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JPS5811083B2 - Instrument module resistor and its manufacturing method - Google Patents
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JPS5811083B2 - Instrument module resistor and its manufacturing method - Google Patents

Instrument module resistor and its manufacturing method

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Publication number
JPS5811083B2
JPS5811083B2 JP53037514A JP3751478A JPS5811083B2 JP S5811083 B2 JPS5811083 B2 JP S5811083B2 JP 53037514 A JP53037514 A JP 53037514A JP 3751478 A JP3751478 A JP 3751478A JP S5811083 B2 JPS5811083 B2 JP S5811083B2
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JP
Japan
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resistance
pattern
resistor
resistance value
trimming
Prior art date
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Application number
JP53037514A
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Japanese (ja)
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Inventor
山縣通昭
小田嶋稔
大河原俊徳
大野正典
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Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Works Ltd
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、自動平衡形記録計等のアナログ電気回路の演
算抵抗として使用する計器用モジュール抵抗器およびそ
の製造方法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an instrument module resistor used as a calculation resistor in an analog electric circuit such as a self-balancing recorder, and a method for manufacturing the same.

自動平衡形記録計等の計器においては、アナログ電気回
路を構成する際各種の演算抵抗が用いられ、その抵抗値
は製品のレンジ・スパン等の仕様により種々異る。
In instruments such as self-balancing recorders, various calculated resistors are used when constructing analog electric circuits, and the resistance values vary depending on the specifications such as the range and span of the product.

例えば自動平衡形記録計では標準レンジだけでも約30
0種類もあり、これらの各種のレンジに数個〜十数個の
演算抵抗の抵抗値を組合せることによって対応させてい
る。
For example, with an automatic balancing recorder, the standard range alone is approximately 30
There are zero types, and these various ranges are matched by combining the resistance values of several to more than ten operational resistors.

このため演算抵抗の中にはその抵抗値が103倍程程度
大幅に変化するものもある。
For this reason, some calculation resistors have a resistance value that changes significantly by a factor of about 103.

しかも演算抵抗の値はきわめて正確に所定の値に調整す
る必要があり、また各々の抵抗の温度係数は小さく、か
つばらつきの少ないことが要求される。
Moreover, the value of the calculated resistor must be adjusted to a predetermined value extremely accurately, and the temperature coefficient of each resistor is required to be small and have little variation.

したがって計器用の演算抵抗としては、一般に温度係数
の極めて小さいマンガニン線等の巻線抵抗が用いられて
いる。
Therefore, wire-wound resistors such as manganin wire, which have an extremely small temperature coefficient, are generally used as operational resistors for meters.

しかもこれらの巻線抵抗は各々精密ブリッジ等により手
作業で規定の値に調整し、かつ巻線の際に生ずる歪等の
影響を除去するためのエージングを行った後回路に組込
まれる。
Moreover, each of these winding resistances is manually adjusted to a specified value using a precision bridge or the like, and is assembled into a circuit after being subjected to aging to remove the effects of distortion and the like that occur during winding.

このため仕様の決定から所望の抵抗値の演算抵抗を入手
するまでには大きなロス時間とコストを伴っていた。
For this reason, a large amount of lost time and cost were involved from determining the specifications to obtaining a calculated resistor with a desired resistance value.

一方、絶縁基板上に複数個の抵抗を窒化タンタル等の抵
抗パターンで形成するモジュール抵抗器が各種の分野で
使用されている。
On the other hand, module resistors in which a plurality of resistors are formed on an insulating substrate using a resistance pattern of tantalum nitride or the like are used in various fields.

モジュール抵抗器は寸法が小さいだけでなく、顕著な電
気的機械的安定性を有している。
Modular resistors not only have small dimensions, but also have outstanding electrical and mechanical stability.

一般にモジュール抵抗器の各抵抗素子は、規定の抵抗値
に近似した1個の固定抵抗パターンと1個あるいは複数
個の調整用抵抗パターンとを直列あるいは並列に接続し
て合成抵抗パターンを形成し、これら合成抵抗パターン
の両端に導体パターンを設けて、合成抵抗パターンの合
成抵抗値を測定しながら調整用抵抗パターンをトリミン
グにより規定値に調整している。
Generally, each resistance element of a module resistor is formed by connecting one fixed resistance pattern that approximates a specified resistance value and one or more adjustment resistance patterns in series or parallel to form a composite resistance pattern. Conductor patterns are provided at both ends of these composite resistance patterns, and the adjustment resistance pattern is adjusted to a specified value by trimming while measuring the composite resistance value of the composite resistance pattern.

このように従来のモジュール抵抗器は、複数個の抵抗素
子の抵抗値があらかじめ規定されているものを量産する
ような構成となっており、仕様により複数個の抵抗素子
の抵抗値が種々異る一品生産には適していない。
In this way, conventional module resistors are configured to be mass-produced in which the resistance values of multiple resistor elements are predefined, and the resistance values of the multiple resistor elements vary depending on the specifications. Not suitable for one-piece production.

このため、自動平衡形記録計等の計器においては、仕様
により抵抗値が階段的に変化する演算抵抗についてのみ
量産品のモジュール抵抗器を使用し、外部配線によって
仕様を満足させており、その他の演算抵抗にはやはり巻
線抵抗が用いられている。
For this reason, in instruments such as self-balancing recorders, mass-produced module resistors are used only for calculated resistors whose resistance values change stepwise according to specifications, and specifications are satisfied by external wiring. A wire-wound resistor is also used as the operational resistor.

本発明の目的の一つは、計器用の演算抵抗に必要な低抵
抗値から高抵抗値までの抵抗範囲を共通のパターンで形
成し、その後計算機を用いた自動トミリング装置で仕様
に基づきトリミングして所望の抵抗値に調整することに
よって、一品生産の計器用のモジュール抵抗器を製造す
る方法を提供するにある。
One of the objects of the present invention is to form a resistance range from low resistance values to high resistance values necessary for arithmetic resistors for meters in a common pattern, and then trim the resistance range based on specifications using an automatic trimming device using a computer. The present invention provides a method for manufacturing a module resistor for a one-piece instrument by adjusting the resistance value to a desired value.

