JPS5816596B2 - mass spectrometer - Google Patents
mass spectrometerInfo
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- JPS5816596B2 JPS5816596B2 JP51109789A JP10978976A JPS5816596B2 JP S5816596 B2 JPS5816596 B2 JP S5816596B2 JP 51109789 A JP51109789 A JP 51109789A JP 10978976 A JP10978976 A JP 10978976A JP S5816596 B2 JPS5816596 B2 JP S5816596B2
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- reaction box
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、直列に設置された2個の偏向場の中間に存在
する集束点を含む複数のイオン集束点を持つ質量分析装
置に係り、特に前記中間集束点近傍に設けるイオン分子
反応箱の構造に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a mass spectrometer having a plurality of ion focusing points including a focusing point located between two deflection fields installed in series, and particularly to a mass spectrometer having a plurality of ion focusing points near the intermediate focusing point. This invention relates to the structure of an ionic and molecule reaction box to be provided.
従来技術の一例を第1図により説明する。An example of the prior art will be explained with reference to FIG.
磁場1により偏向分散を受けたイオンビーム2の集束点
に0.25 mm程度のスリット3を持つ接地電位の板
4を設け、その後にもう一つの0.5 mm程度のスリ
ット5を持つ接地板6を置き、これら両スリット3,5
の間に、調節可能な電圧7を印加できる長さ2cIIL
程度の反応箱8を絶縁保持し、この箱の入口と出口にそ
れぞれ設けた0、 5 mm程度のスリット9.10に
より、イオンビーム2を通過させると同時に、流入口1
1から導入した反応ガスの一部が反応箱8に出入できる
ようになっている。A ground potential plate 4 with a slit 3 of about 0.25 mm is provided at the focal point of the ion beam 2 which has been deflected and dispersed by the magnetic field 1, and after that a ground plate 4 with a slit 5 of about 0.5 mm is provided. 6, and both slits 3 and 5
A length 2cIIL between which an adjustable voltage 7 can be applied
The ion beam 2 is passed through slits 9 and 10 of about 0 and 5 mm provided at the inlet and outlet of this box, respectively, and the inlet 1 is insulated.
A part of the reaction gas introduced from 1 can enter and exit the reaction box 8.
反応ガスは排気系12によって排気されるが、反応相通
過後のイオンビーム13は、対向電極14゜15間の静
電場により偏向後集束ビーム16となり、第二集束点の
コレクタスリット17後に設けた二次電子増倍器18に
よって検知される。The reaction gas is exhausted by the exhaust system 12, but the ion beam 13 after passing through the reaction phase becomes a focused beam 16 after being deflected by the electrostatic field between the opposing electrodes 14 and 15, and the ion beam 13 is turned into a focused beam 16, which is placed after the collector slit 17 at the second focusing point. It is detected by the secondary electron multiplier 18.
イオンビーム2,13を構成するイオンの一部が、対向
電極14.15間の電場に入る前に、自然にあるいはガ
ス分子との衝突によって解離すると、この反応によって
減速された(エネルギーの低くなった)イオンは本来の
イオン軌道の内側を走る別のイオンビーム16Aとなる
。When some of the ions constituting the ion beams 2, 13 dissociate spontaneously or by collision with gas molecules before entering the electric field between the opposing electrodes 14, 15, they are decelerated (lower energy) by this reaction. ) The ions become another ion beam 16A that runs inside the original ion trajectory.
電場電圧を下げることによりこのビームを本来の軌道に
戻し反応を起さなかった主ビーム16を外側にそらせた
状態で、スリット1γ、増倍器18に受けることができ
る。By lowering the electric field voltage, this beam is returned to its original orbit and can be received by the slit 1γ and the multiplier 18 with the main beam 16 that did not cause any reaction being deflected outward.
