JPS5813626B2 - イオンシヤワ装置 - Google Patents
イオンシヤワ装置Info
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- JPS5813626B2 JPS5813626B2 JP6140981A JP6140981A JPS5813626B2 JP S5813626 B2 JPS5813626 B2 JP S5813626B2 JP 6140981 A JP6140981 A JP 6140981A JP 6140981 A JP6140981 A JP 6140981A JP S5813626 B2 JPS5813626 B2 JP S5813626B2
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、イオン衝撃の物理的および化学的効果を利用
して材料表面をエッチングするのに用いて好適なイオン
シャワ装置に関するものであり、特に半導体集積回路や
光集積回路などの各種デバイスの製造工程において微細
なパターンを形成するためのエッチングの工程に適合す
るイオンシャワ装置に関するものである。
して材料表面をエッチングするのに用いて好適なイオン
シャワ装置に関するものであり、特に半導体集積回路や
光集積回路などの各種デバイスの製造工程において微細
なパターンを形成するためのエッチングの工程に適合す
るイオンシャワ装置に関するものである。
従来のこの種の装置はカウフマン形のイオン源として知
られ、イオン化室、グリッド状イオン引出し電極系およ
び試料室を有し、イオン化室の内部には熱電子を放出さ
せるための熱フィラメントを配置し、イオン化室側壁を
陽極、熱フィラメントを陰極とした直流放電によってプ
ラズマを発生させてイオン化を行っていた。
られ、イオン化室、グリッド状イオン引出し電極系およ
び試料室を有し、イオン化室の内部には熱電子を放出さ
せるための熱フィラメントを配置し、イオン化室側壁を
陽極、熱フィラメントを陰極とした直流放電によってプ
ラズマを発生させてイオン化を行っていた。
このように、従来装置では熱フィラメントを用いてイオ
ンを生成するように構成されていたので、イオンの種類
、すなわちイオン化室に導入するガスの種類としては、
アルゴンなどの不活性ガスに限定されていた。
ンを生成するように構成されていたので、イオンの種類
、すなわちイオン化室に導入するガスの種類としては、
アルゴンなどの不活性ガスに限定されていた。
すなわち、プラズマエッチングや反応性スバツタエツチ
ングなど化学的反応を利用したドライエッチング法で用
いられるフレオンガスや四塩化炭素、酸素ガスなどの反
応性ガスをイオン化室に導入して、それらのガスをイオ
ン化しようとすると、熱フィラメントの断線や熱電子放
出量の変動を引起すなどの問題を生じ、安定にシャワ状
イオンビームを形成することができなかった。
ングなど化学的反応を利用したドライエッチング法で用
いられるフレオンガスや四塩化炭素、酸素ガスなどの反
応性ガスをイオン化室に導入して、それらのガスをイオ
ン化しようとすると、熱フィラメントの断線や熱電子放
出量の変動を引起すなどの問題を生じ、安定にシャワ状
イオンビームを形成することができなかった。
このため、上述した従来装置には、反応性ガスによるエ
ッチング、すなわちイオン衝撃の化学的作用を利用した
エッチング法には適用困難であるという欠点があった。
ッチング、すなわちイオン衝撃の化学的作用を利用した
エッチング法には適用困難であるという欠点があった。
このような欠点を解決するために、本願人は、特願昭5
4−48535号において、マイクロ波による電子サイ
クロトロン共鳴を用いた放電により低ガス圧( 1 0
−’Torr程度以下)状態で、かつ熱フィラメントを
用いないでプラズマを発生させ、ガスの種類に制限され
ずにイオンを生成し、イオンシャツを安定に形成できる
イオンシャツ装置を先に提案した。
4−48535号において、マイクロ波による電子サイ
クロトロン共鳴を用いた放電により低ガス圧( 1 0
−’Torr程度以下)状態で、かつ熱フィラメントを
用いないでプラズマを発生させ、ガスの種類に制限され
ずにイオンを生成し、イオンシャツを安定に形成できる
イオンシャツ装置を先に提案した。
第1図はかかるイオンシャワ装置の基本構成を示す。
ここに、1はプラズマ発生室、2は試料室、3はイオン
引出し電極である。
引出し電極である。
4はプラズマ発生室1の上部に設けたマイクロ波導入用
窓であって、例えば石英ガラス板により構成することが
できる。
窓であって、例えば石英ガラス板により構成することが
できる。
5はマイクロ波導入用窓4に取付けたマイクロ波導入の
ための矩形導波管であり、図示を省略した整合器、マイ