また、一般に導体パターンの抵抗値温度係数が抵抗パタ
ーンの抵抗値温度係数に比べて大きいため、低抵抗値に
2ける導体パターンの抵抗器はできるだけ少ないことが
望ましいが、低抵抗値から高抵抗値までの抵抗範囲を共
通のパターンで形成しようとすると、低抵抗値での導体
パターンの抵抗器が相対的に大きくなってしまう。
In addition, since the temperature coefficient of resistance of a conductor pattern is generally larger than that of a resistor pattern, it is desirable to have as few resistors as possible with a conductor pattern that has a low resistance value. If an attempt is made to form a common pattern for a resistance range up to 1, the resistor of the conductor pattern at a low resistance value will become relatively large.

このため導体パターンの幅を大きくする必要があるが、
流体パターンの幅を大きくすると高抵抗値に?ける導体
パターンの面積が相対的に大きくなってしまう。
For this reason, it is necessary to increase the width of the conductor pattern,
Does increasing the width of the fluid pattern result in a higher resistance value? Therefore, the area of the conductor pattern becomes relatively large.

よって本発明の他の目的は、このような欠点のない計器
用のモジュール抵抗器を実現するにある。
Another object of the invention is therefore to realize a modular resistor for measuring instruments which is free from these drawbacks.

第1図は本発明モジュール抵抗器の一実施例を示す平面
図で、複数個の抵抗素子を代表して2個の抵抗素子R0
、R1で示しである。
FIG. 1 is a plan view showing one embodiment of the module resistor of the present invention, in which two resistance elements R0 represent a plurality of resistance elements.
, R1.

図に2いて、Tはセラミック等の絶縁基板、A1、A2
、B1、B2は金等の電極パターン、Lは金等の導体パ
ターン、r0〜r12は窒化タンタル等の抵抗パターン
、Cは金等からなる表示用パターン、Dl、D2は金等
の位置決め用パターンである。
2 in the figure, T is an insulating substrate such as ceramic, A1, A2
, B1 and B2 are electrode patterns made of gold or the like, L is a conductor pattern made of gold or the like, r0 to r12 are resistance patterns made of tantalum nitride or the like, C is a display pattern made of gold or the like, Dl and D2 are positioning patterns made of gold or the like. It is.

電極、導体、抵抗、表示用および位置決め用の各パター
ンは絶縁基板上にスパッタないし他の手段で被着されて
いる。
Electrodes, conductors, resistors, display and positioning patterns are deposited on the insulating substrate by sputtering or other means.

抵抗素子R0は、電極A1、B1間に接続された規定の
抵抗値の抵抗パターンr0で形成されている。
The resistance element R0 is formed of a resistance pattern r0 having a prescribed resistance value and connected between the electrodes A1 and B1.

この抵抗素子R0は同一基板上に形成された複数個の抵
抗素子の抵抗値および温度係数を管理するモニタ抵抗で
ある。
This resistance element R0 is a monitor resistance that manages the resistance value and temperature coefficient of a plurality of resistance elements formed on the same substrate.

すなわち、スパッタ等で形成した抵抗パターンは、抵抗
形成のパターニングのときに生ずる誤差や抵抗体の組成
の違い等から必ずしも設計通りに出来ずある範囲内にば
らついた抵抗値、温度係数を持っている。
In other words, a resistor pattern formed by sputtering etc. cannot necessarily be produced as designed due to errors that occur during patterning for resistor formation, differences in the composition of the resistor, etc., and has a resistance value and temperature coefficient that vary within a certain range. .

また同一基板上の抵抗素子はその製作上のプロセスが同
一のため抵抗値の設計値からの誤差および温度係数はほ
ぼ同じ値をとる。
Furthermore, since the manufacturing process for resistive elements on the same substrate is the same, the resistance value error from the designed value and the temperature coefficient take approximately the same values.

よってモニタ抵抗R0の抵抗値3よび温度係数を測定す
ることで、同一基板上の複数個の抵抗素子の良否の検査
を行う。
Therefore, by measuring the resistance value 3 and temperature coefficient of the monitor resistor R0, the quality of a plurality of resistance elements on the same substrate is inspected.

抵抗素子R1は、それぞれ重み付けがなされた抵抗パタ
ーンr1、r2、r3、r4、r5、r6、r7、r8
、r9、rlo、rll、r12を有している。
The resistance element R1 has weighted resistance patterns r1, r2, r3, r4, r5, r6, r7, r8, respectively.
, r9, rlo, rll, and r12.

本実施例では、r1=1Ω、r2=2Ω、r3=4Ω。In this example, r1=1Ω, r2=2Ω, r3=4Ω.

r4=8Ω、r5=10Ω、r6=20Ω、r7=40
Ω、r8=80Ω、r9=100Ω、r10=200Ω
、r11=400Ω、r12=800Ωに重み付けされ
ている。
r4=8Ω, r5=10Ω, r6=20Ω, r7=40
Ω, r8=80Ω, r9=100Ω, r10=200Ω
, r11=400Ω, r12=800Ω.

抵抗パターンは1Ωの位(r1〜r4)、10Ωの位(
r5〜r8)、100Ωの位(r9〜r12)毎にグル
ープ化され、グループ内で各抵抗パターンの両端が導体
パターンで短絡接続されるとともに、各グループの両端
もそれぞれ幅の広い導体パターンで短絡接続されている
The resistance pattern is 1Ω place (r1~r4), 10Ω place (
r5 to r8), are grouped every 100Ω (r9 to r12), and both ends of each resistance pattern within the group are short-circuited with a conductor pattern, and both ends of each group are also short-circuited with a wide conductor pattern. It is connected.