流入口11より反応ガスを流し込み、イオンビーム13
周辺の分圧を高めることにより、意図的にイオンと当該
ガスとの衝突頻度を多くしてイオン分子反応の測定を行
う場合、反応箱8の外で反応したイオンは反応による減
速を受けるだけであるが、反応箱8の内部では、スリッ
ト3,9間の電圧7によって反応前に減速したイオンが
反応後にふたたびスリン)10.6間の同一電圧によっ
て加速されるので、前記の箱外反応イオンと区別して検
知することができ、電圧印加型反応箱がない場合に較べ
て、より精密な反応を行うことができる。Reactant gas is poured from the inlet 11, and the ion beam 13
When measuring ion-molecule reactions by intentionally increasing the frequency of collisions between ions and the gas by increasing the surrounding partial pressure, the ions reacting outside the reaction box 8 will only be decelerated by the reaction. However, inside the reaction box 8, the ions decelerated before the reaction by the voltage 7 between the slits 3 and 9 are accelerated again after the reaction by the same voltage between the slits 10.6, so that the reaction ions outside the box This allows more precise reaction to be performed than in the case without a voltage application type reaction box.
なお反応を起さないイオンに対しては、反応箱の入口で
の減速と出口での加速が相殺するので、反応箱がない場
合と同じである。Note that for ions that do not cause a reaction, the deceleration at the entrance of the reaction box and the acceleration at the exit of the reaction box cancel each other out, so it is the same as when there is no reaction box.
イオン分子反応を高感度で測定するためζこは、イオン
と分子との衝突頻度を高めることが必要であるが、好ま
しくないイオン散乱現象を防ぎ、かつ少量の反応ガスと
小形の排気系で高感度の測定を行うためには、反応ガス
を反応箱内に直接導入し、かつ差動排気の効率を高めて
外部イオン軌道の真空度の悪化を少くすることが望まし
い。In order to measure ion-molecule reactions with high sensitivity, it is necessary to increase the frequency of collisions between ions and molecules, but it is necessary to prevent undesirable ion scattering phenomena and to increase the number of collisions with a small amount of reactant gas and a small exhaust system. In order to measure sensitivity, it is desirable to directly introduce the reaction gas into the reaction chamber and to increase the efficiency of differential pumping to reduce deterioration of the degree of vacuum in the external ion orbit.
本発明の第一の目的は、反応箱の寸法を1cfn程度な
いしそれ以下に縮めてその内部圧力を103Torr程
度に高め、しかも外部イオン軌道部分を10−〇Tor
r程度に保持しようとすることである。The first object of the present invention is to reduce the dimensions of the reaction chamber to about 1 cfn or less, increase the internal pressure to about 103 Torr, and further reduce the external ion orbital region to about 10 Torr.
The aim is to maintain it at around r.
この種の測定では従来分子との衝突反応を起したイオン
のうち、未反応イオンと同一方向に飛行するイオンだけ
を対象にし、それら自身や未反応イオンとの比較測定を
行っているが、反応によって別方向に飛行するイオンを
も検知して比較することができれば、イオン分子反応゛
をより詳しく測定することができる。Conventionally, in this type of measurement, of the ions that have caused a collision reaction with a molecule, only those ions that fly in the same direction as the unreacted ions are targeted, and comparative measurements are made with themselves and the unreacted ions. If ions flying in different directions can also be detected and compared, ion-molecule reactions can be measured in more detail.
本発明の第二の目的は、絶縁保持される反応箱を直流増
幅器に接続し、反応イオンの中で箱外に飛出さないイオ
ンを捕捉検知せしめることにある。A second object of the present invention is to connect an insulated reaction box to a DC amplifier to capture and detect ions among the reaction ions that do not fly out of the box.
また、イオン通路に絶縁保持した電極に入射する全イオ
ンを捕捉し、これを直流増幅器に接続してイオン量を測
定することは、ファラデーコレクタ方式として古くから
よく知られている。Furthermore, capturing all the ions incident on an electrode held insulated in the ion path, and measuring the amount of ions by connecting this to a DC amplifier has been well known for a long time as the Faraday collector method.
本発明の第三の目的は、前記の反応箱を外部からの簡単
な切換操作により、このファラデーコレクタとして兼用
せしめることにある。A third object of the present invention is to allow the reaction box described above to also be used as the Faraday collector by a simple switching operation from the outside.
したがって本発明の特徴はつぎの諸点にある。Therefore, the features of the present invention are as follows.