クロ波電力計、アイソレータ等を経てマイクロ波源に接
続されている。
ための矩形導波管であり、図示を省略した整合器、マイ
クロ波電力計、アイソレータ等を経てマイクロ波源に接
続されている。
マイクロ波源としては、例えば2.4 5 GHzのマ
グネトロンを用いることができる。
グネトロンを用いることができる。
6はプラズマ発生室1内においてマイクロ波電子サイク
ロトロン共鳴放電を引起すのに必要な磁界発生用の磁気
コイルである。
ロトロン共鳴放電を引起すのに必要な磁界発生用の磁気
コイルである。
本例では、製作の都合により磁気コイル6を2個のコイ
ルで構成したが、単一のコイルでもよい。
ルで構成したが、単一のコイルでもよい。
ここでイオン引出しの効果を高めるために、磁気コイル
6は磁界強度がプラズマ発生室1の中央部からイオン引
出し電極3に向かって弱くなる、いわゆる発散磁界を形
成するような構成とする。
6は磁界強度がプラズマ発生室1の中央部からイオン引
出し電極3に向かって弱くなる、いわゆる発散磁界を形
成するような構成とする。
周波数2.4 5 GHzのマイクロ波に対しては、磁
束密度強度が875ガウスの条件で電子サイクロトロン
共鳴が引起される。
束密度強度が875ガウスの条件で電子サイクロトロン
共鳴が引起される。
矩形導波管5から導入されたプラズマ発生室1内のマイ
クロ波の電界強度を高めてマイクロ波電力をプラズマに
効率よく吸収させるためには、プラズマ発生室1はマイ
クロ波空胴共振器の条件を満足するような形状寸法とす
るのが好適である。
クロ波の電界強度を高めてマイクロ波電力をプラズマに
効率よく吸収させるためには、プラズマ発生室1はマイ
クロ波空胴共振器の条件を満足するような形状寸法とす
るのが好適である。
第1図における励起では矩形導波管5を伝播するマイク
ロ波のモードをTE1oとし、このモードによって励起
するように好適な円形空胴共振器のTEHnモード(n
は正の整数)を利用するのが好都合であるので、一例と
して、n−3とし、直径20cm、高さ20cmの内の
り寸法の形状を採用した。
ロ波のモードをTE1oとし、このモードによって励起
するように好適な円形空胴共振器のTEHnモード(n
は正の整数)を利用するのが好都合であるので、一例と
して、n−3とし、直径20cm、高さ20cmの内の
り寸法の形状を採用した。
プラズマ発生室1は給水口7Aから冷却水通路78に冷
却水を導き、更に排水口7Cから冷却水を排出するよう
にした水冷方式により冷却して、プラズマによって温度
が上昇するのを防止している。
却水を導き、更に排水口7Cから冷却水を排出するよう
にした水冷方式により冷却して、プラズマによって温度
が上昇するのを防止している。
イオン引出し電極3は、例えば直径150mmの領域に
直径2mmの穴を多数あけた0.5mm程度の厚さの3
枚または2枚の金属板からなる。
直径2mmの穴を多数あけた0.5mm程度の厚さの3
枚または2枚の金属板からなる。
プラズマ発生室1はそれぞれ電気絶縁体8Aおよび8B
によって試料室2および矩形導波管5から電気的に絶縁
されており、プラズマ発生室1全体にイオン引出し用の
直流電源9の出力が印加されるようになっている。
によって試料室2および矩形導波管5から電気的に絶縁
されており、プラズマ発生室1全体にイオン引出し用の
直流電源9の出力が印加されるようになっている。
第1図示のように、イオン引出し電極3が2枚の電極3
Aおよび3Bから構成されている場合について説明する
と、第1図において、上側の電極板3Aはその周辺がプ
ラズマ発生室1と電気的に接触しており、イオン引出し
電極としての役割のほか、プラズマ発生室1のマイクロ
波空胴共振器として作用するためのマイクロ波反射面の
役割を果たす。
Aおよび3Bから構成されている場合について説明する
と、第1図において、上側の電極板3Aはその周辺がプ
ラズマ発生室1と電気的に接触しており、イオン引出し
電極としての役割のほか、プラズマ発生室1のマイクロ
波空胴共振器として作用するためのマイクロ波反射面の
役割を果たす。
イオン引出し電極3の下側の電極板3Bは試料室2と同
電位、すなわち接地電位またはO〜300Vの負電位と
する。
電位、すなわち接地電位またはO〜300Vの負電位と
する。
2枚の電極板3Aおよび3Bの間に直流電源9の電圧が
印加されており(下側の電極3Bが接地電位のとき)、
電極間の電界によってプラズマ発生室1内のイオンが試
料室2の方向に引出されて加速される。
印加されており(下側の電極3Bが接地電位のとき)、
電極間の電界によってプラズマ発生室1内のイオンが試
料室2の方向に引出されて加速される。
2枚の電極板3Aと3Bとの間隔は1〜2mm程度の値
とするのが好適であり、直流電源9としては、最大20
00V程度の出力電圧の得られるものを用いることがで