また幅の広い導体パターンは電極A2.A3間を短絡接
続している。
Also, the wide conductor pattern is electrode A2. A3 is short-circuited.

第2図はこのような抵抗素子R1の導体パターンの抵抗
量が充分小さいものとして示した等価回路図である。
FIG. 2 is an equivalent circuit diagram illustrating the resistance of the conductor pattern of such a resistance element R1 as being sufficiently small.

なお、本実施例では12個の抵抗パターンを有する抵抗
素子の例を示しているが、実際の抵抗素子においては、
その抵抗範囲および設定精度に応じて抵抗パターン数お
よび重み付けは選定されるものである。
Although this example shows an example of a resistance element having 12 resistance patterns, in an actual resistance element,
The number and weighting of resistance patterns are selected depending on the resistance range and setting accuracy.

このような構成の抵抗素子R1において、次に説明する
如く電極A2.A3間には数Ωから千数百Ωまでの任意
の抵抗値を得ることができる。
In the resistance element R1 having such a configuration, the electrodes A2. Any resistance value from several ohms to several thousand ohms can be obtained between A3.

(1)10Ω以下の抵抗値を得る場合 この場合、まず、端子A2.B2間の初期抵抗値を測定
する。
(1) When obtaining a resistance value of 10Ω or less In this case, first, terminal A2. Measure the initial resistance value between B2.

そして、測定値が所望値より何Ω低いかを算出し、その
値に応じた抵抗パターンr1〜r4の所定の短絡接続部
a=dを選択的に切除する。
Then, it calculates how many Ω lower the measured value is than the desired value, and selectively cuts off the predetermined short-circuit connection portions a=d of the resistance patterns r1 to r4 according to the calculated value.

これにより、端子A2.B2間には1Ωの位の抵抗パタ
ーンr1〜r4が選択的に直列接続されることになり、
端子A2.B2間には10Ω以下の所望の抵抗値を得る
ことができる。
As a result, terminal A2. Resistance patterns r1 to r4 of the order of 1Ω are selectively connected in series between B2,
Terminal A2. A desired resistance value of 10Ω or less can be obtained between B2.

(2)10〜100Ωの抵抗値を得る場合この場合、ま
ず、1Ωの位の抵抗パターンr1〜r4と10Ωの位の
抵抗パターンr5〜r8との短絡接続部eを切除する。
(2) When obtaining a resistance value of 10 to 100 Ω In this case, first, the short-circuit connection e between the 1 Ω resistance patterns r1 to r4 and the 10 Ω resistance patterns r5 to r8 is cut off.

これにより、端子A2゜B2間には1Ωの位の抵抗パタ
ーンr1〜r4と10Ωの位の抵抗パターンr5〜r8
とが直列接続されることになる。
As a result, there are resistance patterns r1 to r4 of 1Ω and resistance patterns r5 to r8 of 10Ω between terminals A2 and B2.
will be connected in series.

その後、端子A2.B2間の初期抵抗値を測定し、所望
値との差を算出する。
After that, terminal A2. Measure the initial resistance value between B2 and calculate the difference from the desired value.

そして、その算出値に応じた抵抗パターンr1〜r8の
所定の短絡接続部a=d、g〜jを選択的に切除するこ
とにより1Ωの位の抵抗パターンr1〜r4と10Ωの
位の抵抗パターンr5〜r8とが選択的に直列接続され
、端子A2゜B2間には10〜100Ωの所望の抵抗値
が得られる。
Then, by selectively cutting out predetermined short-circuit connections a=d, g to j of the resistance patterns r1 to r8 according to the calculated values, the resistance patterns r1 to r4 of the 1Ω order and the resistance patterns of the 10Ω order are created. r5 to r8 are selectively connected in series, and a desired resistance value of 10 to 100 Ω is obtained between terminals A2 and B2.

(3)100Ω以上の抵抗値を得る場合 この場合、まず、1Ωの位の抵抗パターンr1〜r4と
10Ωの位の抵抗パターンr5〜r8との短絡接続部e
8よび10Ωの位の抵抗パターンr5〜r8と100Ω
の位の抵抗パターンr9〜r12との短絡接続部fを切
除する。
(3) When obtaining a resistance value of 100Ω or more In this case, first, the short-circuit connection e between the resistance patterns r1 to r4 of 1Ω and the resistance patterns r5 to r8 of 10Ω
Resistance pattern r5 to r8 and 100Ω in the order of 8 and 10Ω
The short-circuit connection part f with the resistance patterns r9 to r12 is cut off.

これにより、端子A2.82間には1Ωの位の抵抗パタ
ーンr1〜r4と10Ωの位の抵抗パターンr5〜r8
および100Ωの位の抵抗パターンr、〜r1□とが直
列接続されることになる。
As a result, resistance patterns r1 to r4 of 1Ω and resistance patterns r5 to r8 of 10Ω are connected between terminals A2 and 82.
and resistance patterns r, ˜r1□ of about 100Ω are connected in series.

その後、端子A2゜B2間の初期抵抗値を測定し、所望
値との差を算出する。
Thereafter, the initial resistance value between terminals A2 and B2 is measured, and the difference from the desired value is calculated.

そして、その算出値に応じた抵抗パターンr1〜r12
の所定の短絡接続部a=d、g〜nを選択的に切除する
Then, resistance patterns r1 to r12 according to the calculated values
selectively cutting out predetermined short-circuit connections a=d, g to n.

この結果、1Ωの位の抵抗パターンr5〜r4と10Ω
の位の抵抗パターンr5〜r8および100Ωの位の抵
抗パターンr9〜r12とが選択的に接続され、端子A
2、B2間には100Ω以上1500Ω程度の所望の抵
抗値が得られる。
As a result, resistance patterns r5 to r4 of 1Ω and 10Ω
The resistance patterns r5 to r8 in the 100 ohm digit and the resistance patterns r9 to r12 in the 100 ohm digit are selectively connected, and the terminal A
A desired resistance value of 100Ω or more and about 1500Ω can be obtained between B2 and B2.

