JP7849247B2 - cutting device - Google Patents
cutting deviceInfo
- Publication number
- JP7849247B2 JP7849247B2 JP2022129607A JP2022129607A JP7849247B2 JP 7849247 B2 JP7849247 B2 JP 7849247B2 JP 2022129607 A JP2022129607 A JP 2022129607A JP 2022129607 A JP2022129607 A JP 2022129607A JP 7849247 B2 JP7849247 B2 JP 7849247B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- arm
- cutting
- light
- sheet
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Landscapes
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Details Of Cutting Devices (AREA)
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
Description
本発明は、切断装置に関する。 This invention relates to a cutting device.
特許文献1には、ウェーハの一方の面を保護する保護部材を形成する保護部材形成装置が記載されている。この保護部材形成装置では、テーブルの上にシートを載置して、シートの上に液状樹脂を供給して、テーブルの上方でウェーハを保持したウェーハ保持部を下降させ、ウェーハで液状樹脂を押し広げた後、液状樹脂を硬化させている。 Patent Document 1 describes a protective member forming apparatus for forming a protective member that protects one side of a wafer. In this protective member forming apparatus, a sheet is placed on a table, liquid resin is supplied onto the sheet, a wafer holder that holds the wafer above the table is lowered, the wafer spreads the liquid resin, and then the liquid resin is cured.
また、特許文献2に開示の技術では、ウェーハの外形にあわせてシートを円形にカットして、シートと樹脂とを含む保護部材を形成している。このようにシートを円形にカットするために、先端に刃を配置したアームを旋回させている。 Furthermore, in the technology disclosed in Patent Document 2, a sheet is cut into a circular shape to match the outer shape of the wafer, forming a protective member containing the sheet and resin. To cut the sheet into a circular shape in this way, an arm with a blade at its tip is rotated.
シートを円形にカットする保護部材形成装置は、例えば、8インチウェーハと、12インチウェーハとに対応しており、ウェーハの直径に対応して、作業者が、アームの長さを調整する。すなわち、作業者は、可変長のアームの長さを変更するか、または、既存のアームを、適切な長さのアームに取り替える。 The protective member forming apparatus, which cuts sheets into a circular shape, is compatible with, for example, 8-inch and 12-inch wafers. The operator adjusts the length of the arm according to the wafer diameter. That is, the operator either changes the length of a variable-length arm or replaces an existing arm with one of the appropriate length.
しかし、アームの長さ調整が忘れられることがあり、その場合には、ウェーハに刃がきりこまれてウェーハが破損したり、シートがウェーハよりも大きな円形に切断されたりすることがある。 However, sometimes the arm length adjustment is forgotten, in which case the blade may cut into the wafer, causing damage, or the sheet may be cut into a circle larger than the wafer.
したがって、本発明の目的は、アームの長さが、どのウェーハに対応しているかを容易に確認することにある。 Therefore, the objective of this invention is to easily determine which wafer the length of the arm corresponds to.
本発明の第1の切断装置は、少なくとも径が異なる2種類のウェーハのいずれかにウェーハの一方の面の面積よりも大きい面積のシートが貼着されたワークの該シートをウェーハの外周に沿って円形にカットする切断装置であって、前記少なくとも径が異なる2種類のウェーハは、第1ウェーハと、該第1ウェーハの直径よりも大きい直径の第2ウェーハとを含み、該シートを下にして該ワークが載置されるカットステージと、該カットステージに載置された該ワークの該第1ウェーハの外周を検出可能に、第1の隙間を有するように上下に離間して配置された、第1の光を投光する第1投光部と該第1の光を受光する第1受光部とを備える第1センサと、該カットステージに載置された該ワークの該第2ウェーハの外周を検出可能に、第2の隙間を有するように上下に離間して配置された、第2の光を投光する第2投光部と該第2の光を受光する第2受光部とを備える第2センサと、該シートを円形にカットするカット機構と、制御部とを備え、該カット機構は、該シートをカットする刃と、先端に該刃が配置されて水平方向に延在するアームと、該アームの後端に連結され、鉛直方向に延びる回転軸を有する回転シャフトと、該回転シャフトを回転させることにより該アームを旋回させるモータと、該刃と該カットステージとを相対的に接近あるいは離間するように昇降させる昇降機構と、を備え、該第1センサの該第1の隙間および該第2センサの該第2の隙間が、旋回する該アームが通過可能に設定されており、該制御部は、該カットステージにワークが載置されていない状態で該回転シャフトが回転されている場合に、旋回する該アームが該第1センサの該第1の光を遮光する一方、該第2センサの該第2の光を遮光しないときに、該アームの長さが該第1ウェーハに対応していると判断する第1判断部と、該カットステージにワークが載置されていない状態で該回転シャフトが回転されている場合に、旋回する該アームが該第1センサの該第1の光を遮光するとともに、該第2センサの該第2の光も遮光したときに、該アームの長さが該第2ウェーハに対応していると判断する第2判断部と、該カットステージにワークが載置されていない状態で該回転シャフトを回転されている場合に、旋回する該アームが該第1センサの該第1の光を遮光しないとともに、該第2センサの該第2の光も遮光しないときに、該アームの長さが該第1ウェーハおよび該第2ウェーハのどちらにも対応していないと判断する第3判断部と、を備える。 The first cutting apparatus of the present invention is a cutting apparatus for cutting a sheet attached to a workpiece having an area larger than the area of one side of the wafer, in a circular shape along the outer circumference of the wafer, wherein the two wafers having at least two different diameters include a first wafer and a second wafer having a diameter larger than the diameter of the first wafer, and comprises a cutting stage on which the workpiece is placed with the sheet facing downwards, and a first light projector that is positioned vertically spaced apart with a first gap so as to be detectable on the outer circumference of the first wafer of the workpiece placed on the cutting stage. The cutting stage comprises a first sensor having a light-emitting unit and a first light-receiving unit that receives the first light, a second sensor having a second light-emitting unit that emits a second light and a second light-receiving unit that receives the second light, which are arranged vertically spaced apart with a second gap so as to be able to detect the outer circumference of the second wafer of the workpiece placed on the cutting stage, a cutting mechanism for cutting the sheet into a circular shape, and a control unit, the cutting mechanism comprising a blade for cutting the sheet, an arm extending horizontally with the blade positioned at its tip, a rotating shaft connected to the rear end of the arm and having a rotation axis extending vertically, and by rotating the rotating shaft, The cutting stage comprises a motor for rotating an arm and a lifting mechanism for raising and lowering the blade and the cutting stage so that they move closer together or further apart, wherein the first gap of the first sensor and the second gap of the second sensor are set so that the rotating arm can pass through, and the control unit determines that the length of the arm corresponds to the first wafer when the rotating shaft is rotating with no workpiece placed on the cutting stage and the rotating arm blocks the first light of the first sensor but does not block the second light of the second sensor, and when a workpiece is placed on the cutting stage The system includes: a second determination unit that determines that the length of the arm corresponds to the second wafer when the rotating shaft is being rotated without a workpiece being placed on it, and the rotating arm blocks both the first light from the first sensor and the second light from the second sensor; and a third determination unit that determines that the length of the arm does not correspond to either the first or second wafer when the rotating shaft is being rotated without a workpiece being placed on the cutting stage, and the rotating arm does not block either the first light from the first sensor or the second light from the second sensor.
また、第1の切断装置は、該アームを伸縮させる伸縮機構を備えてもよく、該制御部は、円形のウェーハの半径に対応した長さに該アームを伸縮させてもよい。 Furthermore, the first cutting device may include an extension/retraction mechanism for extending and retracting the arm, and the control unit may extend or retract the arm to a length corresponding to the radius of the circular wafer.
本発明の第2の切断装置は、少なくとも径が異なる2種類のウェーハのいずれかにウェーハの一方の面の面積よりも大きい面積のシートが貼着されたワークの該シートをウェーハの外周に沿って円形にカットする切断装置であって、前記少なくとも径が異なる2種類のウェーハは、第1ウェーハと、該第1ウェーハの直径よりも大きい直径の第2ウェーハとを含み、該シートを下にして該ワークが載置されるカットステージと、該カットステージに載置された該ワークの該第1ウェーハの外周および該第2ウェーハの外周を撮像可能に該カットステージの上方に配置されるカメラと、該シートを円形にカットするカット機構と、制御部とを備え、該カット機構は、該シートをカットする刃と、先端に該刃が配置されて水平方向に延在するアームと、該アームの後端に連結され、鉛直方向に延びる回転軸を有する回転シャフトと、該回転シャフトを回転させることにより該アームを旋回させるモータと、該刃と該カットステージとを相対的に接近あるいは離間するように昇降させる昇降機構と、を備え、該カットステージと該カメラとの隙間である第3の隙間が、旋回する該アームが通過可能に設定されており、該制御部は、該カットステージにワークが載置されていない状態で該回転シャフトが回転されている場合に、旋回する該アームの先端を該カメラによって撮像して撮像画を取得し、この撮像画に基づいて、該アームの長さが該第1ウェーハに対応しているのか、該アームの長さが該第2ウェーハに対応しているのか、あるいは、該アームの長さが該第1ウェーハ、該第2ウェーハのどちらにも対応していないのか、を判断する第4判断部を備える。 The second cutting apparatus of the present invention is a cutting apparatus for cutting a sheet attached to a workpiece in which a sheet having an area larger than the area of one side of the wafer is attached to one of two types of wafers with at least different diameters, wherein the two types of wafers with at least different diameters include a first wafer and a second wafer having a diameter larger than the diameter of the first wafer, and comprises a cutting stage on which the workpiece is placed with the sheet facing downwards, a camera positioned above the cutting stage capable of imaging the outer circumference of the first wafer and the outer circumference of the second wafer of the workpiece placed on the cutting stage, a cutting mechanism for cutting the sheet in a circular shape, and a control unit, wherein the cutting mechanism comprises a blade for cutting the sheet, an arm extending horizontally with the blade positioned at its tip, and a lead connected to the rear end of the arm. The system comprises a rotating shaft having a rotation axis extending perpendicularly, a motor that rotates the rotating shaft to pivot the arm, and a lifting mechanism that raises and lowers the blade and the cutting stage so that they move closer together or further apart. A third gap, which is the gap between the cutting stage and the camera, is set to allow the pivoting arm to pass through. The control unit, when the rotating shaft is rotating without a workpiece placed on the cutting stage, captures an image of the tip of the pivoting arm using the camera and acquires an image. Based on this image, it includes a fourth determination unit that determines whether the length of the arm corresponds to the first wafer, the length of the arm corresponds to the second wafer, or the length of the arm does not correspond to either the first or second wafer.
また、第2の切断装置は、該アームを伸縮させる伸縮機構を備えてもよく、該制御部は、円形のウェーハの半径に対応した長さに該アームを伸縮させてもよい。 Furthermore, the second cutting device may include a telescopic mechanism for extending and retracting the arm, and the control unit may extend or retract the arm to a length corresponding to the radius of the circular wafer.
本発明の第1の切断装置では、旋回するアームが、第1センサの第1の光および第2センサの第2の光を遮光するか否かに基づいて、アームの長さが第1ウェーハあるいは第2ウェーハのいずれに対応しているのかを、容易に確認することができる。
また、本発明の第2の切断装置では、旋回するアームの先端をカメラによって撮像することによって得られる撮像画を用いて、アームの長さが第1ウェーハあるいは第2ウェーハのいずれに対応しているのかを、容易に確認することができる。
In the first cutting apparatus of the present invention, it is possible to easily determine whether the length of the rotating arm corresponds to the first wafer or the second wafer based on whether or not the rotating arm blocks the first light from the first sensor and the second light from the second sensor.
