JP7831336B2 - Method for forming metal films - Google Patents
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Description
本発明は、基材の表面に所定のパターンの金属皮膜を成膜する成膜方法に関する。 This invention relates to a method for forming a metal film with a predetermined pattern on the surface of a substrate.
従来から、電解めっきにより、基材の表面に金属を析出させて、金属皮膜を成膜している(例えば、特許文献1参照)。成膜装置は、めっき液を収容する収容体を備えている。収容体には、開口部が形成されており、開口部は、電解質膜で封止されている。成膜装置は、めっき液の液圧により電解質膜で基材を押圧する押圧機構をさらに備えている。 Conventionally, metal films have been formed by depositing metal onto the surface of a substrate using electroplating (see, for example, Patent Document 1). The film-forming apparatus includes a container for holding the plating solution. The container has an opening, which is sealed with an electrolyte membrane. The film-forming apparatus further includes a pressing mechanism that uses the liquid pressure of the plating solution to press the substrate with the electrolyte membrane.
ここで、基材の表面に所定のパターンの金属製の下地層が形成されている場合には、電解質膜の液圧で基材を押圧しながら、陽極と基材との間に電圧を印加する。これにより、下地層の上に所定のパターンの金属皮膜を成膜することができる。ただし、基材に所定のパターンの下地層が形成されていない場合には、たとえば、特許文献2に示すマスキング材を利用することも想定される。 Here, if a metal underlayer with a predetermined pattern is formed on the surface of the substrate, a voltage is applied between the anode and the substrate while pressing the substrate with the liquid pressure of the electrolyte membrane. This allows a metal film with the predetermined pattern to be formed on the underlayer. However, if the substrate does not have an underlayer with the predetermined pattern, it is conceivable to use a masking material, for example, as shown in Patent Document 2.
ここで、マスキング材として、スクリーンマスクを用いて金属皮膜を成膜する場合、スクリーンマスクを、基材と電解質膜との間に挟み込む。この状態で、基材とスクリーンマスクの密着性を確保すべく、めっき液の液圧が作用した電解質膜で、スクリーンマスクを押圧しながら、基材の表面に金属皮膜を成膜する。しかしながら、成膜時に、陽極と基材との間に電流を通電する際に、スクリーンマスクに形成された所定のパターンの貫通部分に、導電性を有した流体等が充填されていないと、成膜不良が発生するおそれがある。 Here, when a screen mask is used as a masking material to deposit a metal film, the screen mask is sandwiched between the substrate and the electrolyte membrane. In this state, to ensure adhesion between the substrate and the screen mask, the screen mask is pressed against the electrolyte membrane by the liquid pressure of the plating solution while the metal film is deposited on the substrate surface. However, during film deposition, if a conductive fluid or similar material is not filled into the perforations of the predetermined pattern formed on the screen mask when current is passed between the anode and the substrate, film deposition defects may occur.
本発明は、このような点に鑑みてなされたものであり、スクリーンマスクを用いて、所定のパターンを有した金属皮膜を安定して成膜することができる金属皮膜の成膜方法を提供することを目的とする。 This invention has been made in view of the above points, and aims to provide a method for forming a metal film that can stably form a metal film having a predetermined pattern using a screen mask.
前記課題に鑑みて、本発明に係る金属皮膜の成膜方法は、電解質膜と基材との間にスクリーンマスクを挟み込んだ状態で、電解めっきにより、所定のパターンを有した金属皮膜を基材に成膜する成膜方法である。前記成膜方法は、所定のパターンの貫通部分が形成された前記スクリーンマスクを、前記基材に配置する配置工程と、めっき液を電解質膜で封止した収容体内の前記めっき液の液圧を作用させることで、前記電解質膜を介して、前記スクリーンマスクで前記基材を押圧するとともに、前記電解質膜を介して前記収容体から滲み出した前記めっき液を、前記貫通部分に充填する充填工程と、前記スクリーンマスクで前記基材を押圧した状態で、前記めっき液に接触した陽極と、前記基材との間に電流を通電することにより、前記めっき液に含まれる金属イオンを前記電解質膜に通過させ、前記金属イオンに由来した金属皮膜を、前記所定のパターンで前記基材に成膜する成膜工程と、を含む。前記充填工程における前記めっき液の液圧を、前記成膜工程における前記めっき液の液圧よりも大きくする。 In view of the above problems, the present invention provides a method for forming a metal film, wherein a screen mask is sandwiched between an electrolyte membrane and a substrate, and a metal film having a predetermined pattern is formed on the substrate by electroplating. The method includes: a placement step of placing the screen mask, on which perforations of a predetermined pattern are formed, onto the substrate; a filling step of applying the liquid pressure of the plating solution in a container sealed with the electrolyte membrane to press the substrate with the screen mask through the electrolyte membrane, and filling the perforations with the plating solution that has seeped out from the container through the electrolyte membrane; and a film formation step of applying an electric current between an anode in contact with the plating solution and the substrate while the substrate is being pressed by the screen mask, thereby allowing metal ions contained in the plating solution to pass through the electrolyte membrane, and forming a metal film on the substrate in the predetermined pattern derived from the metal ions. The liquid pressure of the plating solution in the filling step is made greater than the liquid pressure of the plating solution in the film formation step.
好ましい態様として、前記成膜工程は、前記めっき液が貯蔵されたタンクと前記収容体との循環経路において、ポンプを駆動させることにより前記めっき液を循環させながら、前記金属皮膜の成膜を行う。前記充填工程において、前記循環経路を遮断した後、前記収容体に接続されたピストンにより、前記収容体内の前記めっき液の液圧を第1液圧まで増加させる。前記成膜工程において、前記循環経路の遮断を開放した後、前記ポンプを駆動させることにより、前記収容体内の前記めっき液の液圧を、第1液圧よりも低い第2液圧に調節する。 In a preferred embodiment, the film formation step involves circulating the plating solution in a circulation path between the tank storing the plating solution and the container by driving a pump, while forming the metal film. In the filling step, after blocking the circulation path, a piston connected to the container increases the liquid pressure of the plating solution within the container to a first liquid pressure. In the film formation step, after opening the circulation path, the pump is driven to adjust the liquid pressure of the plating solution within the container to a second liquid pressure lower than the first liquid pressure.