このように構成することにより、比較的低抵抗値の場合
には導体パターン2の長さは高抵抗値の場合に比べて短
くなるとともに面積は大きくなり、端子A2.B2間に
3ける導体パターン2の抵抗量は相対的に小さくなる。
With this configuration, in the case of a relatively low resistance value, the length of the conductor pattern 2 becomes shorter and the area becomes larger than in the case of a high resistance value, and the terminal A2. The amount of resistance of the conductor pattern 2 between B2 becomes relatively small.

これにより端子A2.B2間における導体パターン2の
抵抗量温度係数の影響を軽減することができる。
This causes terminal A2. The influence of the temperature coefficient of resistance of the conductor pattern 2 between B2 can be reduced.

また高抵抗値の場合には低抵抗値の場合に比べて導体パ
ターンの面積が小さくなり、共通のパターンを用いて比
較的広範囲の抵抗値を有する特性の優れた抵抗素子を実
現することができる。
Furthermore, in the case of a high resistance value, the area of the conductor pattern is smaller than in the case of a low resistance value, and a common pattern can be used to realize a resistor element with excellent characteristics and a relatively wide range of resistance values. .

また、本実施例によれば、直接抵抗パターンをトリミン
グすることはないので、抵抗パターンの物理的安定性を
損うこともない。
Furthermore, according to this embodiment, since the resistance pattern is not directly trimmed, the physical stability of the resistance pattern is not impaired.

なお、本実施例では、トリミングの精度に関しては説明
を省略したが、設定精度は対応して所定の位(たとえば
0.1Ω、0.01Ω等)の抵抗パターンを本実施例の
1Ωの位の抵抗パターンと同様に被着すればよい。
In this example, explanation regarding trimming accuracy is omitted, but the setting accuracy corresponds to the resistance pattern of the predetermined order (for example, 0.1Ω, 0.01Ω, etc.) of the 1Ω order of this example. It can be applied in the same way as the resistor pattern.

また、各抵抗パターンの重み付けは適宜目的に応じて設
定することができる。
Moreover, the weighting of each resistance pattern can be appropriately set according to the purpose.

また比較的抵抗範囲の広い抵抗素子としては第3図に示
するように抵抗パターンはそれぞれ固定抵抗パターンr
1c〜rncおよび調整用抵抗パターンr1T〜rnT
の合成抵抗パターンとして形成されるこれら各抵抗パタ
ーンの両端は導体パターンLにより共通に短絡接続され
ている。
In addition, as a resistance element with a relatively wide resistance range, each resistance pattern is a fixed resistance pattern r as shown in Figure 3.
1c to rnc and adjustment resistance patterns r1T to rnT
Both ends of each of these resistance patterns formed as a composite resistance pattern are commonly short-circuited by a conductor pattern L.

第4図はこのような第3図の抵抗について、導体パター
ンlの抵抗が充分小さいものとして示した等価回路図で
ある。
FIG. 4 is an equivalent circuit diagram of the resistor shown in FIG. 3, assuming that the resistance of the conductor pattern l is sufficiently small.

ここで、各抵抗パターンの添字を1(i=1.2.・・
・、n)とすると、添字iが同一の抵抗値riは、 ri=ric+riT(1) あるいは、 (2) で表わすことができ、これら抵抗値riはそれぞれコー
ド化された重み(たとえば1−2−4−8.1−4−4
−6等)や桁上げされた重み(0,1−1−10−10
0,10−100−100−1000等)が付けられて
いる。
Here, the subscript of each resistance pattern is 1 (i=1.2...
, n), the resistance values ri with the same subscript i can be expressed as ri=ric+riT(1) or (2), and these resistance values ri each have a coded weight (for example, 1-2 -4-8.1-4-4
-6, etc.) or carried weights (0, 1-1-10-10, etc.)
0, 10-100-100-1000, etc.).

このような構成に8いて、各抵抗パターンrの両端を共
通に短絡接続している導体パターンLよりなる短絡接続
部を1点鎖線a〜eで示すように選択的に切除絶縁する
ことにより、端子A2.B2間には切除された短絡接続
部に対応した抵抗パターンの抵抗が直列接続されること
になる。
In such a configuration, by selectively cutting off and insulating the short-circuit connection portion made of the conductor pattern L that commonly short-circuits both ends of each resistor pattern r, as shown by the dashed-dotted lines a to e, Terminal A2. A resistor with a resistance pattern corresponding to the cut short-circuit connection is connected in series between B2.

このようにして所望の抵抗値に近似した抵抗値になるよ
うに1個あるいは複数個の固定抵抗パターンを端子A2
.B2間に直列接続した後、それら固定抵抗パターンに
直列あるいは並列に接続された調整用抵抗パターンを破
線で示すように部分的に切除して所望の抵抗値に調整す
る。
In this way, one or more fixed resistance patterns are connected to terminal A2 so that the resistance value approximates the desired resistance value.
.. After connecting them in series between B2, the adjustment resistor patterns connected in series or parallel to these fixed resistor patterns are partially cut out as shown by broken lines to adjust the resistance to a desired value.

このようにして構成される端子A2.B2間の抵抗値は
、第(1)式で表わされる抵抗パターンと第(2)式で
表わされる抵抗パターンとの加算値となる。
Terminal A2 configured in this manner. The resistance value between B2 is the sum of the resistance pattern expressed by equation (1) and the resistance pattern expressed by equation (2).

なお、このようなパターンを用いた抵抗器の最小抵抗値
は短絡接続部を全く切除しない状態での抵抗値となり、
その最大抵抗値は短絡接続部を全部切除した状態での全
抵抗パターンの抵抗値の総和となる。
Note that the minimum resistance value of a resistor using such a pattern is the resistance value when no short-circuit connection is removed.
The maximum resistance value is the sum of the resistance values of all resistance patterns with all short-circuited connections removed.