Furthermore, in the second cutting apparatus of the present invention, it is possible to easily confirm whether the length of the arm corresponds to the first wafer or the second wafer by using an image obtained by capturing the tip of the rotating arm with a camera.
図1に示す保護部材形成装置1は、ウェーハ10の一方の面の全面に、液状樹脂を押し広げて硬化させた樹脂とシートとからなる保護部材を形成することにより、ウェーハ10と保護部材とを含むワークを形成する装置である。 The protective member forming apparatus 1 shown in Figure 1 is an apparatus for forming a workpiece including a wafer 10 and a protective member by forming a protective member consisting of a resin and sheet formed by spreading and curing a liquid resin over the entire surface of one side of the wafer 10.
ウェーハ10は、たとえば、円板状のシリコンのアズスライスウェーハである。ウェーハ10は、たとえば円板状に形成されており、表面11および裏面12を有している。ウェーハ10の裏面12および表面11は、それぞれ、ウェーハ10の一方の面および他方の面の一例に相当する。 Wafer 10 is, for example, a disc-shaped silicon azu slice wafer. Wafer 10 is formed, for example, in a disc shape and has a front surface 11 and a back surface 12. The back surface 12 and front surface 11 of wafer 10 correspond to examples of one side and the other side of wafer 10, respectively.
なお、本実施形態では、保護部材形成装置1は、少なくとも径が異なる2種類のウェーハ10のいずれかに保護部材を形成するものである。そこで、以下では、比較的に小さい直径を有するウェーハ10を第1ウェーハ10aと称する一方、比較的に大きい直径を有するウェーハ10を第2ウェーハ10bと称する。すなわち、少なくとも径が異なる2種類のウェーハ10は、第1ウェーハ10aと、第1ウェーハ10aの直径よりも大きい直径を有する第2ウェーハ10bとを含む。また、第1ウェーハ10aと第2ウェーハ10bとを区別しない場合、これらをまとめてウェーハ10と称する。 In this embodiment, the protective member forming apparatus 1 forms a protective member on one of two types of wafers 10 with at least different diameters. Therefore, in the following description, the wafer 10 with a relatively small diameter will be referred to as the first wafer 10a, while the wafer 10 with a relatively large diameter will be referred to as the second wafer 10b. That is, the two types of wafers 10 with at least different diameters include the first wafer 10a and the second wafer 10b, which has a larger diameter than the first wafer 10a. Furthermore, when the first wafer 10a and the second wafer 10b are not distinguished, they will be collectively referred to as wafer 10.
保護部材形成装置1は、筐体200と、筐体200内に配設された装置ベース201と、装置ベース201に立設されたコラム202と、装置ベース201に隣接して配設された支持ベース203と、同じく装置ベース201に隣接して配設されたテーブルベース204と、筐体200の後端側に連結されたカセット収容本体205と、を備えている。 The protective member forming apparatus 1 comprises a housing 200, an apparatus base 201 disposed within the housing 200, a column 202 erected on the apparatus base 201, a support base 203 disposed adjacent to the apparatus base 201, a table base 204 also disposed adjacent to the apparatus base 201, and a cassette housing body 205 connected to the rear end of the housing 200.
カセット収容本体205は、左右方向に2つの収容スペース206および207を有している。収容スペース206には、保護部材が形成される前の複数のウェーハ10が収容されるカセット208が配設されている。収容スペース207には、保護部材が形成されたウェーハ10であるワークが収容されるカセット209が配設されている。 The cassette housing body 205 has two storage spaces 206 and 207 in the left-right direction. Storage space 206 contains a cassette 208 that houses multiple wafers 10 before protective members are formed. Storage space 207 contains a cassette 209 that houses workpieces, which are wafers 10 with protective members formed on them.
カセット収容本体205の-Y方向側のテーブルベース204には、仮置き機構7と、仮置き機構7の下方側に位置する切断装置8とが配設されている。仮置き機構7は、ウェーハ10の中心位置を検出する。切断装置8は、ウェーハ10の外形に沿って、ワークにおけるシートの余分な部分を切断する。 The table base 204 on the -Y direction side of the cassette housing body 205 is equipped with a temporary placement mechanism 7 and a cutting device 8 located below the temporary placement mechanism 7. The temporary placement mechanism 7 detects the center position of the wafer 10. The cutting device 8 cuts off the excess portion of the sheet in the workpiece along the outer shape of the wafer 10.
カセット収容本体205と仮置き機構7との間には、第1搬送機構4が配設されている。第1搬送機構4は、ウェーハ10を保持することの可能な第1ロボットハンド14を有しており、カセット208,209に対するウェーハ10の搬出および搬入を行う。すなわち、第1搬送機構4は、保護部材が形成される前のウェーハ10を、カセット208から搬出して、仮置き機構7に搬入する。さらに、第1搬送機構4は、保護部材が形成されたウェーハ10であるワークを、切断装置8から搬出して、カセット209に搬入する。 A first transport mechanism 4 is positioned between the cassette housing body 205 and the temporary storage mechanism 7. The first transport mechanism 4 has a first robotic hand 14 capable of holding the wafer 10, and performs the loading and unloading of the wafer 10 into and out of cassettes 208 and 209. Specifically, the first transport mechanism 4 unloads the wafer 10 before the protective member is formed from cassette 208 and loads it into the temporary storage mechanism 7. Furthermore, the first transport mechanism 4 unloads the wafer 10 (workpiece) with the protective member formed from the cutting device 8 and loads it into cassette 209.
第1搬送機構4の-Y方向側には、第2搬送機構5が配置されている。第2搬送機構5は、ウェーハ10を保持することの可能な第2ロボットハンド15を有しており、保護部材が形成されたウェーハ10であるワークを回収して、切断装置8に搬入する。また、第2搬送機構5は、仮置き機構7からウェーハ10を搬出して、ウェーハ保持機構50の保持テーブル52に受け渡す。 A second transport mechanism 5 is positioned on the -Y direction side of the first transport mechanism 4. The second transport mechanism 5 has a second robot hand 15 capable of holding the wafer 10, and retrieves the workpiece (wafer 10 with protective material formed on it) and transports it to the cutting device 8. The second transport mechanism 5 also unloads the wafer 10 from the temporary storage mechanism 7 and transfers it to the holding table 52 of the wafer holding mechanism 50.
装置ベース201には、ロール状に巻かれたシートSを含むロール部17を有するシート供給機構16と、シートSを保持するガラステーブル19を含むシート保持機構18と、シート載置機構30と、が備えられている。 The device base 201 includes a sheet supply mechanism 16 having a roll section 17 containing a rolled sheet S, a sheet holding mechanism 18 including a glass table 19 for holding the sheet S, and a sheet placement mechanism 30.
シート載置機構30は、ウェーハ10の一方の面である裏面12の面積よりも大きい面積のシートSをウェーハ10の裏面12に位置付ける。シート載置機構30は、枠状の支持部材31、支持部材31に取り付けられた空気抜きローラ35、支持部材31に取り付けられたシート把持部32、および、支持部材31をY軸方向に沿って移動させる移動部材33を有している。 The sheet placement mechanism 30 positions a sheet S, having an area larger than the area of the back surface 12 of the wafer 10, on the back surface 12 of the wafer 10. The sheet placement mechanism 30 includes a frame-shaped support member 31, an air vent roller 35 attached to the support member 31, a sheet gripping portion 32 attached to the support member 31, and a moving member 33 that moves the support member 31 along the Y-axis.
シート載置機構30では、ロール部17に巻かれたシートSを、シート把持部32によって把持して、移動部材33によって+Y方向に引っ張り、ガラステーブル19上に位置付ける。そして、空気抜きローラ35によってシートSとガラステーブル19との間の空気を追い出した後、シートSを、所定の大きさに切断する。切断後のシートSは、ウェーハ10の裏面12の面積よりも大きい面積を有する。 In the sheet placement mechanism 30, the sheet S wound on the roll section 17 is grasped by the sheet gripping section 32 and pulled in the +Y direction by the moving member 33 to position it on the glass table 19. Then, after the air between the sheet S and the glass table 19 is expelled by the air release roller 35, the sheet S is cut to a predetermined size. The cut sheet S has an area larger than the area of the back surface 12 of the wafer 10.
これにより、シート載置機構30は、シート保持機構18のガラステーブル19上に、シートSを載置することができる。なお、ガラステーブル19は、載置されたシートSを吸引保持する。 This allows the sheet placement mechanism 30 to place the sheet S on the glass table 19 of the sheet holding mechanism 18. The glass table 19 then holds the placed sheet S using suction.
また、図1に示すように、ガラステーブル19の近傍には、液状樹脂をシートSの上に供給する液状樹脂供給部40が備えられている。液状樹脂供給部40は、シートSに液状樹脂を供給するための液状樹脂供給ノズル41と、液状樹脂供給ノズル41に液状樹脂を所定量送出するディスペンサ42とを有している。液状樹脂供給ノズル41は、図示しない接続管により、ディスペンサ42に接続されている。 Furthermore, as shown in Figure 1, a liquid resin supply unit 40 for supplying liquid resin onto the sheet S is provided near the glass table 19. The liquid resin supply unit 40 includes a liquid resin supply nozzle 41 for supplying liquid resin to the sheet S, and a dispenser 42 for dispensing a predetermined amount of liquid resin to the liquid resin supply nozzle 41. The liquid resin supply nozzle 41 is connected to the dispenser 42 by a connecting pipe (not shown).
本実施形態では、液状樹脂供給ノズル41は、シート載置機構30の支持部材31に備えられており、支持部材31とともにY軸方向に移動する。液状樹脂供給部40は、この液状樹脂供給ノズル41により、ガラステーブル19に保持されたシートSの上面中央に液状樹脂を供給する。 In this embodiment, the liquid resin supply nozzle 41 is provided on the support member 31 of the sheet placement mechanism 30 and moves in the Y-axis direction together with the support member 31. The liquid resin supply unit 40 supplies liquid resin to the center of the upper surface of the sheet S held on the glass table 19 using this liquid resin supply nozzle 41.
本実施形態では、液状樹脂は、ウェーハ10の表面11の全面を保護する保護部材の形成に用いられる、たとえば紫外線硬化型の樹脂である。保護部材の形成では、ガラステーブル19に載置されたシートSの上に供給された液状樹脂に、その上方からウェーハ10の裏面12を押し付け、裏面12の全面に液状樹脂を押し広げて、液状樹脂を硬化させる。 In this embodiment, the liquid resin is, for example, an ultraviolet-curable resin used to form a protective member that protects the entire surface 11 of the wafer 10. In forming the protective member, the back surface 12 of the wafer 10 is pressed against the liquid resin supplied onto the sheet S placed on the glass table 19 from above, spreading the liquid resin across the entire surface 12 and curing it.
コラム202の-Y方向側には、第2搬送機構5から受け渡されたウェーハ10を保持するウェーハ保持機構50、および、ウェーハ保持機構50を昇降させる昇降機構60が配されている。 On the -Y direction side of column 202, there is a wafer holding mechanism 50 for holding the wafer 10 received from the second transport mechanism 5, and a lifting mechanism 60 for raising and lowering the wafer holding mechanism 50.
