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JP7828764B2 - automatic analyzer - Google Patents
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JP7828764B2 - automatic analyzer - Google Patents

automatic analyzer

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JP7828764B2 JP2022005963A JP2022005963A JP7828764B2 JP 7828764 B2 JP7828764 B2 JP 7828764B2 JP 2022005963 A JP2022005963 A JP 2022005963A JP 2022005963 A JP2022005963 A JP 2022005963A JP 7828764 B2 JP7828764 B2 JP 7828764B2
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  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Description

本明細書及び図面に開示の実施形態は、自動分析装置に関する。 The embodiments disclosed herein and in the drawings relate to automated analyzers.

自動分析装置は、被検体から採取された血液などの被検試料または各検査項目の標準試料などの試料と、各検査項目に対応する試薬とを混合することで得られる混合液を、例えば光学的に測定することで、各検査項目に対応した被検試料の成分を分析する装置である。 An automated analyzer is a device that analyzes the components of a test sample corresponding to each test item by mixing a sample, such as blood collected from a subject or a standard sample for each test item, with reagents corresponding to each test item, and then measuring the resulting mixture, for example, optically.

従来より、自動分析装置において、光学的な測定に用いられる発光部の光量調整は、複数の光量測定用治具を反応管が設置される反応ディスクに挿入して、反応ディスクに設けられた複数の発光部の光量を調整することにより行われている。しかし、複数の光量測定用治具を用いた場合、発光部から得られる光量は、光量測定用治具の個体差の影響を受けるため、調整された光量にバラツキが生じ、混合液の光学的な測定結果にバラツキが生じる可能性がある。このため、1つの光量測定用治具を反応ディスクに搬送し、反応ディスクに設けられた発光部の光量測定を行い、各発光部の光量調整を行うことが望まれている。 Conventionally, in automated analyzers, the light intensity of the light-emitting section used for optical measurement is adjusted by inserting multiple light intensity measuring jigs into the reaction disk where the reaction tube is installed, and then adjusting the light intensity of the multiple light-emitting sections provided on the reaction disk. However, when multiple light intensity measuring jigs are used, the light intensity obtained from the light-emitting section is affected by individual differences in the light intensity measuring jigs, which can lead to variations in the adjusted light intensity and potentially inconsistencies in the optical measurement results of the mixed solution. Therefore, it is desirable to transport a single light intensity measuring jig to the reaction disk, measure the light intensity of the light-emitting sections provided on the reaction disk, and then adjust the light intensity of each light-emitting section.

また、使い捨て反応管を使用する自動分析装置において、使い捨て反応管を供給する反応管供給部により供給される全ての使い捨て反応管が反応ディスクに設置され、混合液の光学的な測定に使用されている。しかし、反応管供給部により供給される使い捨て反応管によっては、粉塵の混入や欠け及び/又は罅が発生している可能性があり、このような反応管が測定に使用されると、正常な測定結果が得られない可能性がある。このため、粉塵の混入などが発生している反応管が光学的な測定に使用される前に、反応管が光学的な測定に使用できるか否かを判定して、使用できないと判定された反応管を光学的な測定に使用しないことが望まれている。 Furthermore, in automated analyzers that use disposable reaction tubes, all disposable reaction tubes supplied by the reaction tube supply unit are placed on the reaction disk and used for optical measurement of the mixed solution. However, some disposable reaction tubes supplied by the reaction tube supply unit may contain dust, chips, or/or cracks. If such reaction tubes are used for measurement, accurate measurement results may not be obtained. Therefore, it is desirable to determine whether a reaction tube can be used for optical measurement before using it for optical measurement if it contains dust or other defects, and to refrain from using reaction tubes that are deemed unsuitable for optical measurement.

特開2014-145621号公報Japanese Patent Publication No. 2014-145621 特公昭63-21139号公報Special Publication No. 63-21139 特開2017-26548号公報Japanese Patent Publication No. 2017-26548

本明細書及び図面に開示の実施形態が解決しようとする課題の一つは、自動分析装置の測定精度を向上させることである。ただし、本明細書及び図面に開示の実施形態により解決しようとする課題は上記の課題に限られない。後述する実施形態に示す各構成による各効果に対応する課題を他の課題として位置づけることもできる。 One of the problems that the embodiments disclosed herein and in the drawings aim to solve is to improve the measurement accuracy of an automated analyzer. However, the problems that the embodiments disclosed herein and in the drawings aim to solve are not limited to the above problem. Problems corresponding to the effects of each configuration shown in the embodiments described later can also be positioned as other problems.

実施形態に係る自動分析装置は、反応管が設置される反応管設置部と、前記反応管を搬送する反応管搬送機構と、前記反応管搬送機構に設けられる撮像部と、前記反応管搬送機構を制御して、前記反応管を前記反応管設置部に搬送させ、前記撮像部に前記反応管を撮像させる、第1制御部と、を備える。 The automated analyzer according to this embodiment comprises: a reaction tube installation section where reaction tubes are installed; a reaction tube transport mechanism for transporting the reaction tubes; an imaging unit provided on the reaction tube transport mechanism; and a first control unit that controls the reaction tube transport mechanism to transport the reaction tubes to the reaction tube installation section and to image the reaction tubes with the imaging unit.

第1実施形態に係る自動分析装置の機能構成の例を示すブロック図。A block diagram showing an example of the functional configuration of an automated analyzer according to the first embodiment. 図1に示す自動分析装置における分析機構の構成の一例を示す図。Figure 1 shows an example of the configuration of the analytical mechanism in the automated analyzer. 図2に示す分析機構が備える測光ユニットを上面から見た構成図。Figure 2 shows a top view of the photometric unit included in the analysis mechanism. 図2に示す分析機構が備える測光ユニットを上面から見た構成図。Figure 2 shows a top view of the photometric unit included in the analysis mechanism. 図2に示す分析機構が備える測光ユニットの別の例を上面から見た構成図。Figure 2 shows another example of the photometric unit included in the analysis mechanism, as viewed from above. 第1実施形態に係る自動分析装置で実行される測定処理の内容を説明するフローチャート図。A flowchart illustrating the contents of the measurement process performed by the automated analyzer according to the first embodiment. 第1実施形態に係る自動分析装置において、撮像部の受光位置と、発光部の光軸高さとの関係の一例を模式的に示す模式図。A schematic diagram illustrating an example of the relationship between the light-receiving position of the imaging unit and the optical axis height of the light-emitting unit in an automated analyzer according to the first embodiment. 第1実施形態の変形例1に係る自動分析装置で実行される測定処理の内容を説明するフローチャート図。A flowchart illustrating the contents of the measurement process performed by the automated analyzer according to Modification 1 of the First Embodiment. 第1実施形態の変形例1に係る自動分析装置で実行される測定処理の内容を説明するフローチャート図。A flowchart illustrating the contents of the measurement process performed by the automated analyzer according to Modification 1 of the First Embodiment. 第1実施形態の変形例1に係る自動分析装置において、光量測定用治具の降下量と、発光部の光軸高さとの関係の一例を模式的に示す模式図。A schematic diagram illustrating an example of the relationship between the amount of descent of the light intensity measuring jig and the optical axis height of the light-emitting part in an automatic analyzer according to Modification 1 of the first embodiment. 第2実施形態に係る自動分析装置の機能構成の例を示すブロック図。A block diagram showing an example of the functional configuration of an automated analyzer according to the second embodiment. 図11に示す自動分析装置における分析機構の構成の一例を示す図。Figure 11 shows an example of the configuration of the analytical mechanism in the automated analyzer. 第2実施形態に係る自動分析装置で実行される反応管撮像処理の内容を説明するフローチャート図。A flowchart illustrating the contents of the reaction tube imaging process performed by the automated analyzer according to the second embodiment. 第2実施形態に係る自動分析装置において、反応管が使用不可能と判定される場合の一例を示す模式図。A schematic diagram showing an example of a case in which the reaction tube is determined to be unusable in the automated analyzer according to the second embodiment. 第3実施形態に係る自動分析装置の機能構成の例を示すブロック図。A block diagram showing an example of the functional configuration of an automated analyzer according to the third embodiment. 図15に示ス自動分析装置における分析機構の構成の一例を示す図。Figure 15 shows an example of the configuration of the analytical mechanism in an automated analyzer. 第3実施形態に係る自動分析装置で実行される使用済み反応管撮像処理の内容を説明するフローチャート図。A flowchart illustrating the contents of the used reaction tube imaging process performed by the automated analyzer according to the third embodiment. 第3実施形態に係る自動分析装置において、使用済み反応管に異常がある場合の一例を示す模式図。A schematic diagram showing an example of a case where there is an abnormality in the used reaction tube in the automated analyzer according to the third embodiment.

以下、図面を参照しながら、自動分析装置の実施形態について説明する。なお、以下の説明において実質的に同一の機能及び構成を有する構成要素については、同一符号を付し、重複説明は必要な場合にのみ行うこととする。 The following describes an embodiment of the automated analyzer with reference to the drawings. In the following description, components having substantially the same function and configuration will be denoted by the same reference numeral, and redundant explanations will be provided only when necessary.

〔第1実施形態〕
図1は、第1実施形態に係る自動分析装置の機能構成の例を示すブロック図である。本実施形態においては、この自動分析装置は、例えば、血液凝固分析装置である。この図1に示すように、本実施形態に係る自動分析装置1は、分析機構2と、解析回路3と、駆動機構4と、入力インターフェース5と、出力インターフェース6と、通信インターフェース7と、記憶回路8と、制御回路9とを備えて構成されている。
[First Embodiment]
Figure 1 is a block diagram showing an example of the functional configuration of an automated analyzer according to the first embodiment. In this embodiment, the automated analyzer is, for example, a blood coagulation analyzer. As shown in Figure 1, the automated analyzer 1 according to this embodiment is configured to include an analysis mechanism 2, an analysis circuit 3, a drive mechanism 4, an input interface 5, an output interface 6, a communication interface 7, a memory circuit 8, and a control circuit 9.

分析機構2は、被検者の検体である血液検体と、各検査項目で用いられる試薬である凝固試薬とを混合した混合液を生成する。また、分析機構2は、検査項目によっては、所定の倍率で希釈した標準液と、この検査項目で用いられる試薬とを混合する。分析機構2は、血液検体と試薬との混合液や標準液と試薬との混合液の光学的な物性値を連続的に測定する。この測定により、例えば、透過光強度、吸光度、散乱光強度等で表される標準データ、及び被検データが生成される。 Analysis device 2 generates a mixture of the subject's blood sample and the coagulation reagent used for each test item. Depending on the test item, analysis device 2 also mixes a standard solution diluted to a predetermined ratio with the reagent used for that test item. Analysis device 2 continuously measures the optical properties of the blood sample-reagent mixture and the standard solution-reagent mixture. This measurement generates standard data, expressed as, for example, transmitted light intensity, absorbance, scattered light intensity, etc., as well as the subject data.

解析回路3は、分析機構2により生成される標準データ、及び被検データを解析することで、血液検体の凝固に関する検量データ、及び分析データを生成するプロセッサである。解析回路3は、例えば、記憶回路8から解析プログラムを読み出し、読み出した解析プログラムに従って標準データ、及び被検データを解析する。なお、解析回路3は、記憶回路8で記憶されているデータの少なくとも一部を記憶する記憶領域を備えてもよい。 The analysis circuit 3 is a processor that generates calibration data and analysis data related to blood sample coagulation by analyzing the standard data and test data generated by the analysis mechanism 2. For example, the analysis circuit 3 reads an analysis program from the memory circuit 8 and analyzes the standard data and test data according to the read analysis program. The analysis circuit 3 may also include a memory area for storing at least a portion of the data stored in the memory circuit 8.

駆動機構4は、制御回路9の制御に従い、分析機構2を駆動させる。駆動機構4は、例えば、ギア、ステッピングモータ、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。 The drive mechanism 4 drives the analysis mechanism 2 according to the control of the control circuit 9. The drive mechanism 4 is implemented, for example, by gears, a stepping motor, a belt conveyor, and a lead screw.

入力インターフェース5は、例えば、ユーザから、又は病院内ネットワークNWを介して測定を依頼された血液検体に係る各検査項目の分析パラメータ等の設定を受け付ける。入力インターフェース5は、例えば、マウス、キーボード、及び、操作面へ触れることで指示が入力されるタッチパッド等により実現される。入力インターフェース5は、制御回路9に接続され、ユーザから入力される操作指示を電気信号へ変換し、電気信号を制御回路9へ出力する。なお、本明細書において入力インターフェース5はマウス、及びキーボード等の物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、自動分析装置1とは別体に設けられた外部の入力機器から入力される操作指示に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を制御回路9へ出力する電気信号の処理回路も入力インターフェース5の例に含まれる。 The input interface 5 receives settings for analysis parameters of various test items related to blood samples, for example, requested by the user or via the hospital network (NW). The input interface 5 is implemented using, for example, a mouse, keyboard, or touchpad, where instructions are input by touching the operating surface. The input interface 5 is connected to the control circuit 9, converts user input instructions into electrical signals, and outputs these electrical signals to the control circuit 9. In this specification, the input interface 5 is not limited to those equipped with physical operating components such as a mouse and keyboard. For example, an electrical signal processing circuit that receives electrical signals corresponding to operation instructions input from an external input device separate from the automatic analyzer 1 and outputs these electrical signals to the control circuit 9 is also included as an example of the input interface 5.

出力インターフェース6は、制御回路9に接続され、制御回路9から供給される信号を出力する。出力インターフェース6は、例えば、表示回路、印刷回路、及び音声デバイス等により実現される。表示回路には、例えば、CRTディスプレイ、液晶ディスプレイ、有機ELディスプレイ、LEDディスプレイ、及びプラズマディスプレイ等が含まれる。なお、表示対象を表すデータをビデオ信号に変換し、ビデオ信号を外部へ出力する処理回路も表示回路に含まれる。印刷回路は、例えば、プリンタ等を含む。なお、印刷対象を表すデータを外部へ出力する出力回路も印刷回路に含まれる。音声デバイスは、例えば、スピーカ等を含む。なお、音声信号を外部へ出力する出力回路も音声デバイスに含まれる。 The output interface 6 is connected to the control circuit 9 and outputs signals supplied from the control circuit 9. The output interface 6 is implemented by, for example, a display circuit, a printing circuit, and an audio device. The display circuit includes, for example, a CRT display, a liquid crystal display, an organic EL display, an LED display, and a plasma display. A processing circuit that converts data representing the display target into a video signal and outputs the video signal externally is also included in the display circuit. The printing circuit includes, for example, a printer. An output circuit that outputs data representing the print target externally is also included in the printing circuit. The audio device includes, for example, a speaker. An output circuit that outputs an audio signal externally is also included in the audio device.

通信インターフェース7は、例えば、病院内ネットワークNWと接続する。通信インターフェース7は、病院内ネットワークNWを介してHIS(Hospital Information System)とデータ通信を行う。なお、通信インターフェース7は、病院内ネットワークNWと接続する検査部門システム(Laboratory Information System:LIS)を介してHISとデータ通信を行っても構わない。 The communication interface 7 connects, for example, to the hospital network NW. The communication interface 7 communicates data with the HIS (Hospital Information System) via the hospital network NW. Alternatively, the communication interface 7 may communicate data with the HIS via the Laboratory Information System (LIS), which is connected to the hospital network NW.

記憶回路8は、磁気的、若しくは、光学的記録媒体、又は、半導体メモリ等の、プロセッサにより読み取り可能な記録媒体等により構成されている。なお、記憶回路8は、必ずしも単一の記憶装置により実現される必要は無い。例えば、記憶回路8は、複数の記憶装置により実現することもできる。 The memory circuit 8 is composed of a magnetic or optical recording medium, or a semiconductor memory, or other recording medium that can be read by the processor. Note that the memory circuit 8 does not necessarily need to be implemented using a single storage device. For example, the memory circuit 8 can be implemented using multiple storage devices.

また、記憶回路8は、解析回路3で実行される解析プログラム、及び制御回路9に備わる機能を実現するための制御プログラムを記憶している。記憶回路8は、解析回路3により生成される検量データを検査項目毎に記憶する。記憶回路8は、解析回路3により生成される分析データを血液検体毎に記憶する。記憶回路8は、ユーザから入力された検査オーダ、又は通信インターフェース7が病院内ネットワークNWを介して受信した検査オーダを記憶する。 Furthermore, the memory circuit 8 stores the analysis program executed by the analysis circuit 3 and the control program for realizing the functions of the control circuit 9. The memory circuit 8 stores the calibration data generated by the analysis circuit 3 for each test item. The memory circuit 8 stores the analysis data generated by the analysis circuit 3 for each blood sample. The memory circuit 8 stores test orders entered by the user, or test orders received by the communication interface 7 via the hospital network NW.

制御回路9は、自動分析装置1の中枢として機能するプロセッサである。制御回路9は、記憶回路8に記憶されている動作プログラムを実行することで、この動作プログラムに対応する機能を実現する。なお、制御回路9は、記憶回路8で記憶されているデータの少なくとも一部を記憶する記憶領域を備えていてもよい。 The control circuit 9 is a processor that functions as the central hub of the automatic analysis device 1. The control circuit 9 executes the operation program stored in the memory circuit 8, thereby realizing the functions corresponding to this program. The control circuit 9 may also include a memory area for storing at least a portion of the data stored in the memory circuit 8.

図2は、図1に示す自動分析装置1における分析機構2の構成の一例を示す図である。この図2に示すように、本実施形態に係る分析機構2は、反応ディスク201と、恒温部202と、ラックサンプラ203と、試薬庫204とを備えて構成されている。 Figure 2 shows an example of the configuration of the analysis mechanism 2 in the automated analyzer 1 shown in Figure 1. As shown in Figure 2, the analysis mechanism 2 according to this embodiment is configured to include a reaction disk 201, a constant temperature unit 202, a rack sampler 203, and a reagent storage unit 204.

反応ディスク201は、複数の反応管(キュベット)2011を、環状に配列させて保持する。反応ディスク201は、反応管2011を所定の経路に沿って搬送する。具体的には、検体の分析動作中、反応ディスク201は、駆動機構4により、既定の時間間隔で回動と停止とが交互に繰り返される。反応管2011は、例えば、ポリプロピレン(PP)又はアクリルにより形成されている。この反応ディスク201が、本実施形態における反応管設置部を構成している。 The reaction disk 201 holds multiple reaction tubes (cuvettes) 2011 arranged in a ring shape. The reaction disk 201 transports the reaction tubes 2011 along a predetermined path. Specifically, during sample analysis, the reaction disk 201 is rotated and stopped alternately at predetermined time intervals by the drive mechanism 4. The reaction tubes 2011 are formed, for example, from polypropylene (PP) or acrylic. This reaction disk 201 constitutes the reaction tube mounting section in this embodiment.