きる。
とするのが好適であり、直流電源9としては、最大20
00V程度の出力電圧の得られるものを用いることがで
きる。
以上のような構成によって直径150mmの大口径のイ
オンシャワ10を形成することができる。
オンシャワ10を形成することができる。
イオン照射すべき試料11は試料台12に載置されてお
り、試料台12は斜めイオン照射などにも応用できるよ
うに、傾斜できるようになっている。
り、試料台12は斜めイオン照射などにも応用できるよ
うに、傾斜できるようになっている。
13はイオンシャツを遮断できるように設けたシャツタ
であり、14はシャツタに取付けられたイオン電流密度
測定用のファラデーゲージである。
であり、14はシャツタに取付けられたイオン電流密度
測定用のファラデーゲージである。
15は磁界分布の補正、磁気コイル6の能率を高めるた
めの高透磁率材料であり、この例では軟鉄を用いている
。
めの高透磁率材料であり、この例では軟鉄を用いている
。
ガス導入系は2系統を有し、プラズマ発生室1に直接ガ
スを導く第1ガス導入系16と、試料室2にガスを導,
くことのできる補助的な第2ガス導入系17とからなる
。
スを導く第1ガス導入系16と、試料室2にガスを導,
くことのできる補助的な第2ガス導入系17とからなる
。
排気系18はこの例では油拡散ポンプ(排気能力: 1
20 0 A/sec)および油回転ポンプ(排気能
力: 5 0 0 l/min)により構成している。
20 0 A/sec)および油回転ポンプ(排気能
力: 5 0 0 l/min)により構成している。
」このような構成および作用を有するイオンシ
ャツ装置は、ガスの種類に関係なくきわめて安定にイオ
ンシャツを形成でき、さらに反応性ガスを用いたエッチ
ング、すなわち反応性イオンシャツエッチングに用いて
きわめてすぐれた効果を持つことは特願昭54−485
35号において述べた通りである。
しかしながら、その後の検討により、次のような問題点
を解決すればより一層の効果を発輝できることが明らか
になった。
を解決すればより一層の効果を発輝できることが明らか
になった。
すなわち、 (1)エッチングに適用した場
合の各種材料のエッチング特性を大幅に制御したい場合
、イオンエネルギ、すなわちイオン引出し電圧を100
0V以下の例えば500v程度の低電圧のイオン引出し
条件でイオンシャツを形成することが必要となる。
合の各種材料のエッチング特性を大幅に制御したい場合
、イオンエネルギ、すなわちイオン引出し電圧を100
0V以下の例えば500v程度の低電圧のイオン引出し
条件でイオンシャツを形成することが必要となる。
しかし、イオン引出し電圧を低くすると、引出すイオン
の量(イオン電流密度)が減少し、エッチングの能率が
低下する。
の量(イオン電流密度)が減少し、エッチングの能率が
低下する。
(2)マイクロ波電界および高エネルギー電子の作用に
よってイオン引出し電極が局部的に加熱され、異常放電
の原因となる場合がある。
よってイオン引出し電極が局部的に加熱され、異常放電
の原因となる場合がある。
(3)試料室内部に空間正電荷を生じたり、試料面が正
に帯電することによって、安定なイオンシャツが得られ
ないことも起りうる。
に帯電することによって、安定なイオンシャツが得られ
ないことも起りうる。
そこで、本発明の目的は、上述の問題点を解決すること
のできるイオンシャツ装置を提供することにある。
のできるイオンシャツ装置を提供することにある。
そのために、本発明では、プラズマ室内にプラズマは通
過できるがマイクロ波を反射するマイクロ波反射板を設
け、プラズマ側のイオン引出し電極板を浮遊電位とし、
磁界分布を最適化することにより、電極の局部加熱を生
ずることなく低電圧イオン引出し時のイオン電流を増加
させる。
過できるがマイクロ波を反射するマイクロ波反射板を設
け、プラズマ側のイオン引出し電極板を浮遊電位とし、
磁界分布を最適化することにより、電極の局部加熱を生
ずることなく低電圧イオン引出し時のイオン電流を増加
させる。
また、イオン引出し用電源としてバイアス電位を発生す
る高周波電源回路を用いることによってイオンとともに
電子を引出して試料室内の帯電を防止するようにする。
る高周波電源回路を用いることによってイオンとともに
電子を引出して試料室内の帯電を防止するようにする。
以下に図面を参照して本発明を詳細に説明する。
第2図は本発明によるイオンシャツ装置の構成の一例を
示す。
示す。
ここでは第1図示の装置のうちの上部半分に相当する部
分を詳細に示す。
分を詳細に示す。
本発明装置では、プラズマの存在する領域、すなわちプ
ラズマ室はプラズマ発生室1とプラズマ輸送室25とか
らなり、それら両室はマイクロ波反射板21で分離され
ている。
ラズマ室はプラズマ発生室1とプラズマ輸送室25とか