(1)ガス導入管と連通した反応箱を包み込むように少
なくとも1個の中間箱を設けることにより、順次外側に
1個以上の中間室を設け、最外部の真空室である分析管
を排気する系とは別の少くとも1個の差動排気系によっ
て中間室を排気するようにしたこと。(1) By providing at least one intermediate box to enclose the reaction box that communicates with the gas introduction tube, one or more intermediate chambers are sequentially provided on the outside, and the analysis tube, which is the outermost vacuum chamber, is evacuated. The intermediate chamber is evacuated by at least one differential exhaust system separate from the system.
(2)反応箱を接地電位の他の部分に対して絶縁保持し
、これに電位を与えて反応箱内の反応と箱外の反応とを
区別したり、直流増幅器に接続して反応生成イオンの一
部を捕捉したりてきるようにしたこと。(2) Keep the reaction box insulated from other parts of the ground potential, apply a potential to it to distinguish the reaction inside the reaction box from the reaction outside the box, or connect it to a DC amplifier to ionize the reaction products. I was able to capture some of the information.
(3)この反応箱に真空外部からの操作を加え、入ロス
リフトから入射するイオンが反対側に貫通脱出しないよ
うにし、入射イオンの全量を測定できるようにしたこと
。(3) This reaction box was operated from outside the vacuum to prevent ions entering from the input loss lift from passing through and escaping to the opposite side, making it possible to measure the total amount of incident ions.
第2図は、本発明の1実施例におけるイオン軌道平面を
含むイオン分子反応相付近の断面図、第3図はこれに直
角で、イオン軌道に沿う第2図■−■断面図を示す。FIG. 2 is a cross-sectional view of the vicinity of the ion-molecule reaction phase including the ion orbital plane in one embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a cross-sectional view of FIG. 2 along the ion orbit at right angles thereto.
最内部にある反応箱8は反応ガス導入管11と同軸の円
筒形状をなし、その円筒壁に3個のスリット、すなわち
入口スリット9、出口スリット10および第3反リット
19が互いに直角をなす位置に設けられている。The innermost reaction box 8 has a cylindrical shape coaxial with the reaction gas introduction pipe 11, and has three slits in its cylindrical wall, namely an inlet slit 9, an outlet slit 10, and a third anti-slit 19 at positions at right angles to each other. It is set in.
その外側の円筒状の第1中間箱20にはイオン軌道に沿
って入口および出ロスリフト21.22が設けられる。The outer cylindrical first intermediate box 20 is provided with inlet and outlet loss lifts 21, 22 along the ion trajectory.
反応箱8と中間箱20とで第1中間室を形成し、前記中
間室は第一の排気系23によって排気されている。The reaction box 8 and the intermediate box 20 form a first intermediate chamber, and the intermediate chamber is exhausted by a first exhaust system 23.
第1中間箱20の更に外側には直方形の第2中間箱24
があり、イオンの入口と出口を構成するスリット3,5
はそれぞれ第2中間外箱の一部を形成する帽子状の板4
,6に穿孔され、第2中間箱24と第1中間箱20とで
第2中間室を形成する。Further outside the first intermediate box 20 is a rectangular second intermediate box 24.
There are slits 3 and 5 that constitute the entrance and exit of ions.
are hat-shaped plates 4 each forming a part of the second intermediate outer box.
, 6, and the second intermediate box 24 and the first intermediate box 20 form a second intermediate chamber.
前記第2中間室は第二の排気系25によって排気されて
いる。The second intermediate chamber is evacuated by a second exhaust system 25.
第2中間箱24の外側はイオン軌道の主部を収納する分
析管すなわち真空室26で、第三の排気系12によって
排気されている。Outside the second intermediate box 24 is an analysis tube or vacuum chamber 26 that houses the main part of the ion trajectory, and is evacuated by the third exhaust system 12.