ウェーハ保持機構50は、昇降機構60に取り付けられた支持構造51、および、支持構造51に取り付けられた保持テーブル52を有している。支持構造51は、保持テーブル52を支持した状態で、昇降機構60に取り付けられており、昇降機構60によってZ軸方向に移動する。 The wafer holding mechanism 50 includes a support structure 51 attached to the lifting mechanism 60, and a holding table 52 attached to the support structure 51. The support structure 51 is attached to the lifting mechanism 60 while supporting the holding table 52, and moves in the Z-axis direction by the lifting mechanism 60.
ウェーハ保持機構50の保持テーブル52は、ガラステーブル19に対向するように配設されたウェーハ保持面53を有している。ウェーハ保持面53は、たとえばポーラス材からなる。保持テーブル52では、このウェーハ保持面53を吸引源(図示せず)に連通させることによって、ウェーハ保持面53により、ウェーハ10の他方の面である表面11を吸引保持することができる。 The wafer holding table 52 of the wafer holding mechanism 50 has a wafer holding surface 53 that is positioned opposite the glass table 19. The wafer holding surface 53 is made of, for example, a porous material. In the holding table 52, by connecting this wafer holding surface 53 to a suction source (not shown), the wafer holding surface 53 can suction and hold the other surface 11 of the wafer 10.
図1に示す昇降機構60は、保持テーブル52を昇降させるものである。すなわち、昇降機構60は、保持テーブル52を含むウェーハ保持機構50を、ガラステーブル19に対してZ軸方向に沿って接近させることによって、ガラステーブル19に保持されているシートS上に供給された液状樹脂を、保持テーブル52に保持されているウェーハ10のる裏面12の全面に押し広げる。 The lifting mechanism 60 shown in Figure 1 raises and lowers the holding table 52. Specifically, the lifting mechanism 60 moves the wafer holding mechanism 50, including the holding table 52, closer to the glass table 19 along the Z-axis direction, thereby spreading the liquid resin supplied onto the sheet S held on the glass table 19 across the entire back surface 12 of the wafer 10 held on the holding table 52.
昇降機構60は、Z軸方向に延在するボールネジ61、ボールネジ61の一端に接続されたモータ62、ボールネジ61と平行に延在する一対のガイドレール63、および、ウェーハ保持機構50が取り付けられた昇降板64を備える。昇降板64は、一対のガイドレール63に対してスライド可能に設置されている。また、昇降板64には、ナット部(図示せず)が形成されている。このナット部には、ボールネジ61が螺合している。 The lifting mechanism 60 comprises a ball screw 61 extending in the Z-axis direction, a motor 62 connected to one end of the ball screw 61, a pair of guide rails 63 extending parallel to the ball screw 61, and a lifting plate 64 to which the wafer holding mechanism 50 is attached. The lifting plate 64 is slidably mounted relative to the pair of guide rails 63. A nut portion (not shown) is formed on the lifting plate 64. The ball screw 61 is screwed into this nut portion.
昇降機構60では、モータ62によってボールネジ61が回動されることにより、一対のガイドレール63に沿って、昇降板64が、ウェーハ保持機構50とともにZ軸方向に移動する。これにより、昇降機構60は、ガラステーブル19に対して略垂直なZ軸方向に沿って、ウェーハ保持機構50を昇降させることができる。このようにして、昇降機構60は、ウェーハ10の裏面12の全面に、ガラステーブル19上に蓄積された液状樹脂を押し広げることができる。 In the lifting mechanism 60, the ball screw 61 is rotated by the motor 62, causing the lifting plate 64 to move along a pair of guide rails 63 in the Z-axis direction together with the wafer holding mechanism 50. This allows the lifting mechanism 60 to raise and lower the wafer holding mechanism 50 along the Z-axis direction, which is approximately perpendicular to the glass table 19. In this way, the lifting mechanism 60 can spread the liquid resin accumulated on the glass table 19 across the entire back surface 12 of the wafer 10.
また、シート保持機構18は、ガラステーブル19の下方に、ウェーハ10の裏面12の全面に押し広げられた液状樹脂を硬化させる硬化機構を有している。本実施形態では、硬化機構として、液状樹脂に紫外線を照射する紫外線照射部(図示せず)を備えている。紫外線照射部は、ガラステーブル19を介して、ウェーハ10の裏面12の全面に押し広げられた液状樹脂に紫外線を照射することにより、この液状樹脂を硬化させる。 Furthermore, the sheet holding mechanism 18 has a curing mechanism located below the glass table 19 for curing the liquid resin spread across the entire back surface 12 of the wafer 10. In this embodiment, the curing mechanism includes an ultraviolet irradiation unit (not shown) for irradiating the liquid resin with ultraviolet light. The ultraviolet irradiation unit cures the liquid resin by irradiating it with ultraviolet light via the glass table 19.
このようにして、保護部材形成装置1は、図2に示すように、硬化した樹脂105とシートSとを含む保護部材104を、ウェーハ10の裏面12に形成する。これにより、ウェーハ10と保護部材104とを含む円形のワーク110を形成することができる。このように、本実施形態では、ワーク110は、少なくとも径が異なる2種類のウェーハ100(第1ウェーハ10aおよび第2ウェーハ10b)のいずれかにウェーハ10の一方の面である裏面12の面積よりも大きい面積のシートSが貼着されたものである。ワーク110は、図1に示す第2搬送機構5によって回収されて、切断装置8に搬入される。切断装置8は、搬入されたワーク110のウェーハ10の外形に沿って、シートSの余分な部分を切断する。その後、ワーク110は、第1搬送機構4によって切断装置8から搬出されて、カセット209に搬入される。 In this way, the protective member forming apparatus 1 forms a protective member 104, including the cured resin 105 and the sheet S, on the back surface 12 of the wafer 10, as shown in Figure 2. This allows for the formation of a circular workpiece 110 including the wafer 10 and the protective member 104. Thus, in this embodiment, the workpiece 110 is formed by attaching a sheet S with an area larger than the area of the back surface 12 (one side of the wafer 10) to one of at least two wafers 100 (first wafer 10a and second wafer 10b) with different diameters. The workpiece 110 is collected by the second transport mechanism 5 shown in Figure 1 and transported to the cutting apparatus 8. The cutting apparatus 8 cuts off the excess portion of the sheet S along the outer shape of the wafer 10 of the transported workpiece 110. Afterward, the workpiece 110 is transported out of the cutting apparatus 8 by the first transport mechanism 4 and transported to the cassette 209.
また、保護部材形成装置1は、たとえばカセット収容本体205の側面に、タッチパネル9を備えている。タッチパネル9には、保護部材形成装置1に関する各種情報が表示される。また、タッチパネル9は、各種情報を設定するためにも用いられる。このように、タッチパネル9は、情報を入力するための入力部材として機能するとともに、情報を表示するための表示部材としても機能する。 Furthermore, the protective member forming apparatus 1 is equipped with a touch panel 9 on the side of, for example, the cassette housing body 205. Various information related to the protective member forming apparatus 1 is displayed on the touch panel 9. The touch panel 9 is also used to set various information. Thus, the touch panel 9 functions as both an input member for inputting information and a display member for displaying information.
ここで、仮置き機構7および切断装置8の構成について説明する。
仮置き機構7は、ウェーハ10を保持するとともに、保持したウェーハ10の中心位置を検出するための装置である。図3に示すように、テーブルベース204には、支持柱70がZ軸方向に立設しており、この支持柱70に、仮置き機構7が設置されている。すなわち、仮置き機構7は、支持柱70の上端から-X方向に延びるように設けられたテーブル支持部材71、および、このテーブル支持部材71に支持されている仮置きテーブル72を有している。
Here, the configuration of the temporary storage mechanism 7 and the cutting device 8 will be described.
The temporary placement mechanism 7 is a device for holding the wafer 10 and for detecting the center position of the held wafer 10. As shown in Figure 3, a support column 70 is erected on the table base 204 in the Z-axis direction, and the temporary placement mechanism 7 is installed on this support column 70. Specifically, the temporary placement mechanism 7 has a table support member 71 that extends in the -X direction from the upper end of the support column 70, and a temporary placement table 72 supported by this table support member 71.
仮置きテーブル72は、テーブル支持部材71の上面に設けられたX軸方向に延びる案内溝711上に配置されており、ウェーハ10を吸引保持するための保持面721を有している。仮置きテーブル72には、第1搬送機構4(図1参照)によって、カセット208から搬出された保護部材が形成される前のウェーハ10が載置される。そして、仮置きテーブル72は、載置されたウェーハ10を、図示しない吸引源に連通された保持面721によって吸引保持することが可能となっている。 The temporary storage table 72 is positioned on a guide groove 711 extending in the X-axis direction, provided on the upper surface of the table support member 71, and has a holding surface 721 for suction-holding the wafer 10. The wafer 10, before the protective member is formed, is placed on the temporary storage table 72 by the first transport mechanism 4 (see Figure 1). The temporary storage table 72 is then capable of suction-holding the placed wafer 10 by the holding surface 721, which is connected to a suction source (not shown).
なお、仮置きテーブル72を支持しているテーブル支持部材71、および、テーブル支持部材71の下方に配置されているカット機構支持部材81は、第1搬送機構4の第1ロボットハンド14および第2搬送機構5の第2ロボットハンド15の開口の幅よりも細い幅を有しており、これらの開口を通過することができる。したがって、第1搬送機構4および第2搬送機構5は、仮置きテーブル72に対して、ウェーハ10を容易に搬送することができる。 Furthermore, the table support member 71 supporting the temporary storage table 72, and the cutting mechanism support member 81 positioned below the table support member 71, have a width narrower than the openings of the first robot hand 14 of the first transport mechanism 4 and the second robot hand 15 of the second transport mechanism 5, allowing them to pass through these openings. Therefore, the first transport mechanism 4 and the second transport mechanism 5 can easily transport the wafer 10 to the temporary storage table 72.
また、仮置き機構7は、テーブル支持部材71内における仮置きテーブル72の下方に、スピンドルおよびモータ等を有する仮置きテーブル回転機構73を備えている。この仮置きテーブル回転機構73は、テーブル支持部材71の案内溝711を介して、仮置きテーブル72の下面に連結されている。仮置きテーブル回転機構73は、ウェーハ10を保持している仮置きテーブル72を、保持面721の中心を通る回転軸を中心に回転させることができる。 Furthermore, the temporary storage mechanism 7 includes a temporary storage table rotation mechanism 73, which has a spindle and motor, located below the temporary storage table 72 within the table support member 71. This temporary storage table rotation mechanism 73 is connected to the lower surface of the temporary storage table 72 via a guide groove 711 in the table support member 71. The temporary storage table rotation mechanism 73 can rotate the temporary storage table 72, which holds the wafer 10, around a rotation axis passing through the center of the holding surface 721.
また、仮置き機構7は、テーブル支持部材71内に、仮置きテーブル回転機構73に連結されている仮置きテーブル移動機構74を有している。仮置きテーブル移動機構74は、仮置きテーブル回転機構73および仮置きテーブル回転機構73に連結されている仮置きテーブル72を、矢印501によって示すように、案内溝711に沿ってX軸方向に移動させることができる。 Furthermore, the temporary placement mechanism 7 includes a temporary placement table moving mechanism 74 within the table support member 71, which is connected to the temporary placement table rotation mechanism 73. The temporary placement table moving mechanism 74 can move the temporary placement table rotation mechanism 73 and the temporary placement table 72 connected to the temporary placement table rotation mechanism 73 along the guide groove 711 in the X-axis direction, as indicated by the arrow 501.
