流Ifの値および増幅回路315の増幅倍率は、たとえば、ユーザによって指定される。ユーザは、たとえば、キーボード530を操作することにより、順方向電流Ifの値および増幅回路315の増幅倍率を指定する。ユーザが指定した値は、較正情報の一部として記憶装置534に格納される。 The microcomputer 311 communicates with the control device 500. The control device 500 outputs various commands to the microcomputer 311 via the communication port 535. The various commands include commands regarding the value of the forward current If to be passed through the light-emitting diode 316 and commands regarding the amplification factor of the amplifier circuit 315. The value of the forward current If and the amplification factor of the amplifier circuit 315 are specified, for example, by the user. The user specifies the value of the forward current If and the amplification factor of the amplifier circuit 315, for example, by operating the keyboard 530. The values specified by the user are stored in the memory device 534 as part of the calibration information.

マイクロコンピュータ311は、制御装置500の指令に基づいて、電流制御回路319が流す順方向電流Ifの値を設定し、増幅回路315の増幅倍率を設定する。電流制御回路319は、設定された大きさの順方向電流Ifを発光ダイオード316に流す。これにより、発光ダイオード316は、発光ダイオード316が有する輝度特性および順方向電流Ifの大きさに応じた輝度で発光する。 Based on instructions from the control device 500, the microcomputer 311 sets the value of the forward current If to be passed by the current control circuit 319 and sets the amplification factor of the amplifier circuit 315. The current control circuit 319 passes the set magnitude of forward current If through the light-emitting diode 316. This causes the light-emitting diode 316 to emit light at a brightness that corresponds to the brightness characteristics of the light-emitting diode 316 and the magnitude of the forward current If.

発光ダイオード316の光は格納部312内の標準試料に照射される。標準試料で生じた散乱光の一部は、フォトダイオード314に入射する。フォトダイオード314には、入射光の大きさに応じた電流が流れる。I/V変換回路313は、フォトダイオード314が出力する電流を電圧Voutに変換する。 Light from the light-emitting diode 316 is irradiated onto the standard sample in the storage section 312. A portion of the scattered light generated by the standard sample is incident on the photodiode 314. A current corresponding to the magnitude of the incident light flows through the photodiode 314. The I/V conversion circuit 313 converts the current output by the photodiode 314 into a voltage Vout.

I/V変換回路313は、電圧Voutを増幅回路315に伝達する。増幅回路315は、設定された倍率で電圧Voutを増幅する。その結果、電圧Voutは、電圧Vgoutに増幅される。電圧Vgoutは、マイクロコンピュータ311に入力される。マイクロコンピュータ311は、入力された電圧VgoutをA/D変換する。マイクロコンピュータ311は、A/D変換した後の値を検出部の検出値として制御装置500に出力する。 The I/V conversion circuit 313 transmits the voltage Vout to the amplifier circuit 315. The amplifier circuit 315 amplifies the voltage Vout by a set magnification. As a result, the voltage Vout is amplified to the voltage Vgout. The voltage Vgout is input to the microcomputer 311. The microcomputer 311 A/D converts the input voltage Vgout. The microcomputer 311 outputs the A/D converted value to the control device 500 as the detection value of the detection unit.

制御装置500は、測定装置300から検出値を取得する。制御装置500は、取得した検出値を較正情報の一部として記憶装置534に格納する。また、制御装置500は、取得した検出値を表示装置520に表示する。ユーザは、検出値が基準値に一致しているか否かを判断する。もちろん、基準値に対して一定の幅を持たせた範囲に検出値が属していれば、分析装置1000を適切に較正できたと判断してもよい。 The control device 500 acquires the detection value from the measurement device 300. The control device 500 stores the acquired detection value in the storage device 534 as part of the calibration information. The control device 500 also displays the acquired detection value on the display device 520. The user determines whether the detection value matches the reference value. Of course, if the detection value falls within a range with a certain width around the reference value, it may be determined that the analysis device 1000 has been properly calibrated.

ユーザは、検出値が基準値に一致していない、あるいは、検出値が一定の基準範囲内にないと判断した場合、順方向電流Ifおよび増幅倍率を設定し直して、再度、制御装置500に分析装置1000の較正を指示することできる。 If the user determines that the detected value does not match the reference value or is not within a certain reference range, they can reset the forward current If and amplification factor and instruct the control device 500 to calibrate the analysis device 1000 again.

図12は、制御装置500が分析装置1000に含まれる測定装置300を較正する手順を示すフローチャートである。初めに、制御装置500は、対象とする測光ポート番号の入力を検出する(ステップS101)。ステップS101において、事前に標準試料が収容された格納部に対応するポートが選択される。選択された測光ポートに対応する格納部に標準試料を収容したか否かを確認するための通知を、ユーザに対して行ってもよい。測光ポート番号は、たとえば、ユーザがキーボード530を操作することによって制御装置500に入力される。制御装置500は、入力された測光ポート番号に基づいて、測定装置300に設けられる複数の基板310のうちから較正の指令を出力する基板310を特定する。 Figure 12 is a flowchart showing the procedure by which the control device 500 calibrates the measuring device 300 included in the analytical device 1000. First, the control device 500 detects the input of the target photometric port number (step S101). In step S101, a port corresponding to a storage unit in which a standard sample has been previously stored is selected. A notification may be sent to the user to confirm whether or not a standard sample has been stored in the storage unit corresponding to the selected photometric port. The photometric port number is input to the control device 500, for example, by the user operating the keyboard 530. Based on the input photometric port number, the control device 500 identifies the board 310 from which to output a calibration command, from among the multiple boards 310 provided in the measuring device 300.

次に、制御装置500は、発光ダイオード316に流す順方向電流Ifおよび増幅回路315の増幅倍率を設定する画面を表示装置520に表示する(ステップS102)。このとき、制御装置500は、較正対象の測光ポート番号を画面に表示してもよい。 Next, the control device 500 displays on the display device 520 a screen for setting the forward current If to be passed through the light-emitting diode 316 and the amplification factor of the amplifier circuit 315 (step S102). At this time, the control device 500 may also display on the screen the photometry port number to be calibrated.

次に、制御装置500は、順方向電流Ifの入力を受付け、順方向電流Ifを調整する指令信号を測定装置300に出力する(ステップS103)。測定装置300は、この指令信号に応じた順方向電流Ifを対象の電流制御回路319に設定する。 Next, the control device 500 receives the input of the forward current If and outputs a command signal to the measuring device 300 to adjust the forward current If (step S103). The measuring device 300 sets the forward current If corresponding to this command signal in the target current control circuit 319.

次に、制御装置500は、増幅倍率の入力を受付け、増幅倍率を調整する指令信号を測定装置300に出力する(ステップS104)。測定装置300は、この指令信号に応じた増幅倍率を対象の増幅回路315に設定する。 Next, the control device 500 receives the input of the amplification factor and outputs a command signal to the measuring device 300 to adjust the amplification factor (step S104). The measuring device 300 sets the amplification factor corresponding to this command signal in the target amplifier circuit 315.