全体としてスリット3,21,9,10,225はこの
順に一直線上に配置され、最内部の反応箱8の内部にあ
る中間集束点を通るイオンビームを妨げない程度になる
べく狭い幅、すなわちスリット9,10は約0.41n
m、スリット21.22は約0.5朋、スリット3,5
は約1順、としであるガス導入管11は気密用0リング
27を持つ絶縁軸受28により、また反応箱8の下部中
心軸29は絶縁軸受30によって、それぞれ回転自在に
支持され、これがロータリスインチと同様のクリックス
トップ付回転レバー機構31によって90°づつ回転さ
せ得るように構成され、図示の状態では、反応箱8ど周
囲(接地電位)との間に接点32を介して可変電圧7を
印加することができる(状態A)。Overall, the slits 3, 21, 9, 10, and 225 are arranged in a straight line in this order, and the width of the slit 9 is as narrow as possible without interfering with the ion beam passing through the intermediate focusing point inside the innermost reaction box 8. , 10 is approximately 0.41n
m, slit 21.22 is approximately 0.5 mm, slit 3.5
The gas inlet pipe 11 is rotatably supported by an insulated bearing 28 having an airtight O-ring 27, and the lower central shaft 29 of the reaction box 8 is rotatably supported by an insulated bearing 30. It is constructed so that it can be rotated in 90° increments by a rotation lever mechanism 31 with a click stop similar to that of an inch-inch, and in the state shown, a variable voltage 7 is applied between the reaction box 8 and the surroundings (ground potential) through a contact 32. can be applied (state A).
この状態Aから反応箱8を90°回転すると、スリット
19から入射したイオンビーム2が貫通することなく箱
の壁に捕捉されると同時に、レバー機構31が接点33
から二次電子抑制用の10V前後の固定電圧電源(電池
)34を介して直流増幅器35に接続され、その出力は
記録または指示用の計器36に供給される(状態B)。When the reaction box 8 is rotated 90 degrees from this state A, the ion beam 2 entering from the slit 19 is captured by the wall of the box without penetrating, and at the same time the lever mechanism 31 is moved to the contact point 33.
is connected to a DC amplifier 35 via a fixed voltage power supply (battery) 34 of about 10 V for suppressing secondary electrons, and its output is supplied to a recording or indicating meter 36 (state B).
更に90°回転すると、反応箱8はふたたびビーム貫通
位置をとるが、この状態では前の貫通状態Aのような可
変電圧印加でなく、入射全イオン捕捉状態Bと同じく、
電池34を介して増幅器35に接続される(状態C)。When the reaction box 8 is further rotated by 90 degrees, it assumes the beam penetration position again, but in this state, variable voltage is not applied as in the previous penetration state A, but as in the case of all incident ion trapping state B.
It is connected to an amplifier 35 via a battery 34 (state C).
更に90°回転すると、反応箱8はふたたび入射全イオ
ン捕捉状態Bと同様の機能を持ち、かつ入口スリットの
向きが状態Bとは180°反対の方向に向く(状態D)
。When further rotated by 90°, the reaction box 8 again has the same function as in the incident all ion trapping state B, and the orientation of the inlet slit is 180° opposite to that in state B (state D).
.
従来技術の一例として説萌したようなイオン分子反応測
定を行う場合には、状態Aのイオン貫通位置を使用する
。When performing an ion-molecule reaction measurement as described as an example of the prior art, the ion penetration position in state A is used.
高能率の多段差動排気により、反応箱8内の反応ガス分
子密度を箱外のそれの100〜1000倍に保°持で゛
きるので、反応箱の寸法をICrfLまたはそれ以下に
縮めても十分なイオン分子反応を起させることが可能と
なる。Highly efficient multi-stage differential pumping allows the density of reactant gas molecules inside the reaction box 8 to be maintained at 100 to 1000 times that outside the box, so even if the dimensions of the reaction box are reduced to ICrfL or less. It becomes possible to cause sufficient ionic and molecule reactions.
反応箱8の寸法が大きいとイオンとの衝突反応位置がば
らついて分散し、これに伴なってコレクタ部分における
結像位置にもずれを生じ、その結果ピーク位置が明瞭に
表われず、ピーク形状が崩れる欠点があるが、本発明に
よれば反応箱の寸法を小さくすることができ、反応位置
を集中させることができるので前記の欠点が改善される
。If the dimensions of the reaction chamber 8 are large, the positions of collision reactions with ions will be dispersed and dispersed, and this will cause a shift in the imaging position in the collector portion.As a result, the peak position will not be clearly displayed, and the peak shape will vary. However, according to the present invention, the dimensions of the reaction box can be reduced and the reaction positions can be concentrated, thereby improving the above-mentioned drawback.