さらに、仮置き機構7は、テーブル支持部材71の基端側に、仮置きテーブル72に保持されているウェーハ10の外周縁を上方から撮像する撮像装置75を有している。仮置き機構7は、撮像装置75によって撮像されたウェーハ10の画像に基づいて、ウェーハ10の中心位置を検知することができる。中心位置が検出されたウェーハ10は、図1に示した第2搬送機構5によって、ウェーハ保持機構50の保持テーブル52に受け渡される。 Furthermore, the temporary storage mechanism 7 has an imaging device 75 on the base end side of the table support member 71 that images the outer edge of the wafer 10 held on the temporary storage table 72 from above. Based on the image of the wafer 10 captured by the imaging device 75, the temporary storage mechanism 7 can detect the center position of the wafer 10. Once the center position of the wafer 10 is detected, it is transferred to the holding table 52 of the wafer holding mechanism 50 by the second transport mechanism 5 shown in Figure 1.
切断装置8は、このような仮置き機構7の下方に配置されている。切断装置8には、第2搬送機構5によって、ウェーハ10と保護部材104とを含むワーク110が搬入される。上述したように、保護部材104は、硬化した樹脂105と、ウェーハ10よりも大きいシートSとを含む。切断装置8は、このようなワーク110のシートSを、ウェーハ10の外周に沿って円形にカット(切断)するものである。 The cutting device 8 is positioned below the temporary storage mechanism 7. The workpiece 110, including the wafer 10 and protective member 104, is fed into the cutting device 8 by the second transport mechanism 5. As described above, the protective member 104 includes a cured resin 105 and a sheet S larger than the wafer 10. The cutting device 8 cuts (cuts) the sheet S of the workpiece 110 in a circular shape along the outer circumference of the wafer 10.
切断装置8は、図3に示すように、テーブルベース204の上面に形成された円形のカットステージ82と、カットステージ82を囲繞するカバー部83と、を有している。カバー部83は、テーブルベース204の上面である。 As shown in Figure 3, the cutting device 8 has a circular cutting stage 82 formed on the upper surface of the table base 204, and a cover portion 83 surrounding the cutting stage 82. The cover portion 83 is the upper surface of the table base 204.
カットステージ82は、第2搬送機構5によってワーク110が載置される部分である。カットステージ82には、シートSを下にしてワーク110が載置される。たとえば、カットステージ82の中心には、吸引源に接続された吸引孔が形成されており(ともに図示せず)、カットステージ82は、この吸引孔によってワーク110を吸引保持することができる。 The cutting stage 82 is the part on which the workpiece 110 is placed by the second transport mechanism 5. The workpiece 110 is placed on the cutting stage 82 with the sheet S facing downwards. For example, a suction hole connected to a suction source is formed in the center of the cutting stage 82 (neither shown), and the cutting stage 82 can hold the workpiece 110 by suction through this suction hole.
また、切断装置8は、カットステージ82内に配設された第1逃げ溝84、および、カットステージ82とカバー部83との間に配設された第2逃げ溝85を備えている。 Furthermore, the cutting device 8 includes a first relief groove 84 disposed within the cutting stage 82, and a second relief groove 85 disposed between the cutting stage 82 and the cover portion 83.
第1逃げ溝84および第2逃げ溝85は、有底溝状に形成されており、カットステージ82の外縁と同心円状に設けられている。第1逃げ溝84は、比較的に小さい径を有する第1ウェーハ10aよりも少しだけ大きく設定されている。また、第2逃げ溝85の径は、比較的に大きい径を有する第2ウェーハ10bよりも少しだけ大きく設定されている。 The first relief groove 84 and the second relief groove 85 are formed as bottomed grooves and are provided concentrically with the outer edge of the cut stage 82. The first relief groove 84 is set to be slightly larger than that of the first wafer 10a, which has a relatively small diameter. Similarly, the diameter of the second relief groove 85 is set to be slightly larger than that of the second wafer 10b, which has a relatively large diameter.
また、切断装置8は、支持柱70に設けられたカット機構支持部材81を有している。カット機構支持部材81は、仮置き機構7のテーブル支持部材71の下方に、テーブル支持部材71と略平行にX軸方向に沿って延在している。そして、切断装置8は、このカット機構支持部材81に、ワーク110のシートSを円形にカットするカット機構90を備えている。 Furthermore, the cutting device 8 has a cutting mechanism support member 81 provided on the support column 70. The cutting mechanism support member 81 extends below the table support member 71 of the temporary placement mechanism 7, substantially parallel to the table support member 71 and along the X-axis direction. The cutting device 8 is equipped with a cutting mechanism 90 on this cutting mechanism support member 81 for cutting the sheet S of the workpiece 110 into a circular shape.
カット機構90は、シートSをカットする刃91、刃91を支持しているアーム92、アーム92の後端に連結された回転シャフト93、回転シャフト93を回転させるモータ94、回転シャフト93を昇降させる昇降機構95、および、アーム92を伸縮させる伸縮機構96を備えている。 The cutting mechanism 90 includes a blade 91 for cutting the sheet S, an arm 92 supporting the blade 91, a rotating shaft 93 connected to the rear end of the arm 92, a motor 94 for rotating the rotating shaft 93, a lifting mechanism 95 for raising and lowering the rotating shaft 93, and a telescopic mechanism 96 for extending and retracting the arm 92.
昇降機構95は、回転シャフト93を支持しており、回転シャフト93とともに回転可能なように、カット機構支持部材81の先端部分の下面に設けられている。昇降機構95は、たとえばZ軸方向に伸縮することにより、カットステージ82に対して回転シャフト93を昇降させるように構成されている。なお、この回転シャフト93には、刃91を先端に備えたアーム92が連結されている。したがって、昇降機構95は、刃91とカットステージ82とを相対的に接近あるいは離間するように昇降させることができる。 The lifting mechanism 95 supports the rotating shaft 93 and is provided on the lower surface of the tip of the cutting mechanism support member 81 so as to be able to rotate together with the rotating shaft 93. The lifting mechanism 95 is configured to raise and lower the rotating shaft 93 relative to the cutting stage 82 by, for example, extending and retracting in the Z-axis direction. An arm 92, equipped with a blade 91 at its tip, is connected to this rotating shaft 93. Therefore, the lifting mechanism 95 can raise and lower the blade 91 and the cutting stage 82 so that they move closer together or further apart.
回転シャフト93は、カットステージ82の中心の上方に配置されるように、昇降機構95によって支持されている。回転シャフト93は、アーム92の後端に連結されているとともに、カットステージ82の中心を通り鉛直方向であるZ軸方向に延びる回転軸931を有している。回転シャフト93は、この回転軸931を中心に昇降機構95とともに回転することにより、アーム92を旋回させることが可能となっている。 The rotating shaft 93 is supported by the lifting mechanism 95 so as to be positioned above the center of the cutting stage 82. The rotating shaft 93 is connected to the rear end of the arm 92 and has a rotation axis 931 that passes through the center of the cutting stage 82 and extends in the vertical Z-axis direction. By rotating the rotating shaft 93 together with the lifting mechanism 95 around this rotation axis 931, the arm 92 can be rotated.
モータ94は、カット機構支持部材81の上面に設けられており、昇降機構95に接続されている。モータ94は、昇降機構95とともに回転シャフト93を回転させることにより、回転シャフト93に連結されているアーム92を旋回させる。 The motor 94 is mounted on the upper surface of the cutting mechanism support member 81 and connected to the lifting mechanism 95. The motor 94, together with the lifting mechanism 95, rotates the rotating shaft 93, thereby causing the arm 92 connected to the rotating shaft 93 to pivot.
アーム92は、回転シャフト93から水平方向に延在しており、その先端に刃91が配置されている。より詳細には、アーム92は、その先端に、刃91を保持して水平方向に移動可能な保持部材921を有している。保持部材921は、たとえばアーム92内において水平方向に移動可能なピストンロッドであり、先端に刃91を保持している。アーム92は、保持部材921が移動することにより、水平方向に伸縮することが可能となっている。 The arm 92 extends horizontally from the rotating shaft 93, and a blade 91 is positioned at its tip. More specifically, the arm 92 has a holding member 921 at its tip that holds the blade 91 and is movable horizontally. The holding member 921 is, for example, a piston rod that is movable horizontally within the arm 92 and holds the blade 91 at its tip. The arm 92 can extend and retract horizontally as the holding member 921 moves.
また、アーム92は、その内部に、保持部材921を水平方向に移動させることによりアーム92を伸縮させる伸縮機構96を有している。伸縮機構96は、刃91を保持している保持部材921の水平方向の位置を調整することにより、アーム92の長さを調整することができる。これにより、伸縮機構96は、刃91における水平方向の位置を、第2逃げ溝85あるいは第1逃げ溝84のいずれかに対向するように設定することができる。
なお、本実施形態では、アーム92の長さは、たとえば、アーム92の回転中心である回転シャフト93の回転軸931から刃91までの水平方向の長さを意味する。
Furthermore, the arm 92 has an extension/retraction mechanism 96 inside which the arm 92 is extended or retracted by moving the holding member 921 horizontally. The extension/retraction mechanism 96 can adjust the length of the arm 92 by adjusting the horizontal position of the holding member 921 that holds the blade 91. In this way, the extension/retraction mechanism 96 can set the horizontal position of the blade 91 to face either the second relief groove 85 or the first relief groove 84.
In this embodiment, the length of the arm 92 refers, for example, to the horizontal length from the rotation axis 931 of the rotating shaft 93, which is the rotation center of the arm 92, to the blade 91.
刃91は、カットステージ82に載置されたワーク110のシートSをカットするために用いられる。カット機構90では、カットステージ82にシートSを有するワーク110が載置されている状態で、伸縮機構96および昇降機構95によって刃91の水平方向の位置および高さを調整し、さらに、モータ94によって刃91を保持しているアーム92を旋回させることにより、刃91を、第1逃げ溝84(あるいは第2逃げ溝85)に沿って回転させて、シートSを、第1逃げ溝84(あるいは第2逃げ溝85)に応じた大きさにカットすることができる。 The blade 91 is used to cut the sheet S of the workpiece 110 placed on the cutting stage 82. In the cutting mechanism 90, with the workpiece 110 having the sheet S placed on the cutting stage 82, the horizontal position and height of the blade 91 are adjusted by the telescopic mechanism 96 and the lifting mechanism 95. Furthermore, the arm 92 holding the blade 91 is rotated by the motor 94, thereby rotating the blade 91 along the first relief groove 84 (or second relief groove 85) to cut the sheet S to a size corresponding to the first relief groove 84 (or second relief groove 85).
また、切断装置8は、カットステージ82の近傍に、センサ支持部材97を有している。センサ支持部材97は、テーブルベース204の上面においてZ軸方向に延びるセンサ支持柱99、および、センサ支持柱99の先端に設けられたセンサ支持アーム98を有している。このセンサ支持アーム98は、カットステージ82の外側から中央側に向かって水平方向に延びている。 Furthermore, the cutting device 8 has a sensor support member 97 near the cutting stage 82. The sensor support member 97 has a sensor support column 99 extending in the Z-axis direction on the upper surface of the table base 204, and a sensor support arm 98 provided at the tip of the sensor support column 99. This sensor support arm 98 extends horizontally from the outside of the cutting stage 82 toward the center.