次に、制御装置500は、光を照射する指示を検出する(ステップS105)。光を照射する指示は、たとえば、ユーザがキーボード530を操作することによって制御装置500に入力される。次に、制御装置500は、対象とする測光ポート番号の格納部に光を照射する指令を測定装置300に出力する(ステップS106)。 Next, the control device 500 detects an instruction to emit light (step S105). The instruction to emit light is input to the control device 500, for example, by the user operating the keyboard 530. Next, the control device 500 outputs a command to the measurement device 300 to emit light to the storage section of the target photometry port number (step S106).

これにより、設定された大きさの順方向電流Ifが発光ダイオード316に流れる。発光ダイオード316の光は格納部312内の標準試料に照射され、散乱光が生じる。フォトダイオード314によって、散乱光の大きさに応じた信号が検出される。検出された信号は、I/V変換回路313、増幅回路315、およびマイクロコンピュータ311を経て、制御装置500に出力される。増幅回路315では、設定された倍率で信号が増幅される。 As a result, a forward current If of the set magnitude flows through the light-emitting diode 316. The light from the light-emitting diode 316 is irradiated onto the standard sample in the storage section 312, generating scattered light. A signal corresponding to the magnitude of the scattered light is detected by the photodiode 314. The detected signal is output to the control device 500 via the I/V conversion circuit 313, amplifier circuit 315, and microcomputer 311. The amplifier circuit 315 amplifies the signal by the set magnification.

制御装置500は、測定装置300から検出値を受信する(ステップS107)。次に、制御装置500は、検出値を画面に表示し(ステップS108)、本フローチャートに基づく処理を終了する。ユーザは検出値と較正の基準値とを比較し、必要に応じて、順方向電流Ifおよび増幅倍率を見直し、再度、本フローチャートに基づく処理を制御装置500に実行させる。これにより、ユーザは、標準試料に対して得られる検出値を基準値に較正することができる。 The control device 500 receives the detection value from the measuring device 300 (step S107). Next, the control device 500 displays the detection value on the screen (step S108) and ends the processing based on this flowchart. The user compares the detection value with the calibration reference value, and if necessary, reviews the forward current If and amplification factor, and causes the control device 500 to execute the processing based on this flowchart again. This allows the user to calibrate the detection value obtained for the standard sample to the reference value.

以上、説明したように、本実施の形態によれば、発光ダイオード316の順方向電流Ifを基準値との関係において適正値に調整することができる。併せて、本実施の形態によれば、増幅回路315の増幅倍率を適正値に調整することにより、標準試料を用いた場合に出力される検出値を基準値に較正することができる。 As described above, according to this embodiment, the forward current If of the light-emitting diode 316 can be adjusted to an appropriate value in relation to a reference value. Additionally, according to this embodiment, by adjusting the amplification factor of the amplifier circuit 315 to an appropriate value, the detection value output when a standard sample is used can be calibrated to the reference value.

このため、発光強度に関して個体差のある発光ダイオード316を採用する場合であっても、分析装置1000を適正に較正できる。また、制御装置500を用いて較正作業を進めることができるため、発光ダイオード316の経年劣化に対応して、都度、分析装置1000を較正することも容易である。さらに、発光輝度が高過ぎると思われる発光ダイオードしか入手できない場合であっても、順方向電流Ifを調整することによって、分析装置1000を適正に較正することができる。 For this reason, even when using light-emitting diodes 316 that vary in light emission intensity, the analytical device 1000 can be properly calibrated. Furthermore, because the calibration process can be performed using the control device 500, it is easy to calibrate the analytical device 1000 each time to address deterioration of the light-emitting diodes 316 over time. Furthermore, even if the only light-emitting diodes available are those that are deemed to have excessively high light emission brightness, the analytical device 1000 can be properly calibrated by adjusting the forward current If.

[変形例]
次に、図13および図14を用いて、変形例を説明する。先に説明した図11の処理手順では、ユーザが検出値と較正の基準値とを比較し、必要に応じて、順方向電流Ifおよび増幅倍率をユーザが見直す必要がある。ここでは、変形例として、それらのユーザの負担を軽減するために、標準試料に対して得られる検出値を自動的に基準値に較正する手法を説明する。なお、本変形例のハードウエア構成は、図10および図11に示す構成と同じである。
[Modification]
Next, a modified example will be described with reference to Figures 13 and 14. In the processing procedure of Figure 11 described above, the user must compare the detected value with the calibration reference value and, if necessary, revise the forward current If and the amplification factor. Here, as a modified example, a method will be described in which the detected value obtained for a standard sample is automatically calibrated to the reference value in order to reduce the burden on the user. The hardware configuration of this modified example is the same as that shown in Figures 10 and 11.

図13は、較正に用いる基準値の入力を制御装置500が受け付ける手順を示すフローチャートである。初めに、制御装置500は、基準値を設定する画面を表示装置520に表示する(ステップS201)。ユーザは、キーボード530を操作することにより、表示装置520の画面において基準値を入力することができる。 Figure 13 is a flowchart showing the procedure by which the control device 500 accepts input of a reference value to be used for calibration. First, the control device 500 displays a screen for setting the reference value on the display device 520 (step S201). The user can input the reference value on the screen of the display device 520 by operating the keyboard 530.

次に、制御装置500は、基準値の入力を検出する(ステップS202)。次に、制御装置500は、基準値を記憶装置534に格納し(ステップS203)、本フローチャートに基づく処理を終える。 Next, the control device 500 detects the input of a reference value (step S202). Next, the control device 500 stores the reference value in the storage device 534 (step S203), and ends the processing based on this flowchart.

制御装置500は、測光ポート番号別に基準値を入力することができる画面を表示装置520に表示してもよい。また、制御装置500は、基準値に加えて、較正に用いる標準試料の濃度を入力することができる画面を表示装置520に表示してもよい。また、制御装置500は、測光ポート番号別に、基準値(500mv)、Vout1、Vout2、散乱体濃度、および現在の電圧値を表示装置520に表示してもよい。 The control device 500 may display on the display device 520 a screen that allows the user to input a reference value for each photometry port number. The control device 500 may also display on the display device 520 a screen that allows the user to input the concentration of a standard sample to be used for calibration in addition to the reference value. The control device 500 may also display on the display device 520 the reference value (500 mV), Vout1, Vout2, scatterer concentration, and current voltage value for each photometry port number.

たとえば、ユーザは、測光ポート番号1に対応する格納部312に第1濃度の標準試料を格納したとき、第1濃度の標準試料に対して光を照射したときに得られる検出値として第1基準値を設定するかもしれない。このとき、ユーザは、キーボード530を操作することにより、表示装置520の画面において、測光ポート番号1に対応する標準試料の濃度として第1濃度を入力し、測光ポート番号1に対応する基準値として第1基準値を入力することができる。制御装置500は、これら第1濃度および第1基準値を較正情報として、測光ポート番号1と対応付けて記憶装置534に格納することが望ましい。さらに、制御装置500は、測光ポート番号別に較正情報を読み出し、測光ポート番号別に検出値を較正できることが望ましい。 For example, when a standard sample of a first concentration is stored in storage unit 312 corresponding to photometry port number 1, a user may set a first reference value as the detection value obtained when light is irradiated onto the standard sample of the first concentration. In this case, the user can input the first concentration as the concentration of the standard sample corresponding to photometry port number 1 on the screen of display device 520 by operating keyboard 530, and input the first reference value as the reference value corresponding to photometry port number 1. It is desirable that control device 500 stores this first concentration and first reference value as calibration information in memory device 534, correlating them with photometry port number 1. Furthermore, it is desirable that control device 500 be able to read out calibration information for each photometry port number and calibrate the detection value for each photometry port number.