ざら、に、反応箱内における反応ガスの密度を高くでき
るのでイオン分子反応が増強・強調されて高感度測定が
可能となるばかりでなく、反応ガスの使用量を著しく節
約することが可能となる。Furthermore, since the density of the reaction gas in the reaction chamber can be increased, the ionic and molecular reactions are enhanced and emphasized, making it possible not only to perform highly sensitive measurements, but also to significantly reduce the amount of reaction gas used. .
イオンの中間集束点を反応箱8の内部に位置させると各
スリットの寸法を小さくできるので、差動排気の能率向
上およびこれに基づく前記諸効果はより一層大となる。If the intermediate focusing point of ions is located inside the reaction box 8, the dimensions of each slit can be reduced, so that the efficiency of differential pumping and the aforementioned effects based thereon are further enhanced.
中間集束点を反応箱8の中心軸上ζこ置いたとき前記諸
効果は最大となる。When the intermediate focusing point is placed on the central axis of the reaction box 8, the above-mentioned effects are maximized.
また状態Cのイオン貫通位置を用いると、終段検知器に
よる反応イオン測定の他に、反応箱外に脱出しない反応
イオンを直接捕捉検知することができる。Furthermore, by using the ion penetration position in state C, in addition to measuring reactive ions using the final stage detector, it is possible to directly capture and detect reactive ions that do not escape outside the reaction chamber.
更に前段の磁場を掃引することにより中間集束点でのス
ペクトルを記録する場合や、磁場のみによるビーム集束
状況を監視しながらイオン光学的調節を行う場合、状態
Bの全イオン捕捉位置を用いると、中間集束点における
全イオン用ファラデーコレクタとして兼用することがで
きる。Furthermore, when recording a spectrum at an intermediate focusing point by sweeping the magnetic field in the previous stage, or when performing ion optical adjustment while monitoring the beam focusing situation only by the magnetic field, if all ion trapping positions in state B are used, It can also be used as a Faraday collector for all ions at the intermediate focusing point.
またイオン軌道の両端に位置するイオン源と終段検知器
とを入れ替え、電場先行形のイオン光学系として使用す
る場合、当該中間検知器を装着し直すことなく、単に外
部からの操作だけで、全イオン用ファラデーコレクタと
して使用することができる。In addition, when replacing the ion source and final stage detector located at both ends of the ion trajectory and using it as an electric field-leading type ion optical system, it is possible to simply operate from the outside without reinstalling the intermediate detector. Can be used as a Faraday collector for all ions.
以上に図示説明した実施例では3個の入口をそれぞれ独
立の排気系23,25.12に接続して差動排気する方
法を説明したが、このうち2個の排気系、例えば23と
25を1個の排気系で共通排気することも可能である。In the embodiment shown and explained above, a method was explained in which three inlets are connected to independent exhaust systems 23, 25, and 12 for differential exhaust, but two of these exhaust systems, for example 23 and 25, are It is also possible to perform common exhaust with one exhaust system.
また、前記実施例では反応箱を可変電圧電源7に接続し
たり、固定電圧電源34を介して直流増幅器35に接続
したりするための切換スイッチ機構31を、反応箱8自
体の回転と同期して動かすようになっているが、これは
別々に切換えても差支えない。Furthermore, in the embodiment described above, the changeover switch mechanism 31 for connecting the reaction box to the variable voltage power supply 7 or to the DC amplifier 35 via the fixed voltage power supply 34 is synchronized with the rotation of the reaction box 8 itself. Although it is designed to be operated by the switch, it is also possible to switch this separately.
また反応箱8のイオン貫通位置と全イオン捕捉位置とを
切換えるには、反応相全体をスリットの長さ方向に動か
して入口だけで出口のない状態を作ることも可能であり
、反応相自体は動かさずにイオン貫通用の出ロスリフト
に蓋をして全イオンを捕捉することもできる。Furthermore, in order to switch between the ion penetration position and the total ion trapping position of the reaction box 8, it is also possible to move the entire reaction phase in the length direction of the slit to create a state where there is only an inlet and no outlet; It is also possible to trap all ions by covering the output loss lift for ion penetration without moving it.