そして、切断装置8は、このセンサ支持部材97およびカットステージ82に、アーム92の長さを検出するための第1センサ120および第2センサ130を有している。 Furthermore, the cutting device 8 has a first sensor 120 and a second sensor 130 on the sensor support member 97 and the cutting stage 82 for detecting the length of the arm 92.
第1センサ120は、カットステージ82に載置されたワーク110が第1ウェーハ10aを有している場合に、この第1ウェーハ10aの外周を検出することの可能なセンサである。第1センサ120は、第1受光部122および第1投光部121を有している。 The first sensor 120 is a sensor capable of detecting the outer periphery of the first wafer 10a when the workpiece 110 placed on the cutting stage 82 has a first wafer 10a. The first sensor 120 has a first light receiving unit 122 and a first light emitting unit 121.
第1受光部122は、第1ウェーハ10aの外周よりも少しだけ大きく設定されているカットステージ82の第1逃げ溝84の内側近傍に設けられている。第1投光部121は、第1受光部122に対向するように、センサ支持部材97のセンサ支持アーム98に設けられている。すなわち、第1投光部121および第1受光部122は、第1ウェーハ10aの外周に応じた位置において、これらの間に隙間(第1の隙間)を有するように上下に離間して配置されている。また、第1投光部121は、測定光である第1の光を投光するように構成されている一方、第1受光部122は、第1投光部121からの第1の光を受光するように構成されている。 The first light-receiving unit 122 is provided near the inside of the first relief groove 84 of the cut stage 82, which is set to be slightly larger than the outer circumference of the first wafer 10a. The first light-emitting unit 121 is provided on the sensor support arm 98 of the sensor support member 97 so as to face the first light-receiving unit 122. That is, the first light-emitting unit 121 and the first light-receiving unit 122 are arranged vertically spaced apart at a position corresponding to the outer circumference of the first wafer 10a, with a gap (first gap) between them. Furthermore, the first light-emitting unit 121 is configured to emit a first light, which is the measurement light, while the first light-receiving unit 122 is configured to receive the first light from the first light-emitting unit 121.
このような構成を有する第1センサ120では、カットステージ82に第1ウェーハ10aを含むワーク110が載置されたときに、第1ウェーハ10aの外周によって第1受光部122が遮られるために、第1受光部122が第1投光部121からの第1の光を受光しなくなる。 In the first sensor 120 having this configuration, when a workpiece 110 including the first wafer 10a is placed on the cutting stage 82, the first light-receiving unit 122 is blocked by the outer circumference of the first wafer 10a, and therefore the first light-receiving unit 122 no longer receives the first light from the first light-emitting unit 121.
このように、第1センサ120は、カットステージ82に載置されたワーク110の第1ウェーハ10aの外周を検出可能に、第1の隙間を有するように上下に離間して配置された、第1の光を投光する第1投光部121と第1の光を受光する第1受光部122とを備える。 Thus, the first sensor 120 comprises a first light-emitting unit 121 that emits first light and a first light-receiving unit 122 that receives first light, arranged vertically spaced apart with a first gap between them, so as to be able to detect the outer periphery of the first wafer 10a of the workpiece 110 placed on the cut stage 82.
第2センサ130は、カットステージ82に載置されたワーク110が第2ウェーハ10bを有している場合に、この第2ウェーハ10bの外周を検出することの可能なセンサである。第2センサ130は、第2受光部132および第2投光部131を有している。 The second sensor 130 is a sensor capable of detecting the outer edge of the second wafer 10b when the workpiece 110 placed on the cutting stage 82 has a second wafer 10b. The second sensor 130 has a second light receiving unit 132 and a second light emitting unit 131.
第2受光部132は、第2ウェーハ10bの外周よりも少しだけ大きく設定されているカットステージ82の第2逃げ溝85の内側近傍に設けられている。第2投光部131は、第2受光部132に対向するように、センサ支持部材97のセンサ支持アーム98に設けられている。すなわち、第2投光部131および第2受光部132は、第2ウェーハ10bの外周に応じた位置において、これらの間に隙間(第2の隙間)を有するように上下に離間して配置されている。また、第2投光部131は、測定光である第2の光を投光するように構成されている一方、第2受光部132は、第2投光部131からの第2の光を受光するように構成されている。 The second light-receiving unit 132 is located near the inside of the second relief groove 85 of the cut stage 82, which is set to be slightly larger than the outer circumference of the second wafer 10b. The second light-emitting unit 131 is located on the sensor support arm 98 of the sensor support member 97, facing the second light-receiving unit 132. That is, the second light-emitting unit 131 and the second light-receiving unit 132 are positioned vertically separated from each other at a position corresponding to the outer circumference of the second wafer 10b, with a gap (second gap) between them. Furthermore, the second light-emitting unit 131 is configured to emit a second light, which is the measurement light, while the second light-receiving unit 132 is configured to receive the second light from the second light-emitting unit 131.
このような構成を有する第2センサ130では、カットステージ82に第2ウェーハ10bを含むワーク110が載置されたときに、第2ウェーハ10bの外周によって第2受光部132が遮られるために、第2受光部132が第2投光部131からの第2の光を受光しなくなる。 In the second sensor 130 having this configuration, when the workpiece 110 including the second wafer 10b is placed on the cutting stage 82, the second light-receiving unit 132 is blocked by the outer circumference of the second wafer 10b, and therefore the second light-receiving unit 132 no longer receives the second light from the second light-emitting unit 131.
このように、第2センサ130は、カットステージ82に載置されたワーク110の第2ウェーハ10bの外周を検出可能に、第2の隙間を有するように上下に離間して配置された、第2の光を投光する第2投光部131と第2の光を受光する第2受光部132とを備える。 Thus, the second sensor 130 includes a second light-emitting unit 131 that emits second light and a second light-receiving unit 132 that receives second light, which are arranged vertically spaced apart with a second gap between them, so as to be able to detect the outer periphery of the second wafer 10b of the workpiece 110 placed on the cut stage 82.
なお、第1センサ120における第1投光部121と第1受光部122との間の隙間である第1の隙間、および、第2センサ130の第2投光部131と第2受光部132との間の隙間である第2の隙間は、カット機構90の旋回するアーム92が通過可能に設定されている。すなわち、第1の隙間および第2の隙間は、アーム92の旋回範囲内に設けられているとともに、旋回するアーム92が通過可能な大きさを有している。
なお、本実施形態では、第1の隙間および第2の隙間は、センサ支持部材97のセンサ支持アーム98とカットステージ82との間の隙間であるため、互いに同一である。これに関し、第1の隙間および第2の隙間は、互いに異なる大きさに設定されていてもよい。
Furthermore, the first gap, which is the gap between the first light-emitting unit 121 and the first light-receiving unit 122 of the first sensor 120, and the second gap, which is the gap between the second light-emitting unit 131 and the second light-receiving unit 132 of the second sensor 130, are set to allow the rotating arm 92 of the cutting mechanism 90 to pass through. In other words, the first gap and the second gap are provided within the rotation range of the arm 92 and are large enough for the rotating arm 92 to pass through.
In this embodiment, the first gap and the second gap are the same because they are the gaps between the sensor support arm 98 of the sensor support member 97 and the cutting stage 82. However, the first gap and the second gap may be set to different sizes.
また、切断装置8は、切断装置8の各部材を制御する制御部20を備えている。制御部20は、制御プログラムに従って演算処理を行うCPU、および、メモリ等の記憶媒体等を備えている。制御部20は、第1判断部21、第2判断部22、第3判断部23および第4判断部24を備えており、これらを用いて、カット機構90のアーム92の長さを検出するアーム長検知動作を実施する。 Furthermore, the cutting device 8 includes a control unit 20 that controls each component of the cutting device 8. The control unit 20 includes a CPU that performs calculations according to a control program, and a storage medium such as memory. The control unit 20 comprises a first determination unit 21, a second determination unit 22, a third determination unit 23, and a fourth determination unit 24, which are used to perform an arm length detection operation to detect the length of the arm 92 of the cutting mechanism 90.
以下に、切断装置8におけるアーム長検知動作について説明する。このアーム長検出動作では、アーム92の長さが第1ウェーハ10aあるいは第2ウェーハ10bのいずれのウェーハに対応しているのか、が判断される。このアーム長検出動作は、たとえば、ウェーハ10に対する保護部材104の形成前に実施される。 The arm length detection operation in the cutting device 8 is described below. This arm length detection operation determines whether the length of the arm 92 corresponds to the first wafer 10a or the second wafer 10b. This arm length detection operation is performed, for example, before the protective member 104 is formed on the wafer 10.
なお、このアーム長検出動作に先立って、制御部20は、タッチパネル9を介して、作業者から、保護部材104の形成に用いられる加工対象のウェーハ10の種類、すなわち、第1ウェーハ10aあるいは第2ウェーハ10bのいずれが加工対象であるのかを、予め取得している。 Prior to this arm length detection operation, the control unit 20 obtains from the operator via the touch panel 9 the type of wafer 10 to be processed for forming the protective member 104, specifically whether it is the first wafer 10a or the second wafer 10b.
アーム長検出動作では、まず、制御部20が、カットステージ82にワーク110が載置されていない状態で、モータ94を制御して回転シャフト93を回転させることにより、アーム92を旋回させる。この際、制御部20は、必要に応じて、昇降機構95を制御して、アーム92の高さ位置を、旋回するアーム92が第1センサ120の第1の隙間および第2センサ130の第2の隙間を通過できるような位置に配置する。 In the arm length detection operation, first, the control unit 20 controls the motor 94 to rotate the rotating shaft 93 while the workpiece 110 is not placed on the cutting stage 82, thereby causing the arm 92 to pivot. At this time, the control unit 20 controls the lifting mechanism 95 as needed to position the arm 92 at a height that allows the pivoting arm 92 to pass through the first gap of the first sensor 120 and the second gap of the second sensor 130.
そして、このようにアーム92が旋回している状態で、制御部20の第1判断部21、第2判断部22および第3判断部23が、第1センサ120の第1受光部122および第2センサ130の第2受光部132の受光状態を検知することにより、第1センサ120の第1投光部121から第1受光部122に投光されている第1の光、および、第2センサ130の第2投光部131から第2受光部132に投光されている第2の光が、アーム92によって遮光されるか否かを認識する。 Then, while the arm 92 is rotating in this manner, the first determination unit 21, the second determination unit 22, and the third determination unit 23 of the control unit 20 detect the light reception state of the first light receiving unit 122 of the first sensor 120 and the second light receiving unit 132 of the second sensor 130. This allows them to recognize whether the first light emitted from the first light emitting unit 121 of the first sensor 120 to the first light receiving unit 122, and the second light emitted from the second light emitting unit 131 of the second sensor 130 to the second light receiving unit 132, are being blocked by the arm 92.
すなわち、カットステージ82にワーク110が載置されていない状態で回転シャフト93が回転されている場合に、旋回するアーム92が、第1センサ120の第1投光部121から第1受光部122に投光されている第1の光を遮光する一方、第2センサ130の第2投光部131から第2受光部132に投光されている第2の光を遮光しないときには、制御部20の第1判断部21が、アーム92の長さが第1ウェーハ10aに対応している、すなわち、アーム92の先端の刃91が第1逃げ溝84に対向している、と判断する。 In other words, when the rotating shaft 93 is rotating with no workpiece 110 placed on the cutting stage 82, if the swiveling arm 92 blocks the first light emitted from the first light-emitting unit 121 of the first sensor 120 to the first light-receiving unit 122, while not blocking the second light emitted from the second light-emitting unit 131 of the second sensor 130 to the second light-receiving unit 132, then the first determination unit 21 of the control unit 20 determines that the length of the arm 92 corresponds to the first wafer 10a, that is, the blade 91 at the tip of the arm 92 faces the first relief groove 84.