さらに好ましい態様としては、前記充填工程において、前記陽極と前記基材との間に一定の電流を通電した状態で、前記陽極と前記基材との間に作用する電圧を測定する。測定した前記電圧が、予め設定された値以下となった際に、前記貫通部分に前記めっき液が充填されたと判定し、前記成膜工程に移行する。 In a more preferred embodiment, during the filling step, a constant current is passed between the anode and the substrate, and the voltage acting between the anode and the substrate is measured. When the measured voltage falls below a preset value, it is determined that the plating solution has filled the through-hole, and the process proceeds to the film formation step.
本発明によれば、スクリーンマスクを用いて、所定のパターンを有した金属皮膜を安定して成膜することができる。 According to the present invention, a metal film having a predetermined pattern can be stably formed using a screen mask.
まず、本発明の実施形態に係る金属皮膜の成膜方法に用いられる成膜装置1について説明する。図1は、本発明の実施形態に係る金属皮膜の成膜装置の一例を示す模式的断面図である。 First, a film deposition apparatus 1 used in a metal film deposition method according to an embodiment of the present invention will be described. Figure 1 is a schematic cross-sectional view showing an example of a metal film deposition apparatus according to an embodiment of the present invention.
図1に示すように、成膜装置1は、電解質膜13と基材Bとの間にマスク構造体60を挟み込んだ状態で、電解めっきにより、所定のパターンPの金属皮膜Fを基材Bに成膜する成膜装置である。具体的には、成膜装置1は、陽極11と、電解質膜13と、陽極11と基材Bとの間に電圧を印加する電源14と、を備える。 As shown in Figure 1, the film deposition apparatus 1 is a film deposition apparatus that deposits a metal film F of a predetermined pattern P onto a substrate B by electroplating, with a mask structure 60 sandwiched between the electrolyte membrane 13 and the substrate B. Specifically, the film deposition apparatus 1 comprises an anode 11, an electrolyte membrane 13, and a power supply 14 that applies a voltage between the anode 11 and the substrate B.
成膜装置1は、陽極11およびめっき液Lを収容した収容体15と、基材Bを載置する載置台40と、基材Bの表面に配置されるマスク構造体60と、を備える。成膜装置1は、収容体15を昇降させる直動アクチュエータ70をさらに備える。直動アクチュエータ70は、本体71に対して直動するロッド72を有しており、ロッド72の先端には、収容体15が固着されている。本実施形態では、説明の便宜上、陽極11の下方に電解質膜13を配置し、さらにその下方にマスク構造体60および基材Bを配置している。しかしながら、基材Bの表面に金属皮膜Fを成膜することができるのであれば、電解質膜13と基材Bとの位置関係は、特に限定されるものではない。 The film deposition apparatus 1 comprises a housing 15 containing an anode 11 and a plating solution L, a mounting table 40 on which the substrate B is placed, and a mask structure 60 positioned on the surface of the substrate B. The film deposition apparatus 1 further includes a linear actuator 70 for raising and lowering the housing 15. The linear actuator 70 has a rod 72 that moves linearly relative to the main body 71, and the housing 15 is fixed to the tip of the rod 72. In this embodiment, for the sake of explanation, the electrolyte membrane 13 is positioned below the anode 11, and the mask structure 60 and substrate B are positioned further below it. However, the positional relationship between the electrolyte membrane 13 and the substrate B is not particularly limited, as long as a metal film F can be deposited on the surface of the substrate B.
基材Bは陰極として機能するものである。基材Bは、板状の基材である。本実施形態では、基材Bは、矩形状の基材である。基材Bの表面のうち、電解質膜13(スクリーンマスク62)に対向する対向面Baが、陰極として機能する成膜面である。陰極(即ち導電性を有した表面)として機能するものであれば、基材Bの材料は特に限定されるものではない。基材Bは、例えば、アルミニウムや銅等の金属材料からなってもよい。金属皮膜Fから配線パターンを形成する際には、基材Bは、樹脂等の絶縁性基材の表面に、銅などの下地層が形成された基材を用いる。この場合には、金属皮膜Fの成膜後、金属皮膜Fが成膜された部分以外の下地層をエッチング等で除去する。これにより、絶縁性基材の表面に、金属皮膜Fによる配線パターンを形成することができる。 Substrate B functions as a cathode. Substrate B is a plate-shaped substrate. In this embodiment, substrate B is a rectangular substrate. Of the surface of substrate B, the opposing surface Ba facing the electrolyte membrane 13 (screen mask 62) is the film-forming surface that functions as the cathode. The material of substrate B is not particularly limited as long as it functions as a cathode (i.e., a conductive surface). Substrate B may be made of a metallic material such as aluminum or copper. When forming a wiring pattern from a metal film F, substrate B is a substrate with an underlayer of copper or the like formed on the surface of an insulating substrate such as resin. In this case, after forming the metal film F, the underlayer other than the area where the metal film F is formed is removed by etching or the like. This allows a wiring pattern of the metal film F to be formed on the surface of the insulating substrate.
陽極11は、一例として、金属皮膜の金属と同じ金属からなる非多孔質の陽極である。陽極11は、ブロック状または平板状の形状を有する。陽極11は、多孔質、メッシュ、または、複数のボールを収容した籠体であってもよい。陽極11の材料としては、例えば、銅などを挙げることができる。陽極11は、電源14の電圧の印加で溶解する。ただし、めっき液Lの金属イオンのみで成膜する場合、陽極11は、めっき液Lに対して不溶性の陽極である。陽極11は、電源14の正極に電気的に接続されている。電源14の負極は、載置台40を介して基材Bに電気的に接続されている。さらに、成膜装置1は、成膜時に、陽極11と基材Bとの間の電圧を測定する電圧計18を備えている。 The anode 11 is, for example, a non-porous anode made of the same metal as the metal film. The anode 11 has a block-like or plate-like shape. The anode 11 may also be porous, a mesh, or a cage containing multiple balls. Examples of materials for the anode 11 include copper. The anode 11 dissolves upon application of voltage from the power supply 14. However, when forming a film using only metal ions from the plating solution L, the anode 11 is insoluble in the plating solution L. The anode 11 is electrically connected to the positive electrode of the power supply 14. The negative electrode of the power supply 14 is electrically connected to the substrate B via the mounting base 40. Furthermore, the film deposition apparatus 1 is equipped with a voltmeter 18 for measuring the voltage between the anode 11 and the substrate B during film deposition.