したがって反応ガス導入管と反応箱を同軸回転可能に作
ることも、反応箱を円筒形に作ることも、あるいはまた
第3スリツト19を入口、出口スリット9.10に対し
て90度位置に設けることも絶対的な条件ではない。Therefore, it is possible to make the reaction gas introduction pipe and the reaction box coaxially rotatable, to make the reaction box cylindrical, or to provide the third slit 19 at a position of 90 degrees with respect to the inlet and outlet slits 9.10. is not an absolute condition either.
また反応箱をファラデーコレクタとして使用する場合の
固定電圧は、接地スリットとファラデーコレクタとの間
に別のスリット電極を設けてこれに印加してもよく、本
実施例のように入口の極めて狭い容器の場合は省略して
もよい。Furthermore, when the reaction box is used as a Faraday collector, a fixed voltage may be applied to a separate slit electrode provided between the ground slit and the Faraday collector. It can be omitted in this case.
固定電圧電源と可変電圧電源を共用とすることも原理的
には可能であり、実用的にはこの電源を増幅器の出力側
(低インピーダンス側)に設ける方法もある。In principle, it is possible to share a fixed voltage power supply and a variable voltage power supply, and in practice, there is also a method of providing this power supply on the output side (low impedance side) of the amplifier.
以上の説明は磁場が先行する二重集束形質量分析計につ
いて説明したが、電場先行の装置でも、また一般に複数
の偏向場を有するイオン光学系でさえあれば適用できる
。Although the above description has been made regarding a dual-focusing mass spectrometer in which a magnetic field precedes the spectrometer, it can also be applied to an apparatus in which an electric field precedes, and generally any ion optical system having a plurality of deflection fields.
本発明によれば、二重集束型質量分析装置および類似装
置の中間集束点にイオン分子反応相兼用の検知器を置き
、イオン分子反応のより精密な測定を可能ならしめるだ
けでなく、単一イオン光学系による分析や調整を便利な
らしめ、装置の利用度、多能性を著しく向上させる効果
がある。According to the present invention, a detector that also serves as an ion-molecule reaction phase is placed at the intermediate focusing point of a dual-focusing mass spectrometer or similar device, which not only enables more precise measurement of ion-molecule reactions, but also enables single-focus mass spectrometry. This has the effect of making analysis and adjustment using the ion optical system convenient, and significantly improving the usability and versatility of the device.
第1図は従来の質量分析装置の概略構成図、第2図は本
発明の一実施例の質量分析装置の中間集束点付近の断面
図、第3図は第2図II−I線にそう断面図である。
2・・・・・・入射イオンビーム、3.21、9・・・
・・・入ロスリフト、5,22,10・・・・・・出ロ
スリフト、8・・・・・・反応箱、11・・・・・・反
応ガス導入管、12゜23.25・・・・・・排気系、
19・・・・・・第3スリツト、20・・・・・・第1
中間箱、24・・・・・・第2中間箱、26・・・・・
・分析管、35・・・・・・直流増幅器。FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a conventional mass spectrometer, FIG. 2 is a cross-sectional view of a mass spectrometer according to an embodiment of the present invention near the intermediate focusing point, and FIG. 3 is a diagram similar to the line II-I in FIG. FIG. 2...Incoming ion beam, 3.21, 9...
... Input loss lift, 5, 22, 10 ... Output loss lift, 8 ... Reaction box, 11 ... Reaction gas introduction pipe, 12゜23.25 ... ...exhaust system,
19...3rd slit, 20...1st
Intermediate box, 24...Second intermediate box, 26...
・Analysis tube, 35...DC amplifier.