らなり、それら両室はマイクロ波反射板21で分離され
ている。
マイクロ波反射板21は、プラズマ発生室1内のプラズ
マがイオン引出し電極23を構成する電極板23Aおよ
び23Bの方向に自由に移動できるが、マイクロ波は反
射して通過することができないようにする反射器であり
、この例では周期間隔2 0 mm,太さ2mm角の正
方格子の金属板を用いている。
マがイオン引出し電極23を構成する電極板23Aおよ
び23Bの方向に自由に移動できるが、マイクロ波は反
射して通過することができないようにする反射器であり
、この例では周期間隔2 0 mm,太さ2mm角の正
方格子の金属板を用いている。
プラズマ発生室1のマイクロ波空胴共振器条件として円
形空胴共振モードTE1、2を採用している。
形空胴共振モードTE1、2を採用している。
プラズマ発生室1の内のり寸法は、直径150mmとし
ており、このとき高さ寸法は140mmと計算されるが
、プラズマの発生によるマイクロ波の波長の変化を補正
して、高さ130mmを採用している。
ており、このとき高さ寸法は140mmと計算されるが
、プラズマの発生によるマイクロ波の波長の変化を補正
して、高さ130mmを採用している。
また、マイクロ波導入窓4の直下の穴22はマイクロ波
結合窓であり、矩形導波管5を伝播してきたマイクロ波
(TEIOモード)が空胴共振モードT E 1 1
2に効率よく変換されるような整合器としての役割を果
すように、矩形導波管5の内のり寸法96mm×27m
mに対して、7 0mm× 4 0mmの矩形穴とした
。
結合窓であり、矩形導波管5を伝播してきたマイクロ波
(TEIOモード)が空胴共振モードT E 1 1
2に効率よく変換されるような整合器としての役割を果
すように、矩形導波管5の内のり寸法96mm×27m
mに対して、7 0mm× 4 0mmの矩形穴とした
。
以上のような構成によってイオン引出し電極23(シャ
ツ径130mm)のうち、プラズマに接する電極板23
Aはマイクロ波反射面としての役割りから解放されるの
で、イオン引出しの観点のみから自由に構成することが
できる。
ツ径130mm)のうち、プラズマに接する電極板23
Aはマイクロ波反射面としての役割りから解放されるの
で、イオン引出しの観点のみから自由に構成することが
できる。
本発明では、この利点を用いて、電子サイクロトロン共
鳴プラズマに特徴的な高エネルギー電子がイオン引出し
電極板23Aに流入して電極が局部的に加熱されたり、
イオン引出し電極23に異常放電を生ずるなどの問題を
解決することができる。
鳴プラズマに特徴的な高エネルギー電子がイオン引出し
電極板23Aに流入して電極が局部的に加熱されたり、
イオン引出し電極23に異常放電を生ずるなどの問題を
解決することができる。
すなわち、イオン引出し電極板23Aを浮遊の状態に設
定することにより、プラズマ中の電子のエネルギーに応
じて自己整合的に負電位を生じて入射電子数が著しく減
少し、以てこのような問題が解決される。
定することにより、プラズマ中の電子のエネルギーに応
じて自己整合的に負電位を生じて入射電子数が著しく減
少し、以てこのような問題が解決される。
24はこの目的のための絶縁スペーサである。
イオン引出し電極板23Bはこれまでと同様に接地電位
または0〜300Vの負電位とすることができる。
または0〜300Vの負電位とすることができる。
一般に、電子サイクロトロン共鳴によって高い運動エネ
ルギを得た電子は出力線に沿って磁界強度の弱くなる方
向に加速されるが、上に述べたような電気的に浮遊の状
態にして壁面電流を遮断している場合には、電子の流入
を抑制し、正のイオンの入射数を増すような静電界がプ
ラズマ中に誘起され、電子だけでなくイオンも能率よく
磁界の発散方向に輸送される。
ルギを得た電子は出力線に沿って磁界強度の弱くなる方
向に加速されるが、上に述べたような電気的に浮遊の状
態にして壁面電流を遮断している場合には、電子の流入
を抑制し、正のイオンの入射数を増すような静電界がプ
ラズマ中に誘起され、電子だけでなくイオンも能率よく
磁界の発散方向に輸送される。
この事実に基いて、プラズマ発生室1の内部の磁界分布
をイオン引出しの能率向上の観点から構成することがで
きる。
をイオン引出しの能率向上の観点から構成することがで
きる。
第3図A,Bはプラズマ発生室1の磁界分布構成の例を
示すもので、両者とも電極方向に礎界強度が弱くなる発
散構成である。
示すもので、両者とも電極方向に礎界強度が弱くなる発
散構成である。
第3図Aは第1図に示した先の提案に係るイオンシャツ
装置の場合であり、磁界分布を補正するための高透磁率
材料15は磁気コイル6の上部、外周および下部を取り
囲んで配置されており、電子サイクロトロン共鳴条件を