また、カットステージ82にワーク110が載置されていない状態で回転シャフト93が回転されている場合に、旋回するアーム92が、第1センサ120の第1の光を遮光するとともに、第2センサ130の第2の光も遮光したときには、制御部20の第2判断部22が、アーム92の長さが第2ウェーハ10bに対応している、すなわち、アーム92の先端の刃91が第2逃げ溝85に対向している、と判断する。 Furthermore, when the rotating shaft 93 is rotating while no workpiece 110 is placed on the cutting stage 82, and the swiveling arm 92 blocks both the first light from the first sensor 120 and the second light from the second sensor 130, the second determination unit 22 of the control unit 20 determines that the length of the arm 92 corresponds to the second wafer 10b, that is, that the blade 91 at the tip of the arm 92 faces the second relief groove 85.
さらに、カットステージ82にワーク110が載置されていない状態で回転シャフト93が回転されている場合に、旋回するアーム92が、第1センサ120の第1の光を遮光しないとともに、第2センサ130の第2の光も遮光しないときには、制御部20の第3判断部23が、アーム92の長さが第1ウェーハ10aおよび第2ウェーハ10bのどちらにも対応していない、すなわち、アーム92の先端の刃91が第1逃げ溝84および第2逃げ溝85のいずれにも対向していない、と判断する。この場合は、たとえば、取り付けられているアーム92が短すぎる場合、および、カット機構90にアーム92が取り付けられていない場合を含む。 Furthermore, when the rotating shaft 93 is rotating while no workpiece 110 is placed on the cutting stage 82, if the swiveling arm 92 does not block the first light from the first sensor 120 and also does not block the second light from the second sensor 130, the third determination unit 23 of the control unit 20 determines that the length of the arm 92 does not correspond to either the first wafer 10a or the second wafer 10b, that is, the blade 91 at the tip of the arm 92 does not face either the first relief groove 84 or the second relief groove 85. This includes, for example, cases where the attached arm 92 is too short, and cases where the arm 92 is not attached to the cutting mechanism 90.
ここで、上述したように、制御部20は、加工対象のウェーハ10の種類(第1ウェーハ10aあるいは第2ウェーハ10b)を、予め取得している。そして、制御部20は、第1判断部21、第2判断部22および第3判断部23の判断結果に基づいて、アーム92の長さが、加工対象のウェーハ10に対応しているか否かを判断する。そして、制御部20は、アーム92の長さが、加工対象のウェーハ10に対応していないと判断した場合、タッチパネル9を制御して、作業者に対し、アーム92の長さが加工対象のウェーハ10に対応していない旨を通知するためのアラームを発生させる。 As described above, the control unit 20 has previously acquired the type of wafer 10 to be processed (either the first wafer 10a or the second wafer 10b). Based on the judgment results of the first judgment unit 21, the second judgment unit 22, and the third judgment unit 23, the control unit 20 determines whether the length of the arm 92 corresponds to the wafer 10 to be processed. If the control unit 20 determines that the length of the arm 92 does not correspond to the wafer 10 to be processed, it controls the touch panel 9 to generate an alarm to notify the operator that the length of the arm 92 does not correspond to the wafer 10 to be processed.
以上のように、本実施形態では、旋回するアーム92が、第1センサ120の第1の光および第2センサ130の第2の光を遮光するか否かに基づいて、アーム92の長さが第1ウェーハ10aあるいは第2ウェーハ10bのいずれに対応しているのか、および、アーム92の長さが加工対象のウェーハ10に対応しているか否かを、容易に確認することが可能である。 As described above, in this embodiment, it is possible to easily determine whether the length of the arm 92 corresponds to the first wafer 10a or the second wafer 10b, and whether the length of the arm 92 corresponds to the wafer 10 to be processed, based on whether the rotating arm 92 blocks the first light from the first sensor 120 and the second light from the second sensor 130.
また、アーム92の長さが加工対象のウェーハ10に対応していない場合に、制御部20が、その旨を作業者に通知している。したがって、作業者は、保護部材の形成前に、アーム92の長さが適切でないことを認識して、たとえば、アーム92の長さを適切に調整することが可能となる。 Furthermore, if the length of the arm 92 does not correspond to the wafer 10 being processed, the control unit 20 notifies the operator accordingly. Therefore, the operator can recognize that the length of the arm 92 is inappropriate before forming the protective member, and, for example, adjust the length of the arm 92 appropriately.
なお、第1判断部21、第2判断部22および第3判断部23によって判断されたアーム92の長さが加工対象のウェーハ10に対応していない場合、制御部20は、上述したタッチパネル9を用いたアラームの発生に代えてまたは加えて、カット機構90の伸縮機構96を制御して、加工対象のウェーハ10に対応するように、アーム92の長さを調整してもよい。この場合、たとえば、制御部20は、伸縮機構96を用いて、アーム92を、加工対象のウェーハ10の半径に対応した長さに伸縮させる。 Furthermore, if the length of the arm 92 determined by the first determination unit 21, the second determination unit 22, and the third determination unit 23 does not correspond to the wafer 10 to be processed, the control unit 20 may, instead of or in addition to generating an alarm using the touch panel 9 described above, control the extension/retraction mechanism 96 of the cutting mechanism 90 to adjust the length of the arm 92 to correspond to the wafer 10 to be processed. In this case, for example, the control unit 20 may use the extension/retraction mechanism 96 to extend or retract the arm 92 to a length corresponding to the radius of the wafer 10 to be processed.
具体的には、たとえば、制御部20は、加工対象のウェーハ10が第1ウェーハ10aである場合、刃91が第1逃げ溝84に対向するように、アーム92の長さを調整する。一方、制御部20は、加工対象のウェーハ10が第2ウェーハ10bである場合、刃91が第2逃げ溝85に対向するように、アーム92の長さを調整する。これにより、刃91の位置を、ウェーハ10の半径に対応するように、適切に変更することが可能となる。 Specifically, for example, when the wafer 10 to be processed is the first wafer 10a, the control unit 20 adjusts the length of the arm 92 so that the blade 91 faces the first relief groove 84. On the other hand, when the wafer 10 to be processed is the second wafer 10b, the control unit 20 adjusts the length of the arm 92 so that the blade 91 faces the second relief groove 85. This makes it possible to appropriately change the position of the blade 91 to correspond to the radius of the wafer 10.
また、切断装置8は、図4に示すように、第1センサ120および第2センサ130に代えて、カットステージ82の近傍に、撮像機構140を有していてもよい。 Furthermore, as shown in Figure 4, the cutting device 8 may have an imaging mechanism 140 near the cutting stage 82 instead of the first sensor 120 and the second sensor 130.
撮像機構140は、テーブルベース204の上面においてZ軸方向に延びるカメラ支持柱141、カメラ支持柱141の先端からカットステージ82の中央に向かって水平方向に延びるカメラ支持アーム142、および、カメラ支持アーム142の先端に下向きに設けられたカメラ143を有している。 The imaging mechanism 140 includes a camera support column 141 extending in the Z-axis direction on the upper surface of the table base 204, a camera support arm 142 extending horizontally from the tip of the camera support column 141 toward the center of the cut stage 82, and a camera 143 mounted facing downward at the tip of the camera support arm 142.
カメラ143は、カットステージ82に載置されたワーク110に含まれる第1ウェーハ10aあるいは第2ウェーハ10bのそれぞれの外周が撮像範囲に入るように、カメラ支持柱141およびカメラ支持アーム142によって支持されている。すなわち、カメラ143は、カットステージ82に載置されたワーク110の第1ウェーハ10aの外周および第2ウェーハ10bの外周を撮像可能に、カットステージ82の上方に配置されている。したがって、カメラ143は、第1ウェーハ10aの外周に応じた第1逃げ溝84、および、第2ウェーハ10bの外周に応じた第2逃げ溝85を、一度に撮像することが可能である。 The camera 143 is supported by a camera support column 141 and a camera support arm 142 so that the outer periphery of either the first wafer 10a or the second wafer 10b, which are included in the workpiece 110 placed on the cutting stage 82, is within its imaging range. In other words, the camera 143 is positioned above the cutting stage 82 so that it can image the outer periphery of both the first wafer 10a and the second wafer 10b of the workpiece 110 placed on the cutting stage 82. Therefore, the camera 143 can simultaneously image the first relief groove 84 corresponding to the outer periphery of the first wafer 10a and the second relief groove 85 corresponding to the outer periphery of the second wafer 10b.
なお、上述したように、第1逃げ溝84および第2逃げ溝85に対向するように配置されることが可能である。したがって、本実施形態では、カメラ143は、旋回するアーム92の先端を撮像することも可能となっている。 Furthermore, as described above, it is possible to position the camera 143 opposite the first relief groove 84 and the second relief groove 85. Therefore, in this embodiment, the camera 143 can also image the tip of the rotating arm 92.
また、カメラ143は、カットステージ82とカメラ143との間に隙間(第3の隙間)が設けられるように配置されている。そして、この第3の隙間は、旋回するアーム92が通過可能に設定されている。すなわち、第3の隙間は、アーム92の旋回範囲内に設けられているとともに、旋回するアーム92が通過可能な大きさを有している。 Furthermore, the camera 143 is positioned such that a gap (a third gap) is provided between the cut stage 82 and the camera 143. This third gap is designed to allow the rotating arm 92 to pass through. In other words, the third gap is located within the rotational range of the arm 92 and is large enough for the rotating arm 92 to pass through.
このような構成を有する切断装置8では、アーム長検出動作は、以下のように実施される。すなわち、まず、制御部20が、カットステージ82にワーク110が載置されていない状態で、モータ94を制御して回転シャフト93を回転させることにより、アーム92を旋回させる。この際、制御部20は、必要に応じて、昇降機構95を制御して、アーム92の高さ位置を、旋回するアーム92がカットステージ82とカメラ143との第3の隙間を通過できるような位置に配置する。 In the cutting device 8 having this configuration, the arm length detection operation is performed as follows. First, the control unit 20, with no workpiece 110 placed on the cutting stage 82, controls the motor 94 to rotate the rotating shaft 93, thereby pivoting the arm 92. At this time, the control unit 20 controls the lifting mechanism 95 as needed to position the arm 92 at a height that allows the pivoting arm 92 to pass through the third gap between the cutting stage 82 and the camera 143.
そして、このようにカットステージ82にワーク110が載置されていない状態で回転シャフト93が回転されている場合に、第4判断部24が、撮像機構140のカメラ143によって、旋回するアーム92の先端を撮像して撮像画を取得する。そして、第4判断部24は、この撮像画に基づいて、アーム92の長さを取得して、アーム92の長さが第1ウェーハ10aに対応しているのか、アーム92の長さが第2ウェーハ10bに対応しているのか、あるいは、アーム92の長さが第1ウェーハ10aおよび第2ウェーハ10bのどちらにも対応していないのか、を判断する。 Furthermore, when the rotating shaft 93 is rotating with no workpiece 110 placed on the cutting stage 82, the fourth determination unit 24 uses the camera 143 of the imaging mechanism 140 to image the tip of the rotating arm 92 and acquire an image. Based on this image, the fourth determination unit 24 acquires the length of the arm 92 and determines whether the length of the arm 92 corresponds to the first wafer 10a, the second wafer 10b, or neither.