恒温部202は、所定の温度に設定された熱媒体を貯留し、貯留する熱媒体に反応管2011を浸漬させることで、反応管2011に収容される混合液を昇温する。 The constant temperature unit 202 stores a heat transfer medium set to a predetermined temperature and raises the temperature of the mixture contained in the reaction tube 2011 by immersing the reaction tube 2011 in the stored heat transfer medium.

ラックサンプラ203は、複数の試料容器を保持可能な試料ラック2031を、移動可能に支持しており、これら複数の試料容器には、測定を依頼された検体である血液検体が収容されている。図2に示す例では、5本の試料容器を並列して保持可能な試料ラック2031が示されている。 The rack sampler 203 provides movable support for a sample rack 2031 capable of holding multiple sample containers. These sample containers contain blood samples, which are specimens requested for measurement. Figure 2 shows an example where the sample rack 2031 can hold five sample containers in parallel.

ラックサンプラ203には、試料ラック2031を搬送する搬送領域2032が設けられている。すなわち、この搬送領域2032を使用して、試料ラック2031が投入される投入位置から、測定が完了した試料ラック2031を回収する回収位置まで、試料ラック2031が搬送される。搬送領域2032では、長手方向に整列された複数の試料ラック2031が、駆動機構4により、方向D1へ移動される。 The rack sampler 203 is provided with a transport area 2032 for transporting sample racks 2031. That is, using this transport area 2032, the sample racks 2031 are transported from the input position where they are placed to the retrieval position where the sample racks 2031 are collected after measurement is complete. In the transport area 2032, multiple sample racks 2031, aligned in the longitudinal direction, are moved in direction D1 by the drive mechanism 4.

また、ラックサンプラ203には、試料ラック2031で保持される試料容器を所定のサンプル吸引位置へ移動させるため、試料ラック2031を搬送領域2032から引き込む引き込み領域2033が設けられている。サンプル吸引位置は、例えば、サンプル分注プローブ207の回動軌道と、ラックサンプラ203で支持されて試料ラック2031で保持される試料容器の開口部の移動軌道とが交差する位置に設けられる。引き込み領域2033では、搬送されてきた試料ラック2031が、駆動機構4により、方向D2へ移動される。 Furthermore, the rack sampler 203 is provided with a retraction area 2033 for retracting the sample rack 2031 from the transport area 2032 in order to move the sample container held by the sample rack 2031 to a predetermined sample aspiration position. The sample aspiration position is, for example, located at the intersection of the rotational trajectory of the sample dispensing probe 207 and the movement trajectory of the opening of the sample container supported by the rack sampler 203 and held by the sample rack 2031. In the retraction area 2033, the transported sample rack 2031 is moved in direction D2 by the drive mechanism 4.

また、ラックサンプラ203には、試料が吸引された試料容器を保持する試料ラック2031を搬送領域へ戻すための戻し領域2034が設けられている。戻し領域2034では、試料ラック2031が、駆動機構4により、方向D3へ移動される。 Furthermore, the rack sampler 203 is provided with a return area 2034 for returning the sample rack 2031, which holds the sample container with the sample aspirated, to the transport area. In the return area 2034, the sample rack 2031 is moved in direction D3 by the drive mechanism 4.

試薬庫204は、標準液、及び血液検体に対して実施される各検査項目で用いられる試薬等を収容する複数の試薬容器100を保冷しながら保持する。試薬庫204内には、回転テーブルが回転自在に設けられている。回転テーブルは、複数の試薬容器100を円環状に載置して保持する。なお、本実施形態において、図2では図示していないが、試薬庫204は、着脱自在な試薬カバーにより覆われている。 The reagent cabinet 204 holds multiple reagent containers 100 containing standard solutions and reagents used in various tests performed on blood samples, while maintaining their temperature. A rotating table is rotatably mounted inside the reagent cabinet 204. The rotating table holds the multiple reagent containers 100 in a circular arrangement. Although not shown in Figure 2, in this embodiment, the reagent cabinet 204 is covered by a removable reagent cover.

また、図2に示す本実施形態に係る分析機構2は、サンプル分注アーム206と、サンプル分注プローブ207と、試薬分注アーム208と、試薬分注プローブ209とを備える。 Furthermore, the analytical mechanism 2 according to this embodiment, shown in Figure 2, comprises a sample dispensing arm 206, a sample dispensing probe 207, a reagent dispensing arm 208, and a reagent dispensing probe 209.

サンプル分注アーム206は、反応ディスク201とラックサンプラ203との間に設けられている。サンプル分注アーム206は、駆動機構4により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。サンプル分注アーム206は、一端にサンプル分注プローブ207を保持する。 The sample dispensing arm 206 is positioned between the reaction disk 201 and the rack sampler 203. The sample dispensing arm 206 is mounted by a drive mechanism 4 so as to be vertically movable and horizontally rotatable. The sample dispensing arm 206 holds a sample dispensing probe 207 at one end.

サンプル分注プローブ207は、サンプル分注アーム206の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、ラックサンプラ203上の試料ラック2031で保持される試料容器から試料を吸引するためのサンプル吸引位置が設けられている。また、サンプル分注プローブ207の回動軌道上には、サンプル分注プローブ207が吸引した試料を反応管2011へ分注するためのサンプル分注位置が設けられている。サンプル分注位置は、例えば、サンプル分注プローブ207の回動軌道と、反応ディスク201に保持されている反応管2011の移動軌道との交点に相当する。 The sample dispensing probe 207 rotates along an arc-shaped rotational trajectory as the sample dispensing arm 206 rotates. A sample aspiration position is provided along this rotational trajectory for aspirating a sample from a sample container held by the sample rack 2031 on the rack sampler 203. Furthermore, a sample dispensing position is provided along the rotational trajectory of the sample dispensing probe 207 for dispensing the sample aspirated by the sample dispensing probe 207 into the reaction tube 2011. The sample dispensing position corresponds, for example, to the intersection of the rotational trajectory of the sample dispensing probe 207 and the movement trajectory of the reaction tube 2011 held on the reaction disk 201.

サンプル分注プローブ207は、駆動機構4によって駆動され、サンプル吸引位置、又はサンプル分注位置において上下方向に移動する。また、サンプル分注プローブ207は、制御回路9の制御に従い、サンプル吸引位置の直下に位置する試料容器から試料を吸引する。また、サンプル分注プローブ207は、制御回路9の制御に従い、吸引した試料を、サンプル分注位置の直下に位置する反応管2011へ分注する。これらサンプル分注アーム206とサンプル分注プローブ207とにより、本実施形態における分注機構の一例が構成される。 The sample dispensing probe 207 is driven by the drive mechanism 4 and moves vertically at the sample aspiration position or the sample dispensing position. The sample dispensing probe 207 also aspirates a sample from the sample container located directly below the sample aspiration position, according to the control circuit 9. Furthermore, the sample dispensing probe 207 dispenses the aspirated sample into the reaction tube 2011, also according to the control circuit 9. These sample dispensing arm 206 and sample dispensing probe 207 constitute an example of the dispensing mechanism in this embodiment.

試薬分注アーム208は、反応ディスク201と試薬庫204との間に設けられている。試薬分注アーム208は、駆動機構4により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。試薬分注アーム208は、一端に試薬分注プローブ209を保持する。 The reagent dispensing arm 208 is positioned between the reaction disk 201 and the reagent storage compartment 204. The reagent dispensing arm 208 is mounted by a drive mechanism 4 so as to be vertically movable and horizontally rotatable. The reagent dispensing arm 208 holds a reagent dispensing probe 209 at one end.

試薬分注プローブ209は、試薬分注アーム208の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、試薬吸引位置が設けられている。試薬吸引位置は、例えば、試薬分注プローブ209の回動軌道と、試薬庫204の回転テーブルに円環状に載置される試薬容器100の開口部の移動軌道とが交差する位置に設けられる。また、試薬分注プローブ209の回動軌道上には、試薬分注プローブ209が吸引した試薬を反応管2011へ分注するための試薬分注位置が設定されている。試薬分注位置は、例えば、試薬分注プローブ209の回動軌道と、反応ディスク201に保持されている反応管2011の移動軌道との交点に相当する。 The reagent dispensing probe 209 rotates along an arc-shaped rotational trajectory as the reagent dispensing arm 208 rotates. A reagent aspiration position is provided on this rotational trajectory. For example, the reagent aspiration position is located where the rotational trajectory of the reagent dispensing probe 209 intersects with the movement trajectory of the opening of the reagent container 100, which is placed in an annular shape on the rotating table of the reagent storage unit 204. Furthermore, a reagent dispensing position is set on the rotational trajectory of the reagent dispensing probe 209 for dispensing the reagent aspirationd by the probe 209 into the reaction tube 2011. For example, the reagent dispensing position corresponds to the intersection of the rotational trajectory of the reagent dispensing probe 209 and the movement trajectory of the reaction tube 2011 held on the reaction disk 201.

試薬分注プローブ209は、駆動機構4によって駆動され、回動軌道上の試薬吸引位置、又は試薬分注位置において上下方向に移動する。また、試薬分注プローブ209は、制御回路9の制御に従い、試薬吸引位置で停止している試薬容器から試薬を吸引する。また、試薬分注プローブ209は、制御回路9の制御に従い、吸引した試薬を、試薬分注位置の直下に位置する反応管2011へ分注する。 The reagent dispensing probe 209 is driven by the drive mechanism 4 and moves vertically at the reagent aspiration position or reagent dispensing position on its rotational trajectory. The reagent dispensing probe 209 also aspirates reagent from the reagent container stopped at the reagent aspiration position, according to the control circuit 9. Furthermore, the reagent dispensing probe 209 dispenses the aspirated reagent into the reaction tube 2011 located directly below the reagent dispensing position, also according to the control circuit 9.

さらに、本実施形態に係る分析機構2は、反応管搬送アーム210と、反応管供給部211と、光量測定用治具212とを備える。 Furthermore, the analysis mechanism 2 according to this embodiment includes a reaction tube transport arm 210, a reaction tube supply unit 211, and a light intensity measurement jig 212.

反応管搬送アーム210は、駆動機構4により、反応管供給部211から反応ディスク201に反応管2011を搬送する。例えば、反応管搬送アーム210は、反応管2011を保持するための反応管保持部2101と、反応管保持部2101を回動及び上下動させるための1本の搬送アーム2102とを備える。また、反応管搬送アーム210には、反応管2011を撮像するための撮像部2103が設けられている。反応管保持部2101は、例えば、グリッパである。搬送アーム2102は、駆動機構4により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。撮像部2103は、制御回路9の制御に従い、反応管2011を撮像する。また、撮像部2103は、例えば、光量などの測定に用いられる撮像センサである。なお、撮像部2103はカメラなどの撮像装置であってもよい。なお、反応管搬送アーム210は反応管搬送機構の一例である。また、反応管搬送アーム210を構成する搬送アーム2102の本数は任意である。例えば、反応管搬送アーム210は、2以上の複数の搬送アームから構成されてもよい。 The reaction tube transport arm 210 transports the reaction tube 2011 from the reaction tube supply unit 211 to the reaction disk 201 by the drive mechanism 4. For example, the reaction tube transport arm 210 includes a reaction tube holding unit 2101 for holding the reaction tube 2011, and a transport arm 2102 for rotating and moving the reaction tube holding unit 2101 up and down. The reaction tube transport arm 210 is also provided with an imaging unit 2103 for imaging the reaction tube 2011. The reaction tube holding unit 2101 is, for example, a gripper. The transport arm 2102 is provided by the drive mechanism 4 so as to be able to move up and down vertically and rotate horizontally. The imaging unit 2103 images the reaction tube 2011 according to the control of the control circuit 9. The imaging unit 2103 is also, for example, an imaging sensor used for measuring light intensity, etc. Note that the imaging unit 2103 may be an imaging device such as a camera. Note that the reaction tube transport arm 210 is just one example of a reaction tube transport mechanism. Furthermore, the number of transport arms 2102 constituting the reaction tube transport arm 210 is arbitrary. For example, the reaction tube transport arm 210 may be composed of two or more transport arms.

本実施形態に係る反応管搬送アーム210は、反応管搬送アーム210の反応管保持部2101、及び、反応管保持部2101に保持された反応管2011又は反応管保持部2101に保持された光量測定用治具212が搬送経路を通るように、反応管供給部211から反応ディスク201の反応管設置位置へ反応管2011を搬送する。また、反応管搬送アーム210における反応管保持部2101に保持された、反応管2011又は光量測定用治具212の搬送経路は、例えば、搬送アーム2102の一端を中心とする回動に伴う円弧状の回動軌道上に形成される。反応ディスク201の反応管設置位置は、例えば、反応ディスク201における反応管2011の搬送経路である回動軌道と、反応管保持部2101に保持された、反応管2011又は光量測定用治具212の搬送経路である回動軌道とが交差する位置である。反応管搬送アーム210により搬送された反応管2011又は光量測定用治具212は、反応ディスク201の反応管設置位置に設置される。 In this embodiment, the reaction tube transport arm 210 transports the reaction tube 2011 from the reaction tube supply unit 211 to the reaction tube installation position on the reaction disk 201, such that the reaction tube holding unit 2101 of the reaction tube transport arm 210, and the reaction tube 2011 held by the reaction tube holding unit 2101 or the light intensity measuring jig 212 held by the reaction tube holding unit 2101, pass through the transport path. Furthermore, the transport path of the reaction tube 2011 or the light intensity measuring jig 212 held by the reaction tube holding unit 2101 of the reaction tube transport arm 210 is formed, for example, on an arc-shaped rotational trajectory associated with rotation around one end of the transport arm 2102. The reaction tube installation position on the reaction disk 201 is, for example, the position where the rotating trajectory, which is the transport path for the reaction tube 2011 on the reaction disk 201, intersects with the rotating trajectory, which is the transport path for the reaction tube 2011 or the light intensity measuring jig 212 held by the reaction tube holding unit 2101. The reaction tube 2011 or the light intensity measuring jig 212, transported by the reaction tube transport arm 210, is installed at the reaction tube installation position on the reaction disk 201.

なお、反応管搬送アーム210における反応管保持部2101に保持された、反応管2011又は光量測定用治具212の搬送経路は、任意である。例えば、反応管搬送アーム210における反応管保持部2101に保持された、反応管2011又は光量測定用治具212の搬送経路は、楕円状の軌道上に形成されてもよく、特定の形状を有しない搬送経路であってもよい。 The transport path for the reaction tube 2011 or the light intensity measuring jig 212, held by the reaction tube holding section 2101 of the reaction tube transport arm 210, is arbitrary. For example, the transport path for the reaction tube 2011 or the light intensity measuring jig 212, held by the reaction tube holding section 2101 of the reaction tube transport arm 210, may be formed on an elliptical trajectory, or it may be a transport path without a specific shape.

反応管供給部211は、空の反応管2011を供給する。反応管供給部211は、反応ディスク201の外周近傍に設けられている。反応管供給部211は、例えば、反応管収容部2111と、反応管供給レール2112とを備えて構成されている。反応管収容部2111は、例えば、空の反応管2011を複数収容している。反応管収容部2111は、制御回路9により、空の反応管2011を、反応管供給レール2112に供給する。反応管供給レール2112は、例えば、反応管収容部2111から反応管供給位置に向かって傾斜して設けられている。そのため、反応管2011は、反応管供給レール2112上を、重力により摺動して、反応管供給位置に移動する。反応管供給位置は、例えば、反応管搬送アーム210における反応管保持部2101の反応管2011の搬送経路である回動軌道と、反応管供給レール2042上における反応管2011の移動軌道とが交差する位置である。 The reaction tube supply unit 211 supplies empty reaction tubes 2011. The reaction tube supply unit 211 is located near the outer circumference of the reaction disk 201. The reaction tube supply unit 211 is configured, for example, with a reaction tube housing unit 2111 and a reaction tube supply rail 2112. The reaction tube housing unit 2111 houses, for example, a plurality of empty reaction tubes 2011. The reaction tube housing unit 2111 supplies empty reaction tubes 2011 to the reaction tube supply rail 2112 by the control circuit 9. The reaction tube supply rail 2112 is, for example, inclined toward the reaction tube supply position from the reaction tube housing unit 2111. Therefore, the reaction tubes 2011 slide along the reaction tube supply rail 2112 due to gravity and move toward the reaction tube supply position. The reaction tube supply position is, for example, the position where the rotational trajectory, which is the transport path of the reaction tube 2011 in the reaction tube holding section 2101 of the reaction tube transport arm 210, intersects with the movement trajectory of the reaction tube 2011 on the reaction tube supply rail 2042.

光量測定用治具212は、後述する測光ユニットの発光部の光量や光軸高さの測定を行うために用いられる治具である。光量測定用治具212は、例えば、ミラー2121と、ミラー収容容器2122とを備えて構成されている。ミラー2121は、発光部から照射された光を反射して、反応管搬送アーム210の撮像部2103に導く部材である。なお、発光部から照射された光を反射して、反応管搬送アーム210の撮像部2103に導く部材はミラーに限られず、プリズムなどの光を反射する反射部材であってもよい。ミラー収容容器2122は、ミラー2121を収容するための容器であり、例えば、反応管2011と同じ形状を有している。 The light intensity measurement jig 212 is a jig used to measure the light intensity and optical axis height of the light-emitting part of the photometric unit described later. The light intensity measurement jig 212 is composed of, for example, a mirror 2121 and a mirror housing container 2122. The mirror 2121 is a component that reflects light emitted from the light-emitting part and guides it to the imaging unit 2103 of the reaction tube transport arm 210. Note that the component that reflects light emitted from the light-emitting part and guides it to the imaging unit 2103 of the reaction tube transport arm 210 is not limited to a mirror; it may be a reflective component that reflects light, such as a prism. The mirror housing container 2122 is a container for housing the mirror 2121 and, for example, has the same shape as the reaction tube 2011.

本実施形態に係る光量測定用治具212は、例えば、分析機構2の治具設置位置に設置されている。この治具設定位置は、反応管搬送アーム210の反応管保持部2101の搬送経路である回動軌道上に設けられている。なお、本実施形態において、光量測定用治具212は、分析機構2の治具設置位置に設置されているが、光量測定用治具212は、分析機構2の治具設置位置に設置されていなくてもよい。すなわち、光量測定用治具212の設置場所は任意であり、例えば、自動分析装置1の外部に設置されているなど、自動分析装置1における分析機構2の治具設置位置以外の箇所に設置(保管)されていてもよい。以下、本実施形態においては、光量測定用治具212は、分析機構2の治具設置位置に設置されているものとして説明する。 In this embodiment, the light intensity measurement jig 212 is installed, for example, at the jig installation position of the analysis mechanism 2. This jig installation position is located on the rotational track, which is the transport path of the reaction tube holding section 2101 of the reaction tube transport arm 210. In this embodiment, the light intensity measurement jig 212 is installed at the jig installation position of the analysis mechanism 2, but it does not necessarily have to be installed at the jig installation position of the analysis mechanism 2. That is, the installation location of the light intensity measurement jig 212 is arbitrary; for example, it may be installed (stored) at a location other than the jig installation position of the analysis mechanism 2 in the automatic analyzer 1, such as outside the automatic analyzer 1. Hereinafter, in this embodiment, the light intensity measurement jig 212 will be described assuming it is installed at the jig installation position of the analysis mechanism 2.