厳密に.満たす領域、すなわち、特に高エネルギの電子
を発生する領域31Aおよび31Bをそれぞれ通過する
佛力線はイオン引出し電極3を通過せず、プラズマ発生
室1の側壁1Aを通過しており、また、その部分では磁
界強度が徐々に強くなる収束磁界となっている。
装置の場合であり、磁界分布を補正するための高透磁率
材料15は磁気コイル6の上部、外周および下部を取り
囲んで配置されており、電子サイクロトロン共鳴条件を
厳密に.満たす領域、すなわち、特に高エネルギの電子
を発生する領域31Aおよび31Bをそれぞれ通過する
佛力線はイオン引出し電極3を通過せず、プラズマ発生
室1の側壁1Aを通過しており、また、その部分では磁
界強度が徐々に強くなる収束磁界となっている。
このため、その方向への電子の加速効果はない。
このような理由によって、高エネルギ電子の引起す直接
的問題点、すなわち電極の局部加熱、異常放電等の問題
を避けることができたが、低電圧のイオン引出し時のイ
オン電流を大きくとることはできなかった。
的問題点、すなわち電極の局部加熱、異常放電等の問題
を避けることができたが、低電圧のイオン引出し時のイ
オン電流を大きくとることはできなかった。
第3図Bは本発明イオンシャツ装置における磁界分布を
示すもので、高透磁率材料15は磁気コイルの上部およ
び外周を取り囲んで佛気コイル6の周辺に配置され、磁
気コイル6の下部には配置されておらず、プラズマ発生
室1の内部全領域においてイオン引出し電極23の方向
に磁界強度がなだらかに弱くなる磁界分布となるように
なっており、電子サイクロトロン共鳴条件を満たす領域
32を通過する磁力線はイオン引出し電極23に向かっ
ている。
示すもので、高透磁率材料15は磁気コイルの上部およ
び外周を取り囲んで佛気コイル6の周辺に配置され、磁
気コイル6の下部には配置されておらず、プラズマ発生
室1の内部全領域においてイオン引出し電極23の方向
に磁界強度がなだらかに弱くなる磁界分布となるように
なっており、電子サイクロトロン共鳴条件を満たす領域
32を通過する磁力線はイオン引出し電極23に向かっ
ている。
高エネルギ電子は磁力線に沿ってイオン引出し電極23
方向に向かうが、すでに述べたように、浮遊電極23A
の使用によって問題を生じることがなく、しかも上述し
たイオンの加速効果によってきわめて能率よくイオンが
イオン引出し電極23の方向に移動し、引出されるイオ
ンの量を著しく増加させる効果をも発輝できる。
方向に向かうが、すでに述べたように、浮遊電極23A
の使用によって問題を生じることがなく、しかも上述し
たイオンの加速効果によってきわめて能率よくイオンが
イオン引出し電極23の方向に移動し、引出されるイオ
ンの量を著しく増加させる効果をも発輝できる。
第4図はイオン引出し特性の向上を実際に測定した結果
を示すものであり、イオン引出し電圧とイオン電流密度
との関係を求めたものである。
を示すものであり、イオン引出し電圧とイオン電流密度
との関係を求めたものである。
ここで、ガスとしてはC4F8を用い、マイクロ波出力
は200Wとした。
は200Wとした。
破線■で示す第1図示の先提案に係る装置では、300
Wの条件を用いた。
Wの条件を用いた。
すなわち、この場合には、プラズマ発生室1が大きいの
で、その分を考慮して、マイクロ波出力を大きくして本
発明の結果と比較した。
で、その分を考慮して、マイクロ波出力を大きくして本
発明の結果と比較した。
本発明装置による測定結果は一点鎖線■で示した。
これからわかるように、本発明によれは′、イオン引出
し電圧300〜1000Vの領域で、第1図示の装置に
比べて、約3倍の0.5〜1.2mA/cm’ときわめ
て大きいイオン引出し特性の向上を実現できた。
し電圧300〜1000Vの領域で、第1図示の装置に
比べて、約3倍の0.5〜1.2mA/cm’ときわめ
て大きいイオン引出し特性の向上を実現できた。
ここでO〜200V程度の非常に低い電圧のイオン引出
しでは高エネルギ電子がイオン引出し電極の引出し穴部
から流出するなどの影響があるので、これまでの装置の
場合に比較して特異な傾向を示しているが、このような
特性はすでに述べた磁界分布構成の考え方が正当なもの
であることを保証するものである。
しでは高エネルギ電子がイオン引出し電極の引出し穴部
から流出するなどの影響があるので、これまでの装置の
場合に比較して特異な傾向を示しているが、このような
特性はすでに述べた磁界分布構成の考え方が正当なもの
であることを保証するものである。
一方、以上のようにしてイオンシャワを形成し、そのイ
オンシャツを試料に照射してエッチングを行う場合、試
料室2内に正電荷のみが送り込まれるので、試料が帯電
したり、正の空間電荷が生じて異常放電を生じたりする
場合がある。
オンシャツを試料に照射してエッチングを行う場合、試