図14は、制御装置500が基準値に基づいて分析装置1000に含まれる測定装置300を較正する手順を示すフローチャートである。制御装置500は、図13のステップS203にて格納した基準値に基づいて、以下に説明する手順に従って較正を自動的に実行する。 Figure 14 is a flowchart showing the procedure by which the control device 500 calibrates the measurement device 300 included in the analysis device 1000 based on the reference value. The control device 500 automatically performs calibration according to the procedure described below, based on the reference value stored in step S203 of Figure 13.

初めに、制御装置500は、較正タイミングか否かを判定する(ステップS211)。較正タイミングは、様々に設定することができる。たとえば、特定の日時を較正タイミングとして設定してもよい。また、分析装置1000を初期化したタイミングを較正タイミングとして設定してもよい。 First, the control device 500 determines whether it is time to calibrate (step S211). The calibration timing can be set in various ways. For example, a specific date and time may be set as the calibration timing. Alternatively, the timing when the analysis device 1000 is initialized may be set as the calibration timing.

制御装置500は、較正タイミングでないと判定した場合、本フローチャートに基づく処理を終了する。制御装置500は、較正タイミングであると判定した場合、対象とする測光ポート番号を選択する(ステップS212)。たとえば、制御装置500は、はじめに測光ポート番号1を選択してもよい。この場合、次回、較正を実行するときに、選択する測光ポート番号を2に更新してもよい。また、制御装置500は、記憶装置534に格納されているユーザの指示に従い、較正の対象とする測光ポート番号を選択してもよい。 If the control device 500 determines that it is not time to perform calibration, it terminates processing based on this flowchart. If the control device 500 determines that it is time to perform calibration, it selects the target photometry port number (step S212). For example, the control device 500 may initially select photometry port number 1. In this case, the next time calibration is performed, the selected photometry port number may be updated to 2. The control device 500 may also select the photometry port number to be calibrated in accordance with user instructions stored in the storage device 534.

次に、制御装置500は、増幅回路315の増幅倍率を所定値に設定する(ステップS213)。ここでは、たとえば、増幅倍率を2に設定してもよい。ここで設定される増幅倍率を予め記憶装置534に格納しておいてもよい。 Next, the control device 500 sets the amplification factor of the amplifier circuit 315 to a predetermined value (step S213). Here, for example, the amplification factor may be set to 2. The amplification factor set here may be stored in advance in the storage device 534.

次に、制御装置500は、順方向電流Ifを所定値に設定する(ステップS214)。発光ダイオードの特性などを考慮した標準的な値を所定値としてもよい。ここで設定される順方向電流Ifの値を予め記憶装置534に格納しておいてもよい。次に、制御装置500は、対象とする測光ポート番号の格納部312に対して光を照射する指令を測定装置300に出力する(ステップS215)。 Next, the control device 500 sets the forward current If to a predetermined value (step S214). The predetermined value may be a standard value that takes into account the characteristics of the light-emitting diode, etc. The value of the forward current If set here may be stored in advance in the memory device 534. Next, the control device 500 outputs a command to the measurement device 300 to irradiate light onto the storage unit 312 of the target photometry port number (step S215).

これにより、設定された大きさの順方向電流Ifが発光ダイオード316に流れる。発光ダイオード316の光は格納部312内の標準試料に照射され、散乱光が生じる。フォトダイオード314によって、散乱光の大きさに応じた信号が検出される。検出された信号は、I/V変換回路313、増幅回路315、およびマイクロコンピュータ311を経て、制御装置500に出力される。 As a result, a forward current If of the set magnitude flows through the light-emitting diode 316. The light from the light-emitting diode 316 is irradiated onto the standard sample in the storage section 312, generating scattered light. A signal corresponding to the magnitude of the scattered light is detected by the photodiode 314. The detected signal is output to the control device 500 via the I/V conversion circuit 313, amplifier circuit 315, and microcomputer 311.

次に、制御装置500は、測定装置300から検出値を受信する(ステップS216)。次に、制御装置500は、検出値が目標範囲内にあるか否かを判定する(ステップS217)。制御装置500は、検出値が目標範囲内にあるか否かを、基準値と増幅回路315の増幅性能とを用いて判定する。 Next, the control device 500 receives the detection value from the measurement device 300 (step S216). Next, the control device 500 determines whether the detection value is within the target range (step S217). The control device 500 determines whether the detection value is within the target range using the reference value and the amplification performance of the amplifier circuit 315.

検出値が目標範囲内にあるか否かの判定手法について、具体例を挙げて説明する。較正には、本実施の形態に関わる標準試料を用いる。標準試料を用いたときに得られる検出値の基準値を、たとえば、500mvとする。増幅回路315は入力信号を、たとえば、2倍~22倍の範囲で増幅することができる性能を備えるものとする。 A specific example will be used to explain how to determine whether a detection value is within the target range. A standard sample according to this embodiment is used for calibration. The reference value for the detection value obtained when using the standard sample is set to, for example, 500 mV. The amplifier circuit 315 is capable of amplifying the input signal by, for example, 2 to 22 times.

このとき、増幅回路315の増幅機能を利用して、増幅回路315から出力される電圧Vgoutの値を500mvに調整できるようにするためには、I/V変換回路313から増幅回路315に出力される電圧Voutが「500/22」mv以上である必要がある。この電圧をVout1とする。 In this case, in order to use the amplification function of amplifier circuit 315 to adjust the value of voltage Vgout output from amplifier circuit 315 to 500 mV, the voltage Vout output from I/V conversion circuit 313 to amplifier circuit 315 must be 500/22 mV or higher. This voltage is referred to as Vout1.

また、I/V変換回路313から増幅回路315に出力される電圧Voutが高過ぎる場合にも、検出値を基準値に調整することができない。たとえば、増幅回路315の増幅倍率が最低倍率の2倍に設定されているとき、電圧Voutが「500/2」を超えると、増幅回路315から出力される電圧Vgoutは基準値を超えてしまう。このため、増幅回路315から出力される電圧Vgoutの値を500mvに調整できるようにするためには、I/V変換回路313から増幅回路315に出力される電圧Voutが「500/2」mv以下である必要がある。この電圧をVout2とする。 Furthermore, if the voltage Vout output from the I/V conversion circuit 313 to the amplifier circuit 315 is too high, the detected value cannot be adjusted to the reference value. For example, when the amplification factor of the amplifier circuit 315 is set to twice the minimum factor, if the voltage Vout exceeds "500/2", the voltage Vgout output from the amplifier circuit 315 will exceed the reference value. Therefore, in order to be able to adjust the value of the voltage Vgout output from the amplifier circuit 315 to 500 mV, the voltage Vout output from the I/V conversion circuit 313 to the amplifier circuit 315 must be "500/2" mV or less. This voltage is referred to as Vout2.