めっき液Lは、成膜すべき金属皮膜の金属をイオンの状態で含有している液である。その金属の一例として、銅、ニッケル、金、または、銀などを挙げることができる。めっき液Lは、これらの金属を、硝酸、リン酸、コハク酸、硫酸、スルファミン酸、またはピロリン酸などの酸で溶解(イオン化)した溶液である。該溶液の溶媒としては、一例として、水やアルコールなどが挙げられる。たとえば金属が銅の場合には、めっき液Lとしては、硫酸銅、ピロリン酸銅などを含む水溶液を挙げることができる。 The plating solution L is a liquid containing the metal to be formed into a metal film in an ionic state. Examples of such metals include copper, nickel, gold, or silver. The plating solution L is a solution obtained by dissolving (ionizing) these metals with an acid such as nitric acid, phosphoric acid, succinic acid, sulfuric acid, sulfamic acid, or pyrophosphate. Examples of solvents for this solution include water and alcohol. For example, if the metal is copper, the plating solution L could be an aqueous solution containing copper sulfate, copper pyrophosphate, etc.
電解質膜13は、めっき液Lに接触させることにより、めっき液Lとともに金属イオンを内部に含浸(含有)することが可能となる膜である。電解質膜13は、可撓性を有した膜である。電源14により電圧を印加したときに、めっき液Lの金属イオンが、基材B側に移動することができるものであれば、電解質膜13の材料は特に限定されない。電解質膜13の材料としては、たとえばデュポン社製のナフィオン(登録商標)などのフッ素系樹脂などのイオン交換機能を有した樹脂等を挙げることができる。電解質膜13の膜厚は、5μmから200μmの範囲にあることが好ましい。より好ましくは、その膜厚は、20μmから60μmの範囲にある。 The electrolyte membrane 13 is a membrane that, when brought into contact with the plating solution L, can impregnate (contain) metal ions together with the plating solution L. The electrolyte membrane 13 is a flexible membrane. The material of the electrolyte membrane 13 is not particularly limited, as long as it allows metal ions from the plating solution L to move to the substrate B side when a voltage is applied by the power supply 14. Examples of materials for the electrolyte membrane 13 include ion-exchange resins such as fluoropolymer resins like Nafion® manufactured by DuPont. The film thickness of the electrolyte membrane 13 is preferably in the range of 5 μm to 200 μm. More preferably, the film thickness is in the range of 20 μm to 60 μm.
収容体15は、めっき液Lに対して不溶性の材料からなる。収容体15には、めっき液Lを収容する収容空間15aが形成されている。収容体15の収容空間15aには、陽極11が配置されている。収容空間15aの基材Bの側には、開口部15dが形成されている。収容体15の開口部15dは、電解質膜13で覆われている。 The containment body 15 is made of a material insoluble in the plating solution L. The containment body 15 has a containment space 15a for containing the plating solution L. The anode 11 is positioned in the containment space 15a of the containment body 15. An opening 15d is formed on the substrate B side of the containment space 15a. The opening 15d of the containment body 15 is covered with an electrolyte membrane 13.
図1(a)および図3(a)に示すように、直動アクチュエータ70は、電解質膜13とマスク構造体60が接離自在となるように、ロッド72を直動させることで収容体15を昇降させる。本実施形態では、載置台40が固定されており、収容体15が直動アクチュエータ70により昇降する。直動アクチュエータ70は、電動式のアクチュエータであり、ボールねじ等(図示せず)によって、モータの回転運動を直動運動に変換する。ただし、電動式のアクチュエータの代わりに、油圧式または空圧式のアクチュエータを用いてもよい。 As shown in Figures 1(a) and 3(a), the linear actuator 70 raises and lowers the housing 15 by linearly moving the rod 72 so that the electrolyte membrane 13 and the mask structure 60 can move toward and away from each other. In this embodiment, the mounting base 40 is fixed, and the housing 15 is raised and lowered by the linear actuator 70. The linear actuator 70 is an electrically operated actuator that converts the rotational motion of a motor into linear motion using a ball screw or the like (not shown). However, a hydraulic or pneumatic actuator may be used instead of an electrically operated actuator.
収容体15は、めっき液Lを収容空間15aに供給する供給ポート15bを有する。収容体15は、めっき液Lを収容空間15aから排出する排出ポート15cを有する。供給ポート15bおよび排出ポート15cは、収容空間15aに連通する孔である。供給ポート15bと排出ポート15cとは、収容空間15aを挟んで形成されている。供給ポート15bは、供給管51に接続されている。排出ポート15cは、排出管52に流体的に接続されている。 The housing 15 has a supply port 15b for supplying the plating solution L to the housing space 15a. The housing 15 also has a discharge port 15c for discharging the plating solution L from the housing space 15a. The supply port 15b and the discharge port 15c are holes communicating with the housing space 15a. The supply port 15b and the discharge port 15c are formed on either side of the housing space 15a. The supply port 15b is connected to the supply pipe 51. The discharge port 15c is fluidly connected to the discharge pipe 52.
成膜装置1は、タンク91と、供給管51と、排出管52と、ポンプ80と、をさらに備える。図1(a)に示すように、タンク91には、めっき液Lが収容されている。供給管51は、タンク91と収容体15とを接続している。供給管51には、ポンプ80が設けられている。ポンプ80は、タンク91から収容体15へめっき液Lを供給する。排出管52は、タンク91と収容体15とを接続している。排出管52には、圧力調整弁54が設けられている。圧力調整弁54は、収容空間15aのめっき液Lの圧力(液圧)を所定の圧力に調整する。さらに、ポンプ80と収容体15との間には、開閉弁55Aが設けられており、収容体15と圧力調整弁54との間には、開閉弁55Bが設けられている。 The film deposition apparatus 1 further comprises a tank 91, a supply pipe 51, a discharge pipe 52, and a pump 80. As shown in Figure 1(a), the tank 91 contains the plating solution L. The supply pipe 51 connects the tank 91 to the container 15. The pump 80 is provided on the supply pipe 51. The pump 80 supplies the plating solution L from the tank 91 to the container 15. The discharge pipe 52 connects the tank 91 to the container 15. The discharge pipe 52 is provided with a pressure regulating valve 54. The pressure regulating valve 54 adjusts the pressure (liquid pressure) of the plating solution L in the container space 15a to a predetermined pressure. Furthermore, an on-off valve 55A is provided between the pump 80 and the container 15, and an on-off valve 55B is provided between the container 15 and the pressure regulating valve 54.