料室2内に正電荷のみが送り込まれるので、試料が帯電
したり、正の空間電荷が生じて異常放電を生じたりする
場合がある。
通常は、空間中の正電荷が試料台12からの2次電子放
出によって中和され、あるいはイオンの電荷が試料室2
内の中性分子と電荷の交換を行い、新たに生じた運動エ
ネルギをほとんど持たないイオンが試料室2の壁面方向
に拡散してその電荷を壁面に輸送し、ここでその電荷が
消滅するなどによって、大きい問題とならない場合が多
い。
出によって中和され、あるいはイオンの電荷が試料室2
内の中性分子と電荷の交換を行い、新たに生じた運動エ
ネルギをほとんど持たないイオンが試料室2の壁面方向
に拡散してその電荷を壁面に輸送し、ここでその電荷が
消滅するなどによって、大きい問題とならない場合が多
い。
しかし、試料11が絶縁物でかつ面積が大きい場合、試
料台12からの2次電子の放出量が減少して安定したエ
ッチングを実現できない場合がある。
料台12からの2次電子の放出量が減少して安定したエ
ッチングを実現できない場合がある。
この場合の解決策として、従来のカウフマン形イオン源
を用いた装置と同様に熱電子放出用の熱フィラメントを
用いることも考えられるが、反応性ガスを用いる場合に
は安定な動作が期待できない。
を用いた装置と同様に熱電子放出用の熱フィラメントを
用いることも考えられるが、反応性ガスを用いる場合に
は安定な動作が期待できない。
そこで、イオンシャツ源そのものからイオンだけでなく
電子をも引出すことが有効である。
電子をも引出すことが有効である。
イオン引出し電極に印加する電圧が十分小さい場合はす
でに述べたように電子が流出することを利用して、第5
図Aに示すように、十分速い周期(例えば1 0 0
kHz以上)で短時間だけ出力電圧が例えば50V以下
となるような出力電圧の得られる電源をイオン引出し電
源9として用いることによって解決することができる。
でに述べたように電子が流出することを利用して、第5
図Aに示すように、十分速い周期(例えば1 0 0
kHz以上)で短時間だけ出力電圧が例えば50V以下
となるような出力電圧の得られる電源をイオン引出し電
源9として用いることによって解決することができる。
あるいはこれを変形して、第5図Bに示すように、高周
波電圧が正方向にバイアスされた電圧を用いることもで
きる。
波電圧が正方向にバイアスされた電圧を用いることもで
きる。
第5図Bに示した出力波形の電源は通常の高周波電源を
用いて第6図に示すように構成することができる。
用いて第6図に示すように構成することができる。
ここで、61は高周波電源、62は整合回路、63はコ
ンデンサ、64は整流器、65は出力端子であり、この
出力端子65をプラズマ発生室1に接続するものとする
。
ンデンサ、64は整流器、65は出力端子であり、この
出力端子65をプラズマ発生室1に接続するものとする
。
以上説明したように、本発明では、プラズマ室内にプラ
ズマは通過できるがマイクロ波を反射するマイクロ波反
射板を設け、プラズマに接するイオン引出し電極板部を
浮遊電位とし、プラズマがイオン引出し電極方向に向か
って加速されるような磁界分布を構成したので、イオン
引出し電圧が300〜1000Vの低い場合でも安定に
大イオン電流を得ることができ、従って、各種のガスを
用いてきわめて能率よくエッチングを行うことができる
。
ズマは通過できるがマイクロ波を反射するマイクロ波反
射板を設け、プラズマに接するイオン引出し電極板部を
浮遊電位とし、プラズマがイオン引出し電極方向に向か
って加速されるような磁界分布を構成したので、イオン
引出し電圧が300〜1000Vの低い場合でも安定に
大イオン電流を得ることができ、従って、各種のガスを
用いてきわめて能率よくエッチングを行うことができる
。
本発明によれば、低エネルギかつ大電流のイオンシャツ
が得られるので、エッチング特性の制御性が大幅に向上
するとともに、イオンシャツ照射時の試料表面の損傷を
生じることがなく、かつ能率のよい加工を実現できるな
どの利点がある。
が得られるので、エッチング特性の制御性が大幅に向上
するとともに、イオンシャツ照射時の試料表面の損傷を
生じることがなく、かつ能率のよい加工を実現できるな
どの利点がある。
また、本発明によれば、引出し電源の電圧波形を適切に
制御してイオン引出し電極からイオンだけでなく周期的
に電子をも取出すことによって、試料の条件に依存せず
きわめて安定にエッチングすることができるという利点
がある。
制御してイオン引出し電極からイオンだけでなく周期的
に電子をも取出すことによって、試料の条件に依存せず
きわめて安定にエッチングすることができるという利点
がある。
なお、本発明イオンシャワ装置はイオンビームデポジシ
ョンなど薄膜形成にもそのまま応用できることは明らか