Claims (1)
析管内に直列に設置され、その中間にイオンビーム集束
点をもつ2個の偏向場を備えたイオン光学系と、前記イ
オンビームの通路上に配置され、かつイオン通路を妨げ
ないような入口および出ロスリフトを設けられた反応箱
と、前記反応箱に反応ガスを供給する反応ガス導入管と
、前記反応箱を取囲んで配置され、前記分析管と反応箱
との間に少なくとも1つの中間室を形成し、かつイオン
通路を妨げないようなスリットヲ設けられた中間箱と、
前記中間室および分析管を多段差動排気する複数の排気
系とを具備すること(特徴とする質量分析装置。 2 反応箱を絶縁保持し、接地電位ζこある中間室との
間に電圧を印加することにより、反応箱内での反応とそ
の外部の接地電位部分での反応と、を後段検知器によっ
て区別可能としたことを特徴とする特許請求の範囲第1
項記弊の質量分析装置。 3 反応箱を絶縁保持して直流増幅器の入力に接続する
ことにより、イオン分子反応によって生成されたイオン
を捕捉する検知器として作動させることを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載の質量分析装置。 4 絶縁保持された反応箱を入口スリットはあるが出口
スリットは無い状態に切換えることにより、前段偏向場
を通過したイオンビームの専用検知器として作動させる
ことを特徴とする特許請求の範囲第3項記載の質量分析
装置。 5 反応箱を絶縁保持して第3スリツトを設け、前記反
応箱を真空外部から回転可能に構成し、前記回転に連動
して反応箱と接地電位中間室との間に電圧を印加するか
、反応箱を直流増幅器入力に接続するかの切換を行なう
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の質量分析
装置。 6 反応箱が前記イオンビームの集束点を取囲んで配置
されたことを特徴とする特許請求の範囲第1ないし第5
項のいずれかに記載の質量分析装置。[Scope of Claims] 1. An ion optical system including an analysis tube through which an ion beam passes, two deflection fields installed in series within the analysis tube and having an ion beam focusing point in the middle; A reaction box arranged on the path of the ion beam and provided with an inlet and an exit loss lift that do not obstruct the ion path, a reaction gas introduction pipe that supplies a reaction gas to the reaction box, and a reaction box surrounding the reaction box. an intermediate box arranged with a slit that forms at least one intermediate chamber between the analysis tube and the reaction box and does not obstruct the ion passage;
A mass spectrometer comprising a plurality of evacuation systems for differentially evacuation of the intermediate chamber and the analysis tube in multiple stages. Claim 1, characterized in that by applying the voltage, a reaction within the reaction box and a reaction at a ground potential portion outside the reaction box can be distinguished by a subsequent detector.
Our mass spectrometer. 3. The mass spectrometer according to claim 1, wherein the reaction box is insulated and connected to the input of a DC amplifier, thereby operating as a detector that captures ions generated by ion-molecule reactions. Device. 4. Claim 3, characterized in that by switching the insulated reaction box to a state where it has an entrance slit but no exit slit, it can be operated as a dedicated detector for the ion beam that has passed through the front deflection field. Mass spectrometer as described. 5. The reaction box is insulated and provided with a third slit, the reaction box is configured to be rotatable from outside the vacuum, and a voltage is applied between the reaction box and the ground potential intermediate chamber in conjunction with the rotation, or The mass spectrometer according to claim 1, characterized in that the connection of the reaction box to the DC amplifier input is switched. 6. Claims 1 to 5, characterized in that a reaction box is arranged surrounding the focal point of the ion beam.
2. The mass spectrometer according to any of the above.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51109789A JPS5816596B2 (en) | 1976-09-16 | 1976-09-16 | mass spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51109789A JPS5816596B2 (en) | 1976-09-16 | 1976-09-16 | mass spectrometer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5336291A JPS5336291A (en) | 1978-04-04 |
| JPS5816596B2 true JPS5816596B2 (en) | 1983-03-31 |
Family
ID=14519250
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51109789A Expired JPS5816596B2 (en) | 1976-09-16 | 1976-09-16 | mass spectrometer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5816596B2 (en) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60165034A (en) * | 1984-02-07 | 1985-08-28 | Shimadzu Corp | Fragmentation ion analyzer using collisional activation |
| JPS60165033A (en) * | 1984-02-07 | 1985-08-28 | Shimadzu Corp | Fragmentation ion analyzer using collisional activation |
| US10948456B1 (en) * | 2019-11-27 | 2021-03-16 | Mks Instruments, Inc. | Gas analyzer system with ion source |
-
1976
- 1976-09-16 JP JP51109789A patent/JPS5816596B2/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5336291A (en) | 1978-04-04 |
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