本実施形態では、ポンプ80を駆動させることにより、タンク91から供給管51内に、めっき液Lが吸引される。吸引されためっき液Lは、供給ポート15bから収容空間15aに圧送される。収容空間15aのめっき液Lは、排出ポート15cを介してタンク91へ戻される。タンク91と収容体15との間で、めっき液Lを循環させる循環経路50を形成することができる。 In this embodiment, the plating solution L is drawn from the tank 91 into the supply pipe 51 by driving the pump 80. The drawn-in plating solution L is then pumped from the supply port 15b into the containment space 15a. The plating solution L in the containment space 15a is returned to the tank 91 via the discharge port 15c. A circulation path 50 for circulating the plating solution L can be formed between the tank 91 and the containment body 15.
さらに、ポンプ80の駆動を持続することにより、収容空間15aのめっき液Lの液圧を、圧力調整弁54で、所定の圧力に維持することができる。ポンプ80は、めっき液Lの液圧が作用した電解質膜13で、マスク構造体60のスクリーンマスク62を押圧するものである。さらに、成膜装置1は、収容空間15aに収容されためっき液Lを加圧するピストン92を有している。 Furthermore, by continuously driving the pump 80, the liquid pressure of the plating solution L in the containment space 15a can be maintained at a predetermined pressure by the pressure regulating valve 54. The pump 80 presses the screen mask 62 of the mask structure 60 with the electrolyte membrane 13, which is subjected to the liquid pressure of the plating solution L. Furthermore, the film deposition apparatus 1 has a piston 92 that pressurizes the plating solution L contained in the containment space 15a.
ピストン92は、収容体15の加圧流路15eに接続されている。加圧流路15eは、収容空間15aに連通している。上述した開閉弁55A、55Bを閉弁した状態で、ピストン92を前進させることにより、収容空間15aのめっき液Lを加圧し、ピストン92を後退させることにより、収容空間15aのめっき液Lを減圧することができる。なお、収容空間15aに向かうピストン92とポンプ80の流路を並列の流路(別流路)としたが、これらが、同じ流路であってもよい。 The piston 92 is connected to the pressurized passage 15e of the housing 15. The pressurized passage 15e communicates with the housing space 15a. With the aforementioned on-off valves 55A and 55B closed, advancing the piston 92 pressurizes the plating solution L in the housing space 15a, and retracting the piston 92 depressurizes the plating solution L in the housing space 15a. Although the passages for the piston 92 and the pump 80 leading to the housing space 15a are shown as parallel passages (separate passages), they may also be the same passage.
マスク構造体60は、枠体61と、スクリーンマスク62と、を備えている。スクリーンマスク62は、金属皮膜Fの所定のパターンPに応じた貫通部分68が形成されている。スクリーンマスク62は、メッシュ部分64とマスク部分65を備えている。スクリーンマスク62は、50μm~400μm程度の可撓性を有したマスクである。スクリーンマスク62は、枠体61の表面のうち、基材Bと対向する面(対向面)において、枠体61に支持されている。 The mask structure 60 comprises a frame 61 and a screen mask 62. The screen mask 62 has through-portions 68 formed according to a predetermined pattern P of the metal film F. The screen mask 62 includes a mesh portion 64 and a mask portion 65. The screen mask 62 is a mask with a flexibility of approximately 50 μm to 400 μm. The screen mask 62 is supported by the frame 61 on the surface of the frame 61 that faces the substrate B (the opposing surface).
メッシュ部分64は、枠体61に固着されている。メッシュ部分64は、枠体61の開口を覆うように、所定の張力で張られている。メッシュ部分64は、格子状に複数の開口部64cが形成されている。メッシュ部分64は、配向された複数の線材64a、64bが交差するように、網目状に織り込まれている。複数の線材64a同士は間隔を空けて配列されており、これらに交差する複数の線材64b、64b同士は間隔を空けて配列されている。これにより、メッシュ部分64には、格子状に複数の開口部64cが形成される。めっき液Lに対して耐食性を有するものであれば、線材64a、64bの材料は特に限定されるものではない。線材64a、64bの材料として、たとえば、ステンレス鋼など金属材料、またはポリエステルなどの樹脂材料などを挙げることができる。 The mesh portion 64 is fixed to the frame 61. The mesh portion 64 is stretched with a predetermined tension so as to cover the opening of the frame 61. The mesh portion 64 has multiple openings 64c formed in a grid pattern. The mesh portion 64 is woven in a mesh-like structure with multiple oriented wires 64a and 64b intersecting each other. The multiple wires 64a are arranged with spacing between them, and the multiple intersecting wires 64b are also arranged with spacing between them. As a result, multiple openings 64c are formed in a grid pattern in the mesh portion 64. The material of the wires 64a and 64b is not particularly limited, as long as it has corrosion resistance to the plating solution L. Examples of materials for the wires 64a and 64b include metal materials such as stainless steel, or resin materials such as polyester.
マスク部分65は、メッシュ部分64の両面のうち基材Bに対向する面において、メッシュ部分64に固着されている。マスク部分65には、所定のパターンPに応じた貫通部分68が形成されている。マスク部分65は、電解質膜13からの押圧により、成膜時に基材Bに密着する部分である。基材Bに密着することができるのであれば、マスク部分65の材料は特に限定されるものではない。マスク部分65は、電解質膜13からの押圧により、圧縮弾性変形することが好ましい。たとえば、マスク部分65の材料として、アクリル樹脂、酢酸ビニル樹脂、ポリビニル樹脂、ポリイミド樹脂、または、ポリエステル樹脂などの樹脂材料、若しくは、シリコーンゴムなどのゴム材料を挙げることができる。所定のパターンPを有したスクリーンマスク62は、乳剤を用いた一般的なシルクスクリーンの製造技術で、製造可能である。したがって、スクリーンマスク62の製造方法の詳細な説明は省略する。 The mask portion 65 is fixed to the mesh portion 64 on the side of the mesh portion 64 facing the substrate B. The mask portion 65 has through-holes 68 formed according to a predetermined pattern P. The mask portion 65 is the part that adheres to the substrate B during film formation due to pressure from the electrolyte membrane 13. The material of the mask portion 65 is not particularly limited as long as it can adhere to the substrate B. It is preferable that the mask portion 65 undergoes compressive elastic deformation due to pressure from the electrolyte membrane 13. For example, the material of the mask portion 65 can be a resin material such as acrylic resin, vinyl acetate resin, polyvinyl resin, polyimide resin, or polyester resin, or a rubber material such as silicone rubber. A screen mask 62 having a predetermined pattern P can be manufactured using general silkscreen manufacturing techniques using emulsions. Therefore, a detailed explanation of the manufacturing method of the screen mask 62 is omitted.