たとえば、ステップS213にて設定された増幅倍率が2であり、ステップS217で検出された値(Vgout)が40mvである場合、I/V変換回路313から増幅回路315に出力された電圧Voutは、「40/2」mvである。このとき、「(40/2)<Vout1」が成立する。現状では、I/V変換回路313から増幅回路315に出力される電圧Voutが低過ぎるため、増幅回路315の増幅倍率を調整しても、検出値を基準値に較正することができない。この場合、制御装置500は、検出値が目標範囲内にないと判定する。一方、I/V変換回路313から増幅回路315に出力された電圧Voutが「Vout1≦Vout≦Vout2」を満たす場合、制御装置500は、検出値が目標範囲内にあると判定する。なお、散乱体の濃度に応じて、基準値Vout1≦Vout≦Vout2(たとえば、500mV)は、線形的に変化する。 For example, if the amplification factor set in step S213 is 2 and the value (Vgout) detected in step S217 is 40 mV, the voltage Vout output from the I/V conversion circuit 313 to the amplifier circuit 315 is 40/2 mV. In this case, "(40/2) < Vout1" holds. Currently, the voltage Vout output from the I/V conversion circuit 313 to the amplifier circuit 315 is too low, so adjusting the amplification factor of the amplifier circuit 315 does not allow the detected value to be calibrated to the reference value. In this case, the control device 500 determines that the detected value is not within the target range. On the other hand, if the voltage Vout output from the I/V conversion circuit 313 to the amplifier circuit 315 satisfies "Vout1 ≦ Vout ≦ Vout2," the control device 500 determines that the detected value is within the target range. Note that the reference value Vout1≦Vout≦Vout2 (for example, 500 mV) changes linearly depending on the concentration of scatterers.

Vout1~Vout2の範囲内で、基準値の幅をユーザが自由に設定できるように、制御装置500を構成してもよい。順方向電流Ifをできるだけ小さくすると、LEDの寿命が延びるため、一般的にVoutは、Vout1に近い方が望まれる。しかし、もともと光量が小さいLEDでは、順方向電流Ifが小さいと(光量が小さいと)、LEDの点灯時にフォトダイオードの出力にOFFからONに切り替わる際とONからOFFに切り替わる際にノイズが出ることが観測されている。そのため、光量が小さいLEDの順方向電流Ifは敢えてVout1付近に位置させず、Vout2側に設定したいという要求がある。基準値の幅を自由に設定できれば、順方向電流Ifと増幅度のウェイトとを自由に変更できるので、より柔軟な対応が可能になる。 The control device 500 may be configured so that the user can freely set the range of the reference value within the range of Vout1 to Vout2. Because minimizing the forward current If extends the life of the LED, it is generally desirable for Vout to be closer to Vout1. However, with LEDs that inherently have a low light output, it has been observed that if the forward current If is small (light output is low), noise occurs in the photodiode output when the LED is turned on and when it switches from OFF to ON and ON to OFF. For this reason, there is a demand to set the forward current If of LEDs with a low light output closer to Vout2, rather than positioning it near Vout1. If the range of the reference value can be freely set, the weighting of the forward current If and amplification degree can be freely changed, allowing for greater flexibility.

このように、制御装置500は、基準値と、ステップS213で設定した増幅倍率とに基づいて、ステップS216で受信した検出値が目標範囲内にあるか否かを判定する(ステップS217)。なお、基準値に裕度を設定してもよい。裕度を持たせた基準範囲として、たとえば、500±25mvという範囲を採用してもよい。 In this way, the control device 500 determines whether the detection value received in step S216 is within the target range based on the reference value and the amplification factor set in step S213 (step S217). Note that a tolerance may be set for the reference value. For example, a range of 500 ± 25 mV may be adopted as the reference range with a tolerance.

ステップS216で受信した検出値が目標範囲内にないと判定した場合、制御装置500は、発光ダイオード316の順方向電流Ifを調整する指令信号を測定装置300へ出力する(ステップS218)。具体的には、制御装置500は、ステップS217の判定結果を考慮し、検出値が目標範囲内に入るように調整した順方向電流Ifの値を測定装置300へ出力する。測定装置300は、制御装置500から受信した指令に基づいて、順方向電流Ifの値を設定し直す。これにより、発光ダイオード316の輝度が適正値に調整される。制御装置500は、その後、ステップ215において、再度、光を照射する指令を出力する。これにより、発光ダイオード316から光が再度、標準試料に照射される。制御装置500は、再度、ステップS217にて、検出値が目標範囲内にあるか否かを判定する。 If the control device 500 determines in step S216 that the detected value received is not within the target range, it outputs a command signal to the measuring device 300 to adjust the forward current If of the light-emitting diode 316 (step S218). Specifically, the control device 500 takes into account the determination result of step S217 and outputs to the measuring device 300 a value of the forward current If adjusted so that the detected value falls within the target range. The measuring device 300 resets the value of the forward current If based on the command received from the control device 500. This adjusts the brightness of the light-emitting diode 316 to an appropriate value. The control device 500 then outputs a command to irradiate light again in step S215. This causes the light-emitting diode 316 to irradiate the standard sample with light again. The control device 500 again determines in step S217 whether the detected value is within the target range.

制御装置500は、検出値が目標範囲内にあると判定した場合、検出値を基準値に一致させるための増幅倍率を算出する(ステップS219)。算出値は、たとえば、「基準値/検出値」を算出することによって得られる。次に、制御装置500は、算出した増幅倍率を増幅回路315に設定し(ステップS220)、本フローチャートに基づく処理を終了する。以上の処理が実行されることにより、発光ダイオード316の輝度および増幅回路315の増幅倍率が適正値に較正される。 If the control device 500 determines that the detected value is within the target range, it calculates the amplification factor to match the detected value with the reference value (step S219). The calculated value is obtained, for example, by dividing the reference value by the detected value. Next, the control device 500 sets the calculated amplification factor in the amplifier circuit 315 (step S220), and ends the processing based on this flowchart. By performing the above processing, the brightness of the light-emitting diode 316 and the amplification factor of the amplifier circuit 315 are calibrated to appropriate values.

以上、説明した変形例によれば、制御装置500によって自動的に較正作業が進められるため、ユーザの作業負担をより一層、軽減することができる。その結果、較正作業を定期的にすることが容易となる。また、較正の回数を増やすことにより、分析装置1000の分析精度を維持することができる。さらに、複数の凝固ポートP3aのそれぞれを対象にして定期的に較正作業をすることにより、凝固ポート間での精度の格差が低い状態を維持することができる。 In the modified example described above, the calibration process is automatically performed by the control device 500, further reducing the workload on the user. As a result, it becomes easier to perform calibration processes regularly. In addition, by increasing the number of calibrations, the analytical accuracy of the analyzer 1000 can be maintained. Furthermore, by performing calibration processes periodically for each of the multiple coagulation ports P3a, it is possible to maintain a low level of accuracy discrepancy between the coagulation ports.