第5図は他の実施例を示す平面図であって、調整用抵抗
パターンr1T、rmTが複数の固定抵抗パターンを群
として設けられている。
FIG. 5 is a plan view showing another embodiment, in which adjustment resistance patterns r1T and rmT are provided as a group of a plurality of fixed resistance patterns.

すなわち、調整用抵抗パターンr1Tは固定抵抗パター
ンr1cr2c、r3cの直列回路に並列になるように
被着され、調整用抵抗パターンrmTは固定抵抗パター
ンr(n−1)c、rncとともに直列になるように端
子A2.B2間に被着されている。
That is, the adjustment resistance pattern r1T is applied in parallel to the series circuit of the fixed resistance patterns r1cr2c and r3c, and the adjustment resistance pattern rmT is applied in series with the fixed resistance patterns r(n-1)c and rnc. to terminal A2. It is attached between B2.

なお、調整用抵抗パターンr1T、rmTの抵抗値は常
に全体の抵抗が安定に実現できる大きさく約30%)に
設定しておく。
Note that the resistance values of the adjustment resistor patterns r1T and rmT are always set to a value (approximately 30%) that can stably realize the overall resistance.

このような構成において、端子A2B2間の抵抗値は、
第3図の実施例と同様、所望の抵抗パターンの短絡接続
部を1点鎖線a〜fで示すように選択的に切除し、さら
に破線で示すように調整用抵抗パターンを部分的に切除
することにより調整できる。
In such a configuration, the resistance value between terminals A2B2 is
Similar to the embodiment shown in FIG. 3, the short-circuit connection portions of the desired resistance pattern are selectively cut out as shown by the dashed-dotted lines a to f, and the adjustment resistance pattern is further partially cut out as shown by the broken line. It can be adjusted by

さらに、表示用パターンCにはトリミング時に点線で示
すようにロンド番号やレンジ等の仕様を示す記号が記入
され、モジュール抵抗器の識別ができるようになってい
る。
Furthermore, symbols indicating specifications such as a Rondo number and a range are written on the display pattern C during trimming as shown by dotted lines, so that the module resistor can be identified.

なお表示用パターンCは抵抗パターン等を外界から保護
する等の目的で金属キャップをかぶせる場合でも、外部
から見える位置に設けられる。
Note that the display pattern C is provided at a position where it can be seen from the outside even when the resistor pattern etc. is covered with a metal cap for the purpose of protecting it from the outside world.

また表示用パターンCおよびトリミング時の位置決め用
のパターンD1.D2は抵抗パターンと同様に窒化タン
タル等でパターンを形成してもよい。
In addition, display pattern C and positioning pattern D1 during trimming. D2 may be formed of tantalum nitride or the like in the same manner as the resistor pattern.

次にこのようなモジュール抵抗器の製造方法を説明する
Next, a method of manufacturing such a module resistor will be explained.

まず、窒化タンタル等の抵抗パターンと金等の導体およ
び電極パターンが、モニタ用抵抗素子および複数個の演
算用抵抗素子に必要な抵抗値または抵抗範囲、精度で、
かつ所望の回路結線となるようにスパッタ等で絶縁基板
上に形成される。
First, a resistance pattern such as tantalum nitride, a conductor such as gold, and an electrode pattern have the resistance value, resistance range, and accuracy required for the monitoring resistance element and the plurality of calculation resistance elements.
Then, it is formed on an insulating substrate by sputtering or the like so as to form a desired circuit connection.

同時に金等の表示用パターンおよび位置決め用のパター
ンが絶縁基板上に形成される。
At the same time, a display pattern and a positioning pattern of gold or the like are formed on the insulating substrate.

次に絶縁基板上に形成されたモニタ用の抵抗素子の抵抗
値および温度係数を測定し、複数個の演算用抵抗素子の
抵抗値および温度係数が所望の範囲内にあるか否かを検
査する。
Next, the resistance value and temperature coefficient of the monitoring resistance element formed on the insulating substrate are measured, and it is checked whether the resistance value and temperature coefficient of the plurality of calculation resistance elements are within the desired range. .

その後絶縁基板上の抵抗パターンを熱で酸化させ、各抵
抗素子の抵抗値の誤差が例えば7%以内になるように調
整する。
Thereafter, the resistance pattern on the insulating substrate is oxidized by heat, and the error in the resistance value of each resistance element is adjusted to within 7%, for example.

この場合酸化に要する時間はモニタ用抵抗素子の抵抗値
の測定結果によって決定される。
In this case, the time required for oxidation is determined by the measurement result of the resistance value of the monitoring resistance element.

ここまでの工程によって、記録計等の計器のレンジ・ス
パン等の各種の仕様に共通なモジュール抵抗器が作られ
る。
Through the steps up to this point, a module resistor that is common to various specifications such as range and span of instruments such as recorders is manufactured.

このようにして作られた共通のモジュール抵抗器は計算
機を用いた自動トリミング装置で仕様に基づき個々にト
リミングされ、各演算用抵抗素子の抵抗値が所望の値に
調整されるとともに、表示パターンにロット番号やレン
ジ等の仕様が記入される。
The common module resistors made in this way are individually trimmed based on specifications using an automatic trimming device using a computer, and the resistance value of each calculation resistor element is adjusted to the desired value, and the display pattern is adjusted. Specifications such as lot number and range are entered.

自動トリミング装置の具体的な構成を第6図のブロック
線図を用いて以下に説明する。
The specific configuration of the automatic trimming device will be explained below using the block diagram shown in FIG.

第6図において、計算機1はモジュール抵抗器のトリミ
ングを行うプログラムを実行するものであり、そのメモ
リ部には各種の仕様に応じたプログラムが格納されてお
り、仕様をキーボード等の設定器2によりインターフェ
ース3を介して与えることによって、仕様に応じた所定
のプログラムを選択して実行するものである。
In FIG. 6, a calculator 1 executes a program for trimming module resistors, and its memory stores programs corresponding to various specifications, and the specifications are inputted using a setting device 2 such as a keyboard. By providing the program via the interface 3, a predetermined program according to the specifications is selected and executed.

レーザ発振器4から発振されたレーザ光線5は鏡6で方
向がかえられて、テーブル8上に固定されているモジュ
ール抵抗器MRに照射される。
A laser beam 5 emitted from a laser oscillator 4 has its direction changed by a mirror 6 and is irradiated onto a module resistor MR fixed on a table 8.

鏡6は駆動装置7によってその位置が調整される。The position of the mirror 6 is adjusted by a drive device 7.

駆動装置7には例えば第1図における抵抗素子R1のト
リミング位置a〜nを順次レーザ光線5が照射できるよ
うにプログラムの進行にしたがって計算機1からインタ
ーフェース5を介して指令13が与えられる。
A command 13 is given to the drive device 7 from the computer 1 via the interface 5 in accordance with the progress of the program so that the trimming positions a to n of the resistive element R1 in FIG. 1 can be sequentially irradiated with the laser beam 5, for example.

抵抗測定器10はインターフェース3を介して与えられ
る計算機1よりの指令14に基づき、モジュール抵抗器
MR内の抵抗素子の抵抗値をトリミング毎に測定し、そ
の測定結果15をインターフェース3を介して計算機1
に送る。
The resistance measuring device 10 measures the resistance value of the resistance element in the module resistor MR every trimming based on a command 14 from the computer 1 given via the interface 3, and sends the measurement result 15 to the computer via the interface 3. 1
send to

計算機1は測定結果と仕様に基づく設定値とを比較し、
その結果からレーザ光線5をトリミング位置に照射すべ
きか否かを判断し、インターフェース3を介してレーザ
発振器4に指令16を送出する。
Calculator 1 compares the measurement results with the set values based on the specifications,
Based on the result, it is determined whether or not the trimming position should be irradiated with the laser beam 5, and a command 16 is sent to the laser oscillator 4 via the interface 3.

このようにしてモジュール抵抗器MRの各演算用抵抗素
子毎にきめられたトリミング位置のトリミングの有無を
抵抗素子の抵抗値を測定しながら計算機1が仕様に基づ
き判断しているので、短時間に精度よく抵抗値調整用の
トリミングができる。
In this way, the calculator 1 determines whether or not to trim the trimming position determined for each calculation resistor element of the module resistor MR based on the specifications while measuring the resistance value of the resistor element. Trimming for resistance value adjustment can be performed with high precision.

その後計算機1からの指令で、モジュール抵抗器MRに
必要なロット番号やレンジ等の仕様を示す記号がトリミ
ングによって表示用パターンに記入される。
Thereafter, according to a command from the computer 1, symbols indicating specifications such as the lot number and range required for the module resistor MR are entered in the display pattern by trimming.

さらにトリミングされたモジュール抵抗器の各抵抗素子
の抵抗値やその所望値からの誤差等は計算機1からイン
ターフェース3を介してタイプライクやCRT等のディ
スプレイ装置11に与えられて表示される。
Furthermore, the resistance value of each resistor element of the trimmed module resistor and its error from the desired value are provided from the computer 1 via the interface 3 to a display device 11 such as a type-like display or a CRT for display.

なお、テーブル上に固定するモジュール抵抗器MRと鏡
6との幾何学的な位置合わせは、トリミングに先立ち手
動操作器9によって鏡6の位置を調整し、レーザ発振器
4からの可視光線をモジュール抵抗器MRの基板上の位
置決め用パターンに照射することによって行う。
Note that geometric alignment between the module resistor MR fixed on the table and the mirror 6 is achieved by adjusting the position of the mirror 6 using the manual operation device 9 prior to trimming, and directing visible light from the laser oscillator 4 to the module resistor. This is done by irradiating a positioning pattern on the substrate of the device MR.

このように本発明においては、計器の種々の仕様に必要
な抵抗範囲を持った複数個の演算用抵抗素子を有する共
通のモジュール抵抗器を作る第1の工程と、共通のモジ
ュール抵抗器を仕様に応じて個々にトリミングして所望
の抵抗値に調整するとともにロフト番号やレンジ等の仕
様を示す記号を記入する第2の工程とで構成されている
ので、第1の工程による共通のモジュール抵抗器は、仕
様決定前に量産でき、仕様決定から所望のモジュール抵
抗器を入手するまでのロス時間とはならず、生産性およ
び供給性をいちぢるしく向上できる。
In this way, in the present invention, the first step is to create a common module resistor having a plurality of operational resistance elements having resistance ranges required for various specifications of the meter, and The process consists of a second process of individually trimming and adjusting the resistance value to the desired resistance value, and writing symbols indicating specifications such as loft number and range, so the common module resistance from the first process is The device can be mass-produced before the specifications are decided, and there is no wasted time from deciding the specifications to obtaining the desired module resistor, and productivity and supplyability can be significantly improved.

第7図、第8図、第9図は本発明のモジュール抵抗器を
自動平衡形記録計に適用したときの回路図である。
FIG. 7, FIG. 8, and FIG. 9 are circuit diagrams when the module resistor of the present invention is applied to an automatic balancing recorder.

モジュール抵抗器MRはモニタ用抵抗素子R0と9個の
演算用抵抗素子R1〜R9からなっている。
The module resistor MR consists of a monitoring resistance element R0 and nine calculation resistance elements R1 to R9.

各演算用抵抗素子は仕様に応じた規定の抵抗値および精
度を有している。
Each calculation resistance element has a prescribed resistance value and accuracy according to specifications.

R1はリニア■C0P2の帰還回路に接続されそおり、
R2はOF2の反転入力端子(−)と基準点間に接続さ
れている。
R1 is likely to be connected to the feedback circuit of linear C0P2,
R2 is connected between the inverting input terminal (-) of OF2 and the reference point.

R3とR4はOF2の出力を分圧するものであり、直流
電圧入力Eiの場合は第7図に示すようにその分圧点P
がリニアIC0P1の非反転入力端子(+)に接続され
、熱電対入力CPや測温抵抗体入力Ptの場合は第8図
および第9図に示すように分圧点Pが抵抗R7を介して
OPlの非反転入力端子(+)に接続される。
R3 and R4 are for voltage dividing the output of OF2, and in the case of DC voltage input Ei, the voltage dividing point P is shown in FIG.
is connected to the non-inverting input terminal (+) of linear IC0P1, and in the case of thermocouple input CP or resistance temperature detector input Pt, the voltage dividing point P is connected via resistor R7 as shown in FIGS. 8 and 9. Connected to the non-inverting input terminal (+) of OPl.

なおOPlの反転入力端子(−)にはそれぞれ直流電圧
入力、熱電対入力、測温抵抗体入力が加えられている。
Note that a DC voltage input, a thermocouple input, and a resistance temperature detector input are respectively applied to the inverting input terminal (-) of OPl.

R5は基準電圧Esを前記分圧点Pに加算するための演
算抵抗である。
R5 is a calculation resistor for adding the reference voltage Es to the voltage dividing point P.

R6は基準電圧EsをOF2の入力に加算するための演
算抵抗である。
R6 is a calculation resistor for adding the reference voltage Es to the input of OF2.

R8は熱電対入力および測温抵抗体入力の場合にR7と
ともに用いられる演算抵抗である。
R8 is a calculation resistor used together with R7 in the case of thermocouple input and resistance temperature detector input.

R9は測温抵抗体入力の場合に用いるリニアライズ用の
演算抵抗である。
R9 is a calculation resistor for linearization used in the case of inputting a resistance temperature sensor.

第7図の構成の記録計に2いて、OPlは入力電圧Ei
とモジュール抵抗器MRからの電圧Emの差を増幅し、
その出力端に直流偏差電圧sを発生する。
In the recorder having the configuration shown in FIG. 7, OPl is the input voltage Ei
and the voltage Em from the module resistor MR is amplified,
A DC deviation voltage s is generated at its output terminal.

Sは抵抗R12を介してOF2の反転入力端子(−)に
加えらねるとともに、サーボ増幅器BAに加えられる。
S is applied to the inverting input terminal (-) of OF2 via resistor R12, and is also applied to servo amplifier BA.

OF2はその非反転入力端子(+)に加えられるポテン
ショメータPMからの比較電圧EfとSとを加算する。
OF2 adds the comparison voltage Ef and S from the potentiometer PM applied to its non-inverting input terminal (+).

なおポテンショメータPMはスライド抵抗R13とスパ
ン調整用抵抗R14おび零調整用抵抗R15の直列回路
を含み、その両端にツェナーダイオードZDで安定化さ
れた負の電圧Esが抵抗R16を介して供給されている
Note that the potentiometer PM includes a series circuit of a slide resistor R13, a span adjustment resistor R14, and a zero adjustment resistor R15, and a negative voltage Es stabilized by a Zener diode ZD is supplied to both ends of the series circuit through a resistor R16. .

サーボ増幅器SAはOPlの出力εに応じてサーボモー
タBMを駆動し、εが零になるようにスライド抵抗R1
3の刷子を変位させる。
The servo amplifier SA drives the servo motor BM according to the output ε of OPl, and adjusts the slide resistance R1 so that ε becomes zero.
Displace the brush in step 3.

よって、スライド抵抗R13の刷子の変位量αは、 となり、入力電圧Eiに比例したものとなる。Therefore, the displacement amount α of the brush of the slide resistor R13 is Therefore, it is proportional to the input voltage Ei.

この変位量αが指示記録機構IRに与えられ、入力電圧
Eiが指示記録される。
This displacement amount α is given to the instruction recording mechanism IR, and the input voltage Ei is recorded as an instruction.

そしてモジュール抵抗器の(R3)/(R4)を選ぶこ
とによってスライド抵抗R13の刷子の変位量の0〜1
00%に入力電圧Esの測定範囲を対応させるスパン調
整ができ、また(R1)/(R6)および(R3)/(
R5)を選ぶことによって零点が正、負に遷移させる零
点調整ができる。
Then, by selecting (R3)/(R4) of the module resistor, the displacement amount of the brush of slide resistor R13 can be set to 0 to 1.
The span can be adjusted to correspond to the measurement range of the input voltage Es to 00%, and (R1)/(R6) and (R3)/(
By selecting R5), it is possible to adjust the zero point so that the zero point transitions between positive and negative.

なお、スパンおよび零点はさらにスライド抵抗R13に
直列に接続された抵抗R14、R15によって微調整で
きる。
Note that the span and zero point can be further finely adjusted by resistors R14 and R15 connected in series with the slide resistor R13.

なお、第8図におけるトランジスタQは熱電対CPの令
接点補償電圧を発生するためのものである。
Note that the transistor Q in FIG. 8 is for generating a contact compensation voltage for the thermocouple CP.