たとえば、第4判断部24は、撮像画に基づいて、アーム92の先端の刃91が第1逃げ溝84に対向していることを認識した場合に、アーム92の長さが第1ウェーハ10aに対応していると判断する。また、第4判断部24は、アーム92の先端の刃91が第2逃げ溝85に対向していることを認識した場合に、アーム92の長さが第2ウェーハ10bに対応していると判断する。さらに、第4判断部24は、アーム92の先端の刃91が第1逃げ溝84および第2逃げ溝85のいずれにも対向していないことを認識した場合に、アーム92の長さが第1ウェーハ10aおよび第2ウェーハ10bのどちらにも対応していないと判断する。また、第4判断部24は、撮像画にアーム92の先端の刃91が含まれていないことを認識した場合にも、アーム92の長さが第1ウェーハ10aおよび第2ウェーハ10bのどちらにも対応していないと判断する。 For example, the fourth determination unit 24 determines, based on the captured image, that the blade 91 at the tip of the arm 92 faces the first relief groove 84, and therefore determines that the length of the arm 92 corresponds to the first wafer 10a. Furthermore, the fourth determination unit 24 determines, based on the captured image, that the length of the arm 92 corresponds to the second wafer 10b, and therefore determines that the length of the arm 92 corresponds to the second wafer 10b, and therefore determines that the length of the arm 92 does not correspond to either the first wafer 10a or the second wafer 10b, and therefore determines that the length of the arm 92 does not correspond to either the first wafer 10a or the second wafer 10b, and therefore determines that the length of the arm 92 does not correspond to either the first wafer 10a or the second wafer 10b, and also determines that the blade 91 at the tip of the arm 92 is not included in the captured image.
そして、制御部20は、第4判断部24によって判断されたアーム92の長さが、加工対象のウェーハ10に対応していない場合、タッチパネル9を制御して、作業者に対し、アーム92の長さが加工対象のウェーハ10に対応していない旨を通知するためのアラームを発生させる。 Furthermore, if the length of the arm 92, as determined by the fourth determination unit 24, does not correspond to the wafer 10 being processed, the control unit 20 controls the touch panel 9 to generate an alarm to notify the operator that the length of the arm 92 does not correspond to the wafer 10 being processed.
この構成では、旋回するアーム92の先端をカメラ143によって撮像することによって得られる撮像画を用いて、アーム92の長さが第1ウェーハ10aあるいは第2ウェーハ10bのいずれに対応しているのか、および、アーム92の長さが加工対象のウェーハ10に対応しているか否かを、容易に確認することが可能である。 In this configuration, by using the image obtained by capturing the tip of the rotating arm 92 with the camera 143, it is possible to easily confirm whether the length of the arm 92 corresponds to the first wafer 10a or the second wafer 10b, and whether the length of the arm 92 corresponds to the wafer 10 to be processed.
また、この構成でも、アーム92の長さが加工対象のウェーハ10に対応していない場合に、制御部20が、その旨を作業者に通知している。したがって、作業者は、保護部材の形成前に、アーム92の長さが適切でないことを認識して、たとえば、アーム92の長さを適切に調整することが可能となる。 Furthermore, even in this configuration, if the length of the arm 92 does not correspond to the wafer 10 being processed, the control unit 20 notifies the operator accordingly. Therefore, the operator can recognize that the length of the arm 92 is inappropriate before forming the protective member, and, for example, adjust the length of the arm 92 appropriately.
また、この構成においても、第4判断部24によって判断されたアーム92の長さが加工対象のウェーハ10に対応していない場合、制御部20は、上述したタッチパネル9を用いたアラームの発生に代えてまたは加えて、カット機構90の伸縮機構96を制御して、加工対象のウェーハ10に対応するように、アーム92の長さを調整してもよい。たとえば、制御部20は、伸縮機構96を用いて、アーム92を、加工対象のウェーハ10の半径に対応した長さに伸縮させる。 Furthermore, even in this configuration, if the length of the arm 92 determined by the fourth determination unit 24 does not correspond to the wafer 10 to be processed, the control unit 20 may, instead of or in addition to generating an alarm using the touch panel 9 as described above, control the extension/retraction mechanism 96 of the cutting mechanism 90 to adjust the length of the arm 92 to correspond to the wafer 10 to be processed. For example, the control unit 20 may use the extension/retraction mechanism 96 to extend or retract the arm 92 to a length corresponding to the radius of the wafer 10 to be processed.
また、液状樹脂供給部40によって供給される液状樹脂は、紫外線硬化樹脂に限られず、熱が加えられることで硬化する熱硬化樹脂であってもよい。この場合には、シート保持機構18は、硬化機構として、紫外線照射部に代えて、ヒーター等の発熱機構を有する熱供給ユニットを備える。 Furthermore, the liquid resin supplied by the liquid resin supply unit 40 is not limited to UV-curing resins; it may also be a thermosetting resin that hardens when heat is applied. In this case, the sheet holding mechanism 18 includes a heat supply unit with a heating mechanism such as a heater instead of a UV irradiation unit as the curing mechanism.
また、本実施形態では、制御部20は、加工対象のウェーハ10の種類(サイズ)を、タッチパネル9を介して作業者から取得している。これに関し、制御部20は、加工対象のウェーハ10の種類を、加工対象のウェーハ10を収容しているカセット208の大きさまたは形に基づいて取得してもよい。あるいは、制御部20は、加工対象のウェーハ10が仮置きされる仮置き機構7によって、加工対象のウェーハ10の種類を検知してもよい。 Furthermore, in this embodiment, the control unit 20 obtains the type (size) of the wafer 10 to be processed from the operator via the touch panel 9. In this regard, the control unit 20 may also obtain the type of the wafer 10 to be processed based on the size or shape of the cassette 208 containing the wafer 10. Alternatively, the control unit 20 may detect the type of the wafer 10 to be processed using the temporary placement mechanism 7 where the wafer 10 is temporarily placed.
また、保護部材の形成時に加工対象のウェーハ10の種類(サイズ)が検知されている場合、図1に示したウェーハ保持機構50の保持テーブル52では、加工対象のウェーハ10の種類に応じて、ウェーハ10を保持するウェーハ保持面53の吸着面(ウェーハ10の吸引に用いる部分)の面積が切り換えられる。また、シートSに液状樹脂を供給する液状樹脂供給部40では、加工対象のウェーハ10の種類に応じて、シートSへの液状樹脂の供給量が調整される。 Furthermore, if the type (size) of the wafer 10 to be processed is detected during the formation of the protective member, the holding table 52 of the wafer holding mechanism 50 shown in Figure 1 switches the area of the suction surface (the part used to suck up the wafer 10) of the wafer holding surface 53 that holds the wafer 10, according to the type of wafer 10 to be processed. Also, the liquid resin supply unit 40 that supplies liquid resin to the sheet S adjusts the amount of liquid resin supplied to the sheet S according to the type of wafer 10 to be processed.
なお、シート載置機構30によってシート保持機構18のガラステーブル19上に載置されるシートSは、加工対象のウェーハ10の種類によらず、比較的に大きい第2ウェーハ10bに対応した大きさを有していてもよい。この場合、シートSは、第2ウェーハ10bの一方の面である裏面12よりも大きくなるように形成(切断)される。そのため、加工対象のウェーハ10が比較的に小さい第1ウェーハ10aである場合、切断装置8においてワーク110のシートSが第1ウェーハ10aの外周に沿って円形にカットされるので、シートSにおける廃棄部分が多くなる。 Furthermore, the sheet S placed on the glass table 19 of the sheet holding mechanism 18 by the sheet placement mechanism 30 may have a size corresponding to a relatively large second wafer 10b, regardless of the type of wafer 10 to be processed. In this case, the sheet S is formed (cut) to be larger than the back surface 12, which is one side of the second wafer 10b. Therefore, if the wafer 10 to be processed is a relatively small first wafer 10a, the sheet S of the workpiece 110 is cut in a circular shape along the outer circumference of the first wafer 10a in the cutting device 8, resulting in a large amount of waste material in the sheet S.
1:保護部材形成装置、4:第1搬送機構、5:第2搬送機構、7:仮置き機構、
8:切断装置、9:タッチパネル、10:ウェーハ、11:表面、12:裏面、
14:第1ロボットハンド、15:第2ロボットハンド、16:シート供給機構、
17:ロール部、18:シート保持機構、19:ガラステーブル、20:制御部、
21:第1判断部、22:第2判断部、23:第3判断部、24:第4判断部、
30:シート載置機構、31:支持部材、32:シート把持部、33:移動部材、
35:空気抜きローラ、40:液状樹脂供給部、41:液状樹脂供給ノズル、
42:ディスペンサ、50:ウェーハ保持機構、51:支持構造、52:保持テーブル、
53:ウェーハ保持面、60:昇降機構、61:ボールネジ、62:モータ、
63:ガイドレール、64:昇降板、70:支持柱、71:テーブル支持部材、
72:仮置きテーブル、73:仮置きテーブル回転機構、
74:仮置きテーブル移動機構、75:撮像装置、81:カット機構支持部材、
82:カットステージ、83:カバー部、84:第1逃げ溝、85:第2逃げ溝、
90:カット機構、91:刃、92:アーム、93:回転シャフト、94:モータ、
95:昇降機構、96:伸縮機構、97:センサ支持部材、98:センサ支持アーム、
99:センサ支持柱、
100:ウェーハ、10a:第1ウェーハ、10b:第2ウェーハ、104:保護部材、
110:ワーク、120:第1センサ、121:第1投光部、122:第1受光部、
130:第2センサ、131:第2投光部、132:第2受光部、140:撮像機構、
141:カメラ支持柱、142:カメラ支持アーム、143:カメラ、200:筐体、
201:装置ベース、202:コラム、203:支持ベース、204:テーブルベース、
205:カセット収容本体、206:収容スペース、207:収容スペース、
208:カセット、209:カセット、711:案内溝、721:保持面、
921:保持部材、931:回転軸、S:シート
1: Protective member forming device, 4: First transport mechanism, 5: Second transport mechanism, 7: Temporary storage mechanism,
8: Cutting device, 9: Touch panel, 10: Wafer, 11: Front side, 12: Back side,
14: First robot hand, 15: Second robot hand, 16: Sheet supply mechanism,
17: Roll section, 18: Sheet holding mechanism, 19: Glass table, 20: Control unit,
21: first judgment section, 22: second judgment section, 23: third judgment section, 24: fourth judgment section,
30: Sheet placement mechanism, 31: Support member, 32: Sheet gripping part, 33: Moving member,
35: Air vent roller, 40: Liquid resin supply unit, 41: Liquid resin supply nozzle,
42: Dispenser, 50: Wafer holding mechanism, 51: Support structure, 52: Holding table,
53: Wafer holding surface, 60: Lifting mechanism, 61: Ball screw, 62: Motor,
63: Guide rail, 64: Lifting plate, 70: Support column, 71: Table support member,
72: Temporary placement table, 73: Temporary placement table rotation mechanism,
74: Temporary placement table moving mechanism, 75: Imaging device, 81: Cutting mechanism support member,
82: Cutting stage, 83: Cover section, 84: First relief groove, 85: Second relief groove,
90: Cutting mechanism, 91: Blade, 92: Arm, 93: Rotating shaft, 94: Motor
95: Lifting mechanism, 96: Telescopic mechanism, 97: Sensor support member, 98: Sensor support arm,
99: Sensor support column,
100: wafer, 10a: first wafer, 10b: second wafer, 104: protective member,
110: Workpiece, 120: First sensor, 121: First light emitter, 122: First light receiver
130: Second sensor, 131: Second light emitter, 132: Second light receiver, 140: Imaging mechanism,
141: Camera support column, 142: Camera support arm, 143: Camera, 200: Housing,
201: Device base, 202: Column, 203: Support base, 204: Table base,
205: Cassette storage unit, 206: Storage space, 207: Storage space,
208: Cassette, 209: Cassette, 711: Guide groove, 721: Retaining surface,
921: Holding member, 931: Rotating shaft, S: Sheet
Claims (4)
前記少なくとも径が異なる2種類のウェーハは、第1ウェーハと、該第1ウェーハの直径よりも大きい直径の第2ウェーハとを含み、
該シートを下にして該ワークが載置されるカットステージと、
該カットステージに載置された該ワークの該第1ウェーハの外周を検出可能に、第1の隙間を有するように上下に離間して配置された、第1の光を投光する第1投光部と該第1の光を受光する第1受光部とを備える第1センサと、
該カットステージに載置された該ワークの該第2ウェーハの外周を検出可能に、第2の隙間を有するように上下に離間して配置された、第2の光を投光する第2投光部と該第2の光を受光する第2受光部とを備える第2センサと、
該シートを円形にカットするカット機構と、
制御部とを備え、
該カット機構は、
該シートをカットする刃と、先端に該刃が配置されて水平方向に延在するアームと、該アームの後端に連結され、鉛直方向に延びる回転軸を有する回転シャフトと、該回転シャフトを回転させることにより該アームを旋回させるモータと、該刃と該カットステージとを相対的に接近あるいは離間するように昇降させる昇降機構と、を備え、
該第1センサの該第1の隙間および該第2センサの該第2の隙間が、旋回する該アームが通過可能に設定されており、
該制御部は、
該カットステージにワークが載置されていない状態で該回転シャフトが回転されている場合に、旋回する該アームが該第1センサの該第1の光を遮光する一方、該第2センサの該第2の光を遮光しないときに、該アームの長さが該第1ウェーハに対応していると判断する第1判断部と、
該カットステージにワークが載置されていない状態で該回転シャフトが回転されている場合に、旋回する該アームが該第1センサの該第1の光を遮光するとともに、該第2センサの該第2の光も遮光したときに、該アームの長さが該第2ウェーハに対応していると判断する第2判断部と、
該カットステージにワークが載置されていない状態で該回転シャフトを回転されている場合に、旋回する該アームが該第1センサの該第1の光を遮光しないとともに、該第2センサの該第2の光も遮光しないときに、該アームの長さが該第1ウェーハおよび該第2ウェーハのどちらにも対応していないと判断する第3判断部と、を備える切断装置。 A cutting device for cutting a sheet in a circular shape along the outer circumference of a wafer, in which a sheet with an area larger than the area of one side of a wafer is attached to one of two wafers of at least different diameters,
The two wafers with at least different diameters include a first wafer and a second wafer having a diameter larger than the diameter of the first wafer.