また、変形例によれば、較正が自動で行われるため、様々な濃度の標準試料を用いて、図9に示されるような希釈系列に関する測定結果を得るための作業も容易に行うことができる。その結果、様々な濃度の標準試料を用いて図9に示されるような希釈系列を作成し、多点で図9に示されるグラフの直線性を調整および維持することが可能になる。また、散乱体の調整を手動で行うのではなく、散乱体の原液を装置にセットし、自動希釈で多点較正することによって、自動較正、多点較正、および定期較正を一度に実現することも可能になる。 In addition, according to the modified example, because calibration is performed automatically, it is easy to obtain measurement results for a dilution series such as that shown in Figure 9 using standard samples of various concentrations. As a result, it is possible to create a dilution series such as that shown in Figure 9 using standard samples of various concentrations, and adjust and maintain the linearity of the graph shown in Figure 9 at multiple points. Furthermore, rather than manually adjusting the scatterer, it is possible to set the original solution of the scatterer in the device and perform multi-point calibration using automatic dilution, thereby achieving automatic calibration, multi-point calibration, and regular calibration all at once.

これまで、図11~図14を参照して、較正装置の一例となる制御装置500が標準試料を用いて分析装置1000を較正する手順を説明した。これまでに説明したような標準粒子を含む標準試料を使用することによって、NISTにトレーサブルな測定値を取得するための較正装置を提供でき、その結果、NISTにトレーサブルな分析装置1000の状態を維持できる。 So far, with reference to Figures 11 to 14, we have described the procedure by which the control device 500, which is an example of a calibration device, calibrates the analytical device 1000 using a standard sample. By using a standard sample containing standard particles as described above, it is possible to provide a calibration device for obtaining measurements that are traceable to NIST, and as a result, it is possible to maintain the analytical device 1000 in a state that is traceable to NIST.

本実施の形態では、1つの凝固ポートP3a内に1つの発光ダイオード316が収容される例を挙げた。しかし、1つの凝固ポートP3a内に複数の発光ダイオードを収容してもよい。その場合、第1波長の光を照射する第1発光ダイオードと、第1波長と異なる第2波長の光を照射する第2発光ダイオードとを1つの凝固ポートP3a内に収容してもよい。このように構成した場合、複数の発光ダイオードの各々に対する順方向電流Ifを調整できるよう、制御装置500を構成することが望ましい。 In this embodiment, an example has been given in which one light-emitting diode 316 is housed within one coagulation port P3a. However, multiple light-emitting diodes may be housed within one coagulation port P3a. In this case, a first light-emitting diode that emits light of a first wavelength and a second light-emitting diode that emits light of a second wavelength different from the first wavelength may be housed within one coagulation port P3a. In such a configuration, it is desirable to configure the control device 500 so that the forward current If for each of the multiple light-emitting diodes can be adjusted.

制御装置500は、凝固ポートP3aに関する較正の手順を比色ポートP3bにも適用し、比色ポートP3bを対象として較正できる機能を備えてもよい。 The control device 500 may also have the ability to apply the calibration procedure for the coagulation port P3a to the colorimetric port P3b, enabling calibration of the colorimetric port P3b as the target.

発光ダイオード316の輝度を調整できるようにする機構の一例として、本実施の形態では電流制御回路319を挙げた。発光ダイオード316の輝度を調整できるようにする機構の他の例として、発光ダイオード316に設ける可変抵抗を挙げることができる。 In this embodiment, the current control circuit 319 is given as an example of a mechanism that allows the brightness of the light-emitting diode 316 to be adjusted. Another example of a mechanism that allows the brightness of the light-emitting diode 316 to be adjusted is a variable resistor provided in the light-emitting diode 316.

たとえば、可変抵抗の抵抗値を調整するための操作部を可変抵抗に設けてもよい。操作部を操作することにより、抵抗値が変化し、その結果、発光ダイオード316に流れる順方向電流Ifが調整される。これにより、発光ダイオード316の輝度を調整することが可能になる。制御装置500からの指令信号を入力可能なデジタル可変抵抗装置を発光ダイオード316に設けてもよい。この場合、デジタル可変抵抗装置は、制御装置500からの指令信号に応じて、可変抵抗値を調整する。その結果、発光ダイオード316に流れる順方向電流Ifが調整される。これにより、発光ダイオード316の輝度を調整することが可能になる。 For example, the variable resistor may be provided with an operating unit for adjusting the resistance value of the variable resistor. Operating the operating unit changes the resistance value, thereby adjusting the forward current If flowing through the light-emitting diode 316. This makes it possible to adjust the brightness of the light-emitting diode 316. The light-emitting diode 316 may be provided with a digital variable resistor device that can receive command signals from the control device 500. In this case, the digital variable resistor device adjusts the variable resistance value in response to the command signal from the control device 500. As a result, the forward current If flowing through the light-emitting diode 316 is adjusted. This makes it possible to adjust the brightness of the light-emitting diode 316.

本実施の形態では、較正装置の一例として、分析装置1000に接続される制御装置500を挙げた。しかし、上述した較正機能を備える制御装置500を分析装置1000に設けてもよい。たとえば、測定装置300に制御装置500の較正機能を内蔵してもよい。 In this embodiment, the control device 500 connected to the analysis device 1000 is given as an example of a calibration device. However, the control device 500 having the above-mentioned calibration function may also be provided in the analysis device 1000. For example, the calibration function of the control device 500 may be built into the measurement device 300.

[態様]
上述した実施の形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
[Aspects]
It will be understood by those skilled in the art that the above-described embodiments are specific examples of the following aspects.

(第1項)一態様に係る較正方法は、試料を格納する格納部と、前記格納部に格納された試料に光を照射する光源と、試料からの散乱光を測定する検出部とを備える分析装置を較正する較正方法である。較正方法は、粒子径の分布が所定範囲内となるように調製された標準粒子を液体中に分散させた標準試料を格納部に格納する工程と、格納部に標準試料を格納したときに得られる検出部の検出値を取得する工程と、検出値が予め定められた値となるように分析装置を較正する工程とを含む。 (Section 1) One aspect of the calibration method is a method for calibrating an analytical device that includes a storage unit for storing a sample, a light source for irradiating light onto the sample stored in the storage unit, and a detection unit for measuring scattered light from the sample. The calibration method includes the steps of: storing a standard sample in the storage unit, in which standard particles prepared so that the particle size distribution falls within a predetermined range are dispersed in a liquid; acquiring a detection value obtained by the detection unit when the standard sample is stored in the storage unit; and calibrating the analytical device so that the detection value is a predetermined value.

散乱特性の揃った標準試料を用いて較正することで、較正時に使用した標準試料が異なることにより生じる測定結果への影響を抑えることができると共に、測定値の再現性が向上する。なお、標準粒子として、アメリカ国立標準技術研究所(NIST:National Institute of Standards and Technology)の標準として採用される標準粒子を使用してもよく、このような標準粒子を含む標準試料を使用することで、NISTにトレーサブルな測定値を取得するための較正方法を提供できる。 Calibrating using a standard sample with consistent scattering characteristics reduces the impact on measurement results caused by differences in the standard sample used during calibration, and improves the reproducibility of measurement values. Standard particles adopted as standards by the National Institute of Standards and Technology (NIST) may also be used as standard particles. Using a standard sample containing such standard particles provides a calibration method for obtaining measurements that are traceable to NIST.