枠体61は、スクリーンマスク62の周縁を、基材B(載置台40)と対向する側の対向面で支持している。本実施形態では、マスク構造体60と収容体15とは、別体であるが、たとえば、枠体61が、収容体15の開口部15dに嵌合し、マスク構造体60と収容体15とが一体であってもよい。これにより、スクリーンマスク62を収容体15に取り付けることができるばかりでなく、収容体15に収容されためっき液Lの自重による電解質膜13の撓みを、スクリーンマスク62で支持することができる。 The frame 61 supports the periphery of the screen mask 62 with its opposing surface facing the base material B (mounting base 40). In this embodiment, the mask structure 60 and the housing 15 are separate components; however, for example, the frame 61 may be fitted into the opening 15d of the housing 15, making the mask structure 60 and the housing 15 a single unit. This not only allows the screen mask 62 to be attached to the housing 15, but also allows the screen mask 62 to support the deflection of the electrolyte membrane 13 caused by the weight of the plating solution L contained in the housing 15.
スクリーンマスク62は、枠体61に固着されている。本実施形態では、スクリーンマスク62は、矩形状の外形を有している。したがって、枠体61は、矩形の額縁状の形状を有する。マスク構造体60の形状を保持できるものであれば、枠体61の材料は特に限定されるものではない。たとえば、枠体61の材料として、ステンレス鋼などの金属材料、または熱可塑性樹脂などの樹脂材料を挙げることができる。枠体61は、たとえば、金属板を打ち抜き加工により形成されたものであり、1mmから3mm程度の厚さを有する。 The screen mask 62 is fixed to the frame 61. In this embodiment, the screen mask 62 has a rectangular outer shape. Therefore, the frame 61 has a rectangular, frame-like shape. The material of the frame 61 is not particularly limited as long as it can maintain the shape of the mask structure 60. For example, the material of the frame 61 can be a metal material such as stainless steel, or a resin material such as thermoplastic resin. The frame 61 is formed, for example, from a metal plate by punching, and has a thickness of about 1 mm to 3 mm.
以下に、図2に示す成膜方法の各工程を、上述した図1(a)および図3(a)、(b)を参照しながら説明する。この成膜方法では、所定のパターンPの貫通部分68が形成されたスクリーンマスク62を介して、基材Bの表面に所定のパターンPの金属皮膜Fを成膜する。 The following describes each step of the film deposition method shown in Figure 2, referring to Figures 1(a) and 3(a) and 3(b) described above. In this film deposition method, a metal film F with a predetermined pattern P is deposited on the surface of the substrate B via a screen mask 62 on which through-holes 68 of a predetermined pattern P are formed.
まず、載置工程S1を行う。この工程では、基材Bを載置台40に載置する。具体的には、載置台40の凹部41に基材Bを収容する。次に、配置工程S2を行う。具体的には、図1(a)に示すように、マスク構造体60を、基材Bに配置する。これにより、所定のパターンPの貫通部分68が形成されたスクリーンマスク62を、基材Bに配置することができる。 First, the placement process S1 is performed. In this process, the base material B is placed on the placement table 40. Specifically, the base material B is placed in the recess 41 of the placement table 40. Next, the arrangement process S2 is performed. Specifically, as shown in Figure 1(a), the mask structure 60 is placed on the base material B. This allows the screen mask 62, with the predetermined pattern P through-portions 68 formed on it, to be placed on the base material B.
次に、充填工程S3を行う。この工程では、図3(a)に示すように、めっき液Lを電解質膜13で封止した収容体15内のめっき液Lの液圧を作用させることで、電解質膜13を介して、スクリーンマスク62で基材Bを押圧する。この際、電解質膜13を介して収容体15から滲み出しためっき液Laを、貫通部分68に充填する。 Next, the filling process S3 is performed. In this process, as shown in Figure 3(a), the liquid pressure of the plating solution L in the container 15, which is sealed with an electrolyte membrane 13, is applied to press the substrate B with the screen mask 62 through the electrolyte membrane 13. At this time, the plating solution La that seeps out from the container 15 through the electrolyte membrane 13 fills the through-hole 68.
より具体的には、充填工程S3では、まず、直動アクチュエータ70を駆動させて、収容体15を載置台40側に移動させ、電解質膜13をマスク構造体60に接触させる。次に、ポンプ80を駆動させることにより、収容体15の収容空間15aに、めっき液Lを供給する。この際、開閉弁55A、55Bは開弁しており、収容空間15aのめっき液Lの圧力は、圧力調整弁54で設定された圧力となる。ただし、この時点では、収容体15内の収容空間15a内に、めっき液Lが満たされていればよく、めっき液Lの液圧は、特に限定されるものではない。 More specifically, in the filling process S3, first, the linear actuator 70 is driven to move the housing 15 towards the mounting base 40, bringing the electrolyte membrane 13 into contact with the mask structure 60. Next, the pump 80 is driven to supply the plating solution L to the housing space 15a of the housing 15. At this time, the on-off valves 55A and 55B are open, and the pressure of the plating solution L in the housing space 15a is set to the pressure set by the pressure regulating valve 54. However, at this point, it is sufficient that the housing space 15a within the housing 15 is filled with the plating solution L; the liquid pressure of the plating solution L is not particularly limited.
つぎに、開閉弁55A、55Bを閉弁し、ピストン92を前進させる。これにより、充填工程S3において、循環経路50を遮断した後、収容体15に接続されたピストン92により、収容体15内のめっき液Lの液圧を第1液圧まで増加させる。ここで、電解質膜13は、収容空間15a内に収容されためっき液Lを封止しているので、収容空間15aに収容されためっき液Lは、電解質膜13を通過し、スクリーンマスク62に向かって滲み出す。滲み出しためっき液Laは、スクリーンマスク62の貫通部分68に充填される。充填工程S3におけるめっき液Lの第1液圧は、圧力調整弁54で設定されためっき液Lの液圧(成膜工程S4におけるめっき液Lの第2液圧)よりも高い。これにより、スクリーンマスク62の貫通部分68にめっき液Laを速やかに充填させることができる。 Next, the on-off valves 55A and 55B are closed, and the piston 92 is advanced. This, in the filling process S3, after blocking the circulation path 50, increases the liquid pressure of the plating solution L in the container 15 to the first liquid pressure by the piston 92 connected to the container 15. Here, since the electrolyte membrane 13 seals the plating solution L contained in the containment space 15a, the plating solution L contained in the containment space 15a passes through the electrolyte membrane 13 and seeps out toward the screen mask 62. The seeped-out plating solution La fills the through-holes 68 of the screen mask 62. The first liquid pressure of the plating solution L in the filling process S3 is higher than the liquid pressure of the plating solution L set by the pressure regulating valve 54 (the second liquid pressure of the plating solution L in the film formation process S4). This allows the plating solution La to quickly fill the through-holes 68 of the screen mask 62.