さらに、本実施形態に係る分析機構2においては、その内部に、反応ディスク201に保持可能な反応管2011と同数の測光ユニットが設けられている。この測光ユニットが、本実施形態における測光部を構成する。図3及び図4は、この測光ユニット213の構成例を示す模式図である。図3は、測光ユニット213を、反応ディスク201の上方向から臨んだ際の各構成要素の位置関係の例を表す模式図である。図4は、測光ユニット213を、反応ディスク201の断面方向から臨んだ際の各構成要素の位置関係の例を表す模式図である。 Furthermore, in the analysis mechanism 2 according to this embodiment, the same number of photometric units as the reaction tubes 2011 that can be held in the reaction disk 201 are provided inside. These photometric units constitute the photometric section in this embodiment. Figures 3 and 4 are schematic diagrams showing examples of the configuration of these photometric units 213. Figure 3 is a schematic diagram showing an example of the positional relationship of each component when the photometric unit 213 is viewed from above the reaction disk 201. Figure 4 is a schematic diagram showing an example of the positional relationship of each component when the photometric unit 213 is viewed from the cross-sectional direction of the reaction disk 201.

測光ユニット213は、反応管2011内に分注された試料と試薬との混合液の光学的な物性値を連続的に測定する。本実施形態に係る分析機構2においては、測光ユニット213は、複数設けられている。例えば、測光ユニット213は、反応ディスク201で保持可能な反応管と同数だけ設けられている。すなわち、反応ディスク201で保持される1つの反応管に対して、1つの測光ユニット213が設けられている。それぞれの測光ユニット213の構成は同様であるため、図3及び図4においては、1つの測光ユニット213を代表して図示している。 The photometric unit 213 continuously measures the optical properties of the mixture of sample and reagent dispensed into the reaction tube 2011. In the analytical mechanism 2 according to this embodiment, multiple photometric units 213 are provided. For example, the number of photometric units 213 is equal to the number of reaction tubes that can be held by the reaction disk 201. That is, one photometric unit 213 is provided for each reaction tube held by the reaction disk 201. Since the configuration of each photometric unit 213 is similar, Figures 3 and 4 show a representative example of one photometric unit 213.

図3及び図4に示す測光ユニット213は、例えば、発光部2131と、光検出器2132、2133とを有する。例えば、測光ユニット213は、反応ディスク201で環状に保持される反応管2011の環状中心側に発光部2131を有する。発光部2131は、反応管2011が配列されている環の外側へ向けて光を照射するように設けられている。 The photometric unit 213 shown in Figures 3 and 4 includes, for example, a light-emitting unit 2131 and photodetectors 2132 and 2133. For instance, the photometric unit 213 has the light-emitting unit 2131 on the annular center side of the reaction tube 2011, which is held annularly by the reaction disk 201. The light-emitting unit 2131 is positioned to irradiate light toward the outside of the ring in which the reaction tubes 2011 are arranged.

発光部2131は、2種類の波長の光を発生する。発光部2131は、例えば、波長が長い第1の光と、波長が短い第2の光とを発生する。例えば、第1の光の波長は、620~750nmの赤色の波長域に含まれ、第2の光の波長は、380~495nmの紫から青色の波長域に含まれる。なお、第1及び第2の光の波長は、620~750nmの赤色の波長域にそれぞれ含まれていても構わない。発光部2131は、例えば、複数の波長の光を発生可能な多波長LED、所定の波長の光をそれぞれ発生する2つのLED、及び広い波長域の光からフィルタによって所望の波長の光を透過させる光源ユニット等により実現される。 The light-emitting unit 2131 generates light of two different wavelengths. For example, the light-emitting unit 2131 generates a first light with a longer wavelength and a second light with a shorter wavelength. For example, the wavelength of the first light falls within the red wavelength range of 620 to 750 nm, and the wavelength of the second light falls within the violet to blue wavelength range of 380 to 495 nm. Note that the wavelengths of the first and second light may each fall within the red wavelength range of 620 to 750 nm. The light-emitting unit 2131 can be realized, for example, by a multi-wavelength LED capable of generating light of multiple wavelengths, two LEDs each generating light of a predetermined wavelength, and a light source unit that transmits light of a desired wavelength from a wide wavelength range using a filter.

発光部2131は、制御回路9の制御に従い、第1及び第2の光を発生する。具体的には、例えば、発光部2131は、所定の周期で第1及び第2の光を交互に発生する。このとき、発光部2131は、例えば、第1及び第2の光を、凝固の最小測定単位である、例えば0.1秒の半分である0.05秒周期で交互に光を発生する。発光部2131から照射された光は、反応管2011へ入射される。 The light-emitting unit 2131 generates first and second light according to the control of the control circuit 9. Specifically, for example, the light-emitting unit 2131 alternately generates first and second light at a predetermined cycle. At this time, the light-emitting unit 2131 alternately generates first and second light at a cycle of 0.05 seconds, which is half of the smallest measurement unit of solidification, for example, 0.1 seconds. The light emitted from the light-emitting unit 2131 is incident on the reaction tube 2011.

なお、発光部2131は、制御回路9により指定される一方の波長の光を発生するようにしてもよい。また、発光部2131は、第1及び第2の光を同時に発生するようにしてもよい。ただし、このとき、不要な波長の光を除外するためのフィルタを光検出器2132、2133に設ける必要がある。 Furthermore, the light-emitting unit 2131 may be configured to generate light of one wavelength specified by the control circuit 9. Alternatively, the light-emitting unit 2131 may generate the first and second wavelengths of light simultaneously. However, in this case, filters for excluding unwanted wavelengths of light must be provided in the photodetectors 2132 and 2133.

光検出器2132は、反応管2011を挟んで発光部2131と対向する位置に配設される。発光部2131から出射された光は、反応管2011の第1側壁から入射され、第1側壁と対向する第2側壁から出射される。光検出器2132は、反応管2011から出射された光を検出する。 The photodetector 2132 is positioned opposite the light-emitting unit 2131, with the reaction tube 2011 in between. Light emitted from the light-emitting unit 2131 enters the reaction tube 2011 from the first side wall and exits from the second side wall opposite the first side wall. The photodetector 2132 detects the light emitted from the reaction tube 2011.

具体的には、例えば、光検出器2132は、反応管2011内の標準液と試薬との混合液を透過した光を検出する。光検出器2132は、検出した光を所定の時間間隔、例えば、0.1秒間隔でサンプリングし、透過光強度、又は吸光度等で表される標準データを生成する。所定の時間間隔は、例えば、第1の光の発生頻度と同期する。なお、光検出器2132は、例えば、第1の光の波長と対応した波長の光のみを検出するようにしてもよい。また、光検出器2132は、反応管2011内の血液検体と試薬との混合液を透過した光を検出する。光検出器2132は、検出した光を所定の時間間隔でサンプリングし、透過光強度、又は吸光度等により表される被検データを生成する。光検出器2132は、生成した標準データ、及び被検データを解析回路3へ出力する。 Specifically, for example, the photodetector 2132 detects light transmitted through the mixture of standard solution and reagent in the reaction tube 2011. The photodetector 2132 samples the detected light at predetermined time intervals, for example, 0.1-second intervals, and generates standard data represented by transmitted light intensity or absorbance. The predetermined time interval is synchronized, for example, with the frequency of the first light emission. The photodetector 2132 may also be configured to detect only light with a wavelength corresponding to the wavelength of the first light. Furthermore, the photodetector 2132 detects light transmitted through the mixture of blood sample and reagent in the reaction tube 2011. The photodetector 2132 samples the detected light at predetermined time intervals and generates test data represented by transmitted light intensity or absorbance. The photodetector 2132 outputs the generated standard data and test data to the analysis circuit 3.

光検出器2133は、発光部2131の光の照射軸と、光検出器2133の受光軸とが反応管2011内において略90度で交わるように配設される。発光部2131から出射された光は、反応管2011の第1側壁から入射され、混合液内の粒子により散乱された後、第1側壁と90度隔てて隣接する第3側壁から出射される。光検出器2133は、反応管2011から出射された光を検出する。光検出器2133は、例えば、散乱光受光部の一例である。 The photodetector 2133 is positioned so that the light irradiation axis of the light-emitting unit 2131 and the light-receiving axis of the photodetector 2133 intersect at approximately 90 degrees within the reaction tube 2011. Light emitted from the light-emitting unit 2131 enters the reaction tube 2011 from the first side wall, is scattered by particles in the mixed liquid, and then exits from the third side wall, which is adjacent to the first side wall at a 90-degree angle. The photodetector 2133 detects the light emitted from the reaction tube 2011. The photodetector 2133 is, for example, an example of a scattered light receiving unit.

具体的には、例えば、光検出器2133は、反応管2011内の標準液と試薬との混合液で散乱された光を検出する。光検出器2133は、検出した光を所定の時間間隔、例えば、0.1秒間隔でサンプリングし、散乱光強度等で表される標準データを生成する。所定の時間間隔は、例えば、第2の光の発生頻度と同期する。なお、光検出器2133は、例えば、第2の光の波長と対応した波長の光のみを検出するようにしてもよい。また、光検出器2133は、反応管2011内の血液検体と試薬との混合液で散乱された光を検出する。光検出器2133は、検出した光を所定の時間間隔でサンプリングし、散乱光強度等により表される被検データを生成する。光検出器2133は、生成した標準データ、及び被検データを解析回路3へ出力する。 Specifically, for example, the photodetector 2133 detects light scattered by the mixture of standard solution and reagent in the reaction tube 2011. The photodetector 2133 samples the detected light at predetermined time intervals, for example, 0.1-second intervals, and generates standard data represented by scattered light intensity, etc. The predetermined time interval is synchronized, for example, with the frequency of the second light emission. The photodetector 2133 may also be configured to detect only light with a wavelength corresponding to the wavelength of the second light. Furthermore, the photodetector 2133 detects light scattered by the mixture of blood sample and reagent in the reaction tube 2011. The photodetector 2133 samples the detected light at predetermined time intervals and generates test data represented by scattered light intensity, etc. The photodetector 2133 outputs the generated standard data and test data to the analysis circuit 3.

なお、光検出器2132、2133は、検出した光の強度を検出信号として解析回路3へ出力しても構わない。このとき、解析回路3が、所定の時間間隔、例えば、0.1秒間隔で検出信号をサンプリングし、標準データ、及び被検データを生成する。 Furthermore, the photodetectors 2132 and 2133 may output the detected light intensity as a detection signal to the analysis circuit 3. In this case, the analysis circuit 3 samples the detection signal at predetermined time intervals, for example, 0.1-second intervals, to generate standard data and test data.

図5は、本実施形態に係る測光ユニット213の別の構成例を表す模式図である。図5は、図3と同様に、測光ユニット213を、反応ディスク201の上方向から臨んだ際の各構成要素の位置関係の例を表している。図5に示される測光ユニット213は、発光部2131として、2つのLED51、52を有している。図5に示される例では、LED52の光の照射軸が、LED51の光の照射軸に対して所定の角度だけ傾けられている。 Figure 5 is a schematic diagram showing another configuration example of the photometric unit 213 according to this embodiment. Similar to Figure 3, Figure 5 shows an example of the positional relationship of each component when the photometric unit 213 is viewed from above the reaction disk 201. The photometric unit 213 shown in Figure 5 has two LEDs 51 and 52 as the light-emitting section 2131. In the example shown in Figure 5, the light irradiation axis of LED 52 is tilted by a predetermined angle relative to the light irradiation axis of LED 51.

光検出器2132は、図3及び図4の例と同様に、反応管2011を挟んでLED51と対向する位置に配設されている。一方、光検出器2133は、LED52の光の照射軸と、光検出器2133の受光軸とが反応管2011内において略90度で交わるように配設されている。 The photodetector 2132 is positioned opposite the LED 51, across the reaction tube 2011, similar to the examples in Figures 3 and 4. On the other hand, the photodetector 2133 is positioned so that the light irradiation axis of the LED 52 and the light receiving axis of the photodetector 2133 intersect at approximately 90 degrees within the reaction tube 2011.

図1に示される制御回路9は、記憶回路8に記憶されている制御プログラムを実行することで、当該プログラムに対応する機能を実現する。例えば、制御回路9は、制御プログラムを実行することで、システム制御機能91と、第1制御機能92と、測定機能93と、第1報告機能94とを有する。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによってシステム制御機能91と、第1制御機能92と、測定機能93と、第1報告機能94とが実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて制御回路を構成し、各プロセッサが制御プログラムを実行することにより、これらの各種機能を実現しても構わない。 The control circuit 9 shown in Figure 1 implements the functions corresponding to the control program stored in the memory circuit 8 by executing the program. For example, the control circuit 9 has a system control function 91, a first control function 92, a measurement function 93, and a first reporting function 94 by executing the control program. In this embodiment, the case in which the system control function 91, the first control function 92, the measurement function 93, and the first reporting function 94 are implemented by a single processor is described, but this is not the only case. For example, the control circuit may be configured by combining multiple independent processors, and each processor may implement these various functions by executing a control program.

システム制御機能91は、入力インターフェース5から入力される入力情報に基づき、自動分析装置1における各部を統括して制御する機能である。例えば、システム制御機能91において制御回路9は、駆動機構4及び分析機構2を制御することにより、サンプル分注アーム206や試薬分注アーム208を制御して、反応管2011に試料や試薬を分注すると共に、検査項目に応じた解析を実施するように解析回路3を制御する。 The system control function 91 is a function that comprehensively controls each part of the automatic analyzer 1 based on the input information received from the input interface 5. For example, in the system control function 91, the control circuit 9 controls the drive mechanism 4 and the analysis mechanism 2, thereby controlling the sample dispensing arm 206 and the reagent dispensing arm 208 to dispense samples and reagents into the reaction tube 2011, and also controls the analysis circuit 3 to perform analysis according to the test items.

第1制御機能92は、分析機構2や駆動機構4を制御することにより、反応管搬送アーム210を制御したり、反応管搬送アーム210に設けられた撮像部2103を制御したりする機能である。具体的には、第1制御機能92は、反応管搬送アーム210を制御して、反応管2011を反応管供給部211から反応ディスク201に搬送させ、反応管搬送アーム210に設けられた撮像部2103により、反応管2011を撮像させるように制御する機能である。また、第1制御機能92は、反応管搬送アーム210を制御して、光量測定用治具212を反応ディスク201に搬送させる。 The first control function 92 controls the reaction tube transport arm 210 and the imaging unit 2103 provided on the reaction tube transport arm 210 by controlling the analysis mechanism 2 and the drive mechanism 4. Specifically, the first control function 92 controls the reaction tube transport arm 210 to transport the reaction tube 2011 from the reaction tube supply unit 211 to the reaction disk 201, and controls the imaging unit 2103 provided on the reaction tube transport arm 210 to image the reaction tube 2011. Furthermore, the first control function 92 controls the reaction tube transport arm 210 to transport the light intensity measuring jig 212 to the reaction disk 201.

測定機能93は、発光部2131の光量や発光部2131の光軸高さを測定する機能である。具体的には、測定機能93は、測光ユニット213などを制御することにより、撮像部2103が光量測定用治具212を介して、受光した発光部2131の光量や、光量測定用治具212の底面から発光部2131の光軸までの高さである発光部2131の光軸高さを測定する機能である。 The measurement function 93 is a function that measures the light intensity of the light-emitting unit 2131 and the optical axis height of the light-emitting unit 2131. Specifically, the measurement function 93 controls the photometric unit 213 and other components to measure the light intensity of the light-emitting unit 2131 received by the imaging unit 2103 via the light intensity measurement jig 212, and the optical axis height of the light-emitting unit 2131, which is the height from the bottom surface of the light intensity measurement jig 212 to the optical axis of the light-emitting unit 2131.

第1報告機能94は、発光部2131の光量の測定結果や発光部2131の光軸高さの測定結果をユーザに報告する機能である。具体的には、第1報告機能94は、出力インターフェース6を介して、測定機能93により測定された発光部2131の光量の測定結果及び、測定機能93により測定された発光部2131の光軸高さの測定結果の少なくともいずれか一方をユーザに報告する。 The first reporting function 94 is a function that reports to the user the measurement results of the light intensity of the light-emitting unit 2131 and the measurement results of the optical axis height of the light-emitting unit 2131. Specifically, the first reporting function 94 reports to the user, via the output interface 6, at least one of the measurement results of the light intensity of the light-emitting unit 2131 measured by the measurement function 93, and the measurement results of the optical axis height of the light-emitting unit 2131 measured by the measurement function 93.

なお、図1に示したシステム制御機能91、第1制御機能92、測定機能93、及び、第1報告機能94は、それぞれ、本実施形態におけるシステム制御部、第1制御部、測定部、第1報告部を構成している。 Furthermore, the system control function 91, first control function 92, measurement function 93, and first reporting function 94 shown in Figure 1 constitute the system control unit, first control unit, measurement unit, and first reporting unit, respectively, in this embodiment.

図6は、本実施形態に係る自動分析装置1で実行される測定処理の内容を説明するフローチャート図である。この測定処理では、発光部2131の光量や発光部2131の光軸高さを測定したり、光量の測定結果や光軸高さの測定結果をユーザに報告したりする。例えば、この測定処理は、毎朝の装置を使用する前や1週間に1回など、ユーザが指定したタイミングで実行される処理である。 Figure 6 is a flowchart illustrating the measurement process performed by the automated analyzer 1 according to this embodiment. This measurement process measures the light intensity and optical axis height of the light-emitting unit 2131, and reports the results of these measurements to the user. For example, this measurement process is performed at a user-specified time, such as before using the device every morning or once a week.

図6に示すように、まず、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210における反応管保持部2101を治具設置位置へ移動させる(ステップS11)。この反応管保持部2101を治具設置位置へ移動させる処理は、制御回路9における第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、反応管保持部2101を治具設置位置へ移動させる。 As shown in Figure 6, first, the automatic analyzer 1 moves the reaction tube holder 2101 on the reaction tube transport arm 210 to the jig installation position (step S11). This process of moving the reaction tube holder 2101 to the jig installation position is realized by the first control function 92 in the control circuit 9. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to move the reaction tube holder 2101 to the jig installation position.

なお、光量測定用治具212が自動分析装置1の外部に設置(保管)されているなど自動分析装置1における分析機構2の治具設置位置以外の箇所に設置(保管)されている場合、ユーザが治具設置位置に光量測定用治具212を設置して、反応管保持部2101に保持させるようにしてもよく、ユーザが光量測定用治具212を設置箇所から反応管保持部2101まで運び、ユーザが光量測定用治具212を反応管保持部2101に保持させるようにしてもよい。ユーザが光量測定用治具212を設置箇所から反応管保持部2101まで運ぶ場合、反応管搬送アーム210は、移動しなくてもよい。すなわち、光量測定用治具212が自動分析装置1の外部に設置(保管)されているなど、自動分析装置1の分析機構2の治具設置位置以外の箇所に設置(保管)されている場合において、ステップS11は、省略してもよい。 Furthermore, if the light intensity measurement jig 212 is installed (stored) outside the automatic analyzer 1, or in a location other than the jig installation location of the analysis mechanism 2 in the automatic analyzer 1, the user may install the light intensity measurement jig 212 at the jig installation location and have it held by the reaction tube holder 2101, or the user may carry the light intensity measurement jig 212 from the installation location to the reaction tube holder 2101 and have the user hold the light intensity measurement jig 212 in the reaction tube holder 2101. If the user carries the light intensity measurement jig 212 from the installation location to the reaction tube holder 2101, the reaction tube transport arm 210 does not need to move. In other words, if the light intensity measurement jig 212 is installed (stored) outside the automatic analyzer 1, or in a location other than the jig installation location of the analysis mechanism 2 in the automatic analyzer 1, step S11 may be omitted.

次に、図6に示すように、自動分析装置1は、光量測定用治具212を保持させる(ステップS13)。この光量測定用治具212を保持させる処理は、制御回路9における第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、治具設置位置において、反応管保持部2101により、光量測定用治具212を保持させる。 Next, as shown in Figure 6, the automatic analyzer 1 holds the light intensity measuring jig 212 (step S13). This process of holding the light intensity measuring jig 212 is realized by the first control function 92 in the control circuit 9. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to hold the light intensity measuring jig 212 at the jig installation position using the reaction tube holding unit 2101.

次に、図6に示すように、自動分析装置1は、光量測定用治具212を反応ディスク201へ設置する(ステップS15)。この反応ディスク201へ設置する処理は、制御回路9における第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、光量測定用治具212を反応ディスク201の反応管設置位置に設置する。 Next, as shown in Figure 6, the automatic analyzer 1 places the light intensity measuring jig 212 onto the reaction disk 201 (step S15). This placement process onto the reaction disk 201 is realized by the first control function 92 in the control circuit 9. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to place the light intensity measuring jig 212 at the reaction tube placement position on the reaction disk 201.

次に、図6に示すように自動分析装置1は、発光部2131を発光させる(ステップS17)。この発光部2131を発光させる処理は、制御回路9における第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、光量測定用治具212が設置された発光部2131を発光させる。なお、自動分析装置1は、ステップS17において、光量測定用治具212が設置された発光部2131を発光させるとともに、光量測定用治具212が設置されていない発光部2131を発光させるようにしてもよい。 Next, as shown in Figure 6, the automatic analyzer 1 causes the light-emitting unit 2131 to emit light (step S17). This process of causing the light-emitting unit 2131 to emit light is realized by the first control function 92 in the control circuit 9. Specifically, the automatic analyzer 1 causes the light-emitting unit 2131 on which the light intensity measuring jig 212 is installed to emit light. Note that in step S17, the automatic analyzer 1 may also cause the light-emitting unit 2131 on which the light intensity measuring jig 212 is installed to emit light, as well as the light-emitting unit 2131 on which the light intensity measuring jig 212 is not installed.

次に、図6に示すように、自動分析装置1は、発光部2131の光量を測定する(ステップS19)。この発光部2131の光量を測定する処理は、制御回路9における測定機能93により実現される。具体的には、自動分析装置1は、発光部2131が照射した光を光量測定用治具212のミラー2121を介して、反応管搬送アーム210の撮像部2103が受光することにより、発光部2131の光量を測定する。 Next, as shown in Figure 6, the automatic analyzer 1 measures the light intensity of the light-emitting unit 2131 (step S19). This process of measuring the light intensity of the light-emitting unit 2131 is implemented by the measurement function 93 in the control circuit 9. Specifically, the automatic analyzer 1 measures the light intensity of the light-emitting unit 2131 by receiving the light emitted by the light-emitting unit 2131 via the mirror 2121 of the light intensity measurement jig 212, which is then received by the imaging unit 2103 of the reaction tube transport arm 210.

次に、図6に示すように、自動分析装置1は、発光部2131の光軸高さを測定する(ステップS21)。この発光部2131の光軸高さを測定する処理は、制御回路9における測定機能93により実現される。具体的には、自動分析装置1は、撮像部2103が発光部2131から照射された光を受光した撮像部2103内の位置である受光位置に基づいて、発光部2131の光軸高さを測定する。 Next, as shown in Figure 6, the automatic analyzer 1 measures the optical axis height of the light-emitting unit 2131 (step S21). This measurement of the optical axis height of the light-emitting unit 2131 is performed by the measurement function 93 in the control circuit 9. Specifically, the automatic analyzer 1 measures the optical axis height of the light-emitting unit 2131 based on the light-receiving position, which is the position within the imaging unit 2103 where the light emitted from the light-emitting unit 2131 is received by the imaging unit 2103.

図7は、本実施形態に係る自動分析装置1において、撮像部2103の受光位置と、発光部2131の光軸高さとの関係の一例を模式的に示す模式図である。図7に示すように、反応ディスク201の反応管設置位置に設置された光量測定用治具212は、発光部2131から照射された光をミラー2121により反射させて、撮像部2103に発光部2131から照射された光を受光させる。このとき、図7(a)に示すように、発光部2131がミラー2121へ光を照射した位置が、ミラー2121の高さ方向の下方、すなわち、光軸高さHが低い場合、発光部2131から照射された光は、撮像部2103の中心より左方の位置、すなわち、発光部2131に近い撮像部2103内の位置(近位)に照射されることとなる。 Figure 7 is a schematic diagram illustrating an example of the relationship between the light-receiving position of the imaging unit 2103 and the optical axis height of the light-emitting unit 2131 in the automatic analyzer 1 according to this embodiment. As shown in Figure 7, the light intensity measuring jig 212, installed at the reaction tube installation position of the reaction disk 201, reflects the light emitted from the light-emitting unit 2131 using the mirror 2121, causing the imaging unit 2103 to receive the light emitted from the light-emitting unit 2131. At this time, as shown in Figure 7(a), if the position where the light-emitting unit 2131 irradiates the mirror 2121 is below the height of the mirror 2121, i.e., the optical axis height H is low, the light emitted from the light-emitting unit 2131 will irradiate a position to the left of the center of the imaging unit 2103, i.e., a position within the imaging unit 2103 close to the light-emitting unit 2131 (proximal).

また、図7(b)に示すように、発光部2131がミラー2121へ光を照射した位置が、ミラー2121の高さ方向の中央付近である場合、発光部2131から照射された光は、撮像部2103の中心位置に照射されることとなる。さらに。図7(c)に示すように、発光部2131がミラー2121へ光を照射した位置が、ミラー2121の高さ方向の上方、すなわち、光軸高さHが高い場合、発光部2131から照射された光は、撮像部2103の中心より右方の位置、すなわち、発光部2131から遠い撮像部2103内の位置(遠位)に照射されることとなる。つまり、撮像部2103の受光位置と、発光部2131の光軸高さHには、一定の関係性があるため、図7に示すように自動分析装置1は、撮像部2103の受光位置に基づいて、発光部2131の光軸高さHを測定することができる。なお、図7に示す例では、反応管保持部2101は、光量測定用治具212を保持していないが、自動分析装置1は、光量測定用治具212を保持した状態で、光軸高さHを測定するようにしてもよい。 Furthermore, as shown in Figure 7(b), if the position where the light-emitting unit 2131 irradiates the mirror 2121 is near the center in the height direction of the mirror 2121, the light emitted from the light-emitting unit 2131 will irradiate the center position of the imaging unit 2103. Moreover, as shown in Figure 7(c), if the position where the light-emitting unit 2131 irradiates the mirror 2121 is above the height direction of the mirror 2121, i.e., when the optical axis height H is high, the light emitted from the light-emitting unit 2131 will irradiate a position to the right of the center of the imaging unit 2103, i.e., a position within the imaging unit 2103 that is far from the light-emitting unit 2131 (distal). In other words, since there is a certain relationship between the light-receiving position of the imaging unit 2103 and the optical axis height H of the light-emitting unit 2131, the automatic analyzer 1 can measure the optical axis height H of the light-emitting unit 2131 based on the light-receiving position of the imaging unit 2103, as shown in Figure 7. In the example shown in Figure 7, the reaction tube holder 2101 does not hold the light intensity measurement jig 212. However, the automatic analyzer 1 may measure the optical axis height H while holding the light intensity measurement jig 212.

次に、図6に示すように、自動分析装置1は、光量が所定の範囲外であるか否かを判定する(ステップS23)。この光量が所定の範囲外であるか否かの判定は、制御回路9における第1報告機能94により実現される。具体的には、自動分析装置1は、ステップS19で測定した光量の測定結果が所定の範囲外であるか否かを判定する。 Next, as shown in Figure 6, the automatic analyzer 1 determines whether the light intensity is outside a predetermined range (step S23). This determination of whether the light intensity is outside a predetermined range is achieved by the first reporting function 94 in the control circuit 9. Specifically, the automatic analyzer 1 determines whether the measurement result of the light intensity measured in step S19 is outside a predetermined range.

そして、光量が所定の範囲外でないと判定する場合(ステップS23:No)、自動分析装置1は、光量の測定結果及び、光量の測定結果が所定の範囲外でないことを報告する(ステップS25)。この報告する処理は、制御回路9における第1報告機能94により実現される。具体的には、自動分析装置1は、出力インターフェース6を介して、ステップS19で測定した発光部2131の光量の測定結果及び、ステップS23で判定した発光部2131の光量の測定結果が所定の範囲外でないこと、すなわち、ステップS23で判定した発光部2131の光量の測定結果が所定の範囲内であることをユーザに報告する。 Then, if it is determined that the light intensity is not outside the predetermined range (Step S23: No), the automatic analyzer 1 reports the light intensity measurement result and that the light intensity measurement result is not outside the predetermined range (Step S25). This reporting process is realized by the first reporting function 94 in the control circuit 9. Specifically, the automatic analyzer 1 reports to the user via the output interface 6 that the light intensity measurement result of the light-emitting unit 2131 measured in Step S19 and the light intensity measurement result of the light-emitting unit 2131 determined in Step S23 are not outside the predetermined range, that is, the light intensity measurement result of the light-emitting unit 2131 determined in Step S23 is within the predetermined range.

一方、光量が所定の範囲外であると判定する場合(ステップS23:Yes)、自動分析装置1は、光量の自動調整を行う(ステップS27)。この光量を自動調整する処理は、制御回路9における第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、例えば、発光部2131の光量のゲインを自動調整して、自動調整後の発光部2131の光量を測定する。 On the other hand, if the light intensity is determined to be outside a predetermined range (step S23: Yes), the automatic analyzer 1 automatically adjusts the light intensity (step S27). This automatic adjustment of light intensity is realized by the first control function 92 in the control circuit 9. Specifically, the automatic analyzer 1, for example, automatically adjusts the gain of the light intensity of the light-emitting unit 2131 and measures the light intensity of the light-emitting unit 2131 after the automatic adjustment.

次に、図6に示すように、自動分析装置1は、自動調整後の光量が所定の範囲外であるか否かを判定する(ステップS29)。この所定の範囲外であるか否かを判定する処理は、制御回路9における第1報告機能94により実現される。具体的には、自動分析装置1はステップS27で測定した自動調整後の発光部2131の光量の測定結果が、所定の範囲外であるか否かを判定する。 Next, as shown in Figure 6, the automatic analyzer 1 determines whether the light intensity after automatic adjustment is outside a predetermined range (step S29). This process of determining whether it is outside the predetermined range is realized by the first reporting function 94 in the control circuit 9. Specifically, the automatic analyzer 1 determines whether the measurement result of the light intensity of the light-emitting unit 2131 after automatic adjustment, measured in step S27, is outside a predetermined range.

そして、ステップS27における自動調整後の光量が所定の範囲外でない場合(ステップS29:No)、自動分析装置1は、自動調整後の光量の測定結果及び、自動調整後の光量の測定結果が所定の範囲外でないことを報告する(ステップS31)。この報告する処理は、制御回路9における第1報告機能94により実現される。具体的には、自動分析装置1は、出力インターフェース6を介して、ステップS27で測定した自動調整後の発光部2131の光量の測定結果及び、ステップS29で判定した自動調整後の発光部2131の光量の測定結果が所定の範囲外でないこと、すなわち、ステップS29で判定した自動調整後の発光部2131の光量の測定結果が所定の範囲内であることをユーザに報告する。 Then, if the light intensity after automatic adjustment in step S27 is not outside the predetermined range (step S29: No), the automatic analyzer 1 reports the measurement result of the light intensity after automatic adjustment and that the measurement result of the light intensity after automatic adjustment is not outside the predetermined range (step S31). This reporting process is realized by the first reporting function 94 in the control circuit 9. Specifically, the automatic analyzer 1 reports to the user via the output interface 6 that the measurement result of the light intensity of the light-emitting unit 2131 after automatic adjustment measured in step S27 and the measurement result of the light intensity of the light-emitting unit 2131 after automatic adjustment determined in step S29 are not outside the predetermined range, that is, the measurement result of the light intensity of the light-emitting unit 2131 after automatic adjustment determined in step S29 is within the predetermined range.

一方、自動調整後の光量が所定の範囲外である場合(ステップS29:Yes)、自動分析装置1は、自動調整後の光量の測定結果及び、自動調整後の光量の測定結果が所定の範囲外であることを報告する(ステップS33)。この報告する処理は、制御回路9における第1報告機能94により実現される。具体的には、自動分析装置1は、出力インターフェース6を介して、ステップS27で測定した自動調整後の発光部2131の光量の測定結果及び、ステップS39で判定した自動調整後の発光部2131の光量の測定結果が所定の範囲外であることをユーザに報告する。また、自動分析装置1は、発光部2131の光量の測定結果が所定の範囲外であることをユーザに報告する際に、自動調整後の発光部2131の光量の測定結果が所定の範囲外である当該反応ディスク201の反応管設置位置を使用するか否かをユーザに設定させる設定画面を出力インターフェース6の表示回路に表示するようにしてもよく、自動分析装置1は、自動調整後の発光部2131の光量の測定結果が所定の範囲外である当該反応ディスク201の反応管設置位置を使用しないように自動的に設定するようにしてもよい。 On the other hand, if the light intensity after automatic adjustment is outside a predetermined range (step S29: Yes), the automatic analyzer 1 reports the measurement result of the light intensity after automatic adjustment and that the measurement result of the light intensity after automatic adjustment is outside a predetermined range (step S33). This reporting process is realized by the first reporting function 94 in the control circuit 9. Specifically, the automatic analyzer 1 reports to the user via the output interface 6 that the measurement result of the light intensity of the light-emitting unit 2131 after automatic adjustment, measured in step S27, and the measurement result of the light intensity of the light-emitting unit 2131 after automatic adjustment, determined in step S39, are outside a predetermined range. Furthermore, when the automatic analyzer 1 reports to the user that the measurement result of the light intensity of the light-emitting unit 2131 is outside a predetermined range, it may display a setting screen on the display circuit of the output interface 6 that allows the user to set whether or not to use the reaction tube installation position of the reaction disk 201 in which the measurement result of the light intensity of the light-emitting unit 2131 after automatic adjustment is outside the predetermined range. Alternatively, the automatic analyzer 1 may be configured to automatically not use the reaction tube installation position of the reaction disk 201 in which the measurement result of the light intensity of the light-emitting unit 2131 after automatic adjustment is outside the predetermined range.

次に、図6に示すように、自動分析装置1は、光軸高さHが所定の範囲外であるか否かを判定する(ステップS35)。この所定の範囲外であるか否かの判定は、制御回路9における第1報告機能94により実現される。具体的には、自動分析装置1は、ステップS21で測定した発光部2131の光軸高さHの測定結果が所定の範囲外であるか否かを判定する。 Next, as shown in Figure 6, the automatic analyzer 1 determines whether the optical axis height H is outside a predetermined range (step S35). This determination of whether it is outside the predetermined range is achieved by the first reporting function 94 in the control circuit 9. Specifically, the automatic analyzer 1 determines whether the measurement result of the optical axis height H of the light-emitting unit 2131, measured in step S21, is outside the predetermined range.

そして、光軸高さHが所定の範囲外でない場合(ステップS35:No)、自動分析装置1は、光軸高さHの測定結果及び、光軸高さHの測定結果が所定の範囲外でないことを報告する(ステップS37)。この報告する処理は、制御回路9における第1報告機能94により実現される。具体的には、自動分析装置1は、出力インターフェース6を介して、ステップS21で測定した発光部2131の光軸高さHの測定結果及び、ステップS35で判定した発光部2131の光軸高さHの測定結果が所定の範囲外でないこと、すなわち、ステップS35で判定した発光部2131の光軸高さHの測定結果が所定の範囲内であることをユーザに報告する。 Then, if the optical axis height H is not outside the predetermined range (step S35: No), the automatic analyzer 1 reports the measurement result of the optical axis height H and that the measurement result of the optical axis height H is not outside the predetermined range (step S37). This reporting process is realized by the first reporting function 94 in the control circuit 9. Specifically, the automatic analyzer 1 reports to the user via the output interface 6 that the measurement result of the optical axis height H of the light-emitting unit 2131 measured in step S21 and the measurement result of the optical axis height H of the light-emitting unit 2131 determined in step S35 are not outside the predetermined range, that is, the measurement result of the optical axis height H of the light-emitting unit 2131 determined in step S35 is within the predetermined range.

一方、光軸高さHが所定の範囲外である場合(ステップS35:Yes)、自動分析装置1は、発光部2131の光軸高さHの測定結果及び、発光部2131の光軸高さHの測定結果が所定の範囲外であることを報告する(ステップS39)。このユーザに報告する処理は、制御回路9における第1報告機能94により実現される。具体的には、自動分析装置1は、出力インターフェース6を介して、ステップS21で測定した発光部2131の光軸高さHの測定結果及び、ステップS35で判定した発光部2131の光軸高さHの測定結果が所定の範囲外であることをユーザに報告する。また、自動分析装置1は、発光部2131の光軸高さHの測定結果が所定の範囲外であることをユーザに報告する際に、発光部2131の光軸高さHが所定の範囲外である当該反応ディスク201の反応管設置位置を使用するか否かをユーザに設定させる設定画面を出力インターフェース6の表示回路に表示するようにしてもよく、自動分析装置1は、発光部2131の光軸高さHが所定の範囲外である当該反応ディスク201の反応管設置位置を使用しないように自動的に設定するようにしてもよい。 On the other hand, if the optical axis height H is outside a predetermined range (step S35: Yes), the automatic analyzer 1 reports the measurement result of the optical axis height H of the light-emitting unit 2131 and that the measurement result of the optical axis height H of the light-emitting unit 2131 is outside a predetermined range (step S39). This reporting process to the user is realized by the first reporting function 94 in the control circuit 9. Specifically, the automatic analyzer 1 reports to the user via the output interface 6 that the measurement result of the optical axis height H of the light-emitting unit 2131 measured in step S21 and the measurement result of the optical axis height H of the light-emitting unit 2131 determined in step S35 are outside a predetermined range. Furthermore, when the automatic analyzer 1 reports to the user that the measurement result of the optical axis height H of the light-emitting unit 2131 is outside a predetermined range, it may display a setting screen on the display circuit of the output interface 6 that allows the user to set whether or not to use the reaction tube installation position of the reaction disk 201 where the optical axis height H of the light-emitting unit 2131 is outside the predetermined range. Alternatively, the automatic analyzer 1 may be configured to automatically not use the reaction tube installation position of the reaction disk 201 where the optical axis height H of the light-emitting unit 2131 is outside the predetermined range.

次に、図6に示すように、自動分析装置1は、他の発光部2131の測定が必要か否かを判定する(ステップS41)。この他の発光部2131の測定が必要か否かを判定する処理は、制御回路9における第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、他の発光部2131の測定が完了したか否かにより、他の発光部2131の測定が必要か否かを判定する。 Next, as shown in Figure 6, the automatic analyzer 1 determines whether measurement of the other light-emitting units 2131 is necessary (step S41). This process of determining whether measurement of the other light-emitting units 2131 is necessary is implemented by the first control function 92 in the control circuit 9. Specifically, the automatic analyzer 1 determines whether measurement of the other light-emitting units 2131 is necessary based on whether the measurement of the other light-emitting units 2131 has been completed.

そして、他の発光部2131の測定が必要な場合(ステップS41:Yes)、自動分析装置1は、光量測定用治具212を保持する(ステップS43)。この光量測定用治具212を保持する処理は、制御回路9における第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、反応管保持部2101により、反応ディスク201の反応管設置位置に設置された光量測定用治具212を保持する。 Then, if measurement of other light-emitting units 2131 is required (step S41: Yes), the automatic analyzer 1 holds the light intensity measuring jig 212 (step S43). This process of holding the light intensity measuring jig 212 is realized by the first control function 92 in the control circuit 9. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to hold the light intensity measuring jig 212, which is installed at the reaction tube installation position on the reaction disk 201, using the reaction tube holding unit 2101.

次に、図6に示すように、自動分析装置1は、光量測定用治具212を反応ディスク201に設置する(ステップS45)。この反応ディスク201に設置する処理は、制御回路9における第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、他の発光部2131を測定するために、光量測定用治具212を搬送して、反応ディスク201の次の反応管設置位置に光量測定用治具212を設置する。そして、ステップS17に戻り、このステップS17からの処理を繰り返す。 Next, as shown in Figure 6, the automatic analyzer 1 places the light intensity measuring jig 212 on the reaction disk 201 (step S45). This placement on the reaction disk 201 is achieved by the first control function 92 in the control circuit 9. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to transport the light intensity measuring jig 212 in order to measure the other light-emitting units 2131, and places the light intensity measuring jig 212 at the next reaction tube placement position on the reaction disk 201. Then, it returns to step S17 and repeats the process from step S17.

一方、他の発光部2131を測定しないと判定された場合(ステップS41:No)、自動分析装置1は、ステップS41を実行することにより、本実施形態に係る測定処理を終了する。 On the other hand, if it is determined that no other light-emitting units 2131 need to be measured (step S41: No), the automatic analyzer 1 terminates the measurement process according to this embodiment by executing step S41.

以上のように、本実施形態に係る自動分析装置1によれば、反応管搬送アーム210を制御して、1つの光量測定用治具212を反応ディスク201に搬送して、反応ディスク201に設けられた複数の発光部2131の光量及び発光部2131の光軸高さHを1つの光量測定用治具212により測定することにしたので、自動分析装置1の測定精度を向上させることができる。すなわち、自動分析装置1は、1つの光量測定用治具212を用いることにより、光量測定用治具の個体差の影響を受けなくなるため、調整された発光部2131の光量にバラツキが生じず、複数の発光部2131の光量の測定結果及び発光部2131の光軸高さHの測定結果にバラツキが生じる可能性を少なくすることができる。 As described above, according to the automatic analyzer 1 of this embodiment, the reaction tube transport arm 210 is controlled to transport one light intensity measuring jig 212 to the reaction disk 201, and the light intensity and optical axis height H of the multiple light-emitting units 2131 provided on the reaction disk 201 are measured using one light intensity measuring jig 212. Therefore, the measurement accuracy of the automatic analyzer 1 can be improved. In other words, by using one light intensity measuring jig 212, the automatic analyzer 1 is not affected by individual differences in the light intensity measuring jigs, thus preventing variations in the light intensity of the adjusted light-emitting units 2131 and reducing the possibility of variations in the measurement results of the light intensity of the multiple light-emitting units 2131 and the optical axis height H of the light-emitting units 2131.

〔第1実施形態の変形例1〕
上述した第1実施形態に係る自動分析装置1においては、撮像部2103が発光部2131から照射された光を受光した位置である受光位置に基づいて、発光部2131の光軸高さHを測定することとしたが、撮像部2103が発光部2131から照射された光を撮像部2103内の所定の位置で受光したときの光量測定用治具212の降下量に基づいて、発光部2131の光軸高さHを測定することも可能である。以下、この変形例を第1実施形態に適用した場合を変形例1として、上述した第1実施形態とは異なる部分を説明する。
[Modification 1 of the First Embodiment]
In the automatic analyzer 1 according to the first embodiment described above, the optical axis height H of the light-emitting unit 2131 is measured based on the light-receiving position, which is the position where the imaging unit 2103 receives light emitted from the light-emitting unit 2131. However, it is also possible to measure the optical axis height H of the light-emitting unit 2131 based on the amount of descent of the light intensity measuring jig 212 when the imaging unit 2103 receives light emitted from the light-emitting unit 2131 at a predetermined position within the imaging unit 2103. Hereinafter, a modification in which this modification is applied to the first embodiment will be referred to as Modification 1, and the parts that differ from the first embodiment described above will be explained.

なお、第1実施形態の変形例1に係る自動分析装置1の機能構成は、図1と同等であるので説明を省略する。また、第1実施形態の変形例1に係る自動分析装置1における分析機構2の構成は、図2と同等であるので説明を省略する。さらに第1実施形態の変形例1に係る自動分析装置1の測光ユニット213の構成は、図3及び図4と同等であるので説明を省略する。 The functional configuration of the automatic analyzer 1 according to Modification 1 of the First Embodiment is equivalent to that of Figure 1, so its explanation is omitted. Furthermore, the configuration of the analysis mechanism 2 in the automatic analyzer 1 according to Modification 1 of the First Embodiment is equivalent to that of Figure 2, so its explanation is omitted. Finally, the configuration of the photometric unit 213 in the automatic analyzer 1 according to Modification 1 of the First Embodiment is equivalent to that of Figures 3 and 4, so its explanation is omitted.

図8及び図9は、第1実施形態の変形例1に係る自動分析装置1で実行される測定処理の内容を説明するフローチャート図であり、上述した第1実施形態における図6に対応する図である。なお、図8に示すステップS11及びステップS13の処理は、上述した第1実施形態における図6と同等であるため説明を省略する。 Figures 8 and 9 are flowcharts illustrating the measurement process performed by the automatic analyzer 1 according to Modification 1 of the First Embodiment, and correspond to Figure 6 in the First Embodiment described above. Note that the processes in steps S11 and S13 shown in Figure 8 are equivalent to those in Figure 6 of the First Embodiment described above, and therefore their explanation is omitted.

次に、図8に示すように、自動分析装置1は、光量測定用治具212を反応ディスク201の上方に搬送させる(ステップS51)。この反応ディスク201の上方に搬送させる処理は、制御回路9の第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、光量測定用治具212を反応ディスク201の反応管設置位置の上方に搬送させる。なお、図8に示すステップS17の処理は、上述した第1実施形態における図6と同等であるため説明を省略する。 Next, as shown in Figure 8, the automatic analyzer 1 transports the light intensity measuring jig 212 above the reaction disk 201 (step S51). This transport above the reaction disk 201 is achieved by the first control function 92 of the control circuit 9. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to transport the light intensity measuring jig 212 above the reaction tube installation position on the reaction disk 201. Note that the process in step S17 shown in Figure 8 is equivalent to that in Figure 6 of the first embodiment described above, so its explanation is omitted.

次に、図8に示すように、自動分析装置1は、光量測定用治具212を降下させる(ステップS53)。この光量測定用治具212を降下させる処理は、制御回路9における第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、反応ディスク201の反応管設置位置において、光量測定用治具212を降下させる。 Next, as shown in Figure 8, the automatic analyzer 1 lowers the light intensity measuring jig 212 (step S53). This process of lowering the light intensity measuring jig 212 is realized by the first control function 92 in the control circuit 9. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to lower the light intensity measuring jig 212 at the reaction tube installation position on the reaction disk 201.

次に、図8に示すように、自動分析装置1は、撮像部2103内の所定の位置で受光したか否かを判定する(ステップS55)。この撮像部2103の所定の位置で受光したか否かを判定する処理は、制御回路9における第1制御機能により実現される。具体的には、自動分析装置1は、撮像部2103が発光部2131から照射された光を撮像部2103内の所定の位置で受光したか否かを判定する。 Next, as shown in Figure 8, the automatic analyzer 1 determines whether or not light was received at a predetermined position within the imaging unit 2103 (step S55). This process of determining whether or not light was received at a predetermined position within the imaging unit 2103 is implemented by the first control function in the control circuit 9. Specifically, the automatic analyzer 1 determines whether or not the imaging unit 2103 received light emitted from the light-emitting unit 2131 at a predetermined position within the imaging unit 2103.

そして、図8に示すように、撮像部2103が発光部2131から照射された光を撮像部2103内の所定の位置で受光していない場合(ステップS55:No)、上述したステップS53に戻り、このステップS35からの処理を繰り返して待機する。すなわち、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、光量測定用治具212を降下させながら、撮像部2103が発光部2131から照射された光を撮像部2103内の所定の位置で受光するまで待機する。 Then, as shown in Figure 8, if the imaging unit 2103 has not received the light emitted from the light-emitting unit 2131 at a predetermined position within the imaging unit 2103 (step S55: No), the process returns to step S53 described above, and the process from step S35 is repeated while waiting. That is, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to lower the light intensity measuring jig 212, and waits until the imaging unit 2103 receives the light emitted from the light-emitting unit 2131 at a predetermined position within the imaging unit 2103.

一方、ステップS55において、撮像部2103が発光部2131から照射された光を撮像部2103内の所定の位置で受光した場合(ステップS55:Yes)、自動分析装置1は、光量測定用治具212の降下量を取得する(ステップS57)。この降下量を取得する処置は、制御回路9における第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、撮像部2103が発光部2131から照射された光を撮像部2103内の所定の位置で受光したときの光量測定用治具212の降下量を取得する。なお、ステップS39の後のステップS19は上述した第1実施形態と同様であるため説明を省略する。 On the other hand, in step S55, if the imaging unit 2103 receives light emitted from the light-emitting unit 2131 at a predetermined position within the imaging unit 2103 (step S55: Yes), the automatic analyzer 1 acquires the amount of descent of the light intensity measuring jig 212 (step S57). This acquisition of the descent amount is realized by the first control function 92 in the control circuit 9. Specifically, the automatic analyzer 1 acquires the amount of descent of the light intensity measuring jig 212 when the imaging unit 2103 receives light emitted from the light-emitting unit 2131 at a predetermined position within the imaging unit 2103. Note that step S19 after step S39 is the same as in the first embodiment described above, so its explanation is omitted.

次に、図8に示すように、自動分析装置1は、光軸高さHを測定する(ステップS59)。この光軸高さHを測定する処理は、制御回路9における測定機能93により実現される。具体的には、自動分析装置1は、ステップS57で取得した光量測定用治具212の降下量に基づいて、光軸高さHを測定する。 Next, as shown in Figure 8, the automatic analyzer 1 measures the optical axis height H (step S59). This measurement of the optical axis height H is performed by the measurement function 93 in the control circuit 9. Specifically, the automatic analyzer 1 measures the optical axis height H based on the amount of descent of the light intensity measuring jig 212 acquired in step S57.

図10は、第1実施形態の変形例1に係る自動分析装置1において、光量測定用治具212の降下量と、発光部2131の光軸高さとの関係の一例を模式的に示す模式図である。図10に示す例では、撮像部2103内の所定の位置Pは、撮像部2103の中央付近である。図10(a)に示すように、自動分析装置1は、反応ディスク201の反応管設置位置において、反応管搬送アーム210を制御して、光量測定用治具212を反応ディスク201に設置するように降下させる。図10(a)に示す例では、撮像部2103は、発光部2131から照射された光を受光していない。すなわち、発光部2131から照射された光は、光量測定用治具212のミラー2121に照射されていない。 Figure 10 is a schematic diagram illustrating an example of the relationship between the descent amount of the light intensity measuring jig 212 and the optical axis height of the light-emitting unit 2131 in an automatic analyzer 1 according to a modified example 1 of the first embodiment. In the example shown in Figure 10, the predetermined position P within the imaging unit 2103 is near the center of the imaging unit 2103. As shown in Figure 10(a), the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to lower the light intensity measuring jig 212 to the reaction disk 201 at the reaction tube installation position, thereby installing it on the reaction disk 201. In the example shown in Figure 10(a), the imaging unit 2103 does not receive light emitted from the light-emitting unit 2131. That is, the light emitted from the light-emitting unit 2131 does not illuminate the mirror 2121 of the light intensity measuring jig 212.

次に、図10(b)に示すように、自動分析装置1は、反応ディスク201の反応管設置位置において、反応管搬送アーム210を制御して、光量測定用治具212をさらに降下させる。図10(b)に示す例では、発光部2131から照射された光は、光量測定用治具212のミラー2121に照射され、ミラー2121は発光部2131から照射された光を撮像部2103に反射する。撮像部2103はミラー2121を介して発光部2131から照射された光を受光している。しかし、撮像部2103が発光部2131から照射された光を受光した位置は、撮像部2103内の所定の位置Pではないため、自動分析装置1は光量測定用治具212をさらに降下させる。 Next, as shown in Figure 10(b), the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to further lower the light intensity measuring jig 212 at the reaction tube installation position of the reaction disk 201. In the example shown in Figure 10(b), the light emitted from the light-emitting unit 2131 is irradiated onto the mirror 2121 of the light intensity measuring jig 212, and the mirror 2121 reflects the light emitted from the light-emitting unit 2131 to the imaging unit 2103. The imaging unit 2103 receives the light emitted from the light-emitting unit 2131 via the mirror 2121. However, since the position where the imaging unit 2103 receives the light emitted from the light-emitting unit 2131 is not the predetermined position P within the imaging unit 2103, the automatic analyzer 1 further lowers the light intensity measuring jig 212.

次に、図10(c)に示すように、自動分析装置1は、光量測定用治具212をさらに降下させて、発光部2131から照射された光が、光量測定用治具212のミラー2121を介して、撮像部2103内の所定の位置Pに受光している。このとき、自動分析装置1は、反応ディスク201の反応管設置位置において、反応管搬送アーム210を制御して、光量測定用治具212を降下させた量である降下量を取得する。そして、この降下量に基づいて、発光部2131の光軸高さHを測定する。なお、撮像部2103が、撮像部2103内の所定に位置Pで発光部2131から照射された光を受光したとき、光量測定用治具212は反応ディスク201に設置されてもよく、図10(c)に示すように、光量測定用治具212は反応ディスク201に設置されていなくてもよい。 Next, as shown in Figure 10(c), the automatic analyzer 1 further lowers the light intensity measuring jig 212 so that the light emitted from the light-emitting unit 2131 is received at a predetermined position P within the imaging unit 2103 via the mirror 2121 of the light intensity measuring jig 212. At this time, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 at the reaction tube installation position on the reaction disk 201 to obtain the amount of descent of the light intensity measuring jig 212. Based on this amount of descent, the optical axis height H of the light-emitting unit 2131 is measured. Note that when the imaging unit 2103 receives the light emitted from the light-emitting unit 2131 at a predetermined position P within the imaging unit 2103, the light intensity measuring jig 212 may be installed on the reaction disk 201, or, as shown in Figure 10(c), the light intensity measuring jig 212 may not be installed on the reaction disk 201.

このステップS59より後の図9に示すステップS23からステップS43までの処理は、上述した第1実施形態における図6と同等であるので説明を省略する。 The processes from step S23 to step S43 shown in Figure 9, which follow step S59, are equivalent to those in Figure 6 of the first embodiment described above, and therefore their explanation is omitted.

次に、図9に示すように、自動分析装置1は、光量測定用治具212を反応ディスク201の上方に搬送させる。この反応ディスク201の上方に搬送させる処理は、制御回路9における第1制御機能92により実現させる。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、光量測定用治具212を搬送させて、次の発光部2131の反応管設置位置に光量測定用治具212を設置させる。そして、ステップS17に戻り、このステップS17からの処理を繰り返す。 Next, as shown in Figure 9, the automatic analyzer 1 transports the light intensity measuring jig 212 above the reaction disk 201. This transport above the reaction disk 201 is achieved by the first control function 92 in the control circuit 9. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to transport the light intensity measuring jig 212 and place it at the reaction tube installation position of the next light-emitting unit 2131. Then, the process returns to step S17 and repeats the process from step S17.

一方、他の発光部2131を測定しないと判定された場合(ステップS41:No)、自動分析装置1は、ステップS41を実行することにより、本実施形態の変形例1に係る測定処理を終了する。 On the other hand, if it is determined that no other light-emitting units 2131 need to be measured (step S41: No), the automatic analyzer 1 terminates the measurement process according to the modified example 1 of this embodiment by executing step S41.

以上のように、第1実施形態の変形例1に係る自動分析装置1においても、第1実施形態と同様に、反応管搬送アーム210を制御して、1つの光量測定用治具212を反応ディスク201に搬送して、反応ディスク201に設けられた複数の発光部2131の光量及び発光部2131の光軸高さHを1つの光量測定用治具212により測定することにしたので、自動分析装置1の測定精度を向上させることができる。すなわち、自動分析装置1は、1つの光量測定用治具212を用いることにより、光量測定用治具212の個体差の影響を受けなくなるため、調整された発光部2131の光量にバラツキが生じず、発光部2131の光量の測定結果及び発光部2131の光軸高さHにバラツキが生じる可能性を少なくすることができる。 As described above, in the automatic analyzer 1 according to Modification 1 of the first embodiment, similar to the first embodiment, the reaction tube transport arm 210 is controlled to transport one light intensity measuring jig 212 to the reaction disk 201, and the light intensity and optical axis height H of the multiple light-emitting units 2131 provided on the reaction disk 201 are measured using one light intensity measuring jig 212. Therefore, the measurement accuracy of the automatic analyzer 1 can be improved. In other words, by using one light intensity measuring jig 212, the automatic analyzer 1 is not affected by individual differences in the light intensity measuring jig 212, thus preventing variations in the adjusted light intensity of the light-emitting units 2131 and reducing the possibility of variations in the measurement results of the light intensity of the light-emitting units 2131 and the optical axis height H of the light-emitting units 2131.

〔第1実施形態の変形例2〕
上述した第1実施形態及び上述した第1実施形態の変形例1において、自動分析装置1は、発光部2131の光量及び発光部2131の光軸高さHの両方を測定して、それらの測定結果をユーザに報告することとしたが、第1実施形態の変形例2に係る自動分析装置1は、発光部2131の光量及び発光部2131の光軸高さHのいずれか一方を測定して、ユーザに報告するようにしてもよい。
[Modification 2 of the first embodiment]
In the first embodiment described above and the modification 1 of the first embodiment described above, the automatic analyzer 1 measures both the light intensity of the light-emitting unit 2131 and the optical axis height H of the light-emitting unit 2131 and reports the measurement results to the user. However, the automatic analyzer 1 according to the modification 2 of the first embodiment may measure either the light intensity of the light-emitting unit 2131 or the optical axis height H of the light-emitting unit 2131 and report it to the user.

〔第2実施形態〕
上述した第1実施形態においては、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、光量測定用治具212を反応ディスク201に搬送して、撮像部2103により、発光部2131の光量や発光部2131の光軸高さHを測定したが、撮像部2103はその他の用途に使用することができる。そこで、第2実施形態に係る自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、反応管供給部により供給される反応管2011を保持し、反応管搬送アーム210が保持した反応管2011が検査に使用可能であるか否かを、撮像部2103により撮像した撮像画像に基づいて判定して、使用不可能な反応管2011を廃棄するようにしたものである。以下、上述した第1実施形態とは異なる部分を説明する。
[Second Embodiment]
In the first embodiment described above, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to transport the light intensity measuring jig 212 to the reaction disk 201, and the imaging unit 2103 measures the light intensity of the light-emitting unit 2131 and the optical axis height H of the light-emitting unit 2131. However, the imaging unit 2103 can be used for other purposes. Therefore, the automatic analyzer 1 according to the second embodiment controls the reaction tube transport arm 210 to hold the reaction tubes 2011 supplied by the reaction tube supply unit, and determines whether the reaction tubes 2011 held by the reaction tube transport arm 210 are usable for inspection based on the image captured by the imaging unit 2103, and discards any unusable reaction tubes 2011. The following describes the parts that differ from the first embodiment described above.

図11は、第2実施形態に係る自動分析装置1の機能構成の例を示すブロック図であり、上述した第1実施形態における図1に対応する図である。図11に示すように、本実施形態に係る自動分析装置1は、分析機構2Aと、解析回路3と、駆動機構4と、入力インターフェース5と、出力インターフェース6と、通信インターフェース7と、記憶回路8と、制御回路9Aとを備えて構成されている。なお、第2実施形態の解析回路3、駆動機構4、入力インターフェース5、出力インターフェース6、通信インターフェース7、及び記憶回路8の構成は、第1実施形態と同等であるので説明を省略する。 Figure 11 is a block diagram showing an example of the functional configuration of the automatic analysis apparatus 1 according to the second embodiment, and corresponds to Figure 1 in the first embodiment described above. As shown in Figure 11, the automatic analysis apparatus 1 according to this embodiment comprises an analysis mechanism 2A, an analysis circuit 3, a drive mechanism 4, an input interface 5, an output interface 6, a communication interface 7, a memory circuit 8, and a control circuit 9A. Note that the configurations of the analysis circuit 3, drive mechanism 4, input interface 5, output interface 6, communication interface 7, and memory circuit 8 in the second embodiment are equivalent to those in the first embodiment, so their explanation is omitted.

図12は、図11に示す自動分析装置1における分析機構2Aの構成の一例を示す図である。この図12に示すように、本実施形態に係る分析機構2Aは、反応ディスク201と、恒温部202と、ラックサンプラ203と、試薬庫204と、サンプル分注アーム206と、サンプル分注プローブ207と、試薬分注アーム208と、試薬分注プローブ209とを備えて構成されている。なお、第2実施形態の反応ディスク201、恒温部202、ラックサンプラ203、試薬庫204、サンプル分注アーム206、サンプル分注プローブ207、試薬分注アーム208、及び試薬分注プローブ209の構成は、第1実施形態と同等であるので説明を省略する。 Figure 12 shows an example of the configuration of the analysis mechanism 2A in the automated analyzer 1 shown in Figure 11. As shown in Figure 12, the analysis mechanism 2A according to this embodiment comprises a reaction disk 201, a constant temperature unit 202, a rack sampler 203, a reagent storage unit 204, a sample dispensing arm 206, a sample dispensing probe 207, a reagent dispensing arm 208, and a reagent dispensing probe 209. Note that the configurations of the reaction disk 201, constant temperature unit 202, rack sampler 203, reagent storage unit 204, sample dispensing arm 206, sample dispensing probe 207, reagent dispensing arm 208, and reagent dispensing probe 209 in the second embodiment are equivalent to those in the first embodiment, and therefore their description is omitted.

また、本実施形態に係る分析機構2Aは、反応管搬送アーム210と、反応管供給部211Aと、廃棄ボックス214とを備える。なお、図12においては、光量測定用治具212の図示を省略しているが、上述した第1実施形態と同様に、第2実施形態に係る分析機構2Aは光量測定用治具212を備えてもよい。また、反応管搬送アーム210の構成は、第1実施形態と同等であるので説明を省略する。 Furthermore, the analysis mechanism 2A according to this embodiment includes a reaction tube transport arm 210, a reaction tube supply unit 211A, and a waste box 214. Although the light intensity measuring jig 212 is omitted from Figure 12, the analysis mechanism 2A according to the second embodiment may include a light intensity measuring jig 212, similar to the first embodiment described above. Also, the configuration of the reaction tube transport arm 210 is the same as in the first embodiment, so its description is omitted.

反応管供給部211Aは、空の反応管2011を供給する。反応管供給部211Aは、反応ディスク201の外周近傍に設けられている。本実施形態に係る反応管供給部211Aは、例えば、反応管収容部2111と、反応管供給レール2112と、光源部2113とを備えて構成されている。光源部2113は、反応管2011に異物や罅、欠けなどが無いかを確認するために反応管2011に光を照射する。そのため、光源部2113は、反応管供給位置に供給された反応管2011に光を照射できる位置に配置されている。また、図12に示す例では、光源部2113は、反応管供給レール2112の反応管供給位置の直下に配置され、反応管2011の底面方向から光を照射する。なお、反応管収容部2111と、反応管供給レール2112との構成は、第1実施形態と同等であるため、説明を省略する。 The reaction tube supply unit 211A supplies empty reaction tubes 2011. The reaction tube supply unit 211A is located near the outer circumference of the reaction disk 201. In this embodiment, the reaction tube supply unit 211A is configured to include, for example, a reaction tube housing unit 2111, a reaction tube supply rail 2112, and a light source unit 2113. The light source unit 2113 irradiates light onto the reaction tubes 2011 to check for foreign matter, cracks, chips, etc. Therefore, the light source unit 2113 is positioned to irradiate light onto the reaction tubes 2011 supplied to the reaction tube supply position. In the example shown in Figure 12, the light source unit 2113 is located directly below the reaction tube supply position on the reaction tube supply rail 2112 and irradiates light onto the reaction tubes 2011 from the bottom surface direction. The configuration of the reaction tube housing section 2111 and the reaction tube supply rail 2112 is the same as in the first embodiment, therefore, a detailed explanation is omitted.

また、本実施形態に係る反応管供給部211Aにおいて、光源部2113は、反応管供給位置に供給された反応管2011に光を照射できる位置に配置されることとしたが、光源部2113の配置位置はこれに限られない。すなわち、光源部2113の配置位置は任意であり、例えば、反応管搬送アーム210の搬送経路である回動軌道上の所定の位置に光源部2113を設置するようにしてもよい。 Furthermore, in the reaction tube supply unit 211A according to this embodiment, the light source unit 2113 is positioned to irradiate the reaction tube 2011 supplied to the reaction tube supply position with light. However, the position of the light source unit 2113 is not limited to this. That is, the position of the light source unit 2113 is arbitrary; for example, the light source unit 2113 may be installed at a predetermined position on the rotating trajectory, which is the transport path of the reaction tube transport arm 210.

また、図12に示す例では、光源部2113は反応管2011の底面方向から光を照射することとしたが、光源部2113が反応管2011に光を照射する方向は底面方向に限られない。すなわち光源部2113が反応管2011に光を照射する方向は任意であり、例えば、光源部2113は、反応管2011の側面方向から光を照射するようにしてもよく、光源部2113は、反応管2011の上面方向から光を照射するようにしてもよい。 Furthermore, in the example shown in Figure 12, the light source unit 2113 is configured to irradiate the reaction tube 2011 from the bottom. However, the direction in which the light source unit 2113 irradiates the reaction tube 2011 is not limited to the bottom. That is, the direction in which the light source unit 2113 irradiates the reaction tube 2011 is arbitrary. For example, the light source unit 2113 may irradiate the reaction tube 2011 from the side, or it may irradiate the reaction tube 2011 from the top.

廃棄ボックス214は、試料と試薬の混合液が収容された使用済みの反応管2011や使用不可能と判定された反応管2011などの廃棄される反応管2011を格納するためのボックスである。廃棄ボックス214は、反応ディスク201の外周近傍に設けられている。廃棄される反応管2011は、反応管搬送アーム210等により、反応管を廃棄する位置である廃棄ボックス214の反応管廃棄位置に搬送される。反応管廃棄位置は、例えば、反応管搬送アーム210における反応管保持部2101に保持された反応管2011の搬送経路である回動軌道と。廃棄ボックス214の開口部が交差する位置である。なお、廃棄ボックス214は、本実施形態における反応管廃棄部を構成している。 The waste box 214 is a box for storing discarded reaction tubes 2011, such as used reaction tubes 2011 containing a mixture of sample and reagent, or reaction tubes 2011 deemed unusable. The waste box 214 is located near the outer circumference of the reaction disk 201. The discarded reaction tubes 2011 are transported to the reaction tube disposal position in the waste box 214 by the reaction tube transport arm 210, etc. The reaction tube disposal position is, for example, the position where the opening of the waste box 214 intersects with the rotational trajectory, which is the transport path of the reaction tube 2011 held by the reaction tube holding section 2101 of the reaction tube transport arm 210. Note that the waste box 214 constitutes the reaction tube disposal section in this embodiment.

さらに、本実施形態に係る分析機構2Aにおいては、その内部に、反応ディスク201に保持可能な反応管2011と同数の測光ユニット213が設けられている。この測光ユニット213が、本実施形態における測光部を構成する。この測光ユニット213の構成は、第1実施形態と同等であるため、説明を省略する。 Furthermore, in the analysis mechanism 2A according to this embodiment, the same number of photometric units 213 as the number of reaction tubes 2011 that can be held in the reaction disk 201 are provided inside. These photometric units 213 constitute the photometric section in this embodiment. The configuration of these photometric units 213 is the same as that of the first embodiment, and therefore, a detailed explanation is omitted.

図11に示される制御回路9Aは、記憶回路8に記憶されている制御プログラムを実行することで、当該プログラムに対応する機能を実現する。例えば、制御回路9Aは、制御プログラムを実行することで、システム制御機能91と、第1制御機能92と、測定機能93と、第1報告機能94と、第1判定機能95と、第2報告機能96とを有する。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによってシステム制御機能91と、第1制御機能92と、測定機能93と、第1報告機能94と、第1判定機能95と、第2報告機能96とが実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて制御回路を構成し、各プロセッサが制御プログラムを実行することにより、これらの各種機能を実現しても構わない。また、本実施形態のシステム制御機能91、第1制御機能92、測定機能93、及び第1報告機能94が有する機能は、図1に示されるシステム制御機能91、第1制御機能92、測定機能93、及び第1報告機能94が有する機能と同等であるため説明を省略する。 The control circuit 9A shown in Figure 11 realizes the functions corresponding to the control program stored in the memory circuit 8 by executing the program. For example, the control circuit 9A has a system control function 91, a first control function 92, a measurement function 93, a first reporting function 94, a first determination function 95, and a second reporting function 96 by executing the control program. In this embodiment, the case in which the system control function 91, the first control function 92, the measurement function 93, the first reporting function 94, the first determination function 95, and the second reporting function 96 are realized by a single processor is described, but it is not limited to this. For example, the control circuit may be configured by combining multiple independent processors, and these various functions may be realized by each processor executing a control program. Furthermore, the functions of the system control function 91, the first control function 92, the measurement function 93, and the first reporting function 94 in this embodiment are equivalent to the functions of the system control function 91, the first control function 92, the measurement function 93, and the first reporting function 94 shown in Figure 1, so their description is omitted.

第1判定機能95は、第1制御機能92が撮像部2103を制御して、撮像させた反応管2011の撮像画像を解析し、反応管2011の使用可能か否かを判定する機能である。具体的には、第1制御機能92が撮像部2103を制御して、撮像させた反応管2011の撮像画像において、反応管2011に異物の混入や罅、欠けなどがあるか否かを解析することにより、反応管2011の使用可能か否かを判定する機能である。 The first determination function 95 analyzes the image of the reaction tube 2011 captured by the imaging unit 2103 controlled by the first control function 92, and determines whether the reaction tube 2011 is usable or not. Specifically, the first control function 92 analyzes the image of the reaction tube 2011 captured by the imaging unit 2103 to determine whether there are any foreign objects, cracks, chips, etc. in the reaction tube 2011, thereby determining whether the reaction tube 2011 is usable or not.

第2報告機能96は、第1判定機能95が反応管2011が使用不可能であると判定した場合に、ユーザに反応管2011を廃棄することを報告する。具体的には、第2報告機能96は、第1判定機能95が反応管2011が使用不可能であると判定した場合に、出力インターフェース6を介して、反応管2011が使用不可能であるため、当該反応管2011を廃棄することをユーザに報告する。 The second reporting function 96 informs the user to discard the reaction tube 2011 when the first determination function 95 determines that the reaction tube 2011 is unusable. Specifically, when the first determination function 95 determines that the reaction tube 2011 is unusable, the second reporting function 96 informs the user via the output interface 6 that the reaction tube 2011 is unusable and therefore should be discarded.

なお、図11に示したシステム制御機能91、第1制御機能92、測定機能93、第1報告機能94、第1判定機能95、及び、第2報告機能96は、それぞれ、本実施形態におけるシステム制御部、第1制御部、測定部、第1報告部、第1判定部、及び、第2報告部を構成している。 Furthermore, the system control function 91, first control function 92, measurement function 93, first reporting function 94, first determination function 95, and second reporting function 96 shown in Figure 11 constitute the system control unit, first control unit, measurement unit, first reporting unit, first determination unit, and second reporting unit, respectively, in this embodiment.

図13は、本実施形態に係る自動分析装置1で実行される反応管撮像処理の内容を説明するフローチャート図である。この反応管撮像処理では、反応管2011を撮像したり、撮像画像を解析して、ユーザに報告したり、反応管2011が使用不可能な場合には、反応管を廃棄したりする。例えば、この反応管撮像処理は、反応管供給部211Aに供給された反応管2011を、反応管搬送アーム210が搬送するタイミングで実行される処理である。 Figure 13 is a flowchart illustrating the reaction tube imaging process performed by the automated analyzer 1 according to this embodiment. This reaction tube imaging process involves imaging the reaction tube 2011, analyzing the captured images, reporting the results to the user, and discarding the reaction tube 2011 if it is unusable. For example, this reaction tube imaging process is executed at the time the reaction tube transport arm 210 transports the reaction tube 2011 supplied to the reaction tube supply unit 211A.

図13に示すように、まず、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を反応管供給部211Aへ移動させる(ステップS71)。この反応管供給部211Aへ移動させる処理は、制御回路9Aにおける第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、反応管搬送アーム210の反応管保持部2101を反応管供給部211Aの反応管供給位置に移動させる。 As shown in Figure 13, first, the automatic analyzer 1 moves the reaction tube transport arm 210 to the reaction tube supply unit 211A (step S71). This movement to the reaction tube supply unit 211A is realized by the first control function 92 in the control circuit 9A. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to move the reaction tube holding portion 2101 of the reaction tube transport arm 210 to the reaction tube supply position in the reaction tube supply unit 211A.

次に、図13に示すように、自動分析装置1は、反応管2011を保持する(ステップS73)。この反応管2011を保持する処理は、制御回路9Aにおける第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、反応管搬送アーム210の反応管保持部2101により、反応管供給位置に供給された反応管2011を保持する。 Next, as shown in Figure 13, the automatic analyzer 1 holds the reaction tube 2011 (step S73). This process of holding the reaction tube 2011 is realized by the first control function 92 in the control circuit 9A. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to hold the reaction tube 2011 supplied to the reaction tube supply position using the reaction tube holding section 2101 of the reaction tube transport arm 210.

次に、図13に示すように、自動分析装置1は、光源部2113を発光させる(ステップS75)。この光源部2113を発光させる処理は、制御回路9Aにおける第1制御機能92により実現される。 Next, as shown in Figure 13, the automatic analyzer 1 causes the light source unit 2113 to emit light (step S75). This process of causing the light source unit 2113 to emit light is realized by the first control function 92 in the control circuit 9A.

次に、図13に示すように、自動分析装置1は、反応管2011を撮像する(ステップS77)。この反応管2011を撮像する処理は、制御回路9Aにおける第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210が反応管2011を搬送するときに、撮像部2103が反応管2011を撮像するように、撮像部2103を制御する。より具体的には、光源部2113が配置された反応管供給位置において、第1制御機能92は、反応管搬送アーム210により保持された反応管2011に光源部2113の光を照射して、撮像部2103により、反応管2011を撮像する。 Next, as shown in Figure 13, the automatic analyzer 1 images the reaction tube 2011 (step S77). This imaging of the reaction tube 2011 is realized by the first control function 92 in the control circuit 9A. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the imaging unit 2103 so that it images the reaction tube 2011 when the reaction tube transport arm 210 transports the reaction tube 2011. More specifically, at the reaction tube supply position where the light source unit 2113 is located, the first control function 92 irradiates the reaction tube 2011, held by the reaction tube transport arm 210, with light from the light source unit 2113, and the imaging unit 2103 images the reaction tube 2011.

ステップS77において、反応管2011は、反応管供給位置で反応管搬送アーム210に保持されたときに、撮像部2103により撮像されたが、反応管2011を撮像する位置は反応管供給位置に限られない。すなわち、反応管2011を撮像する位置は任意であり、例えば、反応管2011を撮像する位置は、反応管搬送アーム210の回動軌道上に所定の位置に配置された光源部2113の上方の位置であってもよく、光源部2113の光が照射されない位置で撮像してもよい。 In step S77, the reaction tube 2011 was imaged by the imaging unit 2103 when it was held by the reaction tube transport arm 210 at the reaction tube supply position. However, the position at which the reaction tube 2011 is imaged is not limited to the reaction tube supply position. That is, the position at which the reaction tube 2011 is imaged is arbitrary. For example, the position at which the reaction tube 2011 is imaged may be above the light source unit 2113, which is positioned at a predetermined location on the rotational trajectory of the reaction tube transport arm 210, or it may be imaged at a position where it is not illuminated by light from the light source unit 2113.

次に、図13に示すように、自動分析装置1は、反応管2011の撮像画像を解析する(ステップS79)。この撮像画像を解析する処理は、制御回路9Aにおける第1判定機能95により実現される。具体的には、自動分析装置1は、ステップS77で撮像した反応管2011の撮像画像に罅や欠けなどの破損があるかを解析する。 Next, as shown in Figure 13, the automated analyzer 1 analyzes the image of the reaction tube 2011 (step S79). This image analysis process is implemented by the first determination function 95 in the control circuit 9A. Specifically, the automated analyzer 1 analyzes the image of the reaction tube 2011 captured in step S77 to determine if there is any damage such as cracks or chips.

次に、図13に示すように、自動分析装置1は、ステップS77で撮像された反応管2011が使用可能であるか否かを判定する(ステップS81)。この反応管2011が使用可能であるか否かを判定する処理は、制御回路9における第1判定機能95により実現される。具体的には、自動分析装置1は、ステップS77で撮像された反応管2011の撮像画像のステップS79における解析結果に基づいて、当該反応管2011が使用可能であるか否かを判定する。 Next, as shown in Figure 13, the automated analyzer 1 determines whether the reaction tube 2011, imaged in step S77, is usable (step S81). This determination of whether the reaction tube 2011 is usable is performed by the first determination function 95 in the control circuit 9. Specifically, the automated analyzer 1 determines whether the reaction tube 2011 is usable based on the analysis results in step S79 of the image of the reaction tube 2011 captured in step S77.

そして、ステップS81において、ステップS77で撮像された反応管2011が使用可能であると判定された場合(ステップS81:Yes)、自動分析装置1は、反応管2011を反応ディスク201に搬送する(ステップS83)。この反応管2011を搬送する処理は、制御回路9Aにおける第1制御機能92により実現される。より具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、ステップS73で保持した反応管2011を反応ディスク201に搬送する。 Then, in step S81, if it is determined that the reaction tube 2011, which was imaged in step S77, is usable (step S81: Yes), the automatic analyzer 1 transports the reaction tube 2011 to the reaction disk 201 (step S83). This transport of the reaction tube 2011 is realized by the first control function 92 of the control circuit 9A. More specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to transport the reaction tube 2011, which was held in step S73, to the reaction disk 201.

次に、図13に示すように、自動分析装置1は、反応管2011を反応ディスク201に設置する(ステップS85)。この反応ディスク201に設置する処理は、制御回路9Aにおける第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、反応管2011を反応ディスク201の反応管設置位置に設置する。 Next, as shown in Figure 13, the automatic analyzer 1 places the reaction tube 2011 on the reaction disk 201 (step S85). This placement process on the reaction disk 201 is achieved by the first control function 92 in the control circuit 9A. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to place the reaction tube 2011 at the reaction tube placement position on the reaction disk 201.

一方、ステップS81において、ステップS77で撮像された反応管2011が使用不可能であると判定された場合(ステップS81:No)、自動分析装置1は、反応管2011を廃棄することをユーザに報告する(ステップS87)。このユーザに報告する処理は、制御回路9Aにおける第2報告機能96により実現される。具体的には、自動分析装置1は、出力インターフェース6を介して、ステップS77で撮像された反応管2011を廃棄することをユーザに報告する。 On the other hand, if, in step S81, it is determined that the reaction tube 2011, as imaged in step S77, is unusable (step S81: No), the automatic analyzer 1 reports to the user that the reaction tube 2011 should be discarded (step S87). This reporting process to the user is implemented by the second reporting function 96 in the control circuit 9A. Specifically, the automatic analyzer 1 reports to the user via the output interface 6 that the reaction tube 2011, as imaged in step S77, should be discarded.

図14は、本実施形態に係る自動分析装置1において、反応管2011が使用不可能と判定される場合の一例を示す模式図である。図14に示す例では、反応管2011は反応管搬送アーム210の反応管保持部2101に保持され、光源部2113から照射された光が、反応管2011の底面方向から照射されている。図14(a)に示す例は、反応管2011には異物FMが混入している例と示している。この異物FMは、例えば粉塵や塵、埃などである。このように、反応管2011に異物FMが混入している場合、当該反応管2011は使用不可能であると判定される。また、図14(b)に示す例は、反応管2011に罅や欠けなどの破損CRがある例を示している。このように、反応管2011に破損CRが生じている場合、反応管2011は、使用不可能であると判定される。 Figure 14 is a schematic diagram showing an example of a case in the automated analyzer 1 according to this embodiment in which the reaction tube 2011 is determined to be unusable. In the example shown in Figure 14, the reaction tube 2011 is held by the reaction tube holding part 2101 of the reaction tube transport arm 210, and light irradiated from the light source unit 2113 is irradiated from the bottom surface of the reaction tube 2011. The example shown in Figure 14(a) shows a case in which foreign matter FM is mixed into the reaction tube 2011. This foreign matter FM is, for example, dust, dirt, etc. When foreign matter FM is mixed into the reaction tube 2011 in this way, the reaction tube 2011 is determined to be unusable. Furthermore, the example shown in Figure 14(b) shows a case in which the reaction tube 2011 has damage CR such as cracks or chips. When damage CR occurs in the reaction tube 2011 in this way, the reaction tube 2011 is determined to be unusable.

次に、図13に示すように、自動分析装置1は、反応管2011を反応管廃棄位置に搬送する(ステップS89)。この反応管廃棄位置に反応管の搬送する処理は、制御回路9Aにおける第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、ステップS81において使用不可能と判定された反応管2011を廃棄ボックス214の反応管廃棄位置に搬送する。 Next, as shown in Figure 13, the automatic analyzer 1 transports the reaction tube 2011 to the reaction tube disposal location (step S89). This transport of the reaction tube to the disposal location is achieved by the first control function 92 in the control circuit 9A. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to transport the reaction tube 2011, which was determined to be unusable in step S81, to the reaction tube disposal location in the waste box 214.

次に、図13に示すように、自動分析装置1は、反応管2011を廃棄する(ステップS91)。この反応管2011を廃棄する処理は、制御回路9Aにおける第1制御機能92により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、反応管保持部2101に保持された反応管2011を廃棄ボックス214に格納することで、反応管2011を廃棄する。 Next, as shown in Figure 13, the automatic analyzer 1 discards the reaction tube 2011 (step S91). This disposal of the reaction tube 2011 is achieved by the first control function 92 in the control circuit 9A. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to store the reaction tube 2011, held in the reaction tube holding unit 2101, into the disposal box 214, thereby discarding the reaction tube 2011.

このステップS85、またはステップS91を実行することにより、本実施形態に係る反応管撮像処理を終了する。 By executing step S85 or step S91, the reaction tube imaging process according to this embodiment is terminated.

以上のように、本実施形態に係る自動分析装置1によれば、反応管供給部211Aから供給される全ての反応管2011は、反応ディスク201に設置される前に、撮像部2103により撮像され、使用可能であるか否かが判定され、使用不可能である反応管2011は、反応ディスク201に設置されることなく廃棄されることとなるので、自動分析装置1の測定精度が向上する。すなわち、反応管2011に粉塵が混入している場合や反応管2011に罅や欠けが発生している場合、自動分析装置1は、当該反応管2011は使用不可能であると判定して、検査に用いられることなく廃棄されるため、粉塵の混入や欠け及び/又は罅が発生している反応管2011を使用することによる正常な測定結果が得られない可能性が少なくなる。そのため、自動分析装置1の測定精度を向上させることができる。 As described above, according to the automatic analyzer 1 of this embodiment, all reaction tubes 2011 supplied from the reaction tube supply unit 211A are imaged by the imaging unit 2103 before being placed on the reaction disk 201, and it is determined whether or not they are usable. Reaction tubes 2011 that are unusable are discarded without being placed on the reaction disk 201, thus improving the measurement accuracy of the automatic analyzer 1. Specifically, if dust is present in a reaction tube 2011, or if cracks or chips occur in the reaction tube 2011, the automatic analyzer 1 determines that the reaction tube 2011 is unusable and discards it without being used for inspection. Therefore, the possibility of obtaining incorrect measurement results due to the use of reaction tubes 2011 containing dust, chips, and/or cracks is reduced. This allows for improved measurement accuracy of the automatic analyzer 1.

〔第3実施形態〕
第3実施形態係る自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、試料と試薬の混合液が収容された使用済みの反応管(以下、使用済みの反応管という)2011を反応管廃棄位置に搬送し、使用済み反応管2011を撮像して、使用済み反応管2011の撮像画像を解析することにより、使用済み反応管2011に異常があるか否かを判定して、異常がある場合にユーザに報告するようにしたものである。この第3実施形態に係る自動分析装置1は、上述した第1実施形態及び/又は第2実施形態に係る自動分析装置1に対して追加的に、或いは、単独で実施することができる。以下、この第3実施形態が上述した第1実施形態及び上述した第2実施形態とは単独で実施するものとして、上述した第1実施形態及び第2実施形態と異なる部分を説明する。
[Third Embodiment]
The automated analyzer 1 according to the third embodiment controls a reaction tube transport arm 210 to transport a used reaction tube 2011 containing a mixture of sample and reagent (hereinafter referred to as "used reaction tube") to a reaction tube disposal position, images the used reaction tube 2011, and analyzes the image of the used reaction tube 2011 to determine whether or not there is an abnormality in the used reaction tube 2011, and reports to the user if there is an abnormality. The automated analyzer 1 according to this third embodiment can be implemented additionally to or independently of the automated analyzer 1 according to the first embodiment and/or the second embodiment described above. Hereinafter, the differences between this third embodiment and the first and second embodiments described above will be explained assuming that this third embodiment is implemented independently of the first and second embodiments described above.

図15は、第3実施形態に係る自動分析装置1の機能構成の例を示すブロック図であり、上述した第1実施形態における図1に対応する図である。図15に示すように、本実施形態に係る自動分析装置1は、分析機構2Bと、解析回路3と、駆動機構4と、入力インターフェース5と、出力インターフェース6と、通信インターフェース7と、記憶回路8と、制御回路9Bとを備えて構成されている。なお、第2実施形態の解析回路3、駆動機構4、入力インターフェース5、出力インターフェース6、通信インターフェース7、及び記憶回路8の構成は、第1実施形態と同等であるので説明を省略する。 Figure 15 is a block diagram showing an example of the functional configuration of the automatic analysis device 1 according to the third embodiment, and corresponds to Figure 1 in the first embodiment described above. As shown in Figure 15, the automatic analysis device 1 according to this embodiment comprises an analysis mechanism 2B, an analysis circuit 3, a drive mechanism 4, an input interface 5, an output interface 6, a communication interface 7, a memory circuit 8, and a control circuit 9B. Note that the configurations of the analysis circuit 3, drive mechanism 4, input interface 5, output interface 6, communication interface 7, and memory circuit 8 in the second embodiment are equivalent to those in the first embodiment, so their description is omitted.

図16は、図15に示す自動分析装置1における分析機構2Bの構成の一例を示す図である。この図16に示すように、本実施形態に係る分析機構2Bは、反応ディスク201と、恒温部202と、ラックサンプラ203と、試薬庫204と、サンプル分注アーム206と、サンプル分注プローブ207と、試薬分注アーム208と、試薬分注プローブ209とを備えて構成されている。なお、第2実施形態の反応ディスク201、恒温部202、ラックサンプラ203、試薬庫204、サンプル分注アーム206、サンプル分注プローブ207、試薬分注アーム208、及び試薬分注プローブ209の構成は、第1実施形態と同等であるので説明を省略する。 Figure 16 shows an example of the configuration of the analysis mechanism 2B in the automated analyzer 1 shown in Figure 15. As shown in Figure 16, the analysis mechanism 2B according to this embodiment comprises a reaction disk 201, a constant temperature unit 202, a rack sampler 203, a reagent storage unit 204, a sample dispensing arm 206, a sample dispensing probe 207, a reagent dispensing arm 208, and a reagent dispensing probe 209. Note that the configurations of the reaction disk 201, constant temperature unit 202, rack sampler 203, reagent storage unit 204, sample dispensing arm 206, sample dispensing probe 207, reagent dispensing arm 208, and reagent dispensing probe 209 in the second embodiment are equivalent to those in the first embodiment, and therefore their description is omitted.

また、本実施形態に係る分析機構2Bは、反応管搬送アーム210と、廃棄ボックス214とを備える。なお、図16においては、反応管供給部211及び光量測定用治具212の図示を省略しているが、上述した第1実施形態及び第2実施形態と同様に第3実施形態に係る自動分析装置1の分析機構2Bは、反応管供給部211及び光量測定用治具212を備えてもよい。また、廃棄ボックス214の構成は、第2実施形態と同等であるので説明を省略する。 Furthermore, the analysis mechanism 2B according to this embodiment includes a reaction tube transport arm 210 and a waste box 214. Although the reaction tube supply unit 211 and the light intensity measurement jig 212 are omitted from Figure 16, the analysis mechanism 2B of the automatic analyzer 1 according to the third embodiment may also include a reaction tube supply unit 211 and a light intensity measurement jig 212, similar to the first and second embodiments described above. The configuration of the waste box 214 is the same as in the second embodiment, so its description is omitted.

本実施形態に係る反応管搬送アーム210は、反応管搬送アーム210の反応管搬送アーム210の反応管保持部2101、及び、反応管保持部2101に保持された使用済みの反応管2011が搬送経路を通るように、使用済み反応管2011を反応ディスク201の反応管設置位置から廃棄ボックス214の反応管廃棄位置まで搬送する。その他の反応管搬送アーム210の構成は、上述した第1実施形態と同様であるため、説明を省略する。 In this embodiment, the reaction tube transport arm 210 transports used reaction tubes 2011 from the reaction tube installation position on the reaction disk 201 to the reaction tube disposal position on the waste box 214, such that the reaction tube holding portion 2101 of the reaction tube transport arm 210 and the used reaction tubes 2011 held by the reaction tube holding portion 2101 pass through the transport path. The other configurations of the reaction tube transport arm 210 are the same as those of the first embodiment described above, and therefore will not be described further.

さらに、本実施形態に係る分析機構2Bにおいては、その内部に、反応ディスク201に保持可能な反応管2011と同数の測光ユニット213が設けられている。この測光ユニット213が、本実施形態における測光部を構成する。この測光ユニット213の構成は、第1実施形態と同等であるため、説明を省略する。 Furthermore, in the analysis mechanism 2B according to this embodiment, the same number of photometric units 213 as the number of reaction tubes 2011 that can be held in the reaction disk 201 are provided inside. These photometric units 213 constitute the photometric section in this embodiment. The configuration of these photometric units 213 is the same as that of the first embodiment, and therefore, a detailed explanation is omitted.

図15に示される制御回路9Bは、記憶回路8に記憶されている制御プログラムを実行することで、当該プログラムに対応する機能を実現する。例えば、制御回路9Bは、制御プログラムを実行することで、システム制御機能91と、第2制御機能97と、第2判定機能98と、第3報告機能99とを有する。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによってシステム制御機能91と、第2制御機能97と、第2判定機能98と、第3報告機能99と、が実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて制御回路を構成し、各プロセッサが制御プログラムを実行することにより、これらの各種機能を実現しても構わない。また、本実施形態のシステム制御機能91が有する機能は、図1に示されるシステム制御機能91が有する機能と同等であるため説明を省略する。 The control circuit 9B shown in Figure 15 implements the functions corresponding to the control program stored in the memory circuit 8 by executing the program. For example, the control circuit 9B has a system control function 91, a second control function 97, a second determination function 98, and a third reporting function 99 by executing the control program. In this embodiment, the case in which the system control function 91, the second control function 97, the second determination function 98, and the third reporting function 99 are implemented by a single processor is described, but this is not the only case. For example, the control circuit may be configured by combining multiple independent processors, and these various functions may be implemented by each processor executing a control program. Furthermore, the functions of the system control function 91 in this embodiment are equivalent to those of the system control function 91 shown in Figure 1, so their explanation is omitted.

第2制御機能97は、分析機構2Bや駆動機構を制御することにより、反応管搬送アーム210や反応管搬送アーム210に設けられた撮像部2103を制御する機能である。具体的には、第2制御機能97は、反応管搬送アーム210を制御して、使用済み反応管2011を反応ディスク201から取り出し、廃棄ボックス214の反応管廃棄位置に搬送させ、反応管搬送アーム210の撮像部2103により、使用済み反応管2011を撮像させるように制御する機能である。 The second control function 97 controls the reaction tube transport arm 210 and the imaging unit 2103 located on the reaction tube transport arm 210 by controlling the analysis mechanism 2B and the drive mechanism. Specifically, the second control function 97 controls the reaction tube transport arm 210 to remove the used reaction tube 2011 from the reaction disk 201, transport it to the reaction tube disposal position in the waste box 214, and control the imaging unit 2103 of the reaction tube transport arm 210 to image the used reaction tube 2011.

第2判定機能98は、第2制御機能97が撮像部2103を制御して、撮像させた使用済み反応管2011の撮像画像を解析し、使用済み反応管2011に異常があるか否かを判定する機能である。具体的には、第2制御機能97が撮像部2103を制御して、撮像させた使用済み反応管の2011の撮像画像において、使用済み反応管2011の液面に気泡などがある否かを解析して、異常があるか否かを判定する。 The second determination function 98 analyzes the image of the used reaction tube 2011 captured by the imaging unit 2103 controlled by the second control function 97, and determines whether or not there is an abnormality in the used reaction tube 2011. Specifically, the second control function 97 analyzes the image of the used reaction tube 2011 captured by the imaging unit 2103 to determine whether or not there are bubbles or other abnormalities on the liquid surface of the used reaction tube 2011, and determines whether or not there is an abnormality.

第3報告機能99は、第2判定機能98が使用済み反応管2011に異常があると判定した場合に、ユーザに使用済み反応管2011に異常があることを報告する。具体的には、第3報告機能99は、第2判定機能98が使用済み反応管2011に異常があると判定した場合に、出力インターフェース6を介して、使用済み反応管2011に異常があることをユーザに報告する。 The third reporting function 99 reports to the user that there is an abnormality in the used reaction tube 2011 when the second judgment function 98 determines that there is an abnormality in the used reaction tube 2011. Specifically, when the second judgment function 98 determines that there is an abnormality in the used reaction tube 2011, the third reporting function 99 reports to the user via the output interface 6 that there is an abnormality in the used reaction tube 2011.

なお、図15に示したシステム制御機能91、第2制御機能97、第2判定機能98、及び、第3報告機能99は、それぞれ、本実施形態におけるシステム制御部、第2制御部、第2判定部、及び、第3報告部を構成している。 Furthermore, the system control function 91, second control function 97, second determination function 98, and third reporting function 99 shown in Figure 15 constitute the system control unit, second control unit, second determination unit, and third reporting unit, respectively, in this embodiment.

図17は、本実施形態に係る自動分析装置1で実行される使用済み反応管撮像処理の内容を説明するフローチャート図である。この使用済み反応管撮像処理では、使用済み反応管2011を撮像したり、撮像画像を解析して、ユーザに報告したりする。例えば、この使用済み反応管撮像処理は、使用済み反応管2011を反応管搬送アーム210が搬送するタイミングで実行される処理である。 Figure 17 is a flowchart illustrating the contents of the spent reaction tube imaging process performed by the automated analyzer 1 according to this embodiment. This spent reaction tube imaging process involves imaging the spent reaction tube 2011, analyzing the captured images, and reporting the results to the user. For example, this spent reaction tube imaging process is executed at the time the spent reaction tube 2011 is being transported by the reaction tube transport arm 210.

図17に示すように、まず、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を反応ディスク201に移動させる(ステップS101)。この反応管搬送アーム210を反応ディスク201に移動させる処理は、制御回路9Bにおける第2制御機能97により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、反応管搬送アーム210の反応管保持部2101を反応ディスク201の反応管設置位置に移動させる。 As shown in Figure 17, first, the automatic analyzer 1 moves the reaction tube transport arm 210 to the reaction disk 201 (step S101). This process of moving the reaction tube transport arm 210 to the reaction disk 201 is realized by the second control function 97 in the control circuit 9B. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to move the reaction tube holding portion 2101 of the reaction tube transport arm 210 to the reaction tube placement position on the reaction disk 201.

次に、図17に示すように、自動分析装置1は、使用済み反応管2011を保持させる(ステップS103)。この使用済み反応管2011を保持させる処理は、制御回路9Bにおける第2制御機能97により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、反応管搬送アーム210の反応管保持部2101により、使用済み反応管2011を保持させる。 Next, as shown in Figure 17, the automatic analyzer 1 holds the used reaction tube 2011 (step S103). This process of holding the used reaction tube 2011 is realized by the second control function 97 in the control circuit 9B. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to hold the used reaction tube 2011 using the reaction tube holding section 2101 of the reaction tube transport arm 210.

次に、図17に示すように、自動分析装置1は、使用済み反応管2011を撮像させる(ステップS105)。この使用済み反応管2011を撮像させる処理は、制御回路9Bにおける第2制御機能97により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210が使用済み反応管2011を搬送するときに、使用済み反応管2011を撮像するように、撮像部2103を制御する。 Next, as shown in Figure 17, the automatic analyzer 1 images the used reaction tube 2011 (step S105). This process of imaging the used reaction tube 2011 is realized by the second control function 97 in the control circuit 9B. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the imaging unit 2103 to image the used reaction tube 2011 when the reaction tube transport arm 210 transports the used reaction tube 2011.

次に、図17に示すように、自動分析装置1は、使用済み反応管2011の撮像画像を解析する(ステップS107)。この撮像画像を解析する処理は、制御回路9Bにおける第2判定機能98により実現される。具体的には、自動分析装置1は、ステップS105で撮像した使用済み反応管2011の撮像画像に気泡などの異常があるかを解析する。 Next, as shown in Figure 17, the automated analyzer 1 analyzes the image of the used reaction tube 2011 (step S107). This image analysis is performed by the second determination function 98 in the control circuit 9B. Specifically, the automated analyzer 1 analyzes the image of the used reaction tube 2011 captured in step S105 to determine if there are any abnormalities such as bubbles.

次に、図17に示すように、自動分析装置1は、使用済み反応管2011に異常があるか否かを判定する(ステップS109)。この判定する処理は、制御回路9Bにおける第2判定機能98により実現される。具体的には、自動分析装置1は、ステップS107における、使用済み反応管2011の撮像画像の解析結果に基づいて、使用済み反応管2011の液面などに異常があるか否かを判定する。 Next, as shown in Figure 17, the automated analyzer 1 determines whether or not there is an abnormality in the used reaction tube 2011 (step S109). This determination process is implemented by the second determination function 98 in the control circuit 9B. Specifically, the automated analyzer 1 determines whether or not there is an abnormality in the liquid level, etc., of the used reaction tube 2011 based on the analysis results of the image of the used reaction tube 2011 taken in step S107.

図18は、本実施形態に係る自動分析装置1において、使用済み反応管2011に異常がある場合の一例を示す模式図である。図18に示すように、使用済み反応管2011は反応管搬送アーム210の反応管保持部2101に保持されている。この図18に示す例では、使用済み反応管2011の液面に気泡BUがある例を示している。このように使用済み反応管2011の液面に気泡BUが生じている場合、使用済み反応管2011は異常があると判定される。 Figure 18 is a schematic diagram showing an example of a case where there is an abnormality in the used reaction tube 2011 in the automatic analyzer 1 according to this embodiment. As shown in Figure 18, the used reaction tube 2011 is held in the reaction tube holding section 2101 of the reaction tube transport arm 210. In the example shown in Figure 18, a bubble BU is present on the liquid surface of the used reaction tube 2011. When a bubble BU is present on the liquid surface of the used reaction tube 2011 in this manner, the used reaction tube 2011 is determined to be abnormal.

そして、ステップS109において、使用済み反応管2011に異常があると判定した場合(ステップS109:Yes)には、自動分析装置1は、使用済み反応管に異常があることをユーザに報告する(ステップS111)。この報告する処理は、制御回路9Bにおける第3報告機能99により実現される。具体的には、自動分析装置1は、出力インターフェース6を介して、ステップS85で撮像された使用済み反応管2011に異常があることを報告する。 Then, in step S109, if it is determined that there is an abnormality in the used reaction tube 2011 (step S109: Yes), the automatic analyzer 1 reports the abnormality in the used reaction tube to the user (step S111). This reporting process is realized by the third reporting function 99 in the control circuit 9B. Specifically, the automatic analyzer 1 reports the abnormality in the used reaction tube 2011, which was imaged in step S85, via the output interface 6.

このステップS111の処理の後、又は、上述したステップS109において、使用済み反応管2011に異常がないと判定した場合(ステップS109:No)、自動分析装置1は、使用済み反応管2011を反応管廃棄位置に搬送する(ステップS113)。この反応管廃棄位置に搬送する処理は、制御回路9Bにおける第2制御機能97により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、使用済み反応管2011を廃棄ボックス214の反応管廃棄位置に搬送する。 After the processing in step S111, or if it is determined in step S109 above that there is no abnormality in the used reaction tube 2011 (step S109: No), the automatic analyzer 1 transports the used reaction tube 2011 to the reaction tube disposal location (step S113). This transport to the reaction tube disposal location is realized by the second control function 97 in the control circuit 9B. Specifically, the automatic analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to transport the used reaction tube 2011 to the reaction tube disposal location in the waste box 214.

次に、図17に示すように、自動分析装置1は、使用済み反応管2011を廃棄する(ステップS115)。この使用済み反応管2011を廃棄する処理は、制御回路9Bにおける第2制御機能97により実現される。具体的には、自動分析装置1は、反応管搬送アーム210を制御して、反応管保持部2101に保持された反応管2011を廃棄ボックス214に格納することで、反応管2011を廃棄する。 Next, as shown in Figure 17, the automated analyzer 1 discards the used reaction tube 2011 (step S115). This disposal of the used reaction tube 2011 is achieved by the second control function 97 in the control circuit 9B. Specifically, the automated analyzer 1 controls the reaction tube transport arm 210 to store the reaction tube 2011 held in the reaction tube holding unit 2101 into the waste box 214, thereby discarding the reaction tube 2011.

このステップS115を実行することにより、本実施形態に係る使用済み反応管撮像処理は終了する。 By executing step S115, the used reaction tube imaging process according to this embodiment is completed.

以上のように、本実施形態に係る自動分析装置1によれば、反応管搬送アーム210を制御して、使用済み反応管2011を反応管廃棄位置に搬送する際に、使用済み反応管2011を撮像して、使用済み反応管2011に異常があるか否かを判定することができ、使用済み反応管2011内の液面に気泡などの異常がある場合、ユーザに使用済み反応管2011に異常があることを報告するため、ユーザは、正確な測定結果を得ることが出来たか否かを知ることができる。 As described above, according to the automatic analyzer 1 of this embodiment, when the reaction tube transport arm 210 is controlled to transport the used reaction tube 2011 to the reaction tube disposal position, the used reaction tube 2011 is imaged to determine whether or not there is an abnormality in the used reaction tube 2011. If there is an abnormality such as bubbles in the liquid surface inside the used reaction tube 2011, the system reports the abnormality to the user, allowing the user to know whether or not they were able to obtain accurate measurement results.

なお、上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、CPU(Central Processing Unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、或いは、特定用途向け集積回路(Application Specific Integrated Circuit:ASIC)、プログラマブル論理デバイス(例えば、単純プログラマブル論理デバイス(Simple Programmable Logic Device:SPLD)、複合プログラマブル論理デバイス(Complex Programmable Logic Device:CPLD)、及び、フィールドプログラマブルゲートアレイ(Field Programmable Gate Array:FPGA))等の回路を意味する。プロセッサは、記憶回路に保存されたプログラムを読み出して実行することにより機能を実現する。なお、記憶回路にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むよう構成して構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、プロセッサは、プロセッサ単一の回路として構成されている場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて、1つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、複数の構成要素を1つのプロセッサへ統合して、その機能を実現するようにしてもよい。 In the above explanation, the term "processor" refers to circuits such as a CPU (Central Processing Unit), GPU (Graphics Processing Unit), Application Specific Integrated Circuit (ASIC), or programmable logic device (e.g., Simple Programmable Logic Device (SPLD), Complex Programmable Logic Device (CPLD), and Field Programmable Gate Array (FPGA)). A processor functions by reading and executing a program stored in a memory circuit. Alternatively, instead of storing the program in a memory circuit, the program may be directly embedded within the processor's circuitry. In this case, the processor functions by reading and executing the program embedded within the circuitry. Furthermore, a processor is not limited to being a single circuit; it may be composed of multiple independent circuits combined to form a single processor and achieve its functions. Additionally, multiple components may be integrated into a single processor to achieve its functions.

以上、いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例としてのみ提示したものであり、発明の範囲を限定することを意図したものではない。本明細書で説明した新規な装置及び方法は、その他の様々な形態で実施することができる。また、本明細書で説明した装置及び方法の形態に対し、発明の要旨を逸脱しない範囲内で、種々の省略、置換、変更を行うことができる。添付の特許請求の範囲及びこれに均等な範囲は、発明の範囲や要旨に含まれるこのような形態や変形例を含むように意図されている。 While several embodiments have been described above, these embodiments are presented only as examples and are not intended to limit the scope of the invention. The novel apparatus and methods described herein can be implemented in various other forms. Furthermore, various omissions, substitutions, and modifications can be made to the embodiments of the apparatus and methods described herein, without departing from the spirit of the invention. The appended claims and equivalents are intended to include such forms and modifications included in the scope and spirit of the invention.

1…自動分析装置、2、2A、2B…分析機構、3…解析回路、4…駆動機構、5…入力インターフェース、6…出力インターフェース、7…通信インターフェース、8…記憶回路、9、9A、9B…制御回路、91…システム制御機能、92…第1制御機能、93…測定機能、94…第1報告機能、95…第1判定機能、96…第2報告機能、97…第2制御機能、98…第2判定機能、99…第3報告機能、 1…Automatic analyzer, 2, 2A, 2B…Analysis mechanism, 3…Analysis circuit, 4…Drive mechanism, 5…Input interface, 6…Output interface, 7…Communication interface, 8…Memory circuit, 9, 9A, 9B…Control circuit, 91…System control function, 92…First control function, 93…Measurement function, 94…First reporting function, 95…First judgment function, 96…Second reporting function, 97…Second control function, 98…Second judgment function, 99…Third reporting function,

Claims (10)

反応管が設置される反応管設置部と、
前記反応管を搬送する反応管搬送機構と、
前記反応管搬送機構に設けられる撮像部と、
前記反応管搬送機構を制御して、前記反応管を前記反応管設置部に搬送させ、前記撮像部に前記反応管を撮像させる、第1制御部と、
前記反応管に光を照射するように発光する発光部と、
前記発光部の光量の測定を行うために用いられる光量測定用治具と、
前記反応管設置部において、前記撮像部により、前記光量測定用治具を介して受光した前記発光部の光量を測定する測定部と、
前記発光部の光量の測定結果を報告する第1報告部であって、前記発光部の光量の測定結果が所定の範囲外であった場合に、前記発光部の光量の測定結果が所定の範囲外であることを報告する第1報告部と、
を備える自動分析装置。
The reaction tube installation section where the reaction tubes are installed,
A reaction tube transport mechanism for transporting the reaction tube,
The reaction tube transport mechanism includes an imaging unit,
A first control unit controls the reaction tube transport mechanism to transport the reaction tube to the reaction tube installation section and causes the imaging unit to image the reaction tube,
A light-emitting unit that emits light so as to irradiate the reaction tube,
A light intensity measuring jig used to measure the light intensity of the light-emitting part,
In the reaction tube installation section, the imaging unit measures the amount of light from the light-emitting section received via the light intensity measuring jig,
A first reporting unit that reports the measurement result of the light intensity of the light-emitting unit, and if the measurement result of the light intensity of the light-emitting unit is outside a predetermined range, the first reporting unit reports that the measurement result of the light intensity of the light-emitting unit is outside a predetermined range,
An automated analyzer equipped with the following features.
前記測定部は、前記光量測定用治具が前記反応管設置部に設置された状態において、前記撮像部が前記発光部から照射された光を受光した前記撮像部内の位置である受光位置に基づいて、前記光量測定用治具の底面から前記発光部の光軸までの高さである前記発光部の光軸高さを測定する、請求項に記載の自動分析装置。 The automatic analyzer according to claim 1, wherein the measuring unit measures the height of the optical axis of the light-emitting unit, which is the height from the bottom surface of the light-intensity measuring unit to the optical axis of the light-emitting unit, based on the light-receiving position, which is the position within the imaging unit where the imaging unit receives light irradiated from the light-emitting unit, when the light-intensity measuring jig is installed in the reaction tube installation unit. 前記測定部は、前記光量測定用治具が前記反応管設置部の上方に搬送された状態において、前記第1制御部が、前記反応管搬送機構を制御して、前記光量測定用治具を降下させながら、前記撮像部が前記発光部から照射された光を前記撮像部内の所定の位置で受光したときの前記光量測定用治具の降下量に基づいて、前記光量測定用治具の底面から前記発光部の光軸までの高さである前記発光部の光軸高さを測定する、請求項に記載の自動分析装置。 The automatic analyzer according to claim 1, wherein the measurement unit, while the light intensity measuring jig is transported above the reaction tube installation unit, controls the reaction tube transport mechanism to lower the light intensity measuring jig, and measures the height of the optical axis of the light-emitting unit, which is the height from the bottom surface of the light intensity measuring jig to the optical axis of the light-emitting unit, based on the amount of descent of the light intensity measuring jig when the imaging unit receives light emitted from the light-emitting unit at a predetermined position within the imaging unit. 前記第1報告部は、前記発光部の光軸高さの測定結果を報告する、請求項2または請求項3に記載の自動分析装置。 The automated analyzer according to claim 2 or 3, wherein the first reporting unit reports the measurement result of the optical axis height of the light-emitting unit. 前記第1報告部は、前記発光部の光軸高さの測定結果が所定の範囲外であった場合に、前記発光部の光軸高さの測定結果が所定の範囲外であることを報告する、請求項に記載の自動分析装置。 The automatic analyzer according to claim 4 , wherein the first reporting unit reports that the measurement result of the optical axis height of the light-emitting unit is outside a predetermined range when the measurement result of the optical axis height of the light-emitting unit is outside a predetermined range. 前記第1制御部は、前記反応管搬送機構が前記反応管を搬送するときに、前記反応管を撮像するように、前記撮像部を制御する、請求項1乃至請求項のいずれかに記載の自動分析装置。 The automatic analyzer according to any one of claims 1 to 5 , wherein the first control unit controls the imaging unit to image the reaction tube when the reaction tube transport mechanism transports the reaction tube. 前記第1制御部が、前記撮像部を制御して、撮像させた前記反応管の撮像画像を分析し、当該反応管が使用可能か否かを判定する第1判定部をさらに備える、請求項に記載の自動分析装置。 The automatic analyzer according to claim 6, further comprising a first determination unit that controls the imaging unit to analyze the image of the reaction tube captured by the first control unit and determines whether or not the reaction tube is usable. 前記第1制御部は、前記第1判定部が前記反応管が使用可能であると判定した場合、前記反応管搬送機構を制御して、当該反応管を前記反応管設置部に搬送させる、請求項に記載の自動分析装置。 The automatic analyzer according to claim 7, wherein the first control unit controls the reaction tube transport mechanism to transport the reaction tube to the reaction tube installation unit when the first determination unit determines that the reaction tube is usable. 前記第1制御部は、前記第1判定部が前記反応管が使用不可能であると判定した場合、前記反応管搬送機構を制御して、当該反応管を廃棄する位置である反応管廃棄位置に搬送させる、請求項又は請求項に記載の自動分析装置。 The automatic analyzer according to claim 7 or 8, wherein the first control unit controls the reaction tube transport mechanism to transport the reaction tube to a reaction tube disposal position, which is a position for discarding the reaction tube , when the first determination unit determines that the reaction tube is unusable. 前記第1判定部が前記反応管が使用不可能であると判定した場合に、当該反応管を廃棄することを報告する第2報告部をさらに備える、請求項に記載の自動分析装置。 The automated analyzer according to claim 9 , further comprising a second reporting unit that reports that the reaction tube should be discarded when the first determination unit determines that the reaction tube is unusable.
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