(第2項)第1項に記載の較正方法において、標準試料中の標準粒子の濃度は、0.002wt%以上である。 (Section 2) In the calibration method described in Section 1, the concentration of standard particles in the standard sample is 0.002 wt% or more.

このような構成により、標準粒子以外の液体からの散乱光の影響を下げることができる。 This configuration reduces the influence of scattered light from the liquid other than the standard particles.

(第3項)第2項に記載の較正方法において、標準試料中の標準粒子の濃度は、0.002wt%以上0.004wt%以下である。 (Section 3) In the calibration method described in Section 2, the concentration of standard particles in the standard sample is 0.002 wt% or more and 0.004 wt% or less.

このような構成により、凝固反応途中の状態を模式的に作り出すことができ、測定対象の検体と類似した標準試料を用いて、較正を行うことができる。 This configuration makes it possible to simulate the state of the clotting reaction in progress, and calibration can be performed using a standard sample similar to the sample being measured.

(第4項)第2項に記載の較正方法において、標準試料中の標準粒子の濃度は、0.004%以上である。 (4) In the calibration method described in 2, the concentration of standard particles in the standard sample is 0.004% or more.

このような構成により、標準粒子以外の液体からの散乱光の影響を下げることができる。 This configuration reduces the influence of scattered light from the liquid other than the standard particles.

(第5項)第1項に記載の較正方法において、標準試料に光を照射したときに検出される散乱光の強度は、少なくとも血漿を含む検体に凝固反応を引き起こすための試薬を添加して得られるサンプルに光を照射したときに検出される散乱光の経時的な変化を測定することで得られる散乱光の強度分布範囲内にある。 (Section 5) In the calibration method described in Section 1, the intensity of scattered light detected when a standard sample is irradiated with light is within the range of scattered light intensity distribution obtained by measuring the change over time in scattered light detected when a sample obtained by adding a reagent for inducing a coagulation reaction to a specimen containing at least plasma is irradiated with light.

このような構成により、凝固反応途中の状態を模式的に作り出すことができ、測定対象の検体と類似した標準試料を用いて、較正を行うことができる。 This configuration makes it possible to simulate the state of the clotting reaction in progress, and calibration can be performed using a standard sample similar to the sample being measured.

(第6項)第1項~第5項のうちいずれか1項に記載の較正方法において、標準粒子の平均粒子径に対する標準偏差の割合(CV値)は、3%未満である。 (Item 6) In the calibration method described in any one of Items 1 to 5, the ratio of standard deviation (CV value) to the average particle diameter of the standard particles is less than 3%.

このような構成により、同じ散乱強度の試料を意図的に作り出すことができる。また、散乱強度を確認しなくとも、希釈率(標準試料中の標準粒子の濃度)を固定すれば、基準とする分析装置を用いて得られる散乱強度を所定範囲内におさめることができるため、標準試料を作成する際の作業効率を上げることができる。 This configuration makes it possible to intentionally create samples with the same scattering intensity. Furthermore, even without checking the scattering intensity, by fixing the dilution rate (concentration of standard particles in the standard sample), the scattering intensity obtained using the reference analytical device can be kept within a specified range, thereby improving work efficiency when creating standard samples.

(第7項)第1項~第6項のうちいずれか1項に記載の較正方法において、標準試料の粒子径のピークは、350nm以下である。 (Item 7) In the calibration method described in any one of Items 1 to 6, the peak particle size of the standard sample is 350 nm or less.

このような構成により、所定の散乱強度を取得するために必要とする標準粒子の量を少なくすることができ、標準試料にかかるコストを削減できる。 This configuration reduces the amount of standard particles required to obtain a given scattering intensity, thereby reducing the cost of standard samples.

(第8項)第1項~第7項のうちいずれか1項に記載の較正方法は、標準粒子を含む試料を水で希釈することにより標準試料を作成する工程をさらに含む。 (Item 8) The calibration method described in any one of Items 1 to 7 further includes a step of preparing a standard sample by diluting a sample containing standard particles with water.

このような較正により、水という容易に入手できる液体で希釈する工程をさらに含むことで、標準粒子を含む試料だけを用意すればよくなり、たとえば、サービスマンが分析装置の設置現場に赴いてメンテナンスする場合に、サービスマンの荷物を減らすことができる。 By further including a step of diluting the sample with water, a liquid that is readily available, this type of calibration means that only the sample containing the standard particles needs to be prepared, which reduces the amount of luggage a service technician must carry when visiting the installation site of an analytical instrument to perform maintenance.

(第9項)第1項~第8項のうちいずれか1項に記載の較正方法において、分析装置は、光源、検出部、および格納部を含む反応部を複数含む。較正方法の標準試料を格納部に格納する工程において、複数の反応部の各々の格納部に標準試料が格納される。また、較正方法の分析装置を較正する工程において、複数の反応部の各々の検出部の検出値が予め定められた値となるように複数の反応部の各々が較正される。 (Item 9) In the calibration method described in any one of Items 1 to 8, the analytical device includes a plurality of reaction units, each including a light source, a detection unit, and a storage unit. In the step of storing a standard sample in the storage unit of the calibration method, the standard sample is stored in the storage unit of each of the plurality of reaction units. In addition, in the step of calibrating the analytical device of the calibration method, each of the plurality of reaction units is calibrated so that the detection value of the detection unit of each of the plurality of reaction units becomes a predetermined value.

このような較正により、複数の反応部を備える分析装置を較正する場合に、1つ1つの反応部を順次較正する必要がないため、較正に要する時間を短縮できる。 This type of calibration reduces the time required for calibration when calibrating an analytical device with multiple reaction units, as there is no need to calibrate each reaction unit one by one.

(第10項)また、一態様に係る較正用の標準試料は、試料に光を照射する光源と、試料からの散乱光を検出する検出部とを含む分析装置を較正するために用いられる標準試料であって、粒子径の分布範囲が所定範囲内となるように調製された標準粒子が液体中に分散されている。 (Item 10) Furthermore, a calibration standard sample according to one embodiment is a standard sample used to calibrate an analytical device that includes a light source that irradiates light onto a sample and a detection unit that detects scattered light from the sample, and is made by dispersing standard particles in a liquid, the standard particles being prepared so that the particle size distribution range falls within a predetermined range.

第10項に記載の較正用の標準試料においては、粒子径の分布範囲が所定範囲内となるように調製された標準粒子を用いるため、散乱特性の揃った標準試料が提供される。その結果、このような標準試料を用いて較正することで、較正時に使用した標準試料が異なることにより生じる測定結果への影響を抑えた較正方法が提供されると共に、測定値の再現性が向上する。なお、標準試料に使用する標準粒子として、NISTの標準として採用される標準粒子を使用してもよく、このような標準粒子を含む標準試料を使用することで、NISTが定めた標準にトレーサブルな測定値を取得するための較正方法が提供される。 The standard sample for calibration described in paragraph 10 uses standard particles prepared so that the particle size distribution range falls within a predetermined range, thereby providing a standard sample with consistent scattering characteristics. As a result, calibration using such a standard sample provides a calibration method that minimizes the impact on measurement results caused by differences in the standard sample used during calibration, and improves the reproducibility of measurement values. Note that standard particles adopted as NIST standards may also be used as the standard particles used in the standard sample, and using a standard sample containing such standard particles provides a calibration method for obtaining measurement values traceable to standards established by NIST.

(第11項)また、一態様に係る較正装置は、試料を格納する格納部と、格納部に格納された試料に光を照射する発光素子と、前発光素子の輝度を調整する調整機構と、試料からの散乱光を測定する検出部とを備える分析装置を較正する。較正装置は、プロセッサと、分析装置1000と通信するための通信ポートとを備え、プロセッサは、粒子径の分布が所定範囲内となるように調製された標準粒子を液体中に分散させた標準試料が格納部に格納されているときに、検出部で検出された値を通信ポートを介して分析装置から受信し、プロセッサは、標準試料が格納部に格納されているときに予め定められた検出値が検出部で得られるようにするために、発光素子の輝度を調整する信号を通信ポートを介して分析装置に出力する。 (Section 11) Furthermore, a calibration device according to one embodiment calibrates an analytical device that includes a storage unit for storing a sample, a light-emitting element that irradiates light onto the sample stored in the storage unit, an adjustment mechanism for adjusting the brightness of the light-emitting element, and a detection unit that measures scattered light from the sample. The calibration device includes a processor and a communication port for communicating with analytical device 1000. When a standard sample, in which standard particles prepared so that the particle size distribution falls within a predetermined range are dispersed in a liquid, is stored in the storage unit, the processor receives from the analytical device via the communication port a value detected by the detection unit, and outputs a signal to the analytical device via the communication port to adjust the brightness of the light-emitting element so that the detection unit obtains a predetermined detection value when the standard sample is stored in the storage unit.

第11項に記載の較正装置においては、粒子径の分布範囲が所定範囲内となるように調製された標準粒子を用いた標準試料を用いて、発光素子の輝度を含めて分析装置を較正することが可能になるため、較正時に使用した標準試料が異なることにより生じる測定結果への影響を抑えた較正をすることが可能な較正装置を提供することができる。 The calibration device described in paragraph 11 makes it possible to calibrate the analytical device, including the luminance of the light-emitting element, using a standard sample made of standard particles prepared so that the particle size distribution range falls within a predetermined range. This makes it possible to provide a calibration device that can perform calibration while minimizing the impact on measurement results that may occur due to differences in the standard sample used during calibration.

(第12項)第11項に記載の較正装置において、標準試料が格納部に格納されているときに検出部により測定される検出値の基準値を格納するメモリをさらに備え、プロセッサは、基準値が検出部で検出されるように、発光素子の輝度を調整する信号を分析装置に出力する。 (Item 12) The calibration device described in Item 11 further includes a memory that stores a reference value for the detection value measured by the detection unit when the standard sample is stored in the storage unit, and the processor outputs a signal to the analysis device that adjusts the brightness of the light-emitting element so that the reference value is detected by the detection unit.

第12項に記載の較正装置においては、メモリに格納された基準値に基づいて自動的に発光素子の輝度が調整されるため、ユーザの較正作業の負担を軽減できる。 The calibration device described in paragraph 12 automatically adjusts the brightness of the light-emitting elements based on reference values stored in memory, thereby reducing the burden of calibration work on the user.

(第13項)第12項に記載の較正装置において、検出部は、散乱光を受光する受光素子と、受光素子の出力に基づいて特定される信号の大きさを所定倍率の範囲で増幅するように構成された増幅回路とを含み、プロセッサは、受光素子の出力に基づいて特定される信号を所定倍率の範囲で増幅したときに基準値が得られるように、発光素子の輝度を調整する信号を分析装置に出力する。 (Clause 13) In the calibration device described in Clause 12, the detection unit includes a light-receiving element that receives scattered light and an amplifier circuit configured to amplify the magnitude of a signal determined based on the output of the light-receiving element within a predetermined range, and the processor outputs a signal to the analysis device that adjusts the brightness of the light-emitting element so that a reference value is obtained when the signal determined based on the output of the light-receiving element is amplified within the predetermined range.

第13項に記載の較正装置においては、発光素子の輝度と増幅回路の増幅倍率とを調整することにより、分析装置を適切に較正することができる。 In the calibration device described in paragraph 13, the luminance of the light-emitting element and the amplification factor of the amplifier circuit can be adjusted to properly calibrate the analytical device.

今回開示された各実施の形態は、技術的に矛盾しない範囲で適宜組合わせて実施することも予定されている。そして、今回開示された実施の形態は、全ての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施の形態の説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内での全ての変更が含まれることが意図される。 The embodiments disclosed herein are intended to be combined as appropriate within the scope of any technical inconsistency. The embodiments disclosed herein should be considered in all respects to be illustrative and not restrictive. The scope of the present invention is indicated by the claims, not by the description of the above-described embodiments, and is intended to include all modifications within the meaning and scope of the claims.

100 キュベット、130 測光部、150 ロボット部、300 測定装置、310 基板、311 マイクロコンピュータ、312 格納部、313 I/V変換回路、314 フォトダイオード(検出器)、315 増幅回路、316 発光ダイオード(光源)、319 電流制御回路、370 測光制御部、372 データ収集部、374 変換部、376 移送制御部、500 制御装置、510 データ処理部、512 記憶部、520 表示装置、530 キーボード、531 CPU、532 RAM、534 記憶装置、535 通信ポート、1000 分析装置、P3a 凝固ポート。 100 cuvette, 130 photometric unit, 150 robot unit, 300 measuring device, 310 substrate, 311 microcomputer, 312 storage unit, 313 I/V conversion circuit, 314 photodiode (detector), 315 amplifier circuit, 316 light-emitting diode (light source), 319 current control circuit, 370 photometric control unit, 372 data collection unit, 374 conversion unit, 376 transport control unit, 500 control device, 510 data processing unit, 512 memory unit, 520 display device, 530 keyboard, 531 CPU, 532 RAM, 534 memory device, 535 communication port, 1000 analyzer, P3a coagulation port.

Claims (10)