なお、スクリーンマスク62を基材Bの表面に配置した状態で、そのまわりの雰囲気を減圧雰囲気にすれば、貫通部分68にめっき液Laが充填され易い。この他にも、スクリーンマスク62の表面に、貫通部分68から外部に連通する空気抜き用の溝または孔を設けると、貫通部分68の空気がめっき液Laに入れ替わり易い。 Furthermore, if the screen mask 62 is placed on the surface of the substrate B and the surrounding atmosphere is reduced pressure, the plating solution La can easily fill the through-holes 68. Additionally, if a groove or hole for air venting is provided on the surface of the screen mask 62, allowing communication from the through-holes 68 to the outside, the air in the through-holes 68 can be easily replaced with the plating solution La.
ここで、充填工程S3において、陽極11と基材Bとの間に一定の電流(一定の大きさの電流)を通電した状態で、電圧計18で陽極11と基材Bとの間に作用する電圧を測定してもよい。測定した前記電圧が、予め設定された値以下となった際に、貫通部分68にめっき液Lが充填されたと判定し、成膜工程S4に移行する。 Here, in the filling step S3, while a constant current (a current of a certain magnitude) is passed between the anode 11 and the substrate B, the voltage acting between the anode 11 and the substrate B may be measured using a voltmeter 18. When the measured voltage falls below a preset value, it is determined that the plating solution L has filled the through-hole 68, and the process proceeds to the film formation step S4.
一方、充填工程S3で、スクリーンマスク62の貫通部分68に、めっき液Laが充填されていないと判定された場合には、陽極11と基材Bとの間に、一定の電流を流すように電源14を制御したとしても、電流が流れ難いため、陽極11と基材Bとの間の電圧値が、通常の成膜時の電圧よりも高くなる。したがって、このような場合には、陽極11と基材Bとの間の通電を解除し、収容体15内のめっき液Lの液圧を第1液圧に保持し、充填工程S3を継続し、所定の時間経過後、再度、同様の方法で、陽極11と基材Bとの間に作用する電圧を測定し、貫通部分68にめっき液Lが充填されたかの判定を行う。貫通部分68にめっき液Lが充填されたと判定されるまで、電流の通電と電圧の測定を間欠的に繰り返す。 On the other hand, if it is determined in the filling step S3 that the plating solution La has not filled the through-hole 68 of the screen mask 62, even if the power supply 14 is controlled to flow a constant current between the anode 11 and the substrate B, the current will not flow easily, and the voltage value between the anode 11 and the substrate B will be higher than the voltage during normal film formation. Therefore, in such cases, the current between the anode 11 and the substrate B is released, the liquid pressure of the plating solution L in the container 15 is maintained at the first liquid pressure, the filling step S3 is continued, and after a predetermined time has elapsed, the voltage acting between the anode 11 and the substrate B is measured again in the same manner to determine whether the plating solution L has filled the through-hole 68. The current supply and voltage measurement are intermittently repeated until it is determined that the plating solution L has filled the through-hole 68.
次に、成膜工程S4を行う。ここで、スクリーンマスク62で基材を押圧した状態で、めっき液Lに接触した陽極11と、基材Bとの間に電流を通電する。これにより、めっき液Lに含まれる金属イオンを電解質膜13に通過させ、金属イオンに由来した金属皮膜Fを、所定のパターンPで基材Bに成膜する。 Next, the film formation process S4 is performed. Here, with the substrate pressed by the screen mask 62, an electric current is passed between the anode 11, which is in contact with the plating solution L, and the substrate B. This allows the metal ions contained in the plating solution L to pass through the electrolyte membrane 13, forming a metal film F derived from the metal ions on the substrate B in a predetermined pattern P.
具体的には、図3(b)に示すように、開閉弁55A、55Bを開弁し、循環経路50の遮断を開放した後、ポンプ80を駆動させることにより、収容体15内のめっき液Lの液圧を、第1液圧よりも低い第2液圧に調節する。第2液圧への液圧の調節は、圧力調整弁54により行うことができる。これにより、成膜時に、電解質膜13に、めっき液Lからの過度の液圧が作用しないため、電解質膜13のへたり等を抑えることができる。なお、ポンプ80を駆動する際に、ピストン92を後退させる。 Specifically, as shown in Figure 3(b), the on-off valves 55A and 55B are opened to release the blockage of the circulation path 50, and then the pump 80 is driven to adjust the liquid pressure of the plating solution L in the container 15 to a second liquid pressure lower than the first liquid pressure. The liquid pressure adjustment to the second liquid pressure can be performed using the pressure regulating valve 54. This prevents excessive liquid pressure from the plating solution L from acting on the electrolyte membrane 13 during film formation, thereby suppressing deterioration of the electrolyte membrane 13. Note that the piston 92 is retracted when the pump 80 is driven.
このようにして、めっき液Lが貯蔵されたタンク91と、収容体15との循環経路50において、ポンプ80を駆動させることにより、めっき液Lを循環させながら、金属皮膜Fの成膜を行うことができる。特に、充填工程S3におけるめっき液Lの液圧(第1液圧)を、成膜工程S4におけるめっき液Lの液圧(第2液圧)よりも、大きくしたので、充填工程S3において、スクリーンマスク62の貫通部分68に、めっき液Laが迅速に充填される。このため、金属皮膜Fを安定して成膜することができる。成膜時には、電圧の印加により、電解質膜13を通過する金属イオンとともに、めっき液Lに含まれる水分子も、電解質膜13を通過するので、スクリーンマスク62の貫通部分68には、安定して水分が確保される。これにより、基材Bの表面で、金属イオンを安定して析出させることができる。 In this way, by driving the pump 80 in the circulation path 50 between the tank 91 where the plating solution L is stored and the container 15, the plating solution L can be circulated while the metal film F is formed. In particular, since the liquid pressure of the plating solution L in the filling step S3 (first liquid pressure) is greater than the liquid pressure of the plating solution L in the film formation step S4 (second liquid pressure), the plating solution La is rapidly filled into the perforations 68 of the screen mask 62 during the filling step S3. Therefore, the metal film F can be formed stably. During film formation, when a voltage is applied, water molecules contained in the plating solution L pass through the electrolyte membrane 13 along with metal ions passing through the electrolyte membrane 13, so that moisture is stably maintained in the perforations 68 of the screen mask 62. This allows for the stable deposition of metal ions on the surface of the substrate B.