A cutting stage on which the workpiece is placed with the sheet facing downwards,
A first sensor comprising a first light-emitting unit that emits first light and a first light-receiving unit that receives the first light, arranged vertically spaced apart with a first gap so as to be able to detect the outer periphery of the first wafer of the workpiece placed on the cutting stage,
A second sensor comprising a second light-emitting unit that emits a second light and a second light-receiving unit that receives the second light, arranged vertically spaced apart with a second gap so as to be able to detect the outer periphery of the second wafer of the workpiece placed on the cutting stage,
A cutting mechanism for cutting the sheet into a circular shape,
It includes a control unit,
The cutting mechanism is,
The device comprises a blade for cutting the sheet, an arm extending horizontally with the blade positioned at its tip, a rotating shaft connected to the rear end of the arm and having a rotation axis extending vertically, a motor that rotates the arm by rotating the rotating shaft, and a lifting mechanism that raises and lowers the blade and the cutting stage so that they move closer together or further apart.
The first gap of the first sensor and the second gap of the second sensor are set to allow the rotating arm to pass through.
The control unit is
A first determination unit determines that the length of the arm corresponds to the first wafer when the rotating shaft is rotating with no workpiece placed on the cutting stage, and the rotating arm blocks the first light of the first sensor but does not block the second light of the second sensor.
When the rotating shaft is rotating with no workpiece placed on the cutting stage, and the rotating arm blocks the first light of the first sensor and also blocks the second light of the second sensor, the second determination unit determines that the length of the arm corresponds to the second wafer.
A cutting apparatus comprising: a third determination unit that, when the rotating shaft is being rotated with no workpiece placed on the cutting stage, determines that the length of the arm does not correspond to either the first wafer or the second wafer when the rotating arm does not block the first light of the first sensor and also does not block the second light of the second sensor.
該制御部は、円形のウェーハの半径に対応した長さに該アームを伸縮させる、
請求項1記載の切断装置。 The arm is equipped with an extendable mechanism,
The control unit extends and retracts the arm to a length corresponding to the radius of the circular wafer.
The cutting device according to claim 1.
前記少なくとも径が異なる2種類のウェーハは、第1ウェーハと、該第1ウェーハの直径よりも大きい直径の第2ウェーハとを含み、
該シートを下にして該ワークが載置されるカットステージと、
該カットステージに載置された該ワークの該第1ウェーハの外周および該第2ウェーハの外周を撮像可能に該カットステージの上方に配置されるカメラと、
該シートを円形にカットするカット機構と、
制御部とを備え、
該カット機構は、
該シートをカットする刃と、先端に該刃が配置されて水平方向に延在するアームと、該アームの後端に連結され、鉛直方向に延びる回転軸を有する回転シャフトと、該回転シャフトを回転させることにより該アームを旋回させるモータと、該刃と該カットステージとを相対的に接近あるいは離間するように昇降させる昇降機構と、を備え、
該カットステージと該カメラとの隙間である第3の隙間が、旋回する該アームが通過可能に設定されており、
該制御部は、
該カットステージにワークが載置されていない状態で該回転シャフトが回転されている場合に、旋回する該アームの先端を該カメラによって撮像して撮像画を取得し、この撮像画に基づいて、該アームの長さが該第1ウェーハに対応しているのか、該アームの長さが該第2ウェーハに対応しているのか、あるいは、該アームの長さが該第1ウェーハ、該第2ウェーハのどちらにも対応していないのか、を判断する第4判断部を備える、
切断装置。 A cutting device for cutting a sheet in a circular shape along the outer circumference of a wafer, in which a sheet with an area larger than the area of one side of a wafer is attached to one of two wafers of at least different diameters,
The two wafers with at least different diameters include a first wafer and a second wafer having a diameter larger than the diameter of the first wafer.
A cutting stage on which the workpiece is placed with the sheet facing downwards,
A camera positioned above the cutting stage is capable of imaging the outer periphery of the first wafer and the outer periphery of the second wafer of the workpiece placed on the cutting stage.
A cutting mechanism for cutting the sheet into a circular shape,
It includes a control unit,
The cutting mechanism is,
The device comprises a blade for cutting the sheet, an arm extending horizontally with the blade positioned at its tip, a rotating shaft connected to the rear end of the arm and having a rotation axis extending vertically, a motor that rotates the arm by rotating the rotating shaft, and a lifting mechanism that raises and lowers the blade and the cutting stage so that they move closer together or further apart.
The third gap, which is the gap between the cutting stage and the camera, is set so that the rotating arm can pass through it.
The control unit is
When the rotating shaft is rotating with no workpiece placed on the cutting stage, the camera captures an image of the tip of the rotating arm and acquires an image, and a fourth determination unit is provided to determine, based on this image, whether the length of the arm corresponds to the first wafer, whether the length of the arm corresponds to the second wafer, or whether the length of the arm does not correspond to either the first or second wafer.
Cutting device.
該制御部は、円形のウェーハの半径に対応した長さに該アームを伸縮させる、
請求項3記載の切断装置。 The arm is equipped with an extendable mechanism,
The control unit extends and retracts the arm to a length corresponding to the radius of the circular wafer.
The cutting apparatus according to claim 3.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2022129607A JP7849247B2 (en) | 2022-08-16 | 2022-08-16 | cutting device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2022129607A JP7849247B2 (en) | 2022-08-16 | 2022-08-16 | cutting device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2024026977A JP2024026977A (en) | 2024-02-29 |
| JP7849247B2 true JP7849247B2 (en) | 2026-04-21 |
Family
ID=90038635
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2022129607A Active JP7849247B2 (en) | 2022-08-16 | 2022-08-16 | cutting device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP7849247B2 (en) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006222190A (en) | 2005-02-09 | 2006-08-24 | Yaskawa Electric Corp | Wafer aligner |
| JP2012238847A (en) | 2011-05-12 | 2012-12-06 | Semiconductor Technologies & Instruments Pte Ltd | Configuration frame handler constituted to process configuration frames with plural sizes |
| JP2017220548A (en) | 2016-06-07 | 2017-12-14 | 株式会社ディスコ | Protective member forming device |
| JP2019087620A (en) | 2017-11-06 | 2019-06-06 | 株式会社ディスコ | Protective member forming device |
-
2022
- 2022-08-16 JP JP2022129607A patent/JP7849247B2/en active Active
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006222190A (en) | 2005-02-09 | 2006-08-24 | Yaskawa Electric Corp | Wafer aligner |
| JP2012238847A (en) | 2011-05-12 | 2012-12-06 | Semiconductor Technologies & Instruments Pte Ltd | Configuration frame handler constituted to process configuration frames with plural sizes |
| JP2017220548A (en) | 2016-06-07 | 2017-12-14 | 株式会社ディスコ | Protective member forming device |
| JP2019087620A (en) | 2017-11-06 | 2019-06-06 | 株式会社ディスコ | Protective member forming device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2024026977A (en) | 2024-02-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US11171056B2 (en) | Wafer processing method | |
| JP6393583B2 (en) | Protective film detection apparatus and protective film detection method | |
| JP2017168565A (en) | Protective member forming device | |
| JP7105053B2 (en) | Protective member forming device | |
| JP6767890B2 (en) | Protective member forming device | |
| JP2019033162A (en) | Laser processing method | |
| JP7051205B2 (en) | Cutting equipment | |
| JP6226722B2 (en) | Height position detection method | |
| JP6223862B2 (en) | Cutting equipment | |
| JP2021061333A (en) | Resin protective member forming apparatus and protective member forming method | |
| JP7849247B2 (en) | cutting device | |
| JP2017220548A (en) | Protective member forming device | |
| TWI779194B (en) | Workpiece processing method | |
| JP7388893B2 (en) | Wafer grinding method | |
| JP7169164B2 (en) | Grinding equipment | |
| JP5662734B2 (en) | Grinding equipment | |
| JP2017157748A (en) | Cutting equipment | |
| US12208489B2 (en) | Method of grinding plate-shaped workpiece | |
| JP2022038716A (en) | Liquid resin and protective member formation method | |
| CN116475863A (en) | Grinding device | |
| JP7803789B2 (en) | Protective member forming device | |
| JP7560312B2 (en) | Creep feed grinding device and creep feed grinding method | |
| JP5939935B2 (en) | Grinding equipment | |
| JP6057853B2 (en) | Cutting equipment | |
| JP7393926B2 (en) | processing equipment |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20250620 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20260219 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20260317 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20260409 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7849247 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |