JPS5822989B2 - Digital hand warmer - Google Patents
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- JPS5822989B2 JPS5822989B2 JP50094004A JP9400475A JPS5822989B2 JP S5822989 B2 JPS5822989 B2 JP S5822989B2 JP 50094004 A JP50094004 A JP 50094004A JP 9400475 A JP9400475 A JP 9400475A JP S5822989 B2 JPS5822989 B2 JP S5822989B2
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- G—PHYSICS
- G04—HOROLOGY
- G04D—APPARATUS OR TOOLS SPECIALLY DESIGNED FOR MAKING OR MAINTAINING CLOCKS OR WATCHES
- G04D7/00—Measuring, counting, calibrating, testing or regulating apparatus
- G04D7/002—Electrical measuring and testing apparatus
- G04D7/003—Electrical measuring and testing apparatus for electric or electronic clocks
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Description
本発明は、ICデスク−等によるロジックテストに適す
るデジクル時計用の集積回路に関する。
従来、デジタル時計用の集積回路は、発振用増巾回路及
び分周回路を有し、さらに分周回路から縦続的に接続さ
れた秒カウンタ、分カウンタ、時カウンタを備え、これ
ら各々のカウンタは同じく集積回路に備えられたデコー
ダ及びドライバーを介して出力用の外部端子に接続構成
されている。
この集積回路をデジタル時計に使用される場合には、集
積回路の出力用の各外部端子は液晶表示装置或いは発光
ダイオード表示装置等に各々接続構成され時刻表示を行
うものであり、さらに、この集積回路単体をICデスク
−によりロジックテス1〜を行なう場合には、集積回路
の出力用の各外部端子とICテスターからの各プローバ
端子とを接続させ、各外部端子からの論理レベル〔1〕
或いは論理レベルThe present invention relates to an integrated circuit for a digital clock suitable for logic testing using an IC desk or the like. Conventionally, an integrated circuit for a digital watch has an oscillation amplifying circuit and a frequency dividing circuit, and further includes a second counter, a minute counter, and an hour counter connected in cascade from the frequency dividing circuit, and each of these counters is Similarly, it is configured to be connected to an external terminal for output via a decoder and driver provided in the integrated circuit. When this integrated circuit is used in a digital clock, each external terminal for output of the integrated circuit is configured to be connected to a liquid crystal display device, a light emitting diode display device, etc. to display the time. When performing logic tests 1 to 1 on a single circuit using an IC desk, connect each external terminal for output of the integrated circuit to each prober terminal from the IC tester, and check the logic level [1] from each external terminal.
or logical level
〔0〕の出力電圧の測定、いわゆるロ
ジックテストを行なうものでこのとき、集積回路の各カ
ウンタは、秒カウンタ、分カウンタ、時カウンタの順序
で縦続的な計数動作をさせて、各カウンタのとるすべて
の計数状態に於る出力用の各外部端子の出力電圧を測定
しているため、ロジックテストに長時間を要していた。
又、近年、デジタル時計には、秒、分、時の時刻情報の
表示のみならず限月等の時系列情報を表示するものまで
が出現するに到り、そのデジタル式時計の集積回路は限
月等の時系列情報を計数するためのカウンタが、秒、分
、時のカウンタに縦続的に附加構成され、集積回路のロ
ジックテス1へをより一層の時間を費やしていた。
本発明の目的は、上記欠点に鑑み、ICテスター等によ
り短時間でロジックテストを可能とするよう考慮された
デジタル時計用集積回路を提供することにある。
以下、図面に基づき本発明のデジタル時計用集積回路の
具体例を説明する。
第1図は本発明のデジタル時計用集積回路を示すブ菊ツ
ク図である。
第1図に於て、1はデジタル時計用集積回路の全体を示
している。
2は発振用増巾回路であり、この発振用増巾回路2は集
積回路1の発振用の外部端子2a及び2bを介してデジ
タル時計として使用する際の水晶振動子及びコンデンサ
の接続により発振回路を構成する。
又、ロジックテストの際はICテスターからの3276
8Hzの周波数信号が外部端子2a及び2bに供給され
る。
3は分周回路であり、発振用増巾回路2の発振回路構成
により発生する発振信号を1.Hzの分周信号まで周波
数を低減するだめのもので、本実施例では発振周波数を
32768Hzとして、15段の分周器が縦続的に接続
構成されている。
4a、4b、4c、、4dは桁上げ禁止を制御するため
のORゲート、5at5b)5c+5ci+5eは計数
人力信号を切替える制御回路であり、この各々の制御回
路5a〜5eは、図中〔φ〕で示される論理1ノベル〔
1〕で導通するトランスミッションゲート(以下T、G
と略記する)と、これと相補的な動作をとる図中〔メ〕
で示される論理レベルThe purpose is to measure the output voltage of [0], a so-called logic test. At this time, each counter of the integrated circuit performs a cascade counting operation in the order of second counter, minute counter, and hour counter, and Since the output voltage of each external terminal for output in all counting states was measured, logic tests took a long time. In addition, in recent years, digital watches that display not only time information such as seconds, minutes, and hours, but also time series information such as contract months have appeared, and the integrated circuits of these digital watches have become limited. A counter for counting time-series information such as the month was added in series to the second, minute, and hour counters, and it took even more time to complete logic test 1 of the integrated circuit. SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above-mentioned drawbacks, an object of the present invention is to provide an integrated circuit for a digital watch that is designed to enable logic testing in a short time using an IC tester or the like. Hereinafter, a specific example of the integrated circuit for a digital watch according to the present invention will be explained based on the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an integrated circuit for a digital watch according to the present invention. In FIG. 1, numeral 1 indicates the entire integrated circuit for a digital watch. 2 is an oscillation amplification circuit, and this oscillation amplification circuit 2 is connected to an oscillation circuit by connecting a crystal oscillator and a capacitor when used as a digital clock via external terminals 2a and 2b for oscillation of the integrated circuit 1. Configure. Also, during logic testing, 3276 from the IC tester
A frequency signal of 8 Hz is supplied to external terminals 2a and 2b. 3 is a frequency dividing circuit, which divides the oscillation signal generated by the oscillation circuit configuration of the oscillation amplifier circuit 2 into 1. It is intended to reduce the frequency to a frequency-divided signal of Hz, and in this embodiment, the oscillation frequency is set to 32768 Hz, and 15 stages of frequency dividers are connected in cascade. 4a, 4b, 4c, and 4d are OR gates for controlling carry prohibition, and 5at5b) 5c+5ci+5e are control circuits for switching the counting manual signal. Logic 1 novel shown [
1) transmission gate (hereinafter referred to as T, G
(abbreviated as ) and [Me] in the figure, which takes a complementary action.
logical level indicated by
〔0〕によって導通するT 、
C’rとより構成されているが、この制御回路5a〜5
eをANDゲート、ORゲート及びインバーターの組合
せによっても構成することもできる。
6aは60進計数動作を行なう秒カウンタ、6bは60
進計数動作を行なう分カウンタ、6cは24進計数動作
を行な・う時カウンタ、6dは31進語数動作を行なう
Hカウンタ、6eは12進計数動作を行なう月カウンタ
であり、これら各カウンタ6a〜6eの間には前記OR
ゲー1−4a〜4d及び制御回路53〜5eが図示する
如く各々が挿入されてなる接続構成をとる。
7は表示切替回路であり、カウンタ6a〜6cの時刻情
報である秒、分、時の内容と、カウンタ5d 、 6e
の時系列情報である日、月の内容とを切替えるものであ
って、この切替動作は後述するNOR、ゲート30の出
力信号によって行なわれるよう構成されている8はデコ
ーダー及びドライバーとで構成される出力回路であり、
この出力回路8により前記表示切替回路7で切替えられ
た時刻情報或いは時系列情報の内容がコード化され、さ
らにデジタル式時計として使用する際に接続される液晶
表示装置等の表示を行なうに適した動作電圧に変換され
て集積回路1の出力用の外部端子81.8−2 。
8−nに導出するよう構成されている。
9は集積回路1の外部端子であり、この外部端子9はデ
ジタル時計として使用する際のデジタル時計に備えられ
た押ボタンスイッチに接続されて、時刻情報及び時系列
情報の表示切替操作成いは時刻情報及び時系列情報の内
容の修正操作を行なう。
又、I Cテスターによる集積回路1のロジックテスト
の際には、この外部端子9はICテスターからの計数入
力信号を供給する入力端子となる。
10は外部端子9に接続されてなるチャクリング防止回
路で、分周回路3の高段からの分周信号により同期して
動作する構成がなされている。
このチャタリング防止1回路10の出力端は同じく分周
回路3の高段からの分周信号により同期動作する11の
ワンショット回路の入力端に接続されている。
このワンショット回路11の出力端は各制御回路5a〜
5eの〔φ〕側T、Gの導通路端に並列的に接続される
とともにANDゲート12の入力端の一方に接続される
。
このANDゲー1〜12の入力端の他方は後述するシフ
トレジスタ20を構成するフリップ・フロップ20aの
肯定出力端に接続される。
さらにこのA、NDゲート12の出力端はフリップ・フ
ロップ13の入力端CLに接続されている。
14は集積回路1の外部端子であり、この外部端子14
はデジタル時計として使用する際のデジタル時計に備え
られた押ボタン・スイッチに接続されて、時刻情報及び
時系列情報の内容の修正操作を行なう前の修正桁の選択
操作を行なう。
父、I Cデスク−による集積回路1のロジックデス1
への際には、この外部端子14にI Cデスタ−からの
前記表示切替回路7を日、月の時系列情報に切替えるた
めの表示切替信号が供給される。
15は外部端子14に接続されてなるチャフI)ング防
市回路であり、前記チャクリング防止回路10と同様の
ものである。
このチャクリング防止回路15の出力端は16のワンシ
ョット回路の入力端に接続されてなり、前記ワンショッ
ト回路11と同様のものである。
ワンショツ1へ回路16の出力端は17のANDゲート
の入力端の一方に接続され、ANDゲート17の入力端
の他方は後述するORゲート28の出力端からインバー
タ18を介して接続構成されている。
19はANDゲートであり、このANDゲート19の入
力端の一方は前記フリップ・フロップ13の否定出力端
Qに接続され、入力端の他方は前記ANDゲート17の
出力端と接続されている。
20は各カウンター6b〜6eのうちで、修正すべき特
定桁のカウンターを選択するための修正桁選択回路を構
成するシフ1へ・レジスタであり、このシフト・レジス
タ20は20a 、20b 、20C。
20d 、20eの各5ビツトのフリップ・フロップよ
り構成されている。
21.22は集積回路1のデス1〜用の外部端子、23
.24はインパーク、25.26.27はANDゲート
であり、外部端子21はANDゲート25及びANDゲ
ート26の入力端の一方に接続されるとともにインバー
タ23を介してANDゲート27の入力端の一方に接続
され、さらに外部端子22はANDゲート26及びA、
NDゲート27の入力端の他方に接続されるとともにイ
ンバータ24を介してANI)ゲート25の入力端の他
方に接続されている。
28は3人力ORゲートであり、ANDゲート25,2
6及び27の各出力端がORデー1〜28の各入力端に
接続されてなり、外部端子21又は外部端子22が論理
レベル〔1〕に設定されるテスト状態のときは常にOR
ゲート28の出力端は論理レベル〔1〕となる。
尚、前述構成21〜28及び後述するORゲート群31
の構成とによってテスト設定手段を構成している。
29はANDケート、30は4人力1’JORゲートで
あり、ANT)ゲー1へ29の入力端の一方はチャクリ
ング防止回路15の出力端と接続され、ANI)ゲート
29の入力端の他方はORゲー1−28の出力端に接続
されている。
NOR’T−ト30の各入力端は、フリップ・フロップ
13の肯定出力端Qと、シフトレジスタ20を構成する
フリップ・フロップ20d及び20eの出力端と、AN
Dゲート29の出力端と接続され、NORゲート30の
出力端は表示切替回路の切替制御端7aに接続されてい
る。
31はORゲー1へ群であり、このORゲート群31は
5個のORゲート31a 〜31eより構成されており
、ORゲート31aの各入力端はANDゲート26及び
A、NDゲート27の各出力端に接続され、ORゲート
31aの出力端からの出力信号によって制御回路5aの
T、G(φ〕及びT、G〔7〕の導通制御を行なうよう
構成されている。
ORゲー1−3 l bの各入力端はシフトレジスタ2
0を構成するフリップ・フロップ20bの出力端と、A
、NDゲート26の出力端と接続され、ORゲート31
bの出力端からの出力信号によって制御回路5bのT、
G(φ〕及びT、G(φ〕の導通制御を行なうよう構成
されている。
又、OR,ゲート31cの各入力端はシフト・レジスタ
20を構成するフリップ・フロップ20Cの出力端と、
ANDゲー1−26の出力端と接続され、ORゲ゛−ト
31cの出力端からの出力信号によって制御回路5cの
T、G(φ〕及びT、G(φ〕の導通制御を行なうよう
構成されている。
3人力ORゲート31aの各入力端はシフトレジスタ2
0を構成するフリップ・フロップ20dの出力端とAN
Dゲ゛−ト26及びANI)ゲート27の出力端と接続
され、ORゲ゛−451dの出力端からの出力信号によ
って制御回路5dのT、G〔φ〕及びr、G(φ〕の導
通制御を行なうよう構成されている。
さらに、ORゲー・ト31eの各入力端は、シフトレジ
スタ20を構成するフリップ・フロップ20eの出力端
と、ANDゲート26の出力端と接続され、ORゲ゛−
h 31 eの出力端からの出力信号によって制御回路
5eのT、G(φ〕及びT、G (φ〕の導通制御を行
なうよう構成されている。
なお、ORゲート4a〜4dの桁上げ禁H・−動作は、
ORゲート4a〜4dの各入力端と接続されるANDゲ
ート28とシフトレジスタ20を構成するフリップ・フ
ロップ20b〜20dの各々の出力端からの独立した出
力信号によって行なわれるよう構成されている。
さらに、本実施例の第1図中省略されているが、集積回
路1を動作させるための電源用の外部端子が備えられて
いることは言うまでもない。
以上、不発明のデジタル時計用の集積回路1の構成に基
づき、先づ、集積回路1をデジタル時計に使用したとき
の基本動作について説明する。
集積回路1の外部端子2a及び2bには32768Hz
の水晶振動子と、トリマーコンデンサ及び固定コンデン
サが接続され発振用増巾回路2とともに発振回路を構成
し、外部端子8−1,8−2・・・3−nは液晶表示装
置に接続され、さらに外部端子9は表示切替用及び修正
用を併ねた押ボタンスイッチに接続され、又、外部端子
14は修正桁選択用の押ボタンスイッチに接続される。
又、集積回路1の電源用外部端子にはデジタル時計に備
えられた電池から電力が供給されるよう接続される。
テスト用の外部端子21及び22は集積回路1がデジタ
ル時計に使用されるときは外部との接続はされない。
従ってANDゲート25,26.27と、ORゲート2
8及びANDゲ゛−ト29の出力端はVss電位である
論理レベルT conducts through [0],
C'r, and these control circuits 5a to 5
e can also be configured by a combination of an AND gate, an OR gate, and an inverter. 6a is a second counter that performs sexagesimal counting operation, 6b is 60
6c is a minute counter that performs decimal counting; 6c is an hour counter that performs 24-decimal counting; 6d is an H counter that performs 31-decimal word counting; and 6e is a month counter that performs decimal counting. -6e is the above OR
A connection configuration is adopted in which the games 1-4a to 4d and the control circuits 53 to 5e are inserted as shown in the figure. 7 is a display switching circuit that displays the contents of seconds, minutes, and hours, which are time information of counters 6a to 6c, and counters 5d and 6e.
8 is configured to switch between day and month time series information, and this switching operation is performed by an output signal from a NOR gate 30, which will be described later. 8 is composed of a decoder and a driver. It is an output circuit,
The content of the time information or time series information switched by the display switching circuit 7 is encoded by this output circuit 8, and is further suitable for displaying on a liquid crystal display device etc. connected when used as a digital clock. External terminal 81.8-2 for output of integrated circuit 1 converted into operating voltage. 8-n. Reference numeral 9 denotes an external terminal of the integrated circuit 1, and this external terminal 9 is connected to a pushbutton switch provided in the digital watch when used as a digital watch, and is used for switching the display of time information and time series information. Modify the contents of time information and time series information. Further, when performing a logic test on the integrated circuit 1 by an IC tester, this external terminal 9 becomes an input terminal for supplying a count input signal from the IC tester. Reference numeral 10 denotes a chuckling prevention circuit connected to the external terminal 9, and is configured to operate in synchronization with a frequency division signal from a higher stage of the frequency division circuit 3. The output terminal of this chattering prevention circuit 10 is also connected to the input terminals of eleven one-shot circuits which operate in synchronization with the frequency division signal from the higher stage of the frequency division circuit 3. The output terminal of this one-shot circuit 11 is connected to each control circuit 5a to
It is connected in parallel to the ends of the conductive paths T and G on the [φ] side of 5e, and also connected to one of the input ends of the AND gate 12. The other input terminals of the AND games 1 to 12 are connected to the positive output terminal of a flip-flop 20a constituting a shift register 20, which will be described later. Further, the output terminal of this A, ND gate 12 is connected to the input terminal CL of a flip-flop 13. 14 is an external terminal of the integrated circuit 1;
is connected to a pushbutton/switch provided in a digital watch when used as a digital watch, and is used to select a correction digit before correcting the contents of time information and time series information. Logic Death 1 of Integrated Circuits 1 by Father, IC Desk
At this time, a display switching signal for switching the display switching circuit 7 to the day and month time series information is supplied from the IC data to the external terminal 14. Reference numeral 15 denotes a chaffing prevention circuit connected to the external terminal 14, and is similar to the chuckling prevention circuit 10 described above. The output terminal of this chuckling prevention circuit 15 is connected to the input terminal of 16 one-shot circuits, which are similar to the one-shot circuit 11 described above. The output terminal of the one-shot 1 circuit 16 is connected to one of the input terminals of an AND gate 17, and the other input terminal of the AND gate 17 is connected to the output terminal of an OR gate 28, which will be described later, via an inverter 18. . Reference numeral 19 denotes an AND gate, one of its input terminals is connected to the negative output terminal Q of the flip-flop 13, and the other input terminal is connected to the output terminal of the AND gate 17. Reference numeral 20 denotes a shift 1 register constituting a correction digit selection circuit for selecting a specific digit counter to be corrected among the counters 6b to 6e, and this shift register 20 includes 20a, 20b, and 20C. It consists of 5-bit flip-flops 20d and 20e. 21. 22 are external terminals for des 1~ of integrated circuit 1, 23
.. 24 is an impark; 25, 26, and 27 are AND gates; Further, the external terminal 22 is connected to an AND gate 26 and A,
It is connected to the other input terminal of the ND gate 27 and also connected to the other input terminal of the ANI gate 25 via the inverter 24. 28 is a three-man OR gate, AND gate 25, 2
Each output terminal of 6 and 27 is connected to each input terminal of OR data 1 to 28, and when the external terminal 21 or 22 is in a test state where the logic level is set to [1], the OR data is always connected to the input terminal of OR data 1 to 28.
The output terminal of gate 28 becomes logic level [1]. Note that the configurations 21 to 28 described above and the OR gate group 31 described later
This configuration constitutes a test setting means. 29 is an AND gate, 30 is a four-man power 1' JOR gate, one of the input terminals of 29 to the ANT) gate 1 is connected to the output terminal of the chuckling prevention circuit 15, and the other input terminal of the ANI) gate 29 is connected to the output terminal of the chuckling prevention circuit 15. It is connected to the output terminal of OR game 1-28. Each input terminal of the NOR'T-to 30 is connected to the positive output terminal Q of the flip-flop 13, the output terminals of the flip-flops 20d and 20e constituting the shift register 20, and the AN
It is connected to the output terminal of the D gate 29, and the output terminal of the NOR gate 30 is connected to the switching control terminal 7a of the display switching circuit. 31 is a group to the OR gate 1, and this OR gate group 31 is composed of five OR gates 31a to 31e, and each input terminal of the OR gate 31a is connected to each output of the AND gate 26 and A, and the ND gate 27. It is connected to the terminal and is configured to control the conduction of T, G (φ) and T, G [7] of the control circuit 5a by the output signal from the output terminal of the OR gate 31a. Each input terminal of b is shift register 2
0 and the output terminal of the flip-flop 20b constituting A
, is connected to the output terminal of the ND gate 26, and is connected to the output terminal of the OR gate 31.
T of the control circuit 5b by the output signal from the output terminal of b.
It is configured to control the conduction of G(φ) and T, G(φ). Also, each input terminal of the OR gate 31c is connected to the output terminal of the flip-flop 20C constituting the shift register 20,
It is connected to the output terminal of the AND gate 1-26, and is configured to control the conduction of T, G (φ) and T, G (φ) of the control circuit 5c by the output signal from the output terminal of the OR gate 31c. Each input terminal of the three-man OR gate 31a is connected to the shift register 2.
The output terminal of the flip-flop 20d constituting 0 and the AN
It is connected to the output terminal of the D gate 26 and the ANI gate 27, and conduction of T, G [φ] and r, G (φ) of the control circuit 5d is performed by the output signal from the output terminal of the OR gate 451d. Furthermore, each input terminal of the OR gate 31e is connected to the output terminal of the flip-flop 20e constituting the shift register 20 and the output terminal of the AND gate 26. −
It is configured to control the conduction of T, G (φ) and T, G (φ) of the control circuit 5e by the output signal from the output terminal of h31e. H・-The operation is
The operation is performed by independent output signals from an AND gate 28 connected to each input terminal of the OR gates 4a to 4d and from each output terminal of the flip-flops 20b to 20d constituting the shift register 20. Furthermore, although omitted in FIG. 1 of this embodiment, it goes without saying that an external terminal for power supply for operating the integrated circuit 1 is provided. Based on the configuration of the inventive integrated circuit 1 for a digital watch, first, the basic operation when the integrated circuit 1 is used in a digital watch will be explained. 32768Hz to external terminals 2a and 2b of integrated circuit 1
A crystal resonator, a trimmer capacitor, and a fixed capacitor are connected to form an oscillation circuit together with the oscillation amplifier circuit 2, and external terminals 8-1, 8-2, . . . 3-n are connected to a liquid crystal display device, Further, the external terminal 9 is connected to a push button switch for display switching and correction, and the external terminal 14 is connected to a push button switch for selecting a correction digit. Further, the integrated circuit 1 is connected to an external terminal for power supply so that power is supplied from a battery included in the digital watch. The external test terminals 21 and 22 are not connected to the outside when the integrated circuit 1 is used in a digital watch. Therefore, AND gates 25, 26, 27 and OR gate 2
8 and the output terminal of AND gate 29 is at the logic level which is Vss potential.
〔0〕に医たれる。
このとき、シフ1へレジスフ20の内容がフリップフロ
ップ20aの出力端が論理レベル〔1〕で他のフリップ
フロップ20b〜20eの出力端が論理レベル(0〕で
あり、且つ、フリップフロップ13の肯定出力端が論理
レベルI was treated by [0]. At this time, the contents of register 20 to shift 1 are such that the output terminal of flip-flop 20a is at logic level [1], the output terminals of other flip-flops 20b to 20e are at logic level (0), and the output terminal of flip-flop 13 is at logic level [0]. Output terminal is logic level
〔0〕であるノーマル状態とするとき、NORゲ
ート30の出力端は論理レベル〔1〕の出力信号を発し
表示切替回路7によりカウンタ6a〜6cの時刻情報に
切替えられた表示駆動回路8からの外部端子8−1゜8
−2・・・・・・8−nに接続されている液晶表示装置
は時、分、秒の時刻表示が行なわれる。
このとき、0、Rゲート群31の各出力端は論理レベル
〔O〕となっているため制御回路5a〜5eのT、G〔
φ〕は非導通でT、G(φ〕は導通状態をとり。
さらにORゲート4a〜4dは桁上げ禁止動作をとって
いないので、分周回路3からの分周信号によって順次カ
ウンタ6a〜6eを計数さぜる。
以上がデジタル時計としてのノーマルな状態であり、こ
こでデジタル時計を月、日の表示に切替えたいときは外
部端子9に接続されてなる押ボタンスイッチの押操作を
行なう。
この押操作によって、チャタリング防止回路10を介し
てワンショット回路11の出力端は所定期間論理レベル
〔1〕となりANDゲート12の入力端の一方に供給さ
れる。
このANDゲート12の入力端の他方はあらかじめフリ
ップフロップ20aによって論理レベル〔1〕に設定さ
れて待期しているのでANT)ゲート12の出力端は論
理レベル〔1〕になり、フリップ・フロップ13の肯定
出力端を論理レベル〔1〕に反転させ、NORゲート3
0の出力信号を論理レベル〔O〕とし表示切替回路7を
月、日の時系列情報に切替動作させ表示駆動回路8を介
して液晶表示装置を月、日の表示動作を行なわせる。
再び、時、分、秒の表示にもどすには、フリップ・フロ
ップ13の肯定出力端を再び論理レベル[0], which is the normal state, the output terminal of the NOR gate 30 emits an output signal of logic level [1], and the display drive circuit 8 switches to the time information of the counters 6a to 6c by the display switching circuit 7. External terminal 8-1゜8
The liquid crystal display device connected to -2...8-n displays the time in hours, minutes, and seconds. At this time, since each output terminal of the 0 and R gate group 31 is at the logic level [O], the T and G of the control circuits 5a to 5e are
φ] is non-conductive, and T and G(φ) are conductive.Furthermore, since the OR gates 4a to 4d do not perform a carry prohibition operation, the counters 6a to 6e are sequentially controlled by the frequency dividing signal from the frequency dividing circuit 3. The above is the normal state of the digital watch, and if you want to switch the digital watch to display the month and day, press the pushbutton switch connected to the external terminal 9. By this pressing operation, the output terminal of the one-shot circuit 11 becomes a logic level [1] for a predetermined period of time via the chattering prevention circuit 10, and is supplied to one of the input terminals of the AND gate 12.The other input terminal of the AND gate 12 is set to logic level [1] by flip-flop 20a in advance and is waiting, so the output terminal of ANT) gate 12 becomes logic level [1], and the positive output terminal of flip-flop 13 becomes logic level [1]. and NOR gate 3
The output signal of 0 is set to logic level [O], and the display switching circuit 7 is operated to switch to the time-series information of the month and day, and the liquid crystal display device is caused to display the month and day via the display drive circuit 8. To return to the display of hours, minutes, and seconds, the positive output terminal of flip-flop 13 is brought back to logic level.
〔0〕にもどす
外部端子9に接続された押ボタン・スイッチの押操作に
よって行なわれる。
次に、時の時刻修正を例にとってデジタル時計の時刻修
正動作を説明する。
先ず、デジタル時計としての集積回路1が前述した時、
分、秒の表示動作を行なうノーマルな状態にあるとする
と、ANDゲート17の入力端の一方はORゲート28
からインバータ18を介して常に論理レベル〔1〕に設
定されて待期しており、同様にANDゲート19の入力
端の一方もフリップ・フロップ13の否定出力端の論理
レベル〔1〕に設定されて待期しており、ここで外部端
子14に接続されている押ボタン・スイッチを断続した
2回の押操作を行なうことによって、ANDゲート17
及び19を介してシフトレジスタ20に2パルスのシフ
ト信号が与えられ、シフトレジスタ20のノーマル状態
すなわちフリップ・フロップ20aが論理レベル〔1〕
で他のフリップ・フロップ20b〜20eが論理レベル
〔O〕の修正桁兼選択状態からフリップ・フロップ20
Cが論理レベル(1)で他のフリップ・フロップ20a
。
2Qb 、20d 、20eが論理レベルThis is done by pressing a pushbutton switch connected to the external terminal 9 that returns to [0]. Next, the time adjustment operation of a digital clock will be explained using the time adjustment as an example. First, when the integrated circuit 1 as a digital clock is described above,
Assuming that the minutes and seconds are displayed in a normal state, one of the input terminals of the AND gate 17 is connected to the OR gate 28.
is always set to the logic level [1] through the inverter 18 and is waiting, and similarly, one of the input terminals of the AND gate 19 is also set to the logic level [1] of the negative output terminal of the flip-flop 13. The AND gate 17 is then activated by pressing the push button switch connected to the external terminal 14 twice intermittently.
A two-pulse shift signal is applied to the shift register 20 through the terminals 1 and 19, and the shift register 20 is in the normal state, that is, the flip-flop 20a is at the logic level [1].
Then, the other flip-flops 20b to 20e change from the logic level [O] correction digit and selected state to the flip-flop 20.
C is at logic level (1) and the other flip-flop 20a
. 2Qb, 20d, 20e are logic levels
〔0〕の状態
にシフトされる。
従って、ORゲート31Cの入力端の一方は論理レベル
〔1〕に設定されて、制御回路5cのT、G(φ〕を導
通状態にしてT、C,l:φ〕を非導通状態にする。
さらに、ORゲート4Cの入力端の一方はフリップ・フ
ロップ20Cによって論理レベル(]、 ’)に設定さ
れ次段の日カウンク6dへの桁上げ禁止動作をとる。
この状態が時刻修正を行なう際の時刻修正桁の選択操作
であり、次に外部端子9に接続されてなる押ボタンスイ
ッチを時刻修正量に応じた断続した押操作を行なう。
この押操作により作成される時刻修正信号はチャクリン
グ防止回路10及びワンショット回路11を介して時カ
ウンタ6Cに供給され時刻修正を行なう計数動作が行な
われる。
このときA−NDゲート12はフリップフロップ20a
によって閉状態にありフリップフロップ13には前記押
操作により作成される時刻修正信号は供給されずNOR
ゲート30及び表示切替回路7による月、日の表示切替
動作は熱電されている。
同、様に、秒、分の時刻修正又は日、月の時系列修正も
シフトレジスフ20の各フリップフロップ201〕〜2
0eのいずれかを論理レベル〔1〕にするシフト操作に
より桁選択が行なわれ外部端子9に接続されている押ボ
タンスイッチの押操作によって修正動作が行なわれる。
以上が集積回路1をデジタル時計として使用し。
たときの基本動作であり、次のこの集積回路1単体をI
Cテスターによるロジックテストを行なう場合について
説明する。
ロジックテストをする際には、集積回路1の外部端子2
a及び2b間にはICテスターからの32768Hzの
周波数信号がプローバ端子により印加される。
さらに集積回路1の出力用の各外部端子8−1 、8−
2・・・・・・3−n及び外部端子9゜14.2L22
はICテスターからの各プロパ一端子が各々接続される
。
ここで、外部端子8−1.8−2・・・8−nに接続さ
れる各プローバ端子は外部端子8−1.8−2・・・8
−nに出力される論理レベル〔1〕或いは論理レベル〔
0〕の出力電圧をICテスターにより測定するための測
定用端子であり、又、外部端子9に接続されるプローバ
端子は集積回路1内の各カウンタ6a〜6eを計数動作
させるための比較的周波数の高い計数人力信号をICデ
スタ−から供給する端子である。
さらに、外部端子21及び22に接続される2ケのプロ
ーバ端子は、集積回路1のテスト状態を設定するための
テスト端子であり、各外部端子21及び22には論理レ
ベル〔1〕或いは論理1/ベルIt is shifted to the [0] state. Therefore, one of the input terminals of the OR gate 31C is set to logic level [1], making T, G (φ) of the control circuit 5c conductive and T, C, l:φ] of the control circuit 5c non-conductive. Furthermore, one of the input terminals of the OR gate 4C is set to a logic level (], ') by the flip-flop 20C, and a carry to the next stage day count 6d is prohibited.This state is used when correcting the time. This is the selection operation of the time adjustment digit, and then the pushbutton switch connected to the external terminal 9 is pressed intermittently according to the amount of time adjustment.The time adjustment signal created by this pressing operation is a chuckling operation. The clock is supplied to the hour counter 6C via the prevention circuit 10 and the one-shot circuit 11, and a counting operation for correcting the time is performed.At this time, the A-ND gate 12 is connected to the flip-flop 20a.
Since the flip-flop 13 is in the closed state, the time adjustment signal created by the above-mentioned push operation is not supplied to the NOR
The month and day display switching operations by the gate 30 and the display switching circuit 7 are thermoelectrically operated. Similarly, each flip-flop 201] to 2 of the shift register 20 can also adjust the time of seconds and minutes, or adjust the time series of days and months.
Digit selection is performed by a shift operation that sets one of 0e to logic level [1], and a correction operation is performed by pressing a pushbutton switch connected to external terminal 9. The above is how integrated circuit 1 is used as a digital clock. This is the basic operation when this integrated circuit 1 is
A case of performing a logic test using a C tester will be explained. When performing a logic test, connect external terminal 2 of integrated circuit 1.
A 32768 Hz frequency signal from an IC tester is applied between a and 2b by a prober terminal. Furthermore, each external terminal 8-1, 8- for output of the integrated circuit 1
2...3-n and external terminal 9゜14.2L22
are connected to each property terminal from the IC tester. Here, each prober terminal connected to the external terminal 8-1.8-2...8-n is connected to the external terminal 8-1.8-2...8-n.
-Logic level [1] or logic level [1] output to n
0] is a measuring terminal for measuring the output voltage of the IC tester, and the prober terminal connected to the external terminal 9 is a measuring terminal for measuring the output voltage of the integrated circuit 1. This is a terminal for supplying a high counting manual signal from the IC destar. Furthermore, the two prober terminals connected to the external terminals 21 and 22 are test terminals for setting the test state of the integrated circuit 1, and each external terminal 21 and 22 has a logic level [1] or logic 1. /bell
〔0〕の電圧がICテス
ターから供給される3この外部端子2L22に設定供給
される論理レベル〔1〕及び論理レベルThe voltage of [0] is supplied from the IC tester.3 The logic level [1] and the logic level set and supplied to this external terminal 2L22
〔0〕の相合ぜ
による集積回路1のテスト状態は次の様に設定される。
(イ)外部端子21.22がともに論理レベルThe test state of the integrated circuit 1 based on the combination of [0] is set as follows. (b) Both external terminals 21 and 22 are at logic level.
〔0〕の
とき、ロジックテストには関与ぜず、デジタル時計に使
用される際の通常状態とされる。
(ロ)外部端子21が論理レベル〔1〕で外部端子22
が論理レベルWhen it is [0], it is not involved in the logic test and is in the normal state when used in a digital watch. (b) External terminal 21 is at logic level [1] and external terminal 22
is the logical level
〔0〕のとき、カウンタ6a〜6eをリセ
ット状態にして、且つ、シフトレジスフ20のフリップ
・フしJツブ20aをセット状態及びフリップフロップ
20b〜20eをリセット状態とする修正桁非選択状態
として、さらにフリップフロップ13をリセット状態(
すなわち、前述修正桁非選択状態にあるとき、フリップ
フロップ13をリセット状態とする構成は外部端子9に
よる表示切替動作を禁する禁止手段を構成するものであ
る。
)にするとともにANI)ゲート17を閉状態にして、
又、ORゲート 4 aの入力端の一方を論理レベル〔
1〕に設定し桁上げ禁止動作を行なう。
(ハ)外部端子21が論理レベル(0)で外部端子22
が論理レベル〔1〕のとき、制御回路5a及び5dのT
、G(φ〕を導通状態、T、G〔j〕を非導通状態にし
て、さらにフリップフロップ13をリセット状態にする
とともにANDゲート17を閉状態とする。
又、ORゲート4aの入力端の一方を論理レベル〔1〕
に設定し桁上げ禁止動作を行なう。
に)外部端子21,22がともに論理レベル〔1〕のと
き、ANDゲート26及びORゲート28の出力端は論
理1ノベル〔1〕になり、ORゲート群31の各ORゲ
ー1□31a 〜31eの出力端は論理レベル〔1〕と
なり各制御回路5a〜5eのT、G(φ〕を導通状態、
T、G Cφ〕を非導通状態とする。
次に、このような各々(イ)〜に)に設定される集積回
路1のロジックテストを行なう手順は次の様に行なわれ
る。
(A) (=−)の状態にして、秒カウンタ6a、分
カウンタ5 b、時カウンタ6cの各リセット状態に於
る外部端子8−1 、8−2・・・・・・8−nの出力
電圧を検査測定する。
(B)(ロ)の状態のまま、外部端子14に論理レベル
〔1〕の電圧を与え表示切替回路7を日、月の内容に切
替え、日カウノタ6d、月カウンタ6eのリセット状態
に於ける外部端子8−1゜8−2・・・・・・F3−n
の出力電圧を検査測定する。
(C)(ロ)の状態からに)の状態にして、外部端子9
に計数人力信号を与え、各カウンタ6a〜6eを計数動
作さぜ、秒カウンタ6a、分カウンタ6b、時カウンタ
6Cのリセット状態の計数開始から計数満了までの各計
数状態を外部端子8−1.8−2・・・8−nの出力電
圧を検査測定する。
(2)外部端子14に論理レベル〔1〕の電圧を与えた
状態で、(ロ)の状態からに)の状態にして、外部端子
に計数人力信号を与え、各カウンタ6a〜6eを計数動
作させ、日カウンク6d、月カウンタ6eのリセット状
態の計数1開始から計数満了までの各計数状態を外部端
子8−1.8−2・・・・・8−11の出力電子を検査
測定する。
(E)(ロ)の状態から(ハ)の状態にし、外部端子9
からの計数人力信号を秒カウンタ6aに与え、秒カウン
タ6aの計数動作により制御回路5bのT、G 〔φ〕
を介して分カウンタ51)への桁上げ計数信号、さらに
は分カウンタ6bの計数動作により制御回路5cのT、
G〔φ〕を介して時カウンタ6cへの桁上げ信号の桁上
げ動作を外部端子8−1 、8−2・・・・・・8−1
]の出力電圧によって検査測定する。
(F) 外部端子14に論理レベル〔1〕の電圧を与
えた状態で、(ロ)の状態から(ハ)の状態にし、外部
端子9からの計数入力信号をHカウンタ6dに与え、日
カウンタ6dの計数動作により制御回路5eのT、G(
φ〕を介して月カウンタ6eへの桁上げ計数信号の桁上
げ動作を外部端子8−1 、8−2・・・・・・3−n
の出力電圧によって検査測定する。
以上が、集積回路1のロジックテストを行なう際の手順
であるが、(A)→(C)−(E)→σ3)→(D)→
(F)とする手順によっても同様に集積回路1のロジッ
クテス1〜を行なうことができる。
さらに、本実施例に於いては、制御回路5a〜5eは各
カウンタ6a〜6e間に設けられているが、例えは、秒
カウンタ6aの構成をとる1単位桁秒カウノク(10進
カウンク)と10単位桁秒カウンク(6進カウンク)と
の間に制御回路を設けて並列的に計数入力信号を与えロ
ジックテストを行なえるよう構成することができる。
上述したことは他のカウンタ6b〜6eについても同様
に行なうことができる。
以上の様に、本発明によれば、集積回路のロジックテス
トを行なう際に、表示切替動作の禁正された状態をとる
表示切替用の外部端子から各カウンタに並列的に比較的
周波数の高い計数入力信号が同時に供給されるため、秒
、分、時カウンク或いは日、月カウンタの計数状態を出
力用の外部端子の出力電圧によって同時に検査測定する
ことができ、ロジックテストのテスト時間を著しく短縮
することができると共に表示切替用の外部スイッチと接
続される外部端子に外部からテスト用計数入力信号を供
給しても、このテスト用計数入力信号を表示切替信号と
して表示切替回路を介して出力回路からは時刻情報と時
系列情報(カレンダー情報)とが混然一体として出力さ
れることがなくなり、カウンター計数動作の検査を確実
に行うことができ、更に表示切替用の外部端子とテスト
用計数入力信号を導入する外部端子との兼用により、本
来の検査用として必要な端子数(バット数)の減少及び
時計の配線パターン数の減少により電子時計の小型化を
可能とするデジタル電子時計用集積回路が達成される。When it is [0], the counters 6a to 6e are reset, and the flip-flop J knob 20a of the shift register 20 is set and the flip-flops 20b to 20e are reset, making the correction digit non-selected. Flip-flop 13 is in reset state (
That is, the configuration in which the flip-flop 13 is reset when the correction digit is not selected constitutes a prohibition means for prohibiting the display switching operation by the external terminal 9. ) and ANI) gate 17 is closed,
Also, one of the input terminals of the OR gate 4a is set to a logic level [
1] to perform a carry prohibition operation. (c) External terminal 21 is at logic level (0) and external terminal 22
is at logic level [1], T of control circuits 5a and 5d
, G(φ) are made conductive, T and G[j] are made non-conductive, the flip-flop 13 is reset, and the AND gate 17 is closed. One side is logical level [1]
Set this to disable carry operation. ) When the external terminals 21 and 22 are both at the logic level [1], the output terminals of the AND gate 26 and the OR gate 28 become the logic 1 level [1], and each OR gate 1□31a to 31e of the OR gate group 31 The output terminal becomes logic level [1], and T and G (φ) of each control circuit 5a to 5e are in a conductive state.
T, G Cφ] are made non-conductive. Next, the procedure for performing a logic test on the integrated circuit 1 set in each of (A) to (A) is performed as follows. (A) (=-) state, and the external terminals 8-1, 8-2, . Inspect and measure the output voltage. (B) While in the state of (b), apply a logic level [1] voltage to the external terminal 14 to switch the display switching circuit 7 to day and month contents, and reset the day counter 6d and month counter 6e. External terminal 8-1゜8-2...F3-n
Inspect and measure the output voltage. (C) From state (b) to state), external terminal 9
A human power signal is applied to each of the counters 6a to 6e, and each counting state from the start of counting to the end of counting in the reset state of the second counter 6a, minute counter 6b, and hour counter 6C is input to external terminals 8-1. Inspect and measure the output voltages of 8-2...8-n. (2) With a voltage of logic level [1] applied to the external terminal 14, change the state from state (b) to (), apply a counting manual signal to the external terminal, and make each counter 6a to 6e perform counting operation. Then, the output electrons of the external terminals 8-1, 8-2, . (E) From state (B) to state (C), external terminal 9
A counting manual signal from 1 is given to the second counter 6a, and the counting operation of the second counter 6a causes the control circuit 5b to have T, G [φ]
A carry count signal is sent to the minute counter 51) via a count operation of the minute counter 6b, and T of the control circuit 5c is
The carry operation of the carry signal to the hour counter 6c via G [φ] is carried out by external terminals 8-1, 8-2...8-1.
] Test and measure using the output voltage. (F) With a voltage of logic level [1] applied to the external terminal 14, change the state from (B) to the state (C), apply the counting input signal from the external terminal 9 to the H counter 6d, and change the day counter. By the counting operation of 6d, T, G(
The carry operation of the carry count signal to the month counter 6e is carried out via the external terminals 8-1, 8-2...3-n.
Inspect and measure the output voltage. The above is the procedure for performing a logic test on the integrated circuit 1. (A) → (C) - (E) → σ3) → (D) →
Logic tests 1 to 1 of the integrated circuit 1 can be similarly performed by the procedure (F). Further, in this embodiment, the control circuits 5a to 5e are provided between the counters 6a to 6e, but for example, a one-unit digit second count (decimal count) having the configuration of the second counter 6a is used. A control circuit can be provided between the 10 unit digit second count (hex count) and a count input signal can be applied in parallel to perform a logic test. The above can be similarly performed for the other counters 6b to 6e. As described above, according to the present invention, when performing a logic test of an integrated circuit, a relatively high frequency Since the counting input signals are supplied at the same time, the counting status of the second, minute, and hour counters, or day and month counters can be simultaneously inspected and measured using the output voltage of the external output terminal, which significantly reduces the test time for logic tests. Even if a test counting input signal is externally supplied to an external terminal connected to an external switch for display switching, this test counting input signal can be output as a display switching signal to the output circuit via the display switching circuit. Since time information and time series information (calendar information) are no longer output together, it is possible to reliably inspect the counter counting operation, and there is also an external terminal for display switching and counting input for testing. An integrated circuit for digital electronic watches that enables miniaturization of electronic watches by reducing the number of terminals (number of bats) required for original inspection and by reducing the number of wiring patterns for the watch by also being used as external terminals for introducing signals. is achieved.
第1図は不発明のデジタル時計用集積回路を示すブロッ
ク図である。
1・・・集積回路、2a、2b・・・発振用外部端子、
3・・・分周回路、5a〜5e・・・制御回路、6a〜
6e・・・カウンタ、8−1.8−2・・・F3−n・
・・出力用外部端子、9・・・表示切替及び修正用外部
端子、14・・・修正桁選択用外部端子、2L22・・
・テスト用外部端子。FIG. 1 is a block diagram showing an integrated circuit for a digital watch according to the invention. 1... Integrated circuit, 2a, 2b... External terminal for oscillation,
3... Frequency dividing circuit, 5a-5e... Control circuit, 6a-
6e...Counter, 8-1.8-2...F3-n.
...External terminal for output, 9...External terminal for display switching and correction, 14...External terminal for selecting correction digit, 2L22...
・External terminal for testing.
Claims (1)
力信号を導入するため兼備された外部端子と、時分等を
計数するため縦続接続された複数桁のカウンターと、該
複数桁のカウンターの各桁間に各各装置され且つ前記複
数桁のカウンター内で相対的に位置づけられる前段桁カ
ウンターからの桁上げ信号及び前記テスト用計数入力信
号をそれぞれ入力とする制御回路と、前記複数桁のカウ
ンターの内容を修正するために特定桁のカウンターを選
択する修正桁選択回路と、該修正桁選択回路が前記複数
桁のカウンターを修正桁非選択状態に保持するためのテ
スト設定手段と、前記修正桁非選択状態時に、前記テス
ト設定手段からの信号を入力とし且つ前記外部端子によ
る表示切替の動作を禁する禁止手段を備え、核禁IF手
段により前記外部端子による表示切替の動作が禁じられ
ているとき、前記テスト設定手段により前記前段桁カウ
ンターからの桁上げ信号の伝達を禁すると共に前記外部
端子からのテスト用計数入力信号を前記複数桁のカウン
ター内で相対的に位置づけられる次段桁カウンターに伝
達するよう前記各制御回路を切替動作せしめ、前記複数
桁のカウンターに前記テスト用計数入力信号を同時に供
給することを特徴とするディジタル時剖用集積回路。1. An external terminal for switching the display and introducing external test counting input signals, a multi-digit counter connected in cascade for counting hours, minutes, etc., and each of the multi-digit counters. a control circuit which receives a carry signal from a preceding digit counter and the test counting input signal, each of which is provided between the digits and is positioned relatively within the multi-digit counter; a correction digit selection circuit for selecting a specific digit counter in order to correct the contents; a test setting means for the correction digit selection circuit to maintain the plurality of digit counters in a correction digit non-selected state; When in a selected state, a prohibition means is provided which inputs a signal from the test setting means and prohibits a display switching operation using the external terminal, and when the display switching operation using the external terminal is prohibited by the nuclear prohibition IF means. , the test setting means prohibits the transmission of a carry signal from the previous stage digit counter, and transmits the test counting input signal from the external terminal to the next stage digit counter positioned relatively within the multi-digit counter. An integrated circuit for digital chronology, characterized in that each of the control circuits is switched to perform a switching operation so as to simultaneously supply the test counting input signal to the multi-digit counter.
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP50094004A JPS5822989B2 (en) | 1975-08-01 | 1975-08-01 | Digital hand warmer |
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| JP50094004A JPS5822989B2 (en) | 1975-08-01 | 1975-08-01 | Digital hand warmer |
Related Child Applications (2)
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Family Applications (1)
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Also Published As
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