成膜工程S4において、所定の時間の通電により、所定の厚みの金属皮膜Fを成膜した後、引き離し工程S5を行う。この工程では、ポンプ80の駆動を停止し、収容空間15aからめっき液Lを排出した後、直動アクチュエータ70を駆動させて、収容体15を載置台40から離れる方向に移動させ、電解質膜13をマスク構造体60から引き離す。その後、基材Bの表面からマスク構造体60を取り除き、載置台40から基材Bを取り外す。このような一連の作業により、所定のパターンPの金属皮膜Fが成膜された基材Bを得ることができる。 In the film formation process S4, after a predetermined thickness of metal film F is formed by applying current for a predetermined time, the separation process S5 is performed. In this process, the pump 80 is stopped, the plating solution L is discharged from the containment space 15a, and then the linear actuator 70 is driven to move the containment 15 away from the mounting table 40, separating the electrolyte membrane 13 from the mask structure 60. Subsequently, the mask structure 60 is removed from the surface of the substrate B, and the substrate B is removed from the mounting table 40. Through this series of operations, a substrate B with a predetermined pattern P of metal film F can be obtained.
以下に、本発明の実施例を説明する。
[実施例]
成膜用の基材として、ガラス繊維製の布を重ねたものにエポキシ樹脂を含侵させたガラスエポキシ基板を準備した。このガラスエポキシ基板の表面には銅箔が形成されている。次に、図1に示す成膜装置を用いて銅皮膜を成膜した。めっき液には、株式会社JCU製の硫酸銅水溶液(Cu-BRITE-SED)を用い、陽極にはCu板を使用した。電解質膜に、デュポン社のナフィオン(登録商標)を用いた。成膜前に、成膜時の液圧よりも高い液圧を電解質膜に作用させて、電解質膜から滲み出しためっき液を、スクリーンマスクの貫通部分に充填した。成膜条件としては、めっき液の温度を42℃として、電流密度7A/dm2(電流値0.03A)、通電時間388秒で、銅皮膜を成膜した。めっき液の液圧が0.6MPaおよび1MPaとなる2つの条件で、成膜を行った。なお、陽極の基材との間に一定の電流を通電した際に、これらの間の電圧も測定した。この結果を図4に示す。
Examples of the present invention are described below.
[Examples]
As a substrate for film formation, a glass epoxy substrate was prepared by impregnating a layer of glass fiber cloth with epoxy resin. Copper foil was formed on the surface of this glass epoxy substrate. Next, a copper film was formed using the film formation apparatus shown in Figure 1. A copper sulfate aqueous solution (Cu-BRITE-SED) manufactured by JCU Corporation was used as the plating solution, and a Cu plate was used as the anode. Nafion®, manufactured by DuPont, was used as the electrolyte membrane. Before film formation, a liquid pressure higher than the liquid pressure at the time of film formation was applied to the electrolyte membrane, and the plating solution that seeped out from the electrolyte membrane was filled into the perforations of the screen mask. As film formation conditions, the plating solution temperature was set to 42°C, the current density to 7 A/ dm² (current value 0.03 A), and the energizing time to 388 seconds to form the copper film. Film formation was performed under two conditions: the liquid pressure of the plating solution to 0.6 MPa and 1 MPa. The voltage between these was also measured when a constant current was passed between the substrate and the anode. These results are shown in Figure 4.
[比較例]
実施例と同じように銅皮膜を成膜した。実施例と異なる点は、充填工程を行わなかった点である。この結果を図4に示す。
[Comparative Example]
A copper film was deposited in the same manner as in the example. The only difference from the example was that the filling process was omitted. The results are shown in Figure 4.
図4に示すように、実施例の場合には、良好な銅皮膜が成膜された。成膜後の実施例および比較例の成膜装置に係る電解質膜の状態を確認した。比較例の場合には、成膜する際の通電初期(電圧印加初期)に、陽極と基材との電圧が、一定時間高くなり、銅皮膜が異常析出する部分があり、銅皮膜の表面にヤケが存在した。比較例の場合には、スクリーンマスクの貫通部分にめっき液が十分に充填されていなかったため、陽極と基材との間の電圧が高くなったと考えられる。しかし、その後、通電時に、銅イオンとともにめっき液の水分も、電解質膜を通過するため、電圧は安定したと考えられる。 As shown in Figure 4, a good copper film was formed in the example. The state of the electrolyte membrane in the film deposition apparatus of the example and comparative example was checked after film deposition. In the comparative example, at the initial stage of current application (initial voltage application) during film deposition, the voltage between the anode and the substrate was high for a certain period of time, resulting in abnormal deposition of the copper film in some areas, and burn marks were observed on the surface of the copper film. In the comparative example, it is thought that the voltage between the anode and the substrate was high because the plating solution was not sufficiently filled in the perforations of the screen mask. However, it is thought that the voltage stabilized afterward because, during current application, water from the plating solution, along with copper ions, passed through the electrolyte membrane.