以上説明したように本発明によれば、仕様に応じて種々
の値をとる計器用の複数個の演算抵抗素子を絶縁基板上
にパターンで形成するとともに、これら演算抵抗素子の
パターンの抵抗値および温度係数モニタ用の抵抗素子パ
ターンおよび計器の仕様に応じた記号がトミリングによ
って記入される表示用パターンを絶縁基板上に設けてい
ますので、仕様決定から所望の抵抗値を得るまでのロス
時間の少ない方法で製造できるモジュール抵抗器が得ら
れる。
As explained above, according to the present invention, a plurality of calculated resistance elements for meters that take various values depending on specifications are formed in patterns on an insulating substrate, and the resistance values and resistance values of the patterns of these calculated resistance elements are The resistance element pattern for temperature coefficient monitoring and the display pattern on which symbols according to the instrument specifications are written by milling are provided on the insulating substrate, reducing the time lost from determining specifications to obtaining the desired resistance value. A modular resistor is obtained which can be manufactured by the method.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明モジュール抵抗器の一実施例を示す平面
図、第2図はその等何回路、第3図は本発明モジュール
抵抗器の抵抗素子の他の実施例のパターン図、第4図は
その等何回路、第5図は本発明モジュール抵抗器の抵抗
素子の他の実施例のパターン図、第6図は自動トミリン
グ装置のブロック図、第7図〜第9図は本発明モジュー
ル抵抗器を用いた記録計の回路図である。 T・・・・・・絶縁基板、A1.B、、A2.B2・・
・・・・電極パターン、L・・・・・・導体パターン、
ro、r1〜r12・・・・・・抵抗パターン、MR・
・・・・・モジュール抵抗器、1・・・・・・計算機、
4・・・・・・レーザ発振器、6・・・・・・鐘、10
・・・・・・抵抗測定器。
FIG. 1 is a plan view showing one embodiment of the module resistor of the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram thereof, FIG. 3 is a pattern diagram of another embodiment of the resistance element of the module resistor of the present invention, and FIG. Figure 5 is a pattern diagram of another embodiment of the resistance element of the module resistor of the present invention, Figure 6 is a block diagram of the automatic milling device, and Figures 7 to 9 are the module of the present invention. FIG. 2 is a circuit diagram of a recorder using a resistor. T...Insulating substrate, A1. B,,A2. B2...
...Electrode pattern, L...Conductor pattern,
ro, r1~r12...Resistance pattern, MR・
...Module resistor, 1...Calculator,
4... Laser oscillator, 6... Bell, 10
・・・・・・Resistance measuring device.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 絶縁基板上にパターンで形成されトリミングによっ
て抵抗値が調整される複数個の計器用の演算抵抗素子と
、前記絶縁基板上にパターンで形成され前記計器用の演
算抵抗素子パターンの抵抗値や温度係数モニタ用の抵抗
素子と、前記絶縁基板上に設けられ記号がトリミングに
よって記入される表示用パターンとを有する計器用モジ
ュール抵抗器。 2 計器用の演算抵抗素子パターンは、所定の重。 み付けがなされた複数の抵抗パターンを有し、これら各
抵抗パターンの両端か導体パターンにより共通に短絡接
続され、この短絡接続部がトリミングにより選択的に切
除されて所望の抵抗値を得るように形成したことを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載の計器用モジュール抵
抗器。 3 計器用の演算抵抗素子の抵抗パターンは、固定抵抗
パターンおよび調整用抵抗パターンあるいは固定抵抗と
調整用抵抗との合成抵抗パターンからなり、これら各抵
抗パターンの両端を導体パターンにより共通に接続し、
これら各抵抗パターンの接続部を選択的にトリミングに
より切除するとともに調整用パターンを部分的に切除し
て所望の抵抗値を得るように形成したことを特徴とする
特許請求の範囲第1項記載の計器用モジュール抵抗器。 4 絶縁基板上に複数個の計器用の演算抵抗素子パター
ンとモニタ用の抵抗素子パターンおよび表示用パターン
を形成する工程と、前記絶縁基板上にパターンで形成さ
れたモニタ用の抵抗素子の抵抗値および温度係数を測定
し、前記複数個の演算抵抗素子の抵抗値および温度係数
が所望の範囲内にあるか否かを検査する工程と、前記モ
ニタ用の抵抗素子の抵抗値の測定結果に基づいて決定さ
れる時間前記絶縁基板上に形成された抵抗パターンを熱
で酸化させて各演算抵抗素子の抵抗値の誤差が許容範囲
内になるように調整する工程と、計算機を用いた自動ト
リミング装置で計器の仕様に基づき各演算抵抗素子のパ
ターンをトリミングして抵抗値を所望の値に調整すると
ともに、表示パターンにトリミングにより計器の仕様に
応じた記号を記入する工程とよりなる計器用モジュール
抵抗器の製造方法。
[Scope of Claims] 1. A plurality of computational resistance elements for meters formed in a pattern on an insulating substrate and whose resistance value is adjusted by trimming; and a computational resistance element for the meters formed in a pattern on the insulating substrate. A module resistor for an instrument, comprising a resistance element for monitoring the resistance value and temperature coefficient of the pattern, and a display pattern provided on the insulating substrate and on which a symbol is written by trimming. 2 The calculated resistance element pattern for meters has a specified weight. The resistor pattern has a plurality of resistor patterns, each end of which is connected to a common short-circuit by a conductor pattern, and this short-circuit connection is selectively removed by trimming to obtain a desired resistance value. An instrument module resistor according to claim 1, characterized in that the resistor is formed of a resistor module. 3. The resistance pattern of an arithmetic resistance element for meters consists of a fixed resistance pattern and an adjustment resistance pattern, or a composite resistance pattern of a fixed resistance and an adjustment resistance, and both ends of each resistance pattern are commonly connected by a conductor pattern,
Claim 1 characterized in that the connection portions of these resistance patterns are selectively removed by trimming and the adjustment patterns are partially removed to obtain a desired resistance value. Module resistor for instrumentation. 4. A step of forming a plurality of meter arithmetic resistance element patterns, a monitor resistance element pattern, and a display pattern on an insulating substrate, and forming a resistance value of the monitor resistance element pattern formed on the insulating substrate. and a step of measuring a temperature coefficient and inspecting whether the resistance value and temperature coefficient of the plurality of arithmetic resistance elements are within a desired range, and based on the measurement result of the resistance value of the monitoring resistance element. a step of oxidizing the resistance pattern formed on the insulating substrate with heat for a period of time determined by adjusting the resistance pattern of each arithmetic resistance element so that the error in the resistance value of each arithmetic resistance element is within an allowable range; and an automatic trimming device using a computer. The process of adjusting the resistance value to the desired value by trimming the pattern of each calculated resistor element based on the specifications of the instrument, and writing a symbol according to the specifications of the instrument on the display pattern by trimming. How to make the utensils.
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