である。
ョンなど薄膜形成にもそのまま応用できることは明らか
である。
第1図は本発明者の先に提案したイオンシャワ装置の基
本構成を示す断面図、第2図は本発明イオンシャワ装置
の一実施例を示す断面図、第3図AおよびBは磁力線の
状態の説明図、第4図は本発明イオンシャツ装置の効果
を示す特性図、第5図AおよびBはイオン引出し電源の
電圧波形の2例を示す信号波形図、第6図は高周波電源
を用いたイオン引出し電源の構成の一実施例を示すブロ
ック図である。 1・・・・・・プラズマ発生室、1A・・・・・・側壁
、2・・・・・・試料室、3・・・・・・イオン引出し
電極、3A・・・・・・上側電極、3B・・・・・・下
側電極、4・・・・・・マイクロ波導入窓、5・・・・
・・矩形導波管、6・・・・・・磁気コイル、γA・・
・・・・給水口、IB・・・・・・冷却水通路、γC・
・・・・・排水口、8A,8B・・・・・・絶縁体、9
・・・・・・イオン引出し電源、10・・・・・・イオ
ンシャワ、11・・・・・・試料、12・・・・・・試
料台、13・・・・・・シャツタ、14・・・・・・フ
ァラデーゲージ、15・・・・・・高透磁率材料、16
・・・・・・第1ガス導入系、17・・・・・・第2ガ
ス導入系、18・・・・・・排気系、21・・・・・・
マイクロ波反射板、22・・・・・・マイクロ波結合窓
、23・・・・・・浮遊電極板を有するイオン引出し電
極、23A,23B・・・・・・電極板、24・・・・
・・絶縁スペーサ、25・・・・・・プラズマ輸送室、
31・・・・・・高エネルギ電子発生領域、61・・・
・・・高周波電源、62・・・・・・整合回路、63・
・・・・・コンデンサ、64・・・・・・整流器、65
・・・・・・出力端子。
本構成を示す断面図、第2図は本発明イオンシャワ装置
の一実施例を示す断面図、第3図AおよびBは磁力線の
状態の説明図、第4図は本発明イオンシャツ装置の効果
を示す特性図、第5図AおよびBはイオン引出し電源の
電圧波形の2例を示す信号波形図、第6図は高周波電源
を用いたイオン引出し電源の構成の一実施例を示すブロ
ック図である。 1・・・・・・プラズマ発生室、1A・・・・・・側壁
、2・・・・・・試料室、3・・・・・・イオン引出し
電極、3A・・・・・・上側電極、3B・・・・・・下
側電極、4・・・・・・マイクロ波導入窓、5・・・・
・・矩形導波管、6・・・・・・磁気コイル、γA・・
・・・・給水口、IB・・・・・・冷却水通路、γC・
・・・・・排水口、8A,8B・・・・・・絶縁体、9
・・・・・・イオン引出し電源、10・・・・・・イオ
ンシャワ、11・・・・・・試料、12・・・・・・試
料台、13・・・・・・シャツタ、14・・・・・・フ
ァラデーゲージ、15・・・・・・高透磁率材料、16
・・・・・・第1ガス導入系、17・・・・・・第2ガ
ス導入系、18・・・・・・排気系、21・・・・・・
マイクロ波反射板、22・・・・・・マイクロ波結合窓
、23・・・・・・浮遊電極板を有するイオン引出し電
極、23A,23B・・・・・・電極板、24・・・・
・・絶縁スペーサ、25・・・・・・プラズマ輸送室、
31・・・・・・高エネルギ電子発生領域、61・・・
・・・高周波電源、62・・・・・・整合回路、63・
・・・・・コンデンサ、64・・・・・・整流器、65
・・・・・・出力端子。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 プラズマを発生させてイオンを生成するプラズマ室
と、該プラズマ室の構成面の一部に設けられ前記プラズ
マからイオンを引出してシャワ状イオンビームを形成す
るイオン引出し電極と、前記シャワ状イオンビームを試
料表面に照射するようにした試料室とを有するイオンシ
ャワ装置において、前記プラズマを電子サイクロトロン
共鳴条件を用いたマイクロ波放電により生成し、前記プ
ラズマ室はマイクロ波導入窓を有するプラズマ発生室と
イオン引出し電極を有するプラズマ輸送室とを有し、前
記プラズマ発生室と前記プラズマ輸送室とをマイクロ波
反射板によって分離したことを特徴とするイオンシャツ
装置。 2 特許請求の範囲第1項記載のイオンシャツ装置にお
いて、前記プラズマ室のうちマイクロ波導入窓とマイク
ロ波反射板とで限界された前記プラズマ発生室の形状お
よび寸法を、マイクロ波空胴共振器の条件を満すように
定めたことを特徴とするイオンシャツ装置。 3 特許請求の範囲第1項または第2項記載のイオンシ
ャツ装置において、磁界強度が前記プラズマ室のマイク
ロ波導入窓近傍から前記イオン引出し電極方向に近定の
勾配で弱くなる発散磁界を形成するようにしたことを特
徴とするイオンシャツ装置。 4 特許請求の範囲第1項ないし第3項のいずれかの項
に記載のイオンシャツ装置において、前記イオン引出し