1:成膜装置、13:電解質膜、15:収容体、40:載置台、50:循環経路、62:スクリーンマスク、68:貫通部分、90:タンク、B:基材、F:金属皮膜、L:めっき液、P:所定のパターン 1: Film deposition apparatus, 13: Electrolyte membrane, 15: Container, 40: Mounting platform, 50: Circulation path, 62: Screen mask, 68: Through-hole, 90: Tank, B: Substrate, F: Metal film, L: Plating solution, P: Predetermined pattern
Claims (3)
前記成膜方法は、
所定のパターンの貫通部分が形成された前記スクリーンマスクを、前記基材に配置する配置工程と、
めっき液を電解質膜で封止した収容体内の前記めっき液の液圧を作用させることで、前記電解質膜を介して、前記スクリーンマスクで前記基材を押圧するとともに、前記電解質膜を介して前記収容体から滲み出した前記めっき液を、前記貫通部分に充填する充填工程と、
前記スクリーンマスクで前記基材を押圧した状態で、前記めっき液に接触した陽極と、前記基材との間に電流を通電することにより、前記めっき液に含まれる金属イオンを前記電解質膜に通過させ、前記金属イオンに由来した金属皮膜を、前記所定のパターンで前記基材に成膜する成膜工程と、を含み、
前記充填工程における前記めっき液の液圧を、前記成膜工程における前記めっき液の液圧よりも大きくすることを特徴とする金属皮膜の成膜方法。 A film formation method in which a metal film having a predetermined pattern is formed on a substrate by electroplating with a screen mask sandwiched between the electrolyte membrane and the substrate,
The aforementioned film formation method is
A placement step of placing the screen mask, which has a predetermined pattern of perforations formed on it, on the substrate,
A filling step in which the plating solution is sealed in a container with an electrolyte membrane, and the liquid pressure of the plating solution inside the container is applied to press the substrate with the screen mask through the electrolyte membrane, and the plating solution that seeps out from the container through the electrolyte membrane is filled into the through-holes,
The process includes a film formation step in which, while the substrate is pressed with the screen mask, an electric current is passed between the anode in contact with the plating solution and the substrate, thereby allowing metal ions contained in the plating solution to pass through the electrolyte membrane, and a metal film derived from the metal ions is formed on the substrate in the predetermined pattern,
A method for forming a metal film, characterized in that the liquid pressure of the plating solution in the filling step is made greater than the liquid pressure of the plating solution in the film formation step.
前記充填工程において、前記循環経路を遮断した後、前記収容体に接続されたピストンにより、前記収容体内の前記めっき液の液圧を第1液圧まで増加させ、
前記成膜工程において、前記循環経路の遮断を開放した後、前記ポンプを駆動させることにより、前記収容体内の前記めっき液の液圧を、第1液圧よりも低い第2液圧に調節することを特徴とする請求項1に記載の金属皮膜の成膜方法。 The aforementioned film formation process involves circulating the plating solution in a circulation path between the tank in which the plating solution is stored and the container by driving a pump, while forming the metal film.
In the filling process, after blocking the circulation path, the piston connected to the container increases the liquid pressure of the plating solution inside the container to a first liquid pressure.
The method for forming a metal film according to claim 1, characterized in that, in the film formation step, after opening the blockage of the circulation path, the pump is driven to adjust the liquid pressure of the plating solution in the container to a second liquid pressure lower than the first liquid pressure.
前記陽極と前記基材との間に一定の電流を通電した状態で、前記陽極と前記基材との間に作用する電圧を測定し、
測定した前記電圧が、予め設定された値以下となった際に、前記貫通部分に前記めっき液が充填されたと判定し、前記成膜工程に移行することを特徴とする請求項1または2に記載の金属皮膜の成膜方法。
In the aforementioned filling process,
With a constant current flowing between the anode and the substrate, the voltage acting between the anode and the substrate is measured.
A method for forming a metal film according to claim 1 or 2, characterized in that when the measured voltage falls below a preset value, it is determined that the plating solution has been filled into the through-hole, and the process proceeds to the film formation step.
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|---|---|
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Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001007269A (en) | 1999-06-23 | 2001-01-12 | Dainippon Printing Co Ltd | Lead plating partial plating apparatus and partial plating method |
| JP2008223144A (en) | 2008-04-28 | 2008-09-25 | Ebara Corp | Plating method and plating apparatus used for the same |
| WO2012050057A1 (en) | 2010-10-13 | 2012-04-19 | 東京エレクトロン株式会社 | Template and substrate treatment method |
| JP2016125087A (en) | 2014-12-26 | 2016-07-11 | トヨタ自動車株式会社 | Metal coating deposition apparatus and deposition method |
| JP2019056142A (en) | 2017-09-21 | 2019-04-11 | トヨタ自動車株式会社 | Metal film deposition equipment |
| JP2019127604A (en) | 2018-01-22 | 2019-08-01 | トヨタ自動車株式会社 | Film deposition apparatus for metallic film |
| JP2022001658A (en) | 2020-06-19 | 2022-01-06 | トヨタ自動車株式会社 | Film deposition apparatus of metallic film |
| JP2022046180A (en) | 2020-09-10 | 2022-03-23 | ミカドテクノス株式会社 | Surface treatment device |
| JP2022091406A (en) | 2020-12-09 | 2022-06-21 | ミカドテクノス株式会社 | Pressurizing device |
| JP2023002304A (en) | 2021-06-22 | 2023-01-10 | トヨタ自動車株式会社 | Method for forming metal film |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7998323B1 (en) * | 2006-06-07 | 2011-08-16 | Actus Potentia, Inc. | Apparatus for focused electric-field imprinting for micron and sub-micron patterns on wavy or planar surfaces |
-
2023
- 2023-01-23 JP JP2023007995A patent/JP7831336B2/en active Active
Patent Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001007269A (en) | 1999-06-23 | 2001-01-12 | Dainippon Printing Co Ltd | Lead plating partial plating apparatus and partial plating method |
| JP2008223144A (en) | 2008-04-28 | 2008-09-25 | Ebara Corp | Plating method and plating apparatus used for the same |
| WO2012050057A1 (en) | 2010-10-13 | 2012-04-19 | 東京エレクトロン株式会社 | Template and substrate treatment method |
| JP2016125087A (en) | 2014-12-26 | 2016-07-11 | トヨタ自動車株式会社 | Metal coating deposition apparatus and deposition method |
| JP2019056142A (en) | 2017-09-21 | 2019-04-11 | トヨタ自動車株式会社 | Metal film deposition equipment |
| JP2019127604A (en) | 2018-01-22 | 2019-08-01 | トヨタ自動車株式会社 | Film deposition apparatus for metallic film |
| JP2022001658A (en) | 2020-06-19 | 2022-01-06 | トヨタ自動車株式会社 | Film deposition apparatus of metallic film |
| JP2022046180A (en) | 2020-09-10 | 2022-03-23 | ミカドテクノス株式会社 | Surface treatment device |
| JP2022091406A (en) | 2020-12-09 | 2022-06-21 | ミカドテクノス株式会社 | Pressurizing device |
| JP2023002304A (en) | 2021-06-22 | 2023-01-10 | トヨタ自動車株式会社 | Method for forming metal film |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2024104007A (en) | 2024-08-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
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|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20251202 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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