分析装置を較正する較正方法であって、
前記分析装置は、試料を格納する格納部と、前記格納部に格納された試料に光を照射する発光素子と、前記発光素子の輝度を調整する調整機構と、前記試料からの散乱光を測定する検出部とを備え、
前記検出部は、
前記散乱光を受光する受光素子と、
前記受光素子の出力に基づいて特定される出力信号の大きさを所定倍率の範囲内で設定された増幅倍率で増幅するように構成された増幅回路とを含み、
粒子径の分布が所定範囲内となるように調製された標準粒子を液体中に分散させた標準試料を前記格納部に格納する工程と、
前記格納部に前記標準試料を格納したときに得られる前記検出部の検出値を取得する工程と、
前記出力信号を前記所定倍率の範囲で増幅したときに前記検出部から予め定められた基準値が得られるようにするために、取得した検出値が目標範囲内にあるか否かを前記基準値と前記所定倍率の範囲とを用いて判定し、取得した検出値が前記目標範囲内にない場合に取得される検出値が前記目標範囲内に入るように前記発光素子の輝度を調整し、取得した検出値が前記目標範囲内にある場合に取得した検出値を前記基準値に調整するための増幅倍率を前記増幅回路に設定する工程とを含む、較正方法。
1. A calibration method for calibrating an analytical device, comprising:
the analytical device comprises a storage unit for storing a sample, a light-emitting element for irradiating light onto the sample stored in the storage unit, an adjustment mechanism for adjusting the luminance of the light-emitting element, and a detection unit for measuring scattered light from the sample;
The detection unit
a light receiving element that receives the scattered light;
an amplifier circuit configured to amplify the magnitude of an output signal determined based on the output of the light receiving element by an amplification factor set within a predetermined range;
a step of storing a standard sample in the storage unit, the standard sample being prepared by dispersing standard particles in a liquid, the standard particles being adjusted so that the particle size distribution falls within a predetermined range;
acquiring a detection value of the detection unit obtained when the standard sample is stored in the storage unit;
a step of determining whether an acquired detection value is within a target range using the reference value and the predetermined magnification range so that a predetermined reference value can be obtained from the detection unit when the output signal is amplified within the predetermined magnification range, adjusting the luminance of the light-emitting element so that the acquired detection value falls within the target range when the acquired detection value is not within the target range , and setting an amplification magnification in the amplifier circuit to adjust the acquired detection value to the reference value when the acquired detection value is within the target range .
前記標準試料中の前記標準粒子の濃度は、0.002wt%以上である、請求項1に記載の較正方法。 The calibration method described in claim 1, wherein the concentration of the standard particles in the standard sample is 0.002 wt% or more. 前記標準試料中の前記標準粒子の濃度は、0.002wt%以上0.004wt%以下である、請求項2に記載の較正方法。 The calibration method described in claim 2, wherein the concentration of the standard particles in the standard sample is 0.002 wt% or more and 0.004 wt% or less. 前記標準試料中の前記標準粒子の濃度は、0.004wt%以上である、請求項2に記載の較正方法。 The calibration method described in claim 2, wherein the concentration of the standard particles in the standard sample is 0.004 wt% or more. 前記標準試料に光を照射したときに検出される散乱光の強度は、少なくとも血漿を含む検体に凝固反応を引き起こすための試薬を添加して得られるサンプルに光を照射したときに検出される散乱光の経時的な変化を測定することで得られる散乱光の強度分布範囲内にある、請求項1に記載の較正方法。 The calibration method described in claim 1, wherein the intensity of scattered light detected when the standard sample is irradiated with light is within a scattered light intensity distribution range obtained by measuring the change over time in scattered light detected when a sample obtained by adding a reagent for inducing a coagulation reaction to a specimen containing at least plasma is irradiated with light. 前記標準粒子の平均粒子径に対する標準偏差の割合は、3%未満である、請求項1~請求項5のうちいずれか1項に記載の較正方法。 A calibration method according to any one of claims 1 to 5, wherein the ratio of the standard deviation to the average particle diameter of the standard particles is less than 3%. 前記標準粒子の粒子径のピークは、350nm以下である、請求項1~請求項6のうちいずれか1項に記載の較正方法。 A calibration method according to any one of claims 1 to 6, wherein the peak particle diameter of the standard particles is 350 nm or less. 前記標準粒子を含む試料を水で希釈することにより前記標準試料を作成する工程をさらに含む、請求項1~請求項7のうちいずれか1項に記載の較正方法。 The calibration method of any one of claims 1 to 7, further comprising the step of preparing the standard sample by diluting a sample containing the standard particles with water. 前記分析装置は、前記発光素子、前記検出部、および前記格納部を含む反応部を複数備え、
前記標準試料を前記格納部に格納する工程において、複数の前記反応部の各々の前記格納部に前記標準試料が格納され、
前記分析装置を較正する工程において、複数の前記反応部の各々の前記検出部の前記検出値が予め定められた値となるように複数の前記反応部の各々が較正される、請求項1~請求項8のうちいずれか1項に記載の較正方法。
the analysis device includes a plurality of reaction units, each of which includes the light-emitting element, the detection unit, and the storage unit;
In the step of storing the standard sample in the storage unit, the standard sample is stored in the storage unit of each of the plurality of reaction units,
A calibration method according to any one of claims 1 to 8, wherein in the step of calibrating the analytical device, each of the plurality of reaction units is calibrated so that the detection value of the detection unit of each of the plurality of reaction units becomes a predetermined value.
分析装置を較正する較正装置であって、
前記分析装置は、試料を格納する格納部と、前記格納部に格納された試料に光を照射する発光素子と、前記発光素子の輝度を調整する調整機構と、前記試料からの散乱光を測定する検出部とを備え、
前記検出部は、
前記散乱光を受光する受光素子と、
前記受光素子の出力に基づいて特定される出力信号の大きさを所定倍率の範囲内で設定された増幅倍率で増幅するように構成された増幅回路とを含み、
前記較正装置は、
プロセッサと、
前記分析装置と通信するための通信ポートと、
粒子径の分布が所定範囲内となるように調製された標準粒子を液体中に分散させた標準試料が前記格納部に格納されているときに前記検出部により測定される検出値の基準値を格納するメモリとを備え、
前記プロセッサは、前記標準試料が前記格納部に格納されているときに、前記検出部で検出された検出値を前記通信ポートを介して前記分析装置から受信し、
前記プロセッサは、
前記出力信号を前記所定倍率の範囲で増幅したときに前記基準値が前記検出部で得られるようにするために、受信した検出値が目標範囲内にあるか否かを前記基準値と前記所定倍率の範囲とを用いて判定し、受信した検出値が前記目標範囲内にない場合に前記検出部で検出される検出値が前記目標範囲内に入るように前記発光素子の輝度を調整する信号を前記通信ポートを介して前記分析装置に出力し、
受信した検出値が前記目標範囲内にある場合に、受信した検出値を前記基準値に調整するための増幅倍率を前記増幅回路に設定するための信号を前記通信ポートを介して前記分析装置に出力する、較正装置。
A calibration device for calibrating an analytical device, comprising:
the analytical device comprises a storage unit for storing a sample, a light-emitting element for irradiating light onto the sample stored in the storage unit, an adjustment mechanism for adjusting the luminance of the light-emitting element, and a detection unit for measuring scattered light from the sample;
The detection unit
a light receiving element that receives the scattered light;
an amplifier circuit configured to amplify the magnitude of an output signal determined based on the output of the light receiving element by an amplification factor set within a predetermined range;
The calibration device
a processor;
a communication port for communicating with the analytical device;
a memory for storing a reference value of the detection value measured by the detection unit when a standard sample in which standard particles prepared so that the particle diameter distribution falls within a predetermined range are dispersed in a liquid is stored in the storage unit,
the processor receives the detection value detected by the detection unit from the analysis device via the communication port when the standard sample is stored in the storage unit;
The processor:
a signal for adjusting the brightness of the light-emitting element so that the detection value detected by the detection unit falls within the target range when the output signal is amplified within the range of the predetermined magnification is output to the analysis device via the communication port, the signal being used to determine whether the received detection value is within the target range, so that the detection value detected by the detection unit falls within the target range ,
A calibration device that outputs, when the received detection value is within the target range, a signal to the analysis device via the communication port to set an amplification factor in the amplifier circuit to adjust the received detection value to the reference value .
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