電極のうちプラズマに接する電極板を電気的に浮遊状態
にしたことを特徴とするイオンシャワ装置。 5 特許請求の範囲第1項ないし第4項のいずれかの項
に記載のイオンシャワ装置において、バイアス発生回路
を付加した高周波電源によりイオン引出し用電源を構成
し、該イオン引出し用電源の出力を前記プラズマ発生室
に印加するようにしたことを特徴とするイオンシャツ装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6140981A JPS5813626B2 (ja) | 1981-04-24 | 1981-04-24 | イオンシヤワ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6140981A JPS5813626B2 (ja) | 1981-04-24 | 1981-04-24 | イオンシヤワ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57177975A JPS57177975A (en) | 1982-11-01 |
| JPS5813626B2 true JPS5813626B2 (ja) | 1983-03-15 |
Family
ID=13170294
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6140981A Expired JPS5813626B2 (ja) | 1981-04-24 | 1981-04-24 | イオンシヤワ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5813626B2 (ja) |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0618184B2 (ja) * | 1983-05-12 | 1994-03-09 | 松下電器産業株式会社 | イオンビームエッチング方法 |
| JPS59225525A (ja) * | 1983-06-06 | 1984-12-18 | Agency Of Ind Science & Technol | 反応性イオンビ−ムエツチング装置 |
| JPS6130036A (ja) * | 1984-07-23 | 1986-02-12 | Fujitsu Ltd | マイクロ波プラズマ処理装置 |
| US6113701A (en) * | 1985-02-14 | 2000-09-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, manufacturing method, and system |
| JPS62229841A (ja) * | 1986-03-28 | 1987-10-08 | Anelva Corp | 真空処理装置 |
| JPH0798145B2 (ja) * | 1986-12-19 | 1995-10-25 | 松下電器産業株式会社 | プラズマ処理装置 |
| JPS6396283A (ja) * | 1986-10-11 | 1988-04-27 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | イオン源 |
| JP2631650B2 (ja) * | 1986-12-05 | 1997-07-16 | アネルバ株式会社 | 真空装置 |
| US5433788A (en) * | 1987-01-19 | 1995-07-18 | Hitachi, Ltd. | Apparatus for plasma treatment using electron cyclotron resonance |
| KR880013424A (ko) * | 1987-04-08 | 1988-11-30 | 미타 가츠시게 | 플라즈머 장치 |
| JPS63284819A (ja) * | 1987-05-18 | 1988-11-22 | Hitachi Ltd | プラズマ処理装置 |
| JPH05251356A (ja) * | 1991-11-06 | 1993-09-28 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 被膜形成方法 |
-
1981
- 1981-04-24 JP JP6140981A patent/JPS5813626B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57177975A (en) | 1982-11-01 |
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